JP5182287B2 - Active matrix substrate and manufacturing method thereof - Google Patents

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Description

本発明は、アクティブマトリックス基板及びその製造方法に関する。   The present invention relates to an active matrix substrate and a manufacturing method thereof.

アクティブマトリックス基板とは、基板上、互いに直交して配置される複数本のゲート信号線とソース信号線との交点に薄膜トランジスタ(TFT)を介して画素電極が配置されたものである。かかる基板は、アクティブマトリックス型平面表示装置に使用されている。アクティブマトリックス型平面表示装置では、各表示画素がTFT(スイッチング素子)により個別に制御されるので、パッシブマトリックス型平面表示装置に比べてクロストークが生じにくく、高精細化及び大容量化に適している。   The active matrix substrate is a substrate in which pixel electrodes are arranged through thin film transistors (TFTs) at intersections of a plurality of gate signal lines and source signal lines arranged orthogonal to each other on the substrate. Such a substrate is used in an active matrix type flat display device. In an active matrix type flat display device, each display pixel is individually controlled by a TFT (switching element), so that crosstalk is less likely to occur than in a passive matrix type flat display device, which is suitable for high definition and large capacity. Yes.

図6は、従来のアクティブマトリックス基板上の導電体回路の一例の説明図である。基板上に直交して配置されたゲート信号線12とソース信号線13の交点にスイッチング素子としてのTFT14が配置されている。ゲート電極15に印加される電圧に応じて、ソース電極16からドレイン電極17に流れる電流量が変化し、この変化がコンタクトホールを経由して画素電極18に伝達されることになる。   FIG. 6 is an explanatory diagram of an example of a conductor circuit on a conventional active matrix substrate. A TFT 14 as a switching element is arranged at the intersection of the gate signal line 12 and the source signal line 13 arranged orthogonally on the substrate. The amount of current flowing from the source electrode 16 to the drain electrode 17 changes according to the voltage applied to the gate electrode 15, and this change is transmitted to the pixel electrode 18 via the contact hole.

従来のアクティブマトリックス基板は、TFTが形成されたアレイ基板の表面に、スパッタ法、蒸着法又はCVD法によりシリコン窒化物等からなるパッシベーション膜が形成され、層間絶縁膜により表面が平坦化され、層間絶縁膜上に、TFTのドレイン電極とコンタクトホールにおいて接続された画素電極が、設けられた構成を有するものが多い。例えば、特許文献1には、SiN又はSiOからなる保護層(パッシベーション膜)とベンゾシクロブテンからなる平坦化層(層間絶縁膜)とを有するアクティブマトリックス基板が開示されている。In a conventional active matrix substrate, a passivation film made of silicon nitride or the like is formed on the surface of an array substrate on which TFTs are formed by sputtering, vapor deposition, or CVD, and the surface is flattened by an interlayer insulating film. In many cases, the pixel electrode connected to the drain electrode of the TFT through the contact hole is provided on the insulating film. For example, Patent Document 1 discloses an active matrix substrate having a protective layer (passivation film) made of SiN X or SiO 2 and a planarization layer (interlayer insulating film) made of benzocyclobutene.

一方、特許文献2には、画素電極と配線との間に、ソース電極、ソース配線、ドレイン電極及びバックチャネルを直接覆うシロキサン樹脂からなる第1の有機層間絶縁膜と、アクリル系樹脂からなる第2の有機層間絶縁膜とが形成され、TFTのチャネル部に直接下層の有機層間絶縁膜が接するアクティブマトリックス基板が開示されている。
特開平10−96963号公報 特開平11−307778号公報
On the other hand, Patent Document 2 discloses a first organic interlayer insulating film made of a siloxane resin that directly covers a source electrode, a source wiring, a drain electrode, and a back channel between a pixel electrode and a wiring, and a first made of an acrylic resin. An active matrix substrate is disclosed in which two organic interlayer insulating films are formed and the lower organic interlayer insulating film is in direct contact with the channel portion of the TFT.
JP-A-10-96963 JP-A-11-307778

しかしながら、これらの特許文献に記載のアクティブマトリックス基板には、製造直後にはTFTが正常に動作するものの、湿熱下での長時間使用時にはTFT特性が低下するという問題が認められた。
従って、本発明は、湿熱下での長時間使用時においてもTFT動作が安定しており、しかも簡便に製造可能なアクティブマトリックス基板及びその製造方法を提供することを目的とする。
However, in the active matrix substrates described in these patent documents, although TFTs operate normally immediately after production, there is a problem that TFT characteristics deteriorate when used for a long time under wet heat.
Accordingly, an object of the present invention is to provide an active matrix substrate and a method for manufacturing the active matrix substrate that can stably manufacture TFT operations even when used for a long time under humid heat.

本発明者らは、上記の課題を解決すべく鋭意研究を重ねた結果、薄膜トランジスタを含む導電体回路が形成された基材表面上に、シランカップリング剤からなる密着剤層と、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の架橋体からなる有機保護膜とを、順次積層してアクティブマトリックス基板を製造することにより、上記課題を解決できることを見出し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明は、
〔1〕薄膜トランジスタを含む導電体回路を基材上に形成してなるアクティブマトリックス基板であって、導電体回路が形成された基材表面上に、シランカップリング剤からなる密着剤層と、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の架橋体からなる有機保護膜とを、順次積層してなり、密着剤層の表面がシリル化されたものであるアクティブマトリックス基板、
〔2〕密着剤層が液状シランカップリング剤からなるものである〔1〕に記載のアクティブマトリックス基板、
〔3〕シランカップリング剤がエポキシ基を有するものである〔1〕又は〔2〕に記載のアクティブマトリックス基板、
〔4〕〔1〕に記載のアクティブマトリックス基板の製造方法であって、
(1)導電体回路が形成された基材表面上にシランカップリング剤からなる密着剤層を形成する工程、
(1’)工程(1)で密着剤層が形成された基材の表面をシリル化剤と接触させて密着剤層の表面をシリル化する工程、
(2)次いで、工程(1’)でシリル化された密着剤層上にプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体を含有してなる感放射線性樹脂組成物からなる樹脂膜を形成する工程、及び
(3)工程(2)で形成された樹脂膜を架橋して有機保護膜を形成する工程、
を有するアクティブマトリックス基板の製造方法、
〔5〕工程(1)において、導電体回路が形成された基材表面上に液状シランカップリング剤を塗布若しくは印刷するか、又は基材を液状シランカップリング剤中に浸漬して引き上げ、次いで、加熱乾燥することにより密着剤層を形成する〔4〕に記載のアクティブマトリックス基板の製造方法、
〔6〕工程(2)を湿式法により行なう〔4〕又は〔5〕に記載のアクティブマトリックス基板の製造方法、
〔7〕感放射線性樹脂組成物が、更に架橋剤、感放射線化合物、及び溶剤を含有してなるものである〔4〕〜〔6〕のいずれか1項に記載のアクティブマトリックス基板の製造方法、並びに
〔8〕〔1〕〜〔3〕のいずれか1項に記載のアクティブマトリックス基板を備えてなる平面表示装置、
を提供するものである。
As a result of intensive studies to solve the above-mentioned problems, the present inventors have found that an adhesive layer made of a silane coupling agent and a protic polarity on a substrate surface on which a conductor circuit including a thin film transistor is formed. It has been found that the above problems can be solved by sequentially laminating an organic protective film made of a crosslinked product of a cyclic olefin polymer having a group to produce an active matrix substrate, and has completed the present invention.
That is, the present invention
[1] An active matrix substrate in which a conductor circuit including a thin film transistor is formed on a substrate, and an adhesive layer made of a silane coupling agent and a proton on the surface of the substrate on which the conductor circuit is formed an organic protective layer comprising a crosslinked product of the cyclic olefin polymer having a sex polar group, Ri Na by sequentially laminating an active matrix substrate in which a surface of the adhesion agent layer is silylated,
[2] The active matrix substrate according to [1], wherein the adhesive layer is made of a liquid silane coupling agent,
[3] The active matrix substrate according to [1] or [2], wherein the silane coupling agent has an epoxy group,
[4] A method for producing an active matrix substrate according to [1],
(1) A step of forming an adhesive layer made of a silane coupling agent on the substrate surface on which the conductor circuit is formed,
(1 ′) a step of silylating the surface of the adhesive layer by bringing the surface of the base material on which the adhesive layer is formed in the step (1) into contact with a silylating agent;
(2) Next, the process of forming the resin film which consists of a radiation sensitive resin composition containing the cyclic olefin type polymer which has a protic polar group on the adhesive agent layer silylated at the process ( 1 ' ). And (3) a step of crosslinking the resin film formed in step (2) to form an organic protective film,
A method of manufacturing an active matrix substrate having
[5] In the step (1), a liquid silane coupling agent is applied or printed on the surface of the base material on which the conductor circuit is formed, or the base material is dipped in the liquid silane coupling agent and then pulled up. The method for producing an active matrix substrate according to [4], wherein the adhesive layer is formed by heating and drying.
[6] The method for producing an active matrix substrate according to [4] or [5], wherein the step (2) is performed by a wet method.
[7] The method for producing an active matrix substrate according to any one of [4] to [6], wherein the radiation-sensitive resin composition further comprises a crosslinking agent, a radiation-sensitive compound, and a solvent. And a flat display device comprising the active matrix substrate according to any one of [8 ] [ 1] to [3],
Is to provide.

本発明のアクティブマトリックス基板は、湿熱下での長時間の使用においてTFTが安定して動作し得る。この基板によれば、長寿命、低消費電力で高コントラストの優れたアクティブマトリックス型平面表示装置が得られる。
また、本発明のアクティブマトリックス基板の製造方法によれば、アクティブマトリックス基板を簡便な操作で効率的に製造することができる。
In the active matrix substrate of the present invention, the TFT can operate stably in a long-time use under wet heat. According to this substrate, an active matrix type flat display device having a long life, low power consumption and excellent high contrast can be obtained.
Moreover, according to the manufacturing method of the active matrix substrate of the present invention, the active matrix substrate can be efficiently manufactured by a simple operation.

本発明のアクティブマトリックス基板の一態様の、1画素単位の模式的平面図(1a)及びTFT部を含む部分断面図(1b)である。It is the typical top view (1a) of 1 pixel unit of the one aspect | mode of the active matrix substrate of this invention, and the fragmentary sectional view (1b) containing a TFT part. 本発明のアクティブマトリックス基板を用いて作製され得るアクティブマトリックス型液晶表示装置の一態様の平面図である。1 is a plan view of one embodiment of an active matrix liquid crystal display device that can be manufactured using an active matrix substrate of the present invention. 図2のアクティブマトリックス型液晶表示装置のX−Y断面図である。FIG. 3 is an XY cross-sectional view of the active matrix liquid crystal display device of FIG. 2. 本発明の有機EL表示装置における有機EL素子の典型的な構成例を示す。The typical structural example of the organic EL element in the organic EL display apparatus of this invention is shown. アクティブマトリックス型有機EL表示装置に使用される、本発明のアクティブマトリックス基板上の回路の一例の説明図である。It is explanatory drawing of an example of the circuit on the active matrix board | substrate of this invention used for an active matrix type organic electroluminescent display apparatus. 従来のアクティブマトリックス基板上の回路の一例の説明図である。It is explanatory drawing of an example of the circuit on the conventional active matrix board | substrate.

符号の説明Explanation of symbols

1 基材
2 ゲート信号線
3 ソース信号線
4 薄膜トランジスタ(TFT)
5 ゲート電極
6 ソース電極
7 ドレイン電極
8 密着剤層
9 有機保護膜
10 コンタクトホール
11 画素電極
12 ゲート信号線
13 ソース信号線
14 薄膜トランジスタ(TFT)
15 ゲート電極
16 ソース電極
17 ドレイン電極
18 画素電極
101 アクティブマトリックス基板
102 カラーフィルタ基板
103 シール材
105 電極パターン
108 入力端子
110 液晶層
111 配向膜
201 薄膜トランジスタ(TFT)
202 画素電極
203 ゲート信号線
204 ソース信号線
206 対向電極
207 カラーフィルタ層
208 ブラックマトリックス
301 アクティブマトリックス基板
302 発光材料層
303 上部電極層(陰極)
304 封止膜
401 走査電極
402 薄膜トランジスタ(TFT)
403 データ電極
404 コンデンサ
405 薄膜トランジスタ(TFT)
406 有機EL素子
1 Base Material 2 Gate Signal Line 3 Source Signal Line 4 Thin Film Transistor (TFT)
5 Gate electrode 6 Source electrode 7 Drain electrode 8 Adhesive layer 9 Organic protective film 10 Contact hole 11 Pixel electrode 12 Gate signal line 13 Source signal line 14 Thin film transistor (TFT)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 15 Gate electrode 16 Source electrode 17 Drain electrode 18 Pixel electrode 101 Active matrix substrate 102 Color filter substrate 103 Seal material 105 Electrode pattern 108 Input terminal 110 Liquid crystal layer 111 Alignment film 201 Thin film transistor (TFT)
202 Pixel electrode 203 Gate signal line 204 Source signal line 206 Counter electrode 207 Color filter layer 208 Black matrix 301 Active matrix substrate 302 Luminescent material layer 303 Upper electrode layer (cathode)
304 Sealing film 401 Scan electrode 402 Thin film transistor (TFT)
403 Data electrode 404 Capacitor 405 Thin film transistor (TFT)
406 Organic EL device

本発明のアクティブマトリックス基板は、導電体回路が形成された基材表面上に、シランカップリング剤からなる密着剤層と、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の架橋体からなる有機保護膜とを、順次積層してなるものである。
図1は、本発明のアクティブマトリックス基板の一態様の、1画素単位の模式的平面図(1a)及びTFT部を含む部分断面図(1b)である。本態様においては、基材1の表面に、ゲート信号線2とソース信号線3とが直交して配置され、その交点にTFT4が配置されて導電体回路が形成されている。TFT4は、ゲート電極5、ソース電極6及びドレイン電極7を有する。TFT4を含む導電体回路が形成された基材1の表面上にシランカップリング剤からなる密着剤層8が形成されている。密着剤層8の上には、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の架橋体からなる有機保護膜9が設けられ、有機保護膜9のコンタクトホール10を介して、ドレイン電極7と画素電極11とが接続されている。なお、本態様ではTFTが1画素単位当たり1つであるが、所望により2つ以上形成されていてもよい。
The active matrix substrate of the present invention has an organic protective layer composed of an adhesive layer made of a silane coupling agent and a crosslinked product of a cyclic olefin polymer having a protic polar group on the surface of a base material on which a conductor circuit is formed. Films are sequentially laminated.
FIG. 1 is a schematic plan view (1a) of one pixel unit and a partial cross-sectional view (1b) including a TFT portion of one embodiment of the active matrix substrate of the present invention. In this embodiment, the gate signal line 2 and the source signal line 3 are arranged orthogonally on the surface of the substrate 1, and the TFT 4 is arranged at the intersection to form a conductor circuit. The TFT 4 has a gate electrode 5, a source electrode 6 and a drain electrode 7. An adhesive layer 8 made of a silane coupling agent is formed on the surface of the substrate 1 on which the conductor circuit including the TFT 4 is formed. On the adhesive layer 8, an organic protective film 9 made of a crosslinked product of a cyclic olefin polymer having a protic polar group is provided. The electrode 11 is connected. In this embodiment, one TFT is provided per pixel unit, but two or more TFTs may be formed as desired.

本発明のアクティブマトリックス基板の各構成要素、即ち、基材や、ゲート信号線、ソース信号線及びTFT等の導電体回路形成部品、並びに画素電極等は、例えば、特許文献1や2に記載されているような従来のアクティブマトリックス基板のものと同様であり、これらの公知文献に記載の材料を用いて形成される。   Each component of the active matrix substrate of the present invention, that is, a base material, a conductor signal forming component such as a gate signal line, a source signal line and a TFT, and a pixel electrode are described in, for example, Patent Documents 1 and 2. The conventional active matrix substrate is similar to that of the conventional active matrix substrate, and is formed using the materials described in these known documents.

本発明のアクティブマトリックス基板では、通常、シランカップリング剤からなる密着剤層は導電体回路が形成された基材表面上の全部又は一部に形成される。本発明の効果の発現を阻害しない限り、基材と密着剤層との間には公知の材料からなる膜が存在していてもよい。密着剤層の厚さは特に限定されないが、通常、0.1〜50nm、好ましくは1〜10nmである。
密着剤層はシランカップリング剤からなるものであればよく、用いるシランカップリング剤の性状に特に限定はないが、アクティブマトリックス基板表面に均一な厚さで密着剤層を形成するという観点から、液状シランカップリング剤、即ち、有機溶剤及び/又は水を溶媒とするシランカップリング剤の溶液を用いて形成するのが好ましい。液状シランカップリング剤については後述する。
In the active matrix substrate of the present invention, the adhesive layer made of a silane coupling agent is usually formed on all or part of the substrate surface on which the conductor circuit is formed. As long as the effect of the present invention is not inhibited, a film made of a known material may exist between the base material and the adhesive layer. The thickness of the adhesive layer is not particularly limited, but is usually 0.1 to 50 nm, preferably 1 to 10 nm.
The adhesive agent layer only needs to be made of a silane coupling agent, and the property of the silane coupling agent to be used is not particularly limited, but from the viewpoint of forming the adhesive agent layer with a uniform thickness on the active matrix substrate surface, It is preferably formed using a liquid silane coupling agent, that is, a solution of a silane coupling agent using an organic solvent and / or water as a solvent. The liquid silane coupling agent will be described later.

シランカップリング剤としては、通常、ビニル基、アクリル基、エポキシ基、アミノ基、メルカプト基及びアルコキシ基からなる群から選ばれる少なくとも一種の活性基(反応性有機官能基)を有するシラン化合物が好適に用いられる。
本発明で使用するシランカップリング剤としては、例えば、ビニルトリクロルシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニル−トリ(β−メトキシエトキシ)シラン等のビニルシラン類;γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン等のアクリルシラン類;β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン等のエポキシシラン類;γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(ジメトキシメチルシリルプロピル)エチレンジアミン、N−(トリメトキシシリルプロピル)エチレンジアミン等のアミノシラン類;γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリエトキシシラン、γ−メルカプトプロピルジメトキシ(メチル)シラン、γ−メルカプトプロピルジエトキシ(メチル)シラン等のメルカプトシラン類;アルコキシシラン類;及び、アルコキシシランのアルコキシ基を部分的に加水分解して得られる、分子内にO−Si−O結合を有するオリゴマー等の、アルコキシシラン部分加水分解生成物;等が挙げられる。かかるオリゴマーの重合度としては、2〜10程度が好ましい。かかる加水分解生成物は、例えば、アルコキシシランの0.1〜10重量%の、アルコール溶液、又は水及びアルコールの混合溶液に所定量の酸又はアルカリを添加し、所望により、10〜50℃で1〜60分間程度加熱することにより得ることができる。ここでアルコールとしては、通常、メタノール、エタノール又はイソプロピルアルコールが好適に使用される。
これらのシランカップリング剤は、それぞれ単独で又は2種以上を混合して用いることができる。
中でも、有機保護膜の形成に用いられるプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体との反応性に優れることから、シランカップリング剤としては、エポキシ基を有するものが好ましく、通常、エポキシシラン類が好適に用いられる。
As the silane coupling agent, usually, a silane compound having at least one active group (reactive organic functional group) selected from the group consisting of a vinyl group, an acrylic group, an epoxy group, an amino group, a mercapto group, and an alkoxy group is preferable. Used for.
Examples of the silane coupling agent used in the present invention include vinylsilanes such as vinyltrichlorosilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, and vinyl-tri (β-methoxyethoxy) silane; γ-methacryloxypropyltrimethoxy Acrylic silanes such as silane; Epoxy silanes such as β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane and γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane; γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltri Aminosilanes such as ethoxysilane, N-β- (aminoethyl) -γ-aminopropyltrimethoxysilane, N- (dimethoxymethylsilylpropyl) ethylenediamine, N- (trimethoxysilylpropyl) ethylenediamine; γ-mercaptopropi Mercaptosilanes such as trimethoxysilane, γ-mercaptopropyltriethoxysilane, γ-mercaptopropyldimethoxy (methyl) silane, γ-mercaptopropyldiethoxy (methyl) silane; alkoxysilanes; And alkoxysilane partial hydrolysis products such as oligomers having an O—Si—O bond in the molecule, obtained by partial hydrolysis. The degree of polymerization of the oligomer is preferably about 2 to 10. Such a hydrolysis product is obtained by adding a predetermined amount of acid or alkali to an alcohol solution of 0.1 to 10% by weight of alkoxysilane, or a mixed solution of water and alcohol, and optionally at 10 to 50 ° C. It can be obtained by heating for about 1 to 60 minutes. Here, methanol, ethanol or isopropyl alcohol is preferably used as the alcohol.
These silane coupling agents can be used alone or in admixture of two or more.
Especially, since it is excellent in the reactivity with the cyclic olefin polymer which has a protic polar group used for formation of an organic protective film, as a silane coupling agent, what has an epoxy group is preferable, Usually, epoxy silanes Are preferably used.

本発明のアクティブマトリックス基板は、その湿熱下での長時間使用時におけるTFT動作の安定性をより優れたものとする観点から、密着剤層が形成された基材表面が更にシリル化されたものであってもよい。シリル化は、通常、密着剤層が形成された基材表面の全部に実施される。
本明細書において、シリル化とは、密着剤層が形成された基材等のシリル化対象物の表面に存在するプロトンがシリル基によって置換されることをいう。
密着剤層が形成された基材表面のシリル化に利用するシリル基に特に限定はなく、例えば、ジメチルシリル基、トリメチルシリル基、トリエチルシリル基、トリイソプロピルシリル基、t−ブチルジメチルシリル基、t−ブチルジフェニルシリル基、トリフェニルシリル基等を挙げることができる。これらの中で、トリメチルシリル基を好適に利用することができる。
In the active matrix substrate of the present invention, the surface of the substrate on which the adhesive layer is formed is further silylated from the viewpoint of further improving the stability of TFT operation when used for a long time under wet heat. It may be. Silylation is usually performed on the entire surface of the substrate on which the adhesive layer is formed.
In the present specification, silylation means that protons present on the surface of an object to be silylated such as a substrate on which an adhesive layer is formed are substituted with silyl groups.
There is no particular limitation on the silyl group used for silylation of the substrate surface on which the adhesive layer is formed. For example, dimethylsilyl group, trimethylsilyl group, triethylsilyl group, triisopropylsilyl group, t-butyldimethylsilyl group, t -A butyl diphenylsilyl group, a triphenylsilyl group, etc. can be mentioned. Among these, a trimethylsilyl group can be preferably used.

本発明のアクティブマトリックス基板において、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の架橋体からなる有機保護膜は、シランカップリング剤からなる密着剤層上、通常、全部又は一部に積層される。本発明の効果の発現が阻害されない限り、密着剤層と有機保護膜との間に公知の材料からなる膜が存在していてもよい。本発明において、有機保護膜の厚さは、通常、0.1〜100μm、好ましくは0.5〜50μm、より好ましくは0.5〜30μmである。   In the active matrix substrate of the present invention, the organic protective film made of a crosslinked product of a cyclic olefin polymer having a protic polar group is usually laminated on all or part of an adhesive layer made of a silane coupling agent. . As long as expression of the effect of the present invention is not inhibited, a film made of a known material may exist between the adhesive layer and the organic protective film. In this invention, the thickness of an organic protective film is 0.1-100 micrometers normally, Preferably it is 0.5-50 micrometers, More preferably, it is 0.5-30 micrometers.

本発明に使用されるプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体において、プロトン性極性基とは、炭素原子以外の原子に水素原子が直接結合した原子団をいう。ここで、炭素原子以外の原子は、好ましくは周期表第15族及び第16族に属する原子、より好ましくは周期表第15族及び第16族の第1及び第2周期に属する原子、更に好ましくは酸素原子、窒素原子及び硫黄原子、特に好ましくは酸素原子である。
プロトン性極性基の具体例としては、カルボキシ基(ヒドロキシカルボニル基)、スルホン酸基、リン酸基、ヒドロキシル基等の酸素原子を有する極性基;第一級アミノ基、第二級アミノ基、第一級アミド基、第二級アミド基(イミド基)等の窒素原子を有する極性基;チオール基等の硫黄原子を有する極性基;等が挙げられる。これらの中でも、酸素原子を有するものが好ましく、より好ましくはカルボキシ基である。
In the cyclic olefin polymer having a protic polar group used in the present invention, the protic polar group means an atomic group in which a hydrogen atom is directly bonded to an atom other than a carbon atom. Here, the atoms other than carbon atoms are preferably atoms belonging to Groups 15 and 16 of the periodic table, more preferably atoms belonging to the first and second periods of Groups 15 and 16 of the periodic table, and more preferably Is an oxygen atom, a nitrogen atom and a sulfur atom, particularly preferably an oxygen atom.
Specific examples of the protic polar group include polar groups having an oxygen atom such as carboxy group (hydroxycarbonyl group), sulfonic acid group, phosphoric acid group, hydroxyl group; primary amino group, secondary amino group, A polar group having a nitrogen atom such as a primary amide group or a secondary amide group (imide group); a polar group having a sulfur atom such as a thiol group; Among these, those having an oxygen atom are preferable, and a carboxy group is more preferable.

本発明において、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体に含まれるプロトン性極性基は、その数に特に限定はなく、また、相異なる種類のプロトン性極性基が含まれていてもよい。   In the present invention, the number of protic polar groups contained in the cyclic olefin polymer having a protic polar group is not particularly limited, and different types of protic polar groups may be contained.

本発明において環状オレフィン系重合体とは、環状構造(脂環又は芳香環)と炭素−炭素二重結合とを有する環状オレフィン単量体の単独重合体又は共重合体である。環状オレフィン系重合体は環状オレフィン単量体以外の単量体単位を有していてもよい。環状オレフィン系重合体の全構造単位中、環状オレフィン単量体単位の割合は、通常、30〜100重量%、好ましくは50〜100重量%、より好ましくは70〜100重量%である。
本発明において、プロトン性極性基は、環状オレフィン単量体単位に結合していても、環状オレフィン単量体以外の単量体単位に結合していてもよいが、環状オレフィン単量体単位に結合しているのが望ましい。
本発明で使用するプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体において、プロトン性極性基を有する単量体単位とこれ以外の単量体単位との比率(プロトン性極性基を有する単量体単位/これ以外の単量体単位)は、重量比で、通常、100/0〜10/90、好ましくは90/10〜20/80、より好ましくは80/20〜30/70の範囲になるように選択される。
In the present invention, the cyclic olefin polymer is a homopolymer or copolymer of a cyclic olefin monomer having a cyclic structure (alicyclic ring or aromatic ring) and a carbon-carbon double bond. The cyclic olefin polymer may have a monomer unit other than the cyclic olefin monomer. The ratio of the cyclic olefin monomer unit in the total structural unit of the cyclic olefin polymer is usually 30 to 100% by weight, preferably 50 to 100% by weight, and more preferably 70 to 100% by weight.
In the present invention, the protic polar group may be bonded to the cyclic olefin monomer unit or may be bonded to a monomer unit other than the cyclic olefin monomer unit. It is desirable that they are combined.
In the cyclic olefin polymer having a protic polar group used in the present invention, the ratio between the monomer unit having a protic polar group and the other monomer unit (monomer unit having a protic polar group) / Monomer units other than this) are generally in the range of 100/0 to 10/90, preferably 90/10 to 20/80, more preferably 80/20 to 30/70, in weight ratio. Selected.

本発明で使用するプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体は、プロトン性極性基を有する環状オレフィン単量体(a)のみで構成されていてもよいが、通常、プロトン性極性基を有する環状オレフィン単量体(a)の他、プロトン性極性基を有する環状オレフィン単量体(a)と共重合可能な単量体として、プロトン性極性基以外の極性基を有する環状オレフィン単量体(b)、極性基を一切持たない環状オレフィン単量体(c)、及び環状オレフィン以外の単量体(d)を任意に用いて調製するのが好ましい。これらの単量体を、それぞれ、以下、単に単量体(a)〜(d)という。
本発明においては、中でも、単量体(a)と、単量体(b)及び/又は単量体(c)と、を用いるのがより好ましく、単量体(a)と単量体(b)とを用いるのが更に好ましい。
The cyclic olefin polymer having a protic polar group used in the present invention may be composed only of the cyclic olefin monomer (a) having a protic polar group, but usually has a protic polar group. In addition to the cyclic olefin monomer (a), as a monomer copolymerizable with the cyclic olefin monomer (a) having a protic polar group, the cyclic olefin monomer having a polar group other than the protic polar group It is preferable to prepare by arbitrarily using (b), a cyclic olefin monomer (c) having no polar group, and a monomer (d) other than the cyclic olefin. These monomers are hereinafter simply referred to as monomers (a) to (d), respectively.
In the present invention, it is more preferable to use the monomer (a) and the monomer (b) and / or the monomer (c), and the monomer (a) and the monomer ( More preferably, b) is used.

単量体(a)の具体例としては、5−ヒドロキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メチル−5−ヒドロキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−カルボキシメチル−5−ヒドロキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−エキソ−6−エンド−ジヒドロキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、8−ヒドロキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−ヒドロキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−エキソ−9−エンド−ジヒドロキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン等のカルボキシ基含有環状オレフィン;5−(4−ヒドロキシフェニル)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メチル−5−(4−ヒドロキシフェニル)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、8−(4−ヒドロキシフェニル)テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−(4−ヒドロキシフェニル)テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン等のヒドロキシ基含有環状オレフィン等が挙げられ、中でもカルボキシ基含有環状オレフィンが好ましい。これらのプロトン性極性基を有する環状オレフィン単量体は、それぞれ単独で用いてもよく、2種以上を組合せて用いてもよい。Specific examples of the monomer (a) include 5-hydroxycarbonylbicyclo [2.2.1] hept-2-ene and 5-methyl-5-hydroxycarbonylbicyclo [2.2.1] hept-2-ene. Ene, 5-carboxymethyl-5-hydroxycarbonylbicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 5-exo-6-endo-dihydroxycarbonylbicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 8 -Hydroxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8-hydroxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-exo-9-endo-dihydroxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . Carboxy group-containing cyclic olefins such as 17, 10 ] dodec-3-ene; 5- (4-hydroxyphenyl) bicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 5-methyl-5- (4-hydroxy Phenyl) bicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 8- (4-hydroxyphenyl) tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8- (4-hydroxyphenyl) tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . Hydroxy group-containing cyclic olefins such as 17, 10 ] dodec-3-ene, and the like, among which carboxy group-containing cyclic olefins are preferable. These cyclic olefin monomers having a protic polar group may be used alone or in combination of two or more.

プロトン性極性基以外の極性基の具体例としては、エステル基(アルコキシカルボニル基及びアリーロキシカルボニル基を総称していう。)、N−置換イミド基、エポキシ基、ハロゲン原子、シアノ基、カルボニルオキシカルボニル基(ジカルボン酸の酸無水物残基)、アルコキシ基、カルボニル基、第三級アミノ基、スルホン基、ハロゲン原子、アクリロイル基等が挙げられる。中でも、エステル基、N−置換イミド基及びシアノ基が好ましく、エステル基及びN−置換イミド基がより好ましく、N−置換イミド基が特に好ましい。
単量体(b)としては、例えば以下のような環状オレフィンが挙げられる。
Specific examples of polar groups other than protic polar groups include ester groups (referred to generically as alkoxycarbonyl groups and aryloxycarbonyl groups), N-substituted imide groups, epoxy groups, halogen atoms, cyano groups, carbonyloxycarbonyls. Group (acid anhydride residue of dicarboxylic acid), alkoxy group, carbonyl group, tertiary amino group, sulfone group, halogen atom, acryloyl group and the like. Among these, an ester group, an N-substituted imide group, and a cyano group are preferable, an ester group and an N-substituted imide group are more preferable, and an N-substituted imide group is particularly preferable.
Examples of the monomer (b) include the following cyclic olefins.

エステル基を有する環状オレフィンとしては、例えば、5−アセトキシビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メトキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メチル−5−メトキシカルボニルビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、8−アセトキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メトキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−エトキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−n−プロポキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−イソプロポキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−n−ブトキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−メトキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−エトキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−n−プロポキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−イソプロポキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−n−ブトキシカルボニルテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−(2,2,2−トリフルオロエトキシカルボニル)テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−(2,2,2−トリフルオロエトキシカルボニル)テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン等が挙げられる。Examples of the cyclic olefin having an ester group include 5-acetoxybicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 5-methoxycarbonylbicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 5-methyl- 5-methoxycarbonylbicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 8-acetoxytetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-ethoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-n-propoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-isopropoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-n-butoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8-methoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8-ethoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8-n-propoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8-isopropoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8-n-butoxycarbonyltetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8- (2,2,2-trifluoroethoxycarbonyl) tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8- (2,2,2-trifluoroethoxycarbonyl) tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene and the like.

N−置換イミド基を有する環状オレフィンとしては、例えば、N−(4−フェニル)−(5−ノルボルネン−2,3−ジカルボキシイミド)等が挙げられる。
シアノ基を有する環状オレフィンとしては、例えば、8−シアノテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−シアノテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、5−シアノビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン等が挙げられる。
ハロゲン原子を有する環状オレフィンとしては、例えば、8−クロロテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−クロロテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン等が挙げられる。
これらのプロトン性極性基以外の極性基を有する環状オレフィン単量体は、それぞれ単独で用いてもよく、2種以上を組合せて用いてもよい。
Examples of the cyclic olefin having an N-substituted imide group include N- (4-phenyl)-(5-norbornene-2,3-dicarboximide).
Examples of the cyclic olefin having a cyano group include 8-cyanotetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8-cyanotetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 5-cyanobicyclo [2.2.1] hept-2-ene, and the like.
Examples of the cyclic olefin having a halogen atom include 8-chlorotetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methyl-8-chlorotetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene and the like.
These cyclic olefin monomers having polar groups other than protic polar groups may be used alone or in combination of two or more.

単量体(c)の具体例としては、ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン(慣用名:ノルボルネン)、5−エチル−ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−ブチル−ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−エチリデン−ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メチリデン−ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、5−ビニル−ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン、トリシクロ[4.3.0.12,5]デカ−3,7−ジエン(慣用名:ジシクロペンタジエン)、テトラシクロ[8.4.0.111,14.03,7]ペンタデカ−3,5,7,12,11−ペンタエン、テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]デカ−3−エン(慣用名:テトラシクロドデセン)、8−メチル−テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−エチル−テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−メチリデン−テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−エチリデン−テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−ビニル−テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、8−プロペニル−テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、ペンタシクロ[6.5.1.13,6.02,7.09,13]ペンタデカ−3,10−ジエン、シクロペンテン、シクロペンタジエン、1,4−メタノ−1,4,4a,5,10,10a−ヘキサヒドロアントラセン、8−フェニル−テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、テトラシクロ[9.2.1.02,10.03,8]テトラデカ−3,5,7,12−テトラエン(1,4−メタノ−1,4,4a,9a−テトラヒドロ−9H−フルオレンともいう)、ペンタシクロ[7.4.0.13,6.110,13.02,7]ペンタデカ−4,11−ジエン、ペンタシクロ[9.2.1.14,7.02,10.03,8]ペンタデカ−5,12−ジエン等が挙げられる。これらの極性基を一切持たない環状オレフィン単量体は、それぞれ単独で又は2種以上を組合せて用いることができる。Specific examples of the monomer (c) include bicyclo [2.2.1] hept-2-ene (common name: norbornene), 5-ethyl-bicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 5-butyl-bicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 5-ethylidene-bicyclo [2.2.1] hept-2-ene, 5-methylidene-bicyclo [2.2.1] hept- 2-ene, 5-vinyl-bicyclo [2.2.1] hept-2-ene, tricyclo [4.3.0.1 2,5 ] deca-3,7-diene (common name: dicyclopentadiene) , tetracyclo [8.4.0.1 11,14. 0 3,7 ] pentadeca-3,5,7,12,11-pentaene, tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dec-3-ene (common name: tetracyclododecene), 8-methyl-tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-ethyl-tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-methylidene-tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-ethylidene-tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-vinyl-tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, 8-propenyl-tetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene, pentacyclo [6.5.1.1 3,6 . 0 2,7 . 0 9,13] pentadeca-3,10-diene, cyclopentene, cyclopentadiene, 1,4-methano -1,4,4a, 5,10,10a hexa hydro anthracene, 8-phenyl - tetracyclo [4.4. 0.1 2,5 . 1 7,10] dodeca-3-ene, tetracyclo [9.2.1.0 2,10. 0 3,8 ] tetradeca-3,5,7,12-tetraene (also referred to as 1,4-methano-1,4,4a, 9a-tetrahydro-9H-fluorene), pentacyclo [7.4.0.1 3 , 6 . 1 10,13 . 0 2,7] pentadeca-4,11-diene, pentacyclo [9.2.1.1 4,7. 0 2,10 . 0 3,8 ] pentadeca-5,12-diene and the like. These cyclic olefin monomers having no polar group can be used alone or in combination of two or more.

単量体(d)の代表例として鎖状オレフィンが挙げられる。鎖状オレフィンとしては、例えば、エチレン;プロピレン、1−ブテン、1−ペンテン、1−ヘキセン、3−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−ペンテン、3−エチル−1−ペンテン、4−メチル−1−ペンテン、4−メチル−1−ヘキセン、4,4−ジメチル−1−ヘキセン、4,4−ジメチル−1−ペンテン、4−エチル−1−ヘキセン、3−エチル−1−ヘキセン、1−オクテン、1−デセン、1−ドデセン、1−テトラデセン、1−ヘキサデセン、1−オクタデセン、1−エイコセン等の炭素数2〜20のα−オレフィン;1,4−ヘキサジエン、4−メチル−1,4−ヘキサジエン、5−メチル−1,4−ヘキサジエン、1,7−オクタジエン等の非共役ジエン等が挙げられる。これらの環状オレフィン以外の単量体は、それぞれ単独で又は2種以上を組合せて用いることができる。   A typical example of the monomer (d) is a chain olefin. Examples of the chain olefin include ethylene; propylene, 1-butene, 1-pentene, 1-hexene, 3-methyl-1-butene, 3-methyl-1-pentene, 3-ethyl-1-pentene, 4- Methyl-1-pentene, 4-methyl-1-hexene, 4,4-dimethyl-1-hexene, 4,4-dimethyl-1-pentene, 4-ethyl-1-hexene, 3-ethyl-1-hexene, C2-C20 α-olefins such as 1-octene, 1-decene, 1-dodecene, 1-tetradecene, 1-hexadecene, 1-octadecene, 1-eicocene; 1,4-hexadiene, 4-methyl-1 , 4-hexadiene, 5-methyl-1,4-hexadiene, non-conjugated dienes such as 1,7-octadiene, and the like. These monomers other than cyclic olefins can be used alone or in combination of two or more.

本発明で使用するプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体は、通常、単量体(a)を重合することにより得られる。得られた重合体に対し、所望により、更に水素添加してもよい。水素添加された重合体も本発明で使用する環状オレフィン系重合体に包含される。重合の際には、所望により、単量体(a)と、単量体(a)と共重合可能な単量体〔単量体(b)、(c)又は(d)〕とを共重合してもよい。   The cyclic olefin polymer having a protic polar group used in the present invention is usually obtained by polymerizing the monomer (a). If necessary, the obtained polymer may be further hydrogenated. A hydrogenated polymer is also included in the cyclic olefin polymer used in the present invention. In the polymerization, the monomer (a) and a monomer copolymerizable with the monomer (a) [monomer (b), (c) or (d)] are optionally co-polymerized. Polymerization may be performed.

また、本発明で使用するプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体は、プロトン性極性基を有しない環状オレフィン系重合体に公知の変性剤Aを利用してプロトン性極性基を導入した後、所望により水素添加を行なう方法によっても得ることができる。水素添加は、プロトン性極性基導入前の重合体について行ってもよい。
変性剤Aとしては、通常、一分子内にプロトン性極性基と反応性の炭素−炭素不飽和結合とを有する化合物が用いられる。このような化合物の具体例としては、アクリル酸、メタクリル酸、アンゲリカ酸、チグリン酸、オレイン酸、エライジン酸、エルカ酸、ブラシジン酸、マレイン酸、フマル酸、シトラコン酸、メサコン酸、イタコン酸、アトロパ酸、ケイ皮酸等の等の不飽和カルボン酸;アリルアルコール、メチルビニルメタノール、クロチルアルコール、メタリルアルコール、1−フェニルエテン−1−オール、2−プロペン−1−オール、3−ブテン−1−オール、3−ブテン−2−オール、3−メチル−3−ブテン−1−オール、3−メチル−2−ブテン−1−オール、2−メチル−3−ブテン−2−オール、2−メチル−3−ブテン−1−オール、4−ペンテン−1−オール、4−メチル−4−ぺンテン−1−オール、2−ヘキセン−1−オール等の不飽和アルコール;等が挙げられる。
変性剤Aを用いる環状オレフィン系重合体の変性反応は、常法に従えばよく、通常、ラジカル発生剤の存在下で行われる。
In addition, the cyclic olefin polymer having a protic polar group used in the present invention is obtained by introducing a protic polar group into the cyclic olefin polymer having no protic polar group using a known modifier A. If desired, it can also be obtained by a method of hydrogenation. Hydrogenation may be performed on the polymer before introduction of the protic polar group.
As the modifier A, a compound having a protic polar group and a reactive carbon-carbon unsaturated bond in one molecule is usually used. Specific examples of such compounds include acrylic acid, methacrylic acid, angelic acid, tiglic acid, oleic acid, elaidic acid, erucic acid, brassic acid, maleic acid, fumaric acid, citraconic acid, mesaconic acid, itaconic acid, atropaic acid. Unsaturated carboxylic acids such as acid and cinnamic acid; allyl alcohol, methyl vinyl methanol, crotyl alcohol, methallyl alcohol, 1-phenylethen-1-ol, 2-propen-1-ol, 3-butene- 1-ol, 3-buten-2-ol, 3-methyl-3-buten-1-ol, 3-methyl-2-buten-1-ol, 2-methyl-3-buten-2-ol, 2- Such as methyl-3-buten-1-ol, 4-penten-1-ol, 4-methyl-4-penten-1-ol, 2-hexen-1-ol, etc. It sat alcohol; and the like.
The modification reaction of the cyclic olefin polymer using the modifier A may be carried out in accordance with a conventional method, and is usually performed in the presence of a radical generator.

上記各単量体の重合方法は、常法に従えばよく、例えば、開環重合法や付加重合法が採用される。
重合触媒としては、例えば、モリブデン、ルテニウム、オスミウム等の金属錯体が好適に用いられる。これらの重合触媒は、それぞれ単独で又は2種以上を組合せて用いることができる。重合触媒の量は、重合触媒中の金属化合物:環状オレフィンのモル比で、通常、1:100〜1:2,000,000、好ましくは1:500〜1:1,000,000、より好ましくは1:1,000〜1:500,000の範囲である。
The polymerization method of each monomer may be in accordance with a conventional method, for example, a ring-opening polymerization method or an addition polymerization method is employed.
As the polymerization catalyst, for example, metal complexes such as molybdenum, ruthenium and osmium are preferably used. These polymerization catalysts can be used alone or in combination of two or more. The amount of the polymerization catalyst is usually from 1: 100 to 1: 2,000,000, preferably from 1: 500 to 1: 1,000,000, more preferably in the molar ratio of metal compound to cyclic olefin in the polymerization catalyst. Is in the range of 1: 1,000 to 1: 500,000.

各単量体を重合して得られた重合体の水素添加は、通常、水素添加触媒を用いて行われる。水素添加触媒としては、例えば、オレフィン化合物の水素添加に際して一般的に使用されているものを用いることができる。具体的には、チーグラータイプの均一系触媒、貴金属錯体触媒、担持型貴金属系触媒等が利用できる。これらの水素添加触媒のうち、官能基が変性する等の副反応が起きず、重合体中の炭素−炭素不飽和結合を選択的に水素添加できる点から、ロジウム、ルテニウム等の貴金属錯体触媒が好ましく、電子供与性の高い含窒素複素環式カルベン化合物又はホスフィン類が配位したルテニウム触媒が特に好ましい。   Hydrogenation of the polymer obtained by polymerizing each monomer is usually performed using a hydrogenation catalyst. As the hydrogenation catalyst, for example, those generally used for hydrogenation of olefin compounds can be used. Specifically, Ziegler type homogeneous catalysts, noble metal complex catalysts, supported noble metal catalysts and the like can be used. Among these hydrogenation catalysts, side reactions such as functional group modification do not occur, and noble metal complex catalysts such as rhodium and ruthenium can be used because carbon-carbon unsaturated bonds in the polymer can be selectively hydrogenated. A nitrogen-containing heterocyclic carbene compound or a ruthenium catalyst coordinated with a phosphine having a high electron donating property is particularly preferable.

本発明においてプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体としては、特に、以下に示すような、式(I)で表される構造単位を有するものが好適であり、式(I)で表される構造単位及び式(II)で表される構造単位を有するものがより好適である。式(I)で表される構造単位、及び式(II)で表される構造単位は、いずれも環状オレフィン単量体単位である。   In the present invention, as the cyclic olefin polymer having a protic polar group, those having a structural unit represented by the formula (I) as shown below are particularly preferred, and represented by the formula (I): Those having a structural unit represented by formula (II) and a structural unit represented by formula (II) are more preferred. The structural unit represented by formula (I) and the structural unit represented by formula (II) are both cyclic olefin monomer units.

Figure 0005182287
Figure 0005182287

〔式(I)中、R〜Rは、それぞれ独立して、水素原子又は−X−R’基(Xは二価の有機基であり、nは0又は1であり、R’は、置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよい芳香族基、又はプロトン性極性基である。)であり、R〜Rのうち少なくとも1つは、R’がプロトン性極性基である−X−R’基であり、mは0〜2の整数である。〕Wherein (I), R 1 ~R 4 are each independently a hydrogen atom or -X n -R 'group (X is a divalent organic group, n is 0 or 1, R' Is an alkyl group which may have a substituent, an aromatic group which may have a substituent, or a protic polar group), and at least one of R 1 to R 4 is , R ′ is a —X n —R ′ group, which is a protic polar group, and m is an integer of 0-2. ]

一般式(I)において、Xで示される二価の有機基としては、例えば、メチレン基、エチレン基及びカルボニル基等が挙げられる。置換基を有していてもよいアルキル基は、通常、直鎖又は分岐鎖の炭素数1〜7のアルキル基であり、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、及びイソプロピル基等が挙げられる。置換基を有していてもよい芳香族基は、通常、炭素数6〜10の芳香族基であり、例えば、フェニル基及びベンジル基等が挙げられる。アルキル基や芳香族基の置換基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基等の炭素数1〜4のアルキル基;フェニル基、キシリル基、トリル基、ナフチル基等の炭素数6〜12のアリール基;等が挙げられる。プロトン性極性基としては、前記したような基が挙げられる。   In the general formula (I), examples of the divalent organic group represented by X include a methylene group, an ethylene group, and a carbonyl group. The alkyl group which may have a substituent is usually a linear or branched alkyl group having 1 to 7 carbon atoms, such as a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, and an isopropyl group. Can be mentioned. The aromatic group that may have a substituent is usually an aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, and examples thereof include a phenyl group and a benzyl group. Examples of substituents for alkyl groups and aromatic groups include alkyl groups having 1 to 4 carbon atoms such as methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, and isobutyl group; phenyl group, xylyl group, And aryl groups having 6 to 12 carbon atoms such as a tolyl group and a naphthyl group. Examples of the protic polar group include the groups described above.

Figure 0005182287
Figure 0005182287

〔式(II)中、R〜Rは、任意の組み合わせで、それらが結合している2つの炭素原子と共に、環構成原子として酸素原子又は窒素原子を含む、3〜5員の複素環構造を形成し、この複素環は、置換基を有していてもよい。kは0〜2の整数である。〕[In formula (II), R < 5 > -R < 8 > is 3-5 membered heterocyclic ring which contains an oxygen atom or a nitrogen atom as a ring-constituting atom with two carbon atoms to which they are couple | bonded. Forming a structure, this heterocycle may have a substituent. k is an integer of 0-2. ]

一般式(II)において、R〜Rが、それらが結合する2つの炭素原子と一緒になって、置換基を有していてもよい、酸素原子又は窒素原子を含んで形成する3員複素環構造としては、例えば、エポキシ構造等が挙げられる。また、R〜Rが、それらが結合する2つの炭素原子と一緒になって、置換基を有していてもよい、酸素原子又は窒素原子を含んで形成する5員複素環構造としては、例えば、ジカルボン酸無水物構造〔−C(O)−O−C(O)−〕及びジカルボキシイミド構造〔−C(O)−N−C(O)−〕等が挙げられる。酸素原子や窒素原子の置換基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、及びアントラセニル基等が挙げられる。In the general formula (II), R 5 to R 8 are formed together with two carbon atoms to which they are bonded together to form an oxygen atom or a nitrogen atom which may have a substituent. Examples of the heterocyclic structure include an epoxy structure. In addition, as the 5-membered heterocyclic structure formed by including R 5 to R 8 together with two carbon atoms to which they are bonded, and optionally having a substituent, including an oxygen atom or a nitrogen atom, Examples thereof include a dicarboxylic anhydride structure [—C (O) —O—C (O) —] and a dicarboximide structure [—C (O) —N—C (O) —]. Examples of the substituent for the oxygen atom or nitrogen atom include a phenyl group, a naphthyl group, and an anthracenyl group.

本発明で使用されるプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の重量平均分子量(Mw)は、通常、1,000〜1,000,000、好ましくは1,500〜100,000、より好ましくは2,000〜10,000の範囲である。環状オレフィン系重合体の分子量分布は、重量平均分子量/数平均分子量(Mw/Mn)比で、通常、4以下、好ましくは3以下、より好ましくは2.5以下である。また、プロトン性極性基を含有する環状オレフィン系重合体のヨウ素価は、通常、200以下、好ましくは50以下、より好ましくは10以下である。ヨウ素価がこの範囲にあるときに特に耐熱性に優れ好適である。   The weight average molecular weight (Mw) of the cyclic olefin polymer having a protic polar group used in the present invention is usually 1,000 to 1,000,000, preferably 1,500 to 100,000, more preferably. Is in the range of 2,000 to 10,000. The molecular weight distribution of the cyclic olefin polymer is a weight average molecular weight / number average molecular weight (Mw / Mn) ratio, and is usually 4 or less, preferably 3 or less, more preferably 2.5 or less. Further, the iodine value of the cyclic olefin polymer containing a protic polar group is usually 200 or less, preferably 50 or less, more preferably 10 or less. When the iodine value is in this range, the heat resistance is particularly excellent and suitable.

本発明における有機保護膜は、上記のとおりのプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体からなる樹脂膜を更に架橋して形成されており、基材との密着性及び有機保護膜形成以降のプロセス適合性に優れる。   The organic protective film in the present invention is formed by further crosslinking a resin film made of a cyclic olefin-based polymer having a protic polar group as described above. Excellent process compatibility.

本発明のアクティブマトリックス基板は、例えば、特許文献1や2に記載されている公知の方法に準じて製造することができるが、(1)導電体回路が形成された基材表面上にシランカップリング剤からなる密着剤層を形成する工程、
(2)工程(1)で形成された密着剤層上にプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体を含有してなる感放射線性樹脂組成物からなる樹脂膜を形成する工程、及び
(3)工程(2)で形成された樹脂膜を架橋して有機保護膜を形成する工程、を有する方法が好適である。
The active matrix substrate of the present invention can be manufactured, for example, according to a known method described in Patent Documents 1 and 2, but (1) a silane cup on the surface of a substrate on which a conductor circuit is formed. Forming an adhesive layer comprising a ring agent;
(2) forming a resin film made of a radiation-sensitive resin composition containing a cyclic olefin polymer having a protic polar group on the adhesive layer formed in step (1); and (3 And a step of forming an organic protective film by crosslinking the resin film formed in the step (2).

(工程1)
本発明のアクティブマトリックス基板の製造方法の工程(1)においては、導電体回路が形成された基材表面上にシランカップリング剤からなる密着剤層を形成する。
密着剤層を形成するために使用されるシランカップリング剤としては、液状シランカップリング剤が好適である。液状シランカップリング剤は、シランカップリング剤の1種又は2種以上を、有機溶剤及び/又は水に溶解することにより調製することができる。液状シランカップリング剤中のシランカップリング剤の含有量は、通常、0.01〜5重量%、好ましくは0.05〜0.5重量%である。
液状シランカップリング剤の調製に用いられる有機溶剤は特に限定されないが、例えば、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール等のアルコール類;メチルイソブチルケトン、メチルエチルケトン、アセトン、シクロヘキサノン等のケトン類;ジエチルエーテル、ジメチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジオキサン、エチレングリコール、エチレングリコールモノブチルエーテル等のエーテル類;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル等のエステル類;等を挙げることができる。これらの溶媒はそれぞれ単独で又は2種以上を組合せて用いることができる。
中でも、エポキシ基を有するシランカップリング剤を有機溶剤及び/又は水、好ましくは有機溶剤、より好ましくはプロピレングリコールモノメチルエーテルとプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートとの混合物に溶解してなる液状シランカップリング剤は、本発明のアクティブマトリックス基板の密着剤層形成用組成物として非常に有用である。
プロピレングリコールモノメチルエーテルとプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートとの比率としては、重量比(プロピレングリコールモノメチルエーテル/プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート)で、99/1〜50/50が好適である。
(Process 1)
In step (1) of the method for producing an active matrix substrate of the present invention, an adhesive layer made of a silane coupling agent is formed on the surface of the base material on which the conductor circuit is formed.
As the silane coupling agent used for forming the adhesive layer, a liquid silane coupling agent is suitable. The liquid silane coupling agent can be prepared by dissolving one or more silane coupling agents in an organic solvent and / or water. The content of the silane coupling agent in the liquid silane coupling agent is usually 0.01 to 5% by weight, preferably 0.05 to 0.5% by weight.
The organic solvent used for the preparation of the liquid silane coupling agent is not particularly limited. For example, alcohols such as methanol, ethanol and isopropyl alcohol; ketones such as methyl isobutyl ketone, methyl ethyl ketone, acetone and cyclohexanone; diethyl ether, dimethyl ether, And ethers such as tetrahydrofuran, dioxane, ethylene glycol, and ethylene glycol monobutyl ether; esters such as methyl acetate, ethyl acetate, propyl acetate, and butyl acetate; These solvents can be used alone or in combination of two or more.
Among them, a liquid silane coupling agent obtained by dissolving an epoxy group-containing silane coupling agent in an organic solvent and / or water, preferably an organic solvent, more preferably a mixture of propylene glycol monomethyl ether and propylene glycol monomethyl ether acetate is The composition for forming an adhesive layer of an active matrix substrate of the present invention is very useful.
The ratio of propylene glycol monomethyl ether to propylene glycol monomethyl ether acetate is preferably 99/1 to 50/50 by weight ratio (propylene glycol monomethyl ether / propylene glycol monomethyl ether acetate).

導電体回路が形成された基材表面上にシランカップリング剤からなる密着剤層を形成する方法に特に制限はないが、液状シランカップリング剤を用い、導電体回路が形成された基材表面上に液状シランカップリング剤を塗布若しくは印刷するか、又は基材を液状シランカップリング剤中に浸漬して引き上げ、次いで、加熱乾燥することにより密着剤層を形成するのが効率的で好ましい。   There is no particular limitation on the method for forming an adhesive layer made of a silane coupling agent on the substrate surface on which the conductor circuit is formed, but the substrate surface on which the conductor circuit is formed using a liquid silane coupling agent It is efficient and preferable to apply or print a liquid silane coupling agent on top of it, or to immerse the substrate in the liquid silane coupling agent and pull it up, and then heat and dry to form the adhesive layer.

導電体回路が形成された基材表面上に液状シランカップリング剤を塗布する方法としては、例えば、後述する有機保護膜の形成に使用される塗布法が挙げられる。   Examples of a method for applying the liquid silane coupling agent on the surface of the substrate on which the conductor circuit is formed include an application method used for forming an organic protective film described later.

導電体回路が形成された基材表面上に液状シランカップリング剤を印刷する方法としては、例えば、以下のようなスクリーン印刷機を用いるスクリーン印刷法が挙げられる。即ち、導電体回路が形成された基材の表面を所定パターンの開口部を有するマスクで覆い、スクリーン印刷機に設置したスキージ部に液状シランカップリング剤を投入する。次いで、スキージを移動させて液状シランカップリング剤を加圧しながらマスク上を移動させることにより、マスキング部材の開口部に液状シランカップリング剤を充填する(充填工程)。次に、マスクを取り外す。こうして、基材の表面に液状シランカップリング剤のパターンを形成させる。これにより、基材の表面上に部分的にシランカップリング剤からなる薄膜が形成される。   Examples of the method for printing the liquid silane coupling agent on the surface of the substrate on which the conductor circuit is formed include a screen printing method using a screen printer as described below. That is, the surface of the base material on which the conductor circuit is formed is covered with a mask having a predetermined pattern of openings, and a liquid silane coupling agent is put into a squeegee portion installed in a screen printer. Next, the liquid silane coupling agent is filled in the opening of the masking member by moving the squeegee and moving the mask over the mask while applying pressure to the liquid silane coupling agent (filling step). Next, the mask is removed. Thus, a liquid silane coupling agent pattern is formed on the surface of the substrate. Thereby, the thin film which consists of a silane coupling agent partially on the surface of a base material is formed.

液状シランカップリング剤に導電体回路が形成された基材を浸漬し引き上げる方法としては、例えば、10〜50℃の液状シランカップリング剤に1〜60分間程度、基材を浸漬し、引き上げる方法が挙げられる。   As a method of immersing and pulling up a substrate on which a conductor circuit is formed in a liquid silane coupling agent, for example, a method of immersing and pulling up a substrate in a liquid silane coupling agent at 10 to 50 ° C. for about 1 to 60 minutes Is mentioned.

以上の方法により、基材表面上の全部又は一部に液状シランカップリング剤の薄膜が形成される。次いで、所望により、窒素等の不活性ガス気流中で乾燥した後、更に同気流中で、50〜150℃で1〜30分間程度加熱乾燥して密着剤層を形成する。所望により、更に200〜350℃の高温で硬化(ポストキュア)してもよい。   By the above method, a thin film of a liquid silane coupling agent is formed on all or part of the substrate surface. Then, if desired, after drying in an inert gas stream such as nitrogen, the adhesive layer is further formed by heating and drying at 50 to 150 ° C. for about 1 to 30 minutes in the same stream. If desired, it may be further cured (post-cured) at a high temperature of 200 to 350 ° C.

本発明のアクティブマトリックス基板の製造方法においては、導電体回路が形成された基材表面上に密着剤層形成後、密着剤層が形成された基材(以下、「密着剤層形成基材」という。)の表面を、シリル化剤と接触させてシリル化する工程〔工程(1’)〕を適宜付加してもよい。
密着剤層形成基材をシリル化するために使用されるシリル化剤としては、例えば、ヘキサメチルジシラザン、ジメチルジクロロシラン、トリメチルクロロシラン、N−トリメチルシリルアセトアミド、N,O−ビス(トリメチルシリル)アセトアミド、N−メチル−N−トリメチルシリルアセトアミド、N−メチル−N−トリメチルシリルトリフルオロアセトアミド、N−トリメチルシリルジメチルアミン、N−トリメチルシリルジエチルアミン、N,O−ビス(トリメチルシリル)トリフルオロアセトアミド、N−トリメチルシリルイミダゾール、テトラメチルジシラザン、t−ブチルジメチルクロロシラン、N−メチル−N−(t−ブチルジメチルシリル)トリフルオロアセトアミド、ジクロロメチルテトラメチルジシラザン、クロロメチルジメチルクロロシラン、ブロモメチルジメチルクロロシラン、オクタデシルトリクロロシラン、N,N’−ビス(トリメチルシリル)尿素、N−トリメチルシリル−N,N’−ジフェニル尿素、N,O−ビス(トリメチルシリル)カーバメート、N,O−ビス(トリメチルシリル)サルファメート、トリメチルシリルトリフルオロメタンスルホン酸等を挙げることができる。中でも、本発明のアクティブマトリックス基板への水分の浸入防止効果、及び界面の密着性向上効果に優れることから、特にヘキサメチルジシラザンを好適に用いることができる。これらのシリル化剤は、それぞれ単独で又は2種以上を混合して用いることができる。
In the method for producing an active matrix substrate of the present invention, a base material on which an adhesive layer is formed after forming an adhesive layer on the surface of the base material on which the conductor circuit is formed (hereinafter referred to as “adhesive layer forming base material”). The step of contacting the surface of silylation with a silylating agent [step (1 ′)] may be added as appropriate.
Examples of the silylating agent used for silylating the adhesive layer-forming substrate include hexamethyldisilazane, dimethyldichlorosilane, trimethylchlorosilane, N-trimethylsilylacetamide, N, O-bis (trimethylsilyl) acetamide, N-methyl-N-trimethylsilylacetamide, N-methyl-N-trimethylsilyltrifluoroacetamide, N-trimethylsilyldimethylamine, N-trimethylsilyldiethylamine, N, O-bis (trimethylsilyl) trifluoroacetamide, N-trimethylsilylimidazole, tetramethyl Disilazane, t-butyldimethylchlorosilane, N-methyl-N- (t-butyldimethylsilyl) trifluoroacetamide, dichloromethyltetramethyldisilazane, chlorome Didimethylchlorosilane, bromomethyldimethylchlorosilane, octadecyltrichlorosilane, N, N′-bis (trimethylsilyl) urea, N-trimethylsilyl-N, N′-diphenylurea, N, O-bis (trimethylsilyl) carbamate, N, O— Bis (trimethylsilyl) sulfamate, trimethylsilyltrifluoromethanesulfonic acid and the like can be mentioned. Among these, hexamethyldisilazane can be particularly preferably used because it is excellent in the effect of preventing moisture from entering the active matrix substrate of the present invention and the effect of improving the adhesion at the interface. These silylating agents can be used alone or in admixture of two or more.

密着剤層形成基材表面をシリル化剤と接触させてシリル化する方法に特に制限はない。例えば、ホットプレートを備えたシリル化処理室に密着剤層形成基材をホットプレートから離して搬入し、処理室内を減圧にしてシリル化剤の蒸気を導入し、ホットプレートを加熱して基材をホットプレートに近づけ、50℃以下でシリル化剤の蒸気を均一に拡散させて、シリル化剤の蒸気の導入と排気を停止し、基材をホットプレートに接触させて80〜90℃の温度でシリル化反応を行なったのち、シリル化剤の蒸気を窒素により置換してシリル化反応を停止させる方法が挙げられる。シリル化は、密着剤層形成基材表面とシリル化剤の蒸気との接触が行われている間に進行する。その場合、シリル化剤の濃度は、0.1〜5体積%が好ましい。上記方法によれば、密着剤層形成基材表面の全部がシリル化され得る。接触は、通常、1分間以上行なえばよい。   There is no restriction | limiting in particular in the method of making an adhesion agent layer formation base-material surface contact with a silylating agent, and silylating. For example, the adhesive layer forming base material is carried away from the hot plate into the silylation processing chamber equipped with a hot plate, the silylating agent vapor is introduced under reduced pressure in the processing chamber, and the hot plate is heated to form the base material. The silylating agent vapor is uniformly diffused at 50 ° C. or less, the introduction and exhaustion of the silylating agent vapor is stopped, and the substrate is brought into contact with the hot plate at a temperature of 80 to 90 ° C. And a method of stopping the silylation reaction by substituting the vapor of the silylating agent with nitrogen. Silylation proceeds while contact is made between the surface of the base material for forming the adhesive layer and the vapor of the silylating agent. In that case, the concentration of the silylating agent is preferably 0.1 to 5% by volume. According to the said method, the whole adhesive agent layer formation base-material surface can be silylated. The contact may usually be performed for 1 minute or longer.

(工程2)
次いで、工程(1)において形成された密着剤層上にプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体を含む感放射線性樹脂組成物を用いて樹脂膜を形成する。
(Process 2)
Next, a resin film is formed using a radiation sensitive resin composition containing a cyclic olefin polymer having a protic polar group on the adhesive layer formed in the step (1).

感放射線性樹脂組成物としては、特に限定されるものではないが、通常、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の他、更に、架橋剤、感放射線化合物及び溶剤を含有してなるものが好適に用いられる。
プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の好ましい例としては、式(I)で表される構造単位及び式(II)で表される構造単位を有する環状オレフィン系重合体が挙げられる。架橋剤の好ましい例としては、エポキシ基を2つ以上、より好ましくは3つ以上有する、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ポリフェノール型エポキシ樹脂、環状脂肪族エポキシ樹脂、脂肪族グリシジルエーテル、エポキシアクリレート重合体等の多官能エポキシ化合物が挙げられる。
感放射線化合物(紫外線や電子線等の放射線の照射により、化学反応を引き起こすことができる化合物)の好ましい例としては、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロライド、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸クロライド、1,2−ベンゾキノンジアジド−5−スルホン酸クロライド等のキノンジアジドスルホン酸ハライドと、1,1,3−トリス(2,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)−3−フェニルプロパン、4,4’−[1−[4−[1−[4−ヒドロキシフェニル]−1−メチルエチル]フェニル]エチリデン]ビスフェノール等のフェノール性水酸基を有する化合物とのエステル化合物等の光酸発生剤が挙げられる。
本発明において、感放射線性樹脂組成物には、公知の感放射線性樹脂組成物に慣用されるその他の成分の他、無機微粒子として、例えば、コロイダルシリカが含まれていてもよい。また、溶剤としては、例えば、モノアルキレングリコール溶媒;ポリアルキレングリコール溶媒;モノアルキレングリコールアルキルエステル溶媒;ポリアルキレングリコールアルキルエステル溶媒;モノアルキレングリコールジエステル溶媒;ポリアルキレングリコールジエステル溶媒;等が挙げられる。
本発明で使用する感放射線性樹脂組成物は、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体100重量部に対し、架橋剤を、通常、1〜200重量部、感放射線化合物を、通常、5〜50重量部含有する。
Although it does not specifically limit as a radiation sensitive resin composition, Usually, what contains a crosslinking agent, a radiation sensitive compound, and a solvent other than the cyclic olefin polymer which has a protic polar group normally Are preferably used.
Preferable examples of the cyclic olefin polymer having a protic polar group include a cyclic olefin polymer having a structural unit represented by the formula (I) and a structural unit represented by the formula (II). Preferred examples of the crosslinking agent include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, polyphenol type epoxy having two or more, more preferably three or more epoxy groups. Examples thereof include polyfunctional epoxy compounds such as resins, cycloaliphatic epoxy resins, aliphatic glycidyl ethers, and epoxy acrylate polymers.
Preferred examples of radiation sensitive compounds (compounds that can cause a chemical reaction upon irradiation with radiation such as ultraviolet rays and electron beams) include 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonic acid chloride, 1,2-naphthoquinonediazide- Quinonediazidesulfonic acid halides such as 4-sulfonic acid chloride and 1,2-benzoquinonediazide-5-sulfonic acid chloride, and 1,1,3-tris (2,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) -3-phenylpropane , 4,4 ′-[1- [4- [1- [4-Hydroxyphenyl] -1-methylethyl] phenyl] ethylidene] bisphenol and other photoacid generators such as ester compounds with compounds having a phenolic hydroxyl group Is mentioned.
In the present invention, the radiation-sensitive resin composition may contain, for example, colloidal silica as inorganic fine particles in addition to other components commonly used in known radiation-sensitive resin compositions. Examples of the solvent include a monoalkylene glycol solvent; a polyalkylene glycol solvent; a monoalkylene glycol alkyl ester solvent; a polyalkylene glycol alkyl ester solvent; a monoalkylene glycol diester solvent; a polyalkylene glycol diester solvent;
The radiation-sensitive resin composition used in the present invention is usually 1 to 200 parts by weight of a crosslinking agent and usually 5 to 5 parts of a radiation-sensitive compound with respect to 100 parts by weight of a cyclic olefin polymer having a protic polar group. Contains ~ 50 parts by weight.

ここまで、例として感放射線性樹脂組成物としてポジ型を例に挙げて説明したが、感放射線性樹脂組成物はネガ型であってもよい。感放射線性樹脂組成物は公知の方法に従って製造することができる。なお、感放射線性樹脂組成物の固形分濃度は、必要な有機保護膜の厚さや塗布方法等を考慮して適宜選定することができるが、5〜40重量%であるのが好ましい。
調製された感放射線性樹脂組成物は、通常、孔径0.1〜5μmのフィルター等を用いて異物等を除去したのち、塗布するのが好ましい。
So far, as an example, a positive type was described as an example of the radiation sensitive resin composition, but the radiation sensitive resin composition may be a negative type. The radiation sensitive resin composition can be produced according to a known method. The solid content concentration of the radiation-sensitive resin composition can be appropriately selected in consideration of the necessary thickness of the organic protective film, the coating method, etc., but is preferably 5 to 40% by weight.
The prepared radiation-sensitive resin composition is usually preferably applied after removing foreign substances using a filter having a pore size of 0.1 to 5 μm.

溶液状態の感放射線性樹脂組成物を用いると、樹脂膜の形成操作が簡便であり、製造効率に優れる。それゆえ、工程(2)は、通常、湿式法により行われる。湿式法とは、樹脂膜を構成する有機高分子及び所望により配合する他の成分を溶媒に溶かして溶液を得、この溶液を流延させて溶媒を除去し成膜して樹脂膜を形成する方法である。具体的な方法としては、例えば、塗布法やフィルム積層法等が挙げられる。   When a radiation-sensitive resin composition in a solution state is used, the resin film forming operation is simple and the production efficiency is excellent. Therefore, step (2) is usually performed by a wet method. In the wet method, a solution is obtained by dissolving an organic polymer constituting a resin film and other components to be blended as required in a solvent, and the solution is cast to remove the solvent to form a resin film. Is the method. Specific examples of the method include a coating method and a film lamination method.

塗布法は、感放射線性樹脂組成物を導電体回路が形成された基材表面上の密着剤層の上に塗布したのち、加熱乾燥して溶媒を除去する方法である。感放射線性樹脂組成物を密着剤層上に塗布する方法としては、例えば、スプレー法、スピンコート法、ロールコート法、ダイコート法、ドクターブレード法、回転塗布法、バー塗布法、スクリーン印刷法等を挙げることができる。加熱乾燥温度は、各成分の種類や配合割合に応じて適宜選択することができるが、通常、30〜150℃である。加熱乾燥時間は、各成分の種類や配合割合に応じて適宜選択することができるが、通常、0.5〜90分間である。
また、フィルム積層法は、感放射線性樹脂組成物を、樹脂フィルムや金属フィルム等のBステージフィルム形成用基材上に塗布した後に加熱乾燥により溶媒を除去してBステージフィルムを得、次いで、このBステージフィルムを密着剤層上に積層する方法である。加熱乾燥条件は、各成分の種類や配合割合に応じて適宜選択することができるが、加熱温度は、通常、30〜150℃であり、加熱時間は、通常、0.5〜90分間である。フィルム積層は、加圧ラミネータ、プレス、真空ラミネータ、真空プレス、ロールラミネータ等の圧着機を用いて行なうことができる。
The coating method is a method in which the radiation-sensitive resin composition is coated on the adhesive layer on the surface of the substrate on which the conductor circuit is formed, and then dried by heating to remove the solvent. Examples of the method for applying the radiation-sensitive resin composition on the adhesive layer include a spray method, a spin coating method, a roll coating method, a die coating method, a doctor blade method, a spin coating method, a bar coating method, and a screen printing method. Can be mentioned. The heating and drying temperature can be appropriately selected according to the type and blending ratio of each component, but is usually 30 to 150 ° C. The heating and drying time can be appropriately selected according to the type and mixing ratio of each component, but is usually 0.5 to 90 minutes.
In addition, the film laminating method applies a radiation-sensitive resin composition onto a B-stage film-forming substrate such as a resin film or a metal film, and then removes the solvent by heat drying to obtain a B-stage film. In this method, the B-stage film is laminated on the adhesive layer. The heating and drying conditions can be appropriately selected according to the type and mixing ratio of each component, but the heating temperature is usually 30 to 150 ° C., and the heating time is usually 0.5 to 90 minutes. . Film lamination can be performed using a pressure laminator, a press, a vacuum laminator, a vacuum press, a roll laminator or the like.

このようにして、感放射線性樹脂組成物からなる樹脂膜が、密着剤層上に形成される。通常、この樹脂膜に活性放射線を照射して樹脂膜中に潜像パターンを形成し、次いで現像液を接触させることにより潜像パターンを顕在化させて、パターン化する。このような操作により、コンタクトホールとなるホールパターンを容易に形成することができる。   In this way, a resin film made of the radiation sensitive resin composition is formed on the adhesive layer. Usually, the resin film is irradiated with actinic radiation to form a latent image pattern in the resin film, and then the latent image pattern is exposed and patterned by bringing a developer into contact therewith. By such an operation, a hole pattern to be a contact hole can be easily formed.

活性放射線は、感放射線化合物を活性化させ、感放射線性樹脂組成物のアルカリ可溶性を変化させることができるものであれば特に限定されず、例えば、紫外線、g線やi線等の単一波長の紫外線、KrFエキシマレーザー光、ArFエキシマレーザー光等の光線;電子線等の粒子線;等を挙げることができる。これらの活性放射線を選択的にパターン状に照射して潜像パターンを形成する方法としては、例えば、縮小投影露光装置等により、紫外線、g線、i線、KrFエキシマレーザー光、ArFエキシマレーザー光等の光線を、マスクパターンを介して照射する方法、電子線等の粒子線により描画する方法等を挙げることができる。活性放射線を照射したのち、所望により、有機保護膜を60〜130℃で、1〜2分間加熱処理してもよい。   The actinic radiation is not particularly limited as long as it activates the radiation-sensitive compound and can change the alkali solubility of the radiation-sensitive resin composition. For example, the active radiation has a single wavelength such as ultraviolet ray, g-line or i-line. UV rays, KrF excimer laser light, ArF excimer laser light, etc .; particle beams such as electron beams; As a method of selectively irradiating these actinic radiations in a pattern to form a latent image pattern, for example, using a reduction projection exposure apparatus or the like, ultraviolet rays, g-line, i-line, KrF excimer laser light, ArF excimer laser light For example, a method of irradiating a light beam such as through a mask pattern, a method of drawing with a particle beam such as an electron beam, and the like. After irradiation with actinic radiation, the organic protective film may be heat-treated at 60 to 130 ° C. for 1 to 2 minutes, if desired.

活性放射線照射により形成された潜像パターンを現像して顕在化させるための現像液としては、アルカリ性化合物の水性溶液を用いることができる。アルカリ性化合物としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等の無機化合物;テトラメチルアンモニウムヒドロキシドやテトラエチルアンモニウムヒドロキシド等の有機化合物;のいずれをも用いることができる。アルカリ水性溶液の水性媒体としては、水及びメタノール、エタノール等の水溶性有機溶媒を使用することができる。アルカリ水性溶液は、界面活性剤等を適当量添加したものであってもよい。   An aqueous solution of an alkaline compound can be used as a developer for developing and exposing the latent image pattern formed by actinic radiation. As the alkaline compound, any of inorganic compounds such as sodium hydroxide and potassium hydroxide; organic compounds such as tetramethylammonium hydroxide and tetraethylammonium hydroxide can be used. As an aqueous medium of the alkaline aqueous solution, water and a water-soluble organic solvent such as methanol and ethanol can be used. The alkaline aqueous solution may have a surfactant added in an appropriate amount.

潜像パターンを有する樹脂膜に現像液を接触させる方法としては、例えば、パドル法、スプレー法、ディッピング法等を挙げることができる。現像温度は、通常、5〜55℃であり、現像時間は、通常、30〜180秒間である。
このようにしてパターン化された樹脂膜を形成したのち、所望により、基材上、基材裏面及び基材端部の現像残渣を除去するために、基材を超純水等のリンス液を用いてリンスしてもよい。
更に、所望により、感放射線化合物を失活させるために、パターン化樹脂膜を有する基材全面に活性放射線を照射したり、それと同時に又は照射後、樹脂膜を加熱したりしてもよい。加熱方法としては、例えば、基材をホットプレートやオーブン内で加熱する方法が挙げられる。加熱温度は、通常、100〜300℃である。
Examples of the method for bringing the developer into contact with the resin film having the latent image pattern include a paddle method, a spray method, and a dipping method. The development temperature is usually 5 to 55 ° C., and the development time is usually 30 to 180 seconds.
After forming the patterned resin film in this way, if necessary, the substrate is rinsed with a rinsing liquid such as ultrapure water in order to remove development residues on the substrate, the back surface of the substrate, and the edge of the substrate. May be used for rinsing.
Furthermore, if desired, in order to deactivate the radiation-sensitive compound, the entire surface of the substrate having the patterned resin film may be irradiated with active radiation, or the resin film may be heated at the same time or after irradiation. Examples of the heating method include a method of heating the substrate in a hot plate or an oven. The heating temperature is usually 100 to 300 ° C.

(工程3)
工程(3)では、工程(2)で形成された、感放射線性樹脂組成物からなる樹脂膜樹脂膜を架橋して、有機保護膜を形成する。
基材上に形成された樹脂膜を架橋する方法は、使用した架橋剤の種類に応じて適宜選択することができるが、通常は加熱により行なう。加熱は、例えば、ホットプレート、オーブン等を用いて行なうことができる。加熱温度は、通常は180〜250℃であるのが好ましく、加熱時間は、樹脂膜の大きさ、厚さ、使用機器等に応じて適宜選択することができる。例えば、ホットプレートを用いる場合は、通常は5〜60分間、オーブンを用いる場合は、通常は30〜90分間であるのが好ましい。
加熱は、所望により、窒素、アルゴン、ヘリウム、ネオン、キセノン、クリプトン等の不活性ガス雰囲気下で行なうことができる。
以上により、導電体回路が形成された基材表面上のシランカップリング剤からなる密着剤層の上に、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の架橋体からなる有機保護膜が積層されることになる。
(Process 3)
In step (3), the resin film formed from the radiation-sensitive resin composition formed in step (2) is crosslinked to form an organic protective film.
The method of crosslinking the resin film formed on the substrate can be appropriately selected according to the type of the crosslinking agent used, but is usually performed by heating. Heating can be performed using, for example, a hot plate or an oven. The heating temperature is usually preferably 180 to 250 ° C., and the heating time can be appropriately selected according to the size, thickness, equipment used, etc. of the resin film. For example, when a hot plate is used, it is usually preferably 5 to 60 minutes, and when an oven is used, it is usually preferably 30 to 90 minutes.
If desired, heating can be performed in an inert gas atmosphere such as nitrogen, argon, helium, neon, xenon, krypton, or the like.
As described above, an organic protective film made of a crosslinked product of a cyclic olefin polymer having a protic polar group is laminated on the adhesive layer made of a silane coupling agent on the surface of the substrate on which the conductor circuit is formed. Will be.

有機保護膜にコンタクトホールとなるホールパターンが形成されておれば、有機保護膜の上に、例えば、スパッタリング法によりITO(Indium Tin Oxide)からなる画素電極を形成してパターニングし、有機保護膜のコンタクトホールを介してTFTのドレイン電極と画素電極とを接続する。このとき、画素電極を構成するITOにより電極パターンを同時に形成する。その後、配向膜を形成してラビング処理等の配向処理を施すことにより所望のアクティブマトリックス基板が得られる。   If a hole pattern to be a contact hole is formed in the organic protective film, a pixel electrode made of ITO (Indium Tin Oxide) is formed on the organic protective film by sputtering, for example, and patterned. The drain electrode of the TFT and the pixel electrode are connected through the contact hole. At this time, an electrode pattern is simultaneously formed by ITO constituting the pixel electrode. Thereafter, an alignment film is formed and an alignment process such as a rubbing process is performed to obtain a desired active matrix substrate.

本発明の平面表示装置は、本発明のアクティブマトリックス基板を備えてなる。本発明の平面表示装置は、長寿命、低消費電力で高コントラストの優れた平面表示装置である。 平面表示装置の具体例としては、アクティブマトリックス型液晶表示装置、アクティブマトリックス型有機エレクトロルミネッセンス(EL)表示装置等が挙げられる。   The flat display device of the present invention comprises the active matrix substrate of the present invention. The flat display device of the present invention is a flat display device with long life, low power consumption, and high contrast. Specific examples of the flat display device include an active matrix liquid crystal display device and an active matrix organic electroluminescence (EL) display device.

アクティブマトリックス型液晶表示装置は、液晶材料やフィルム状液晶等を間に挟んで対向配設された一対の基板からなるものであって、一対の基板のうちの一方の基板が本発明のアクティブマトリックス基板で構成された平面表示装置である。アクティブマトリックス基板に対して対向配設される基板(以下、「対向基板」という。)としては、例えば、カラーフィルタ基板、マイクロレンズ基板等が挙げられる。   An active matrix type liquid crystal display device is composed of a pair of substrates disposed opposite to each other with a liquid crystal material, a film-like liquid crystal or the like sandwiched therebetween, and one of the pair of substrates is the active matrix of the present invention. This is a flat display device composed of a substrate. Examples of the substrate disposed opposite to the active matrix substrate (hereinafter referred to as “counter substrate”) include a color filter substrate, a microlens substrate, and the like.

また、アクティブマトリックス基板とカラーフィルタ基板とで構成される液晶表示装置の変形例としては、アクティブマトリックス基板における画素電極上に、カラーフィルタ材料層を直接設け、対向基板にカラーフィルタを設けない態様の液晶表示装置や、導電性を有するカラーフィルタ材料により、アクティブマトリックス基板の画素電極を形成し、対向基板にカラーフィルタを設けない態様の液晶表示装置等が挙げられる。   Further, as a modification of the liquid crystal display device composed of an active matrix substrate and a color filter substrate, a mode in which a color filter material layer is directly provided on a pixel electrode in an active matrix substrate and a color filter is not provided on a counter substrate. Examples include a liquid crystal display device and a liquid crystal display device in which a pixel electrode of an active matrix substrate is formed using a conductive color filter material and a color filter is not provided on a counter substrate.

図2に、本発明のアクティブマトリックス基板を用いて作製され得るアクティブマトリックス型液晶表示装置の一態様の平面図を、図3に、そのX−Y線断面図を示す。本態様においては、画素電極202を備えたアクティブマトリックス基板101と、対向電極206を備えたカラーフィルタ基板102とが、液晶層110を挟んで対向配設され、各画素電極202と対向電極206との対向部分が画素となっている。画素からなる表示領域の外周にはシール材103が設けられ、表示領域とシール材103の間の領域に電極パターン105が存在している。なお、カラーフィルタ基板102には、ブラックマトリックス208を有するカラーフィルタ層207上に対向電極206が設けられ、その上に配向膜111が設けられている。アクティブマトリックス基板101には、基板上、スイッチング素子としてのTFT201を駆動するゲート信号を供給するゲート信号線203及びTFT201にソース信号を供給するソース信号線204が互いに直交して設けられている。両信号線の交差部近傍にTFT201が設けら、その上に有機保護膜104を介して、両信号線と一部重なるように画素電極202が設けられている。なお、有機保護膜104のコンタクトホール(図示せず)において、画素電極202とTFT201のドレイン電極が接続されている。また、有機保護膜104の上には配向膜111が対向配設されている。
一方、ゲート信号線203とソース信号線204は、額縁領域を超えて延出形成されており、その外側の端子領域に設けられた入力端子108を介して、ゲート信号線203にTFT201駆動用の信号電圧が入力され、ソース信号線204に表示データの信号電圧が入力され得る。電極パターン105が、有機保護膜104の外周領域上に形成され、更に端子領域まで延長形成されており、駆動回路からの信号が入力される。以上の液晶表示装置は公知の方法、例えば、特開2003−005215号公報に記載の方法に従って製造することができる。
FIG. 2 is a plan view of an embodiment of an active matrix liquid crystal display device that can be manufactured using the active matrix substrate of the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line XY. In this embodiment, the active matrix substrate 101 including the pixel electrode 202 and the color filter substrate 102 including the counter electrode 206 are disposed to face each other with the liquid crystal layer 110 interposed therebetween. The opposite portion is a pixel. A sealing material 103 is provided on the outer periphery of the display area composed of pixels, and an electrode pattern 105 exists in an area between the display area and the sealing material 103. In the color filter substrate 102, a counter electrode 206 is provided on a color filter layer 207 having a black matrix 208, and an alignment film 111 is provided thereon. On the substrate, the active matrix substrate 101 is provided with a gate signal line 203 for supplying a gate signal for driving the TFT 201 as a switching element and a source signal line 204 for supplying a source signal to the TFT 201 orthogonal to each other. A TFT 201 is provided in the vicinity of the intersection of both signal lines, and a pixel electrode 202 is provided thereon so as to partially overlap both signal lines via the organic protective film 104. Note that the pixel electrode 202 and the drain electrode of the TFT 201 are connected in a contact hole (not shown) of the organic protective film 104. An alignment film 111 is disposed on the organic protective film 104 so as to face the organic protective film 104.
On the other hand, the gate signal line 203 and the source signal line 204 are formed so as to extend beyond the frame region, and the gate signal line 203 is connected to the gate signal line 203 for driving the TFT 201 via the input terminal 108 provided in the outer terminal region. A signal voltage is input, and a signal voltage of display data can be input to the source signal line 204. The electrode pattern 105 is formed on the outer peripheral region of the organic protective film 104 and further extended to the terminal region, and a signal from the drive circuit is input. The above liquid crystal display device can be manufactured according to a known method, for example, a method described in JP-A-2003-005215.

アクティブマトリックス型有機EL表示装置は、本発明のアクティブマトリックス基板上、マトリクス配列して形成された各画素が、少なくとも1つの有機EL素子と、この有機EL素子を駆動するための少なくとも2つのTFTとを有するものである。
有機EL素子は、特に制限されず、例えば、陽極となる正孔注入電極と陰極となる電子注入電極との間に正孔輸送層と発光材料層とが形成された構造(SH−A構造)のもの、正孔注入電極と電子注入電極との間に発光材料層と電子輸送層とが形成された構造(SH−B構造)のもの、又は正孔注入電極と電子注入電極との間に、正孔輸送層と発光材料層と電子輸送層とが形成された構造(DH構造)のもの等が挙げられる。いずれの構造の場合でも、有機EL素子は正孔注入電極(陽極)から注入された正孔と電子注入電極(陰極)から注入された電子が、発光材料層と正孔(又は電子)輸送層の界面、及び発光材料層内で再結合して発光するという原理で作動する。
In the active matrix organic EL display device, each pixel formed in a matrix arrangement on the active matrix substrate of the present invention includes at least one organic EL element and at least two TFTs for driving the organic EL element. It is what has.
The organic EL element is not particularly limited. For example, a structure in which a hole transport layer and a light emitting material layer are formed between a hole injection electrode serving as an anode and an electron injection electrode serving as a cathode (SH-A structure). A structure in which a light emitting material layer and an electron transport layer are formed between a hole injection electrode and an electron injection electrode (SH-B structure), or between a hole injection electrode and an electron injection electrode And those having a structure (DH structure) in which a hole transport layer, a light emitting material layer, and an electron transport layer are formed. Regardless of the structure, the organic EL element has a light emitting material layer and a hole (or electron) transport layer in which holes injected from a hole injection electrode (anode) and electrons injected from an electron injection electrode (cathode) are used. It operates on the principle that light is emitted by recombination within the interface and the light emitting material layer.

図4に、本発明の有機EL表示装置における有機EL素子の典型的な構成例を示す。図4に示す有機EL素子は、アクティブマトリックス基板〔下部電極層(陽極)として画素電極を含む〕301、発光材料層302、及び上部電極層(陰極)303から構成されている。また、最外層として封止膜304が設けられている。有機EL表示装置の一画素分の構成としては、通常、少なくとも1つの有機EL素子に対し、EL素子を駆動するためのTFTとして少なくとも2つ、即ち、駆動トランジスタと書き込みトランジスタが必要であるが、図4の構成例では両トランジスタは省略してある。それらのトランジスタは、本発明のアクティブマトリックス基板に存在する。   FIG. 4 shows a typical configuration example of the organic EL element in the organic EL display device of the present invention. The organic EL element shown in FIG. 4 includes an active matrix substrate (including a pixel electrode as a lower electrode layer (anode)) 301, a light emitting material layer 302, and an upper electrode layer (cathode) 303. A sealing film 304 is provided as the outermost layer. As a configuration for one pixel of the organic EL display device, normally, at least two TFTs for driving the EL element are required for at least one organic EL element, that is, a driving transistor and a writing transistor. In the configuration example of FIG. 4, both transistors are omitted. These transistors are present in the active matrix substrate of the present invention.

本発明のアクティブマトリックス基板では、陽極としての画素電極とTFTのドレイン電極とが接続されている。図5に、本発明のアクティブマトリックス基板上の回路の一例を示すが、この回路において、水平駆動回路に接続された走査電極401に順次印加された電圧によりTFT402(書き込みトランジスタ)がオン状態になり、垂直駆動回路に接続されたデータ電極403からの表示信号に応じた電荷量がコンデンサ404に蓄積される。コンデンサ404に蓄積された電荷量によりTFT405(駆動トランジスタ)が動作し、有機EL素子406に電流が供給され有機EL素子が点灯する。走査電極401に電圧が印加されるまでの間この点灯状態が保持されることになる。以上の有機EL表示装置は公知の方法、例えば、特開2002―333846号公報に記載の方法に従って製造することができる。   In the active matrix substrate of the present invention, the pixel electrode as the anode and the drain electrode of the TFT are connected. FIG. 5 shows an example of a circuit on the active matrix substrate of the present invention. In this circuit, the TFT 402 (write transistor) is turned on by a voltage sequentially applied to the scan electrode 401 connected to the horizontal drive circuit. The amount of charge corresponding to the display signal from the data electrode 403 connected to the vertical drive circuit is accumulated in the capacitor 404. The TFT 405 (driving transistor) operates according to the amount of electric charge accumulated in the capacitor 404, current is supplied to the organic EL element 406, and the organic EL element is turned on. This lighting state is maintained until a voltage is applied to the scan electrode 401. The above organic EL display device can be manufactured according to a known method, for example, a method described in JP-A-2002-333846.

以下に、実施例を挙げて本発明を更に詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例によりなんら限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

〔製造例1〕(プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の製造)
8−カルボキシテトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン60重量部、N−フェニル−(5−ノルボルネン−2,3−ジカルボキシイミド)40重量部、1,5−ヘキサジエン2.8重量部、(1,3−ジメシチルイミダゾリジン−2−イリデン)(トリシクロヘキシルホスフィン)ベンジリデンルテニウムジクロリド0.05重量部及びジエチレングリコールエチルメチルエーテル400重量部を、窒素置換した耐圧ガラス反応器に仕込み、撹拌下に80℃で2時間重合反応を行って開環メタセシス重合体1Aを含有する重合反応溶液を得た。重合転化率は、99.9%以上であった。この重合体1Aの重量平均分子量は3,200、数平均分子量は1,900、分子量分布は1.68であった。
[Production Example 1] (Production of cyclic olefin polymer having a protic polar group)
8-carboxytetracyclo [4.4.0.1 2,5 . 1 7,10 ] dodec-3-ene 60 parts by weight, N-phenyl- (5-norbornene-2,3-dicarboximide) 40 parts by weight, 1,5-hexadiene 2.8 parts by weight, (1,3 -Dimesitylimidazolidine-2-ylidene) (tricyclohexylphosphine) benzylidene ruthenium dichloride 0.05 parts by weight and diethylene glycol ethyl methyl ether 400 parts by weight were charged into a nitrogen-substituted pressure-resistant glass reactor and stirred at 80 ° C. A polymerization reaction was carried out for 2 hours to obtain a polymerization reaction solution containing the ring-opening metathesis polymer 1A. The polymerization conversion rate was 99.9% or more. The polymer 1A had a weight average molecular weight of 3,200, a number average molecular weight of 1,900, and a molecular weight distribution of 1.68.

次いで、水素添加触媒としてビス(トリシクロヘキシルホスフィン)エトキシメチレンルテニウムジクロリド0.1重量部を重合反応溶液に加え、水素を4MPaの圧力で5時間溶存させて、水素添加反応を進行させたのち、活性炭粉末1重量部を添加し、オートクレーブに入れて撹拌しつつ150℃で水素を4MPaの圧力で3時間溶存させた。次いで、溶液を取り出して孔径0.2μmのフッ素樹脂製フィルターでろ過して活性炭を分離して開環メタセシス重合体1Aの水素化物1Bを含有する水素添加反応溶液476重量部を得た。ろ過は、滞りなく行なうことができた。ここで得られた水素化物1Bを含有する水素添加反応溶液の固形分濃度は20.6重量%であり、水素化物1Bの収量は98.1重量部であった。得られた水素化物1Bの重量平均分子量は4,430、数平均分子量は2,570、分子量分布は1.72であった。水素化率は99.9%であった。
なお、重合体及び水素化物の重量平均分子量及び数平均分子量は、テトラヒドロフランを溶離液とし、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(東ソー社製、品名HLC−8020)を用いて、ポリイソプレン換算分子量として求めた。水素化率は、H−NMRスペクトルにより、水素化された炭素−炭素二重結合モル数の水素添加前の炭素−炭素二重結合モル数に対する割合として求めた。
Next, 0.1 part by weight of bis (tricyclohexylphosphine) ethoxymethylene ruthenium dichloride as a hydrogenation catalyst is added to the polymerization reaction solution, hydrogen is dissolved at a pressure of 4 MPa for 5 hours, and the hydrogenation reaction proceeds. 1 part by weight of powder was added, and the mixture was placed in an autoclave and stirred, and hydrogen was dissolved at 150 ° C. under a pressure of 4 MPa for 3 hours. Next, the solution was taken out and filtered through a fluororesin filter having a pore size of 0.2 μm to separate the activated carbon to obtain 476 parts by weight of a hydrogenation reaction solution containing the hydride 1B of the ring-opening metathesis polymer 1A. Filtration could be performed without any delay. The hydrogenation reaction solution containing hydride 1B obtained here had a solid content concentration of 20.6% by weight, and the yield of hydride 1B was 98.1 parts by weight. The obtained hydride 1B had a weight average molecular weight of 4,430, a number average molecular weight of 2,570, and a molecular weight distribution of 1.72. The hydrogenation rate was 99.9%.
The weight average molecular weight and number average molecular weight of the polymer and hydride were determined as polyisoprene equivalent molecular weight using gel permeation chromatography (product name: HLC-8020, manufactured by Tosoh Corporation) using tetrahydrofuran as an eluent. The hydrogenation rate was calculated | required as a ratio with respect to the carbon-carbon double bond mole number before hydrogenation of the hydrogenated carbon-carbon double bond mole number by < 1 > H-NMR spectrum.

得られた水素化物1Bの水素添加反応溶液をロータリーエバポレーターで濃縮し、固形分濃度を35重量%に調整して、水素化物1C(プロトン性極性基としてカルボキシ基を有する環状オレフィン系重合体)の溶液を得た。濃縮の前後で収量、水素化物の重量平均分子量、数平均分子量及び分子量分布に変化はなかった。   The obtained hydrogenation reaction solution of hydride 1B was concentrated with a rotary evaporator, the solid content concentration was adjusted to 35% by weight, and hydride 1C (cyclic olefin polymer having a carboxy group as a protic polar group) was obtained. A solution was obtained. There was no change in yield, weight average molecular weight, number average molecular weight and molecular weight distribution of hydride before and after concentration.

以下に記載する実施例及び比較例では、以下の評価方法に従って所定の特性を評価した。   In Examples and Comparative Examples described below, predetermined characteristics were evaluated according to the following evaluation methods.

(密着性評価)
密着剤層を形成したガラス基材表面に対する樹脂膜の密着性は、後述の密着性評価用基板を用いてJISK5600−5−7のプルオフ法により評価した。評価は、基板作製直後(初期値)と、基板を60℃で90%RHの雰囲気中に400時間維持した後の2回行なった。評価基準は以下のとおりである。
〔評価基準〕
○ 密着力が6MPaを超える。
△ 密着力が6〜3MPaの範囲である。
× 密着力が3MPa未満である。
(Adhesion evaluation)
The adhesion of the resin film to the surface of the glass base material on which the adhesive layer was formed was evaluated by a pull-off method of JISK5600-5-7 using a substrate for adhesion evaluation described later. The evaluation was performed twice immediately after the substrate was manufactured (initial value) and after the substrate was maintained in an atmosphere of 90% RH at 60 ° C. for 400 hours. The evaluation criteria are as follows.
〔Evaluation criteria〕
○ Adhesion force exceeds 6 MPa.
Δ: Adhesive strength is in the range of 6-3 MPa.
X The adhesion is less than 3 MPa.

(TFT駆動特性の評価)
アクティブマトリックス基板のソース電極とドレイン電極の間に電圧20Vを印加し、ゲート電極に印加する電圧を−20〜30Vに変化させて、ソース電極とドレイン電極との間に流れる電流を、マニュアルプローバーと半導体パラメータアナライザー(Agilent社製、品名4156C)とを用いて測定した。評価は、基板作製直後(初期値)と、基板を60℃で90%RHの雰囲気中に400時間維持した後の2回行なった。測定は室温(25℃)で行なった。
(Evaluation of TFT drive characteristics)
A voltage of 20 V is applied between the source electrode and the drain electrode of the active matrix substrate, the voltage applied to the gate electrode is changed to -20 to 30 V, and the current flowing between the source electrode and the drain electrode is changed to a manual prober. Measurement was performed using a semiconductor parameter analyzer (product name: 4156C, manufactured by Agilent). The evaluation was performed twice immediately after the substrate was manufactured (initial value) and after the substrate was maintained in an atmosphere of 90% RH at 60 ° C. for 400 hours. The measurement was performed at room temperature (25 ° C.).

〔実施例1〕
製造例1で得られた水素化物1Cの溶液(固形分35重量%)100重量部、架橋剤として脂環式構造を有する多官能エポキシ化合物[ダイセル化学工業社製、EHPE3150(製品名)、分子量約2,700、エポキシ基数15]25重量部、感放射線化合物として1,1,3−トリス(2,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)−3−フェニルプロパン(1モル)と1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロライド(2.5モル)との縮合物25重量部、老化防止剤として(1,2,2,6,6−ペンタメチル−4−ピペリジル/トリデシル)−1,2,3,4−ブタンテトラカルボキシレート5重量部、接着助剤としてγ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン5重量部及びシリコーン系界面活性剤[信越化学工業社製、KP341(製品名)]0.05重量部を混合し、更にジエチレングリコールエチルメチルエーテル92重量部及びN−メチル−2−ピロリドン8重量部を添加して混合撹拌した。混合物は、5分以内に均一な溶液になった。この溶液を孔径0.45μmのポリテトラフルオロエチレン製フィルターでろ過して、感放射線性樹脂組成物1Dを調製した。
[Example 1]
100 parts by weight of a solution of hydride 1C obtained in Production Example 1 (solid content 35% by weight), polyfunctional epoxy compound having an alicyclic structure as a crosslinking agent [manufactured by Daicel Chemical Industries, EHPE3150 (product name), molecular weight About 2,700, epoxy group number 15] 25 parts by weight, 1,1,3-tris (2,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) -3-phenylpropane (1 mol) and 1,2- 25 parts by weight of a condensate with naphthoquinonediazide-5-sulfonic acid chloride (2.5 mol), (1,2,2,6,6-pentamethyl-4-piperidyl / tridecyl) -1,2, 3,4-butanetetracarboxylate 5 parts by weight, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane 5 parts by weight as an adhesion aid and silicone surfactant [Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Company Ltd., KP341 (product name)] 0.05 parts by weight, was mixed and stirred with further addition of 92 parts by weight of diethylene glycol ethyl methyl ether and N- methyl-2-pyrrolidone 8 parts by weight. The mixture became a homogeneous solution within 5 minutes. This solution was filtered through a polytetrafluoroethylene filter having a pore size of 0.45 μm to prepare a radiation sensitive resin composition 1D.

(密着性評価用基板の作製)
ガラス基材上にCVD装置を用いてシリコン窒化膜を450nmの膜厚で形成した。
その後、ガラス基材を、3−グリシドキシトリメトキシシランを1重量部、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート/プロピレングリコールモノメチルエーテル=70/30の混合比(容量比)の溶剤(以下、「溶剤X」という。)を20重量部、超純水を79重量部、酢酸を2重量部の割合で混合して得た液状シランカップリング剤に、23℃で10分間浸漬した。浸漬後、ガラス基板を窒素でブローした後、120℃のオーブンで30分間加熱した。加熱後、ガラス基材を超純水中に1分間浸漬してリンスを行なった。
シリコン窒化膜と密着剤層とを形成したガラス基材に上記の感放射線性組成物1Dをスピンコートした後、ホットプレートを用いて90℃で2分間プリベークして、膜厚2.5μmの樹脂膜を形成した。成膜後、365nmにおける光強度が5mW/cmである紫外線を120秒間、照射した。更にオーブンを用いて230℃で60分間加熱するポストベーク処理を行ない、密着性評価用基板を作製した。
(密着性の評価)
基板作製直後(初期値)及び基板を60℃で90%RHの雰囲気中に400時間維持した後の密着性の評価結果を表2に示す。
(Preparation of adhesion evaluation substrate)
A silicon nitride film having a thickness of 450 nm was formed on a glass substrate using a CVD apparatus.
Thereafter, the glass substrate was mixed with 1 part by weight of 3-glycidoxytrimethoxysilane and a solvent having a mixing ratio (volume ratio) of propylene glycol monomethyl ether acetate / propylene glycol monomethyl ether = 70/30 (hereinafter referred to as “solvent X”). .) Was immersed in a liquid silane coupling agent obtained by mixing 20 parts by weight, 79 parts by weight of ultrapure water and 2 parts by weight of acetic acid at 23 ° C. for 10 minutes. After immersion, the glass substrate was blown with nitrogen and then heated in an oven at 120 ° C. for 30 minutes. After heating, the glass substrate was immersed in ultrapure water for 1 minute for rinsing.
The above-mentioned radiation sensitive composition 1D is spin-coated on a glass base material on which a silicon nitride film and an adhesive layer are formed, and then prebaked at 90 ° C. for 2 minutes using a hot plate, to give a resin having a film thickness of 2.5 μm. A film was formed. After film formation, ultraviolet rays having a light intensity at 365 nm of 5 mW / cm 2 were irradiated for 120 seconds. Further, post-baking treatment was performed using an oven at 230 ° C. for 60 minutes to produce an adhesion evaluation substrate.
(Evaluation of adhesion)
Table 2 shows the evaluation results of the adhesion immediately after the substrate production (initial value) and after maintaining the substrate in an atmosphere of 90% RH at 60 ° C. for 400 hours.

(アクティブマトリックス基板用アレイ基板の作製)
ガラス基材[コーニング社製、コーニング1737(製品名)]上に、スパッタリング装置を用いて、クロムを200nmの膜厚に形成し、フォトリソグラフィによりパターニングを行ない、ゲート電極、ゲート信号線及びゲート端子部を形成した。次いで、CVD装置により、ゲート電極とゲート配線を覆って、ゲート絶縁膜となるシリコン窒化物膜を450nmの厚さ、半導体層となるa−Si層を250nmの厚さ、オーミックコンタクト層となるn+Si層を50nmの厚さで連続成形し、n+Si層とa−Si層をアイランド状にパターニングした。更に、ゲート絶縁膜とn+Si層上にスパッタリング装置で、クロムを200nmの膜厚に形成し、フォトリソグラフィにより、ソース電極、ソース信号線、ドレイン電極及びデータ端子部を形成し、ソース電極とドレイン電極の間の不要なn+Si層を除去してバックチャネルを形成し、ガラス基材上にTFTが形成されたアレイ基板を得た。
(アクティブマトリックス基板の作製)
その後、3−グリシドキシトリメトキシシランを1重量部、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート/プロピレングリコールモノメチルエーテル=70/30の混合比の溶剤Xを20重量部、超純水を79重量部、酢酸を2重量部の割合で混合して得た液状シランカップリング剤に、アレイ基板を、23℃で10分間浸漬させた。浸漬後、アレイ基板を窒素でブローした後、120℃のオーブンで30分間加熱した。加熱後、アレイ基板を超純水中に1分間浸漬してリンスを行なった。
得られた、シランカップリング剤層が形成されたアレイ基板を、ホットプレートを備えたシリル化処理室に入れ、処理室内部を脱気したのちシリル化剤としてヘキサメチルジシラザン(HMDS)を導入し、50℃でヘキサメチルジシラザンの蒸気を処理室内に均一に拡散させたのち、ホットプレートによりアレイ基板を85℃に加熱して1分間シリル化を行なった。次いで、窒素により処理室内のヘキサメチルジシラザンを置換し、室温まで冷却して、表面がシリル化(トリメチルシリル化)されたアレイ基板を得た。
得られた表面がシリル化されたアレイ基板に、上記の感放射線性樹脂組成物1Dをスピンコートしたのち、ホットプレートを用いて90℃で2分間プリベークして、膜厚1.2μmの樹脂膜を形成した。この樹脂膜に、10μm×10μmのホールパターンのマスクを介して、365nmにおける光強度が5mW/cmである紫外線を、40秒間空気中で照射した。次いで、0.4重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液を用いて、25℃で90秒間現像処理を行なったのち、超純水で30秒間リンスしてコンタクトホールのパターンを形成したところ、残膜率90%以上の良好なパターンが得られた。現像後、5mW/cmで120秒間、紫外線を照射した。更に、オーブンを用いて、230℃で60分間加熱するポストベーク(架橋処理)を行なって有機保護膜(1)を形成した。
有機保護膜(1)が形成されたアレイ基板を真空槽に移し、スパッタガスとしてアルゴンと酸素の混合ガス(体積比100:4)を用い、圧力0.3Pa、DC出力400Wとし、マスクを通してDCスパッタリングすることにより、ドレイン電極に接するように、膜厚200nmのIn−Sn−O系の非晶質透明導電層(画素電極)を形成して、アクティブマトリックス基板(1)を得た。
得られたアクティブマトリックス基板(1)について前記「TFT駆動特性の評価」に従ってソース電極とドレイン電極の間に流れる電流を測定し、リーク電流を求めた。リーク電流は1×10−13A/cmであり、閾値電圧は4Vであった。
更に、アクティブマトリックス基板(1)を60℃、90%RHの雰囲気中に400時間維持したのち、同じ測定を行なった。リーク電流は8×10−13A/cmであり、閾値電圧は3Vであり、実質的な変化はなかった。
(Preparation of array substrate for active matrix substrate)
On a glass substrate [Corning, Corning 1737 (product name)], a sputtering apparatus is used to form chromium with a film thickness of 200 nm, patterning is performed by photolithography, and a gate electrode, a gate signal line, and a gate terminal Part was formed. Next, the CVD apparatus covers the gate electrode and the gate wiring, the silicon nitride film serving as the gate insulating film is 450 nm thick, the a-Si layer serving as the semiconductor layer is 250 nm thick, and n + Si serving as the ohmic contact layer The layer was continuously formed with a thickness of 50 nm, and the n + Si layer and the a-Si layer were patterned into an island shape. Further, chromium is formed to a thickness of 200 nm on the gate insulating film and the n + Si layer by a sputtering apparatus, and a source electrode, a source signal line, a drain electrode, and a data terminal portion are formed by photolithography, and the source electrode and the drain electrode are formed. An unnecessary n + Si layer between the layers was removed to form a back channel, and an array substrate in which TFTs were formed on a glass substrate was obtained.
(Production of active matrix substrate)
Thereafter, 1 part by weight of 3-glycidoxytrimethoxysilane, 20 parts by weight of solvent X having a mixing ratio of propylene glycol monomethyl ether acetate / propylene glycol monomethyl ether = 70/30, 79 parts by weight of ultrapure water, and 2 parts of acetic acid The array substrate was immersed in a liquid silane coupling agent obtained by mixing at a weight part ratio at 23 ° C. for 10 minutes. After immersion, the array substrate was blown with nitrogen and then heated in an oven at 120 ° C. for 30 minutes. After heating, the array substrate was immersed in ultrapure water for 1 minute for rinsing.
The obtained array substrate on which the silane coupling agent layer is formed is put into a silylation treatment chamber equipped with a hot plate, and after degassing the inside of the treatment chamber, hexamethyldisilazane (HMDS) is introduced as a silylation agent. Then, the vapor of hexamethyldisilazane was uniformly diffused into the processing chamber at 50 ° C., and then the array substrate was heated to 85 ° C. with a hot plate to effect silylation for 1 minute. Next, hexamethyldisilazane in the processing chamber was replaced with nitrogen and cooled to room temperature to obtain an array substrate whose surface was silylated (trimethylsilylated).
The obtained array substrate having a silylated surface was spin-coated with the above radiation sensitive resin composition 1D and then pre-baked at 90 ° C. for 2 minutes using a hot plate to obtain a resin film having a thickness of 1.2 μm. Formed. The resin film was irradiated with ultraviolet rays having a light intensity at 365 nm of 5 mW / cm 2 in the air for 40 seconds through a 10 μm × 10 μm hole pattern mask. Next, after developing for 90 seconds at 25 ° C. using a 0.4 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution, the contact hole pattern was formed by rinsing with ultrapure water for 30 seconds. A good pattern of 90% or more was obtained. After development, ultraviolet rays were irradiated at 5 mW / cm 2 for 120 seconds. Furthermore, the organic protective film (1) was formed by performing post-baking (crosslinking treatment) by heating at 230 ° C. for 60 minutes using an oven.
The array substrate on which the organic protective film (1) is formed is transferred to a vacuum chamber, a mixed gas of argon and oxygen (volume ratio: 100: 4) is used as a sputtering gas, the pressure is 0.3 Pa, the DC output is 400 W, and the DC is passed through the mask. By sputtering, an In—Sn—O-based amorphous transparent conductive layer (pixel electrode) having a thickness of 200 nm was formed so as to be in contact with the drain electrode, whereby an active matrix substrate (1) was obtained.
With respect to the obtained active matrix substrate (1), the current flowing between the source electrode and the drain electrode was measured according to the above “Evaluation of TFT driving characteristics”, and the leakage current was obtained. The leakage current was 1 × 10 −13 A / cm 2 and the threshold voltage was 4V.
Further, the active matrix substrate (1) was maintained in an atmosphere of 60 ° C. and 90% RH for 400 hours, and then the same measurement was performed. The leakage current was 8 × 10 −13 A / cm 2 , the threshold voltage was 3 V, and there was no substantial change.

〔実施例2〜4、参考例1〜3
液状シランカップリング剤の組成、密着剤層形成方法及びHMDSによるシリル化の有無を表1に記載のとおりに変更したこと以外は実施例1と同様にして密着性評価用基板及びアクティブマトリックス基板を作製し、実施例1と同様の評価を行なった。結果を表2に示す。
なお、表1中、「密着剤層形成方法」及び「リンス方法」の項における「スピン」とは、ガラス基材又はアクティブマトリックス基板を回転させながら、それぞれ、液状シランカップリング剤を基板上に塗布する操作及び超純水で基板をリンスする操作をいう。
[Examples 2 to 4, Reference Examples 1 to 3 ]
The adhesive evaluation substrate and the active matrix substrate were prepared in the same manner as in Example 1 except that the composition of the liquid silane coupling agent, the adhesive layer forming method, and the presence or absence of silylation by HMDS were changed as shown in Table 1. The same evaluation as in Example 1 was performed. The results are shown in Table 2.
In Table 1, “spin” in the terms “adhesive layer forming method” and “rinsing method” means that the liquid silane coupling agent is placed on the substrate while rotating the glass substrate or the active matrix substrate, respectively. An operation of applying and an operation of rinsing the substrate with ultrapure water.

〔比較例1〜2〕
液状シランカップリング剤の組成、密着剤層形成方法及び有機保護膜材料を表1に記載のとおりに変更したこと以外は実施例1と同様にして密着性評価用基板及びアクティブマトリックス基板を作製し、実施例1と同様の評価を行なった。結果を表2に示す。
[Comparative Examples 1-2]
An adhesive evaluation substrate and an active matrix substrate were prepared in the same manner as in Example 1 except that the composition of the liquid silane coupling agent, the method of forming the adhesive layer, and the organic protective film material were changed as shown in Table 1. The same evaluation as in Example 1 was performed. The results are shown in Table 2.

(1)アクリル樹脂の製造
スチレン20重量部、ブチルメタクリレート25重量部、2−エチルヘキシルアクリレート25重量部、メタクリル酸30重量部、2,2−アゾビスイソブチロニトリル0.5重量部及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート300重量部を窒素気流中で撹拌しながら80℃で5時間加熱した。得られた樹脂溶液をロータリーエバポレーターで濃縮し、固形分濃度35重量%のアクリル樹脂溶液を得た。
(1) Production of acrylic resin 20 parts by weight of styrene, 25 parts by weight of butyl methacrylate, 25 parts by weight of 2-ethylhexyl acrylate, 30 parts by weight of methacrylic acid, 0.5 part by weight of 2,2-azobisisobutyronitrile and propylene glycol 300 parts by weight of monomethyl ether acetate was heated at 80 ° C. for 5 hours with stirring in a nitrogen stream. The obtained resin solution was concentrated by a rotary evaporator to obtain an acrylic resin solution having a solid content concentration of 35% by weight.

(2)ポリイミド樹脂の製造
乾燥空気気流下、1リットルの4つ口フラスコ内で4,4’−ジアミノジフェニルエーテル9.61g(0.048モル)、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン17.3g(0.04モル)及びビス(3−アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン1.24g(0.005モル)をシクロペンタノン102.5gに40℃で溶解させた。その後、無水ピロメリット酸6.54g(0.03モル)、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物9.67g(0.03モル)、3,3’,4,4’−ジフェニルエーテルテトラカルボン酸二無水物12.41g(0.04モル)及びシクロペンタノン30gを加え、50℃で3時間反応させた。この溶液をロータリーエバポレーターで濃縮し、固形分濃度35重量%のポリイミド樹脂溶液を得た。
(2) Production of polyimide resin Under a dry air stream, 9.61 g (0.048 mol) of 4,4′-diaminodiphenyl ether and bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] in a 1-liter four-necked flask 17.3 g (0.04 mol) of sulfone and 1.24 g (0.005 mol) of bis (3-aminopropyl) tetramethyldisiloxane were dissolved in 102.5 g of cyclopentanone at 40 ° C. Thereafter, pyromellitic anhydride 6.54 g (0.03 mol), 3,3 ′, 4,4′-benzophenonetetracarboxylic dianhydride 9.67 g (0.03 mol), 3,3 ′, 4, 12.41 g (0.04 mol) of 4′-diphenyl ether tetracarboxylic dianhydride and 30 g of cyclopentanone were added and reacted at 50 ° C. for 3 hours. This solution was concentrated by a rotary evaporator to obtain a polyimide resin solution having a solid concentration of 35% by weight.

Figure 0005182287
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Figure 0005182287
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表2の結果から、ガラス基材上に、シランカップリング剤からなる密着剤層と、カルボキシ基を有する環状オレフィン系重合体架橋体からなる有機保護膜とを積層してなる、実施例1〜4及び参考例1〜3のアクティブマトリックス基板は、有機保護膜形成材料をアクリル樹脂に変更した比較例1及びポリイミド樹脂に変更した比較例2のアクティブマトリックス基板と異なり、密着性に優れ、また、60℃で90%RHの雰囲気中に400時間という湿熱条件で長時間維持しても、リーク電流及び閾値電圧が上昇することなく、TFTが安定して動作し得ることが分かる。実施例1と参考例1実施例2と参考例2及び実施例3と参考例3の、それぞれの比較から、密着剤層形成後、密着剤層の表面にシリル化を行なった場合、より安定性が向上することが分かる。
From the results of Table 2, Examples 1 to 1 are formed by laminating an adhesive layer composed of a silane coupling agent and an organic protective film composed of a crosslinked cyclic olefin polymer having a carboxy group on a glass substrate. 4 and the active matrix substrates of Reference Examples 1 to 3 , unlike the active matrix substrate of Comparative Example 1 in which the organic protective film forming material is changed to acrylic resin and Comparative Example 2 in which the material is changed to polyimide resin, has excellent adhesion, It can be seen that the TFT can operate stably without increasing the leakage current and the threshold voltage even if it is maintained in the atmosphere of 60% at 90% RH under the wet heat condition of 400 hours. From the comparison between Example 1 and Reference Example 1 , Example 2 and Reference Example 2, and Example 3 and Reference Example 3 , it was found that the surface of the adhesive layer was silylated after formation of the adhesive layer. It can be seen that the stability is improved.

Claims (8)

薄膜トランジスタを含む導電体回路を基材上に形成してなるアクティブマトリックス基板であって、導電体回路が形成された基材表面上に、シランカップリング剤からなる密着剤層と、プロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体の架橋体からなる有機保護膜とを、順次積層してなり、密着剤層の表面がシリル化されたものであるアクティブマトリックス基板。An active matrix substrate in which a conductor circuit including a thin film transistor is formed on a base material, and an adhesive layer made of a silane coupling agent and a protic polar group on the surface of the base material on which the conductor circuit is formed an active matrix substrate in which an organic protection film made of a crosslinked product of the cyclic olefin polymer, Ri name by sequentially laminating, surface of the adhesion agent layer is silylated with. 密着剤層が液状シランカップリング剤からなるものである請求項1に記載のアクティブマトリックス基板。The active matrix substrate according to claim 1 , wherein the adhesive layer is made of a liquid silane coupling agent. シランカップリング剤がエポキシ基を有するものである請求項1又は2に記載のアクティブマトリックス基板。The active matrix substrate according to claim 1 , wherein the silane coupling agent has an epoxy group. 請求項1に記載のアクティブマトリックス基板の製造方法であって、
(1)導電体回路が形成された基材表面上にシランカップリング剤からなる密着剤層を形成する工程、
(1’)工程(1)で密着剤層が形成された基材の表面をシリル化剤と接触させて密着剤層の表面をシリル化する工程、
(2)次いで、工程(1’)でシリル化された密着剤層上にプロトン性極性基を有する環状オレフィン系重合体を含有してなる感放射線性樹脂組成物からなる樹脂膜を形成する工程、及び
(3)工程(2)で形成された樹脂膜を架橋して有機保護膜を形成する工程、
を有するアクティブマトリックス基板の製造方法。
A method of manufacturing an active matrix substrate according to claim 1 ,
(1) A step of forming an adhesive layer made of a silane coupling agent on the substrate surface on which the conductor circuit is formed,
(1 ′) a step of silylating the surface of the adhesive layer by bringing the surface of the base material on which the adhesive layer is formed in the step (1) into contact with a silylating agent;
(2) Next, the process of forming the resin film which consists of a radiation sensitive resin composition containing the cyclic olefin type polymer which has a protic polar group on the adhesive agent layer silylated at the process ( 1 ' ). And (3) a step of crosslinking the resin film formed in step (2) to form an organic protective film,
A method for manufacturing an active matrix substrate.
工程(1)において、導電体回路が形成された基材表面上に液状シランカップリング剤を塗布若しくは印刷するか、又は基材を液状シランカップリング剤中に浸漬して引き上げ、次いで、加熱乾燥することにより密着剤層を形成する請求項4に記載のアクティブマトリックス基板の製造方法。In step (1), a liquid silane coupling agent is applied or printed on the surface of the substrate on which the conductor circuit is formed, or the substrate is dipped in the liquid silane coupling agent and pulled up, and then dried by heating. The manufacturing method of the active-matrix board | substrate of Claim 4 which forms an adhesive agent layer by doing. 工程(2)を湿式法により行なう請求項4又は5に記載のアクティブマトリックス基板の製造方法。The method for manufacturing an active matrix substrate according to claim 4 or 5 , wherein the step (2) is performed by a wet method. 感放射線性樹脂組成物が、更に、架橋剤、感放射線化合物及び溶剤を含有してなるものである請求項4〜6のいずれか1項に記載のアクティブマトリックス基板の製造方法。The method for producing an active matrix substrate according to any one of claims 4 to 6 , wherein the radiation-sensitive resin composition further comprises a crosslinking agent, a radiation-sensitive compound, and a solvent. 請求項1〜3のいずれか1項に記載のアクティブマトリックス基板を備えてなる平面表示装置。 A flat display device comprising the active matrix substrate according to claim 1 .
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