JP4880540B2 - Sample deposition equipment - Google Patents

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Description

本発明は、生化学的検査に供される微量の試料を基板上に堆積しうる試料堆積方法、試料堆積装置に関し、特に、マスク部材を使用することなく、種類の異なる試料を同一基板上に多数堆積することのできる試料堆積方法、試料堆積装置に関する。   The present invention relates to a sample deposition method and a sample deposition apparatus that can deposit a small amount of sample to be subjected to biochemical inspection on a substrate, and more particularly, to use different types of samples on the same substrate without using a mask member. The present invention relates to a sample deposition method and a sample deposition apparatus capable of depositing a large number.

近年、マイクロアレイ、DNAチップ、蛋白質チップ、有機化合物チップ等(以下、代表して「マイクロアレイ」と記す)と称されるものが、DNAの解析やゲノム創薬の分野で注目を集めている。このマイクロアレイは、光学顕微鏡用スライドガラス程度の大きさの基板上に、相互に種類や特性の異なる微量の試料(蛋白質など)をマトリクス状に配置したものである。従って、このマイクロアレイ全体に対し何らかの薬品などを作用させることで、前記薬品に反応する試料を検出することが可能となる。以上のように、マイクロアレイは、大量の試験を一度に行い、その結果を一目で確認することができるものである。   In recent years, what are called microarrays, DNA chips, protein chips, organic compound chips and the like (hereinafter referred to as “microarrays”) have attracted attention in the fields of DNA analysis and genome drug discovery. In this microarray, a small amount of samples (proteins, etc.) having different types and characteristics are arranged in a matrix on a substrate as large as a slide glass for an optical microscope. Therefore, it is possible to detect a sample that reacts with the chemical by applying some chemical to the entire microarray. As described above, the microarray can perform a large amount of tests at a time and confirm the results at a glance.

特に、DNAに関するマイクロアレイなどを製造する場合、多くの種類の試料を一枚の基板上に配置する必要があるため、一つの試料(DNAの一部)が基板上で占める領域は、ミクロンオーダーとなる場合もある。   In particular, when manufacturing microarrays for DNA, etc., it is necessary to arrange many types of samples on a single substrate, so the area occupied by one sample (part of DNA) on the substrate is on the order of microns. Sometimes it becomes.

上記マイクロアレイを製造する場合、つまり、基板上に複数種類の試料を堆積させ配置するには、所定の微小な領域に目的の種類の試料のみを堆積する必要がある。   When manufacturing the microarray, that is, in order to deposit and arrange a plurality of types of samples on a substrate, it is necessary to deposit only a target type of sample in a predetermined minute region.

従来のマイクロアレイの製造装置は、図9(a)に示すように、噴霧手段で帯電した試料1を噴霧し、微小な孔を備えたマスク2に電位を与え、当該マスク2の孔を通過した試料を基板上3に堆積させることによって、基板上の微小な領域にのみ目的とする試料1を堆積するものである。そして、噴霧する試料1の種類を変更し、マスク2と基板3との相対位置を変更することで、異なる種類の試料1をマトリクス状に配置している(特許文献1参照)。
特開2001−281252号公報
As shown in FIG. 9A, the conventional microarray manufacturing apparatus sprays the sample 1 charged by the spraying means, applies a potential to the mask 2 having minute holes, and passes through the holes of the mask 2. By depositing the sample on the substrate 3, the target sample 1 is deposited only in a minute region on the substrate. Then, by changing the type of the sample 1 to be sprayed and changing the relative position between the mask 2 and the substrate 3, different types of samples 1 are arranged in a matrix (see Patent Document 1).
JP 2001-281252 A

ところが、従来のマイクロアレイの製造装置のように、微小な孔を備えたマスク2を用い、帯電させた(または自然に帯電した)マスク2の孔に試料1を通過させて基板上3に堆積させると、図9(b)に示すように、堆積した試料1の周縁が立ち上がったようになる場合がある。これは、マスク2の微小孔の外側に到達してきた試料1が、帯電したマスク2と反発しあって微小孔に集まり、そのまま微小孔を通過して堆積するためと考えられる。   However, as in the conventional microarray manufacturing apparatus, the sample 2 is deposited on the substrate 3 by passing the sample 1 through the holes of the charged mask 2 (or naturally charged) using the mask 2 having minute holes. Then, as shown in FIG. 9B, the peripheral edge of the deposited sample 1 may rise. This is presumably because the sample 1 that has reached the outside of the micropores of the mask 2 repels the charged mask 2 and gathers in the micropores, and passes through the micropores as it is and is deposited.

以上のように均一に堆積されない試料が配置されたマイクロアレイは、何らかの試験に供された場合に、適正な反応を示さない場合があり、マイクロアレイとしての性能が保証できない状態となる。   As described above, a microarray in which a sample that is not uniformly deposited is arranged may not exhibit an appropriate reaction when subjected to some test, and the performance as a microarray cannot be guaranteed.

本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、マスクを用いることなく試料を基板上の微小領域に均一に堆積させることができる試料堆積方法、及び、試料堆積装置の提供を目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a sample deposition method and a sample deposition apparatus capable of uniformly depositing a sample on a minute region on a substrate without using a mask.

上記目的を達成するために、本願発明にかかる試料堆積方法は、複数の電極を備え、絶縁体からなる基板上の所定の領域に試料を堆積させる試料堆積方法であって、前記試料を噴霧する噴霧ステップと、前記試料を帯電させる帯電ステップと、前記基板上の所定の領域に対応する電極に、前記帯電している試料の極性と逆の極性の電位を印加する逆極性電位印加ステップと、所定の領域に対応する前記電極と隣り合う電極に、前記帯電している試料の極性と同極性、または交流の電位を印加する忌避電位印加ステップとを含むことを特徴とする。   In order to achieve the above object, a sample deposition method according to the present invention is a sample deposition method including a plurality of electrodes and depositing a sample on a predetermined region on a substrate made of an insulator, and spraying the sample A spraying step, a charging step for charging the sample, and a reverse polarity potential application step for applying a potential having a polarity opposite to the polarity of the charged sample to an electrode corresponding to a predetermined region on the substrate; And a repelling potential applying step of applying an alternating potential to the electrode adjacent to the electrode corresponding to a predetermined region, the polarity being the same as the polarity of the charged sample.

また、本願発明にかかる試料堆積装置は、複数の電極を備え、絶縁体からなる基板の前記電極に対応する領域に試料を堆積する試料堆積装置であって、前記試料を噴霧する噴霧手段と、前記試料を帯電させる電荷付与手段と、前記帯電している試料の極性と逆の極性の電位を印加する第1電源と、前記帯電している試料の極性と同じ極性の直流電位、または、交流電位を印加する第2電源と、前記各電極と前記第1電源とを接続するか、前記第2電源と接続するかを選択する選択接続手段とを備えることを特徴とする。   Further, a sample deposition apparatus according to the present invention is a sample deposition apparatus that includes a plurality of electrodes and deposits a sample in a region corresponding to the electrode of a substrate made of an insulator, and spraying means for spraying the sample; A charge applying means for charging the sample; a first power supply for applying a potential having a polarity opposite to the polarity of the charged sample; and a DC potential having the same polarity as the polarity of the charged sample, or an alternating current It is characterized by comprising: a second power source for applying a potential; and selective connection means for selecting whether to connect each of the electrodes and the first power source or to the second power source.

これにより、マスクを用いることなく基板上の所定の領域に均一に試料を堆積することが可能となる。   This makes it possible to deposit the sample uniformly in a predetermined region on the substrate without using a mask.

さらに、噴霧された試料を所定の方向に誘導する誘導部材と、前記帯電している試料の極性と同じ極性の電位、または、接地電位を前記誘導部材に印加する第3電源とを備えることが好ましい。   Furthermore, an induction member that guides the sprayed sample in a predetermined direction and a third power source that applies a potential having the same polarity as the polarity of the charged sample or a ground potential to the induction member. preferable.

これにより、噴霧された試料を所定の方向に誘導することが可能となり、試料の噴霧量に対する基板上の堆積量を向上させることが可能となる。   As a result, the sprayed sample can be guided in a predetermined direction, and the deposition amount on the substrate with respect to the spray amount of the sample can be improved.

前記誘導部材は、試料が堆積される領域との距離が一定となる誘導面を備えることが好ましい。   The guide member preferably includes a guide surface having a constant distance from a region where the sample is deposited.

これにより、基板上の所定の領域に向かうように噴霧された試料を誘導することが可能となる。   This makes it possible to guide the sprayed sample toward a predetermined area on the substrate.

さらに、噴霧された試料を所定の範囲に収束するよう誘導する環状の収束部材と、前記帯電している試料の極性と同じ極性の電位、または、接地電位を前記収束部材に印加する第4電源とを備えることが好ましい。   Further, an annular converging member that guides the sprayed sample to converge within a predetermined range, and a fourth power source that applies a potential having the same polarity as the polarity of the charged sample or a ground potential to the converging member It is preferable to comprise.

これにより、噴霧された試料を微小な領域に収束させることができ、基板上の微小な領域に試料を堆積することが可能となる。従って、多くの試料が堆積された基板を製造することが可能となる。   Thereby, the sprayed sample can be converged on a minute region, and the sample can be deposited on the minute region on the substrate. Therefore, it is possible to manufacture a substrate on which many samples are deposited.

さらに、噴霧された前記試料を吸着する吸着部材と、前記帯電している試料の極性と逆の極性の電位を印加する吸着電源とを備えることが好ましい。   Furthermore, it is preferable to include an adsorption member that adsorbs the sprayed sample and an adsorption power source that applies a potential having a polarity opposite to the polarity of the charged sample.

これにより、同一の試料堆積装置でことなる試料を連続して堆積させる場合、試料の変わり目で試料の噴霧空間を清浄にすることができ、次に堆積する試料の汚染を防止することが可能となる。   As a result, when different samples are continuously deposited by the same sample deposition apparatus, the spray space of the sample can be cleaned at the transition of the sample, and contamination of the sample to be deposited next can be prevented. Become.

本願発明によれば、基板上の所定の領域に試料を均一に堆積させることが可能となる。   According to the present invention, a sample can be uniformly deposited in a predetermined region on a substrate.

次に、本発明に係る試料堆積装置について、図面を参照しつつ説明する。   Next, a sample deposition apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、試料堆積装置を概略的に示す、一部破断して示す断面図である。   FIG. 1 is a sectional view schematically showing a sample deposition apparatus, partially broken away.

同図に示すように、試料堆積装置100は、試料を噴霧し、噴霧した試料を所定の領域にのみ堆積させる装置であり、噴霧手段としてのキャピラリ101と、電荷付与手段110と、第1電源102と、第2電源103と、接続選択手段(図示せず)と、誘導部材104と、第3電源105と、収束部材106と、第4電源107と、チャンバ108と、第5電源109と、ポンプ131と、圧力調整手段132と、開閉弁133と、XYステージ135とを備えている。また、XYステージ135上にはサンプルチップ200が載置されている。   As shown in the figure, the sample deposition apparatus 100 is an apparatus for spraying a sample and depositing the sprayed sample only on a predetermined region. The capillary 101 as the spraying means, the charge applying means 110, and the first power source 102, a second power source 103, a connection selection means (not shown), a guide member 104, a third power source 105, a converging member 106, a fourth power source 107, a chamber 108, a fifth power source 109, , A pump 131, a pressure adjusting means 132, an on-off valve 133, and an XY stage 135. A sample chip 200 is placed on the XY stage 135.

キャピラリ101は、内部に貯留された試料を噴霧することのできる装置であり、テーパ形状の先端に噴霧用の微小な孔が設けられたノズル部と、試料を貯留し前記ノズル部と連通する円筒状の貯留部とを備えている。キャピラリ101は、チャンバ108の天井から垂れ下がるL字状の取り付け部材に着脱可能に取り付けられている。キャピラリ101は、キャピラリ101の先端とXYステージ135上に載置されるサンプルチップ200との距離が10mm以上500mm以下の範囲に入るように配置されることが好ましい。サンプルチップ200とキャピラリ101との距離が10mm未満であれば、キャピラリ101から噴霧した試料が収束しきれずに所定の領域に試料を堆積するのが困難となる。一方、前記距離が500mmよりも長くなれば、噴霧された試料を収束させるために必要な電圧が非常に大きくなり、異常放電などが発生する。設備自体が大型化するため、コストが上昇する。これらにより、現実的な設備を構築するのが困難になる。なお、前記距離の好適な範囲は、100mm以上、300mm以下である。このキャピラリ101は、ロボット(図示せず)または手動により、他の種類の試料が貯留されたキャピラリなどと容易に交換することが可能となっている。   The capillary 101 is a device capable of spraying a sample stored therein, and has a nozzle portion provided with a fine hole for spraying at a tapered tip, and a cylinder that stores the sample and communicates with the nozzle portion. The storage part of a shape is provided. The capillary 101 is detachably attached to an L-shaped attachment member that hangs down from the ceiling of the chamber 108. The capillary 101 is preferably arranged so that the distance between the tip of the capillary 101 and the sample chip 200 placed on the XY stage 135 is in the range of 10 mm to 500 mm. If the distance between the sample chip 200 and the capillary 101 is less than 10 mm, the sample sprayed from the capillary 101 cannot be completely converged and it is difficult to deposit the sample in a predetermined region. On the other hand, if the distance is longer than 500 mm, the voltage necessary for converging the sprayed sample becomes very large, and abnormal discharge or the like occurs. Since the equipment itself becomes larger, the cost increases. These make it difficult to construct realistic equipment. The preferred range of the distance is 100 mm or more and 300 mm or less. The capillary 101 can be easily replaced with a capillary or the like in which other types of samples are stored by a robot (not shown) or manually.

電荷付与手段110は、試料に電荷を付与するための装置であり、本実施の形態ではキャピラリ101に貯留される試料に対し電荷を付与するものとなっている。電荷付与手段110は、棒電極111と、第6電源112とを備えている。   The charge applying unit 110 is a device for applying a charge to the sample. In this embodiment, the charge applying unit 110 applies a charge to the sample stored in the capillary 101. The charge applying unit 110 includes a rod electrode 111 and a sixth power source 112.

棒電極111は、試料と直接接触し、直接試料に電荷を付与するものであり、キャピラリ101の内部の試料に浸漬される棒形状の金属電極である。   The rod electrode 111 is a rod-shaped metal electrode that is in direct contact with the sample and directly charges the sample, and is immersed in the sample inside the capillary 101.

第6電源112は、試料に電荷を供給するための直流電源であり、本実施の形態の場合、試料に対し負の電荷を供給する、つまり、試料を負に帯電させるものとなっている。なお、第6電源112は、棒電極111を接地電位(0V)に維持すると共に棒電極111に電荷を供給し続ける機能も備えている。   The sixth power source 112 is a DC power source for supplying a charge to the sample. In the present embodiment, the sixth power source 112 supplies a negative charge to the sample, that is, charges the sample negatively. The sixth power source 112 has a function of maintaining the rod electrode 111 at the ground potential (0 V) and continuing to supply charges to the rod electrode 111.

第1電源102は、前記帯電している試料の極性と逆の極性、本実施の形態の場合、正の極性の電位をサンプルチップ200が備える複数の電極に印加する直流電源である。第1電源102がサンプルチップ200のいずれの電極に電位を印加するかは接続選択手段により決定される。なお、接続選択手段については後述する。   The first power source 102 is a DC power source that applies a potential of a polarity opposite to the polarity of the charged sample, in the case of the present embodiment, a positive polarity to a plurality of electrodes included in the sample chip 200. The connection selection means determines which electrode of the sample chip 200 the first power supply 102 applies a potential to. The connection selection means will be described later.

第2電源103は、第1電源102と接続されている電極以外の電極(例えば第1電極と接続されている電極と隣り合う電極)に交流電位を印加する交流電源である。   The second power source 103 is an AC power source that applies an AC potential to an electrode other than the electrode connected to the first power source 102 (for example, an electrode adjacent to the electrode connected to the first electrode).

なお、第2電源103は、前記帯電している試料の極性と同極性、本実施の形態の場合、負の極性の電位を付与する直流電源であっても構わない。   Note that the second power supply 103 may be a DC power supply that applies a potential having the same polarity as that of the charged sample, and in the case of this embodiment, a negative polarity.

誘導部材104は、キャピラリ101から噴霧された試料の極性と同じ極性(本実施の形態では負)の電位、または、接地電位が印加されることで、噴霧され乱雑に飛行しようとする試料を電場の形成により所定の方向に誘導する部材である。誘導部材104は、中空の真球の一部の形状であり、いわゆるお椀を伏せた状態でチャンバ108につり下げられた状態で取り付けられている。誘導部材104の上端部には円形の孔が設けられており、当該孔の中心にキャピラリ101が配置されている。換言すれば、前記孔の中心に配置されているキャピラリ101を取り囲むように誘導部材104が配置されている。誘導部材104の内面は、試料が堆積される領域、本実施の形態においては、XYステージ135に載置されたサンプルチップ200の所定の領域と距離が一定となる形状であり、かつ、前記所定の領域と距離が一定となる位置に配置されている。そして、誘導部材104の内面は、試料を誘導する電気力線が発生する誘導面として機能する。また、チャンバ108と誘導部材104とは絶縁状態となっている。   The guide member 104 applies a potential of the same polarity (negative in this embodiment) as the polarity of the sample sprayed from the capillary 101 or a ground potential, thereby applying an electric field to the sample that is sprayed and flies randomly. This is a member that is guided in a predetermined direction by the formation of. The guide member 104 has a shape of a part of a hollow true sphere, and is attached to the chamber 108 in a state where the so-called bowl is turned down. A circular hole is provided in the upper end portion of the guide member 104, and the capillary 101 is disposed at the center of the hole. In other words, the guide member 104 is disposed so as to surround the capillary 101 disposed at the center of the hole. The inner surface of the guide member 104 has a shape that is constant in distance from a region where a sample is deposited, in this embodiment, a predetermined region of the sample chip 200 placed on the XY stage 135, and the predetermined member. It is arrange | positioned in the position where distance with this area becomes constant. The inner surface of the guiding member 104 functions as a guiding surface on which electric lines of force for guiding the sample are generated. Further, the chamber 108 and the guide member 104 are in an insulated state.

この誘導部材104の存在により、噴霧された試料の量に対する堆積した試料の量を向上させることが可能となる。   The presence of the guide member 104 can improve the amount of the deposited sample with respect to the amount of the sprayed sample.

第3電源105は、前記帯電している試料の極性と同極性、本実施の形態の場合、負の極性の電位を誘導部材104に付与する電源である。なお、第3電源105は、誘導部材104を接地電位(0V)に維持する機能も備えている。   The third power source 105 is a power source that applies a potential having the same polarity as that of the charged sample, in the case of this embodiment, a negative polarity to the induction member 104. The third power source 105 also has a function of maintaining the induction member 104 at the ground potential (0 V).

収束部材106は、キャピラリ101から噴霧された試料の極性と同じ極性の電位、または、接地電位が印加されて電場を形成し、誘導部材104により誘導された試料をさらに収束させるための部材である。収束部材106は、円環形状となされ、試料が堆積する領域と誘導部材104の下端縁とを結んだ逆円錐形状(同図中1点鎖線で示す)を取り囲むように配置されている。収束部材106は、チャンバ108の床面に立設される支柱に取り付けられており、チャンバ108とは絶縁状態となっている。なお、本実施の形態では収束部材106の周方向と直交する断面は、矩形が採用されているが、円形や楕円形など任意の形状を選択しうる。また、本実施の形態では収束部材106は、同図中の一点鎖線の外に配置しているが、一点鎖線にかかるように配置しても、一点鎖線の内部に配置しても構わない。また、同図中一点鎖線は仮想的な線である。   The converging member 106 is a member for further converging the sample induced by the induction member 104 by applying a potential having the same polarity as the polarity of the sample sprayed from the capillary 101 or a ground potential to form an electric field. . The converging member 106 has an annular shape, and is disposed so as to surround an inverted conical shape (indicated by a one-dot chain line in the figure) connecting a region where the sample is deposited and a lower end edge of the guiding member 104. The converging member 106 is attached to a column that is erected on the floor surface of the chamber 108, and is insulated from the chamber 108. In this embodiment, the cross section orthogonal to the circumferential direction of the converging member 106 is a rectangle, but an arbitrary shape such as a circle or an ellipse can be selected. Further, in the present embodiment, the converging member 106 is disposed outside the one-dot chain line in the figure, but may be disposed so as to cover the one-dot chain line or inside the one-dot chain line. In the figure, the alternate long and short dash line is a virtual line.

この収束部材106の存在により、試料が堆積する領域の大きさを調整することが可能となる。従って、サンプルチップ200の電極(後述)の大きさと、収束部材106により収束させる試料の領域とをほぼ一致させると、試料が堆積する際の均一性をより向上させることが可能となる。また、堆積領域の調整は、サンプルチップ200と収束部材106との距離、収束部材106の径、収束部材106に印加する電位の三つのパラメータを調整することにより行われる。   The presence of the converging member 106 makes it possible to adjust the size of the region on which the sample is deposited. Therefore, when the size of an electrode (described later) of the sample chip 200 and the region of the sample to be converged by the converging member 106 are substantially matched, the uniformity when the sample is deposited can be further improved. The deposition region is adjusted by adjusting three parameters: the distance between the sample chip 200 and the converging member 106, the diameter of the converging member 106, and the potential applied to the converging member 106.

第4電源107は、前記帯電している試料の極性と同極性、本実施の形態の場合、負の極性の電位を収束部材106に付与する直流電源である。なお、第4電源107は、収束部材106を接地電位(0V)に維持する機能も備えている。   The fourth power source 107 is a DC power source that applies a potential having the same polarity as that of the charged sample, in the present embodiment, a negative polarity to the converging member 106. Note that the fourth power source 107 also has a function of maintaining the converging member 106 at the ground potential (0 V).

チャンバ108は、試料にほこりなどが混入することを回避するための箱体であり、少なくとも内面は、導電性の物質で構成されている。チャンバ108は、試料を堆積している状態では、試料と同極性の電位、または、接地電位が付与され、試料の堆積に必要な電場の形成に寄与している。また、チャンバ108は、試料の堆積が終了した状態では、試料と逆極性の電位が付与され、チャンバ108内の空間に残存する試料を吸着して、チャンバ108内の清浄度を上昇させる。つまり、チャンバ108が吸着部材として機能する。また、種々の部材が帯電し、コロナ放電など異常な放電の発生が懸念されるときは、チャンバ108に交流電圧が付与され、種々の部材の除電が行われる。   The chamber 108 is a box for avoiding dust and the like from being mixed into the sample, and at least the inner surface is made of a conductive material. In the state where the sample is deposited, the chamber 108 is applied with a potential having the same polarity as the sample or a ground potential, and contributes to the formation of an electric field necessary for depositing the sample. Further, the chamber 108 is applied with a potential having a polarity opposite to that of the sample in a state where the deposition of the sample is completed, and adsorbs the sample remaining in the space in the chamber 108 to increase the cleanliness in the chamber 108. That is, the chamber 108 functions as an adsorption member. Further, when various members are charged and there is a concern about the occurrence of abnormal discharge such as corona discharge, an AC voltage is applied to the chamber 108 and the various members are neutralized.

第5電源109は、上記のように、極性を切り替えて直流電圧をチャンバ108に印加したり、交流電圧をチャンバ108に印加したりすることのできる電源である。なお、チャンバ108が吸着部材として機能する際は、第5電源109は、吸着電源として機能する。また、第5電源109は、上述の通り、チャンバ108を接地電位(0V)に維持する機能も備えている。   The fifth power source 109 is a power source that can switch the polarity and apply a DC voltage to the chamber 108 or an AC voltage to the chamber 108 as described above. In addition, when the chamber 108 functions as an adsorption member, the fifth power source 109 functions as an adsorption power source. The fifth power source 109 also has a function of maintaining the chamber 108 at the ground potential (0 V) as described above.

ポンプ131は、キャピラリ101から試料を噴霧するために必要な圧力を圧縮空気として供給するポンプである。   The pump 131 is a pump that supplies a pressure necessary for spraying a sample from the capillary 101 as compressed air.

圧力調整手段132は、ポンプ131から供給される圧縮空気の圧力を調整し、試料の噴霧に最適な圧力とする絞り弁である。   The pressure adjusting means 132 is a throttle valve that adjusts the pressure of the compressed air supplied from the pump 131 to obtain an optimum pressure for spraying the sample.

開閉弁133は、圧縮空気をキャピラリ101に供給するか否かを決定する弁である。なお、開閉弁133、及び、圧力調整手段132は、制御装置(図示せず)により制御されている。   The on-off valve 133 is a valve that determines whether or not to supply compressed air to the capillary 101. The on-off valve 133 and the pressure adjusting means 132 are controlled by a control device (not shown).

XYステージ135は、サンプルチップ200が載置され、サンプルチップ200を水平方向に移動させることができるテーブルである。   The XY stage 135 is a table on which the sample chip 200 is placed and can move the sample chip 200 in the horizontal direction.

図2は、サンプルチップ200を概念的に示す図であり、(a)は上面図、(b)は正面図である。   2A and 2B are diagrams conceptually showing the sample chip 200, where FIG. 2A is a top view and FIG. 2B is a front view.

同図に示すように、サンプルチップ200は、複数の試料が堆積される部材であり、基板201と、電極202と、端子203と、接続部204とを備えている。   As shown in the figure, the sample chip 200 is a member on which a plurality of samples are deposited, and includes a substrate 201, an electrode 202, a terminal 203, and a connection portion 204.

基板201は、サンプルチップ200の土台となる部材であり、絶縁性を備える透明なガラスで構成されている。   The substrate 201 is a member that becomes a base of the sample chip 200, and is made of transparent glass having insulating properties.

電極202は、試料が堆積される領域を規定する部材であり、導電性を備える透明な材料(例えばITO(Indium Tin Oxide))で構成されている。電極202は、基板201の表面に設けられている。   The electrode 202 is a member that defines a region where a sample is deposited, and is made of a transparent material having conductivity (for example, ITO (Indium Tin Oxide)). The electrode 202 is provided on the surface of the substrate 201.

以上のように、基板201と電極202が透明であれば、堆積した試料を透過型の光学顕微鏡で観察することが可能となる。   As described above, if the substrate 201 and the electrode 202 are transparent, the deposited sample can be observed with a transmission optical microscope.

端子203は、接続選択手段と接続するための端子であり、電極202と同様ITOで構成されている。   The terminal 203 is a terminal for connecting to the connection selection means, and is made of ITO like the electrode 202.

接続部204は、電極202と端子203とを電気的に接続する部分であり、ITOで構成されている。   The connection portion 204 is a portion that electrically connects the electrode 202 and the terminal 203 and is made of ITO.

なお、本実施の形態では基板201、電極202とも透明の材料で構成したが、特に限定されるものではない。本発明にかかる試料堆積装置100は、サンプルチップ200を構成する材質は問わない。   Note that although the substrate 201 and the electrode 202 are made of a transparent material in this embodiment mode, they are not particularly limited. The material which comprises the sample chip 200 does not ask | require the sample deposition apparatus 100 concerning this invention.

図3は、サンプルチップと接続選択手段とを概念的に示す正面図であり、(a)は外観図、(b)は回路図である。   FIG. 3 is a front view conceptually showing the sample chip and the connection selection means, where (a) is an external view and (b) is a circuit diagram.

同図に示すように、サンプルチップ200の端子203と接続選択手段120とは、着脱自在となされ、サンプルチップ200と接続選択手段120とが離れることで、サンプルチップ200を新たなサンプルチップ200と交換することが可能となっている。   As shown in the figure, the terminal 203 and the connection selection means 120 of the sample chip 200 are detachable, and the sample chip 200 and the new sample chip 200 are separated by separating the sample chip 200 and the connection selection means 120. It is possible to exchange.

接続選択手段120は、接続される電極を第1電源102に接続するか、第2電源103に接続するかを選択することができるスイッチ121を備えた装置である。接続選択手段120は、下方に突出した接続子をサンプルチップ200の端子203に対応した数だけ備えている。また、接続選択手段120は、サンプルチップ200に対し離接することができ、接続選択手段120とサンプルチップ200とが接した状態では、各接続子123と端子203とが電気的に接続される。つまり、接続選択手段120と電極202とが接続される。   The connection selection unit 120 is a device that includes a switch 121 that can select whether an electrode to be connected is connected to the first power source 102 or the second power source 103. The connection selection means 120 includes a number of connectors protruding downward corresponding to the number of terminals 203 of the sample chip 200. Further, the connection selection means 120 can be separated from and connected to the sample chip 200, and in a state where the connection selection means 120 and the sample chip 200 are in contact, each connector 123 and the terminal 203 are electrically connected. That is, the connection selection unit 120 and the electrode 202 are connected.

スイッチ121は、それぞれの接続子123に対応して設けられており、接続されている接続子123と第1電源102とを接続するか、前記接続子123と第2電源103とを接続するかを選択することが可能となっている。   The switch 121 is provided corresponding to each connector 123, and connects the connected connector 123 and the first power supply 102, or connects the connector 123 and the second power supply 103. It is possible to select.

また、接続選択手段120は、図示しない制御装置と接続されており、制御装置からの命令を受信することでスイッチ121が設定され、接続子123と接続される電源が制御装置によって選択されるものとなっている。   The connection selection means 120 is connected to a control device (not shown), receives a command from the control device, sets the switch 121, and selects the power source connected to the connector 123 by the control device. It has become.

次に、上記試料堆積装置100を用いた試料堆積方法を説明する。   Next, a sample deposition method using the sample deposition apparatus 100 will be described.

図4は、試料の堆積状態の各段階を、拡大率を変えて一度に示した概念図である。   FIG. 4 is a conceptual diagram showing each stage of the sample deposition state at a time with different magnifications.

まず、所定の試料が充填されたキャピラリ101を試料堆積装置100に取り付ける。   First, the capillary 101 filled with a predetermined sample is attached to the sample deposition apparatus 100.

次に、第6電源112を駆動し、棒電極111を介して試料を負に帯電させる(帯電ステップ)。   Next, the sixth power source 112 is driven to charge the sample negatively through the rod electrode 111 (charging step).

また、試料堆積装置100の各部とサンプルチップ200の電極202に電位を与え、電場を形成する。具体的には、サンプルチップ200の所定の領域に対応する電極202(同図中に示すサンプルチップ200の最も左の電極)に、帯電している試料の極性と逆の極性である正の電位を印加する(逆極性電位印加ステップ)。前記電位の印加は第1電源102を用い、接続選択手段120を介して行われる。付与する電位は接地電位を0Vとした場合、20V以上、3KV以下の範囲から選定する。20V未満だと、電極202が帯電した試料を引き寄せる能力が著しく低下し、所定の領域に試料が堆積しなくなる。3KVより高くすると、異常放電の発生確率が高くなるからである。なお、電極202に印加する電位は、隣り合う電極202に印加される電位と電極間距離に依存する。   In addition, an electric field is formed by applying a potential to each part of the sample deposition apparatus 100 and the electrode 202 of the sample chip 200. Specifically, a positive potential having a polarity opposite to the polarity of the charged sample is applied to the electrode 202 corresponding to a predetermined region of the sample chip 200 (the leftmost electrode of the sample chip 200 shown in the figure). Is applied (reverse polarity potential application step). The application of the potential is performed via the connection selection unit 120 using the first power source 102. The potential to be applied is selected from the range of 20 V or more and 3 KV or less when the ground potential is 0 V. When the voltage is less than 20 V, the ability of the electrode 202 to attract the charged sample is remarkably reduced, and the sample is not deposited in a predetermined region. This is because if it is higher than 3 KV, the probability of occurrence of abnormal discharge increases. Note that the potential applied to the electrodes 202 depends on the potential applied to the adjacent electrodes 202 and the distance between the electrodes.

また、サンプルチップ200の前記領域に対応する前記電極202と隣り合う電極202、および、隣り合う電極202の右側にある全ての電極202に、交流の電位を印加する(忌避電位印加ステップ)。前記電位の印加は第2電源103を用い、接続選択手段120を介して行われる。試料を堆積しない領域に存在する電極202に交流の電位を印加することにより、試料の堆積を忌避することが可能となる。これは、試料の空間中の移動速度と交流電位の周波数とを勘案すれば、電極202は交流電位の平均値(電位0V)が印加されているとみなすことができると思われる。従って、正の電位が印加されている電極202と比べると、交流電位が印加されている電極202の電位の方が試料の極性に近くなり、試料の堆積を忌避できるものと考えている。また、交流の電位を印加することで、他の電極との放電を抑止することができる効果も享受することができる。なお、正の電位が印加されている電極202以外の電極202を接地した場合、負の試料が当該電極202に近づくと電極202表面に正の電荷が現れるため、試料の忌避効果に乏しく、放電を抑止することも困難となる。   Further, an alternating potential is applied to the electrode 202 adjacent to the electrode 202 corresponding to the region of the sample chip 200 and all the electrodes 202 on the right side of the adjacent electrode 202 (repellent potential applying step). The application of the potential is performed via the connection selection unit 120 using the second power source 103. By applying an alternating potential to the electrode 202 existing in the region where the sample is not deposited, it is possible to avoid the deposition of the sample. This can be considered that the average value of the AC potential (potential 0 V) is applied to the electrode 202 in consideration of the moving speed of the sample in the space and the frequency of the AC potential. Therefore, compared to the electrode 202 to which a positive potential is applied, the potential of the electrode 202 to which an AC potential is applied is closer to the polarity of the sample, and it is considered that deposition of the sample can be avoided. Moreover, the effect which can suppress discharge with another electrode can be enjoyed by applying an alternating potential. Note that, when the electrode 202 other than the electrode 202 to which a positive potential is applied is grounded, a positive charge appears on the surface of the electrode 202 when the negative sample approaches the electrode 202, so that the sample repelling effect is poor and the discharge is performed. It is also difficult to deter.

第2電源が電極202に与える交流電圧は、実効値で5V以上、1KV以下の範囲が望ましい。5V未満であると試料を忌避する効果が望めない。1KVより大きいと、試料を忌避する効果の向上を望めなくなり、絶縁破壊が発生する可能性が高くなる。また、周波数は20Hz以上、50KHz以下が望ましい。20Hz未満であると、試料の付着を完全に忌避することを望めない。50KHzより高いと、忌避効果の向上は望みにくく、ノイズが発生して他への悪影響が懸念されるからである。   The AC voltage applied by the second power source to the electrode 202 is preferably in the range of 5 V to 1 KV in terms of effective value. If it is less than 5 V, the effect of repelling the sample cannot be expected. If it is higher than 1 KV, improvement in the effect of avoiding the sample cannot be expected, and there is a high possibility that dielectric breakdown will occur. The frequency is preferably 20 Hz or more and 50 KHz or less. If it is less than 20 Hz, it cannot be expected to completely avoid sample adhesion. If the frequency is higher than 50 KHz, the improvement in the repelling effect is hardly desired, and noise is generated, and there is a concern about adverse effects on others.

なお、第2電源103が印加する電位は試料と同極性の電位、つまり、負の直流電位でも構わない。   Note that the potential applied by the second power source 103 may be a potential having the same polarity as the sample, that is, a negative DC potential.

さらに、第3電源を用い、誘導部材104に負の電位を与える。第4電源107を用い、収束部材106に負の電位を与える。さらに、第5電源を用い、チャンバ108に負の直流電位を与える。   Further, a negative potential is applied to the induction member 104 using the third power source. A negative potential is applied to the converging member 106 using the fourth power source 107. Further, a negative DC potential is applied to the chamber 108 using the fifth power source.

以上のようにして試料堆積装置100内に電場を形成した後、キャピラリ101に圧縮空気を送って、試料を噴霧する(噴霧ステップ)。   After forming an electric field in the sample deposition apparatus 100 as described above, compressed air is sent to the capillary 101 to spray the sample (spraying step).

噴霧された試料は、同図の上段に示すように、帯電した小さな粒となって乱雑に散らばるが、誘導部材104が形成する電場(電気力線)によって、サンプルチップ200の所定領域に向かうように誘導される。   As shown in the upper part of the figure, the sprayed sample is scattered in a random manner as charged small particles, but is directed toward a predetermined region of the sample chip 200 by the electric field (electric field lines) formed by the induction member 104. Be guided to.

誘導された試料の粒は、さらに、収束部材106によって収束される(同図中段)。   The induced grain of the sample is further converged by the converging member 106 (the middle stage in the figure).

最後に、試料は、逆極性の電圧が印加された電極202に吸引されサンプルチップ200の所定領域に堆積する(同図下段)。   Finally, the sample is attracted to the electrode 202 to which a reverse polarity voltage is applied, and is deposited in a predetermined region of the sample chip 200 (the lower part of the figure).

ここで、収束部材106とサンプルチップ200との距離は、従来のサンプルチップとマスクとの距離に比べ十分に長い。従って、収束部材106によって収束した試料は、サンプルチップ200に到達するため相当の時間を要する。そしてこの時間に試料は均等に飛翔するようになり、サンプルチップ200へは、均一に堆積することとなる。   Here, the distance between the converging member 106 and the sample chip 200 is sufficiently longer than the distance between the conventional sample chip and the mask. Therefore, the sample converged by the converging member 106 takes a considerable time to reach the sample chip 200. At this time, the sample flies evenly and deposits uniformly on the sample chip 200.

以上の装置、方法を採用することにより、サンプルチップ200上の所定の領域に試料を均一に堆積することが可能となる。   By employing the above apparatus and method, it is possible to deposit a sample uniformly in a predetermined region on the sample chip 200.

次に、他の種類の試料が充填されたキャピラリ101に交換し、XYステージ135でサンプルチップ200を次の試料が堆積される領域が収束部材106の中心に来るように移動する。   Next, the capillary 101 is filled with another type of sample, and the sample chip 200 is moved by the XY stage 135 so that the region where the next sample is deposited comes to the center of the converging member 106.

以上のような工程を繰り返すことにより、サンプルチップ200上には種類の異なる複数の試料が堆積することになる。   By repeating the steps as described above, a plurality of different types of samples are deposited on the sample chip 200.

なお、本実施の形態では、誘導部材104と収束部材106とを用いたが、本願発明は、必ずしも誘導部材104と収束部材106とを必要とするわけではない。つまり、キャピラリ101から帯電した試料を噴霧し、サンプルチップ200の所定の領域に対応する電極に帯電した試料と逆極性の電位を付与し、その他の電極に交流、または、同極性の電位を付与することで、サンプルチップ200上の所定の領域に試料を均一に堆積することが可能となる。誘導部材104と収束部材106とは前記効果をより高めるためのものであり、特に所定の領域が微小な場合、その効果を発揮する。   In this embodiment, the guiding member 104 and the converging member 106 are used. However, the present invention does not necessarily require the guiding member 104 and the converging member 106. In other words, a charged sample is sprayed from the capillary 101, a potential opposite to that of the charged sample is applied to the electrode corresponding to a predetermined region of the sample chip 200, and an alternating current or a potential of the same polarity is applied to the other electrodes. As a result, the sample can be uniformly deposited in a predetermined region on the sample chip 200. The guiding member 104 and the converging member 106 are for enhancing the above-described effect, and exhibit the effect particularly when the predetermined region is very small.

また、図5に示すように、サンプルチップ200が備える電極202が矩形の場合、図6に示すように、誘導部材104、収束部材106を電極202の形状に対応した矩形で構成すれば、電極202の形状に対応した形状で試料を堆積することが可能となる。   As shown in FIG. 5, when the electrode 202 provided in the sample chip 200 is rectangular, as shown in FIG. 6, if the guide member 104 and the converging member 106 are configured in a rectangle corresponding to the shape of the electrode 202, the electrode The sample can be deposited in a shape corresponding to the shape of 202.

また、図7に示すように、複数のキャピラリ101を備えたマルチキャピラリとすれば、キャピラリを交換する手間が減少する。なお、いずれのキャピラリ101から試料を噴霧するかは、開閉弁133を選択することにより実行することができる。また、試料の帯電は、キャピラリ101を導体で構成し、キャピラリ101自体に電位を印加することで行うことが可能である。   In addition, as shown in FIG. 7, if a multi-capillary including a plurality of capillaries 101 is used, labor for replacing the capillaries is reduced. Note that the capillary 101 from which the sample is sprayed can be executed by selecting the on-off valve 133. The sample can be charged by forming the capillary 101 with a conductor and applying a potential to the capillary 101 itself.

また、試料堆積装置100を次のような電位状態とすることが好ましい。   Moreover, it is preferable to set the sample deposition apparatus 100 to the following potential state.

すなわち、サンプルチップ200の電極202に20V以上、3KV以下から選定される電位を印加する。この場合の極性(+、−)はいずれでも良いが、ここでは性の極性(+)を印加するものとして説明する。収束部材106を接地する。誘導部材104を接地する。キャピラリ101を接地する。なお、接地とは、キャピラリ101等を直接アースと接続しても良い。また、電源を介してキャピラリ101等とアースとを接続し、キャピラリ101等を0V(接地電位)に維持するものでも良い。   That is, a potential selected from 20 V or more and 3 KV or less is applied to the electrode 202 of the sample chip 200. In this case, the polarity (+, −) may be any, but here, it is assumed that the sex polarity (+) is applied. The converging member 106 is grounded. The guide member 104 is grounded. Capillary 101 is grounded. Note that with the grounding, the capillary 101 or the like may be directly connected to the ground. Alternatively, the capillary 101 or the like may be connected to the ground via a power source to maintain the capillary 101 or the like at 0 V (ground potential).

以上により、サンプルチップ200の電極202は正の極性になり、その他の部材は、0V(接地電位)となる。また、キャピラリ101も同様に電位は0Vとなるが、サンプルチップ200の電極202の正の極性に誘導され、キャピラリ101には負の電荷が誘導される。   As a result, the electrode 202 of the sample chip 200 has a positive polarity, and the other members have 0 V (ground potential). Similarly, the capillary 101 has a potential of 0 V, but is induced by the positive polarity of the electrode 202 of the sample chip 200, and a negative charge is induced in the capillary 101.

従って、キャピラリ101から吐出される試料は、負に帯電し、サンプルチップ200の電極202に向かって飛行する。   Therefore, the sample discharged from the capillary 101 is negatively charged and flies toward the electrode 202 of the sample chip 200.

このような電位状態とすれば、試料堆積装置100の多くの部分が接地電位となるため、異常放電が発生しにくく安定した状態で安全に試料を堆積することが可能となる。   In such a potential state, many parts of the sample deposition apparatus 100 are at ground potential, so that abnormal discharge is unlikely to occur and the sample can be safely deposited in a stable state.

また、図8に示すように、試料堆積装置100が一連に配置され、ローダ211と、アンローダ212とを備えるインライン式堆積装置を構成しても構わない。これにより、サンプルチップ200を製造するスループットを向上させることが可能となる。なお、試料堆積装置100の配置は、一直線ばかりでなく、円形に配置しても構わない。   Further, as shown in FIG. 8, a sample deposition apparatus 100 may be arranged in series, and an in-line deposition apparatus including a loader 211 and an unloader 212 may be configured. Thereby, it is possible to improve the throughput for manufacturing the sample chip 200. The sample deposition apparatus 100 may be arranged not only in a straight line but also in a circle.

なお、上記実施の形態では、接地電位を0Vとし、これを基準に極性を決めていたが、本発明はこれに限定されるわけではない。例えば接地電位から所定の電圧分バイアスをかけた電位を基準に極性を決定しても構わない。   In the above embodiment, the ground potential is set to 0 V, and the polarity is determined based on the ground potential. However, the present invention is not limited to this. For example, the polarity may be determined based on a potential biased by a predetermined voltage from the ground potential.

本発明は、マイクロアレイの製造に利用可能である。   The present invention can be used for manufacturing a microarray.

試料堆積装置を概略的に示す、一部破断して示す断面図である。It is sectional drawing which shows a sample deposition apparatus roughly and is shown partly broken. サンプルチップを概念的に示す図であり、(a)は上面図、(b)は正面図である。It is a figure which shows a sample chip | tip conceptually, (a) is a top view, (b) is a front view. サンプルチップと接続選択手段とを概念的に示す正面図であり、(a)は外観図、(b)は回路図である。It is a front view which shows a sample chip | tip and a connection selection means notionally, (a) is an external view, (b) is a circuit diagram. 試料の堆積状態の各段階を、拡大率を変えて一度に示した概念図である。It is the conceptual diagram which showed each step of the deposition state of the sample at once, changing the expansion rate. 他の種類のサンプルチップを概念的に示す図であり、(a)は上面図、(b)は正面図である。It is a figure which shows the other kind of sample chip | tip conceptually, (a) is a top view, (b) is a front view. 試料堆積装置の他の実施の形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows other embodiment of a sample deposition apparatus. 試料堆積装置の他の実施の形態を概略的に示す、一部破断して示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other embodiment of a sample deposition apparatus roughly, and is shown partly broken. インライン式の試料堆積装置を概念的に示す正面図である。It is a front view which shows notionally the in-line type sample deposition apparatus. 従来のマスクを用いた試料の堆積状態を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the deposition state of the sample using the conventional mask.

符号の説明Explanation of symbols

100 試料堆積装置
101 キャピラリ
102 第1電源
103 第2電源
104 誘導部材
105 第3電源
106 収束部材
107 第4電源
108 チャンバ
109 第5電源
110 電荷付与手段
111 棒電極
112 第6電源
120 接続選択手段
121 スイッチ
123 接続子
131 ポンプ
132 圧力調整手段
133 開閉弁
135 XYステージ
200 サンプルチップ
201 基板
202 電極
203 端子
204 接続部
211 ローダ
212 アンローダ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Sample deposition apparatus 101 Capillary 102 1st power supply 103 2nd power supply 104 Guidance member 105 3rd power supply 106 Convergence member 107 4th power supply 108 Chamber 109 5th power supply 110 Charge provision means 111 Rod electrode 112 6th power supply 120 Connection selection means 121 Switch 123 Connector 131 Pump 132 Pressure adjusting means 133 On-off valve 135 XY stage 200 Sample chip 201 Substrate 202 Electrode 203 Terminal 204 Connection section 211 Loader 212 Unloader

Claims (1)

複数の電極を備え、絶縁体からなる基板の前記電極に対応する領域に試料を堆積する試料堆積装置であって、
前記試料を噴霧する噴霧手段と、
前記試料を帯電させる電荷付与手段と、
前記帯電している試料の極性と逆の極性の電位を印加する第1電源と、
前記帯電している試料の極性と同じ極性の直流電位、または、交流電位を印加する第2電源と、
前記各電極と前記第1電源とを接続するか、前記第2電源と接続するかを選択する選択接続手段と
噴霧された試料を所定の方向に誘導する誘導部材と、
前記帯電している試料の極性と同じ極性の電位、または、接地電位を前記誘導部材に印加する第3電源とを備え
前記誘導部材は、試料が堆積される領域との距離が一定となる誘導面を備え
試料堆積装置。
A sample deposition apparatus comprising a plurality of electrodes and depositing a sample in a region corresponding to the electrodes of a substrate made of an insulator,
Spraying means for spraying the sample;
Charge applying means for charging the sample;
A first power source for applying a potential having a polarity opposite to that of the charged sample;
A second power source for applying a DC potential having the same polarity as that of the charged sample or an AC potential;
A selective connection means for selecting whether to connect each of the electrodes and the first power source or to the second power source ;
A guiding member for guiding the sprayed sample in a predetermined direction;
A third power source for applying a potential having the same polarity as the polarity of the charged sample or a ground potential to the induction member ;
The guide member includes a sample deposition device a distance between the area where the sample is deposited Ru provided with a guiding surface becomes constant.
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