JP5269169B2 - Scanning optical device and laser beam printer having the same - Google Patents
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Description
本発明は走査光学装置及びそれを有するレーザービームプリンタに関する。特にｆθ特性を有する結像光学系（ｆθレンズ）を介して被走査面上を光走査して画像情報を記録するようにした、例えば電子写真プロセスを有するレーザービームプリンタ（ＬＢＰ）やデジタル複写機等の装置に好適なものである。 The present invention relates to a scanning optical device and a laser beam printer having the same. In particular, for example, a laser beam printer (LBP) or a digital copying machine having an electrophotographic process, which scans a surface to be scanned through an imaging optical system (fθ lens) having fθ characteristics to record image information. And the like.
従来よりレーザービームプリンタ等の走査光学装置においては画像信号に応じて光源手段から光変調され出射した光束を、例えば回転多面鏡（ポリゴンミラー）より成る光偏向器により周期的に偏向させている。そして、ｆθ特性を有する結像光学系によって感光性の記録媒体（感光体ドラム）面上にスポット状に集束させ、その面上を光走査して画像記録を行なっている。 2. Description of the Related Art Conventionally, in a scanning optical device such as a laser beam printer, a light beam modulated and emitted from a light source means according to an image signal is periodically deflected by, for example, an optical deflector composed of a rotating polygon mirror (polygon mirror). Then, the image is recorded on the surface of the photosensitive recording medium (photosensitive drum) by spotting by an imaging optical system having fθ characteristics, and the surface is optically scanned to perform image recording.
図２５は従来の走査光学装置の要部概略図である。同図において光源手段６１から出射した発散光束はコリメーターレンズ６２により略平行光束とされ、絞り６３によって該光束（光量）を制限して副走査方向にのみ所定の屈折力を有するシリンドリカルレンズ６４に入射している。シリンドリカルレンズ６４に入射した平行光束のうち主走査断面内においてはそのまま平行光束の状態で射出する。又副走査断面内においては集束して回転多面鏡（ポリゴンミラー）から成る光偏向器６５の偏向面（反射面）６５ａにほぼ線像として結像している。 FIG. 25 is a schematic view of a main part of a conventional scanning optical apparatus. In the figure, a divergent light beam emitted from a light source means 61 is made into a substantially parallel light beam by a collimator lens 62, and the light beam (light quantity) is limited by a diaphragm 63 to form a cylindrical lens 64 having a predetermined refractive power only in the sub-scanning direction. Incident. Out of the parallel light beams incident on the cylindrical lens 64, the light beams are emitted as they are in the main scanning section. In the sub-scan section, the light beam is converged and formed as a substantially line image on the deflecting surface (reflecting surface) 65a of the optical deflector 65 composed of a rotating polygon mirror (polygon mirror).
ここで、主走査断面とは、光偏向器の偏向面で偏向反射された光束が経時的に形成する光束断面を指す。また、副走査断面とはｆθレンズの光軸を含み主走査断面に直交する断面を指す。そして光偏向器６５の偏向面６５ａで偏向反射された光束をｆθ特性を有する結像光学系（ｆθレンズ）６６を介して被走査面としての感光ドラム６８面上に導光している。そして、該光偏向器６５を矢印Ａ方向に回転させることによって該感光ドラム６８面上を光走査して画像情報の記録を行なっている。 Here, the main scanning cross section refers to a cross section of the light beam formed by the light beam deflected and reflected by the deflecting surface of the optical deflector over time. Further, the sub-scanning section refers to a section that includes the optical axis of the fθ lens and is orthogonal to the main scanning section. Then, the light beam deflected and reflected by the deflecting surface 65a of the optical deflector 65 is guided to the surface of the photosensitive drum 68 as the surface to be scanned through the imaging optical system (fθ lens) 66 having the fθ characteristic. Then, by rotating the optical deflector 65 in the direction of arrow A, the surface of the photosensitive drum 68 is optically scanned to record image information.
この種の走査光学装置において高精度な画像情報の記録を行なうには被走査面全域にわたって像面湾曲が良好に補正されスポット径が揃っていること、そして入射光の角度と像高とが比例関係となる歪曲収差（ｆθ特性）を有していることが必要である。このような光学特性を満たす走査光学装置、若しくはその補正光学系（ｆθレンズ）は従来より種々と提案されている。 In order to perform highly accurate image information recording with this type of scanning optical apparatus, the field curvature is well corrected over the entire surface to be scanned and the spot diameter is uniform, and the angle of incident light is proportional to the image height. It is necessary to have distortion (fθ characteristics) that is relevant. Various scanning optical devices or their correction optical systems (fθ lenses) satisfying such optical characteristics have been proposed.
一方、レーザービームプリンタやデジタル複写機等のコンパクト化及び低コスト化に伴ない、走査光学装置にも同様のことが求められている。これらの要望を両立させるものとしてｆθレンズを１枚から構成した走査光学装置が知られている（特許文献１〜５）。 On the other hand, with the downsizing and cost reduction of laser beam printers and digital copying machines, the same is required for scanning optical devices. In order to satisfy these demands, a scanning optical device having a single fθ lens is known (Patent Documents 1 to 5).
これらの公報のうち特許文献１、２等ではｆθレンズとして光偏向器側に凹面の単レンズを用いてコリメーターレンズからの平行光束を記録媒体面上に集束させている。又特許文献３ではｆθレンズとして光偏向器側に凹面、像面側にトロイダル面の単レンズを用いてコリメーターレンズにより収束光に変換された光束を該ｆθレンズに入射させている。
又特許文献４ではｆθレンズとしてレンズ面に高次非球面を導入した単レンズを用いてコリメーターレンズにより収束光に変換された光束を該ｆθレンズに入射させている。
Among these publications, in Patent Documents 1 and 2, etc., a parallel single beam from the collimator lens is focused on the recording medium surface by using a concave single lens on the optical deflector side as the fθ lens. In Patent Document 3, a light beam converted into convergent light by a collimator lens using a single lens having a concave surface on the optical deflector side and a toroidal surface on the image surface side as an fθ lens is incident on the fθ lens.
In Patent Document 4, a single lens in which a high-order aspheric surface is introduced as a lens surface is used as an fθ lens, and a light beam converted into convergent light by a collimator lens is incident on the fθ lens.
しかしながら上記に示した従来の走査光学装置において特許文献１では副走査方向の像面湾曲が残存しており、かつ平行光束を被走査面に結像させている。この為、ｆθレンズから被走査面までの距離が焦点距離ｆとなり長く、コンパクトな走査光学装置を構成することが難しいという問題点があった。特許文献２ではｆθレンズの肉厚が厚い為、モールド成型による製作が困難でありコストアップの要因となるという問題点があった。特許文献３では歪曲収差が残存するという問題点があった。 However, in the conventional scanning optical apparatus shown above, in Patent Document 1, the curvature of field in the sub-scanning direction remains, and a parallel light beam is imaged on the surface to be scanned. Therefore, the distance from the fθ lens to the surface to be scanned is long as the focal length f, and it is difficult to construct a compact scanning optical device. In Patent Document 2, since the fθ lens is thick, it is difficult to manufacture by molding, resulting in an increase in cost. Patent Document 3 has a problem that distortion remains.
特許文献４では高次非球面のｆθレンズを用い収差は良好に補正されているものの光偏向器であるポリゴンミラーの取付誤差によりポリゴン面数周期のジッターが発生するという問題点があった。更にこれら１枚で構成されたｆθレンズに共通する問題点としては、光偏向器と被走査面間における副走査方向の横倍率の不均一性により、像高によって副走査方向のスポット径が変化するという問題点があった。 In Patent Document 4, although a high-order aspherical fθ lens is used to correct aberrations, there is a problem that jitter of a polygon surface period occurs due to an attachment error of a polygon mirror as an optical deflector. Furthermore, a problem common to these one-piece fθ lenses is that the spot diameter in the sub-scanning direction varies depending on the image height due to non-uniformity of the lateral magnification in the sub-scanning direction between the optical deflector and the surface to be scanned. There was a problem of doing.
図２６（Ａ），（Ｂ）は本発明者が特許文献５で提案した各々従来のシングルビームの走査光学装置における主走査方向と副走査方向の要部断面図であり、像高による副走査方向のスポット径（Ｆナンバー）の変化を示している。同図において図２５に示した要素と同一要素には同符番を付している。 FIGS. 26A and 26B are cross-sectional views of main parts in the main scanning direction and the sub-scanning direction in the conventional single-beam scanning optical device proposed by the present inventor in Patent Document 5, and are sub-scanning according to image height. The change of the spot diameter (F number) of a direction is shown. In the figure, the same elements as those shown in FIG.
通常、面倒れ補正光学系では光偏向器の偏向面の面倒れを光学的に補正する為に、該偏向面と被走査面とを光学的に共役関係（結像関係）とする必要がある。
従って、前述した従来例のような主走査面内で所定のレンズ形状をもつｆθレンズでは軸上（軸上光束２１）では図２６（Ｂ）内の（イ）に示すように横倍率が高く、軸外（最軸外光束２２）では図２６（Ｂ）内の（ロ）に示すように横倍率が低くなる。尚、主走査面内でのレンズ形状により逆になる場合もある。
Usually, in the surface tilt correction optical system, in order to optically correct the surface tilt of the deflecting surface of the optical deflector, it is necessary to optically conjugate the deflection surface and the surface to be scanned (imaging relationship). .
Therefore, in the fθ lens having a predetermined lens shape in the main scanning plane as in the conventional example described above, the lateral magnification is high on the axis (on-axis light beam 21) as shown in (a) in FIG. In the off-axis direction (the most off-axis light beam 22), the lateral magnification is low as shown in (b) in FIG. The reverse may occur depending on the lens shape in the main scanning plane.
このようにｆθレンズの主走査面内でのレンズ形状によって副走査方向の横倍率にバラツキができ、像高による副走査方向のスポット径の変化が生じる。又、一方ＬＢＰに用いられる走査光学装置は、該ＬＢＰの高速化、高精細化によって、より高速走査の可能なものが求められている。そこで、走査手段であるモーターの回転数、偏向手段であるポリゴンミラーの面数などの限界から、特に複数の光束を同時に走査できるマルチビーム走査光学装置の要求が高まっている。 Thus, the lateral magnification in the sub-scanning direction can vary depending on the lens shape in the main scanning plane of the fθ lens, and the spot diameter in the sub-scanning direction varies depending on the image height. On the other hand, a scanning optical device used for LBP is required to be capable of high-speed scanning by increasing the speed and definition of the LBP. Therefore, there is a growing demand for a multi-beam scanning optical apparatus capable of scanning a plurality of light beams at the same time due to limitations such as the number of rotations of a motor as a scanning unit and the number of polygon mirrors as a deflection unit.
上述した副走査方向の横倍率の不均一性は、光源（光源部）の位置が光軸から図２に示すＺ方向に外れている場合に走査線の曲がりを生じさせる。この為、例えばマルチビーム走査光学系（マルチビーム走査光学装置）のように光軸から外れた複数の光束を用いて被走査面を同時に走査する光学系では、該被走査面上で走査線が曲がる。その結果ピッチムラによる画像品位の劣化が起こるという問題点があった。 The non-uniformity of the lateral magnification in the sub-scanning direction described above causes the scanning line to be bent when the position of the light source (light source unit) deviates from the optical axis in the Z direction shown in FIG. For this reason, for example, in an optical system that simultaneously scans a surface to be scanned using a plurality of light beams that deviate from the optical axis, such as a multi-beam scanning optical system (multi-beam scanning optical device), a scanning line is formed on the surface to be scanned. Bend. As a result, there is a problem that image quality is deteriorated due to pitch unevenness.
本発明の第１の目的は、コリメーターレンズ等で変換された光源からの光束を光偏向器を介して１枚のｆθレンズにより被走査面上に結像させる際、該ｆθレンズの主走査面内でのレンズ形状（主走査面形状）を最適化にすることである。そして、像面湾曲や歪曲収差等を補正し、かつ主走査面内でのレンズ形状とは独立に副走査面内でのレンズ形状（副走査面形状）のみで光偏向器と被走査面間における副走査方向の横倍率の不均一性を解消することである。 A first object of the present invention is to perform main scanning of a fθ lens when a light beam from a light source converted by a collimator lens or the like is imaged on a surface to be scanned by a single fθ lens via an optical deflector. This is to optimize the lens shape (main scanning surface shape) in the plane. In addition, it corrects curvature of field, distortion, etc., and only the lens shape (sub-scanning surface shape) in the sub-scanning surface is independent of the lens shape in the main-scanning surface. Is to eliminate the non-uniformity of the lateral magnification in the sub-scanning direction.
これによって像高による副走査方向のＦナンバー（ＦＮｏ）の変化、即ちスポット径の変化を抑えることができる、コンパクトでしかも高精細な印字に適した走査光学装置の提供にある。 Accordingly, it is an object of the present invention to provide a scanning optical device suitable for high-definition printing that can suppress a change in the F number (FNo) in the sub-scanning direction due to the image height, that is, a change in spot diameter.
本発明の第２の目的は、コリメーターレンズ等で変換された光源からの複数の光束を光偏向器を介してｆθレンズにより被走査面上に結像させる際、該ｆθレンズの主走査面内でのレンズ形状（主走査面形状）を最適化にすることである。そして、像面湾曲と歪曲収差等を補正し、かつ主走査面内でのレンズ形状とは独立に副走査面内でのレンズ形状（副走査面形状）のみで光偏向器と被走査面間における副走査方向の横倍率の不均一性を解消することである。 A second object of the present invention is to form a plurality of light beams from a light source converted by a collimator lens or the like on a surface to be scanned by an fθ lens via an optical deflector, and to scan the main scanning surface of the fθ lens. It is to optimize the lens shape (main scanning surface shape) inside. And it corrects curvature of field and distortion, etc., and only the lens shape (sub-scanning surface shape) in the sub-scanning surface is independent of the lens shape in the main-scanning surface. Is to eliminate the non-uniformity of the lateral magnification in the sub-scanning direction.
これによって、像高による副走査方向のＦナンバー（ＦＮｏ）の変化、即ちスポット径の変化を抑えている。そして、光軸から副走査方向に外れた光源からの光束に対しても走査線曲がりを生じることなく高精度に走査することができる、コンパクトでしかも高精細な印字に適した走査光学装置の提供にある。 This suppresses the change in the F number (FNo) in the sub-scanning direction due to the image height, that is, the change in the spot diameter. Also, providing a scanning optical device suitable for high-definition printing that is capable of scanning with high accuracy without causing bending of a scanning line even with respect to a light beam from a light source deviating from the optical axis in the sub-scanning direction. It is in.
請求項１の発明の走査光学装置は、光源手段と、前記光源手段から出射された複数の光束を偏向反射する回転多面鏡と、前記回転多面鏡の偏向面にて偏向反射された光束を被走査面上に結像させる結像光学系と、を有する走査光学装置であって、主走査断面において、前記回転多面鏡の偏向面に入射する光束は、前記結像光学系の光軸に対して斜め入射しており、前記結像光学系は、１枚のトーリックレンズを備えており、前記１枚のトーリックレンズの２つのレンズ面の副走査方向の曲率が、前記被走査面に入射する光束の副走査方向のＦナンバーの変化が小さくなるように前記光軸に対して非対称に軸上から軸外に向い連続的に変化しており、前記１枚のトーリックレンズは、軸外から軸上に向うに従って、平凸形状から前記被走査面側に凸のメニスカス形状に近づくような形状であることを特徴とを特徴としている。 The scanning optical device according to the first aspect of the present invention includes a light source means, a rotary polygon mirror that deflects and reflects a plurality of light beams emitted from the light source means, and a light beam deflected and reflected by a deflection surface of the rotary polygon mirror. An imaging optical system that forms an image on a scanning surface, wherein a light beam incident on a deflection surface of the rotary polygon mirror in a main scanning section is relative to an optical axis of the imaging optical system. It is incident obliquely Te, said imaging optical system comprises a single toric lens, two lens surfaces sub-scanning direction curvature of the single toric lens is incident on the surface to be scanned The one toric lens is continuously changed from the off-axis to the off-axis so as to reduce the change in the F-number in the sub-scanning direction of the light beam. From the plano-convex shape toward the scanned surface side It is characterized by being a shape that approaches a convex meniscus shape .
本発明によれば、高精細な印字が容易な走査光学装置が得られる。 According to the present invention, it is possible to obtain a scanning optical device that facilitates high-definition printing.
まず本発明の走査光学装置の実施形態を説明する前に本発明の目的を達成する為の手段について説明する。本走査光学装置において上述した目的を達成する為にはｆθレンズのレンズ形状を最適化にすると共に軸上と軸外における副走査方向の横倍率を揃えることが必要である。図２７は走査光学装置の光偏向器（偏向素子）と被走査面間の主走査方向の要部断面図である。ここで軸上と軸外において副走査方向の横倍率を揃える為には、該軸上と軸外における光路長の比が等しくなるよう主平面位置を決定する必要がある。 First, means for achieving the object of the present invention will be described before describing an embodiment of the scanning optical apparatus of the present invention. In order to achieve the above-described object in the present scanning optical apparatus, it is necessary to optimize the lens shape of the fθ lens and to align the lateral magnification in the sub-scanning direction on and off the axis. FIG. 27 is a cross-sectional view of the main part in the main scanning direction between the optical deflector (deflection element) of the scanning optical apparatus and the surface to be scanned. Here, in order to align the lateral magnification in the sub-scanning direction on the axis and off-axis, it is necessary to determine the main plane position so that the ratio of the optical path lengths on the axis and off-axis is equal.
従って、
Ｉｐｒｉ ：Ｅｐｒｉ ＝Ｉｍａｒ ：Ｅｍａｒ
Ｉｐｒｉ・Ｅｍａｒ ＝Ｅｐｒｉ・Ｉｍａｒ ‥‥‥‥（ａ）
但し、
Ｉｐｒｉ ‥軸上光束における光偏向器の偏向面から副走査方向の前側主
平面までの距離
Ｅｐｒｉ ‥軸上光束における副走査方向の後側主平面から被走査面まで
の距離
Ｉｍａｒ ‥最軸外光束における光偏向器の偏向面から副走査方向の前側
主平面までの距離
Ｅｍａｒ ‥最軸外光束における副走査方向の後側主平面から被走査面ま
での距離
なる条件を満足させるようｆθレンズの副走査方向の主平面位置を決定する。
Therefore,
Ipri: Epri = Imar: Emar
Ipri · Emar = Epri · Imar (a)
However,
Ipri ... Front main in the sub-scanning direction from the deflecting surface of the optical deflector in the axial light beam
Distance to the plane Epri... From the back main plane in the sub-scanning direction of the axial light beam to the surface to be scanned
Distance Imar ... front side in the sub-scanning direction from the deflecting surface of the optical deflector in the most off-axis light beam
Distance to main plane Emar: From the rear main plane in the sub-scanning direction in the most off-axis light beam to the scanned surface
The main plane position in the sub-scanning direction of the fθ lens is determined so as to satisfy the condition of the distance at.
一般的に軸外光束はｆθ特性を満たす為に主走査面内において光軸方向に屈折している為、上式（ａ）を満足させる為の副走査方向の主平面の主走査面内における軌跡７１は図２７に示すように軸外で光偏向器５側に湾曲した面になる。ここで最軸外における湾曲量をｄｘとすると
Ｅｍａｒ ＝（Ｅｐｒｉ ＋ｄｘ）／ｃｏｓθｉｍｇ
Ｉｍａｒ ＝（Ｉｐｒｉ −ｄｘ）／ｃｏｓθｐｏｒ
よって、
Ｉｐｒｉ （Ｅｐｒｉ ＋ｄｘ）／ｃｏｓθｉｍｇ
＝Ｅｐｒｉ （Ｉｐｒｉ −ｄｘ）／ｃｏｓθｉｍｇ
ｄｘ（Ｉｐｒｉ・ｃｏｓθｐｏｒ ＋Ｅｐｒｉ・ｃｏｓθｉｍｇ）
＝Ｉｐｒｉ・Ｅｐｒｉ （ｃｏｓθｉｍｇ −ｃｏｓθｐｏｒ）
In general, the off-axis light beam is refracted in the direction of the optical axis in the main scanning plane in order to satisfy the fθ characteristic. Therefore, in the main scanning plane in the main plane in the sub-scanning direction to satisfy the above formula (a). As shown in FIG. 27, the locus 71 is a surface that is off-axis and curved toward the optical deflector 5 side. Here, if the amount of bending off the most axis is dx, Emar = (Epri + dx) / cos θimg
Imar = (Ipri−dx) / cos θ por
Therefore,
Ipri (Epri + dx) / cos θimg
= Epri (Ipri-dx) / cos [theta] img
dx (Ipri · cos θ por + Epri · cos θ img)
= Ipri · Epri (cos θimg -cos θ por)
但し、
θｐｏｒ ‥主走査面内において光偏向器で偏向する最軸外光束がｆθレンズの光軸となす角度
θｉｍｇ ‥主走査面内において被走査面へ入射する最軸外光束がｆθレンズの光軸となす角度
となる。
However,
θpor is the angle between the most off-axis light beam deflected by the optical deflector in the main scanning plane and the optical axis of the fθ lens. θimg The most off-axis beam incident on the scanned surface in the main scanning surface is the optical axis of the fθ lens. The angle to make.
従って副走査方向の横倍率を揃えるには副走査方向の主平面の軌跡の湾曲量ｄｘを上式（ｂ）により導かれる値に設定することが必要である。即ち、実際の走査光学装置においてｆθレンズの副走査方向の前側主平面と後側主平面の主走査面内における軌跡の湾曲量（最軸外の主平面位置と軸上の主平面位置との光軸方向の差分）を各々ｘｍ，ｘｕとしたとき
ｘｍ ≦ ｄｘ ≦ ｘｕ ‥‥‥‥（１）
なる条件を満足するよう主平面位置を決定することが望ましい。上記の条件式（１）を外れると副走査方向の横倍率にバラツキができ、像高によるスポット径の変化が大きくなり実用上問題となってくるので良くない。
Therefore, in order to align the horizontal magnification in the sub-scanning direction, it is necessary to set the curvature dx of the trajectory of the main plane in the sub-scanning direction to a value derived from the above equation (b). That is, in an actual scanning optical apparatus, the amount of curvature of the locus in the main scanning plane of the front main plane and the rear main plane in the sub-scanning direction of the fθ lens (the main plane position off the most axis and the main plane position on the axis). Xm ≦ dx ≦ xu (1) where xm and xu are the differences in the optical axis direction)
It is desirable to determine the main plane position so as to satisfy the following condition. If the above conditional expression (1) is deviated, the lateral magnification in the sub-scanning direction varies, and the change in the spot diameter due to the image height becomes large, causing a problem in practical use.
次に副走査方向の主平面位置を変化させる方法であるが、これは前述したようにｆθレンズの副走査方向は光偏向器の偏向面と被走査面とを光学的に共役関係にすることによって面倒れ補正を行なっている。この為、該ｆθレンズの屈折力自体を変化させることはできない。 Next, there is a method of changing the main plane position in the sub-scanning direction. As described above, this means that the deflection surface of the optical deflector and the surface to be scanned are optically conjugate in the sub-scanning direction of the fθ lens. The tilt correction is performed. For this reason, the refractive power itself of the fθ lens cannot be changed.
従ってｆθレンズの副走査方向の第１レンズ面（Ｒ１面）と第２レンズ面（Ｒ２面）をベンディングさせることによって主平面位置の移動を行なう。ベンディングによりレンズの主平面は該レンズ自体の屈折力を変えずに移動させることができる為、軸上から軸外に向かい子線ｒを連続的に変化させ、場所により最適なレンズ形状にすることにより副走査方向の横倍率を揃えることができる。 Accordingly, the main plane position is moved by bending the first lens surface (R1 surface) and the second lens surface (R2 surface) in the sub-scanning direction of the fθ lens. Because the main plane of the lens can be moved by bending without changing the refractive power of the lens itself, the lens line r is continuously changed from on-axis to the off-axis, and the lens shape is optimized depending on the location. Thus, the horizontal magnification in the sub-scanning direction can be made uniform.
このようにしてｆθレンズのレンズ形状を最適化にすることにより、被走査面に入射する光束の副走査方向のＦナンバー（ＦＮｏ）を揃えることができる。この結果、従来、単玉ｆθレンズで問題となっていた像高による副走査方向のスポット径の変化を小さく抑えることができる。又、光軸から外れた光源（光源部）から出射した光束に対しても走査線曲がりが生じることなく被走査面上を高精度に走査することができ、これによりマルチビーム走査にも好適な走査光学装置を得ることができる。 By optimizing the lens shape of the fθ lens in this way, the F number (FNo) in the sub-scanning direction of the light beam incident on the surface to be scanned can be made uniform. As a result, the change in the spot diameter in the sub-scanning direction due to the image height, which has been a problem with the single lens fθ lens, can be suppressed. In addition, it is possible to scan the surface to be scanned with high accuracy with respect to a light beam emitted from a light source (light source unit) deviated from the optical axis, and this is suitable for multi-beam scanning. A scanning optical device can be obtained.
次に本発明の各実施形態について順に説明する。図１（Ａ），（Ｂ）は各々本発明の実施形態１の主走査方向と副走査方向の要部断面図である。図中１は光源手段（光源部）であり、例えば半導体レーザより成っている。２は第１の光学素子としてのコリメーターレンズであり、光源手段１から出射された発散光束（光ビーム）を収束光束に変換している。３は開口絞りであり、通過光束径を整えている。 Next, each embodiment of the present invention will be described in order. 1A and 1B are cross-sectional views of main parts in the main scanning direction and the sub-scanning direction, respectively, according to the first embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 1 denotes light source means (light source unit), which is composed of, for example, a semiconductor laser. Reference numeral 2 denotes a collimator lens as a first optical element, which converts a divergent light beam (light beam) emitted from the light source means 1 into a convergent light beam. Reference numeral 3 denotes an aperture stop, which adjusts the diameter of a passing light beam.
４は第２の光学素子としてのシリンドリカルレンズであり、副走査方向にのみ所定の屈折力を有しており、開口絞り３を通過した光束を副走査断面内で後述する光偏向器（偏向素子）５の偏向面５ａにほぼ線像として結像させている。５は偏向素子としての例えばポリゴンミラー（回転多面鏡）より成る光偏向器であり、モータ等の駆動手段（不図示）により図中矢印Ａ方向に一定速度で回転している。６は第３の光学素子としてのｆθ特性を有する１枚のレンズより成るｆθレンズ（結像光学系）（結像レンズ）であり、光偏向器５と被走査面としての感光ドラム面８との中間より該光偏向器５側（回転多面鏡側）に配置している。 A cylindrical lens 4 as a second optical element has a predetermined refractive power only in the sub-scanning direction, and a light deflector (deflection element) to be described later in the sub-scan section of the light beam that has passed through the aperture stop 3. ) 5 is formed as a substantially linear image on the deflecting surface 5a. Reference numeral 5 denotes an optical deflector composed of, for example, a polygon mirror (rotating polygonal mirror) as a deflecting element, which is rotated at a constant speed in the direction of arrow A in the figure by driving means (not shown) such as a motor. Reference numeral 6 denotes an fθ lens (imaging optical system) (imaging lens) composed of a single lens having fθ characteristics as a third optical element, and includes an optical deflector 5 and a photosensitive drum surface 8 as a scanned surface. Is arranged on the optical deflector 5 side (rotating polygonal mirror side) from the middle of the lens.
本実施形態におけるｆθレンズ６の両レンズ面は共に主走査面内で非球面形状のトーリック面より成り、副走査面（第３の光学素子の光軸を含み主走査面と直交する面）内の曲率をレンズの有効部内において軸上から軸外に向かい連続的に変化させている。これにより本実施形態では被走査面８に入射する光束の像高による副走査方向のＦナンバー（ＦＮｏ）の変化、即ちスポット径の変化を小さく抑えている。ｆθレンズ６は光偏向器５によって偏向反射された画像情報に基づく光束を感光ドラム８面上に結像させ、かつ該光偏向器５の偏向面の面倒れを補正している。 Both lens surfaces of the fθ lens 6 in the present embodiment are both aspherical toric surfaces in the main scanning surface, and are in the sub-scanning surface (a surface that includes the optical axis of the third optical element and is orthogonal to the main scanning surface). Is continuously changed from the on-axis to the off-axis within the effective portion of the lens. Thereby, in this embodiment, the change in the F number (FNo) in the sub-scanning direction, that is, the change in the spot diameter due to the image height of the light beam incident on the surface to be scanned 8 is suppressed to be small. The fθ lens 6 forms an image of a light beam based on the image information deflected and reflected by the optical deflector 5 on the surface of the photosensitive drum 8 and corrects the tilting of the deflecting surface of the optical deflector 5.
本実施例では、
単レンズの両レンズ面の主走査断面内の形状は非球面形状であり、且つ、
単レンズの両レンズ面の副走査方向における曲率を主走査方向において軸上から軸外に
向かい連続的に変化させている。尚、本実施形態においてはｆθレンズ６をプラスチック成型により製作しても良く、あるいはガラス成型（ガラスモールド）により製作しても良い。
In this example,
The shape in the main scanning section of both lens surfaces of the single lens is an aspheric shape, and
The curvature in the sub-scanning direction of both lens surfaces of the single lens is continuously changed from on-axis to off-axis in the main scanning direction. In the present embodiment, the fθ lens 6 may be manufactured by plastic molding, or may be manufactured by glass molding (glass molding).
本実施形態において半導体レーザ１より出射した発散光束はコリメータレンズ２により収束光に変換され、開口絞り３によって該光束（光量）を制限してシリンドリカルレンズ４に入射している。シリンドリカルレンズ４に入射した光束のうち主走査断面においてはそのままの状態で射出する。又副走査断面においては集束して光偏向器５の偏向面５ａにほぼ線像（主走査方向に長手の線状の線像）として結像している。そして光偏向器５の偏向面５ａで偏向反射された光束は主走査方向と副走査方向とで互いに異なる屈折力を有するｆθレンズ６を介して感光ドラム８面上に導光される。 In this embodiment, the divergent light beam emitted from the semiconductor laser 1 is converted into convergent light by the collimator lens 2, and the light beam (light amount) is limited by the aperture stop 3 and is incident on the cylindrical lens 4. Out of the light beam incident on the cylindrical lens 4, the light beam exits as it is in the main scanning section. In the sub-scan section, the light beam is focused and formed on the deflection surface 5a of the optical deflector 5 as a substantially line image (a linear line image that is long in the main scanning direction). The light beam deflected and reflected by the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 is guided onto the surface of the photosensitive drum 8 through the fθ lens 6 having different refractive powers in the main scanning direction and the sub-scanning direction.
次いで、該光偏向器５を矢印Ａ方向に回転させることによって該感光ドラム８面上を矢印Ｂ方向に走査している。これにより記録媒体である感光ドラム８上に画像記録を行なっている。 Next, the surface of the photosensitive drum 8 is scanned in the direction of arrow B by rotating the optical deflector 5 in the direction of arrow A. Thereby, an image is recorded on the photosensitive drum 8 which is a recording medium.
本実施形態ではｆθレンズ６のレンズ形状を主走査方向は１０次までの関数で表わせる非球面形状とし、副走査方向は像高方向に連続的に変化する球面より構成している。そのレンズ形状は、例えばｆθレンズ６と光軸との交点を原点とし、光軸方向をＸ軸、主走査面内において光軸と直交する軸をＹ軸、副走査面内において光軸と直交する軸をＺ軸としたとき、主走査方向と対応する母線方向が In the present embodiment, the lens shape of the fθ lens 6 is an aspherical shape in which the main scanning direction can be expressed by a function up to the 10th order, and the sub-scanning direction is constituted by a spherical surface that continuously changes in the image height direction. The lens shape is, for example, the intersection of the fθ lens 6 and the optical axis as the origin, the optical axis direction is the X axis, the axis orthogonal to the optical axis in the main scanning plane is the Y axis, and the optical axis is orthogonal to the sub scanning plane. When the axis to be operated is the Z axis, the bus direction corresponding to the main scanning direction is
（但し、Ｒは曲率半径、Ｋ，Ｂ４，Ｂ６，Ｂ８，Ｂ１０は非球面係数）なる式で表わせるものであり、又副走査方向（光軸を含む主走査方向に対して直交する方向）と対応する子線方向が、 (Where R is the radius of curvature, and K, B4, B6, B8, and B10 are aspherical coefficients) and can be expressed in the sub-scanning direction (the direction perpendicular to the main scanning direction including the optical axis). The corresponding line direction is
（ここでｒ´＝ｒ（１＋Ｄ２Ｙ２＋Ｄ４Ｙ４＋Ｄ６Ｙ６＋Ｄ８Ｙ８＋Ｄ１０Ｙ１０）
なる式で表わせるものである。表１に本実施形態における光学配置とｆθレンズ６の非球面係数を示す。
(Where r ′ = r (1 + D 2 Y 2 + D 4 Y 4 + D 6 Y 6 + D 8 Y 8 + D 10 Y 10 )
It can be expressed by the following formula. Table 1 shows the optical arrangement and the aspherical coefficient of the fθ lens 6 in this embodiment.
図４はｆθレンズ６の長手方向（主走査断面内）の位置に対する副走査方向の曲率の変化を示す説明図であり、同図に示すように軸上でメニスカス形状の曲率がきつく、軸上から軸外に向かうに従って平凸になっていくことがわかる。図７はｆθレンズ６の非球面形状を示す説明図であり、太い実線は主走査方向のレンズ面形状、細い実線は副走査方向の主平面の軌跡であり、前側主平面と後側主平面を示している。 FIG. 4 is an explanatory diagram showing changes in the curvature in the sub-scanning direction with respect to the position of the fθ lens 6 in the longitudinal direction (within the main scanning section). As shown in the figure, the meniscus-shaped curvature is tight on the axis. It turns out that it becomes plano-convex as it goes off-axis. FIG. 7 is an explanatory diagram showing the aspherical shape of the fθ lens 6. The thick solid line is the lens surface shape in the main scanning direction, and the thin solid line is the locus of the main plane in the sub-scanning direction. Is shown.
本実施形態において像高による副走査方向の横倍率の変化を抑える為の主平面の軌跡の湾曲量ｄｘは
Ｉｐｒｉ ＝４８．７３ Ｅｐｒｉ ＝１０８．７７
θｐｏｒ ＝４４．４° θｉｍｇ ＝２９．１０°
より
ｄｘ＝６．５０
となる。又ｆθレンズ６の副走査方向の前側主平面の軌跡の湾曲量ｘｍと後側主平面の軌跡の湾曲量ｘｕは
ｘｍ＝３．２４ ｘｕ＝７．４８
となり、これら上記の値は前述の条件式（１）（ｘｍ≦ｄｘ≦ｘｕ）を満足させている。
In this embodiment, the curvature dx of the trajectory of the main plane for suppressing the change in the lateral magnification in the sub-scanning direction due to the image height is Ipri = 48.73 Epi = 108.77
θ por = 44.4 ° θ img = 29.10 °
Than
dx = 6.50
It becomes. The curvature amount xm of the trajectory of the front main plane in the sub-scanning direction of the fθ lens 6 and the curvature amount xu of the trajectory of the rear main plane are xm = 3.24 xu = 7.48.
These values satisfy the above-described conditional expression (1) (xm ≦ dx ≦ xu).
このように、２つのレンズ面の主走査断面内の形状は非球面形状であり、且つ、２つのレンズ面の副走査方向における曲率を軸上から軸外に向かい連続的に変化させている。これにより本実施形態においては光偏向器５と被走査面８間における副走査方向の横倍率を軸上と軸外において実用上問題のないレベルまで揃えることができ、図１０に示すように像高による副走査方向のスポット径の変化を小さく抑えることができる。これにより安価で高精細な印字に適した走査光学装置を達成している。 As described above, the shapes of the two lens surfaces in the main scanning section are aspherical, and the curvatures of the two lens surfaces in the sub-scanning direction are continuously changed from on-axis to off-axis. As a result, in the present embodiment, the lateral magnification in the sub-scanning direction between the optical deflector 5 and the surface to be scanned 8 can be aligned to a level that does not cause any practical problem on the axis and off-axis, as shown in FIG. A change in the spot diameter in the sub-scanning direction due to the height can be suppressed small. This achieves an inexpensive scanning optical device suitable for high-definition printing.
図２（Ａ），（Ｂ）は各々本発明の実施形態２の主走査方向と副走査方向の要部断面図である。同図において図１に示した要素と同一要素には同符番を付している。 2A and 2B are cross-sectional views of main parts in the main scanning direction and the sub-scanning direction, respectively, according to the second embodiment of the present invention. In the figure, the same elements as those shown in FIG.
本実施形態において前述の実施形態１と異なる点は半導体レーザ（光源部）から出射する発散光束をコリメーターレンズにより収束光束ではなく平行光束に変換している点と、これに伴なってｆθレンズのレンズ形状を異ならせたことである。その他の構成及び光学的作用は前述の実施形態１と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。表２に本実施形態における光学配置とｆθレンズ２６の非球面係数を示す。 This embodiment is different from the first embodiment described above in that a divergent light beam emitted from a semiconductor laser (light source unit) is converted into a parallel light beam instead of a convergent light beam by a collimator lens, and accordingly, an fθ lens. The lens shape is different. Other configurations and optical actions are substantially the same as those of the first embodiment described above, thereby obtaining the same effects. Table 2 shows the optical arrangement and the aspherical coefficient of the fθ lens 26 in this embodiment.
図５はｆθレンズ２６の長手方向の位置に対する副走査方向の曲率の変化を示す説明図であり、同図に示すように軸上から軸外に向かうに従ってメニスカス形状の曲率がきつくなっていくことがわかる。図８はｆθレンズ２６の非球面形状を示す説明図であり、太い実線は主走査方向のレンズ面形状、細い実線は副走査方向の主平面の軌跡であり、前側主平面と後側主平面を示している。 FIG. 5 is an explanatory diagram showing changes in the curvature in the sub-scanning direction with respect to the longitudinal position of the fθ lens 26. As shown in the figure, the meniscus curvature becomes stiffer from the on-axis to the off-axis. I understand. FIG. 8 is an explanatory view showing the aspherical shape of the fθ lens 26. The thick solid line is the lens surface shape in the main scanning direction, and the thin solid line is the locus of the main plane in the sub-scanning direction. Is shown.
本実施形態において像高による副走査方向の横倍率の変化を抑える為の主平面の軌跡の湾曲量ｄｘは
Ｉｐｒｉ ＝５３．９４ Ｅｐｒｉ ＝１４７．５１
θｐｏｒ ＝４２．０° θｉｍｇ ＝２４．５７°
より
ｄｘ＝７．６０
となる。又ｆθレンズ２６の副走査方向の前側主平面の軌跡の湾曲量ｘｍと後側主平面の軌跡の湾曲量ｘｕは
ｘｍ＝７．３４ ｘｕ＝１２．３１
となり、これら上記の値は前述の条件式（１）（ｘｍ≦ｄｘ≦ｘｕ）を満足させている。
In this embodiment, the curvature dx of the trajectory of the main plane for suppressing the change in the lateral magnification in the sub-scanning direction due to the image height is Ipri = 53.94 Epi = 147.51.
θ por = 42.0 ° θ img = 24.57 °
Than
dx = 7.60
It becomes. The curvature amount xm of the trajectory of the front main plane in the sub-scanning direction of the fθ lens 26 and the curvature amount xu of the trajectory of the rear main plane are xm = 7.34 xu = 12.31.
These values satisfy the above-described conditional expression (1) (xm ≦ dx ≦ xu).
これにより本実施形態においては前述の実施形態１と同様に光偏向器５と被走査面８間における副走査方向の横倍率を軸上と軸外において実用上問題のないレベルまで揃えることができる。この結果、図１１に示すように像高による副走査方向のスポット径の変化を小さく抑えることができる。これにより安価で高精細な印字に適した走査光学装置を達成している。 As a result, in this embodiment, as in the first embodiment, the lateral magnification in the sub-scanning direction between the optical deflector 5 and the surface to be scanned 8 can be aligned to a level where there is no practical problem on and off the axis. . As a result, as shown in FIG. 11, the change in the spot diameter in the sub-scanning direction due to the image height can be suppressed small. This achieves an inexpensive scanning optical device suitable for high-definition printing.
本実施形態では前述の如く半導体レーザ１から出射した発散光束をコリメーターレンズ２により平行光束に変換している。このため、光偏向器によるジッターがなく、又副走査方向のパワーを重点的に発生するレンズ面Ｒ２の主走査方向のレンズ形状が横倍率を揃える為の主平面の軌跡の形状と類似している。この為、像高による子線方向の曲率の変化が少なくても横倍率を揃えることができ、これにより更なる高精細な印字に適したレーザービームプリンタに好適な走査光学装置を達成することができる。 In this embodiment, the divergent light beam emitted from the semiconductor laser 1 is converted into a parallel light beam by the collimator lens 2 as described above. For this reason, there is no jitter due to the optical deflector, and the shape of the lens in the main scanning direction of the lens surface R2 that generates power in the sub-scanning direction is similar to the shape of the trajectory of the main plane for aligning the lateral magnification. Yes. For this reason, even if there is little change in the curvature in the direction of the sub-line due to the image height, the horizontal magnification can be made uniform, thereby achieving a scanning optical device suitable for a laser beam printer suitable for further high-definition printing. it can.
図３（Ａ），（Ｂ）は各々本発明の実施形態３の主走査方向と副走査方向の要部断面図である。同図において図１に示した要素と同一要素には同符番を付している。 3A and 3B are cross-sectional views of main parts in the main scanning direction and the sub-scanning direction, respectively, according to the third embodiment of the present invention. In the figure, the same elements as those shown in FIG.
本実施形態において前述の実施形態１と異なる点は次のとおりである。即ち独立的に変調可能な複数（本実施形態では２つ）の光源部を有する光源手段１１から出射する複数の光ビームを被走査面上において一定の間隔となるよう同時に走査するマルチビーム走査光学系より構成した点である。 The present embodiment is different from the first embodiment as follows. That is, multi-beam scanning optics that simultaneously scans a plurality of light beams emitted from light source means 11 having a plurality of (two in the present embodiment) light source units that can be independently modulated at regular intervals on the surface to be scanned. It is a point constructed from the system.
更に、これに伴ないｆθレンズの子線方向（副走査方向）のレンズ形状を異ならせたことである。その他の構成及び光学的作用は前述の実施形態１と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。上記複数の光源部は副走査方向に所定の間隔で配置されている。表３に本実施形態における光学配置とｆθレンズ３６の非球面係数を示す。 Further, in accordance with this, the lens shape in the sub-line direction (sub-scanning direction) of the fθ lens is varied. Other configurations and optical actions are substantially the same as those of the first embodiment described above, thereby obtaining the same effects. The plurality of light source units are arranged at predetermined intervals in the sub-scanning direction. Table 3 shows the optical arrangement and the aspherical coefficient of the fθ lens 36 in this embodiment.
本実施形態ではｆθレンズ３６のレンズ面のうち少なくとも１つのレンズ面の子線方向のレンズ形状を曲率の符号が軸上から軸外に向かって反転するように設定している。この為ｆθレンズ３６の副走査方向と対応する子線方向は In the present embodiment, the lens shape in the sub-line direction of at least one lens surface of the fθ lens 36 is set so that the sign of curvature is reversed from on-axis to off-axis. Therefore, the direction of the sub-line corresponding to the sub-scanning direction of the fθ lens 36 is
ここでｒ´＝ｒ＋ｄ２Ｙ２＋ｄ４Ｙ４＋ｄ６Ｙ６＋ｄ８Ｙ８＋ｄ１０Ｙ１０
なる式で表わされる。又主走査方向と対応する母線方向は前述の実施形態１と同様の（ｃ）式にて表わされる。
Here, r ′ = r + d 2 Y 2 + d 4 Y 4 + d 6 Y 6 + d 8 Y 8 + d 10 Y 10
It is expressed by the following formula. The bus direction corresponding to the main scanning direction is expressed by the same equation (c) as in the first embodiment.
図６は本実施形態におけるｆθレンズ３６の長手方向の位置に対する副走査方向の曲率の変化を示す説明図である。図６に示すようにレンズ面Ｒ１では軸上から軸外に向かうに従って副走査方向の曲率の符号が反転し、軸上のメニスカス形状が軸外では平凸形状を経由して両凸形状に変化していることが分かる。図９はｆθレンズ３６の非球面形状を示す説明図であり、太い実線は主走査方向のレンズ面形状、細い実線は副走査方向の主平面の軌跡であり、前側主平面と後側主平面を示している。 FIG. 6 is an explanatory diagram showing a change in curvature in the sub-scanning direction with respect to the longitudinal position of the fθ lens 36 in the present embodiment. As shown in FIG. 6, on the lens surface R1, the sign of the curvature in the sub-scanning direction is reversed from the on-axis to the off-axis, and the on-axis meniscus shape changes to a biconvex shape via a plano-convex shape off the axis. You can see that FIG. 9 is an explanatory view showing the aspherical shape of the fθ lens 36, where the thick solid line is the lens surface shape in the main scanning direction, and the thin solid line is the locus of the main plane in the sub-scanning direction, the front main plane and the rear main plane. Is shown.
本実施形態において像高による副走査方向の横倍率の変化を抑える為の主平面の軌跡の湾曲量ｄｘは
Ｐｐｒｉ ＝４８．７３ Ｅｐｒｉ ＝１０８．７７
θｐｏｒ ＝４４．４° θｉｍｇ ＝２９．１０°
より
ｄｘ＝６．５０
となる。又ｆθレンズ３６の副走査方向の前側主平面の軌跡の湾曲量ｘｍと後側主平面の軌跡の湾曲量ｘｕは
ｘｍ＝４．９３ ｘｕ＝９．１０
となり、これら上記の値は前述の条件式（１）（ｘｍ≦ｄｘ≦ｘｕ）を満足させている。
In this embodiment, the curvature dx of the trajectory of the main plane for suppressing the change in the lateral magnification in the sub-scanning direction due to the image height is Ppri = 48.73 Epi = 108.77
θ por = 44.4 ° θ img = 29.10 °
Than
dx = 6.50
It becomes. The curvature amount xm of the trajectory of the front main plane in the sub-scanning direction of the fθ lens 36 and the curvature amount xu of the trajectory of the rear main plane are xm = 4.93 xu = 9.10.
These values satisfy the above-described conditional expression (1) (xm ≦ dx ≦ xu).
これにより本実施形態においては前述の実施形態１，２と同様に光偏向器５と被走査面８間における副走査方向の横倍率は軸上と軸外において実用上問題のないレベルまで揃えることができ、像高による副走査方向のスポット径の変化を小さく抑えることができる。これにより安価で高精細な印字に適した走査光学装置を達成している。又、本実施形態では複数の光ビームを用いて被走査面上を同時に走査するマルチビーム走査光学装置である為、該被走査面上における走査線の曲がりは画像上でピッチムラとなるので良くない。 As a result, in the present embodiment, the lateral magnification in the sub-scanning direction between the optical deflector 5 and the surface to be scanned 8 is aligned to a level that causes no practical problem on the axis and off-axis, as in the first and second embodiments. Thus, the change in the spot diameter in the sub-scanning direction due to the image height can be suppressed to be small. This achieves an inexpensive scanning optical device suitable for high-definition printing. Further, in the present embodiment, since it is a multi-beam scanning optical device that simultaneously scans the surface to be scanned using a plurality of light beams, the curve of the scanning line on the surface to be scanned becomes uneven in pitch on the image, which is not good. .
そこで本実施形態では副走査方向の曲率半径をレンズの有効部内において像高により連続的に変化させている。これによって図１２に示すように被走査面上における走査線の曲がりをなくすことができ、これによりピッチムラのない高画質の走査光学装置（マルチビーム走査光学装置）を達成している。 Therefore, in this embodiment, the radius of curvature in the sub-scanning direction is continuously changed according to the image height within the effective portion of the lens. As a result, it is possible to eliminate the bending of the scanning line on the surface to be scanned as shown in FIG. 12, thereby achieving a high-quality scanning optical device (multi-beam scanning optical device) free from pitch unevenness.
図１３（Ａ），（Ｂ）は各々本発明の実施形態４の主走査方向と副走査方向の要部断面図である。同図において図３に示した要素と同一要素には同符番を付している。同図において４６は第３の光学素子としてのｆθ特性を有する１枚のレンズより成るｆθレンズ（結像光学系）であり、光偏向器５と被走査面としての感光ドラム面８との中間より該光偏向器５側に配置している。 FIGS. 13A and 13B are cross-sectional views of main parts in the main scanning direction and the sub-scanning direction, respectively, according to the fourth embodiment of the present invention. In the figure, the same elements as those shown in FIG. In the figure, reference numeral 46 denotes an fθ lens (imaging optical system) composed of a single lens having an fθ characteristic as a third optical element, which is intermediate between the optical deflector 5 and the photosensitive drum surface 8 as a scanned surface. Further, it is arranged on the optical deflector 5 side.
本実施形態におけるｆθレンズ４６の両レンズ面は共に副走査方向における曲率を軸上から軸外に向かい連続的に変化させている。これにより本実施形態では被走査面に入射する光束の像高による副走査方向のＦナンバーの変化、即ちスポット径の変化を小さく抑えている。又ｆθレンズ４６の両レンズ面のうち少なくとも１つのレンズ面（第１面）Ｒ１の副走査方向の曲率の符号を軸上から軸外に向かい反転させている。 Both the lens surfaces of the fθ lens 46 in the present embodiment continuously change the curvature in the sub-scanning direction from on-axis to off-axis. Thereby, in the present embodiment, the change in the F number in the sub-scanning direction due to the image height of the light beam incident on the surface to be scanned, that is, the change in the spot diameter, is suppressed to be small. Further, the sign of the curvature in the sub-scanning direction of at least one lens surface (first surface) R1 of both lens surfaces of the fθ lens 46 is reversed from the on-axis to the off-axis.
更にｆθレンズ４６の両レンズ面の副走査方向の曲率を軸上から軸外に向かい光軸に対して非対称になるように変化させている。ｆθレンズ４６は光偏向器５によって偏向反射された画像情報に基づく複数の光束を感光ドラム８面上に結像させ、かつ該光偏向器５の偏向面の面倒れを補正している。尚、本実施形態においてはｆθレンズ４６をプラスチック成型により製作しても良く、あるいはガラス成型（ガラスモールド）により製作しても良い。 Further, the curvature in the sub-scanning direction of both lens surfaces of the fθ lens 46 is changed from on-axis to off-axis so as to be asymmetric with respect to the optical axis. The fθ lens 46 forms a plurality of light beams based on the image information deflected and reflected by the optical deflector 5 on the surface of the photosensitive drum 8 and corrects the surface tilt of the deflecting surface of the optical deflector 5. In the present embodiment, the fθ lens 46 may be manufactured by plastic molding, or may be manufactured by glass molding (glass molding).
本実施形態において半導体レーザー１１より出射した独立変調された２本の発散光束はコリメーターレンズ２により収束光束に変換され、開口絞り３によって該光束（光量）を制限してシリンドリカルレンズ４に入射している。シリンドリカルレンズ４に入射した光束のうち主走査断面においてはそのままの状態で射出する。又副走査断面においては収束して光偏向器５の偏向面５ａにほぼ線像（主走査方向に長手の線像）として結像している。 In this embodiment, the two independently modulated divergent light beams emitted from the semiconductor laser 11 are converted into a convergent light beam by the collimator lens 2, and the light beam (light quantity) is limited by the aperture stop 3 and is incident on the cylindrical lens 4. ing. Out of the light beam incident on the cylindrical lens 4, the light beam exits as it is in the main scanning section. In the sub-scan section, the light beam converges and forms a substantially line image (line image long in the main scanning direction) on the deflecting surface 5a of the optical deflector 5.
そして光偏向器５の偏向面５ａで偏向反射された２本の光束は主走査方向と副走査方向とで互いに異なる屈折力を有するｆθレンズ４６を介して感光ドラム８面上に２つのスポットを形成し、該光偏向器５を矢印Ａ方向に回転させている。これによって、該感光ドラム８面上を矢印Ｂ方向に走査している。これにより画像記録を行なっている。 The two light beams deflected and reflected by the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 form two spots on the surface of the photosensitive drum 8 through the fθ lens 46 having different refractive powers in the main scanning direction and the sub-scanning direction. The optical deflector 5 is rotated in the direction of arrow A. As a result, the surface of the photosensitive drum 8 is scanned in the direction of arrow B. Thus, image recording is performed.
本実施形態ではｆθレンズ４６のレンズ形状を主走査方向は１０次までの関数で表わせる非球面形状とし、副走査方向は像高方向に連続的に変化する球面より構成している。そのレンズ形状は、主走査方向と対応する母線方向が、前記（ｃ）式に示されるものであり、又副走査方向（ｆθレンズの光軸を含む主走査方向に対して直交する方向）と対応する子線方向が、 In the present embodiment, the lens shape of the fθ lens 46 is an aspherical shape in which the main scanning direction can be expressed by a function up to the tenth order, and the sub-scanning direction is constituted by a spherical surface that continuously changes in the image height direction. The lens shape is such that the generatrix direction corresponding to the main scanning direction is shown in the above equation (c), and the sub-scanning direction (the direction orthogonal to the main scanning direction including the optical axis of the fθ lens). The corresponding line direction is
なる式で表わせるものである。 It can be expressed by the following formula.
一般にマルチビーム走査光学装置において視覚的にピッチムラを目立たなくさせる為には、走査線曲がりによるピッチムラを副走査方向のビームピッチの１／１０以下にすることが望ましい。例えば副走査方向の解像度が６００ｄｐｉの走査光学装置の場合、副走査方向におけるビームピッチは４２μｍとなるため、許容できるピッチムラは約４μｍ以下となる。 In general, in order to make the uneven pitch visually inconspicuous in a multi-beam scanning optical apparatus, it is desirable that the uneven pitch due to the scanning line bend is 1/10 or less of the beam pitch in the sub-scanning direction. For example, in the case of a scanning optical apparatus having a resolution of 600 dpi in the sub-scanning direction, the beam pitch in the sub-scanning direction is 42 μm, and therefore allowable pitch unevenness is about 4 μm or less.
そこで本実施形態では被走査面に入射する光束の副走査方向のＦナンバーの最大値をＦｍａｘ、最小値をＦｍｉｎとしたとき、
Ｆｍｉｎ／Ｆｍａｘ≧０．９ ‥‥‥（２）
なる条件を満足するようにｆθレンズ４６の両レンズ面の副走査方向における曲率を軸上から軸外に向かい連続的に変化させている。これによって、被走査面上における走査線曲がりをなくすことができ、これによりピッチムラの少ない、高画質でコンパクトなマルチビーム走査光学装置を達成している。
Therefore, in this embodiment, when the maximum value of the F number in the sub-scanning direction of the light beam incident on the surface to be scanned is Fmax and the minimum value is Fmin,
Fmin / Fmax ≧ 0.9 (2)
The curvature in the sub-scanning direction of both lens surfaces of the fθ lens 46 is continuously changed from on-axis to off-axis so as to satisfy the following condition. As a result, it is possible to eliminate scanning line bending on the surface to be scanned, thereby achieving a high-quality and compact multi-beam scanning optical apparatus with little pitch unevenness.
上記の条件式（２）を外れると走査線曲がりによってピッチムラが視覚的に目立ち実用上問題となってくるので良くない。表４に実施形態４における光学配置とｆθレンズ４６の非球面係数を示す。 If the above conditional expression (2) is deviated, the pitch unevenness is visually noticeable and becomes a practical problem due to the scanning line bending. Table 4 shows the optical arrangement and the aspherical coefficient of the fθ lens 46 in the fourth embodiment.
図１６は実施形態４の被走査面上における副走査方向のＦナンバーの変化を示す説明図である。本実施形態ではｆθレンズ４６の副走査方向の曲率を両レンズ面において図１９に示すように軸上から軸外に向かい連続的に変化させることによって、像高によるＦナンバーの変化率を、
Ｆｍｉｎ／Ｆｍａｘ＝６４．５２／６６．３１＝０．９７３
０．９以上になるよう抑えている。
FIG. 16 is an explanatory diagram showing changes in the F-number in the sub-scanning direction on the surface to be scanned according to the fourth embodiment. In this embodiment, the curvature of the fθ lens 46 in the sub-scanning direction is continuously changed from on-axis to off-axis on both lens surfaces as shown in FIG.
Fmin / Fmax = 64.52 / 66631 = 0.993
It is suppressed to 0.9 or more.
図２２は本実施形態のマルチビーム走査光学装置を解像度６００ｄｐｉ（走査線間隔４２．３μｍ）で使用したときの走査線曲がりを示す説明図である。上記のとおり像高によるＦナンバーの変化を抑えることによって、走査線曲がりは０．２μｍ程度（ピッチムラは０．４μｍ程度）と実用上全く問題のないレベルにすることができる。 FIG. 22 is an explanatory diagram showing scanning line bending when the multi-beam scanning optical apparatus of the present embodiment is used at a resolution of 600 dpi (scanning line interval 42.3 μm). As described above, by suppressing the change in the F-number due to the image height, the scanning line curve can be reduced to a level that is practically no problem at about 0.2 μm (pitch unevenness is about 0.4 μm).
このように本実施形態では上述の如く条件式（２）を満足させつつｆθレンズ４６の副走査方向（子線方向）の曲率を両レンズ面とも軸上から軸外に向けて連続的に変化させている。これによって、像高による副走査方向のＦナンバーの変化，即ちスポット径の変化を所定量以下（本装置の許容値内）に抑え、マルチビーム走査光学装置において問題となる走査線曲がりによるピッチムラをなくしている。又、本実施形態では第３の光学素子（ｆθレンズ）４６を単レンズで構成している為、コンパクトで低コストなマルチビーム走査光学装置を達成することができる。 As described above, in this embodiment, the curvature of the fθ lens 46 in the sub-scanning direction (the sub-line direction) is continuously changed from on-axis to off-axis on both lens surfaces while satisfying the conditional expression (2) as described above. I am letting. As a result, the change in the F-number in the sub-scanning direction due to the image height, that is, the change in the spot diameter is suppressed to a predetermined amount or less (within the allowable value of the present apparatus), and pitch unevenness due to scanning line bending, which is a problem in the multi-beam scanning optical apparatus, It is lost. In the present embodiment, since the third optical element (fθ lens) 46 is constituted by a single lens, a compact and low-cost multi-beam scanning optical apparatus can be achieved.
図１４（Ａ），（Ｂ）は各々本発明の実施形態５の主走査方向と副走査方向の要部断面図である。同図において図３に示した要素と同一要素には同符番を付している。 14A and 14B are cross-sectional views of main parts in the main scanning direction and the sub-scanning direction, respectively, according to the fifth embodiment of the present invention. In the figure, the same elements as those shown in FIG.
本実施形態において前述の実施形態４と異なる点は、さらなる高精細印字に対応できるよう主走査方向の像面湾曲を小さくする為、ｆθレンズ５６の両レンズ面の母線方向の曲率を光軸に対して非対称となるように設定した点である。更に、ポリゴンミラー１５のポリゴン面数を４面から６面とし高速印字に対応した点である。その他の構成及び光学的作用は前述の実施形態４と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。表５に実施形態５における光学配置とｆθレンズ５６の非球面係数を示す。 In this embodiment, the difference from the above-described fourth embodiment is that the curvature in the generatrix direction of both lens surfaces of the fθ lens 56 is used as the optical axis in order to reduce the curvature of field in the main scanning direction so as to cope with higher-definition printing. The point is set so as to be asymmetrical. Furthermore, the number of polygon surfaces of the polygon mirror 15 is changed from 4 to 6 to support high-speed printing. Other configurations and optical actions are substantially the same as those of the above-described fourth embodiment, thereby obtaining the same effects. Table 5 shows the optical arrangement and the aspherical coefficient of the fθ lens 56 in the fifth embodiment.
図１７は実施形態５の被走査面上における副走査方向のＦナンバーの変化を示す説明図である。本実施形態ではｆθレンズ５６の副走査方向の曲率を両レンズ面において図２０に示すように軸上から軸外に向かい連続的に変化させることによって、像高によるＦナンバーの変化率を、
Ｆｍｉｎ／Ｆｍａｘ＝４９．７５／５３．０８＝０．９３７
０．９以上になるよう抑えている。
FIG. 17 is an explanatory diagram showing changes in the F-number in the sub-scanning direction on the surface to be scanned according to the fifth embodiment. In the present embodiment, the curvature of the fθ lens 56 in the sub-scanning direction is continuously changed from the on-axis to the off-axis on both lens surfaces as shown in FIG.
Fmin / Fmax = 49.75 / 53.08 = 0.937
It is suppressed to 0.9 or more.
図２３は本実施形態のマルチビーム走査光学装置を解像度６００ｄｐｉ（走査線間隔４２．３μｍ）で使用したときの走査線曲がりを示す説明図である。上記のとおり像高によるＦナンバーの変化を抑えることによって、走査線曲がりは１．２μｍ程度（ピッチムラは２．４μｍ程度）と実用上全く問題のないレベルにすることができる。 FIG. 23 is an explanatory diagram showing scanning line bending when the multi-beam scanning optical apparatus of this embodiment is used at a resolution of 600 dpi (scanning line interval 42.3 μm). As described above, by suppressing the change in the F-number due to the image height, the scanning line curve can be reduced to about 1.2 μm (pitch unevenness is about 2.4 μm), which is a practically no problem level.
このように本実施形態においても前述の実施形態４と同様に条件式（２）を満足させつつｆθレンズ５６の副走査方向（子線方向）の曲率を両レンズ面とも軸上から軸外に向けて連続的に変化させている。これによって、像高による副走査方向のＦナンバーの変化、即ちスポット径の変化を所定量以下に抑え、マルチビーム走査光学装置において問題となる走査線曲がりによるピッチムラをなくしている。 As described above, in the present embodiment as well, the curvature in the sub-scanning direction (child-line direction) of the fθ lens 56 is changed from on-axis to off-axis on both lens surfaces while satisfying the conditional expression (2) as in the above-described fourth embodiment. It is changing continuously. As a result, the change in the F-number in the sub-scanning direction due to the image height, that is, the change in the spot diameter is suppressed to a predetermined amount or less, and the pitch unevenness due to the scanning line bending which is a problem in the multi-beam scanning optical apparatus is eliminated.
又本実施形態ではｆθレンズ（第３の光学素子）５６の両レンズ面の母線方向の曲率を光軸に対して非対称となるように設定することにより、主走査方向の像面湾曲を抑え、さらなる高精細印字に適したマルチビーム走査光学装置を達成している。 In this embodiment, the curvature of the generatrix direction of both lens surfaces of the fθ lens (third optical element) 56 is set to be asymmetric with respect to the optical axis, thereby suppressing curvature of field in the main scanning direction. A multi-beam scanning optical device suitable for further high-definition printing is achieved.
図１５（Ａ），（Ｂ）は各々本発明の実施形態６の主走査方向と副走査方向の要部断面図である。同図において図３に示した要素と同一要素には同符番を付している。 15A and 15B are cross-sectional views of main parts in the main scanning direction and the sub-scanning direction, respectively, according to the sixth embodiment of the present invention. In the figure, the same elements as those shown in FIG.
本実施形態において前述の実施形態４と異なる点は、ｆθレンズ（第３の光学素子）７６を２枚のレンズより構成し、さらなる精度で走査線曲がりによるピッチムラを低減している点である。更に、独立的に変調可能な複数の発光部を有する半導体レーザ１１からの光束をコリメーターレンズ２で略平行光束に変換している点、そしてポリゴンミラー１５のポリゴン面数を４面から６面とし高速印字に対応した点である。その他の構成及び光学的作用は前述の実施形態４と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。 The present embodiment is different from the above-described fourth embodiment in that the fθ lens (third optical element) 76 is composed of two lenses, and pitch unevenness due to scanning line bending is reduced with further accuracy. Further, the light beam from the semiconductor laser 11 having a plurality of light emitting portions that can be independently modulated is converted into a substantially parallel light beam by the collimator lens 2, and the number of polygon surfaces of the polygon mirror 15 is changed from four to six. This corresponds to high-speed printing. Other configurations and optical actions are substantially the same as those of the above-described fourth embodiment, thereby obtaining the same effects.
即ち、同図において７６は第３の光学素子としてのｆθレンズである。ｆθレンズ７６は、ガラス材より成る第１ｆθレンズとしての球面レンズ７６ａと、プラスチック材より成る非球面形状の第２ｆθレンズとしてのトーリックレンズ（非球面プラスチックトーリックレンズ）７６ｂとの２枚のレンズより成っている。ガラス球面レンズ７６ａは光偏向器１５と感光ドラム面８との中間より該光偏向器１５側に配され、主にｆθ特性を補正する役割を持っている。非球面プラスチックトーリックレンズ７６ｂは主に像面湾曲の補正及び副走査方向の横倍率の補正を行っている。 That is, in the figure, reference numeral 76 denotes an fθ lens as a third optical element. The fθ lens 76 includes two lenses: a spherical lens 76a as a first fθ lens made of a glass material and a toric lens (aspheric plastic toric lens) 76b as an aspherical second fθ lens made of a plastic material. ing. The glass spherical lens 76a is disposed on the optical deflector 15 side from the middle between the optical deflector 15 and the photosensitive drum surface 8, and mainly has a role of correcting the fθ characteristic. The aspheric plastic toric lens 76b mainly corrects curvature of field and lateral magnification in the sub-scanning direction.
以上のように本実施例では、
少なくとも２つのレンズ面の主走査断面内の形状は非球面形状であり、且つ、
少なくとも２つのレンズ面の副走査方向における曲率を主走査方向において軸上から軸外に向かい連続的に変化させている。
As described above, in this embodiment,
The shape in the main scanning section of at least two lens surfaces is an aspheric shape, and
Curvatures in the sub-scanning direction of at least two lens surfaces are continuously changed from on-axis to off-axis in the main scanning direction.
本実施形態では副走査方向の屈折力のほとんどの部分を担っている非球面プラスチックトーリックレンズ７６ｂの両レンズ面の子線方向（副走査方向）における曲率を軸上から軸外に向かい連続的に変化させている。これによって、被走査面上における副走査方向のＦナンバーの変化、即ちスポット径の変化を抑えている。表６に実施形態６における光学配置とｆθレンズ（球面レンズ７６ａ及びトーリックレンズ７６ｂ）７６の非球面係数を示す。 In this embodiment, the curvature in the sub-line direction (sub-scanning direction) of both lens surfaces of the aspheric plastic toric lens 76b, which bears most of the refractive power in the sub-scanning direction, is continuously increased from on-axis to off-axis. It is changing. This suppresses changes in the F number in the sub-scanning direction on the surface to be scanned, that is, changes in the spot diameter. Table 6 shows the optical arrangement and the aspherical coefficient of the fθ lens (spherical lens 76a and toric lens 76b) 76 in the sixth embodiment.
図１８は実施形態６の被走査面上における副走査方向のＦナンバーの変化を示す説明図である。本実施形態ではトーリックレンズ７６ｂの副走査方向の曲率を両レンズ面において図２１に示すように軸上から軸外に向かい連続的に変化させることによって、像高によるＦナンバーの変化率を、
Ｆｍｉｎ／Ｆｍａｘ＝７２．６７／７３．７５＝０．９８５
０．９以上になるよう抑えている。
FIG. 18 is an explanatory diagram showing changes in the F-number in the sub-scanning direction on the surface to be scanned according to the sixth embodiment. In this embodiment, the curvature of the toric lens 76b in the sub-scanning direction is continuously changed from on-axis to off-axis on both lens surfaces as shown in FIG.
Fmin / Fmax = 72.67 / 73.75 = 0.985
It is suppressed to 0.9 or more.
図２４は本実施形態のマルチビーム走査光学装置を解像度６００ｄｐｉ（走査線間隔４２．３μｍ）で使用したときの走査線曲がりを示す説明図である。上記のとおり像高によるＦナンバーの変化を抑えることによって、走査線曲がりは０．１μｍ程度（ピッチムラは０．２μｍ程度）と実用上問題のないレベルにすることができる。 FIG. 24 is an explanatory diagram showing scanning line bending when the multi-beam scanning optical apparatus of this embodiment is used at a resolution of 600 dpi (scanning line interval 42.3 μm). As described above, by suppressing the change in the F-number due to the image height, the scanning line curve can be reduced to a practically no problem level of about 0.1 μm (pitch unevenness is about 0.2 μm).
このように本実施形態においても前述の実施形態４と同様に条件式（２）を満足させつつｆθレンズ７６を構成するトーリックレンズ７６ｂの副走査方向（子線方向）の曲率を両レンズ面とも軸上から軸外に向けて連続的に変化させている。これによって、像高による副走査方向のＦナンバーの変化、即ちスポット径の変化を所定量以下に抑え、マルチビ
ーム走査光学装置において問題となる走査線曲がりによるピッチムラをなくしている。
As described above, in this embodiment as well, the curvature in the sub-scanning direction (the sub-line direction) of the toric lens 76b constituting the fθ lens 76 is satisfied for both lens surfaces while satisfying the conditional expression (2) as in the fourth embodiment. It is continuously changed from on-axis to off-axis. As a result, the change in the F-number in the sub-scanning direction due to the image height, that is, the change in the spot diameter is suppressed to a predetermined amount or less, and the pitch unevenness due to the scanning line bending which is a problem in the multi-beam scanning optical apparatus is eliminated.
又本実施形態ではｆθレンズ（第３の光学素子）７６を２枚のレンズで構成することによって、より高精度に走査線曲がりを補正することができ、さらなる高精細印字に適したマルチビーム走査光学装置を達成している。尚、第３の光学素子を構成する２枚のレンズのうち少なくとも１つのレンズ面の副走査方向の曲率の符号を軸上から軸外に向かい反転させて形成しても良い。又２枚のレンズのうち少なくとも２つのレンズ面の副走査方向の曲率を軸上から軸外に向かい光軸に対して非対称に変化させて形成しても良い。これにより更に高精細印字に適したマルチビーム走査光学装置を達成することができる。 In this embodiment, the fθ lens (third optical element) 76 is composed of two lenses, so that the scanning line bending can be corrected with higher accuracy, and multi-beam scanning suitable for higher-definition printing. Has achieved an optical device. The sign of the curvature in the sub-scanning direction of at least one lens surface of the two lenses constituting the third optical element may be reversed from the axis to the axis. Further, the curvature in the sub-scanning direction of at least two lens surfaces of the two lenses may be formed so as to be changed asymmetrically with respect to the optical axis from the axis to the axis. As a result, it is possible to achieve a multi-beam scanning optical apparatus more suitable for high-definition printing.
最後に本発明の走査光学装置との比較のために、先の図２６（Ａ），（Ｂ）で示した従来のシングルビームの走査光学装置でマルチビームの走査を行なったときの様子について説明する。 Finally, for comparison with the scanning optical apparatus of the present invention, the state when multi-beam scanning is performed with the conventional single beam scanning optical apparatus shown in FIGS. 26A and 26B will be described. To do.
図２８（Ａ），（Ｂ）は各々図２６（Ａ），（Ｂ）で示した従来のシングルビームの走査光学装置を用いてマルチビーム走査を行なった場合の主走査方向と副走査方向の要部断面図である。同図は、像高による副走査方向の角倍率及び被走査面における副走査方向のスポット径（Ｆナンバー）の変化を示している。表７は図２８（Ａ），（Ｂ）に示した光学配置とｆθレンズ８６の非球面係数である。 FIGS. 28A and 28B show the main scanning direction and the sub-scanning direction when multi-beam scanning is performed using the conventional single beam scanning optical device shown in FIGS. 26A and 26B, respectively. It is principal part sectional drawing. This figure shows changes in the angular magnification in the sub-scanning direction and the spot diameter (F number) in the sub-scanning direction on the surface to be scanned due to the image height. Table 7 shows the aspherical coefficients of the optical arrangement and the fθ lens 86 shown in FIGS.
同図において副走査方向に所定の間隔で配置された２つの発光部を有する光源手段８１から出射した独立変調された２本の発散光束はコリメーターレンズ８２により収束光束となる。そして、絞り８３によって該光束（光量）を制限して副走査方向にのみ所定の屈折力を有するシリンドリカルレンズ８４に入射している。シリンドリカルレンズ８４に入射した光束のうち主走査面内においてはそのままの状態で射出する。又副走査断面内においては集束して回転多面鏡（ポリゴンミラー）から成る光偏向器８５の偏向面（反射面）にほぼ線像として結像している。 In the figure, two independently modulated divergent light beams emitted from light source means 81 having two light emitting portions arranged at a predetermined interval in the sub-scanning direction are converged by a collimator lens 82. The light beam (light quantity) is limited by the diaphragm 83 and is incident on the cylindrical lens 84 having a predetermined refractive power only in the sub-scanning direction. Out of the light beam incident on the cylindrical lens 84, it exits as it is in the main scanning plane. In the sub-scan section, the light beam is converged and formed as a substantially linear image on the deflecting surface (reflecting surface) of the optical deflector 85 including a rotating polygon mirror (polygon mirror).
そして光偏向器８５の偏向面８５ａで偏向反射された２本の光束をｆθ特性を有する結像光学系（ｆθレンズ）８６を介して被走査面８８としての感光ドラム面上に導光している。そして、該光偏向器８５を矢印Ａ方向に回転させることによって該感光ドラム８８面上を光走査して画像情報の記録を行なっている。 Then, the two light beams deflected and reflected by the deflecting surface 85a of the optical deflector 85 are guided to the surface of the photosensitive drum as the scanned surface 88 through the imaging optical system (fθ lens) 86 having the fθ characteristic. Yes. Then, by rotating the optical deflector 85 in the direction of arrow A, the surface of the photosensitive drum 88 is optically scanned to record image information.
通常、面倒れ補正光学系では前述したように光偏向器の偏向面の面倒れを光学的に補正する為に、該偏向面と被走査面とを光学的に共役関係（結像関係）とする必要がある。図２８に示した比較例ではｆθレンズ８６の光偏向器８５側のレンズ面（第１面）Ｒ１の副走査方向の曲率（子線曲率）を一定に、被走査面側のレンズ面（第２面）Ｒ２の副走査方向の曲率（子線曲率）を軸上から軸外に向けて連続的に変化させている。これにより、どの像高においても共役関係となるように設定している。 Usually, in the surface tilt correction optical system, as described above, in order to optically correct the surface tilt of the deflecting surface of the optical deflector, the deflecting surface and the surface to be scanned are optically conjugate (imaging relationship) and There is a need to. In the comparative example shown in FIG. 28, the curvature of the lens surface (first surface) R1 of the fθ lens 86 on the optical deflector 85 side in the sub-scanning direction is constant, and the surface of the lens on the surface to be scanned (first surface). 2nd surface) The curvature (sub-wire curvature) of R2 in the sub-scanning direction is continuously changed from on-axis to off-axis. As a result, the conjugate relationship is set at any image height.
しかしながら上記の比較例のｆθレンズ８６は図３０に示すように片面（Ｒ１面）の子線曲率を一定にしている為、図２９に示すようにその母線形状により像高によってＦナンバー（ＦＮｏ）がばらつく。つまり軸上（軸上光束）では図２８（Ｂ）内の（イ）に示すように被走査面上における副走査方向のＦナンバーが大きい。この為、副走査方向の角倍率が小さく、軸外（軸外光束）では図２８（Ｂ）内の（ロ）に示すように副走査方向のＦナンバーが小さいため角倍率が大きい（主走査面形状により逆になる場合もある）。 However, since the fθ lens 86 of the above comparative example has a single-sided (R1 surface) sub-curvature curvature as shown in FIG. 30, the F-number (FNo) depends on the image height depending on the generatrix shape as shown in FIG. It varies. That is, on the axis (on-axis light beam), the F-number in the sub-scanning direction on the surface to be scanned is large as shown in (A) in FIG. For this reason, the angular magnification in the sub-scanning direction is small, and the off-axis (off-axis light flux) has a large angular magnification because the F-number in the sub-scanning direction is small as shown in (B) in FIG. It may be reversed depending on the surface shape).
一般に角倍率γと横倍率βは、
βγ＝−１
という関係が成り立つため、上記の比較例では軸上において横倍率が大きく、軸外において横倍率が小さくなる。このため像高によって副走査方向の横倍率にばらつきができ、マルチビーム走査光学装置のように光軸から外れた複数のレーザー光束を用いて走査する光学系では、被走査面上で走査線が曲がりを生じる。
In general, the angular magnification γ and lateral magnification β are
βγ = -1
Therefore, in the above comparative example, the lateral magnification is large on the axis and the lateral magnification is small outside the axis. For this reason, the horizontal magnification in the sub-scanning direction can vary depending on the image height, and in an optical system that scans using a plurality of laser beams that deviate from the optical axis, such as a multi-beam scanning optical device, the scanning line is on the surface to be scanned. Causes a bend.
図３１は上記の比較例のマルチビーム走査光学装置を解像度６００ｄｐｉ（走査線間隔４２．３μｍ）で使用した場合の走査線曲がりを示す説明図である。同図において周辺部の走査線は中心部に対して２．４μｍ曲がっている為、４．８μｍのピッチムラとなり画像品位を劣化させるという問題点がある。 FIG. 31 is an explanatory diagram showing scanning line bending when the multi-beam scanning optical apparatus of the comparative example is used at a resolution of 600 dpi (scanning line interval 42.3 μm). In the figure, since the scanning line in the peripheral portion is bent by 2.4 μm with respect to the central portion, there is a problem that the pitch unevenness becomes 4.8 μm and the image quality is deteriorated.
本発明の走査光学装置では上述した問題点は生じない。第１の発明によれば、前述の如くコリメーターレンズ等で変換された光源からの光束を光偏向器を介して１枚のｆθレンズにより被走査面上に結像させる際、該ｆθレンズのレンズ形状を最適化にする。これにより、像面湾曲や歪曲収差等を良好に補正し、かつ光偏向器と被走査面間における副走査方向の横倍率の不均一性を解消する。これによって像高による副走査方向のＦナンバーの変化、即ちスポット径の変化を抑えることができる、コンパクトで高精細な印字に適したｆθレンズ及びそれを有する走査光学装置を達成することができる。 The above-described problem does not occur in the scanning optical apparatus of the present invention. According to the first invention, when the light beam from the light source converted by the collimator lens or the like as described above is imaged on the surface to be scanned by the single fθ lens via the optical deflector, the fθ lens Optimize the lens shape. As a result, field curvature, distortion, and the like are corrected satisfactorily, and non-uniformity in lateral magnification in the sub-scanning direction between the optical deflector and the surface to be scanned is eliminated. As a result, it is possible to achieve a compact fθ lens suitable for high-definition printing and a scanning optical apparatus having the same that can suppress changes in the F-number in the sub-scanning direction due to the image height, that is, changes in the spot diameter.
また第２の発明によれば、前述の如くコリメーターレンズ等で変換された光源からの複数の光束を光偏向器を介してｆθレンズにより被走査面上に結像させる際、該ｆθレンズのレンズ形状を最適化にする。これにより、像面湾曲や歪曲収差等を良好に補正し、かつ光偏向器と被走査面間における副走査方向の横倍率の不均一性を解消する。これによって像高による副走査方向のＦナンバーの変化、即ちスポット径の変化を抑え、走査線曲がりによるピッチムラを低減させることができるｆθレンズ及びそれを有する走査光学装置を達成することができる。 According to the second invention, when the plurality of light beams from the light source converted by the collimator lens or the like as described above are imaged on the surface to be scanned by the fθ lens via the optical deflector, the fθ lens Optimize the lens shape. As a result, field curvature, distortion, and the like are corrected satisfactorily, and non-uniformity in lateral magnification in the sub-scanning direction between the optical deflector and the surface to be scanned is eliminated. As a result, it is possible to achieve an fθ lens and a scanning optical apparatus having the same that can suppress a change in F-number in the sub-scanning direction due to image height, that is, a change in spot diameter, and reduce pitch unevenness due to scanning line bending.
更に前記条件式（２）を満足するようにｆθレンズの副走査方向の曲率を決定することにより、視覚上問題のないレベルにまでピッチムラを低減させることができる走査光学装置を達成することができる。尚、本発明のレーザービームプリンタは前述した実施形態のうちいずれか１つの走査光学装置を有している。 Furthermore, by determining the curvature of the fθ lens in the sub-scanning direction so as to satisfy the conditional expression (2), it is possible to achieve a scanning optical device that can reduce pitch unevenness to a level that causes no visual problem. . Note that the laser beam printer of the present invention has any one of the scanning optical devices in the above-described embodiments.
１，１１ 光源手段 ２ 第１の光学素子（コリメーターレンズ）
３ 絞り ４ 第２の光学素子（シリンドリカルレンズ）
５，１５ 偏向素子（光偏向器）
６，２６，３６ 第３の光学素子（ｆθレンズ）
４６，５６，７６ 第３の光学素子（ｆθレンズ） ７６ａ 球面レンズ
７６ｂ トーリックレンズ ８ 被走査面（感光体ドラム）
２１ 軸上光束 ２２ 最軸外光束
1, 11 Light source means 2 First optical element (collimator lens)
3 Aperture 4 Second optical element (cylindrical lens)
5,15 Deflection element (optical deflector)
6, 26, 36 Third optical element (fθ lens)
46, 56, 76 Third optical element (fθ lens) 76a Spherical lens 76b Toric lens 8 Scanned surface (photosensitive drum)
21 On-axis light beam 22 Most off-axis light beam
Claims (4)
主走査断面において、前記回転多面鏡の偏向面に入射する光束は、前記結像光学系の光軸に対して斜め入射しており、
前記結像光学系は、１枚のトーリックレンズを備えており、
前記１枚のトーリックレンズの２つのレンズ面の副走査方向の曲率が、前記被走査面に入射する光束の副走査方向のＦナンバーの変化が小さくなるように前記光軸に対して非対称に軸上から軸外に向い連続的に変化しており、
前記１枚のトーリックレンズは、軸外から軸上に向うに従って、平凸形状から前記被走査面側に凸のメニスカス形状に近づくような形状であることを特徴とする走査光学装置。 Light source means, a rotary polygon mirror that deflects and reflects a plurality of light beams emitted from the light source means, and an imaging optical system that forms an image on the surface to be scanned on the light beams deflected and reflected by the deflection surface of the rotary polygon mirror A scanning optical device comprising:
In the main scanning section, the light beam incident on the deflection surface of the rotary polygon mirror is obliquely incident on the optical axis of the imaging optical system,
The imaging optical system includes one toric lens,
The sub-scanning direction in the curvature of the two lens surfaces of the single toric lens, the shaft asymmetrically with respect to the optical axis so that the change in the sub-scanning direction of the F-number of the light beam incident on the scan surface is smaller It changes continuously from the top to the off-axis ,
The scanning optical device according to claim 1, wherein the one toric lens has a shape that approaches a meniscus shape that is convex from the plano-convex shape toward the surface to be scanned as it goes from the off-axis to the on-axis .
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