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本発明は、所定の温度の液体が貯留された試験槽により温度試験を行う温度装置及び方法に係り、特に、複数の温度での温度試験を行うことが可能な温度試験装置及び方法に関する。   The present invention relates to a temperature apparatus and method for performing a temperature test using a test tank in which a liquid having a predetermined temperature is stored, and more particularly to a temperature test apparatus and method capable of performing a temperature test at a plurality of temperatures.

各種部品や材料の温度試験を行う場合、従来より、所定の試験温度に設定された油などの液体で満たされた試験槽が用いられている。このような試験槽を用いて、複数の温度で温度試験をする場合は、設定温度が異なる複数の試験槽を複数並べて用いるのが通常である。しかし、各試験槽について温度条件を別々に管理するためには手間とコストが掛かり、特に、試験が長期間(例えば、1年)に亘る場合は、その手間やコストは多大なものとなる。なお、ICデバイス等被試験体の温度特性を試験するための温度特性試験装置として特許文献1がある。
特開平5−288801号公報
When performing temperature tests on various parts and materials, conventionally, a test tank filled with a liquid such as oil set to a predetermined test temperature has been used. When performing a temperature test at a plurality of temperatures using such a test tank, it is usual to use a plurality of test tanks having different set temperatures. However, it takes time and cost to separately manage the temperature conditions for each test tank. In particular, when the test takes a long time (for example, one year), the time and cost are great. Patent Document 1 discloses a temperature characteristic test apparatus for testing temperature characteristics of a device under test such as an IC device.
Japanese Patent Laid-Open No. 5-288801

本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、温度試験に用いる試験槽を複数接続することにより、各試験槽の温度管理を一括して行いつつ複数温度での温度試験を行うことが可能な温度試験装置及び方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and by connecting a plurality of test tanks used for a temperature test, it is possible to perform a temperature test at a plurality of temperatures while performing temperature control of each test tank collectively. An object is to provide a possible temperature test apparatus and method.

第一の発明は、所定の温度に設定された液体を貯留する試験槽を備え、被試験体を前記液体に浸漬することにより温度試験を行えるようにした温度試験装置であって、
複数の前記試験槽が直列に接続され、
隣合う前記試験槽の間にラジエータが介在し、
前記液体を前記複数の試験槽に前記ラジエータを介して流通するように循環させるポンプと、前記液体を加熱するヒータとを備えることを特徴とする温度試験装置である。
A first invention is a temperature test apparatus including a test tank for storing a liquid set at a predetermined temperature, and capable of performing a temperature test by immersing a device under test in the liquid,
A plurality of the test chambers are connected in series,
A radiator is interposed between adjacent test chambers,
A temperature test apparatus comprising: a pump that circulates the liquid through the plurality of test tanks through the radiator; and a heater that heats the liquid.

第二の発明は、所定の温度に設定された液体を貯留する試験槽を備え、被試験体を前記液体に浸漬することにより温度試験を行えるようにした温度試験装置であって、
複数の前記試験槽が直列に接続され、
隣合う前記試験槽の間にラジエータが介在し、
前記液体を前記複数の試験槽に前記ラジエータを介して流通するように循環させるポンプと、前記液体を冷却する冷却部とを備えることを特徴とする温度試験装置である。
A second invention is a temperature test apparatus comprising a test tank for storing a liquid set at a predetermined temperature, and capable of performing a temperature test by immersing a device under test in the liquid,
A plurality of the test chambers are connected in series,
A radiator is interposed between adjacent test chambers,
A temperature test apparatus comprising: a pump that circulates the liquid through the plurality of test tanks through the radiator; and a cooling unit that cools the liquid.

第三の発明は、第一又は第二の発明に記載の温度試験装置において、
前記試験槽は密閉槽であることを特徴とする温度試験装置である。
A third invention is the temperature test apparatus according to the first or second invention,
The temperature test apparatus is characterized in that the test tank is a closed tank.

第四の発明は、第三の発明に記載の温度試験装置において、
前記試験槽が鉛直方向に積み上げて設置されていることを特徴とする温度試験装置である。
A fourth invention is the temperature test apparatus according to the third invention,
The temperature test apparatus is characterized in that the test tanks are stacked and installed in the vertical direction.

第五の発明は、第四の発明に記載の温度試験装置において、
最上段より下段の各試験槽について、その上段の試験槽と接続する管路にバルブが設けられていることを特徴とする温度試験装置である。
A fifth invention is the temperature test apparatus according to the fourth invention,
A temperature test apparatus characterized in that a valve is provided in a pipe line connected to the upper test tank for each of the test tanks below the uppermost stage.

温度試験に用いる試験槽を複数接続することにより、各試験槽の温度管理を一括して行いつつ複数温度での温度試験を行うことが可能となる。   By connecting a plurality of test tanks used for the temperature test, it is possible to perform a temperature test at a plurality of temperatures while performing temperature management of each test tank at once.

図1は、本発明の一実施形態である温度試験装置1の全体構成図である。同図に示すように、温度試験装置1は、ヒータ10、複数の試験槽21〜24、複数のラジエータ31〜33、及び、ポンプ40を有している。試験槽21〜24は直列に接続されており、隣合う試験槽の間に、夫々、ラジエータ31〜33が介在している。ポンプ40の吸入口は第4試験槽24に接続され、また、吐出口はヒータ部10に接続されており、ポンプ40から吐出された所定の液体が、ヒータ10で加熱された後、第1試験槽21→第1ラジエータ31→第2試験槽22→第2ラジエータ32→第3試験槽23→第3ラジエータ33→第4試験槽24→ポンプ40と循環する構成となっている。なお、上記所定の液体(以下、「試験液」という)は、試験槽21〜24内を満たして各試験槽内に設置された被試験体の温度を所定の温度に保つためもの液体であって、例えば、シリコンオイル等の油、水、アルコール等である。すなわち、試験槽21〜24では、それぞれの内部に貯留された試験液に被試験体を浸漬することにより、被試験体を試験液の温度に保持する。なお、被試験体が直接、試験液に触れないように、例えば、被試験体を密閉容器に入れたうえで、試験液に浸漬させるものとする。   FIG. 1 is an overall configuration diagram of a temperature test apparatus 1 according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the temperature test apparatus 1 includes a heater 10, a plurality of test tanks 21 to 24, a plurality of radiators 31 to 33, and a pump 40. The test tanks 21 to 24 are connected in series, and radiators 31 to 33 are interposed between adjacent test tanks, respectively. The suction port of the pump 40 is connected to the fourth test tank 24, and the discharge port is connected to the heater unit 10. After the predetermined liquid discharged from the pump 40 is heated by the heater 10, the first The test tank 21 circulates as follows: first radiator 31 → second test tank 22 → second radiator 32 → third test tank 23 → third radiator 33 → fourth test tank 24 → pump 40. The predetermined liquid (hereinafter referred to as “test liquid”) is a liquid that fills the test tanks 21 to 24 and maintains the temperature of the DUT installed in each test tank at a predetermined temperature. For example, oil such as silicon oil, water, alcohol and the like. That is, in the test tanks 21 to 24, the test object is held at the temperature of the test liquid by immersing the test object in the test liquid stored in each of the test tanks 21 to 24. In order to prevent the test subject from directly touching the test solution, for example, the test subject is placed in a sealed container and then immersed in the test solution.

なお、図1では、第1〜第4の4つの試験槽21〜24を備えた場合について示しているが、これに限らず適宜な個数の試験槽を設けることができる。また、試験槽21〜24は、夫々の内部の試験液の温度を検出する温度センサを備えてもよい。   In addition, in FIG. 1, although it has shown about the case where the 1st-4th four test tanks 21-24 are provided, not only this but an appropriate number of test tanks can be provided. Moreover, the test tanks 21 to 24 may be provided with a temperature sensor that detects the temperature of the test liquid in each of the test tanks 21 to 24.

上記のように、ラジエータ31〜33は、試験槽21と試験槽22との間、試験槽22と試験槽23との間、試験槽23と試験槽24との間の夫々に設置されており、上流側の試験槽から流出した試験液を、その下流側の試験槽での試験温度まで冷却する。すなわち、試験槽21〜24の試験温度が夫々T1〜T4(ただし、T1>T2>T3>T4)であるとすると、ヒータ10は試験液を温度T1まで加熱し、第1ラジエータ31は、第1試験層21の温度T1の試験液を温度T2まで冷却して第2試験槽22に供給し、第2ラジエータ32は、第2試験層22の温度T2の試験液を温度T3まで冷却して第3試験槽23に供給し、第3ラジエータ33は、第3試験槽23の温度T3の試験液を温度T4まで冷却して第4試験槽24に供給する。なお、ラジエータ31〜33は、例えば送風機等、試験液の放熱量を調節する手段を備えていてもよい。   As described above, the radiators 31 to 33 are installed between the test tank 21 and the test tank 22, between the test tank 22 and the test tank 23, and between the test tank 23 and the test tank 24. The test liquid flowing out from the upstream test tank is cooled to the test temperature in the downstream test tank. That is, if the test temperatures of the test tanks 21 to 24 are T1 to T4 (where T1> T2> T3> T4), the heater 10 heats the test liquid to the temperature T1, and the first radiator 31 The test liquid at the temperature T1 of the first test layer 21 is cooled to the temperature T2 and supplied to the second test tank 22, and the second radiator 32 cools the test liquid at the temperature T2 of the second test layer 22 to the temperature T3. The third radiator 33 cools the test liquid at the temperature T3 in the third test tank 23 to the temperature T4 and supplies it to the fourth test tank 24. The radiators 31 to 33 may include means for adjusting the heat release amount of the test liquid, such as a blower.

各試験槽21〜24に液温検出用の温度センサが設けられ、ラジエータ31〜33に放熱量の調整手段が設けられる場合には、次のようにして温度制御を行うことができる。すなわち、ヒータ10については、第1試験槽21の液温を監視し、その液温が温度T1となるように加熱制御を行う。また、各ラジエータ31〜33については、その下流の試験槽の液温に応じて放熱量調節手段による放熱量の制御を行う。例えば、第1ラジエータ31の場合は、その下流の第2試験槽22の液温がT2となるように放熱量の制御を行う。   When each of the test tanks 21 to 24 is provided with a temperature sensor for detecting a liquid temperature and the radiators 31 to 33 are provided with means for adjusting a heat release amount, the temperature can be controlled as follows. That is, for the heater 10, the liquid temperature in the first test tank 21 is monitored, and heating control is performed so that the liquid temperature becomes the temperature T1. Moreover, about each radiator 31-33, control of the thermal radiation amount by a thermal radiation amount adjustment means is performed according to the liquid temperature of the downstream test tank. For example, in the case of the first radiator 31, the amount of heat radiation is controlled so that the liquid temperature of the second test tank 22 downstream thereof is T2.

以上の通り、本実施形態によれば、試験液で満たされた複数の試験槽を連結し、試験液を適切な温度に調節しつつ各試験槽に循環させることで、一台の試験装置で複数の試験槽21〜24の温度管理を一括して行いながら、複数温度の温度試験を行うことができるので、温度条件管理の簡便化を図ることが可能となる。   As described above, according to the present embodiment, a plurality of test tanks filled with the test liquid are connected, and the test liquid is circulated to each test tank while adjusting the temperature to an appropriate temperature. Since the temperature test of a plurality of temperatures can be performed while performing the temperature management of the plurality of test tanks 21 to 24 collectively, it is possible to simplify the temperature condition management.

ところで、本実施形態において、温度試験装置1が備える各試験槽21〜24は、密閉式の槽としてもよい。この場合、試験液の揮発や劣化といった問題や、試験液がこぼれたり試験液中に外部から異物が入ってしまったりといった問題を防止することができる。   By the way, in this embodiment, each test tank 21-24 with which the temperature test apparatus 1 is provided is good also as a sealed tank. In this case, it is possible to prevent problems such as volatilization and deterioration of the test solution, and problems such as spillage of the test solution and foreign matters entering the test solution.

このような密閉型の試験槽21〜24を備える温度試験装置1では、図2に示すように試験槽21〜24を鉛直方向に配置してもよい。機能面では、試験槽の配置が鉛直方向であっても水平方向であっても同じであるものの、試験槽を鉛直方向に重ねることで設置スペースを小さくすることができる。なお、この場合、最上段の試験槽24よりも下の試験槽、すなわち、下3段の試験槽21〜23とラジエータ31〜33の間に夫々バルブ212,222,232を装着しておく。そして、例えば、被試験体を試験槽21の槽内に設置するためにその蓋211を開ける際には、予めバルブ212を閉めておくことで、上段の試験槽22の試験液が試験槽21に流入するのを防止し、これにより、試験液が試験槽21の蓋211から溢れ出るのを防止することができる。同様に、試験槽22の蓋221を開ける場合には、バルブ222を閉じ、試験槽23の蓋231を開ける場合には、バルブ232を閉じればよい。   In the temperature test apparatus 1 including such sealed test tanks 21 to 24, the test tanks 21 to 24 may be arranged in the vertical direction as shown in FIG. In terms of functionality, although the test tanks are arranged in the vertical direction or in the horizontal direction, the installation space can be reduced by overlapping the test tanks in the vertical direction. In this case, valves 212, 222, and 232 are respectively installed between the test tanks below the uppermost test tank 24, that is, between the lower three test tanks 21 to 23 and the radiators 31 to 33. For example, when the lid 211 is opened in order to install the device under test in the tank of the test tank 21, the test liquid in the upper test tank 22 is allowed to close in the test tank 21 by closing the valve 212 in advance. This prevents the test liquid from overflowing from the lid 211 of the test chamber 21. Similarly, when the lid 221 of the test tank 22 is opened, the valve 222 is closed, and when the lid 231 of the test tank 23 is opened, the valve 232 may be closed.

このように温度試験装置1が密閉式の試験槽21〜24を備えることにより、試験槽21〜24へ異物が侵入したり、試験液が蒸発したり、更には試験液が空気に触れて劣化したりするのを防止できるので、無人での管理も可能となる。これは1年以上に渡るような長期の試験を実施する際には、たいへん便利である。また、試験槽21〜24を鉛直方向に重ねて配置することで、試験装置の占有面積も小さくて済む。   As described above, when the temperature test apparatus 1 includes the sealed test tanks 21 to 24, foreign matter enters the test tanks 21 to 24, the test liquid evaporates, and the test liquid touches the air and deteriorates. So that unattended management is possible. This is very convenient when conducting long-term tests over one year. Moreover, the occupation area of a test apparatus can also be small by arrange | positioning the test tanks 21-24 in the perpendicular direction.

なお、バルブ212〜232に代えて、下段の試験槽から上段の試験層へ向かう向きの流れのみを許容し、その逆向きの流れを阻止する逆止弁を設けてもよい。この場合は、蓋211〜231を開ける都度バルブを閉じる操作を行わなくて済む。   Instead of the valves 212 to 232, a check valve that allows only the flow in the direction from the lower test tank to the upper test layer and prevents the reverse flow may be provided. In this case, it is not necessary to close the valve every time the lids 211 to 231 are opened.

図3は、本発明の別の実施形態である温度試験装置2の全体構成図である。温度試験装置2は、環境温度よりも低温での温度試験を行うものであり、ヒータ10に代えて冷却部15を設けた構成である。また、第1試験槽〜第4試験槽の温度T1〜T4は上記第1実施形態とは逆にT1<T2<T3<T4の関係にあり、ラジエータ31は、上流側の試験槽の試験液を環境空気との熱交換により暖めて下流側の試験槽に供給する。   FIG. 3 is an overall configuration diagram of a temperature test apparatus 2 which is another embodiment of the present invention. The temperature test apparatus 2 performs a temperature test at a temperature lower than the environmental temperature, and has a configuration in which a cooling unit 15 is provided in place of the heater 10. Further, the temperatures T1 to T4 of the first test tank to the fourth test tank are in the relationship of T1 <T2 <T3 <T4 contrary to the first embodiment, and the radiator 31 is a test solution in the upstream test tank. Is heated by heat exchange with ambient air and supplied to the downstream test chamber.

なお、以上の実施形態の説明は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明はその趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に本発明にはその等価物が含まれることは勿論である。   In addition, the description of the above embodiment is for facilitating understanding of the present invention, and does not limit the present invention. It goes without saying that the present invention can be changed and improved without departing from the gist thereof, and that the present invention includes equivalents thereof.

本発明の一実施形態である温度試験装置1の全体構成図である。1 is an overall configuration diagram of a temperature test apparatus 1 according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態の斜視図である。It is a perspective view of the embodiment of the present invention. 本発明の別の実施形態である温度試験装置2の全体構成図であるIt is a whole block diagram of the temperature test apparatus 2 which is another embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 温度試験装置
2 温度試験装置
10 ヒータ
15 冷却部
21 第1試験槽
211 蓋
212 バルブ
22 第2試験槽
221 蓋
222 バルブ
23 第3試験槽
231 蓋
232 バルブ
24 第4試験槽
241 蓋
31 第1ラジエータ
32 第2ラジエータ
33 第3ラジエータ
40 ポンプ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Temperature test apparatus 2 Temperature test apparatus 10 Heater 15 Cooling part 21 1st test tank 211 Lid 212 Valve 22 2nd test tank 221 Lid 222 Valve 23 3rd test tank 231 Lid 232 Valve 24 4th test tank 241 Lid 31 1st Radiator 32 Second radiator 33 Third radiator 40 Pump

Claims (6)

所定の温度に設定された液体を貯留する試験槽を備え、被試験体を前記液体に浸漬することにより温度試験を行えるようにした温度試験装置であって、
複数の前記試験槽が直列に接続され、
隣合う前記試験槽の間にラジエータが介在し、
前記液体を前記複数の試験槽に前記ラジエータを介して流通するように循環させるポンプと、前記液体を加熱するヒータとを備えることを特徴とする温度試験装置。
A temperature test apparatus comprising a test tank for storing a liquid set at a predetermined temperature, and capable of performing a temperature test by immersing a device under test in the liquid,
A plurality of the test chambers are connected in series,
A radiator is interposed between adjacent test chambers,
A temperature test apparatus comprising: a pump that circulates the liquid through the plurality of test tanks through the radiator; and a heater that heats the liquid.
所定の温度に設定された液体を貯留する試験槽を備え、被試験体を前記液体に浸漬することにより温度試験を行えるようにした温度試験装置であって、
複数の前記試験槽が直列に接続され、
隣合う前記試験槽の間にラジエータが介在し、
前記液体を前記複数の試験槽に前記ラジエータを介して流通するように循環させるポンプと、前記液体を冷却する冷却部とを備えることを特徴とする温度試験装置。
A temperature test apparatus comprising a test tank for storing a liquid set at a predetermined temperature, and capable of performing a temperature test by immersing a device under test in the liquid,
A plurality of the test chambers are connected in series,
A radiator is interposed between adjacent test chambers,
A temperature test apparatus comprising: a pump that circulates the liquid through the plurality of test tanks so as to circulate through the radiator; and a cooling unit that cools the liquid.
請求項1又は2に記載の温度試験装置において、
前記試験槽は密閉槽であることを特徴とする温度試験装置。
The temperature test apparatus according to claim 1 or 2,
A temperature test apparatus, wherein the test tank is a sealed tank.
請求項3に記載の温度試験装置において、
前記試験槽が鉛直方向に積み上げて設置されていることを特徴とする温度試験装置。
The temperature test apparatus according to claim 3, wherein
A temperature test apparatus, wherein the test tanks are stacked and installed in a vertical direction.
請求項4に記載の温度試験装置において、
最上段より下段の各試験槽について、その上段の試験槽と接続する管路にバルブが設けられていることを特徴とする温度試験装置。
The temperature test apparatus according to claim 4, wherein
A temperature test apparatus characterized in that a valve is provided in a pipe line connected to the upper test tank for each of the test tanks below the uppermost stage.
所定の温度に設定された液体を貯留する試験槽により被試験体の温度試験を行う温度試験方法であって、
複数の前記試験槽を直列に接続し、
隣合う前記試験槽の間にラジエータを介在させ、
前記液体を前記複数の試験槽に前記ラジエータを介して流通するように循環させ、
前記複数の試験槽に被試験体を設置することを特徴とする温度試験方法。
A temperature test method for performing a temperature test of a device under test using a test tank for storing a liquid set at a predetermined temperature,
Connecting a plurality of the test chambers in series;
A radiator is interposed between the adjacent test chambers,
Circulating the liquid to circulate through the radiator to the plurality of test tanks;
A temperature test method, wherein a test object is installed in the plurality of test tanks.
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