JP4849558B2 - 層状構造体の層間変位計測方法及び装置 - Google Patents
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Description
(ロ)一対のトグル機構10i、20iを配設し、一対のトグル機構10i、20iの対合節点15、15の間に変位計30iを接続することで、梁3や柱4の変形に影響されない精確な層間水平変位δiを計測することが期待できる。
(ハ)また、トグル機構10iによって水平方向の層間変位δiを鉛直方向の変位に置き換えて計測することができ、層状構造体1の高さ方向に架渡した1本の光ファイバセンサで複数の層2iの層間水平変位δiを同時に計測することができる。
(ホ)各層2iで直接計測した精度の高い層間変位(最大変形、残留変形、時刻歴波形など)を用いて層状構造体の損傷状況を評価することにより、被災度判定や残余耐震性能判定の精度を向上させることができ、評価にかかる時間の短縮も期待できる。
(ヘ)また、設計時に耐震性能の指標として各層2iの層間変位の解析を行っている場合は、各層2iで直接計測した層間変位と設計時の解析結果とを対応させることで、被災度判定や残余耐震性能判定の容易化・迅速化を図ることが期待できる。
3…梁 4…柱
5…柱梁結合部
10、20…トグル機構 11…第1棒状部材
12…第2棒状部材 15…対合節点
30…変位計 31…信号ケーブル
32…光ファイバケーブル
34…歪計測器 35…算出装置
Claims (6)
- 層状構造体の各層又は任意層に当該層の天井の柱梁結合部又は梁に一端がピン接合した第1棒状部材と当該層の床の柱梁結合部又は柱に一端がピン接合した第2棒状部材とを両部材の自由端で相互にピン対合させたトグル機構を配設し、前記層のトグル機構の対合節点と当該層の梁との間に前記構造体の高さ方向の変位計を接続し、前記変位計の計測値により層間水平変位を求めてなる層状構造体の層間変位計測方法。
- 請求項1の計測方法において、前記層状構造体の各層又は任意層に一対の前記トグル機構を配設し、前記変位計を一対のトグル機構の対合節点の間に接続してなる層状構造体の層間変位計測方法。
- 請求項1又は2の計測方法において、前記変位計を、前記層状構造体の各層又は任意層のトグル機構の対合節点を順次接続して高さ方向に架渡した1本の光ファイバセンサとしてなる層状構造体の層間変位計測方法。
- 層状構造体の各層又は任意層に配設され且つ当該層の天井の柱梁結合部又は梁に一端がピン接合した第1棒状部材と当該層の床の柱梁結合部又は柱に一端がピン接合した第2棒状部材とを両部材の自由端で相互にピン対合させたトグル機構、前記層のトグル機構の対合節点と当該層の梁との間に接続した前記構造体の高さ方向の変位計、及び前記変位計の計測値により層間水平変位を算出する算出装置を備えてなる層状構造体の層間変位計測装置。
- 請求項5の計測装置において、前記層状構造体の各層又は任意層に一対の前記トグル機構を配設し、前記変位計を一対のトグル機構の対合節点の間に接続してなる層状構造体の層間変位計測装置。
- 請求項4又は5の計測装置において、前記変位計を、前記層状構造体の各層又は任意層のトグル機構の対合節点を順次接続して高さ方向に架渡した1本の光ファイバセンサとしてなる層状構造体の層間変位計測装置。
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