JP5243206B2 - Gloss meter - Google Patents
Gloss meter Download PDFInfo
- Publication number
- JP5243206B2 JP5243206B2 JP2008300255A JP2008300255A JP5243206B2 JP 5243206 B2 JP5243206 B2 JP 5243206B2 JP 2008300255 A JP2008300255 A JP 2008300255A JP 2008300255 A JP2008300255 A JP 2008300255A JP 5243206 B2 JP5243206 B2 JP 5243206B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light source
- glossiness
- setting value
- amount setting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 102
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 48
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 30
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 16
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 11
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 Ta 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 1
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010421 standard material Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
Description
この発明は、物体表面の光沢度を測定する光沢計に関し、特に、温度補償機能を有する光沢計に関するものである。 The present invention relates to a gloss meter for measuring the glossiness of an object surface, and more particularly to a gloss meter having a temperature compensation function.
従来、物体表面の光沢を測定する方法として、鏡面光沢度測定法がある。この鏡面光沢度測定法を用いた光沢度は、特許文献１に示すように、被測定面に対して所定入射角度で検査光を照射する光照射部と、前記被測定面から前記所定入射角度と同じ反射角度で反射される反射光を受光する光検出部と、前記光検出部により得られた検出信号に基づいて、前記測定面の光沢度を算出する光沢度算出部とを備えている。そして、光照射部は、ＬＥＤを備えたものであり、検査光は一定となるように設定され、当該ＬＥＤの温度特性を補償するために温度補償回路が設けられている。 Conventionally, there is a specular gloss measurement method as a method for measuring the gloss of an object surface. The glossiness using this specular glossiness measurement method is, as shown in Patent Document 1, a light irradiation unit that irradiates inspection light at a predetermined incident angle with respect to a measured surface, and the predetermined incident angle from the measured surface. A light detection unit that receives reflected light reflected at the same reflection angle, and a glossiness calculation unit that calculates the glossiness of the measurement surface based on a detection signal obtained by the light detection unit. . The light irradiation unit includes an LED, the inspection light is set to be constant, and a temperature compensation circuit is provided to compensate for the temperature characteristics of the LED.
そして近年、光沢度０−２００の低光沢測定レンジと光沢度０−１０００の高光沢測定レンジとで光沢度を測定する場合に、ＬＥＤから出る検査光の光量を切り替えて測定することが行われている。このとき、ＬＥＤの光量切替としては電流制御を行うことが考えられている In recent years, when the glossiness is measured with a low glossiness measurement range with a glossiness of 0-200 and a high glossiness measurement range with a glossiness of 0-1000, the amount of inspection light emitted from the LED is switched and measured. ing. At this time, it is considered to perform current control as the light quantity switching of the LED.
しかしながら、ＬＥＤから一定光量の検査光を照射することを前提としていた温度補償回路をそのまま用いると、ＬＥＤに流れる電流に応じてＬＥＤの温度特性が異なることから、正確な温度補償を行うことができないという問題がある。
そこで本発明は、上記問題点を一挙に解決するためになされたものであり、光沢計において、光源から出る検査光の光量を変化させた際に、当該光量毎の光源の温度特性を考慮して光沢度を算出することをその主たる所期課題とするものである。 Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems all at once, and in the gloss meter, when the amount of inspection light emitted from the light source is changed, the temperature characteristics of the light source for each light amount are taken into consideration. Therefore, calculating the gloss level is the main desired task.
すなわち本発明に係る光沢計は、被測定面に対して検査光を照射する光源と、前記被測定面で反射される反射光を受光する光検出器と、前記光源の温度を検出する温度検出部と、前記検査光を少なくとも２種類以上の光量に設定するための光量設定値を示す光量設定信号を取得して、前記検査光を前記光量設定値とする駆動信号を前記光源に出力する光源制御部と、前記各光量設定値における前記光源の温度特性データを格納する温度特性データ格納部と、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ、前記温度検出部により得られた温度信号、及び前記光検出器により得られた反射光の光量データに基づいて、前記被測定面の光沢度を算出する光沢度算出部と、を具備し、前記光量設定信号が、複数の光沢度測定レンジの何れかに切り替えるためのものであり、前記温度特性データ格納部が、前記複数の光沢度測定レンジそれぞれの光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを格納するものであり、前記光沢度算出部が、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得することを特徴とする。 That is, the gloss meter according to the present invention includes a light source that irradiates a surface to be measured with inspection light, a photodetector that receives reflected light reflected by the surface to be measured, and a temperature detection that detects the temperature of the light source. And a light source that obtains a light amount setting signal indicating a light amount setting value for setting the inspection light to at least two types of light amounts and outputs a drive signal that uses the inspection light as the light amount setting value to the light source A temperature characteristic data storage unit for storing temperature characteristic data of the light source at each light quantity setting value; temperature characteristic data of the light source corresponding to the light quantity setting value; and a temperature signal obtained by the temperature detection part And a gloss level calculation unit that calculates the gloss level of the surface to be measured based on the light level data of the reflected light obtained by the photodetector, and the light level setting signal includes a plurality of gloss level measurements. Any of the ranges The temperature characteristic data storage unit stores temperature characteristic data of the light source corresponding to a light amount setting value of each of the plurality of glossiness measurement ranges, and the glossiness calculation unit includes: The temperature characteristic data of the light source corresponding to the light quantity setting value is acquired .
このようなものであれば、光沢度算出部が各光量設定値に対応する光源の温度特性を考慮して光沢度を算出するので、光量設定値を変化させて光沢度を測定する場合それぞれにおいて、温度補償を考慮した正確な光沢度を測定することができる。また、光量設定値の異なる複数の光沢度測定レンジの切り替えを行うことができる光沢計において温度補償を好適に行うことができる。 If this is the case, the glossiness calculation unit calculates the glossiness in consideration of the temperature characteristics of the light source corresponding to each light quantity setting value, so when measuring the glossiness by changing the light quantity setting value, respectively. It is possible to measure an accurate glossiness considering temperature compensation. Further, temperature compensation can be suitably performed in a gloss meter that can switch between a plurality of glossiness measurement ranges having different light quantity setting values.
光沢度０−２００の低光沢度測定レンジ及び光沢度０−１０００の高光沢度測定レンジの切り替えを行うことができる光沢計において温度補償を好適に行うためには、各光量設定値における前記光源の温度特性データを格納する温度特性データ格納部をさらに備え、前記光量設定信号が、低光沢度測定レンジの光量設定値である低光沢度用光量設定値又は高光沢度測定レンジの光量設定値である高光沢度用光量設定値を切り替えるためのものであり、前記温度特性データ格納部が、前記低光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ及び前記高光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを格納するものであり、前記光沢度算出部が、前記光量設定信号を取得して、低光沢度測定レンジの場合には前記低光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得し、高光沢度測定レンジの場合には、前記高光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得することが望ましい。 In order to suitably perform temperature compensation in a gloss meter capable of switching between a low glossiness measurement range with a glossiness of 0-200 and a high glossiness measurement range with a glossiness of 0-1000, the light source at each light intensity setting value is used. A temperature characteristic data storage unit for storing the temperature characteristic data of the low glossiness measurement light amount setting value, which is the light intensity setting value of the low glossiness measurement range, or the light intensity setting value of the high glossiness measurement range. The temperature characteristic data storage unit switches the temperature characteristic data of the light source corresponding to the low-gloss light amount setting value and the high-gloss light amount setting. Temperature characteristic data of the light source corresponding to the value is stored, and when the glossiness calculation unit acquires the light amount setting signal and is in a low glossiness measurement range, the light for low glossiness Get the temperature characteristic data of the light source corresponding to the set value, in the case of high gloss measurement range, it is desirable to obtain temperature characteristic data of the light source corresponding to the high gloss light quantity setting value.
また、本発明に係る光沢計は、被測定面に対して検査光を照射する光源と、前記被測定面で反射される反射光を受光する光検出器と、前記光検出器により得られた検出信号に基づいて、前記被測定面の光沢度を算出する光沢度算出部と、前記光源の温度を検出する温度検出部と、前記検査光を少なくとも２種類以上の光量に設定するための光量設定値を示す光量設定信号を取得して、前記検査光が前記光量設定値となるように、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ及び前記温度検出部により得られた温度信号を用いて前記光源を制御する光源制御部と、前記各光量設定値における前記光源の温度特性データを格納する温度特性データ格納部と、を具備し、前記光量設定信号が、複数の光沢度測定レンジの何れかに切り替えるためのものであり、前記温度特性データ格納部が、前記複数の光沢度測定レンジそれぞれの光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを格納するものであり、前記光沢度算出部が、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得することを特徴とする。このようなものでも、光源の光量設定値毎に温度特性を考慮し、検査光を調整して照射することができるので、温度補償を考慮した正確な光沢度を測定することができる。また、光量設定値の異なる複数の光沢度測定レンジの切り替えを行うことができる光沢計において温度補償を好適に行うことができる。 Further, the gloss meter according to the present invention is obtained by a light source that irradiates inspection light onto a surface to be measured, a photodetector that receives reflected light reflected by the surface to be measured, and the photodetector. Based on a detection signal, a gloss level calculation unit that calculates the gloss level of the surface to be measured, a temperature detection unit that detects the temperature of the light source, and a light amount for setting the inspection light to at least two types of light amounts A light quantity setting signal indicating a setting value is acquired, and temperature characteristic data of the light source corresponding to the light quantity setting value and a temperature signal obtained by the temperature detection unit are set so that the inspection light becomes the light quantity setting value. A light source control unit that controls the light source, and a temperature characteristic data storage unit that stores temperature characteristic data of the light source at each light amount setting value, and the light amount setting signal has a plurality of glossiness measurement ranges. Switch to either The temperature characteristic data storage unit stores temperature characteristic data of the light source corresponding to a light amount setting value of each of the plurality of glossiness measurement ranges, and the glossiness calculation unit includes the glossiness calculation unit, Temperature characteristic data of the light source corresponding to a light amount setting value is acquired . Even in such a case, it is possible to adjust the inspection light in consideration of the temperature characteristics for each light amount setting value of the light source, and thus it is possible to measure an accurate glossiness considering temperature compensation. Further, temperature compensation can be suitably performed in a gloss meter that can switch between a plurality of glossiness measurement ranges having different light quantity setting values.
このように構成した本発明によれば、光沢計において、光源から出る検査光の光量を変化させた際に、当該光量毎の光源の温度特性を考慮して光沢度を算出することができる。 According to the present invention configured as described above, in the gloss meter, when the light amount of the inspection light emitted from the light source is changed, the glossiness can be calculated in consideration of the temperature characteristics of the light source for each light amount.
以下に本発明に係る光沢計１００について、図面を参照して説明する。なお、図１は本実施形態に係る光沢計１００を示す模式的斜視図、図２は検出部の光学的構成を示す模式図、図３はケーシング２３に保護カバー部２４を装着した状態を示す模式図、図４は本体部３の機能構成を示す模式図、図５は本体部３の液晶表示部３１及び操作部３２を示す平面図である。 The gloss meter 100 according to the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 is a schematic perspective view showing a gloss meter 100 according to the present embodiment, FIG. 2 is a schematic view showing an optical configuration of a detection unit, and FIG. 3 shows a state in which a protective cover portion 24 is attached to the casing 23. FIG. 4 is a schematic diagram showing the functional configuration of the main body 3, and FIG. 5 is a plan view showing the liquid crystal display unit 31 and the operation unit 32 of the main body 3.
＜１．装置構成＞
本実施形態の光沢計１００は、低光沢度測定レンジ（光沢度０−２００）及び高光沢度測定レンジ（光沢度０−１０００）というように測定レンジを切り替えて、光沢度を測定可能なものであり、図１及び図２に示すように、床等の試料の物体表面（以下、被測定面Ｗという。）に検査光Ｌ１を照射して反射光Ｌ２を受光する分析部２と、当該分析部２から検出信号を受け付けて、光沢度を算出して表示する本体部３と、を具備する。分析部２及び本体部３は、例えばカールケーブル等の信号ケーブルＣにより接続されている。
<1. Device configuration>
The gloss meter 100 of the present embodiment can measure the glossiness by switching the measurement range such as a low glossiness measurement range (glossiness 0-200) and a high glossiness measurement range (glossiness 0-1000). As shown in FIGS. 1 and 2, the analysis unit 2 that receives the reflected light L2 by irradiating the inspection light L1 onto the object surface of the sample such as a floor (hereinafter, referred to as a surface to be measured W), and And a main body unit 3 that receives a detection signal from the analysis unit 2 and calculates and displays the gloss level. The analysis unit 2 and the main body unit 3 are connected by a signal cable C such as a curl cable.
以下、分析部２及び本体部３について説明する。 Hereinafter, the analysis unit 2 and the main body unit 3 will be described.
分析部２は、図２に示すように、被測定面Ｗに対して所定入射角度αで検査光Ｌ１を照射する光照射部２１と、被測定面Ｗから所定入射角度αと同じ反射角度βで反射される反射光Ｌ２を受光する光検出部２２と、光照射部２１及び光検出部２２を収容する、例えば合成樹脂からなる概略直方体形状のケーシング２３と、保護カバー部２４を備えている。 As shown in FIG. 2, the analysis unit 2 includes a light irradiation unit 21 that irradiates the inspection light L1 at a predetermined incident angle α with respect to the measurement surface W, and a reflection angle β that is the same as the predetermined incident angle α from the measurement surface W A light detection unit 22 that receives the reflected light L2 reflected from the light, a light irradiating unit 21 and a light detection unit 22, and a substantially rectangular parallelepiped casing 23 made of synthetic resin, for example, and a protective cover unit 24. .
光照射部２１は、ピーク波長が例えば０．８９μｍの近赤外光を発する近赤外発光ダイオード等の光源２１１と、当該光源２１１の光射出側前方に設けられた入射側スリット２１２を通った近赤外光を平行光（検査光Ｌ１）にする平行レンズ２１３と、を備える。なお、ケーシング２３内において光源２１１の近傍には、当該光源２１１の温度を検出するための例えばサーミスタ等の温度検出部２６が設けられている。 The light irradiation unit 21 passes through a light source 211 such as a near infrared light emitting diode that emits near infrared light having a peak wavelength of, for example, 0.89 μm, and an incident side slit 212 provided in front of the light emission side of the light source 211. A parallel lens 213 for converting the near-infrared light into parallel light (inspection light L1). A temperature detector 26 such as a thermistor for detecting the temperature of the light source 211 is provided in the casing 23 in the vicinity of the light source 211.
光検出部２２は、被測定面Ｗからの反射光Ｌ２を集光する集光レンズ２２１と、集光レンズ２２１の焦点近傍に設けられた反射側スリット２２２を通った反射光Ｌ２を受光するフォトダイオード等の光検出器２２３と、を備える。 The light detection unit 22 receives the reflected light L2 that passes through the condensing lens 221 that condenses the reflected light L2 from the measurement surface W and the reflection side slit 222 provided in the vicinity of the focal point of the condensing lens 221. And a photodetector 223 such as a diode.
ケーシング２３は、平坦な一端面（下面）に被測定面Ｗを覆う凹部２３Ａが設けられ、当該凹部２３Ａの対向する側壁の一方に光照射部２１の平行レンズ２１３が設けられ、他方に光検出部２２の集光レンズ２２１が設けられている。また、ケーシング２３には、光照射部２１及び光検出部２２が、光源２１１から出る検査光Ｌ１の光軸及び被測定面Ｗに対する垂直な方向のなす角度αと、光検出器２２３により検出される反射光Ｌ２の光軸及び被測定面Ｗに対する垂直な方向のなす角度βとが等しくなるように固定されている。本実施形態では、角度α及び角度βが６０°である。このような構成において、被測定面Ｗにおける測定部面積は、短径３ｍｍ×長径６ｍｍの楕円形状をなす。また、ケーシング２３の上面には、センター位置マーク２３Ｘが付されており、検査光Ｌ１が照射される測定部がユーザに分かるようにしている。 The casing 23 is provided with a concave portion 23A that covers the surface to be measured W on a flat one end surface (lower surface), the parallel lens 213 of the light irradiation unit 21 is provided on one of the opposite side walls of the concave portion 23A, and the other side detects light. A condensing lens 221 of the unit 22 is provided. In the casing 23, the light irradiation unit 21 and the light detection unit 22 are detected by the light detector 223 and the angle α formed by the direction perpendicular to the optical axis of the inspection light L 1 emitted from the light source 211 and the surface W to be measured. The angle β between the optical axis of the reflected light L2 and the direction perpendicular to the surface to be measured W is fixed to be equal. In the present embodiment, the angle α and the angle β are 60 °. In such a configuration, the area of the measurement part on the surface W to be measured has an elliptical shape with a minor axis of 3 mm and a major axis of 6 mm. In addition, a center position mark 23X is attached to the upper surface of the casing 23 so that the user can know the measurement unit irradiated with the inspection light L1.
保護カバー部２４は、前記ケーシング２３に装着されるものであり、装着時において、凹部２３Ａ開口を覆い、平行レンズ２１３及び集光レンズ２２１等の光学系が塵埃により汚れてしまうことを防止すると共に、他の部材により接触して傷つくことを防止するものである。 The protective cover portion 24 is attached to the casing 23, covers the opening of the recess 23A, and prevents the optical system such as the parallel lens 213 and the condenser lens 221 from being contaminated by dust. This prevents contact with other members and damage.
具体的に保護カバー部２４は、図１に示すように、例えば一端が開口した箱形状をなすものであり、対向する側壁には、ケーシング２３の側壁に設けられた溝状の係止凹部２３１に係合する係止凸部２４１が形成されている。係止凹部２３１及び係止凸部２４１は、逆に設けられても良い。また、保護カバー部２４の内部には、図３に示すように、平面視概略矩形状の低光沢用校正基準板（不図示）又は高光沢用校正基準板２５が設けられている。そして、保護カバー部２４をケーシング２３に装着した状態において、校正基準板が凹部２３Ａ開口を覆うように構成されている。 Specifically, as shown in FIG. 1, the protective cover portion 24 has a box shape with one end opened, for example, and a groove-like locking recess 231 provided on the side wall of the casing 23 is provided on the opposite side wall. A locking convex portion 241 that engages with is formed. The locking recess 231 and the locking projection 241 may be provided in reverse. Further, as shown in FIG. 3, a low-gloss calibration reference plate (not shown) or a high-gloss calibration reference plate 25 having a substantially rectangular shape in plan view is provided inside the protective cover portion 24. And in the state which mounted | wore the casing 23 with the protective cover part 24, it is comprised so that a calibration reference board may cover the recessed part 23A opening.
低光沢用校正基準板は、光沢度が９０程度のホウケイ酸ガラス（ＢＫ７など）により構成されており、その裏面及び側面には不要な光による影響を取り除くために、反射防止処理が施されている。 The low-gloss calibration reference plate is made of borosilicate glass (such as BK7) with a glossiness of about 90, and its back and side surfaces are anti-reflective treated to remove the effects of unnecessary light. Yes.
高光沢用校正基準板２５は、光沢度が９９０程度のものであり、基板及び当該基板上に成膜された誘電体多層膜により構成されている。誘電体多層膜は、異なる２種類の誘電体層、具体的には低屈折率膜と高屈折率膜とを交互に積層して形成されており、検査光Ｌ１のほぼ全てを光検出部２２に向かって反射し、その反射率は９９％以上である。また、誘電体多層膜の膜厚は２μｍ程度であり、各誘電体層で反射した光が互いに強めあうようにしている。 The high-gloss calibration reference plate 25 has a glossiness of about 990, and is composed of a substrate and a dielectric multilayer film formed on the substrate. The dielectric multilayer film is formed by alternately stacking two different types of dielectric layers, specifically, a low refractive index film and a high refractive index film, and almost all of the inspection light L1 is detected by the light detection unit 22. The reflectance is 99% or more. The film thickness of the dielectric multilayer film is about 2 μm so that the light reflected by each dielectric layer is intensified.
低屈折率膜としては例えば酸化ケイ素（ＳｉＯ２）、高屈折率膜としては例えば酸化タンタル（Ｔａ２Ｏ５）を用いることができる。なお、誘電体多層膜としては、Ａｌ２Ｏ３、ＣｅＯ２、ＦｅＯ２、ＨｆＯ２、Ｉｎ２Ｏ３、Ｎｂ２Ｏ３、ＳｎＯ２、Ｔａ２Ｏ３、ＴｉＯ２、Ｙ２Ｏ３、ＺｎＯ、ＺｒＯ２、ＮｉＯ、ＩＴＯ、Ｓｂ２Ｏ３、ＭｇＯなどを用いることもできる。 For example, silicon oxide (SiO 2 ) can be used as the low refractive index film, and tantalum oxide (Ta 2 O 5 ) can be used as the high refractive index film. As the dielectric multilayer film, Al 2 O 3, CeO 2 , FeO 2, HfO 2, In 2 O 3, Nb 2 O 3, SnO 2, Ta 2 O 3, TiO 2, Y 2 O 3, ZnO ZrO 2 , NiO, ITO, Sb 2 O 3 , MgO, or the like can also be used.
本体部３は、図４に示すように、測定結果である光沢度、校正値又は測定レンジ等を表示する液晶表示部３１及び光沢計１００の各種操作を行うためのボタン群からなる操作部３２が設けられたケーシング３３と、当該ケーシング３３内部に設けられたＣＰＵ、メモリ、入出力インターフェイス、ＡＤ変換器等を備えたコンピュータ（不図示）とからなる。そして、前記メモリの所定領域に記憶させた所定プログラムにしたがってＣＰＵ、周辺機器等を協働させることにより、図５に示すように、光源制御部３０１、温度特性データ格納部Ｄ１、光沢度算出部３０２、校正値変更部３０３、表示制御部３０４等としての機能を発揮する。 As shown in FIG. 4, the main unit 3 includes a liquid crystal display unit 31 that displays glossiness, a calibration value, or a measurement range that is a measurement result, and an operation unit 32 that includes buttons for performing various operations on the gloss meter 100. And a computer (not shown) provided with a CPU, a memory, an input / output interface, an AD converter, and the like provided in the casing 33. Then, by cooperating the CPU, peripheral devices and the like according to a predetermined program stored in the predetermined area of the memory, as shown in FIG. 5, a light source control unit 301, a temperature characteristic data storage unit D1, a glossiness calculation unit 302, the calibration value changing unit 303, the display control unit 304, and the like.
本実施形態の操作部３２は、図４に示すように、６個のボタン、つまり、ＯＮボタン（ＯＮ）３２ａ、ＯＦＦボタン（ＯＦＦ）３２ｂ、校正ボタン（ＣＡＬ ▽）３２ｃ、ホールドボタン（ＨＯＬＤ △）３２ｄ、校正値表示ボタン（ＳＴＤ）３２ｅ、レンジ切替ボタン（ＲＡＮＧＥ（１００／１０００））３２ｆを備えている。 As shown in FIG. 4, the operation unit 32 according to the present embodiment includes six buttons, that is, an ON button (ON) 32a, an OFF button (OFF) 32b, a calibration button (CAL ▽) 32c, and a hold button (HOLD Δ). ) 32d, a calibration value display button (STD) 32e, and a range switching button (RANGE (100/1000)) 32f.
ＯＮボタン３２ａは、光沢計１００の電源を入れるためのボタンである。また、ＯＮボタン３２ａは、校正基準板による校正値設定モードの際には、その時に液晶表示部３１に表示されている値を校正値（基準値）として記憶するためのボタンとして機能する。また、ＯＦＦボタン３２ｂは、光沢計１００の電源を切るためのボタンである。校正ボタン３２ｃは、校正を行うためのボタンであり、所定時間（例えば２秒）長押しすることによって校正を開始し、校正が終了すると測定モードになる。なお、校正は各レンジで別々に行い、校正値は校正が完了した時点で書き換えられる。また、校正ボタン３２ｃは、校正値設定モードの際には、校正値を減少させる数値減少ボタンとして機能する。ホールドボタン３２ｄは、測定値（光沢度）を一時的に固定するためのボタンである。また、ホールドボタン３２ｄは、校正値設定モードでは、校正値を増加させる数値増加ボタンとして機能する。校正値表示ボタン３２ｅは、光沢度測定値表示／校正値表示を切り替えるためのボタンである。また、レンジボタンは、低光沢度測定レンジと、高光沢度測定レンジを切り替えるためのボタンである。 The ON button 32a is a button for turning on the gloss meter 100. The ON button 32a functions as a button for storing the value displayed on the liquid crystal display unit 31 at that time as a calibration value (reference value) in the calibration value setting mode using the calibration reference plate. The OFF button 32b is a button for turning off the gloss meter 100. The calibration button 32c is a button for performing calibration. The calibration is started by pressing and holding for a predetermined time (for example, 2 seconds). When the calibration is completed, the measurement mode is set. Calibration is performed separately for each range, and the calibration value is rewritten when calibration is completed. The calibration button 32c functions as a numerical value decrease button for decreasing the calibration value in the calibration value setting mode. The hold button 32d is a button for temporarily fixing the measurement value (glossiness). The hold button 32d functions as a numerical value increase button for increasing the calibration value in the calibration value setting mode. The calibration value display button 32e is a button for switching between glossiness measurement value display / calibration value display. The range button is a button for switching between the low gloss measurement range and the high gloss measurement range.
光源制御部３０１は、光源２１１を間欠発光させるものであり、例えばデューティー比１／２０（発光周期１ｍｓｅｃ、発光時間５０μｓｅｃ）で発光させるものである。また、光源制御部３０１は、検査光Ｌ１の光量設定値を示す光量設定信号を取得して、検査光Ｌ１を光量設定値とするための駆動信号を光源２１１に出力する。光量設定値は、検査光Ｌ１の少なくとも２種類以上の光量に設定するものであり、本実施形態では、低光沢度測定レンジにおける検査光の光量と、高光沢度測定レンジにおける検査光の光量を設定するものである。光量設定信号は、レンジ切替ボタン３２ｆが押された時に光源制御部３０１に入力される信号であり、低光沢度測定レンジにおける検査光の光量設定値（例えば１０）又は高光沢度測定レンジにおける検査光の光量設定値（例えば１）を切り替えるためのものである。そして、光源制御部３０１は、測定レンジによって、光源２１１から発せられる検査光Ｌ１の光量を調整するものであり、具体的には、レンジ切替ボタン３２ｆが押され、低光沢度測定レンジから高光沢度測定レンジに切り替えられた場合に、光源２１１から射出される検査光Ｌ１の光量を減少させるものである。より詳細には、低光沢度測定レンジの場合の検査光Ｌ１の光量を１０とした場合に、高光沢度測定レンジの場合の光量を１とするものである。具体的な調光方式としては、光源２１１に流す電流の大きさを調整することにより検査光Ｌ１の光量を調整することにより、検査光Ｌ１の光量を１／１０に減少させる。つまり、光源制御部３０１は、検査光Ｌ１の光量が１／１０とするための駆動信号を光源２１１に出力する。その他、パルス幅変調方式（ＰＷＭ方式）であり、デューティー比を小さくすることにより、検査光Ｌ１の光量を調整することもできる。 The light source control unit 301 causes the light source 211 to emit light intermittently. For example, the light source control unit 301 emits light at a duty ratio of 1/20 (light emission period 1 msec, light emission time 50 μsec). Further, the light source control unit 301 acquires a light amount setting signal indicating the light amount setting value of the inspection light L1, and outputs a drive signal for setting the inspection light L1 to the light amount setting value to the light source 211. The light amount setting value is set to at least two kinds of light amounts of the inspection light L1, and in this embodiment, the light amount of the inspection light in the low gloss measurement range and the light amount of the inspection light in the high gloss measurement range are set. It is to set. The light amount setting signal is a signal input to the light source control unit 301 when the range switching button 32f is pressed, and the light amount setting value (for example, 10) of inspection light in the low gloss measurement range or the inspection in the high gloss measurement range. This is for switching the light quantity setting value (for example, 1). The light source control unit 301 adjusts the amount of the inspection light L1 emitted from the light source 211 according to the measurement range. Specifically, the range switching button 32f is pressed, and the high glossiness is changed from the low gloss measurement range. When the degree measurement range is switched, the light amount of the inspection light L1 emitted from the light source 211 is reduced. More specifically, when the light amount of the inspection light L1 in the low gloss measurement range is 10, the light amount in the high gloss measurement range is 1. As a specific dimming method, the amount of the inspection light L1 is adjusted to 1/10 by adjusting the amount of the inspection light L1 by adjusting the magnitude of the current passed through the light source 211. That is, the light source control unit 301 outputs a drive signal for reducing the light amount of the inspection light L1 to 1/10 to the light source 211. In addition, it is a pulse width modulation method (PWM method), and the light amount of the inspection light L1 can be adjusted by reducing the duty ratio.
温度特性データ格納部Ｄ１は、各光量設定値における光源２１１の温度特性を示す温度特性データ及び光検出器２２３の温度特性を示す温度特性データを格納するものである。本実施形態では、低光沢度測定レンジにおける低光沢度用光量設定値（例えば１０）に対応する光源２１１の温度特性データ及び光検出器２２３の温度特性データと、高光沢度測定レンジにおける高光沢度用光量設定値（例えば１）に対応する光源２１１の温度特性データ（温度−光出力特性）及び光検出器２２３の温度特性データ（温度−光感度特性）と、を格納している。 The temperature characteristic data storage unit D1 stores temperature characteristic data indicating the temperature characteristics of the light source 211 and temperature characteristic data indicating the temperature characteristics of the photodetector 223 at each light quantity setting value. In the present embodiment, the temperature characteristic data of the light source 211 and the temperature characteristic data of the photodetector 223 corresponding to the low glossiness light amount setting value (for example, 10) in the low glossiness measurement range, and the high glossiness in the high glossiness measurement range. The temperature characteristic data (temperature-light output characteristic) of the light source 211 and the temperature characteristic data (temperature-light sensitivity characteristic) of the light detector 223 corresponding to the light amount setting value (for example, 1) are stored.
低光沢度用光量設定値（例えば１０）に対応する光源２１１の温度特性とは、光源２１１から低光沢度用光量設定値の光量を出力するために当該光源２１１に所定電流を流した場合の、当該電流における光源２１１の温度特性である。一方、高光沢度用光量設定値（例えば１）に対応する光源２１１の温度特性とは、光源２１１からの高光沢度用光量設定値の光量を出力するために当該光源２１１に所定電流を流した場合の、当該電流における光源２１１の温度特性である。 The temperature characteristic of the light source 211 corresponding to the low-gloss light amount setting value (for example, 10) is that when a predetermined current is passed through the light source 211 in order to output the light amount of the low-gloss light amount setting value. The temperature characteristics of the light source 211 at the current. On the other hand, the temperature characteristic of the light source 211 corresponding to the high glossiness light amount setting value (for example, 1) means that a predetermined current is supplied to the light source 211 in order to output the light amount of the high glossiness light amount setting value from the light source 211. It is the temperature characteristic of the light source 211 in the said electric current in the case of doing.
本実施形態の温度特性データ格納部Ｄ１は、低光沢度用光量設定値に対応する光源２１１の温度特性及び光検出器２２３の温度特性を合わせた温度特性データと、高光沢度用光量設定値に対応する光源２１１の温度特性及び光検出器２２３の温度特性を合わせた温度特性データと、を格納している。これらの温度特性データは、低光沢校正基準板又は高光沢校正基準板を用いた光沢度の測定において、分析部２の環境温度を変化させた場合に光検出器２２３から得られる反射光Ｌ２の光量データと、当該温度とにより作成されて、温度特性データ格納部Ｄ１に格納される。 The temperature characteristic data storage unit D1 of the present embodiment includes temperature characteristic data combining the temperature characteristic of the light source 211 and the temperature characteristic of the photodetector 223 corresponding to the low glossiness light quantity setting value, and the high glossiness light quantity setting value. And temperature characteristic data obtained by combining the temperature characteristic of the light source 211 and the temperature characteristic of the light detector 223 are stored. These temperature characteristic data are obtained from the reflected light L2 obtained from the light detector 223 when the environmental temperature of the analysis unit 2 is changed in the gloss measurement using the low gloss calibration reference plate or the high gloss calibration reference plate. It is created from the light amount data and the temperature, and is stored in the temperature characteristic data storage unit D1.
光沢度算出部３０２は、光検出器２２３から得られた光強度信号（光量データ）を取得して、被測定面Ｗの光沢度を算出するものであり、その算出結果を示す光沢度データを表示制御部３０４に出力する。なお、光沢度算出部３０２に入力される信号は、予め増幅器によって増幅されている。 The gloss level calculation unit 302 acquires the light intensity signal (light amount data) obtained from the light detector 223 and calculates the gloss level of the measurement target surface W. The gloss level data indicating the calculation result is obtained. The data is output to the display control unit 304. Note that the signal input to the glossiness calculation unit 302 is amplified in advance by an amplifier.
本実施形態の光沢度算出部３０２は、光沢度を温度補償する機能を有しており、具体的には、光量設定値に対応する光源２１１及び光検出器２２３の温度特性データ、温度検出部２６により得られた温度信号、及び光検出器２２３により得られた反射光Ｌ２の光量データに基づいて、被測定面Ｗの光沢度を算出する。 The glossiness calculation unit 302 of the present embodiment has a function of compensating the temperature of glossiness. Specifically, the temperature characteristic data of the light source 211 and the photodetector 223 corresponding to the light amount setting value, the temperature detection unit The glossiness of the surface W to be measured is calculated on the basis of the temperature signal obtained by 26 and the light quantity data of the reflected light L2 obtained by the photodetector 223.
詳細に光沢度算出部３０２は、低光沢度測定レンジ（光沢度０−２００）における光沢度算出においては、低光沢用校正基準板の光沢度Ｇｒ、低光沢用校正基準板を用いた場合の光検出器２２３により得られた光量Ｖｒ、試料を測定した場合の光検出器２２３により得られた光量Ｖｘ、校正時における温度補正係数ｍｒ、及び試料測定時における温度補正係数ｍｘを用いて、光沢度Ｇｘ＝Ｇｒ×｛（ｍｘ・Ｖｘ）／（ｍｒ・Ｖｒ）｝により算出する。ここで、温度補正係数ｍｒは、低光沢度用光量設定値における光源２１１の温度特性、光検出器２２３の温度特性及び校正時において温度検出部２６により得られた温度信号により定まる係数である。また、温度補正係数ｍｘは、低光沢度用光量設定における光源２１１の温度特性、光検出器２２３の温度特性及び試料測定時において温度検出部２６により得られた温度信号により定まる係数である。なお、上記式により得られた光沢度Ｇｘは、その他の光沢計との整合性を担保するための補正係数又はリニアライズ補正を行うための補正係数等種々の補正係数を用いてさらに補正することができる。 Specifically, the glossiness calculation unit 302 uses the glossiness Gr of the low gloss calibration reference plate and the low gloss calibration reference plate in the glossiness calculation in the low glossiness measurement range (glossiness 0-200). Using the light amount Vr obtained by the light detector 223, the light amount Vx obtained by the light detector 223 when the sample is measured, the temperature correction coefficient mr at the time of calibration, and the temperature correction coefficient mx at the time of sample measurement, the gloss is obtained. Degree Gx = Gr × {(mx · Vx) / (mr · Vr)}. Here, the temperature correction coefficient mr is a coefficient determined by the temperature characteristics of the light source 211, the temperature characteristics of the photodetector 223, and the temperature signal obtained by the temperature detector 26 at the time of calibration at the low glossiness light amount setting value. Further, the temperature correction coefficient mx is a coefficient determined by the temperature characteristics of the light source 211 in the setting of the light amount for low glossiness, the temperature characteristics of the photodetector 223, and the temperature signal obtained by the temperature detection unit 26 during sample measurement. The glossiness Gx obtained by the above equation is further corrected using various correction coefficients such as a correction coefficient for ensuring consistency with other gloss meters or a correction coefficient for performing linearization correction. Can do.
また、光沢度算出部３０２は、高光沢度測定レンジ（光沢度０−１０００）における光沢度算出においては、高光沢用校正基準板の光沢度Ｈｒ、高光沢用校正基準板を用いた場合の光検出器２２３により得られた光量Ｗｒ、試料を測定した場合の光検出器２２３により得られた光量Ｗｘ、校正時における温度補正係数ｎｒ、及び試料測定時における温度補正係数ｎｘを用いて、光沢度Ｈｘ＝Ｈｒ×｛（ｎｘ・Ｗｘ）／（ｎｒ・Ｗｒ）｝により算出する。ここで、温度補正係数ｎｒは、高光沢度用光量設定値における光源２１１の温度特性、光検出器２２３の温度特性及び校正時において温度検出部２６により得られた温度信号により定まる係数である。また、温度補正係数ｎｘは、高光沢度用光量設定における光源２１１の温度特性、光検出器２２３の温度特性及び試料測定時において温度検出部２６により得られた温度信号により定まる係数である。なお、上記式により得られた光沢度Ｈｘは、その他の光沢計との整合性を担保するための補正係数又はリニアライズ補正を行うための補正係数等種々の補正係数を用いてさらに補正することができる。 Further, the glossiness calculation unit 302 calculates the glossiness in the high glossiness measurement range (glossiness 0 to 1000) when the glossiness Hr of the high gloss calibration reference plate and the high gloss calibration reference plate are used. Using the light amount Wr obtained by the light detector 223, the light amount Wx obtained by the light detector 223 when the sample is measured, the temperature correction coefficient nr at the time of calibration, and the temperature correction coefficient nx at the time of sample measurement, the gloss is obtained. Degree Hx = Hr × {(nx · Wx) / (nr · Wr)}. Here, the temperature correction coefficient nr is a coefficient determined by the temperature characteristic of the light source 211 at the high glossiness light amount setting value, the temperature characteristic of the photodetector 223, and the temperature signal obtained by the temperature detection unit 26 at the time of calibration. The temperature correction coefficient nx is a coefficient determined by the temperature characteristic of the light source 211 in the setting of the light amount for high glossiness, the temperature characteristic of the photodetector 223, and the temperature signal obtained by the temperature detection unit 26 during sample measurement. The glossiness Hx obtained by the above formula is further corrected using various correction coefficients such as a correction coefficient for ensuring consistency with other gloss meters or a correction coefficient for performing linearization correction. Can do.
さらに、光沢度算出部３０２は、校正時において、光沢度算出部３０２は、後述する校正値変更部３０３から設定された校正値データを取得して、光源２１１の光量と光検出器２２３により検出された光量により得られる光沢度が設定された校正値となるように演算する。 Further, the gloss level calculation unit 302 obtains calibration value data set from a calibration value change unit 303 described later, and is detected by the light amount of the light source 211 and the photodetector 223 during calibration. Calculation is performed so that the glossiness obtained by the light quantity obtained becomes a set calibration value.
校正値変更部３０３は、低光沢用校正基準板又は高光沢用校正基準板２５を用いて校正する際の校正値を変更するものである。具体的には、校正値設定モードにおいて、校正ボタン３２ｃが押されると、その校正値変更信号を受け付けて校正値を減少させ、ホールドボタン３２ｄが押されると、その信号を受け付けて校正値を増加させる。 The calibration value changing unit 303 changes the calibration value when calibrating using the low gloss calibration reference plate or the high gloss calibration reference plate 25. Specifically, in the calibration value setting mode, when the calibration button 32c is pressed, the calibration value change signal is received and the calibration value is decreased, and when the hold button 32d is pressed, the signal is received and the calibration value is increased. Let
表示制御部３０４は、レンジ切替ボタン３２ｆにより選択された測定レンジを液晶表示部３１に表示させると共に、光沢度算出部３０２により得られた光沢度を表示させるものである。具体的には、表示制御部３０４は、低光沢度測定レンジの場合、０．０〜１９９．９（分解能０．１）を液晶表示部３１に表示し、高光沢度測定レンジの場合、０〜１０００（分解能１）を液晶表示部３１に表示する。このとき、表示制御部３０４は、光沢度算出部３０２により得られた光沢度が各測定レンジの範囲外の場合には、「ＯＶＥＲ」を点滅表示させた後、各レンジの最高値（１９９．９又は１０００）を点滅表示する。 The display control unit 304 displays the measurement range selected by the range switching button 32f on the liquid crystal display unit 31 and the glossiness obtained by the glossiness calculation unit 302. Specifically, the display control unit 304 displays 0.0 to 199.9 (resolution 0.1) on the liquid crystal display unit 31 in the low gloss measurement range, and 0 in the high gloss measurement range. ˜1000 (resolution 1) is displayed on the liquid crystal display unit 31. At this time, if the glossiness obtained by the glossiness calculation unit 302 is outside the range of each measurement range, the display control unit 304 blinks “OVER” and then displays the maximum value (199.199) of each range. 9 or 1000) blinks.
また、表示制御部３０４は、低光沢度測定レンジの場合には、液晶表示部３１近傍に印字された「１００」Ｐ１の横に矢印を表示し、高光沢度測定レンジの場合には、液晶表示部３１近傍に印字された「１０００」Ｐ２の横に矢印を表示する。 The display control unit 304 displays an arrow next to “100” P1 printed in the vicinity of the liquid crystal display unit 31 in the case of the low gloss measurement range, and the liquid crystal display in the case of the high gloss measurement range. An arrow is displayed next to “1000” P2 printed in the vicinity of the display unit 31.
さらに、表示制御部３０４は、ホールドボタン３２ｄが押された場合には、液晶表示部３１に表示されている光沢度を一時的に固定し、「ＨＯＬＤ」Ｐ３の横に表示している矢印を点滅表示する。 Further, when the hold button 32d is pressed, the display control unit 304 temporarily fixes the gloss level displayed on the liquid crystal display unit 31 and displays an arrow displayed beside “HOLD” P3. Display blinking.
校正値表示ボタン３２ｅが所定時間（例えば２秒）以上押された場合の校正値設定モードにおいて、表示制御部３０４は、「ＳＴＤ」Ｐ４の横に表示されている矢印を点滅表示する。また、校正値設定モードにおいて、校正値変更部３０３から校正値変更データを受け付けて、液晶表示部３１に表示されている校正値を変更して表示する。さらに、表示制御部３０４は、校正時において、感度が基準以下又は基準以上の場合には、「Ｅｒｒ」を表示する。また、校正値が設定されていないときは、校正値が設定されるまで「−−−」を表示する。 In the calibration value setting mode when the calibration value display button 32e is pressed for a predetermined time (for example, 2 seconds) or longer, the display control unit 304 blinks and displays the arrow displayed next to “STD” P4. In the calibration value setting mode, the calibration value change data is received from the calibration value changing unit 303, and the calibration value displayed on the liquid crystal display unit 31 is changed and displayed. Further, the display control unit 304 displays “Err” when the sensitivity is below the reference or above the reference at the time of calibration. If the calibration value is not set, “---” is displayed until the calibration value is set.
＜２．校正方法＞
次に、上記各部の機能とともに、低光沢度測定レンジの校正方法及び高光沢度測定レンジの校正方法について図６を参照して詳述する。
<2. Calibration method>
Next, a low gloss measurement range calibration method and a high gloss measurement range calibration method will be described in detail with reference to FIG.
＜２−１．低光沢度測定レンジの校正方法＞
ＯＮボタン３２ａを押して光沢計１００の電源を入れた後、レンジ変更ボタンを押して、測定レンジを低光沢度測定レンジに設定する（ステップＳ１）。具体的には、液晶表示部３１において右側に表示されている矢印が「１００」Ｐ１となるようにする。そして、光沢度が９０程度の低光沢用校正基準板が内蔵された保護カバー部２４を準備し、低光沢用校正基準板の光沢度を確認する（ステップＳ２）。
<2-1. Low gloss measurement range calibration method>
After the gloss meter 100 is turned on by pressing the ON button 32a, the range change button is pressed to set the measurement range to the low gloss measurement range (step S1). Specifically, the arrow displayed on the right side of the liquid crystal display unit 31 is set to “100” P1. Then, a protective cover 24 having a low gloss calibration reference plate with a glossiness of about 90 is prepared, and the glossiness of the low gloss calibration reference plate is confirmed (step S2).
その後、校正値表示ボタン３２ｅを押す。そうすると、表示制御部３０４が、低光沢度測定レンジの校正値を液晶表示部３１に表示する（ステップＳ３）。そして、校正ボタン３２ｃ又はホールドボタン３２ｄを押して、液晶表示部３１に表示されている校正値を低光沢用校正基準板の光沢度（例えば９０）に合わせる（ステップＳ４）。このとき、校正値の設定は、０．１ステップ毎に変更可能である。 Thereafter, the calibration value display button 32e is pressed. Then, the display control unit 304 displays the calibration value of the low gloss measurement range on the liquid crystal display unit 31 (step S3). Then, the calibration button 32c or the hold button 32d is pressed to adjust the calibration value displayed on the liquid crystal display unit 31 to the gloss level (for example, 90) of the low-gloss calibration reference plate (step S4). At this time, the setting of the calibration value can be changed every 0.1 step.
次に、保護カバー部２４をケーシング２３に装着して、ケーシング２３のセンター位置マーク２３Ｘを軽く押さえて、校正基準板とケーシング２３の凹部２３Ａ開口とを密着させて、校正ボタン３２ｃを２秒以上押す。そうすると、表示制御部３０４が液晶表示部３１にＣＡＬ表示を点滅表示して、校正が開始される（ステップＳ５）。このとき、光沢度算出部３０２は、光源２１１の光量と光検出器２２３により検出された光量により得られる光沢度が設定された校正値（例えば９０）となるように演算する。これによって、低光沢度測定レンジの校正が終了する。 Next, the protective cover 24 is attached to the casing 23, the center position mark 23X of the casing 23 is lightly pressed, the calibration reference plate and the recess 23A opening of the casing 23 are brought into close contact, and the calibration button 32c is pressed for 2 seconds or more. Push. Then, the display control unit 304 blinks and displays the CAL display on the liquid crystal display unit 31, and calibration is started (step S5). At this time, the glossiness calculation unit 302 calculates the glossiness obtained from the light amount of the light source 211 and the light amount detected by the photodetector 223 to be a set calibration value (for example, 90). This completes the calibration of the low gloss measurement range.
＜２−２．高光沢度測定レンジの校正方法＞
前記低光沢度測定レンジの校正が終了した後、レンジ変更ボタンを押して、測定レンジを高光沢測定レンジに変更する（ステップＳ６）。具体的には、液晶表示部３１において右側に表示されている矢印が「１０００」Ｐ２となるようにする。このとき、光源制御部３０１は、光源２１１に出力する駆動信号（ＰＷＭ信号）を変更して、光源２１１から発せられる検査光Ｌ１の光量を減少させる。そして、光沢度が９９０程度の高光沢用校正基準板２５が内蔵された保護カバー部２４を準備する。このとき、高光沢用校正基準板２５の光沢度を確認する（ステップＳ７）。
<2-2. Calibration method for high gloss measurement range>
After the calibration of the low gloss measurement range is completed, the range change button is pressed to change the measurement range to the high gloss measurement range (step S6). Specifically, the arrow displayed on the right side of the liquid crystal display unit 31 is set to “1000” P2. At this time, the light source control unit 301 changes the drive signal (PWM signal) output to the light source 211 to decrease the amount of the inspection light L1 emitted from the light source 211. Then, a protective cover part 24 in which a high gloss calibration reference plate 25 having a glossiness of about 990 is prepared. At this time, the glossiness of the high gloss calibration reference plate 25 is confirmed (step S7).
その後、校正値表示ボタン３２ｅを押す。そうすると、表示制御部３０４が、高光沢度測定レンジの校正値を液晶表示部３１に表示する（ステップＳ８）。そして、校正ボタン３２ｃ又はホールドボタン３２ｄを押して、液晶表示部３１に表示されている校正値を高光沢用校正基準板２５の光沢度（例えば９９０）に合わせる（ステップＳ９）。このとき、校正値の設定は、１ステップ毎に変更可能である。 Thereafter, the calibration value display button 32e is pressed. Then, the display control unit 304 displays the calibration value of the high glossiness measurement range on the liquid crystal display unit 31 (step S8). Then, the calibration button 32c or the hold button 32d is pressed to match the calibration value displayed on the liquid crystal display unit 31 with the glossiness (for example, 990) of the high gloss calibration reference plate 25 (step S9). At this time, the setting of the calibration value can be changed for each step.
次に、保護カバー部２４をケーシング２３に装着して、ケーシング２３のセンター位置マーク２３Ｘを軽く押さえて、校正基準板とケーシング２３の凹部２３Ａ開口とを密着させて、校正ボタン３２ｃを２秒以上押す。そうすると、表示制御部３０４が液晶表示部３１にＣＡＬ表示を点滅表示して、校正が開始される（ステップＳ１０）。このとき、光沢度算出部３０２は、光源２１１の光量と光検出器２２３により検出された光量により得られる光沢度が設定された値（例えば９９０）となるように演算する。これによって、高光沢度測定レンジの校正が終了する。 Next, the protective cover 24 is attached to the casing 23, the center position mark 23X of the casing 23 is lightly pressed, the calibration reference plate and the recess 23A opening of the casing 23 are brought into close contact, and the calibration button 32c is pressed for 2 seconds or more. Push. Then, the display control unit 304 blinks the CAL display on the liquid crystal display unit 31, and calibration is started (step S10). At this time, the gloss level calculation unit 302 calculates the gloss level obtained from the light amount of the light source 211 and the light amount detected by the photodetector 223 to be a set value (for example, 990). This completes the calibration of the high gloss measurement range.
このように高光沢用校正基準板２５を用いているので、例えば反射率９９％以上を実現することができ、高光沢度測定レンジにおける校正を正確に行うことができる。また、誘電体多層膜を有する校正基準板では、誘電体膜を薄くできることから、反射光の出る表面領域を可及的に小さくすることができるので、光検出部をコンパクトにすることができる。さらに、低光沢度測定レンジ（光沢度０−２００）においては低光沢用校正基準板を用いて校正し、高光沢度測定レンジ（光沢度０−１０００）においては高光沢用校正基準板２５を用いて校正しているので、それぞれの測定レンジで測定する場合において、正確な測定結果を得ることができる。 Since the high gloss calibration reference plate 25 is used as described above, for example, a reflectance of 99% or more can be realized, and calibration in the high gloss measurement range can be performed accurately. Further, in the calibration reference plate having the dielectric multilayer film, since the dielectric film can be made thin, the surface area from which the reflected light is emitted can be made as small as possible, so that the light detection unit can be made compact. Further, in the low gloss measurement range (gloss 0-200), calibration is performed using a calibration reference plate for low gloss, and in the high gloss measurement range (gloss 0-1000), the high gloss calibration reference plate 25 is used. Since it is used and calibrated, an accurate measurement result can be obtained when measuring in each measurement range.
このような校正後、被測定面Ｗに分析部２を密着させれば被測定面Ｗの光沢度が表示される。被測定面Ｗを異なる測定レンジで測定したい場合には、レンジ切替ボタン３２ｆを押して切り替える。このとき、光源制御部３０１は、低光沢度測定レンジから高光沢度測定レンジに切り替える場合には、光源２１１の検査光Ｌ１の光量を減少させ、一方、高光沢度測定レンジから低光沢度測定レンジに切り替える場合には、光源２１１の検査光Ｌ１の光量を増大させる。 After such calibration, if the analysis unit 2 is brought into close contact with the measurement surface W, the glossiness of the measurement surface W is displayed. When it is desired to measure the surface to be measured W in a different measurement range, the range switching button 32f is pressed for switching. At this time, when the light source control unit 301 switches from the low gloss measurement range to the high gloss measurement range, the light source control unit 301 reduces the light amount of the inspection light L1 of the light source 211, while the low gloss measurement from the high gloss measurement range. When switching to the range, the light quantity of the inspection light L1 of the light source 211 is increased.
＜３．基準値設定方法＞
次に、前記低光沢用校正基準板、高光沢用校正基準板２５を用いずに、ユーザが保有する標準物を用いて任意の校正値（基準値）を設定する方法について説明する。
<3. Reference value setting method>
Next, a method for setting an arbitrary calibration value (reference value) using a standard material held by the user without using the calibration reference plate for low gloss and the calibration reference plate for high gloss 25 will be described.
このとき基準値の設定方法は、校正値表示ボタン３２ｅを押した後、校正ボタン３２ｃ又はホールドボタン３２ｄを押して、ユーザの保有する標準物の光沢度（例えば５００）を基準光沢度として設定する。 At this time, as a reference value setting method, after the calibration value display button 32e is pressed, the calibration button 32c or the hold button 32d is pressed, and the glossiness (for example, 500) of the standard object held by the user is set as the reference glossiness.
次に、標準物の被測定面Ｗに分析部２を密着させて、校正ボタン３２ｃを２秒以上押す。そうすると、表示制御部３０４が液晶表示部３１にＣＡＬ表示を点滅表示させて、校正が開始される。これによって、標準物の光沢度が基準値として設定される。以後の測定においては、標準物の光沢度（基準値）に対して、被測定面Ｗの光沢度の相対的な大きさが測定される。 Next, the analyzer 2 is brought into close contact with the measurement target surface W of the standard object, and the calibration button 32c is pressed for 2 seconds or more. Then, the display control unit 304 causes the CAL display to blink on the liquid crystal display unit 31, and calibration is started. Thereby, the glossiness of the standard is set as the reference value. In the subsequent measurement, the relative magnitude of the glossiness of the measured surface W is measured with respect to the glossiness (reference value) of the standard.
＜４．本実施形態の効果＞
このように構成した本実施形態に係る光沢計１００によれば、光沢度算出部３０２が各光量設定値に対応する光源２１１の温度特性を考慮して光沢度を算出するので、光量設定値を変化させて光沢度を測定する場合それぞれにおいて、温度補償を考慮した正確な光沢度を測定することができる。
<4. Effects of this embodiment>
According to the gloss meter 100 according to the present embodiment configured as described above, the gloss level calculation unit 302 calculates the gloss level in consideration of the temperature characteristics of the light source 211 corresponding to each light level setting value. When the glossiness is measured while changing, it is possible to measure the exact glossiness considering temperature compensation.
＜５．その他の変形実施形態＞
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
<5. Other Modified Embodiments>
The present invention is not limited to the above embodiment.
例えば、前記実施形態では、光沢度算出部の演算処理により温度補正を行うようにしているが、光源制御部よるフィードバック制御により光源から出る検査光の光量を光量設定値（例えば１０）となるように制御しても良い。この場合、光源制御部は、検査光の光量設定値を示す光量設定信号を取得して、検査光が光量設定値となるように、光量設定値に対応する光源の温度特性及び温度検出部により得られた温度を用いて光源を制御するものである。このようなものでも、光源の光量設定値毎に温度特性を考慮し、検査光を調整して照射することができるので、温度補償を考慮した正確な光沢度を測定することができる。 For example, in the above-described embodiment, the temperature correction is performed by the calculation process of the glossiness calculation unit, but the amount of inspection light emitted from the light source by the feedback control by the light source control unit becomes a light amount setting value (for example, 10). You may control to. In this case, the light source control unit acquires the light amount setting signal indicating the light amount setting value of the inspection light, and the temperature characteristics of the light source corresponding to the light amount setting value and the temperature detection unit so that the inspection light becomes the light amount setting value. The light source is controlled using the obtained temperature. Even in such a case, it is possible to adjust the inspection light in consideration of the temperature characteristics for each light amount setting value of the light source, and thus it is possible to measure an accurate glossiness considering temperature compensation.
また、前記実施形態では、光量設定信号が、低光沢度測定レンジの低光沢度用光量設定値（第１光量設定値）又は高光沢度測定レンジの高光沢度用光量設定値（第２光量設定値）を切り替えるためのものであったが、これに限られない。例えば光量設定値を連続的に変更するものであっても良いし、３つ以上の光量設定値（第１光量設定値、第２光量設定値、・・・）に多段階かつ選択的に切り替えるためのものであって良い。なお、このとき、温度特性データ格納部には、各光量設定値に対応した光源の温度特性データが格納されている。 In the embodiment, the light intensity setting signal is a low gloss light intensity setting value (first light intensity setting value) in the low gloss measurement range or a high gloss light intensity setting value (second light intensity in the high gloss measurement range. However, the present invention is not limited to this. For example, the light amount setting value may be changed continuously, or switched in multiple steps and selectively to three or more light amount setting values (first light amount setting value, second light amount setting value,...). It may be for. At this time, the temperature characteristic data storage unit stores temperature characteristic data of the light source corresponding to each light quantity setting value.
さらに、前記実施形態では、温度特性データは、光源の温度特性及び光検出器の温度特性合わせて作成されたものであったが、光源のみの温度特性データ、光検出器のみの温度特性データをそれぞれ作成し、それら温度特性データにより得られる補正係数により補正を行うようにしても良い。また、光源のみの温度特性データを用いて補正するようにしても良い。 Furthermore, in the above-described embodiment, the temperature characteristic data is created by combining the temperature characteristics of the light source and the temperature characteristics of the photodetector. However, the temperature characteristic data of only the light source and the temperature characteristic data of only the photodetector are Each may be created and corrected using a correction coefficient obtained from the temperature characteristic data. Further, correction may be made using temperature characteristic data of only the light source.
その上、低光沢度測定レンジの校正及び高光沢度測定レンジの校正の順序は、前記実施形態に限られず、逆に行っても良い。 In addition, the order of calibration of the low gloss measurement range and calibration of the high gloss measurement range is not limited to the above embodiment, and may be performed in reverse.
加えて、増幅器などのゲインを調整して、所望の分解能で光沢度を算出するようにしても良い。たとえば、増幅器のゲインを大きくして、光沢度の変化幅を大きくして微小な変化を検出できるようにしても良いし、増幅器のゲインを小さくして分解能を低下させても良い。 In addition, the glossiness may be calculated with a desired resolution by adjusting the gain of an amplifier or the like. For example, the gain of the amplifier may be increased to increase the change in glossiness so that a minute change can be detected, or the gain of the amplifier may be decreased to reduce the resolution.
なお、前記実施形態では、低光沢度測定と高光沢度測定とにおいて光量を切り替えているが、その他、光検出器により得られた光強度信号を増幅する増幅器において、低光沢度測定と高光沢度測定とによりゲイン（増幅率）を調整するようにしても良い。具体的には、高光沢度測定時よりも低光沢度測定時のゲインを大きくするように切り替える。この場合、光照射部から出る検査光の光量は、反射光Ｌ２を受光する光検出器がサチュレーションを起こさない程度の光量であり、低光沢度測定と高光沢度測定とにおいて同一である。 In the embodiment, the light amount is switched between the low gloss measurement and the high gloss measurement. However, in the amplifier that amplifies the light intensity signal obtained by the photodetector, the low gloss measurement and the high gloss measurement are performed. The gain (amplification factor) may be adjusted by measuring the degree. Specifically, switching is performed so that the gain at the time of measuring the low glossiness is larger than that at the time of measuring the high glossiness. In this case, the amount of the inspection light emitted from the light irradiation unit is such that the photodetector that receives the reflected light L2 does not cause saturation, and is the same in the low gloss measurement and the high gloss measurement.
また、低光沢度測定レンジは光沢度０−１００に限られず、高光沢度測定レンジは０−１０００に限られず、任意に設定可能である。 Further, the low gloss measurement range is not limited to the glossiness 0-100, and the high gloss measurement range is not limited to 0-1000, and can be arbitrarily set.
その他、前述した実施形態や変形実施形態の一部又は全部を適宜組み合わせてよいし、本発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であるのは言うまでもない。 In addition, some or all of the above-described embodiments and modified embodiments may be combined as appropriate, and the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. .
１００・・・光沢計
Ｗ ・・・被測定面
Ｌ１ ・・・検査光
２１ ・・・光照射部
Ｌ２ ・・・反射光
２２ ・・・光検出部
３０２・・・光沢度算出部
３０１・・・光源制御部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Gloss meter W ... Measuring surface L1 ... Inspection light 21 ... Light irradiation part L2 ... Reflected light 22 ... Light detection part 302 ... Gloss degree calculation part 301 ...・ Light source controller
Claims (3)
前記被測定面で反射される反射光を受光する光検出器と、
前記光源の温度を検出する温度検出部と、
前記検査光を少なくとも２種類以上の光量に設定するための光量設定値を示す光量設定信号を取得して、前記検査光を前記光量設定値とする駆動信号を前記光源に出力する光源制御部と、
前記各光量設定値における前記光源の温度特性データを格納する温度特性データ格納部と、
前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ、前記温度検出部により得られた温度信号、及び前記光検出器により得られた反射光の光量データに基づいて、前記被測定面の光沢度を算出する光沢度算出部と、を具備し、
前記光量設定信号が、複数の光沢度測定レンジの何れかに切り替えるためのものであり、
前記温度特性データ格納部が、前記複数の光沢度測定レンジそれぞれの光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを格納するものであり、
前記光沢度算出部が、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得する光沢計。 A light source that emits inspection light to the surface to be measured;
A photodetector for receiving reflected light reflected from the surface to be measured;
A temperature detector for detecting the temperature of the light source;
A light source control unit that acquires a light amount setting signal indicating a light amount setting value for setting the inspection light to at least two types of light amounts, and outputs a drive signal that uses the inspection light as the light amount setting value to the light source; ,
A temperature characteristic data storage unit for storing temperature characteristic data of the light source at each light quantity setting value;
Based on the temperature characteristic data of the light source corresponding to the light quantity setting value, the temperature signal obtained by the temperature detection unit, and the light quantity data of the reflected light obtained by the photodetector, the glossiness of the measured surface anda gloss degree calculation unit that calculates a
The light amount setting signal is for switching to any one of a plurality of glossiness measurement ranges;
The temperature characteristic data storage unit stores temperature characteristic data of the light source corresponding to a light amount setting value of each of the plurality of glossiness measurement ranges;
A gloss meter, wherein the gloss level calculation unit acquires temperature characteristic data of the light source corresponding to the light amount setting value .
前記温度特性データ格納部が、前記低光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ及び前記高光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを格納するものであり、
前記光沢度算出部が、前記光量設定信号を取得して、低光沢度測定レンジの場合には前記低光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得し、高光沢度測定レンジの場合には、前記高光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得する請求項１記載の光沢計。 The light amount setting signal is for switching a light amount setting value for low glossiness that is a light amount setting value for a low glossiness measurement range or a light amount setting value for high glossiness that is a light amount setting value for a high glossiness measurement range. ,
The temperature characteristic data storage unit stores the temperature characteristic data of the light source corresponding to the low-gloss light amount setting value and the temperature characteristic data of the light source corresponding to the high-gloss light amount setting value;
The glossiness calculation unit acquires the light amount setting signal, and in the case of the low glossiness measurement range, acquires the temperature characteristic data of the light source corresponding to the light amount setting value for the low glossiness, and measures the high glossiness. 2. The gloss meter according to claim 1, wherein in the case of a range, temperature characteristic data of the light source corresponding to the high glossiness light amount setting value is acquired.
前記被測定面で反射される反射光を受光する光検出器と、
前記光検出器により得られた検出信号に基づいて、前記被測定面の光沢度を算出する光沢度算出部と、
前記光源の温度を検出する温度検出部と、
前記検査光を少なくとも２種類以上の光量に設定するための光量設定値を示す光量設定信号を取得して、前記検査光が前記光量設定値となるように、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ及び前記温度検出部により得られた温度信号を用いて前記光源を制御する光源制御部と、
前記各光量設定値における前記光源の温度特性データを格納する温度特性データ格納部と、を具備し、
前記光量設定信号が、複数の光沢度測定レンジの何れかに切り替えるためのものであり、
前記温度特性データ格納部が、前記複数の光沢度測定レンジそれぞれの光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを格納するものであり、
前記光沢度算出部が、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得する光沢計。 A light source that emits inspection light to the surface to be measured;
A photodetector for receiving reflected light reflected from the surface to be measured;
Based on a detection signal obtained by the photodetector, a glossiness calculating unit that calculates the glossiness of the surface to be measured;
A temperature detector for detecting the temperature of the light source;
The light source corresponding to the light amount setting value is acquired so that a light amount setting signal indicating a light amount setting value for setting the inspection light to at least two types of light amounts is acquired and the inspection light becomes the light amount setting value. A light source control unit that controls the light source using the temperature characteristic data and a temperature signal obtained by the temperature detection unit ,
A temperature characteristic data storage unit for storing temperature characteristic data of the light source at each light quantity setting value;
The light amount setting signal is for switching to any one of a plurality of glossiness measurement ranges;
The temperature characteristic data storage unit stores temperature characteristic data of the light source corresponding to a light amount setting value of each of the plurality of glossiness measurement ranges;
A gloss meter, wherein the gloss level calculation unit acquires temperature characteristic data of the light source corresponding to the light amount setting value .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008300255A JP5243206B2 (en) | 2008-11-25 | 2008-11-25 | Gloss meter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008300255A JP5243206B2 (en) | 2008-11-25 | 2008-11-25 | Gloss meter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010127661A JP2010127661A (en) | 2010-06-10 |
| JP5243206B2 true JP5243206B2 (en) | 2013-07-24 |
Family
ID=42328184
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008300255A Active JP5243206B2 (en) | 2008-11-25 | 2008-11-25 | Gloss meter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5243206B2 (en) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7052729B2 (en) * | 2016-12-12 | 2022-04-12 | コニカミノルタ株式会社 | Reflection / transmission characteristic measuring device |
| JP6827382B2 (en) * | 2017-07-18 | 2021-02-10 | 能美防災株式会社 | Mobile smoke detector |
| WO2019117301A1 (en) | 2017-12-15 | 2019-06-20 | 株式会社堀場製作所 | Surface characteristic inspection device and surface characteristic inspection program |
| JP7336380B2 (en) * | 2019-12-27 | 2023-08-31 | 株式会社堀場製作所 | Standard plate, calibration member, gloss meter, and method for manufacturing standard plate |
| WO2023276637A1 (en) * | 2021-06-28 | 2023-01-05 | コニカミノルタ株式会社 | Measuring instrument, method for calculating surface evaluation index, and program |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07209185A (en) * | 1994-01-13 | 1995-08-11 | Yokogawa Electric Corp | Surface scattering type turbidity meter |
| JPH08128954A (en) * | 1994-10-28 | 1996-05-21 | Shimadzu Corp | Oil deterioration degree detecting device |
| DE19950588B4 (en) * | 1999-10-20 | 2013-07-18 | Byk Gardner Gmbh | Apparatus and method for quality control of especially painted surfaces |
| JP2008145276A (en) * | 2006-12-11 | 2008-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Microbe measuring device |
-
2008
- 2008-11-25 JP JP2008300255A patent/JP5243206B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2010127661A (en) | 2010-06-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5243206B2 (en) | Gloss meter | |
| JP5437621B2 (en) | Glossmeter calibration method | |
| US8274037B2 (en) | Automatic calibration technique for time of flight (TOF) transceivers | |
| US9285306B2 (en) | Temperature calibration methods and apparatus for optical absorption gas sensors, and optical absorption gas sensors thereby calibrated | |
| JP5569002B2 (en) | Analytical instrument and characteristic measurement method | |
| JP6142526B2 (en) | Food analyzer | |
| US9910262B2 (en) | Actuator control device, optical module, electronic apparatus, and actuator control method | |
| US20130229646A1 (en) | Component analyzer | |
| JP2016070776A (en) | Spectroscopic analyzer and calibration method of spectroscopic analyzer | |
| JP2014185958A (en) | Coloration measuring device | |
| US20150212314A1 (en) | Actuator control device, optical module, and electronic apparatus | |
| JP6521946B2 (en) | Component measuring device | |
| TW201331637A (en) | Interference filter, optical module, and electronic apparatus | |
| JP5118866B2 (en) | Laser marker and laser power display adjustment method | |
| US10078048B2 (en) | Refractometer assemblies, methods of calibrating the same, and methods of determining unknown refractive indices using the same | |
| US9207126B2 (en) | Infrared light sensor chip with high measurement accuracy and method for producing the infrared light sensor chip | |
| JP2014185960A (en) | Immersion testing apparatus | |
| JPWO2016021495A1 (en) | Gas concentration detection device and gas concentration calculation method in gas concentration detection device | |
| JP7257939B2 (en) | Measuring device and control method | |
| JP2005257374A (en) | Colorimeter | |
| JP2016050804A (en) | Spectrometry device and spectrometry method | |
| JP2012018118A (en) | Colorimetric device and colorimetric method | |
| JP4170878B2 (en) | Refractive index measuring device | |
| JP2006058246A (en) | Temperature sensor | |
| JPH11245926A (en) | Form detecting apparatus |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110901 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121225 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130115 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130314 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130402 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130404 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160412 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5243206 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |