JP5256973B2 - 画素駆動装置、発光装置及び表示装置 - Google Patents

Description

本発明は、画素アレイを駆動する画素駆動装置、発光装置及び表示装置に関するものである。

有機エレクトロルミネッセンス素子（有機ＥＬ素子）は、電場を加えることによって発光する蛍光性の有機化合物によって形成されたものであり、これを用いた有機発光ダイオード（Organic Light Emitting Diode：以下、ＯＬＥＤと記す）素子を各画素に有してなる表示パネルを備えた表示装置は次世代ディスプレイデバイスとして注目されている。

このような表示装置においては、ＯＬＥＤ素子が１画素に対応するようにそれぞれ行列配置されることによって表示パネルが形成され、画像データに基づいて、各画素のＯＬＥＤ素子を発光させることによって表示パネルに画像が表示される。

このＯＬＥＤ素子は供給される電流の電流値に応じた輝度で発光する電流駆動素子であり、アクティブマトリックス駆動方式を適用した表示パネルにおいては、各画素に、１つのＯＬＥＤ素子と、該ＯＬＥＤ素子に接続されて表示データに応じた電流値の駆動電流をＯＬＥＤ素子に流すための駆動用トランジスタを含む複数のトランジスタを有する画素駆動回路と、を備える。

このような表示パネルの駆動方法としては、例えば、表示データに応じた電圧値を有する電圧信号からなる駆動信号を駆動用トランジスタのゲート・ソース電極間に印加し、これをゲート・ソース電極間の容量成分に保持し、保持した電圧成分に応じた電流値の駆動電流を駆動用トランジスタのドレイン・ソース電極間に流して、これをＯＬＥＤ素子に供給するように構成される。

この場合、駆動電流の電流値は駆動用トランジスタのゲート電圧に対するドレイン・ソース間電流の特性によって決まるが、各画素の駆動用トランジスタにおける電気的特性にばらつきがあると、駆動電流の電流値にもばらつきを生じる。

また、各画素の駆動用トランジスタの特性が駆動履歴等によって変化（劣化）した場合には、駆動電流の電流値も変動する。このような駆動電流の電流値のばらつきや変動はそのまま画質の低下につながる。

そこで、画質の向上を図るため、駆動時に各画素の駆動用トランジスタのゲート・ソース間電圧を閾値電圧Ｖthに設定したうえで駆動信号を印加することによって、閾値電圧Ｖthのばらつきや変動の影響を抑えるようにしたものがある（例えば、特許文献１参照）。

しかしながら、特許文献１に記載されているような駆動方式では、駆動時に各画素の駆動用トランジスタのゲート・ソース間電圧を閾値電圧Ｖthに設定するための時間を必要とするが、画素数の多い高精細な表示パネルや比較的大型の表示パネルでは１画素の駆動に割り当てられる時間が比較的短くなるため、このような駆動方式を適用することは困難である。

そこで、このような表示パネルの駆動においては各画素の駆動用トランジスタの閾値電圧Ｖthに対応する補正値を例えば起動時や定期的に測定し、これを記憶しておき、表示駆動時に記憶された補正値を用いて駆動信号の補正を行う方式の開発が進められている。

このような補正値の測定方法としては、例えば、表示パネルの各データラインから所定の電流値の測定用電流を各画素に供給し、各画素の駆動用トランジスタのソース・ドレイン間に測定用電流が流れるときの各データラインの電圧の電圧値を測定し、これに基づいて補正値を求める方式がある。

特開２００３−２７１０９５号公報（第５，６頁、図１，２）

上記のデータラインの電圧値の測定は全てのデータラインに対して行う必要がある。この場合、測定用電流を供給する測定用の電流源を各データラインに対応してデータラインの本数分だけ備えて、全データラインに対して同時に測定用電流を供給して、全データラインに対する測定を並行して行うようにすると、比較的短時間で測定を終えることができる。

図１２は、表示パネルにおける一つの行に配列される複数の画素５１及び各画素５１に接続されるデータラインＬｄｉ、セレクトラインＬｓｉ、アノードラインＬaの配線を示すものである。ここで、各画素５１は、駆動用トランジスタを有する画素駆動回路とＯＬＥＤ素子とを有している。

各画素５１には、セレクトラインＬｓｉを介して各画素５１を選択状態とするセレクト信号Ｖselectが印加され、ＯＬＥＤ素子のカソードには、カソード電圧ＶCathが印加される。そして、データラインＬdi（ｉ＝１〜２８８０）には、それぞれ、測定用の電流源（図示せず）が接続される。

そして、測定用の電流源から供給する測定用電流が電圧Ｖsourceのアノード回路から測定用の電流源側に電流を引き込む方向の極性に設定されている場合、上記のデータラインの電圧値を測定する際には、図１２に示すように、測定用電流Ａiが、電圧Ｖsourceのアノード回路から、アノードラインＬa、各画素５１、データラインＬdi（ｉ＝１〜２８８０）を経由して各電流源へと流れる。このとき、アノードラインＬaには、配線抵抗Ｒや引き回し配線抵抗ＲＬが存在する。

このため、各データラインに測定用電流Ａiを供給して各データラインの電圧値の測定を行う際には、アノードラインＬaに流れる電流による配線抵抗Ｒ，引き回し配線抵抗ＲＬに応じた電圧降下が生じる。

ここで、上述のように、全データラインに同時に測定用電流Ａiを供給して全データラインに対する測定を並行して行うようにした場合、アノードラインＬaに流れる電流は各データラインに供給される測定用電流Ａiを加算した電流となり、データラインの本数が比較的多く、例えば図１２に示したデータラインの本数が２８８０本あるような場合には、比較的大きい電流値となる。このため、このときの電圧降下も比較的大きいものとなる。

この電圧降下により、測定される各データラインの電圧に誤差が生じてしまい、これに基づく補正値にも誤差が生じてしまう。

ここで、隣接する画素５１間の配線抵抗Ｒを０．４１Ω、引き回し配線抵抗ＲＬを４５Ω、測定用電流Ａiを０．５μＡとして、２８８０個の電流源で２８８０本のデータラインに同時に測定用電流Ａiを供給した場合、この配線抵抗Ｒ等による電圧降下は、図１３に示すような計算結果になる。

尚、この計算結果は、アノード回路が表示パネルの両側に配置されて測定用電流Ａiが両側のアノード回路から供給される場合の例を示し、横軸は、表示パネルの２８８０本のデータラインの番号を示し、縦軸は、アノード回路の出力端での電圧値を基準として、この電圧値からの電圧の低下量を示すものであって、この縦軸の数値の絶対値がアノード回路の出力端からの電圧降下の値を示す。

図１３に示すように、電圧降下は、データラインによって、すなわちアノード回路からの距離によって異なり、アノードラインＬaの両端部と中心部とでの電圧降下の差は約２１０mＶとなる。この電圧は、有機ＥＬ素子の電圧振幅を５Ｖ、階調数８bitとした場合の約１１階調分に相当する。これにより、測定される各データラインの電圧にもこの電圧降下の差に対応した誤差が生じ、これに基づく補正値にも同等の誤差が生じてしまう。

表示駆動時には、この補正値に基づいて各画素に供給される駆動信号が補正されるため、表示パネル面内で輝度が不均一となり、画質が劣化する。

本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたもので、配線抵抗等による電圧降下の差を低減させることが可能な画素駆動装置、発光装置及び表示装置を提供することを目的とする。

この目的を達成するため、本発明の第１の観点に係る画素駆動装置は、
複数の入出力端子と、該複数の入出力端子の各々に接続された、光学素子と該光学素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する画素アレイを、供給される画像信号に基づく駆動信号で駆動する画素駆動装置であって、
前記複数の入出力端子の数より少ない所定の数の接続端子を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記所定の数だけ備え、該各接続端子から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
前記所定の数の接続端子を、前記複数の入出力端子を前記接続端子の数に等しいかそれより少ない数の前記入出力端子毎に分割した複数のブロックの各々の前記各入出力端子に、順次接続するように、前記接続ユニットの前記各接続端子と前記各入出力端子との接続を切り換える接続切換部と、
前記接続切換部により前記各接続端子が接続された前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときの前記各入出力端子の電位の値、又は、前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電圧を供給したときの前記接続切換部を介して前記各接続端子と前記各入出力端子との間に流れる電流の電流値を取得する測定部と、
前記測定部が取得した前記電位の値又は前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて前記駆動信号を補正する補正部と、
を備えることを特徴とする。

前記接続切換部において、前記複数のブロックの何れか一つに含まれる前記入出力端子の数が、他の少なくとも何れか一つの前記ブロックに含まれる前記入出力端子の数と異なるように設定されていてもよい。

本発明の第２の観点に係る発光装置は、
複数の入出力端子と、該複数の入出力端子の各々に接続された、発光素子と該発光素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する画素アレイと、
前記複数の入出力端子の数より少ない所定の数の接続端子を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記所定の数だけ備え、該各接続端子から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
前記所定の数の接続端子を、前記複数の入出力端子を前記接続端子の数に等しいかそれより少ない数の前記入出力端子毎に分割した複数のブロックの各々の前記各入出力端子に、順次接続するように、前記接続ユニットの前記各接続端子と前記各入出力端子との接続を切り換える接続切換部と、
前記接続切換部により前記各接続端子が接続された前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときの前記各入出力端子の電位の値又は前記各入出力端子に前記測定用電圧を供給したときの前記接続切換部を介して前記各接続端子と前記各入出力端子との間に流れる電流の電流値を取得する測定部と、
前記測定部が取得した前記電位の値又は前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて、供給される画像信号に応じて前記画素アレイの前記各画素を駆動する駆動信号を補正する補正部と、
を備えることを特徴とする。

前記接続切換部において、前記複数のブロックの何れか一つに含まれる前記入出力端子の数が、他の少なくとも何れか一つの前記ブロックに含まれる前記入出力端子の数と異なるように設定されていてもよい。

前記画素アレイは、前記複数の入出力端子の各々に接続される複数のデータラインを有し、
前記各画素は、前記駆動素子として、電流路の一端が前記発光素子の一端に接続されるとともに前記各データラインに電気的に接続され、該電流路の他端に所定の電圧値の電源電圧が印加されて、前記発光素子に供給する電流を制御する駆動トランジスタを有し、
前記測定部は、前記接続ユニットより、前記接続切換部を介して、オン状態とされた前記各画素の前記駆動トランジスタの電流路に電流が流れるときの前記各入出力端子の電位の値又は前記各接続端子から前記接続切換部及び前記各入出力端子を介して前記各データラインに流れる電流の電流値を取得するようにしてもよい。

本発明の第３の観点に係る表示装置は、
端子数ｍ（ｍは自然数）の入出力端子Ｄ（ｉ）（ｉ＝１〜ｍ）と、該複数の入出力端子の各々に接続された、光学素子と該光学素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する表示パネルと、
端子数ｐ（ｐは自然数、ｐ＜ｍ）の接続端子Ｐ（ｋ）（ｋ＝１〜ｐ）を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記ｐ個だけ備え、該接続端子Ｐ（ｋ）の各々から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
前記表示パネルの入出力端子Ｄ（ｉ）と前記接続ユニットの接続端子Ｐ（ｋ）との接続を切り換える接続切換部と、
前記接続切換部により前記接続端子Ｐ（ｋ）が接続された前記入出力端子Ｄ（ｉ）に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときの前記入出力端子Ｄ（ｉ）の電位の値又は前記入出力端子Ｄ（ｉ）に前記測定用電圧を供給したときの前記接続切換部を介して前記接続端子Ｐ（ｋ）と前記入出力端子Ｄ（ｉ）との間に流れる電流の電流値を取得する測定部と、
前記測定部が取得した前記電位の値又は前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて、供給される画像信号に応じて前記画素アレイの前記各画素を駆動する駆動信号を補正する補正部と、
を備えたことを特徴とする。
本発明の第４の観点に係る画素駆動装置は、
複数の入出力端子と、該複数の入出力端子の各々に接続された、光学素子と該光学素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する画素アレイを、供給される画像信号に基づく駆動信号で駆動する画素駆動装置であって、
前記複数の入出力端子の数より少ない所定の数の接続端子を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源と該電流源の出力端の電位の値を取得する電圧計、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源と該電圧源の出力端と前記接続端子との間に流れる電流の電流値を取得する電流計を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記所定の数だけ備え、該各接続端子から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
前記所定の数の接続端子を、前記複数の入出力端子を前記接続端子の数に等しいかそれより少ない数の前記入出力端子毎に分割した複数のブロックの各々の前記各入出力端子に、順次接続するように、前記接続ユニットの前記各接続端子と前記各入出力端子との接続を切り換える接続切換部と、
前記接続切換部により前記各接続端子が接続された前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときに前記各電圧計が取得した前記電位の値、又は、前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電圧を供給したときに前記各電流計が取得した前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて前記駆動信号を補正する補正部と、
を備えることを特徴とする。
本発明の第５の観点に係る発光装置は、
複数の入出力端子と、該複数の入出力端子の各々に接続された、発光素子と該発光素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する画素アレイと、
前記複数の入出力端子の数より少ない所定の数の接続端子を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源と該電流源の出力端の電位の値を取得する電圧計、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源と該電圧源の出力端と前記接続端子との間に流れる電流の電流値を取得する電流計を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記所定の数だけ備え、該各接続端子から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
前記所定の数の接続端子を、前記複数の入出力端子を前記接続端子の数に等しいかそれより少ない数の前記入出力端子毎に分割した複数のブロックの各々の前記各入出力端子に、順次接続するように、前記接続ユニットの前記各接続端子と前記各入出力端子との接続を切り換える接続切換部と、
前記接続切換部により前記各接続端子が接続された前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときに前記各電圧計が取得した前記電位の値、又は、前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電圧を供給したときに前記各電流計が取得した前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて前記駆動信号を補正する補正部と、
を備えることを特徴とする。

本発明によれば、配線抵抗による電圧降下を低減させることができる。

以下、本発明の実施形態に係る表示装置を図面を参照して説明する。
本実施形態に係る表示装置の構成を図１に示す。
本実施形態に係る表示装置（発光装置）１は、ＴＦＴパネル（画素アレイ）１１と、表示信号生成回路１２と、システムコントローラ１３と、セレクトドライバ１４と、電源ドライバ１５と、データドライバ１６と、によって構成される。

ＴＦＴパネル１１は、複数の画素１１(i,j)（ｉ＝１〜ｍ、ｊ＝１〜ｎ、ｍ、ｎ；自然数）を備えたものである。

このＴＦＴパネル１１は、列方向に配列された複数のデータラインＬd(i)（ｉ＝１〜ｍ）と、行方向に配列された複数のセレクトラインＬs(j)（ｊ＝１〜ｎ）と、各データラインＬd(i)の一端に接続されて列毎に設けられ、データドライバ１６と接続するための複数の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）と、を有している。

各画素１１(i,j)は、それぞれ、画像の１画素に対応するものであり、各データラインＬd(i)と各セレクトラインＬs(j)の各交点近傍に行列配置される。各画素１１(i,j)は、図２に示すように、発光素子としての有機ＥＬ素子１１１と、トランジスタＴ１〜Ｔ３と、キャパシタＣ１と、を備える。ここで、トランジスタＴ１〜Ｔ３とキャパシタＣ１とは画素駆動回路ＤＣをなす。

有機ＥＬ素子１１１は、有機化合物に注入された電子と正孔との再結合によって生じた励起子によって発光する現象を利用して発光する表示素子であり、供給された電流の電流値に対応する輝度で発光し、画像を表示する。

有機ＥＬ素子１１１には、画素電極が形成され、この画素電極上に、正孔注入層と発光層と対向電極とが形成される（いずれも図示せず）。正孔注入層は、画素電極上に形成され、発光層に正孔を供給する機能を有する。

画素電極は、透光性を備える導電材料、例えばＩＴＯ（Indium Tin Oxide）、ＺｎＯ等から構成される。各画素電極は隣接する他の画素の画素電極と層間絶縁膜（図示せず）によって絶縁されている。

正孔注入層は正孔（ホール）注入、輸送が可能な有機高分子系の材料から構成される。また、有機高分子系のホール注入・輸送材料を含む有機化合物含有液としては、例えば導電性ポリマーであるポリエチレンジオキシチオフェン（ＰＥＤＯＴ）とドーパントであるポリスチレンスルホン酸（ＰＳＳ）を水系溶媒に分散させた分散液であるＰＥＤＯＴ／ＰＳＳ水溶液が用いられる。

発光層は、インターレイヤ（図示せず）上に形成される。発光層は、アノード電極とカソード電極との間に所定の電圧を印加することにより光を発生する機能を有する。

発光層は、蛍光あるいは燐光を発光することが可能な公知の高分子発光材料、例えばポリパラフェニレンビニレン系やポリフルオレン系等の共役二重結合ポリマーを含む赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）色の発光材料から構成される。

また、これらの発光材料は、適宜水系溶媒あるいはテトラリン、テトラメチルベンゼン、メシチレン、キシレン等の有機溶媒に溶解（又は分散）した溶液（分散液）をノズルコート法やインクジェット法等により塗布し、溶媒を揮発させることによって形成される。

対向電極は、導電材料、例えばＣａ，Ｂａ等仕事関数の低い材料からなる層と、Ａｌ等の光反射性導電層と、からなる２層構造になっている。

電流は、画素電極から対極電極方向へと流れ、逆方向には流れず、画素電極、対極電極は、それぞれ、アノード電極、カソード電極となる。このカソード電極には、カソード電圧Ｖcathが印加される。

トランジスタＴ１〜Ｔ３は、ｎチャンネル型のＦＥＴ（Field Effect Transistor；電界効果トランジスタ）によって構成されたＴＦＴであり、例えば、アモルファスシリコン又はポリシリコンＴＦＴによって構成されている。

トランジスタＴ３は、電流値を制御しつつ、有機ＥＬ素子１１１に電流を供給する駆動トランジスタである。トランジスタＴ３の電流上流端としてのドレインは、電圧ラインＬv(j)に接続され、電流下流端としてのソースは有機ＥＬ素子１１１のアノードに接続される。そして、トランジスタＴ３は、制御電圧としてのゲート電圧Ｖgsに対応する電流値の電流を有機ＥＬ素子１１１に供給する。

トランジスタＴ１は、トランジスタＴ３のゲートとドレイン間を接続又は遮断するためのスイッチトランジスタである。

各画素１１(i,j)のトランジスタＴ１のドレイン（端子）は、電圧ラインＬv(j)（トランジスタＴ３のドレイン）に接続され、ソースは、トランジスタＴ３の制御端としてのゲートに接続される。

各画素１１(1,1)〜１１(m,1)のトランジスタＴ１のゲート（端子）は、セレクトラインＬs(1)に接続される。同様に、各画素１１(1,2)〜１１(m,2)のトランジスタＴ１のゲートは、セレクトラインＬs(2)に、・・・、各画素１１(1,n)〜１１(m,n)のトランジスタＴ１のゲートは、セレクトラインＬs(n)に、それぞれ、接続される。

画素１１(1,1)の場合、セレクトドライバ１４からセレクトラインＬs(1)にＨｉ（High；ハイ）レベルの信号が出力されると、トランジスタＴ１はオンする。これにより、トランジスタＴ３はドレインとゲートが接続されるため、トランジスタＴ３はダイオード接続状態となる。

セレクトラインＬs(1)にＬｏ（Low；ロー）レベルの信号が出力されると、トランジスタＴ１は、オフし、トランジスタＴ１もオフする。それとともに、トランジスタＴ１がオフすると、キャパシタＣ１１に充電された電荷は保持される。

トランジスタＴ２は、セレクトドライバ１４によって選択されてオン、オフし、電源ドライバ１５とデータドライバ１６との間を導通、遮断するためのスイッチトランジスタである。

各画素１１(i,j)のトランジスタＴ２のドレインは、有機ＥＬ素子１１１のアノード（電極）に接続される。

各画素１１(1,1)〜１１(m,1)のトランジスタＴ２のゲートは、セレクトラインＬs(1)に接続される。同様に、各画素１１(1,2)〜１１(m,2)のトランジスタＴ２のゲートは、セレクトラインＬs(2)に、・・・各画素１１(1,n)〜１１(m,n)のトランジスタＴ２のゲートは、セレクトラインＬs(n)に接続される。

また、各画素１１(1,1)〜１１(n,1)のトランジスタＴ２の他端としてのソースは、データラインＬd(１)に接続される。同様に、各画素１１(2,1)〜１１(2,n)のトランジスタＴ２のソースは、データラインＬd(2)に、・・・、各画素１１(m,1)〜１１(m,n)のトランジスタＴ２のソースは、データラインＬd(m)に接続される。尚、データラインＬd(１)〜Ｌd(m)は、それぞれ、入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）に接続されている。

画素１１(1,1)の場合、トランジスタＴ２は、セレクトドライバ１４から、セレクトラインＬs(1)にＨｉレベルの信号が出力されるとオンして有機ＥＬ素子１１１のアノードとデータラインＬd(1)とを接続する。

また、セレクトラインＬs(1)にＬｏレベルの信号が出力されると、トランジスタＴ２はオフして有機ＥＬ素子１１１のアノードとデータラインＬd(1)とを遮断する。

キャパシタＣ１は、トランジスタＴ３のゲートＶgsを保持する容量成分であり、その一端は、トランジスタＴ１のソースとトランジスタＴ３のゲートとに接続され、他端はトランジスタＴ３のソースと有機ＥＬ素子１１１のアノードとに接続される。

キャパシタＣ１は、電圧ラインＬv(j)からトランジスタＴ２のドレインに向けてドレイン電流が流れるとき、トランジスタＴ３はオン状態となり、対応するトランジスタＴ３のゲート電圧Ｖgsで充電され、その電荷が蓄積される。

トランジスタＴ１及びＴ２がオフすると、キャパシタＣ１は、トランジスタＴ３のゲート電圧Ｖgsを保持する。

図１に戻り、表示信号生成回路１２は、例えば、コンポジット映像信号、コンポーネント映像信号のような映像信号Imageが外部から供給され、供給された映像信号Imageから輝度信号のような表示データＰic、同期信号Ｓyncを取得するものである。表示信号生成回路１２は、取得した表示データＰic、同期信号Ｓyncをシステムコントローラ１３に供給する。

システムコントローラ１３は、表示データＰicの補正処理、書き込み処理、有機ＥＬ素子１１１の発光動作を制御するものである。

表示データＰicの補正処理は、ディスプレイ特性に対応する電流出力を得るように、表示信号生成回路１２から供給された表示データＰicを補正する処理である。また、書き込み処理は、各画素１１(i,j)のキャパシタＣ１に電圧を書き込む処理であり、発光動作は、有機ＥＬ素子１１１を発光させる動作である。

表示データＰicの補正処理の制御を行うため、システムコントローラ１３は、図３に示すように、補正データ記憶部１３１と、補正演算部１３２と、補正制御部１３３と、を備える。

補正データ記憶部１３１は、表示信号生成回路１２から供給された表示データＰicと補正に関するデータとを記憶するものである。システムコントローラ１３は、表示信号生成回路１２から表示データＰicが供給されると、各画素１１(i,j)の表示データＰicを、この補正データ記憶部１３１に記憶する。

補正演算部１３２は、各画素１１(i,j)のトランジスタＴ３のβと閾値電圧Ｖthとを補正用データとして取得して、表示信号生成回路１２から供給された表示データＰicを補正するものである。

補正演算部１３２は、データドライバ１６から、データラインＬd(i)〜Ｌd(m)から所定の電流値の電流を引き込んだときの、入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）の端子電位Ｖs(i)〜Ｖs(m)が供給され、この各入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ(ｍ)の端子電位Ｖsと信号Ｖsource(j)の電圧との差分からなる差分電圧Ｖdef(1)〜Ｖdef(ｍ)を求める。

この差分電圧Ｖdef(1)〜Ｖdef(ｍ)は、選択された行のトランジスタＴ３のドレイン・ソース間（＝ゲート・ソース間）に印加される印加電圧に概ね等しい。補正演算部１３２は求めた差分電圧Ｖdef(1)〜Ｖdef(m)を補正データ記憶部１３１に記憶する。

補正演算部１３２は、引き込んだ電流の電流値とこの画素１１(i,j)毎の印加電圧に対応する差分電圧の値とに基づいて閾値電圧Ｖthを取得する。

補正演算部１３２は、取得した閾値電圧Ｖthを、補正に関するデータとして画素１１(i,j)毎に、補正データ記憶部１３１に記憶する。

そして、補正演算部１３２は、表示信号生成回路１２から表示データＰicが供給されると、補正データ記憶部１３１から、画素(i,j)毎に、閾値電圧Ｖthを読み出す。

そして、補正演算部１３２は、読み出した閾値電圧Ｖthに基づいて表示データＰicを補正し、トランジスタＴ３のゲート電圧Ｖgsに対応する電圧データＶdataを取得して、Ｖdata(1)〜Ｖdata(m)として、順次、データドライバ１６に出力する。

補正制御部１３３は、表示データＰicの補正処理を制御するものである。システムコントローラ１３は、補正演算部１３２が演算した電圧データＶdataを行毎に読み出し、それぞれ、Ｖdata(1)〜Ｖdata(m)として、順次、データドライバ１６に出力する。

システムコントローラ１３は、このような補正処理を行って、書き込み処理、発光動作を制御する。システムコントローラ１３は、このような制御を行うため、クロック信号ＣＬＫ１，ＣＬＫ２，ＣＬＫ３、スタート信号Ｓp１，Ｓp２，Ｓp３、各種制御信号を生成して、セレクトドライバ１４、電源ドライバ１５、データドライバ１６に供給する。

尚、外部から映像信号Imageが供給されたとき、システムコントローラ１３は、表示信号生成回路１２から供給された同期信号Ｓyncに、クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３、スタート信号Ｓp１〜Ｓp３、各種制御信号を同期させる。

システムコントローラ１３は、動作を開始させるための信号としてのスタート信号Ｓp１〜Ｓｐ３を、セレクトドライバ１４、電源ドライバ１５、データドライバ１６に出力する。

図１に戻り、セレクトドライバ１４は、ＴＦＴパネル１１の行を、順次、選択するドライバであり、例えば、シフトレジスタによって構成される。セレクトドライバ１４は、それぞれ、セレクトラインＬs(j)（ｊ＝１〜ｎ）を介して各画素１１(i,j)のトランジスタＴ１，Ｔ２のゲートに接続される。

セレクトドライバ１４は、システムコントローラ１３から垂直同期信号に同期したスタート信号Ｓp１が供給されて動作を開始し、システムコントローラ１３から供給されるたクロック信号ＣＬＫ１に従い、順次、第１行目の画素１１(1,1)〜１１(m,1)、・・・、第ｎ行目の画素１１(1,n)〜１１(m,n)に、Ｈｉレベルの信号Ｖselect(j)を出力することにより、ＴＦＴパネル１１の行を、順次、選択する。

電源ドライバ１５は、電圧ラインＬv(1)〜Ｌv(n)に、それぞれ、電圧VL又はVHの信号Ｖsource(1)〜Ｖsource(n)を出力するドライバである。電源ドライバ１５は、それぞれ、電圧ラインＬv(j)（ｊ＝１〜ｎ）を介して、各画素１１(i,j)のトランジスタＴ３のドレインに接続される。

電源ドライバ１５は、システムコントローラ１３からスタート信号Ｓpが供給されて動作を開始し、システムコントローラ１３から供給されたクロック信号ＣＬＫに従って動作する。

システムコントローラ１３は、各種制御信号として、電圧制御信号Ｃv(L)，Ｃv(H)を生成する。電圧制御信号Ｃv(L)，Ｃv(H)は、それぞれ、電源ドライバ１５が出力する信号Ｖsource(1)〜Ｖsource(n)の電圧をVL，VHに制御する信号である。

尚、本実施形態では、有機ＥＬ素子１１１のカソード電圧Ｖcathが０Ｖに設定され、電圧VLは、有機ＥＬ素子１１１のカソード電圧Ｖcath＝０Ｖに設定されるものとする。また、電圧VHは、例えば、＋１５Ｖに設定されるものとする。

システムコントローラ１３は、補正処理時、書き込み処理時に電圧制御信号Ｃv(L)を電源ドライバ１５に供給し、発光動作時に電圧制御信号Ｃv(H)を電源ドライバ１５に供給する。

データドライバ１６は、各画素１１(i,j)のキャパシタＣ１に、表示データＰicに対応する電圧信号Ｓv(1)〜Ｓv(m)を書き込むドライバである。

また、データドライバ１６は、閾値電圧を取得するためのデータとして、各画素１１(i,j)のトランジスタＴ３のドレイン・ソース間に流れる電流の電流値と、ドレイン・ソース間（＝ゲート・ソース間）に印加される印加電圧とに対応する各入出力端子Ｄ（i）の端子電位Ｖs(i)の値と、を取得する。本実施形態のデータドライバ１６は、電流供給電圧測定方式に従って、この電流と電圧との値を取得するように構成されている。

この電流供給電圧測定方式は、各画素１１(i,j)から、各データラインＬｄ(i)を介して、各入出力端子Ｄ（i）〜Ｄ（m）から電流を引き込んで、行毎に、画素１１(1,j)〜１１(m,j)に対応する各入出力端子Ｄ（i）〜Ｄ（m）の端子電位Ｖs(1)〜Ｖs(m)を測定する方式である。

具体的に、データドライバ１６は、図４に示すように、電流源部１６１と、測定部１６２と、切換部１６３と、スイッチＳｗ１（ｉ），Ｓｗ２（ｉ）と、データ出力部１６４と、を備える。

電流源部１６１は、データラインＬd(1)〜Ｌd(pm)の各々に対応する電流源１６１ａ（１）〜１６１ａ（ｐ）を備えたものである。電流源１６１ａ（ｋ）（ｋ＝１〜ｐ）は、ＴＦＴパネル１１の各入出力端子Ｄ（ｉ）から、予め設定された電流値の定電流を引き込むためのものである。ここで、電流源部１６１は本発明の接続ユニットをなす。

電流源部１６１は、ｐ（ｐ；自然数）個の接続端子Ｐ１６１（１）〜Ｐ１６１（ｐ）を有する。尚、電流源１６１ａ（ｋ）（ｋ＝１〜ｐ）の数ｐは、表示装置１のチップサイズが大きくならないように、ＴＦＴパネル１１の列数ｍの数分の１とされる。

電流源１６１ａ（ｋ）の電流上流端は、接続端子Ｐ１６１（ｋ）に接続される。また、電流源１６１ａ（ｋ）の電流下流端には電圧Ｖssが印加される。本実施形態では、この電圧Ｖssは、有機ＥＬ素子１１１のカソード電圧Ｖcath（＝０Ｖ）と同じ電位に設定される。

測定部１６２は、電圧計１６２ｖ（１）〜１６２ｖ（ｍ）と、スイッチＳｗ１（１）〜Ｓｗ１（ｍ）と、を備えたものである。

電圧計１６２ｖ（ｉ）（ｉ＝１〜ｍ）は、それぞれ、各画素１１(i,j)の各トランジスタＴ３のソース入出力端子Ｄ（i）〜Ｄ（m）の端子電位Ｖs(1)〜Ｖs(m)を計測するものであり、各電圧計１６２ｖ（ｉ）の一端は、スイッチＳｗ１（ｉ）の電流下流側端子に接続される。

電圧計１６２ｖ（ｉ）は、例えば、ＡＤＣ（アナログ−デジタル変換器）によって構成され、各入出力端子Ｄ（i）のアナログの電位を計測し、デジタルの端子電位Ｖs(i)に変換してシステムコントローラ１３に出力する。

スイッチＳｗ１（１）〜Ｓｗ１（ｍ）は、入出力端子Ｄ（i）〜Ｄ（m）の端子電位Ｖs（i）〜Ｖs（m）の測定時に、それぞれ、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）と、測定部１６２との接続、遮断を行うためのスイッチである。

スイッチＳｗ１（ｉ）（ｉ＝１〜ｍ）の上流側端子は、それぞれ、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（ｉ）に接続される。

システムコントローラ１３は、制御信号として、切換制御信号Ｃsw1(close)又はＣsw1(open)を生成し、この切換制御信号Ｃsw1(close)又はＣsw1(open)をデータドライバ１６に供給してスイッチＳｗ１（ｉ）の開閉を制御する。

スイッチＳｗ１（ｉ）は、システムコントローラ１３から切換制御信号Ｃsw1(close)が供給されて閉じ、それぞれ、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）と電圧計１６２ｖ（１）〜１６２ｖ（ｍ）とを接続する。

また、スイッチＳｗ１（ｉ）は、システムコントローラ１３から切換制御信号Ｃsw1(open)が供給されて開き、それぞれ、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）と電圧計１６２ｖ（１）〜１６２ｖ（ｍ）との間を遮断する。

スイッチＳｗ２（１）〜Ｓｗ２（ｍ）は、それぞれ、データ出力部１６４の出力端子Ｐ１６４（１）〜Ｐ１６４（ｍ）と、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）と、の接続、遮断を行うためのスイッチである。

スイッチＳｗ２（１）〜Ｓｗ２（ｍ）の信号出力側端子は、それぞれ、データ出力部１６４の各出力端子Ｐ１６４（１）〜Ｐ１６４（ｍ）に接続され、パネル側端子は、それぞれ、入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）に接続される。

システムコントローラ１３は、制御信号として、切換制御信号Ｃsw2(close)又はＣsw1(open)を生成し、この切換制御信号Ｃsw2(close)又はＣsw1(open)をデータドライバ１６に供給することにより、このスイッチＳｗ２（ｉ）（ｉ＝１〜ｍ）の開閉を制御する。

スイッチＳｗ２（ｉ）は、システムコントローラ１３から切換制御信号Ｃsw2(close)が供給されて閉じ、データ出力部１６４の出力端子Ｐ１６４（ｉ）と入出力端子Ｄ（ｉ）とを接続する。

また、スイッチＳｗ２（ｉ）は、システムコントローラ１３から切換制御信号Ｃsw2(open)が供給されて開き、データ出力部１６４の出力端子Ｐ１６４（ｉ）と入出力端子Ｄ（ｉ）との間を遮断する。

入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）は、電流源部１６１の接続端子Ｐ１６１（ｋ）の数をｐとして、これに対応したｐ個の入出力端子を１ブロックとする、Ｂ（＝ｍ／ｐ）個のブロックに分けられている。Ｂは総ブロック数である。

切換部１６３は、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）と、電流源部１６１の接続端子Ｐ１６１（１）〜Ｐ１６１（ｐ）との接続を、ブロック毎に切り換えるものである。

切換部１６３は、スイッチＳｗ３（１）〜Ｓｗ３（ｍ）と、デコーダ１６３ｄと、を備える。

スイッチＳｗ３（１）〜Ｓｗ３（ｍ）は、それぞれ、スイッチＳｗ１（１）〜Ｓｗ１（ｍ）を介して、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）のうちのいずれかのブロックのｐ個の入出力端子と、電流源部１６１の接続端子Ｐ１６１（１）〜Ｐ１６１（ｐ）とを接続、遮断するスイッチである。

スイッチＳｗ３（１）〜Ｓｗ３（ｍ）の電流上流側端子（一端）は、それぞれ、スイッチＳｗ１（１）〜Ｓｗ１（ｍ）の電流下流側端子に接続される。

スイッチＳｗ３（１）〜Ｓｗ３（ｐ），・・・，Ｓｗ３（ｍ−２ｐ＋１）〜Ｓｗ３（ｍ−ｐ）の電流下流側端子（他端）は、それぞれ、電流源部１６１の接続端子Ｐ１６１（１）〜Ｐ１６１（ｐ）に接続される。

そして、スイッチＳｗ１（１）〜（ｍ）が閉じると、スイッチＳｗ３（１）〜Ｓｗ３（ｐ），・・・，Ｓｗ３（ｍ−２ｐ＋１）〜Ｓｗ３（ｍ−ｐ）の電流上流側端子が、それぞれ、ＴＦＴパネル１１の奇数ブロックの入出力端子（（ｂ−１）×ｐ＋ｋ）に接続される。

デコーダ１６３ｄは、スイッチＳｗ３（１）〜Ｓｗ３（ｍ）の開閉を制御するものであり、システムコントローラ１３から切換制御信号Ｍpx(b,close)が供給されて、この切換制御信号Ｍpx(b,close)を解読して、スイッチＳｗ３（１）〜Ｓｗ３（ｍ）の開閉を制御する。

デコーダ１６３ｄは、システムコントローラ１３から切換制御信号Ｍpx(b,close)が供給されると、この信号を解読して、スイッチＳｗ３（（ｂ−１）×ｐ＋１）〜Ｓｗ３（ｂｐ）を閉じ、それ以外のスイッチＳｗ３を開く。

切換部１６３がこのように構成されることにより、電流をＴＦＴパネル１１に一時に流すことなく、選択された第ｊ行目の画素１１(1,j)〜１１(m,j)のすべてのトランジスタＴ３のソース端子電位Ｖsを測定することができる。

データ出力部１６４は、電圧データＶdata(i)に対応するアナログ電圧の電圧信号Ｓv(i)を、ＴＦＴパネル１１に出力するものである。

データ出力部１６４は、例えば、ＤＡＣ（デジタル−アナログ変換器）を備え、システムコントローラ１３から供給されたデジタルの電圧データＶdata(i)（ｉ＝１〜ｍ）を、アナログの電圧信号Ｓv(i)に変換する。

スイッチＳｗ２（１）〜Ｓｗ２（ｍ）が閉じると、データ出力部１６４は、変換した電圧信号Ｓv(i)を、それぞれ、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）に出力する。

次に実施形態１に係る表示装置１の動作を説明する。
システムコントローラ１３は、例えば、表示装置１の実使用時の起動時、あるいは定期的、等のタイミングで測定部１６２による測定処理を実行する。

システムコントローラ１３は、図５に示すフローチャートに従い、測定処理を実行する。

システムコントローラ１３は、電源ドライバ１５に電圧制御信号Ｃv(L)を供給する（ステップＳ１１）。

システムコントローラ１３は、切換制御信号Ｃsw1(close)，Ｃsw2(open)をデータドライバ１６に供給する（ステップＳ１２）。

システムコントローラ１３は、スタート信号Ｓpを、セレクタドライバ１４と、電源ドライバ１５と、データドライバ１６と、に供給する（ステップＳ１３）。

システムコントローラ１３は、切換制御信号Ｍpx(b,close)によって指定するブロック番号ｂに１をセットする（ステップＳ１４）。

システムコントローラ１３は、データドライバ１６（切換部１６３）に切換制御信号Ｍpx(b,close），Ｍpx(bx,open）を供給する（ステップＳ１５）。

システムコントローラ１３は、電圧計１６２ｂ（１）〜１６２ｂ（ｐ）が計測した端子電位Ｖsを取得する（ステップＳ１６）。システムコントローラ１３は、取得した端子電位Ｖs（１）〜Ｖｓ（ｐ）に基づく差分電圧Ｖdef(１) 〜Ｖdef(ｐ)を求め、これを、補正データ記憶部１３１に記憶する（ステップＳ１７）。

システムコントローラ１３は、切換制御信号Ｍpx(b,close)におけるブロック番号数ｂをインクリメントする（ステップＳ１８）。システムコントローラ１３は、ブロック番号ｂが総ブロック数Ｂを超えたか否かを判定する（ステップＳ１９）。

超えていないと判定した場合（ステップＳ１９；Ｎｏ）、システムコントローラ１３は、再度、ステップＳ１５〜Ｓ１８を実行する。

超えたと判定した場合（ステップＳ１９；Ｙｅｓ）、システムコントローラ１３は、この測定処理を終了させる。

次に、システムコントローラ１３がこのような測定処理を行ったときの具体的な動作について説明する。
尚、ここでは、例えば、ｍ（ＴＦＴパネル１１の端子数）を２８８０、ｐ（電流源部１６１の端子数）を５７６とする。総ブロック数Ｂは５（＝２８８０／５７６）となる。

システムコントローラ１３が、電源ドライバ１５に電圧制御信号Ｃv(L)を供給すると（ステップＳ１１の処理）、電源ドライバ１５は、電圧ラインＬv(1)〜Ｌv(n)に、それぞれ、電圧VLの信号Ｖsource(1)〜Ｖsource(n)を出力する。

セレクトドライバ１４，電源ドライバ１５，データドライバ１６は、システムコントローラ１３からスタート信号Ｓp１〜Ｓｐ３が供給されて動作を開始し、クロック信号ＣＬＫ１〜ＣＬＫ３に従って動作する。

セレクトドライバ１４は、セレクトラインＬs(1)に、Ｈｉレベルの信号Ｖselect(1)を出力して第１行目の画素１１(1,1)〜１１(576,1)を選択する。

画素１１(1,1)〜１１(2880,1)の各トランジスタＴ１，Ｔ２は、ゲートにＨｉレベルの信号Ｖselect(1)が供給されてオンし、各トランジスタＴ３がダイオード接続状態となる。

システムコントローラ１３がデータドライバ１６に切換制御信号Ｍpx(1,close)を供給すると（ステップＳ１５の処理）、デコーダ１６３ｄは、この切換制御信号Ｍpx(1,close)を解読し、ブロック番号ｂ＝１のスイッチＳｗ３（１）〜Ｓｗ３（５７６）を閉じ、それ以外のスイッチＳｗ３（５７７）〜（２８８０）を開く。

このとき、入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（５７６）と、接続端子Ｐ１６１（１）〜Ｐ１６１（５７６）とが、それぞれ接続されて、電流源１６１ａ（１）〜１６１ａ（５７６）は、それぞれ、各入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（５７６）から定電流を引き込む。

電流は、電源ドライバ１５から、画素１１(1,1)〜１１(576,1)のダイオード接続状態とされている各トランジスタＴ３のドレイン−ソース、トランジスタＴ２、データラインＬｄ(１)〜Ｌｄ（５７６）、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（５７６）、電流源１６１ａ（１）〜１６１ａ（５７６）を経由して、電圧Ｖssの電圧源へと流れる。

測定部１６２の電圧計１６２ｖ（１）〜１６２ｖ（５７６）は、それぞれ、画素１１(1,1)〜１１(576,1)のトランジスタＴ３のソース入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（９６）の端子電位Ｖs（１）〜Ｖｓ（５７６）を計測し、順次、システムコントローラ１３に出力する。

補正演算部１３２は、データドライバ１６から出力された端子電圧Ｖs（１）〜Ｖｓ（５７６）に基づく差分電圧Ｖdef(１) 〜Ｖdef(５７６)を求め、それぞれ、画素１１(1,1)〜１１(576,1)のトランジスタＴ３のドレイン・ソース間（＝ゲート・ソース間）に印加される印加電圧に対応する電圧として、補正データ記憶部１３１に記憶する（ステップＳ１７の処理）。

次に、システムコントローラ１３がデータドライバ１６に切換制御信号Ｍpx(2,close)を供給すると（ステップＳ１５の処理）、デコーダ１６３ｄは、この切換制御信号Ｍpx(2,close)を解読し、ブロック番号ｂ＝２のスイッチＳｗ３（５７７）〜Ｓｗ３（１１５２）を閉じ、それ以外のスイッチＳｗ３（１）〜（５７６），Ｓｗ３（１１５３）〜（２８８０）を開く。

入出力端子Ｄ（５７７）〜Ｄ（１１５２）と、接続端子Ｐ１６１（９６）〜Ｐ１６１（１）とが、それぞれ接続されると、電流源１６１ａ（９６）〜１６１ａ（１）は、それぞれ、入出力端子Ｄ（５７７）〜Ｄ（１１５２）から定電流を引き込む。

電流は、電源ドライバ１５から、画素１１(577,1)〜１１(1152,1)のダイオード接続状態とされている各トランジスタＴ３のドレイン−ソース、トランジスタＴ２、データラインＬｄ(５７７)〜Ｌｄ（１１５２）、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（５７７）〜Ｄ（１１５２）、電流源１６１ａ（１）〜１６１ａ（５７６）を経由して、電圧Ｖssの電圧源へと流れる。

測定部１６２の電圧計１６２ｖ（５７７）〜１６２ｖ（１１５２）は、それぞれ、入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（９６）の端子電位Ｖs（５７７）〜Ｖｓ（１１５２）を計測し、順次、システムコントローラ１３に出力する。

補正演算部１３２は、データドライバ１６から出力された端子電圧Ｖs（５７７）〜Ｖｓ（１１５２）に基づく差分電圧Ｖdef(５７７) 〜Ｖdef(１１５２)を求め、それぞれ、画素１１(577,1)〜１１(1152,１)のトランジスタＴ３のドレイン・ソース間（＝ゲート・ソース間）に印加される印加電圧に対応する電圧として、補正データ記憶部１３１に記憶する（ステップＳ１７の処理）。

システムコントローラ１３が、第１行目につき、このような処理を全部で５回繰り返すと（ステップＳ１５〜Ｓ１９の処理）、補正データ記憶部１３１に、第１行目の画素１１(1,1)〜１１(2880,1)の各トランジスタＴ３のドレイン・ソース間（＝ゲート・ソース間）に印加される印加電圧に対応する電圧として、差分電圧Ｖdef(１) 〜Ｖdef(２８８０)が補正データ記憶部１３１に記憶される。

図６は、上記のように入出力端子の５７６端子を１つの接続ブロックとして上記の測定処理を行った場合の配線抵抗等による電圧降下の計算結果を示す図である。

尚、この図６は、アノード回路１２をＴＦＴパネル１１の両側に備えた例を示す。従来と同様に、隣接する画素間の配線抵抗Ｒ、引き回し配線抵抗ＲＬ、電流Ａiは、それぞれ、０．４１Ω、４５Ω、０．５μＡとした場合の計算結果である。この図６に示すように、電圧降下は、従来の図１３に示す電圧降下と比較して小さくなっている。

補正演算部１３２は、各画素１１(i,j)に対応する差分電圧Ｖdef(i)を補正データ記憶部１３１から読み出し、読み出した差分電圧Ｖdef(i)に基づいて各画素１１(i,j)のトランジスタＴ３の閾値電圧を求め、補正データ記憶部１３１に記憶する。

次に、表示装置１に外部から映像信号Imageが供給されて、ＴＦＴパネル１１に映像信号に応じた画像情報を表示する時の動作について説明する。
このとき、表示信号生成回路１３は、供給された映像信号Imageから表示データＰic、同期信号Ｓyncを取得してシステムコントローラ１３に供給する。そして、システムコントローラ１３は、表示信号生成回路１２から供給された表示データＰicを、画素１１(i,j)毎に、補正データ記憶部１３１に記憶する。

システムコントローラ１３は、データドライバ１６に切換制御信号Ｃsw1(open)とＣsw2(close)とを供給する。

システムコントローラ１３は、セレクトドライバ１４にスタート信号Ｓpを供給する。

セレクトドライバ１４は、システムコントローラ１３からスタート信号Ｓpが供給されて動作を開始し、システムコントローラ１３から供給されたクロック信号ＣＬＫに従い、順次、第１行目の画素１１(1,1)〜１１(2880,1)、・・・、第ｎ行目の画素１１(1,n)〜１１(2880,n)に、Ｈｉレベルの信号Ｖselect(j)を出力する。

データドライバ１６のスイッチＳｗ１（１）〜Ｓｗ１（２８８０）は、システムコントローラ１３から切換制御信号Ｃsw1(open)が供給されて開き、それぞれ、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（２８８０）と電流源部１６１の接続端子Ｐ１６１（１）〜Ｐ１６１（５７６）との間を遮断する。

スイッチＳｗ２（１）〜Ｓｗ２（２８８０）は、システムコントローラ１３から切換制御信号Ｃsw1(open)が供給されて閉じ、それぞれ、データ出力部１６４の出力端子Ｐ１６４（１）〜Ｐ１６４（２８８０）と、入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（２８８０）と、を接続する。

システムコントローラ１３における補正演算部１３２は、表示信号生成回路１２から表示データＰicが供給されると、補正データ記憶部１３１から、画素(i,j)毎に、閾値電圧Ｖthを読み出す。そして、補正演算部１３２は、読み出した閾値電圧Ｖthに基づいて表示データＰicを補正した電圧データＶdataを取得して、Ｖdata(1)〜Ｖdata(2880)として、順次、データドライバ１６に出力する。

データドライバ１６のデータ出力部１６４は、システムコントローラ１３から、第１行目の電圧データＶdata(1)〜Ｖdata(2880)が供給されると、これらの電圧データＶdata(1)〜Ｖdata(2880)をアナログの電圧信号Ｓv(1)〜Ｓv(2880)に変換する。

そして、データ出力部１６４は、変換した電圧信号Ｓv(1)〜Ｓv(2880)を、それぞれ、スイッチＳｗ２（１）〜Ｓｗ２（２８８０）を介して、ＴＦＴパネル１１の各入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（２８８０）に出力する。

セレクトドライバ１４が第１行目のセレクトラインＬs(1)にＨｉレベルの信号Ｖselect(1)を出力すると、第１行目の画素１１(1,1)〜１１(2880,1)のキャパシタＣ１に電圧信号Ｓv(1)〜Ｓv(2880)に対応する電圧が書き込まれる。

同様にして、データドライバ１６は、第２行目の画素１１(1,2)〜１１(2880,2)，・・・，第ｎ行目の画素１１(1,n)〜１１(2880,n)のキャパシタＣ１に、それぞれ、電圧信号Ｓv(1)〜Ｓv(2880)に対応する電圧を書き込む。

書き込みが終了すると、システムコントローラ１３は、発光動作を制御する。
セレクトドライバ１４は、Ｌｏレベルの信号Ｖselect(1)〜Ｖselect(n)を、それぞれ、セレクトラインＬs(1)〜Ｌs(n)に出力する。

セレクトラインＬs(1)〜Ｌs(n)の信号レベルがＬｏレベルになると、すべての画素１１(i,j)のトランジスタＴ１，Ｔ２はオフする。

システムコントローラ１３は、電源ドライバ１５に、電圧制御信号Ｃv(H)を供給する。電源ドライバ１５は、システムコントローラ１３から、この電圧制御信号Ｃv(H)が供給されて、電圧VH（＝＋１５Ｖ）の信号Ｖsource(1)〜Ｖsource(n)を、電圧ラインＬv(1)〜Ｌv(n)に出力する。

電圧ラインＬv(1)〜Ｌv(n)の電圧がVHになると、各画素１１(i,j)のトランジスタＴ３は、各キャパシタＣ１が保持した電圧をゲート電圧Ｖgsとして、この信号ゲート電圧Ｖgsに対応する電流を有機ＥＬ素子１１１に供給する。

そして、各有機ＥＬ素子１１１は、この電流が流れることにより、この電流の電流値に対応する輝度で発光する。

以上説明したように、本実施形態によれば、表示装置１は、ＴＦＴパネル１１の各入出力端子から電流を引き込んで、補正のための各入出力端子の端子電圧を測定する際に、接続入出力端子のブロック毎に、ＴＦＴパネル１１の入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）と電流源部１６１の接続端子Ｐ１６１（１）〜Ｐ１６１（ｐ）との接続を切り換え、ブロック毎に、複数回に分けてＴＦＴパネル１１の各入出力端子から電流を引き込むようにした。

従って、電流源部１６１が同時に引き込む電流の総電流量を低減することができ、ＴＦＴパネル１１内の配線抵抗等による電圧降下の差を大幅に低減することができる。これにより、測定される端子電圧に対する電圧降下の影響を低減して、画質の劣化を抑制阻止することができる。

尚、本発明を実施するにあたっては、種々の形態が考えられ、上記実施形態に限られるものではない。
例えば、上記実施形態では、具体例として、ＴＦＴパネル１１の出力端子数ｍを２８８０、電流源部１６１の接続端子数ｐを５７６として、１ブロックが５７６個の入出力端子からなる場合について説明した。

しかし、ＴＦＴパネル１１の出力端子数ｍ、電流源部１６１の接続端子数及びこれに対応する１ブロックの入出力端子数ｐは、これに限られるものではない。

例えば、ＴＦＴパネル１１の出力端子数ｍを２８８０として、電流源部１６１の接続端子数及び１ブロックの入出力端子数ｐを９６としてもよい。また、ＴＦＴパネル１１の出力端子数ｍを２８８０未満、あるいは、２８８０を超える端子数としてもよい。

例えば、ＴＦＴパネル１１の出力端子数ｍを２８８０として、電流源部１６１の接続端子数及び１ブロックの入出力端子数ｐを９６とした場合、システムコントローラ１３は、１ブロックの９６個の入出力端子毎に測定処理を実行することになる。

この場合のシミュレーション結果は、図７の実線に示すようになり、電圧降下は、１ブロックの端子数を５７６とした場合（破線）と比較して、さらに小さくなる。また、電流は、入出力端子Ｄ（１）〜Ｄ（２８８０）間で比較的均等に供給されるようになり、各ブロックの境界での電流の差も小さくなる。

例えば、従来と同様に、引き回し配線抵抗の抵抗値を４５Ω、隣接する画素間の配線抵抗を０．４１Ω、測定用電流を０．５μＡとすると、全入出力端子での電圧降下の差を３５ｍＶまで低下させることができる。

上記実施形態では、図４に示すように、データドライバ１６が、電流源部１６１と、測定部１６２と、切換部１６３と、データ出力部１６４と、を備えるものとした。

しかし、本実施形態はこれに限るものではなく、データドライバ１６は、例えば、図８に示すように、データドライバ本体部１６ａと、測定部１６ｂと、を備えたものであってもよい。

データドライバ本体部１６ａは、データ出力部１６４を備える。測定部１６ｂは、電流源部１６１と、測定部１６２と、切換部１６３と、を備える。

データドライバ本体部１６ａと測定部１６ｂは、分離されて、例えば別チップで構成されて、実装されているものであってもよい。

また、上記実施形態では、１ブロックの入出力端子数は電流源部１６１の接続端子数ｐに等しいものとして説明した。

しかし、この接続ブロックは、これに限られるものではなく、例えば、１ブロックの入出力端子数を電流源部１６１の接続端子数ｐより小さい数としてもよい。

また、各ブロックの入出力端子数は、上記実施形態のように同じ数に限るものではなく、電流源部１６１を接続するＴＦＴパネル１１の位置に応じてこのブロックの入出力端子数を異なる数に設定してもよい。

例えば、ＴＦＴパネル１１と接続する位置がアノード回路１２から近い位置である場合は、１ブロックの入出力端子数を電流源部１６１の接続端子数ｐと同じ数とし、アノード回路１２から離れている位置のブロックでは、当該ブロックの入出力端子数を電流源部１６１の接続端子数ｐより少ない数とする。

このように構成することにより、電源ドライバ１５から離れている位置に電流源部１６１を接続したときの電圧降下を小さくすることができて、各入出力端子における電圧降下の差をより低減することができる。

上記実施形態では、データドライバ１６が電流供給電圧測定方式に従って構成されているものとして説明した。しかし、データドライバ１６は、このような構成に限られるものではなく、例えば、図９に示すような電圧印加電流測定方式に従って構成されたものでもよい。

この場合においても、全データラインに同時に電圧を供給した場合には、上記実施形態の場合と同様に、画素間の配線抵抗や引き回し配線抵抗の影響が生じる。この電圧印加電流測定方式を用いた場合においても、上記実施形態と同等の構成を適用することによって、配線抵抗や引き回し配線抵抗の影響を低減することができる。

図９に示すデータドライバ２６は、電圧源部２６１と、測定部２６２と、切換部１６３と、スイッチＳｗ１（１）〜Ｓｗ１（ｍ），Ｓｗ２（１）〜Ｓｗ２（ｍ）と、データ出力部１６４と、を備える。

電圧源部２６１は、電圧源２６１ｖ（１）〜２６１ｖ（ｐ）を備えたものである。電圧源２６１Ｖ（１）〜２６１ｖ（ｐ）は、データラインＬd(i)に電圧を印加するものである。

電圧源部２６１は、ｐ個の接続端子Ｐ２６１（１）〜Ｐ２６１（ｐ）を有し、電圧源２６１ｖ（１）〜２６１ｖ（ｐ）の負極は、それぞれ、この接続端子Ｐ２６１（１）〜Ｐ２６１（ｐ）に接続される。

また、電圧源２６１ｖ（１）〜２６１ｖ（ｐ）の正極には電圧Ｖssが印加される。

測定部２６２は、ｍ個の電流計２６２ａ（１）〜２６２ａ（ｍ）を備えたものである。電流計２６２ａ（１）〜２６２ａ（ｍ）は、それぞれ、データラインＬd(1)〜Ｌd(m)に流れる電流Ｉdの電流値を計測するものである。

電流計２６２ａ（１）〜２６２ａ（ｍ）は、それぞれ、スイッチＳｗ１（１）〜Ｓｗ１（ｍ）の電流下流側端子とスイッチＳｗ３（１）〜Ｓｗ３（ｍ）の電流上流側端子との間に介挿され、計測した電流Ｉdの電流値をシステムコントローラ１３に出力する。

更に、図４に示すデータドライバ１６は、代わりに、図１０に示すような電流源＆測定部３６１を備えたデータドライバ３６であってもよい。

電流源＆測定部３６１は、電流源３６１ａ（１）〜３６１ａ（ｐ）と、電圧計３６１ｖ（１）〜３６１ｖ（ｐ）とを備えたものである。すなわち、電流源３６１ａ（１）〜３６１ａ（ｐ）の各々に対応して電圧計３６１ｖ（１）〜３６１ｖ（ｐ）を備えて、電流源３６１ａ（１）〜３６１ａ（ｐ）の数と電圧計３６１ｖ（１）〜３６１ｖ（ｐ）の数を同じとしたものである。

電流源３６１ａ（１）〜３６１ａ（ｐ）は、それぞれ、図４に示す電流源１６１ａ（１）〜１６１ａ（ｐ）と同等のものである。また、電圧計３６１ｖ（１）〜３６１ｖ（ｐ）は、それぞれ、図４に示す電圧計１６２ａ（１）〜１６２ａ（ｍ）と同等のものである。

図１０に示すデータドライバ３６と同様に、図４に示したデータドライバ１６は、図１１に示すような電圧源＆測定部４６１を備えたデータドライバ４６であってもよい。

電流源＆測定部４６１は、電圧源４６１ａ（１）〜４６１ａ（ｐ）と、電流計４６１ａ（１）〜４６１ａ（ｐ）とを備えたものである。すなわち、電圧源の各々に対応して電流計を備えて、電圧源の数と電流計の数を同じとしたものである。

電圧源４６１ａ（１）〜４６１ａ（ｐ）は、それぞれ、図９に示す電圧源２６１ｖ（１）〜２６１ｖ（ｐ）と同等のものである。また、電流計４６１ａ（１）〜４６１ａ（ｐ）は、それぞれ、図９に示す電流計２６２ａ（１）〜２６２ａ（ｍ）と同等のものである。

また、上記実施形態においては、本発明を表示パネルを有する表示装置に適用した場合について説明したが、本発明はこれに限るものではない。例えば、発光素子を有する複数の画素が一方向に配列された発光素子アレイを有して、感光体ドラムに画像信号に応じた光を照射して露光する露光装置に適用してもよい。

本発明の実施形態に係る表示装置の構成を示すブロック図である。 図１に示す表示装置の各画素の構成を示す回路図である。 図１に示すシステムコントローラの構成を示すブロック図である。 図１に示すデータドライバの構成を示す図である。 図１に示すシステムコントローラが実行する測定処理を示すフローチャートである。 １ブロックの端子数を５７６とした場合の電圧降下を示すグラフである。 １ブロックの端子数を９６とした場合の電圧降下を示すグラフである。 データドライバの応用例（１）を示す図である。 データドライバの応用例（２）を示す図である。 データドライバの応用例（３）を示す図である。 データドライバの応用例（４）を示す図である。 従来の表示装置の構成を示す図である。 従来の電圧降下を示すグラフである。

符号の説明

１・・・表示装置、１１・・・ＴＦＴパネル、Ｄ（１）〜Ｄ（ｍ）・・・入出力端子（ＴＦＴパネル）、１１(i,j)・・・画素、１２・・・表示信号生成回路、１３・・・システムコントローラ、１６・・・データドライバ、１６１・・・電流源部、Ｐ１６１（１）〜Ｐ１６１（ｐ）・・・接続端子、１６２・・・測定部、１６３・・・切換部、１６３ｄ・・・デコーダ、Ｓｗ１（１）〜Ｓｗ１（ｍ），Ｓｗ２（１）〜Ｓｗ２（ｍ），Ｓｗ３（１）〜Ｓｗ３（ｍ）・・・スイッチ

Claims (8)

1. 複数の入出力端子と、該複数の入出力端子の各々に接続された、光学素子と該光学素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する画素アレイを、供給される画像信号に基づく駆動信号で駆動する画素駆動装置であって、
   前記複数の入出力端子の数より少ない所定の数の接続端子を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記所定の数だけ備え、該各接続端子から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
   前記所定の数の接続端子を、前記複数の入出力端子を前記接続端子の数に等しいかそれより少ない数の前記入出力端子毎に分割した複数のブロックの各々の前記各入出力端子に、順次接続するように、前記接続ユニットの前記各接続端子と前記各入出力端子との接続を切り換える接続切換部と、
   前記接続切換部により前記各接続端子が接続された前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときの前記各入出力端子の電位の値、又は、前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電圧を供給したときの前記接続切換部を介して前記各接続端子と前記各入出力端子との間に流れる電流の電流値を取得する測定部と、
   前記測定部が取得した前記電位の値又は前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて前記駆動信号を補正する補正部と、
   を備えることを特徴とする画素駆動装置。
2. 前記接続切換部において、前記複数のブロックの何れか一つに含まれる前記入出力端子の数が、他の少なくとも何れか一つの前記ブロックに含まれる前記入出力端子の数と異なるように設定されていることを特徴とする請求項１に記載の画素駆動装置。
3. 複数の入出力端子と、該複数の入出力端子の各々に接続された、発光素子と該発光素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する画素アレイと、
   前記複数の入出力端子の数より少ない所定の数の接続端子を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記所定の数だけ備え、該各接続端子から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
   前記所定の数の接続端子を、前記複数の入出力端子を前記接続端子の数に等しいかそれより少ない数の前記入出力端子毎に分割した複数のブロックの各々の前記各入出力端子に、順次接続するように、前記接続ユニットの前記各接続端子と前記各入出力端子との接続を切り換える接続切換部と、
   前記接続切換部により前記各接続端子が接続された前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときの前記各入出力端子の電位の値又は前記各入出力端子に前記測定用電圧を供給したときの前記接続切換部を介して前記各接続端子と前記各入出力端子との間に流れる電流の電流値を取得する測定部と、
   前記測定部が取得した前記電位の値又は前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて、供給される画像信号に応じて前記画素アレイの前記各画素を駆動する駆動信号を補正する補正部と、
   を備えることを特徴とする発光装置。
4. 前記接続切換部において、前記複数のブロックの何れか一つに含まれる前記入出力端子の数が、他の少なくとも何れか一つの前記ブロックに含まれる前記入出力端子の数と異なるように設定されていることを特徴とする請求項３に記載の発光装置。
5. 前記画素アレイは、前記複数の入出力端子の各々に接続される複数のデータラインを有し、
   前記各画素は、前記駆動素子として、電流路の一端が前記発光素子の一端に接続されるとともに前記各データラインに電気的に接続され、該電流路の他端に所定の電圧値の電源電圧が印加されて、前記発光素子に供給する電流を制御する駆動トランジスタを有し、
   前記測定部は、前記接続ユニットより、前記接続切換部を介して、オン状態とされた前記各画素の前記駆動トランジスタの電流路に電流が流れるときの前記各入出力端子の電位の値又は前記各接続端子から前記接続切換部及び前記各入出力端子を介して前記各データラインに流れる電流の電流値を取得することを特徴とする請求項３又は４に記載の発光装置。
6. 端子数ｍ（ｍは自然数）の入出力端子Ｄ（ｉ）（ｉ＝１〜ｍ）と、該複数の入出力端子の各々に接続された、光学素子と該光学素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する表示パネルと、
   端子数ｐ（ｐは自然数、ｐ＜ｍ）の接続端子Ｐ（ｋ）（ｋ＝１〜ｐ）を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記ｐ個だけ備え、該接続端子Ｐ（ｋ）の各々から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
   前記表示パネルの入出力端子Ｄ（ｉ）と前記接続ユニットの接続端子Ｐ（ｋ）との接続を切り換える接続切換部と、
   前記接続切換部により前記接続端子Ｐ（ｋ）が接続された前記入出力端子Ｄ（ｉ）に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときの前記入出力端子Ｄ（ｉ）の電位の値又は前記入出力端子Ｄ（ｉ）に前記測定用電圧を供給したときの前記接続切換部を介して前記接続端子Ｐ（ｋ）と前記入出力端子Ｄ（ｉ）との間に流れる電流の電流値を取得する測定部と、
   前記測定部が取得した前記電位の値又は前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて、供給される画像信号に応じて前記画素アレイの前記各画素を駆動する駆動信号を補正する補正部と、
   を備えることを特徴とする表示装置。
7. 複数の入出力端子と、該複数の入出力端子の各々に接続された、光学素子と該光学素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する画素アレイを、供給される画像信号に基づく駆動信号で駆動する画素駆動装置であって、
   前記複数の入出力端子の数より少ない所定の数の接続端子を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源と該電流源の出力端の電位の値を取得する電圧計、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源と該電圧源の出力端と前記接続端子との間に流れる電流の電流値を取得する電流計を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記所定の数だけ備え、該各接続端子から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
   前記所定の数の接続端子を、前記複数の入出力端子を前記接続端子の数に等しいかそれより少ない数の前記入出力端子毎に分割した複数のブロックの各々の前記各入出力端子に、順次接続するように、前記接続ユニットの前記各接続端子と前記各入出力端子との接続を切り換える接続切換部と、
   前記接続切換部により前記各接続端子が接続された前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときに前記各電圧計が取得した前記電位の値、又は、前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電圧を供給したときに前記各電流計が取得した前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて前記駆動信号を補正する補正部と、
   を備えることを特徴とする画素駆動装置。
8. 複数の入出力端子と、該複数の入出力端子の各々に接続された、発光素子と該発光素子を駆動する駆動素子とを有する複数の画素と、を有する画素アレイと、
   前記複数の入出力端子の数より少ない所定の数の接続端子を有し、予め設定された電流値の測定用電流を出力する電流源と該電流源の出力端の電位の値を取得する電圧計、又は、予め設定された電圧値の測定用電圧を出力する電圧源と該電圧源の出力端と前記接続端子との間に流れる電流の電流値を取得する電流計を、前記所定の数の接続端子の各々に対応して前記所定の数だけ備え、該各接続端子から前記測定用電流又は前記測定用電圧を供給する接続ユニットと、
   前記所定の数の接続端子を、前記複数の入出力端子を前記接続端子の数に等しいかそれより少ない数の前記入出力端子毎に分割した複数のブロックの各々の前記各入出力端子に、順次接続するように、前記接続ユニットの前記各接続端子と前記各入出力端子との接続を切り換える接続切換部と、
   前記接続切換部により前記各接続端子が接続された前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電流を供給したときに前記各電圧計が取得した前記電位の値、又は、前記各入出力端子に前記接続ユニットから前記測定用電圧を供給したときに前記各電流計が取得した前記電流値に基づいて前記駆動素子の電気的特性値を取得し、該駆動素子の電気的特性値に基づいて前記駆動信号を補正する補正部と、
   を備えることを特徴とする発光装置。

Images