JP4963075B2 - Processing apparatus, processing method, and storage medium - Google Patents

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Description

本発明は、例えば半導体ウエハ等の被処理体に処理を施すための処理装置、処理方法、およびその方法を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体に関する。   The present invention relates to a processing apparatus for processing a target object such as a semiconductor wafer, a processing method, and a storage medium storing a program for executing the method.

近時、半導体デバイスの高速化、配線パターンの微細化、高集積化の要求に対応して、デバイス特性の向上が求められており、それに対応して、複数の処理を真空を破らずに実施することができるマルチチャンバタイプの処理装置が用いられている(例えば特許文献1)。 Recently, in response to demands for higher speeds of semiconductor devices, finer wiring patterns, and higher integration, device characteristics have been improved, and in response to this, multiple processes are performed without breaking the vacuum. A multi-chamber type processing apparatus that can be used is used (for example, Patent Document 1).

マルチチャンバタイプの処理装置は、複数の処理ユニットを多角形をなす搬送室の各辺にゲートバルブを介して接続して構成される。各処理チャンバは、対応するゲートバルブを開放することにより搬送室と連通され、対応するゲートバルブを閉じることにより搬送室から遮断される。搬送室内には、複数の処理ユニットに対して、半導体ウエハの搬入出を行う搬送装置が設けられており、搬送室および各処理室を真空に保持した状態で、真空を破ることなく、搬送装置により各処理ユニットへの半導体ウエハの搬入・搬出を行えるようになっている。搬送装置は、搬送室の略中央に配設されており、回転および伸縮可能な回転・伸縮部の先端に半導体ウエハを保持するブレードを有したものが用いられる。 The multi-chamber type processing apparatus is configured by connecting a plurality of processing units to each side of a polygonal transfer chamber via a gate valve. Each processing chamber communicates with the transfer chamber by opening the corresponding gate valve, and is shut off from the transfer chamber by closing the corresponding gate valve. In the transfer chamber, a transfer device for carrying in and out the semiconductor wafer is provided for a plurality of processing units, and the transfer device can be used without breaking the vacuum in a state where the transfer chamber and each processing chamber are held in vacuum. Thus, the semiconductor wafer can be carried into and out of each processing unit. The transfer device is disposed substantially at the center of the transfer chamber, and a transfer device having a blade for holding a semiconductor wafer at the tip of a rotatable / extensible / retractable portion is used.

以上のようなマルチチャンバタイプの処理装置においては、搬送室から各処理ユニット内に、処理を行う半導体ウエハを搬入する際、または、各処理ユニットから搬送室に、処理を終えた半導体ウエハを搬出する際には、ゲートバルブを開放して、搬送装置のブレードにより半導体ウエハを搬入・搬出している。   In the multi-chamber type processing apparatus as described above, when a semiconductor wafer to be processed is transferred from the transfer chamber into each processing unit, or the processed semiconductor wafer is transferred from each processing unit to the transfer chamber. In this case, the gate valve is opened and the semiconductor wafer is carried in and out by the blade of the transfer device.

すなわち、半導体ウエハの搬入・搬出の際、搬送室と処理ユニットとの間のゲートバルブは必ず開放され、搬送室と当該処理ユニットは連通されるようになっている。 That is, when the semiconductor wafer is loaded / unloaded, the gate valve between the transfer chamber and the processing unit is always opened, and the transfer chamber and the processing unit are communicated with each other.

ところで、処理ユニットがCVD装置のような高温雰囲気で処理が行われるものである場合、半導体ウエハの搬入・搬出の際、ゲートバルブを開放して、搬送室と処理ユニットとが連通された際、処理ユニット内の輻射熱が搬送室に影響を与える。   By the way, when the processing unit is to be processed in a high temperature atmosphere such as a CVD apparatus, when the semiconductor wafer is loaded / unloaded, the gate valve is opened, and the transfer chamber and the processing unit are communicated with each other. Radiant heat in the processing unit affects the transfer chamber.

このような輻射熱の影響が搬送室内に及ぼされると、搬送装置のブレードやアームを熱膨張させ、搬送誤差を引き起こすおそれがある。また、輻射熱は、搬送室内の各種センサー等にも悪影響を及ぼす。このため、処理ユニットから搬送室に及ぼされる輻射熱の影響を極力排除することが求められている。
特開2003−59861号公報
If the influence of such radiant heat is exerted in the transfer chamber, the blades and arms of the transfer device may be thermally expanded, causing a transfer error. Radiant heat also adversely affects various sensors in the transfer chamber. For this reason, it is required to eliminate as much as possible the influence of radiant heat exerted on the transfer chamber from the processing unit.
JP 2003-59861 A

本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、ゲートバルブを開放した際、各処理ユニットから搬送室への輻射熱を遮断して、輻射熱の搬送室への影響を防止することができる、処理装置および処理方法を提供することを目的とする。
また、そのような処理方法を実行するプログラムが記憶された記憶媒体を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and when the gate valve is opened, it can block the radiant heat from each processing unit to the transfer chamber and prevent the influence of the radiant heat on the transfer chamber. An object is to provide a processing apparatus and a processing method.
Another object of the present invention is to provide a storage medium storing a program for executing such a processing method.

上記課題を解決するため、本発明の第1の観点では、その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構と、前記ゲートバルブおよび前記シャッター機構の開閉を制御する制御機構とを具備し、前記制御機構は、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに対して搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を開成させ、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を閉成させるように制御することを特徴とする処理装置を提供する。 In order to solve the above-described problems, in the first aspect of the present invention, at least one processing unit that performs processing while heating the object to be processed therein, and conveyance that carries the object into and out of the processing unit By opening the transfer chamber provided with the apparatus, the processing unit and the transfer chamber are communicated with each other so that the object to be processed can be transferred between them. preparative a gate valve for blocking, openably provided on the transfer chamber side of the gate valve, and a shutter mechanism for opening and closing between said transfer chamber and the processing unit operates at a speed higher than the gate valve , and a control mechanism for controlling the opening and closing of the gate valve and the shutter mechanism, the control mechanism, is a state of the gate valve is opened, by the conveying device When loading or unloading the processing body to or from the processing unit, the shutter mechanism is opened, the gate valve is opened, and preparations for replacing the processing object are performed by the transfer device. In this case, a processing device is provided that controls the shutter mechanism to be closed .

本発明の第2の観点では、その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構と、前記ゲートバルブおよび前記シャッター機構の開閉を制御する制御機構とを具備し、前記制御機構は、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を被処理体の搬入・搬出を許容する隙間を残して、中間的に閉成させ、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、搬送装置において被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を完全に閉成させるように制御することを特徴とする処理装置を提供する In the second aspect of the present invention, at least one processing unit that performs processing while heating the object to be processed therein, and a transfer chamber that includes a transfer device that carries the object into and out of the processing unit; A gate valve that allows the processing unit and the transfer chamber to communicate with each other by being opened, and allows the object to be processed to be transferred therebetween, and is closed to shut off the processing unit and the transfer chamber; A shutter mechanism that is openable and closable on the transfer chamber side of the gate valve and that opens and closes between the processing unit and the transfer chamber by operating at a higher speed than the gate valve; and the gate valve and the shutter A control mechanism for controlling opening and closing of the mechanism, wherein the control mechanism is configured such that the gate valve is opened, and the object to be processed is transferred to the processing unit by a transfer device. When loading or unloading, the shutter mechanism is closed in the middle, leaving a gap that allows loading and unloading of the object to be processed, and the gate valve is opened, so that the substrate is covered by the transfer device. Provided is a processing device characterized in that when preparing to replace a processing body, the shutter mechanism is controlled to be completely closed .

本発明の第3の観点では、その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構と、前記ゲートバルブおよび前記シャッター機構の開閉を制御する制御機構とを具備し、前記搬送装置は、被処理体を保持するブレードを有し、前記シャッター機構は、閉成した際に、前記ブレードの通過を許容する切欠き部を有し、前記制御部は、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに対して搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を開成させ、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を閉成させ、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、被処理体の交換のため被処理体が載置されていないブレードを前記処理ユニットに挿入する際、および前記ゲートバルブが開成された状態とされて、被処理体を前記処理ユニットに搬送した後のブレードを前記処理ユニットから退避する際には、前記シャッター機構を閉成した状態とし、前記ブレードが前記切り欠き部を通過するように制御することを特徴とする処理装置を提供する。  In the third aspect of the present invention, at least one processing unit that performs processing while heating the object to be processed therein, and a transfer chamber that includes a transfer device that carries the object into and out of the processing unit; A gate valve that allows the processing unit and the transfer chamber to communicate with each other by being opened, and allows the object to be processed to be transferred therebetween, and is closed to shut off the processing unit and the transfer chamber; A shutter mechanism that is openable and closable on the transfer chamber side of the gate valve and that opens and closes between the processing unit and the transfer chamber by operating at a higher speed than the gate valve; and the gate valve and the shutter A control mechanism that controls opening and closing of the mechanism, and the transport device includes a blade that holds the object to be processed, and the shutter mechanism is configured to move the blade when closed. The controller has a notch that allows excess, and the control unit is in a state where the gate valve is opened, and when the object to be processed is carried into or out of the processing unit by the transfer device, When the shutter mechanism is opened and the gate valve is opened, and the preparation for replacing the object to be processed is performed by the transfer device, the shutter mechanism is closed and the gate valve is When the blade is placed in the opened state, and the blade on which the workpiece is not placed for replacement of the workpiece is inserted into the processing unit, and the gate valve is opened, the workpiece When the blade after having been transported to the processing unit is withdrawn from the processing unit, the shutter mechanism is closed so that the blade passes through the notch. Providing a processing apparatus and controls.

上記第1から第3の観点において、前記制御機構は、前記ゲートバルブが閉成された状態とされて、前記処理ユニットにおいて処理が実行されている際に、前記シャッター機構を開成させるように制御することが好ましい。また、処理装置としては、前記処理ユニットを複数個有し、これら処理ユニットが前記搬送室の複数の辺にそれぞれ対応して設けられているものを好適に用いることができる。 In the first to third aspects, the control mechanism controls the shutter mechanism to open when the gate valve is in a closed state and processing is being performed in the processing unit. It is preferable to do. Moreover, as a processing apparatus, what has two or more said processing units and these processing units are provided corresponding to the some edge | side of the said conveyance chamber, respectively can be used suitably.

本発明の第の観点では、その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構とを具備する処理装置を用いた処理方法であって、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに対して搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を開成し、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を閉成することを特徴とする処理方法を提供する。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided at least one processing unit for performing processing while heating the object to be processed therein, and a transfer chamber provided with a transfer device for carrying the object into and out of the processing unit. A gate valve that allows the processing unit and the transfer chamber to communicate with each other by being opened, and allows the object to be processed to be transferred therebetween, and is closed to shut off the processing unit and the transfer chamber ; And a processing device provided with a shutter mechanism that is provided on the transfer chamber side of the gate valve so as to be openable and closable and that operates at a higher speed than the gate valve and opens and closes between the processing unit and the transfer chamber . a had been processing method, it is a state in which the gate valve is opened, when loading or unloading the workpiece relative to the processing unit by the conveying apparatus, the shutter The structure was opened, is a state in which the gate valve is opened, the when preparing to replace the workpiece by the conveying apparatus, processing method characterized by closing said shutter mechanism I will provide a.

本発明の第5の観点では、その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構とを具備する処理装置を用いた処理方法であって、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を被処理体の搬入・搬出を許容する隙間を残して、中間的に閉成した状態とし、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、搬送装置において被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を完全に閉成した状態とすることを特徴とする処理方法を提供する In a fifth aspect of the present invention, at least one processing unit that performs processing while heating the object to be processed therein, and a transfer chamber that includes a transfer device that carries the object into and out of the processing unit; A gate valve that allows the processing unit and the transfer chamber to communicate with each other by being opened, and allows the object to be processed to be transferred therebetween, and is closed to shut off the processing unit and the transfer chamber; And a processing device provided with a shutter mechanism that is provided on the transfer chamber side of the gate valve so as to be openable and closable and that operates at a higher speed than the gate valve and opens and closes between the processing unit and the transfer chamber. In the processing method, when the gate valve is opened and the object to be processed is carried into or out of the processing unit by the transfer device, the shutter mechanism is processed. When the intermediate valve is closed, leaving a gap allowing the loading / unloading of the body, the gate valve is opened, and the transfer device is preparing to replace the object to be processed Provides a processing method characterized in that the shutter mechanism is completely closed .

本発明の第6の観点では、その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構とを具備し、前記搬送装置は、被処理体を保持するブレードを有し、前記シャッター機構は、閉成した際に、前記ブレードの通過を許容する切欠き部を有する処理装置を用いた処理方法であって、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに対して搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を開成した状態とし、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を閉成した状態とし、前記ゲートバルブが開成された状態とされて、被処理体の交換のため被処理体が載置されていないブレードを前記処理ユニットに挿入する際、および前記ゲートバルブが開成された状態とされて、被処理体を前記処理ユニットに搬送した後のブレードを前記処理ユニットから退避する際には、前記シャッター機構を閉成した状態とし、前記ブレードが前記切り欠き部を通過するようにすることを特徴とする処理方法を提供する。  In a sixth aspect of the present invention, there is provided at least one processing unit for performing processing while heating the object to be processed therein, and a transfer chamber provided with a transfer device for carrying the object into and out of the processing unit. A gate valve that allows the processing unit and the transfer chamber to communicate with each other by being opened, and allows the object to be processed to be transferred therebetween, and is closed to shut off the processing unit and the transfer chamber; A transfer mechanism provided on the transfer chamber side of the gate valve so as to be openable and closable and operating at a higher speed than the gate valve to open and close between the processing unit and the transfer chamber. Is a processing method using a processing device having a blade that holds an object to be processed, and the shutter mechanism has a notch that allows passage of the blade when closed. A state where the gate valve is opened, and when the workpiece is carried into or out of the processing unit by the transfer device, the shutter mechanism is opened, and the gate valve is opened. Then, when preparing to replace the object to be processed by the transport device, the shutter mechanism is closed, the gate valve is opened, and the object to be processed is replaced. Therefore, when the blade on which the object to be processed is not inserted is inserted into the processing unit and the gate valve is opened, the blade after the object to be processed is transferred to the processing unit is transferred to the processing unit. A method of processing, wherein the shutter mechanism is closed when retracted from the blade so that the blade passes through the notch. Subjected to.

上記第4から第6の観点において、前記ゲートバルブが閉成された状態とされて、前記処理ユニットにおいて処理が実行されている際に、前記シャッター機構を開成することが好ましい。  In the fourth to sixth aspects, it is preferable that the shutter mechanism is opened when the gate valve is in a closed state and processing is performed in the processing unit.

本発明の第の観点によれば、コンピュータ上で動作し、処理装置を制御するプログラムが記憶された記憶媒体であって、前記制御プログラムは、実行時に、上記第4から第6の観点の処理方法が行われるように、コンピュータに前記処理装置を制御させることを特徴とする記憶媒体を提供する。 According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a storage medium that stores a program that operates on a computer and controls a processing device, and the control program executes the above-described fourth to sixth aspects when executed . Provided is a storage medium characterized by causing a computer to control the processing device so that the processing method is performed.

ゲートバルブを開放している際に処理ユニットから搬送室への輻射熱を遮断するシャッター機構が設けられているため、ゲートバルブを開放した際、各処理ユニットから搬送室への輻射熱を遮断して、輻射熱の搬送室への影響を防止することができる。したがって、搬送装置のブレードやアームの熱膨張を抑制することができ、搬送誤差を引き起こすおそれが小さい。また、輻射熱による搬送室内の各種センサー等の悪影響を極力防止することができる。   Since the shutter mechanism that blocks the radiant heat from the processing unit to the transfer chamber when the gate valve is opened, the radiant heat from each processing unit to the transfer chamber is blocked when the gate valve is opened, The influence of radiant heat on the transfer chamber can be prevented. Therefore, thermal expansion of the blades and arms of the transport device can be suppressed, and there is little risk of causing transport errors. In addition, adverse effects of various sensors in the transfer chamber due to radiant heat can be prevented as much as possible.

また、処理ユニットでの処理の実行、ゲートバルブの開閉、被処理体の搬入・搬出、および、被処理体の交換準備に連動して、シャッター機構を開閉するようにすることにより、各処理ユニットから搬送室への輻射熱の影響を極力抑制することができる。 In addition, each processing unit is configured to open and close the shutter mechanism in conjunction with execution of processing in the processing unit, opening and closing of the gate valve, loading and unloading of the target object, and preparation for replacement of the target object. Can suppress the influence of the radiant heat on the transfer chamber as much as possible.

以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について具体的に説明する。
[第1の実施形態]
図1(a)は、第1の実施の形態に係る半導体装置の製造方法を実施するためのマルチチャンバタイプの処理装置の概略構造を示す水平断面図であり、(b)は、その側面断面図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the accompanying drawings.
[First Embodiment]
FIG. 1A is a horizontal sectional view showing a schematic structure of a multi-chamber type processing apparatus for carrying out the semiconductor device manufacturing method according to the first embodiment, and FIG. 1B is a side sectional view thereof. FIG.

処理装置は、4つの処理ユニット1、2、3、4を備えており、これらの各ユニット1〜4は六角形をなす搬送室5の4つの辺にそれぞれ対応して設けられている。また、搬送室5の他の2つの辺にはそれぞれロードロック室6、7が設けられている。これらロードロック室6、7の搬送室5と反対側には搬入出室8が設けられており、搬入出室8のロードロック室6、7と反対側には半導体ウエハWを収容可能な3つのキャリアCを取り付けるポート9、10、11が設けられている。処理ユニット1、2、3、4は、その中で半導体ウエハを加熱しながら処理を行う処理、例えばCVD成膜処理を行うものであり、処理中にはその中の温度が例えば600℃の高温に保持されるものである。 The processing apparatus includes four processing units 1, 2, 3, and 4. Each of these units 1 to 4 is provided corresponding to each of the four sides of the transfer chamber 5 having a hexagonal shape. Load lock chambers 6 and 7 are provided on the other two sides of the transfer chamber 5, respectively. A load / unload chamber 8 is provided on the opposite side of the load lock chambers 6 and 7 from the transfer chamber 5, and a semiconductor wafer W can be accommodated on the opposite side of the load lock chambers 6 and 7 of the load / unload chamber 8. Ports 9, 10 and 11 for attaching two carriers C are provided. The processing units 1, 2, 3, 4 perform processing while heating the semiconductor wafer therein, for example, CVD film formation processing, and the temperature therein is high, for example, 600 ° C. To be held.

処理ユニット1〜4、ならびにロードロック室6,7は、同図に示すように、搬送室5の各辺にゲートバルブGを介して接続され、これらは対応するゲートバルブGを開放することにより搬送室5と連通され、対応するゲートバルブGを閉じることにより搬送室5から遮断される。また、ロードロック室6,7の搬入出室8に接続される部分にもゲートバルブGが設けられており、ロードロック室6,7は、対応するゲートバルブGを開放することにより搬入出室8に連通され、対応するゲートバルブGを閉じることにより搬入出室8から遮断される。   The processing units 1 to 4 and the load lock chambers 6 and 7 are connected to each side of the transfer chamber 5 via a gate valve G, as shown in the figure, by opening the corresponding gate valve G. By communicating with the transfer chamber 5 and closing the corresponding gate valve G, the transfer chamber 5 is shut off. A gate valve G is also provided at a portion of the load lock chambers 6, 7 connected to the carry-in / out chamber 8, and the load-lock chambers 6, 7 open the corresponding gate valve G by opening the corresponding gate valve G. 8 is closed from the loading / unloading chamber 8 by closing the corresponding gate valve G.

搬送室5内には、処理ユニット1〜4、ロードロック室6,7に対して、半導体基板Wの搬入出を行う搬送装置12が設けられている。このウエハ搬送装置12は、搬送室5の略中央に配設されており、回転および伸縮可能な回転・伸縮部13の先端に半導体基板Wを保持する2つのブレード14a,14bを有しており、これら2つのブレード14a,14bは互いに反対方向を向くように回転・伸縮部13に取り付けられている。なお、この搬送室5内は所定の真空度に保持されるようになっている。また、ブレード14a,14bは、ツインタイプであるが、シングルタイプであってもよい。   In the transfer chamber 5, a transfer device 12 that loads and unloads the semiconductor substrate W with respect to the processing units 1 to 4 and the load lock chambers 6 and 7 is provided. The wafer transfer device 12 is disposed substantially at the center of the transfer chamber 5 and has two blades 14 a and 14 b that hold the semiconductor substrate W at the tip of a rotatable / extensible / retractable portion 13 that can be rotated and extended. These two blades 14a and 14b are attached to the rotating / extending / contracting portion 13 so as to face opposite directions. The inside of the transfer chamber 5 is maintained at a predetermined degree of vacuum. Further, the blades 14a and 14b are of a twin type, but may be a single type.

搬入出室8のキャリアC取り付け用の3つのポート9,10、11にはそれぞれ図示しないシャッタが設けられており、これらポート9,10,11に半導体基板Wを収容した、または空のキャリアCが直接取り付けられ、取り付けられた際にシャッタが外れて外気の侵入を防止しつつ搬入出室8と連通するようになっている。また、搬入出室8の側面にはアライメントチャンバ15が設けられており、そこで半導体基板Wのアライメントが行われる。   Shutters (not shown) are provided in the three ports 9, 10, and 11 for attaching the carrier C in the loading / unloading chamber 8. The ports 9, 10, and 11 accommodate the semiconductor substrate W or are empty carriers C. Is attached directly, and when it is attached, the shutter comes off and communicates with the carry-in / out chamber 8 while preventing intrusion of outside air. An alignment chamber 15 is provided on the side surface of the loading / unloading chamber 8 where the semiconductor substrate W is aligned.

搬入出室8内には、キャリアCに対する半導体基板Wの搬入出およびロードロック室6,7に対する半導体基板Wの搬入出を行う搬送装置16が設けられている。この搬送装置16は、多関節アーム構造を有しており、キャリアCの配列方向に沿ってレール18上を走行可能となっていて、その先端のハンド17上に半導体基板Wを載せてその搬送を行う。   In the loading / unloading chamber 8, a transfer device 16 for loading / unloading the semiconductor substrate W into / from the carrier C and loading / unloading the semiconductor substrate W into / from the load lock chambers 6 and 7 is provided. The transfer device 16 has an articulated arm structure and can travel on the rail 18 along the arrangement direction of the carrier C. The semiconductor substrate W is placed on the hand 17 at the tip of the transfer device 16 and transferred. I do.

この処理装置は、各構成部を制御するマイクロプロセッサ(コンピュータ)からなるプロセスコントローラ20を有しており、各構成部がこのプロセスコントローラ20に接続されて制御される構成となっている。また、プロセスコントローラ20には、オペレータが処理装置を管理するためにコマンドの入力操作等を行うキーボードや、処理装置の稼働状況を可視化して表示するディスプレイ等からなるユーザーインターフェース21が接続されている。   This processing apparatus has a process controller 20 composed of a microprocessor (computer) that controls each component, and each component is connected to and controlled by this process controller 20. The process controller 20 is connected to a user interface 21 including a keyboard for an operator to input commands for managing the processing device, a display for visualizing and displaying the operating status of the processing device, and the like. .

また、プロセスコントローラ20には、処理装置で実行される各種処理をプロセスコントローラ20の制御にて実現するための制御プログラムや、処理条件に応じて処理装置の各構成部に処理を実行させるためのプログラムすなわちレシピが格納された記憶部22が接続されている。レシピは記憶部22の中の記憶媒体に記憶されている。記憶媒体は、ハードディスクや半導体メモリであってもよいし、CDROM、DVD、フラッシュメモリ等の可搬性のものであってもよい。また、他の装置から、例えば専用回線を介してレシピを適宜伝送させるようにしてもよい。   In addition, the process controller 20 has a control program for realizing various processes executed by the processing device under the control of the process controller 20 and causes each component of the processing device to execute processing according to processing conditions. A storage unit 22 in which a program, that is, a recipe is stored, is connected. The recipe is stored in a storage medium in the storage unit 22. The storage medium may be a hard disk or semiconductor memory, or may be portable such as a CDROM, DVD, flash memory or the like. Moreover, you may make it transmit a recipe suitably from another apparatus via a dedicated line, for example.

そして、必要に応じて、ユーザーインターフェース21からの指示等にて任意のレシピを記憶部22から呼び出してプロセスコントローラ20に実行させることで、プロセスコントローラ20の制御下で、処理装置での所望の処理が行われる。   If necessary, an arbitrary recipe is called from the storage unit 22 by an instruction from the user interface 21 and is executed by the process controller 20, so that a desired process in the processing apparatus is controlled under the control of the process controller 20. Is done.

図2は、図1に示した処理装置のゲートバルブと搬送室との要部の拡大側面断面図である。
本実施の形態では、ゲートバルブGと搬送室5との間の側壁には、相互に連通するフランジ30が嵌着されている。このフランジ30の搬送室5側には、ゲートバルブGを開放している際に、処理ユニット1〜4から搬送室5への輻射熱の漏洩を遮断するシャッター機構40が設けられている。
FIG. 2 is an enlarged side cross-sectional view of the main part of the gate valve and the transfer chamber of the processing apparatus shown in FIG.
In the present embodiment, flanges 30 communicating with each other are fitted on the side wall between the gate valve G and the transfer chamber 5. A shutter mechanism 40 that blocks leakage of radiant heat from the processing units 1 to 4 to the transfer chamber 5 when the gate valve G is opened is provided on the transfer chamber 5 side of the flange 30.

シャッター機構40は、上下2枚の遮蔽板41a,41bを有し、その材質は、好適には、熱伝導性が良く放射性にも優れるアルミニウムである。 The shutter mechanism 40 has two upper and lower shielding plates 41a and 41b, and the material thereof is preferably aluminum which has good thermal conductivity and excellent radiation.

2枚の遮蔽板41a,41bには、それぞれ、電動モーターや圧搾エアー等により駆動される駆動アクチュエータ42が連結されており、これにより、互いに連動して上下動し、シャッター機構40を開閉できるようになっている。   A drive actuator 42 driven by an electric motor, compressed air, or the like is connected to each of the two shielding plates 41a and 41b, so that the shutter mechanism 40 can be opened and closed in conjunction with each other. It has become.

このシャッター機構40の開閉の応答速度は、ゲートバルブGの開閉速度よりも速く、例えば、カメラのシャッター機構の開閉スピードと同様程度のものが好ましい。 The opening / closing response speed of the shutter mechanism 40 is faster than the opening / closing speed of the gate valve G, and is preferably about the same as the opening / closing speed of the shutter mechanism of the camera, for example.

また、搬送室5内は所定の真空度に保持されるようになっているため、駆動アクチュエータ42には、ベローズ43が被着してある。
さらに、このシャッター機構40とフランジ30等は、ユニット化してあってもよく、処理装置のサイズに応じたユニット化を図ってあれば、シャッター機構40等の取り扱いが簡易になり、その設置も極めて容易に行うことができる。
Further, since the inside of the transfer chamber 5 is maintained at a predetermined degree of vacuum, a bellows 43 is attached to the drive actuator 42.
Further, the shutter mechanism 40 and the flange 30 may be unitized, and if the unit is made according to the size of the processing apparatus, the handling of the shutter mechanism 40 and the like becomes simple, and the installation is extremely easy. It can be done easily.

図3(a)は、図1に示した処理装置のゲートバルブと搬送室との要部の拡大側面断面図であり、(b)は、シャッター機構の3段階の開閉工程を示す模式図である。 FIG. 3A is an enlarged side cross-sectional view of the main part of the gate valve and the transfer chamber of the processing apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 3B is a schematic diagram showing a three-stage opening / closing process of the shutter mechanism. is there.

図4は、図3(b)のシャッター機構の3段階の開閉工程に対応した側面図の模式図である。
シャッター機構40は、以下の3段階の開閉工程をとるように制御される。
FIG. 4 is a schematic side view corresponding to the three-stage opening / closing process of the shutter mechanism of FIG.
The shutter mechanism 40 is controlled to take the following three stages of opening / closing processes.

ゲートバルブGを閉成し、処理ユニット1〜4において処理が実行されている際には、シャッター機構40は、開放した状態とされている。
次いで、ゲートバルブGを開放し、搬送装置12により半導体基板Wを処理ユニット1〜4に搬入し搬出する際には、シャッター機構40は、半導体基板Wの搬入・搬出を許容する隙間を残して、中間的に閉成した状態とされる。
When the gate valve G is closed and processing is being performed in the processing units 1 to 4, the shutter mechanism 40 is in an open state.
Next, when the gate valve G is opened and the semiconductor device W is carried into and out of the processing units 1 to 4 by the transfer device 12, the shutter mechanism 40 leaves a gap that allows the semiconductor substrate W to be loaded and unloaded. In the middle, it is closed.

3段目として、ゲートバルブGを開放し、搬送装置12において半導体ウエハWの交換準備をする際には、シャッター機構40は、完全に閉成した状態とされる。 As the third stage, when the gate valve G is opened and the transfer device 12 prepares for replacement of the semiconductor wafer W, the shutter mechanism 40 is completely closed.

このように、本実施の形態では、ゲートバルブGを開放した際、各処理ユニット1〜4から搬送室5への輻射熱を遮断して、輻射熱の搬送室5への影響を防止することができる。したがって、搬送装置12のブレード14a,14b等が熱膨張することがなく、ブレード14a,14b等の伸び・縮みを招来することがなく、搬送誤差等の誘因になるといったこともない。また、輻射熱により、搬送室12内の各種センサー等が悪影響を受けることもない。   As described above, in the present embodiment, when the gate valve G is opened, the radiant heat from each of the processing units 1 to 4 to the transfer chamber 5 can be blocked, and the influence of the radiant heat on the transfer chamber 5 can be prevented. . Therefore, the blades 14a, 14b, etc. of the transport device 12 do not thermally expand, the blades 14a, 14b, etc. do not expand and contract, and there is no incentive for transport errors. Further, various sensors in the transfer chamber 12 are not adversely affected by the radiant heat.

また、処理ユニット1〜4での処理の実行、ゲートバルブGの開閉、半導体基板Wの搬入・搬出、および、半導体基板Wの交換準備に連動して、シャッター機構40を開閉するように制御している。そのため、半導体基板Wの搬入・搬出に伴って、シャッター機構40の中間的な閉成時の隙間を介してわずかに輻射熱が搬送室5へ影響を与えるものの、各処理ユニット1〜4から搬送室12への輻射熱の漏洩を極力抑制することができる。 In addition, the shutter mechanism 40 is controlled to open and close in conjunction with execution of processing in the processing units 1 to 4, opening and closing of the gate valve G, loading and unloading of the semiconductor substrate W, and preparation for replacement of the semiconductor substrate W. ing. Therefore, although the radiant heat slightly affects the transfer chamber 5 through the intermediate closing gap of the shutter mechanism 40 as the semiconductor substrate W is loaded / unloaded, the transfer chambers are transferred from the processing units 1 to 4. The leakage of radiant heat to 12 can be suppressed as much as possible.

[第2の実施形態]
図5(a)は、本発明の第2実施の形態に係る処理装置のゲートバルブと搬送室との要部の拡大側面断面図であり、(b)は、シャッター機構の2段階の開閉工程を示す模式図である。
図6は、シャッター機構の2段階の開閉工程を示すタイミングチャートである。
[Second Embodiment]
FIG. 5A is an enlarged side cross-sectional view of the main part of the gate valve and the transfer chamber of the processing apparatus according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 5B is a two-stage opening / closing process of the shutter mechanism. It is a schematic diagram which shows.
FIG. 6 is a timing chart showing a two-stage opening / closing process of the shutter mechanism.

本実施の形態では、シャッター機構40は、以下の2段階の開閉工程をとるように制御される。
ゲートバルブGを閉成し、処理ユニット1〜4において処理が実行されている際、または、ゲートバルブGを開放し、搬送装置12により半導体ウエハWを処理ユニット1〜4に搬入し搬出する際には、シャッター機構40は、開放した状態とされる。
In the present embodiment, the shutter mechanism 40 is controlled to take the following two-stage opening / closing process.
When the gate valve G is closed and processing is being performed in the processing units 1 to 4, or when the gate valve G is opened and the semiconductor wafer W is carried into and out of the processing units 1 to 4 by the transfer device 12. In other words, the shutter mechanism 40 is opened.

次いで、ゲートバルブGを開放し、搬送装置12において半導体ウエハWの交換準備の際には、シャッター機構40は、閉成した状態とされる。 Next, the gate valve G is opened, and the shutter mechanism 40 is closed when the transfer device 12 prepares to replace the semiconductor wafer W.

図6のタイミングチャートにおいては、(A)において、ブレード14bを処理ユニット1〜4に搬入する前には、シャッター機構40は、閉成した状態とされているが、(B)において、処理ユニット1〜4内にブレード14bが入る際には、シャッター機構40は、開放した状態とされている。 In the timing chart of FIG. 6, the shutter mechanism 40 is closed before the blade 14b is carried into the processing units 1 to 4 in (A). When the blade 14b enters 1 to 4, the shutter mechanism 40 is in an open state.

(C)において、ブレード14bが搬出する際にも、シャッター機構40は、開放した状態とされている。ただし、(B)〜(C)への移行の際、シャッター機構40は、半導体ウエハWを載置したブレード14bと干渉しない程度に中間的に閉成した状態であってもよい。 In (C), when the blade 14b is carried out, the shutter mechanism 40 is in an open state. However, during the transition from (B) to (C), the shutter mechanism 40 may be in an intermediately closed state so as not to interfere with the blade 14b on which the semiconductor wafer W is placed.

(D)において、半導体ウエハWを交換する準備として、処理ユニット1〜4のいずれかから搬出した半導体ウエハWを載置したブレード14bとその処理ユニットに搬入する半導体ウエハWを載置したブレード14aを有する回転・伸縮部13を180°旋回する際には、シャッター機構40は、閉成した状態とされる。
(E)において、処理ユニット1〜4内にブレード14aが入る際には、シャッター機構40は、開放した状態とされる。(F)において、ブレード14aが搬出する際にも、シャッター機構40は、開放した状態とされる。ただし、(E)〜(F)への移行の際、シャッター機構40は、ブレード14aと干渉しない程度に中間的に閉成した状態とされてもよい。
In (D), as preparation for exchanging the semiconductor wafer W, a blade 14b on which the semiconductor wafer W unloaded from one of the processing units 1 to 4 is placed and a blade 14a on which the semiconductor wafer W to be loaded into the processing unit is placed. The shutter mechanism 40 is in a closed state when the rotation / expansion / contraction part 13 having a rotation angle of 180 ° is turned.
In (E), when the blade 14a enters the processing units 1 to 4, the shutter mechanism 40 is opened. In (F), the shutter mechanism 40 is also opened when the blade 14a is carried out. However, when shifting from (E) to (F), the shutter mechanism 40 may be in an intermediately closed state so as not to interfere with the blade 14a.

本実施の形態においても、ゲートバルブGを開放した際、各処理ユニット1〜4から搬送室5への輻射熱を遮断して、輻射熱の搬送室5への影響を防止することができる。 Also in the present embodiment, when the gate valve G is opened, the radiant heat from each of the processing units 1 to 4 to the transfer chamber 5 can be blocked, and the influence of the radiant heat on the transfer chamber 5 can be prevented.

また、シャッター機構40の開閉工程は、2段階であるが、処理ユニット1〜4での処理の実行、ゲートバルブGの開閉、半導体基板Wの搬入・搬出、および、半導体ウエハWの交換準備に連動して、シャッター機構40を開閉するように制御しているため、半導体基板Wの搬入・搬出に伴って、シャッター機構40の開放部分を介して幾分輻射熱の影響を搬送室5に与え、その影響は第1の実施形態よりも大きくはなるものの、各処理ユニット1〜4から搬送室12への輻射熱の漏洩を有効に抑制することができる。 Further, although the opening / closing process of the shutter mechanism 40 is a two-stage process, for the execution of processing in the processing units 1 to 4, opening / closing of the gate valve G, loading / unloading of the semiconductor substrate W, and preparation for replacement of the semiconductor wafer W Since the shutter mechanism 40 is controlled to open and close in conjunction with each other, as the semiconductor substrate W is loaded and unloaded, the transfer chamber 5 is somewhat affected by the radiant heat through the open portion of the shutter mechanism 40. Although the influence is greater than that of the first embodiment, leakage of radiant heat from the processing units 1 to 4 to the transfer chamber 12 can be effectively suppressed.

[第3の実施形態]
図7(a)は、本発明の第3実施の形態に係る処理装置のゲートバルブと搬送室との要部の拡大側面断面図であり、(b)は、シャッター機構の2段階の開閉工程を示す模式図である。
本実施の形態では、シャッター機構40の遮蔽板41a,41bは、閉成した際に、搬送装置12のブレード14a,14bの通過を許容する切欠き部44a,44bを有している。
[Third Embodiment]
FIG. 7A is an enlarged side cross-sectional view of the main part of the gate valve and the transfer chamber of the processing apparatus according to the third embodiment of the present invention, and FIG. 7B is a two-stage opening / closing process of the shutter mechanism. It is a schematic diagram which shows.
In the present embodiment, the shielding plates 41a and 41b of the shutter mechanism 40 have notches 44a and 44b that allow the blades 14a and 14b of the transport device 12 to pass when closed.

シャッター機構40は、以下の2段階の開閉工程をとるように制御される。
ゲートバルブGを閉成し、処理ユニット1〜4において処理が実行されている際には、シャッター機構40は、開放した状態とされる。また、ゲートバルブGを開放し、搬送装置12により半導体基板Wを処理ユニットに搬入し搬出する際にもシャッター機構40は、開放した状態とされる。ただし、半導体ウエハWの搬入・搬出を許容できる程度に中間的に閉成した状態とされてもよい。
The shutter mechanism 40 is controlled to take the following two-stage opening / closing process.
When the gate valve G is closed and processing is being performed in the processing units 1 to 4, the shutter mechanism 40 is opened. The shutter mechanism 40 is also opened when the gate valve G is opened and the semiconductor device W is carried into and out of the processing unit by the transfer device 12. However, the semiconductor wafer W may be in an intermediately closed state to the extent that loading / unloading of the semiconductor wafer W can be permitted.

また、ゲートバルブGを開放し、搬送装置12において半導体ウエハWの交換準備の際には、シャッター機構40は、閉成した状態のままである。具体的には、図6の(B)のようにブレード4bをウエハWを受け取るために挿入する際、および図6の(F)のようにブレード4aから処理ユニットへウエハWを移載した後、ブレード4aを処理ユニットから退避させる際には、切欠き部44a,44bを介してブレード14aまたは14bを通過させる。 Further, the gate valve G is opened, and the shutter mechanism 40 remains closed when the transfer device 12 prepares to replace the semiconductor wafer W. Specifically, when the blade 4b is inserted to receive the wafer W as shown in FIG. 6B, and after the wafer W is transferred from the blade 4a to the processing unit as shown in FIG. 6F. When the blade 4a is retracted from the processing unit, the blade 14a or 14b is passed through the notches 44a and 44b.

本実施の形態においても、ゲートバルブGを開放した際、各処理ユニット1〜4から搬送室5への輻射熱を遮断して、輻射熱の搬送室5への影響を防止することができる。 Also in the present embodiment, when the gate valve G is opened, the radiant heat from each of the processing units 1 to 4 to the transfer chamber 5 can be blocked, and the influence of the radiant heat on the transfer chamber 5 can be prevented.

また、シャッター機構40の開閉工程は2段階であるが、処理ユニット1〜4での処理の実行、ゲートバルブGの開閉、半導体基板Wの搬入・搬出、および、半導体基板Wの交換準備に連動して、シャッター機構40を開閉するように制御している。そのため、半導体基板Wの搬入・搬出に伴って、切欠き部44a,44bを介してわずかに輻射熱が搬送室5に影響を与えるものの、その影響は第2の実施形態の場合よりも少なく、各処理ユニット1〜4から搬送室12への輻射熱の漏洩を第2の実施形態よりも有効に抑制することができる。 In addition, although the opening / closing process of the shutter mechanism 40 is in two stages, it is linked to the execution of processing in the processing units 1 to 4, opening / closing of the gate valve G, loading / unloading of the semiconductor substrate W, and preparation for replacement of the semiconductor substrate W. Thus, the shutter mechanism 40 is controlled to open and close. Therefore, although the radiant heat slightly affects the transfer chamber 5 through the notches 44a and 44b as the semiconductor substrate W is loaded and unloaded, the influence is less than in the second embodiment. Leakage of radiant heat from the processing units 1 to 4 to the transfer chamber 12 can be more effectively suppressed than in the second embodiment.

なお、本発明は、上記実施の形態に限定されることなく種々変形可能である。例えば、上記実施の形態では、シャッター機構40は、2段階または3段階の開閉を行うようになっているが、4段階以上または無段階の開閉を行うように構成してあってもよい。 The present invention can be variously modified without being limited to the above embodiment. For example, in the above-described embodiment, the shutter mechanism 40 opens and closes in two stages or three stages. However, the shutter mechanism 40 may be configured to open and close in four stages or more.

また、本発明の処理装置は上記実施形態のようなマルチチャンバタイプの処理装置に限定されるものではない。   Further, the processing apparatus of the present invention is not limited to the multi-chamber type processing apparatus as in the above embodiment.

(a)は、第1の実施の形態に係る半導体装置の製造方法を実施するためのマルチチャンバタイプの処理装置の概略構造を示す水平断面図であり、(b)は、その側面断面図。(A) is a horizontal sectional view which shows schematic structure of the multi-chamber type processing apparatus for enforcing the manufacturing method of the semiconductor device which concerns on 1st Embodiment, (b) is the side sectional drawing. 図1に示した処理装置のゲートバルブと搬送室との要部の拡大側面断面図。The expanded side sectional view of the principal part of the gate valve and transfer chamber of the processing apparatus shown in FIG. (a)は、図1に示した処理装置のゲートバルブと搬送室との要部の拡大側面断面図であり、(b)は、シャッター機構の3段階の開閉工程を示す模式図。(A) is an expanded side sectional view of the principal part of the gate valve and transfer chamber of the processing apparatus shown in FIG. 1, (b) is a schematic diagram showing a three-stage opening / closing process of the shutter mechanism. 図3(b)のシャッター機構の3段階の開閉工程に対応した側面図の模式図。The schematic diagram of the side view corresponding to the three-step opening / closing process of the shutter mechanism of FIG.3 (b). (a)は、本発明の第2の実施形態に係る処理装置のゲートバルブと搬送室との要部の拡大側面断面図であり、(b)は、シャッター機構の2段階の開閉工程を示す模式図。(A) is an expanded side sectional view of the principal part of the gate valve and transfer chamber of the processing apparatus which concerns on the 2nd Embodiment of this invention, (b) shows the two-step opening / closing process of a shutter mechanism. Pattern diagram. シャッター機構の2段階の開閉工程を示すタイミングチャート。The timing chart which shows the two-step opening / closing process of a shutter mechanism. (a)は、本発明の第3の実施形態に係る処理装置のゲートバルブと搬送室との要部の拡大側面断面図であり、(b)は、シャッター機構の2段階の開閉工程を示す模式図。(A) is an expanded side sectional view of the principal part of the gate valve and transfer chamber of the processing apparatus which concerns on the 3rd Embodiment of this invention, (b) shows the two-step opening / closing process of a shutter mechanism. Pattern diagram.

符号の説明Explanation of symbols

1〜4;処理ユニット
5;搬送室
12;搬送装置
20;プロセスコントローラ
22;記憶部(記憶媒体)
30;フランジ
40;シャッター機構
41a,41b;遮蔽板
W;半導体基板
1-4; Processing unit 5; Transfer chamber 12; Transfer device 20; Process controller 22; Storage unit (storage medium)
30; flange 40; shutter mechanisms 41a and 41b; shielding plate W; semiconductor substrate

Claims (10)

その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、
被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、
開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、
前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構と、
前記ゲートバルブおよび前記シャッター機構の開閉を制御する制御機構と
を具備し、
前記制御機構は、
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに対して搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を開成させ、
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を閉成させるように制御することを特徴とする処理装置。
At least one processing unit for performing processing while heating the object to be processed therein
A transfer chamber provided with a transfer device for transferring the object to be processed into and out of the processing unit;
By opening the gate, the processing unit and the transfer chamber communicate with each other to enable transfer of the object to be processed between them, and by closing the gate valve, the processing unit and the transfer chamber are shut off.
A shutter mechanism which is provided on the transfer chamber side of the gate valve so as to be openable and closable, and which operates at a higher speed than the gate valve to open and close between the processing unit and the transfer chamber ;
A control mechanism for controlling the opening and closing of the gate valve and the shutter mechanism ,
The control mechanism is
The gate valve is opened, and when the object to be processed is carried into or out of the processing unit by the transfer device, the shutter mechanism is opened,
When the gate valve is in an opened state and the transfer device is preparing to replace the object to be processed , the processing device is controlled to close the shutter mechanism .
その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、  At least one processing unit that performs processing while heating the object to be processed therein,
被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、  A transfer chamber provided with a transfer device for transferring the object to be processed into and out of the processing unit;
開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、  By opening the gate, the processing unit and the transfer chamber communicate with each other to enable transfer of the object to be processed between them, and by closing the gate valve, the processing unit and the transfer chamber are shut off.
前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構と、  A shutter mechanism which is provided on the transfer chamber side of the gate valve so as to be openable and closable, and which operates at a higher speed than the gate valve to open and close between the processing unit and the transfer chamber;
前記ゲートバルブおよび前記シャッター機構の開閉を制御する制御機構と  A control mechanism for controlling opening and closing of the gate valve and the shutter mechanism;
を具備し、Comprising
前記制御機構は、  The control mechanism is
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を被処理体の搬入・搬出を許容する隙間を残して、中間的に閉成させ、  The gate valve is in an opened state, and when the object to be processed is carried into or out of the processing unit by the transfer device, the shutter mechanism leaves a gap that allows the object to be carried in / out, Closed in the middle,
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、搬送装置において被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を完全に閉成させるように制御することを特徴とする処理装置。When the gate valve is in an opened state and the transfer device is prepared to replace the object to be processed, the processing device controls the shutter mechanism to be completely closed. .
その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、  At least one processing unit that performs processing while heating the object to be processed therein,
被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、  A transfer chamber provided with a transfer device for transferring the object to be processed into and out of the processing unit;
開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、  By opening the gate, the processing unit and the transfer chamber communicate with each other to enable transfer of the object to be processed between them, and by closing the gate valve, the processing unit and the transfer chamber are shut off.
前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構と、  A shutter mechanism which is provided on the transfer chamber side of the gate valve so as to be openable and closable, and which operates at a higher speed than the gate valve to open and close between the processing unit and the transfer chamber;
前記ゲートバルブおよび前記シャッター機構の開閉を制御する制御機構と  A control mechanism for controlling opening and closing of the gate valve and the shutter mechanism;
を具備し、Comprising
前記搬送装置は、被処理体を保持するブレードを有し、前記シャッター機構は、閉成した際に、前記ブレードの通過を許容する切欠き部を有し、  The transport device includes a blade that holds an object to be processed, and the shutter mechanism includes a notch that allows the blade to pass when the shutter is closed.
前記制御部は、  The controller is
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに対して搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を開成させ、  The gate valve is opened, and when the object to be processed is carried into or out of the processing unit by the transfer device, the shutter mechanism is opened,
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を閉成させ、When the gate valve is in an opened state and preparing to replace the object to be processed by the transfer device, the shutter mechanism is closed,
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、被処理体の交換のため被処理体が載置されていないブレードを前記処理ユニットに挿入する際、および前記ゲートバルブが開成された状態とされて、被処理体を前記処理ユニットに搬送した後のブレードを前記処理ユニットから退避する際には、前記シャッター機構を閉成した状態とし、前記ブレードが前記切り欠き部を通過するように制御することを特徴とする処理装置。  When the gate valve is opened, when a blade on which a workpiece is not placed is inserted into the processing unit for replacement of the workpiece, and when the gate valve is opened. When the blade after the object to be processed is conveyed to the processing unit is retracted from the processing unit, the shutter mechanism is closed, and the blade is controlled to pass through the notch. A processing apparatus characterized by the above.
前記制御機構は、前記ゲートバルブが閉成された状態とされて、前記処理ユニットにおいて処理が実行されている際に、前記シャッター機構を開成させるように制御することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の処理装置。 The control mechanism is a state in which the gate valve is closed, when the processing is executed in the processing unit, from claim 1, wherein the controller controls so as to open said shutter mechanism The processing apparatus of any one of Claim 3 . 前記処理ユニットを複数個有し、これら処理ユニットが前記搬送室の複数の辺にそれぞれ対応して設けられていることを特徴とする請求項1から請求項のいずれか1項に記載の処理装置。 A plurality of said processing unit, the processing according to claims 1, these processing units, characterized in that are provided corresponding to the plurality of sides of the transfer chamber to any one of claims 4 apparatus. その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構とを具備する処理装置を用いた処理方法であって、
前記ゲートバルブが開成した状態とされて、前記搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに対して搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を開成し、
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を閉成することを特徴とする処理方法。
The processing unit is opened by opening at least one processing unit that performs processing while heating the object to be processed, and a transfer chamber having a transfer device that carries the object into and out of the processing unit. A gate valve that communicates with the transfer chamber to enable the transfer of the object to be processed between them, and shuts off the processing unit and the transfer chamber by closing, and the transfer valve side of the gate valve openably provided, a processing method using the processing apparatus including a shutter mechanism for opening and closing between said transfer chamber and the processing unit operates at a speed higher than the gate valve,
When the gate valve is in an opened state, when the workpiece is carried into or out of the processing unit by the transfer device, the shutter mechanism is opened,
A processing method comprising: closing the shutter mechanism when the gate valve is in an opened state and the transfer device is preparing to replace the object to be processed .
その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構とを具備する処理装置を用いた処理方法であって、  The processing unit is opened by opening at least one processing unit that performs processing while heating the object to be processed, and a transfer chamber having a transfer device that carries the object into and out of the processing unit. A gate valve that communicates with the transfer chamber to enable the transfer of the object to be processed between them, and shuts off the processing unit and the transfer chamber by closing, and the transfer valve side of the gate valve A processing method using a processing apparatus provided with a shutter mechanism that opens and closes, operates at a speed faster than the gate valve, and opens and closes between the processing unit and the transfer chamber,
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を被処理体の搬入・搬出を許容する隙間を残して、中間的に閉成した状態とし、  The gate valve is in an opened state, and when the object to be processed is carried into or out of the processing unit by the transfer device, the shutter mechanism leaves a gap that allows the object to be carried in / out, Let it be in the middle closed state,
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、搬送装置において被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を完全に閉成した状態とすることを特徴とする処理方法。  A processing method, wherein the shutter mechanism is completely closed when the gate valve is in an opened state and the transfer device is preparing to replace the object to be processed.
その中で被処理体を加熱しながら処理を行う少なくとも1個の処理ユニットと、被処理体を前記処理ユニットに搬入し搬出する搬送装置を備えた搬送室と、開成することにより、前記処理ユニットと前記搬送室とを連通してこれらの間の被処理体の搬送を可能とし、閉成することにより前記処理ユニットと前記搬送室とを遮断するゲートバルブと、前記ゲートバルブの前記搬送室側に開閉可能に設けられ、前記ゲートバルブよりも速い速度で動作して前記処理ユニットと前記搬送室との間を開閉するシャッター機構とを具備し、前記搬送装置は、被処理体を保持するブレードを有し、前記シャッター機構は、閉成した際に、前記ブレードの通過を許容する切欠き部を有する処理装置を用いた処理方法であって、  The processing unit is opened by opening at least one processing unit that performs processing while heating the object to be processed, and a transfer chamber having a transfer device that carries the object into and out of the processing unit. A gate valve that communicates with the transfer chamber to enable the transfer of the object to be processed between them, and shuts off the processing unit and the transfer chamber by closing, and the transfer valve side of the gate valve And a shutter mechanism that opens and closes between the processing unit and the transfer chamber by operating at a speed higher than that of the gate valve, and the transfer device is a blade that holds an object to be processed. And the shutter mechanism is a processing method using a processing device having a notch that allows passage of the blade when closed.
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を前記処理ユニットに対して搬入または搬出する際には、前記シャッター機構を開成した状態とし、  The gate valve is in an opened state, and when the object to be processed is carried into or out of the processing unit by the transfer device, the shutter mechanism is opened.
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、前記搬送装置により被処理体を交換する準備をしている際には、前記シャッター機構を閉成した状態とし、When the gate valve is in an opened state and preparing to replace the object to be processed by the transfer device, the shutter mechanism is closed,
前記ゲートバルブが開成された状態とされて、被処理体の交換のため被処理体が載置されていないブレードを前記処理ユニットに挿入する際、および前記ゲートバルブが開成された状態とされて、被処理体を前記処理ユニットに搬送した後のブレードを前記処理ユニットから退避する際には、前記シャッター機構を閉成した状態とし、前記ブレードが前記切り欠き部を通過するようにすることを特徴とする処理方法。  When the gate valve is opened, when a blade on which a workpiece is not placed is inserted into the processing unit for replacement of the workpiece, and when the gate valve is opened. When the blade after transporting the object to be processed is retracted from the processing unit, the shutter mechanism is closed so that the blade passes through the notch. Characteristic processing method.
前記ゲートバルブが閉成された状態とされて、前記処理ユニットにおいて処理が実行されている際に、前記シャッター機構を開成することを特徴とする請求項6から請求項8のいずれか1項に記載の処理方法。  9. The shutter mechanism is opened when the gate valve is in a closed state and processing is being performed in the processing unit. 10. The processing method described. コンピュータ上で動作し、処理装置を制御するプログラムが記憶された記憶媒体であって、前記制御プログラムは、実行時に、請求項から請求項のいずれかの処理方法が行われるように、コンピュータに前記処理装置を制御させることを特徴とする記憶媒体。 A storage medium that operates on a computer and stores a program for controlling a processing device, wherein the control program is executed so that the processing method according to any one of claims 6 to 9 is performed at the time of execution. A storage medium that controls the processing apparatus.
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