JP4761724B2 - 位相雑音を測定する方法および位相雑音測定装置 - Google Patents
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Description
また、Sφ(f)は、φ(t)のスペクトラムである。Sφaφb(f)は、φa(t)とφb(t)とのクロススペクトラムである。Sφφa(f)は、φ(t)とφa(t)とのクロススペクトラムである。Sφφb(t)は、φ(t)とφb(t)とのクロススペクトラムである。
20,30,40 周波数変換ボックス
21,23,31,41 入力端子
22,24,34,35,43,44 出力端子
32,33 スイッチ
42 分配器
100,200,300,400,500位相雑音測定装置
600,700,800 位相雑音測定装置
110,310,340,360 入力端子
120,220 分配器
130,140,710,730 PLLブロック
131,141 ミキサ
132,142 フィルタ
133,143,720,740 信号源
150 相関装置
151a,151b アナログ・ディジタル変換器
152a,152b メモリ
153a,153b 高速フーリエ変換器
154 乗算器
160 平均装置
170 出力装置
230,250 ミキサ
240,260 信号源
330,350 出力端子
410,420,430,440,610,620 スイッチ
721,741 基準信号源
722,742 シンセサイザ
900 相関平均装置
920,930,940 相関処理ブロック
922a,922b,932a,932b,942a,942b メモリ
924,934,944 乗算器
925,935 平均器
931a,931b,941a,941b デシメーションフィルタ
950 平均器
1000,2000,3000,4000 位相雑音測定システム
Claims (11)
- 被測定信号の位相雑音を測定する方法であって、
前記被測定信号から分配された第一の分配信号の位相を表す第一の位相信号を生成するステップと、
前記被測定信号から分配された第二の分配信号の位相を表す第二の位相信号を生成するステップと、
前記第一の位相信号と前記第二の位相信号とのクロススペクトラムを少なくとも所定回数求めるステップと、
前記所定数の前記クロススペクトラムのベクトル平均を求めるステップと、
を備え、
前記クロススペクトラムを求めるステップが、
互いに異なる周波数帯域を有する複数の周波数領域のそれぞれにおいて、前記第一の位相信号と前記第二の位相信号との前記クロススペクトラムを求めるステップと、
前記周波数領域のそれぞれにおける前記クロススペクトラムを組み合わせて1つのクロススペクトラムを得るステップと、
を含むことを特徴とする位相雑音測定方法。 - 被測定信号の位相雑音を測定する方法であって、
前記被測定信号から分配された第一の分配信号から、第一の信号処理手段により第一の中間信号を生成するステップと、
前記被測定信号から分配された第二の分配信号から、前記第一の信号処理手段とは別個の第二の信号処理手段により第二の中間信号を生成するステップと、
前記第一の中間信号の位相を表す第一の位相信号を生成するステップと、
前記第二の中間信号の位相を表す第二の位相信号を生成するステップと、
前記第一の位相信号と前記第二の位相信号とのクロススペクトラムを少なくとも所定回数求めるステップと、
前記所定数の前記クロススペクトラムのベクトル平均を求めるステップと、
を備え、
前記クロススペクトラムを求めるステップが、
互いに異なる周波数帯域を有する複数の周波数領域のそれぞれにおいて、前記第一の位相信号と前記第二の位相信号との前記クロススペクトラムを求めるステップと、
前記周波数領域のそれぞれにおける前記クロススペクトラムを組み合わせて1つのクロススペクトラムを得るステップと、
を含むことを特徴とする位相雑音測定方法。 - 被測定信号の位相雑音を測定する方法であって、
前記被測定信号から分配された第一の分配信号の位相を表す第一の位相信号を生成するステップと、
前記被測定信号から分配された第二の分配信号の位相を表す第二の位相信号を生成するステップと、
前記第一の位相信号と前記第二の位相信号とのクロススペクトラムを少なくとも所定回数求めるステップと、
前記所定数の前記クロススペクトラムのベクトル平均を求めるステップと、
を備え、
前記クロススペクトラムを求めるステップが、
互いに異なる周波数帯域を有する複数の周波数領域のそれぞれにおいて、前記第一の位相信号と前記第二の位相信号との前記クロススペクトラムを、同一時間内で繰り返し求めるステップと、
前記周波数領域のそれぞれにおいて前記時間内に2以上の前記クロススペクトラムが求められた場合、前記周波数領域毎に、求められた2以上の前記クロススペクトラムに対して時間方向のベクトル平均を施すステップと、
を含むことを特徴とする位相雑音測定方法。 - 被測定信号の位相雑音を測定する方法であって、
前記被測定信号から分配された第一の分配信号から、第一の信号処理手段により第一の中間信号を生成するステップと、
前記被測定信号から分配された第二の分配信号から、前記第一の信号処理手段とは別個の第二の信号処理手段により第二の中間信号を生成するステップと、
前記第一の中間信号の位相を表す第一の位相信号を生成するステップと、
前記第二の中間信号の位相を表す第二の位相信号を生成するステップと、
前記第一の位相信号と前記第二の位相信号とのクロススペクトラムを少なくとも所定回数求めるステップと、
前記所定数の前記クロススペクトラムのベクトル平均を求めるステップと、
を備え、
前記クロススペクトラムを求めるステップが、
互いに異なる周波数帯域を有する複数の周波数領域のそれぞれにおいて、前記第一の位相信号と前記第二の位相信号との前記クロススペクトラムを、同一時間内で繰り返し求めるステップと、
前記周波数領域のそれぞれにおいて前記時間内に2以上の前記クロススペクトラムが求められた場合、前記周波数領域毎に、求められた2以上の前記クロススペクトラムに対して時間方向のベクトル平均を施すステップと、
を含むことを特徴とする位相雑音測定方法。 - 被測定信号の位相雑音を測定する方法であって、
前記被測定信号から分配された第一の分配信号の位相を表す第一の位相信号を生成するステップと、
前記被測定信号から分配された第二の分配信号の位相を表す第二の位相信号を生成するステップと、
前記第一の位相信号と前記第二の位相信号とのクロススペクトラムを少なくとも所定回数求めるステップと、
前記所定数の前記クロススペクトラムのベクトル平均を求めるステップと、
を備え、
前記クロススペクトラムを求めるステップが、
互いに異なる周波数帯域を有する複数の周波数領域のそれぞれにおいて、前記第一の位相信号と前記第二の位相信号との前記クロススペクトラムを、同一時間内で繰り返し求めるステップと、
前記周波数領域のそれぞれにおいて前記時間内に2以上の前記クロススペクトラムが求められた場合、前記周波数領域毎に、求められた2以上の前記クロススペクトラムに対して時間方向のベクトル平均を施して、1つの前記クロススペクトラムを求めるステップと、
前記周波数領域のそれぞれにおける前記クロススペクトラムを組み合わせて1つのクロススペクトラムを得るステップと、
を含むことを特徴とする位相雑音測定方法。 - 被測定信号の位相雑音を測定する方法であって、
前記被測定信号から分配された第一の分配信号から、第一の信号処理手段により第一の中間信号を生成するステップと、
前記被測定信号から分配された第二の分配信号から、前記第一の信号処理手段とは別個の第二の信号処理手段により第二の中間信号を生成するステップと、
前記第一の中間信号の位相を表す第一の位相信号を生成するステップと、
前記第二の中間信号の位相を表す第二の位相信号を生成するステップと、
前記第一の位相信号と前記第二の位相信号とのクロススペクトラムを少なくとも所定回数求めるステップと、
前記所定数の前記クロススペクトラムのベクトル平均を求めるステップと、
を備え、
前記クロススペクトラムを求めるステップが、
互いに異なる周波数帯域を有する複数の周波数領域のそれぞれにおいて、前記第一の位相信号と前記第二の位相信号との前記クロススペクトラムを、同一時間内で繰り返し求めるステップと、
前記周波数領域のそれぞれにおいて前記時間内に2以上の前記クロススペクトラムが求められた場合、前記周波数領域毎に、求められた2以上の前記クロススペクトラムに対して時間方向のベクトル平均を施して、1つの前記クロススペクトラムを求めるステップと、
前記周波数領域のそれぞれにおける前記クロススペクトラムを組み合わせて1つのクロススペクトラムを得るステップと、
を含むことを特徴とする位相雑音測定方法。 - 前記第一の信号処理手段および前記第二の信号処理手段が、周波数変換手段であることを特徴とする請求項2または4または6に記載の位相雑音測定方法。
- 請求項1乃至請求項7のいずれかに記載の方法により、被測定信号の位相雑音を測定する装置。
- 被測定信号の位相雑音を測定する装置であって、
前記被測定信号から分配された第一の分配信号の位相を検出する第一の位相検出手段と、
前記被測定信号から分配された第二の分配信号の位相を検出する、第一の位相検出手段とは別個の第二の位相検出手段と、
担当する周波数帯域が異なる複数のクロススペクトラム生成手段と、
を備え、
前記クロススペクトラム生成手段のそれぞれが、個々に担当する周波数帯域における、前記第一の位相検出手段の出力信号と前記第二の位相検出手段の出力信号とのクロススペクトラムを求める、
ことを特徴とする位相雑音測定装置。 - 被測定信号の位相雑音を測定する装置であって、
前記被測定信号から分配された第一の分配信号から第一の中間信号を生成する第一の信号処理手段と、
前記被測定信号から分配された第二の分配信号から第二の中間信号を生成する、前記第一の信号処理手段とは別個の第二の信号処理手段と、
前記第一の中間信号の位相を検出する第一の位相検出手段と、
前記第二の中間信号の位相を検出する、前記第一の位相検出手段とは別個の第二の位相検出手段と、
担当する周波数帯域が異なる複数のクロススペクトラム生成手段と、
を備え、
前記クロススペクトラム生成手段のそれぞれが、個々に担当する周波数帯域における、第一の位相検出手段の出力信号と第二の位相検出手段の出力信号とのクロススペクトラムを求める、
ことを特徴とする位相雑音測定装置。 - 前記クロススペクトラム生成手段のそれぞれが、前記第一の位相検出手段の出力信号と前記第二の位相検出手段の出力信号とのクロススペクトラムを同一時間内において繰り返し求め、前記時間内に2以上の前記クロススペクトラムが求められた場合、求められた2以上の前記クロススペクトラムに時間方向のベクトル平均を施す、
ことを特徴とする請求項9または10に記載の位相雑音測定装置。
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