JP3102652B2 - Thermal shock test equipment - Google Patents
Thermal shock test equipmentInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、冷熱衝撃試験装置に
かかわり、とくに、集積回路に冷却と加熱とをくり返し
試験をおこなうのに好適な冷熱衝撃試験装置に関してい
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thermal shock test apparatus, and more particularly to a thermal shock test apparatus suitable for repeatedly performing cooling and heating tests on an integrated circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】この種の冷熱衝撃試験装置は、たとえば
特開昭62−125230号公報に開示されているよう
に、二元冷凍サイクルと、二元冷凍サイクルを構成して
いる蒸発器および再加熱器が収容されている低温室と、
ヒ−タが収容されている高温室と、低温室および高温室
につながれている試験室と、低温室および高温室を択一
的に試験室に連通させるために、これらのあいだに配設
されている手段とを具備している。試験は、二元冷凍サ
イクルによって、低温室の空気温度を試験温度よりも低
い温度に予冷するとともに、ヒ−タによって、高温室の
空気を試験温度よりも高い温度に予熱したあと、低温室
からの冷風および高温室からの熱風を試験室に交互に送
り込み、これらの冷風および熱風に試験室内の試料をさ
らすことによってなされている。2. Description of the Related Art A thermal shock test apparatus of this type is, for example, disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-125230, a binary refrigeration cycle, an evaporator and a re-evaporator constituting the binary refrigeration cycle. A cold room in which the heater is housed,
A high-temperature room in which the heater is housed, a test room connected to the low-temperature room and the high-temperature room, and a low-temperature room and a high-temperature room are arranged between them in order to selectively communicate with the test room. Means. In the test, the air temperature in the low-temperature room was pre-cooled to a temperature lower than the test temperature by a binary refrigeration cycle, and the air in the high-temperature room was pre-heated to a temperature higher than the test temperature by a heater. This is done by alternately sending hot air from the cold air and hot air into the test room, and exposing the sample in the test room to these cold air and hot air.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】このような冷熱衝撃試
験装置は、一般に、二元冷凍サイクルの冷凍能力を低温
衝撃試験で必要とされる最低試験温度にあわせておき、
それよりも高い温度による低温衝撃試験温度による試験
をおこなうときに、二元冷凍サイクルによる冷却と再加
熱器による加熱とをいっしょにおこなって、試験温度を
維持するようにしているため、多量のエネルギを無駄に
している。In such a thermal shock test apparatus, generally, the refrigeration capacity of a binary refrigeration cycle is adjusted to the minimum test temperature required for a low-temperature impact test.
When performing a test at a low-temperature impact test temperature at a higher temperature, cooling by a binary refrigeration cycle and heating by a reheater are performed together to maintain the test temperature, so that a large amount of energy is consumed. Is wasting.
【0004】たとえば低温衝撃試験が最低試験温度−1
0°Cおよび最高試験温度−65°Cでおこなうように
なっている場合、最低試験温度−10°Cにおいて低温
衝撃試験をおこなっているときの低温室の予冷温度は、
冷熱衝撃試験装置の構造にもよるが、−20°Cないし
−30°C、蒸発器をながれる冷媒の温度は−25°C
ないし−30°Cである。また、最高試験温度−65°
Cにおいて低温衝撃試験をおこなっているときの低温室
の予冷温度は−75°Cないし−80°C、蒸発器にお
ける冷媒温度は−80°Cないし−85°Cである。従
来、冷熱衝撃試験装置は、この冷媒温度でもって、最高
試験温度による低温衝撃試験をおこなうと、冷媒の循環
量が大きくなりすぎ、冷凍能力が過大となるため、冷凍
圧縮機を定回転数で作動させるだけでなく、再加熱器に
よって低温室の冷風を加熱して、前述の予冷温度を維持
するようにして、過剰となっている冷凍能力を打ち消し
ている。[0004] For example, a low-temperature impact test has a minimum test temperature of -1.
When the test is performed at 0 ° C. and the maximum test temperature of −65 ° C., the pre-cooling temperature of the low-temperature chamber when performing the low-temperature impact test at the minimum test temperature of −10 ° C.
Although it depends on the structure of the thermal shock test equipment, the temperature of the refrigerant flowing through the evaporator is -25 ° C or -20 ° C to -30 ° C.
To -30 ° C. In addition, the maximum test temperature -65 °
When the low-temperature impact test is performed at C, the pre-cooling temperature of the low-temperature chamber is -75 ° C to -80 ° C, and the refrigerant temperature in the evaporator is -80 ° C to -85 ° C. Conventionally, when a cold shock test device performs a low-temperature shock test at the maximum test temperature at this refrigerant temperature, the amount of circulating refrigerant becomes too large, and the refrigerating capacity becomes excessive. In addition to the operation, the cold air in the low-temperature chamber is heated by the reheater to maintain the above-mentioned pre-cooling temperature, thereby canceling out the excess refrigeration capacity.
【0005】本発明の目的は、省エネルギ化をはかれる
ばかりか、二元冷凍サイクルの運転をより安定しておこ
なうことができる、改良された冷熱衝撃試験装置を提供
することにある。[0005] It is an object of the present invention to provide an improved thermal shock test apparatus which not only saves energy but also can stably operate a binary refrigeration cycle.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の冷熱衝撃試験装置は、試料を入れる試験
室と、ヒータとこのヒータによって加熱された熱を蓄え
る蓄熱材および送風機とを備えた高温室と、二元冷凍サ
イクルの低温側の熱交換器とこの熱交換器で冷却された
熱を蓄える蓄熱材と冷却された空気を加熱する再加熱器
および送風機とを備えた低温室と、前記試験室と高温室
および前記試験室と低温室を接続する複数の通路と、前
記試験室に配置され、前記通路を開閉する複数のダンパ
と、前記ヒータと前記二元冷凍サイクルを構成する高温
側冷凍サイクルと低温側冷凍サイクルの各冷凍圧縮機を
駆動する各電動機および前記ダンパとを制御する運転制
御手段とを備え、前記各電動機をそれぞれ独立して制御
するようにした冷熱衝撃試験装置において、前記運転制
御手段は、前記高温側冷凍サイクルを起動させた後、前
記低温側冷凍サイクルを起動させ、前記高温側冷凍サイ
クルの冷凍圧縮機の電動機をその停止状態から特定周波
数に関連する回転数まで上昇させる時間に対し、前記低
温側冷凍サイクルの冷凍圧縮機の電動機をその停止状態
から前記特定周波数に関連する回転数まで上昇させる時
間を長くするようにしている。In order to achieve the above object, a thermal shock test apparatus according to the present invention provides a test for placing a sample.
A chamber, a heater, and the heat heated by the heater
A high-temperature chamber equipped with a heat storage material and a blower,
The heat exchanger on the low-temperature side of the cycle and cooled by this heat exchanger
Reheater that heats the heat storage material that stores heat and the cooled air
And a low-temperature chamber provided with a blower, the test chamber and the high-temperature chamber
And a plurality of passages connecting the test chamber and the cold room;
A plurality of dampers arranged in the test chamber for opening and closing the passage;
And a high temperature that constitutes the heater and the binary refrigeration cycle.
Refrigeration compressors for the side refrigeration cycle and the low-temperature side refrigeration cycle
Operation control for controlling each motor to be driven and the damper
Control means for controlling each of the motors independently.
In the thermal shock test apparatus adapted to perform
The control means starts the high-temperature side refrigeration cycle,
The low-temperature refrigeration cycle is started, and the high-temperature refrigeration cycle is started.
The motor of the refrigeration compressor of the
For the time to increase to the speed associated with the number,
The motor of the refrigeration compressor of the warm side refrigeration cycle is stopped.
To increase the number of revolutions related to the specific frequency from
I try to make it longer .
【0007】[0007]
【0008】[0008]
【作用】冷熱衝撃試験装置の低温室を冷却する二元冷凍
サイクルを起動する際、まず、高温側冷凍サイクルを起
動させた後、低温側冷凍サイクルを起動させるととも
に、高温側冷凍サイクルの冷凍圧縮機の電動機の回転数
をその停止状態から特定周波数に関連する回転数まで上
昇させる時間に対し、低温側冷凍サイクル冷凍圧縮機の
電動機の回転数をその停止状態から特定周波数に関連す
る回転数まで上昇させる時間を長くすることにより、カ
スケード熱交換器における負荷の急変をなくし、二次元
冷凍サイクルの安定した運転および安定した温度降下を
行うことができるようにしている。 [Function] Binary refrigeration for cooling the low-temperature chamber of the thermal shock test equipment
When starting the cycle, start the high-temperature refrigeration cycle first.
And then start the low-temperature refrigeration cycle.
The rotation speed of the motor of the refrigeration compressor in the high-temperature side refrigeration cycle
From its standstill to the speed associated with the particular frequency
Rise time, the low-temperature side refrigeration cycle refrigeration compressor
The number of rotations of the motor is
By increasing the time to increase the rotation speed to
Eliminate sudden changes in load in the scade heat exchanger
Stable operation of refrigeration cycle and stable temperature drop
So that you can do it.
【0009】[0009]
【0010】[0010]
【実施例】本発明の冷熱衝撃試験装置の実施例は、以下
に、図面とともに説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the thermal shock test apparatus of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0011】この冷熱衝撃試験装置は、図1に示すよう
に、試験室10、高温室11および低温室12、それ
に、機械室13を具備している。As shown in FIG. 1, the thermal shock test apparatus includes a test room 10, a high temperature room 11, a low temperature room 12, and a machine room 13.
【0012】高温室11は試験室10の下部に、低温室
12は試験室10の上部に、機械室13は高温室および
低温室の側部にそれぞれ配置されている。これらの試験
室、高温室および低温室は、壁によって仕切られ、たが
いに独立している。が、試験室10と高温室11との仕
切壁にはふたつの通路14、15が、試験室10と低温
室12との仕切壁にはふたつの通路16、17がそれぞ
れ設けられている。通路のうち、通路14、15の各々
にはダンパ20、21が配置されている。これらのダン
パは、図示されていないが、一端が仕切壁にヒンジによ
って取り付けられているとともに、動力源につながれて
いて、動力源をこの装置の外部から動力源を作動させる
ことによって回転して、通路14、15のみあるいは通
路16、17のみを開閉することができるようにさせら
れている。The high temperature chamber 11 is arranged at the lower part of the test chamber 10, the low temperature chamber 12 is arranged at the upper part of the test chamber 10, and the machine room 13 is arranged at the side of the high temperature chamber and the low temperature chamber. These test rooms, hot and cold rooms are separated by walls and are independent of each other. However, two passages 14 and 15 are provided in a partition wall between the test room 10 and the high-temperature room 11, and two passages 16 and 17 are provided in a partition wall between the test room 10 and the low-temperature room 12. Of the passages, dampers 20 and 21 are disposed in the passages 14 and 15, respectively. Although not shown, these dampers are hinged at one end to a partition wall, are connected to a power source, and rotate the power source by activating the power source from outside the device. Only the passages 14 and 15 or only the passages 16 and 17 can be opened and closed.
【0013】また、高温室11の内部には案内板22が
配設され、高温室11はこの案内板によってふたつの小
室に区画されている。送風機23が羽根車をこれらの小
室を接続するの端部に位置させて高温室11と機械室1
3とのあいだの仕切壁に設置され、上部側小室、送風機
および下部側小室を経由して上部側小室にもどる循環を
高温室内の空気になさせるようにしている。高温室11
の通路14にもダンパ18、18aが配置されている。
これらのダンパも一端が仕切壁にヒンジによって取り付
けられているとともに、動力源につながれていて、動力
源を装置外部から作動させることによって回転させられ
ようになっている。が、ダンパ18aの回転中心軸は、
ダンパ18、19が開いたときに一緒に開いて、下部側
小室と送風機23とのあいだを閉塞し、送風機23から
の空気が試験室10、通路15、上部側小室および送風
機23をとおる循環をなせるようにしている。ヒ−タ2
4および蓄熱材25はこれらの空気循環路上に位置させ
て上部側小室に配置されいるとともに、案内板22や仕
切壁などに支持されている。A guide plate 22 is provided inside the high temperature chamber 11, and the high temperature chamber 11 is divided into two small chambers by the guide plate. The blower 23 places the impeller at the end connecting these chambers, and
It is installed on the partition wall between the upper and lower compartments, and the circulation in the high-temperature compartment is returned to the upper compartment through the upper compartment, the blower and the lower compartment. High temperature room 11
The dampers 18 and 18a are also arranged in the passage 14.
One end of each of these dampers is also attached to the partition wall by a hinge, and the dampers are connected to a power source, and can be rotated by operating the power source from outside the device. However, the rotation center axis of the damper 18a is
When the dampers 18 and 19 are opened, they open together to close the gap between the lower chamber and the blower 23, and the air from the blower 23 circulates through the test chamber 10, the passage 15, the upper chamber and the blower 23. I can do it. Heater 2
The heat storage material 4 and the heat storage material 25 are located on the air circulation path, are arranged in the upper small chamber, and are supported by the guide plate 22 and the partition wall.
【0014】低温室12の内部にも、案内板26が配置
されていて、低温室12をふたつの小室に区画してい
る。送風機27がこれらの小室の端部に配置され、高温
室11と同様に、低温室12の内部空気に循環をなさせ
ている。そして、ダンパ20aが通路16に配置され、
ダンパ20、21とともに開いたときに、上部側小室と
送風機27とのあいだを閉塞して、送風機27からの吐
き出される空気が試験室10、通路17、上部側小室お
よび送風機27をとおる循環をおこなえるようにさせて
いる。A guide plate 26 is also arranged inside the low-temperature chamber 12, and divides the low-temperature chamber 12 into two small chambers. Blowers 27 are arranged at the ends of these small chambers, and circulate the air inside the low temperature chamber 12 as in the high temperature chamber 11. Then, the damper 20a is disposed in the passage 16,
When opened together with the dampers 20, 21, the space between the upper chamber and the blower 27 is closed, and the air discharged from the blower 27 can circulate through the test chamber 10, the passage 17, the upper chamber, and the blower 27. So that
【0015】蒸発器28、蓄熱材29および再加熱器3
0は下部側小室に配置され、これらの空気循環路上に位
置させられているとともに、低温室12を構成する壁部
材などに支持されている。蒸発器28は、後述するよう
に、二元冷凍サイクルの一部を構成している。この二元
冷凍サイクルを構成する冷凍圧縮機、凝縮器、膨張弁な
どの機器は、図示されていないが、機械室13に収容さ
れている。Evaporator 28, heat storage material 29 and reheater 3
Numeral 0 is arranged in the lower small chamber, is located on these air circulation paths, and is supported by a wall member or the like constituting the low temperature chamber 12. The evaporator 28 forms a part of a binary refrigeration cycle, as described later. Devices such as a refrigerating compressor, a condenser, and an expansion valve, which constitute this binary refrigeration cycle, are housed in a machine room 13 (not shown).
【0016】二元冷凍サイクルは、図2に示すように、
高温側冷凍サイクルA1と低温側冷凍サイクルB1とを
具備する二元冷凍サイクルからなっている。The binary refrigeration cycle, as shown in FIG.
It is composed of a binary refrigeration cycle including a high temperature side refrigeration cycle A1 and a low temperature side refrigeration cycle B1.
【0017】高温側冷凍サイクルA1は冷凍圧縮機3
1、凝縮器32、電磁弁33、34、膨張弁35〜37
および熱交換器38によって、低温側冷凍サイクルB1
は冷凍圧縮機41、低温室12に組み込まれている蒸発
器28、膨張弁45〜47、電磁弁43、44、油分離
器49、リリーフ弁40、膨張タンク42、キャピラリ
ーチューブ48および熱交換器38によってそれぞれ構
成されている。これらのうち、熱交換器38はカスケー
ド熱交換器から成っている。リリーフ弁40、膨張タン
ク42およびキャピラリーチューブ48は低温側冷凍サ
イクルB1の圧力が上昇したとき、この圧力を低圧側に
逃がすためのものである。なお、図示されていないが、
高温側冷凍サイクルにおける凝縮器32は出入り口を分
岐管によって低温室にある再加熱器30につながれてい
る。The high temperature side refrigeration cycle A1 is a refrigeration compressor 3
1, condenser 32, solenoid valves 33 and 34, expansion valves 35 to 37
And the heat exchanger 38, the low-temperature side refrigeration cycle B1
Is a refrigerating compressor 41, an evaporator 28 incorporated in the low-temperature chamber 12, expansion valves 45 to 47 , solenoid valves 43 and 44, an oil separator 49, a relief valve 40 , an expansion tank 42 , a capillary tube 48, and a heat exchanger. 38. Of these, the heat exchanger 38 comprises a cascade heat exchanger. The relief valve 40 , the expansion tank 42, and the capillary tube 48 are for releasing the pressure to the low pressure side when the pressure of the low temperature side refrigeration cycle B1 increases. Although not shown,
The condenser 32 in the high-temperature side refrigeration cycle has an inlet and an outlet connected to a reheater 30 in a low-temperature room by a branch pipe .
【0018】高温側冷凍サイクルA1および低温側冷凍
サイクルB1を構成する冷凍圧縮機31、41は圧縮機
本体がスクロ−ルタイプのものからなっているととも
に、圧縮機本体を駆動する電動機がインバ−タ制御され
ていて、各々の圧縮機本体の電動機に供給される電力周
波数をかえるとともに、電磁弁33、34、43、44
を選択して、開放される電磁弁45〜47の数を増減す
ることによって、冷凍能力を変化させられるようになっ
ている。The refrigerating compressors 31 and 41 constituting the high-temperature side refrigerating cycle A1 and the low-temperature side refrigerating cycle B1 have a scroll-type compressor body, and an electric motor for driving the compressor body is an inverter. The electromagnetic valves 33, 34, 43, and 44 are controlled and change the power frequency supplied to the electric motors of the respective compressor bodies.
Is selected to increase or decrease the number of solenoid valves 45 to 47 to be opened, thereby changing the refrigerating capacity.
【0019】冷凍圧縮機31、41の電動機の作動およ
び電磁弁43、44の開閉は、ヒータ24の作動ととも
に、マイクロプロセッサを含む運転制御手段によって制
御されている。この運転制御手段は、図3において、全
体が参照符号50によって示されていて、マイクロプロ
セッサを持つ演算手段51、試験温度設定手段52、ダ
ンパを開閉する動力源のドライバ53、電磁弁の開閉を
行うドライバ54、高温室11にあるヒータ24のドラ
イバ55などを含むもので、演算手段51がプログラム
にしたがって試験温度設定手段52および試験室10と
低温室12と熱交換器38の各々に組み込まれた温度セ
ンサ60〜62からの信号のもとづき、かつこの装置の
運転状況に応じて、インバータ63、64、ダンパの動
力源のドライバ53、電磁弁のドライバ54およびヒー
タ24のドライバ55を制御する信号を出力するように
なっている。The operation of the electric motors of the refrigerating compressors 31 and 41 and the opening and closing of the solenoid valves 43 and 44 are controlled by operation control means including a microprocessor together with the operation of the heater 24. The operation control means is shown in FIG. 3 as a whole by the reference numeral 50. The operation control means 51 has a microprocessor, a test temperature setting means 52, a power source driver 53 for opening and closing a damper, and a solenoid valve for opening and closing. The operation means 51 is incorporated in the test temperature setting means 52 and each of the test room 10 , the low temperature room 12, and the heat exchanger 38 according to a program. based of the signal from the temperature sensor 60 to 62 was, and a signal depending on the operating conditions of the device, controls the inverter 63 and 64, the driver 53 of the power source of the damper, the driver 54 and the driver 55 of the heater 24 of the solenoid valve Is output.
【0020】衝撃試験は、試験室10と低温室12との
あいだのダンパ18、19および試験室10と高温室1
1とのあいだのダンパ20、21を閉じ、試料を試験室
10にいれ、二元冷凍サイクルを起動させ、低温室12
の空気を予冷するとともに、ヒータ24を作動させ、高
温室11の空気を予熱することによって開始される。起
動は高温側冷凍サイクルA1からなされる。高温側冷凍
サイクルA1が起動されると、冷凍圧縮機31からの冷
媒ガスは凝縮器32に導かれ、凝縮器32において外気
または冷却水に放熱して凝縮する。凝縮液は、膨張弁3
5〜37において減圧され、熱交換器38に入り、かつ
ここで蒸発し、冷凍圧縮機31にもどる。つぎに低温側
冷凍サイクルB1が運転制御手段50によって起動され
る。起動されると、冷凍圧縮機41から吐出された冷媒
ガスは、熱交換器38において高温側冷凍サイクルA1
の冷媒と熱交換して冷却され凝縮する。この凝縮液は、
膨張弁45〜47において減圧されたあとに、蒸発器2
8に流入し、ここで低温室12における循環空気と熱交
換されて蒸発し、冷凍圧縮機41にもどる。The impact test includes dampers 18 and 19 between the test room 10 and the low temperature room 12 and the test room 10 and the high temperature room 1.
1, the dampers 20, 21 are closed, the sample is placed in the test room 10, the binary refrigeration cycle is started, and the low-temperature room 12 is started.
Is started by pre-cooling the air of the high temperature chamber 11 and activating the heater 24. The starting is performed from the high-temperature side refrigeration cycle A1. When the high-temperature side refrigerating cycle A1 is activated, the refrigerant gas from the refrigeration compressor 31 is guided to the condenser 32, condensed by dissipating heat to the outside air or cooling water in the condenser 32. The condensate is supplied to the expansion valve 3
The pressure is reduced at 5-37, enters the heat exchanger 38 and evaporates there and returns to the refrigeration compressor 31. Next, the low-temperature side refrigeration cycle B1 is started by the operation control means 50. When started, the refrigerant gas discharged from the refrigeration compressor 41 is supplied to the heat exchanger 38 by the high-temperature refrigeration cycle A1.
It exchanges heat with the refrigerant and is cooled and condensed. This condensate is
After the pressure in the expansion valves 45 to 47 is reduced, the evaporator 2
8, where it exchanges heat with the circulating air in the low-temperature chamber 12, evaporates, and returns to the refrigeration compressor 41.
【0021】この運転に際して、運転制御手段50は、
各々のインバ−タ63、64を制御して、冷凍圧縮機3
1、41の電動機の回転数を増減させ、電磁弁33、3
4、43、44を選択して、開放される膨張弁35〜3
7、45〜47を決定して、冷凍能力の調整をおこなっ
ている。すなわち、電動機の回転数は電動機回転数を
N、極数をPおよび周波数をfとしたときに、N=(1
20/p)×fであり、電動機の回転数は周波数に比例
しているため、運転制御手段50が運転状態に応じてイ
ンバ−タ63、64から冷凍圧縮機31、41の電動機
に供給される電力の周波数をかえて、これらの電動機の
回転数を増減させることによって、冷凍圧縮機31、4
1の冷媒の吐出量が変化し、高温側冷凍サイクルA1お
よび低温側冷凍サイクルB1における冷媒の循環量がか
わるので、冷媒の循環量に応じて、電磁弁33、34、
43、44を選択して、膨張弁35〜37、45〜47
の数を決定することによって、冷凍能力の調整をおこな
える。In this operation, the operation control means 50
By controlling the respective inverters 63 and 64, the refrigeration compressor 3
The number of rotations of the electric motors 1, 41 is increased or decreased, and the solenoid valves 33, 3
4, 43 and 44 are selected to open the expansion valves 35 to 3
7, 45 to 47 are determined, and the refrigerating capacity is adjusted. That is, when the motor rotation speed is N, the number of poles is P, and the frequency is f, N = (1
20 / p) × f, and the rotation speed of the motor is proportional to the frequency. Therefore, the operation control means 50 is supplied from the inverters 63 and 64 to the motors of the refrigeration compressors 31 and 41 according to the operation state. By changing the frequency of the electric power to increase or decrease the rotation speed of these electric motors, the refrigeration compressors 31, 4
1, the amount of refrigerant discharged changes, and the amount of refrigerant circulated in the high-temperature side refrigeration cycle A1 and the low-temperature side refrigeration cycle B1 is changed. Therefore, the solenoid valves 33, 34,
43 and 44 are selected, and the expansion valves 35 to 37 and 45 to 47 are selected.
By determining the number of refrigerations, the refrigerating capacity can be adjusted.
【0022】図4は、試験室10、高温室11および低
温室12の温度と、高温側冷凍サイクルA1および低温
側冷凍サイクルB1における冷凍圧縮機31、41の電
動機に供給される周波数と、これらの二元冷凍サイクル
における膨張弁の数を決定する電磁弁33〜35、45
〜47の作動との関係を示している。FIG. 4 shows the temperatures of the test chamber 10, the high-temperature chamber 11 and the low-temperature chamber 12, the frequencies supplied to the motors of the refrigeration compressors 31 and 41 in the high-temperature refrigeration cycle A1 and the low-temperature refrigeration cycle B1. Solenoid valves 33 to 35, 45 for determining the number of expansion valves in the binary refrigeration cycle
47 shows the relationship with the operations of.
【0023】運転制御手段50は、この二元冷凍サイク
ル起動に際して、高温側冷凍サイクルA1における冷凍
圧縮機31にたいするインバータ63を制御して、冷凍
圧縮機31の電動機の回転数を周波数80Hzに関連す
る周波数まで、停止状態から約5分かけて上昇させる。
運転制御手段50は、熱交換器38の温度がー30℃に
なると、熱交換器38にある温度センサ60からの信号
によって、低温側冷凍サイクルB1における冷凍圧縮機
41にたいするインバータ64を制御して、冷凍圧縮機
41の電動機の回転数を周波数80Hzに関連する回転
数まで、停止状態から約7分掛けて上昇させる。すなわ
ち、高温側冷凍サイクルA1における冷凍圧縮機31に
たいするインバータ63の制御と、低温側冷凍サイクル
B1における冷凍圧縮機41に対するインバータ64の
制御とは、それぞれ独立して行われ、二元冷凍サイクル
にある各々の電動機の回転数が周波数80Hzに関連す
る回転数になるまで、異なる周波数で運転がおこなわれ
る。 The operation control means 50 controls the inverter 63 for the refrigerating compressor 31 in the high-temperature side refrigerating cycle A1 at the time of starting the dual refrigerating cycle, so that the rotational speed of the motor of the refrigerating compressor 31 is related to the frequency of 80 Hz. Raise to the frequency from standstill over about 5 minutes.
When the temperature of the heat exchanger 38 becomes -30 ° C., the operation control means 50 controls the inverter 64 for the refrigeration compressor 41 in the low-temperature side refrigeration cycle B1 according to a signal from the temperature sensor 60 in the heat exchanger 38. Then, the rotation speed of the electric motor of the refrigerating compressor 41 is increased from the stop state to the rotation speed related to the frequency of 80 Hz by about 7 minutes . Sand
Chi, the control of the inverter 63 relative to the refrigerating compressor 31 in the high-temperature side refrigerating cycle A1, the control of the inverter 64 for the refrigeration compressor 41 at a low temperature side refrigerating cycle B1, performed independently, is a two-way refrigeration cycle until the rotational speed of each motor is the rotational speed associated with the frequency 80 Hz, OPERATION is performed at different frequencies
You.
【0024】二元冷凍サイクルが起動されると、低温室
12の空気は、ダンパ20、21、21aが閉じている
ので、送風機27によって低温室12の内部を循環させ
られつつ、蒸発器28によって冷却される。このとき
に、運転制御手段50は、低温室12の温度センサ61
からの信号を参照しながら、インバ−タ63、64を制
御し、冷凍能力を増大させ、低温室12の温度が試験温
度以下である−80°Cになると、温度センサ61から
の信号によって、高温側冷凍サイクルA1における冷凍
圧縮機31からのホットガスを再加熱器30にみちび
き、循環冷風を加熱して、冷風を予冷温度に調温する。When the dual refrigerating cycle is started, the air in the low-temperature chamber 12 is circulated by the blower 27 inside the low-temperature chamber 12 while the dampers 20, 21, and 21a are closed. Cooled. At this time, the operation control means 50 controls the temperature sensor 61 of the low-temperature chamber 12.
The inverters 63 and 64 are controlled while referring to the signal from the above to increase the refrigerating capacity. When the temperature of the low-temperature chamber 12 becomes -80 ° C., which is lower than the test temperature, the signal from the temperature sensor 61 The hot gas from the refrigerating compressor 31 in the high-temperature side refrigerating cycle A1 is delivered to the reheater 30 to heat the circulating cold air and adjust the temperature of the cold air to a pre-cooling temperature.
【0025】他方、冷風が温度−80°Cになると、運
転制御手段50はドライバ53に信号を出力し、ドライ
バ53がダンパ20、21、20aの動力源を作動させ
る。ダンパ20、21が開き、低温室12と試験室10
とを通路16、17によって接続するとともに、ダンパ
21aが開いて、低温室12における冷風の循環を遮断
する。低温室12にある冷風が、送風機27によって、
通路16をとおって試験室10に送り込まれ、試料を冷
却したあと、通路17をとおって低温室12にもどり、
蒸発器28において熱交換されたあと、ふたたび試験室
10に送り込まれ、試料を冷却し、低温衝撃試験がおこ
なわれる。On the other hand, when the temperature of the cold air reaches -80 ° C., the operation control means 50 outputs a signal to the driver 53, and the driver 53 operates the power source of the dampers 20, 21, 20a. The dampers 20 and 21 are opened, and the cold room 12 and the test room 10 are opened.
Are connected by the passages 16 and 17, and the damper 21a is opened to shut off the circulation of the cool air in the low temperature chamber 12. The cool air in the low-temperature chamber 12 is blown by the blower 27.
After being sent to the test chamber 10 through the passage 16 and cooling the sample, it returns to the low-temperature chamber 12 through the passage 17,
After the heat exchange in the evaporator 28, the sample is sent again to the test chamber 10, where the sample is cooled, and a low-temperature impact test is performed.
【0026】このようにして低温衝撃試験がおわるまで
に、高温室11における空気は、ヒ−タ24によって予
熱温度180°Cまでに加熱され、送風機23によって
高温室11の内部を循環させられている。低温衝撃試験
がおわると、制御手段50がドライバ53に信号を出力
し、ダンパ20、21、20aを閉じ、低温室12を試
験室10から切り離すとともに、ドライバ54に信号を
出力し、高温室11のダンパ18、19、18aの動力
源を作動させ、ダンパ18、19を開き、高温室11と
試験室10とを連通させ、ダンパ18aを開いて、高温
室11における熱風の循環を遮断する。高温室11が試
験室10に接続すると、高温室11の熱風が送風機23
によって通路14から試験室10に送り込まれ、試料を
加熱したあと、通路15を経由して高温室11にもど
り、ヒ−タ24によって加熱されたあと、ふたたび通路
14から試験室10に送り込まれ、高温室11と試験室
10とのあいだを循環する。このときに、運転制御手段
50は、試験室10の温度センサ62からの信号によっ
て、試験室10の温度を150°Cに維持するようにヒ
−タ24の作動を制御する。By the time the low-temperature impact test is completed, the air in the high-temperature chamber 11 is heated by the heater 24 to a preheating temperature of 180 ° C. and circulated through the high-temperature chamber 11 by the blower 23. I have. When the low-temperature impact test is completed, the control means 50 outputs a signal to the driver 53, closes the dampers 20, 21, 20a, disconnects the low-temperature chamber 12 from the test chamber 10, and outputs a signal to the driver 54 to output a signal to the high-temperature chamber 11 The power sources of the dampers 18, 19 and 18a are operated, the dampers 18 and 19 are opened, the high temperature chamber 11 and the test chamber 10 are communicated, and the damper 18a is opened to cut off the circulation of the hot air in the high temperature chamber 11. When the high-temperature chamber 11 is connected to the test chamber 10, the hot air in the high-temperature chamber 11 is blown by the blower 23.
The sample is sent from the passage 14 to the test chamber 10 through the passage 14, and after the sample is heated, returns to the high temperature chamber 11 via the passage 15 and is heated by the heater 24, and is sent again from the passage 14 to the test chamber 10; Circulate between the high temperature chamber 11 and the test chamber 10. At this time, the operation control means 50 controls the operation of the heater 24 so as to maintain the temperature of the test chamber 10 at 150 ° C. by a signal from the temperature sensor 62 of the test chamber 10.
【0027】高温衝撃試験がなされているあいだ、低温
室12では予冷運転がおこなわれている。低温衝撃試験
の直後に、低温室12の空気は低温衝撃試験温度−65
°Cに近い温度まで上昇している。運転制御手段50
は、低温衝撃試験後に、ダンパ20、21、20aを閉
じたあとに、電磁弁33、34、43、44を開き、冷
凍圧縮機31、41が周波数80Hzでもって作動する
ようにインバ−タ63、64を制御し、低温室12の空
気を温度−80°Cまで急速に低下させる。予冷温度8
0°Cに到達したら、運転制御手段50は、つぎの低温
衝撃試験が開始されるまで、冷凍圧縮機31、41の電
動機が周波数30Hzでもって回転するようにインバ−
タ63、64を制御するとともに、電磁弁33、34、
43、44を閉じて、冷凍能力を減少させ、省エネルギ
運転をおこなわせる。During the high-temperature impact test, a pre-cooling operation is performed in the low-temperature chamber 12. Immediately after the low-temperature impact test, the air in the low-temperature chamber 12 has a low-temperature impact test temperature of -65.
It has risen to a temperature close to ° C. Operation control means 50
After the low-temperature impact test, the electromagnetic valves 33, 34, 43, and 44 are opened after the dampers 20, 21, and 20a are closed, and the inverter 63 is operated so that the refrigerating compressors 31, 41 operate at a frequency of 80 Hz. , 64 to rapidly reduce the air in the cold room 12 to a temperature of -80 ° C. Pre-cooling temperature 8
When the temperature reaches 0 ° C., the operation control means 50 inverts the motors of the refrigerating compressors 31 and 41 at a frequency of 30 Hz until the next low-temperature impact test is started.
And control the solenoid valves 33, 64,
By closing 43 and 44, the refrigeration capacity is reduced and energy saving operation is performed.
【0028】高温衝撃試験がおわると、運転制御手段5
0は、試験室10と高温室11とのあいだのダンパ1
8、19、18aを閉じ、試験室10と低温室12との
あいだのダンパ20、21、20aを開いて、低温室1
2の冷気を試験室10にみちびき、試料にたいする低温
衝撃試験をふたたびなさせたあと、高温衝撃試験をおこ
なわせる。これらの低温衝撃試験と高温衝撃試験とは、
試験目的に応じて指定された回数までくり返される。When the high-temperature impact test is completed, the operation control means 5
0 is the damper 1 between the test room 10 and the high temperature room 11
8, 19, 18a are closed, and the dampers 20, 21, 20a between the test room 10 and the low-temperature room 12 are opened, and the low-temperature room 1 is opened.
The cold air of No. 2 is introduced into the test room 10, and the low-temperature impact test is performed again on the sample, and then the high-temperature impact test is performed. These low-temperature impact test and high-temperature impact test
It is repeated up to the number of times specified for the purpose of the test.
【0029】この冷熱衝撃試験装置は、以上のように、
準備運転を二元冷凍サイクルの高温側冷凍サイクルA1
を起動したあと、高温側冷凍サイクルA1の作動してい
る周波数と異なる周波数で、低温側冷凍サイクルB1の
起動を行っているので、きわめて安定した運転をおこな
える。すなわち、高温側冷凍サイクルA1および低温側
冷凍サイクルB1のインバータ63、64を全く同じ制
御をおこなうと、低温側冷凍サイクルB1を起動したと
きに、すでに高温側冷凍サイクルA1の冷凍圧縮機31
が高い周波数で作動しているため、低温側冷凍サイクル
B1の冷凍圧縮機41が高温側冷凍サイクルA1の 冷
凍圧縮機31が作動している高い周波数で起動され、熱
交換器38の負荷が急激に上昇し、運転が不安定になる
が、この冷熱衝撃試験装置では、低温側冷凍サイクルB
1の冷凍圧縮機41を高温側冷凍サイクルA1の冷凍圧
縮機31と異なる周波数で起動させているので、熱交換
器38における負荷の急変がなくなり、安定した運転お
よび安定した温度降下をおこなえる。As described above, this thermal shock test apparatus
Preparatory operation is performed on the high-temperature side refrigeration cycle A1 of the binary refrigeration cycle.
Is started, the low-temperature side refrigeration cycle B1 is started at a frequency different from the frequency at which the high-temperature side refrigeration cycle A1 is operating, so that extremely stable operation can be performed. That is, if the inverters 63 and 64 of the high-temperature refrigeration cycle A1 and the low-temperature refrigeration cycle B1 are completely controlled, when the low-temperature refrigeration cycle B1 is started, the refrigeration compressor 31 of the high-temperature refrigeration cycle A1 is already activated.
Because is work moving at a high frequency, low-temperature-side refrigeration cycle
Refrigeration compressor 41 of B1 is started at a high frequency it is operating refrigeration compressor 31 of the high-temperature side refrigerating cycle A1, the load of the heat <br/> exchanger 38 rises sharply, operation unstable However, in this thermal shock test apparatus, the low-temperature side refrigeration cycle B
Since then start the refrigeration compressor 41 1 and at a different frequency refrigeration compressor 31 of the high-temperature side refrigerating cycle A1, there is no abrupt change in the load in the heat exchanger 38, enabling the stable operation and stable temperature drop.
【0030】本発明の冷熱衝撃試験装置は、低温室の準
備運転のみならず、低温衝撃試験運転および予冷運転に
おいても、運転状態に応じて、各々の冷凍圧縮機にたい
するインバ−タを独立して制御することもできる。すな
わち、運転制御手段が、前述のように、冷凍圧縮機の各
々を周波数80Hzに関連する回転数になるまで異なる
周波数でもって運転させたあと、予冷運転および低温衝
撃試験運転における、運転温度に応じて、各々を異なる
周波数変化でもって、つまり、周波数のみが異なる出力
を、あるいは、周波数は同じであるが、この周波数を出
力している時間のみが異る出力を、もしくは、周波数お
よび出力時間が異なる出力を、低温冷凍サイクルおよび
高温冷凍サイクルにある冷凍圧縮機にたいするインバ−
タになさせる。In the cold shock test apparatus of the present invention, not only the preparatory operation of the low-temperature chamber, but also the low-temperature shock test operation and the pre-cooling operation, the inverter for each refrigerating compressor is independently operated in accordance with the operation state. It can also be controlled. That is, as described above, after the operation control means operates each of the refrigeration compressors at different frequencies until the rotation speed reaches the frequency related to the frequency of 80 Hz, the operation control means responds to the operation temperature in the precooling operation and the low-temperature impact test operation. Each with a different frequency change, i.e., an output that differs only in frequency, or an output that has the same frequency but differs only in the time that this frequency is output, or the frequency and output time Different powers are supplied to the invertors for the refrigeration compressors in the low and high temperature refrigeration cycles.
Make it work.
【0031】さらに、運転制御手段が、このように、準
備運転、予冷運転および低温衝撃試験運転の各々におい
て、運転状態に応じて高温側冷凍サイクルおよび低温側
冷凍サイクルの冷凍圧縮機の運転を制御するばかりか、
膨張弁の開度も制御するようにさせることによって、運
転状態に応じて、二元冷凍サイクルの冷凍能力を微調整
することによって、より少ないエネルギでもって運転を
おこなえる。図5はそのような冷熱衝撃試験装置を示し
ている。この冷熱衝撃試験装置は、図1ないし図4に関
連して説明した冷熱衝撃試験装置と比較して、二元冷凍
サイクルの構成および運転のみが異なっている。Further, the operation control means controls the operation of the refrigeration compressor of the high-temperature side refrigeration cycle and the low-temperature side refrigeration cycle in each of the preparatory operation, the pre-cooling operation, and the low-temperature impact test operation according to the operation state. Not only do
By controlling the degree of opening of the expansion valve, the operation can be performed with less energy by finely adjusting the refrigerating capacity of the binary refrigeration cycle according to the operating state. FIG. 5 shows such a thermal shock test apparatus. This thermal shock test apparatus differs from the thermal shock test apparatus described with reference to FIGS. 1 to 4 only in the configuration and operation of the binary refrigeration cycle.
【0032】二元冷凍サイクルは、高温側冷凍サイクル
A2がインバ−タを組み込まれた冷凍圧縮機131、凝
縮器132およびカスケ−ド熱交換器138によって、
低温側冷凍サイクルB2がインバ−タを組み込まれた冷
凍圧縮機141、低温室に配設された蒸発器128およ
びカスケ−ド熱交換器138によってそれぞれ構成され
ている。しかし、高温冷凍サイクルA2および低温冷凍
サイクルB2における膨張弁は外部から開度を連続的に
調整することができる公知の比例式電子膨張弁143、
144からなっており、そして、高温側冷凍サイクルA
2における凝縮機132は冷却媒体量を調整する手段を
具備している、たとえば、凝縮機132が水冷式の凝縮
器からなる場合には、冷却水量を調整する電磁弁を、空
冷式の凝縮器からなる場合には、冷却ファンを駆動する
電動機の回転数を変える装置をもっている。The binary refrigeration cycle is constituted by a refrigeration compressor 131, a condenser 132 and a cascade heat exchanger 138 in which an inverter is incorporated in the high-temperature side refrigeration cycle A2.
The low-temperature side refrigeration cycle B2 is constituted by a refrigeration compressor 141 incorporating an inverter, an evaporator 128 and a cascade heat exchanger 138 disposed in a low-temperature chamber. However, the expansion valves in the high-temperature refrigeration cycle A2 and the low-temperature refrigeration cycle B2 have well-known proportional electronic expansion valves 143 whose opening can be continuously adjusted from the outside.
144 and the high temperature side refrigeration cycle A
The condenser 132 in FIG. 2 is provided with a means for adjusting the cooling medium amount. For example, when the condenser 132 is formed of a water-cooled condenser, an electromagnetic valve for adjusting the cooling water amount is provided with an air-cooled condenser. In the case where the cooling fan is provided, a device for changing the rotation speed of the electric motor for driving the cooling fan is provided.
【0033】運転制御手段150は、前述の実施例と同
様に、マイクロプロセッサをもつ演算手段、試験温度な
どを設定する手段、ダンパを開閉する動力源にたいする
ドライバ、高温室にあるヒ−タのドライバなどをもって
いるとともに、比例式電子膨張弁143、144の開度
を調整するドライバおよび凝縮器132における冷却媒
体量の調整手段を駆動するドライバを具備していて、演
算手段がプログラムにしたがって試験温度設定手段およ
び試験室と高温室と低温室との各々に組み込まれた温度
センサからの信号およびこの二元冷凍サイクルに組み込
まれているセンサ165〜168からの信号に応じて、
これらのドライバを制御する信号を出力するようになっ
ている。The operation control means 150 is, similarly to the above embodiment, an arithmetic means having a microprocessor, a means for setting a test temperature, a driver for a power source for opening and closing a damper, and a driver for a heater in a high temperature chamber. And a driver for adjusting the degree of opening of the proportional type electronic expansion valves 143 and 144 and a driver for driving the means for adjusting the amount of cooling medium in the condenser 132. In response to the signals from the temperature sensors incorporated in each of the means and the test chamber, the high temperature chamber and the low temperature chamber, and the signals from the sensors 165 to 168 incorporated in the binary refrigeration cycle,
Signals for controlling these drivers are output.
【0034】試験は、図1ないし図4に関連して説明し
た冷熱衝撃試験装置と同様に、二元冷凍サイクルおよび
ヒ−タを準備運転したあと、予冷運転および予熱運転を
おこない、低温室および高温室が所定の予冷温度および
予熱温度に到達したら、試料を試験室に収容し、試験室
を低温室および高温室に交互に接続し、試料を低温室の
冷風と高温室の熱風とにさらすことによってなされる。
が、二元冷凍サイクルの準備運転、予冷運転および低温
衝撃試験運転は、運転制御手段150が冷凍圧縮機13
1、141の電動機の各々を異なる周波数変化でもっ
て、つまり、周波数のみが異なる出力を、あるいは、周
波数は同じであるが、この周波数を出力している時間の
みが異る出力を、もしくは、周波数および出力時間が異
なる出力をインバ−タ163、164になさせることに
よっておこなわれている。In the test, as in the case of the thermal shock test apparatus described with reference to FIGS. 1 to 4, after the binary refrigeration cycle and the heater are preliminarily operated, the pre-cooling operation and the pre-heating operation are performed. When the high temperature chamber reaches the predetermined pre-cooling temperature and pre-heating temperature, the sample is stored in the test room, the test room is connected to the low temperature room and the high temperature room alternately, and the sample is exposed to the cold air of the low temperature room and the hot air of the high temperature room. It is done by things.
However, in the preparation operation, the pre-cooling operation, and the low-temperature impact test operation of the binary refrigeration cycle, the operation control
1, 141 with different frequency changes, that is, outputs with different frequencies only, or outputs with the same frequency but different times during which this frequency is output, or The output is performed by causing the inverters 163 and 164 to output signals having different output times.
【0035】準備運転は、運転制御手段150が、冷凍
圧縮機131を起動させたあと、異なる周波数でもって
冷凍圧縮機41を起動するようにインバ−タ163、1
64の各々を制御するとともに、膨張弁143、144
のドライバを制御して、これらの膨張弁の開度を最大に
することによっておこなわれる。In the preparatory operation, the operation control means 150 activates the refrigeration compressor 131 and then activates the inverters 163, 1 so as to activate the refrigeration compressor 41 at different frequencies.
64 while controlling the expansion valves 143, 144
This is achieved by controlling the drivers of the expansion valves to maximize the opening of these expansion valves.
【0036】予冷運転は、運転制御手段150が、カス
ケ−ド熱交換器138の入口側にあるセンサ166から
の信号を監視し、カスケ−ド熱交換器138の入口側冷
媒温度が設定温度を維持するように、冷凍圧縮機141
にたいするインバ−タ163を制御し、さらに、カスケ
−ド熱交換器138の入口側にあるセンサ166と冷凍
圧縮機131の吸込側にあるセンサ167からの信号を
監視し、温度差があれば、膨張弁143の開度を調整す
るドライバを作動させ、そして、凝縮器132の出口側
にあるセンサ168からの信号を監視して、凝縮器13
2の冷却媒体量調整手段のドライバを制御し、凝縮器1
32の出口側冷媒温度が所定値を維持するようにさせ
て、冷凍能力を一定に維持することによっておこなわれ
る。In the pre-cooling operation, the operation control means 150 monitors a signal from the sensor 166 at the inlet of the cascade heat exchanger 138, and the temperature of the refrigerant at the inlet of the cascade heat exchanger 138 becomes equal to the set temperature. To maintain the refrigeration compressor 141
In addition, the inverter 163 is controlled, and signals from the sensor 166 on the inlet side of the cascade heat exchanger 138 and the sensor 167 on the suction side of the refrigerating compressor 131 are monitored. A driver for adjusting the degree of opening of the expansion valve 143 is operated, and a signal from a sensor 168 at the outlet side of the condenser 132 is monitored.
2 controls the driver of the cooling medium amount adjusting means,
This is performed by maintaining the refrigeration capacity constant by making the outlet-side refrigerant temperature of 32 maintain a predetermined value.
【0037】低温衝撃試験運転にはいると、運転制御手
段150は、低温室にある温度センサおよび試験室にあ
る温度センサからの信号を監視し、これらの温度と設定
温度との差を比較し、温度差があれば、冷凍圧縮機14
1にたいするインバ−タを制御し、冷凍圧縮機141の
回転数をかえるとともに、冷凍圧縮機141の吸込側に
あるセンサ165と低温室の温度センサおよび試験室の
温度センサからの信号とを比較し、温度差があれば、膨
張弁144の開度を調整するドライバを作動させて、二
元冷凍サイクルの冷凍能力を調整し、試験室の試験温度
を維持する。When the low-temperature shock test operation is started, the operation control means 150 monitors signals from the temperature sensor in the low-temperature room and the temperature sensor in the test room, and compares the difference between these temperatures and the set temperature. If there is a temperature difference, the refrigeration compressor 14
1 is changed to change the number of revolutions of the refrigeration compressor 141, and the sensor 165 on the suction side of the refrigeration compressor 141 is compared with the signals from the temperature sensor in the low temperature chamber and the temperature sensor in the test chamber. If there is a temperature difference, a driver for adjusting the opening degree of the expansion valve 144 is operated to adjust the refrigeration capacity of the binary refrigeration cycle and maintain the test temperature in the test room.
【0038】この冷熱衝撃試験装置は、以上のように、
準備運転、予冷運転および低温衝撃試験運転の各々にお
いて、高温冷凍サイクルおよび低温冷凍サイクルの運転
温度に応じて、運転制御手段150が冷凍圧縮機13
1、141にたいするインバ−タ163、164の各々
を独立して制御し、しかも、膨張弁134、143の開
度を調整し、冷凍能力の調整をより精密におこなってい
るので、エネルギの無駄をよりすくなくさせることがで
きる。As described above, this thermal shock test apparatus
In each of the preparatory operation, the pre-cooling operation, and the low-temperature impact test operation, the operation control means 150 controls the refrigeration compressor 13 according to the operation temperatures of the high-temperature refrigeration cycle and the low-temperature refrigeration cycle.
Since the inverters 163 and 164 for the first and 141 are controlled independently, and the openings of the expansion valves 134 and 143 are adjusted and the refrigerating capacity is adjusted more precisely, energy is wasted. It can be made even faster.
【0039】[0039]
【発明の効果】本発明の冷熱衝撃試験装置は、以上述べ
たように、ヒータと二元冷凍サイクルを構成する高温側
冷凍サイクルと低温側冷凍サイクルの各冷凍圧縮機を駆
動する各電動機およびダンパとを制御する運転制御手段
を備え、前記各電動機をそれぞれ独立して制御するよう
にした冷熱衝撃試験装置において、前記運転制御手段
は、前記高温側冷凍サイクルを起動させた後、前記低温
側冷凍サイクルを起動させ、前記高温側冷凍サイクルの
冷凍圧縮機の電動機をその停止状態から特定周波数に関
連する回転数まで上昇させる時間に対し、前記低温側冷
凍サイクルの冷凍圧縮機の電動機をその停止状態から前
記特定周波数に関連する回転数まで上昇させる時間を長
くするようにしたので、二元冷凍サイクルのカスケード
熱交換器における負荷の急変をなくし、二元冷凍サイク
ルの安定した運転および安定した温度降下を行うことが
できる。 As described above, the thermal shock test apparatus according to the present invention has a heater and a high temperature side constituting a binary refrigeration cycle.
Drive each refrigeration compressor of the refrigeration cycle and the low-temperature side refrigeration cycle.
Operation control means for controlling each of the electric motors and dampers to operate
And each of the motors is independently controlled.
In the thermal shock test apparatus, the operation control means
After starting the high-temperature refrigeration cycle,
Start the refrigeration cycle on the high-temperature side,
Starting the motor of the refrigeration compressor from the stop state,
With respect to the time required to increase the number of rotations,
Move the motor of the refrigerating compressor in the freezing cycle from its stopped state
The time required to increase the speed to the speed
The cascade of the binary refrigeration cycle
Eliminate sudden changes in load in heat exchanger
Stable operation and stable temperature drop
it can.
【図1】本発明の冷熱衝撃試験装置の一実施例の構成を
示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing a configuration of an embodiment of a thermal shock test apparatus according to the present invention.
【図2】図1に示す装置の二元冷凍サイクルの構成を示
す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a configuration of a binary refrigeration cycle of the apparatus shown in FIG.
【図3】図1に示す装置に含まれる運転制御手段の構成
を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a configuration of operation control means included in the device shown in FIG.
【図4】冷熱衝撃試験における試験室、高温室および低
温室の温度と、高温側冷凍サイクルおよび低温側冷凍サ
イクルの電動機を駆動する周波数と、これらの二元冷凍
サイクルにおける膨張弁を選択する電磁弁の作動との関
係を示す説明図である。FIG. 4 shows the temperatures of a test chamber, a high-temperature chamber and a low-temperature chamber in a thermal shock test, frequencies for driving electric motors of a high-temperature refrigeration cycle and a low-temperature refrigeration cycle, and electromagnetic waves for selecting an expansion valve in these binary refrigeration cycles. It is explanatory drawing which shows the relationship with operation | movement of a valve.
【図5】本発明の冷熱衝撃試験装置の他の実施例におけ
る二元冷凍サイクルの構成を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory view showing a configuration of a binary refrigeration cycle in another embodiment of the thermal shock test apparatus of the present invention.
10…試験室、11…高温室、12…低温室、14〜2
1、18a、19a…連通手段、24…ヒ−タ、30…
再加熱器、 38、138…カスケ−ド熱交換器、5
0、150…運転制御手段、31、41、131、14
1…冷凍圧縮機、63、64、163、164…インバ
−タ。10: Test room, 11: High temperature room, 12: Low temperature room, 14-2
1, 18a, 19a ... communication means, 24 ... heater, 30 ...
Reheater, 38, 138 ... Cascade heat exchanger, 5
0, 150: operation control means, 31, 41, 131, 14
1. Refrigeration compressor, 63, 64, 163, 164 ... Inverter.
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−154848(JP,A) 特開 平2−192546(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 31/26 G01R 31/28 Continuation of the front page (56) References JP-A-3-154848 (JP, A) JP-A-2-192546 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01R 31 / 26 G01R 31/28
Claims (1)
ータによって加熱された熱を蓄える蓄熱材および送風機
とを備えた高温室と、二元冷凍サイクルの低温側の熱交
換器とこの熱交換器で冷却された熱を蓄える蓄熱材と冷
却された空気を加熱する再加熱器および送風機とを備え
た低温室と、前記試験室と高温室および前記試験室と低
温室を接続する複数の通路と、前記試験室に配置され、
前記通路を開閉する複数のダンパと、前記ヒータと前記
二元冷凍サイクルを構成する高温側冷凍サイクルと低温
側冷凍サイクルの各冷凍圧縮機を駆動する各電動機およ
び前記ダンパとを制御する運転制御手段とを備え、前記
各電動機をそれぞれ独立して制御するようにした冷熱衝
撃試験装置において、前記運転制御手段は、前記高温側
冷凍サイクルを起動させた後、前記低温側冷凍サイクル
を起動させ、前記高温側冷凍サイクルの冷凍圧縮機の電
動機をその停止状態から特定周波数に関連する回転数ま
で上昇させる時間に対し、前記低温側冷凍サイクルの冷
凍圧縮機の電動機をその停止状態から前記特定周波数に
関連する回転数まで上昇させる時間を長くすることを特
徴とする冷熱衝撃試験装置。1. A test chamber for holding a sample, a heater, and a heater.
Storage material and blower for storing heat heated by heat
Heat exchange between the high-temperature chamber with
Heat exchanger and heat storage material for storing heat cooled by this heat exchanger.
Equipped with a reheater and a blower for heating the rejected air
Low temperature room, the test room and the high temperature room, and the test room
A plurality of passages connecting the greenhouse, and arranged in the test room,
A plurality of dampers for opening and closing the passage, the heater and the
High-temperature refrigeration cycle and low-temperature refrigeration cycle
Motors that drive each refrigeration compressor of the side refrigeration cycle and
And operation control means for controlling the damper and the damper,
Cold and heat impulse that controls each motor independently
In the hammering test apparatus, the operation control means may include the high-temperature side
After starting the refrigeration cycle, the low-temperature side refrigeration cycle
Is started, and the power of the refrigeration compressor of the high-temperature side refrigeration cycle is turned on.
The motive is changed from its stopped state to the rotation speed related to a specific frequency.
The cooling time of the low-temperature side refrigeration cycle
The electric motor of the frost compressor is changed from the stopped state to the specific frequency.
It is important to extend the time to increase to the relevant speed.
Thermal shock test equipment .
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- 1991-11-19 JP JP03303211A patent/JP3102652B2/en not_active Expired - Fee Related
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