JP4903868B2 - 電圧変動率を有するスイッチ・モード電源の予測ヘルス監視 - Google Patents
電圧変動率を有するスイッチ・モード電源の予測ヘルス監視 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4903868B2 JP4903868B2 JP2009520960A JP2009520960A JP4903868B2 JP 4903868 B2 JP4903868 B2 JP 4903868B2 JP 2009520960 A JP2009520960 A JP 2009520960A JP 2009520960 A JP2009520960 A JP 2009520960A JP 4903868 B2 JP4903868 B2 JP 4903868B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mode power
- power supply
- switch mode
- smps
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000036541 health Effects 0.000 title claims description 27
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims description 10
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 55
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 38
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 28
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 28
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 28
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims description 23
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 claims description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 7
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 5
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 2
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 claims 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 9
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000013102 re-test Methods 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0256—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults injecting test signals and analyzing monitored process response, e.g. injecting the test signal while interrupting the normal operation of the monitored system; superimposing the test signal onto a control signal during normal operation of the monitored system
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0259—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the response to fault detection
- G05B23/0283—Predictive maintenance, e.g. involving the monitoring of a system and, based on the monitoring results, taking decisions on the maintenance schedule of the monitored system; Estimating remaining useful life [RUL]
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/12—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is ac
- G05F1/40—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is ac using discharge tubes or semiconductor devices as final control devices
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/70—Smart grids as climate change mitigation technology in the energy generation sector
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y04—INFORMATION OR COMMUNICATION TECHNOLOGIES HAVING AN IMPACT ON OTHER TECHNOLOGY AREAS
- Y04S—SYSTEMS INTEGRATING TECHNOLOGIES RELATED TO POWER NETWORK OPERATION, COMMUNICATION OR INFORMATION TECHNOLOGIES FOR IMPROVING THE ELECTRICAL POWER GENERATION, TRANSMISSION, DISTRIBUTION, MANAGEMENT OR USAGE, i.e. SMART GRIDS
- Y04S10/00—Systems supporting electrical power generation, transmission or distribution
- Y04S10/22—Flexible AC transmission systems [FACTS] or power factor or reactive power compensating or correcting units
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Rectifiers (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Power Conversion In General (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
本発明の一部分は、NASA Ames Research Centerによって認められた契約NNA06AA22Cによる政府支援により行われた。政府は本発明のいくつかの権利を有する場合がある。
本願は、全内容がここに援用される、2006年7月17日に出願された米国仮特許出願番号第60/831,310号を有する「Health Monitoring in Switch-Mode Power Supplies with Voltage Regulation」と題する同時係属米国仮出願に優先権主張する。
102 電圧出力端子
104 電圧出力バス
106 第1の接続点
110 周波数検出器
112 注入制御部
114 周波数ゲート制御
118 予測出力
120 SMPSヘルス・モニタ
122A モード入力
122B 運転入力
124 フィルタ選択入力
126 デジタル論理回路
128 予測制御部
130 カウンタ
132 デジタル・フィルタ
134 電流注入装置
Claims (25)
- スイッチ・モード電源の少なくとも1つの帰還ループ内で使用される少なくとも1つの光アイソレータのCTRを示す予測ヘルス信号(prognostic health signal)を生成する方法であって、
負荷電流の変化に対する減衰リンギング応答を検出する段階と、
前記減衰リンギング応答の周波数と減衰時間の少なくとも一方を表すパルス列を生成する段階と、
前記パルス列の波をカウントする段階と、
前記波のカウントをデジタル方式でフィルタリングして少なくとも1つの出力予測信号を生成する段階とを含み、
前記出力予測信号は、前記減衰リンギング応答における正弦周波数の幾つかの検出可能サイクルを示し、それにより前記検出可能サイクルの数が、光アイソレータの残存有効寿命を決定するのに役立つ方法。 - SMPS負荷電流の急激な変化を注入する段階を更に含み、前記急激な電流変化は、既知の振幅と持続時間のものである、請求項1に記載の方法。
- SMPS負荷電流の急激な変化を注入して前記減衰リンギング応答を誘導する段階と、
前記減衰リンギング応答の検出をゲート制御する段階であって、前記減衰リンギング応答が始まる時間の近くで始まり、前記減衰リンギング周波数が検出可能な最大時間が経過する時間の近くで終了する前記ゲート制御する段階とを含み、
それにより、前記ゲート制御する段階は、パルス列のカウントを、SMPS負荷電流の前記注入された急激な変化によって誘導された前記減衰リンギング周波数応答に対応する期間に制限するためのものである、請求項1に記載の方法。 - 前記パルス列の波をカウントする段階は、更に、注入されたSMPS負荷電流の急激な変化に応じて前記パルス列の波をカウントする段階を含み、前記カウントは、標準のデジタル・カウンタ技術によって達成される、請求項1に記載の方法。
- 前記パルス列の波の個別レベルのカウント値を更に含み、
前記カウント値は、SMPS内の少なくとも1つの帰還ループのゲインの低下レベルと直接関連付けられ、
前記カウント値は、最大値から最小値までの較正SMPSモデルであり、
前記最大値は、劣化なしの検出レベルに対応し、
前記最小値は、最大劣化の検出レベルに対応し、
最大値と最小値の間の前記カウントは、複数の中間レベルの予測ヘルスに対応する、請求項1に記載の方法。 - 前記波カウントをデジタル方式でフィルタリングして少なくとも1つの出力予測信号を生成する段階は、更に、離散的カウント値をフィルタリングして複数の予測ヘルス信号を生成する段階を更に含み、
前記予測ヘルス信号は、離散的デジタル信号であり、
前記離散的予測ヘルス信号は、「劣化検出なし」から「劣化最大検出」の範囲を表し、
前記離散的予測ヘルス信号は、劣化なしから最大劣化の複数の中間レベルの劣化を含む、請求項1に記載の方法。 - 離散的予測ヘルス信号を生成するために使用される1組のカウント値を選択する段階を更に含む、請求項1に記載の方法。
- SMPSの動作を監視するために自己診断モードでカウントしデジタル方式でフィルタリングする段階を自動化する段階を更に含む、請求項1に記載の方法。
- 初期非ゼロ負荷電流を有するスイッチ・モード電源の残存有効寿命を評価する方法であって、
負荷電流の変化に対する減衰リンギング応答を検出する段階と、
減衰リンギング応答における複数のサイクルをカウントする段階と、
複数のサイクル・カウントを出力し、それによって複数のサイクル・カウントが、スイッチ・モード電源とその中の少なくとも1つの光アイソレータの破損を示す段階とを含む方法。 - 前記減衰リンギング応答をデジタル方式でフィルタリングする段階を更に含む、請求項9に記載の方法。
- 複数のサイクル・カウントをメモリに記録する段階を更に含み、複数の減衰リンギング応答からのカウントがメモリに記録される、請求項9に記載の方法。
- 複数のサイクル・カウントを少なくとも1つ前の複数のサイクル・カウントと比較して、それによりスイッチ・モード電源の破損レベルを計算する段階を更に含む、請求項11に記載の方法。
- 前記比較に基づいてスイッチ・モード電源の残存有効寿命を評価する段階を更に含む、請求項12に記載の方法。
- 前記初期非ゼロ負荷電流に追加電流を注入し、それにより減衰リンギング応答を誘導する段階を更に含む、請求項9に記載の方法。
- 前記追加電流は、実質的にパルス波である、請求項14に記載の方法。
- 初期非ゼロ負荷電流を有するスイッチ・モード電源の残存有効寿命を評価するシステムであって、
前記負荷電流の変化に対する減衰リンギング応答を検出する手段と、
前記減衰リンギング応答における複数のサイクルをカウントする手段と、
そして
前記複数のサイクル・カウントを出力し、それにより前記複数のサイクル・カウントが、前記スイッチ・モード電源と少なくとも1つの光アイソレータの破損を示す手段とを含むシステム。 - 前記複数のサイクル・カウントをメモリに記録し、複数の減衰リンギング応答からのカウントがメモリに記録される手段を更に含む、請求項16に記載のシステム。
- 前記複数のサイクル・カウントを少なくとも1つ前の複数のサイクル・カウントと比較して、それにより前記スイッチ・モード電源の破損レベルを計算する手段と、
前記比較に基づいて前記スイッチ・モード電源の残存有効寿命を評価する手段とを含む、請求項17に記載のシステム。 - 初期非ゼロ負荷電流に追加電流を注入し、それにより前記減衰リンギング応答を誘導する手段を更に含む、請求項16に記載のシステム。
- ある時間期間にわたって前記追加電流を繰り返し注入することによってその時間期間にわたる前記スイッチ・モード電源の劣化レベルの監視を自動化する手段を更に含む、請求項19に記載のシステム。
- 初期非ゼロ負荷電流を有するスイッチ・モード電源の残存有効寿命を評価する装置であって、
前記スイッチ・モード電源と電気通信し、活動化されたときに初期非ゼロ負荷電流を変更するように配置された電流注入装置と、
前記電流注入装置と通信し、前記電流注入装置の活動化を制御する予測制御部と、
前記スイッチ・モード電源から出力信号を受け取るように配置され、前記出力信号内の正弦波のサイクルをカウントすることができる周波数検出器と、
前記周波数検出器と通信し、前記カウントされたサイクルの結果を出力する出力装置とを含む装置。 - 前記カウントされたサイクルの結果が、前記スイッチ・モード電源の評価された残存有効寿命である、請求項21に記載の装置。
- 前記周波数検出器と前記出力装置と通信し、前記出力装置のために前記周波数検出器からの出力をフィルタリングするデジタル・フィルタを更に含む、請求項21に記載の装置。
- 前記予測制御部(prognostic control)と通信するクロックを更に含み、前記予測制御部は、前記電流注入装置を定期的に活動化して前記スイッチ・モード電源の負荷電流にパルス波を送る、請求項21に記載の装置。
- 前記予測制御部は、前記周波数検出器と通信し、前記予測制御部は、前記スイッチ・モード電源からの予想減衰リンギング応答と実質的に一致する離散的時間期間に前記周波数検出器を活動化する、請求項21に記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US83131006P | 2006-07-17 | 2006-07-17 | |
US60/831,310 | 2006-07-17 | ||
PCT/US2007/073706 WO2008014149A2 (en) | 2006-07-17 | 2007-07-17 | Prognostic health monitoring in switch-mode power supplies with voltage regulation |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009544273A JP2009544273A (ja) | 2009-12-10 |
JP4903868B2 true JP4903868B2 (ja) | 2012-03-28 |
Family
ID=38982214
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009520960A Expired - Fee Related JP4903868B2 (ja) | 2006-07-17 | 2007-07-17 | 電圧変動率を有するスイッチ・モード電源の予測ヘルス監視 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7619908B2 (ja) |
EP (1) | EP2041685A4 (ja) |
JP (1) | JP4903868B2 (ja) |
WO (1) | WO2008014149A2 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9013206B2 (en) * | 2012-05-31 | 2015-04-21 | Bosch Automotive Service Solutions Inc. | Plug-in electric vehicle supply equipment having a process and device for circuit testing |
EP2709041B1 (en) | 2012-09-17 | 2014-11-12 | Nxp B.V. | Method and System for Monitoring the State of Health of an Electronic Data Carrier |
WO2016171680A1 (en) * | 2015-04-22 | 2016-10-27 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Status signal combined onto power voltage |
WO2018023362A1 (zh) * | 2016-08-02 | 2018-02-08 | 邹霞 | 电源计数器故障检测系统 |
MX2019005537A (es) | 2016-11-16 | 2019-08-29 | Smartkable Llc | Metodo y aparato para la prediccion de fallos en circuitos de corriente directa. |
CN111104643B (zh) * | 2018-10-29 | 2023-03-21 | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 | 开关寿命评估方法及系统 |
CN112928941B (zh) * | 2021-02-07 | 2021-11-12 | 南通大学 | 一种全桥变换器功率开关管健康监测方法及系统 |
WO2023114927A1 (en) * | 2021-12-16 | 2023-06-22 | Analog Devices, Inc. | Circuit for calculating efficiency in switching regulators |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4245289A (en) * | 1978-10-25 | 1981-01-13 | Rockwell International Corporation | Power supply monitor |
US4531065A (en) * | 1981-07-29 | 1985-07-23 | Toko, Inc. | Current injection type logical operation circuit arrangement including a I2 L circuit device comprising I2 L elements |
US6011414A (en) * | 1998-02-03 | 2000-01-04 | Philips Electronics North America Corporation | Arrangement for reducing the effects of capacitive coupling in a control circuit for a switched-mode power supply |
US6281673B1 (en) * | 1999-03-09 | 2001-08-28 | Fluke Corporation | Low error, switchable measurement lead detect circuit |
JP3463748B2 (ja) * | 2000-10-12 | 2003-11-05 | 日本電気株式会社 | 直流安定化電源装置 |
JP2002357149A (ja) * | 2001-05-31 | 2002-12-13 | Aisan Ind Co Ltd | 電磁式燃料噴射弁の駆動回路 |
US6844704B2 (en) * | 2001-10-04 | 2005-01-18 | Ise Corp. | Voltage threshold device and energy storage cell failure detection system for power supply |
US20050123293A1 (en) * | 2002-07-23 | 2005-06-09 | Fujitsu Limited | Optical transmission method and system |
US6703893B1 (en) * | 2002-11-25 | 2004-03-09 | Intersil Americas Inc. | Method of setting bi-directional offset in a PWM controller using a single programming pin |
US7154254B2 (en) * | 2004-06-18 | 2006-12-26 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus and method for improving electromagnetic compatibility |
US7173446B2 (en) * | 2004-06-24 | 2007-02-06 | Intel Corporation | Mechanism to stabilize power delivered to a device under test |
JP2007244161A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-09-20 | Mels Corp | 電源装置及びその寿命診断装置 |
-
2007
- 2007-07-17 EP EP07813020A patent/EP2041685A4/en not_active Withdrawn
- 2007-07-17 JP JP2009520960A patent/JP4903868B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-07-17 WO PCT/US2007/073706 patent/WO2008014149A2/en active Application Filing
- 2007-07-17 US US11/778,835 patent/US7619908B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2008014149A3 (en) | 2008-08-07 |
WO2008014149A2 (en) | 2008-01-31 |
US7619908B2 (en) | 2009-11-17 |
EP2041685A4 (en) | 2011-09-14 |
JP2009544273A (ja) | 2009-12-10 |
EP2041685A2 (en) | 2009-04-01 |
US20080015795A1 (en) | 2008-01-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4903868B2 (ja) | 電圧変動率を有するスイッチ・モード電源の予測ヘルス監視 | |
US8875557B2 (en) | Circuit diagnostics from flame sensing AC component | |
EP2546989B1 (en) | Control device of electromagnetic inductive load | |
CN205139283U (zh) | 检测电路,相关有源放电电路以及集成电路 | |
CN109656301B (zh) | 实时斜率控制装置及实时控制稳压器的电压斜率的方法 | |
US11342146B2 (en) | System and method for energy monitoring | |
US7890283B2 (en) | Malfunction detection system and integrated circuit | |
CN105915148B (zh) | 电动机驱动系统、电动机的控制方法以及电力变换装置 | |
CN104426360B (zh) | 用于电荷泵的调节电路和调节方法 | |
US7280333B2 (en) | Method and device for short circuit or open load detection | |
US20140252954A1 (en) | Systems and methods of preventing strobing light output | |
CN104422562A (zh) | 电压力锅及其故障检测装置和故障检测方法 | |
US10951228B2 (en) | Semiconductor apparatus | |
CN113300577B (zh) | 针对开关电源进行轻负载电流检测的方法、电路结构及其功率分配电路系统 | |
JP2007538253A (ja) | 電力擾乱検出回路及び方法 | |
Judkins et al. | A prognostic sensor for voltage regulated switch-mode power supplies | |
JP2013039025A (ja) | 電源装置の寿命監視装置 | |
JP6391402B2 (ja) | Dcdcコンバータ故障診断装置及び故障診断方法 | |
KR20110007660A (ko) | 슬립 모드에서 암전류 제어 장치 및 제어 방법 | |
EP1875258B1 (en) | Test prepared integrated circuit with an internal power supply domain | |
US6489797B1 (en) | Test system including a test head with integral device for generating and measuring output having variable current or voltage characteristics | |
EP4390592A1 (en) | Predictive device maintenance with multi-device error logging | |
WO2010121631A1 (en) | Electromagnetic flowmeter and method of operation thereof | |
JP2022160170A (ja) | シミュレーション装置、シミュレーション方法、シミュレーションシステム及びプログラム | |
CN115343592A (zh) | 开关管寿命诊断方法、装置、设备、介质和程序产品 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110628 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110926 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111206 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120105 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150113 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |