JP5017638B2 - Method for producing antibacterial Sn-Cu alloy thin film formed article and antibacterial Sn-Cu alloy thin film formed article produced thereby - Google Patents
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Description
本発明は、Sn−Cu合金薄膜と、これを施したSn−Cu合金薄膜形成品、Sn−Cu合金薄膜形成品の製造方法に関する。より詳しくは、抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜と、これを施した抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品と抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品の製造方法に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a Sn—Cu alloy thin film, a Sn—Cu alloy thin film formed product, and a method for producing a Sn—Cu alloy thin film formed product. More specifically, the present invention relates to an antibacterial Sn—Cu alloy thin film, an antibacterial Sn—Cu alloy thin film formed product, and a method for producing an antibacterial Sn—Cu alloy thin film formed product.
錫めっきなどの薄膜は、食品加工用の各種調理用の金属製器具を被覆するものとして多用されているが、錫めっき自体は細菌に対する明確な抗菌性を有していない。そのため、病院などにおいて発生しやすい高齢者に対する肺炎桿菌の伝染などを防止することができない。 Thin films such as tin plating are widely used to coat metal utensils for cooking for food processing, but tin plating itself does not have a clear antibacterial property against bacteria. Therefore, it is not possible to prevent transmission of Klebsiella pneumoniae to the elderly who are likely to occur in hospitals.
また、食品を加工する場合にあっては、黄色ブドウ球菌、病原性大腸菌O−157などの各種細菌による汚染と、それにより引き起こされる食中毒が重要な問題となる。そのため、錫めっきなどの薄膜に抗菌性を付与することが求められている。 In the case of processing food, contamination by various bacteria such as Staphylococcus aureus and pathogenic Escherichia coli O-157 and food poisoning caused thereby are important problems. Therefore, it is required to impart antibacterial properties to thin films such as tin plating.
錫めっきに抗菌性を付与するため、従来は例えば、錫めっき上に抗菌剤を塗布するという手段が一般的に用いられている。
また、例えば、特許文献1には、抗菌性のある金属微粉末を錫めっき皮膜へ添加するという発明が開示されている。
In order to impart antibacterial properties to tin plating, conventionally, for example, means for applying an antibacterial agent on tin plating is generally used.
In addition, for example, Patent Document 1 discloses an invention in which an antibacterial metal fine powder is added to a tin plating film.
しかし、これらの手段によって抗菌性が付与されたとしても、その効果は著しく向上しないという問題があった。
また、抗菌性のある金属微粉末を錫めっき皮膜に添加する場合、その添加工程が加わることによって製品作製のプロセスが複雑になるという問題があった。
However, even if antibacterial properties are imparted by these means, there is a problem that the effect is not remarkably improved.
In addition, when an antibacterial metal fine powder is added to the tin plating film, there is a problem that the process of producing the product becomes complicated due to the addition process.
一方、例えば、特許文献2に記載されているように、金属製品の表面を被覆する技術の一つに「合金めっき」というものがある。
合金めっきの技術とは、通常、水溶液から同時電析(合金電析)を行うことで合金めっき薄膜を形成するものである。つまり、この合金めっきは、水溶液から異なる種類の構成元素を、基材の素地上に同時に電析させることにより、一度の操作で合金めっき薄膜を形成するものである。
On the other hand, as described in
The alloy plating technique usually involves forming an alloy plating thin film by performing simultaneous electrodeposition (alloy electrodeposition) from an aqueous solution. That is, in this alloy plating, an alloy plating thin film is formed by a single operation by simultaneously depositing different types of constituent elements from an aqueous solution on the substrate surface.
そして、銅、銀、亜鉛、ニッケル、鉛、カドミウム、クロム、パラジウム、ビスマスなどの一部の金属元素は、特定の条件下で複雑な錯体等の化合物を生成したり、金属イオンを生じたりすることによって、黄色ブドウ球菌、大腸菌、肺炎桿菌などの生育環境を不都合な状態に変化させるものがある。 And, some metal elements such as copper, silver, zinc, nickel, lead, cadmium, chromium, palladium, bismuth, etc. may generate a complex complex or a compound ion under certain conditions. Depending on the situation, there are those that change the growth environment of Staphylococcus aureus, Escherichia coli, Neisseria pneumoniae, etc. to an unfavorable state.
したがって、基材に合金めっきを行う際に、これらの金属元素を一種または二種以上用いることによって、合金めっき自体に抗菌性を具備させることが可能であると思われる。また、このような合金めっきを具現できれば、めっきを電析させた後に特別な抗菌化処理が不要となるだけでなく、製品作製のプロセスを簡便化することもできることから、工業的に非常に有用であると思われる。
しかしながら、このような合金めっきには以下のような問題があるために、実用化するのは極めて複雑かつ困難なものである。(1)二つの異なる金属の電析を同一の電位で行う必要がある、(2)合金めっきに使用できる金属が限定される、(3)めっき浴に用いられる化学種がシアン系の毒物や劇物、強酸性溶液、強アルカリ性溶液を用いることが多く、環境負荷が高い。
また、(4)黄色ブドウ球菌、大腸菌、肺炎桿菌などは多くの金属に対して通性があり、これらを制菌できる金属が多くない、(5)合金電析を行って作製した合金めっきが必ず抗菌性を有するとは限らない、(6)水溶液中からの電析によって形成される合金めっきは、熱的に非平衡である場合があり、加熱などして使用されると変質するおそれがある。
However, since such alloy plating has the following problems, it is extremely complicated and difficult to put into practical use. (1) Electrodeposition of two different metals must be performed at the same potential, (2) Metals that can be used for alloy plating are limited, (3) Chemical species used in the plating bath are cyan-type poisons, The use of deleterious substances, strong acidic solutions, and strong alkaline solutions is often used, and the environmental load is high.
Moreover, (4) S. aureus, Escherichia coli, K. pneumoniae, etc. are permeable to many metals, and there are not many metals that can sterilize these metals. (5) Alloy plating produced by alloy electrodeposition (6) The alloy plating formed by electrodeposition from an aqueous solution may be thermally non-equilibrium and may be altered when used by heating. is there.
本発明は、前記問題に鑑みてなされたものであり、安価でありながら優れた抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜を具現すること、および、これを施した抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品を具現すること、さらには、環境負荷が高くない条件で確実かつ容易に抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品の製造方法を提供することを課題とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to implement an Sn-Cu alloy thin film having excellent antibacterial properties while being inexpensive, and an Sn-Cu alloy thin film having antibacterial properties applied thereto. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a formed product of Sn—Cu alloy thin film having antibacterial properties reliably and easily under conditions where the environmental load is not high.
前記課題を解決した本発明の抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品の製造方法は、基材の素地上に、層厚1〜50μmのCu層を形成するCu層形成工程と、Cu層上に、層厚1〜50μmのSn層を形成するSn層形成工程と、Cu層およびSn層を形成した基材を250〜400℃、1〜5時間の条件で加熱し、Cuの含有率が10〜90[原子%]であり、Cu 6 Sn 5 およびCu 3 Snのうちの少なくとも一方を形成した、SnとCuの合金薄膜を形成する合金薄膜形成工程と、加熱され、合金薄膜が形成された基材を400℃/時間〜50℃/分間の速度で冷却し、Sn−Cu合金薄膜形成品とする冷却工程と、を含んでなる。
The method for producing an antibacterial Sn—Cu alloy thin film-formed product of the present invention that has solved the above problems includes a Cu layer forming step of forming a Cu layer having a layer thickness of 1 to 50 μm on a base material, and a Cu layer. above, the Sn layer forming step of forming a Sn layer having a thickness of 1 to 50 [mu] m, Cu layer and the
このように、Cu層形成工程およびSn層形成工程によって、基材の素地上に適切な厚さのCu層とSn層を形成し、合金薄膜形成工程によってCu層とSn層を軟化・溶融して合金薄膜を形成することができる。また、合金薄膜形成工程で加熱することでCu6Sn5とCu3Snを生成させる。そして、適度な冷却速度で当該基材を冷却するだけでSn−Cu合金薄膜形成品を製造することができる。その結果、このようにして製造されたSn−Cu合金薄膜形成品は、Cu6Sn5とCu3Snを含有しているので、抗菌性を有する。
ここで、本明細書における「合金薄膜」とは、複数の異なる元素や化合物を用いて予め積層したものを熱処理等することで合金化した薄膜をいう。ここで、例えば、めっき処理によって複数の層を積層し、これに熱処理を施して合金化した薄膜を「合金化めっき薄膜」といい、前述したような、同時電析して得られる「合金めっき」とは異なるものである。これは、Sn−Cu熱処理合金化スパッタ薄膜やSn−Cu熱処理合金化蒸着薄膜についても同様である。
このような合金薄膜であれば、その合金薄膜にCu 6 Sn 5 およびCu 3 Snを含有しているので、黄色ブドウ球菌、大腸菌、肺炎桿菌などの生育環境を不都合な状態に変化させることができる。
Thus, the Cu layer forming step and the Sn layer formation step, to form a Cu layer and a Sn layer of suitable thickness on the matrix of the base material, softened and the Cu layer and the Sn layer by alloy thin film forming step it can be melted to form a alloy thin film. Further, to produce a Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn by heating in alloy thin film forming step. And a Sn-Cu alloy thin film formation article can be manufactured only by cooling the substrate at an appropriate cooling rate. As a result, the Sn—Cu alloy thin film-formed product manufactured in this way has antibacterial properties because it contains Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn.
Here, the “alloy thin film” in the present specification refers to a thin film that is alloyed by heat treatment or the like by previously laminating a plurality of different elements and compounds. Here, for example, a thin film obtained by laminating a plurality of layers by plating and then heat-treating it is called an “alloyed plating thin film”, which is obtained by simultaneous electrodeposition as described above. Is different. The same applies to Sn-Cu heat-treated alloyed sputtered thin films and Sn-Cu heat-treated alloyed evaporated thin films.
With such an alloy thin film, Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn are contained in the alloy thin film, so that the growth environment of Staphylococcus aureus, Escherichia coli, Klebsiella pneumoniae and the like can be changed to an inconvenient state. .
本発明の抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品の製造方法は、Cu層形成工程およびSn層形成工程を、各々、めっき処理、スパッタ処理、または蒸着処理によってそれぞれを単層として積層させるのがよい。
このように、Cu層形成工程およびSn層形成工程をめっき処理、スパッタ処理、または蒸着処理とすることで容易に適切な厚さのCu層およびSn層を形成することができる。特に、めっき処理による場合、一般的な条件でそれぞれを単層として形成するため、環境負荷の高い薬品などを用いないでもCu層とSn層を形成することができる。スパッタ処理や蒸着処理による場合も同様に環境負荷の高い薬品などを用いないでもCu層とSn層を形成することができる。
In the method for producing an antibacterial Sn—Cu alloy thin film formed product of the present invention, the Cu layer forming step and the Sn layer forming step are each laminated as a single layer by plating, sputtering, or vapor deposition. Is good.
Thus, Cu layer and Sn layer of appropriate thickness can be easily formed by making Cu layer formation process and Sn layer formation process into plating processing, sputtering processing, or vapor deposition processing. In particular, in the case of plating, since each is formed as a single layer under general conditions, the Cu layer and the Sn layer can be formed without using chemicals with high environmental impact. Similarly, in the case of sputtering or vapor deposition, the Cu layer and the Sn layer can be formed without using chemicals with a high environmental load .
本発明によれば、錫(Sn)および銅(Cu)を用いてSn−Cu合金薄膜を形成するので、安価でありながら優れた抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品を製造する方法を提供することができる。
本発明によれば、環境負荷が高くない条件で確実かつ容易に抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品を製造する方法を提供することができる。
According to the present invention, since a Sn—Cu alloy thin film is formed using tin (Sn) and copper (Cu), there is provided a method for producing a Sn—Cu alloy thin film formed article having excellent antibacterial properties while being inexpensive. Can be provided.
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the method of manufacturing the Sn-Cu alloy thin film formation goods which have antibacterial property reliably and easily on the conditions where environmental load is not high can be provided .
まず、本発明に係る抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜について説明する。
[Sn−Cu合金薄膜]
本発明のSn−Cu合金薄膜は、基材の素地上に形成された最外層の合金薄膜に含まれるSn(錫元素)とCu(銅元素)の含有比率が、100−x[原子%]:x[原子%]であり、かつ、この合金薄膜に1〜10[質量%]のSnO2を有する。
但し、前記の含有比率において、「x」はCuの含有率であって、10≦x≦90、好ましくは20≦x≦80、より好ましくは30≦x≦70、さらに好ましくは40≦x≦60である。
First, the antibacterial Sn—Cu alloy thin film according to the present invention will be described.
[Sn—Cu alloy thin film]
In the Sn—Cu alloy thin film of the present invention, the content ratio of Sn (tin element) and Cu (copper element) contained in the outermost alloy thin film formed on the substrate is 100−x [atomic%]. X [atomic%], and the alloy thin film has 1 to 10 [mass%] SnO 2 .
However, in the above content ratio, “x” is the Cu content, and 10 ≦ x ≦ 90, preferably 20 ≦ x ≦ 80, more preferably 30 ≦ x ≦ 70, and even more preferably 40 ≦ x ≦. 60.
ここで、前記したように、SnとCuの含有比率を100−x[原子%]:x[原子%]、つまり、SnとCuの含有比率を90[原子%]:10[原子%]〜10[原子%]:90[原子%]としたのは、当該合金薄膜において、抗菌性を有するために必要な量のCu6Sn5およびCu3Snと、SnO2とを生成させるためである。 Here, as described above, the content ratio of Sn and Cu is 100−x [atomic%]: x [atomic%], that is, the content ratio of Sn and Cu is 90 [atomic%]: 10 [atomic%] ˜ The reason for setting 10 [atomic%]: 90 [atomic%] is to produce the necessary amount of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn and SnO 2 to have antibacterial properties in the alloy thin film. .
Cuの含有率が10[原子%]よりも少ないと、Cuが少なすぎるために、十分な量のCu6Sn5およびCu3Snを生成することができなくなる。そのため、発生するCu2+も少なくなり、所望する抗菌性を得られないおそれがある。
一方、Cuの含有率が90[原子%]を超えると、Cuが多すぎるために、Sn−Cu合金薄膜を安価に作製することができない。
When the Cu content is less than 10 [atomic%], Cu is too small, so that a sufficient amount of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn cannot be generated. Therefore, the amount of Cu 2+ generated is reduced, and the desired antibacterial property may not be obtained.
On the other hand, when the Cu content exceeds 90 [atomic%], since there is too much Cu, the Sn—Cu alloy thin film cannot be produced at low cost.
なお、SnとCuの含有比率は、Sn−Cu合金薄膜を形成する際に用いる溶液の濃度や温度、電流や電圧などの諸条件を適宜変更することによって調節することができる。 The content ratio of Sn and Cu can be adjusted by appropriately changing various conditions such as the concentration, temperature, current, and voltage of the solution used when forming the Sn—Cu alloy thin film.
そして、本発明のSn−Cu合金薄膜が含有しているCuが、Cu6Sn5およびCu3Snの少なくとも一方を形成するものであり、その形成率の合計値が、Sn−Cu合金薄膜に含有されているCu量の10〜100%としている。
つまり、Cuの含有率x[原子%]が、前記の含有比率において10≦x≦90を満たす場合、Sn−Cu合金薄膜に含有されるCuは、Sn−Cu合金薄膜全体に対して、少なくとも1[原子%]のCuが、Cu6Sn5およびCu3Snを形成していることになる。
このように、合金薄膜に含有されるCuが形成するCu 6 Sn 5 とCu 3 Snの形成率を合計した値が特定の範囲となるよう規定したことによって、これらの化合物の相乗効果で黄色ブドウ球菌、大腸菌、肺炎桿菌などの細菌に対して生育環境を不都合な状態に変化させることができる。
Then, Cu to Sn-Cu alloy thin film of the present invention is contained in, which forms at least one of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn, the total value of its formation rate, the Sn-Cu alloy
That is, when the Cu content x [atomic%] satisfies 10 ≦ x ≦ 90 in the content ratio, Cu contained in the Sn—Cu alloy thin film is at least with respect to the entire Sn—Cu alloy thin film. 1 [atomic%] Cu forms Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn.
Thus, by defining the total value of the formation ratios of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn formed by Cu contained in the alloy thin film to be within a specific range, the synergistic effect of these compounds enables yellow grape The growth environment can be changed to an unfavorable state with respect to bacteria such as cocci, Escherichia coli, and Klebsiella pneumoniae.
なお、Cu6Sn5およびCu3Snは、少なくともいずれか一方を含有していれば、Cu 2+ を生じることが可能であり、抗菌性を有し得る。したがって、Cu6Sn5およびCu3Snの含有比率は、特に限定されるものではなく、0:100〜100:0の含有比率で有していればよい。 Note that Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn can produce Cu 2+ and have antibacterial properties as long as at least one of them is contained. Therefore, the content ratio of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn is not particularly limited, and may be 0: 100 to 100: 0.
また、SnO2は、多く含有されると表面が白色化する。そのため、外観の点からは少ないほど好ましく、その含有量が1〜10[質量%]であれば優れた外観を得ることができる。一方、SnO2の含有量が10[原子%]を超えると、本来のSn−Cu合金薄膜の諸特性、特に色調など外観が劣るおそれがある。 Further, when a large amount of SnO 2 is contained, the surface becomes white. Therefore, the smaller the appearance, the better. If the content is 1 to 10% by mass, an excellent appearance can be obtained. On the other hand, if the content of SnO 2 exceeds 10 [atomic%], the properties of the original Sn—Cu alloy thin film, particularly the appearance such as color tone, may be inferior.
このように、Sn−Cu合金薄膜におけるSnおよびCuの含有比率や、Cu6Sn5およびCu3Snの形成率の合計値が、特定の範囲を満たすことによって、Sn−Cu合金薄膜からCu2+を生じさせてオリゴダイナミー(Oligodynamie;微量金属作用)の効果を得ることができる。なお、一般的にはCu6Sn5やCu3SnからCu2+を生じさせるのは容易ではないが、かかる化合物に細菌等が接触すると局所的にCu2+が生じ易くなることが示唆されている。また、Sn−Cu合金薄膜とCu6Sn5やCu3Snとの間に生じる電位差などによってCu2+をさらに生じやすくさせていると考えられる。これらの作用や相乗効果によって、細菌のタンパク質の活性を低下させたり、細胞毒である活性酸素を生成したりして制菌することができ、Sn−Cu合金薄膜に抗菌性を備えることができる。 As described above, when the Sn and Cu content ratios in the Sn—Cu alloy thin film and the total value of the formation ratios of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn satisfy a specific range, the Sn 2 Cu alloy thin film is formed from the Cu 2 + Can be generated to obtain the effect of oligodynamics (Oligodynamie). In general, it is not easy to generate Cu 2+ from Cu 6 Sn 5 or Cu 3 Sn, but it is suggested that Cu 2+ is likely to be locally generated when bacteria or the like come into contact with such a compound. ing. Further, it is considered that Cu 2+ is more easily generated by a potential difference generated between the Sn—Cu alloy thin film and Cu 6 Sn 5 or Cu 3 Sn. By these actions and synergistic effects, it is possible to sterilize by reducing the activity of bacterial proteins or generating active oxygen that is a cytotoxin, and the Sn-Cu alloy thin film can have antibacterial properties. .
特に、このような作用を具備したSn−Cu合金薄膜としては、Cu層とSn層を積層して、200〜400℃の熱処理を行って形成されたSn−Cu熱処理合金化めっき薄膜、Sn−Cu熱処理合金化スパッタ薄膜、またはSn−Cu熱処理合金化蒸着薄膜とするのがよい。なお、かかるSn−Cu合金薄膜を得るための手段については後述する。 In particular, as an Sn—Cu alloy thin film having such an action, an Sn—Cu heat-treated alloyed plating thin film formed by laminating a Cu layer and an Sn layer and performing a heat treatment at 200 to 400 ° C., Sn— A Cu heat-treated alloyed sputtered thin film or a Sn—Cu heat-treated alloyed vapor-deposited thin film is preferable. A means for obtaining such a Sn—Cu alloy thin film will be described later.
[Sn−Cu合金薄膜形成品]
次に、本発明の抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品について説明する。
本発明の抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品は、前記したSn−Cu合金薄膜を基材に施すことで得ることができる。
Sn−Cu合金薄膜を被覆する基材としては、導電性と耐熱性を有するものが好ましいが、導電性と耐熱性を有しないものであっても構わない。このような基材としては、例えば、鉄鋼製材、アルミニウム製材、アルミニウム合金製材、銅製材、銅合金製材などの金属製材を好適に用いることができるが、これに限られず、例えば、エンジニアリングプラスチックなどのプラスチック製材や、ガラス製材、またはこれらの混合製材も好適に用いることができる。
[Sn-Cu alloy thin film-formed product]
Next, the antibacterial Sn—Cu alloy thin film-formed product of the present invention will be described.
The antibacterial Sn—Cu alloy thin film-formed product of the present invention can be obtained by applying the above-described Sn—Cu alloy thin film to a substrate.
As a base material which coat | covers a Sn-Cu alloy thin film, what has electroconductivity and heat resistance is preferable, However, What does not have electroconductivity and heat resistance may be used. As such a base material, for example, steel lumber, aluminum lumber, aluminum alloy lumber, copper lumber, copper alloy lumber and other metal lumber can be suitably used, but is not limited thereto, for example, engineering plastics Plastic lumber, glass lumber, or a mixed lumber thereof can also be suitably used.
また、これらの基材とSn−Cu合金薄膜とによって形成されるSn−Cu合金薄膜形成品としては、例えば、食器、鍋、流し台、三角コーナーといった調理器材などのほか、ドアノブ、手すりなど、人が接触する物品に適用することができることは勿論のこと、上水道管や下水道管、さらには、エアーコンディショナーなどの空調機器をあげることができる。
これらのSn−Cu合金薄膜形成品は、以下のようにして製造することができる。
In addition, examples of Sn-Cu alloy thin film-formed products formed by these base materials and Sn-Cu alloy thin films include, for example, cooking utensils such as tableware, pans, sinks, triangular corners, door knobs, handrails, etc. Of course, it can be applied to articles that come into contact with water, water supply pipes and sewer pipes, and air conditioners such as air conditioners.
These Sn—Cu alloy thin film-formed products can be manufactured as follows.
[Sn−Cu合金薄膜形成品の製造方法]
次に、本発明のSn−Cu合金薄膜形成品の製造方法について説明する。
本発明のSn−Cu合金薄膜形成品の製造方法は、Cu層形成工程と、Sn層形成工程と、合金薄膜形成工程と、冷却工程とを含んでなる。
以下、各工程の内容について説明する。
[Method for producing Sn-Cu alloy thin film-formed product]
Next, the manufacturing method of the Sn-Cu alloy thin film formation product of this invention is demonstrated.
Sn-Cu method of manufacturing an alloy film formed article of the present invention comprise a Cu layer forming step, a Sn layer forming step, and alloy thin film forming step and a cooling step.
Hereinafter, the contents of each step will be described.
(Cu層形成工程)
Cu層形成工程では、基材の素地上に、1〜50μm、好ましくは1〜20μm、より好ましくは1〜10μmのCu層を形成する。このような層厚でCu層を形成すれば、Sn−Cu合金薄膜を安定的に得ることが可能である。
ここで、形成するCu層の層厚が1μm未満であると、層厚が薄すぎるために、形成されたSn−Cu合金薄膜の機械的強度が弱く、剥離等しやすくなる可能性があり好ましくない。また、十分な量のCu6Sn5およびCu3Snが生成されないおそれもある。
一方、Cu層の層厚がこれ以上厚くなると製品の寸法精度に影響を与えるおそれがある。また、成膜過程においても作製時間が長くなるため、工業的なメリットが低下する。
したがって、本発明においては、Cu層形成工程で形成するCu層の層厚を1〜50μmとする。
(Cu layer forming step)
In the Cu layer forming step, a Cu layer of 1 to 50 μm, preferably 1 to 20 μm, more preferably 1 to 10 μm is formed on the substrate substrate. If the Cu layer is formed with such a layer thickness, a Sn—Cu alloy thin film can be stably obtained.
Here, when the layer thickness of the Cu layer to be formed is less than 1 μm, the layer thickness is too thin, the mechanical strength of the formed Sn—Cu alloy thin film is weak, and may be easily peeled off. Absent. In addition, a sufficient amount of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn may not be generated.
On the other hand, if the thickness of the Cu layer is larger than this, the dimensional accuracy of the product may be affected. In addition, since the production time becomes long in the film forming process, the industrial merit is lowered.
Therefore, in this invention, the layer thickness of Cu layer formed at a Cu layer formation process shall be 1-50 micrometers.
(Sn層形成工程)
Sn層形成工程では、Cu層上に、さらに層厚1〜50μm、好ましくは1〜20μm、より好ましくは1〜10μmのSn層を形成する。このような層厚でSn層を形成すれば、Sn−Cu合金薄膜を安定的に得ることが可能である。
ここで、形成するSn層の層厚が1μm未満であると、層厚が薄すぎるために、形成されたSn−Cu合金薄膜の機械的強度が弱く、剥離等しやすくなる可能性があり好ましくない。また、十分な量のCu6Sn5およびCu3Snが生成されないおそれもある。
一方、Sn層の層厚が厚すぎるために、Sn層の層厚がこれ以上厚くなると、製品の寸法精度に影響を与えるおそれがある。また、成膜過程においても作製時間が長くなるため、工業的なメリットが低下する。さらに、SnO2が多く生成されるおそれもあり、色調など外観に劣る可能性もある。
したがって、本発明においては、Sn層形成工程で形成するSn層の層厚を1〜50μmとする。
(Sn layer forming step)
In the Sn layer forming step, an Sn layer having a layer thickness of 1 to 50 μm, preferably 1 to 20 μm, more preferably 1 to 10 μm is further formed on the Cu layer. If the Sn layer is formed with such a layer thickness, a Sn—Cu alloy thin film can be stably obtained.
Here, if the thickness of the Sn layer to be formed is less than 1 μm, since the layer thickness is too thin, the mechanical strength of the formed Sn—Cu alloy thin film is weak and may be easily peeled off. Absent. In addition, a sufficient amount of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn may not be generated.
On the other hand, if the Sn layer is too thick because the Sn layer is too thick, the dimensional accuracy of the product may be affected. In addition, since the production time becomes long in the film forming process, the industrial merit is lowered. Furthermore, there is also that you are SnO 2 that is often generated, there is a possibility that poor appearance such as color tone.
Therefore, in the present invention, the thickness of the Sn layer formed in the Sn layer forming step is set to 1 to 50 μm.
前記したCu層形成工程およびSn層形成工程は、所定の範囲の層厚でそれぞれを単層として形成することができれば、その手段について特に限定されるものではない。これらの層を形成する手段としては、従来公知のめっき処理(参考文献:日刊工業新聞社 表面処理工学 基礎と応用 表面技術協会編 ISBN4-526-04522-5 最新表面処理技術総覧 産業技術サービスセンター編)によって行うことができる。このようなめっき処理としては、電気めっき法(電解めっき法)や化学めっき法などの湿式めっき法、あるいは溶融めっき法などの乾式めっき法をあげることができる。かかるめっき処理によれば、環境負荷の高い薬品等を使用せず、かつコストも安く、大量生産を行う観点から特に好ましい。特に、条件制御が簡単である電気めっき法はシアン化合物を使用せず、硫化化合物や塩化化合物で行える点で好ましい。なお、導電性を有しない基材に対しては、無電解めっき法によってめっきすることも可能である。 The means for forming the Cu layer and the Sn layer are not particularly limited as long as each can be formed as a single layer with a layer thickness within a predetermined range. As a means of forming these layers, a conventionally known plating process (reference: Nikkan Kogyo Shimbun, Ltd. Surface Treatment Engineering, Fundamentals and Applications, Surface Technology Association, ISBN4-526-04522-5 Latest Surface Treatment Technology Overview, Industrial Technology Service Center, ). Examples of such plating treatment include a wet plating method such as an electroplating method (electrolytic plating method) and a chemical plating method, or a dry plating method such as a hot dipping method. Such plating treatment is particularly preferable from the viewpoint of mass production without using chemicals or the like with high environmental load and at low cost. In particular, the electroplating method with simple condition control is preferable in that a cyanide compound is not used and a sulfur compound or a chloride compound can be used. In addition, it is also possible to plate with respect to the base material which does not have electroconductivity by the electroless-plating method.
また、Cu層とSn層を形成する他の手段として、例えば、従来公知のスパッタ処理や蒸着処理によっても行うことができる(参考文献:日刊工業新聞社 表面処理工学 基礎と応用 表面技術協会編 ISBN4-526-04522-5 最新表面処理技術総覧 産業技術サービスセンター編)。スパッタ処理や蒸着処理は大量生産の点ではめっき処理に劣るものの、環境負荷の高い薬品等を使用しない点で有利である。
また、めっき処理では、環境負荷の高い薬品を使用しなければならないことから、同時電析による合金めっきの形成は困難である。これに対して、スパッタ処理や蒸着処理では、前記したように環境負荷が高い薬品を使用しないことから、CuとSnを同時スパッタ処理や同時蒸着処理によって一度の操作で合金薄膜を形成することが可能である。
Further, as another means for forming the Cu layer and the Sn layer, for example, it can also be performed by a conventionally known sputtering process or vapor deposition process (Reference: Nikkan Kogyo Shimbun, Ltd., Surface Treatment Engineering Fundamentals and Applications, ISBN4) -526-04522-5 Latest Surface Treatment Technology Overview Industrial Technology Service Center). Sputtering and vapor deposition are inferior to plating in terms of mass production, but are advantageous in that they do not use chemicals with high environmental impact.
Also, in the plating process, chemicals with a high environmental load must be used, so it is difficult to form alloy plating by simultaneous electrodeposition. On the other hand, in the sputtering process and the vapor deposition process, as described above, a chemical with a high environmental load is not used. Therefore, an alloy thin film can be formed by a single operation by simultaneous sputtering process or simultaneous vapor deposition process of Cu and Sn. Is possible.
(合金薄膜形成工程)
合金薄膜形成工程では、Cu層およびSn層を順次形成した基材を250〜400℃、1〜5時間の条件で加熱する。かかる条件で加熱することによりCu層とSn層を軟化・溶融し、SnとCuの合金薄膜を形成する。
すなわち、Cu層中のCu(銅元素)とSn層中のSn(錫元素)とを反応させることでCu6Sn5とCu3Snを生成させる。また、このとき、大気中のO2と接触するとSnO2を生成してしまうので、これを防止するために、例えば、脱気して加熱したり、ヘリウムガスやアルゴンガスなどの不活性ガス雰囲気中で加熱したりしてもよい。このようにすると、SnO2の含有率を確実に1〜10[原子%]の範囲とすることができる。
(Alloy thin film formation process)
The alloy thin film forming step, a Cu layer and the Sn layer are sequentially formed
That is, Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn are generated by reacting Cu (copper element) in the Cu layer with Sn (tin element) in the Sn layer. At this time, SnO 2 is generated when it comes into contact with O 2 in the atmosphere. For this purpose, for example, degassing and heating, or an inert gas atmosphere such as helium gas or argon gas are used. You may heat in. In this way, to ensure the content of SnO 2 may be in the range of 1 to 10 [atomic%].
このとき、加熱温度が250℃よりも低い場合や加熱時間が1時間よりも少ない場合は、Cu層とSn層が十分に軟化・溶融せず合金薄膜を形成することができないおそれがある。また、十分な量のCu6Sn5およびCu3Snを生成できないおそれがある。
一方、加熱温度が400℃を超える場合や加熱時間が5時間を超える場合は、溶融したSnが蒸散するなどして十分な量のCu6Sn5およびCu3Snを生成できないおそれがある。
At this time, if or when the heating time the heating temperature is lower than 250 ° C. is less than 1 hour, there is a possibility that Cu layer and the Sn layer can not be formed alloy thin film not sufficiently softened and melted . Moreover, there is a possibility that a sufficient amount of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn cannot be generated.
On the other hand, when the heating temperature exceeds 400 ° C. or when the heating time exceeds 5 hours, a sufficient amount of Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn may not be generated due to evaporation of the molten Sn.
(冷却工程)
冷却工程では、加熱され、合金薄膜が形成された基材を400℃/時間〜50℃/分間の速度で冷却し、Sn−Cu合金薄膜形成品とする。
このとき、冷却速度が400℃/時間よりも遅いと、Snの酸化が進んでSnO2の含有量が増加してしまうおそれがある。
一方、冷却速度が50℃/分間よりも速いと、冷却速度が速すぎるために形成した合金薄膜にしわが入るなどするため好ましくない。
(Cooling process)
In the cooling step is heated, the alloy thin film formed substrate was cooled at a rate of 400 ° C. / Time to 50 ° C. / min, and Sn-Cu alloy thin film formed article.
At this time, if the cooling rate is lower than 400 ° C./hour, the oxidation of Sn proceeds and the content of SnO 2 may increase.
On the other hand, if the cooling rate is faster than 50 ° C. / min, which is not preferable wrinkles entering the alloy thin film formed on the cooling rate is too fast.
次に、本発明の要件を満たす実施例と本発明の要件を満たさない比較例とを具体的に示して説明する。
まずJIS SS 400の炭素鋼板を用いて、25℃の硫酸銅浴(硫酸銅150g/L、硫酸40g/L)に浸漬し、1A/dm2の電流密度で3分間の電解時間という条件下で電解することで、当該炭素鋼板上に層厚10μmのCu層をめっきして形成した。
Next, an example that satisfies the requirements of the present invention and a comparative example that does not satisfy the requirements of the present invention will be specifically shown and described.
First, using a carbon steel plate of
その後、20℃の硫酸錫(30g/L)−硫酸(180g/L)浴にて1A/dm2の電流密度で電解時間を2分から20分の間で変化させ、Cu層を形成した炭素鋼板上に、層厚1μm(電解時間2分)、5μm(電解時間10分)、10μm(電解時間20分)のSn層をめっきして形成した。
Then, the carbon steel sheet in which the Cu layer was formed by changing the electrolysis time from 2 minutes to 20 minutes at a current density of 1 A / dm 2 in a 20 ° C. tin sulfate (30 g / L) -sulfuric acid (180 g / L) bath. An Sn layer having a layer thickness of 1 μm (
これらの試料をそれぞれ、200℃(図2(a))、250℃(図2(b))、300℃(図3(a))、350℃(図3(b))の温度条件で、それぞれ1時間、3時間、5時間加熱することでSn−Cu合金化めっき薄膜を形成した。熱処理後、Sn−Cu合金化めっき薄膜の表面をX線回折法により同定した。 These samples were respectively subjected to temperature conditions of 200 ° C. (FIG. 2 (a)), 250 ° C. (FIG. 2 (b)), 300 ° C. (FIG. 3 (a)), and 350 ° C. (FIG. 3 (b)). A Sn—Cu alloyed plating thin film was formed by heating for 1 hour, 3 hours, and 5 hours, respectively. After the heat treatment, the surface of the Sn—Cu alloyed plating thin film was identified by an X-ray diffraction method.
図1は、炭素鋼板上に層厚15μm(Cu層:10μm、Sn層:5μm)のSn−Cu熱処理合金化めっき薄膜を形成した後、250℃で5時間加熱した後に行っためっき表面のX線回折図であり、図2の(a)および(b)と図3の(a)および(b)は、Sn層の層厚を変更した各種合金薄膜形成試料を種々の温度で熱処理したときの表面皮膜組成を示している。 FIG. 1 shows the X of the plating surface formed after forming a Sn—Cu heat-treated alloyed plated thin film having a layer thickness of 15 μm (Cu layer: 10 μm, Sn layer: 5 μm) on a carbon steel plate and heating at 250 ° C. for 5 hours. a line diffraction diagram, in FIG. 2 (a) and (b) and in FIGS. 3 (a) and (b) heat-treating the various alloy thin film formed samples changed thickness of the Sn layer at various temperatures The surface film composition is shown.
そして、三種類の細菌、大腸菌Escherichia coli ATCC25032、肺炎桿菌Klebsiella pneumoniae ST101、黄色ブドウ球菌Staphylococcus aureus 209Pを10mLのブイヨンとともに、35℃、18時間の条件で前培養した。その後、0.9%NaCl溶液で105/mLに希釈し、バクテリア浮遊液を作成した。 Then, three types of bacteria, Escherichia coli ATCC25032, Klebsiella pneumoniae ST101 and Staphylococcus aureus 209P were pre-cultured with 10 mL bouillon at 35 ° C. for 18 hours. Thereafter, the suspension was diluted to 10 5 / mL with a 0.9% NaCl solution to prepare a bacterial suspension.
Sn−Cu合金化めっき薄膜を形成した炭素鋼板の試験片(5×5cm)(以下、試験片という)に、前記のバクテリア浮遊液を400μLのせ、直ちに滅菌したポリエチレンフィルム(4×4cm)をバクテリア浮遊液上に被せた。 Put 400 μL of the above bacterial suspension on a test piece (5 × 5 cm) (hereinafter referred to as “test piece”) of a carbon steel plate on which a Sn—Cu alloyed plating thin film is formed, and immediately sterilize a polyethylene film (4 × 4 cm) with bacteria. It was put on the suspension.
その後、各試験片を滅菌したシャーレの中に移し、相対湿度99%以上の環境下で35℃、24時間保持した。ポリエチレンフィルムと試験片に付着したバクテリアは、0.2%Tween 80を含む0.9%NaClを10mL加えた後、プラスチック製のシャーレにピペットで洗い流した。
Thereafter, each test piece was transferred into a sterilized petri dish and maintained at 35 ° C. for 24 hours in an environment with a relative humidity of 99% or more. Bacteria attached to the polyethylene film and the test piece were added with 10 mL of 0.9% NaCl containing 0.2
洗い出された100μLのバクテリア浮遊液を板状寒天培地に接種して、ガラス製のスプレッダーを用いて広げた。35℃で一晩保持した後、バクテリアのコロニーの数を数えた。
表1は、フィルム密着法によるSn−Cu層を積層しただけで未加熱処理の薄膜(比較例)の抗菌性試験の結果を表している。また、表2は、フィルム密着法による熱処理後のSn−Cu熱処理合金化めっき薄膜(実施例)の抗菌性試験の結果を表している。
100 μL of the washed bacterial suspension was inoculated on a plate-like agar medium and spread using a glass spreader. After holding at 35 ° C. overnight, the number of bacterial colonies was counted.
Table 1 shows the result of the antibacterial test of the unheated thin film (comparative example) just by laminating the Sn—Cu layer by the film adhesion method. Table 2 shows the results of the antibacterial test of the Sn—Cu heat-treated alloyed plated thin film (Example) after heat treatment by the film adhesion method.
これらの結果によると、表1に示すように、Sn−Cu層を積層しただけの比較例に係る薄膜は、めっきの外層にSnが単体として積層されているだけであるので抗菌効果が認められなかった。
これに対して、表2に示すように、熱処理を行った実施例に係るSn−Cu熱処理合金化めっき薄膜は、熱処理を行うことによって、めっきの外層にCu6Sn5およびCu3Snが生成されたために、顕著な抗菌効果が認められた。
According to these results, as shown in Table 1, the thin film according to the comparative example in which only the Sn—Cu layer is laminated has an antibacterial effect because Sn is merely laminated on the outer layer of the plating. There wasn't.
In contrast, as shown in Table 2, the heat-treated Sn-Cu heat-treated alloyed plated thin film produced Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn in the outer layer of plating by heat treatment. Therefore, a remarkable antibacterial effect was recognized.
(実施例2)
炭素鋼板に10μmのCu層を形成した後に、1μm、5μm、10μmの層厚にSn層を形成した。これらの試験片を、200℃、250℃、300℃、350℃の条件で5時間の熱処理を行った後に、30℃/分間の冷却速度で冷却した後、表面層近傍を蛍光X線分析にて分析した。
分析した結果をSn層の層厚ごとに図4から図6に示す。図4から図6において、横軸は、各熱処理温度を示し、縦軸は、Fe,Cu,Snの表面付近の濃度(mass%)を示す。
(Example 2)
After forming a 10 μm Cu layer on a carbon steel plate, an Sn layer was formed to a layer thickness of 1 μm, 5 μm, and 10 μm. These test pieces were heat-treated at 200 ° C., 250 ° C., 300 ° C., and 350 ° C. for 5 hours, then cooled at a cooling rate of 30 ° C./min, and the vicinity of the surface layer was subjected to fluorescent X-ray analysis. And analyzed.
The analysis results are shown in FIG. 4 to FIG. 6 for each Sn layer thickness. 4 to 6, the horizontal axis indicates each heat treatment temperature, and the vertical axis indicates the concentration (mass%) near the surface of Fe, Cu, and Sn.
図4は、Sn層の層厚が最も薄い1μmである試験片に対する蛍光X線分析の分析結果を示すグラフである。図4に示すように、熱処理温度を異ならせても、Fe,Cu,Snの濃度比に大きな差が認められなかった。 FIG. 4 is a graph showing an analysis result of the fluorescent X-ray analysis for the test piece having the smallest Sn layer thickness of 1 μm. As shown in FIG. 4, even when the heat treatment temperature was varied, a large difference in the Fe, Cu, Sn concentration ratio was not recognized.
一方、図5は、Sn層の層厚が5μmである試験片に対する蛍光X線分析の分析結果を示すグラフである。図5に示すように、200℃〜250℃では、Cuが表面に拡散するとともに、Snが内部へと拡散するためにSn濃度が減少し、Cu濃度が増加する結果となっている。 On the other hand, FIG. 5 is a graph showing the result of X-ray fluorescence analysis of a test piece having a Sn layer thickness of 5 μm. As shown in FIG. 5, at 200 ° C. to 250 ° C., Cu diffuses to the surface, and Sn diffuses inward, resulting in a decrease in Sn concentration and an increase in Cu concentration.
そして、図6は、Sn層の層厚が最も厚い10μmである試験片に対する蛍光X線分析の分析結果を示すグラフである。図6に示すように、図5よりもCuとSnの濃度の変化が激しく進行することがわかった。また、熱処理温度が220℃付近でSnとCuの主従が逆転するほど溶融がすすむことがわかる。これは、十分かつ適切な量のSnとCuを含有し、適切な熱処理条件で熱処理を行うことで、Cu6Sn5およびCu3Snを生成できることを意味している。 And FIG. 6 is a graph which shows the analysis result of the fluorescent X ray analysis with respect to the test piece whose layer thickness of Sn layer is 10 micrometers thickest. As shown in FIG. 6, it was found that the change in Cu and Sn concentrations proceeded more severely than in FIG. It can also be seen that the melting progresses as the master and slave of Sn and Cu are reversed when the heat treatment temperature is around 220 ° C. This means that Cu 6 Sn 5 and Cu 3 Sn can be generated by containing a sufficient and appropriate amount of Sn and Cu and performing heat treatment under appropriate heat treatment conditions.
なお、かかる分析結果は、薄膜の深さ方向における分析限度が約20μmである蛍光X線分析を用いたことから、その分析結果に若干のFeが検出されている。これは、基板を構成するFeが反映されたものである。そのため、図6に示すように、Sn層とCu層を合わせると略20μmの層厚となる当該試験片の分析結果においては、Feの濃度が非常に少ないものとなっている。また、これは、薄膜の厚さが約20μm程度あれば確実な抗菌性を備え得ることをも意味している。 In addition, since this analysis result used the fluorescent X ray analysis whose analysis limit in the depth direction of a thin film is about 20 micrometers, some Fe is detected in the analysis result. This reflects the Fe constituting the substrate. Therefore, as shown in FIG. 6, in the analysis result of the test piece, which has a layer thickness of about 20 μm when the Sn layer and the Cu layer are combined, the Fe concentration is very small. This also means that a certain antibacterial property can be provided if the thickness of the thin film is about 20 μm.
以上、本発明のSn−Cu合金薄膜、Sn−Cu合金薄膜形成品およびSn−Cu合金薄膜形成品の製造方法を実施するための最良の形態、および、その実施例を示して具体的に説明してきたが、本発明の内容はこれらの記載内容に限定されることなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲で広く変更・改変等することができる。 As described above, the best mode for carrying out the manufacturing method of the Sn—Cu alloy thin film, the Sn—Cu alloy thin film formed product and the Sn—Cu alloy thin film formed product of the present invention, and the examples thereof will be described specifically. However, the contents of the present invention are not limited to these descriptions, and can be widely changed and modified without departing from the spirit of the invention.
例えば、Sn−Cu合金薄膜形成品の製造方法の説明において、Cu層の形成とSn層形成順序を入れ替えて行うこともできる。 For example, in the description of the manufacturing method of the Sn—Cu alloy thin film-formed product, the Cu layer formation and the Sn layer formation order can be interchanged.
また、Sn‐Cu合金薄膜形成品の製造方法のCu層形成工程とSn層形成工程は、めっき処理と、スパッタ処理と、蒸着処理とを同種の処理で形成することもできるが、これに限定されない。例えば、Cu層形成工程はめっき処理で行い、Sn層形成工程は蒸着処理で行うというように、異種の処理で行うことも可能である。 In addition, the Cu layer forming step and the Sn layer forming step of the manufacturing method of the Sn-Cu alloy thin film-formed product can be formed by the same kind of plating treatment, sputtering treatment, and vapor deposition treatment. Not. For example, the Cu layer forming process can be performed by a plating process, and the Sn layer forming process can be performed by a different process such as a vapor deposition process.
また、本発明のSn−Cu合金薄膜が有する機能を阻害しない範囲で、通常用いられる界面活性剤や錯化剤、光沢剤、半光沢剤、酸化防止剤、平滑剤、pH調整剤、導電性塩、防腐剤、消泡剤などの各種添加剤を添加または塗布等することが可能である。 In addition, as long as the functions of the Sn—Cu alloy thin film of the present invention are not impaired, commonly used surfactants and complexing agents, brighteners, semi-brighteners, antioxidants, smoothing agents, pH adjusters, conductivity It is possible to add or apply various additives such as salts, preservatives, and antifoaming agents.
Claims (2)
前記Cu層上に、層厚1〜50μmのSn層を形成するSn層形成工程と、
前記Cu層および前記Sn層を形成した前記基材を250〜400℃、1〜5時間の条件で加熱し、Cuの含有率が10〜90[原子%]であり、Cu 6 Sn 5 およびCu 3 Snのうちの少なくとも一方を形成した、SnとCuの合金薄膜を形成する合金薄膜形成工程と、
加熱され、前記合金薄膜が形成された前記基材を400℃/時間〜50℃/分間の速度で冷却し、Sn−Cu合金薄膜形成品とする冷却工程と、
を含んでなる抗菌性を有するSn−Cu合金薄膜形成品の製造方法。 A Cu layer forming step of forming a Cu layer having a layer thickness of 1 to 50 μm on the substrate substrate;
An Sn layer forming step of forming an Sn layer having a thickness of 1 to 50 μm on the Cu layer;
The base material on which the Cu layer and the Sn layer are formed is heated under conditions of 250 to 400 ° C. and 1 to 5 hours, the Cu content is 10 to 90 [atomic%], and Cu 6 Sn 5 and Cu An alloy thin film forming step for forming an alloy thin film of Sn and Cu , wherein at least one of 3 Sn is formed ;
A cooling step of heating the base material on which the alloy thin film is formed at a rate of 400 ° C./hour to 50 ° C./minute to form a Sn—Cu alloy thin film formed product;
The manufacturing method of the Sn-Cu alloy thin film formation article which has antimicrobial property which comprises this.
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