JP4898555B2 - 光パルス試験装置 - Google Patents
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Description
図1は、この発明に係わる光パルス試験装置の第1の実施の形態を示す機能ブロック図である。この実施形態では(EDFAによる光増幅技術)に(直接検波方式)を組み合わせる形態を開示する。
図1において、半導体レーザ(DFB−LD)2−1〜2−Nは、それぞれ駆動回路1−1〜1−Nにより駆動されて互いに波長の異なる試験光を出力する。各試験光はN×1合波器6において波長多重され、生成された波長多重光(符号a)は音響光学スイッチ8に入射される。N×1合波器6には、数十MHz程度の線幅を持つ半導体レーザ(DFB−LD)2−1〜2−Nを合波できる、波長依存性のあるAWG回路を用いることができる。
このほか図1の装置は、試験光aを一定の周期でパルス化したり加算処理するためのタイミングを発生させるタイミング回路16、および、駆動回路1−1〜1−Nやタイミング回路16、EDFA9などを制御する主制御部17を備える。
この実施形態では、各試験光パルスの波長ごとの出力強度P(λ1)〜P(λN)を、各々、誘導ブリルアン散乱を発生させない強度に設定する。その条件を次式(1)に示す。
[第2の実施形態]
図4は、この発明に係わる光パルス試験装置の第2の実施の形態を示す機能ブロック図である。図4において図1と共通する部分には同じ符号を付して示し、ここでは異なる部分についてのみ説明する。この実施形態では(EDFAによる光増幅技術)に(コヒーレント検波方式)を組み合わせる形態を開示する。
このほか図4の装置はタイミング回路16および主制御部17を備える。図4の主制御部17は偏波制御器5−1〜5−Nの各偏波面回転量、光アッテネータ12の減衰量なども制御する。
Claims (4)
- 互いに出力波長の異なる複数の光源を有する光源部と、
前記複数の光源の出力光を波長多重して多重光を生成する多重部と、
前記多重光を外部変調して試験光パルスを生成するパルス化部と、
前記試験光パルスを増幅する光増幅部と、
前記複数の光源ごとにその出力光の強度を個別に制御するとともに、前記光増幅部の利得を制御する出力光強度制御部と、
前記増幅された試験光パルスを光線路に入射し、当該光線路を介して到来する前記試験光パルスの戻り光を取り出す光結合部と、
前記光結合部から取り出された前記戻り光を用いて前記光線路の損失分布を計測する計測部とを具備し、
前記出力光強度制御部は、
前記試験光パルスの前記光線路への前記出力波長成分ごとの入射強度が、各々、前記光線路において誘導ブリルアン散乱を生じない最大限の強度となるように、前記複数の光源ごとにその出力光の強度を個別に制御するとともに、
前記試験光パルスの前記光線路への入射強度が、前記光線路において誘導ブリルアン散乱を生じない最大限の強度となるように、前記光増幅部の利得を制御することを特徴とする光パルス試験装置。 - 前記計測部は、
前記戻り光を光/電変換したのち検波して強度信号を出力する直接検波受光器と、
前記強度信号から、前記光線路の伝播方向に対する前記戻り光の分布データを得る信号処理部とを備えることを特徴とする請求項1に記載の光パルス試験装置。 - さらに、前記複数の光源の出力光の線幅をそれぞれの光源ごとに狭線幅化する狭線幅化部と、
前記複数の光源の出力光の偏波面を互いに異ならせる偏波制御部とを具備し、
前記計測部は、
前記多重光を前記戻り光に合波して干渉光を生成する合波部と、
前記干渉光を光/電変換したのち検波して干渉成分の強度信号を出力するヘテロダイン受光器と、
前記強度信号から、前記光線路の伝播方向に対する前記戻り光の分布データを得る信号処理部とを備えることを特徴とする請求項1に記載の光パルス試験装置。 - さらに、前記分布データを表示する表示部を具備することを特徴とする請求項2および3のいずれか1に記載の光パルス試験装置。
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