JP5142160B2 - 3次元フォトニック結晶の製造方法 - Google Patents
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(1)基板上に結晶層を形成し、次に上記結晶層を選択的にエッチングすることにより、上記2次元フォトニック結晶プレートがブリッジにより上記基板の外郭領域と連結され、かつ、上記外郭領域に支えられるように形成され、
(2)上記プローブにより上記2次元フォトニック結晶プレートに負荷を加えることにより上記ブリッジを破断して、該破断に伴い上記プローブの先端に上記2次元フォトニック結晶プレートを付着または把持させて移動するようにしたものである。
従って、上記した本発明によれば、実用上有効な3次元フォトニック結晶およびその製造方法ならびにプローブを提供することができる。
即ち、上記した本発明による3次元フォトニック結晶の製造方法は、特に以下の点で優れている。
図1(a)(b)には、本発明の実施の形態の一例による3次元フォトニック結晶が示されており、図1(a)は正面斜視図であり、図1(b)は図(1)(a)の分解斜視図である。
以上の構成を備えた3次元フォトニック結晶10は、2次元フォトニック結晶プレート14aと2次元フォトニック結晶プレート14bと重ね合わせることにより製造するものであるが、その重ね合わせの処理は、マイクロマニュピュレーションによりプローブを利用して行われる。
以下、3次元フォトニック結晶10の製造方法について、実施例を示しながら詳細に説明する。
まず、はじめに、図2(a)(b)(c)を参照しながら、2次元フォトニック結晶プレート14aと2次元フォトニック結晶プレート14bとを製造する際の手法について説明する。2次元フォトニック結晶プレート14aと2次元フォトニック結晶プレート14bとは、所定の基板上に結晶層を成長させることにより製造されるものである。
基板 InP(面方位(100)±0.5度
インジウム源 トリメチルインジウム(TMI:In(CH3)3)
ガリウム源 トリエチルガリウム(TEG:Ga(CH2CH3)3)
燐源 ホスフィン(PF3)
ヒ素源 アルシン(AsH3)
成長温度 640度〜680度
という条件を用いた。
(2)マスク作製
後のドライエッチングの際のマスクとして使用するため、上記した「(1)結晶成長」で作製した基板上に、蒸着によりチタンを20nm積層し、チタン上にニッケルを400nm〜1μm積層する。
(3)描画
フォトリソグラフィのレジストとしては、ZEP520−22(商標)を使用した。上記「(2)マスク作成」で作成したニッケル層の上にZEP520−22(商標)を500nmの厚さ塗布し、180度で20分間加熱した。
現像液:オルトキシレン(o−Xylene;ベンゼン環の隣り合った角にそれぞれメチル基(CH3−)が結合した有機化合物):イソプロピルアルコール(isopropylalcohol;(CH3)2CHOH)=8:1
洗浄液:イソプロピルアルコール
である。
(4)ドライエッチング
(4−1)レジストから金属マスクへのパターンの転写
金属マスクのドライエッチングには、電子サイクロトロン共鳴(ECR:Electron Cyclotoron Resonance)イオンシャワー装置を用いた。Ni層をエッチングするための条件は、
ガス:アルゴン
圧力:0.5×10−4Torr〜1.5×10−4Torr
加速電圧:0.5kV〜1.0kV
マイクロ波出力:50W〜100W
イオン電流密度:0.4mA/cm2〜0.8mA/cm2
エッチング時間:5分〜10分
温度:室温
である。
ガス:四フッ化炭素(CF4)
圧力:0.5×10−4Torr〜1.5×10−4Torr
加速電圧:0.5kV〜1.0kV
マイクロ波出力:50W〜100W
イオン電流密度:0.4mA/cm2〜0.8mA/cm2
エッチング時間:5分〜10分
温度:室温
である。
圧力:0.5×10−4Torr〜1.5×10−4Torr
加速電圧:0.5kV〜1.0kV
マイクロ波出力:50W〜100W
イオン電流密度:0.4mA/cm2〜0.8mA/cm2
エッチング時間:5分〜10分
温度:室温
(4−2)金属マスクからInP層へのパターン転写
InPのエッチングにはICPを用いた。塩素(Cl2)雰囲気下で、30秒〜3分のエッチングを行った。
(5)ウエットエッチング
(5−1)金属マスクの剥離
上記(4)で説明したドライエッチング処理で残った金属マスクを剥離するため、バッファードフッ酸(20.8%)中で10分程度振り、最後に純水洗浄する。バッファードフッ酸にはニッケル層は溶解しないが、下のチタン層が溶解するため、金属マスクを完全に除去することができる。
(5−2)InGaAs層の部分溶解
InPの2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)の下にあるInGaAs層を溶出・除去し、InPの2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)がブリッジ32で外郭領域30に支えられているのみの状態(図2(c)参照)にするために、エッチング溶液(硫酸:過酸化水素:水=1:1:3)中で10秒〜60秒間振り、その後に純水洗浄する。
(6)積層
上記のように形成されたエアーブリッジ型2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)を、マイクロマニピュレーション装置に固定する。
エアーブリッジ型2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)の周囲に、微小体20をばらまいておく。この際に、エアーブリッジ型2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)の上に微小体20が乗らないように注意する。
(2)手順2
次に、第二層目のエアーブリッジ型2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)にプローブ40を押しつけて、エアーブリッジ型2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)をブリッジ32から切り離し、プローブ40により持ち上げ、微小体20を挿入済みの第一層の上に載せる(図6(a)(b)または図7(a)(b)参照)。この操作には、先端の径が10マイクロメートル程度のプローブ40を用いる。
(3)手順3
2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)を、貫通孔18に微小体20を挿入済みの2次元フォトニック結晶プレート14b(14a)へ積層する際に、微小体20の半球分の突出部位が位置合わせのガイドとなり、正しい積層位置付近に2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)を近づけると、微小体20と2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)の貫通孔18とが係合し、2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)は自動的に正しい位置へ固定される。さらに、積層された2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)を下のプレートへ押しつけると、2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)同士が密着する。
(4)手順4
上記した手順1乃至手順3の操作を繰り返す。
なお、図8(a)には2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)を1層積層した状態の電子顕微鏡写真が示されており、図8(b)には図8(a)の白枠部分を拡大した電子顕微鏡写真が示されている。
次に、上記した実施例の光学特性について説明する。なお、光学特性の測定条件は、
測定装置:反射波のスペクトル測定装置
分解能:16cm−1
入射角:20度(広がり角度±10度)
20度を中心にコーン状の光が試料に入射している状態。
検出器:MCT,77K冷却
スキャン回数:1024回
走査波長域:1.43μm〜14.3μm
検出した光:反射光
である。
実施例に示す3次元フォトニック結晶は、4μm域にフォトニックバンドギャップが開くよう設計してあるので、反射波を測定した場合には、4μm域の光は3次元フォトニック結晶から完全に反射されるはずである。
以上において説明した通り、2次元フォトニック結晶プレート14a(14b)において、プレートの面に対して垂直方向の位相を任意に変化させ、それ設計通りに積層することができる。これは、フォトニックバンド結晶の作製に適した方法である。
さらに、上記した実施の形態においては、リソグラフィの技術を用いているため、サブミクロン程度の3次元微細構造を構築することができる。その結果、波長0.2μm〜10μmの光の波長域に用いる光学素子に応用可能である。
・III−V族、V1族、II−VI族半導体
例えば、InP、GaAs、InGaAsP系半導体
Si,Ge、SiGe系半導体
AlInGaN系半導体
ZnMgCdTeSe系半導体など
・SiNx,SiO2,TiO2などの絶縁体
・PMMA、ポリイミドなどの有機質
などを用いることができる。
12a、12b 2次元フォトニック結晶
14a、14b 2次元フォトニック結晶プレート
16a、16b 枠
18 貫通孔
20 微小体
Claims (6)
- 第1の2次元フォトニック結晶と第2の2次元フォトニック結晶とをそれぞれ備えた複数の2次元フォトニック結晶プレートを、マイクロマニピュレーション装置によりプローブの先端に付着または把持させてそれぞれ移動し、前記プローブの先端に付着または把持させての移動により、前記複数の2次元フォトニック結晶プレートのそれぞれを位置合わせして、光の波長に応じた周期構造になるように積層して3次元フォトニック結晶を構成する3次元フォトニック結晶の製造方法であって、
(1)基板上に結晶層を形成し、次に前記結晶層を選択的にエッチングすることにより、前記2次元フォトニック結晶プレートがブリッジにより前記基板の外郭領域と連結され、かつ、前記外郭領域に支えられるように形成され、
(2)前記プローブにより前記2次元フォトニック結晶プレートに負荷を加えることにより前記ブリッジを破断して、該破断に伴い前記プローブの先端に前記2次元フォトニック結晶プレートを付着または把持させて移動する
ことを特徴とする3次元フォトニック結晶の製造方法。 - 請求項1に記載の3次元フォトニック結晶の製造方法において、
前記ブリッジの破断したい箇所に切り込みが設けられている
ことを特徴とする請求項1記載の3次元フォトニック結晶の製造方法。 - 請求項1に記載の3次元フォトニック結晶の製造方法において、
前記複数の2次元フォトニック結晶プレートのそれぞれの位置合わせは、
前記プローブにより前記複数の2次元フォトニック結晶プレートのそれぞれを移動し、前記複数の2次元フォトニック結晶プレートのそれぞれを所定の形状の構造体に突き当てて位置合わせする
ことを特徴とする3次元フォトニック結晶の製造方法。 - 請求項1に記載の3次元フォトニック結晶の製造方法において、
前記複数の2次元フォトニック結晶プレートのそれぞれは、枠部位に貫通孔を形成するとともに、前記枠部位の内側の領域に第1の2次元フォトニック結晶と第2の2次元フォトニック結晶とをそれぞれ備えた平板状体であり、
前記プローブにより、前記複数の2次元フォトニック結晶プレートのうちの互いに隣り合う2次元フォトニック結晶プレートの前記貫通孔に位置合わせ部材を配置して位置合わせして、前記複数の2次元フォトニック結晶プレートを光の波長に応じた周期構造になるように積層した
ことを特徴とする3次元フォトニック結晶の製造方法。 - 請求項4に記載の3次元フォトニック結晶の製造方法において、
前記貫通孔は円孔であり、
前記円孔の半径と前記複数の2次元フォトニック結晶プレートのそれぞれの厚さとが略一致し、
前記位置合わせ部材は直径が前記円孔の半径の略2倍とされた球体状である
ことを特徴とする3次元フォトニック結晶の製造方法。 - 請求項1、請求項2、請求項3、請求項4または請求項5のいずれか1項に記載の3次元フォトニック結晶の製造方法において、
前記複数の2次元フォトニック結晶プレートを光の波長に応じた周期構造になるように積層する際に、前記プローブにより光位相制御領域を構成するための微小部品を挿入する
ことを特徴とする3次元フォトニック結晶の製造方法。
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