JP4814951B2 - マグネトロンスパッタリングによる金属帯の真空エッチングの方法および装置 - Google Patents

マグネトロンスパッタリングによる金属帯の真空エッチングの方法および装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4814951B2
JP4814951B2 JP2008538379A JP2008538379A JP4814951B2 JP 4814951 B2 JP4814951 B2 JP 4814951B2 JP 2008538379 A JP2008538379 A JP 2008538379A JP 2008538379 A JP2008538379 A JP 2008538379A JP 4814951 B2 JP4814951 B2 JP 4814951B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal strip
magnetic
strip
magnetic circuits
width
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008538379A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009515039A (ja
Inventor
コルニル,ユーグ
ドウエール,ブノワ
マボージユ,クロード
モツール,ジヤツク
Original Assignee
アルセロールミタル・フランス
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=36997659&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP4814951(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by アルセロールミタル・フランス filed Critical アルセロールミタル・フランス
Publication of JP2009515039A publication Critical patent/JP2009515039A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4814951B2 publication Critical patent/JP4814951B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/02Pretreatment of the material to be coated
    • C23C14/021Cleaning or etching treatments
    • C23C14/022Cleaning or etching treatments by means of bombardment with energetic particles or radiation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/562Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks for coating elongated substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F4/00Processes for removing metallic material from surfaces, not provided for in group C23F1/00 or C23F3/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32733Means for moving the material to be treated
    • H01J37/32752Means for moving the material to be treated for moving the material across the discharge
    • H01J37/32761Continuous moving
    • H01J37/3277Continuous moving of continuous material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • H01J37/3405Magnetron sputtering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3411Constructional aspects of the reactor
    • H01J37/345Magnet arrangements in particular for cathodic sputtering apparatus
    • H01J37/3452Magnet distribution

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Coating With Molten Metal (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)

Description

本発明は、マグネトロンスパッタリングによって例えば鋼帯などの金属帯をエッチングする(avivage)真空プロセスおよび装置に関する。
鋼帯の真空めっきの作業中に、付着前の帯の清浄状態は、重要な成功要因の1つであり、付着させるめっきの良好な接着性を決定する。これを実行するために使用されるプロセスの1つが、スパッタエッチングとも呼ばれるマグネトロンスパッタリングによる真空エッチングである。このプロセスは、ラジカルおよび/またはイオンの発生を可能にするプラズマを、帯と対極との間のガス中に生成することで構成される。これらのイオンは、通常の作業状態では、エッチングされる帯の表面に向かって加速して、表面の原子を引き剥がし、したがって汚れた可能性がある表面をクリーニングしながら、それを活性化する。
エッチングされる帯は、対極に面する真空室を通過する。対極は、それ自体が接地されていることが好ましい基板に対して正に偏倚される。帯の背後に配置された磁石の列が、その近傍で生成されたプラズマを閉じ込める。マグネトロンスパッタリングを実現するために必要な対極に対して、処理すべき金属帯を非常に正確に配置するために、金属帯は通常、軸の周囲で回転可能なバッキングロール上に配置される。
このタイプの表面処理を産業規模で実現すると、プロセスに追加の制約が与えられる。特に、エッチングされる表面の幅を、経時変化し得る鋼帯の幅に適合することが可能である必要がある。このような適合とは、プラズマ中で発生したラジカルまたはイオンの作用が、エッチングされる金属帯によって区切られた領域に制限されねばならないという意味である。
そのために、欧州特許出願第0603587号明細書は、プラズマによって基板を均一に腐食する装置を開示している。この装置によって、エッチング領域が、いずれの方向にも相応して寸法を変化させずに、短い長さにわたって変位することができる。これは基板の腐食をより均一にするが、処理される帯の幅の変化に実際に適応させることはできない。
欧州特許出願第0878565号明細書も知られ、これはエッチングによって処理される基板の幅の変動というこの問題を解決することを目的とするいくつかの装置を開示している。図4および図5に図示された第1の装置は、同じ幅である3つの個々の回路で構成された磁気回路を使用する。中心回路は静止し、他の2つの回路は、磁気回路全体の幅を帯の幅に適合させるように、帯に対して横断方向に移動することができる。帯がロール上に配置されていない、または非伝導ロールに載っている場合は、一部が帯上に、一部が絶縁表面上に延在するプラズマトラックに点火することが困難である。というのは、縁部が不均一な電界(ティップ効果)を生成する傾向があり、このポイントで交差するトラックのせいで、出力を増大させたい場合に多くのアークが発生するからである。したがって、この装置は、外側の磁気回路が鋼帯に面していないか、完全にそれに面している場合にのみ作動する。しかし、後者の場合、帯の幅に適合するように、磁気回路の作用する区域が重複するので、エッチングは均一でない。
帯を導電ロールに配置した場合、装置は、ロールを連続的かつ実質的に腐食せずには作動することができず、これを頻繁に交換する必要がある。
この文献は、図1から図3に図示され、長方形の枠3(N極)の形態の永久磁石、および3つの連続する平行なバー4(S極)から形成された永久磁石、またはその逆で構成された磁気回路を使用する第2の装置を開示している。S極の中心バー4aは、N極を形成する枠3の長辺3aと同様に静止している。枠3の端側3bおよびS極のバー4bは、帯の運動方向に対して横断方向に一緒に滑動することができる。帯がロールに位置していないか、非導電ロールに載っている場合、縁部で再び問題が生じる。磁気回路が、帯の縁部をわずかに越えて延在した場合、この部品を正確にエッチングするようにアークが現れる。また、帯の幅に適合するように磁石4の作用区域が重なっている場合、エッチングは不均質である。
さらに、帯が導電ロールに配置されている場合、磁石4の作用区域が重なっていると、エッチングが再び不均一になる。さらに、帯が狭い場合、処理される表面に面していないN極磁石3aも、磁界を妨害する。
この文献は、図6に図示され、多房構造の磁気回路を使用する第3の装置も開示している。この構造は、連続的な列12、12’にある独立した磁気回路2’、2”などの連続体で構成される。帯が円筒形ロール上に位置していないか、非導電ロールに載っている場合、装置は作動するが、帯の縁部と交差する磁気回路でアークが形成されてしまう。帯が導電ロールに配置されると、装置はもう、エッチングされる幅を様々な基板の幅に適合させることができない。
したがって、本発明の目的は、マグネトロンスパッタリングによってバッキングロール上を進む金属帯の表面をエッチングするために、処理が帯の幅の変動に適合できるようにしながら、なおバッキングロールを損傷せずに全表面を均一に処理する真空プロセスおよび装置を提供することによって、先行技術のプロセスの欠点を矯正することである。
そのために、本発明の第1の主題は、対極に面するバッキングロール上を進む金属帯を、この帯に作用するラジカルおよび/またはイオンを発生するように前記金属帯に近い気体中にプラズマを発生する真空室内でマグネトロンスパッタリングによりエッチングする真空プロセスであり、前記金属帯のそれとほぼ等しい幅を有する少なくとも1つの閉じた磁気回路が、様々な固定幅の一連の少なくとも2つの閉じた磁気回路から選択され、次に前記選択された磁気回路が、前記金属帯に面するように配置され、次に前記移動する金属帯のエッチングが実行されることを特徴とする。
本発明によるプロセスはさらに、個別に、または組み合わせて以下の特徴を組み込むことができる。
− バッキングロールは導電ロールである。
− 閉じた1つまたは複数の磁気回路は、縁部と縁部を接して配置された磁石の列を備え、2つの連続する列は反対の極性を有する。
− 選択された1つまたは複数の磁気回路は、金属帯に対して接線方向で300ガウスより大きい強度の磁界を発生する。
− 1つまたは複数の磁気回路は、バッキングロール内にロールに対して同心状に配置された円筒形支持体の外面に配置され、円筒形支持体はこの軸に対して回転することができる。
− 1つまたは複数の磁気回路は、軟鋼で作成されたヨーク上に配置される。
− 1つまたは複数の磁気回路は、円筒形支持体の表面に向かってサイズが増加するように配列される。
− 選択されない磁気回路は、100ガウスより大きい磁界を前記磁気回路から金属帯へと通過させない中和装置によって無効にされる。
− 中和装置は、前記1つまたは複数の磁気回路のいずれかの側に配置され、エッチング窓を画定する2つの部品で作成される。
− 一定の幅L1を有する金属帯の第1コイル、次に一定幅L2の第2コイルが処理され、第1コイルは、前記帯の上を運ばれる幅L1の閉じた磁気回路によって処理され、次に前記回路が、一定幅L2を有する金属帯の前記第2コイルを処理する幅L2の第2回路と交換するように除去される。
− エッチングされた金属帯は、次に保護コーティングで真空めっきされる。
− 金属帯は鋼帯である。
本発明の第2の主題は、マグネトロンスパッタリングによって金属帯をエッチングする真空装置で構成され、対極に面するバッキングロールと、前記金属帯を偏倚する手段と、前記帯と前記対極間の気体中にプラズマを生成する手段と、様々な固定幅で、それぞれが金属帯の全幅を個別に処理することができる一連の少なくとも2つの閉じた磁気回路と、前記金属帯に面して1つまたは複数の前記磁気回路を配置する手段とを備える。
本発明による装置はさらに、個別に、または組み合わせて以下の特徴を組み込むことができる。
− バッキングロールは導電ロールである。
− 閉じた1つまたは複数の磁気回路は、縁部と縁部を接して配置された磁石の列を備え、2つの連続する列は反対の極性を有する。
− 1つまたは複数の磁気回路は、金属帯に対して接線方向で300ガウスより大きい強度の磁界を発生することができる。
− 1つまたは複数の磁気回路は、バッキングロール内にロールに対して同心状に配置された円筒形支持体の外面に配置され、円筒形支持体はこの軸に対して回転することができる。
− 1つまたは複数の磁気回路は、軟鋼で作成されたヨーク上に配置される。
− 1つまたは複数の磁気回路は、円筒形支持体の表面に向かってサイズが増加するように配列される。
− 装置はさらに、100ガウスより大きい磁界を磁気回路から金属帯へと通過させない中和装置を含む。
− 中和装置は、前記1つまたは複数の磁気回路のいずれかの側で、金属帯と対極との間に配置されることができる2つの部品で作成される。
次に、添付図面に関して本発明をさらに詳細に説明する。
最初に図1に関して、これは円筒形表面を有し、軸を中心に回転できるバッキングロール3が内部に装着された真空室2を備えた本発明による装置1を示す。エッチングされる鋼帯4が、対極5に面してこのロール3の周囲に巻き付けられる。対極は、それ自体が接地されることが好ましい鋼帯に対して正に偏倚される。
対極システムは、1つまたは複数の電極で構成され、例えば線など、様々な形態をとることができる。
その内部にいくつかの磁気回路7を収容するドラム形の支持体6が、ロール3の内側に装着される。バッキングロール3は、製造範囲内で意図された幅のすべてに適合できるために、内部に適切な数の磁気トラック7を収容するのに十分な直径でなければならない。
ロール3は、帯4の縁部を越えて延在するプラズマによって連続的に腐食されるので、ロールのテーブルは、したがって磨耗部品と見なされなければならない。ロール3は、容易に調整でき、テーブルは、寿命の最後で容易に交換できねばならない。この寿命は表面スパッタリング速度に依存する。低めの腐食速度を有する任意の導電性コーティングを選択することにより、その寿命を改良することが可能である。
ロール3は、任意選択で地面に接続することができ、導電性であることが好ましい。その結果、この実施形態は、エッチング中に帯の中心と縁部の間の処理を不均一にする帯の縁部におけるアークの出現を制限、または防止さえすることを可能にする。
ドラム6は、生産中にバッキングロール3の内側で回転することができる。このドラム6は、製造範囲内で意図された幅のすべてに適合できるために、適切な数の磁気トラック7を収容するのに十分な直径でなければならない。
図2に見られるように、磁気回路7は様々な幅であり、鋼帯4が進む方向に対して横断方向に増加する。
各磁気回路7は、軟鋼で作成された部品に装着できる磁石8で構成される。これらの部品は、ドラムに取り付けられた独立要素であるか、クレードルとして働く外殻でよい。
磁石8の下の軟鋼ヨークは、マグネトロン構成上の誘導磁界を増加させるために使用され、磁力線が磁石8から離れて後方で消失するのを防止するので有利である。
磁石8は、帯に対して接線方向の磁界が300ガウスより大きく、好ましくは500ガウスより大きい少なくとも1つの閉じた磁気トラックを形成するように構成される。
任意の1つの列の磁石8は、封じ込めの有効性を低下させる長方形の磁界歪みを回避するように、縁部と縁部を接して配置されることが好ましい。
さらに、図1に見られるように、中和マスク9が、エッチング窓の活性部分を除いてバッキングロール3全体を囲む。マスク9は、非強磁性体で作成することができ、中実または中空でよいが、閉じている。これらのマスク9の厚さは、エッチング領域外でのプラズマの点火を回避するように、そこから出る磁界が100ガウス未満、都合よくは50ガウス未満であるような厚さである。
次に、本発明による装置の動作が説明される。鋼、アルミ、銅などで作成することができる金属帯4をエッチングすることが望ましい場合は、これが例えば負に偏倚され、真空室2を通って進むようにされる。プラズマは、この室2内で正に偏倚された対極と帯4の間で点火される。帯4は、自身へのイオンおよび/またはラジカルの衝突によってエッチングされる。
ドラム6を回転することによって、所望の幅の1つまたは複数の磁気回路7が選択され、対極5に面して配置される。進行する帯4の正確な寸法に合わせてエッチング窓を調節するように、磁界中和マスク9が、1つまたは複数の磁気回路7のいずれかの側に配置される。帯4の幅に変化があった場合、必要なのは、適切な幅の磁気回路7を対極に面して配置するようにドラム6を回転することだけである。
したがって、本発明の装置およびプロセスは、様々な幅の金属帯を効果的かつ単純な方法で処理し、電気アークを発生させることなく、エッチングされないバッキングロールを損傷することなく、縁部を含む全表面にわたって均一に処理することを可能にすることが分かる。
さらに、本発明による装置を使用して、一定幅であるが厚さがコイル毎に異なる金属帯の連続的コイルを処理することも可能である。したがって、一定幅L1の帯の第1コイルを、次に一定幅L2の帯の第2コイルを処理しなければならない場合、幅L1の第1磁気回路7が最初に帯4の上に配置され、装置を修正せずに、第1コイル全体が処理される。次に、幅L2の第2磁気回路7が帯4の路に面するような方法で、ドラム6が回転され、他方の選択されなかった回路7を中和するようにマスク9が配置された後に、幅L2の第2コイルが処理される。したがって、産業ラインの製造範囲に応じて、この製造範囲内にある帯の幅と同じ幅の磁気回路7を設けたドラム6を都合よく設けることが可能である。
本発明による装置の一実施形態の略断面図である。 図1の装置の部分の略上面図である。

Claims (21)

  1. 対極(5)に面するバッキングロール(3)上を進む金属帯(4)を、この帯(4)に作用するラジカルおよび/またはイオンを発生するように前記金属帯(4)に近い気体中にプラズマを発生する真空室(2)内でマグネトロンスパッタリングによりエッチングする真空であって、前記金属帯(4)のそれとほぼ等しい幅を有する少なくとも1つの閉じた磁気回路(7)が、様々な固定幅の一連の少なくとも2つの閉じた磁気回路(7)から選択され、次に前記選択された磁気回路(7)が、前記金属帯(4)に面するように配置され、次に前記移動する金属帯(4)のエッチングが実行されることを特徴とする、方法
  2. 前記バッキングロール(3)が導電性ロールである、請求項1に記載の方法
  3. 前記閉じた1つまたは複数の磁気回路(7)が、縁部と縁部を接して配置された磁石(8)の列を備え、2つの連続する列が反対の極性を有する、請求項1および2のいずれかに記載の方法
  4. 前記選択された1つまたは複数の磁気回路(7)が、前記金属帯(4)に対して接線方向に300ガウスより大きい強度の磁界を発生する、請求項1から3のいずれか一項に記載の方法
  5. 前記1つまたは複数の磁気回路(7)が、前記バッキングロール(3)内に前記ロール(3)と同心状に配置された円筒形支持体(6)の外面に配置され、円筒形支持体(6)がこの軸を中心に回転することができる、請求項1から4のいずれか一項に記載の方法
  6. 前記1つまたは複数の磁気回路(7)が、軟鋼で作成されたヨーク上に配置される、請求項1から5のいずれか一項に記載の方法
  7. 前記1つまたは複数の磁気回路(7)が、前記円筒形支持体(6)の表面上にサイズの小さい順に配列される、請求項5および6のいずれか一項に記載の方法
  8. 選択されていない磁気回路(7)が、100ガウスより大きい磁界を前記磁気回路(7)から金属帯(4)へと通過させない中和装置(9)によって無効にされる、請求項1から7のいずれか一項に記載の方法
  9. 前記中和装置(9)が、前記1つまたは複数の磁気回路(7)のいずれかの側に配置され、エッチング窓を画定する2つの部品で作成される、請求項8に記載の方法
  10. 一定の幅L1を有する金属帯(4)の第1コイル、次に一定幅L2の第2コイルが処理されるプロセスにして、第1コイルが、前記帯(4)の上を運ばれる幅L1の閉じた磁気回路(7)によって処理され、次に前記回路(7)が、一定幅L2を有する金属帯(4)の前記第2コイルを処理する幅L2の第2回路(7)と交換するように除去される、請求項1から9のいずれか一項に記載の方法
  11. 金属帯(4)が鋼帯である、請求項1から10のいずれか一項に記載の方法
  12. 前記エッチングされた金属帯(4)が、次に保護コーティングで真空めっきされる、請求項1から11のいずれか一項に記載の方法
  13. 対極(5)に面するバッキングロール(3)と、前記金属帯(4)をバイアスする手段と、前記帯(4)と前記対極(5)間の気体中にプラズマを生成する手段と、様々な固定幅で、それぞれが金属帯(4)の全幅を個別に処理することができる一連の少なくとも2つの閉じた磁気回路(7)と、前記金属帯(4)に面して1つまたは複数の前記磁気回路(7)を配置する手段とを備える、マグネトロンスパッタリングによって金属帯(4)をエッチングする、真空装置(1)。
  14. 前記バッキングロール(3)が導電性ロールである、請求項13に記載の装置。
  15. 前記閉じた1つまたは複数の磁気回路(7)が、縁部と縁部を接して配置された磁石(8)の列を備え、2つの連続する列が反対の極性を有する、請求項13および14のいずれかに記載の装置。
  16. 前記1つまたは複数の磁気回路(7)が、前記金属帯(4)に対して接線方向に300ガウスより大きい強度の磁界を生成することができる、請求項13から15のいずれか一項に記載の装置。
  17. 前記1つまたは複数の磁気回路(7)が、前記バッキングロール(3)内に前記ロール(3)と同心状に配置された円筒形支持体(6)の外面に配置され、円筒形支持体(6)がこの軸を中心に回転することができる、請求項13から16のいずれか一項に記載の装置。
  18. 前記1つまたは複数の磁気回路(7)が、軟鋼で作成されたヨーク上に配置される、請求項13から17のいずれか一項に記載の装置。
  19. 前記1つまたは複数の磁気回路(7)が、前記円筒形支持体(6)の表面上にサイズの小さい順に配列される、請求項17および18のいずれかに記載の装置。
  20. さらに、100ガウスより大きい磁界を前記磁気回路(7)から金属帯(4)へと通過させない中和装置(9)を含む、請求項13から19のいずれか一項に記載の装置。
  21. 前記中和装置(9)が、前記1つまたは複数の磁気回路(7)のいずれかの側で、前記金属帯(4)と対極(5)の間に配置できる2つの部品で作成される、請求項20に記載の装置。
JP2008538379A 2005-11-07 2006-10-26 マグネトロンスパッタリングによる金属帯の真空エッチングの方法および装置 Active JP4814951B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP05292354A EP1783814A1 (fr) 2005-11-07 2005-11-07 Procédé et installation d'avivage sous vide par pulvérisation magnétron d'une bande métallique
EP05292354.7 2005-11-07
PCT/FR2006/002414 WO2007051916A1 (fr) 2005-11-07 2006-10-26 Procede et installation d'avivage sous vide par pulverisation magnetron d'une bande metallique

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009515039A JP2009515039A (ja) 2009-04-09
JP4814951B2 true JP4814951B2 (ja) 2011-11-16

Family

ID=36997659

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008538379A Active JP4814951B2 (ja) 2005-11-07 2006-10-26 マグネトロンスパッタリングによる金属帯の真空エッチングの方法および装置

Country Status (10)

Country Link
US (1) US8298381B2 (ja)
EP (2) EP1783814A1 (ja)
JP (1) JP4814951B2 (ja)
CN (1) CN101346795B (ja)
AT (1) ATE450049T1 (ja)
BR (1) BRPI0618324B1 (ja)
CA (1) CA2628586C (ja)
DE (1) DE602006010729D1 (ja)
RU (1) RU2369936C1 (ja)
WO (1) WO2007051916A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9809876B2 (en) * 2014-01-13 2017-11-07 Centre Luxembourgeois De Recherches Pour Le Verre Et La Ceramique (C.R.V.C.) Sarl Endblock for rotatable target with electrical connection between collector and rotor at pressure less than atmospheric pressure

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09125247A (ja) * 1995-10-31 1997-05-13 Sony Corp スパッタリング装置
JPH11209886A (ja) * 1997-10-08 1999-08-03 Rech & Dev Du Group Cockerill Sambre 基材表面の剥離方法及びその方法を実施するための装置
US6066241A (en) * 1997-04-10 2000-05-23 Recherche Et Development Du Groupe Cockerill Sambre En Abrege "Rdcs" Pickling (etching) process and device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4896813A (en) * 1989-04-03 1990-01-30 Toyo Kohan Co., Ltd. Method and apparatus for cold rolling clad sheet
BE1010797A3 (fr) * 1996-12-10 1999-02-02 Cockerill Rech & Dev Procede et dispositif pour la formation d'un revetement sur un substrat, par pulverisation cathodique.

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09125247A (ja) * 1995-10-31 1997-05-13 Sony Corp スパッタリング装置
US6066241A (en) * 1997-04-10 2000-05-23 Recherche Et Development Du Groupe Cockerill Sambre En Abrege "Rdcs" Pickling (etching) process and device
JPH11209886A (ja) * 1997-10-08 1999-08-03 Rech & Dev Du Group Cockerill Sambre 基材表面の剥離方法及びその方法を実施するための装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007051916A1 (fr) 2007-05-10
BRPI0618324B1 (pt) 2019-02-05
EP1949408A1 (fr) 2008-07-30
JP2009515039A (ja) 2009-04-09
BRPI0618324A2 (pt) 2011-08-23
US8298381B2 (en) 2012-10-30
CN101346795A (zh) 2009-01-14
RU2369936C1 (ru) 2009-10-10
CN101346795B (zh) 2010-05-19
CA2628586C (fr) 2014-01-28
EP1949408B1 (fr) 2009-11-25
ATE450049T1 (de) 2009-12-15
DE602006010729D1 (de) 2010-01-07
US20100051448A1 (en) 2010-03-04
EP1783814A1 (fr) 2007-05-09
CA2628586A1 (fr) 2007-05-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4339597B2 (ja) ダイポールイオン源
US6929727B2 (en) Rectangular cathodic arc source and method of steering an arc spot
JP2020177921A (ja) プラズマ生成装置及び方法
JPH06508001A (ja) 線形磁電管スパッタリング方法及び装置
US20040135485A1 (en) Dipole ion source
JP4814951B2 (ja) マグネトロンスパッタリングによる金属帯の真空エッチングの方法および装置
WO2000062327A2 (en) Rectangular cathodic arc source and method of steering an arc spot
KR100778294B1 (ko) 유도결합형 플라스마 처리장치
US6066241A (en) Pickling (etching) process and device
JP6511813B2 (ja) プラズマ処理電極およびcvd電極
KR102062442B1 (ko) 기판 제전 기구 및 이것을 사용한 진공 처리 장치
DE19610253A1 (de) Zerstäubungseinrichtung
DE102007051444B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Trockenätzen von kontinuierlich bewegten Materialien
DE102017103124B4 (de) Prozessierquelle, Prozessiervorrichtung und Verfahren zum Prozessieren eines Substrats in einem Prozessierbereich einer Prozessierkammer
JPH0286127A (ja) プラズマクリーニング方法
EP3782183B1 (en) Plasma cleaning apparatus
KR101368573B1 (ko) 선형 이온빔 발생장치를 이용한 융복합 표면처리장치
US20090145747A1 (en) Method and installation for the vacuum colouring of a metal strip by means of magnetron sputtering
JPH06220665A (ja) 真空アーク処理装置
KR20190021328A (ko) 플라즈마원 및 플라즈마 처리 장치
JPH0775819A (ja) 金属の表面処理装置
JPH04198465A (ja) 金属帯の連続前処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110512

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110517

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110725

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110816

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110826

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4814951

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140902

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250