JP5089448B2 - 反射特性評価装置、反射特性評価方法および反射特性評価プログラム - Google Patents
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Description
まず最初に、図1−1および図1−2を用いて、実施例1に係る反射特性評価装置の概要および特徴を説明する。図1−1および図1−2は、実施例1に係る反射特性評価装置の概要および特徴を示す図である。
次に、図2を用いて、実施例1に係る反射特性評価装置の構成を説明する。図2は、実施例1に係る反射特性評価装置の構成を示す図である。
次に、図7を用いて、実施例1に係る反射特性評価装置10による反射特性評価処理を説明する。図7は、実施例1に係る反射特性評価装置10による反射特性評価処理を説明するためのフローチャートである。なお、以下では、上記してきた詳細な処理内容は省略して反射特性評価装置10による処理の流れを説明する。
次に、図8を用いて、実施例1に係る反射特性評価処理の詳細を説明する。図8は、実施例1に係る反射特性評価処理の詳細を説明するためのフローチャートである。なお、以下の処理は、図7に示したステップS106における処理に該当する。
このようにして、実施例1によれば、反射特性評価装置10は、カメラで撮影された画像が入力され、当該入力画像における表面部分の反射特性を出力する場合に、入力画像の上部の部分を示す周囲部分の画像特性を分析し、入力画像の下部の部分を示す表面部分の同一位置をトラッキングして、表面部分の輝度変動を取得し、分析された周囲部分の画像特性と、取得された表面部分の輝度変動とに基づいて、表面部分の反射特性を評価するので、コストをかけることなく、安定して精度の高い表面の反射特性を判定することが可能である。
反射特性評価装置10は、入力画像の水平面を抽出し、抽出された水平面よりも下部の部分を示す表面部分の同一位置をトラッキングして、当該表面部分の輝度変動を取得する(図9−1の(1)参照)。
次に、図10を用いて、実施例2に係る反射特性評価装置10による反射特性評価処理を説明する。図10は、実施例2に係る反射特性評価装置10による反射特性評価処理を説明するためのフローチャートである。
次に、図11を用いて、実施例2に係る反射特性評価処理の詳細を説明する。図11は、実施例2に係る反射特性評価処理の詳細を説明するためのフローチャートである。なお、以下の処理は、図10に示したステップS307における処理に該当する。
このようにして、実施例2によれば、反射特性評価装置10は、反射特性評価対象となる点に映り込む反射物の位置を推定して、当該反射物の位置における輝度変動と、反射特性評価対象となる位置の輝度変動とに基づいて、反射特性評価対象となる位置の反射特性を評価して出力するので、安定してより精度の高い表面の反射特性を判定することが可能である。
種々の異なる形態にて実施されてよいものである。そこで、(1)反射物の位置、(2)輝度変動の相関‐1、(3)輝度変動の相関‐2、(4)輝度変動の相関‐3、(5)反射特性評価装置の構成、(6)プログラムにおいて異なる実施例を説明する。
上記実施例2では、抽出された水平面に対して、トラッキング処理の対象となる表面部分の位置と線対称に位置する周囲の反射物の位置を推定する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、トラッキング対象となる表面部分の位置に対応する周囲部分の位置を三次元形状により推定することもできる。例えば、反射特性評価装置10は、参考文献4における三次元形状によって表面部分のトラッキング対象である位置に対する反射物の位置を推定する。
また、上記実施例2では、周囲の反射物の位置における輝度変動と、トラッキング処理の対象となる表面部分の位置における輝度変動との相関に基づいて、表面部分の位置の反射特性を評価する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、周囲の位置の輝度変動と、表面部分の輝度変動との相互相関に基づいて、表面部分の位置の反射特性を評価することもできる。例えば、反射特性評価装置10は、図9−2に示した表面の一点の輝度変動と、図9−3に示した周囲の一点の輝度変動との相関を内積演算によって取得し、相関が大きい場合に鏡面反射成分が大きくなるので湿潤状態であると判断し、相関が小さい場合に鏡面反射成分が小さくなるので乾燥状態であると判断する。
また、上記実施例2では、周囲部分の反射物の位置における輝度変動と、トラッキング処理の対象となる表面部分の位置における輝度変動との相関に基づいて、表面部分の位置の反射特性を評価する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、周囲の位置の輝度変動と、表面部分の輝度変動とのノイズを除いてから、当該ノイズを除いた周囲の位置の輝度変動と表面部分の輝度変動との相関に基づいて、表面部分の位置の反射特性を評価することもできる。例えば、反射特性評価装置10は、図9−2に示した表面の一点の輝度変動と、図9−3に示した周囲の一点の輝度変動とを、低周波透過フィルタ処理を予め行なってから、当該2つの輝度変動の相関に基づいて、表面部分の位置の反射特性を評価する。
また、上記実施例2では、周囲の反射物の位置における輝度変動と、トラッキング処理の対象となる表面部分の位置における輝度変動との相関に基づいて、表面部分の位置の反射特性を評価する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、周囲の輝度変動と、表面部分の輝度変動との振幅の大きさに基づいて、表面部分の位置の反射特性を評価することもできる。例えば、反射特性評価装置10は、図9−2に示した表面の一点の輝度変動と、図9−3に示した周囲の一点の輝度変動との振幅を比較することにより表面部分の位置の反射特性を評価する。
また、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメタを含む情報(例えば、図2に示したような「水平面抽出部32」などの一つの処理に限定されない処理手順など)については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
ところで、上記の実施例では、ハードウェアロジックによって各種の処理を実現する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、あらかじめ用意されたプログラムをコンピュータで実行することによって実現するようにしてもよい。そこで、以下では、図12を用いて、上記の実施例に示した反射特性評価装置10と同様の機能を有する反射特性評価プログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図12は、反射特性評価プログラムを実行するコンピュータを示す図である。
前記入力画像内の上部の部分を示す周囲部分の画像特性を分析する第一の分析手段と、
前記入力画像内の下部の部分を示す表面部分の同一位置をトラッキングして、前記表面部分の輝度変動を取得するトラッキング手段と、
前記第一の分析手段によって得られた周囲部分の画像特性と、前記トラッキング手段によって取得された表面部分の輝度変動とに基づいて、前記表面部分の反射特性を評価して出力する第二の分析手段と、
を備えたことを特徴とする反射特性評価装置。
前記第一の分析手段は、前記水平面抽出手段によって抽出された水平面よりも上部の部分を前記周囲部分として、当該周囲部分の画像特性を分析し、
前記トラッキング手段は、前記水平面抽出手段によって抽出された水平面よりも下部の部分を前記表面部分として、当該表面部分の輝度変動を取得することを特徴とする付記1に記載の反射特性評価装置。
前記第一の分析手段によって取得された周囲部分の空間的な輝度変動に応じて、当該輝度変動が大きい場合に推定確度を高く判定して出力し、当該輝度変動が小さい場合に推定確度を小さく判定して出力する確度判定手段をさらに備えたことを特徴とする付記1に記載の反射特性評価装置。
前記第二の分析手段は、前記第一の分析手段によって取得された周囲部分の輝度変動に応じた周囲部分の画像特性により閾値を決定し、前記トラッキング手段によって取得された表面部分の輝度変動が、決定された閾値以上であるか閾値未満であるかにより、前記表面部分の反射特性を評価して出力することを特徴とする付記1に記載の反射特性評価装置。
前記第二の分析手段は、前記第一の分析手段によって取得された周囲部分の位置の輝度変動と、前記トラッキング手段によって取得された表面部分の輝度変動との相関に基づいて、前記表面部分の反射特性を評価して出力することを特徴とする付記1に記載の反射特性評価装置。
前記入力画像内の上部の部分を示す周囲部分の画像特性を分析する第一の分析工程と、
前記入力画像内の下部の部分を示す表面部分の同一位置をトラッキングして、前記表面部分の輝度変動を取得するトラッキング工程と、
前記第一の分析工程によって得られた周囲部分の画像特性と、前記トラッキング工程によって取得された表面部分の輝度変動とに基づいて、前記表面部分の反射特性を評価して出力する第二の分析工程と、
を含んだことを特徴とする反射特性評価方法。
前記入力画像内の上部の部分を示す周囲部分の画像特性を分析する第一の分析手順と、
前記入力画像内の下部の部分を示す表面部分の同一位置をトラッキングして、前記表面部分の輝度変動を取得するトラッキング手順と、
前記第一の分析手順によって得られた周囲部分の画像特性と、前記トラッキング手順によって取得された表面部分の輝度変動とに基づいて、前記表面部分の反射特性を評価して出力する第二の分析手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする反射特性評価プログラム。
10 反射特性評価装置
20 記憶部
21 画像記憶部
30 制御部
31 画像受付部
32 水平面抽出部
33 画像上部輝度分散算出部
34 トラッキング部
35 輝度取得部
36 反射特性評価部
37 確度判定部
Claims (4)
- カメラで撮影された画像が入力され、当該入力画像における表面部分の反射特性を出力する反射特性評価装置であって、
前記入力画像内の下部の部分を示す表面部分の同一位置をトラッキングして、前記表面部分の輝度変動を取得するトラッキング手段と、
前記入力画像内の上部の部分を示す周囲部分の画像特性を分析する際、前記トラッキング手段においてトラッキング対象となる表面部分の位置に対応する前記周囲部分の位置を推定し、当該推定された周囲部分の位置の輝度変動を取得して、当該周囲部分の位置の画像特性を分析する第一の分析手段と、
前記第一の分析手段によって取得された周囲部分の位置の輝度変動と、前記トラッキング手段によって取得された表面部分の輝度変動との相関に基づいて、前記表面部分の反射特性を評価して出力する第二の分析手段と、
を備えたことを特徴とする反射特性評価装置。 - 前記入力画像の水平面を抽出する水平面抽出手段をさらに備え、
前記第一の分析手段は、前記水平面抽出手段によって抽出された水平面よりも上部の部分を前記周囲部分として、当該周囲部分の画像特性を分析し、
前記トラッキング手段は、前記水平面抽出手段によって抽出された水平面よりも下部の部分を前記表面部分として、当該表面部分の輝度変動を取得することを特徴とする請求項1に記載の反射特性評価装置。 - カメラで撮影された画像が入力され、当該入力画像における表面部分の反射特性を出力する反射特性評価装置に適した反射特性評価方法であって、
前記入力画像内の下部の部分を示す表面部分の同一位置をトラッキングして、前記表面部分の輝度変動を取得するトラッキング工程と、
前記入力画像内の上部の部分を示す周囲部分の画像特性を分析する際、前記トラッキング工程においてトラッキング対象となる表面部分の位置に対応する前記周囲部分の位置を推定し、当該推定された周囲部分の位置の輝度変動を取得して、当該周囲部分の位置の画像特性を分析する第一の分析工程と、
前記第一の分析工程によって取得された周囲部分の位置の輝度変動と、前記トラッキング工程によって取得された表面部分の輝度変動との相関に基づいて、前記表面部分の反射特性を評価して出力する第二の分析工程と、
を含んだことを特徴とする反射特性評価方法。 - カメラで撮影された画像が入力され、当該入力画像における表面部分の反射特性を出力することをコンピュータに実行させる反射特性評価プログラムであって、
前記入力画像内の下部の部分を示す表面部分の同一位置をトラッキングして、前記表面部分の輝度変動を取得するトラッキング手順と、
前記入力画像内の上部の部分を示す周囲部分の画像特性を分析する際、前記トラッキング手順においてトラッキング対象となる表面部分の位置に対応する前記周囲部分の位置を推定し、当該推定された周囲部分の位置の輝度変動を取得して、当該周囲部分の位置の画像特性を分析する第一の分析手順と、
前記第一の分析手順によって取得された周囲部分の位置の輝度変動と、前記トラッキング手順によって取得された表面部分の輝度変動との相関に基づいて、前記表面部分の反射特性を評価して出力する第二の分析手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする反射特性評価プログラム。
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