JP4813732B2 - 製品の残存駆動期間の算出方法及び装置 - Google Patents

Description

【０００１】
従来技術
本発明は，独立請求項の上位概念に記載されている，製品の残存駆動期間の算出方法及び装置に関する。その場合に，本発明は，さらに，製品が技術的に機能しなくなるまでの駆動期間を検出する方法及び装置及び製品の信頼性を監視するために所定の時間可変の駆動量に従って製品の駆動期間しきい値を定める方法に関するものであって，そして最後に本発明は，その信頼性が監視されるべき製品内に配置されている，製品の実際の駆動期間を駆動期間しきい値と比較するための装置にも関する。
【０００２】
ＤＥ１９５１６４８１Ａ１からは，寿命決定法が既知である。車両のための制御装置が記載され，その制御装置は駆動データメモリを有しており，その駆動データメモリ内に，制御装置の故障確率について，あるいは未来の信頼性についての説明を与えることのできる車両の駆動量が格納される。駆動データメモリ内には，必要な場合に，制御装置の信頼性に関して説明できるようにするために，制御装置の履歴の重要なデータが格納される。
【０００３】
本発明の課題と利点
本発明の課題は，駆動データメモリを有し，あるいは駆動データメモリへのアクセスを有する任意の製品について，可能な限り正確な，モデル支援されない寿命評価を可能にすることである。他の課題設定は，メモリを最適に利用することができるようにするため，特にメモリスペースを節約するために，データの最適な検出と駆動データメモリへの格納である。
【０００４】
これらの課題を解決するために，本発明は，製品が技術的に機能しなくなるまでの駆動期間を検出する方法に基づいて，所定の駆動量の値が検出され，個々の駆動量の値領域がクラスに分割されて，駆動量の検出された値が属するクラスに従って，駆動期間が検出されることを，提案する。
【０００５】
その他，本発明は，課題を解決するために，技術的に機能しなくなるまでの製品の残存駆動期間の算出方法及び装置を提案し，その場合に製品の少なくとも１つの駆動量の値領域の値が検出され，その場合駆動量の値領域がクラスに分割され，各クラスについて製品の駆動期間が求められて，製品に付設されている駆動データメモリに格納され，その場合に駆動期間に予め設定可能な重み付け係数が割り当てられ，それによって製品について少なくとも１つの重み付けされた，累積駆動期間が求められ，その場合に重み付けされ，累積駆動期間が，少なくとも１つの予め設定可能な駆動期間しきい値と比較されて，そこから製品の残存駆動期間が求められる。
【０００６】
その技術的に機能しなくなるまでの駆動期間が検出される，製品は，例えば車両の制御装置又は部分システム（例えばブレーキ，エンジン，トランスミッション，操舵装置など）として形成されている。製品は，駆動データメモリを有しており，あるいは駆動データメモリに対応付けられており，その駆動データメモリ内に検出された駆動量あるいは駆動期間が格納されて，必要な場合に再び呼び出すことができる。駆動データメモリは，好ましくは不揮発性メモリ（例えばＥＥＰＲＯＭ又はフラッシュメモリ）及び駆動量あるいは駆動期間を検出する手段を有している。車両の場合には，駆動データメモリは，例えば１つ又は複数の制御装置内で実現することができる。
【０００７】
駆動データメモリによって，ディスクリートなシステム状態（例えば始動プロセスの数，非常始動の数，熱遮断の数など）と時間可変の駆動量が検出される。駆動量として，例えば温度，電流，電圧，圧力などのような，センサデータが検出される。
【０００８】
駆動条件の元で許容される，駆動量の値領域内で，値領域が複数のクラスに線形又は非線形に分割される。製品の直接の破壊をもたらす極値は，許容される値領域の外部にある。クラス対応付けは，値領域全体を重要な負荷グループに分割することに基づいている。個々のクラスは，製品の老化／損耗に異なる影響を有している。駆動データメモリ内で，各クラス内の各駆動量について，製品の駆動期間が検出される。
【０００９】
本発明によれば，製品の個々の技術的な駆動期間の決定と，損耗度の計算は，任意の各時点でクラスに分割された（いわゆる分類された）駆動量に基づいて実施される。分類された駆動量に基づいて，製品の駆動期間の特に確実で正確な決定が可能であり，その場合に駆動データメモリのためのメモリ需要が減少される。というのは，駆動量の時間的な推移の検出を省略することができるからである。それによって，技術的駆動期間の最後に達する直前に，特に確実な予防的保守／修理が可能となる。
【００１０】
本発明の好ましい展開によれば，駆動量の値が規則的な時間間隔で検出されて，検出された駆動量が所定のクラスに属する場合には，このクラスのクラスカウンタが増分されることが，提案される。従って所定の製品の各駆動量に，駆動期間の検出後に駆動期間ヒストグラムが割り当てられ，その駆動期間ヒストグラムから所定のクラス内部の駆動量について，製品の駆動期間が得られる。駆動データ記憶に必要とされる，駆動データメモリのバイトの大きさは，
−駆動量の数，
−駆動量当たりのクラスの平均的な数，及び
−クラスカウンタ当たりの平均的なバイト数，
の積から得られる。
【００１１】
分類された駆動量に基づいて駆動期間を検出する，本発明にかかる方法は，特に製品の信頼性を監視するために，製品の駆動期間しきい値を決定する場合に，特別な利点を有している。従って本発明の好ましい展開によれば，冒頭で挙げた種類の駆動期間しきい値を定める方法が提案され，その方法は，
−駆動量のクラスについて，製品が技術的に機能しなくなるまでの，製品の駆動期間が，請求項１又は２に記載の方法を使用して定められ；
−駆動量のクラスに，重み付け係数が割り当てられ；
−重み付け係数は，個々の駆動量の間の相関を考慮して，最適化問題の解
ｍｉｎ｛ｆ（ｘ）｝，但しｘ＝｛ａ＿ｉｊ，ｔ＿ｉｊｋ｝，
から求められ；
−製品について，式

から，個々の駆動量について臨界的な，累積駆動期間が求められ；かつ
−個々の製品について，駆動期間しきい値が，式
ｍｉｎ｛Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ｝，但しｉ＝１…Ｎ，
又は，

から求められることを，特徴としている。
【００１２】
個々のクラスは，製品の老化／損耗に異なる影響を有している。従って駆動量のクラスに，重み付け係数が割り当てられ，その重み付け係数は，所定の駆動量の所定のクラスが製品の老化あるいは損耗に与える相対的な影響を表現する。本発明においては，重み付け係数は製品の部分量Ｋから求められ，その重み付け係数が製品の部分量Ｚに使用される。それによって，部分量Ｓからなる製品について，シリーズ使用のための駆動量の臨界的な，重み付けされた累積駆動期間が定められ，その駆動期間に達した場合に技術的な駆動期間の最後と推定することができる。
【００１３】
重み付け係数は，最適化問題の解
ｍｉｎ｛ｆ（ｘ）｝，但しｘ＝｛ａ＿ｉｊ，ｔ＿ｉｊｋ｝，
から，個々の駆動量間の相関を考慮して求められ，その場合にａ＿ｉｊは，駆動量ｉのクラスｊに割り当てられた重み付け係数であって，ｔ＿ｉｊｋは，駆動量ｉのクラスｊについての製品ｋの駆動期間である。駆動量間の相関は，例えば，重み付け係数が方程式システムから定められ，その方程式システム内で各駆動量について重み付けされた，累積された駆動量が演算によって互いに結合されることによって，考慮することができる。演算は，例えばアンド結合（積形成），オア結合（合計形成）又はファジー結合（例えばアンドとオアの中間状態）とすることができる。
【００１４】
重み付け係数が適当な数学的最適化アルゴリズムを有する最適化問題の解によって求められた後に，個々の駆動量について臨界的な累積駆動期間が決定され，その駆動期間に達した場合に，技術的な駆動期間の最後であると推定することができる。そのためにＫの製品を用いてＺの数の製品が技術的に機能しなくなるまで駆動され，その場合にＫの製品から計算された重み付け係数が，Ｚの製品の分類された駆動量に使用される。

が，全ての駆動量について，及びＺの製品全てについて求められ，その場合にＰ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔは，駆動量ｉの製品ｚの臨界的な累積駆動期間であって，ｔ＿ｉｊｚは，駆動量ｉのクラスｊについての製品ｚの駆動期間である。従って，重み付けされ，累積駆動期間のＺのベクトル
Ｙ＿ｚ＝（Ｐ＿１ｚ＿ｋｒｉｔ，Ｐ＿２ｚ＿ｋｒｉｔ，…，Ｐ＿Ｎｚ＿ｋｒｉｔ），但しｚ＝１…Ｚ，
が得られる。
【００１５】
個々の製品について，それに達した場合にまもなく製品の技術的寿命が尽きると推定することのできる駆動期間しきい値は，マトリクスＹ＿ｚのコラム最小値から，式
ｍｉｎ｛Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ｝，但しｉ＝１…Ｎ，
に従って，あるいはマトリクスＹ＿ｚのコラムエレメントの平均から，ｉ＝１…Ｎとして，式

に従って求められる。それは，個々のコラムエレメントが十分な密度で互いに並べられている場合，即ちコラムエレメントの標準偏差が大き過ぎない場合に，要請された信頼性をもって機能する。コラム最小値を選択する場合に，アウトライナーを考慮する必要はない。
【００１６】
個々の駆動量について臨界的な累積駆動期間が求められた後に，駆動データメモリを搭載している全てのシリーズ製品において，臨界しきい値に達する直前に，修理，交換又は保守の必要性を製品によって信号化することができる。あるいは，製品内に記憶されている駆動量が，規則的な製品保守の範囲内で評価される。
【００１７】
従って要約すると，まず，重み付け係数ａ＿ｉｊを求めることができるようにするために，ｋ＝１…Ｋの製品が技術的に機能しなくなるまで駆動される。その後，重み付け係数ａ＿ｉｊがｚ＝１…Ｚの製品の駆動データメモリに内蔵され，その製品がまた技術的に機能しなくなるまで駆動され，それによって臨界的な累積駆動期間Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ及び臨界的な累積駆動期間Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔの最小値選択又は平均を介して駆動期間しきい値が求められる。その後，シリーズ使用においてｓ＝１…Ｓの製品の信頼性の監視が行われ，その場合に製品ｓの実際の駆動期間がしきい値と比較される。
【００１８】
本発明の好ましい実施形態によれば，重み付け係数は，不等式条件ａ＿ｉｊ＞０として，最適化問題の解

但し，不等式条件ａ＿ｉｊ＞０，
から求められ，その場合にａ＿ｉｊは，駆動量ｉのクラスｊに割り当てられた重み付け係数であって，ｔ＿ｉｊｋは，駆動量ｉのクラスｊについての製品ｋの駆動期間であることが，提案される。この実施形態によれば，重み付け係数を計算する場合に，個々の駆動量間の相関は考慮されない。従って各駆動量は他の駆動量の値とは関係なく，製品の技術的破壊をもたらすことができるという仮定に基づいている。
【００１９】
個々の駆動量間の相関が重み付け係数を定めるための基礎にされない場合には，駆動量の臨界しきい値に対する，駆動量のための重み付けされた，累積駆動期間の最大の比を，損耗度と解釈することができる。その場合には，残存残留寿命（％）は，
残留寿命[％]＝１−損耗度[％]
に従って計算される。
【００２０】
本発明の他の実施形態によれば，重み付け係数は，最適化問題の解

但し不等式条件ａ＿ｉｊ＞０，
から求められることが，提案される。この実施形態においては，個々の駆動量間の相関が考慮される。従って，複数の駆動量は一緒になって製品の技術的な破壊をもたらす，という仮定に基づいている。この実施形態によれば，駆動量は純粋なアンド結合（積形成）によって互いに結合される。重み付け係数は，各製品の，アンド演算器によって結合された，重み付けされたクラス合計が，互いに対して最小の「間隔」を有するように定められる。
【００２１】
他の第３の実施形態によれば，個々のクラスの平面上で複数の駆動量の結合が考えられる。その場合に，所定のクラス内部の複数の駆動量が製品の技術的な破壊をもたらす，という仮定に基づいている。
【００２２】
本発明の課題を解決するために，製品が技術的に機能しなくなるまでの駆動期間を検出する装置に基づいて，さらに，装置は，規則的な時間間隔で所定の駆動量の値を検出する第１の手段を有しており，個々の駆動量の値領域はクラスに分割され，かつ装置は，駆動量の検出された値が属するクラスに従って，駆動期間を検出するための第２の手段を有していることが，提案される。
【００２３】
本発明の好ましい展開によれば，第２の手段は，検出された駆動量が所定のクラスに属する場合に，このクラスのクラスカウンタを増分させることが，提案される。
【００２４】
分類された駆動量に基づいて駆動期間を検出するための，本発明にかかる装置は，特に，製品の信頼性を監視するために，製品の駆動期間しきい値を定める場合に，特別な利点を有している。従って本発明の好ましい展開によれば，装置は請求項５から８のいずれか１項に記載の方法を実施するための手段を有していることを特徴とする，冒頭で挙げた種類の駆動期間しきい値を定める装置が提案される。
【００２５】
本発明の課題を解決するために，監視すべき製品内に配置された，冒頭で挙げた種類の装置に基づいて，駆動期間しきい値が請求項５から８のいずれか１項に記載の方法に基づいて求められることが，提案される。装置の駆動データメモリは，特に小形に形成することができる。というのは，本発明に基づいて駆動期間しきい値を求める場合には，駆動量の時間的な推移のメモリ内部の検出を省略することができるからである。
【００２６】
クラス内の駆動データ検出は，さらに，メモリを最適に利用することができ，従って特にわずかなメモリスペースしか必要としない，という利点を有している。というのは，全時間軸にわたって，あるいは時間軸に関して，駆動量の面倒な検出を実施する必要がないからである。それによって本発明，特に駆動データ検出は，好ましくは付加機能性として制御装置内で，あるいはそのために設けられた専用の装置内で実現することができる。
【００２７】
他の利点と好ましい実施形態は，詳細な説明と請求項の特徴から明らかにされる。
【００２８】
実施例の説明
図１には，好ましい実施形態に基づく，製品ｋが技術的に機能しなくまるまでの製品ｋ＝１…Ｋの駆動期間ｔ＿ｉｊｋを検出するための，本発明にかかる方法のフローチャートが示されている。その駆動期間ｔ＿ｉｊｋが検出される，製品ｋは，例えば車両の制御装置又は部分システム（例えばブレーキ，エンジン，トランスミッション，操舵装置など）として形成されている。製品ｋは，駆動データメモリを有しており，その中に検出された駆動量ｉ＝１…Ｎあるいは駆動期間ｔ＿ｉｊｋが格納されて，必要な場合に再び呼び出すことができる。駆動データメモリは，好ましくは不揮発性メモリ（例えばＥＥＰＲＯＭ又はフラッシュメモリ）と駆動量あるいは駆動期間を検出するための手段を有している。車両の場合には，駆動データメモリは，例えば１つの駆動装置又は複数の駆動装置内で実現することができる。
【００２９】
駆動データメモリによって，ディスクリートなシステム状態（例えば始動プロセスの数，非常始動の数，熱遮断の数など）と時間可変の駆動量ｉが検出される。駆動量ｉとして，例えば温度，電流，電圧，圧力などのセンサデータが検出される。
【００３０】
方法は，機能ブロック１０で開始される。機能ブロック１１においては，検出すべき個々の駆動量ｉの，駆動条件の元で許容される値領域が，クラスｊ＝１…Ｍ＿１に線形又は非線形に分割される。製品ｋの直接的な破壊をもたらす極値は，許容される値範囲の外側にある。クラス対応付けは，値領域全体を重要な負荷グループに分割することに基づいている。個々のクラスｊは，製品ｋの老化／損耗に異なる影響を有する。
【００３１】
次の機能ブロック１２においては，規則的な時間間隔で駆動量ｉの値が検出される。駆動期間ｔ＿ｉｊｋは，駆動量の検出された値が属するクラスｊに従って検出される。そのために，機能ブロック１３において，検出された駆動量ｉの値が所定のクラスｊに属する場合には，このクラスｊのクラスカウンタが増分される。従って所定の製品ｋの各駆動量ｉには，駆動期間ｋ＿ｉｊｋの検出後，駆動期間−ヒストグラムが割り当てられ，その駆動期間−ヒストグラムから所定のクラスｊの内部における駆動量ｉについての製品ｋの駆動期間ｔ＿ｉｊｋが得られる。クラスカウンタの状態と駆動量ｉの検出された値の時間的な間隔の積から，駆動期間ｔ＿ｉｊｋが得られる。
【００３２】
次の機能ブロック１４においては，駆動期間ｔ＿ｉｊｋの検出が終了しているか，が調べられる。終了していない場合には，再び機能ブロック１２へ分岐する。駆動期間ｔ＿ｉｊｋの検出が終了している場合には，機能ブロック１５において方法の最後へ分岐する。
【００３３】
図２には，好ましい実施形態に基づく，製品の駆動期間しきい値ｚを定めるための，本発明にかかる方法のフローチャートが示されている。本発明にかかる方法は，機能ブロック２０で開始される。その後まず，図１に示す方法を使用することによって，製品が技術的に機能しなくなるまでの，駆動量ｉのクラスｊについての製品ｋの駆動期間ｔ＿ｉｊｋが定められる。
【００３４】
次に，機能ブロック２１において，駆動量ｉのクラスに，重み付け係数ａ＿ｉｊが割り当てられる。個々のクラスｊは，製品ｋの老化／損耗に異なる影響を有するので，駆動量ｉのクラスｊには，製品ｋの老化あるいは損耗に与える，所定の駆動量ｉの所定のクラスｊの重要な影響を表現する重み付け係数ａ＿ｉｊが割り当てられる。
【００３５】
次の機能ブロック２２においては，重み付け係数ａ＿ｉｊが，最適化問題の解 ｍｉｎ｛ｆ（ｘ）｝，但しｘ＝｛ａ＿ｉｊ，ｔ＿ｉｊｋ｝
から，個々の駆動量ｉ間の相関を考慮して，求められる。重み付け係数ａ＿ｉｊは，例えば最適化問題の解

但し，不等式条件ａ＿ｉｊ＞０，
から求めることができる。その場合に個々の駆動量の間の相関は考慮されず，各駆動量ｉは他の駆動量ｉの値に関係なく，製品ｋの技術的な破壊をもたらす可能性がある，という仮定に基づいている。
【００３６】
あるいは，重み付け係数ａ＿ｉｊを，不等式条件ａ＿ｉｊ＞０で，最適化問題の解

但し，不等式条件ａ＿ｉｊ＞０，
から求めることもできる。個々の駆動量ｉ間の相関が考慮され，複数の駆動量ｉが一緒になって製品ｋの技術的破壊をもたらす可能性がある，という仮定に基づいている。駆動量ｉは，実施例においては，純粋なアンド−結合（積形成）を用いて互いに結合される。
【００３７】
第３の選択肢によれば，個々のクラスｊの平面上での複数の駆動量ｉの結合が考えられる。その場合に，所定のクラスｊの内部の複数の駆動量ｉが製品ｋの技術的な破壊をもたらす，という仮定に基づいている。
【００３８】
本発明においては，重み付け係数ａ＿ｉｊは製品ｋの部分量Ｋから求められ，それがその後製品ｚの部分量Ｚに使用される。それによってシリーズ使用のための駆動量ｉの臨界的な累積駆動期間Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔを定めることができ，それに達した場合には，技術的な駆動期間の最後であると推定することができる。
【００３９】
その後機能ブロック２３において，製品ｚについて，製品ｚが技術的に機能しなくなるまで駆動されることによって，個々の駆動量ｉのための臨界的な累積駆動期間Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔが，式

から求められる。従って，重み付けされた，累積駆動期間のＺベクトルが得られる。
Ｙ＿Ｚ＝（Ｐ＿１ｚ＿ｋｒｉｔ，Ｐ＿２ｚ＿ｋｒｉｔ，…Ｐ＿Ｎｚ＿ｋｒｉｔ），但しｚ＝１…Ｚ，
個々の製品ｚについて，最終的に機能ブロック２４において，それが達成された場合にまもなく製品の技術的寿命が尽きると推定することのできる，駆動期間しきい値は，式
ｍｉｎ｛Ｐ−ｉｚ＿ｋｒｉｔ｝，但しｉ＝１…Ｎ，
に基づいて，マトリクスＹ＿ｚのコラム最小値から，
あるいは，式
１ Ｎ
−ｘＳＵＭ｛Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ｝，但しｉ＝１…Ｎ
Ｎ ｉ＝１
に基づいて，マトリクスＹ＿ｚのコラムエレメントの平均から，求めることができる。それは，個々のコラムエレメントが互いに対して十分に密に並んでいる場合，即ちコラムエレメントの標準偏差が小さい場合に，必要とされる信頼性をもって機能する。
【００４０】
従ってアウトライナーは（存在する場合に），コラム最小値を選択する場合に考慮する必要はない。機能ブロック２５において，製品ｚの駆動期間しきい値を定める方法は終了される。駆動期間しきい値を定めるために，絶対的又は相対的な最小値選択と簡単な平均値形成の他に，移動的又は経験的あるいは調和的な平均値形成又は子午線形成などのような他の方法又は処置方法を使用することもできる。
【００４１】
個々の駆動量ｉについて臨界的な累積駆動期間Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔが求められた後に，駆動データメモリを搭載している全てのシリーズ製品ｓにおいて，臨界しきい値に達する直前に，補修，交換又は保守の必要性を，製品ｓによって信号で知らせることができる。これは，特に，シリーズ製品の自己診断の形式で行うこともできる。あるいは，製品ｓに格納されている駆動量が，規則的な製品保守の範囲内で評価される。その場合にこの製品保守は，例えば車両の部分製品又は車両自体において，駆動自体の中でオンボード診断の形式で実施することができる。
【００４２】
図３は，さらに，可能な本発明にかかる装置を概略的に示している。Ｐは，製品自体を示している。製品は，通信システムＫＳ，特に導線システム又はバスシステムによって，製品外部の駆動データメモリＢＳｅと接続されている。あるいは，製品自体の中に，内部の駆動データメモリＢＳｉを設けることもできる。また，両メモリを同時に設けて，例えばＢＳｅとＢＳｉからバーチャルメモリを形成することもできる。Ｍ内には，上述したような本発明にかかる方法を実施するために使用される手段が，マイクロコンピュータ又はマイクロコントローラの形式で設けられている。これらの手段は，例えば車両の制御装置内に設けること，あるいは取り付けることができる。
【００４３】
その駆動期間が検出される，製品Ｐは，例えば，車両の制御装置又は部分システム（例えばブレーキ，エンジン，トランスミッション，操舵装置など）として形成されている。製品Ｐは，駆動データメモリＢＳｉを有し，あるいはこの種の駆動データメモリに対応付けられており（ＢＳｅ），その中には検出された駆動量あるいは駆動データが格納され，必要な場合には再び呼び出すことができる。駆動データメモリは，好ましくは不揮発メモリ（例えばＥＥＰＲＯＭ又はフラッシュメモリ）及び駆動量あるいは駆動データを検出するための手段ＥＭを有している。車両の場合には，駆動データメモリは，例えば１つ又は複数の制御装置内で実現することができる。検出手段ＥＭは，その情報を，例えば通信システムＫＳ又は製品の，例えばその他のセンサ装置あるいはアクチュエータ装置への，他のインターフェイスを介して入手する。評価，駆動期間検出，しきい値比較により駆動期間を求めることなどは，特に手段Ｍによって実施され，その手段はまた信号化又は他の方策の導入を導入し，あるいは実施する。検出手段ＥＭと手段Ｍは，組み合わせて，従って一体化して設けることもでき，同様に駆動データメモリに所望に対応付け，あるいはその中に統合することもできる。
【００４４】
駆動データメモリによって，ディスクリートなシステム状態（例えば始動プロセスの数，非常始動の数，熱遮断の数など）と時間可変の駆動量が検出される。駆動量として，例えば温度，電流，電圧，圧力などのセンサデータが検出される。そのために必要なセンサ装置は，例えば通信システムＫＳを介して結合され，あるいは他のインターフェイスを介して製品と結合されている。各々製品に従って，センサ装置も一部又は全体を製品内に統合することもできる。同じことは，特に本発明にかかる情報を提供するアクチュエータ装置についても当てはまる。
【００４５】
従って駆動データメモリを搭載している全てのシリーズ製品ｓにおいて，臨界しきい値に達する直前に修理，交換又は保守の必要性を製品ｓによって信号で知らせることができる。これは特に，例えば一体化された手段Ｍあるいは検出手段ＥＭを有する駆動データメモリによって，シリーズ製品ｓの自己診断の形式においても，行うことができる。
【図面の簡単な説明】
図面
本発明の好ましい実施例を，以下で図面を用いて詳細に説明する。
【図１】 好ましい実施形態に基づく，製品の，技術的に機能しなくなるまでの駆動期間を求めるための，本発明にかかる方法を説明するフローチャートである。
【図２】 好ましい実施形態に基づく，製品の駆動期間しきい値を定めるための本発明にかかる方法を説明するフローチャートである。

Claims (8)

1. 駆動期間をしきい値と比較することによって製品の信頼性を監視するための製品の駆動期間しきい値の算出方法において，
   前記製品の各駆動量の値は少なくとも１つのクラスに分類されて、
   前記値及び／又は前記駆動期間が，前記製品に対応付けられている駆動データメモリに、クラス別に格納され，かつ
   前記製品の第１の部分セットが技術的に機能しなくなるまで駆動され，それによって前記製品の各駆動量のクラス別の駆動期間が求められ，それに基づいて各クラスと駆動量ごとに，前記製品が技術的に機能しなくなるまでの影響を反映する重み付け係数が求められ，
   かつ前記製品の第２の部分セットが技術的に機能しなくなるまで駆動され，前記第１の部分セットから求められた重み付け係数が前記第２の部分セットに適用され，前記製品の第２の部分セットにおいては，駆動量ごとに全てのクラスにわたって臨界駆動期間が求められて，全ての駆動量の全てのクラスにわたる臨界駆動期間から駆動期間しきい値が求められる，ことを特徴とする製品の駆動期間しきい値の算出方法。
2. 前記駆動量（ｉ）のクラス（ｊ）ごとに割り当てられる重み付け係数（ａ＿ｉｊ）は、個々の駆動量の間の相関を考慮した最適化問題の解
   ｍｉｎ｛ｆ（ｘ）｝，但しｘ＝｛ａ＿ｉｊ，ｔ＿ｉｊｋ｝、ｔ＿ｉｊｋは駆動期間、から求められ；
   −製品（ｚ）について，式
   Ｍ＿ｉ
   Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ＝ＳＵＭ｛ａ＿ｉｊｘｔ＿ｉｊｚ｝
   ｊ＝１
   から個々の駆動量（ｉ）について臨界累積駆動期間（Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ）が求められ；かつ
   −個々の製品（ｚ）について，式
   ｍｉｎ｛Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ｝，但しｉ＝１…Ｎ，
   あるいは、式
   １ Ｎ
   −ｘＳＵＭ｛Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ｝，但しｉ＝１…Ｎ
   Ｎ ｉ＝１
   から、駆動期間しきい値が求められる，ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
3. 前記重み付け係数（ａ＿ｉｊ）は，最適化問題の解
   Ｎ Ｋ Ｍ＿ｉ
   ｍｉｎ｛ＳＵＭ ＳＵＭ ＡＢＳ｛ＳＵＭ｛ａ＿ｉｊｘｔ＿ｉｊｋ｝−１｝｝，
   ｉ＝１ Ｋ＝１ ｊ＝１
   但し，不等式条件ａ＿ｉｊ＞０，
   から求められることを特徴とする請求項１に記載の方法。
4. 重み付け係数（ａ＿ｉｊ）は，最適化問題の解
   K K N M_i N M_i
   min{SUM SUM ABS{PROD{SUM{a_ijxt_ijμ}}-...{PROD{SUM{a_ijxt_ijv}}}},
   v=1 μ=1 i=1 j=1 i=1 j=1
   μ≠v
   但し，不等式条件ａ＿ｉｊ＞０，
   から求められる，ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
5. 駆動期間をしきい値と比較することによって製品の信頼性を監視するための製品（ｋ）の駆動期間（ｔ＿ｉｊｋ）しきい値の算出装置において，
   製品の少なくとも１つの駆動量の値を，規則的な時間間隔で検出する第１の手段と、
   駆動量の値は少なくとも１つのクラス（ｊ＝１…Ｍ＿ｉ）に分類され，検出された駆動量の値が属するクラス別に、製品が技術的に機能しなくなるまで駆動して駆動期間を検出する第２の手段と、
   各駆動量のクラス別に検出された製品の駆動期間を，製品に対応付けられている駆動データメモリに格納する第３の手段と、
   各クラスと駆動量ごとに，前記製品が技術的に機能しなくなるまでの影響を反映する重み付け係数を割り当てて，全ての駆動量の全てのクラスにわたる臨界駆動期間から駆動期間しきい値を求める第４の手段を有する，ことを特徴とする製品（ｋ）の駆動期間（ｔ＿ｉｊｋ）しきい値の算出装置。
6. 前記重み付け係数（ａ＿ｉｊ）は、個々の駆動量の間の相関を考慮した最適化問題の解
   ｍｉｎ｛ｆ（ｘ）｝，但しｘ＝｛ａ＿ｉｊ，ｔ＿ｉｊｋ｝から求められ；
   −製品（ｚ）について，式
   Ｍ＿ｉ
   Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ＝ＳＵＭ｛ａ＿ｉｊｘｔ＿ｉｊｚ｝
   ｊ＝１
   から個々の駆動量（ｉ）について臨界累積駆動期間（Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ）が求められ；かつ
   −個々の製品（ｚ）について，式
   ｍｉｎ｛Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ｝，但しｉ＝１…Ｎ，
   あるいは、式
   １ Ｎ
   −ｘＳＵＭ｛Ｐ＿ｉｚ＿ｋｒｉｔ｝，但しｉ＝１…Ｎ
   Ｎ ｉ＝１
   から、駆動期間しきい値が求められる，ことを特徴とする請求項５に記載の算出装置。
7. 前記重み付け係数（ａ＿ｉｊ）は，最適化問題の解
   Ｎ Ｋ Ｍ＿ｉ
   ｍｉｎ｛ＳＵＭ ＳＵＭ ＡＢＳ｛ＳＵＭ｛ａ＿ｉｊｘｔ＿ｉｊｋ｝−１｝｝，
   ｉ＝１ Ｋ＝１ ｊ＝１
   但し，不等式条件ａ＿ｉｊ＞０，
   から求められることを特徴とする請求項５に記載の方法。
8. 重み付け係数（ａ＿ｉｊ）は，最適化問題の解
   K K N M_i N M_i
   min{SUM SUM ABS{PROD{SUM{a_ijxt_ijμ}}-...{PROD{SUM{a_ijxt_ijv}}}},
   v=1 μ=1 i=1 j=1 i=1 j=1
   μ≠v
   但し，不等式条件ａ＿ｉｊ＞０，
   から求められる，ことを特徴とする請求項５に記載の算出装置。

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