JP4922838B2 - Fluorescent lamp abnormality detection device - Google Patents

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本発明は蛍光灯異常検出装置に関し、特に交流電源により駆動される蛍光灯の点灯周波数が正常時よりも低下するいわゆるちらつき状態を検出する装置に関する。   The present invention relates to a fluorescent lamp abnormality detection apparatus, and more particularly to an apparatus for detecting a so-called flicker state in which the lighting frequency of a fluorescent lamp driven by an AC power supply is lower than that in a normal state.

この種の蛍光灯異常検出装置として、例えば特許文献1に記載の技術が提案されている。特許文献1に記載の技術は、エレベータのかご内照明に用いられる蛍光灯の交流電源回路に電流検出器を設け、その電流検出器によって測定した測定電流のピーク値から蛍光灯の異常を検出するようになっている。   As this type of fluorescent lamp abnormality detection device, for example, a technique described in Patent Document 1 has been proposed. In the technique described in Patent Document 1, a current detector is provided in an AC power supply circuit of a fluorescent lamp used for lighting in an elevator car, and an abnormality of the fluorescent lamp is detected from a peak value of a measured current measured by the current detector. It is like that.

詳細には、上記測定電流の隣り合う正負のピーク値の差が予め定めた第1基準値を超える場合に蛍光灯が劣化しているものと判断するとともに、上記測定電流の隣り合う正負のピーク値の差が予め定めた第2基準値を超える場合に蛍光灯がいわゆるちらつき状態にあるものと判断するようになっている。さらに、蛍光灯正常時における電流の正のピーク値と上記測定電流の正のピーク値との差が予め定めた第3基準値を超える場合にグローランプ切れや蛍光灯の球切れが発生したものと判断するようになっている。
特開平10−261492号公報
Specifically, it is determined that the fluorescent lamp has deteriorated when the difference between adjacent positive and negative peak values of the measurement current exceeds a predetermined first reference value, and the adjacent positive and negative peaks of the measurement current are determined. When the value difference exceeds a predetermined second reference value, it is determined that the fluorescent lamp is in a so-called flickering state. Further, when the difference between the positive peak value of the current when the fluorescent lamp is normal and the positive peak value of the measured current exceeds a predetermined third reference value, the glow lamp is cut or the fluorescent lamp is cut. It comes to judge.
JP-A-10-261492

特許文献1に記載の技術では、例えば蛍光灯に電力を供給するエレベータの移動ケーブルによって電圧降下が生じるため、その電圧降下による蛍光灯の電源電圧の変動を考慮する必要があり、個々のエレベータ毎に上記各基準値を設定しなければならない上に、蛍光灯の点灯状態を上記測定電流をもって間接的に監視するようになっているため、蛍光灯の異常を検出する処理が複雑になるほか、誤検出を起こし易くなり、好ましくない。   In the technique described in Patent Document 1, for example, a voltage drop occurs due to an elevator moving cable that supplies electric power to a fluorescent lamp. Therefore, it is necessary to consider fluctuations in the power supply voltage of the fluorescent lamp due to the voltage drop. In addition to having to set each reference value above, and indirectly monitoring the lighting state of the fluorescent lamp with the above measurement current, the process of detecting an abnormality of the fluorescent lamp becomes complicated, Misdetection is likely to occur, which is not preferable.

本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであって、蛍光灯の点灯状態を光センサによって直接的に監視することで、容易かつ正確に蛍光灯の異常を検出することができる蛍光灯異常検出装置を提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of the above problems, and can directly and accurately detect an abnormality of a fluorescent lamp by directly monitoring the lighting state of the fluorescent lamp with an optical sensor. The object is to provide a detection device.

請求項1に記載の発明は、交流電源によって駆動される蛍光灯の異常を検出する蛍光灯異常検出装置であって、上記蛍光灯からの光を受光する光センサと、上記交流電源の四半周期毎に上記光センサの出力信号に応じて点灯信号または非点灯信号を出力するサンプリング手段と、上記サンプリング手段の出力に基づいて蛍光灯の異常を検出する異常検出手段と、を備えていることを特徴としている。   The invention according to claim 1 is a fluorescent lamp abnormality detecting device for detecting an abnormality of a fluorescent lamp driven by an AC power source, wherein the optical sensor receives light from the fluorescent lamp, and a quarter cycle of the AC power source. Sampling means for outputting a lighting signal or a non-lighting signal in accordance with the output signal of the light sensor each time, and an abnormality detection means for detecting an abnormality of the fluorescent lamp based on the output of the sampling means. It is a feature.

つまり、請求項1に記載の発明では、上記蛍光灯は正常な点灯状態時に上記交流電源の半周期毎に点灯し、上記交流電源の四半周期毎に点灯と消灯を繰り返していることから、サンプリング手段が上記交流電源の四半周期毎に光センサの出力値に応じて点灯信号または非点灯信号をそれぞれ出力することで、上記交流電源の四半周期毎に上記蛍光灯が正常に点灯と消灯を繰り返しているかどうかを上記異常検出手段が判断して上記蛍光灯の状態を判定することができるようになる。   That is, in the invention according to claim 1, since the fluorescent lamp is turned on every half cycle of the AC power supply in a normal lighting state and is turned on and off every quarter cycle of the AC power supply, sampling is performed. The means outputs a lighting signal or a non-lighting signal according to the output value of the optical sensor every quarter cycle of the AC power source, so that the fluorescent lamp normally turns on and off normally every quarter cycle of the AC power source. The abnormality detection means can determine whether or not the fluorescent lamp is in a state.

その上で、請求項2に記載の発明のように、上記サンプリング手段が、上記交流電源の波形を整形してその交流電源の四半周期毎に作成されたクロックパルスと、上記光センサの出力信号と、に応じて点灯信号または非点灯信号を出力するようになっていると、上記異常検出手段が上記交流電源の四半周期毎における上記蛍光灯の点灯状態をより確実に判断することができるようになる。   Then, as in the invention described in claim 2, the sampling means shapes the waveform of the AC power supply and generates a clock pulse generated every quarter cycle of the AC power supply, and an output signal of the optical sensor. If the lighting signal or the non-lighting signal is output according to the above, the abnormality detecting means can more reliably determine the lighting state of the fluorescent lamp every quarter cycle of the AC power supply. become.

具体的には、上記サンプリング手段が、上記交流電源の四半周期毎に光センサの出力信号とクロックパルスを比較し、その結果に応じて点灯信号または非点灯信号を出力するようにするとよい。   Specifically, the sampling means may compare the output signal of the optical sensor with the clock pulse every quarter cycle of the AC power supply, and output a lighting signal or a non-lighting signal according to the result.

その上で、請求項3に記載の発明は、上記サンプリング手段は、上記光センサの出力信号およびクロックパルスの両方が存在するときに点灯信号を出力する一方で、上記光センサの出力信号およびクロックパルスのうちいずれか一方が存在するときに非点灯信号を出力するようになっていて、上記異常検出手段が、点灯信号および非点灯信号の入力状況に応じて上記蛍光灯の状態を判定する機能を有していることを特徴としている。   In addition, according to the invention of claim 3, the sampling means outputs a lighting signal when both the output signal of the optical sensor and a clock pulse are present, while the output signal of the optical sensor and the clock are output. A function of outputting a non-lighting signal when any one of the pulses is present, and the abnormality detecting means determining the state of the fluorescent lamp according to the input state of the lighting signal and the non-lighting signal It is characterized by having.

この請求項3に記載の発明では、クロックパルスが存在し、且つ上記蛍光灯が点灯している場合に上記サンプリング手段が点灯信号を出力する一方で、クロックパルスが存在し、且つ上記蛍光灯が消灯している場合に上記サンプリング手段が非点灯信号を出力することとなる。つまり、上記サンプリング手段が上記交流電源の四半周期毎に作成されたクロックパルスに同期して点灯信号または非点灯信号を出力することとなる。   In the invention of claim 3, when the clock pulse exists and the fluorescent lamp is lit, the sampling means outputs a lighting signal, while the clock pulse exists and the fluorescent lamp is When the light is turned off, the sampling means outputs a non-lighting signal. That is, the sampling means outputs a lighting signal or a non-lighting signal in synchronization with the clock pulse generated every quarter cycle of the AC power supply.

また、請求項4に記載の発明のように、上記異常検出手段が、点灯信号が入力された後に非点灯信号が複数連続して入力され、さらに点灯信号が入力された場合に上記蛍光灯がちらつき状態にあると判定するようになっていると、上記蛍光灯のちらつき状態の初期段階、すなわち人間には感知できない段階のちらつき状態を検出する上で望ましいものとなる。   According to a fourth aspect of the present invention, when the abnormality detection unit receives a plurality of non-lighting signals after a lighting signal is input, and further receives a lighting signal, the fluorescent lamp If it is determined that the flicker state is present, it is desirable to detect the flicker state at the initial stage of the flickering state of the fluorescent lamp, that is, the stage that cannot be perceived by humans.

さらに、請求項5に記載の発明のように、上記異常検出手段は、上記交流電源の隣り合う四半周期に点灯信号が連続して入力された場合に、上記光センサが上記蛍光灯外からの光を受光しているものと判断するようになっていると、上記蛍光灯外からの光の影響による誤動作を防止することができる。   Further, as in the invention described in claim 5, when the lighting signal is continuously input in the adjacent quarter cycle of the AC power source, the abnormality detection means is configured to detect the light sensor from outside the fluorescent lamp. If it is determined that light is received, malfunction due to the influence of light from outside the fluorescent lamp can be prevented.

請求項1〜5に記載の発明によれば、蛍光灯からの光を受光する光センサの出力に基づいて蛍光灯の異常を直接的に検出するようになっている上に、異常検出手段が上記交流電源の四半周期毎にサンプリング手段が出力する点灯信号および非点灯信号に基づいて蛍光灯の異常を検出するようにしているため、蛍光灯の異常を容易かつ正確に検出することができる。   According to the first to fifth aspects of the present invention, the abnormality of the fluorescent lamp is directly detected based on the output of the optical sensor that receives light from the fluorescent lamp, and the abnormality detecting means includes Since the abnormality of the fluorescent lamp is detected based on the lighting signal and the non-lighting signal output by the sampling means every quarter cycle of the AC power source, the abnormality of the fluorescent lamp can be detected easily and accurately.

請求項2に記載の発明によれば、上記サンプリング手段が上記交流電源の四半周期毎に作成されたクロックパルスおよび光センサの出力信号に応じて点灯信号または非点灯信号を出力するようになっているため、上記交流電源の四半周期毎における上記蛍光灯の点灯状態を上記異常検出手段がより確実に判定することができる。   According to the second aspect of the present invention, the sampling means outputs a lighting signal or a non-lighting signal in accordance with a clock pulse generated every quarter cycle of the AC power supply and an output signal of the optical sensor. Therefore, the abnormality detection means can more reliably determine the lighting state of the fluorescent lamp every quarter cycle of the AC power supply.

請求項3に記載の発明によれば、上記サンプリング手段が上記交流電源の四半周期毎に作成されたクロックパルスに同期して点灯信号または非点灯信号を出力することで、上記異常検出手段が蛍光灯の異常をさらに確実に検出することができるようになる。   According to a third aspect of the present invention, the sampling means outputs a lighting signal or a non-lighting signal in synchronization with a clock pulse generated every quarter cycle of the AC power supply, so that the abnormality detecting means is fluorescent. It becomes possible to detect the abnormality of the lamp more reliably.

また、請求項4に記載の発明によれば、上記蛍光灯の人間には感知できない段階のちらつき状態を検出することができるため、その段階で上記蛍光灯の交換を行うことで利用者に上記蛍光灯のちらつき状態による不快感を与えることを防止できるほか、上記ちらつき状態を検出することで上記蛍光灯の寿命の判断を容易且つ確実に行えるようになるメリットがある。   According to the invention described in claim 4, it is possible to detect a flickering state at a stage where the fluorescent lamp cannot be perceived by humans. In addition to preventing discomfort caused by the flickering state of the fluorescent lamp, there is an advantage that the life of the fluorescent lamp can be easily and reliably determined by detecting the flickering state.

請求項5に記載の発明によれば、上記蛍光灯外からの光の影響による誤動作を防止でき、動作の信頼性を高めることができる。   According to the fifth aspect of the present invention, malfunction due to the influence of light from outside the fluorescent lamp can be prevented, and the reliability of the operation can be improved.

図1は本発明のより具体的な実施の形態として、蛍光灯異常検出装置を示す構成図である。   FIG. 1 is a block diagram showing a fluorescent lamp abnormality detecting device as a more specific embodiment of the present invention.

図1に示すように、エレベータのかご内を照明する蛍光灯1は交流電源2によって駆動されるようになっているとともに、その交流電源2の波形を整形してクロックパルスを出力する波形整形手段としての波形整形回路3が交流電源2と並列に接続されている。   As shown in FIG. 1, a fluorescent lamp 1 for illuminating the interior of an elevator car is driven by an AC power supply 2, and waveform shaping means for shaping a waveform of the AC power supply 2 and outputting a clock pulse. The waveform shaping circuit 3 is connected in parallel with the AC power source 2.

一方、蛍光灯1からの光を受光する光センサとしてのフォトダイオード4が蛍光灯1に近接配置されていて、そのフォトダイオード4の出力信号をサンプリングするサンプリング手段としてのサンプリング回路5がフォトダイオード4にオペアンプ6を介して接続されているとともに、そのサンプリング回路5の出力に基づいて蛍光灯1の異常を検出する異常検出手段としての異常検出回路7がサンプリング回路5に接続されている。   On the other hand, a photodiode 4 as an optical sensor that receives light from the fluorescent lamp 1 is disposed in the vicinity of the fluorescent lamp 1, and a sampling circuit 5 as a sampling means for sampling an output signal of the photodiode 4 serves as the photodiode 4. An abnormality detection circuit 7 is connected to the sampling circuit 5 as an abnormality detection means for detecting an abnormality of the fluorescent lamp 1 based on the output of the sampling circuit 5.

図2は蛍光灯1が正常に点灯している状態における交流電源2の電圧波形とフォトダイオード4の出力信号との関係を示す図であって、図2の(a)はフォトダイオード4の出力信号の波形を、図2の(b)は交流電源2の電圧波形をそれぞれ示している。   FIG. 2 is a diagram showing the relationship between the voltage waveform of the AC power source 2 and the output signal of the photodiode 4 when the fluorescent lamp 1 is normally lit. FIG. 2B shows the waveform of the signal, and FIG. 2B shows the voltage waveform of the AC power source 2.

ここで、蛍光灯1が正常に点灯している状態では、図2の(a)および(b)に示すように、交流電源2の正負のピーク電圧発生時に蛍光灯1が点灯する一方で、交流電源2の零電圧時には蛍光灯1が消灯し、蛍光灯1の点灯周波数は交流電源2の周波数の2倍になる。   Here, in the state in which the fluorescent lamp 1 is normally lit, as shown in FIGS. 2A and 2B, while the fluorescent lamp 1 is lit when the positive / negative peak voltage of the AC power source 2 is generated, When the AC power supply 2 is at zero voltage, the fluorescent lamp 1 is turned off, and the lighting frequency of the fluorescent lamp 1 is twice the frequency of the AC power supply 2.

図3は波形整形回路3の動作を示す説明図であって、図3の(a)は交流電源2の電圧波形を、図3の(b)は図3の(a)に示す波形の周波数を後述する周波数てい倍器3aによって4てい倍した中間波形を、図3の(c)は波形整形回路3が出力するクロックパルスの波形をそれぞれ示している。   FIG. 3 is an explanatory diagram showing the operation of the waveform shaping circuit 3. FIG. 3 (a) shows the voltage waveform of the AC power supply 2, and FIG. 3 (b) shows the frequency of the waveform shown in FIG. 3 (a). (C) of FIG. 3 shows the waveform of the clock pulse output from the waveform shaping circuit 3, respectively.

詳細には、波形整形回路3は周波数てい倍器3aを有していて、その周波数てい倍器3aによって図3の(a)に示す交流電源2の電源電圧波形Aの周波数を4てい倍し、図3の(b)に示す中間波形Bに整形する。その上で、その中間波形Bをコンパレータ3bによって所定の基準値と比較してA/D変換し、図3の(c)に示すクロック波形Cを得るようになっている。つまり、波形整形回路3は交流電源2の四半周期毎、すなわち概ね交流電源2の正負のピーク電圧発生時および零電圧時に作成したクロックパルスをサンプリング回路5および異常検出回路7に送出するようになっている。   Specifically, the waveform shaping circuit 3 has a frequency multiplier 3a, and the frequency multiplier 3a doubles the frequency of the power supply voltage waveform A of the AC power supply 2 shown in FIG. The waveform is shaped into an intermediate waveform B shown in FIG. Then, the intermediate waveform B is compared with a predetermined reference value by the comparator 3b and A / D converted to obtain a clock waveform C shown in FIG. That is, the waveform shaping circuit 3 sends the clock pulses generated to the sampling circuit 5 and the abnormality detection circuit 7 every quarter cycle of the AC power supply 2, that is, approximately when the AC power supply 2 generates positive and negative peak voltages and zero voltage. ing.

図4は蛍光灯1の正常な点灯状態時におけるサンプリング回路5のタイムチャートを示す図である。   FIG. 4 is a diagram showing a time chart of the sampling circuit 5 when the fluorescent lamp 1 is in a normal lighting state.

サンプリング回路5はクロックパルスに同期して動作するフリップフロップ5aを有していて、図4に示すように、フリップフロップ5aは、波形整形回路3からのクロックパルス、すなわちクロック入力と、フォトダイオード4からの出力信号、すなわちデータ入力がともに入力された場合に点灯信号として「1」すなわちhighレベル電圧を、波形整形回路3からのクロックパルスおよびフォトダイオード4からの出力信号のうち片方のみが入力された場合に非点灯信号として「0」すなわちlowレベル電圧をそれぞれデジタル信号として異常検出回路7に出力するようになっている。   The sampling circuit 5 includes a flip-flop 5a that operates in synchronization with the clock pulse. As shown in FIG. 4, the flip-flop 5a includes the clock pulse from the waveform shaping circuit 3, that is, the clock input, and the photodiode 4. When the output signal from, that is, the data input is input together, “1”, that is, the high level voltage is input as the lighting signal, and only one of the clock pulse from the waveform shaping circuit 3 and the output signal from the photodiode 4 is input. In this case, “0” as a non-lighting signal, that is, a low level voltage is output to the abnormality detection circuit 7 as a digital signal.

なお、上述したように、蛍光灯1の正常な点灯状態においては、蛍光灯1が交流電源2の半周期毎に点灯し、交流電源2の四半周期毎に点灯と消灯を交互に繰り返すため、サンプリング回路5は交流電源2の四半周期毎、すなわちクロックパルスが入力される度に「1」と「0」を交互に出力することになる。   Note that, as described above, in the normal lighting state of the fluorescent lamp 1, the fluorescent lamp 1 is turned on every half cycle of the AC power supply 2 and is turned on and off alternately every quarter cycle of the AC power supply 2. The sampling circuit 5 alternately outputs “1” and “0” every quarter period of the AC power source 2, that is, every time a clock pulse is input.

そして、サンプリング回路5からの出力は異常検出回路7のうちクロックパルスに同期して動作するシフトレジスタ7aを介して異常判定部7bに入力され、異常判定部7bが「1」と「0」の入力状況に応じて蛍光灯1の状態を判定するようになっている。また、異常判定部7bはデータ通信機能を有していて、その異常判定部7bが蛍光灯1の異常を検出すると、電話回線を通じて監視センタ8へ通報を行うようになっている。   The output from the sampling circuit 5 is input to the abnormality determination unit 7b via the shift register 7a operating in synchronization with the clock pulse in the abnormality detection circuit 7, and the abnormality determination unit 7b is set to “1” and “0”. The state of the fluorescent lamp 1 is determined according to the input situation. Moreover, the abnormality determination part 7b has a data communication function, and when the abnormality determination part 7b detects abnormality of the fluorescent lamp 1, it reports to the monitoring center 8 through a telephone line.

以上のように構成した蛍光灯異常検出装置では、予め定めた所定の時間に異常判定部7bが蛍光灯1の状態を判定することとなる。上述したように蛍光灯1が正常に点灯している場合には、交流電源2の四半周期毎にサンプリング回路5が「1」と「0」を交互に出力するため、異常判定部7bはサンプリング回路5が「1」と「0」を交互に出力している場合に蛍光灯1が正常であるものと判断する。例えば、異常判定部7bに「10101010101」と入力された場合には、異常判定部7bは蛍光灯1が正常であるものと判断することとなる。   In the fluorescent lamp abnormality detection apparatus configured as described above, the abnormality determination unit 7b determines the state of the fluorescent lamp 1 at a predetermined time. As described above, when the fluorescent lamp 1 is normally lit, the sampling circuit 5 alternately outputs “1” and “0” every quarter cycle of the AC power supply 2, so that the abnormality determination unit 7 b performs sampling. When the circuit 5 outputs “1” and “0” alternately, it is determined that the fluorescent lamp 1 is normal. For example, when “10101010101” is input to the abnormality determination unit 7b, the abnormality determination unit 7b determines that the fluorescent lamp 1 is normal.

一方、蛍光灯1が時間とともに劣化してその寿命が近づいてくると、蛍光灯1の点灯周波数が正常な点灯状態時よりも低下し、蛍光灯1がいわゆるちらつき状態となる。そして、蛍光灯1が上記ちらつき状態になると、異常検出回路7にサンプリング回路5から「1」が入力された後に「0」が複数連続して入力され、さらに「1」が入力されることとなるため、この場合に異常判定部7bが蛍光灯1が上記ちらつき状態にあるものと判断する。つまり、例えば異常判定部7bに「10001000001」と入力された場合には、異常判定部7bは蛍光灯1が上記ちらつき状態にあるものと判断することとなり、蛍光灯1のちらつき状態の初期段階、すなわち人間には感知できない段階のちらつき状態が検出される。   On the other hand, when the fluorescent lamp 1 deteriorates with time and approaches its life, the lighting frequency of the fluorescent lamp 1 is lower than that in the normal lighting state, and the fluorescent lamp 1 enters a so-called flickering state. When the fluorescent lamp 1 is in the flickering state, after “1” is input from the sampling circuit 5 to the abnormality detection circuit 7, a plurality of “0” s are continuously input, and further “1” is input. Therefore, in this case, the abnormality determination unit 7b determines that the fluorescent lamp 1 is in the flickering state. That is, for example, when “10001000001” is input to the abnormality determination unit 7b, the abnormality determination unit 7b determines that the fluorescent lamp 1 is in the flicker state, and the initial stage of the flicker state of the fluorescent lamp 1, That is, a flickering state that cannot be perceived by humans is detected.

また、異常判定部7bは「0」を連続して入力した回数を計数するようになっていて、「0」を連続して入力した回数が予め定めた所定値を超えた場合に、異常判定部7bが蛍光灯1の球切れまたはフォトダイオード4自体に異常が発生したものと判断する。例えば異常判定部7bに「00000000000」と入力された場合に、異常判定部7bが蛍光灯1の球切れまたはフォトダイオード4自体に異常が発生したものと判断することとなる。   Also, the abnormality determination unit 7b counts the number of times “0” is continuously input, and when the number of times “0” is continuously input exceeds a predetermined value, abnormality determination The part 7b determines that the bulb of the fluorescent lamp 1 is broken or an abnormality has occurred in the photodiode 4 itself. For example, when “00000000000000” is input to the abnormality determination unit 7b, the abnormality determination unit 7b determines that the bulb of the fluorescent lamp 1 has run out or an abnormality has occurred in the photodiode 4 itself.

さらに、交流電源2の隣り合う四半周期において、異常検出回路7がサンプリング回路5から「1」を連続して入力した場合に、異常判定部7bはフォトダイオード4が蛍光灯1以外からの光を受光しているものと判断する。例えば、異常判定部7bに「11111111111」と入力された場合には、異常判定部7bはフォトダイオード4が蛍光灯1以外からの光を受光しているものと判断することとなる。   Further, when the abnormality detection circuit 7 continuously inputs “1” from the sampling circuit 5 in the adjacent quarter cycle of the AC power supply 2, the abnormality determination unit 7 b causes the photodiode 4 to emit light from other than the fluorescent lamp 1. Judge that it is receiving light. For example, when “11111111111” is input to the abnormality determination unit 7 b, the abnormality determination unit 7 b determines that the photodiode 4 receives light from other than the fluorescent lamp 1.

そして、蛍光灯1またはフォトダイオード4に異常があった場合には、異常判定部7bがその異常の内容を監視センタ8に通報し、監視センタ8は異常検出回路7からの通報を受信すると、例えば作業員を派遣して蛍光灯1の交換作業を行う等の必要な措置を講じることとなる。   When there is an abnormality in the fluorescent lamp 1 or the photodiode 4, the abnormality determination unit 7b notifies the monitoring center 8 of the content of the abnormality, and when the monitoring center 8 receives the notification from the abnormality detection circuit 7, For example, necessary measures such as dispatching workers to replace the fluorescent lamp 1 are taken.

したがって本実施の形態によれば、蛍光灯1からの光を受光するフォトダイオード4の出力に基づいて蛍光灯1の球切れおよび上記ちらつき状態を直接的に検出するようになっている上に、異常検出回路7がサンプリング回路5の出力するデジタル信号に基づいて蛍光灯1の異常を検出するようにしているため、蛍光灯1の異常を容易且つ正確に検出することができる。   Therefore, according to the present embodiment, based on the output of the photodiode 4 that receives light from the fluorescent lamp 1, the bulb break of the fluorescent lamp 1 and the flickering state are directly detected. Since the abnormality detection circuit 7 detects the abnormality of the fluorescent lamp 1 based on the digital signal output from the sampling circuit 5, the abnormality of the fluorescent lamp 1 can be detected easily and accurately.

その上、人間には感知できない段階で蛍光灯1のちらつき状態を早期に検出し、蛍光灯1の寿命の判断が容易に行えるようになるとともに、その段階で蛍光灯1の交換を行うことで、利用者に蛍光灯1のちらつき状態による不快感を与えることが防止できる。   In addition, the flickering state of the fluorescent lamp 1 can be detected at an early stage at a stage that cannot be perceived by humans so that the life of the fluorescent lamp 1 can be easily determined and the fluorescent lamp 1 can be replaced at that stage. It is possible to prevent the user from feeling uncomfortable due to the flickering state of the fluorescent lamp 1.

さらに、フォトダイオード4自体の異常およびフォトダイオード4が蛍光灯1以外からの光を受光していることを検出し、その動作の信頼性を向上させることができるメリットがある。   Further, there is a merit that the abnormality of the photodiode 4 itself and the fact that the photodiode 4 receives light from other than the fluorescent lamp 1 can be detected and the reliability of the operation can be improved.

なお、いわゆるインバータ式の蛍光灯にも本実施の形態と同様に本発明を適用可能であることは言うまでもない。   Needless to say, the present invention can also be applied to so-called inverter-type fluorescent lamps as in this embodiment.

本発明の実施の形態として蛍光灯異常検出装置を示す構成図。The block diagram which shows the fluorescent lamp abnormality detection apparatus as embodiment of this invention. 図1における交流電源の電圧波形とフォトダイオードの出力信号との関係を示す図であって、同図(a)はフォトダイオードの出力信号波形を示す図、同図(b)は交流電源の電圧波形を示す図。It is a figure which shows the relationship between the voltage waveform of AC power supply in FIG. 1, and the output signal of a photodiode, The figure (a) is a figure which shows the output signal waveform of a photodiode, The figure (b) is the voltage of AC power supply. The figure which shows a waveform. 図1における波形整形回路の動作を示す説明図であって、同図(a)は交流電源の電圧波形を示す図、同図(b)は同図(a)に示す波形の周波数を4てい倍した中間波形を示す図、同図(c)は波形整形回路が出力するクロックパルスを示す図。It is explanatory drawing which shows operation | movement of the waveform shaping circuit in FIG. 1, Comprising: The figure (a) is a figure which shows the voltage waveform of AC power supply, The figure (b) has shown the frequency of the waveform shown to the figure (a) 4. The figure which shows the multiplied intermediate waveform, The figure (c) is a figure which shows the clock pulse which a waveform shaping circuit outputs. 図1におけるフリップフロップのタイムチャート。The time chart of the flip-flop in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1…蛍光灯
2…交流電源
4…フォトダイオード(光センサ)
5…サンプリング回路(サンプリング手段)
7…異常検出回路(異常検出手段)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Fluorescent lamp 2 ... AC power supply 4 ... Photodiode (light sensor)
5 ... Sampling circuit (sampling means)
7. Abnormality detection circuit (abnormality detection means)

Claims (5)

交流電源によって駆動される蛍光灯の異常を検出する蛍光灯異常検出装置であって、
上記蛍光灯からの光を受光する光センサと、
上記交流電源の四半周期毎に上記光センサの出力信号に応じて点灯信号または非点灯信号を出力するサンプリング手段と、
上記サンプリング手段の出力に基づいて蛍光灯の異常を検出する異常検出手段と、
を備えていることを特徴とする蛍光灯異常検出装置。
A fluorescent lamp abnormality detection device for detecting an abnormality of a fluorescent lamp driven by an AC power source,
An optical sensor for receiving light from the fluorescent lamp;
Sampling means for outputting a lighting signal or a non-lighting signal according to the output signal of the photosensor every quarter cycle of the AC power supply;
An abnormality detecting means for detecting an abnormality of the fluorescent lamp based on the output of the sampling means;
A fluorescent lamp abnormality detection device comprising:
上記サンプリング手段が、上記交流電源の波形を整形してその交流電源の四半周期毎に作成されたクロックパルスと、上記光センサの出力信号と、に応じて点灯信号または非点灯信号を出力するようになっていることを特徴とする請求項1に記載の蛍光灯異常検出装置。   The sampling means shapes the waveform of the AC power supply and outputs a lighting signal or a non-lighting signal according to the clock pulse generated every quarter cycle of the AC power supply and the output signal of the photosensor. The fluorescent lamp abnormality detecting device according to claim 1, wherein: 上記サンプリング手段は、上記光センサの出力信号およびクロックパルスの両方が存在するときに点灯信号を出力する一方で、上記光センサの出力信号およびクロックパルスのうちいずれか一方が存在するときに非点灯信号を出力するようになっていて、上記異常検出手段は、点灯信号および非点灯信号の入力状況に応じて上記蛍光灯の状態を判定する機能を有していることを特徴とする請求項2に記載の蛍光灯異常検出装置。   The sampling means outputs a lighting signal when both the output signal and clock pulse of the optical sensor are present, and is not lit when either one of the output signal and clock pulse of the optical sensor is present. A signal is output, and the abnormality detection means has a function of determining the state of the fluorescent lamp in accordance with the input status of a lighting signal and a non-lighting signal. Fluorescent lamp abnormality detection device described in 1. 上記異常検出手段は、点灯信号が入力された後に非点灯信号が複数連続して入力され、さらに点灯信号が入力された場合に上記蛍光灯がちらつき状態にあると判定するようになっていることを特徴とする請求項3に記載の蛍光灯異常検出装置。   The abnormality detection means is configured to determine that the fluorescent lamp is in a flickering state when a plurality of non-lighting signals are continuously input after a lighting signal is input and further a lighting signal is input. The fluorescent lamp abnormality detection device according to claim 3. 上記異常検出手段は、上記交流電源の隣り合う四半周期に点灯信号が連続して入力された場合に、上記光センサが上記蛍光灯外からの光を受光しているものと判断するようになっていることを特徴とする請求項4に記載の蛍光灯異常検出装置。   The abnormality detecting means determines that the light sensor is receiving light from outside the fluorescent lamp when a lighting signal is continuously input in adjacent quarter periods of the AC power supply. The fluorescent lamp abnormality detection device according to claim 4, wherein
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WO2001045472A1 (en) * 1999-12-17 2001-06-21 Hitachi, Ltd. Lamp state detector and lamp state monitor using lamp state detector
JP2002025787A (en) * 2000-07-10 2002-01-25 Meiji Natl Ind Co Ltd Detection device for lamp abnormality

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