JP5191797B2 - 光学補償フィルムおよびその製造方法 - Google Patents
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R(548)≦350nm 数式(1)
を満たすことが好ましい。
R0(548)<R0(447) 数式(2)
を満たすとともに、上記全体領域における波長λnmの光に対する合成位相差をR(λ)としたとき、以下の数式(3)
R(548)≧R(447) 数式(3)
を満たすことが好ましい。
R(628)≧R(548)≧R(447) 数式(4)
を満たすことが好ましい。
0.0002≦|Δnmax−Δnmin|≦0.07 数式(5)
を満たす複数種の高分子を用いることが好ましい。
R0(548)<R0(447) 数式(6)
(R0(548)は、波長548nmの光で測定したフィルム面に垂直な方向の位相差を示し、R0(447)は、波長447nmの光で測定したフィルム面に垂直な方向の位相差を示す。)
を満たす高分子を用いることが好ましい。
まず、配向複屈折値について説明する。
次に、本実施形態に係る光学補償フィルムの構造について図1及び図2を参照しながら説明する。
本実施形態の光学補償フィルム1では、フィルム面に平行な方向に沿って分布する各単位領域2a・2bの位相差、ならびに、全体領域3に対する単位領域2a・2bの面積比率を適宜設計することにより、容易に全体領域3の合成位相差の波長分散を制御できる。そこで、本実施形態の光学補償フィルム1において、全体領域3の合成位相差の波長分散がどのようにして決定されるかについて説明する。なお、この原理の詳細については、本発明者らによる国際出願:PCT/JP2007/073246に記載している通りであるため、ここでは簡略化して説明する。
ここで、θをπ/4rad(=45°)とすると、透過率は次式となり、三角関数で示される。
ただし、その周期は、波長によって異なる。各単位領域2a・2bにおいて位相差が波長に拘わらず同じ値であったとしても、合成位相差は波長によって変化する。逆に、各単位領域2a・2bにおいて位相差が正の波長分散を示していたとしても、合成位相差が波長によって変化しない場合もありえる。なお、本明細書では、「正の波長分散」とは波長548nmの光で測定した位相差を1として他の波長の光で測定した位相差をその相対値として表した時、長波長になるにしたがってその相対値が小さくなることを意味する。反対にその相対値が大きくなる場合を「逆の波長分散」と称する。
R(447)≦R(548)≦R(628)
を満たすものであってもよい。
I(λ)=1/2+1/2・cos(2πref/λ)
で表されることから、フィルム面に平行な方向に沿って、周辺部より高位相差部位と低位相差部位からなる単位領域2a・2bが複数存在する本発明の光学補償フィルム1の場合、位相差r(λ)に起因する透過率を求め、該透過率を示す位相差を上記関係式に基づいて算出し、その値を位相差r(λ)とすればよい。
R(548)−R(447)>r(548)−r(447)
の関係を得る観点から、隣接する単位領域2a・2bの位相差の差、つまり、主成分が異なる単位領域2a・2b間の位相差の差は、上述したように、下限10nmが好ましく、下限50nmがより好ましく、下限100nmがさらに好ましい。
次に、光学補償フィルム1が適用できる表示装置について説明する。表示装置としては、ELディスプレイ、液晶ディスプレイ等が挙げられる。液晶ディスプレイとしては、例えば、光源/導光板/光拡散板/プリズムシート/輝度向上フィルム/偏光板/液晶セル/偏光板の順に構成された液晶表示装置等が挙げられるが、液晶セルの入射光側及び/又は出射光側に本発明の光学補償フィルムを装着することにより光学補償のされた表示装置とすることができる。液晶セルの方式としては、TN方式、VA方式、IPS方式、OCB方式等挙げられる。
次に、本発明の光学補償フィルム1の製造方法について説明する。製造方法としては、溶融キャスティング法または溶液キャスティング法を用いることができる。
次に、本実施形態の光学補償フィルム1を製造する際に用いられる高分子、溶媒、添加剤の具体例を示す。
正の配向複屈折値を示す高分子と負の配向複屈折値を示す高分子を具体的に以下に例示する。正の配向複屈折値を示す高分子としては、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエチレン、ポリプロピレン、ノルボルネン系樹脂、シクロオレフィンポリマー、メチルセルロース、エチルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロース、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリビニルアルコール、ポリ塩化ビニル、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリアリレート、ポリフェニレンサルファイド、ポリフェニレンオキサイド等が挙げられる。
次に、溶液キャスティング法を用いる場合に使用する、塗布溶液とするための溶媒の具体例を示す。ただし、当該溶媒としては、上記高分子が可溶であれば特に限定されるものではないことはいうまでもない。溶媒の具体的な例としては、ベンゼン、トルエン、o−キシレン、m−キシレン、p−キシレン、エチルベンゼン、イソプロピルベンゼン、ジエチルベンゼンの異性体混合物等の炭化水素系溶媒;メタノール、エタノール、1−プロパノール、2−プロパノール、1−ブタノール、2−ブタノール、2−メチル−1−プロパノール、フルフリルアルコール、ベンジルアルコール等のアルコール系溶媒;エチルエーテル、イソプロピルエーテル、1,3−ジオキソラン、1,4−ジオキサン、テトラヒドロピラン、テトラヒドロフラン、1,2−ジメトキシエタン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル等のエーテル系溶媒;アセトン、2−ブタノン、4−メチル−2−ペンタノン、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒;塩化メチレン、クロロフィルム、四塩化炭素、1,2−ジクロロエタン、1,1,1−トリクロロエタン、1,1,2−トリクロロエタン、1,1,1,2−テトラクロロエタン、1,1,2,2−テトラクロロエタン、1−クロロプロパン、2−クロロプロパン、1,1−ジクロロプロパン、1,2−ジクロロプロパン、1,3−ジクロロプロパン、2,2−ジクロロプロパン、1,2,3−トリクロロプロパン、クロロベンゼン等のハロゲン系溶媒;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸n−プロピル、酢酸イソプロピル、酢酸n−ブチル、酢酸イソブチル、酢酸sec−ブチル、酢酸tert−ブチル、酢酸n−ペンチル、酢酸n−ヘキシル、酢酸n−ヘプチル、酢酸n−オクチル、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノプロピルエーテルアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート等のエステル系溶媒;N,N−ジメチルフィルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、1−メチル−2−ピロリジノン等のアミド系溶媒;ピロリジン、ピペリジン、ピロール等のアミン系溶媒等が挙げられる。これらの中でも、塗布後の膜の乾燥性の観点から、ベンゼン、トルエン、メタノール、エタノール、1−プロパノール、2−プロパノール、エチルエーテル、イソプロピルエーテル、1,3−ジオキソラン、1,4−ジオキサン、テトラヒドロピラン、テトラヒドロフラン、1,2−ジメトキシエタン、アセトン、2−ブタノン、4−メチル−2−ペンタノン、シクロヘキサノン、塩化メチレン、クロロフィルム、四塩化炭素、1,2−ジクロロエタン、1,1,1−トリクロロエタン、1,1,2−トリクロロエタン、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸n−プロピル、酢酸イソプロピル、酢酸n−ブチル、酢酸イソブチル、酢酸sec−ブチル、酢酸tert−ブチル、酢酸n−ペンチル、酢酸n−ヘキシルを用いることが好ましい。これらの溶媒は、単独で使用してもよく、2種以上を併用してもよい。
次に、光学補償フィルム1の特性を改質する目的で加えることが可能な添加剤について説明する。添加剤としては、酸化防止剤(例えば、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ製IRGANOX 1010、IRGANOX 1135、IRGANOX 1330等のヒンダードフェノール類)、加工安定剤(例えば、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ製HP−136、IRGANOX E201、IRGAFOS 168等)、光安定剤(例えば、三共ライフテック製サノールLS−765、サノールLS−770等のヒンダードアミン類)、紫外線吸収剤(例えば、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ製TINUVIN P、TINUVIN 213、TINUVIN 326等のベンゾトリアゾール類)、接着性改良剤(例えば、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン等のシランカップリング剤)、シラノール縮合触媒(例えば、川研ファインケミカル製アルミニウムトリス(エチルアセトアセテート)、アルミキレートM等のアルミニウムキレート類)、可塑剤(例えば、ジ2−エチルヘキシルフタレート、ジイソブチルアジペート等のエステル類)、界面活性剤(例えば、住友スリーエム製Fluorad FC−430、Fluorad FC−4430等のフッ素系化合物)、帯電防止剤(例えば、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ製IRGASTAT P18、IRGASTAT P22等)等が挙げられ、これらは本発明の目的及び効果を損なわない範囲において添加することができる。
王子計測機器製自動複屈折計KOBRA−WRを用いて、25℃下で波長447nmの光、波長548nmの光、波長628nmの光による測定をスポット5.8mm角の条件で行った。なお、R0(λ)は、波長λnmの光に対する、高分子単体フィルムの位相差を示す。
試料の延伸方向が測定装置の0度方向となるように、王子計測機器製自動複屈折計KOBRA−WRに装着し、波長590nmの光により、配向角(0度方向とサンプルの遅相軸のなす角度)を測定した。尚、KOBRA−WRでは、配向複屈折の方位角は「配向角」として表示される。また、配向複屈折の方位角は0度方向から左回りの角度を正の値とし、右回りの角度を負の値として表した。
オーク製作所の顕微偏光分光光度計を用いた液晶セルギャップ測定装置(TFM−120AFT−PC)を用いて、25℃下で波長548nmの光による測定をスポット10μm角の条件で行った。なお、r(548)は、位相差が高い方の単位領域2の、波長548nmの光に対する位相差であり、r’(548)は、位相差が低い方の単位領域2の、波長548nmの光に対する位相差である。なお、スポットの中心と各単位領域2の中心とが一致するような条件で測定した。また、光学補償フィルム1の中心付近に位置する単位領域2について位相差を測定した。
偏光顕微鏡の偏光板をクロスニコル状態にし、位相差の異なる単位領域2が面方向に分布した光学補償フィルムの光軸が偏光板の吸収軸に対して45度になるように偏光板の間に配置して観察した。
エチルセルロース(ダウケミカル製ETHOCEL STD型Premium FPグレード,品番:100,数平均分子量:63400,置換度DS(digree of substitution):2.5)2.443gにシクロヘキサノン29.9gを加え、25℃下で溶解した。また、下記の化学式(1)で示されるシクロオレフィンポリマー(ガラス転移温度:170℃、数平均分子量:約60000)1.557gに1,1,2−トリクロロエタン16.1gを加え、25℃下で溶解した。すなわち、エチルセルロースの配合比率は重量比で0.61であり、シクロオレフィンポリマーの配合比率が重量比で0.39である。
ポリカーボネート(三菱エンジニアリングプラスチックス製ユーピロン S−3000R)2.5gに塩化メチレン10.0gを加え、25℃下で溶解した。また、実施例1で用いたシクロオレフィンポリマー(ガラス転移温度:170℃)2.269gに塩化メチレン12.856gを加え、25℃下で溶解した。すなわち、ポリカーボネートの配合比率は重量比で0.52であり、シクロオレフィンポリマーの配合比率が重量比で0.48である。
実施例1で用いたエチルセルロース(ダウケミカル製ETHOCEL STD型Premium FPグレード,品番:100,数平均分子量:63400,置換度DS:2.5)5.0gを塩化メチレン45.0gに溶解した後、この溶液をポリエチレンテレフタレートフィルムに塗布し、塗布基板とした。その後、実施例1と同じように、この塗布基板を23℃で15時間、空気中で乾燥し、更に、100℃で5分間、空気中で乾燥した後、155℃で1.2倍、1軸延伸した。次に、延伸した塗布膜をポリエチレンテレフタレートフィルムから剥がして塗布膜の物性測定を行った。その結果を表2に示す。
実施例1で用いたシクロオレフィンポリマー(ガラス転移温度:170℃)7.5gを塩化メチレン42.5gに溶解した後、この溶液をポリエチレンテレフタレートフィルムに塗布し、塗布基板とした。その後、実施例1と同じように、この塗布基板を23℃で15時間、空気中で乾燥し、更に、100℃で5分間、空気中で乾燥した後、155℃で1.2倍、1軸延伸した。次に、延伸した塗布膜をポリエチレンテレフタレートフィルムから剥がして塗布膜の物性測定を行った。その結果を表2に示す。
実施例2で用いたポリカーボネート(三菱エンジニアリングプラスチックス製ユーピロン S−3000R)10.0gを塩化メチレン40.0gに溶解した後、この溶液をポリエチレンテレフタレートフィルムに塗布し、塗布基板とした。その後、実施例2と同じように、この塗布基板を23℃で15時間、空気中で乾燥し、更に、100℃で5分間、空気中で乾燥した後、165℃で1.15倍、1軸延伸した。次に、延伸した塗布膜をポリエチレンテレフタレートフィルムから剥がして塗布膜の物性測定を行った。その結果を表2に示す。
実施例2で用いたシクロオレフィンポリマー(ガラス転移温度:170℃)7.5gを塩化メチレン42.5gに溶解した後、この溶液をポリエチレンテレフタレートフィルムに塗布し、塗布基板とした。その後、実施例2と同じように、この塗布基板を23℃で15時間、空気中で乾燥し、更に、100℃で5分間、空気中で乾燥した後、165℃で1.15倍、1軸延伸した。次に、延伸した塗布膜をポリエチレンテレフタレートフィルムから剥がして塗布膜の物性測定を行った。その結果を表2に示す。
2(2a・2b) 単位領域
3 全体領域
A・B 高分子
Claims (10)
- 配向複屈折値の符号が同一であり、配向複屈折値が異なる複数種の高分子を含み、
フィルム面に平行な方向に沿って複数の単位領域に分割したときに、同一波長の光に対する位相差が隣接する単位領域と10nm以上異なる単位領域が複数存在し、
各単位領域における位相差の波長依存性と、全ての単位領域を含む全体領域における合成位相差の波長依存性とが異なり、当該合成位相差の波長依存性を利用したことを特徴とする光学補償フィルム。 - 隣接する2つの上記単位領域は、含有する上記複数種の高分子の混合比率が異なることを特徴とする請求項1に記載の光学補償フィルム。
- 配向複屈折値の符号が同一であり、配向複屈折値が異なる複数種の高分子を含む光学補償フィルムであって、
上記複数種の高分子の全ての合計量に対する、各々の高分子の合計量の割合を配合比率としたとき、対応する配合比率よりも大きい混合比率の高分子の種類が異なる複数種の単位領域がフィルム面に沿って分布しており、
各単位領域における位相差の波長依存性と、全ての単位領域を含む全体領域における合成位相差の波長依存性とが異なり、当該合成位相差の波長依存性を利用したことを特徴とする光学補償フィルム。 - 全体領域における波長λnmの光に対する合成位相差をR(λ)としたとき、以下の数式(1)を満たすことを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の光学補償フィルム。
R(548)≦350nm 数式(1) - 上記複数種の高分子の各々の単体で成形されたフィルムを1軸延伸した延伸品の波長λnmの光に対する位相差をR0(λ)としたとき、以下の数式(2)を満たすとともに、上記全体領域における波長λnmの光に対する合成位相差をR(λ)としたとき、以下の数式(3)を満たすことを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載の光学補償フィルム。
R0(548)<R0(447) 数式(2)
R(548)≧R(447) 数式(3) - 上記全体領域における波長λnmの光に対する合成位相差をR(λ)としたとき、以下の数式(4)を満たすことを特徴とする請求項1から5の何れか1項に記載の光学補償フィルム。
R(628)≧R(548)≧R(447) 数式(4) - 請求項1または2に記載の光学補償フィルムの製造方法であって、
配向複屈折値の符号が同一であり、かつ、配向複屈折値の異なる複数種の高分子を混合して液体状の混合品を作製し、当該混合品をフィルム状に成形する第1工程と、
フィルム状に成形された成形品を延伸し、延伸品を上記光学補償フィルムとする第2工程とを含み、
上記第1工程において上記混合品に含まれる複数種の高分子を相分離させることで、上記第2工程において、同一波長の光に対する位相差が隣接する単位領域と10nm以上異なる単位領域を複数存在させることを特徴とする光学補償フィルムの製造方法。 - 請求項3に記載の光学補償フィルムの製造方法であって、
配向複屈折値の符号が同一であり、かつ、配向複屈折値の異なる複数種の高分子を混合して液体状の混合品を作製し、当該混合品をフィルム状に成形する第1工程と、
フィルム状に成形された成形品を延伸し、延伸品を上記光学補償フィルムとする第2工程とを含み、
上記第1工程において上記混合品に含まれる複数種の高分子を相分離させることで、上記第2工程において、上記複数種の単位領域をフィルム面に沿って分布させることを特徴とする光学補償フィルムの製造方法。 - 上記複数種の高分子の各々の単体を上記光学補償フィルムと同条件で製造したときの製造品について波長548nmの光で測定した配向複屈折値のうち、最大値をΔnmax、最小値をΔnminとしたとき、
上記第1工程において、以下の数式(5)を満たす複数種の高分子を用いることを特徴とする請求項7または8に記載の光学補償フィルムの製造方法。
0.0002≦|Δnmax−Δnmin|≦0.07 数式(5) - 上記第1工程において、上記複数種の高分子として、高分子単体で形成されたフィルムを1軸延伸したときの位相差が以下の数式(6)を満たす高分子を用いることを特徴とする請求項7から9の何れか1項に記載の光学補償フィルムの製造方法。
R0(548)<R0(447) 数式(6)
(R0(548)は、波長548nmの光で測定した位相差を示し、R0(447)は、波長447nmの光で測定した位相差を示す。)
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