JP5177708B2 - リフレクトアレイ - Google Patents

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    • H01Q3/44Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the electric or magnetic characteristics of reflecting, refracting, or diffracting devices associated with the radiating element
    • H01Q3/46Active lenses or reflecting arrays

Description

本発明は、リフレクトアレイに関する。
移動通信において、電波の経路に建物等の障害物が存在すると、受信レベルが劣化してしまう。このため、その建物と同程度以上の高所に反射板(リフレクタ)を設け、電波が届きにくい場所に反射波を送る技術がある。反射板により電波を反射する際、垂直面内における電波の入射角が比較的小さかった場合、反射板は電波を所望方向に向けることが困難になってしまう。一般に、電波の入射角と反射角は等しいからである。
この問題に対処するため、地面を覗き込むように反射板を傾斜させることが考えられる。そのようにすると、反射板に対する入射角及び反射角を大きくすることができ、到来波を所望方向に向けることができる。しかしながら、電波を遮るような建物と同程度に高い場所の反射板を、地面側に傾けて設置することは、安全性の観点からは好ましくない。このような観点から、電波の入射角が比較的小さかったとしても、所望方向に反射波を向けることが可能なリフレクタが望まれている。
そのようなリフレクタとして、リフレクトアレイの応用が報告されている(例えば、非特許文献1、2参照)。
リフレクトアレイは、反射波の位相差を所望方向にビームが向くようにそろえることで設計でき、図1に示すようにスタブを使う方法、サイズを変える方法などの技術が紹介されている(例えば、非特許文献3参照)
L. Li et al., "Microstrip reflectarray using crossed-dipole with frequency selective surface of loops," ISAP2008, TP-C05, 1645278. T. Maruyama, T. Furuno, and S. Uebayashi, "Experiment and analysis of reflect beam direction control using a reflector having periodic tapered mushroom-like structure," ISAP2008, MO-IS1, 1644929, p. 9. J. Huang and J. A. Encinar, Reflectarray antennas. Piscataway, N.J.Hoboken: IEEE Press; Wiley-Interscience, 2008.
しかしながら図1(a)に示された従来のスタブを用いる方法では、スタブによる損失や、スタブからの不要な放射が問題となり、また、図1(b)のパッチサイズを変える方法では、位相差をつけるためにパッチの大きさまで変化してしまうという問題が生じていた。このため、サイズの異なるパッチは、位相差を変化させるだけでなく、放射に対しても影響を与えてしまうという問題があった。さらに、これらの方法は通常、反射位相の変化の範囲は360度よりも小さいという問題があった。
図2に、従来のリフレクトアレイの一例を示す。
該リフレクトアレイ1は、マイクロストリップアンテナの形状をアレイ素子10とし、地板20を金属平板としている。図2には、アレイ素子10が方形の例を示す。アレイ素子10のサイズa,bは、位相差により決定される。
多数の素子を用いて所望の方向に電波を向けるリフレクトアレイを実現するには、所定の反射係数の位相(反射位相)を与える素子を整列させる必要がある。理想的には、パッチサイズのような何らかの構造パラメータの所定のレンジに対して、反射位相が、−πラジアンから+πラジアンまでの全範囲(2πラジアン=360度)を網羅できることが望ましい。
しかしながら、マイクロストリップアンテナによりアレイ素子を構成した場合、所与の周波数における反射係数の位相は広範囲にわたるものではない、という問題がある。
そこで、本発明は上述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、反射係数の位相範囲を広くできるとともに、リフレクトアレイを構成する素子のサイズを変えないで位相差を変えることの可能な、リフレクトアレイを提供することである。
本リフレクトアレイは、
基板と、
該基板上の一主面を複数に分割した各領域に一つずつ形成された複数のアレイ素子
を有し、
前記アレイ素子は、複数のパッチと、該複数のパッチ間の間隙によって構成され、
前記複数のアレイ素子のうち、少なくとも一部のアレイ素子を構成する複数のパッチ間の間隙は、他のアレイ素子を構成する複数のパッチ間の間隙とは異なる
本リフレクトアレイは、
基板と、
該基板上の一主面を複数に分割した各領域に一つずつ形成された複数のアレイ素子と
を有し、
前記アレイ素子は、複数のパッチと、該複数のパッチ間の間隙によって構成され、
前記間隙は、所望の反射係数の位相に応じて調整される。
開示のリフレクトアレイによれば、反射係数の位相範囲を広くできる。また、開示のリフレクトアレイによれば、リフレクトアレイを構成する素子のサイズを変えないで位相差を変えることが可能となり、放射の劣化を防ぐことができる。
従来の問題点を示す図である。 従来のマイクロストリップリフレクトアレイを示す図である。 本実施例に従ったリフレクトアレイを示す模式図である。 本実施例に従ったアレイ素子を示す模式図(その1)である。 本実施例に従ったアレイ素子を示す模式図(その2)である。 本実施例に従ったアレイ素子の寸法の一例(24GHz)を示す図である。 本実施例に従ったアレイ素子の寸法の一例(12GHz)を示す図である。 本実施例に従ったアレイ素子の寸法の一例(3GHz)を示す図である。 本実施例に従ったアレイ素子の反射係数の位相特性(その1)(24GHz)を示す特性図である。 本実施例に従ったアレイ素子の反射係数の位相特性(その1)(3GHz)を示す特性図である。 本実施例に従ったアレイ素子の反射係数の位相特性(その1)(12GHz)を示す特性図である。 本実施例に従ったアレイ素子の反射係数の位相特性(その2)を示す特性図である。 本実施例に従ったアレイ素子の反射係数の位相特性(その3)(24GHz)を示す特性図である。 本実施例に従ったリフレクトアレイ(その1)を示す模式図である。 本実施例に従ったリフレクトアレイ(その1)の寸法の一例を示す図である。 本実施例に従ったリフレクトアレイ(その1)の放射パターンの一例を示す図である。 本実施例に従ったリフレクトアレイ(その2)を示す模式図である。 本実施例に従ったリフレクトアレイ(その2)の寸法の一例を示す図である。 本実施例に従ったリフレクトアレイ(その3)を示す模式図である。 本実施例に従ったリフレクトアレイ(その3)の寸法の一例を示す図である。 本実施例に従ったリフレクトアレイ(その3)の放射パターンの一例を示す図である。 本変形例に従ったアレイ素子を示す模式図である。 本変形例に従ったアレイ素子を示す模式図である。 本変形例に従ったアレイ素子を示す模式図である。 本実施例に従ったアレイ素子(反射板を設置しない例)を示す模式図である。
次に、本発明を実施するための形態を、以下の実施例に基づき図面を参照しつつ説明する。
なお、実施例を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を用い、繰り返しの説明は省略する。
<実施例>
以下本発明の第一の実施例を図3と図4を用いて説明する。図3はリフレクトアレイの全体構造を示しており図4はリフレクトアレイを構成するアレイ素子を示している。
<リフレクトアレイ>
本実施例に従ったリフレクトアレイについて説明する。
図3は、本実施例に従ったリフレクトアレイ100を示す。本リフレクトアレイ100では、基板上の一主面を複数に分割した各領域にアレイ素子が形成されている。該アレイ素子は、複数のパッチにより構成される。アレイ素子の複数のパッチは所定の間隔隔てて配置される。以下、アレイ素子が形成された基板上の各領域をエレメントセル(element cell)200と呼ぶ。該エレメントセル200は、periodic cellとも呼ばれる。各アレイ素子のサイズ、すなわち図4のldとWdはそれぞれ全て同じ値である。
図3に示されるリフレクトアレイ100では、X方向に7個、Y方向に4個と、アレイ素子が2次元に配置されている例が示されるが、1次元であってもよい。また、配置されるアレイ素子の数は問わず、何個配置されていてもよい。詳細については後述する。
<エレメントセル>
本実施例に従ったエレメントセル200について説明する。
図4は、本実施例に従ったエレメントセル200を示す。図4(a)は上面図(Z方向からの図)を示し、図4(b)は断面図(図4(a)の一点鎖線部分の断面をA方向から見たもの)を示す。
エレメントセル200は一辺がLの正方形をなす、比誘電率εrの基板202の一主面に、導体によりパッチ204a、204bが形成される。パッチ204a、204bによりダイポールが形成される。基板202のパッチ204a、204bが形成された面の反対の面には金属反射板206が形成される。基板202の一辺の長さはLにより表される。該Lは、エレメントセル200の一辺の長さであってもよい。また、別の実施例では、アレイ素子は長方形であってもよい。
例えば、基板202の厚さはtにより表される。
図4に示される例では、アレイ素子は、縦の長さがld、横の長さ(幅)がwdである。2つの隣接するパッチ間には、所定の間隙205(gap)が形成される。該間隙205により、隣接するパッチ間に、端容量(fringe capacitor)が形成される。
本実施例では、2つのパッチの隣接する部分の形状を櫛歯形(櫛形)(207a、207b)に形成し、該2つのパッチを所定の間隔隔てて噛み合うように配置する例について説明する。該櫛歯形はメアンダと呼ばれることもある。該2つのパッチを所定の間隔隔てて噛み合うように配置することにより略矩形波形状の間隙が形成される。2つのパッチ間に間隙が形成されていれば、該間隙の形状はどのような形状であってもよい。例えば、直線形状であってもよいし、任意の曲線、例えば、正弦波の形状であってもよいし、のこぎり波の形状であってもよい。
図4に示される例では、櫛歯形の歯の部分(finger)207a、207bの縦の長さがls、横の長さ(幅)がwsにより表される。また、間隙205は、本実施例では,2つのパッチの隣接する歯の部分間の間隔、sにより表される。従って、1つのパッチにおける櫛歯形のピッチは2(ws+s)により表される。ここで、ピッチは、隣接する歯の部分間の間隔と、櫛歯形の歯の部分の幅との和を示す。また、ws={wd-(N-1)s}/Nである。ここで、Nは櫛歯形の歯の数(the number of the fingers)であり、図4に示されるエレメントセル200では、パッチ204aについて6、パッチ204bについて5の合計11である。
図5は、図4とはNの値が異なるアレイ素子の例を示す。図5に示されるエレメントセル200では、櫛歯形の歯の部分207a、207bの数Nの値がパッチ204aについて4、パッチ204bについて3の合計7である。
図6、図7A、及び図7Bは、本エレメントセル200におけるパッチの寸法の一例を示す。
図6は図4に示されるエレメントセル200の寸法の一例が示される。入射波の周波数は24GHzである。図6に示されるように、入射波が24GHzである場合のエレメントセル200の設計例として、Lは5.0[mm]、ldは4.0[mm]、wdは1.2[mm]、sは0.05[mm]、tは0.75[mm]、εrは2.5である。
図7Aは図5に示されるエレメントセル200の寸法の一例が示される。入射波の周波数は12GHzである。図7Aに示されるように、入射波が12GHzである場合のエレメントセル200の設計例として、Lは10.0[mm]、ldは8.0[mm]、wdは2.6[mm]、sは0.2[mm]、tは1.6[mm]、εrは2.5である。
図7Bは図5に示されるエレメントセル200の寸法の一例が示される。入射波の周波数は3GHzである。図7Bに示されるように、入射波が3GHzである場合のエレメントセル200の設計例として、Lは40.0[mm]、ldは32.0[mm]、wdは9.6[mm]、sは0.4[mm]、tは6.0[mm]、εrは2.5である。
図8−図10は、反射係数の位相(Reflection Phase(Deg.))と、パッチの櫛歯形の歯の部分207a、207bの縦の長さlsとの間の関係を示す。図8−図10では、パッチの櫛歯形の歯の部分207a、207bの縦の長さlsが「Length of fingers(ls, mm)」により表される。図8−図10は、アレイ素子200の表面に垂直に平面波が入射した場合を示す。入射波は、図8が24GHzであり、図9が3GHzであり、図10が12GHzである。櫛歯形の歯の部分207a、207bの数Nは、図8が11であり、図9が11であり、図10が7である。wsは、図8が0.06[mm]であり、図9が0.5[mm]であり、図10が0.2[mm]である。tは、図8が0.75mmであり、図9が6mmであり、図10が1.6mmである。
パッチの櫛歯形の歯の部分207a、207bの縦の長さlsが長くなる程、2つのパッチの隣接する略矩形波形状の間隙の長さが長くなる。換言すれば、lsが長くなる程、パッチの隣接する部分の表面積が広くなる。
櫛歯形の歯の長さlsを変化させることにより隣接するパッチの間に形成される間隙を形成する各パッチの表面積を変化させることができる。該間隙は、散乱素子の装荷負荷に該当する。該間隙は、櫛歯形の歯の部分207a、207bの横の長さ(幅)wsによっても変化させることができる。
本エレメントセル200では、パッチの櫛歯形の歯の部分207a、207bの縦の長さls及び/又は櫛歯形の歯の部分207a、207bの横の長さ(幅)wsを広範囲に変更できるため、負荷インピーダンスを広範囲に調整できる。負荷インピーダンスを広範囲に調整できるため、反射係数の位相を調節できる範囲を広くできる。
本エレメントセル200では、2つのパッチの隣接する部分の形状を櫛歯形(櫛形)に形成する例について示した。櫛歯形に形成することにより、櫛歯形の歯の長さlsを変化させることにより、容易に隣接するパッチの間に形成される間隙を形成する各パッチの表面積を変化させることができる。また、加工が容易である。
図8−図10によれば、縦の長さlsを調整することにより、広い反射係数の位相範囲が得られることが示される。具体的には、反射係数の位相範囲が1000度以上得られることもある。
反射係数の位相は、使用する周波数や、入射角によっても異なる。
図11は、入射波の周波数が異なる場合の反射係数の位相と、パッチの櫛歯形の歯の部分207a、207bの縦の長さls(Length of fingers(ls, mm))との間の関係を示す。図11には、入射波の周波数が23GHz、24GHz、25GHzの場合を示す。
図11によれば、23GHz、24GHz、25GHzのいずれの場合も、反射係数の位相範囲が1000度以上得られており、本リフレクトアレイが帯域を考慮して設計することにより、広い帯域で動作できることを示している。
図12は、入射角が異なる場合の反射係数の位相と、パッチの櫛歯形の歯の部分の縦の長さls(Length of fingers(ls, mm))との間の関係を示す。図12には、垂直入射の場合、X-Z平面において、入射角が30度、45度、60度の場合について示す。入射波は24GHzである。
図12によれば、斜め入射(oblique incidence)の影響は大きくはないため、リフレクトアレイのサイズによっては無視できることが分かる。ただし、リフレクトアレイのサイズがある程度大きくなった場合には、考慮した方が好ましい。
<リフレクトアレイ(その1)>
図13は、リフレクトアレイの設計例(その1)を示す。
図13に示されるリフレクトアレイは、図3に示されるリフレクトアレイと同様に、X方向に7個、Y方向に4個のアレイ素子が配置される。入射波は24GHzである。該リフレクトアレイのサイズは、X方向が35[mm]、Y方向が20[mm]である。tは0.75mmである。各アレイ素子のサイズは略同一である。
図13に示されるリフレクトアレイにおいて、縦の列、換言すればX方向に配置されたアレイ素子において、隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsは異なる。図13に示されるリフレクトアレイの左側に付されている数値は、アレイ素子における櫛歯形の歯の部分の縦の長さls[mm]を示す。
また、横の列、換言すればY方向に配置されたアレイ素子において、隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さls[mm]は同じである。
櫛歯形の歯の部分の縦の長さは一例であり、適宜変更可能である。例えば、X方向で隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsが同じで、Y方向で隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsが異なるようにしてもよい。また、少なくとも一部のアレイ素子における長さが異なっていてもよい。また、全てのアレイ素子における長さが同じであってもよい。
メインビームは、X-Z平面で走査されるため、X方向に配置された隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsは異なり、Y方向に配置された隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsは同じにされる。
図14は、図13に示されるリフレクトアレイ100の設計寸法の一例と、補償される位相(Compensation Phase(Deg.))を示す。
図14によれば、X方向に隣接するアレイ素子間で補償される位相は、約120度であることが分かる。
図15は、本リフレクトアレイ100の放射パターンの一例を示す。入射波が3GHzである場合に、指向性が最大となった。該指向性は、14.1[dBi]である。指向性が最大となる方向は設計値の60度に対して、58度である。該58度は、設計値からのずれが小さいことを示している。
<リフレクトアレイ(その2)>
図16は、リフレクトアレイの設計例(その2)を示す。
図16に示されるリフレクトアレイは、図3に示されるリフレクトアレイと同様に、X方向に7個、Y方向に4個のアレイ素子が配置される。入射波は3GHzである。該リフレクトアレイのサイズは、X方向が280[mm]、Y方向が160[mm]である。tは6mmである。各アレイ素子のサイズは略同一である。
図16に示されるリフレクトアレイにおいて、縦の列、換言すればX方向に配置されたアレイ素子において、隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsは異なる。図16に示されるリフレクトアレイの左側に付されている数値は、アレイ素子における櫛歯形の歯の部分の縦の長さls[mm]を示す。
また、横の列、換言すればY方向に配置されたアレイ素子において、隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さls[mm]は同じである。
櫛歯形の歯の部分の縦の長さは一例であり、適宜変更可能である。例えば、X方向で隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsが同じで、Y方向で隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsが異なるようにしてもよい。また、少なくとも一部のアレイ素子における長さが異なっていてもよい。また、全てのアレイ素子における長さが同じであってもよい。
メインビームは、X-Z平面で走査されるため、X方向に配置された隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsは異なり、Y方向に配置された隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsは同じにされる。
図17は、図16に示されるリフレクトアレイの設計寸法の一例と、補償される位相(Compensation Phase(Deg.))を示す。
図17によれば、X方向に隣接するアレイ素子間で補償される位相は、約120度であることが分かる。
<リフレクトアレイ(その3)>
図18は、リフレクトアレイの設計例(その3)を示す。
図18に示されるリフレクトアレイは、図3に示されるリフレクトアレイとは異なり、X方向に11個、Y方向に6個のアレイ素子が配置される。入射波は12GHzである。該リフレクトアレイのサイズは、X方向が110[mm]、Y方向が60[mm]である。tは1.6mmである。各アレイ素子のサイズは略同一である。
図18に示されるリフレクトアレイにおいて、縦の列、換言すればX方向に配置されたアレイ素子において、隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsは異なる。図18に示されるリフレクトアレイの左側に付されている数値は、アレイ素子における櫛歯形の歯の部分の縦の長さls[mm]を示す。
また、横の列、換言すればY方向に配置されたアレイ素子において、隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さls[mm]は同じである。
櫛歯形の歯の部分の縦の長さは一例であり、適宜変更可能である。例えば、X方向で隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsが同じで、Y方向で隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsが異なるようにしてもよい。また、少なくとも一部のアレイ素子における長さが異なっていてもよい。また、全てのアレイ素子における長さが同じであってもよい。
メインビームは、X-Z平面で走査されるため、X方向に配置された隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsは異なり、Y方向に配置された隣接するアレイ素子の櫛歯形の歯の部分の縦の長さlsは同じにされる。
図19は、図18に示されるリフレクトアレイの設計寸法の一例と、補償される位相(Compensation Phase(Deg.))を示す。
図19によれば、X方向に隣接するアレイ素子間で補償される位相は、約120度であることが分かる。
図20は、本リフレクトアレイ100の放射パターンの一例を示す。入射波の周波数は12GHzであり、指向性利得は17[dBi]である。指向利得が最大となる方向は設計値の60度に対して、58度である。該58度は、設計値からのずれが小さいことを示している。
本エレメントセルによれば、隣接するパッチの間に形成される間隙を調整することにより、負荷インピーダンスを広範囲に調整できる。負荷インピーダンスを広範囲に調整できるため、反射係数の位相を調節できる範囲を広くできる。エレメントセルにおいて反射係数の位相を調節できる範囲を広くできるため、該エレメントセルを複数配置したリフレクトアレイにおいても反射係数の位相を調節できる範囲を広くできる。具体的には、パッチの櫛歯形の歯の部分の縦の長さls及び/又は櫛歯形の歯の部分(finger)の横の長さ(幅)wsを変更することにより、負荷インピーダンスを広範囲に調整できる。負荷インピーダンスを広範囲に調整できるため、反射係数の位相を調節できる範囲を広くできる。
本エレメントセルによれば、隣接するパッチの間に形成される間隙を調整することにより、反射係数の位相を調節できる範囲を広くできる。このため、該エレメントセルを複数配置したリフレクトアレイにおいて、アレイ素子の大きさを変化させることなく、反射係数の位相を調節できる範囲を広くできる。アレイ素子の大きさを変化させる必要がないため、隣接するアレイ素子間の間隔が異なることによる、リフレクトアレイの特性劣化を低減できる。
<変形例(その1)>
<リフレクトアレイ>
本変形例に従ったリフレクトアレイは、図3、及び図13と同様である。
<エレメントセル>
本変形例に従ったエレメントセルについて説明する。
図21は、本変形例に従ったエレメントセル200を示す。図21(a)は上面図(Z方向からの図)を示し、図21(b)は断面図(図21(a)の一点鎖線部分の断面をA方向から見たもの)を示す。
エレメントセル200は、基板202の一主面に、導体によりパッチ204a、204b、204cが形成される。基板202のパッチ204a、204b、204cが形成された面の反対の面には、金属反射板206が形成される。エレメントセル200の一辺の長さはLにより表される。
例えば、基板202は、誘電体により構成される。該基板202の比誘電率はεrにより表される。該基板202の厚さはtにより表される。
図21に示される例では、アレイ素子は、縦の長さがld、横の長さ(幅)がwdである。2つの隣接するパッチ間には、所定の間隙(gap)が形成される。該間隙により、2つの隣接するパッチ間に、端容量(fringe capacitor)が形成される。
本エレメントセル200では、2つのパッチの隣接する部分の形状を櫛歯形(櫛形)(207c、207d、207e、207f)に形成し、該2つのパッチを所定の間隔隔てて噛み合うように配置する。該2つのパッチを所定の間隔隔てて噛み合うように配置することにより略矩形波形状の間隙が形成される。2つのパッチ間に間隙が形成されていれば、該間隙の形状はどのような形状であってもよい。例えば、直線形状であってもよいし、任意の曲線、例えば、正弦波の形状であってもよいし、のこぎり波の形状であってもよい。
図21に示される例では、パッチ204aと、該パッチ204aに隣接するパッチ204bにおいて、櫛歯形の歯の部分(finger) 207c、207dの縦の長さがls1、横の長さ(幅)がws1により表される。該2つのパッチの隣接する歯の部分間の間隙205は、s1により表される。従って、1つのパッチにおける櫛歯形のピッチは2(ws1+s1)により表される。ここで、ピッチは、隣接する歯の部分間の間隔と、櫛歯形の歯の部分の幅との和を示す。また、ws1={wd-(N-1)s1}/Nである。ここで、Nは櫛歯形の歯の数であり、図21に示されるアレイ素子200では、パッチ204aについて6、該パッチ204aに隣接するパッチ204bについて5の合計11である。s1は隣接する歯の間の間隔である。
また、パッチ204bと、該パッチ204bに隣接するパッチ204cにおいて、櫛歯形の歯の部分207e、207fの縦の長さがls2、横の長さ(幅)がws2により表される。該2つのパッチの隣接する歯の部分間の間隙205はs2により表される。従って、1つのパッチにおける櫛歯形のピッチは2(ws2+s2)により表される。ここで、ピッチは、隣接する歯の部分間の間隔と、櫛歯形の歯の部分の幅との和を示す。また、ws2={wd-( N-1)s2}/N2である。ここで、N2は櫛歯形の歯の数であり、図21に示されるエレメントセル200では、パッチ204bについて6、該パッチ204bに隣接するパッチ204cについて5の合計11である。sは隣接する歯の間の間隔である。NとN2は等しくてもよいし異なってもよい。
櫛歯形の歯の部分(finger)の縦の長さls1と、ls2は等しくてもよいし異なってもよい。また、横の長さ(幅)ws1と、ws2は等しくてもよいし異なってもよい。また、2つのパッチの隣接する歯の部分間の間隔s1と、s2は等しくてもよいし異なってもよい。
本変形例では、エレメントセル200に形成されるパッチ間の間隙の数が2である場合について説明したが、3以上であってもよい。パッチ間の間隙の数が3以上である場合でも、各間隙の形状は同じであってもよいし、異なっていてもよい。
<変形例(その2)>
<リフレクトアレイ>
本変形例に従ったリフレクトアレイは、図3、及び図13と同様である。
<エレメントセル>
本変形例に従ったエレメントセル200について説明する。
図22は、本変形例に従ったエレメントセル200を示す。図22(a)は上面図(Z方向からの図)を示し、図22(b)は断面図(図22(a)の一点鎖線部分の断面をA方向から見たもの)を示す。上述した実施例、変形例において、ダイポールに形状は、矩形に限られない。矩形以外の形状の一例として、ダイポールの形状を十字とした場合について示す。
エレメントセル200は、基板202の一主面に、導体によりパッチ204a、204b、204cが形成される。基板202のパッチ204a、204b、204cが形成された面の反対の面には、金属反射板206が形成されるエレメントセル200の一辺の長さはLにより表される。
例えば、基板202は、誘電体により構成される。該基板202の比誘電率はεrにより表される。該地板202の厚さはtにより表される。
図22に示される例では、ダイポールは、縦の長さがld、横の長さ(幅)がwdである2つのパッチの一部分を重ね合わせた形状である。2つの隣接するパッチ間には、所定の間隙(gap)が形成される。該間隙により、2つの隣接するパッチ間に、端容量(fringe capacitor)が形成される。
本エレメントセル200では、2つのパッチの隣接する部分の形状を櫛歯形(櫛形)(207g、207h、207i、207j)に形成し、該2つのパッチを所定の間隔隔てて噛み合うように配置する例について説明する。該2つのパッチを所定の間隔隔てて噛み合うように配置することにより略矩形波形状の間隙が形成される。2つのパッチ間に間隙が形成されていれば、該間隙の形状はどのような形状であってもよい。例えば、直線形状であってもよいし、任意の曲線、例えば、正弦波の形状であってもよいし、のこぎり波の形状であってもよい。
図22に示される例では、パッチ204aと、該パッチ204aに隣接するパッチ204bにおいて、櫛歯形の歯の部分207g、207hの縦の長さがls3、横の長さ(幅)がws3により表される。該2つのパッチの隣接する歯の部分間の間隙205は、s3により表される。従って、1つのパッチにおける櫛歯形のピッチは2(ws3+s13)により表される。ここで、ピッチは、隣接する歯の部分間の間隔と、櫛歯形の歯の部分の幅との和を示す。また、ws3={wd-(N-1)s3}/N2である。ここで、Nは櫛歯形の歯の数であり、図22に示されるエレメントセル200では、パッチ204aについて5、該パッチ204aに隣接するパッチ204bについて6の合計11である。s3は隣接する歯の間の間隔である。NとN2は等しくてもよいし異なってもよい。
また、パッチ204bと、該パッチ204bに隣接するパッチ204cにおいて、櫛歯形の歯の部分207i、207jの縦の長さがls4、横の長さ(幅)がws4により表される。該2つのパッチの隣接する歯の部分間の間隙205はs4により表される。従って、1つのパッチにおける櫛歯形のピッチは2(ws4+s4)により表される。ここで、ピッチは、隣接する歯の部分間の間隔と、櫛歯形の歯の部分の幅との和を示す。また、ws4={wd-(N-1)s4}//N2である。ここで、Nは櫛歯形の歯の数であり、図22に示されるエレメントセル200では、パッチ204bについて6、該パッチ204bに隣接するパッチ204cについて5の合計11である。s4は隣接する歯の間の間隔である。NとN2は等しくてもよいし異なってもよい。
櫛歯形の歯の部分の縦の長さls3と、ls4は等しくてもよいし異なってもよい。また、横の長さ(幅)ws3と、ws4は等しくてもよいし異なってもよい。また、2つのパッチの隣接する歯の部分間の間隔s3と、s4は等しくてもよいし異なってもよい。
本変形例では、パッチ間の間隙の数が2である場合について説明したが、3以上であってもよい。パッチ間の間隙の数が3以上である場合でも、該間隙の形状は同じであってもよいし、異なっていてもよい。
図23は、本変形例に従ったエレメントセル200であり、3つの導体層と、2つの誘電体層を用いて、多層構成にする。さらに、第1層と第2層の導体層のダイポールの向きをクロス(交差)させることによって、多層クロスダイポールリフレクトアレーを構成している。本アレイ素子によれば、パッチの大きさを変えずに位相を変化することの可能なクロスダイポールリフレクトアレーを構成できる。
図24は、本実施例に従ったアレイ素子であり、金属反射板を使用しない場合のリフレクトアレイの例である。
本実施例及び変形例によれば、リフレクトアレイが実現される。
本リフレクトアレイは、
基板と、
該基板上の一主面を複数に分割した各領域に形成された複数のパッチと
を有し、
前記複数のパッチは、所定の間隙を介して形成される。
隣接するパッチの間に形成される間隙を調整することにより、負荷インピーダンスを広範囲に調整できる。負荷インピーダンスを広範囲に調整できるため、反射係数の位相を調節できる範囲を広くできる。
さらに、
前記複数のパッチは、他のパッチに隣接する一端面の形状が櫛歯形である。
2つのパッチの隣接する部分の形状を櫛歯形に形成することにより、櫛歯形の歯の長さlsを変化させることにより、隣接するパッチの間に形成される間隙を形成する各パッチの表面積を容易に変化させることができる。また、加工が容易である。
さらに、
前記複数のパッチのうち、少なくとも一部のパッチの櫛歯形の歯の高さ及び/又は幅が異なる。
隣接するパッチの間に形成される間隙を調整することにより、さらに負荷インピーダンスを広範囲に調整できる。負荷インピーダンスを広範囲に調整できるため、さらに反射係数の位相を調節できる範囲を広くできる。
さらに、
前記各領域に形成された複数のパッチのうち、少なくとも一部の領域に形成された複数のパッチ間の間隙のサイズ、間隙の形状、間隙の長さ、間隙の幅、及び間隙の長さと幅との比の少なくとも1つが、他の領域に形成された複数のパッチ間のサイズが異なる。
エレメントセル間で、反射係数の位相を異ならせることができる。
さらに、
前記各領域に形成された複数のパッチのサイズは等しい。
隣接するアレイ素子間のサイズが異なることによる、リフレクトアレイの特性劣化を低減できる。
さらに、
前記一主面の反対の面に形成され、反射板として作用する金属板
を有する。
以上、本発明は特定の実施例を参照しながら説明されてきたが、各実施例は単なる例示に過ぎず、当業者は様々な変形例、修正例、代替例、置換例等を理解するであろう。説明の便宜上、本発明の実施例に係る装置は模式図を用いて説明されたが、そのような装置はハードウエアで、ソフトウエアで又はそれらの組み合わせで実現されてもよい。本発明は上記実施例に限定されず、本発明の精神から逸脱することなく、様々な変形例、修正例、代替例、置換例等が包含される。
1 リフレクトアレイ
10 アレイ素子
20 地板
100 リフレクトアレイ
200 エレメントセル
202 基板
204a、204b、204c パッチ
205(205−205) 間隙
206 金属反射板
207a、207b、207c、207d、207e、207f、207g、207f、207i、207j 櫛歯形の歯の部分

Claims (7)

  1. 基板と、
    該基板上の一主面を複数に分割した各領域に一つずつ形成された複数のアレイ素子
    を有し、
    前記アレイ素子は、複数のパッチと、該複数のパッチ間の間隙によって構成され、
    前記複数のアレイ素子のうち、少なくとも一部のアレイ素子を構成する複数のパッチ間の間隙は、他のアレイ素子を構成する複数のパッチ間の間隙とは異なることを特徴とするリフレクトアレイ。
  2. 基板と、
    該基板上の一主面を複数に分割した各領域に一つずつ形成された複数のアレイ素子と
    を有し、
    前記アレイ素子は、複数のパッチと、該複数のパッチ間の間隙によって構成され、
    前記間隙は、所望の反射係数の位相に応じて調整されることを特徴とするリフレクトアレイ。
  3. 請求項1又は2に記載のリフレクトアレイにおいて、
    前記複数のアレイ素子の外形寸法は略同一であることを特徴とするリフレクトアレイ。
  4. 請求項1ないし3のいずれか1項に記載のリフレクトアレイにおいて、
    前記間隙が櫛歯形であることを特徴とするリフレクトアレイ。
  5. 請求項に記載のリフレクトアレイにおいて、
    前記複数のアレイ素子の間隙のうち、少なくとも一部のアレイ素子の間隙の櫛歯形の歯の高さ及び/又は幅は、他のアレイ素子の間隙とは異なる、リフレクトアレイ。
  6. 請求項1ないし3に記載のリフレクトアレイにおいて、
    前記アレイ素子の有する複数のパッチのうち、少なくとも一部のアレイ素子の有する複数のパッチ間の間隙のサイズ、間隙の形状、間隙の長さ、間隙の幅、及び間隙の長さと幅との比の少なくとも1つが、他のアレイ素子の有する複数のパッチ間と異なる、リフレクトアレイ。
  7. 請求項1ないしのいずれか1項に記載のリフレクトアレイにおいて、
    前記一主面の反対の面に形成され、反射板として作用する金属板
    を有する、リフレクトアレイ。
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