JP5180947B2 - Cleaning method for a reactor for producing polycrystalline silicon - Google Patents

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Description

本発明は、多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法に関するものであり、更に詳しくは、太陽電池用高純度多結晶シリコンを製造するための多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法に関するものである。   The present invention relates to a method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon, and more particularly to a method for washing a reactor for producing polycrystalline silicon for producing high-purity polycrystalline silicon for solar cells. It is.

近年の太陽電池の普及に伴い、多結晶シリコンの需要は急増している。従来、高純度の多結晶シリコンを製造する方法としてシーメンス法(Siemens Method)が挙げられる。シーメンス法はトリクロロシラン(SiHCl)を水素(H)によって還元する方法である。シーメンス法により製造される多結晶シリコンは純度がイレブン−ナイン(11−N)と非常に高く、半導体用シリコンとして使用されている。太陽電池用シリコンもこの半導体用シリコンとして製造された製品の一部を使用してきたが、11−Nほどの純度を必要としない点とシーメンス法が多くの電力を消費する点から、太陽電池用シリコンに適した安価な製造方法が求められている。 With the spread of solar cells in recent years, the demand for polycrystalline silicon is increasing rapidly. Conventionally, the Siemens method (Siemens Method) is mentioned as a method of manufacturing a high purity polycrystalline silicon. The Siemens method is a method of reducing trichlorosilane (SiHCl 3 ) with hydrogen (H 2 ). Polycrystalline silicon produced by the Siemens method has a very high purity of eleven-nine (11-N) and is used as silicon for semiconductors. Although the silicon for solar cells has also used a part of the product manufactured as this silicon for semiconductors, it does not require a purity as high as 11-N, and the Siemens method consumes a lot of power. There is a need for an inexpensive manufacturing method suitable for silicon.

このような中、太陽電池用シリコンの製造方法として、亜鉛還元法による多結晶シリコンの製造方法が提案されており、その反応は下記式(1):
SiCl + 2Zn = Si + 2ZnCl (1)
により示すものである。
Under such circumstances, a method for producing polycrystalline silicon by a zinc reduction method has been proposed as a method for producing silicon for solar cells, and the reaction thereof is represented by the following formula (1):
SiCl 4 + 2Zn = Si + 2ZnCl 2 (1)
It is shown by.

亜鉛還元法による多結晶シリコンの製造方法では、製造される多結晶シリコンの純度はシックス−ナイン(6−N)程度であり、半導体用シリコンに比べると純度は低いものの、シーメンス法と比較して5倍程度にも達する程反応効率に優れ且つ製造コストも有利な製造方法である。   In the method for producing polycrystalline silicon by the zinc reduction method, the purity of the produced polycrystalline silicon is about six-nine (6-N), which is lower than that of silicon for semiconductors, but compared with the Siemens method. It is a production method that is excellent in reaction efficiency and advantageous in production cost as much as about 5 times.

多結晶シリコンの製造方法としては、例えば、反応容器内で液体または気体状態の四塩化珪素を溶融亜鉛で還元し、生成した多結晶シリコンと塩化亜鉛とを含有する混合物を反応容器外に取り出し、前記混合物を分離容器に収容し、混合物中の塩化亜鉛を分離してのち、多結晶シリコンを分離容器から回収することを特徴とする多結晶シリコンの製造方法(特許文献1)や、反応容器内で液体または気体状態の四塩化珪素を溶融亜鉛で還元し、生成した多結晶シリコンと塩化亜鉛とを含有する混合物を反応容器外に取り出してのち、前記混合物中の塩化亜鉛を分離して、多結晶シリコンを回収する高純度シリコンの製造方法であって、分離された塩化亜鉛を電気分解して金属亜鉛と塩素を回収し、回収された金属亜鉛を再び前記四塩化珪素の還元剤として用いるとともに、回収された塩素を水素と合成させて塩化水素とし、前記四塩化珪素を生成するための金属シリコンの塩化処理に用いることを特徴とする高純度シリコンの製造方法(特許文献2)が報告されている。   As a method for producing polycrystalline silicon, for example, liquid or gaseous silicon tetrachloride is reduced with molten zinc in a reaction vessel, and a mixture containing the produced polycrystalline silicon and zinc chloride is taken out of the reaction vessel, A method for producing polycrystalline silicon (Patent Document 1), containing the mixture in a separation vessel, separating zinc chloride in the mixture, and then collecting polycrystalline silicon from the separation vessel; The liquid or gaseous silicon tetrachloride is reduced with molten zinc, and the mixture containing the produced polycrystalline silicon and zinc chloride is taken out of the reaction vessel, and the zinc chloride in the mixture is separated, A method for producing high-purity silicon that recovers crystalline silicon, wherein the separated zinc chloride is electrolyzed to recover metallic zinc and chlorine, and the recovered metallic zinc is again recovered from the silicon tetrachloride. A method for producing high-purity silicon, characterized in that it is used as a base agent and is used for chlorination of metallic silicon to produce silicon tetrachloride by synthesizing recovered chlorine with hydrogen to form hydrogen chloride (Patent Document) 2) has been reported.

特許文献1および2はいずれも液体または気体状態の四塩化珪素を溶融亜鉛で還元している。しかし、溶融亜鉛を用いる方法では、多結晶シリコンが粉状となり、後処理の煩雑さや不純物処理の難しさ及びキャスティングの困難さのために高コストになるという問題がある。   Patent Documents 1 and 2 both reduce liquid or gaseous silicon tetrachloride with molten zinc. However, in the method using molten zinc, there is a problem that polycrystalline silicon becomes powdery and is expensive due to the complexity of post-processing, the difficulty of impurity treatment, and the difficulty of casting.

そこで、四塩化珪素蒸気と亜鉛蒸気を用いて亜鉛還元法を行うシリコンの製造方法としては、例えば、鉛直方向に立設された反応管に加熱しながら反応管の側周面に設けられた亜鉛蒸気供給口より亜鉛蒸気を供給するとともに、四塩化珪素蒸気を前記亜鉛蒸気供給口よりも下方から反応管の中心軸に沿って上方に向かって吐出させて、反応管内の温度分布を側周面側よりも中心軸側のほうが低くなるようにしてシリコン粉を製造する方法が報告されている(特許文献3)。   Therefore, as a silicon production method for performing a zinc reduction method using silicon tetrachloride vapor and zinc vapor, for example, zinc provided on the side peripheral surface of the reaction tube while heating the reaction tube standing in the vertical direction. While supplying zinc vapor from the vapor supply port, silicon tetrachloride vapor is discharged from below the zinc vapor supply port upward along the central axis of the reaction tube, and the temperature distribution in the reaction tube is changed to the side peripheral surface. There has been reported a method for producing silicon powder such that the center axis side is lower than the side (Patent Document 3).

また、反応容器内に珪素化合物供給配管と亜鉛供給配管を有し、反応容器内の整流部材を通してシリコンを含む反応生成ガスを反応容器外に排出するシリコン製造装置も報告されている(特許文献4)。   There is also a silicon production apparatus that has a silicon compound supply pipe and a zinc supply pipe in a reaction vessel and discharges a reaction product gas containing silicon to the outside of the reaction vessel through a rectifying member in the reaction vessel (Patent Document 4). ).

特許文献3、4はともにシリコンを含む反応生成ガスを反応容器外に排出するもので、得られるシリコンはシリコン粉である。ところが、粉状のシリコンはインゴット製造のために溶融する際、非常に熔解し難いという問題に加え、単位重量当たりの表面積が大きいことから純度が低くなり利用価値が乏しいという問題があった。   Patent Documents 3 and 4 both discharge reaction product gas containing silicon to the outside of the reaction vessel, and the obtained silicon is silicon powder. However, in addition to the problem that powdered silicon is very difficult to melt when it is melted for ingot production, there is a problem that the purity is low and the utility value is poor because the surface area per unit weight is large.

このため、得られるシリコンの形状としてはある程度の大きさを有する針状又はフレーク状が好ましい。針状又はフレーク状のシリコンを製造する方法としては、例えば、高純度四塩化珪素及び高純度亜鉛をそれぞれ気化させて、ガス化雰囲気において反応を行うことにより、製品として取り出すシリコンの多くが針状又はフレーク状である太陽電池用高純度シリコンの製造方法が報告されている(特許文献5)。   For this reason, the shape of the obtained silicon is preferably a needle shape or flake shape having a certain size. As a method for producing acicular or flaky silicon, for example, high purity silicon tetrachloride and high purity zinc are vaporized and reacted in a gasified atmosphere, so that most of the silicon taken out as a product is acicular. Or the manufacturing method of the high purity silicon | silicone for solar cells which is flake shape is reported (patent document 5).

特許文献5では、反応炉の内部に通電可能なタンタル芯またはシリコン芯を有し、この芯棒の温度を反応温度よりも上げることで反応炉よりも芯棒に針状、フレーク状のシリコンを析出させるものである。   In Patent Document 5, a reactor has a tantalum core or a silicon core that can be energized, and by raising the temperature of the core rod above the reaction temperature, needle-like and flaky silicon is placed on the core rod rather than the reactor. To be deposited.

特開平11−011925号公報(特許請求の範囲)Japanese Patent Laid-Open No. 11-011925 (Claims) 特開平11−092130号公報(特許請求の範囲)JP-A-11-092130 (Claims) 特開2009−107896号公報(特許請求の範囲)JP 2009-107896 A (Claims) 特開2009−167022号公報(特許請求の範囲)JP 2009-167022 A (Claims) 特開2004−018370号公報(特許請求の範囲)JP 2004-018370 A (Claims)

ところが、特許文献5では、生成するシリコンをタンタル芯又はシリコン芯に析出させているが、反応炉の炉壁にもシリコンが析出してしまう。また、排出ガスの排出管内にも、シリコンが析出する。また、反応炉には、局所的に温度が低くなっている箇所もあり、そこには、液化又は析出した亜鉛が残留する。   However, in Patent Document 5, generated silicon is deposited on a tantalum core or a silicon core, but silicon is also deposited on the furnace wall of the reaction furnace. Silicon is also deposited in the exhaust gas exhaust pipe. In addition, there are places in the reactor where the temperature is locally low, where liquefied or precipitated zinc remains.

このように、多結晶シリコン製造用の反応炉内には、シリコン及び亜鉛が残留してしまうので、それらを除去しなければならない。   Thus, since silicon and zinc remain in the reaction furnace for producing polycrystalline silicon, they must be removed.

炉壁にシリコンが析出した場合、多結晶シリコンの製造工程の終了後、シリコンを炉壁から掻き落とすことになるため、この掻き落としに労力が必要となり、製造効率が低くなるという問題があった。更に、多結晶シリコン製造用の反応炉には、石英製の反応炉が多く用いられているため、シリコンの掻き落としの際に炉壁を傷つけたり、破損したりするという問題があった。   When silicon is deposited on the furnace wall, the silicon is scraped off from the furnace wall after the polycrystalline silicon manufacturing process is finished, so that there is a problem that labor is required for this scraping and the manufacturing efficiency is lowered. . Further, since a reaction furnace made of quartz is often used as a reaction furnace for producing polycrystalline silicon, there has been a problem that the furnace wall is damaged or broken when silicon is scraped off.

また、亜鉛が析出して残留している場合もシリコンと同様に除去掻き落としに労力を要し、場合によっては炉壁を傷つけるという問題もあった。   Further, when zinc is deposited and remains, there is a problem that, like silicon, removal scraping requires labor, and in some cases, the furnace wall is damaged.

そこで、本発明の目的は、簡便且つ反応炉の炉壁を傷つけることなく、反応炉内に残留しているシリコン及び亜鉛を除去することが可能な亜鉛還元法による多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a reactor for producing polycrystalline silicon by a zinc reduction method that can remove silicon and zinc remaining in the reactor easily and without damaging the reactor wall. It is in providing a cleaning method.

本発明者らは、上記従来技術における課題を解決すべく、鋭意研究を重ねた結果、反応炉内を200〜1,000℃に加熱しつつ、塩素ガスを四塩化珪素蒸気の供給管から反応炉内に供給し、排出ガスの排出管から排出することにより、反応炉内に残留していたシリコン及び亜鉛を除去できることを見出し、本発明を完成させるに至った。   As a result of intensive studies to solve the above-described problems in the prior art, the present inventors reacted chlorine gas from a silicon tetrachloride vapor supply pipe while heating the inside of the reactor to 200 to 1,000 ° C. It has been found that silicon and zinc remaining in the reaction furnace can be removed by supplying the gas into the furnace and exhausting it from the exhaust gas exhaust pipe, thereby completing the present invention.

すなわち、本発明(1)は、四塩化珪素と亜鉛を反応させて多結晶シリコンを生成させる反応炉の洗浄方法であって、該反応炉内を200〜1,000℃に加熱しつつ、塩素ガスを、四塩化珪素蒸気の供給管から供給し、排出ガスの排出管から排出して、該反応炉内に残留しているシリコン及び亜鉛と塩素ガスとを反応させ、残留物を除去することを特徴とする多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法を提供するものである。   That is, the present invention (1) is a cleaning method for a reactor in which silicon tetrachloride and zinc are reacted to produce polycrystalline silicon, and the reactor is heated to 200 to 1,000 ° C. with chlorine. Gas is supplied from a silicon tetrachloride vapor supply pipe, exhausted from an exhaust gas discharge pipe, the silicon and zinc remaining in the reaction furnace react with chlorine gas, and the residue is removed. A method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon is provided.

本発明によれば、簡便且つ反応炉の炉壁を傷つけることなく、反応炉内に残留しているシリコン及び亜鉛を除去することが可能な亜鉛還元法による多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法を提供することができる。   According to the present invention, cleaning of a reactor for producing polycrystalline silicon by a zinc reduction method that can remove silicon and zinc remaining in the reactor easily and without damaging the reactor wall of the reactor. A method can be provided.

多結晶シリコン製造用の反応炉の形態例を示す模式的な端面図である。It is a typical end view showing the example of the form of the reaction furnace for polycrystalline silicon manufacture. 図1に示す反応炉の洗浄を行っている様子を示す図である。It is a figure which shows a mode that the reactor shown in FIG. 1 is wash | cleaned. 図1中の側壁部と炭化珪素棒とを示す端面図である。It is an end elevation which shows the side wall part and silicon carbide stick | rod in FIG. 四塩化珪素蒸気の供給管及び亜鉛蒸気の供給管の設置位置及び形状の形態例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of the installation position and shape of a supply pipe of silicon tetrachloride vapor and a supply pipe of zinc vapor. 四塩化珪素蒸気の供給管及び亜鉛蒸気の供給管の設置位置及び形状の形態例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of the installation position and shape of a supply pipe of silicon tetrachloride vapor and a supply pipe of zinc vapor. 図1の反応炉を用いて得られる多結晶シリコンを示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the polycrystalline silicon obtained using the reaction furnace of FIG.

本発明の多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法について、図1〜図2を参照して説明する。図1は、多結晶シリコン製造用の反応炉の形態例を示す模式的な端面図である。図2は、図1に示す反応炉の洗浄を行っている様子を示す図である。   A method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a schematic end view showing an example of a reactor for producing polycrystalline silicon. FIG. 2 is a diagram showing a state in which the reactor shown in FIG. 1 is being cleaned.

図1中、反応炉20は、縦長の円筒形状を有する側壁部1と、該側壁部1の上下を塞ぐ蓋部2(2a、2b)と、該反応炉20を加熱するためのヒーター5と、からなる。該反応炉20の上部には、四塩化珪素蒸気9の供給管7及び亜鉛蒸気10の供給管8が付設されており、該反応炉20の下部には、排出ガス11を排出するための排出管6が付設されている。また、該反応炉20内には、炭化珪素棒の固定部材4を介して炭化珪素棒3が設置されている。詳細には、該炭化珪素棒の固定部材4が、該側壁部1の内壁に形成されている炉内壁つば部12に引っ掛けられることより、該炭化水素棒3は、該反応炉20の内部に下向きに突き出るように設置されている。なお、該側壁部1と該蓋部2とは、例えば、それぞれのつば部の間にシール材を挟み込み、つば部同士をボルト締めすること等により、密閉されている。   In FIG. 1, a reaction furnace 20 includes a side wall part 1 having a vertically long cylindrical shape, a lid part 2 (2a, 2b) that closes the upper and lower sides of the side wall part 1, and a heater 5 for heating the reaction furnace 20; It consists of. A supply pipe 7 for silicon tetrachloride vapor 9 and a supply pipe 8 for zinc vapor 10 are attached to the upper part of the reaction furnace 20, and a discharge for discharging the exhaust gas 11 is provided at the lower part of the reaction furnace 20. A tube 6 is attached. In addition, a silicon carbide rod 3 is installed in the reaction furnace 20 via a silicon carbide rod fixing member 4. Specifically, the fixing member 4 of the silicon carbide rod is hooked on the inner wall collar portion 12 formed on the inner wall of the side wall portion 1, so that the hydrocarbon rod 3 is placed inside the reaction furnace 20. It is installed to protrude downward. The side wall portion 1 and the lid portion 2 are sealed by, for example, sandwiching a sealing material between the respective flange portions and bolting the flange portions together.

該四塩化珪素蒸気の供給管7の一端は、該反応炉20の内部に位置し、他端は、四塩化珪素の蒸発器に繋がっている。また、該亜鉛蒸気の供給管8の一端は、該反応炉20の内部に位置し、他端は、亜鉛の蒸発器に繋がっている。また、該排出管6は、排出ガス11、すなわち、四塩化珪素と亜鉛が反応する際に生成する塩化亜鉛ガス及び未反応ガスである四塩化珪蒸気及び亜鉛蒸気を回収するための回収装置に繋がっている。   One end of the supply pipe 7 for the silicon tetrachloride vapor is located inside the reaction furnace 20, and the other end is connected to a silicon tetrachloride evaporator. One end of the zinc vapor supply pipe 8 is located inside the reaction furnace 20, and the other end is connected to a zinc evaporator. Further, the exhaust pipe 6 serves as a recovery device for recovering the exhaust gas 11, that is, the zinc chloride gas generated when silicon tetrachloride and zinc react and the silicon tetrachloride vapor and zinc vapor which are unreacted gases. It is connected.

該反応炉20を用いる多結晶シリコンの製造方法について説明する。先ず、四塩化珪素及び亜鉛をそれぞれの蒸発器により気化させて、四塩化珪素蒸気9を四塩化珪素蒸気の供給管7から、亜鉛蒸気10を亜鉛蒸気の供給管8から、該ヒーター5により加熱されている該反応炉20内に供給しつつ、排出ガス11を該排出管6から、該反応炉20の外へ排出する。このとき、該反応炉20内では、四塩化珪素と亜鉛が反応して、多結晶シリコンが生成するが、該反応炉20内には、該炭化珪素棒3が設置されているので、生成した多結晶シリコンが、該炭化珪素棒3に析出する。そして、該反応炉20の上部から四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気を供給し、該反応炉20の下部から該排出ガス11を排出しているので、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気は、該反応炉20の上部から下向きに移動しており、その流れに沿うように該炭化珪素棒3が存在しているので、該炭化珪素棒3を覆うように、多結晶シリコンの結晶が成長する。また、四塩化珪素と亜鉛の反応により、塩化亜鉛も生成するが、塩化亜鉛ガスは、未反応の四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気と共に、排出ガス11として、該排出管6から外へ排出される。   A method for producing polycrystalline silicon using the reactor 20 will be described. First, silicon tetrachloride and zinc are vaporized by respective evaporators, and silicon tetrachloride vapor 9 is heated from the silicon tetrachloride vapor supply pipe 7 and zinc vapor 10 is heated from the zinc vapor supply pipe 8 by the heater 5. The exhaust gas 11 is discharged from the discharge pipe 6 to the outside of the reaction furnace 20 while being supplied into the reaction furnace 20. At this time, silicon tetrachloride reacts with zinc in the reaction furnace 20 to produce polycrystalline silicon. However, since the silicon carbide rod 3 is installed in the reaction furnace 20, it is produced. Polycrystalline silicon is deposited on the silicon carbide rod 3. Since silicon tetrachloride vapor and zinc vapor are supplied from the upper part of the reaction furnace 20 and the exhaust gas 11 is discharged from the lower part of the reaction furnace 20, the silicon tetrachloride vapor and the zinc vapor are Since the silicon carbide rod 3 is moving downward from the top of 20 and along the flow, a polycrystalline silicon crystal grows so as to cover the silicon carbide rod 3. Further, zinc chloride is also generated by the reaction of silicon tetrachloride and zinc, but the zinc chloride gas is discharged out of the exhaust pipe 6 as an exhaust gas 11 together with unreacted silicon tetrachloride vapor and zinc vapor. .

該反応炉20を用いる多結晶シリコンの製造方法では、該反応炉20内の多結晶シリコンの析出量が増えてくると、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気の供給を止め、該反応炉20を冷却して、一旦、多結晶シリコンの製造を中断し、該反応炉20内から析出した多結晶シリコンを取り出した後、該反応炉20での多結晶シリコンの製造を再開する。このように、反応炉内に多結晶シリコンを析出させる多結晶シリコンの製造方法では、バッチ処理で、多結晶シリコンの製造が行われる。   In the method for producing polycrystalline silicon using the reaction furnace 20, when the amount of deposited polycrystalline silicon in the reaction furnace 20 increases, the supply of silicon tetrachloride vapor and zinc vapor is stopped, and the reaction furnace 20 is cooled. Then, once the production of polycrystalline silicon is interrupted and the polycrystalline silicon precipitated from the reaction furnace 20 is taken out, the production of polycrystalline silicon in the reaction furnace 20 is resumed. Thus, in the polycrystalline silicon manufacturing method in which polycrystalline silicon is deposited in the reaction furnace, polycrystalline silicon is manufactured by batch processing.

このとき、該反応炉20内で多結晶シリコンの製造を行っていると、該側壁部1や該排出管6内には、シリコンが析出し、また、局所的に温度が低下すると考えられる反応炉の下側の蓋部2b上等には、液化又は析出した亜鉛が付着し、該反応炉20内に残留物が生じる。そして、該反応炉20での多結晶シリコンの製造のバッチ処理を繰り返すと、該反応炉20内に、シリコン及び亜鉛が残留物として蓄積される。   At this time, if polycrystalline silicon is produced in the reaction furnace 20, silicon is precipitated in the side wall 1 and the discharge pipe 6, and the reaction is considered to lower the temperature locally. Liquefied or precipitated zinc adheres on the lid 2 b on the lower side of the furnace, and a residue is generated in the reaction furnace 20. When batch processing for producing polycrystalline silicon in the reaction furnace 20 is repeated, silicon and zinc are accumulated in the reaction furnace 20 as residues.

そこで、本発明の多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法により、該反応炉の洗浄を行う。先ず、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気の供給を止め、該反応炉を冷却し、該反応炉20内から該炭化珪素棒3を取り出して、バッチ処理を終了させる。次いで、該炭化珪素棒の固定部材4から該炭化珪素棒3を外した後、図2に示すように、該炭化珪素棒の固定部材4を該反応炉20内に戻し、該蓋部材2を閉める。   Therefore, the reactor is cleaned by the method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon according to the present invention. First, the supply of silicon tetrachloride vapor and zinc vapor is stopped, the reaction furnace is cooled, the silicon carbide rod 3 is taken out from the reaction furnace 20, and the batch process is terminated. Next, after removing the silicon carbide rod 3 from the silicon carbide rod fixing member 4, as shown in FIG. 2, the silicon carbide rod fixing member 4 is returned to the reactor 20, and the lid member 2 is Close.

次いで、該四塩化珪素蒸気の供給管7に、塩素ガスの移送管を連結する。一方、該亜鉛蒸気の供給管8については、該亜鉛蒸気の供給管8に付設されているバルブを閉める等により、該反応炉20内から、該亜鉛蒸気の供給管8を経て、亜鉛の蒸発器等の亜鉛蒸気の供給装置に、塩素ガスが逆流しないようにする。   Next, a chlorine gas transfer pipe is connected to the silicon tetrachloride vapor supply pipe 7. On the other hand, the zinc vapor supply pipe 8 is evaporated from the reaction furnace 20 through the zinc vapor supply pipe 8 by closing a valve attached to the zinc vapor supply pipe 8 or the like. Prevent chlorine gas from flowing back into the zinc vapor supply device such as a vessel.

次いで、該反応炉20内を、200〜1,000℃に加熱しつつ、該四塩化珪素蒸気の供給管7から塩素ガス14を供給することにより、該反応炉20内へ該塩素ガス14を供給し、該排出管6から該塩素ガス14を排出することにより、該反応炉20内から該塩素ガス14を排出する。このことにより、該反応炉20内に残留しているシリコン及び亜鉛と該塩素ガス14との反応を行い、これらの残留物の除去を行う。そして、所定時間、該塩素ガス14の供給及び排出を行い、該反応炉20の洗浄を行う。   Next, the chlorine gas 14 is supplied into the reaction furnace 20 by supplying the chlorine gas 14 from the silicon tetrachloride vapor supply pipe 7 while heating the reaction furnace 20 at 200 to 1,000 ° C. The chlorine gas 14 is discharged from the reaction furnace 20 by supplying and discharging the chlorine gas 14 from the discharge pipe 6. As a result, the silicon and zinc remaining in the reaction furnace 20 react with the chlorine gas 14 to remove these residues. Then, the chlorine gas 14 is supplied and discharged for a predetermined time, and the reaction furnace 20 is cleaned.

すなわち、本発明の多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法は、四塩化珪素と亜鉛を反応させて多結晶シリコンを生成させる反応炉の洗浄方法であって、該反応炉内を加熱しつつ、塩素ガスを、四塩化珪素蒸気の供給管から供給し、排出ガスの排出管から排出して、該反応炉内に残留しているシリコン及び亜鉛と塩素ガスとを反応させて、残留物を除去することを特徴とする多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法である。   That is, the method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon according to the present invention is a method for cleaning a reactor in which silicon tetrachloride and zinc are reacted to produce polycrystalline silicon, while heating the inside of the reactor. Then, chlorine gas is supplied from a silicon tetrachloride vapor supply pipe, discharged from an exhaust gas discharge pipe, and the silicon and zinc remaining in the reactor are reacted with chlorine gas to obtain a residue. A method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon, characterized in that it is removed.

本発明の多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法が行われる該反応炉は、反応炉内に四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気が供給され、反応炉内で四塩化珪素蒸気と亜鉛蒸気との反応が行われ、反応炉内に多結晶シリコンが析出されるものであれば、特に制限されない。   In the reaction furnace in which the method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon according to the present invention is performed, silicon tetrachloride vapor and zinc vapor are supplied into the reaction furnace, and silicon tetrachloride vapor and zinc vapor are mixed in the reaction furnace. There is no particular limitation as long as the reaction is performed and polycrystalline silicon is deposited in the reaction furnace.

本発明の多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法に係る該反応炉内は1,000℃程度の温度となるため、該反応炉の材質としては、透明石英、不透明石英などの石英、炭化珪素、窒化珪素等が挙げられ、寿命や析出した多結晶シリコンを取り除く際に取り扱い易い点で、炭化珪素、窒化珪素が好ましく、また、コスト面からは、石英が好ましい。また、反応炉の構造等によっては、反応時の加熱温度に耐えられるのであれば、該反応炉の材質としては、特に制限されない。また、該反応炉の側壁部と蓋部が、異なる材質であってもよい。   Since the inside of the reactor according to the method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon according to the present invention has a temperature of about 1,000 ° C., the material of the reactor includes quartz such as transparent quartz and opaque quartz, carbonization Silicon, silicon nitride and the like can be mentioned, and silicon carbide and silicon nitride are preferable from the viewpoint of lifetime and removal of deposited polycrystalline silicon, and quartz is preferable from the viewpoint of cost. Further, depending on the structure of the reaction furnace and the like, the material of the reaction furnace is not particularly limited as long as it can withstand the heating temperature during the reaction. Further, the side wall portion and the lid portion of the reactor may be made of different materials.

そして、該反応炉としては、図1に示すような縦長の反応炉が好ましい。つまり、該反応炉としては、四塩化珪素と亜鉛を反応させて多結晶シリコンを生成させる反応炉であって、上部に四塩化珪素蒸気の供給管及び亜鉛蒸気の供給管を有し且つ下部に排出ガスの排出管を有する反応炉であり、炭化珪素棒等の析出棒が該反応炉内に設置されている多結晶シリコン製造用の反応炉(以下、反応炉(A)とも記載する。)である。   And as this reaction furnace, the vertically long reaction furnace as shown in FIG. 1 is preferable. That is, the reactor is a reactor for reacting silicon tetrachloride with zinc to produce polycrystalline silicon, having a silicon tetrachloride vapor supply pipe and a zinc vapor supply pipe in the upper part and in the lower part. A reaction furnace having a discharge pipe for exhaust gas, and a precipitation furnace such as a silicon carbide rod installed in the reaction furnace (hereinafter also referred to as reaction furnace (A)) for producing polycrystalline silicon. It is.

該反応炉(A)の形状は、反応炉の上部から反応炉内に供給された四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気が、反応炉の上部から下部に向かって下向きに移動しながら反応するような形状、すなわち、縦長の形状である。言い換えると、該反応炉の形状は、原料蒸気及び排出ガスが、反応炉の上部から下部に向かって流れる形状である。   The shape of the reaction furnace (A) is such that silicon tetrachloride vapor and zinc vapor supplied from the upper part of the reaction furnace react while moving downward from the upper part of the reaction furnace toward the lower part. That is, it is a vertically long shape. In other words, the shape of the reaction furnace is such that the raw material vapor and the exhaust gas flow from the upper part to the lower part of the reaction furnace.

該反応炉(A)の大きさは、特に限定されないが、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気の供給条件によって、適宜選択される。一般的には、好ましくは、該反応炉(A)の縦方向の長さは、1,000〜6,000mmであり、円筒形状の場合、直径が200〜2,000mmである。   Although the magnitude | size of this reaction furnace (A) is not specifically limited, It selects suitably by the supply conditions of silicon tetrachloride vapor | steam and zinc vapor | steam. In general, the length of the reaction furnace (A) in the longitudinal direction is preferably 1,000 to 6,000 mm, and in the case of a cylindrical shape, the diameter is 200 to 2,000 mm.

該析出棒は、該反応炉(A)内に設置される。該析出棒としては、例えば、炭化珪素棒、タンタル棒、シリコン棒が挙げられ、好ましくは炭化珪素棒である。該析出棒の形状としては、角柱状、円柱状が好ましく、特に、円柱状が好ましい。該析出棒の形状が円柱状の場合、該析出棒の直径は、強度や加工面から、1〜20cmが好ましく、2〜10cmが特に好ましい。また、該炭化珪素棒(析出棒)の固定部材4の下側から該排出管6の上側の間に存在する該炭化珪素棒(析出棒)の長さは、50〜1,200mmが好ましく、100〜1,100mmが特に好ましく、200〜1,000mmが更に好ましい。   The precipitation rod is installed in the reaction furnace (A). Examples of the precipitation rod include a silicon carbide rod, a tantalum rod, and a silicon rod, and a silicon carbide rod is preferable. The shape of the precipitation rod is preferably a prismatic shape or a cylindrical shape, and particularly preferably a cylindrical shape. In the case where the shape of the precipitation bar is a columnar shape, the diameter of the precipitation bar is preferably 1 to 20 cm, and particularly preferably 2 to 10 cm from the viewpoint of strength and processing surface. Further, the length of the silicon carbide rod (precipitation rod) existing between the lower side of the fixing member 4 of the silicon carbide rod (precipitation rod) and the upper side of the discharge pipe 6 is preferably 50 to 1,200 mm, 100 to 1,100 mm is particularly preferable, and 200 to 1,000 mm is more preferable.

該析出棒のうち該炭化珪素棒は、炭化珪素の成形体であるが、通常、炭化珪素の成形体は、多数の細孔を有する多孔質体である。そして、該炭化珪素棒は、多孔質の炭化珪素にシリコンが含浸されているシリコン含浸炭化珪素棒であることが、含浸されているシリコンが、反応により生成する多結晶シリコンの結晶の種となり、炭化珪素棒への多結晶シリコンの析出を促進できる点で好ましい。該シリコン含浸炭化珪素棒では、炭化珪素:含浸シリコンの質量比が、80:20〜95:5であることが好ましく、80:20〜90:10であることが特に好ましい。該シリコン含浸炭化珪素棒は、多孔質の炭化珪素棒を、溶融シリコン中に浸漬し、溶融シリコンを炭化珪素の孔に含浸させることにより得られる。   Of the precipitation rods, the silicon carbide rod is a molded body of silicon carbide. Usually, the molded body of silicon carbide is a porous body having a large number of pores. The silicon carbide rod is a silicon-impregnated silicon carbide rod in which silicon is impregnated with porous silicon carbide, and the impregnated silicon becomes a seed of polycrystalline silicon crystals produced by the reaction, This is preferable in that the precipitation of polycrystalline silicon on the silicon carbide rod can be promoted. In the silicon-impregnated silicon carbide rod, the mass ratio of silicon carbide: impregnated silicon is preferably 80:20 to 95: 5, and particularly preferably 80:20 to 90:10. The silicon-impregnated silicon carbide rod is obtained by immersing a porous silicon carbide rod in molten silicon and impregnating the silicon carbide holes with the silicon.

また、シリコンが含浸されていない多孔質の炭化珪素棒であっても、該反応炉(A)内に設置され、四塩化珪素蒸気と亜鉛蒸気の反応が行われた場合、反応の初期の段階では、炭化珪素棒の外側近傍の多孔質構造内で、四塩化珪素蒸気と亜鉛蒸気との接触が起こり、そこでシリコンが生成するので、炭化珪素棒の外側近傍は、孔内にシリコンが含浸されているのと同様な状態になる。そのため、シリコンが含浸されていない多孔質の炭化珪素棒でもよく、特に、該炭化珪素棒が繰り返し使用される場合は、シリコンが含浸されていない多孔質の炭化珪素棒は、繰り返し使用により、シリコンが含浸されている多孔質の炭化珪素棒と同様な状態になる。   Further, even if a porous silicon carbide rod not impregnated with silicon is installed in the reaction furnace (A) and a reaction between silicon tetrachloride vapor and zinc vapor is performed, the initial stage of the reaction Then, in the porous structure near the outside of the silicon carbide rod, contact between silicon tetrachloride vapor and zinc vapor occurs, and silicon is generated there, so the silicon carbide rod is impregnated with silicon in the vicinity of the outside of the silicon carbide rod. It will be in the same state as it is. Therefore, a porous silicon carbide rod not impregnated with silicon may be used. In particular, when the silicon carbide rod is used repeatedly, a porous silicon carbide rod not impregnated with silicon is used by repeated use. It becomes the state similar to the porous silicon carbide rod impregnated with.

該析出棒の設置本数は、1本であっても、2本以上であってもよい。また、該析出棒の設置位置は、特に限定されない。例えば、該炭化珪素棒(析出棒)が4本の場合、図3に示すように、該炭化珪素棒3は、該側壁部1(反応炉)の中心を中心とする円弧上に、等間隔に設置されることが好ましい。なお、該炭化珪素棒の設置本数及び設置位置は、原料蒸気の供給条件等の反応条件、反応炉の大きさ等により、多結晶シリコンが効率よく析出するように、適宜選択される。   The number of the deposition rods may be one or two or more. Moreover, the installation position of this precipitation rod is not specifically limited. For example, when the number of the silicon carbide rods (precipitation rods) is 4, as shown in FIG. 3, the silicon carbide rods 3 are equally spaced on an arc centered on the center of the side wall 1 (reactor). It is preferable that it is installed in. The number and position of the silicon carbide rods to be installed are appropriately selected so that the polycrystalline silicon is efficiently precipitated depending on the reaction conditions such as the supply conditions of the raw material vapor and the size of the reaction furnace.

該析出棒の設置方法であるが、図1では、該炭化珪素棒3(析出棒)が該炭化珪素棒の固定部材4に固定され、該炭化珪素棒の固定部材4が、該炉内壁つば部12に引っ掛けられることにより、該炭化珪素棒が、該反応炉(A)内に設置される旨を記載したが、これに限定されるものではない。例えば、図1中、排出管6の付設位置より下方に炉内壁つば部を形成させ、その炉内壁つば部に、該炭化珪素棒が固定されている該炭化珪素棒の固定部材を引っ掛けることにより、該炭化珪素棒の固定部材の上側から該反応炉内に上向きに突き出すように該炭化珪素棒を設置する方法や、該蓋部2bに、該炭化珪素棒を固定する方法等、該反応炉の下から上に向かって、該炭化珪素棒を立てるように設置する方法が挙げられる。   In FIG. 1, the silicon carbide rod 3 (precipitation rod) is fixed to the silicon carbide rod fixing member 4, and the silicon carbide rod fixing member 4 is connected to the inner wall collar of the furnace. Although it has been described that the silicon carbide rod is installed in the reaction furnace (A) by being hooked on the part 12, it is not limited to this. For example, in FIG. 1, a furnace inner wall collar portion is formed below the attachment position of the discharge pipe 6, and the silicon carbide rod fixing member to which the silicon carbide rod is fixed is hooked on the furnace wall collar portion. A method of installing the silicon carbide rod so as to protrude upward into the reaction furnace from an upper side of the fixing member of the silicon carbide rod, a method of fixing the silicon carbide rod to the lid portion 2b, and the like. The method of installing so that this silicon carbide stick may be stood from the bottom toward the top.

また、該析出棒の温度を、反応炉(A)内の温度よりも高温に設定するために、該析出棒の内部には、加熱用のヒーターが装備されていてもよい。例えば、反応炉(A)内の温度(反応炉の側壁温度)を930℃とした場合、該析出棒を1,000℃とすることで、該析出棒に選択的に多結晶シリコンを析出させることが可能となる。また、該炭化珪素棒の場合、炭化珪素は、熱伝導率が高く輻射熱を多く受ける材質であるため、反応炉の側壁からの輻射熱を多く受けることになり、該炭化珪素棒を加熱しなくてもある程度選択的に該炭化珪素棒に多結晶シリコンを析出させることが可能である。   Further, in order to set the temperature of the precipitation rod to be higher than the temperature in the reaction furnace (A), a heater for heating may be provided inside the precipitation rod. For example, when the temperature in the reactor (A) (side wall temperature of the reactor) is 930 ° C., polycrystalline silicon is selectively deposited on the deposition rod by setting the deposition rod to 1,000 ° C. It becomes possible. In the case of the silicon carbide rod, since silicon carbide is a material that has a high thermal conductivity and receives a lot of radiant heat, the silicon carbide rod receives a lot of radiant heat from the side wall of the reactor, and the silicon carbide rod does not have to be heated. However, it is possible to deposit polycrystalline silicon on the silicon carbide rods selectively to some extent.

該反応炉(A)では、該四塩化珪素蒸気の供給管及び該亜鉛蒸気の供給管が、該反応炉の上部に付設される。また、該排出管は、該反応炉(A)の下部に付設される。そして、該反応炉(A)では、該反応炉内で原料蒸気の下方向の流れが形成され、反応炉(A)内で四塩化珪素と亜鉛の反応を起こさせることができるような位置(上下方向の位置)に、該四塩化珪素蒸気の供給管及び該亜鉛蒸気の供給管と、該排出管とが付設される。   In the reactor (A), the silicon tetrachloride vapor supply pipe and the zinc vapor supply pipe are attached to the upper part of the reaction furnace. The discharge pipe is attached to the lower part of the reactor (A). And in this reaction furnace (A), the downward flow of raw material vapor | steam is formed in this reaction furnace, and the position (in which reaction of silicon tetrachloride and zinc can be caused in reaction furnace (A) ( The silicon tetrachloride vapor supply pipe, the zinc vapor supply pipe, and the discharge pipe are attached to the vertical position.

該四塩化珪素蒸気の供給管及び該亜鉛蒸気の供給管の形状及び配置であるが、例えば、図4の(4−1)に示すように、該四塩化珪素蒸気の供給管及び該亜鉛蒸気の供給管の水平部が直線上に並ぶようにし、(4−2)に示すように、供給管の先をL字形状にして、供給管の出口を下向きにする形態例が挙げられる。また、図5に示すように、該四塩化珪素蒸気の供給管及び該亜鉛蒸気の供給管の水平部が直線上に並ばないようにする形態例が挙げられる。図5に示す形態例では、該四塩化珪素蒸気及び該亜鉛蒸気は、該反応炉(A)内を旋回するように移動する。   The shape and arrangement of the silicon tetrachloride vapor supply pipe and the zinc vapor supply pipe. For example, as shown in FIG. 4 (4-1), the silicon tetrachloride vapor supply pipe and the zinc vapor The horizontal portion of the supply pipe is arranged in a straight line, and as shown in (4-2), the tip of the supply pipe is L-shaped and the outlet of the supply pipe is directed downward. Moreover, as shown in FIG. 5, the example which prevents the horizontal part of the supply pipe | tube of this silicon tetrachloride vapor | steam and the supply pipe | tube of this zinc vapor | steam to line up on a straight line is mentioned. In the embodiment shown in FIG. 5, the silicon tetrachloride vapor and the zinc vapor move so as to swirl in the reactor (A).

該反応炉(A)の側壁の周囲には、ヒーターが設置される。該ヒーターとしては、電気ヒーターが好ましい。   A heater is installed around the side wall of the reactor (A). The heater is preferably an electric heater.

本発明の多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法では、該反応炉内を200〜1,000℃、好ましくは720〜900℃に加熱する。   In the method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon according to the present invention, the inside of the reactor is heated to 200 to 1,000 ° C., preferably 720 to 900 ° C.

そして、該反応炉内を加熱しつつ、該四塩化珪素蒸気の供給管から塩素ガスを供給することにより、該反応炉内に塩素ガスを供給し、該排出ガスの排出管から塩素ガスを排出することにより、該反応炉内から塩素ガスを排出する。   Then, chlorine gas is supplied into the reaction furnace by supplying chlorine gas from the silicon tetrachloride vapor supply pipe while the inside of the reaction furnace is heated, and chlorine gas is discharged from the exhaust gas discharge pipe. As a result, chlorine gas is discharged from the reactor.

塩素ガスの供給量は、反応炉の内容量に対して、1〜1,000体積/反応炉体積/時間、好ましくは10〜1,000体積/反応炉体積/時間である。   The supply amount of chlorine gas is 1 to 1,000 volumes / reactor volume / hour, preferably 10 to 1,000 volumes / reactor volume / hour, with respect to the internal volume of the reactor.

このように、加熱されている該反応炉内で、塩素ガスと残留物であるシリコン及び亜鉛とを反応させて、該残留物をそれらの塩化物に変換し、沸点の低い化合物にすることで気体にして、該残留物を除去する。   In this way, by reacting chlorine gas with the residual silicon and zinc in the reactor that is being heated, the residue is converted into their chlorides to form compounds with low boiling points. The gas is removed to remove the residue.

塩素ガスによる洗浄時間は、該反応炉内の該残留物の残留量や該反応炉の加熱温度により、適宜選択される。   The cleaning time with chlorine gas is appropriately selected depending on the residual amount of the residue in the reactor and the heating temperature of the reactor.

該反応炉の洗浄に使用された塩素ガスは、四塩化珪素及び塩化亜鉛を含有するので、蒸留等により、洗浄に使用された塩素ガスを、塩素と四塩化珪素と塩化亜鉛に分離する。   Since the chlorine gas used for cleaning the reactor contains silicon tetrachloride and zinc chloride, the chlorine gas used for cleaning is separated into chlorine, silicon tetrachloride and zinc chloride by distillation or the like.

また、該排出ガスの排出管から排出される塩素ガスから、四塩化珪素及び塩化亜鉛を分離後、四塩化珪素及び塩化亜鉛が分離された塩素ガスを、再び、該四塩化珪素蒸気の供給管から供給して、塩素ガスを循環させることができる。   Further, after separating silicon tetrachloride and zinc chloride from the chlorine gas discharged from the exhaust gas discharge pipe, the silicon tetrachloride and zinc chloride separated chlorine gas is again supplied to the silicon tetrachloride vapor supply pipe. The chlorine gas can be circulated by supplying from the above.

本発明の多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法を行った後は、再び、多結晶シリコンの製造を再開する。   After performing the method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon according to the present invention, the production of polycrystalline silicon is resumed.

該反応炉(A)を用いて多結晶シリコンを製造する方法としては、四塩化珪素と亜鉛を反応させて多結晶シリコンを生成させる多結晶シリコンの製造方法であって、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気を反応炉の上部から供給し、該反応炉の下部から排出ガスを排出して、該反応炉内で四塩化珪素蒸気と亜鉛蒸気の反応を行いつつ、生成する多結晶シリコンを析出棒に析出させる多結晶シリコンの製造方法である。   A method for producing polycrystalline silicon using the reactor (A) is a method for producing polycrystalline silicon by reacting silicon tetrachloride with zinc to produce polycrystalline silicon, wherein silicon tetrachloride vapor and zinc are produced. Steam is supplied from the upper part of the reaction furnace, exhaust gas is discharged from the lower part of the reaction furnace, and the reaction between silicon tetrachloride vapor and zinc vapor is performed in the reaction furnace, and polycrystalline silicon produced is deposited on the precipitation rod. This is a method for producing polycrystalline silicon to be deposited.

四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気を用いる亜鉛還元法による多結晶シリコンの製造においては、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気が、反応炉内で激しく撹拌されると、直径が3μm以下の細粒状の多結晶シリコンが生成するが、このような細粒状の多結晶シリコンは、充填密度が低く溶融に時間がかかる。一方、四塩化珪素蒸気と亜鉛蒸気とが、該反応炉内で穏やかに接触すると、好ましくは線速5cm/秒以下の速度で接触すると、樹枝状、針状又は板状の多結晶シリコンが生成するが、このような樹枝状、針状又は板状の多結晶シリコンは、細粒状の多結晶シリコンに比べ、溶融し易く、溶融時間が短くなる。そのため、該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法では、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気が、該反応炉内で激しく撹拌されないような条件、すなわち、直径が3μm以下の細粒状の多結晶シリコンが生成しないような条件で、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気を、該反応炉に供給する。つまり、該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法では、樹枝状、針状又は板状の多結晶シリコンが生成し易い原料蒸気の供給条件で、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気を、該反応炉(A)に供給する。樹枝状、針状又は板状の多結晶シリコンが生成し易い原料蒸気の供給条件は、該反応炉の大きさ、該炭化珪素棒の設置位置又は設置本数等により、適宜選択される。   In the production of polycrystalline silicon by the zinc reduction method using silicon tetrachloride vapor and zinc vapor, when the silicon tetrachloride vapor and zinc vapor are vigorously stirred in the reaction furnace, fine polycrystalline particles having a diameter of 3 μm or less Silicon is produced, but such fine-grained polycrystalline silicon has a low packing density and takes time to melt. On the other hand, when silicon tetrachloride vapor and zinc vapor contact gently in the reactor, preferably when they contact at a linear velocity of 5 cm / second or less, dendritic, needle-like or plate-like polycrystalline silicon is produced. However, such dendritic, needle-like or plate-like polycrystalline silicon is easier to melt and has a shorter melting time than fine-grained polycrystalline silicon. Therefore, in the method for producing polycrystalline silicon using the reaction furnace (A), the conditions are such that the silicon tetrachloride vapor and the zinc vapor are not vigorously stirred in the reaction furnace, that is, a fine granular polycrystal having a diameter of 3 μm or less. Silicon tetrachloride vapor and zinc vapor are supplied to the reactor under conditions that do not produce crystalline silicon. That is, in the method for producing polycrystalline silicon using the reactor (A), silicon tetrachloride vapor and zinc vapor are supplied under the supply conditions of the raw material vapor that can easily generate dendritic, needle-like or plate-like polycrystalline silicon, It supplies to this reactor (A). The supply condition of the raw material vapor that easily generates dendritic, needle-like or plate-like polycrystalline silicon is appropriately selected depending on the size of the reactor, the position or number of the silicon carbide rods installed, and the like.

四塩化珪素蒸気と亜鉛蒸気の供給量比率(モル比)は、四塩化珪素蒸気:亜鉛蒸気=0.9:2〜1.2:2であり、好ましくは1:2〜1.2:2であり、特に好ましくは1:2〜1.1:2である。また、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気は、窒素ガス等の不活性ガスで希釈されていてもよく、その場合、四塩化珪素蒸気の希釈率は、体積割合((四塩化珪素蒸気+不活性ガス)/四塩化珪素蒸気)で、好ましくは1.01〜1.5、特に好ましくは1.05〜1.3であり、亜鉛蒸気の希釈率は、体積割合((亜鉛蒸気+不活性ガス)/亜鉛蒸気)で、好ましくは1.01〜1.3、特に好ましくは1.03〜1.2である。   The supply ratio (molar ratio) of silicon tetrachloride vapor to zinc vapor is silicon tetrachloride vapor: zinc vapor = 0.9: 2 to 1.2: 2, preferably 1: 2 to 1.2: 2. And particularly preferably 1: 2 to 1.1: 2. Further, the silicon tetrachloride vapor and the zinc vapor may be diluted with an inert gas such as nitrogen gas. In that case, the dilution rate of the silicon tetrachloride vapor is a volume ratio ((silicon tetrachloride vapor + inert gas). ) / Silicon tetrachloride vapor), preferably 1.01 to 1.5, particularly preferably 1.05 to 1.3, and the dilution rate of zinc vapor is a volume fraction ((zinc vapor + inert gas) / Zinc vapor), preferably 1.01 to 1.3, particularly preferably 1.03 to 1.2.

亜鉛の沸点は、「化学便覧」(日本化学会編)によると907℃であるため、該反応炉(A)内の温度が、亜鉛の沸点である907℃以上になるように、該反応炉(A)を加熱する。該反応炉(A)内の温度は、907〜1,200℃、好ましくは930〜1,100℃である。また、該反応炉(A)内の圧力は、好ましくは0〜700kPaG、特に好ましくは0〜500kPaGである。上記範囲に反応条件を設定することで、該炭化珪素棒(析出棒)に安定的に多結晶シリコンを析出させることが可能となる。   According to “Chemical Handbook” (edited by the Chemical Society of Japan), the boiling point of zinc is 907 ° C., so that the temperature in the reactor (A) is 907 ° C. or more, which is the boiling point of zinc. (A) is heated. The temperature in the reactor (A) is 907 to 1,200 ° C, preferably 930 to 1,100 ° C. The pressure in the reactor (A) is preferably 0 to 700 kPaG, particularly preferably 0 to 500 kPaG. By setting the reaction conditions within the above range, it becomes possible to stably deposit polycrystalline silicon on the silicon carbide rod (precipitation rod).

該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法では、該析出棒として、ヒーターが内装されているものを1本又は2本以上使用し、該析出棒を加熱してもよい。その際、該反応炉内に設置されている炭化珪素棒の全てを加熱してもよいし、一部を加熱してもよい。また、該析出棒の加熱開始時期は、多結晶シリコンが該析出棒への析出を開始する前、つまり、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気の供給前であってもよく、あるいは、該析出棒にある程度の多結晶シリコンが析出してからでもよい。   In the method for producing polycrystalline silicon using the reaction furnace (A), one or more of the deposition rods with a built-in heater may be used and the deposition rods may be heated. At that time, all of the silicon carbide rods installed in the reaction furnace may be heated, or a part thereof may be heated. Further, the heating start time of the precipitation rod may be before the polycrystalline silicon starts to be deposited on the precipitation rod, that is, before the supply of silicon tetrachloride vapor and zinc vapor, or It may be after some amount of polycrystalline silicon is deposited.

そして、該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法では、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気を下向きに移動させて、該反応炉(A)内で四塩化珪素と亜鉛の反応を行い、多結晶シリコンを生成させながら、該析出棒を、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気の流れに沿うように存在させることで、該析出棒に、多結晶シリコンを析出させる。   Then, in the method for producing polycrystalline silicon using the reactor (A), silicon tetrachloride vapor and zinc vapor are moved downward to react silicon tetrachloride with zinc in the reactor (A), While producing polycrystalline silicon, the precipitation rod is made to exist along the flow of silicon tetrachloride vapor and zinc vapor, thereby depositing polycrystalline silicon on the precipitation rod.

また、該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法では、窒素ガス等の不活性ガスの供給管を該反応炉(A)に付設して、不活性ガスを該反応炉(A)内に導入し、該反応炉(A)内を不活性ガスで加圧することができる。   Further, in the method for producing polycrystalline silicon using the reaction furnace (A), a supply pipe for an inert gas such as nitrogen gas is attached to the reaction furnace (A), and the inert gas is supplied to the reaction furnace (A). The reaction furnace (A) can be pressurized with an inert gas.

該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法では、四塩化珪素蒸気及び亜鉛蒸気の供給を止めることにより、多結晶シリコンの製造を終了する。その後、該反応炉(A)を冷却し、多結晶シリコンが析出した該析出棒を、該反応炉(A)の外に取り出す。そして、析出した多結晶シリコンを該析出棒から掻き落して、多結晶シリコンを得る。   In the method for producing polycrystalline silicon using the reactor (A), the production of polycrystalline silicon is completed by stopping the supply of silicon tetrachloride vapor and zinc vapor. Thereafter, the reaction furnace (A) is cooled, and the precipitation rod on which polycrystalline silicon is deposited is taken out of the reaction furnace (A). Then, the deposited polycrystalline silicon is scraped off from the precipitation rod to obtain polycrystalline silicon.

該炭化珪素棒の場合、多結晶シリコンを掻き落した後の該炭化珪素棒は、再び、該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法にて、使用される。また、再使用する前に、該炭化珪素棒を、純水又は塩酸、硝酸、フッ化水素酸等の酸などで洗浄してもよい。   In the case of the silicon carbide rod, the silicon carbide rod after the polycrystalline silicon is scraped off is used again in the method for producing polycrystalline silicon using the reaction furnace (A). Further, before reuse, the silicon carbide rod may be washed with pure water or an acid such as hydrochloric acid, nitric acid, hydrofluoric acid or the like.

このようにして、該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法により得られる多結晶シリコンは、亜鉛を還元剤に用いて製造されるため、亜鉛を含有する。該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法により得られる多結晶シリコン中の亜鉛含有量は、0.1〜100質量ppm、好ましくは0.1〜10質量ppm、特に好ましくは0.1〜1質量ppmである。多結晶シリコン中の亜鉛含有量が、上記範囲内であることにより、6−N以上の高純度の多結晶シリコンインゴットを製造することができる。なお、多結晶シリコンの純度の分析は高周波誘導プラズマ発光分析法(ICP−AES)により求められる。その分析方法は、以下に示す通りである。
得られた多結晶シリコン1.5gに、38%フッ化水素酸16mlと55%硝酸30mlを加えて、完全に溶解させた後、蒸発乾固させる。次いで、1%硝酸5mlで定溶し、ICP−AES(サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社製IRIS Advantage/RP型)により不純物濃度を測定して、多結晶シリコンの純度を算出する。
Thus, since the polycrystalline silicon obtained by the manufacturing method of polycrystalline silicon using this reaction furnace (A) is manufactured using zinc as a reducing agent, it contains zinc. The zinc content in the polycrystalline silicon obtained by the method for producing polycrystalline silicon using the reactor (A) is 0.1 to 100 ppm by mass, preferably 0.1 to 10 ppm by mass, particularly preferably 0.00. It is 1-1 mass ppm. When the zinc content in the polycrystalline silicon is within the above range, a high-purity polycrystalline silicon ingot of 6-N or more can be produced. Note that the purity of the polycrystalline silicon is determined by high frequency induction plasma emission spectrometry (ICP-AES). The analysis method is as follows.
To 1.5 g of the obtained polycrystalline silicon, 16 ml of 38% hydrofluoric acid and 30 ml of 55% nitric acid are added and completely dissolved, and then evaporated to dryness. Next, the solution is fixed with 5 ml of 1% nitric acid, and the impurity concentration is measured by ICP-AES (IRIS Advantage / RP type manufactured by Thermo Fisher Scientific Co., Ltd.) to calculate the purity of the polycrystalline silicon.

また、該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法により得られる多結晶シリコンの形状は、樹枝状、針状又は板状であり、直径が3μm以下の細粒状ではない。該反応炉(A)を用いる多結晶シリコンの製造方法では、樹枝状又は針状にシリコンの結晶が成長するので、大きな樹枝状又は針状のものに成長するが、得られる多結晶シリコン中には、大きな樹枝状又は針状のものの他に、板状になるものや、小さな樹枝状又は針状のものもあり、また、該炭化珪素棒から掻き落す際に樹枝状又は針状のものが砕けて、小さな樹枝状又は針状となったものもある。該樹枝状、針状又は板状の多結晶シリコンの大きさは、好ましくは100μm以上、特に好ましくは500μm以上、更に好ましくは1,000μm以上である。そして、該樹枝状、針状又は板状の多結晶シリコンとしては、50質量%以上が100μmメッシュサイズのスクリーンを通過しない樹枝状、針状又は板状の多結晶シリコンであることが好ましく、50質量%以上が500μmメッシュサイズのスクリーンを通過しない樹枝状、針状又は板状の多結晶シリコンであることが特に好ましい。なお、該樹枝状とは、図6の(6−1)に示すような、幹部31と該幹部31から伸びる枝部32とからなる形状であり、また、該針状とは、図6の(6−2)に示すような、略直線に伸びた形状であり、また、該板状とは、鱗片状、フレーク状等の略平面方向に広がった形状である。また、該樹枝状の該枝部32から更に分岐して結晶が伸びている形状もある。また、該樹枝状、針状又は板状の多結晶シリコンの大きさとは、樹枝状の場合は結晶の最も長い部分の長さ(図6の(6−1)では符号33aの長さ)を指し、針状の場合は結晶の長さ(図6の(6−2)では符号33bの長さ)を指し、板状の場合は結晶の最も長い径を指す。   Moreover, the shape of the polycrystalline silicon obtained by the polycrystalline silicon manufacturing method using the reactor (A) is a dendritic shape, a needle shape or a plate shape, and is not a fine particle having a diameter of 3 μm or less. In the method for producing polycrystalline silicon using the reactor (A), silicon crystals grow into dendrites or needles, so that they grow into large dendrites or needles. In addition to large dendritic or needle-like ones, there are plate-like ones, small dendritic or needle-like ones, and when scraping from the silicon carbide rod, dendritic or needle-like ones are Some are broken into small dendrites or needles. The size of the dendritic, needle-like or plate-like polycrystalline silicon is preferably 100 μm or more, particularly preferably 500 μm or more, and further preferably 1,000 μm or more. The dendritic, needle-like or plate-like polycrystalline silicon is preferably dendritic, needle-like or plate-like polycrystalline silicon in which 50% by mass or more does not pass through a screen of 100 μm mesh size. Particularly preferred is a dendritic, needle-like or plate-like polycrystalline silicon whose mass% or more does not pass through a screen of 500 μm mesh size. The dendritic shape is a shape comprising a trunk portion 31 and a branch portion 32 extending from the trunk portion 31 as shown in (6-1) of FIG. 6, and the needle shape is a shape shown in FIG. As shown in (6-2), the shape extends in a substantially straight line, and the plate shape is a shape extending in a substantially planar direction such as a scale shape or a flake shape. In addition, there is a shape in which the branches extend further from the dendritic branch 32 and the crystal extends. The size of the dendritic, needle-like or plate-like polycrystalline silicon is the length of the longest part of the crystal in the case of a dendritic shape (the length of 33a in (6-1) in FIG. 6). In the case of a needle shape, it indicates the length of the crystal (the length of 33b in (6-2) in FIG. 6), and in the case of a plate shape, it indicates the longest diameter of the crystal.

次に、実施例を挙げて本発明を更に具体的に説明するが、これは単に例示であって、本発明を制限するものではない。   EXAMPLES Next, although an Example is given and this invention is demonstrated more concretely, this is only an illustration and does not restrict | limit this invention.

(実施例1)
<多結晶シリコンの製造>
下記反応炉において、亜鉛蒸気の供給管から930℃に加熱して気化させた亜鉛蒸気を窒素ガスと共に反応炉内に導入し、四塩化珪素蒸気の供給管から930℃に加熱して気化させた四塩化珪素蒸気を反応炉に供給しつつ、反応炉内を930℃、炭化珪素棒の加熱温度を1,000℃にして、四塩化珪素を74g/分の速度で、亜鉛を50g/分の速度で供給し、四塩化珪素と亜鉛の反応を行った。
<反応炉(図1の形態例で、炭化珪素棒の設置本数が3本の形態例)>
反応炉:内径300mm×長さ2,500mmの石英製反応管を使用
炭化珪素棒:シリコン含浸炭化珪素棒、外径30mm×長さ1,000mm、本数3本(反応炉の中心を中心とする円弧上に、等間隔に設置)、シリコン含浸炭化珪素棒の炭化珪素:含浸シリコンの質量比は、85:15
四塩化珪素蒸気供給管と亜鉛蒸気供給管の垂直方向の位置関係:同一高さ
四塩化珪素蒸気供給管と亜鉛蒸気供給管の水平方向の位置関係:図4に示す位置関係
反応炉出口の排出管内径:100mm
排出管の位置:排出管6の下側が反応炉の下側の蓋部2bの上面より700mm上側
Example 1
<Manufacture of polycrystalline silicon>
In the following reactor, zinc vapor heated and vaporized from a zinc vapor supply pipe to 930 ° C. was introduced into the reaction furnace together with nitrogen gas, and vaporized by heating to 930 ° C. from a silicon tetrachloride vapor supply pipe. While supplying silicon tetrachloride vapor to the reactor, the inside of the reactor is set to 930 ° C., the heating temperature of the silicon carbide rod is set to 1,000 ° C., silicon tetrachloride is supplied at a rate of 74 g / min, and zinc is supplied at 50 g / min. Feeding at a rate, the reaction between silicon tetrachloride and zinc was carried out.
<Reactor (in the embodiment shown in FIG. 1, the number of silicon carbide rods installed is 3)>
Reaction furnace: A quartz reaction tube having an inner diameter of 300 mm and a length of 2,500 mm is used. Silicon carbide rod: silicon-impregnated silicon carbide rod, outer diameter of 30 mm × length of 1,000 mm, number of three (centering on the center of the reaction furnace) On a circular arc at equal intervals), the silicon carbide: impregnated silicon mass ratio of the silicon-impregnated silicon carbide rod is 85:15
Positional relationship between silicon tetrachloride vapor supply pipe and zinc vapor supply pipe in the vertical direction: the same height Positional relationship between silicon tetrachloride vapor supply pipe and zinc vapor supply pipe in the horizontal direction: Positional relationship shown in Fig. 4 Discharge at reactor outlet Pipe inner diameter: 100mm
Position of the discharge pipe: The lower side of the discharge pipe 6 is 700 mm above the upper surface of the lid 2b on the lower side of the reactor

そして、40時間反応を行った後、冷却し、炭化珪素棒を反応炉の外に取り出した。炭化珪素棒に針状の多結晶シリコンが析出していることが確認された。次いで、炭化珪素棒から多結晶シリコンを掻き落して、多結晶シリコンを得た。多結晶シリコンの収率は、供給原料に対し62%であり、多結晶シリコンの純度は6−Nであった。なお、炭化珪素棒は、多結晶シリコンを掻き落す際に、破壊されることはなく、再使用可能な状態であった。   And after reacting for 40 hours, it cooled and the silicon carbide rod was taken out of the reaction furnace. It was confirmed that acicular polycrystalline silicon was deposited on the silicon carbide rod. Next, polycrystalline silicon was scraped off from the silicon carbide rod to obtain polycrystalline silicon. The yield of polycrystalline silicon was 62% with respect to the feedstock, and the purity of polycrystalline silicon was 6-N. The silicon carbide rod was not broken when the polycrystalline silicon was scraped off, and was in a reusable state.

上記多結晶シリコンの製造を、10バッチ繰り返した。反応炉を冷却後、炭化珪素棒を取り出し、反応炉内の残留物を確認したところ、反応炉の側壁及び排出管に残留物が観察された。また、反応炉の下側の蓋部2b上にも残留物が確認された。   The production of the polycrystalline silicon was repeated 10 batches. After cooling the reaction furnace, the silicon carbide rod was taken out and the residue in the reaction furnace was confirmed. Residue was observed on the side wall and the discharge pipe of the reaction furnace. Residue was also confirmed on the lower lid 2b of the reactor.

次いで、炭化珪素棒を炭化珪素棒の固定部材から外し、炭化珪素棒の固定部材のみを反応炉内に戻し、蓋部材を閉め、四塩化珪素蒸気の供給管に塩素ガスの移送管を繋ぎ、亜鉛蒸気の供給管に付設されているバルブを閉めた。次いで、反応炉内を750℃に加熱し、塩素ガスを38m/時間で供給し、洗浄を行った。このときの反応炉内の圧力は0.1MPaG以下であった。1時間塩素ガスを供給して洗浄を行った後、塩素ガスの供給を止め、反応炉を冷却した。冷却後、反応炉内を確認したところ、残留物の残留は観察されなかった。 Next, the silicon carbide rod is removed from the fixing member of the silicon carbide rod, only the fixing member of the silicon carbide rod is returned into the reactor, the lid member is closed, and a chlorine gas transfer pipe is connected to the silicon tetrachloride vapor supply pipe, The valve attached to the zinc vapor supply pipe was closed. Next, the inside of the reactor was heated to 750 ° C., and chlorine gas was supplied at 38 m 3 / hour to perform cleaning. The pressure in the reaction furnace at this time was 0.1 MPaG or less. After cleaning by supplying chlorine gas for 1 hour, the supply of chlorine gas was stopped and the reactor was cooled. After cooling, the inside of the reactor was checked, and no residue was observed.

本発明によれば、簡便に多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄が可能なため、安価に多結晶シリコンを製造できる。   According to the present invention, since the reactor for producing polycrystalline silicon can be easily cleaned, polycrystalline silicon can be produced at low cost.

1 反応炉の側壁
2、2a、2b 蓋部
3 炭化珪素棒
4 炭化珪素棒の固定部材
5 ヒーター
6 排出管
7 四塩化珪素蒸気の供給管
8 亜鉛蒸気の供給管
9 四塩化珪素蒸気
10 亜鉛蒸気
11 排出ガス
12 炉内壁つば部
14 塩素ガス
20 反応炉
31 幹部
32 枝部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Side wall 2, 2a, 2b of reaction furnace 3 Silicon carbide rod 4 Fixing member 5 of silicon carbide rod 5 Heater 6 Exhaust pipe 7 Silicon tetrachloride vapor supply pipe 8 Zinc vapor supply pipe 9 Silicon tetrachloride vapor 10 Zinc vapor 11 Exhaust Gas 12 Furnace Inner Collar 14 Chlorine Gas 20 Reactor 31 Trunk 32 Branch

Claims (3)

四塩化珪素と亜鉛を反応させて多結晶シリコンを生成させる反応炉の洗浄方法であって、該反応炉内を200〜1,000℃に加熱しつつ、塩素ガスを、四塩化珪素蒸気の供給管から供給し、排出ガスの排出管から排出して、該反応炉内に残留しているシリコン及び亜鉛と塩素ガスとを反応させ、残留物を除去することを特徴とする多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法。   A method for cleaning a reactor in which silicon tetrachloride and zinc are reacted to produce polycrystalline silicon, wherein chlorine gas is supplied to silicon tetrachloride vapor while heating the reactor to 200 to 1,000 ° C. For the production of polycrystalline silicon, characterized in that it is supplied from a pipe, discharged from an exhaust gas discharge pipe, the silicon and zinc remaining in the reactor react with chlorine gas, and the residue is removed. How to clean the reactor. 前記排出ガスの排出管から排出される塩素ガスから、四塩化珪素及び塩化亜鉛を分離後、四塩化珪素及び塩化亜鉛が分離された塩素ガスを、再び、前記四塩化珪素蒸気の供給管から供給して、塩素ガスを循環させることを特徴とする請求項1記載の多結晶シリコン製造用の反応炉の洗浄方法。   After separation of silicon tetrachloride and zinc chloride from chlorine gas discharged from the exhaust gas discharge pipe, chlorine gas from which silicon tetrachloride and zinc chloride have been separated is supplied again from the silicon tetrachloride vapor supply pipe The method for cleaning a reactor for producing polycrystalline silicon according to claim 1, wherein chlorine gas is circulated. 前記反応炉が、四塩化珪素と亜鉛を反応させて多結晶シリコンを生成させる反応炉であって、上部に四塩化珪素蒸気の供給管及び亜鉛蒸気の供給管を有し且つ下部に排出ガスの排出管を有する反応炉であることを特徴とする請求項1又は2いずれか1項記載のシリコン製造用の反応炉の洗浄方法。   The reactor is a reactor for reacting silicon tetrachloride with zinc to produce polycrystalline silicon, having a silicon tetrachloride vapor supply pipe and a zinc vapor supply pipe in the upper part and an exhaust gas in the lower part. The method for cleaning a reactor for producing silicon according to claim 1, wherein the reactor is a reactor having a discharge pipe.
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