JP4783142B2 - Sensor body and strain measuring device using the sensor body - Google Patents
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Description
本発明は、ひずみゲージで形成されたホイートストンブリッジ回路よりなるひずみセンサと、前記ひずみセンサに関する情報が読み書き可能な情報記憶媒体とが一体的にまたは互いに近傍に配設されてなるセンサ本体と、前記センサ本体を用いたひずみ測定装置に関するものである。 The present invention provides a sensor main body in which a strain sensor formed of a Wheatstone bridge circuit formed of a strain gauge and an information storage medium capable of reading and writing information on the strain sensor are disposed integrally or in the vicinity of each other, The present invention relates to a strain measuring device using a sensor body.
ひずみ測定において、ひずみゲージまたはひずみゲージ式変換器等を用いて被測定対象の物理量あるいは機械量を測定する場合、当該ひずみゲージやひずみゲージ式変換器のメーカー名、センサの種類、型式、シリアル番号、校正値等が前記変換器等に添付される。
一方、ひずみ測定は、測定器から離れた場所に設置したひずみゲージや変換器に接続ケーブルを介して測定器を接続し、遠隔地のひずみを測定しなければならないことも多い。特に、ダム等のように大きな建造物や施設、あるいは工事現場等の多数の個所に、ひずみゲージおよびひずみゲージ式変換器等を含む種々のセンサを多数設置し、それぞれ複数の端子からなる各チャンネル毎の接続端子にケーブルを介して接続し、これら多チャンネルの接続端子を測定器に選択的に走査接続して測定を行う多チャンネル測定システムにおいては、ユーザー側で、チャンネルID、設置場所、接続モード、などを記録しなければならない。
従来は、このような膨大な計測に関するデータや計測条件などの情報を、必要に応じメモ書きしたり音声記録やパソコンに入力するなどして、記録していた。このため、記録作業に多くの時間がかかる上、人的ミスが生じる、といった問題があった。
When measuring the physical quantity or mechanical quantity of the measurement target using a strain gauge or strain gauge transducer in strain measurement, the manufacturer name, sensor type, model, serial number of the strain gauge or strain gauge transducer A calibration value or the like is attached to the converter or the like.
On the other hand, in strain measurement, it is often necessary to connect a measuring instrument to a strain gauge or transducer installed at a location away from the measuring instrument via a connection cable and measure strain at a remote location. In particular, a large number of various sensors, including strain gauges and strain gauge transducers, are installed in a large number of locations such as dams and large buildings and facilities, or construction sites, and each channel consists of multiple terminals. In a multi-channel measurement system that connects to each connection terminal via a cable and selectively scans and connects these multi-channel connection terminals to a measuring instrument, the channel ID, installation location, connection on the user side Mode, etc. must be recorded.
Conventionally, information such as data related to such an enormous amount of measurement and measurement conditions has been recorded by writing down a memo or recording it to a personal computer as necessary. For this reason, there are problems that a long time is required for the recording work and a human error occurs.
このような問題を考慮してなされたものとして、TEDS(Transducer Electronic Date Sheet)と称される、電子式データシート、即ち、読み書き可能な情報記憶媒体が市販されている。
このTEDSは、センサ内部の不揮発性メモリにセンサ固有の情報を記憶させることができ、例えば、メーカー名、センサの種類、型式、シリアル番号、校正値等の情報を記憶することが可能となっており、上記問題も解消されつつある。
図4は、このTEDSをひずみセンサと共に用いる場合の回路構成を示す。
図4に示すセンサ本体1は、4枚のひずみゲージSG1〜SG4で形成されたホイートストンブリッジ回路(以下、「ブリッジ回路」という)からなるひずみセンサ2と、TEDS3を有している。このうち、ひずみセンサ2のブリッジ回路の入力端2aには正側の入力端子Aが接続され、入力端2cには負側の入力端子Cが接続され、ブリッジ回路の出力端2dには正側の出力端子Dが接続され、出力端2bには負側の出力端子Bが接続されている。
In consideration of such a problem, an electronic data sheet called TEDS (Transducer Electronic Date Sheet), that is, a readable / writable information storage medium is commercially available.
This TEDS can store sensor-specific information in a nonvolatile memory inside the sensor. For example, it is possible to store information such as manufacturer name, sensor type, model, serial number, and calibration value. The above problems are being solved.
FIG. 4 shows a circuit configuration when this TEDS is used together with a strain sensor.
The
TEDS3の両端は、付属端子F、Gに接続されている。
ケーブルのシールド線4のすべては、共通にして接地端子Eに接続されている。
図4に例示したような従来のセンサ本体において、TEDS3によって実現される機能としては、例えば、センサ本体が設置された場所(位置)を特定する機能、TEDSから読み取った情報を基に測定器を自動調整する機能、測定条件テーブル(シリアル番号、校正値、測定点)の保守管理を自動化して測定準備時間を大幅に短縮する機能等が想定される。
このように、TEDSは、多くの有効な機能を発揮し得るので、近年ひずみ測定に採用され始めている。
Both ends of the TEDS 3 are connected to the attached terminals F and G.
All the shield wires 4 of the cable are connected to the ground terminal E in common.
In the conventional sensor main body as illustrated in FIG. 4, the functions realized by the TEDS 3 include, for example, a function for specifying the location (position) where the sensor main body is installed, and a measuring instrument based on information read from the TEDS. Functions that automatically adjust, functions that greatly reduce the measurement preparation time by automating maintenance management of the measurement condition table (serial number, calibration value, measurement point), etc. are assumed.
Thus, since TEDS can exhibit many effective functions, it has recently begun to be used for strain measurement.
図5は、従来のセンサ本体の他の構成を示す回路図である。
同図に示すセンサ本体は、図4に示すセンサ本体とは違って、TEDSが含まれていない。
この従来例の場合、付属端子F,Gは、ブリッジ回路の入力端2a、2cと接続され、付属端子F,Gから測定器までの配線は、ひずみセンサをリモートセンシングする目的で使用されている。このリモートセンシングは、ひずみセンサからひずみ測定器(装置)に至るまでのケーブルにおける抵抗値の温度による変化を補償する目的で行われるものである。
図5に示す構成の場合、付属端子F,Gは、前記センシング目的で使用されるため、前述のTEDSを使用することができないという問題がある。
FIG. 5 is a circuit diagram showing another configuration of a conventional sensor body.
Unlike the sensor body shown in FIG. 4, the sensor body shown in FIG. 4 does not include TEDS.
In this conventional example, the attached terminals F and G are connected to the input terminals 2a and 2c of the bridge circuit, and the wiring from the attached terminals F and G to the measuring instrument is used for the purpose of remote sensing the strain sensor. . This remote sensing is performed for the purpose of compensating for a change due to temperature of the resistance value in the cable from the strain sensor to the strain measuring device (device).
In the case of the configuration shown in FIG. 5, since the attached terminals F and G are used for the sensing purpose, there is a problem that the above-described TEDS cannot be used.
しかしながら、上記背景技術で述べた従来のひずみセンサにあっては、ひずみ測定器までのケーブル本数や接続端子が実質的に制約されているので、リモートセンシングを行う構成とする場合は、TEDSを使用することができなくなるという問題点があった。
以下、この問題点について詳しく説明する。
例えば、前述のTEDS3を、図4にて示したと同様に、付属端子F,Gに接続し、さらに、端子F,G以外に新たな端子を設け、この新設の端子を介して別途2本のリード線をひずみセンサ2に接続し、さらに、この新設の端子と測定器との間をケーブルで接続して前記のリモートセンシングを行うことは原理的には可能であるが、新設の端子から測定器(ひずみを測定するための測定器)に至るまでの配線数が都合8本必要となる。しかしながら、ケーブルの芯線数は6本が限界とされている。(図4の端子Eを除く端子数に等しい)。
However, in the conventional strain sensor described in the background art above, since the number of cables and connection terminals to the strain measuring device are substantially restricted, TEDS is used in the case of a configuration for performing remote sensing. There was a problem that it was impossible to do.
Hereinafter, this problem will be described in detail.
For example, the above-described TEDS 3 is connected to the attached terminals F and G in the same manner as shown in FIG. 4, and a new terminal is provided in addition to the terminals F and G, and two additional terminals are provided via the new terminal. Although it is possible in principle to connect the lead wire to the
このような配線数に限界の生じる理由について説明すると、これらの配線は、被覆されて1本のケーブルに纏められて、外部の測定器に接続されるが、通常、ひずみセンサは、被測定対象領域の多地点(100点を超える場合もある)に配置されるので、このケーブルの本数も多くなり、物理的に非常に嵩張ることにより、外部の測定器まで集中配線させることが物理的に困難となるばかりでなく、コストが大幅に上昇することとなる。よって、ここに、このケーブルの直径増大を極度に抑制すべき事情が存在し、ひいては測定器をひずみセンサと接続するための配線数(=端子数)は、極度に切り詰めなければならないのである。
本発明は、前述の問題点に鑑みてなされたものであり、被測定対象のひずみ、変位、加速度、トルク等の物理量あるいは機械量等を測定することと、TEDS等の情報記憶媒体が記憶する情報の読み出しを可能にすることとを両立させた上で、なおかつ測定器との接続に必要な配線数を従来通りの規定数に維持し、コストを極力低減化することができるセンサ本体およびそのセンサ本体を用いたひずみ測定装置を提供することを目的とする。
The reason why the number of wires is limited will be explained. These wires are covered and bundled into one cable and connected to an external measuring instrument. Since it is arranged at multiple points in the area (may exceed 100 points), the number of cables increases and it is physically very bulky, so it is physically difficult to centrally wire external measuring instruments. In addition to this, the cost will increase significantly. Therefore, here, there is a situation where the increase in the diameter of the cable should be extremely suppressed, and as a result, the number of wires (= number of terminals) for connecting the measuring instrument to the strain sensor must be extremely cut off.
The present invention has been made in view of the above-described problems, and measures a physical quantity or a mechanical quantity such as strain, displacement, acceleration, torque, etc. of an object to be measured, and stores it in an information storage medium such as TEDS. A sensor main body capable of reducing the cost as much as possible while maintaining the number of wires necessary for connection with a measuring instrument at the same prescribed number as well as making it possible to read out information. An object of the present invention is to provide a strain measuring apparatus using a sensor body.
請求項1に記載した本発明に係るセンサ本体は、上述した目的を達成するために、ひずみゲージで形成されたホイートストンブリッジ回路よりなるひずみセンサと、前記ひずみセンサに関する情報が読み書き可能な情報記憶媒体とが一体的にまたは近傍に配設されたセンサ本体であって、
前記ひずみセンサから出力される被測定対象物理量に応じたアナログ信号と、前記情報記憶媒体が記憶している情報に応じて出力されるデジタル信号とを、共通の2つの出力端子に選択的に出力させるモード切換回路と、
前記ホイートストンブリッジ回路にブリッジ電源を供給するための2つの入力端子と、
前記ホイートストンブリッジ回路の出力端と前記情報記憶媒体の出力端とが共通に接続される前記2つの出力端子を備えたことを特徴としている。
In order to achieve the above-described object, a sensor main body according to
An analog signal according to the physical quantity to be measured output from the strain sensor and a digital signal output according to the information stored in the information storage medium are selectively output to two common output terminals. A mode switching circuit for causing
Two input terminals for supplying bridge power to the Wheatstone bridge circuit;
The output terminal of the Wheatstone bridge circuit and the output terminal of the information storage medium are provided with the two output terminals connected in common.
また、請求項2に記載した本発明に係るセンサ本体のモード切換回路は、前記ホイートストンブリッジ回路の一対の出力端と前記一対の出力端子との間に介挿された二つのスイッチング素子と、
一端が前記負側の出力端子に接続された前記情報記憶媒体の他端と前記正側の前記出力端子との間に介挿されたダイオードとからなり、
前記2つの入力端子にブリッジ電源を供給した状態では、前記出力端子から被測定対象の物理量に応じたアナログ信号が前記出力端子から出力され、前記ブリッジ電源の供給を断った状態で、前記正側の出力端子に負電位を供給した状態では、前記情報記憶媒体に記憶している情報を前記出力端子から読み取りを行い得るように構成したことを特徴としている。
In addition, the mode switching circuit of the sensor body according to the present invention described in
One end is composed of a diode interposed between the other end of the information storage medium connected to the negative output terminal and the positive output terminal,
In a state in which bridge power is supplied to the two input terminals, an analog signal corresponding to a physical quantity to be measured is output from the output terminal from the output terminal, and in a state in which supply of the bridge power is cut off, the positive side When a negative potential is supplied to the output terminal, information stored in the information storage medium can be read from the output terminal.
また、請求項3に記載した本発明に係るセンサ本体は、前記モード切換回路は、前記ホイートストンブリッジ回路の一方の出力端と正側の前記出力端子との間に直列に接続されたPチャンネル接合型FETからなる第1のスイッチング素子と、
前記ブリッジ回路の他方の出力端と負側の前記出力端子との間に接続されたNチャンネル接合型FETからなる第2のスイッチング素子と、
前記第1のスイッチング素子のゲートと前記負側の出力端子との間に接続された第1の抵抗と、
前記第2のスイッチング素子のゲートと前記正側の出力端子との間に接続された第2の抵抗と、
前記情報記憶媒体の前記他端にアノードが接続され、前記正側の出力端子にカソードが接続されたダイオードと、
から構成されていることを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the sensor body according to the present invention, wherein the mode switching circuit is a P-channel junction connected in series between one output end of the Wheatstone bridge circuit and the output terminal on the positive side. A first switching element comprising a type FET;
A second switching element comprising an N-channel junction FET connected between the other output terminal of the bridge circuit and the negative output terminal;
A first resistor connected between the gate of the first switching element and the negative output terminal;
A second resistor connected between the gate of the second switching element and the positive output terminal;
A diode having an anode connected to the other end of the information storage medium and a cathode connected to the positive output terminal;
It is characterized by comprising.
さらに、請求項4に記載した本発明に係るセンサ本体の前記情報記憶媒体は、TEDSからなり、出荷時に、メーカー名、センサの種類、型式、シリアル番号、校正値のうちのいずれかの情報を記憶させ、出荷後にチャンネルID、設置場所、タグ番号等をユーザーの所望に応じて記憶させ得るものであることを特徴としている。
請求項5に記載した本発明に係るセンサ本体は、前記第1のスイッチング素子、前記第2のスイッチング素子、前記第1の抵抗、前記第2の抵抗および前記ダイオードからなる回路部分をICチップ化してなることを特徴としている。
Furthermore, the information storage medium of the sensor main body according to the present invention described in claim 4 is made of TEDS, and at the time of shipment, information on any one of a manufacturer name, a sensor type, a model, a serial number, and a calibration value is stored. The channel ID, installation location, tag number, etc. can be stored as desired by the user after shipment.
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a sensor main body in which a circuit portion including the first switching element, the second switching element, the first resistor, the second resistor, and the diode is formed as an IC chip. It is characterized by.
請求項6に記載した本発明に係るひずみ測定装置は、前記請求項1〜5のいずれか1項に記載のセンサ本体を用いるひずみ測定装置であって、前記入力端子にブリッジ電圧を供給するブリッジ電源と、
前記入力端子と前記ブリッジ電源との間に介挿される入力スイッチと、
前記ブリッジ回路の出力の差分を検出する1対の差分アンプと、
前記差分アンプと前記出力端子との間に介挿される出力スイッチと、
正側の前記出力端子に選択的に接地電位よりも低い負電位を供給する負電位供給スイッチと、
前記TEDSに記憶されている情報を読み取る読取手段と、
前記読取手段と前記出力端子の正側との間に介挿される読取スイッチと、
前記出力端子の負側を選択的に接地する接地スイッチとを、
有してなることを特徴としている。
A strain measuring apparatus according to the present invention described in claim 6 is a strain measuring apparatus using the sensor main body according to any one of
An input switch interposed between the input terminal and the bridge power supply;
A pair of differential amplifiers for detecting a difference in output of the bridge circuit;
An output switch interposed between the differential amplifier and the output terminal;
A negative potential supply switch that selectively supplies a negative potential lower than the ground potential to the positive output terminal;
Reading means for reading information stored in the TEDS;
A reading switch interposed between the reading means and the positive side of the output terminal;
A grounding switch for selectively grounding the negative side of the output terminal;
It is characterized by having.
請求項7に記載した本発明に係るひずみ測定装置は、前記入力スイッチ、前記出力スイッチを、それぞれオンとすると共に前記負電位供給スイッチ、前記読取スイッチ、前記接地スイッチをそれぞれオフとすることにより前記ひずみセンサの出力を前記差分アンプに供給し、前記入力スイッチ、前記出力スイッチをそれぞれオフとすると共に前記負電位供給スイッチ、前記読取スイッチ、前記接地スイッチをそれぞれオンとすることにより前記TEDSに記憶された情報を読取手段で読取るように構成したことを特徴としている。 In the strain measuring device according to the present invention described in claim 7, the input switch and the output switch are turned on, and the negative potential supply switch, the reading switch, and the ground switch are turned off, respectively. The strain sensor output is supplied to the differential amplifier and stored in the TEDS by turning off the input switch and the output switch and turning on the negative potential supply switch, the reading switch, and the ground switch, respectively. It is characterized in that the read information is read by the reading means.
本発明によれば、ひずみゲージで形成されたホイートストンブリッジ回路よりなるひずみセンサと、前記ひずみセンサに関する情報が読み書き可能な情報記憶媒体とが一体的にまたは近傍に配設されたセンサ本体であって、
前記ひずみセンサから出力される被測定対象物理量に応じたアナログ信号と、前記情報記憶媒体が記憶している情報に応じて出力されるデジタル信号とを、共通の2つの出力端子に選択的に出力させるモード切換回路と、
前記ホイートストンブリッジ回路にブリッジ電源を供給するための2つの入力端子と、
前記ホイートストンブリッジ回路の出力端と前記情報記憶媒体の出力端とが共通に接続される前記2つの出力端子を備えた構成としたので、センサ本体とひずみ測定装置との接続に必要な配線数(芯数)を増加させることなく、被測定対象物理量や機械量を測定することと、TEDS等の情報記憶媒体が記憶する情報の読み取りとを、可能とし、特に、規定の配線数(通常は6本)のままで、リモートセンシング機能を有するひずみセンサをそのまま使用した状態でTEDS等の情報記憶媒体が記憶する情報を読み書きすることを可能となし、延いては、信頼性の高い測定データが得られると共にコストを大幅に低減し得るセンサ本体を提供することができる。
According to the present invention, there is provided a sensor body in which a strain sensor formed of a Wheatstone bridge circuit formed of a strain gauge and an information storage medium capable of reading and writing information on the strain sensor are integrally or in the vicinity. ,
An analog signal according to the physical quantity to be measured output from the strain sensor and a digital signal output according to the information stored in the information storage medium are selectively output to two common output terminals. A mode switching circuit for causing
Two input terminals for supplying bridge power to the Wheatstone bridge circuit;
Since the two output terminals are connected in common to the output end of the Wheatstone bridge circuit and the output end of the information storage medium, the number of wires required for connection between the sensor body and the strain measuring device ( It is possible to measure a physical quantity to be measured and a machine quantity without increasing the number of cores) and to read information stored in an information storage medium such as TEDS. In particular, a prescribed number of wires (usually 6 It is possible to read and write information stored in an information storage medium such as TEDS while using a strain sensor having a remote sensing function as it is, and to obtain highly reliable measurement data. It is possible to provide a sensor body that can be significantly reduced in cost.
また、請求項2に記載した発明によれば、
前記モード切換回路は、前記ホイートストンブリッジ回路の一対の出力端と前記一対の出力端子との間に介挿された二つのスイッチング素子と、
一端が前記負側の出力端子に接続された前記情報記憶媒体の他端と前記正側の前記出力端子との間に介挿されたダイオードとからなり、
前記2つの入力端子にブリッジ電源を供給した状態では、前記出力端子から被測定対象の物理量に応じたアナログ信号が前記出力端子から出力され、前記ブリッジ電源の供給を断った状態で、前記正側の出力端子に負電位を供給した状態では、前記情報記憶媒体に記憶している情報が前記出力端子から読み取りを行い得るように構成
したので、簡素な構成でありながら、上記請求項1に記載の発明の特有の効果を奏し得るセンサ本体を提供することができる。
According to the invention described in
The mode switching circuit includes two switching elements interposed between a pair of output terminals of the Wheatstone bridge circuit and the pair of output terminals,
One end is composed of a diode interposed between the other end of the information storage medium connected to the negative output terminal and the positive output terminal,
In a state in which bridge power is supplied to the two input terminals, an analog signal corresponding to a physical quantity to be measured is output from the output terminal from the output terminal, and in a state in which supply of the bridge power is cut off, the positive side In a state in which a negative potential is supplied to the output terminal, the information stored in the information storage medium can be read from the output terminal. It is possible to provide a sensor main body capable of exhibiting the specific effects of the present invention.
また、請求項3に記載の発明によれば、
前記モード切換回路は、前記ホイートストンブリッジ回路の一方の出力端と正側の前記出力端子との間に直列に接続されたPチャンネル接合型FETからなる第1のスイッチング素子と、
前記ブリッジ回路の他方の出力端と負側の前記出力端子との間に接続されたNチャンネル接合型FETからなる第2のスイッチング素子と、
前記第1のスイッチング素子のゲートと前記負側の出力端子との間に接続された第1の抵抗と、
前記第2のスイッチング素子のゲートと前記正側の出力端子との間に接続された第2の抵抗と、
前記情報記憶媒体の前記他端にアノードが接続され、前記正側の出力端子にカソードが接続されたダイオードと、
から構成されているので、簡素な構成であり且つ信頼性の高いセンサ本体を提供することができる。
According to the invention of
The mode switching circuit includes a first switching element including a P-channel junction FET connected in series between one output terminal of the Wheatstone bridge circuit and the positive output terminal;
A second switching element comprising an N-channel junction FET connected between the other output terminal of the bridge circuit and the negative output terminal;
A first resistor connected between the gate of the first switching element and the negative output terminal;
A second resistor connected between the gate of the second switching element and the positive output terminal;
A diode having an anode connected to the other end of the information storage medium and a cathode connected to the positive output terminal;
Therefore, it is possible to provide a sensor body with a simple configuration and high reliability.
また、請求項4に記載した発明によれば、
前記情報記憶媒体は、センサに組込まれた電子データシートであるTEDS(Transducer Electronic Date Sheetの略)からなり、出荷時に、メーカー名、センサの種類、型式、シリアル番号、校正値のうちのいずれかの情報を記憶させ、出荷後にチャンネルID、設置場所、タグ番号等をユーザーの所望に応じて記憶させ得るものであるため、市販のTEDSを使用することが可能となり、量産によるTEDSの構成部分のコストを低減させ得るセンサ本体を提供することができる。
また、請求項5に記載した発明によれば、
前記第1のスイッチング素子、前記第2のスイッチング素子、前記第1の抵抗、前記第2の抵抗および前記ダイオードからなる回路部分をICチップ化してなるので、上記構成部分が小型、軽量化され、ひずみセンサの特性に全く影響を及ぼさずにTEDSからの情報の読み取りを可能となし、ひずみセンサと共に組み込み得るセンサ本体を提供することができる。
According to the invention described in claim 4,
The information storage medium is composed of TEDS (abbreviation of Transducer Electronic Date Sheet), which is an electronic data sheet incorporated in the sensor, and is shipped from the manufacturer name, sensor type, model, serial number, or calibration value. Information, and after shipment, channel ID, installation location, tag number, etc. can be stored as desired by the user, so that it is possible to use commercially available TEDS, which is a component of TEDS by mass production. It is possible to provide a sensor body that can reduce the cost.
According to the invention described in
Since the circuit part consisting of the first switching element, the second switching element, the first resistor, the second resistor, and the diode is formed as an IC chip, the above-mentioned components are reduced in size and weight, It is possible to read information from the TEDS without affecting the characteristics of the strain sensor at all, and to provide a sensor body that can be incorporated together with the strain sensor.
また、請求項6に記載した発明によれば、
前記請求項1〜5のいずれか1項に記載のセンサ本体に、
前記入力端子にブリッジ電圧を供給するブリッジ電源と、
前記入力端子と前記ブリッジ電源との間に介挿される入力スイッチと、
前記ブリッジ回路の出力の差分を検出する1対の差分アンプと、
前記差分アンプと前記出力端子との間に介挿される出力スイッチと、
正側の前記出力端子に選択的に接地電位よりも低い負電位を供給する負電位供給スイッチと、
前記TEDSに記憶されている情報を読み取る読取手段と、
前記読取手段と前記出力端子の正側との間に介挿される読取スイッチと、
前記出力端子の負側を選択的に接地する接地スイッチとを、
付設してなるので、被測定対象の物理量や機械量を測定することと、TEDS等の情報記憶媒体が記憶する情報の読み取りを可能にすることを両立させた上で、なお且つひずみ測定装置との接続に必要な配線数を従来通りの規定数に維持することができ、配線数を、従来の場合に比べて削減し得ることに伴うコストダウンを実現し得るひずみ測定装置を提供することができる。
According to the invention described in claim 6,
In the sensor main body according to any one of
A bridge power supply for supplying a bridge voltage to the input terminal;
An input switch interposed between the input terminal and the bridge power supply;
A pair of differential amplifiers for detecting a difference in output of the bridge circuit;
An output switch interposed between the differential amplifier and the output terminal;
A negative potential supply switch that selectively supplies a negative potential lower than the ground potential to the positive output terminal;
Reading means for reading information stored in the TEDS;
A reading switch interposed between the reading means and the positive side of the output terminal;
A grounding switch for selectively grounding the negative side of the output terminal;
Since it is attached, the measurement of the physical quantity and mechanical quantity of the measurement target and the reading of information stored in an information storage medium such as TEDS can be made compatible with the strain measuring device. To provide a strain measuring device that can maintain the number of wires necessary for the connection of the conventional method to the specified number as before, and can reduce the number of wires as compared with the conventional case, and can realize cost reduction. it can.
また、請求項7に記載した発明によれば、
前記入力スイッチ、前記出力スイッチを、それぞれオンとすると共に前記負電位供給スイッチ、前記読取スイッチ、前記接地スイッチをそれぞれオフとすることにより前記ひずみセンサの出力を前記差分アンプに供給し、前記入力スイッチ、前記出力スイッチをそれぞれオフとすると共に前記負電位供給スイッチ、前記読取スイッチ、前記接地スイッチをそれぞれオンとすることにより前記TEDSに記憶された情報を読取手段で読取るように構成したので、前記各スイッチをオンオフ制御することだけで、ひずみ測定モードと、ひずみセンサに関する情報の読み取りモードを簡単且つ確実に切り換えることが可能であり、従って前記スイッチの動作を自動化させることで、測定作業の迅速化、人的ミスの排除を実現し得るひずみ測定装置を提供することができる。
According to the invention described in claim 7,
The input switch and the output switch are turned on, and the negative potential supply switch, the reading switch, and the ground switch are turned off to supply the output of the strain sensor to the differential amplifier. Since each of the output switches is turned off and the negative potential supply switch, the reading switch, and the ground switch are turned on, the information stored in the TEDS is read by the reading means. By simply controlling the switch on / off, it is possible to easily and reliably switch between the strain measurement mode and the strain sensor information reading mode. Therefore, by automating the operation of the switch, speeding up the measurement work, A strain measurement device that can eliminate human error It can be provided.
以下、本発明のセンサ本体およびそのセンサ本体を用いたひずみ測定装置の最良の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係るセンサ本体の要部の構成と端子との関係で示す回路図である。
図1に示す第1の実施の形態に係るセンサ本体11は、大別してひずみセンサ12と、情報記憶媒体としてのTEDS13とモード切換回路15から構成されている。
先ず、ひずみセンサ12は、4枚のひずみゲージSG1〜SG4でホイートストンブリッジ回路(以下「ブリッジ回路」という)が形成されているが、より具体的には第1のひずみゲージSG1の一端と第2のひずみゲージSG2の一端とを接続をし、その接続点を負の出力端12bとする。第2のひずみゲージSG2の他端と第3のひずみゲージSG3の一端とを接続し、その接続点を負の入力端12cとする。第3のひずみゲージSG3の他端と第4のひずみゲージSG4の一端とを接続し、その接続点を正の出力端12dとする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, preferred embodiments of a sensor main body and a strain measuring apparatus using the sensor main body of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of the main part of the sensor main body according to the first embodiment of the present invention and the relationship between terminals.
The sensor
First, in the
第4のひずみゲージSG4の他端と第1のひずみゲージSG1の他端とを接続し、その接続点を正の入力端12aとする。
前記正の入力端12aは、正側入力端子Aにケーブル(またはリード線。以下同じ)を介して直接接続され、負の出力端12bは、負側のモード切換回路15を介して、負側の出力端子Bに接続され、負の入力端12cは、負側の入力端子Cに直接接続され、正の出力端12dは、正側のモード切換回路15を介して正側の出力端子Dに接続されている。ケーブルのシールド14は、予備端子Eに接続される。
即ち、ひずみセンサを形成するブリッジ回路の正の出力端12dと正側の出力端子との間および負の出力端12bと負側の出力端子Bとの間にモード切換回路15が直列に介挿されていることになる。
情報記憶媒体の一例としてこの実施の形態においては、TEDS13を用いている。
The other end of the fourth strain gauge SG4 and the other end of the first strain gauge SG1 are connected, and the connection point is a
The
That is, the
In this embodiment,
TEDSとは、Transducer Electronic Data Sheet の略であり、センサに組み込まれた電子データシートを指称し、内部に読み書き可能なメモリを持ち、センサ自身とその使用に関わる必要な情報を記憶することができる。スマート・トランスデューサあるいはスマート・センサと称するものは、メモリの一部は製造者が規定するセンサ仕様の記憶に使われ、他の一部は、ユーザが規定できるようになっている。
例えば、メーカーの出荷時には、基本的な情報としてメーカー名、センサの種類、型式、シリアル番号、校正値、感度等を入力しておくものとし、ユーザーは、センサ情報、測定チャンネルID、ポイント、方向、タグ番号、測定モード、測定日時等の情報を追加して記憶させることができるように構成されている。
このTEDS13は、一端を接地し、他端を接地電位より低い負電位を供給することにより、内部に記憶された上記の各情報を読み書きすることができる。
TEDS is an abbreviation for Transducer Electronic Data Sheet, which refers to an electronic data sheet built into the sensor, has a readable / writable memory inside, and can store the sensor itself and necessary information related to its use. . In the so-called smart transducer or smart sensor, a part of the memory is used for storing the sensor specification defined by the manufacturer, and the other part can be defined by the user.
For example, at the time of shipment from a manufacturer, the manufacturer name, sensor type, model, serial number, calibration value, sensitivity, etc. should be entered as basic information, and the user can enter sensor information, measurement channel ID, point, direction, etc. Further, information such as a tag number, a measurement mode, and a measurement date / time can be added and stored.
The
モード切換回路15は、詳しくは後で述べるが、ひずみセンサ12から出力される被測定物理量や機械量、例えば、ひずみ、応力、変位、操作力、荷重、圧力、加速度、トルク等に応じたアナログ信号と、TEDS13から出力される記憶情報に応じたデジタル信号とを、共通の2つの出力端子B、Dに選択的に出力させるものである。
図1に示す実施の形態における動作について説明する。
例えば、ひずみセンサ12が荷重変換器に添着されているものと仮定すると、センサ本体11としては、荷重変換器ということになる。
荷重変換器の起歪部の、例えば荷重印加方向に沿って2枚のひずみゲージSG1とSG3が接着等によって添着され、これと直交する方向に沿って他の2枚のひずみゲージSG2とSG4が添着されているものとすると、荷重変換器に圧縮方向に負荷がかかった場合、2つのひずみゲージSG1とSG3は圧縮されて抵抗値が減少し、他の2つのひずみゲージSG2とSG4は伸長されて抵抗値が増加する。
As will be described later in detail, the
The operation in the embodiment shown in FIG. 1 will be described.
For example, assuming that the
For example, two strain gauges SG1 and SG3 are attached by adhesion or the like along the load application direction of the strain generating portion of the load transducer, and the other two strain gauges SG2 and SG4 are attached along the direction orthogonal thereto. Assuming that the load transducer is loaded in the compression direction, the two strain gauges SG1 and SG3 are compressed and the resistance value is decreased, and the other two strain gauges SG2 and SG4 are expanded. Increases the resistance value.
そこで、正側の入力端子Aと負側の入力端子Cとの間にブリッジ電源(図3の符号17参照)からブリッジ電圧を印加すると、ひずみゲージSG1〜SG4の抵抗値の変化に基づいて、換言すれば印加された荷重に対応した電圧が正側の出力端子Dと負側の出力端子Bとの間に出力されるので、この出力を後述する差分アンプや差動増幅器により拡大して荷重値に変換する。これがアナログモードである。このアナログモードのときは、モード切換回路15の作用により、TEDS13との関係は、電気的に断たれた状態になる。
次に、正側の入力端子Aと負側の入力端子Cとの間に供給していたブリッジ電圧の供給を断ち、負側の出力端子Bを接地し、正側の出力端子Dに接地電位よりも低い負電位を供給することにより、モード切換回路15の作用により、ひずみセンサ12の出力は断たれ、TEDS13に記憶されている情報をデジタル的に正側の出力端氏Dから読み出すことができる。これがデジタルモードである。
図1の構成によれば、センサ本体11の端子数は、TEDS15を接続した状態でありながら4つで済み、センサ本体11と測定装置とを結ぶケーブルの芯数も4本で足り、コストを大幅に低減されることになり、また、ケーブルの太さを細くすることができるため、多点計測のときなど、ケーブルが嵩張らず、ケーブル配線処理が容易化される。
Therefore, when a bridge voltage is applied between the positive input terminal A and the negative input terminal C from a bridge power supply (see
Next, the supply of the bridge voltage supplied between the positive input terminal A and the negative input terminal C is cut off, the negative output terminal B is grounded, and the positive output terminal D is grounded. By supplying a lower negative potential, the output of the
According to the configuration of FIG. 1, the number of terminals of the sensor
図2は、本発明の第2の実施の形態を簡略に示す回路図である。
図2の実施の形態は、図1の実施の形態に対し、センシング機能を付加した点が相違している。
即ち、センサ本体11の構成および作用については、第1の実施の形態と同じであるので、繰り返し説明することは省略する。
図2において、ひずみセンサ12をなすブリッジ回路の正の入力端12aと付属端子Fとの間を、センシングリード線16bで結び、負の入力端12cと付属端子Gとの間をセンシングリード線12aで結んでいる。
従って、図示しないひずみ測定器側のブリッジ電源に一端が接続された一対のケーブルの他端は、正の入力端子Aと負の入力端子Cにそれぞれ接続され、ひずみ測定器の正側に一端が接続されたケーブルの他端は正側の出力端子Dに接続され、ひずみ測定器の負側に一端が接続された他端は、負側の出力端子Bに接続され、ひずみ測定器のリモートセンシング回路に一端が接続された一対のケーブルの他端は、付属端子FとGにそれぞれ接続される。
FIG. 2 is a circuit diagram schematically showing the second embodiment of the present invention.
The embodiment of FIG. 2 is different from the embodiment of FIG. 1 in that a sensing function is added.
That is, the configuration and operation of the sensor
In FIG. 2, a sensing lead wire 16b connects between the
Therefore, the other ends of the pair of cables whose one ends are connected to a bridge power source on the strain measuring instrument side (not shown) are connected to the positive input terminal A and the negative input terminal C, respectively, and one end is connected to the positive side of the strain measuring instrument. The other end of the connected cable is connected to the positive output terminal D, and the other end connected to the negative side of the strain measuring instrument is connected to the negative output terminal B. The other ends of the pair of cables whose one ends are connected to the circuit are connected to the attached terminals F and G, respectively.
このリモートセンシング用のケーブルを上述のように配設することにより、ひずみセンサ12から測定器側に至るケーブルの温度変化やケーブル長の変化に伴う内部抵抗の変化がひずみ測定の測定値に与える誤差を補償し、精度が高く、信頼性が高い測定を実現することができる。
即ち、図4や図5に示した従来の測定値では実現できなかったTEDSによるデータ読取機能とリモートセンシング機能とを、6本のケーブル(端子)のみで実現することができる。
図3は、本発明の第3の実施の形態を具体的に示す回路図である。
図3において、ひずみセンサ12の回路部分は、図1および図2に示す対応する回路部分と同じであるので、その構成と作用は上述したところを援用して詳しい説明は省略する。
By disposing the remote sensing cable as described above, the change in the internal resistance caused by the change in the temperature of the cable from the
That is, the TEDS data reading function and remote sensing function, which could not be realized by the conventional measurement values shown in FIGS. 4 and 5, can be realized by using only six cables (terminals).
FIG. 3 is a circuit diagram specifically showing the third embodiment of the present invention.
In FIG. 3, the circuit portion of the
同図において、モード切換回路15は、第1のスイッチング素子としてのPチャンネル接合型FET15aと、第2のスイッチング素子としてのNチャンネル接合型FET15bと、ダイオードD1と、第1抵抗と、第2抵抗とから構成される。
Pチャンネル接合型FET(以下、単に「P型FET」と略称する)15aは、ブリッジ回路の正の出力端12dと正の出力端子Dとの間に直列に接続され、そのゲートは、第1の抵抗R1を介して負の出力端子Bに接続されている。Nチャンネル接合型FET(以下、単に「N型FET」と略称する)15bは、ブリッジ回路の負の出力端12bと負の出力端子Bとの間に直列接続され、そのゲートは、第2の抵抗R2を介して、正側の出力端子Dに接続されている。
TEDS13は、一端が負側の出力端子Bに接続され、他端がダイオードD1のアノードが接続され、そのダイオードD1のカソードは正側の出力端子Dに接続されている。
ブリッジ電源17の正極は、正の入力端子Aに入力スイッチS1を介して接続され、負極は、入力スイッチS2を介して負の入力端子Cに接続される。
In the figure, a
A P-channel junction FET (hereinafter simply referred to as “P-type FET”) 15a is connected in series between the positive output terminal 12d of the bridge circuit and the positive output terminal D, and its gate is connected to the first output terminal 15d. The resistor R1 is connected to the negative output terminal B. An N-channel junction FET (hereinafter simply referred to as “N-type FET”) 15b is connected in series between the
The
The positive electrode of the
ひずみ測定器24は、上記ブリッジ電源17やスイッチS1,S2のほかに、差分アンプ18,19、差動アンプ20、負電位供給用電源21、負電位供給スイッチS6、レベルシフト制御部22、CPU23、読取スイッチS5、出力スイッチS3、S4および接地スイッチS7を有している。
差分アンプ18は、出力スイッチS4とケーブルを介してその入力端が正の出力端子Dに接続され、その出力端は、抵抗を介して差動アンプ20の一方の入力端に接続される。
差分アンプ19は、出力スイッチS3とケーブルを介して負の出力端Bに接続され、その出力端は抵抗を介して差動アンプ20の他方の入力端に接続される。
接地スイッチS7は、負の出力端子Bとアースとの間に介挿されている。
負電位供給用電源21の負極側と正の出力端子Dとの間には、負電位供給用スイッチS6が介挿されている。
レベルシフト制御部22と正側の出力端子Dとの間には、読取スイッチS5が介挿されている。
In addition to the
The
The
The ground switch S7 is interposed between the negative output terminal B and the ground.
A negative potential supply switch S6 is interposed between the negative electrode side of the negative potential
A reading switch S5 is interposed between the level
このような構成よりなるひずみ測定装置の動作を図3を用いて詳しく説明する。
先ず、最初にデジタルモード(TEDS情報アクセスモード)に設定し、TEDS13に記憶されている情報を読み取ることから始める。
デジタルモードとアナログモードとの切換えは、スイッチS1〜スイッチS7のオンオフ制御によって行われるが、具体的には、表1の真理値に示すように行われる。
The operation of the strain measuring apparatus having such a configuration will be described in detail with reference to FIG.
First, the digital mode (TEDS information access mode) is set first, and the information stored in the
Switching between the digital mode and the analog mode is performed by the on / off control of the switches S1 to S7. Specifically, the switching is performed as indicated by the truth values in Table 1.
即ち、表1に示されるように、TEDS情報を読み取るモード(デジタルモード)においては、読取スイッチS5、負電位供給スイッチS6、接地スイッチS7をそれぞれオンとし、入力スイッチS1、S2、出力スイッチS3、S4をそれぞれオフとする。
このように、入力スイッチS1、S2をオフとすることにより、P型FET15aとN型FET15bは共にオフとなるので、ひずみセンサ12と正側の出力端子Dおよび負側の出力端子との間は遮断される。
一方、負電位供給スイッチS6をオンとすることで、負電位供給用電源21から負電位供給スイッチS6→正の出力端子D→ダイオードD1を介してTEDS13の一端に負電位が供給され、TEDS13の他端は接地スイッチS7を介してアースされているので、TEDS13に記憶されているひずみセンサ12に関する情報、例えば、設置場所、方向、感度、較正値等が読取スイッチS5を介して、レベルシフト制御部22、CPU23によって、読み取ることができる。
That is, as shown in Table 1, in the mode for reading TEDS information (digital mode), the reading switch S5, the negative potential supply switch S6, and the ground switch S7 are turned on, and the input switches S1, S2, the output switch S3, Each S4 is turned off.
As described above, by turning off the input switches S1 and S2, both the P-
On the other hand, by turning on the negative potential supply switch S6, a negative potential is supplied from the negative potential
次に、アナログモード、即ち、ひずみ測定時には、入力スイッチS1、S2をオンとして入力端子A、C間にブリッジ電源17、17からブリッジ電圧を印加し、出力スイッチS3、S4をオンとして、負側の出力端子Bを差分アンプ19に接続し、正側の出力端子を差分アンプ18に接続する一方、読取スイッチS5をオフとしてレベルシフト制御部22を切り離し、負電位供給スイッチS6をオフとして負電位供給用電源21を切り離し、接地スイッチS7をオフとして接地から切り離す。
ブリッジ電源17から入力スイッチS1、S2を介してブリッジ回路にブリッジ電圧を印加すると、P型FET15aおよびN型FET15bは共にオンとなり、ひずみセンサ12からのアナログ信号は、出力端子D、B、出力スイッチS4、S3、差分アンプ18、19に入力され、さらに差動アンプ20によって、増幅されて被測定対象物理量や機械量に対応した測定出力が得られる。
ひずみ測定のアナログモードの際には、読取スイッチS5、負電位供給スイッチS6、接地スイッチS7はオフとされる上、差分アンプ18、19には、入力インピーダンスの高いものを使用しているので、前記アナログ測定信号は、電位だけとなり、電流が殆ど流れず、ひずみ測定値に与える影響を阻止することができる。
Next, in the analog mode, that is, in strain measurement, the input switches S1 and S2 are turned on, a bridge voltage is applied from the
When a bridge voltage is applied from the
In the analog mode of strain measurement, the reading switch S5, the negative potential supply switch S6, and the ground switch S7 are turned off, and the
モード切換回路15を構成するP型FET15a、N型FET15b、ダイオードD1、抵抗R1、R2をICチップ化することにより、この部分を小型・軽量化することが可能となるので、ひずみゲージ式変換器の内部に収容したり、一体化することもできる。
尚、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、種々に変形して実施することができる。
即ち、上述した実施の形態ではセンサ本体を荷重変換器について説明したが、他のひずみゲージ式変換器、例えば変位変換器、圧力変換器、加速度変換器、トルク変換器、傾斜計、土圧計等にも適用することができ、また、ひずみゲージを直接被測定対象個所に接着して、その個所のひずみを検出する場合にも適用可能である。
また、情報記憶媒体として、TEDSを用いた例を示したが、内部に読み書き可能なメモリを持ち、センサ自体とその使用に係わる必要な情報を記憶することができ負電位を供給することで、情報を読み取れるものであれば、その名称の如何に拘わらず、使用可能である。
Since the P-
In addition, this invention is not limited to embodiment mentioned above, In the range which does not deviate from the summary, it can implement in various deformation | transformation.
That is, in the above-described embodiment, the sensor body has been described with respect to the load transducer, but other strain gauge transducers such as a displacement transducer, a pressure transducer, an acceleration transducer, a torque transducer, an inclinometer, a soil pressure gauge, etc. The present invention can also be applied to a case where a strain gauge is directly bonded to a portion to be measured and the strain at that portion is detected.
Moreover, although the example using TEDS was shown as an information storage medium, it has a readable / writable memory inside, can store necessary information related to the sensor itself and its use, and supply a negative potential. Any device that can read information can be used regardless of its name.
11 センサ本体
12 ひずみセンサ
12a,12c 入力端
12b,12d 出力端
13 TEDS(Transducer Electronic Date Sheet)
14 シールド線
15 モード切換回路
15a Pチャンネル接合型FET
15b Nチャンネル接合型FET
16a,16b センシングリード線
17 ブリッジ電源
18,19 差分アンプ
20 差動アンプ
21 負電位供給用電源
22 レベルシフト制御部
23 CPU
24 ひずみ測定器
S1,S2 入力スイッチ
S3,S4 出力スイッチ
S5 読取スイッチ
S6 負電位供給スイッチ
S7 接地スイッチ
SG1〜SG4 ひずみゲージ
R1、R2 抵抗
D1 ダイオード
11
14 Shielded
15b N-channel junction FET
16a, 16b
24 Strain measuring instrument S1, S2 Input switch S3, S4 Output switch S5 Reading switch S6 Negative potential supply switch S7 Ground switch SG1-SG4 Strain gauge R1, R2 Resistance D1 Diode
Claims (7)
前記ひずみセンサから出力される被測定対象物理量に応じたアナログ信号と、前記情報記憶媒体が記憶している情報に応じて出力されるデジタル信号とを、共通の2つの出力端子に選択的に出力させるモード切換回路と、
前記ホイートストンブリッジ回路にブリッジ電源を供給するための2つの入力端子と、
前記ホイートストンブリッジ回路の出力端と前記情報記憶媒体の出力端とが共通に接続される前記2つの出力端子を備えたことを特徴とするセンサ本体。 A sensor body in which a strain sensor formed of a Wheatstone bridge circuit formed of a strain gauge and an information storage medium capable of reading and writing information on the strain sensor are disposed integrally or in the vicinity thereof,
An analog signal according to the physical quantity to be measured output from the strain sensor and a digital signal output according to the information stored in the information storage medium are selectively output to two common output terminals. A mode switching circuit for causing
Two input terminals for supplying bridge power to the Wheatstone bridge circuit;
A sensor body comprising the two output terminals to which an output end of the Wheatstone bridge circuit and an output end of the information storage medium are connected in common.
一端が前記負側の出力端子に接続された前記情報記憶媒体の他端と前記正側の前記出力端子との間に介挿されたダイオードとからなり、
前記2つの入力端子にブリッジ電源を供給した状態では、前記出力端子から被測定対象の物理量に応じたアナログ信号が前記出力端子から出力され、前記ブリッジ電源の供給を断った状態で、前記正側の出力端子に負電位を供給した状態では、前記情報記憶媒体に記憶している情報を前記出力端子から読み取りを行い得るように構成したことを特徴とする請求項1に記載のセンサ本体。 The mode switching circuit includes two switching elements interposed between a pair of output terminals of the Wheatstone bridge circuit and the pair of output terminals,
One end is composed of a diode interposed between the other end of the information storage medium connected to the negative output terminal and the positive output terminal,
In a state in which bridge power is supplied to the two input terminals, an analog signal corresponding to a physical quantity to be measured is output from the output terminal from the output terminal, and in a state in which supply of the bridge power is cut off, the positive side 2. The sensor body according to claim 1, wherein information stored in the information storage medium can be read from the output terminal when a negative potential is supplied to the output terminal.
前記ブリッジ回路の他方の出力端と負側の前記出力端子との間に接続されたNチャンネル接合型FETからなる第2のスイッチング素子と、
前記第1のスイッチング素子のゲートと前記負側の出力端子との間に接続された第1の抵抗と、
前記第2のスイッチング素子のゲートと前記正側の出力端子との間に接続された第2の抵抗と、
前記情報記憶媒体の前記他端にアノードが接続され、前記正側の出力端子にカソードが接続されたダイオードと、
から構成されていることを特徴とする請求項2に記載のセンサ本体。 The mode switching circuit includes a first switching element including a P-channel junction FET connected in series between one output terminal of the Wheatstone bridge circuit and the positive output terminal;
A second switching element comprising an N-channel junction FET connected between the other output terminal of the bridge circuit and the negative output terminal;
A first resistor connected between the gate of the first switching element and the negative output terminal;
A second resistor connected between the gate of the second switching element and the positive output terminal;
A diode having an anode connected to the other end of the information storage medium and a cathode connected to the positive output terminal;
The sensor main body according to claim 2, comprising:
前記入力端子と前記ブリッジ電源との間に介挿される入力スイッチと、
前記ブリッジ回路の出力の差分を検出する1対の差分アンプと、
前記差分アンプと前記出力端子との間に介挿される出力スイッチと、
正側の前記出力端子に選択的に接地電位よりも低い負電位を供給する負電位供給スイッチと、
前記TEDSに記憶されている情報を読み取る読取手段と、
前記読取手段と前記出力端子の正側との間に介挿される読取スイッチと、
前記出力端子の負側を選択的に接地する接地スイッチとを、
有してなることを特徴とするひずみ測定装置。 A strain measuring device using the sensor main body according to any one of claims 1 to 5, wherein a bridge power supply supplies a bridge voltage to the input terminal,
An input switch interposed between the input terminal and the bridge power supply;
A pair of differential amplifiers for detecting a difference in output of the bridge circuit;
An output switch interposed between the differential amplifier and the output terminal;
A negative potential supply switch that selectively supplies a negative potential lower than the ground potential to the positive output terminal;
Reading means for reading information stored in the TEDS;
A reading switch interposed between the reading means and the positive side of the output terminal;
A grounding switch for selectively grounding the negative side of the output terminal;
A strain measuring device characterized by comprising:
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