JP4854667B2 - プロセス制御工業のための汚れ及び腐食検出器 - Google Patents
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Description
本発明は一般に、工業プロセスのための汚れ及び腐食検出器に関し、より具体的には、工業プロセス中のプロセスエレメントの汚れ及び腐食を予測するための現場取り付け型検出器に関する。
工業プロセスの管の中を流れる流体からプロセスエレメントの起こりうる又は起こりそうな腐食又は汚れを推測する方法が記載される。ボディの周波数応答を計測する。計測した周波数応答を記憶された値に対して比較する。その比較に基づいてプロセスエレメントの腐食又は汚れを識別する。一つの実施態様では、比較に基づいて腐食又は汚れのタイプの特性を推測する。
一般に、本発明は、プロセスフローの中、好ましくはプロセスエレメントの上流側に挿入することができ、装置の共振周波数に基づいて下流側の汚れ及び腐食状態を予測するために使用することができる装置に関する。本発明はまた、プロセス構成部品の汚損及び腐食(又は目詰まり)を、プロセス構成部品の上流側に配置された装置の共振周波数に基づいて予測するための技術に関する。
Claims (30)
- 工業プロセスの管の中を流れる流体からプロセスエレメントの起こりうる腐食又は汚れを推測する方法であって、
管中に配置されて励起に応答するボディの周波数応答を計測することと、
計測した周波数応答を記憶された値に対して比較することと、
比較に基づいてプロセスエレメントの腐食又は汚れを識別することと、
前記計測された周波数応答を、前記腐食又は汚れの特性を識別するために、共振周波数応答に基づいて解析することと、
を含み、
前記共振周波数の高め又は低めへの変化が、汚れか又は腐食かを区別することに使用される
ことを特徴とする方法。 - 前記共振周波数の変化から、付着物質が粘着性物質か又は粒状物質かのタイプを判断することをさらに含む、請求項1記載の方法。
- 前記周波数応答のQファクタの減少及び減衰係数の増加が粘着性物質の付着を示唆することに使用される、請求項1記載の方法。
- 前記周波数応答のQファクタの最小限の変化、最小限の位相ずれ及び最小限の減衰の変化を伴う共振周波数の変化が、粒状物質の付着を示唆することに使用される、請求項1記載の方法。
- 前記周波数応答の共振周波数を識別すること、
腐食を示唆するために記憶された周波数応答に対する前記共振周波数の増加を使用すること、
前記腐食の程度を示唆するために前記増加の大きさを使用することをさらに含む、請求項1記載の方法。 - 前記計測するステップの前に、
前記流体流れを少なくとも部分的に妨げる前記ボディを前記管中に設置することと、
前記ボディの周波数応答を計測することと、
前記計測した周波数応答に基づく値を記憶することと、
をさらに含む、請求項1記載の方法。 - 前記計測するステップが、
前記ボディに結合した圧電エレメントの周波数掃引を実施することと、
前記ボディの共振周波数を計測することと、
をさらに含む、請求項6記載の方法。 - 前記工業プロセスの管の中を流れるプロセス流体中に延びるボディが共振状態になり振動すること、
をさらに含む、請求項1記載の方法。 - 前記振動するステップが、
前記ボディに結合した圧電エレメントを周波数掃引で励起することを含み、
前記周波数掃引が前記圧電エレメントを励起すると、前記圧電エレメントが他方で前記ボディが共振状態になり励起する、請求項8記載の方法。 - 前記検出するステップが、
前記ボディの周波数応答を計測することと、
前記周波数応答を記憶された周波数応答に比較することと、
前記ボディに結合されている圧電駆動エレメントの前記周波数掃引中の局所出力最小値を検出すること
を含む、請求項8記載の方法。 - 前記変化が所定の範囲の外であるとき、前記管中で前記共振状態のボディの下流側にあるプロセスエレメントの汚れ又は腐食を示唆するアラームを発すること
をさらに含む、請求項1又は8記載の方法。 - 前記ボディが、
前記管中に配置され、前記流体流れの中に延びる構造と、
前記構造上に配置され、一つ以上の腐食性インサートを確保するように適合された一つ以上のポケットとを含み、
前記一つ以上の腐食性インサートの腐食が前記構造の前記周波数応答の変化を生じさせる、請求項1記載の方法。 - 各腐食性インサートがその腐食特性にしたがって選択される、請求項12記載の方法。
- 前記腐食特性が、前記管中の前記プロセスエレメントの腐食特性に対応するように選択される、請求項13記載の方法。
- 前記ボディが、
前記流体流れの中に延びる構造と、
前記構造上に配置された一つ以上のポケットと、
を含む、請求項8記載の方法。 - 前記振動するステップの前に、
一つ以上の腐食性インサートを前記一つ以上のポケットの中に配置すること
を含む、請求項15記載の方法。 - 前記一つ以上の腐食性インサートが、前記プロセスエレメントの反応速度と実質的に同じである速度で前記プロセス流体と反応するように選択された材料から形成されている、請求項16記載の方法。
- 前記ボディが、
前記プロセスエレメントの材料と一致した速度で前記流体流れと反応するように選択された材料から形成された薄い壁を有する中空構造
を含む、請求項8記載の方法。 - 工業プロセスの管の中を流れる流体からプロセスエレメントの起こりうる腐食又は汚れを推測するように適合された装置であって、
前記管中に配置され、励起に応答して動くように適合されたボディと、
前記管に結合され、前記ボディの周波数応答の変化に基づいて起こりうる腐食又は汚れを推測するように適合されたセンサと、
を含み、
前記装置は、さらに前記汚れの特性を識別するために、前記周波数応答を解析することに適合され、
前記装置は、前記共振周波数の高め又は低めへの変化を、汚れか又は腐食かの区別に使用するように適合される
ことを特徴とする装置。 - 前記共振周波数の変化から、付着物質が粘着性物質か又は粒状物質かのタイプを判断するようにさらに適合される、請求項19記載の装置。
- 前記ボディ上の粘着性物質の付着を示唆するために、前記周波数応答のQファクタの減少及び減衰係数の増加を使用するようにさらに適合される、請求項19記載の装置。
- 粒状物質の付着を示唆するために、Qファクタの最小限の変化、最小限の位相ずれ及び最小限の減衰の変化を伴う共振周波数の変化を使用するようにさらに適合される、請求項19記載の装置。
- 前記ボディが、
前記プロセスエレメントの材料と一致した速度で前記流体流れと反応するように選択された材料から形成された薄い壁を有する中空構造
を含む、請求項19記載の装置。 - 前記ボディが、
前記流体流れの中に延びる構造と、
前記構造の周囲に配置された複数のポケットと、
を含む、請求項19記載の装置。 - それぞれが前記複数のポケットの一つの中に収まるようなサイズの複数の腐食性インサートをさらに含む、請求項24記載の装置。
- 前記腐食性インサートが、前記流体と反応するように選択された材料から形成されている、請求項25記載の装置。
- 前記周波数応答の変化が所定の範囲の外であるとき、アラーム信号を発するように適合され、前記アラーム信号をコントロールセンタに送信するためのトランスミッタ回路
をさらに含む、請求項19記載の装置。 - 前記励起が、前記ボディを共振状態に励起するのに十分なプロセスノイズを含む、請求項19記載の装置。
- 前記励起が、圧電ドライバによって発される励起信号を含む、請求項19記載の装置。
- 前記ボディに被さるように適合され、前記流体と反応するように選択された材料から形成されている腐食性カバー
をさらに含む、請求項19記載の装置。
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