JP4884891B2 - D / A converter - Google Patents
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本発明は、デジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器に関し、特に微細な工程で製造する集積回路内に構成する場合に適したＤ／Ａ変換器に関する。 The present invention relates to a D / A converter that converts a digital signal into an analog signal, and more particularly to a D / A converter suitable for use in an integrated circuit manufactured by a fine process.
集積回路内に構成するＤ／Ａ変換器の種類で一般的に利用されているものとして、電圧型Ｄ／Ａ変換器、電荷型Ｄ／Ａ変換器、電流型Ｄ／Ａ変換器等がある。
電圧型Ｄ／Ａ変換器には、２つの基準電圧間に分圧用の多数の抵抗を直列に接続したものを用意し、入力のデジタル信号に対応したノードを選択し、そのノードでの分圧電圧を出力するものなどがある。
Commonly used types of D / A converters configured in an integrated circuit include a voltage type D / A converter, a charge type D / A converter, a current type D / A converter, and the like. .
A voltage type D / A converter is prepared by connecting a number of resistors for voltage division in series between two reference voltages, selecting a node corresponding to the input digital signal, and dividing the voltage at that node Some output voltage.
電荷型Ｄ／Ａ変換器には、分解能に応じた数だけのコンデンサを用意し、入力のデジタル信号に対応した数のコンデンサを選択し、それらを加算した容量値で基準電圧を分圧して出力するものなどがある。
電流型Ｄ／Ａ変換器には、分解能に応じた数だけの定電流源を用意し、入力のデジタル信号に対応した数の定電流源を選択し、それらを加算して出力するか、もしくはその加算電流を負荷抵抗に流して電圧に変換して出力するものなどがある。
For charge-type D / A converters, prepare as many capacitors as there are resolutions, select the number of capacitors corresponding to the input digital signal, and divide and output the reference voltage by the added capacitance value. There are things to do.
For the current type D / A converter, prepare as many constant current sources as the number corresponding to the resolution, select the number of constant current sources corresponding to the input digital signal, add them and output, or There is a type in which the added current is passed through a load resistor and converted into a voltage for output.
特許文献１を参照して説明する。
特許文献１は電流型のＤ／Ａ変換器の一例である。例えば分解能が１０ビットの電流型Ｄ／Ａ変換器を構成する場合には、２10（＝１０２４）段階の電流値を表現せねばならないので、通常、１０２４個の定電流源を必要とする。
一方で特許文献１では、重み４の定電流源を６３個を上位定電流源として備え、さらに、重み２、重み１、重み１／２、重み１／４の定電流源をそれぞれ１個ずつ、下位定電流源として備え、合計６７個の定電流源を備えていることになる。重み４の定電流源については、マトリクス状に配置されている。その他の重みの定電流源についてはそれぞれ１個ずつしかないので、マトリクス状に配置されていない（特許文献１の図１参照）。
This will be described with reference to
On the other hand, in
ここで、各定電流源はＭＯＳＦＥＴ（金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ）で構成されている（特許文献１の図２参照）。各定電流源は電源ラインＶＣＣに接続されており、デコーダによって選択された定電流源は、電源ラインＶＣＣから供給された電流を出力する。重み１の定電流源の出力電流値をＩｏ とすると、重み４の定電流源の出力電流値は４Ｉｏであり 、重み２の定電流源の出力電流値は２Ｉｏであり 、重み１／２の定電流源の出力電流値はＩｏ ／２であり、重み１／４の定電流源の出力電流値はＩｏ ／４である。
Here, each constant current source is composed of a MOSFET (metal oxide semiconductor field effect transistor) (see FIG. 2 of Patent Document 1). Each constant current source is connected to the power supply line VCC, and the constant current source selected by the decoder outputs a current supplied from the power supply line VCC. If the output current value of the constant current source with
６３個の上位定電流源は、１０ビットのデジタル入力信号のうち、上位６ビットのデータ値に対応した数だけ選択される。４個の下位定電流源は、１０ビットのデジタル入力信号のうち、下位４ビットの各々に１個ずつ対応しており、対応ビットの理論値（“０”ｏｒ“１”）に応じて個別に選択される。例えば、入力デジタル信号が“１１０１００１０１０”であるとすれば、上位定電流源を５２個と、下位定電流源のうち重み２のものと重み１／２のものを選択することとなる。このように重みが異なる定電流源を併用することにより、少ない数の定電流源で、Ｄ／Ａ変換器の分解能を高める工夫をしている（例えば、特許文献１参照）。
ところで、特許文献１のような構成のＤ／Ａ変換器では、各々の定電流源が決められた電流を精度良く出力することが大前提であるが、実際にはこれを妨げるさまざまな要因が存在する。
例えば電源ラインの配線抵抗による電圧降下や、環境温度の差などの影響を受け、各定電流源が出力する電流にばらつきが生じてしまう。このばらつきを防ぐためには、回路のレイアウトの際に細心の注意を払うなど、多大な労力を要する。
By the way, in the D / A converter having the configuration as in
For example, the current output from each constant current source varies depending on the voltage drop due to the wiring resistance of the power supply line and the difference in environmental temperature. In order to prevent this variation, a great deal of labor is required, such as careful attention to circuit layout.
また、一般的に、集積回路の製造技術の進歩により微細化が進めば、ＭＯＳＦＥＴの高集積化や低消費電力化が図れる反面、個々のＭＯＳＦＥＴの特性のばらつきが顕著になる。このばらつきを防ぐためには、個々のＭＯＳＦＥＴのサイズを大きくしてやらねばならず、すると消費電流も増加してしまい、これでは微細化の恩恵を受けているとは言えない。 In general, if the miniaturization is advanced due to the progress of the manufacturing technology of the integrated circuit, the MOSFET can be highly integrated and the power consumption can be reduced, but the characteristic variation of each MOSFET becomes remarkable. In order to prevent this variation, it is necessary to increase the size of each MOSFET, and the current consumption also increases, which cannot be said to benefit from miniaturization.
そこで本発明の目的は、ＭＯＳＦＥＴの特性にばらつきがあっても問題がないうえに、微細な工程で製造する集積回路内に構成するのに適したＤ／Ａ変換器を提供することにある。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a D / A converter suitable for being configured in an integrated circuit manufactured in a fine process, without causing any problems even if the characteristics of MOSFETs vary.
上記課題を解決するために、請求項１記載の発明は、１つのＭＯＳＦＥＴ、あるいは２つ以上が並列に接続されたＭＯＳＦＥＴ群を２つ以上有し、ある１つのＭＯＳＦＥＴ群のソース電極またはドレイン電極のうち、一方の電極は電源ラインあるいはグラウンドラインあるいは別の１つ以上のＭＯＳＦＥＴ群のソース電極またはドレイン電極のうちのどれかに接続され、且つ他方の電極は別の１つ以上のＭＯＳＦＥＴ群のソース電極またはドレイン電極に接続されており、ＭＯＳＦＥＴ群同士が接続されたノードのうち１つ以上をアナログ出力端子とし、前記ＭＯＳＦＥＴ群を構成する全ＭＯＳＦＥＴのそれぞれの基板電極には独立して電圧を印加することが可能であり、前記ＭＯＳＦＥＴ群を構成する全ＭＯＳＦＥＴのそれぞれのゲート電極には独立して電圧を印加することが可能であり、前記それぞれのゲート電極にデジタル信号を印加し、全ＭＯＳＦＥＴのうちＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせによってアナログ出力端子からの出力電圧を変化させるＤ／Ａ変換器において、全ＭＯＳＦＥＴのそれぞれの基板電極には電源電位およびグラウンド電位とは異なる電圧が印加され、前記ＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせのうち、任意の組み合わせＡのときに得られる出力電圧をＶａとし、前記組合せＡとは別の組み合わせＢのときに得られる出力電圧をＶｂとし、ＶａとＶｂとの差をΔＶ（＝Ｖｂ−Ｖａ）とし、ただし組み合わせＢはΔＶがゼロ以上の最小の値となるように選ぶものとし、全ての組み合わせＡにおけるΔＶの中で最大のものをΔＶｍａｘとした場合、ΔＶｍａｘを小さくするように、前記基板電極に印加する電圧を調整するようにし、Ｖｍａｘの目標値をΔＶｔａｒｇｅｔとした場合、前記ＭＯＳＦＥＴの数がΔＶｍａｘ≦ΔＶｔａｒｇｅｔを満足する数であることを特徴とする。 In order to solve the above problems, a first aspect of the present invention, one MOSFET or two or more of the MOSFET connected group in parallel have two or more, the source electrode or the drain electrode of a single MOSFET groups, One of the electrodes is connected to a power supply line or a ground line or one of the source electrode or drain electrode of another one or more MOSFETs, and the other electrode is connected to one or more other MOSFETs. One or more nodes connected to the source electrode or the drain electrode are connected as analog output terminals, and a voltage is independently applied to each substrate electrode of all MOSFETs constituting the MOSFET group. Can be applied, and each gate power of all MOSFETs constituting the MOSFET group can be applied. The it is possible to apply a voltage independent of the digital signal is applied to the gate electrode of the respective Ru changing the output voltage from the analog output terminal by a combination of MOSFET to the ON state of all MOSFET In the D / A converter , a voltage different from the power supply potential and the ground potential is applied to each substrate electrode of all the MOSFETs, and an output obtained at any combination A among the MOSFET combinations to be turned on. The voltage is Va, the output voltage obtained when the combination B is different from the combination A is Vb, and the difference between Va and Vb is ΔV (= Vb−Va). However, in the combination B, ΔV is zero or more. If the minimum value is selected and ΔVmax is the maximum of ΔV in all combinations A The voltage applied to the substrate electrode is adjusted so as to reduce ΔVmax, and when the target value of Vmax is ΔVtarget, the number of MOSFETs satisfies ΔVmax ≦ ΔVtarget. .
請求項１記載の発明によれば、１つのＭＯＳＦＥＴ、あるいは２つ以上が並列に接続されたＭＯＳＦＥＴ群を２つ以上有し、ある１つのＭＯＳＦＥＴ群のソース電極またはドレイン電極のうち、一方の電極は電源ラインあるいはグラウンドラインあるいは別の１つ以上のＭＯＳＦＥＴ群のソース電極またはドレイン電極のうちのどれかに接続され、且つ他方の電極は別の１つ以上のＭＯＳＦＥＴ群のソース電極またはドレイン電極に接続されており、ＭＯＳＦＥＴ群同士が接続されたノードのうち１つ以上をアナログ出力端子とし、ＭＯＳＦＥＴ群を構成する全ＭＯＳＦＥＴのそれぞれの基板電極には独立して電圧を印加することが可能であり、ＭＯＳＦＥＴ群を構成する全ＭＯＳＦＥＴのそれぞれのゲート電極には独立して電圧を印加することが可能であり、それぞれのゲート電極にデジタル信号を印加し、全ＭＯＳＦＥＴのうちＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせによってアナログ出力端子からの出力電圧を変化させることを特徴としたことにより、非常に少ないＭＯＳＦＥＴ数、非常に簡単な構成でＤ／Ａ変換器を実現することが出来る。また、簡単な構成であるため、高集積化に際しては非常に有利である。
また、請求項１記載の発明によれば、全ＭＯＳＦＥＴのそれぞれの基板電極には電源電位およびグラウンド電位とは異なる電圧が印加されていることにより、請求項１から５のいずれか１項のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、印加する基板電圧により、Ｄ／Ａ出力特性を任意に調整することが出来る。
また、請求項１記載の発明によれば、ＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせのうち、任意の組み合わせＡのときに得られる出力電圧をＶａとし、組み合わせＡとは別の組み合わせＢのときに得られる出力電圧をＶｂとし、ＶａとＶｂとの差をΔＶ（＝Ｖｂ−Ｖａ）とし、ただし組み合わせＢはΔＶがゼロ以上の最小の値となるように選ぶものとし、全ての組み合わせＡにおけるΔＶの中で最大のものをΔＶｍａｘとした場合、ΔＶｍａｘを小さくするように、基板電極に印加する電圧を調整するようにしたことにより、請求項６記載のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、印加する基板電圧を調整することにより、出力電圧の刻み幅を細かくして精度を向上させることが出来る。
また、請求項１記載の発明によれば、優れた効果を持つうえに、少ないＭＯＳＦＥＴ数で達成することが出来る。
According to the first aspect of the invention, one MOSFET, or two or more of the MOSFET group connected in parallel have two or more, of the source electrode or the drain electrode of a single MOSFET groups, one electrode Is connected to a power supply line or a ground line or one of the source electrode or drain electrode of another one or more MOSFETs, and the other electrode is connected to the source electrode or drain electrode of another one or more MOSFETs. It is possible to connect one or more of the nodes where the MOSFET groups are connected to each other as an analog output terminal, and to independently apply a voltage to each substrate electrode of all MOSFETs constituting the MOSFET group. A voltage is independently applied to each gate electrode of all MOSFETs constituting the MOSFET group. It is possible to apply a digital signal to each gate electrode, and the output voltage from the analog output terminal is changed by a combination of MOSFETs that are turned on among all MOSFETs. A D / A converter can be realized with the number of MOSFETs and a very simple configuration. In addition, since the configuration is simple, it is very advantageous for high integration.
According to the first aspect of the present invention, since a voltage different from the power supply potential and the ground potential is applied to each substrate electrode of all MOSFETs, the D of any one of the first to fifth aspects In addition to having the same excellent effect as the / A converter, the D / A output characteristics can be arbitrarily adjusted by the applied substrate voltage.
Further, according to the first aspect of the present invention, the output voltage obtained in any combination A among the combinations of MOSFETs to be turned on is Va, and obtained in the combination B different from the combination A. The output voltage is Vb, the difference between Va and Vb is ΔV (= Vb−Va), and the combination B is selected so that ΔV is the minimum value of zero or more. When the maximum value is ΔVmax, the voltage applied to the substrate electrode is adjusted so as to reduce ΔVmax, so that the same effect as the D / A converter according to
In addition, according to the first aspect of the invention, it is possible to achieve an excellent effect and a small number of MOSFETs.
請求項２記載の発明は、請求項１に記載のＤ／Ａ変換器であって、前記ＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせの中から、所望の出力電圧が得られる組み合わせのみ選択して利用することを特徴とする。
The invention according to
請求項２記載の発明によれば、ＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせの中から、所望の出力電圧が得られる組み合わせのみ選択して利用することにより、請求項１記載のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器を使用するシステムからの要求に合わせて、Ｄ／Ａ出力特性を柔軟に対応させることが出来る。また、デバイス製造時のばらつきや、使用時の電源電圧や環境温度の影響などによってＭＯＳＦＥＴの特性がばらついたとしても、その状況下において望ましい出力が得られるものを選択して使用するので、優れた性能のＤ／Ａ変換を行うことが出来る。さらには、一般的に、集積回路の製造技術の進歩により微細化が進めば、ＭＯＳＦＥＴの高集積化や低消費電力化が図れる反面、個々の特性のばらつきが顕著になるが、請求項２記載のＤ／Ａ変換器は元よりばらつくことを見込んでいるため何ら問題なく、微細化の恩恵を大いに享受することが出来る。
According to the second aspect of the present invention, from the combinations of the MOSFET to the ON state, by utilizing only select combination desired output voltage is obtained, and a Symbol mounting of the D / A converter according to claim In addition to having the same excellent effect, the D / A output characteristics can be flexibly adapted to meet the demands from the system using the D / A converter. In addition, even if the MOSFET characteristics vary due to variations in device manufacturing, power supply voltage or environmental temperature during use, etc. D / A conversion of performance can be performed. Further, generally, if miniaturization advances advances in manufacturing technology of integrated circuits, although the highly integrated, low power consumption of the MOSFET can be achieved, although variations in the individual characteristics becomes significant,
請求項３記載の発明は、請求項１または２に記載のＤ／Ａ変換器であって、ＭＯＳＦＥＴのサイズが異なっていることを特徴とする。 A third aspect of the present invention is the D / A converter according to the first or second aspect , wherein the MOSFETs have different sizes.
請求項３記載の発明によれば、ＭＯＳＦＥＴのサイズが異なっていることにより、請求項１または２記載のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器を構成するＭＯＳＦＥＴのサイズを違えるだけで、出力電圧の種類を多くすることが出来る。
According to the invention described in
請求項４記載の発明は、請求項１から３のいずれか１項に記載の発明であって、前記ＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせのうち、任意の組み合わせＡのときに得られる出力電圧をＶａとし、該組み合わせＡとは別の組み合わせＢのときに得られる出力電圧をＶｂとし、前記出力電圧Ｖａと前記出力電圧Ｖｂとの差をΔＶ（＝Ｖｂ−Ｖａ）とし、ただし組み合わせＢはΔＶがゼロ以上の最小の値となるように選ぶものとし、全ての組み合わせＡにおけるΔＶの中で最大のものをΔＶｍａｘとし、該ΔＶｍａｘの目標値をΔＶｔａｒｇｅｔとした場合、前記ＭＯＳＦＥＴの数がΔＶｍａｘ≦ΔＶｔａｒｇｅｔを満足する数であることを特徴とする。
The invention according to
請求項４記載の発明によれば、ＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせのうち、任意の組み合わせＡのときに得られる出力電圧をＶａとし、組み合わせＡとは別の組み合わせＢのときに得られる出力電圧をＶｂとし、出力電圧Ｖａと出力電圧Ｖｂとの差をΔＶ（＝Ｖｂ−Ｖａ）とし、ただし組み合わせＢはΔＶがゼロ以上の最小の値となるように選ぶものとし、全ての組み合わせＡにおけるΔＶの中で最大のものをΔＶｍａｘとし、ΔＶｍａｘの目標値をΔＶｔａｒｇｅｔとした場合、ＭＯＳＦＥＴの数がΔＶｍａｘ≦ΔＶｔａｒｇｅｔを満足する数であることにより、請求項１から３のいずれか１項記載のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器を構成するＭＯＳＦＥＴの数を増やすだけで、出力電圧の刻み幅を細かくして精度を向上させることが出来る。
According to the invention described in
請求項５記載の発明は、請求項４に記載のＤ／Ａ変換器であって、環境温度の変動を補償するために前記基板電極に印加する電圧を調整するようにしたことを特徴とする。 A fifth aspect of the present invention is the D / A converter according to the fourth aspect , wherein the voltage applied to the substrate electrode is adjusted in order to compensate for environmental temperature fluctuations. .
請求項５記載の発明によれば、環境温度の変動を補償するために前記基板電極に印加する電圧を調整するようにしたことにより、請求項４記載のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器使用中に環境温度が変動しＤ／Ａ出力特性が変わってしまっても、印加する基板電圧を調整することにより、それを補償することが出来る。 According to the fifth aspect of the present invention, the voltage applied to the substrate electrode is adjusted in order to compensate for fluctuations in the environmental temperature, so that the same superiority as the D / A converter according to the fourth aspect is achieved. In addition to being effective, even if the environmental temperature fluctuates and the D / A output characteristics change while using the D / A converter, it can be compensated by adjusting the substrate voltage to be applied.
請求項６記載の発明は、請求項４に記載のＤ／Ａ変換器であって、電源電圧の変動を補償するために前記基板電極に印加する電圧を調整するようにしたことを特徴とする。 A sixth aspect of the invention is the D / A converter according to the fourth aspect of the invention, wherein the voltage applied to the substrate electrode is adjusted in order to compensate for fluctuations in the power supply voltage. .
請求項６記載の発明によれば、電源電圧の変動を補償するために基板電極に印加する電圧を調整するようにしたことにより、請求項４記載のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器使用中に電源電圧が変動しＤ／Ａ出力特性が変わってしまっても、印加する基板電圧を調整することにより、それを補償することが出来る。 According to the sixth aspect of the present invention, the voltage applied to the substrate electrode is adjusted in order to compensate for fluctuations in the power supply voltage, so that the same excellent effect as that of the D / A converter of the fourth aspect is achieved. In addition, even if the power supply voltage fluctuates and the D / A output characteristics change while using the D / A converter, it can be compensated by adjusting the substrate voltage to be applied.
本発明によれば、非常に少ないＭＯＳＦＥＴ数、非常に簡単な構成でＤ／Ａ変換器を実現することが出来る。また、簡単な構成であるため、高集積化に際しては非常に有利である。すなわち、ＭＯＳＦＥＴの特性にばらつきがあっても問題がないうえに、微細な工程で製造する集積回路内に構成するのに適したＤ／Ａ変換器を提供することができる。 According to the present invention, a D / A converter can be realized with a very small number of MOSFETs and a very simple configuration. In addition, since the configuration is simple, it is very advantageous for high integration. That is, there is no problem even if the characteristics of the MOSFETs vary, and a D / A converter suitable for being configured in an integrated circuit manufactured by a fine process can be provided.
以下、この発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
まず、図１（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、図２を用いて本発明に係るＡ／Ｄ変換器の一実施の形態の構成と動作について説明する。
図１（ａ）に、本発明に係るＤ／Ａ変換器の構成の一実施の形態を示し、図１（ｂ）、（ｃ）に他の実施の形態を示す。
ｉ個（ｉは自然数）のＰＭＯＳが並列に接続されたＭＯＳＦＥＴ群１０１（以下、ＰＭＯＳ群）と、ｊ個（ｊは自然数）のＮＭＯＳが並列に接続されたＭＯＳＦＥＴ群１０２（以下、ＮＭＯＳ群）がある。なお、各ＭＯＳＦＥＴのサイズは問わない。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
First, the configuration and operation of an embodiment of an A / D converter according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 (a), (b), (c), and FIG.
In FIG. 1 (a), an embodiment of a configuration of a D / A converter according to the present invention shows, FIG. 1 (b), the showing another embodiment in (c).
MOSFET group 101 (hereinafter, PMOS group) in which i (i is a natural number) PMOSs are connected in parallel, and MOSFET group 102 (hereinafter, NMOS group) in which j (j is a natural number) NMOSs are connected in parallel There is. The size of each MOSFET is not limited.
図１（ａ）に示すＰＭＯＳ群のソース電極は電源ラインＶＤＤ１０３に接続され、ＮＭＯＳ群のソース電極は接地されている。ＰＭＯＳ群およびＮＭＯＳ群のドレイン電極はお互いに接続し、そのノードをアナログ出力端子１０４としている。また各ＭＯＳＦＥＴのゲート電極１０５Ｐ−１〜１０５Ｐ−ｉ、１０５Ｎ−１〜１０５Ｎ−ｊおよび基板電極１０６Ｐ−１〜１０６Ｐ−ｉ、１０６Ｎ−１〜１０６Ｎ−ｊは独立しており、それぞれ別々の電圧を印加可能となっている。以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の構成の一例である。
The source electrode of the PMOS group shown in FIG. 1A is connected to the power supply line VDD103, and the source electrode of the NMOS group is grounded. The drain electrodes of the PMOS group and NMOS group are connected to each other, and the node serves as the
またその他の実施形態として、図１（ｂ）、（ｃ）を始め多くの構成が考えられることは明らかである。
すなわち、図１（ｂ）に示すＤ／Ａ変換器は、３個の並列ＰＭＯＳ（Ｐ１〜Ｐ３）と、３個の並列ＮＭＯＳ（Ｎ１〜Ｎ３）とを直列接続したＤ／Ａ変換器であり、図１（ｃ）に示すＤ／Ａ変換器は、３個の並列ＰＭＯＳ（Ｐ１〜Ｐ３）と、３個の並列ＮＭＯＳ（Ｎ１〜Ｎ３）と、３個の並列ＮＭＯＳ（Ｎ４〜Ｎ６）とを直列接続したＤ／Ａ変換器である。
As another embodiment, it is obvious that many configurations such as FIGS. 1B and 1C can be considered.
That is, the D / A converter shown in FIG. 1B is a D / A converter in which three parallel PMOSs (P1 to P3) and three parallel NMOSs (N1 to N3) are connected in series. The D / A converter shown in FIG. 1C includes three parallel PMOSs (P1 to P3), three parallel NMOSs (N1 to N3), and three parallel NMOSs (N4 to N6). Are D / A converters connected in series.
以下では、上述の図１（ａ）の構成のＤ／Ａ変換器の動作について述べるが、その他の構成のものでも同様に説明出来ることは明らかである。
図１（ａ）のＤ／Ａ変換器の各ＭＯＳＦＥＴのゲート電極１０５Ｐ−１〜１０５Ｐ−ｉ、１０５Ｎ−１〜１０５Ｎ−ｊに対して個別にデジタル信号を入力することにより、各ＭＯＳＦＥＴを個別にＯＮ／ＯＦＦさせることが可能である。ＰＭＯＳ群中およびＮＭＯＳ群中のＭＯＳＦＥＴすべてがＯＦＦのとき、出力は不定となるのでこれは禁止する。
In the following, the operation of the D / A converter having the configuration shown in FIG. 1A will be described. However, it is obvious that other configurations can be similarly described.
By individually inputting digital signals to the
ＰＭＯＳ群中のＭＯＳＦＥＴのうち１つ以上がＯＮであり、且つＮＭＯＳ群中のＭＯＳＦＥＴすべてがＯＦＦであれば、出力は電源電圧と等しくなる。ＰＭＯＳ群中のＭＯＳＦＥＴすべてがＯＦＦであり、且つＮＭＯＳ群中のＭＯＳＦＥＴのうち１つ以上がＯＮであれば、出力はゼロとなる。ＰＭＯＳ群中のＭＯＳＦＥＴのうち１つ以上がＯＮであり、且つＮＭＯＳ群中のＭＯＳＦＥＴのうち１つ以上がＯＮのときの出力については図２で説明する。 If one or more of the MOSFETs in the PMOS group are ON and all the MOSFETs in the NMOS group are OFF, the output is equal to the power supply voltage. If all the MOSFETs in the PMOS group are OFF and one or more of the MOSFETs in the NMOS group are ON, the output is zero. The output when at least one of the MOSFETs in the PMOS group is ON and at least one of the MOSFETs in the NMOS group is ON will be described with reference to FIG.
図２は、本発明に係るＤ／Ａ変換器の等価回路の一例である。すなわち、ＰＭＯＳ群のＭＯＳＦＥＴは飽和領域で動作しており、ＮＭＯＳ群のＭＯＳＦＥＴは線形領域で動作している場合の等価回路である。
図２に示す回路は例えば、ＰＭＯＳ群中のＭＯＳＦＥＴのうち１つだけがＯＮになり、ＮＭＯＳ群中のＭＯＳＦＥＴがすべてＯＮとなった場合などに起こりうる状態である。電流Ｉ２０５は飽和領域のＭＯＳＦＥＴが流すドレイン電流を示す。この飽和時の出力電圧は、以下の数式（１）
Ｖｏｕｔ＝ＲＮ／（ＲＰ＋ＲＮ）×ＶＤＤ＋ＲＰ×ＲＮ／（ＲＰ＋ＲＮ）×Ｉ
…（１）
で表される。
FIG. 2 is an example of an equivalent circuit of the D / A converter according to the present invention. That is, the PMOS group MOSFET operates in a saturation region, and the NMOS group MOSFET operates in a linear region.
The circuit shown in FIG. 2 is a state that can occur, for example, when only one of the MOSFETs in the PMOS group is turned on and all the MOSFETs in the NMOS group are turned on. A current I205 indicates a drain current that the MOSFET in the saturation region flows. The output voltage at the time of saturation is expressed by the following formula (1).
Vout = RN / (RP + RN) × VDD + RP × RN / (RP + RN) × I
... (1)
It is represented by
図２の抵抗や電流の値は、ＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの数によって変化させることが可能である。すなわち、デジタル信号によりＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせを変えることで、アナログ出力電圧を変化させることが可能ということになる。
以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の説明である。
The resistance and current values in FIG. 2 can be changed depending on the number of MOSFETs to be turned on. That is, the analog output voltage can be changed by changing the combination of MOSFETs that are turned on by a digital signal.
The above is the description of the D / A converter according to the present invention .
次に、図３および図４を用いて本発明に係るＤ／Ａ変換器について説明する。
図３は、図１（ａ）に示したＤ／Ａ変換器を３個のＰＭＯＳ（Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３）と、３個のＮＭＯＳ（Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３）との計６個のＭＯＳＦＥＴで構成したものである。ここではＰＭＯＳの基板電極３０２Ｐ−１〜３０２Ｐ−３はすべて電源ＶＤＤ３０３に接続し、ＮＭＯＳの基板電極３０２Ｎ−１〜３０２Ｎ−３はすべて接地してあるものとする。
６個のＭＯＳＦＥＴのゲート電極３０１Ｐ−１〜３０１Ｐ−３、３０１Ｎ−１〜３０１Ｎ−３にはそれぞれ別々のデジタル信号が入力され、個別にＯＮ／ＯＦＦすることが出来る。この構成の場合でのＤ／Ａ変換器の設定の数（ＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせの数）は、出力電圧が電源電圧、ゼロ、もしくは不定になってしまう組み合わせを除いて、４９通り存在する。
Next, the D / A converter according to the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 3 shows the D / A converter shown in FIG. 1A with six MOSFETs including three PMOSs (P1, P2, P3) and three NMOSs (N1, N2, N3). It is composed. Here, it is assumed that the
Separate digital signals are respectively input to the
図４（ａ）、（ｂ）は本発明に係るＤ／Ａ変換器の一実施の形態における設定と出力電圧との関係を示す図である。
図４（ａ）のグラフは、図３の構成のＤ／Ａ変換器における、４９通りすべての設定とそのときの出力電圧の関係を示している。横軸はＯＮ状態になっているＭＯＳＦＥＴを、縦軸は出力電圧をそれぞれ示しており、出力電圧が昇順となるように並べてある。本Ｄ／Ａ変換器を使用するシステムが要求するＤ／Ａ変換特性が得られるよう、これら４９通りの設定の中からいくつかの設定のみを選択して利用することとする。
4A and 4B are diagrams showing the relationship between the setting and the output voltage in an embodiment of the D / A converter according to the present invention.
The graph of FIG. 4A shows the relationship between all 49 settings and the output voltage at that time in the D / A converter configured as shown in FIG. The horizontal axis indicates the MOSFETs that are in the ON state, and the vertical axis indicates the output voltage. The output voltages are arranged in ascending order. In order to obtain the D / A conversion characteristics required by the system using this D / A converter, only some of these 49 settings are selected and used.
図４（ｂ）のグラフは、図４（ａ）のグラフから「出力電圧のダイナミックレンジを最も広くする」・「８段階の設定」という要求に合わせて選択した例を示している。
以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の説明である。
The graph of FIG. 4B shows an example selected from the graph of FIG. 4A according to the requirements of “maximizing the dynamic range of the output voltage” and “setting of 8 levels”.
The above is the description of the D / A converter according to the present invention .
次に、図３および図５を用いて本発明に係るＡ／Ｄ変換器の一例を説明する。
ＭＯＳＦＥＴの電気的特性は、そのサイズによって調整することが出来る。ここでサイズとは、ＭＯＳＦＥＴのゲート電極のチャネル長Ｌおよびチャネル幅Ｗのことを指す。
図３の６個のＭＯＳＦＥＴのゲート電極のチャネル長は、ＰＭＯＳもＮＭＯＳも全てＬで等しいとする。図３の６個のＭＯＳＦＥＴのゲート電極のチャネル幅を、それぞれＷＰ１，ＷＰ２，ＷＰ３，ＷＮ１，ＷＮ２，ＷＮ３とする。
Next, an example of the A / D converter according to the present invention will be described with reference to FIGS.
The electrical characteristics of the MOSFET can be adjusted by its size. Here, the size refers to the channel length L and the channel width W of the gate electrode of the MOSFET.
It is assumed that the channel lengths of the gate electrodes of the six MOSFETs in FIG. The channel widths of the gate electrodes of the six MOSFETs in FIG. 3 are WP1, WP2, WP3, WN1, WN2, and WN3, respectively.
図５（ａ）、（ｂ）は、本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の実施の形態における設定と出力電圧との関係を示す図である。
図５（ａ）のグラフは、図３の構成のＤ／Ａ変換器で、ＷＰ１＝ＷＰ２＝ＷＰ３かつＷＮ１＝ＷＮ２＝ＷＮ３の場合における、Ｄ／Ａ変換器の設定とそのときの出力電圧の関係を示している。
図５（ｂ）のグラフは、図３の構成のＤ／Ａ変換器で、ＷＰ１＜ＷＰ２＜ＷＰ３かつＷＮ１＜ＷＮ２＜ＷＮ３の場合における、Ｄ／Ａ変換器の設定とそのときの出力電圧の関係を示している。
これらのグラフを比較すると、ＭＯＳＦＥＴのサイズを揃えておけば、同じ出力電圧が得られる設定を多くすることが出来、一方でＭＯＳＦＥＴのサイズを違えておけば、出力電圧の種類を多くすることが出来ると分かる。
以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の説明である。
FIGS. 5A and 5B are diagrams showing the relationship between the setting and the output voltage in another embodiment of the D / A converter according to the present invention.
The graph of FIG. 5A is a D / A converter having the configuration of FIG. 3, and shows the setting of the D / A converter and the output voltage at that time when WP1 = WP2 = WP3 and WN1 = WN2 = WN3. Showing the relationship.
The graph of FIG. 5B is a D / A converter having the configuration of FIG. 3, and shows the setting of the D / A converter and the output voltage at that time when WP1 <WP2 <WP3 and WN1 <WN2 <WN3. Showing the relationship.
Comparing these graphs, if the MOSFET sizes are the same, it is possible to increase the setting to obtain the same output voltage. On the other hand, if the MOSFET sizes are different, the types of output voltages can be increased. I understand that I can do it.
The above is the description of the D / A converter according to the present invention .
次に、図６（ａ）、（ｂ）、（ｃ）を用いて本発明に係るＡ／Ｄ変換器の他の一例を説明する。
図６（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は、本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の実施の形態における設定と出力電圧との関係を示す図である。
図６（ａ）のグラフは、図１（ａ）記載のＤ／Ａ変換器を３個のＰＭＯＳと３個のＮＭＯＳの計６個のＭＯＳＦＥＴとで構成した場合の、Ｄ／Ａ変換器の設定とそのときの出力電圧の関係を示している。この場合４９通りの設定が存在する。
Next, another example of the A / D converter according to the present invention will be described with reference to FIGS. 6 (a), (b), and (c).
FIGS. 6A, 6B, and 6C are diagrams illustrating the relationship between the setting and the output voltage in another embodiment of the D / A converter according to the present invention.
The graph of FIG. 6A shows the D / A converter when the D / A converter shown in FIG. 1A is composed of three PMOSs and three NMOSs, a total of six MOSFETs. The relationship between the setting and the output voltage at that time is shown. In this case, there are 49 settings.
図６（ｂ）のグラフは、図１（ａ）のＤ／Ａ変換器を４個のＰＭＯＳと４個のＮＭＯＳとの計８個のＭＯＳＦＥＴで構成した場合の、Ｄ／Ａ変換器の設定とそのときの出力電圧の関係を示している。この場合２２５通りの設定が存在する。 The graph of FIG. 6B shows the setting of the D / A converter when the D / A converter of FIG. 1A is configured by a total of eight MOSFETs of four PMOSs and four NMOSs. And the relationship between the output voltages at that time. In this case, there are 225 settings.
図６（ｃ）のグラフは、図１（ａ）のＤ／Ａ変換器を５個のＰＭＯＳと５個のＮＭＯＳの計１０個のＭＯＳＦＥＴで構成した場合の、Ｄ／Ａ変換器の設定とそのときの出力電圧の関係を示している。この場合９６１通りの設定が存在する。これらのグラフを比較すると、ＭＯＳＦＥＴの数を多くすれば出力電圧の種類が多くなり、より細かい刻み幅でＤ／Ａ変換を出来るようになると分かる。 The graph of FIG. 6 (c) shows the setting of the D / A converter when the D / A converter of FIG. 1 (a) is composed of a total of 10 MOSFETs of 5 PMOS and 5 NMOS. The relationship of the output voltage at that time is shown. In this case, there are 961 settings. Comparing these graphs, it can be seen that if the number of MOSFETs is increased, the types of output voltages increase, and D / A conversion can be performed with a finer step size.
ここで、本Ｄ／Ａ変換器をある設定Ａにした場合の出力電圧をＶａ、Ａとは別のある設定Ｂにした場合の出力電圧をＶｂとし、ＶａとＶｂの差をΔＶ（＝Ｖｂ−Ｖａ）とする。ただし設定Ｂは、ΔＶがゼロ以上の最小の値となるように選ぶものとする。このΔＶを、本Ｄ／Ａ変換器のすべての設定において求める。例えば４９通りの設定が存在する本Ｄ／Ａ変換器では、４８個のΔＶを求める。さらにこれらΔＶのなかから最も大きいものをΔＶｍａｘとする。このΔＶｍａｘは、本Ｄ／Ａ変換器における出力電圧の最も粗い刻み幅を示すことになる。 Here, the output voltage when this D / A converter is set to a certain setting A is Va, the output voltage when it is set to a certain setting B different from A is Vb, and the difference between Va and Vb is ΔV (= Vb −Va). However, the setting B is selected so that ΔV becomes a minimum value of zero or more. This ΔV is obtained in all settings of the present D / A converter. For example, in the present D / A converter with 49 settings, 48 ΔV are obtained. Further, ΔVmax is the largest of these ΔV. This ΔVmax indicates the coarsest step size of the output voltage in the present D / A converter.
図６（ａ）のグラフには、ΔＶｍａｘなども併記してある。前述したように本Ｄ／Ａ変換器においては、構成するＭＯＳＦＥＴの数が多いほどに出力電圧の刻み幅を細かく出来る。
そこで出力電圧の刻み幅の目標値をΔＶｔａｒｇｅｔとしたとき、ΔＶｍａｘ≦ΔＶｔａｒｇｅｔを満たすことが出来るだけの数のＭＯＳＦＥＴで、Ｄ／Ａ変換器を構成することにする。
以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の説明である。
In the graph of FIG. 6A, ΔVmax and the like are also shown. As described above, in this D / A converter, the step size of the output voltage can be made finer as the number of MOSFETs to be configured is larger.
Therefore, when the target value of the step size of the output voltage is ΔVtarget, the D / A converter is configured with as many MOSFETs as can satisfy ΔVmax ≦ ΔVtarget.
The above is the description of the D / A converter according to the present invention .
次に、図７（ａ）、（ｂ），８，９を用いて本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の一例について説明をする。
図７（ａ）、（ｂ）は、本発明に係るＤ／Ａ変換器に用いられるＮＭＯＳのゲート−ソース間電圧とドレイン電流との関係を示す図である。
図７（ａ）のグラフは、ＮＭＯＳの電圧−電流特性を示している。横軸はゲート−ソース間電圧ＶＧＳ、縦軸はドレイン電流ＩＤである。
ＶＧＳをゼロから次第に大きくしていくと、ＶＧＳがしきい値電圧Ｖｔｈを超えるまではＩＤ漸増し、Ｖｔｈを超えるとほぼ直線的に増加するという特性を示している。
ここで、このＶｔｈを決定する要因のひとつに、基板−ソース間電圧ＶＢＳがある。例えばＮＭＯＳの場合では、ＶＢＳ＞０とすればＶＢＳ＝０のときに比べてＶｔｈは小さくなり、同じＶＧＳを印加しても流れるＩＤが増加する。逆にＶＢＳ＜０とすればＶＢＳ＝０のときに比べてＶｔｈは大きくなり、同じＶＧＳを印加しても流れるＩＤは減少する。この様子を図７（ｂ）に示している。
Next, another example of the D / A converter according to the present invention will be described with reference to FIGS. 7 (a), (b), 8, and 9. FIG.
7A and 7B are diagrams showing the relationship between the gate-source voltage and drain current of the NMOS used in the D / A converter according to the present invention.
The graph of FIG. 7A shows the voltage-current characteristics of NMOS. The horizontal axis represents the gate-source voltage VGS, and the vertical axis represents the drain current ID.
As VGS is gradually increased from zero, the ID gradually increases until VGS exceeds the threshold voltage Vth, and increases substantially linearly when VGS is exceeded.
Here, one of the factors determining Vth is the substrate-source voltage VBS. For example, in the case of NMOS, if VBS> 0, Vth becomes smaller than when VBS = 0, and the flowing ID increases even when the same VGS is applied. Conversely, if VBS <0, Vth becomes larger than when VBS = 0, and the flowing ID decreases even when the same VGS is applied. This is shown in FIG.
この効果は「基板バイアス効果」や「バックゲート効果」などと呼ばれている。本発明に係るＤ／変換器ではこの効果を利用する。 This effect is called “substrate bias effect” or “back gate effect”. The D / converter according to the present invention uses this effect.
図８は、本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の実施の形態を示す回路図である。
図８では図１（ａ）に示した各ＭＯＳＦＥＴの基板電極１０６Ｐ−１〜１０６Ｐ−ｉ、１０６Ｎ−１〜１０６Ｎ−ｊに、基板バイアス用電圧源８０６Ｐ−１〜８０６−ｉ、８０６Ｎ−１〜８０６Ｎ−ｊを接続している。各基板バイアス用電圧源（ＶＰ１，ＶＰ２，…，ＶＰｊおよびＶＮ１，ＶＮ２，…，ＶＮｉ）はそれぞれ独立しており、各ＭＯＳＦＥＴの基板に別々の電圧を印加可能となっている。
図８のＤ／Ａ変換器のゲート電極８０５に対してデジタル信号を入力することにより、各ＭＯＳＦＥＴを個別にＯＮ／ＯＦＦさせるのだが、前述したようにＭＯＳＦＥＴのゲート電極８０５Ｐ−１〜８０５Ｐ−ｉ、８０５Ｎ−１〜８０５Ｎ−ｊに印加される電圧が同じでも、ＯＮ状態における各ＭＯＳＦＥＴのドレイン電流は各基板バイアス用電圧源８０６Ｐ−１〜８０６−ｉ、８０６Ｎ−１〜８０６Ｎ−ｊにより変化させることが出来る。これはまた、ＯＮ状態にした各ＭＯＳＦＥＴのソース‐ドレイン間抵抗値を各基板バイアス用電圧源により変化させることが出来るということでもある。
Figure 8 is Ru circuit view showing another embodiment of the D / A converter according to the present invention.
In FIG. 8, substrate
Each of the MOSFETs is individually turned ON / OFF by inputting a digital signal to the gate electrode 805 of the D / A converter in FIG. 8, but as described above, the
図９は、本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の実施形態を示す等価回路である。すなわち、図８のＤ／Ａ変換器のＰＭＯＳ群のＭＯＳＦＥＴは飽和領域で動作しており、ＮＭＯＳ群のＭＯＳＦＥＴは線形領域で動作している場合の等価回路である。
ＲＰ（ＶＰ）９０１はＰＭＯＳ群中のＯＮ状態のＭＯＳＦＥＴのソース‐ドレイン間抵抗を示し、ＲＮ（ＶＮ）９０２はＮＭＯＳ群中のＯＮ状態のＭＯＳＦＥＴのソース‐ドレイン間抵抗を示し、Ｉ（ＶＰ）９０５は飽和領域のＭＯＳＦＥＴが流すドレイン電流をそれぞれ示す。
FIG. 9 is an equivalent circuit showing another embodiment of the D / A converter according to the present invention. That is, the PMOS group MOSFET of the D / A converter of FIG. 8 operates in the saturation region, and the NMOS group MOSFET operates in the linear region.
RP (VP) 901 indicates the source-drain resistance of the ON-state MOSFET in the PMOS group, RN (VN) 902 indicates the source-drain resistance of the ON-state MOSFET in the NMOS group, and I (VP)
ここでＶＰ，Ｖｎは基板電圧であり、抵抗や電流の値はそれら基板電圧の関数となっている。このときの出力電圧は、以下の数式（２）
Ｖｏｕｔ＝ＲＮ（ＶＮ）／｛ＲＰ（ＶＰ）＋ＲＮ（ＶＮ）｝×ＶＤＤ＋ＲＰ（ＶＰ）×ＲＮ（ＶＮ）／｛ＲＰ（ＶＰ）＋ＲＮ（ＶＮ）｝×Ｉ（ＶＰ） …（２）
で表される。
つまり図８のＤ／Ａ変換器であれば、デジタル信号によりＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせを変えるだけでなく、基板電圧によってもアナログ出力電圧を変化させることが可能ということになる。
以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の説明である。
Here, VP and Vn are substrate voltages, and values of resistance and current are functions of these substrate voltages. The output voltage at this time is expressed by the following formula (2).
Vout = RN (VN) / {RP (VP) + RN (VN)} × VDD + RP (VP) × RN (VN) / {RP (VP) + RN (VN)} × I (VP) (2)
It is represented by
That is, with the D / A converter of FIG. 8, it is possible not only to change the combination of MOSFETs to be turned on by a digital signal, but also to change the analog output voltage depending on the substrate voltage.
The above is the description of the D / A converter according to the present invention .
次に、図１０を用いて本発明に係るＡ／Ｄ変換器の一例の説明をする。
図１０は、本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の実施の形態におけるＤ／Ａ変換器設定と出力電圧との関係を示す図である。すなわち、図１０は、図８に示したＤ／Ａ変換器を３個のＰＭＯＳと３個のＮＭＯＳとの計６個のＭＯＳＦＥＴで構成した場合の、Ｄ／Ａ変換器の設定とそのときの出力電圧の関係を示している。
本実施形態では、３個のＰＭＯＳの基板電極には同じ基板電圧ＶＰが与えられ、３個のＮＭＯＳの基板電極には同じ基板電圧ＶＮが与えられているとする。
図１０のグラフ中の条件Ａ（◆印）は、ある温度Ｔｅｍｐでの出力電圧特性である。条件Ｂ（×印）は、温度が上昇してしまったときの出力電圧特性である。条件Ａに比べて、出力電圧が全体的に上昇してしまっていることが分かる。
Next, an example of the A / D converter according to the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 10 is a diagram showing the relationship between the D / A converter setting and the output voltage in another embodiment of the D / A converter according to the present invention. That is, FIG. 10 shows the setting of the D / A converter in the case where the D / A converter shown in FIG. 8 is composed of a total of six MOSFETs of three PMOSs and three NMOSs, and at that time The relationship of output voltage is shown.
In the present embodiment, it is assumed that the same substrate voltage VP is applied to the three PMOS substrate electrodes, and the same substrate voltage VN is applied to the three NMOS substrate electrodes.
A condition A (marked by ◆) in the graph of FIG. 10 is an output voltage characteristic at a certain temperature Temp. Condition B (x mark) is an output voltage characteristic when the temperature has risen. Compared to condition A, it can be seen that the output voltage has risen overall.
そこで、ＰＭＯＳ群に与えている基板電圧ＶＰを小さくしてＰＭＯＳ群のソース‐ドレイン間抵抗値を大きくすることにより、出力電圧の上昇分を補償する。これが条件Ｃ（○印）である。
以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の説明である。
Therefore, the substrate voltage VP applied to the PMOS group is reduced to increase the resistance value between the source and drain of the PMOS group, thereby compensating for the increase in the output voltage. This is condition C (circle mark).
The above is the description of the D / A converter according to the present invention .
次に、図１１を用いて本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の一例を説明をする。
図１１は、本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の実施の形態におけるＤ／Ａ変換器設定と出力電圧との関係を示す図である。すなわち、図１１は、図８のＤ／Ａ変換器を３個のＰＭＯＳと３個のＮＭＯＳとの計６個のＭＯＳＦＥＴで構成した場合の、Ｄ／Ａ変換器の設定とそのときの出力電圧の関係を示している。
本実施形態では、３個のＰＭＯＳの基板電極には同じ基板電圧ＶＰが与えられ、３個のＮＭＯＳの基板電極には同じ基板電圧ＶＮが与えられているとする。
図１１のグラフ中の条件Ａ（◆印）は、ある電源電圧ＶＤＤでの出力電圧特性である。条件Ｂ（×印）は、電源電圧が降下してしまったときの出力電圧特性である。条件Ａに比べて、出力電圧が全体的に下降してしまっていることが分かる。
Next, another example of the D / A converter according to the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the D / A converter setting and the output voltage in another embodiment of the D / A converter according to the present invention. That is, FIG. 11 shows the setting of the D / A converter and the output voltage at that time when the D / A converter of FIG. 8 is composed of a total of six MOSFETs of three PMOSs and three NMOSs. Shows the relationship.
In the present embodiment, it is assumed that the same substrate voltage VP is applied to the three PMOS substrate electrodes, and the same substrate voltage VN is applied to the three NMOS substrate electrodes.
A condition A (♦ mark) in the graph of FIG. 11 is an output voltage characteristic at a certain power supply voltage VDD. Condition B (x mark) is an output voltage characteristic when the power supply voltage has dropped. Compared with condition A, it can be seen that the output voltage has dropped overall.
そこで、ＮＭＯＳ群に与えている基板電圧ＶＮを小さくしてＮＭＯＳ群のソース‐ドレイン間抵抗値を大きくし、さらにＰＭＯＳ群に与えている基板電圧ＶＰを大きくしてＰＭＯＳ群のソース‐ドレイン間抵抗値を小さくすることにより、出力電圧の下降分を補償する。これが条件Ｃ（○印）である。
以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の説明である。
Therefore, the substrate voltage VN applied to the NMOS group is decreased to increase the source-drain resistance value of the NMOS group, and the substrate voltage VP applied to the PMOS group is increased to increase the source-drain resistance of the PMOS group. A decrease in the output voltage is compensated for by decreasing the value. This is condition C (circle mark).
The above is the description of the D / A converter according to the present invention .
次に、図１２（ａ）、（ｂ）を用いて本発明に係るＤ／Ａ変換器の一例を説明する。
図１２（ａ）、（ｂ）は、本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の実施の形態におけるＤ／Ａ変換器設定と出力電圧との関係を示す図である。すなわち、図１２（ａ）、（ｂ）は、図８のＤ／Ａ変換器を３個のＰＭＯＳ（Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３）と３個のＮＭＯＳ（Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３）との計６個のＭＯＳＦＥＴで構成し、それぞれの基板電極にある基板電圧を別々に印加している場合の、Ｄ／Ａ変換器の設定とそのときの出力電圧の関係を示している。横軸はＯＮ状態になっているＭＯＳＦＥＴを、縦軸は出力電圧をそれぞれ示しており、出力電圧が昇順となるように並べてある。
Next, an example of the D / A converter according to the present invention will be described with reference to FIGS.
FIGS. 12A and 12B are diagrams showing the relationship between the D / A converter setting and the output voltage in another embodiment of the D / A converter according to the present invention. That is, FIGS. 12 (a) and 12 (b) show a total of six D / A converters of FIG. 8 including three PMOSs (P1, P2, P3) and three NMOSs (N1, N2, N3). The relationship between the setting of the D / A converter and the output voltage at that time when the substrate voltages on the respective substrate electrodes are applied separately is shown. The horizontal axis indicates the MOSFETs that are in the ON state, and the vertical axis indicates the output voltage. The output voltages are arranged in ascending order.
ここで、本Ｄ／Ａ変換器をある設定Ａにした場合の出力電圧をＶａ、Ａとは別のある設定Ｂにした場合の出力電圧をＶｂとし、ＶａとＶｂの差をΔＶ（＝Ｖｂ−Ｖａ）とする。
ただし設定Ｂは、ΔＶがゼロ以上の最小の値となるように選ぶものとする。このΔＶを、本Ｄ／Ａ変換器のすべての設定において求める。本Ｄ／Ａ変換器では４９通りの設定が存在するので、４８個のΔＶを求めることになる。さらにこれらΔＶのなかから最も大きいものをΔＶｍａｘとする。このΔＶｍａｘは、本Ｄ／Ａ変換器における出力電圧の最も粗い刻み幅を示すことになる。本発明に係るＤ／Ａ変換器では、このΔＶｍａｘを狭めることを考える。
Here, the output voltage when this D / A converter is set to a certain setting A is Va, the output voltage when it is set to a certain setting B different from A is Vb, and the difference between Va and Vb is ΔV (= Vb −Va).
However, the setting B is selected so that ΔV becomes a minimum value of zero or more. This ΔV is obtained in all settings of the present D / A converter. Since there are 49 settings in this D / A converter, 48 ΔVs are obtained. Further, ΔVmax is the largest of these ΔV. This ΔVmax indicates the coarsest step size of the output voltage in the present D / A converter. In the D / A converter according to the present invention, it is considered to narrow this ΔVmax.
図１２（ａ）のグラフでは、Ｄ／Ａ変換器の設定が「Ｎ３，Ｐ３がＯＮ状態」から「Ｎ１，Ｎ２，Ｐ２，Ｐ３がＯＮ状態」に切り替わるところがΔＶｍａｘにあたる（グラフ中に点線で囲った箇所）。このΔＶｍａｘを狭めるためには、「Ｎ１，Ｎ２，Ｐ２，Ｐ３がＯＮ状態」での出力電圧を低くすることが手段の一つとして考えられる。そこで今回は、Ｎ１に与える基板電圧を大きくしてＮ１のソース‐ドレイン間抵抗値を下げ、且つＰ２に与える基板電圧を小さくしてＰ２のソース‐ドレイン間抵抗値を上げるという調整を行うことにする。 In the graph of FIG. 12A, the setting where the D / A converter setting switches from “N3, P3 is in the ON state” to “N1, N2, P2, P3 is in the ON state” corresponds to ΔVmax (enclosed by a dotted line in the graph). Where). One way to reduce ΔVmax is to reduce the output voltage when “N1, N2, P2, and P3 are in the ON state”. Therefore, this time, adjustment is made to increase the substrate voltage applied to N1 to lower the source-drain resistance value of N1, and decrease the substrate voltage applied to P2 to increase the source-drain resistance value of P2. To do.
図１２（ｂ）のグラフは、この調整を行った後のＤ／Ａ変換器の設定と出力電圧の関係を示している。ΔＶｍａｘが改善されていることが見て取れる。以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の説明である。 The graph of FIG. 12B shows the relationship between the setting of the D / A converter after this adjustment and the output voltage. It can be seen that ΔVmax is improved. The above is the description of the D / A converter according to the present invention .
次に、本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の一例の説明をする。
本発明に係るＤ／Ａ変換器はＭＯＳＦＥＴの数を増やすことでΔＶｍａｘを小さくし、ΔＶｍａｘ≦ΔＶｔａｒｇｅｔを達成することを目指すが、ＭＯＳＦＥＴの基板電極に印加する基板電圧を調整することでもΔＶｍａｘを小さくすることが出来るので、さらにΔＶｍａｘを小さくすることが出来る。これはつまり、少ないＭＯＳＦＥＴ数であっても、Δｍａｘ≦ΔＶｔａｒｇｅｔを達成することが可能ということになる。
以上が本発明に係るＤ／Ａ変換器の他の一例の説明である。
なお、上述した実施の形態は、本発明の好適な実施の形態の一例を示すものであり、本発明はそれに限定されることなく、その要旨を逸脱しない範囲内において、種々変形実施が可能である
Next, another example of the D / A converter according to the present invention will be described.
The D / A converter according to the present invention aims to reduce ΔVmax by increasing the number of MOSFETs and achieve ΔVmax ≦ ΔVtarget. However, ΔVmax can also be adjusted by adjusting the substrate voltage applied to the substrate electrode of the MOSFET. Since it can be reduced, ΔVmax can be further reduced. This means that, even no small number MOSFET, it comes to be able to achieve Δmax ≦ ΔVtarget.
Or Ru described der of another example of a D / A converter according to the present invention.
The above-described embodiment shows an example of a preferred embodiment of the present invention, and the present invention is not limited thereto, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. is there
〔発明の効果〕
本発明に係るＤ／Ａ変換器であれば、非常に少ないＭＯＳＦＥＴ数、非常に簡単な構成でＤ／Ａ変換器を実現することが出来る。また、簡単な構成であるため、高集積化に際しては非常に有利である。
〔The invention's effect〕
With the D / A converter according to the present invention, a D / A converter can be realized with a very small number of MOSFETs and a very simple configuration. In addition, since the configuration is simple, it is very advantageous for high integration.
本発明に係るＤ／Ａ変換器であれば、本発明に係る他のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器を使用するシステムからの要求に合わせて、Ｄ／Ａ出力特性を柔軟に対応させることが出来る。また、デバイス製造時のばらつきや、使用時の電源電圧や環境温度の影響などによってＭＯＳＦＥＴの特性がばらついたとしても、その状況下において望ましい出力が得られるものを選択して使用するので、優れた性能のＤ／Ａ変換を行うことが出来る。
さらには、一般的に、集積回路の製造技術の進歩により微細化が進めば、ＭＯＳＦＥＴの高集積化や低消費電力化が図れる反面、個々の特性のばらつきが顕著になるが、本発明に係るＤ／Ａ変換器は元よりばらつくことを見込んでいるため何ら問題なく、微細化の恩恵を大いに享受することが出来る。
The D / A converter according to the present invention has excellent effects similar to those of the other D / A converters according to the present invention, and in addition to the requirements from the system using the D / A converter. The D / A output characteristics can be flexibly handled. In addition, even if the MOSFET characteristics vary due to variations in device manufacturing, power supply voltage or environmental temperature during use, etc. D / A conversion of performance can be performed.
Further, generally, if miniaturization advances advances in manufacturing technology of integrated circuits, although the highly integrated, low power consumption of the MOSFET can be achieved, although variations in the individual characteristics becomes significant, according to the present invention Since the D / A converter is expected to vary from the original, there is no problem and the benefits of miniaturization can be greatly enjoyed.
本発明に係るＤ／Ａ変換器であれば、本発明に係る他のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器を構成するＭＯＳＦＥＴのサイズを違えるだけで、出力電圧の種類を多くすることが出来る。 The D / A converter according to the present invention has excellent effects similar to those of other D / A converters according to the present invention, and the size of the MOSFET constituting the D / A converter is merely changed. The number of output voltage types can be increased.
本発明に係るＤ／Ａ変換器であれば、本発明に係る他のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器を構成するＭＯＳＦＥＴの数を増やすだけで、出力電圧の刻み幅を細かくして精度を向上させることが出来る。 The D / A converter according to the present invention has excellent effects similar to those of other D / A converters according to the present invention, and only increases the number of MOSFETs constituting the D / A converter. The precision of the output voltage can be improved by making the step size of the output voltage fine.
本発明に係るＤ／Ａ変換器であれば、本発明に係る他のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、印加する基板電圧により、Ｄ／Ａ出力特性を任意に調整することが出来る。 The D / A converter according to the present invention has excellent effects similar to those of other D / A converters according to the present invention, and the D / A output characteristics are arbitrarily adjusted by the applied substrate voltage. I can do it.
本発明に係るＤ／Ａ変換器であれば、本発明に係る他のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器使用中に環境温度が変動しＤ／Ａ出力特性が変わってしまっても、印加する基板電圧を調整することにより、それを補償することが出来る。 The D / A converter according to the present invention has excellent effects similar to those of other D / A converters according to the present invention, and the environmental temperature fluctuates during use of the D / A converter. Even if the A output characteristic changes, it can be compensated by adjusting the substrate voltage to be applied.
本発明に係るＤ／Ａ変換器であれば、本発明に係る他のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、Ｄ／Ａ変換器使用中に電源電圧が変動しＤ／Ａ出力特性が変わってしまっても、印加する基板電圧を調整することにより、それを補償することが出来る。 The D / A converter according to the present invention has excellent effects similar to those of other D / A converters according to the present invention, and the power supply voltage fluctuates during use of the D / A converter. Even if the A output characteristic changes, it can be compensated by adjusting the substrate voltage to be applied.
本発明に係るＤ／Ａ変換器であれば、本発明に係る他のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、印加する基板電圧を調整することにより、出力電圧の刻み幅を細かくして精度を向上させることが出来る。 The D / A converter according to the present invention has excellent effects similar to those of other D / A converters according to the present invention, and the output voltage step size is adjusted by adjusting the substrate voltage to be applied. It is possible to improve the accuracy by making the details finer.
本発明に係るＤ／Ａ変換器であれば、本発明に係る他のＤ／Ａ変換器と同様の優れた効果を持つうえに、少ないＭＯＳＦＥＴ数で達成することが出来る。 If D / A converter according to the present invention, in terms of having the same excellent effects and other D / A converter according to the present invention can be achieved with no small number of MOSFET.
本発明は、Ｄ／Ａ変換器を有する全ての集積回路に利用することができる。 The present invention can be used for all integrated circuits having a D / A converter.
１０１ ＭＯＳＦＥＴ群（ＰＭＯＳ群）
１０２ ＭＯＳＦＥＴ群（ＮＭＯＳ群）
１０３ ＶＤＤ
１０４ アナログ出力端子
１０５Ｐ−１〜１０５Ｐ−ｉ、１０５Ｎ−１〜１０５Ｎ−ｊ ゲート電極
１０６Ｐ−１〜１０６Ｐ−ｉ、１０６Ｎ−１〜１０６Ｎ−ｊ 基板電極
101 MOSFET group (PMOS group)
102 MOSFET group (NMOS group)
103 VDD
104
Claims (6)
全ＭＯＳＦＥＴのそれぞれの基板電極には電源電位およびグラウンド電位とは異なる電圧が印加され、
前記ＯＮ状態にするＭＯＳＦＥＴの組み合わせのうち、任意の組み合わせＡのときに得られる出力電圧をＶａとし、前記組合せＡとは別の組み合わせＢのときに得られる出力電圧をＶｂとし、ＶａとＶｂとの差をΔＶ（＝Ｖｂ−Ｖａ）とし、ただし組み合わせＢはΔＶがゼロ以上の最小の値となるように選ぶものとし、全ての組み合わせＡにおけるΔＶの中で最大のものをΔＶｍａｘとした場合、ΔＶｍａｘを小さくするように、前記基板電極に印加する電圧を調整するようにし、
Ｖｍａｘの目標値をΔＶｔａｒｇｅｔとした場合、前記ＭＯＳＦＥＴの数がΔＶｍａｘ≦ΔＶｔａｒｇｅｔを満足する数であることを特徴とするＤ／Ａ変換器。 One MOSFET, or two or more MOSFET groups in which two or more are connected in parallel, and one of the source electrodes or drain electrodes of one MOSFET group is a power line, a ground line, or another one One or more MOSFET groups are connected to one of the source or drain electrodes, and the other electrode is connected to another one or more MOSFET group source or drain electrodes, and the MOSFET groups are connected to each other One or more of these nodes are analog output terminals, and a voltage can be independently applied to each substrate electrode of all MOSFETs constituting the MOSFET group, and all MOSFETs constituting the MOSFET group can be applied. It is possible to apply a voltage independently to each gate electrode of The digital signal is applied to the gate electrode, the D / A converter for changing the output voltage from the analog output terminal by a combination of MOSFET to the ON state of all MOSFET,
A voltage different from the power supply potential and the ground potential is applied to each substrate electrode of all MOSFETs,
Of the combinations of MOSFETs to be turned on, Va represents an output voltage obtained in an arbitrary combination A, Vb represents an output voltage obtained in a combination B different from the combination A, and Va and Vb ΔV (= Vb−Va), where combination B is selected so that ΔV is the smallest value equal to or greater than zero, and when ΔVmax is the maximum of ΔV in all combinations A, The voltage applied to the substrate electrode is adjusted so as to reduce ΔVmax,
A D / A converter characterized in that when the target value of Vmax is ΔVtarget, the number of MOSFETs is a number satisfying ΔVmax ≦ ΔVtarget .
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