JP5252892B2 - 光学ユニット - Google Patents
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Description
特許文献1の試料分析装置は、図7に示すように、光源部、レンズ55、透明基板56及び光検出器58で構成されている。光源部は、レーザ光照射装置51、光ファイバー52、コリメーションレンズ53、ミラー54に備わる短冊形状の開口部(図示省略)を有している。特許文献1では、光源部からの平行光P1を、レンズ55を介して収束光に変換する。試料(図示省略)が配置される透明基板56の反対側の面には、金属膜57が成膜されている。そして、この金属膜57の表面に収束光が照射される。そして、全反射した光を、レンズ55を介して収集する。収集された光は、光源部からの平行光と逆向きの平行光P2に変換され光検出器58で検出される。
従来、試料分析装置は、この特許文献1に記載の試料分析装置のように、光を検査位置に照射させる際に、光源部からの平行光を、レンズを介して収束光に変換させていた。
図1は光学ユニットの基本構成を概念的に示すブロック図である。
光学ユニットは、光源ユニット1と、プリズム2と、受光素子列3とを有して構成されている。
光源ユニット1は、プリズム2の入射面2aと向き合う位置に配置されている。なお、プリズム2の具体的な構成については後述する。この光源ユニット1は、平行光を出射させるように構成されている。平行光を出射させることができる構成であれば、例えば、光源にコリメートレンズを組合せた構成、あるいは、さらにそれにファイバーを組合せた構成など、どのような構成でもよい。
入射面2aは、光源ユニット1から出射した平行光をプリズム2の内部に入射させるように構成されている。このとき、入射面2aを平面とし、平行光が入射面2aに対して垂直に入射するのが好ましい。
湾曲形状の反射面2bは、入射面2aを透過してプリズム2の内部に入射した平行光を、その焦点位置(不図示)に向けて反射させるように構成されている。
平面形状の試料配置部2cは、湾曲形状の反射面2bと対向する位置であって、湾曲形状の反射面2bの焦点位置を含む位置に設けられている。
出射面2dは、試料配置部2cで全反射した光を、プリズム2の外部に出射させるように構成されている。このとき、全反射した光は発散光になっている。そこで、出射面2dは、面の法線が各光線に対して垂直となるような面とするのが好ましい。なお、全反射が生じる位置は、より詳しくは、湾曲形状の反射面2bの焦点位置である。
また、この光学ユニットにおいて試料配置部2cに、例えば、金属薄膜や金属微粒子をコーティングする等、金属膜を蒸着する。このようにすれば、表面プラズモン共鳴により反射光の強度が急激に変化するときの入射角を高精度に求めることができる。そして、その入射角から試料の諸物性を特定することができる。
図2は本発明の第一実施形態にかかる光学ユニットを示す図であって、(a)は光学ユニットを光軸方向から見たときの図、(b)は光学ユニットの全体の構成を概略的に示す光軸方向に沿う断面図である。図3は図2に示す光学ユニットに用いるプリズムの外観を示す斜視図である。なお、図2中、Sは試料である。
このプリズム2は、入射面2a、放物形状の反射面2b及び出射面2dを有している。放物形状の反射面2bは、放物面の一部である。また、対称軸Lは、放物面の回転対称軸(中心軸)である。入射面2a、試料配置部2c及び出射面2dは、同一平面上に設けられている。この平面は、放物形状の反射面2bの焦点位置Pを含み対称軸Lに対して垂直な平面である。また、入射面2a及び出射面2dは、試料配置部2cを挟む位置に配置されている。
光源ユニット1は、出射した平行光を入射面2aに垂直に入射させるように配置されている。
受光素子列3の各受光素子31、32、・・・、3nは、出射面2dから垂直に出射した光(平行光を構成する各光線)を受光面で垂直に受光するように1次元方向に配置されている。
第一の反射領域2b1は、入射面2aを介してプリズム2の内部に入射した平行光を反射して、所定の収束光に変換し、放物形状の焦点位置Pに入射させる。
第二の反射領域2b2は、試料配置部2cにおける放物形状の焦点位置Pで全反射した所定の収束光を反射して平行光に変換し、出射面2dからプリズム2の外部に垂直に出射させる。
その他の構成は、図1に示した構成と同じである。
また、反射面2bにおける第二の反射領域2b2は、反射面2bの焦点位置Pから入射した全ての光線を反射して平行光に変換するという作用を有する。このため、反射面2bの焦点位置Pで全反射した光は、平行光に変換されて、プリズム2の出射面2dに垂直に入射する。なお、全反射した光は、プリズム2以外の媒質を通ることがない。プリズム2の出射面2dは、入射した平行光をプリズム2の外部に垂直に出射させる。よって、平行光を構成する各光線は、いずれも平行のままの状態が保持される。このとき、出射面2dから出射した平行光の各光線は、いずれも全反射したときの角度を射出位置の情報として保持している。
また、第一実施形態の光学ユニットにおいて試料配置部2cに、例えば、金属薄膜や金属微粒子をコーティングする等、金属膜を蒸着する。このようにすれば、表面プラズモン共鳴により反射光の強度が急激に変化するときの入射角を高精度に求めることができる。そして、その入射角から試料の諸物性を特定することができる。
図2及び図3のプリズムの場合、試料配置部2c上では、入射光は線状に集光する。そのため、このような構成では、試料上の線状の領域で計測を行っていることになる。これに対し、図4に示すような回転対称型の放物面では、試料配置部2cには光は1点に集光されることになる。従って、試料上の微小な領域1点のみの計測が可能となる。
図5は本発明の第二実施形態にかかる光学ユニットの全体の構成を概略的に示す説明図であって、(a)は斜視図、(b)は光軸方向に沿う断面図、(c)は試料配置部の反対側から見た側面図である。図6は図5の光学ユニットにおけるプリズムの各構成要素を概略的に示す側面図であって、(a)は第一の扇形板状プリズム部、(b)は第2の扇形板状プリズム部、(c)は第三の扇形板状プリズム部を示している。なお、図5中、Sは試料である。
発散光変換手段212は、円錐形状の孔と、円錐面に反射膜が形成された反射面で構成されている。この円錐形状の孔は、その中心軸が第一の扇形板状プリズム部21の頂角部(即ち、後述する第一の円弧形状の反射面213の焦点位置P)を通過するように形成されている。また、円錐形状の孔は、その中心軸が入射面2a(扇面211)に対して垂直で、且つ、その頂点が入射面2a(扇面211)側を向いて形成されている。よって、発散光変換手段212における反射面は、第一の円弧形状の反射面213と向かい合うことになる。
第二の円弧形状の反射面222は湾曲形状の反射面であって、具体的には、第一の円弧形状の反射面213と同じ形状である。第二の円弧形状の反射面222は、扇面221とのなす角度α2が45°となるように設けられている。また、図からわかるように、第二の円弧形状の反射面222は、第一の円弧形状の反射面213と向かい合うように設けられている。
第三の円弧形状の光学面234は出射面2dであって、具体的には、円筒面の一部を帯状に切り取った形状をしている。長手方向は円弧なので、この方向には光学的パワーを持っている。一方、長手方向と直交する方向(円筒の母線方向)には光学的パワーを持っていない。また、第三の円弧形状の光学面234は、扇面232,233とのなす角度α3,α4が90度となるように設けられている。
また、第一の扇形板状プリズム部21と第二の扇形板状プリズム部22は、互いに最大径を持つ扇面214,221同士が接合されている。また、第二の扇形板状プリズム部22と第三の扇形板状プリズム部23は、互いの試料配置部2cを有する平面223,231並びに扇面224,232及び扇面221,233が、夫々略面一となるように接合されている。
受光素子列3の各受光素子は、夫々第三の扇形板状プリズム部23における第三の円弧形状の光学面234から出射した光を略垂直に受光するように配置されている。
その他の構成は、図1に示した構成と同じである。
また、第二実施形態の光学ユニットにおいて試料配置部2cに、例えば、金属薄膜や金属微粒子をコーティングする等、金属膜を蒸着する。このようにすれば、表面プラズモン共鳴により反射光の強度が急激に変化するときの入射角を高精度に求めることができる。そして、その入射角から試料の諸物性を特定することができる。
さらに、第二実施形態の光学ユニットによれば、発散光変換手段212を介して、光源ユニット1から出射し、入射面2a(扇面211)を介して第一の扇形板状プリズム部21の内部に入射した平行光を扇状の発散光に変換するようにしたので、光源ユニット1の出射部を大きくすることなく、被検査対象の同一点を入射角に幅をもたせて照射でき、光源ユニットを小型化できる。
このようにすれば、第一の扇形板状プリズム部21において、発散光変換手段212、第一の円弧形状の反射面213の経路を辿らない迷光が第二の扇形板状プリズム部22に入射するのを阻止することができる。その結果、受光素子列3での受光精度がより高くなる。
2 プリズム
2a 入射面
2b 湾曲形状の反射面(放物形状の反射面)
2b1 第一の反射領域
2b2 第二の反射領域
2c 試料配置部
2d 出射面
3 受光素子列
31、32、・・・、3n 受光素子列の各受光素子
21 第一の扇形板状プリズム部
211 入射面2aをなす扇面
212 発散光変換手段
213 第一の円弧形状の反射面
214 最大径を有する扇面
22 第二の扇形板状プリズム部
221 最大径を有する扇面
222 第二の円弧形状の反射面
223 試料配置部2cの一部を有する平面
224 扇面
23 第三の扇形板状プリズム部
231 試料配置部2cの他部を有する平面
232,233 扇面
234 第三の円弧形状の光学面
51 レーザ光照射装置
52 光ファイバー
53 コリメーションレンズ
54 ミラー
55 レンズ
56 透明基板
57 金属膜
58 光検出器
Claims (4)
- 平行光を出射させる光源ユニットと、
受光素子列と、
前記光源ユニットからの出射光を前記試料配置部に入射させると共に該試料配置部からの全反射光を前記受光素子列に導くプリズムとを有し、
前記プリズムが、前記光源ユニットから出射した平行光を該プリズムの内部に入射させる入射面と、該入射面を通過して該プリズムの内部に入射した光をその焦点位置に向けて反射させる湾曲形状の反射面と、該湾曲形状の反射面の焦点位置を含む位置に設けられた平面形状の前記試料配置部と、該試料配置部における該湾曲形状の反射面の焦点位置で全反射した光を該プリズムの外部に出射させる出射面を有する光学ユニットであって、
前記プリズムは、前記湾曲形状の反射面が放物形状で、且つ、全体が前記放物形状の反射面の対称軸を含む面に対して面対称な形状に形成された透明部材で構成され、
前記入射面、前記試料配置部及び前記出射面は、前記放物形状の反射面の焦点位置を通り対称軸に対して垂直な同一平面上に設けられ、且つ、該試料配置部を挟む位置に該入射面及び該出射面が配置され、
前記光源ユニットは、出射した平行光を前記入射面に垂直に入射させるように配置され、
前記受光素子列の各受光素子は、前記出射面から垂直に出射した光を受光面で垂直に受光するように1次元方向に配置され、
前記放物形状の反射面は、前記入射面を介して該プリズムの内部に入射した平行光を反射して、全反射する角度を含む所定範囲の連続した入射角の入射光に変換し、前記放物形状の焦点位置に入射させる第一の反射領域と、前記試料配置部における該放物形状の焦点位置で全反射した所定範囲の連続した入射角の光を反射して平行光に変換し、前記出射面から該プリズムの外部に垂直に出射させる第二の反射領域を有することを特徴とする光学ユニット。 - 平行光を出射させる光源ユニットと、
受光素子列と、
前記光源ユニットからの出射光を前記試料配置部に入射させると共に該試料配置部からの全反射光を前記受光素子列に導くプリズムとを有し、
前記プリズムが、前記光源ユニットから出射した平行光を該プリズムの内部に入射させる入射面と、該入射面を通過して該プリズムの内部に入射した光をその焦点位置に向けて反射させる湾曲形状の反射面と、該湾曲形状の反射面の焦点位置を含む位置に設けられた平面形状の前記試料配置部と、該試料配置部における該湾曲形状の反射面の焦点位置で全反射した光を該プリズムの外部に出射させる出射面を有する光学ユニットであって、
前記プリズムは、前記湾曲形状の反射面が放物形状で、且つ、全体が前記放物形状の反射面の対称軸を中心とした回転対称な形状に形成された透明部材で構成され、
前記入射面、前記試料配置部及び前記出射面は、前記放物形状の反射面の焦点位置を通り対称軸に対して垂直な同一平面上に設けられ、且つ、該試料配置部を挟む位置に該入射面及び該出射面が配置され、
前記光源ユニットは、出射した平行光を前記入射面に垂直に入射させるように配置され、
前記受光素子列の各受光素子は、前記出射面から垂直に出射した光を受光面で垂直に受光するように2次元方向に配置され、
前記放物形状の反射面は、前記入射面を介して該プリズムの内部に入射した平行光を反射して、全反射する角度を含む所定範囲の連続した入射角の入射光に変換し、前記放物形状の焦点位置に入射させる第一の反射領域と、前記試料配置部における該放物形状の焦点位置で全反射した所定範囲の連続した入射角の光を反射して平行光に変換し、前記出射面から該プリズムの外部に垂直に出射させる第二の反射領域を有することを特徴とする光学ユニット。 - 平行光を出射させる光源ユニットと、
受光素子列と、
前記光源ユニットからの出射光を前記試料配置部に入射させると共に該試料配置部からの全反射光を前記受光素子列に導くプリズムとを有し、
前記プリズムが、前記光源ユニットから出射した平行光を該プリズムの内部に入射させる入射面と、該入射面を通過して該プリズムの内部に入射した光をその焦点位置に向けて反射させる湾曲形状の反射面と、該湾曲形状の反射面の焦点位置を含む位置に設けられた平面形状の前記試料配置部と、該試料配置部における該湾曲形状の反射面の焦点位置で全反射した光を該プリズムの外部に出射させる出射面を有する光学ユニットであって、
前記プリズムは、第一の扇形板状プリズム部と、第二の扇形板状プリズム部と、第三の扇形板状プリズム部とを有し、
前記第一の扇形板状プリズム部は、前記入射面と、該入射面を介して該プリズムの内部に入射した平行光を扇形状の発散光に変換する発散光変換手段と、該発散光変換手段を介して変換された発散光を偏向する第一の円弧形状の反射面を有し、前記第一の円弧形状の反射面が前記入射面に対して135度傾斜し、
前記発散光変換手段は、前記第一の扇形板状プリズム部の頂角部において前記入射面に対して垂直で、且つ、頂点が前記入射面側を向いた円錐形状の孔に反射膜を備えてなる反射面からなり、
前記第二の扇形板状プリズム部は、前記試料配置部の一部と、前記湾曲形状の反射面を構成し前記第一の扇形板状プリズム部における前記発散光変換手段を介して発散光に変換され前記第一の円弧形状の反射面で偏向された光を扇形状の収束光に変換して前記第二の円弧形状の焦点位置に入射させる第二の円弧形状の反射面を有し、最大径及び頂角部が前記第一の扇形板状プリズム部と同じであり、且つ、前記第二の円弧形状の反射面が該第二の扇形板状プリズム部において最大径を有する扇面に対して45度傾斜し、
前記第三の扇形板状プリズム部は、前記試料配置部の他部と、前記出射面を構成し前記試料配置部における前記第二の円弧形状の焦点位置で全反射することによって変換された扇形状の発散光を外部に垂直に出射させる第三の円弧形状の光学面を有し、最大径及び頂角が前記第二の扇形板状プリズム部と同じであり、且つ、前記第三の円弧形状の光学面と該第三の扇形板状プリズム部において最大径を有する扇面とのなす角度が90度であり、
前記第一の扇形板状プリズム部と、前記第二の扇形板状プリズム部と、前記第三の扇形板状プリズム部は、同一の媒質で構成され、
前記第一の扇形板状プリズム部と前記第二の扇形板状プリズム部は、互いに最大径を持つ扇面同士が接合され、
前記第二の扇形板状プリズム部と前記第三の扇形板状プリズム部は、互いの前記試料配置部及び扇面が夫々略面一となるように接合され、
前記光源ユニットは、出射した平行光を前記第一の扇形板状プリズム部における前記円錐形状の反射面に入射させる位置に、該第一の扇形板状プリズム部の前記入射面に対して垂直に配置され、
前記受光素子列の各受光素子は、夫々前記第三の扇形板状プリズム部における前記第三の円弧形状の光学面から出射した光を略垂直に受光するように配置されていることを特徴とする光学ユニット。 - 前記試料配置部に金属膜が蒸着されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の光学ユニット。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007300829A JP5252892B2 (ja) | 2007-11-20 | 2007-11-20 | 光学ユニット |
US12/313,309 US7728980B2 (en) | 2007-11-20 | 2008-11-18 | Optical unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007300829A JP5252892B2 (ja) | 2007-11-20 | 2007-11-20 | 光学ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009128073A JP2009128073A (ja) | 2009-06-11 |
JP5252892B2 true JP5252892B2 (ja) | 2013-07-31 |
Family
ID=40641589
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007300829A Expired - Fee Related JP5252892B2 (ja) | 2007-11-20 | 2007-11-20 | 光学ユニット |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7728980B2 (ja) |
JP (1) | JP5252892B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120293860A1 (en) * | 2011-05-19 | 2012-11-22 | Pike Technologies | Internal reflection elements having increased energy throughput for attenuated total reflectance spectroscopy |
US8908185B2 (en) * | 2012-11-02 | 2014-12-09 | National Yang-Ming University | Coupling prism and optical detection system thereof |
DE102013104986A1 (de) * | 2013-05-15 | 2014-12-04 | Limo Patentverwaltung Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur Beaufschlagung der Außenseite eines rotationssymmetrischen Bauteils mit Laserstrahlung |
US10078908B2 (en) * | 2016-08-12 | 2018-09-18 | Elite Robotics | Determination of relative positions |
US10802475B2 (en) * | 2018-07-16 | 2020-10-13 | Elite Robotics | Positioner for a robotic workcell |
WO2022171454A1 (en) * | 2021-02-11 | 2022-08-18 | ams Sensors Germany GmbH | Sensor device and sensor arrangement |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH073318Y2 (ja) * | 1989-03-08 | 1995-01-30 | 聡 河田 | 光励起表面プラズマ振動共鳴を利用したセンサヘッド |
GB9108974D0 (en) * | 1991-04-26 | 1991-06-12 | Nat Res Dev | Optical probe heads |
ATE298084T1 (de) * | 1997-01-31 | 2005-07-15 | Horticulture & Food Res Inst | Optische vorrichtung und methode |
AU6075100A (en) * | 1999-07-07 | 2001-01-30 | Ljl Biosystems, Inc. | Light detection device |
US6862398B2 (en) * | 2001-03-30 | 2005-03-01 | Texas Instruments Incorporated | System for directed molecular interaction in surface plasmon resonance analysis |
KR20030047567A (ko) * | 2001-12-11 | 2003-06-18 | 한국전자통신연구원 | 표면 플라즈몬 공명 센서 시스템 |
JP4234609B2 (ja) * | 2004-01-07 | 2009-03-04 | ローム株式会社 | 表面プラズモン共鳴センサ |
JP2005337940A (ja) | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Aisin Seiki Co Ltd | 表面プラズモン共鳴装置 |
JP4893032B2 (ja) * | 2006-03-15 | 2012-03-07 | オムロン株式会社 | 光学部品、光学センサ及び表面プラズモンセンサ |
-
2007
- 2007-11-20 JP JP2007300829A patent/JP5252892B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-11-18 US US12/313,309 patent/US7728980B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7728980B2 (en) | 2010-06-01 |
US20090128804A1 (en) | 2009-05-21 |
JP2009128073A (ja) | 2009-06-11 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121009 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121204 |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130416 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160426 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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R250 | Receipt of annual fees |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |