JP4969647B2 - 信号を復調する方法及び装置 - Google Patents

信号を復調する方法及び装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4969647B2
JP4969647B2 JP2009514236A JP2009514236A JP4969647B2 JP 4969647 B2 JP4969647 B2 JP 4969647B2 JP 2009514236 A JP2009514236 A JP 2009514236A JP 2009514236 A JP2009514236 A JP 2009514236A JP 4969647 B2 JP4969647 B2 JP 4969647B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
excitation
signal
output signal
transducer
complex
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009514236A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009540292A (ja
Inventor
ヤン, アー. ニルソン,
ヤール, アール. ソベル,
Original Assignee
エービービー エービー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エービービー エービー filed Critical エービービー エービー
Publication of JP2009540292A publication Critical patent/JP2009540292A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4969647B2 publication Critical patent/JP4969647B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D1/00Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
    • G01D1/16Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application giving a value which is a function of two or more values, e.g. product or ratio
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D21/00Measuring or testing not otherwise provided for
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/12Measuring force or stress, in general by measuring variations in the magnetic properties of materials resulting from the application of stress
    • G01L1/125Measuring force or stress, in general by measuring variations in the magnetic properties of materials resulting from the application of stress by using magnetostrictive means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/2506Arrangements for conditioning or analysing measured signals, e.g. for indicating peak values ; Details concerning sampling, digitizing or waveform capturing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references

Description

本発明は、励磁周波数を有する交流励磁信号によって駆動されるトランスデューサからの出力信号を復調する装置及び方法に関し、このトランスデューサは測定対象の量を含む振幅変調出力信号を生成する。
本発明は、測定対象の量を含む振幅変調出力信号を生成するトランスデューサ、及び励磁信号を生成してトランスデューサを駆動する励磁ユニットを含むどのような種類の測定装置にも有用である。トランスデューサは、例えば差動変圧器、磁気弾性センサ、または歪みゲージであり、そして測定対象の量は、例えば位置、応力、力、またはトルクである。
被測定量を検出するために、トランスデューサからの出力信号を復調する必要がある。トランスデューサ、例えば磁気弾性トランスデューサの出力信号を復調するための従来の方法では、アナログ位相検出を高感度で行なう。高感度の位相検出は公知の方法であり、この方法では、AC信号の復調または整流を、トランスデューサによって変調される信号を生成する装置により生成される基準波形によって制御される回路によって行なう。
別の方法が米国特許第6285719号明細書に記載されており、この方法では、整流及びフィルタリングが、トランスデューサの出力信号を励磁電圧の発生に同期する周期でサンプリングすることによりデジタル的に行なわれる。整流及びフィルタリングは、各半周期に亘って収集されるサンプリング値を合計することにより行なわれる。次に、励磁の負の半周期に対応する半周期平均値に「−1」を乗算する。上述の基準波形の役割は、クロックで励磁信号の発生、及び出力のサンプリングを制御することによって果たされる。
米国特許第6285719号明細書には更に、所定のアナログシステムをエミュレートする方法が記載されており、この方法では、サンプリング済み出力の重み付け平均を、エミュレート対象のアナログ装置の入力フィルタにより生成される重み付け関数を使用して計算することにより、高感度の位相検出を行なう。
磁気弾性材料を利用する荷重/力/圧力トランスデューサの幾つかの形態が知られている。
或る磁気弾性トランスデューサは、低インピーダンス源から供給され、かつ周期的に変化する一定振幅の電圧波形によって励磁される単一の電気コイルを有するタイプであり、この電気コイルから、力測定出力が単一のコイル電流をモニタリングすることにより得られる。他の磁気弾性トランスデューサは、個別コイルペアを有することができ、この場合、一定の励磁電流が第1コイルに印加され、そしてトランスデューサ応答は、第2コイルに誘起される出力電圧の振幅によって測定される。
磁気弾性トランスデューサでは、強磁性物質の磁気弾性特性を使用して、測定領域における機械応力の変化を検出する。機械応力のこの変化は、外部からトランスデューサに作用する荷重(力、圧力、またはトルク)によって生じ、そしてトランスデューサの出力信号はこの荷重の指標である。
磁気弾性トランスデューサの動作は、磁気弾性トランスデューサが1次巻線及び2次巻線から成る点で、差動変圧器の動作に類似している。1次巻線はAC信号によって励磁され、そして測定される量によって、1次巻線と2次巻線との磁気結合が変化する。従って、荷重が磁気弾性トランスデューサに加わることによって、2次信号、すなわちトランスデューサの出力信号の振幅の変調が起こる。出力の基本周波数は、1次電圧、すなわち励磁電圧の周波数に等しい。
荷重を測定するためには、振幅変調出力信号は復調する必要がある。トランスデューサは、出力の高安定性を実現するために、ゼロ荷重によってゼロに近い出力振幅が生成されるように設計される。正荷重と負荷重とを区別するために、そして出力の直線性を高めるために、高感度の位相検出または同期復調を行なう必要がある。
先行技術において使用される出力信号の復調方法は、解決すべき3つの大きな問題を有する。
トランスデューサは励磁信号の振幅を変調するので、励磁の強度を一定に維持する、すなわち励磁信号を一定の振幅に維持することが非常に重要である。励磁の強度が変化する場合、トランスデューサの感度は、同じ量だけ変化することになる。更に、励磁信号の高調波成分は、出力信号の異なる高調波成分が整流出力に異なる影響を及ぼすため重要となる。
励磁の強度を一定に維持するというこの機能は、磁気弾性的性質を持つ荷重セルにおいて実現することが特に困難となり得る。というのは、これらのセルのインピーダンスが非直線的であり、そしてトランスデューサに加わる機械的荷重とともに変化するからである。
第2に、全てのシステムでは、トランスデューサの出力信号が増幅され、そして入力フィルタによってフィルタリングされる。磁気弾性トランスデューサでは、高調波は、強磁性材料の非直線性によって発生し、そしてこれらの高調波は整流出力に大きな影響を与える。従って、入力フィルタの周波数応答を、振幅及び位相の両方に関して広い周波数範囲に亘って高精度に求める必要がある。これによって、励磁ユニットを収容する電子機器に対する要求が高くなるので、大きなコストが必要になる。
高感度の位相検出を行なう際の第3の問題は、励磁信号からどのようにして整流器を制御する基準波形を生成するかである。
ゼロクロス検出を行なうアナログシステムでは、この検出に影響を与える雑音によって低周波雑音が整流出力に発生する。
デジタルサンプリング、整流、及びフィルタリングを行なう場合、基準波形及び励磁信号は共通クロックから生成される。従って、励磁電流の位相をクロック信号に対して一定に維持するアナログコントローラが必要になる。
別の問題が、トランスデューサの出力インピーダンスに関連して発生する。磁気弾性トランスデューサでは、このインピーダンスは誘導性が顕著となる。入力チャネルの入力インピーダンスは、EMC規制を満たすために普通、容量性を示す。従って、励磁信号が高い周波数成分を含む場合、トランスデューサのインダクタンスと入力の容量との間で共振が発生し、これによって復調出力が影響を受ける。この問題を回避するために、普通は電子機器ユニットにおける電力損失を小さくするように作用する切り替えDC電圧を使用するのではなく、正弦波励磁信号が使用される。
本発明の目的は、トランスデューサからの出力信号の復調精度を向上させて、上述の問題を解決することにある。
本発明の一の態様によれば、この目的は請求項1記載の方法によって達成される。
本方法では、出力信号のサンプリング値をトランスデューサから受信し、そして励磁周波数の少なくとも一つの周期の励磁信号のサンプリング値を受信し、励磁周波数における出力信号の振幅及び位相に関する情報を含む第1の複素数量(first complex valued quantity)を、トランスデューサからの出力信号の前記サンプリング値に基づいて計算し、励磁周波数における励磁信号の振幅及び位相に関する情報を含む第2の複素数量を、励磁信号の前記サンプリング値に基づいて計算し、第1の複素数量と第2の複素数量との除算の商として出力される複素数を生成し、そして復調出力信号を、出力される商に基づいて計算する。励磁信号のサンプリング値は、励磁信号の電流または電圧の振幅のいずれかを表わすことができる。
復調が、出力信号の振幅及び位相に関する情報を含む第1の複素数量と、励磁信号の振幅及び位相に関する情報を含む第2の複素数量との除算の商に基づいて行なわれるので、復調は励磁信号の振幅及び位相の変化による影響を受けなくなる。従って、復調には、励磁信号が一定の振幅及び位相を持つ状態が必要ではなくなる。更に、復調には、励磁信号の高調波成分が振幅または位相に関して一定であるという必要がなくなるので、復調が、ケーブルインピーダンス、または電子機器またはトランスデューサの温度のような外部要素によって影響されることがない。これによって、方形波をDC電圧波形から成形する簡易スイッチのような安価な電子部品を励磁ユニットに使用することができる。これにより、センサのコストが低下する。
複素数量は、励磁信号の基本成分(fundamental tone)である励磁周波数での振幅及び位相に関する情報を含むので、トランスデューサ信号に含まれる全ての高調波成分による影響が除去される。従って、電子機器の入力フィルタは励磁周波数で正確に定義されるだけで済み、先行技術によるシステムにおけるように、広い周波数範囲で定義されることはない。
基準信号を励磁周波数に基づいて生成する必要も無くなる。ある意味では、励磁信号自体が基準信号として復調の際に使用される。励磁信号の位相の全ての変化が完全に補償される。
本発明の一の実施形態によれば、復調出力信号の計算では、出力される商の実部を取り出す。普通、2つの複素数量の基準位相(ゼロとして定義される任意の位相)は、これらの複素数の商を取った結果、ほぼ商の実部のみが得られるように選択される。このようにして、低分解能のデジタルシステムの可能な最大の力学的利点が得られ、そしてこの実施形態が好適な実施形態である。基本的に、復調出力信号に関する情報は複素商を構成する全ての要素に含まれるが、力学的利点は最適点から逸脱するに従って小さくなる。
本発明の別の実施形態によれば、復調出力信号の計算では、出力される商の実部及び虚部の非線形結合を行なう。この演算は、前の実施形態の非線形拡張であり、そしてトランスデューサの出力が測定対象の量とともに非線形的に変化する場合に必要となる。
本発明の一の実施形態によれば、第1の量の計算では、出力信号のサンプリング値に、励磁周波数で振動する正弦波を乗算し、そして結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第1の量の実部を生成し、そして出力信号のサンプリング値に、第1の正弦波に対して約π/2の位相角だけずらし、かつ励磁周波数で振動する別の正弦波を乗算し、そして結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第1の量の虚部を生成する。この実施形態によれば、出力信号の基本成分の実部及び虚部が計算される。
更に、第2の量の計算では、励磁信号のサンプリング値に、励磁周波数で振動する正弦波を乗算し、そして結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第2の量の実部を生成し、そして励磁信号のサンプリング値に、第1の正弦波に対して約π/2の位相角だけずらし、かつ励磁周波数で振動する別の正弦波を乗算し、そして結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第2の量の虚部を生成する。この実施形態によれば、励磁信号の基本成分の実部及び虚部が計算される。
好適には、正弦波のサンプリング値は予め計算され、そして保存される。正弦波は、励磁信号に対して任意の位相位置を有することができる。好適には、出力信号及び励磁信号に対する正弦波の位相位置は、当該量の実部及び虚部の内の一方がゼロになる、例えば当該量の虚部がゼロになるように選択される。本発明のこの実施形態は、実施するのが容易であり、かつ非常に高いコンピュータ能力を必要とする訳ではない。
本発明の別の実施形態によれば、第1の量の計算では、出力信号のサンプリング値のフーリエ変換を計算し、そしてフーリエ変換に基づいて、励磁周波数に対応する係数を抽出し、そして前記第2の量の計算では、励磁信号のサンプリング値のフーリエ変換を計算し、そしてフーリエ変換に基づいて、励磁周波数に対応する係数を抽出する。フーリエ変換を適用して複素数量を計算する処理は、励磁周波数で振動する正弦波を使用する上述の方法と数学的に等価である。
本発明の一の実施形態によれば、励磁信号のサンプリング値は、励磁信号の電流を表わす第1の一連のサンプリング値、及び励磁信号の電圧を表わす第2の一連のサンプリング値を含み、本方法では更に、第2の複素数量を、これら一連のサンプリング値の内の一方のサンプリング値に基づいて計算し、励磁電流の振幅及び位相に関する情報を含む第3の複素数量を、これらの一連のサンプリング値の内の他方のサンプリング値に基づいて計算し、第2の複素数量と第3の複素数量との除算の複素商を生成し、トランスデューサのインピーダンスを、励磁電圧と励磁電流との除算の複素商に基づいて計算し、そして温度補償を計算インピーダンスに基づいて行なう。
トランスデューサのインピーダンスは温度とともに変化するので、このインピーダンスは温度補償に使用することができる。インピーダンスは、励磁電圧と励磁電流との除算の商に基づいて計算され、そして計算インピーダンスは温度の指標として使用される。本発明のこの実施形態によれば、温度補償は計算インピーダンスに基づいて行なわれる。ゼロドリフトを補正するだけでなく、温度変化に起因する測定感度の変化も補正することができる。ゼロドリフトは、温度変化に起因する無荷重の状態のトランスデューサまたは静止位置のトランスデューサからの出力信号の変化である。例えば、トランスデューサの出力信号を計算する場合、温度によって変化するゼロ信号を復調出力信号から減算することにより、ゼロドリフトを補正することができ、そして復調出力信号に温度によって変わる倍率を乗算することによって、温度変化に起因する測定感度の変化を補正することができるので、トランスデューサ温度に対する出力信号の依存性を無くすことができる。
添付の一連の方法請求項において規定される本発明による方法は、プロセッサユニットで命令が実行される場合に、本発明による方法のステップに対応する命令を有するコンピュータプログラムによって実行されるのに適している。複数の計算の内の少なくとも幾つかの計算をFPGAを利用して実行すると更に有利である。
本発明の別の態様によれば、本目的は、コンピュータまたはプロセッサの内部メモリに直接読み込むことができるコンピュータプログラム製品によって達成され、コンピュータプログラム製品は、添付の一連の方法請求項に記載の方法ステップを、プログラムがコンピュータで実行されると実行するソフトウェアコード部分を含む。コンピュータプログラムはコンピュータ読み取り可能な媒体に格納される、またはネットワークを経由して配信される。
本発明の別の態様によれば、本目的は、プログラムによってコンピュータが添付の一連の方法請求項に記載の方法ステップを実行するようにプログラムが構成され、かつプログラムがコンピュータで実行される場合に、プログラムを格納するコンピュータ読み取り可能な媒体によって達成される。
本発明の別の態様によれば、本目的は、請求項8記載の装置によって達成される。このような装置は、トランスデューサからの出力信号、及び励磁ユニットからの出力信号を励磁周波数の少なくとも一つの周期に亘ってサンプリングするサンプリングユニットと、計算ユニットとを備え、計算ユニットは、励磁周波数における出力信号の振幅及び位相に関する情報を含む第1の複素数量を、トランスデューサからの出力信号のサンプリング値に基づいて計算し、励磁周波数における励磁信号の振幅及び位相に関する情報を含む第2の複素数量を、励磁信号のサンプリング値に基づいて計算し、第1の複素数量と第2の複素数量との除算の商として出力される複素数を生成し、復調出力信号を、出力される商に基づいて計算する。アナログシステムでは、励磁信号を一定のレベルに維持する必要がある。提案される復調装置においては、この手法は、線形応答を持つトランスデューサには必要ではなくなる。
装置の更に別の変形態様は、更に別の請求項に開示される特徴によって特徴付けられる。
本発明は、例えば力、応力、またはトルクを測定するトランスデューサからの信号を復調するために有用である。本発明は、磁気弾性トランスデューサからの信号を復調するために特に有用である。磁気弾性トランスデューサの場合、小さい変化に対応する大きな補正量が得られる。励磁電子回路、ケーブル、またはトランスデューサインピーダンスの変化に起因する励磁の変化が補正される。
次に、本発明について、本発明の種々の実施形態に関する記述によって、添付の図を参照しながら更に詳細に説明する。
本発明の一の実施形態によるトランスデューサからの出力信号を復調する装置を示す図である。 入力信号の振幅及び位相に関する情報を含む複素数量を計算する一つの例を示す図である。
図1は、励磁ユニット2からの周期励磁電圧u(t)の形態の励磁信号によって駆動されるトランスデューサ1からの出力信号y(t)を復調する装置を示している。例えば、トランスデューサは、加えられる力の変化を測定する磁気弾性トランスデューサである。時間とともに変化する力F(t)がトランスデューサ1に加わり、このトランスデューサは励磁ユニット2からの励磁電圧u(t)によって励起される。図1では、励磁電圧は方形波u(t)として示される。トランスデューサ1は、励磁電圧を力F(t)の大きさによって変わるように変化させ、トランスデューサ出力信号y(t)を生成する。励磁電流i(t)は励磁ユニット2によって測定される。クロック3によって、励磁ユニット2の励磁周波数が決定される。
装置は、トランスデューサ1からの出力信号y(t)をサンプリングする第1サンプリングユニット5と、励磁ユニットの励磁電圧u(t)をサンプリングする第2サンプリングユニット6と、励磁電流i(t)をサンプリングする第3サンプリングユニット7とを備える。サンプリングユニット5〜7はA/D変換器である。励磁ユニット2及びサンプリングユニット5〜7は、共通クロック3に接続され、共通クロック3によって同期する。従って、サンプリング周波数は励磁周波数に対して固定される。信号y(t),u(t),及びi(t)は、A/D変換器5〜7によってサンプリングされる。各信号y(t),u(t),及びi(t)は普通、励磁電圧の1周期の間にN回だけサンプリングされる。一般的に、かつ特に励磁周波数が測定対象の量の固有周波数よりもずっと高い場合、信号をN回だけM個の周期においてサンプリングすることもでき、N及びMは、好ましくは共通因数を持たない整数である。
全ての信号を異なるサンプリングユニット5〜7に接続するのではなく、全ての信号を一つの共通のサンプリングユニットに、マルチプレクサを利用して印加することもできる。
装置は更に、トランスデューサの復調出力信号O及びインピーダンス
Figure 0004969647

を計算する計算ユニット8を備える。計算ユニット8は、励磁周波数での出力電圧の振幅及び位相に関する情報を含む第1の複素数量(complex valued quantity)
Figure 0004969647

を計算する手段10と、励磁周波数での励磁電圧の振幅及び位相に関する情報を含む第2の複素数量
Figure 0004969647

を計算する手段11と、そして励磁周波数での励磁電流の振幅及び位相に関する情報を含む第3の複素数量

Figure 0004969647

を計算する手段12とを含む。計算ユニットは更に、第1の複素数量と第2の複素数量との除算の商として出力される複素数
Figure 0004969647

を計算する手段13と、そして商の実部を計算する手段15とを含む。従って、出力信号Oは、復調トランスデューサ信号
Figure 0004969647

と、復調励磁電圧
Figure 0004969647

との除算の商を生成し、次に結果として得られる複素数の実部を取り出すことによって得られる。
計算ユニット8は更に、第2の複素数量と第3の複素数量との除算の商として出力される複素数
Figure 0004969647

を計算する手段16を含む。復調励磁電圧
Figure 0004969647

と復調励磁電流
Figure 0004969647

との除算の商を生成し、そしてこの商からトランスデューサの複素インピーダンス
Figure 0004969647

の指標を生成する。このインピーダンスが荷重または温度によって変わる場合、当該インピーダンスは出力信号の線形化または温度補償に使用することができる。
計算ユニット8は更に、出力信号Oの温度補償を、計算インピーダンス
Figure 0004969647

に基づいて行なう手段18を含む。トランスデューサの温度はインピーダンス
Figure 0004969647

に基づいて、例えば複素インピーダンスの実部を取り出すことにより計算される。計算インピーダンスの実部が、どの位相位置が励磁信号に関して選択されるかによって変わる形で、どの情報を含む必要があるかについて選択することが可能になる。例えば、出力信号の温度補償では、温度とともに変化する所定のゼロ信号を出力信号Oから減算してゼロドリフトを補正し、そして出力信号Oに温度とともに変化する所定の倍率を乗算して、温度変化に起因する測定感度の変化を補正する。温度補償に使用されるゼロ信号及び倍率は、計算温度に基づいて求めることができる。最終的な温度補償済みの復調出力信号はOと表記される。
図2は、複素数量
Figure 0004969647

を本発明の一の実施形態に従って計算する手段10の原理を示している。複素数量
Figure 0004969647

及び
Figure 0004969647

を計算する手段11,12では、図2に示す原理と同じ原理を利用する。手段10,11,12は、複素出力を有する高感度のデジタル位相検出器(digital phase sensitive detectors:DPSD)と表記される。DPSD(デジタル位相検出器)への入力は、サンプリング電圧値またはサンプリング電流値である。これらの高感度の位相検出器10〜12は、入力信号を復調し、そしてデジタル出力を複素数の形態で励磁信号の周期毎(または、半周期毎)に生成する。
入力信号
Figure 0004969647

のN個のサンプリング値に、メモリ20aに保存される第1重み付け関数w(t)の該当するN個のサンプリング値を乗算し(19a)、そして結果を合計する(21a)。合計は複素数量
Figure 0004969647

の実部YReとして解釈される。入力信号のサンプリング値に更に、メモリ20bに保存される第2重み付け関数w(t)、または重み付け関数w(t)のサンプリング値をN/4量子化ステップ幅だけシフトさせることにより得られる第2重み付け関数w(t)の該当するN個のサンプリング値を乗算し(19b)、そしてこれらの結果も合計する(21b)。この合計は複素数量Yの虚部YImとして解釈される。好適には、第1重み付け関数w(t)は、励磁周波数で正負の値を交互に出力する正弦波信号であり、そして第2重み付け関数w(t)は、励磁周波数で正負の値を交互に出力する余弦波信号である。各重み付け関数のN個のサンプリング値の合計をゼロに等しくなるようにして、重畳DC信号が復調出力に影響を与えることがないようにする必要がある。DPSD(デジタル位相検出器)からの出力
Figure 0004969647

すなわち複素数量
Figure 0004969647

は、計算される実部及び虚部の合計22として計算される。複素数量
Figure 0004969647

は、次式で表わされる関係を持つ振幅A及び位相
Figure 0004969647

に関する情報を含む。
Figure 0004969647

Figure 0004969647
同じようにして、複素数量
Figure 0004969647

及び
Figure 0004969647

もサンプリング信号u(t)及びi(t)の振幅及び位相に関する情報を含む。
本発明による復調の原理は、周波数応答のコンセプトと同様である。周波数応答は、可変周波数の正弦波入力に対する線形時間不変系(linear time−invariant system)の応答を表わす。正弦波入力に対する線形系の出力は、同じ周波数を有し、かつ異なる振幅及び位相を有する正弦波である。
以下に、本発明の別の実施形態について更に詳細に説明する。周波数応答は、入力正弦波と出力正弦波との振幅差及び位相差として定義され、普通、複素関数H(jω)を使用して数学的に表現される。この関数は普通、出力信号Y(jω)のフーリエ変換を入力信号X(jω)のフーリエ変換により除算したときの商を計算することにより生成され、ωは信号の角周波数である。

Figure 0004969647

(1)
磁気弾性トランスデューサは時間不変でも線形でもないが、単一の周波数ωに関しては、或る時刻tにおける入力信号及び出力信号の振幅及び位相を計算し、次の数式の商を生成することは依然として重要である:

Figure 0004969647

(2)
周波数ωは、励磁周波数
Figure 0004969647

となるように選択され、そして商の値は励磁周波数の1周期または数周期に亘ってサンプリングされる値に基づいて計算される。次に、トランスデューサの復調出力は、この複素数の実部と虚部の線形結合を取ることにより、または等価な演算として、商に所定の複素数を乗算し、そして結果として得られる次式の実部を取り出すことにより生成される:

Figure 0004969647

(3)
この場合、入力信号は正弦波である必要はない。上の数式(2)は単に、励磁周波数における入力信号のフーリエ変換の振幅及び位相を計算する必要があることを示している。
同じ論理的思考が、トランスデューサの出力信号に関して当てはまる。信号のフーリエ変換を計算するために、離散フーリエ変換の定義を用いる。サンプリング値
Figure 0004969647

が得られるように、サンプリング間隔
Figure 0004969647

でN回だけサンプリングされる信号x(t)について考察する。この一連のサンプリング値を離散フーリエ変換した結果は、以下の数式として定義することができる:

Figure 0004969647

(4)
次に、トランスデューサ信号を励磁周波数の1周期Tに亘ってサンプリングする最も簡単な事例について考察する。この事例では、以下の数式:

Figure 0004969647

(5)
が成り立つので、数式(4)は以下の数式のように表現することができる:

Figure 0004969647

(6)
上の数式では、X(k)は第k高調波成分をフーリエ変換で求めた成分を表わす。従って、励磁周波数における信号のフーリエ変換は、k=1の場合の上の数式で与えられる。係数
Figure 0004969647

は単に、商を数式(2)に従って計算する場合の重要ではない正規化係数であるので、本発明による信号復調を行なう場合は、次の数式で表わすことができる:

Figure 0004969647

(7)
ここでは、時間依存性を、一連のサンプリング値x(t)に持たせるが、これは、この一連のN個のサンプリング値が或る離間時間間隔でリアルタイムに更新されるからである。

Figure 0004969647

(8)
最後に、本発明による出力信号が、以下の数式で表わされるように、トランスデューサの励磁信号x(t)、及び振幅復調出力信号y(t)に基づいて得られる:

Figure 0004969647

(9)
実際の用途においては、一連のサンプリング値x(t)及びy(t)は、新規の一連の全てのサンプリング値が得られるたびに更新される。トランスデューサ信号が励磁周波数の1周期に亘ってサンプリングされる上の例では、出力信号U(t)のみが励磁信号と同じ周期で計算され、そして更新される。
上述の角度aの選択は高感度の位相検出の基準信号と励磁信号との位相差の選択に対応する。角度は普通、トランスデューサの復調感度を最大にするように選択される。
数式(9)で表わされる計算では、或る論理計算ユニット(Arithmetic Logical Unit:ALU)を使用する必要があるが、この計算はFPGA、ASIC、または簡単なマイクロプロセッサのデジタル回路の中で実行することができる。
実際には、各フーリエ変換の計算は実数を使用して行なうことができる、または公知の方法を使用する整数演算(integer arithmetic)により行なうことができる。例えば、励磁信号のフーリエ変換は次の数式で表わされるように、2つの合計を計算することにより計算することができる:

Figure 0004969647

(10)
従って、本発明による復調が米国特許第6285719号明細書による復調と異なる点は、励磁信号及び出力信号の両方が測定され、かつ各一連のサンプリング値に関して、2つの合計を、異なる重み付け関数を使用して計算することである。次に、これらの4つの合計の結果を合成して復調出力を数式(9)で表わす方法で生成する。米国特許第6285719号明細書では、合計を一つだけ、一連のサンプル出力信号に基づいて計算し、そしてこの合計を、可能であれば或るデジタルフィルタリングを行なった後に復調出力として直接使用する。
係数
Figure 0004969647

を数式(9)において乗算する演算は、簡易化を目的として、重み付け関数を用い、公知の恒等式(mathematical identities)を使用して取り込むことができる。例えば、この演算を示すために、出力信号のフーリエ変換を次の数式のように書き直すことができる:

Figure 0004969647

(11)
重み付け関数は、サンプリング間隔及び角度αによってのみ変わる。これらのパラメータは普通、所定の磁気弾性トランスデューサに関して一定に維持されるので、重み付け関数は予め計算しておくことができ、そしてメモリに保存することができる。
サンプリング値の数が偶数である場合、1つの半周期に対応する重み付け関数の値を保存するだけで済む。サンプリング値の数が奇数である場合、2つの半周期に対応する異なる重み付け関数が必要になる。
線形システムでは、復調は励磁磁化曲線の形状によって変わることはない。磁気弾性トランスデューサの場合、磁化曲線の形状によって影響が確実に現われるが、磁化曲線の形状の小さな変化は効果的に補正される。
高周波数成分を含む方形波のような励磁信号によって、2次回路を共振させて励磁電流を流すことができる。復調では、励磁周波数における特性のみを考慮に入れるので、復調が共振の影響を受けることがない。
これにより、提案する復調が、公知の技術を使用してDC電圧を切り替えることによりAC励磁電圧が生成されるシステムに特に適合するようになる。
通常、電子機器ユニットは、励磁信号の1周期に対応するサンプリング値を収集し、出力を励磁信号の周波数で更新する。更新周波数を2倍にするために、各半周期に対応するサンプリング値を収集し、出力をこの半周期毎に更新することができる。それでも復調出力は、1周期全体のサンプリング値を利用して生成することにより、得られる重畳DC信号による影響を抑制する必要がある。
励磁信号は、励磁電流または励磁電圧のいずれかとして選択することができる。電流を励磁信号として選択することによる利点は、電流が電子機器ユニットの内部で測定することができるということである。励磁電圧を測定するためには通常、ケーブルにおいて余分の配線ペアを使用して、電圧をトランスデューサで測定することができるようにする必要がある。ケーブルを、コネクタを用いることなく固定し、かつケーブルがトランスデューサに比べて無視できるほどのインピーダンスしか持たない場合、この構成は必要ではなくなる。電流を励磁信号として選択することにより、幾つかのトランスデューサを直列に接続することができるが、これは、これらのトランスデューサを流れる電流が同じであるからである。
電流を用いる場合の不利点は、電流を測定するために電流シャントまたは変圧器が必要になることである。このような装置は高く付き、そして装置によって余分の誤差が復調トランスデューサ出力に生じる。
電流を励磁信号U(t)として使用する複素復調出力は次の数式に従って、電圧を励磁信号
Figure 0004969647

として使用する復調出力に関する表示形式で計算することができる:

Figure 0004969647

(12)
上の数式では、
Figure 0004969647

は、トランスデューサの複素インピーダンスのフーリエ変換である。
Figure 0004969647

のような他のフーリエ変換の定義は上の数式(7)で与えられる。
実際の復調出力は、係数
Figure 0004969647

を乗算した後の複素出力の実部を取り出すことにより得られる。
トランスデューサのインピーダンスは温度依存性があるので、励磁信号を選択することによって、トランスデューサの感度の無補償温度ドリフトにも影響が及ぶ。トランスデューサのインピーダンスは荷重によっても変化し得る。この場合、トランスデューサ信号の感度及び非直線性は、励磁信号の選択の影響を受ける。
磁気弾性トランスデューサは非線形素子であるので、トランスデューサの特性は、励磁信号のレベルによって変化する。この場合、このレベルを一定に維持して、当該レベルが、例えばケーブルインピーダンスまたは種々の動作温度に対して一定に維持されるようにすることが推奨される。
励磁信号のレベルが一定に維持される場合、励磁信号として、荷重に対して最小の変化を示す信号を選択することが最良である。このようにして、励磁を一定に維持するために要する時間は、荷重変化に要する時間よりもずっと長く、信号出力への影響はない。励磁信号のレベルは復調時に補正されるので、励磁信号のレベルを一定に維持するために要する時間の長さと荷重変化に要する時間の長さが異なることによる影響は非常に小さい。
トランスデューサのインピーダンスは温度とともに変化するので、このインピーダンスを温度補償に使用することができる。温度補償を行なう必要がある場合、荷重とともに最も小さく変化する励磁信号を選択することが最良である。このようにして、温度測定に要する時間の長さと荷重測定に要する時間の長さとを、温度測定データをデジタルフィルタリングすることにより分離することができる。これにより、温度補償出力の雑音が小さくなる。
トランスデューサ信号を復調するために提案されるシステムの一つの利点は、当該システムが励磁周波数における測定チャネルの特性によってのみ変わることである。これにより、温度及び時間に対して同一であり、かつ安定である電子機器ユニットの製造コストが安価になる。
この利点は、同じ測定チャネルを使用して全ての信号を測定することにより更に高めることができる。この場合、測定チャネルの周波数応答は、複素復調出力及び複素インピーダンスを計算する場合に行なわれる除算によって完全に除去することができる。この補正処理によって、非常に大きくなり得るA/D変換器のゲインエラーを補正することもできる。
出力信号の更新周波数を上げる必要がある場合でも、一つのチャネルを使用してトランスデューサ出力を測定し、そして別の測定チャネルを使用して出力信号を含む全ての信号を測定することにより、同じ補正処理を行なうことができる。次に、2つの測定チャネルの周波数応答の差を考慮に入れた補正係数を、2つのチャネルによって同時に測定されるトランスデューサ出力信号に対するフーリエ変換の商を計算することにより計算することができる。
トランスデューサの励磁周波数が必要な出力信号帯域よりも非常に高い場合、信号を励磁の数周期に亘ってサンプリングして、十分な数のサンプリング値を収集することが好ましい。この場合、周期の数、及びサンプリング値の数は一つの共通の倍数を持つことがなく、収集される全てのサンプリング値が測定対象の信号の異なる部分から得られるようにする必要がある。
出力信号を、励磁周波数での当該信号の周波数応答を計算することにより復調する利点は、正確には数学的なフーリエ変換に関してのみ、かつ全てのシステムが線形である場合に得られる。
信号をサンプリングし、合計を数式(10)に従って計算することにより、数学的なフーリエ変換に近似したフーリエ変換を計算すると、当然、誤差が生じる。まず、離散化誤差がサンプリング及び整数演算に起因して生じる。これらの誤差は、高分解能のA/D変換器を使用し、相対的に高精度の数を演算に使用し、そして相対的に多い数のサンプリング値を使用することにより最小になる。
第2に、連続信号をサンプリングすることによりエイリアシングが生じ、この場合、ナイキスト周波数(サンプリング周波数の半分)よりも高い周波数を持つ信号は、「折り畳み効果により」ナイキスト周波数よりも低い周波数のスペクトルを汚染する。サンプリング周波数が励磁周波数の16倍の周波数である場合、第9高調波は、第7高調波のサンプリングタイミングにおけるフーリエ係数に影響する。第11高調波は第5高調波のサンプリングタイミングにおけるフーリエ係数に影響する。他の次数の高調波についても同様のことが言える。
復調は励磁周波数でフーリエ変換成分を発生させる演算によってのみ変わるので、エイリアシングによる誤差は、この場合の第15高調波及び第17高調波の近傍の信号スペクトルから生じる。相対的に高い周波数成分が相対的に小さい振幅を有するので、エイリアシングによる誤差はサンプリング周波数が十分に高い場合には非常に小さい。これは、励磁電圧が、正負に変化するDC電圧である場合に特に重要である。というのは、この信号は非常に高い周波数成分を有するからである。
フーリエ変換を奇数のサンプリング値を使用して計算する場合、エイリアシング高調波の一次的な影響は、偶数の高調波によって生じることに注目されたい。励磁信号が反対称信号である場合、励磁信号及び出力信号は奇数の高調波のみを含むことになる。従って、影響のほとんどの部分は、第2高調波のエイリアシングに起因する、すなわちサンプリング周波数の約2倍の周波数の高調波のエイリアシングに起因する。従って、アンチエイリアシングフィルタは極めて簡単に作製することができ、かつ高い遮断周波数を持つことができるので、当該フィルタを励磁周波数で更に安定させることができる。
comprises/comprisingという用語を本明細書において使用する場合には、当該用語は、記載される機能、整数、工程、または構成要素が含まれることを示唆するために用いられる。しかしながら、当該用語は一つ以上の更に別の機能、整数、工程、または構成要素、或いはこれらの組み合わせが含まれる状態、または追加される状態を排除しない。

Claims (16)

  1. 励磁周波数を有する交流励磁信号(u(t))によって駆動されるトランスデューサ(1)からの出力信号を変調する方法であって、このトランスデューサは測定対象の量を含む振幅変調出力信号(y(t))を生成し、前記方法では、
    −出力信号のサンプリング値をトランスデューサから受信し、そして励磁周波数の少なくとも一つの周期の励磁信号のサンプリング値を受信し、
    −励磁周波数における出力信号の振幅及び位相に関する情報を含む第1の複素数量
    Figure 0004969647
    を、トランスデューサからの出力信号の前記サンプリング値に基づいて計算し、
    −励磁周波数における励磁信号の振幅及び位相に関する情報を含む第2の複素数量
    Figure 0004969647
    を、励磁信号の前記サンプリング値に基づいて計算し、
    −前記第1の複素数量と前記第2の複素数量との除算の商として出力される複素数を生成し、そして
    −復調出力信号(O)を、出力される前記商に基づいて計算する、
    方法。
  2. 前記復調出力信号の計算では、出力される前記商の実部を取り出す、請求項1記載の方法。
  3. 前記第1の量の計算では、出力信号のサンプリング値に、励磁周波数で振動する正弦波(w(t))を乗算し、結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第1の量の実部を生成し、そして出力信号のサンプリング値に、第1の正弦波に対して約π/2の位相角だけずらし、かつ励磁周波数で振動する別の正弦波(w(t))を乗算し、結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第1の量の虚部を生成する、請求項1または2に記載の方法。
  4. 前記第2の量の計算では、励磁信号のサンプリング値に、励磁周波数で振動する正弦波(w(t))を乗算し、結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第2の量の実部を生成し、そして励磁信号のサンプリング値に、第1の正弦波に対して約π/2の位相角だけずらし、かつ励磁周波数で振動する別の正弦波(w(t))を乗算し、結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第2の量の虚部を生成する、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の方法。
  5. 前記第1の量
    Figure 0004969647
    の計算では、出力信号のサンプリング値のフーリエ変換を計算し、そしてフーリエ変換に基づいて、励磁周波数に対応する係数を抽出し、そして前記第2の量
    Figure 0004969647
    の計算では、励磁信号のサンプリング値のフーリエ変換を計算し、そしてフーリエ変換に基づいて、励磁周波数に対応する係数を抽出する、請求項1または2に記載の方法。
  6. 励磁信号の前記サンプリング値は、励磁信号の電流を表わす第1の一連のサンプリング値、及び励磁信号の電圧を表わす第2の一連のサンプリング値を含み、前記方法では更に、
    −前記第2の複素数量
    Figure 0004969647
    を、これらの前記一連のサンプリング値の内の一方のサンプリング値に基づいて計算し、
    −励磁電流の振幅及び位相に関する情報を含む前記第3の複素数量
    Figure 0004969647
    を、これらの前記一連のサンプリング値の内の他方のサンプリング値に基づいて計算し、
    −前記第2の複素数量と前記第3の複素数量との除算の複素商
    Figure 0004969647
    を生成し、
    −トランスデューサのインピーダンス
    Figure 0004969647
    を前記複素商に基づいて計算し、そして
    −温度補償を計算インピーダンスに基づいて行なう、
    請求項1乃至5のいずれか1項に記載の方法。
  7. 励磁周波数を有する交流励磁信号によって駆動されるトランスデューサ(1)からの出力信号を変調する装置であって、このトランスデューサは測定対象の量を含む振幅変調出力信号(y(t))を生成し、前記装置は、
    −トランスデューサからの出力信号、及び励磁ユニットからの出力信号を励磁周波数の少なくとも一つの周期に亘ってサンプリングするサンプリングユニット(5,6,7)と、 −計算ユニット(8)とを備え、計算ユニット(8)は、
    励磁周波数における出力信号の振幅及び位相に関する情報を含む第1の複素数量
    Figure 0004969647
    を、トランスデューサからの出力信号の前記サンプリング値に基づいて計算し、
    励磁周波数における励磁信号の振幅及び位相に関する情報を含む第2の複素数量
    Figure 0004969647
    を、励磁信号の前記サンプリング値に基づいて計算し、
    前記第1の複素数量と前記第2の複素数量との除算の商として出力される複素数を生成し、そして
    復調出力信号(O)を、出力される前記商に基づいて計算する、装置。
  8. 前記計算ユニット(8)が、出力される前記商の実部を取り出し、復調出力信号を前記実部に基づいて計算する、請求項記載の装置。
  9. 前記計算ユニット(8)は、前記第1の量
    Figure 0004969647
    を、出力信号のサンプリング値に、励磁周波数で振動する正弦波に基づいて保存される値を乗算し、結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第1の量の実部を生成し、そして出力信号のサンプリング値に、第1の正弦波に対して約π/2の位相角だけずらし、かつ励磁周波数で振動する別の正弦波に基づいて保存される値を乗算し、結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第1の量の虚部を生成することにより計算する、請求項7または8に記載の装置。
  10. 前記計算ユニット(8)が、前記第2の量
    Figure 0004969647
    を、励磁信号のサンプリング値に、励磁周波数で振動する正弦波に基づいて保存される値を乗算し、結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより第2の量の実部を生成し、そして励磁信号のサンプリング値に、第1の正弦波に対して約π/2の位相角だけずらし、かつ励磁周波数で振動する別の正弦波に基づいて保存される値を乗算し、結果として得られる積を励磁信号の少なくとも一つの周期に亘って合計することにより、第2の量の虚部を生成することにより計算する、請求項7乃至9のいずれか1項に記載の装置。
  11. 前記計算ユニット(8)が、前記第2の量
    Figure 0004969647
    を、出力信号のサンプリング値のフーリエ変換を計算し、前記フーリエ変換に基づいて励磁周波数に対応する係数を抽出することにより算出し、また前記第2の量を、励磁信号のサンプリング値のフーリエ変換を計算し、前記フーリエ変換に基づいて、励磁周波数に対応する係数を抽出することにより計算する、請求項7または8に記載の装置。
  12. 前記サンプリングユニット(5,6,7)が、励磁信号の電流を表わす第1の一連のサンプリング値、及び励磁信号の電圧を表わす第2の一連のサンプリング値を生成し、前記計算ユニット(8)が、前記第2の複素数量を、これら前記一連のサンプリング値の内の一方のサンプリング値に基づいて計算し、そして励磁電流の振幅及び位相に関する情報を含む第3の複素数量を、これら前記一連のサンプリング値の内の他方のサンプリング値に基づいて計算し、装置が更に温度補償ユニット(16)を備え、温度補償ユニット(16)が、前記第2の複素数量と前記第3の複素数量との除算の商である複素数
    Figure 0004969647
    を生成し、トランスデューサのインピーダンスを励磁電圧と励磁電流との除算の前記複素商に基づいて計算し、温度補償を計算インピーダンスに基づいて行なう、請求項7乃至11のいずれか1項に記載の装置。
  13. コンピュータの内部メモリに直接読み込むことができるコンピュータプログラムであって、コンピュータに請求項1乃至のいずれか1項に記載のステップを実現させるためのコンピュータプログラム
  14. プログラムを格納するコンピュータ読み取り可能な媒体であって、前記プログラムがコンピュータで実行されると、前記プログラムによってコンピュータが請求項1乃至のいずれか1項に記載のステップを実行する、コンピュータ読み取り可能な媒体。
  15. 力、応力、またはトルクを測定するトランスデューサからの信号を復調するための、請求項7乃至12のいずれか1項に記載の装置の使用。
  16. 磁気弾性トランスデューサからの信号を復調するための、請求項7乃至12のいずれか1項に記載の装置の使用。
JP2009514236A 2006-06-07 2007-05-10 信号を復調する方法及び装置 Active JP4969647B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0601249A SE0601249L (sv) 2006-06-07 2006-06-07 Förfarande och anordning för demodulering av signaler
SE0601249-6 2006-06-07
PCT/SE2007/050326 WO2007142591A1 (en) 2006-06-07 2007-05-10 Method and device for demodulation of signals

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009540292A JP2009540292A (ja) 2009-11-19
JP4969647B2 true JP4969647B2 (ja) 2012-07-04

Family

ID=38801734

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009514236A Active JP4969647B2 (ja) 2006-06-07 2007-05-10 信号を復調する方法及び装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8063648B2 (ja)
EP (1) EP2027475B1 (ja)
JP (1) JP4969647B2 (ja)
CN (1) CN101454678B (ja)
DK (1) DK2027475T3 (ja)
SE (1) SE0601249L (ja)
WO (1) WO2007142591A1 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9658178B2 (en) 2012-09-28 2017-05-23 General Electric Company Sensor systems for measuring an interface level in a multi-phase fluid composition
US9538657B2 (en) 2012-06-29 2017-01-03 General Electric Company Resonant sensor and an associated sensing method
US9589686B2 (en) 2006-11-16 2017-03-07 General Electric Company Apparatus for detecting contaminants in a liquid and a system for use thereof
US10914698B2 (en) 2006-11-16 2021-02-09 General Electric Company Sensing method and system
US9536122B2 (en) 2014-11-04 2017-01-03 General Electric Company Disposable multivariable sensing devices having radio frequency based sensors
US20110320142A1 (en) * 2010-06-28 2011-12-29 General Electric Company Temperature independent pressure sensor and associated methods thereof
US8542023B2 (en) 2010-11-09 2013-09-24 General Electric Company Highly selective chemical and biological sensors
CN102519353A (zh) * 2011-11-18 2012-06-27 中国兵器工业第二〇六研究所 一种基于fpga获得磁位置传感器角度信号的方法
WO2014031749A1 (en) 2012-08-22 2014-02-27 General Electric Company Wireless system and method for measuring an operative condition of a machine
US10598650B2 (en) 2012-08-22 2020-03-24 General Electric Company System and method for measuring an operative condition of a machine
US10684268B2 (en) 2012-09-28 2020-06-16 Bl Technologies, Inc. Sensor systems for measuring an interface level in a multi-phase fluid composition
CN103472427B (zh) * 2013-09-25 2016-04-13 北京无线电计量测试研究所 一种基于离散谱序列的相位噪声测量准确度校准装置
JP6550793B2 (ja) * 2015-02-27 2019-07-31 株式会社ジェイテクト 温度検出装置及び回転角検出装置
US10911061B2 (en) * 2018-03-23 2021-02-02 The Boeing Company System and method for demodulation of resolver outputs
US10913550B2 (en) 2018-03-23 2021-02-09 The Boeing Company System and method for position and speed feedback control
DE102018213413A1 (de) * 2018-08-09 2020-02-13 Robert Bosch Gmbh Induktiver Positionssensor, insbesondere zur Erfassung mindestens einer Rotationseigenschaft eines rotierenden Elements
US10801863B2 (en) 2019-01-14 2020-10-13 Hamilton Sundstrand Corporation High speed AC sensor phase measurement
US11092464B2 (en) 2019-01-14 2021-08-17 Hamilton Sundstrand Corporation High speed AC input sensor conversion
DE102019217871A1 (de) * 2019-11-20 2021-05-20 Robert Bosch Gmbh Übertragungsvorrichtung zur Übertragung von zumindest drei Lage-Signalen und einem Temperatur-Signal eines Elektromotors
CN111367256B (zh) * 2020-03-03 2022-03-29 中国船舶重工集团公司第七0七研究所九江分部 一种rvdt操舵手轮控制装置及自动检测方法
CN111273191B (zh) * 2020-03-03 2022-05-27 中国船舶重工集团公司第七0七研究所九江分部 一种rvdt/lvdt信号处理电路及检测方法
CN114705357B (zh) * 2022-04-19 2024-03-26 上海工业自动化仪表研究院有限公司 用于磁弹性传感器的相敏解调修正方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5716546B2 (ja) * 1973-07-12 1982-04-06
HU196513B (en) * 1985-11-18 1988-11-28 Miki Merestechnikai Fejlesztoe Apparatus for measuring voltage by sampling
US5101156A (en) * 1990-08-09 1992-03-31 General Electric Rapid flow measurement using an nmr imaging system
JPH04370772A (ja) * 1991-06-20 1992-12-24 Ono Sokki Co Ltd 信号特性測定装置
FR2681943B1 (fr) * 1991-10-01 1993-11-19 Ferrari Tissage Enduction Serge Dispositif pour analyser et mesurer les proprietes mecaniques, notamment les niveaux de tension, sur des structures souples tendues.
US5631553A (en) * 1993-05-31 1997-05-20 Universite Du Quebec A Trois-Rivieres High precision RF vector analysis system based on synchronous sampling
JP3568284B2 (ja) * 1995-08-22 2004-09-22 松下電器産業株式会社 復調方法および復調装置
SE513954C2 (sv) * 1999-04-01 2000-12-04 Abb Ab Förfarande och system för bearbetning av signaler från en givare driven med en växelströmsexcitationssignal
US6966493B2 (en) * 2001-12-18 2005-11-22 Rf Saw Components, Incorporated Surface acoustic wave identification tag having enhanced data content and methods of operation and manufacture thereof
JP4080952B2 (ja) * 2003-06-02 2008-04-23 三菱電機株式会社 周波数測定装置
GB2411481B (en) * 2004-02-27 2007-11-14 Ultra Electronics Ltd Signal measurement and processing method and apparatus
CN2777573Y (zh) * 2004-08-20 2006-05-03 西安石油大学 一种用于感应测井仪的数字相敏检波电路

Also Published As

Publication number Publication date
EP2027475A4 (en) 2016-04-06
EP2027475B1 (en) 2018-07-04
WO2007142591A1 (en) 2007-12-13
US20100109766A1 (en) 2010-05-06
DK2027475T3 (en) 2018-10-22
US8063648B2 (en) 2011-11-22
JP2009540292A (ja) 2009-11-19
CN101454678B (zh) 2011-08-17
SE0601249L (sv) 2007-12-08
CN101454678A (zh) 2009-06-10
EP2027475A1 (en) 2009-02-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4969647B2 (ja) 信号を復調する方法及び装置
EP2827106A1 (en) Angle detection device
CN111351535B (zh) 一种高频正弦波励磁电磁流量计信号处理方法
US8872508B2 (en) Method and apparatus for a half-bridge variable differential transformer position sensing system
US8452557B2 (en) Apparatus and method for impedance measurement
US20160109285A1 (en) Vibronic Sensor
KR100823832B1 (ko) 전력계통의 주파수 추정장치 및 그 방법
US7548819B2 (en) Signal measurement and processing method and apparatus
JP6288684B2 (ja) 電流測定装置および電流測定方法
EP1581816B1 (en) Measuring method for deciding direction to a flickering source
US6285719B1 (en) Digital phase sensitive rectification of AC driven transducer signals
US11513013B2 (en) Stress distribution measurement device and stress distribution measurement method
JP4369909B2 (ja) 磁気特性測定方法及び測定器
EP1489390A2 (en) Phase measurement in measuring device
JP2763255B2 (ja) 電流ベクトルによる受動素子値測定装置
JPS6152950B2 (ja)
JPS6273101A (ja) 渦電流式高温用変位計
RU72540U1 (ru) Автогенератор магнитоэлектрического преобразователя вибрационного гироскопа
US11181565B2 (en) Method and device for measuring at least one property of a coil, method and device for measuring the position of an actuation member, and motor vehicle
Manjula et al. Signal conditioning circuit of linear variable differential transformer
Meydan et al. A novel phase modulation-based system using bi-layer thin film displacement sensors
CN116222360A (zh) 一种lvdt位移传感器数据采集方法
SU411401A1 (ja)
SU554514A1 (ru) Способ контрол однородности цилиндрических тонких магнитных пленок и устройство дл осуществлени способа
RU2085962C1 (ru) Устройство для измерения магнитных полей

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110927

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111220

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120306

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120403

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150413

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4969647

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250