JP4782616B2 - Photosensitive resin composition and printed circuit board obtained using the same - Google Patents

Photosensitive resin composition and printed circuit board obtained using the same Download PDF

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Description

本発明は、感光性樹脂組成物およびそれを用いて得られる、ソルダーレジストを有する配線回路基板に関するものである。   The present invention relates to a photosensitive resin composition and a printed circuit board obtained using the same and having a solder resist.

半田付けによって半導体素子等の電子部品を実装する配線回路基板には、カバーレイと称される接着剤層が形成されたポリイミドフィルムを所定の形状に打ち抜いたものを、導体パターン上に貼り付けたり、あるいはソルダーレジストと呼ばれる耐熱性材料をスクリーン印刷法や露光現像法によって必要な部分に設けたりするというように、導体パターン上にカバー絶縁層(ソルダーレジスト層を含む)を設けることが行われている。   For printed circuit boards on which electronic components such as semiconductor elements are mounted by soldering, a polyimide film on which an adhesive layer called a coverlay is formed is punched into a predetermined shape, and is pasted on a conductor pattern. Alternatively, a cover insulating layer (including a solder resist layer) is provided on the conductor pattern such that a heat resistant material called a solder resist is provided on a necessary portion by a screen printing method or an exposure development method. Yes.

このようなカバー絶縁層には、半田による部品実装時の半田耐熱性,絶縁性,難燃性,さらにフレキシブルプリント配線板においては耐折性等の特性が要求される。   Such a cover insulating layer is required to have characteristics such as solder heat resistance, insulation, flame retardance when mounting a component by solder, and folding resistance in a flexible printed wiring board.

現在では、上記接着剤層が形成されたポリイミドフィルムを所定の形状に打ち抜いて形成されるカバーレイが上記のような特性を満足するものとして最も多く使用されているが、型抜きに際して高価な金型を必要とし、さらに打ち抜いたフィルムを人手で位置合わせして貼り合わせるという作業を必要とすることから高コストになり、また微細パターンの形成が困難であるという問題がある。   At present, the cover lay formed by punching the polyimide film with the adhesive layer formed into a predetermined shape is most often used to satisfy the above-mentioned characteristics. There is a problem that a mold is required, and the punched film is manually aligned and bonded, resulting in high costs and difficulty in forming a fine pattern.

このような問題を解決するために、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂,ビスフェノールF型エポキシ樹脂,ノボラック型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂を主成分とする液状の感光性レジスト材料が提案されている(特許文献1,2,3参照)。これらは、微細パターンの形成を可能とするものである。この種の、微細パターンの形成性および耐折性や低応力性に優れたところの、ウレタンアクリレートを主成分とし、硬化物の耐折性に優れた液状の感光性レジスト材料も提案されている(特許文献4参照)。
特開平7−207211号公報 特開平8−134390号公報 特開平9−5997号公報 特開平7−253666号公報
In order to solve such a problem, for example, a liquid photosensitive resist material mainly composed of an epoxy resin such as bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, or novolak type epoxy resin has been proposed (patent). Reference 1, 2, 3). These enable the formation of a fine pattern. This kind of liquid photosensitive resist material, which is excellent in formability, folding resistance and low stress properties of a fine pattern, is mainly composed of urethane acrylate and has excellent folding resistance of a cured product. (See Patent Document 4).
JP-A-7-207211 JP-A-8-134390 Japanese Patent Laid-Open No. 9-5997 JP-A-7-253666

しかしながら、上記ビスフェノールA型エポキシ樹脂,ビスフェノールF型エポキシ樹脂,ノボラック型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂を主成分とする液状の感光性レジスト材料は、上記各種エポキシ樹脂を主成分とするため、耐折性や低応力性に乏しいという問題を有している。また、上記ウレタンアクリレートを主成分とした耐折性に優れた感光性レジスト材料は、半田耐熱性に関して充分なものとはいえないという問題がある。   However, the liquid photosensitive resist material mainly composed of epoxy resin such as bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, novolac type epoxy resin or the like has the above various epoxy resins as the main component, so that it has folding resistance. And has a problem of poor low stress. Further, there is a problem that the photosensitive resist material having the above-mentioned urethane acrylate as a main component and excellent in folding resistance is not sufficient in terms of solder heat resistance.

また、配線回路基板では、電子部品実装用開口パッド部のメッキ乗りが、均一であることが求められているが、上記材料では未だこれが不十分であるという問題があった。   In addition, the printed circuit board is required to have uniform plating on the opening pad portion for mounting electronic components, but there is a problem that this is still insufficient with the above materials.

本発明は、このような事情に鑑みなされたもので、耐折性,低応力性,半田耐熱性に優れ、しかもメッキ乗り均一性が良好な感光性樹脂組成物およびそれを用いて得られる配線回路基板の提供をその目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and is a photosensitive resin composition excellent in folding resistance, low stress property, solder heat resistance, and good plating ride uniformity, and wiring obtained using the same. The purpose is to provide a circuit board.

上記の目的を達成するために、本発明は、下記の(A)〜()成分を含有する感光性樹脂組成物を第1の要旨とする。
(A)カルボキシル基含有線状重合体。
(B)エチレン性不飽和基含有重合性化合物。
(C)光重合開始剤。
(D)下記の一般式(1)で表される複素環式メルカプタン化合物。

Figure 0004782616
(E)テトラゾール化合物。
(F)下記の一般式(2)で表されるエポキシ樹脂。
Figure 0004782616
In order to achieve the above object, the present invention has a photosensitive resin composition containing the following components (A) to ( F ) as a first gist.
(A) A carboxyl group-containing linear polymer.
(B) An ethylenically unsaturated group-containing polymerizable compound.
(C) Photopolymerization initiator.
(D) A heterocyclic mercaptan compound represented by the following general formula (1).
Figure 0004782616
(E) Tetrazole compound.
(F) An epoxy resin represented by the following general formula (2).
Figure 0004782616

そして、導体回路パターン上に、上記感光性樹脂組成物を用いて感光性樹脂組成物層を形成し、これを所定のパターンに露光して現像することによりカバー絶縁層を形成してなる配線回路基板を第2の要旨とする。   Then, a wiring circuit formed by forming a photosensitive resin composition layer on the conductor circuit pattern using the photosensitive resin composition, and exposing and developing the photosensitive resin composition layer to develop a predetermined pattern to form a cover insulating layer The substrate is a second gist.

すなわち、本発明者は、耐折性,低応力性,半田耐熱性に優れ、しかもメッキ乗り均一性が良好な感光性樹脂組成物を得るために一連の研究を重ねた。この研究の過程で、上記カルボキシル基含有線状重合体〔(A)成分〕と、エチレン性不飽和基含有重合性化合物〔(B)成分〕と、光重合開始剤〔(C)成分〕とともに、上記一般式(1)で表される複素環式メルカプタン化合物〔(D)成分〕を用いることが有効であるという知見を得た。そして、さらに研究を重ねた結果、これらの成分とテトラゾール化合物〔(E)成分〕および特定のエポキシ樹脂〔(F)成分〕を併用すると、耐折性,低応力性,半田耐熱性に優れ、しかも良好なメッキ乗り均一性が得られることを見出し本発明に到達した。 That is, the present inventor conducted a series of studies in order to obtain a photosensitive resin composition excellent in folding resistance, low stress property, and solder heat resistance and having good plating ride uniformity. In the course of this research, together with the above carboxyl group-containing linear polymer [component (A)], ethylenically unsaturated group-containing polymerizable compound [component (B)], and photopolymerization initiator [component (C)] The present inventors have found that it is effective to use the heterocyclic mercaptan compound [component (D)] represented by the general formula (1). As a result of further research, when these components and a tetrazole compound [(E) component] and a specific epoxy resin [(F) component] are used in combination, they are excellent in folding resistance, low stress property, solder heat resistance, In addition, the inventors have found that good plating ride uniformity can be obtained and have reached the present invention.

このように、本発明の感光性樹脂組成物は、前記カルボキシル基含有線状重合体〔(A)成分〕と、エチレン性不飽和基含有重合性化合物〔(B)成分〕と光重合開始剤〔(C)成分〕とともに、上記一般式(1)で表される複素環式メルカプタン化合物〔(D)成分〕とテトラゾール化合物〔(E)成分〕、そして上記一般式(2)で表されるエポキシ樹脂〔(F)成分〕を含有している。 As described above, the photosensitive resin composition of the present invention includes the carboxyl group-containing linear polymer [component (A)], the ethylenically unsaturated group-containing polymerizable compound [component (B)], and a photopolymerization initiator. Along with [component (C)], the heterocyclic mercaptan compound [component (D)] and tetrazole compound [(E) component] represented by the above general formula (1), and the above general formula (2) Contains epoxy resin [component (F)] .

このため、優れた耐折性,低応力性,半田耐熱性,メッキ乗り均一性を奏することができる。そして、本発明の感光性樹脂組成物を用い、導体回路パターン上にカバー絶縁層を形成することにより各特性に優れた配線回路基板が得られ、このような配線回路基板、例えば、フレキシブルプリント配線板に、半田付け等によってLSI,ダイオード,トランジスタ,コンデンサ等の電子部品を実装して実装基板とし、携帯電話等の小型機器等に有効に利用される。   For this reason, excellent folding resistance, low stress, solder heat resistance, and plating ride uniformity can be achieved. Then, by using the photosensitive resin composition of the present invention, a printed circuit board having excellent characteristics can be obtained by forming a cover insulating layer on the conductor circuit pattern. Such a printed circuit board, for example, flexible printed wiring Electronic components such as LSIs, diodes, transistors, and capacitors are mounted on a board by soldering or the like to form a mounting substrate, which is effectively used for small devices such as mobile phones.

上記のように、本発明において、上記(A)〜(E)成分に加えて一般式(2)で表されるエポキシ樹脂〔(F)成分〕を用いたときには、一層優れた耐折性を発揮することが可能となる。 As described above, in the present invention, when the epoxy resin [component (F)] represented by the general formula (2) is used in addition to the components (A) to (E), a more excellent folding resistance is obtained. It becomes possible to demonstrate.

また、上記カルボキシル基含有線状重合体〔(A)成分〕として、重量平均分子量(Mw)が5000〜50000の範囲のものを用いたときには、優れたアルカリ現像性を発揮することが可能となる。   Further, when the carboxyl group-containing linear polymer [component (A)] has a weight average molecular weight (Mw) in the range of 5000 to 50000, it is possible to exhibit excellent alkali developability. .

さらに、上記エチレン性不飽和基含有重合性化合物〔(B)成分〕として、一般式(3)で表されるビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物を用いると、耐折性,半田耐熱性およびアルカリ現像性に、より一層優れるようになる。   Further, when the bisphenol A (meth) acrylate compound represented by the general formula (3) is used as the ethylenically unsaturated group-containing polymerizable compound [component (B)], folding resistance, solder heat resistance and alkali It becomes more excellent in developability.

ここで、本発明における(メタ)アクリル酸とは、アクリル酸およびそれに対応するメタクリル酸を意味し、(メタ)アクリレートとは、アクリレートおよびそれに対応するメタクリレートを意味する。   Here, (meth) acrylic acid in the present invention means acrylic acid and methacrylic acid corresponding thereto, and (meth) acrylate means acrylate and methacrylate corresponding thereto.

本発明の感光性樹脂組成物は、カルボキシル基含有線状重合体(A成分)と、エチレン性不飽和基含有重合性化合物(B成分)と、光重合開始剤(C成分)と、複素環式メルカプタン化合物(D成分)と、テトラゾール化合物(E成分)と、特定のエポキシ樹脂(F成分)とを用いて得られるものである。 The photosensitive resin composition of the present invention comprises a carboxyl group-containing linear polymer (component A), an ethylenically unsaturated group-containing polymerizable compound (component B), a photopolymerization initiator (component C), a heterocyclic ring. It is obtained using a formula mercaptan compound (D component), a tetrazole compound (E component), and a specific epoxy resin (F component) .

上記カルボキシル基含有線状重合体(A成分)としては、特に限定するものではないが、例えば、エポキシ樹脂に(メタ)アクリル酸を付加させて得られた化合物の水酸基に酸無水物を開環付加させたもの、ポリオールやフェノキシ樹脂等の水酸基に酸無水物を開環付加させたもの、(メタ)アクリル酸を含むエチレン性不飽和化合物の線状重合物、ポリアミド酸等が用いられる。なかでも、線状重合物の酸当量を任意に制御できることや、原料モノマー種が豊富にあることに起因してガラス転移温度(Tg)等の物性設計が容易であることから、(メタ)アクリル酸を含むエチレン性不飽和化合物の線状重合物を用いることが好ましい。   The carboxyl group-containing linear polymer (component A) is not particularly limited. For example, an acid anhydride is opened on the hydroxyl group of a compound obtained by adding (meth) acrylic acid to an epoxy resin. Those added, those obtained by ring-opening addition of acid anhydrides to hydroxyl groups such as polyols and phenoxy resins, linear polymers of ethylenically unsaturated compounds containing (meth) acrylic acid, and polyamic acids are used. In particular, the acid equivalent of the linear polymer can be arbitrarily controlled, and the physical property design such as glass transition temperature (Tg) is easy due to the abundance of raw material monomer types. It is preferable to use a linear polymer of an ethylenically unsaturated compound containing an acid.

上記カルボキシル基含有線状重合体(A成分)の重量平均分子量は、5000〜50000の範囲であることが好ましく、より好ましくは6000〜40000、さらに好ましくは7000〜30000の範囲である。すなわち、重量平均分子量が5000未満では半田耐熱性等が悪くなる傾向がみられ、50000を超えるとアルカリ現像性が悪くなる傾向がみられるからである。   The weight average molecular weight of the carboxyl group-containing linear polymer (component A) is preferably in the range of 5000 to 50000, more preferably 6000 to 40000, and still more preferably in the range of 7000 to 30000. That is, when the weight average molecular weight is less than 5,000, the solder heat resistance tends to deteriorate, and when it exceeds 50,000, the alkali developability tends to deteriorate.

また、上記カルボキシル基含有線状重合体(A成分)の酸当量は、200〜900の範囲であることが好ましく、より好ましくは250〜850、さらに好ましくは300〜800の範囲である。すなわち、酸当量が200未満では高温高湿下での銅の酸化を促進する傾向がみられ、900を超えるとアルカリ現像性が悪くなる傾向がみられるからである。   Moreover, it is preferable that the acid equivalent of the said carboxyl group containing linear polymer (A component) is the range of 200-900, More preferably, it is 250-850, More preferably, it is the range of 300-800. That is, if the acid equivalent is less than 200, a tendency to promote oxidation of copper under high temperature and high humidity is observed, and if it exceeds 900, alkali developability tends to be deteriorated.

さらに、上記カルボキシル基含有線状重合体(A成分)として、上記(メタ)アクリル酸を含むエチレン性不飽和化合物の線状重合物を用いる際には、耐折性の向上の観点から、フェノキシエチル(メタ)アクリレートを共重合成分とするものが好ましい。   Furthermore, when using the linear polymer of the ethylenically unsaturated compound containing the (meth) acrylic acid as the carboxyl group-containing linear polymer (component A), from the viewpoint of improving folding resistance, phenoxy is used. What uses ethyl (meth) acrylate as a copolymerization component is preferable.

このような共重合体からなる、カルボキシル基含有線状重合体(A成分)の具体例としては、例えば、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリル酸およびその他のビニルモノマーとを共重合して得られる共重合体があげられる。   Specific examples of the carboxyl group-containing linear polymer (component A) comprising such a copolymer include, for example, copolymerization with phenoxyethyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid and other vinyl monomers. And the copolymer obtained.

上記その他のビニルモノマーとしては、例えば、(メタ)アクリル酸メチルエステル、(メタ)アクリル酸エチルエステル、(メタ)アクリル酸ブチルエステル等の(メタ)アクリル酸のアルキルエステル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシルエステル、(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリルエステル、(メタ)アクリル酸ジメチルアミノエチルエステル、(メタ)アクリル酸ジエチルアミノエチルエステル、スチレン、α−スチレン、ビニルトルエン、N−ビニルピロリドン、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、アクリルアミド、アクリロニトリル、メタクリロニトリル、N−フェニルマレイミド、シクロヘキシルマレイミド等があげられる。これらは単独でもしくは2種以上併せて用いられる。   Examples of the other vinyl monomers include (meth) acrylic acid methyl ester, (meth) acrylic acid ethyl ester, (meth) acrylic acid alkyl ester such as (meth) acrylic acid alkyl ester, (meth) acrylic acid 2 -Ethylhexyl ester, (meth) acrylic acid tetrahydrofurfuryl ester, (meth) acrylic acid dimethylaminoethyl ester, (meth) acrylic acid diethylaminoethyl ester, styrene, α-styrene, vinyltoluene, N-vinylpyrrolidone, (meth) Examples thereof include 2-hydroxyethyl acrylate, acrylamide, acrylonitrile, methacrylonitrile, N-phenylmaleimide, cyclohexylmaleimide and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

上記共重合成分であるフェノキシエチル(メタ)アクリレートの共重合量は、共重合体の総量(100重量部、以下同じ)中、10〜92重量部(以下「部」と略す)に設定することが好ましく、より好ましくは20〜90部の範囲である。すなわち、共重合量が10部未満では、耐折性が低下する傾向がみられ、92部を超えると、耐折性は得られるが、生成したソルダーレジストのアルカリ現像性が低下する傾向がみられるからである。   The copolymerization amount of phenoxyethyl (meth) acrylate as the copolymer component is set to 10 to 92 parts by weight (hereinafter abbreviated as “parts”) in the total amount of the copolymer (100 parts by weight, the same shall apply hereinafter). Is more preferable, and the range of 20 to 90 parts is more preferable. That is, when the copolymerization amount is less than 10 parts, folding resistance tends to decrease. When it exceeds 92 parts, folding resistance is obtained, but the alkali developability of the generated solder resist tends to decrease. Because it is.

また、上記共重合成分である(メタ)アクリル酸の共重合量は、共重合体の総量中、8〜40部に設定することが好ましく、より好ましくは10〜35部の範囲である。すなわち、共重合量が8部未満では、現像時間が長くなり作業性が低下する傾向がみられ、40部を超えると、高温高湿下での銅の酸化を促進する傾向がみられるからである。   Moreover, it is preferable to set the copolymerization amount of the (meth) acrylic acid which is the said copolymerization component to 8-40 parts in the total amount of a copolymer, More preferably, it is the range of 10-35 parts. That is, if the copolymerization amount is less than 8 parts, the development time tends to be long and the workability tends to be reduced, and if it exceeds 40 parts, the copper oxidation tends to be promoted under high temperature and high humidity. is there.

そして、上記共重合成分であるその他のビニルモノマーの共重合量は、共重合体の総量中、0〜72部であることが好ましく、より好ましくは0〜60部である。すなわち、共重合量が72部を超えると難燃性および現像性が低下する傾向がみられるからである。   And the copolymerization amount of the other vinyl monomer which is the said copolymerization component is preferably 0 to 72 parts, more preferably 0 to 60 parts in the total amount of the copolymer. That is, if the copolymerization amount exceeds 72 parts, the flame retardancy and developability tend to be reduced.

上記A成分とともに用いられるエチレン性不飽和基含有重合性化合物(B成分)は、特に限定するものではないが、下記の一般式(3)で表されるビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物であることが、半田耐熱性、耐折性、アルカリ現像性等の特性バランスに優れる点から好ましい。   The ethylenically unsaturated group-containing polymerizable compound (B component) used together with the A component is not particularly limited, but is a bisphenol A (meth) acrylate compound represented by the following general formula (3). Is preferable from the viewpoint of excellent balance of properties such as solder heat resistance, folding resistance and alkali developability.

Figure 0004782616
Figure 0004782616

上記式(3)中、炭素数2〜6のアルキレン基としては、例えば、エチレン基、プロピレン基、イソプロピレン基、ブチレン基、イソブチレン基、ペンチレン基、ネオペンチレン基、ヘキシレン基等があげられる。特にエチレン基であることが好ましい。   In the above formula (3), examples of the alkylene group having 2 to 6 carbon atoms include an ethylene group, a propylene group, an isopropylene group, a butylene group, an isobutylene group, a pentylene group, a neopentylene group, and a hexylene group. In particular, an ethylene group is preferable.

上記イソプロピレン基は、−CH(CH3 )CH2 −で表される基であり、上記一般式(3)中の−(O−Y1 )−および−(Y2 −O)−において結合方向は、メチレン基が酸素と結合している場合とメチレン基が酸素に結合していない場合の2種類があり、1種類の結合方向でもよいし、2種類の結合方向が混在していてもよい。   The isopropylene group is a group represented by —CH (CH 3) CH 2 —, and in — (O—Y 1) — and — (Y 2 —O) — in the above general formula (3), the bonding direction is methylene. There are two types, when the group is bonded to oxygen and when the methylene group is not bonded to oxygen, one bonding direction may be used, or two bonding directions may be mixed.

上記−(O−Y1 )−および−(Y2 −O)−の繰り返し単位がそれぞれ2以上のとき、2以上のY1 および2以上のY2 は、互いに同一であってもよく異なっていてもよい。そして、Y1 およびY2 が2種以上のアルキレン基で構成される場合、2種以上の−(O−Y1 )−および−(Y2 −O)−は、ランダムに存在してもよいし、ブロック的に存在してもよい。   When the number of the repeating units-(O-Y1)-and-(Y2-O)-is 2 or more, two or more Y1 and two or more Y2 may be the same or different from each other. And when Y1 and Y2 are comprised by 2 or more types of alkylene groups, 2 or more types of-(O-Y1)-and-(Y2-O)-may exist at random or may be block-like. May be present.

また、上記一般式(3)中の、2個のベンゼン環の置換可能な位置には、1個以上の置換基ないし原子を有していてもよく、2個以上の置換基ないし原子を有する場合には、それら置換基ないし原子は互いに同じであっても異なっていてもよい。このような置換基ないし原子としては、例えば、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数3〜10のシクロアルキル基、炭素数6〜14のアリール基、アミノ基、ニトロ基、シアノ基、メルカプト基、アリル基、炭素数1〜10のアルキルメルカプト基、炭素数1〜20のヒドロキシアルキル基、アルキル基の炭素数が1〜10のカルボキシアルキル基、アルキル基の炭素数が1〜10のアシル基、炭素数1〜20のアルコキシ基または複素環を含む基、ハロゲン原子等があげられる。   In the general formula (3), the substitutable positions of the two benzene rings may have one or more substituents or atoms, and have two or more substituents or atoms. In some cases, these substituents or atoms may be the same or different. Examples of the substituent or atom include an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms, an aryl group having 6 to 14 carbon atoms, an amino group, a nitro group, a cyano group, and a mercapto. Group, allyl group, alkyl mercapto group having 1 to 10 carbon atoms, hydroxyalkyl group having 1 to 20 carbon atoms, carboxyalkyl group having 1 to 10 carbon atoms in alkyl group, acyl having 1 to 10 carbon atoms in alkyl group Group, a C1-C20 alkoxy group or a group containing a heterocyclic ring, a halogen atom, and the like.

上記一般式(3)中の、繰り返し数p,qは、p+qが4〜40となるよう選ばれる正の整数であり、より好ましくはp+qが4〜15となるよう選ばれる正の整数であり、特に好ましくはp+qが5〜13となるよう選ばれる正の整数である。すなわち、p+qが4未満では、耐折性が低下する傾向がみられ、p+qが40を超えると、感光性樹脂組成物全体の系が親水性を示し、高温高湿下での絶縁信頼性に劣る傾向がみられるからである。そして、pまたはqは、0でもよいが、通常、最小値として1の値が選ばれる。   In the general formula (3), the number of repetitions p and q is a positive integer selected such that p + q is 4 to 40, more preferably a positive integer selected so that p + q is 4 to 15. Particularly preferably, it is a positive integer selected such that p + q is 5 to 13. That is, when p + q is less than 4, folding resistance tends to decrease. When p + q exceeds 40, the entire photosensitive resin composition exhibits hydrophilicity, and insulation reliability under high temperature and high humidity is improved. This is because an inferior tendency is seen. P or q may be 0, but usually a value of 1 is selected as the minimum value.

上記一般式(3)で表されるビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物としては、具体的には、2,2′−ビス〔4−(メタ)アクリロキシジエトキシフェニル〕プロパン、2,2′−ビス〔4−(メタ)アクリロキシテトラエトキシフェニル〕プロパン、2,2′−ビス〔4−(メタ)アクリロキシペンタエトキシフェニル〕プロパン、2,2′−ビス〔4−(メタ)アクリロキシジエトキシオクタプロポキシフェニル〕プロパン、2,2′−ビス〔4−(メタ)アクリロキシトリエトキシオクタプロポキシフェニル〕プロパン等があげられる。これらは単独でもしくは2種以上併せて用いられる。   Specific examples of the bisphenol A-based (meth) acrylate compound represented by the general formula (3) include 2,2′-bis [4- (meth) acryloxydiethoxyphenyl] propane, 2,2 ′. -Bis [4- (meth) acryloxytetraethoxyphenyl] propane, 2,2'-bis [4- (meth) acryloxypentaethoxyphenyl] propane, 2,2'-bis [4- (meth) acryloxy And diethoxyoctapropoxyphenyl] propane, 2,2′-bis [4- (meth) acryloxytriethoxyoctapropoxyphenyl] propane, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

上記AおよびB成分とともに用いられる光重合開始剤(C成分)としては、例えば、置換または非置換の多核キノン類(2−エチルアントラキノン、2−t−ブチルアントラキノン、オクタメチルアントラキノン、1,2−ベンズアントラキノン、2,3−ジフェニルアントラキノン等)、α−ケタルドニルアルコール類(ベンゾイン、ピバロン等)、エーテル類、α−炭化水素置換芳香族アシロイン類(α−フェニル−ベンゾイン、α,α’−ジエトキシアセトフェノン類等)、芳香族ケトン類(ベンゾフェノン、N,N′−テトラエチル−4,4′−ジアミノベンゾフェノン等の4,4′−ビスジアルキルアミノベンゾフェノン等)、チオキサントン類(2−メチルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、2−クロルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、2−エチルチオキサントン等)、2−メチル−1−〔4−(メチルチオ)フェニル〕−モルホリノプロパン−1−オン等があげられる。これらは単独でもしくは2種以上併せて用いられる。   Examples of the photopolymerization initiator (component C) used together with the components A and B include substituted or unsubstituted polynuclear quinones (2-ethylanthraquinone, 2-t-butylanthraquinone, octamethylanthraquinone, 1,2- Benzanthraquinone, 2,3-diphenylanthraquinone, etc.), α-ketaldonyl alcohols (benzoin, pivalon, etc.), ethers, α-hydrocarbon-substituted aromatic acyloins (α-phenyl-benzoin, α, α'- Diethoxyacetophenones, etc.), aromatic ketones (benzophenone, 4,4′-bisdialkylaminobenzophenones such as N, N′-tetraethyl-4,4′-diaminobenzophenone, etc.), thioxanthones (2-methylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone , 2-isopropylthioxanthone, 2-ethylthioxanthone, etc.), 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -morpholinopropan-1-one, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

上記A〜C成分とともに用いられるD成分は、下記の一般式(1)で表される複素環式メルカプタン化合物である。   The D component used together with the A to C components is a heterocyclic mercaptan compound represented by the following general formula (1).

Figure 0004782616
Figure 0004782616

上記式(1)中において、2価の基であるXと、−N=C−S−とが結合して形成する5員環は、具体的には、チアゾール環、チアゾリン環、チアジアゾール環、チアトリアゾール環等である。   In the above formula (1), the 5-membered ring formed by combining X which is a divalent group and —N═C—S— specifically includes a thiazole ring, a thiazoline ring, a thiadiazole ring, A thiatriazole ring and the like.

また、Xが芳香族環であって、上記5員環と縮合環を形成する原子団である場合、その縮合環の具体例としては下記のベンゾチアゾール環、ベンゾチアゾリン環、ベンゾチアジアゾール環等が挙げられる。   When X is an aromatic ring and is an atomic group that forms a condensed ring with the 5-membered ring, specific examples of the condensed ring include the following benzothiazole ring, benzothiazoline ring, and benzothiadiazole ring. Can be mentioned.

Figure 0004782616
Figure 0004782616

これらの5員環または芳香族環は、ハロゲン原子(例えば、塩素、臭素等)、アルキル基(好ましくは炭素原子数1〜4の低級アルキル基、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、n−ブチル基等)、アルコキシ基(好ましくは炭素原子数1〜4のアルコキシ基、例えば、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、n−ブトキシ基等)、アミノ基、アルキルアミノ基(例えば、メチルアミノ基、エチルアミノ基、n−プロピルアミノ基等)、アルコキシカルボニル基(例えば、メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基等)、メルカプト基およびフェニル基からなる群から選択された原子または置換基の1個以上で置換されてよく、互いに同じであっても異なっていてもよい。   These 5-membered or aromatic rings are a halogen atom (for example, chlorine, bromine, etc.), an alkyl group (preferably a lower alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, for example, a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group). , N-butyl group, etc.), alkoxy groups (preferably alkoxy groups having 1 to 4 carbon atoms such as methoxy group, ethoxy group, n-propoxy group, n-butoxy group, etc.), amino groups, alkylamino groups ( For example, an atom or substituent selected from the group consisting of a methylamino group, an ethylamino group, an n-propylamino group, etc.), an alkoxycarbonyl group (eg, a methoxycarbonyl group, an ethoxycarbonyl group, etc.), a mercapto group, and a phenyl group. And may be the same or different from each other.

前記一般式(1)で示される複素環式メルカプタン化合物(D成分)の具体例としては、例えば、2−アミノ−5−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−クロロ−2−メルカプトベンゾチアゾール、6−エトキシ−2−メルカプトベンゾチアゾール、2−メルカプトベンゾチアゾール、5,5’−ジメチル−2−メルカプトチアゾリン、2−メルカプトチアゾリン、4−メトキシカルボニル−5,5’−ジメチル−2−メルカプトチアゾリン、5−アミノ−2−メルカプトチアゾール、2−メルカプト−4,5−ジメチルチアゾール、2−メルカプト−4−メチルチアゾール、2−メルカプト−4−フェニルチアゾール、2−メルカプトチアゾール、5−アミノ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、3,5−ジメルカプト−1,2,4−チアジアゾール、2,5−ジメルカプト−1,3,4−チアジアゾール、5−メチルアミノ−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、2−メルカプト−5−フェニル−1,3,4−チアジアゾール、5−メチル−2−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、3−フェニルー5−メルカプトー1,2,4−チアジアゾール等があげられる。これらは単独でもしくは2種以上併せて用いてもよい。   Specific examples of the heterocyclic mercaptan compound (component D) represented by the general formula (1) include, for example, 2-amino-5-mercapto-1,3,4-thiadiazole, 5-chloro-2-mercaptobenzo Thiazole, 6-ethoxy-2-mercaptobenzothiazole, 2-mercaptobenzothiazole, 5,5′-dimethyl-2-mercaptothiazoline, 2-mercaptothiazoline, 4-methoxycarbonyl-5,5′-dimethyl-2-mercapto Thiazoline, 5-amino-2-mercaptothiazole, 2-mercapto-4,5-dimethylthiazole, 2-mercapto-4-methylthiazole, 2-mercapto-4-phenylthiazole, 2-mercaptothiazole, 5-amino-2 -Mercapto-1,3,4-thiadiazole, 3,5-dimerca To-1,2,4-thiadiazole, 2,5-dimercapto-1,3,4-thiadiazole, 5-methylamino-2-mercapto-1,3,4-thiadiazole, 2-mercapto-5-phenyl-1 3,4-thiadiazole, 5-methyl-2-mercapto-1,3,4-thiadiazole, 3-phenyl-5-mercapto-1,2,4-thiadiazole and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

上記A〜D成分とともに用いられるテトラゾール化合物(E成分)としては、例えば、1H−テトラゾール、5,5’−ビス−1H−テトラゾール、5−メチル−1Hーテトラゾール、5−フェニル−1H−テトラゾール、5−アミノ−1H−テトラゾール、5−メルカプト−1H−テトラゾール等の5置換−1H−テトラゾール、1−メチル−1H−テトラゾール、1−フェニル−1H−テトラゾール、1−アミノ−1H−テトラゾール、1−メルカプト−1H−テトラゾール等の1置換−1H−テトラゾール、1−フェニル−5−メチル−1H−テトラゾール、1−フェニル−5−アミノ−1H−テトラゾール、1−フェニル−5−メルカプト−1H−テトラゾール等の1置換−5置換−1H−テトラゾール等が挙げられる。銅の酸化防止の見地からは、1H−テトラゾールおよび5置換−1H−テトラゾールがより好ましい。   Examples of the tetrazole compound (E component) used together with the A to D components include 1H-tetrazole, 5,5′-bis-1H-tetrazole, 5-methyl-1H-tetrazole, 5-phenyl-1H-tetrazole, 5 5-amino-1H-tetrazole, 5-mercapto-1H-tetrazole such as 5-mercapto-1H-tetrazole, 1-methyl-1H-tetrazole, 1-phenyl-1H-tetrazole, 1-amino-1H-tetrazole, 1-mercapto 1-substituted 1H-tetrazole such as 1H-tetrazole, 1-phenyl-5-methyl-1H-tetrazole, 1-phenyl-5-amino-1H-tetrazole, 1-phenyl-5-mercapto-1H-tetrazole, etc. Examples include 1-substituted-5-substituted-1H-tetrazole. From the viewpoint of copper oxidation prevention, 1H-tetrazole and 5-substituted-1H-tetrazole are more preferable.

本発明においては、上記A〜E成分に加えて、さらに半田耐熱性および耐折性の一層の向上を目的に、特殊なエポキシ樹脂(F成分)用いられる。上記特殊なエポキシ樹脂(F成分)としては、下記の一般式(2)で表されるエポキシ樹脂等があげられる。 In the present invention, in addition to the above A~E components, more solder heat resistance and bending resistance of the object to further improve a special epoxy resin (F component) Ru is used. Examples of the special epoxy resin (F component) include an epoxy resin represented by the following general formula (2).

Figure 0004782616
Figure 0004782616

上記一般式(2)で表されるエポキシ樹脂は、例えば、特開2004−15602号公報に記載された方法により製造することができる。具体的には、下記の式(4)で表される2官能性フェノール化合物と、エーテル結合を含む炭化水素化合物のジビニルエーテルとを反応させ、ついで得られた2官能性フェノール樹脂にエピハロヒドリンを反応させることにより製造することができる。 Epoxy resin represented by the above general formula (2), for example, it can be produced by the method described in JP 2004-15602 4 JP. Specifically, the bifunctional phenol compound represented by the following formula (4) is reacted with divinyl ether of a hydrocarbon compound containing an ether bond, and then the resulting bifunctional phenol resin is reacted with epihalohydrin. Can be manufactured.

Figure 0004782616
Figure 0004782616

本発明の感光性樹脂組成物における、上記A〜E成分の各含有量およびこれに加えてF成分を用いる場合の各含有量は、好適には次のように設定される。   In the photosensitive resin composition of the present invention, each content of the above components A to E and each content in the case of using the F component in addition to this are preferably set as follows.

まず、上記A成分の含有量は、本発明の感光性樹脂組成物中の感光性樹脂組成物全体(100部(但し、有機溶剤は除く)、以下同じ)の20〜70部の範囲に設定することが好ましく、より好ましくは25〜65部である。すなわち、本発明の感光性樹脂組成物は、本質的にアルカリ現像性に富んでいるものであるが、A成分が20部未満ではアルカリ現像性が不充分となる傾向があり、70部を超えると半田耐熱性が不充分となる傾向がみられるからである。   First, the content of the component A is set in the range of 20 to 70 parts of the entire photosensitive resin composition in the photosensitive resin composition of the present invention (100 parts (excluding organic solvents), the same applies hereinafter). Preferably, it is 25 to 65 parts. That is, the photosensitive resin composition of the present invention is essentially rich in alkali developability, but if the component A is less than 20 parts, the alkali developability tends to be insufficient, and exceeds 70 parts. This is because the solder heat resistance tends to be insufficient.

また、上記B成分の含有量は、感光性樹脂組成物全体の5〜50部の範囲に設定することが好ましく、より好ましくは10〜40部である。すなわち、5部未満では感度が不充分となる傾向があり、50部を超えるとアルカリ現像性が低下する傾向がみられるからである。   Moreover, it is preferable to set content of the said B component in the range of 5-50 parts of the whole photosensitive resin composition, More preferably, it is 10-40 parts. That is, if the amount is less than 5 parts, the sensitivity tends to be insufficient, and if it exceeds 50 parts, the alkali developability tends to decrease.

上記C成分の含有量は、感光性樹脂組成物全体の0.1〜10部の範囲に設定することが好ましく、より好ましくは0.2〜8部である。すなわち、0.1部未満では感度が不充分となる傾向があり、10部を超えるとアルカリ現像性が低下する傾向がみられるからである。   It is preferable to set content of the said C component in the range of 0.1-10 parts of the whole photosensitive resin composition, More preferably, it is 0.2-8 parts. That is, if the amount is less than 0.1 part, the sensitivity tends to be insufficient, and if it exceeds 10 parts, the alkali developability tends to decrease.

また、上記D成分の含有量は、感光性樹脂組成物全体の0.01〜5部の範囲に設定することが好ましく、より好ましくは0.02〜3部である。すなわち、0.01部未満では半田耐熱性が不充分となる傾向がみられ、5部を超えるとメッキ液の汚染が大きくなり、メッキ品質に悪影響を与える傾向がみられるからである。   Moreover, it is preferable to set content of the said D component in the range of 0.01-5 parts of the whole photosensitive resin composition, More preferably, it is 0.02-3 parts. That is, if the amount is less than 0.01 part, the solder heat resistance tends to be insufficient, and if it exceeds 5 parts, the contamination of the plating solution increases, and there is a tendency to adversely affect the plating quality.

さらに、上記E成分の含有量は、感光性樹脂組成物全体の0.01〜5部の範囲に設定することが好ましく、より好ましくは0.02〜3部である。すなわち、0.01部未満では開口部のメッキ乗り均一性が低下し、5部を超えるとメッキ液の汚染が大きくなり、メッキ品質に悪影響を与える傾向がみられるからである。   Furthermore, it is preferable to set content of the said E component in the range of 0.01-5 parts of the whole photosensitive resin composition, More preferably, it is 0.02-3 parts. That is, if the amount is less than 0.01 part, the plating riding uniformity of the opening is lowered, and if it exceeds 5 parts, the contamination of the plating solution increases and the plating quality tends to be adversely affected.

上記F成分の含有量は、アルカリ現像性の観点から感光性樹脂組成物全体の40部以下に設定することが好ましい。より好ましくは2〜30部である。すなわち、2部未満では耐折性が低下する傾向がみられ、30部を超えるとアルカリ現像性が若干低下する傾向がみられるからである。   The content of the F component is preferably set to 40 parts or less of the entire photosensitive resin composition from the viewpoint of alkali developability. More preferably, it is 2 to 30 parts. That is, if the amount is less than 2 parts, the folding resistance tends to decrease, and if it exceeds 30 parts, the alkali developability tends to slightly decrease.

本発明の感光性樹脂組成物には、上記各成分以外に必要に応じて、他の添加剤、すなわち、フタロシアニングリーン,フタロシアニンブルー等の顔料、シリカ,硫酸バリウム,タルク等の充填剤、消泡剤、レベリング剤、難燃剤、安定剤、密着性付与剤、ベンゾトリアゾール等の防錆剤、上記F成分以外のエポキシ樹脂、ブロックイソシアネート等の熱架橋剤等を適宜配合することができる。これらは単独でもしくは2種以上併せて用いられる。そして、これら他の添加剤は、感光性樹脂組成物全体の0.01〜20部の範囲内で用いることが好ましい。   In the photosensitive resin composition of the present invention, in addition to the above components, other additives, that is, pigments such as phthalocyanine green and phthalocyanine blue, fillers such as silica, barium sulfate, and talc, antifoam Agents, leveling agents, flame retardants, stabilizers, adhesion-imparting agents, rust preventive agents such as benzotriazole, epoxy resins other than the above F component, thermal crosslinking agents such as blocked isocyanate, and the like can be appropriately blended. These may be used alone or in combination of two or more. And it is preferable to use these other additives within the range of 0.01-20 parts of the whole photosensitive resin composition.

本発明の感光性樹脂組成物は、上記各成分を所定の含有量となるように配合し混合することにより得られるものであって、通常液状を呈し、重合させることにより柔軟な固体状の重合体となる。そして、本発明の感光性樹脂組成物(重合前)は、必要に応じて有機溶剤と混合して用いることができる。上記有機溶剤としては、特に限定されるものではないが、例えば、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ソルベントナフサ、N−メチルピロリドン、γ−ブチロラクトン、ブチルセロソルブ、エチルセロソルブ、メチルセロソルブ、トルエン、キシレン、メシチレン、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等の溶剤またはこれらの混合溶剤を用いることができる。   The photosensitive resin composition of the present invention is obtained by blending and mixing each of the above components so as to have a predetermined content, and usually exhibits a liquid state and is polymerized to form a flexible solid weight. Combined. And the photosensitive resin composition (before superposition | polymerization) of this invention can be mixed and used for an organic solvent as needed. The organic solvent is not particularly limited, and examples thereof include diethylene glycol monoethyl ether acetate, diethylene glycol monobutyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, solvent naphtha, N-methylpyrrolidone, γ-butyrolactone, and butyl cellosolve. , Ethyl cellosolve, methyl cellosolve, toluene, xylene, mesitylene, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, or a mixed solvent thereof can be used.

上記有機溶剤を用いる場合の使用量は、特に限定されるものではないが、感光性樹脂組成物全体の0〜200部程度混合して用いることができる。   Although the usage-amount in the case of using the said organic solvent is not specifically limited, About 0-200 parts of the whole photosensitive resin composition can be mixed and used.

本発明の感光性樹脂組成物は、例えば、フレキシブルプリント配線板等の配線回路基板用のソルダーレジスト材料として有用である他、塗料、コーティング剤、接着剤等の用途としても使用することができる。   The photosensitive resin composition of the present invention is useful as, for example, a solder resist material for printed circuit boards such as flexible printed wiring boards, and can also be used for applications such as paints, coating agents, and adhesives.

上記配線回路基板用のソルダーレジスト材料として用いる際には、例えば、つぎのようにして使用される。以下、フレキシブルプリント配線板を例に順を追って説明する。   When used as a solder resist material for the printed circuit board, for example, it is used as follows. Hereinafter, a flexible printed wiring board will be described as an example.

本発明の感光性樹脂組成物は、液状であることから、フレキシブルプリント配線板の導体回路パターン形成面に、スクリーン印刷法、スプレー法、ロールコート法、静電塗装法等により、容易に乾燥後の厚みが5〜50μmとなるように塗布することができ、その塗膜を5〜120℃で3〜60分間程度乾燥させた後、ネガまたはポジマスクパターンフィルムを塗膜に直接接触させ、あるいは接触させずに設置し、ついで活性光線を照射し露光させることにより露光部を硬化(重合体化)させることができる。   Since the photosensitive resin composition of the present invention is in a liquid state, it can be easily dried on a conductive circuit pattern forming surface of a flexible printed wiring board by a screen printing method, a spray method, a roll coating method, an electrostatic coating method, or the like. Can be applied to a thickness of 5 to 50 μm, and after the coating film is dried at 5 to 120 ° C. for about 3 to 60 minutes, the negative or positive mask pattern film is brought into direct contact with the coating film, or The exposed portion can be cured (polymerized) by placing it without contact and then irradiating it with an actinic ray for exposure.

上記活性光線の光源としては、公知の各種光源、例えば、カーボンアーク灯、水銀蒸気アーク灯、超高圧水銀灯、高圧水銀灯、キセノンランプ等の紫外線を有効に照射するものが用いられる。また、写真用フラッド電球、太陽ランプ、メタルハライドランプ、低圧水銀灯等の可視光を有効に照射するものも用いられる。   As the light source of the actinic ray, various known light sources such as a carbon arc lamp, a mercury vapor arc lamp, an ultrahigh pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, a xenon lamp, etc. that effectively irradiate ultraviolet rays are used. Moreover, what irradiates effectively visible light, such as a photographic flood light bulb, a solar lamp, a metal halide lamp, and a low pressure mercury lamp, is also used.

ついで、アルカリ性水溶液等の現像液を用いて、例えば、スプレー,揺動浸漬,ブラッシング,スクラッピング等の公知の方法により未露光部を除去して現像し、レジストパターンを製造する。   Next, using a developing solution such as an alkaline aqueous solution, the unexposed portion is removed and developed by a known method such as spraying, rocking dipping, brushing, scraping, etc. to produce a resist pattern.

上記現像に用いるアルカリ性水溶液としては、0.1〜5重量%炭酸ナトリウムの希薄溶液、0.1〜5重量%炭酸カリウムの希薄溶液、0.1〜5重量%水酸化ナトリウムの希薄溶液、0.1〜5重量%四ホウ酸ナトリウムの希薄溶液等を用いることができる。   Examples of the alkaline aqueous solution used for the development include a dilute solution of 0.1 to 5 wt% sodium carbonate, a dilute solution of 0.1 to 5 wt% potassium carbonate, a dilute solution of 0.1 to 5 wt% sodium hydroxide, 0 A dilute solution of 1 to 5% by weight sodium tetraborate or the like can be used.

また、現像後、半田耐熱性,耐薬品性等を向上させる目的で、必要に応じて高圧水銀ランプによる紫外線照射や加熱を行うことができる。上記紫外線の照射量は、0.2〜10J/cm2 程度に設定することが好ましく、また上記加熱に関しては100〜180℃程度の範囲で15〜120分間行うことが好ましい。この紫外線照射と加熱の順序はいずれが先であってもよいし、紫外線照射および加熱のいずれか一方のみの処理であってもよい。 In addition, after development, for the purpose of improving solder heat resistance, chemical resistance, etc., ultraviolet irradiation or heating with a high-pressure mercury lamp can be performed as necessary. The irradiation amount of the ultraviolet rays is preferably set to about 0.2 to 10 J / cm 2 , and the heating is preferably performed in the range of about 100 to 180 ° C. for 15 to 120 minutes. Either the ultraviolet irradiation or heating may be performed first, or only one of ultraviolet irradiation and heating may be performed.

このようにしてソルダーレジストが形成されたフレキシブルプリント配線板は、その後、半田付け等によって、LSI、ダイオード、トランジスタ、コンデンサ等の電子部品を実装して実装基板とし、例えば、携帯電話等の小型機器等に装着されることになる。   The flexible printed wiring board on which the solder resist is formed in this manner is then mounted by mounting electronic components such as LSI, diodes, transistors, capacitors, etc. by soldering or the like, for example, small devices such as mobile phones Etc. will be mounted.

つぎに、実施例について比較例と併せて説明する。   Next, examples will be described together with comparative examples.

まず、実施例および比較例に先立って、下記の成分原料を準備した。   First, prior to the examples and comparative examples, the following component materials were prepared.

A.カルボキシル基含有線状重合体の合成(A成分)
(1)ポリマーaの合成
ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート70gを窒素雰囲気下で300mlのセパラブルフラスコに入れ、攪拌しながら100℃に加温した。30分保温後、フェノキシエチルアクリレート20g、メタクリル酸20g、メタクリル酸メチル60g、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート100g、触媒としてのアゾビスイソブチロニトリル1.6gを混合溶解した溶液を3時間かけてセパラブルフラスコ内に滴下し反応させた。100℃で2時間保温した後、冷却して、ポリマー溶液a(固形分50重量%、Mw=15000)を得た。
A. Synthesis of linear polymer containing carboxyl group (component A)
(1) Synthesis of polymer a 70 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate was placed in a 300 ml separable flask under a nitrogen atmosphere and heated to 100 ° C. with stirring. After incubating for 30 minutes, a solution in which 20 g of phenoxyethyl acrylate, 20 g of methacrylic acid, 60 g of methyl methacrylate, 100 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate and 1.6 g of azobisisobutyronitrile as a catalyst were mixed and dissolved was separated over 3 hours. The reaction was dropped into the flask. After incubating at 100 ° C. for 2 hours, the mixture was cooled to obtain a polymer solution a (solid content: 50% by weight, Mw = 15000).

(2)ポリマーbの合成
ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート70gを窒素雰囲気下で300mlのセパラブルフラスコに入れ、攪拌しながら100℃に加温した。30分保温後、フェノキシエチルアクリレート20g、メタクリル酸20g、メタクリル酸メチル60g、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート100g、触媒としてのアゾビスイソブチロニトリル0.4gを混合溶解した溶液を3時間かけてセパラブルフラスコ内に滴下し反応させた。100℃で2時間保温した後、冷却して、ポリマー溶液b(固形分50重量%、Mw=45000)を得た。
(2) Synthesis of Polymer b 70 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate was placed in a 300 ml separable flask under a nitrogen atmosphere and heated to 100 ° C. with stirring. After incubating for 30 minutes, a solution in which 20 g of phenoxyethyl acrylate, 20 g of methacrylic acid, 60 g of methyl methacrylate, 100 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate and 0.4 g of azobisisobutyronitrile as a catalyst were mixed and dissolved was separated over 3 hours. The reaction was dropped into the flask. After incubating at 100 ° C. for 2 hours, the mixture was cooled to obtain a polymer solution b (solid content: 50% by weight, Mw = 45000).

(3)ポリマーcの合成
ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート70gを窒素雰囲気下で300mlのセパラブルフラスコに入れ、攪拌しながら90℃に加温した。30分保温後、フェノキシエチルアクリレート20g、メタクリル酸20g、メタクリル酸メチル60g、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート100g、触媒としてのアゾビスイソブチロニトリル0.4gを混合溶解した溶液を3時間かけてセパラブルフラスコ内に滴下し反応させた。90℃で2時間保温した後、冷却して、ポリマー溶液c(固形分50重量%、Mw=50000)を得た。
(3) Synthesis of Polymer c 70 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate was placed in a 300 ml separable flask under a nitrogen atmosphere and heated to 90 ° C. with stirring. After incubating for 30 minutes, a solution in which 20 g of phenoxyethyl acrylate, 20 g of methacrylic acid, 60 g of methyl methacrylate, 100 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate and 0.4 g of azobisisobutyronitrile as a catalyst were mixed and dissolved was separated over 3 hours. The reaction was dropped into the flask. The mixture was kept at 90 ° C. for 2 hours and then cooled to obtain a polymer solution c (solid content: 50% by weight, Mw = 50000).

(4)ポリマーdの合成
ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート173gを窒素雰囲気下で500mlのセパラブルフラスコに入れ、攪拌しながら140℃に加温した。30分保温後、フェノキシエチルアクリレート60g、メタクリル酸20g、メタクリル酸メチル20g、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート203g、触媒としてのアゾビスイソブチロニトリル1.6gを混合溶解した溶液を3時間かけてセパラブルフラスコ内に滴下し反応させた。140℃で2時間保温した後、冷却して、ポリマー溶液d(固形分33重量%、Mw=5000)を得た。
(4) Synthesis of Polymer d 173 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate was placed in a 500 ml separable flask under a nitrogen atmosphere and heated to 140 ° C. with stirring. After incubating for 30 minutes, a solution in which 60 g of phenoxyethyl acrylate, 20 g of methacrylic acid, 20 g of methyl methacrylate, 203 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate and 1.6 g of azobisisobutyronitrile as a catalyst were mixed and dissolved was separated over 3 hours. The reaction was dropped into the flask. The mixture was kept at 140 ° C. for 2 hours and then cooled to obtain a polymer solution d (solid content: 33% by weight, Mw = 5000).

(3)ポリマーeの合成
ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート70gを窒素雰囲気下で300mlのセパラブルフラスコに入れ、攪拌しながら100℃に加温した。30分保温後、フェノキシエチルアクリレート20g、メタクリル酸20g、メタクリル酸メチル60g、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート100g、触媒としてのアゾビスイソブチロニトリル0.2gを混合溶解した溶液を3時間かけてセパラブルフラスコ内に滴下し反応させた。100℃で2時間保温した後、冷却して、ポリマー溶液e(固形分50重量%、Mw=60000)を得た。
(3) Synthesis of Polymer e 70 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate was placed in a 300 ml separable flask under a nitrogen atmosphere and heated to 100 ° C. with stirring. After incubating for 30 minutes, a solution in which 20 g of phenoxyethyl acrylate, 20 g of methacrylic acid, 60 g of methyl methacrylate, 100 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate and 0.2 g of azobisisobutyronitrile as a catalyst were mixed and dissolved was separable over 3 hours. The reaction was dropped into the flask. After incubating at 100 ° C. for 2 hours, the mixture was cooled to obtain a polymer solution e (solid content: 50% by weight, Mw = 60000).

(4)ポリマーfの合成
ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート173gを窒素雰囲気下で500mlのセパラブルフラスコに入れ、攪拌しながら150℃に加温した。30分保温後、フェノキシエチルアクリレート60g、メタクリル酸20g、メタクリル酸メチル20g、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート203g、触媒としてのアゾビスイソブチロニトリル1.6gを混合溶解した溶液を3時間かけてセパラブルフラスコ内に滴下し反応させた。150℃で2時間保温した後、冷却して、ポリマー溶液f(固形分33重量%、Mw=4500)を得た。
(4) Synthesis of Polymer f 173 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate was placed in a 500 ml separable flask under a nitrogen atmosphere and heated to 150 ° C. with stirring. After incubating for 30 minutes, a solution in which 60 g of phenoxyethyl acrylate, 20 g of methacrylic acid, 20 g of methyl methacrylate, 203 g of diethylene glycol monoethyl ether acetate and 1.6 g of azobisisobutyronitrile as a catalyst were mixed and dissolved was separated over 3 hours. The reaction was dropped into the flask. After incubating at 150 ° C. for 2 hours, the mixture was cooled to obtain a polymer solution f (solid content: 33% by weight, Mw = 4500).

このようにして得られた各ポリマー溶液a〜fにおける、配合成分の組成割合および重合温度、重量平均分子量を下記の表1に併せて示す。   The composition ratios of the blending components, the polymerization temperature, and the weight average molecular weight in each of the polymer solutions a to f thus obtained are also shown in Table 1 below.

Figure 0004782616
Figure 0004782616

B.エチレン性不飽和基含有重合性化合物(B成分)
エチレン性不飽和基含有重合性化合物として、新中村化学社製のBPE500、エチレンオキサイド変性ビスフェノールA型メタクリレート〔前記式(3)中のp+q=10〕を準備した。
B. Ethylenically unsaturated group-containing polymerizable compound (component B)
As an ethylenically unsaturated group-containing polymerizable compound, BPE500 manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd. and ethylene oxide-modified bisphenol A methacrylate [p + q = 10 in the above formula (3)] were prepared.

C.光重合開始剤(C成分)
光重合開始剤として、チバガイギー社製、Irgacure369 を準備した。
C. Photopolymerization initiator (component C)
As a photopolymerization initiator, Irgacure369 manufactured by Ciba Geigy Corporation was prepared.

D.複素環式メルカプタン化合物(D成分)
複素環式メルカプタン化合物として、2−アミノ−5−メルカプト−1,3,4−チアジアゾール、2,5−ジメルカプト−1,3,4−チアジアゾールを準備した。
D. Heterocyclic mercaptan compound (component D)
As a heterocyclic mercaptan compound, 2-amino-5-mercapto-1,3,4-thiadiazole and 2,5-dimercapto-1,3,4-thiadiazole were prepared.

E.テトラゾール化合物(E成分)
テトラゾール化合物として、5−アミノ−1H−テトラゾール、1H−テトラゾール、5−メチル−1H−テトラゾールを準備した。
E. Tetrazole compound (E component)
5-Amino-1H-tetrazole, 1H-tetrazole, and 5-methyl-1H-tetrazole were prepared as tetrazole compounds.

F.エポキシ樹脂(F成分)
エポキシ樹脂(F成分)として、トリエチレングリコールジビニルエーテル変性ビスフェノールA型エポキシ樹脂〔前記式(2)中のXがジ(エチレンオキシ)エチル基、R1〜R2がメチル基、R3〜R6が水素原子、nの平均値が1.2〕を準備した。
F. Epoxy resin (F component)
As an epoxy resin (F component), triethylene glycol divinyl ether-modified bisphenol A type epoxy resin [wherein X in the formula (2) is a di (ethyleneoxy) ethyl group, R 1 to R 2 are methyl groups, and R 3 to R 6 is a hydrogen atom, and the average value of n is 1.2].

G.(F)成分以外のエポキシ樹脂
(F)成分以外のエポキシ樹脂として、ジャパンエポキシレジン社製のエピコート1010、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(重量平均分子量約5500)を準備した。
G. Epoxy resin other than component (F) As an epoxy resin other than component (F), Epicoat 1010 manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd. and bisphenol A type epoxy resin (weight average molecular weight of about 5500) were prepared.

H.顔料
顔料として、フタロシアニングリーンを準備した。
H. Pigment Phthalocyanine green was prepared as a pigment.

参考例1、実施例1〜、比較例1〜5〕
上記の各成分原料を、下記の表2〜表3に示す割合で配合し混合することにより感光性樹脂組成物を作製した(なお、表中の数字は不揮発分(固形分)の重量部である)。
[ Reference Example 1, Examples 1-6 , Comparative Examples 1-5]
A photosensitive resin composition was prepared by blending and mixing each of the above-described component raw materials in the proportions shown in Tables 2 to 3 below (the numbers in the table are parts by weight of the nonvolatile content (solid content)). is there).

Figure 0004782616
Figure 0004782616

Figure 0004782616
Figure 0004782616

このようにして得られた各感光性樹脂組成物を用いて、下記に示す方法にしたがって特性評価を行った。その結果を後記の表4〜表5に併せて示す。   Characteristic evaluation was performed according to the method shown below using each photosensitive resin composition thus obtained. The results are also shown in Tables 4 to 5 below.

〔耐折性〕
厚み18μm、L/S(パターン幅/パターン間隔)=50μm/50μmの直線状銅パターンが厚み25μmのポリイミドフィルム上に直接形成されたフレキシブルプリント配線板を準備し、これを脱脂、ソフトエッチングして銅表面を整面した。その後、このフレキシブルプリント配線板上に、上記感光性樹脂組成物溶液を、乾燥後の厚みが20μmとなるように塗布し、乾燥(80℃×30分間)して、さらにその上に厚み38μmのポリエチレンフィルムを密着させ、250Wの超高圧水銀灯で、300mJ/cm2 の露光量で紫外線照射した。その後、上記ポリエチレンフィルムを剥離し、熱風循環乾燥機中で150℃×30分間熱処理を行った。
[Folding resistance]
Prepare a flexible printed wiring board in which a linear copper pattern with a thickness of 18 μm and L / S (pattern width / pattern interval) = 50 μm / 50 μm is directly formed on a polyimide film with a thickness of 25 μm. The copper surface was leveled. Thereafter, the photosensitive resin composition solution is applied onto the flexible printed wiring board so that the thickness after drying is 20 μm, dried (80 ° C. × 30 minutes), and further, the thickness of 38 μm is further formed thereon. The polyethylene film was brought into close contact, and irradiated with ultraviolet rays at an exposure amount of 300 mJ / cm 2 with a 250 W ultrahigh pressure mercury lamp. Thereafter, the polyethylene film was peeled off, and heat treatment was performed at 150 ° C. for 30 minutes in a hot air circulating dryer.

このようにして感光性樹脂組成物層が設けられたフレキシブルプリント配線板について、その銅回路パターンを外に向け、銅回路パターンと平行方向に180°折り曲げて、その折り曲げた部分の感光性樹脂組成物層のクラックの発生状況を目視で下記の基準により評価した。
◎:クラックが全く発生しなかった。
○:クラックが殆ど発生しなかった。
×:クラックが発生した。
The flexible printed wiring board thus provided with the photosensitive resin composition layer is bent 180 ° in the direction parallel to the copper circuit pattern with the copper circuit pattern facing outward, and the photosensitive resin composition of the bent portion The occurrence of cracks in the material layer was visually evaluated according to the following criteria.
(Double-circle): The crack did not generate | occur | produce at all.
○: Almost no cracks occurred.
X: A crack occurred.

〔アルカリ現像性〕
脱脂後、ソフトエッチングして表面を整面した厚み35μmの銅箔上に、上記感光性樹脂組成物溶液を、乾燥後の厚みが20μmとなるように塗布し、乾燥(80℃×30分間)して、さらにその上に厚み38μmのポリエチレンフィルムを密着させ、250Wの超高圧水銀灯で、300mJ/cm2 の露光量で紫外線照射した。その後、上記ポリエチレンフィルムを剥離し、30℃の1重量%炭酸ナトリウム水溶液を用いて圧力0.2MPaで90秒間現像した。現像後の未露光部を目視により観察し、下記の基準により評価した。
○:感光性樹脂組成物の残渣がなかった。
×:感光性樹脂組成物の残渣があった。
[Alkali developability]
After degreasing, the above photosensitive resin composition solution was applied on a 35 μm thick copper foil whose surface was smoothed by soft etching, and dried (80 ° C. × 30 minutes) so that the thickness after drying was 20 μm. Further, a 38 μm thick polyethylene film was further adhered thereon, and irradiated with ultraviolet rays at an exposure amount of 300 mJ / cm 2 with a 250 W ultrahigh pressure mercury lamp. Thereafter, the polyethylene film was peeled off and developed for 90 seconds at a pressure of 0.2 MPa using a 1 wt% aqueous sodium carbonate solution at 30 ° C. The unexposed part after development was visually observed and evaluated according to the following criteria.
○: There was no residue of the photosensitive resin composition.
X: There was a residue of the photosensitive resin composition.

〔メッキ乗り均一性〕
厚み18μmの銅層がポリイミドフィルム上に直接形成されたフレキシブルプリント配線板用2層基材を脱脂、ソフトエッチングして銅表面を整面した。ついで、その銅層の上に、上記感光性樹脂組成物溶液を乾燥後の厚みが20μmになるように塗布、乾燥(80℃×30分)して塗膜を形成し、ついで上記塗膜の上に厚さ38μmの離型処理したポリエチレンフィルムを密着させ、その状態で、一辺5mmの正方形ネガパターンが設けられたガラスマスクを通し高圧水銀灯で、300mJ/cm2 の露光量で紫外線照射した。その後、ポリエチレンフィルムを剥離し、1重量%炭酸ナトリウム水溶液(30℃)を用い圧力0.2MPaで90秒間現像し、ついでイオン交換水にて30秒間洗浄した後、熱風循環乾燥機中で150℃×30分間熱処理を行ない、銅表面が露出する開口部が形成されたメッキ乗り評価用基板を作製した。この評価用基板に対し、無電解Ni/Auメッキを行ない、下記の基準でメッキ乗り均一性を評価した。
○:目視観察でメッキ表面光沢が均一なもの。
×:目視観察でメッキ表面光沢が不均一なもの。
[Uniformity of plating ride]
A two-layer base material for flexible printed wiring boards in which a copper layer having a thickness of 18 μm was directly formed on a polyimide film was degreased and soft etched to level the copper surface. Next, on the copper layer, the photosensitive resin composition solution was applied so as to have a thickness after drying of 20 μm, and dried (80 ° C. × 30 minutes) to form a coating film. A polyethylene film having a mold release treatment of 38 μm in thickness was brought into close contact therewith, and in that state, ultraviolet rays were irradiated through a glass mask provided with a square negative pattern having a side of 5 mm with a high-pressure mercury lamp at an exposure amount of 300 mJ / cm 2 . Thereafter, the polyethylene film is peeled off, developed with a 1 wt% aqueous sodium carbonate solution (30 ° C.) at a pressure of 0.2 MPa for 90 seconds, washed with ion-exchanged water for 30 seconds, and then heated at 150 ° C. in a hot air circulating dryer. A heat treatment was performed for 30 minutes to prepare a plating ride evaluation substrate in which an opening exposing the copper surface was formed. The substrate for evaluation was subjected to electroless Ni / Au plating, and the plating riding uniformity was evaluated according to the following criteria.
○: The plating surface gloss is uniform by visual observation.
X: The plating surface gloss is nonuniform by visual observation.

〔絶縁性〕
厚み25μmのポリイミドフィルムの上に、厚み18μm、L/S(パターン幅/パターン間隔)=50μm/50μmのバイアステスト用櫛型銅パターンが形成されたフレキシブルプリント配線板を準備し、これを脱脂、ソフトエッチングして銅表面を整面した。その後、上記フレキシブルプリント配線板の上に、上記感光性樹脂組成物溶液を乾燥後の厚みが20μmになるように、塗布して乾燥(80℃×30分間)し、さらに、その上に厚み38μmのポリエチレンフィルムを密着させ、250Wの超高圧水銀灯で、300mJ/cm2 の露光量で紫外線照射した。その後、ポリエチレンフィルムを剥離し、1重量%炭酸ナトリウム水溶液(30℃)を用いて圧力0.2MPaで90秒間現像し、ついでイオン交換水で30秒間洗浄した後、熱風循環乾燥機中で150℃×30分間熱処理を行い絶縁性試験用プリント配線板を作製した。この絶縁性試験用プリント配線板を85℃×85%RHの恒温恒湿槽に投入し、櫛型パターンの両電極間に50Vの電圧をかけ、絶縁抵抗を1000時間経過時まで槽内で測定して、下記の基準により評価した。
○:1000時間を経過しても絶縁抵抗値が106 Ω以上を示したもの。
×:1000時間以内に絶縁抵抗値が106 Ω未満を示したもの。
[Insulation]
A flexible printed wiring board in which a comb-shaped copper pattern for bias test having a thickness of 18 μm and L / S (pattern width / pattern interval) = 50 μm / 50 μm is formed on a polyimide film having a thickness of 25 μm is prepared. The copper surface was leveled by soft etching. Thereafter, the photosensitive resin composition solution is applied onto the flexible printed wiring board so as to have a thickness after drying of 20 μm and dried (80 ° C. × 30 minutes), and further, a thickness of 38 μm is formed thereon. The polyethylene film was closely attached, and irradiated with ultraviolet rays at an exposure amount of 300 mJ / cm 2 with a 250 W ultrahigh pressure mercury lamp. Thereafter, the polyethylene film is peeled off, developed with a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution (30 ° C.) at a pressure of 0.2 MPa for 90 seconds, washed with ion-exchanged water for 30 seconds, and then heated at 150 ° C. in a hot air circulating dryer. A heat treatment was performed for 30 minutes to produce a printed wiring board for insulation test. This insulation test printed wiring board is put into a constant temperature and humidity chamber of 85 ° C. × 85% RH, a voltage of 50 V is applied between both electrodes of the comb pattern, and the insulation resistance is measured in the chamber until 1000 hours have passed. Then, the following criteria were evaluated.
○: An insulation resistance value of 10 6 Ω or more even after 1000 hours.
X: Insulation resistance value less than 10 6 Ω within 1000 hours.

〔半田耐熱性〕
脱脂、ソフトエッチングして表面を整面した厚み35μmの銅箔上に、上記感光性樹脂組成物溶液を乾燥後の厚みが20μmになるように、塗布して乾燥(80℃×30分間)し、その上に厚み38μmのポリエチレンフィルムを密着させ、一辺が5mmの正方形ネガパターンが形成されたガラスマスクを通して250Wの超高圧水銀灯で、300mJ/cm2 の露光量で紫外線照射した。その後、ポリエチレンフィルムを剥離し、30℃の1重量%炭酸ナトリウム水溶液を用いて圧力0.2MPaで90秒間現像し、ついでイオン交換水にて30秒間洗浄した後、熱風循環乾燥機中で150℃×30分間熱処理を行い半田耐熱性試験用基板を作製した。
[Solder heat resistance]
The photosensitive resin composition solution is applied on a copper foil having a thickness of 35 μm, which has been degreased and soft-etched, and dried (80 ° C. × 30 minutes) so that the thickness after drying is 20 μm. Then, a polyethylene film having a thickness of 38 μm was brought into close contact therewith, and was irradiated with ultraviolet rays at an exposure amount of 300 mJ / cm 2 with a 250 W ultra-high pressure mercury lamp through a glass mask on which a square negative pattern having a side of 5 mm was formed. Thereafter, the polyethylene film was peeled off, developed with a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution at 30 ° C. for 90 seconds at a pressure of 0.2 MPa, washed with ion-exchanged water for 30 seconds, and then heated at 150 ° C. in a hot air circulating dryer. X A heat treatment for 30 minutes was performed to produce a solder heat resistance test substrate.

ついで、この基板の上に、ロジン系フラックスMH−820V(タムラ化研社製)を塗布した後、260℃の半田浴中に10秒間浸漬して半田付け処理を行った。その後、目視により下記の基準に従い評価した。
◎:半田潜り、ソルダーレジストの浮き、剥がれが全く発生しなかった。
○:半田潜り、ソルダーレジストの浮き、剥がれが殆ど発生しなかった。
×:半田潜り、またはソルダーレジストの浮きおよび剥がれが発生した。
Next, rosin-based flux MH-820V (manufactured by Tamura Kaken Co., Ltd.) was applied on the substrate, and then immersed in a solder bath at 260 ° C. for 10 seconds to perform a soldering process. Then, it evaluated visually according to the following reference | standard.
A: Solder dive, solder resist float, and peeling did not occur at all.
○: Solder dive, solder resist float and peeling hardly occurred.
X: Solder dive or solder resist float and peeling occurred.

Figure 0004782616
Figure 0004782616

Figure 0004782616
Figure 0004782616

上記結果から、実施例品は,耐折性,アルカリ現像性,絶縁性,半田耐熱性の全てにおいて良好なフレキシブルプリント配線板が得られることが明らかである。特に、エポキシ樹脂(F成分)を用いた実施例品は半田耐熱性および耐折性について一層優れた結果が得られた。 From the above results, it is clear that the example product can provide a flexible printed wiring board that is satisfactory in all of folding resistance, alkali developability, insulation, and solder heat resistance. In particular , the example products using the epoxy resin (F component) had more excellent results regarding solder heat resistance and folding resistance.

これに対して、比較例1,2および5品は、半田耐熱性に劣っており、比較例3〜5品は、メッキ乗り均一性に劣っていた。加えて、比較例4品は、アルカリ現像性に劣る結果となった。   On the other hand, Comparative Examples 1, 2, and 5 were inferior in solder heat resistance, and Comparative Examples 3-5 were inferior in plating riding uniformity. In addition, the comparative example 4 product was inferior in alkali developability.

Claims (4)

下記の(A)〜()成分を含有する感光性樹脂組成物。
(A)カルボキシル基含有線状重合体。
(B)エチレン性不飽和基含有重合性化合物。
(C)光重合開始剤。
(D)下記の一般式(1)で表される複素環式メルカプタン化合物。
Figure 0004782616
(E)テトラゾール化合物。
(F)下記の一般式(2)で表されるエポキシ樹脂。
Figure 0004782616
The photosensitive resin composition containing the following (A)-( F ) component.
(A) A carboxyl group-containing linear polymer.
(B) An ethylenically unsaturated group-containing polymerizable compound.
(C) Photopolymerization initiator.
(D) A heterocyclic mercaptan compound represented by the following general formula (1).
Figure 0004782616
(E) Tetrazole compound.
(F) An epoxy resin represented by the following general formula (2).
Figure 0004782616
上記(A)成分であるカルボキシル基含有線状重合体の重量平均分子量が、5000〜50000である請求項1記載の感光性樹脂組成物。 (A) above weight average molecular weight of the carboxyl group-containing linear polymer is a component, the photosensitive resin composition of claim 1 Symbol placement is 5,000 to 50,000. 上記(B)成分であるエチレン性不飽和基含有重合性化合物が、下記の一般式(3)で表されるビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物を含む請求項1または2記載の感光性樹脂組成物。
Figure 0004782616
The photosensitive resin composition of Claim 1 or 2 in which the ethylenically unsaturated group containing polymeric compound which is the said (B) component contains the bisphenol A type (meth) acrylate compound represented by following General formula (3). object.
Figure 0004782616
導体回路パターン上に、請求項1〜のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物を用いて感光性樹脂組成物層を形成し、これを所定のパターンに露光して現像することによりカバー絶縁層を形成してなる配線回路基板。 By forming a photosensitive resin composition layer on the conductor circuit pattern using the photosensitive resin composition according to any one of claims 1 to 3 , and exposing and developing the photosensitive resin composition layer to a predetermined pattern. A printed circuit board formed with an insulating cover layer.
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