JP5235279B2 - イオン捕集装置 - Google Patents
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試料は試料台に保持する。試料に対し、帯電物質を、ネブライザーガスとともに試料台と適切な角度で照射する。帯電物質としては、エレクトロスプレーやソニックスプレーなどのイオン化手段により生成した帯電液滴などが考えられる。照射された帯電物質との接触により、試料はイオン化して試料台から脱離する、あるいは試料台から脱離した後イオン化する。イオン化のために試料に照射するものは、それ以外にも試料のイオン化に必要なエネルギーを持った粒子であればよく、電子線、イオンビーム、高速原子、レーザー光、液滴などが考えられる。
複数の試料を同一試料台上に置く場合、試料間に間隔をあけて配置する。その間隔は、イオン取り込み管先端を試料の存在しない領域にのみ接することができるように、イオン取り込み管先端の接触長さ以上とする。また、イオン取り込み管が試料に接触しないよう、試料台に対して傾けて配置する、あるいはイオン取り込み管を屈曲させる。イオン取り込み管を、試料台の試料がない領域に接するように置き、スプレー管の中心軸と、イオン取り込み管の軸が同一平面上にあるように配置する。試料台に溝を設けない場合は、イオン取り込み管の先端部分は試料台に密着することが望ましい。例えば、図4に示すように、円い管の先端を斜めに切断し、その切断面で試料台に密着させることができる。この時、イオン取り込み管の開口部の高さ、および試料台に接する幅は、イオンが広がる高さ、幅以上であることが望ましい。この配置により、試料に入射した帯電物質により発生した試料イオンが、効率よく収集され、高感度の測定が可能となる。
図9は、複数試料を一試料台に乗せる方法の一例である。試料を等間隔で配置することにより、電動のXYステージなどを用いて自動測定することが容易となる。また、試料間の間隔を、イオン広がり幅以上とすることで、試料間のデータの混合がなくなり、測定精度が向上する。
Claims (10)
- 試料を設置する試料台と、
前記試料台に設置された試料に対し、試料をイオン化させるための粒子をガスと共に照射するイオン化手段と、
イオン化された試料を取り込むイオン取り込み手段とを備え、
前記イオン取り込み手段のイオン取り込み口は、前記ガスの進行方向に前記試料台に接するように設置され、幅が6mm以上かつ高さが1.2mm以上であり、
前記イオン取り込み手段は屈曲しており、前記イオン取り込み口を形成する管の底面が前記試料台に密着していることを特徴とするイオン捕集装置。 - 請求項1に記載のイオン捕集装置において、前記底面と、前記試料台の前記底面と接する部分とに、それぞれ凹凸を有することを特徴とするイオン捕集装置。
- 請求項1に記載のイオン捕集装置において、前記試料台は、前記底面と接する溝を有することを特徴とするイオン捕集装置。
- 請求項1乃至3に記載のイオン捕集装置において、前記試料台は、複数の試料を間隔を空けて配置させることを特徴とするイオン捕集装置。
- 請求項4に記載のイオン捕集装置において、前記試料台は、前記複数の試料の設置部分の間に溝を有することを特徴とするイオン捕集装置。
- 請求項1乃至5に記載のイオン捕集装置において、前記試料台の試料設置部分は、溝を有することを特徴とするイオン捕集装置。
- 請求項1乃至5に記載のイオン捕集装置において、前記イオン取り込み口は、矩形であることを特徴とするイオン捕集装置。
- 請求項1に記載のイオン捕集装置において、前記試料台は円形であって、前記円周に沿って複数の試料が配置されることを特徴とするイオン捕集装置。
- 請求項1において、前記イオン化された試料は前記イオン取り込み手段により取り込まれ、前記イオン取り込み手段に連結された質量分析装置により分析されることを特徴とする質量分析システム。
- 請求項9において、試料はクロマトグラフにより分離された後に前記試料台に置かれることを特徴とする質量分析システム。
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