JP4723439B2 - Chemical analyzer - Google Patents
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Description
本発明は、生化学反応により試料を定量する化学分析装置に関し、特に、吸光度を測定することにより試料を定量する化学分析装置に関する。 The present invention relates to a chemical analyzer that quantifies a sample by a biochemical reaction, and more particularly to a chemical analyzer that quantifies a sample by measuring absorbance.
従来、化学分析装置として、米国特許第4451433号公報に記載の化学分析装置が知られている。この化学分析装置は、サンプル及び試薬を反応容器に供給する自動サンプル及び試薬供給機構と、反応容器内のサンプル及び試薬を攪拌する自動攪拌機構と、反応中又は反応終了後にサンプルの物性を計測する比色測定部と、計測が終了したサンプルを吸引及び排出し、反応容器を洗浄する自動洗浄機構と、これらの動作を制御する制御部を有する。化学分析装置の処理能力は、1時間当たり数百テストから、大型の装置になると1時間当たり9000テスト以上のものまである。 Conventionally, as a chemical analyzer, a chemical analyzer described in US Pat. No. 4,451,433 is known. This chemical analyzer measures the physical properties of a sample during or after the reaction, an automatic sample and reagent supply mechanism for supplying the sample and reagent to the reaction container, an automatic stirring mechanism for stirring the sample and reagent in the reaction container It has a colorimetric measurement unit, an automatic washing mechanism for sucking and discharging the sample for which measurement has been completed, and washing the reaction container, and a control unit for controlling these operations. The processing capacity of chemical analyzers ranges from hundreds of tests per hour to over 9000 tests per hour for large devices.
比色測定部では、光源からの白色光を反応容器内の被測定溶液に照射し、透過した光を分光装置によって分光する。分光した光のうち特定の波長の光強度を測定し、それを予め測定した基準濃度の溶液の光強度と比較することにより、吸光度を算出する。吸光度より、被測定溶液中の化学成分を分析する。 The colorimetric measurement unit irradiates the solution to be measured in the reaction container with white light from the light source, and separates the transmitted light with a spectroscopic device. Absorbance is calculated by measuring the light intensity of a specific wavelength among the dispersed light and comparing it with the light intensity of a solution of a reference concentration measured in advance. The chemical component in the solution to be measured is analyzed from the absorbance.
化学分析装置では、光源としてハロゲンランプが使用される。ハロゲンランプは、可視領域から近赤外領域までをカバーする連続スペクトル光源である。また、ハロゲンサイクルによりフィラメントの寿命が長いという優れた特性がある。 In a chemical analyzer, a halogen lamp is used as a light source. The halogen lamp is a continuous spectrum light source covering from the visible region to the near infrared region. Moreover, it has the outstanding characteristic that the lifetime of a filament is long by a halogen cycle.
光源ランプには定格寿命が設定されている。定格寿命は、多数のランプの寿命の平均値として定義されている。従って、定格寿命に達した時にすべてのランプが寿命となるわけではない。例えば、定格寿命に達する前に点灯不能となる場合もある。 The rated life is set for the light source lamp. The rated life is defined as the average value of the life of many lamps. Thus, not all lamps reach the end of their service life when the rated life is reached. For example, it may be impossible to turn on the lamp before reaching the rated life.
そこで、ランプには推奨交換期間が設定される。推奨交換期間は、定格寿命より短く設定される。即ち、定格寿命に対してマージンを見込んで推奨交換期間を設定する。このマージンが過大であると、ランプの交換頻度が高くなり、ランニングコストが大きくなる。従って、ランニングコストを抑えるためには、定格寿命に対して少ないマージンを見込んで推奨交換期間を設定すればよい。しかしながら、この場合、寿命末期において仕様を満足する光量が確保されていても短時間で光量が変動する現象が起きることが知られている。光量の変動は測定精度の変動につながる。そのため、マージンを少なくしてランプの推奨交換期間の設定するには、限界がある。 Therefore, a recommended replacement period is set for the lamp. The recommended replacement period is set to be shorter than the rated life. That is, the recommended replacement period is set with a margin for the rated life. If this margin is excessive, the lamp replacement frequency is increased, and the running cost is increased. Therefore, in order to reduce the running cost, a recommended replacement period may be set with a small margin for the rated life. However, in this case, it is known that a phenomenon occurs in which the light amount fluctuates in a short time even if the light amount satisfying the specification is secured at the end of the life. Variation in the amount of light leads to variation in measurement accuracy. Therefore, there is a limit to setting a recommended lamp replacement period with a small margin.
上述のようにランプの推奨交換期間を設定するときに、定格寿命に対して適正なマージンを設定するのは困難である。また、適正なマージンを設定しても、ランプの実際の寿命そのものが長くなるわけではない。 As described above, when setting the recommended replacement period of the lamp, it is difficult to set an appropriate margin for the rated life. In addition, setting an appropriate margin does not increase the actual life of the lamp itself.
本発明の目的は、光源ランプの寿命を長くし、測定精度を確保することができる化学分析装置を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a chemical analyzer that can extend the life of a light source lamp and ensure measurement accuracy.
本発明によると、ランプの寿命を延ばすために、光源駆動電力を定格値より低い値に設定する。しかしながら、ブランク吸光度が所定の許容値内に収まるように、光源駆動電力を設定する。 According to the present invention, in order to extend the life of the lamp, the light source driving power is set to a value lower than the rated value. However, the light source driving power is set so that the blank absorbance falls within a predetermined allowable value.
本発明によると、光源に供給する光源駆動電力を監視し、光源ランプの寿命、光源ランプの故障を診断する。更に、吸光度を監視し、光源ランプの故障を診断する。 According to the present invention, the light source driving power supplied to the light source is monitored to diagnose the life of the light source lamp and the failure of the light source lamp. Furthermore, monitoring the absorbance, diagnosing faults of the light source lamp.
本発明によれば、光源ランプの寿命を長くし、測定精度を確保することができる。 According to the present invention, the life of the light source lamp can be extended and the measurement accuracy can be ensured.
図1は、本発明による化学分析装置の構成を示す。本例の化学分析装置は、制御部30と機構部40を有する。制御部30は、制御用電源31、CPU32、メモリ33、記憶媒体34、I/O35、及び、AD変換器36を有する。機構部40は、光源用電源41、光源42、多波長光度計43、電力計44、試料分注機構53、試薬分注機構54、撹袢機構55、洗浄機構56、及び、恒温槽57を有する。
FIG. 1 shows the configuration of a chemical analyzer according to the present invention. The chemical analyzer of this example includes a control unit 30 and a
制御部30は、I/O35を介して、機構部40の各部を駆動する。試料分注機構53は、試料容器51内の試料を反応容器52に分注する。試薬分注機構54は、反応容器52に試薬を注入する。撹袢機構55は、反応容器51内の混合液を撹袢し、試料と試薬を反応させる。洗浄機構56は、反応容器52を洗浄する。恒温槽57は、反応を安定させるために反応系を一定温度に保持する。
The control unit 30 drives each unit of the
光源42からの光は反応容器52に収容された混合液に照射される。多波長光度計43は、混合液を通過した光のうち所定の波長の光を検出する。AD変換機36は、多波長光度計43からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。制御部30は、多波長光度計43によって検出された光強度と予め測定した基準濃度の溶液の光強度と比較することにより、吸光度を算出する。制御部30は、吸光度に基づいて試料を分析する。
The light from the
電力計44は、光源駆動電力、即ち、光源駆動電流又は光源駆動電圧を測定する。光源駆動電流の測定方法には、光源用電源41を直流電源としてホール素子を用いる方法、光源用電源41を交流電源としてカレントトランスを用いる方法などがある。ホール素子を用いる方法は、非接触で電流を測定するため、電力のロスを抑えることができる利点がある。光源駆動電圧の測定方法には、シャント抵抗を用いて抵抗の両端に生じる電位差を測定する方法がある。
The
本発明の好ましい例では、ホール素子を用いる方法又はカレントトランスを用いる方法によって光駆動電流を測定する。しかしながら、光源駆動電圧を測定する方法も本発明の範囲内にある。本願明細書では電力は電流と電圧の両者を含む。 In a preferred example of the present invention, the optical drive current is measured by a method using a Hall element or a method using a current transformer. However, a method for measuring the light source driving voltage is also within the scope of the present invention. Power herein includes both current and voltage.
光源用電源41は光源42に電力を供給する。光源用電源41は、制御部30からの制御信号に基づいて、光源42に供給する電力を制御する。記憶媒体34は、化学分析装置を運転するための各種のプログラムを格納する。メモリ33は、リアルタイムにて吸光度及び光源駆動電力を記憶する。制御用電源31は制御部30のための電源である。CPU32は、記憶媒体34に格納されているプログラムを読み出し、制御部30の動作を制御する。
The light source power supply 41 supplies power to the
本例の化学分析装置は、(1)多波長光度計43によって検出された光強度と予め測定した基準濃度の溶液の光強度と比較することにより吸光度を算出する吸光度算出処理、(2)化学分析装置をランプ寿命延命モードにて運転するランプ寿命延命モード運転処理、(3)光源ランプが寿命に達したと判定し、その旨の警告を発生する寿命判定処理、(4)光源ランプが故障したと判定し、その旨の警告を発生する故障判定処理等を行う。
The chemical analyzer of this example includes (1) an absorbance calculation process for calculating the absorbance by comparing the light intensity detected by the
これらの処理を行うプログラムは記憶媒体34に格納されている。吸光度算出処理については既に説明した。その他の処理は以下に詳細に説明する。
Program for these processes is stored in the
まず、本発明の化学分析装置によるランプ寿命延命モード運転処理について詳細に説明する。一般に光源42の寿命を延命させるには、光源駆動電力を低減すればよい。従って、ランプ寿命延命モードでは、光源駆動電力を定格値より低い値に設定する。しながら、光源駆動電力を低く抑えすぎると、次のような問題が生じる。先ず、第1に、ハロゲンサイクルが正しく機能しなくなる。それによって、寧ろ短寿命となる可能性がある。第2に、光源からの光量が不足する。それによって、光度計の出力にノイズが生じ、測定精度が低下する。
First, the lamp life extension mode operation processing by the chemical analyzer of the present invention will be described in detail. Generally, in order to extend the life of the
それゆえ、個々の光源ランプの寿命を延長するためには、以下の2つの条件を満足する必要がある。 Therefore, in order to extend the life of each light source lamp, it is necessary to satisfy the following two conditions.
第1の条件は、ガラス球の管壁温度を所定の温度より高くすることである。ハロゲンサイクルでは、フィラメントから蒸発した成分がフィラメントに戻る。そのため、フィラメントの寿命を延ばす機能を有する。しかしながら、ガラス球の管壁温度が所定の温度より低い場合には、フィラメントから蒸発した成分が管壁に付着し、ハロゲンサイクルが機能しない。そのため、ランプの寿命が短くなる。そこで、ハロゲンサイクルを円滑に行わせるためにガラス球の管壁温度を所定の温度より高くする必要がある。 The first condition is to make the tube wall temperature of the glass sphere higher than a predetermined temperature. In the halogen cycle, components evaporated from the filament return to the filament. Therefore, a function to extend the life of the filament. However, when the tube wall temperature of the glass sphere is lower than a predetermined temperature, components evaporated from the filament adhere to the tube wall, and the halogen cycle does not function. Therefore, the lamp life is shortened. Therefore, in order to perform the halogen cycle smoothly, the tube wall temperature of the glass sphere needs to be higher than a predetermined temperature.
第2の条件は、光学系のノイズを許容値以下に抑えることである。一般に吸光度が大きい場合には、多波長光度計43によって検出する光電電流が小さい。そのため、多波長光度計43の出力は、光学的及び電気的なノイズの影響を受けやすい。このノイズは吸光度の値に影響を与え、測定誤差の要因となる。このノイズ影響を軽減するには光源の発光量を増加させ、多波長光度計43からの信号量を増加されればよい。
The second condition is to suppress the noise of the optical system below an allowable value. In general, when the absorbance is large, the photoelectric current detected by the
光源42の寿命を延命させるには、これらの2つの条件を満足するように、光源駆動電力を低減すればよい。
In order to extend the life of the
本発明によると、ブランク吸光度を測定する。反応容器51に純水を充填した状態にて吸光度を測定する。これをブランク吸光度と称する。純水の吸光度は本来ゼロであるから、ブランク吸光度はゼロとなるはずである。ブランク吸光度がゼロとならない場合は、ノイズがあることになる。通常、新しい正常な光源を定格電力によって駆動した場合、ブランク吸光度はゼロとなる。しかしながら、正常な光源であっても、光源駆動電力を低減すると、光度計の出力にノイズが生ずる。即ち、ブランク吸光度がゼロとならない。
According to the present invention, to measure the blank absorbance. The absorbance is measured in a state where the
そこで、本発明によると、ランプ寿命延命モードのとき、ブランク吸光度が実用上の許容値以下となるように、光源駆動電力を低減する。光源駆動電力の設定方法は以下に説明する。 Therefore, according to the present invention, in the lamp life extension mode, the light source driving power is reduced so that the blank absorbance is equal to or less than a practical allowable value. A method for setting the light source driving power will be described below.
本発明によると、化学分析装置がランプ寿命延命モードのとき、多波長光度計43は、ブランク吸光度を測定し、それを、I/O35を介して、制御部30に供給する。CPU32は、ブランク吸光度が所定の範囲内にあるか否かを判定する。ブランク吸光度が所定の範囲を超えたとき、制御部30は、光源駆動電力を増加するように、光源用電源41に、指令を送信する。光源用電源41は、光源42に供給する光源駆動電力を増加する。光源駆動電力が増加すると、ブランク吸光度は減少する。こうして、ブランク吸光度が所定の範囲を超えた毎に、光源駆動電力を増加する。それによって、ブランク吸光度が所定の範囲に収まるように、光源駆動電力が定格値より低い値に設定される。本例では、ランプ寿命延命モードでは、光源42に供給する光源駆動電力は定格値より小さいため、光源ランプの寿命が延びる。
According to the present invention, when the chemical analyzer is in the lamp life extension mode, the
図2を参照して、本発明による化学分析装置における光源駆動電力の設定処理を説明する。化学分析装置がランプ寿命延命モードにて運転されると、本例の光源駆動電力の設定処理を行う。ステップS101にて、光源用電源41は、制御部30からの制御信号に基づいて、予め設定されている駆動電力にて光源を駆動する。この設定電力は、定格値より低い値である。ステップS102にて、反応容器52にシステム水を充填しブランク吸光度を測定する。ステップS103にて、制御部30は、ブランク吸光度が所定の範囲内にあるか否かを判定する。所定の範囲の上限は、ブランク吸光度の実用上の許容値であり、所定の範囲の下限は、上限より所定の値だけ低い値とする。
With reference to FIG. 2, the setting process of the light source drive electric power in the chemical analyzer by this invention is demonstrated. When the chemical analyzer is operated in the lamp life extension mode, the light source driving power setting process of this example is performed. In step S <b> 101, the light source power source 41 drives the light source with a preset driving power based on a control signal from the control unit 30. This set power is a value lower than the rated value. In step S102, the
ブランク吸光度が所定の範囲内にある場合には、ステップS105に進み、ブランク吸光度が所定の範囲内にない場合には、ステップS104に進む。 If the blank absorbance is within the predetermined range, the process proceeds to step S105, and if the blank absorbance is not within the predetermined range, the process proceeds to step S104.
ステップS104にて、光源駆動電力を変更する。再び、ステップS102に戻り、ブランク吸光度を測定し、ステップS103にて、ブランク吸光度が所定の範囲内にあるか否かを判定する。こうして、ステップS104とステップS125を繰り返すことによって、ブランク吸光度が所定の範囲内に収まるように、光源駆動電力を設定する。ステップS105にて、光源駆動電力の設定値を記憶する。ステップS106にて、設定した光源駆動電力によって光源を駆動する。この光源駆動電力の設定処理によって得られた光源駆動電力は、光源ランプの定格値より低く、且つ、ブランク吸光度が実用上の許容値内に収まる値となるものである。図2の光源駆動電力の設定処理は、所定の周期にて行う。 In step S104, the light source driving power is changed. Returning to step S102 again, the blank absorbance is measured, and in step S103, it is determined whether or not the blank absorbance is within a predetermined range. In this way, by repeating Step S104 and Step S125, the light source driving power is set so that the blank absorbance is within a predetermined range. In step S105, the set value of the light source driving power is stored. In step S106, driving the light source by the light source driving power set. The light source driving power obtained by the setting process of the light source driving power is lower than the rated value of the light source lamp, and the blank absorbance is a value that falls within a practical allowable value. Setting processing of the light source driving power of 2 is performed at a predetermined cycle.
図3を参照して、本発明による光源駆動電力の設定処理及び光源ランプの寿命判定処理を説明する。図3(a)の縦軸は、ブランク吸光度、横軸は時間である。図3(b)の縦軸は光源駆動電力、横軸は時間である。時刻t1にて、本発明による光源駆動電力の設定処理を行う。時刻t1までは、光源駆動電力は、定格電力V0に設定されている。このときブランク吸光度は、十分低い。時刻t1にて、ランプ寿命延命モードを開始する。図2にて説明した光源駆動電力の設定処理を行う。即ち、光源駆動電力を定格値より低い値に設定する。ブランク吸光度は高くなる。但し、ブランク吸光度は所定の範囲ΔCの間に収まるように、光源駆動電力を設定する。図3(a)に示すように、光源駆動電力が一定であっても時間が経過すると、ブランク吸光度は増加する。そこで、所定の周期にて、図2にて説明した光源駆動電力の設定処理を行う。 With reference to FIG. 3, the light source driving power setting process and the light source lamp life determination process according to the present invention will be described. The vertical axis | shaft of Fig.3 (a) is a blank light absorbency, and a horizontal axis is time. In FIG. 3B, the vertical axis represents light source driving power, and the horizontal axis represents time. At time t1, it performs setting processing of the light source driving power according to the present invention. Until the time t1, the light source driving power is set to the rated power V0. At this time, the blank absorbance is sufficiently low. The lamp life extension mode is started at time t1. The light source driving power setting process described in FIG. 2 is performed. That is, the light source driving power is set to a value lower than the rated value. The blank absorbance increases. However, the light source driving power is set so that the blank absorbance falls within a predetermined range ΔC. As shown in FIG. 3A, the blank absorbance increases with time even if the light source driving power is constant. Therefore, the light source driving power setting process described with reference to FIG. 2 is performed at a predetermined cycle.
時刻t2にて、定格寿命L0となる。しかしながら、定格寿命L0までの間、光源駆動電力は、定格値より低い値に設定されているから、定格寿命L0でも実寿命になっていない。更に、光源駆動電力の設定処理を繰返し、時刻t3にて、光源駆動電力は、定格値となる。光源駆動電力が、定格値となった時刻t3から所定の時間が経過した時刻t4にて、本発明により設定した寿命L1となる。この寿命L1は、光源が実際に使用不可となる実寿命より短い。 The rated life L0 is reached at time t2. However, since the light source driving power is set to a value lower than the rated value until the rated life L0, the actual life is not reached even at the rated life L0. Further, the setting process of the light source driving power is repeated, and the light source driving power becomes the rated value at time t3. At the time t4 when a predetermined time has elapsed from the time t3 when the light source driving power becomes the rated value, the lifetime L1 set by the present invention is reached. This life L1 is shorter than the actual life when the light source is actually unusable.
こうして本発明によると、光源の寿命L1は、定格寿命L0より十分長いため、ランプの交換サイクルが長くなり、経済性が向上する。 Thus, according to the present invention, since the life L1 of the light source is sufficiently longer than the rated life L0, the lamp replacement cycle becomes longer and the economy is improved.
寿命判定処理について説明する。電力計44は、光源42に印加される駆動電力を検出し、それを、I/O35を介して、制御部30に供給する。CPU32は、光源42に印加される駆動電力を定格値と比較し、光源42に印加される駆動電力が定格値に到達したときから所定の時間が経過したとき、光源ランプの寿命であると判定する。制御部30は、光源ランプが寿命であると判定すると警告を発する。警告は、音声の発生、警告灯の点灯、画面上における表示等であってよい。
The life determination process will be described. The
図4を参照して、本発明の化学分析装置による光源ランプの故障判定処理について説明する。故障判定処理では、光源42のフィラメントの断線又は導通異常を検出する。光源42の寿命による断線等の導通異常は、主に光源42への供給電力の変動に基づいて検出する。電力計44によって検出された光源駆動電力は、I/O35を介して制御部30に送られる。制御部30は、光源駆動電力の急激な変動を検出すると、光源ランプの故障であると判定する。
With reference to FIG. 4, the failure determination process of the light source lamp by the chemical analyzer of the present invention will be described. In the failure determination process, disconnection or continuity abnormality of the filament of the
ハロゲンサイクルでは、フィラメントの蒸発、再結合を繰り返す。しかしながら、寿命末期では、フィラメントは細り、断線する。図4(a)に示すように、時刻t1−t2にてフィラメントが断線すると、瞬間的に、光源駆動電力がゼロになる。図4(b)に示すように、時刻t3にてフィラメントが半断線すると、光源駆動電力が増加する。従って、光源駆動電力の急激な変動を検出することによってフィラメントが断線又は半断線を検出することができる。 Halogen cycle, evaporation of the filament, repeated recombination. However, at the end of life, the filament is thinned and disconnected. As shown in FIG. 4A, when the filament breaks at time t1-t2, the light source driving power instantaneously becomes zero. As shown in FIG. 4B, when the filament is broken halfway at time t3, the light source driving power increases. Therefore, it is possible to detect whether the filament is broken or semi-broken by detecting a sudden change in the light source driving power.
図5を参照して、本発明による化学分析装置において、吸光度から光源42のフィラメントの断線又は導通異常を検出する方法を説明する。図5(a)は、吸光度の時間変化を示し、図5(b)は、光源駆動電力の時間変化を示す。図5(a)に示すように、所定の周期の測光時間Tにて測光を行う。測光中に光源42のフィラメントが断線すると、吸光度曲線において上昇が生じる。即ち、図5(b)に示すように、時刻t1−t2にて、フィラメントが断線すると、図5(a)に示すように、時刻ta−tbにて、吸光度が上昇する。また、図6に示すように、測光点xcにて反応曲線において上昇が生じる。
With reference to FIG. 5, in the chemical analyzer according to the present invention, a method for detecting the disconnection or conduction abnormality of the filament of the
本発明によると、吸光度と光源駆動電力の両者を監視し、両者が同時に変動した場合に、光源42のランプの故障又は異常と判定する。
According to the present invention, both the absorbance and the light source driving power are monitored, and when both change simultaneously, it is determined that the lamp of the
一般に、吸光度の変動の原因は、光学系の故障によるもの、試料の濃度によるもの、光源42の異常によるもの等、様々である。従って、吸光度の監視だけでは、光源のランプの故障又は異常を正確に検出することはできない。そこで、本例では、吸光度と光源駆動電力の両者を監視する。即ち、吸光度が急激に上昇したとき、光源駆動電力が急激に変動している場合には、吸光度の変動の原因が光源42の劣化にあると判定する。
In general, there are various causes of fluctuations in absorbance, such as those due to failure of the optical system, those due to the concentration of the sample, and abnormalities in the
本発明においては、寿命延命する機能により光源42の交換頻度を少なくし、寿命到達を判定する機能により光源42の劣化にともなう不正データ報告のリスクを回避するので、ユーザーのランニングコストを低減した測定結果の信頼性を高めた化学分析装置を提供することができる。
In the present invention, the function of extending the lifespan reduces the frequency of replacement of the
本発明によると、電源投入直後に光源が安定したか否かをユーザーに表示することができる。更に、光源が安定する前にユーザーが分析を開始した場合にアラームを表示することができる。 According to the present invention, it is possible to display to the user whether or not the light source is stable immediately after the power is turned on. Furthermore, an alarm can be displayed if the user starts an analysis before the light source stabilizes.
以上本発明の例を説明したが本発明は上述の例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲にて様々な変更が可能であることは当業者に容易に理解されよう。 Although the example of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described example, and various modifications can be easily made by those skilled in the art within the scope of the invention described in the claims. It will be understood.
30…制御部、31…制御用電源、32…CPU、33…メモリ、34…記憶媒体、35…I/O、36…AD変換機、40…機構部、41…光源用電源、42…光源、43…多波長光度計、44…電力計、51…検体容器、52…反応容器、53…試料分注機構、54…試薬分中機構、55…攪拌機構、56…洗浄機構、57…恒温槽
DESCRIPTION OF SYMBOLS 30 ... Control part, 31 ... Control power supply, 32 ... CPU, 33 ... Memory, 34 ... Storage medium, 35 ... I / O, 36 ... AD converter, 40 ... Mechanism part, 41 ... Power source for light sources, 42 ...
Claims (8)
上記光源用電源は、上記光源を定格電力より低い光源駆動電力によって駆動するランプ寿命延命モードによって運転され、
上記ランプ寿命延命モードのとき、上記被測定溶液の代わりに純水によって得られたブランク吸光度を測定し、該ブランク吸光度が所定の許容値より小さくなるように、上記光源駆動電力が設定されることを特徴とする化学分析装置。 A light source that irradiates the solution to be measured with light, a power source for light source that supplies driving power to the light source, and a light intensity meter that measures the intensity of the light that has passed through the solution to be measured. In the chemical analyzer for analyzing the components contained in the liquid to be measured by measuring the absorbance from the light intensity obtained by
The light source power source is operated in a lamp life extension mode in which the light source is driven by a light source driving power lower than a rated power ,
In the lamp life extension mode, a blank absorbance obtained with pure water instead of the solution to be measured is measured, and the light source driving power is set so that the blank absorbance is smaller than a predetermined allowable value. A chemical analyzer characterized by
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Citations (8)
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---|---|---|---|---|
JPH01277758A (en) * | 1988-04-28 | 1989-11-08 | Toshiba Corp | Automatic apparatus for chemical analysis |
JPH0545223A (en) * | 1991-03-01 | 1993-02-23 | Yokogawa Electric Corp | Ultraviolet ray absorption detector |
JPH0579912A (en) * | 1991-09-20 | 1993-03-30 | Hitachi Ltd | Logarithmic amplifying system for photometer |
JPH0821795A (en) * | 1994-07-06 | 1996-01-23 | Yokogawa Electric Corp | Turbidity meter |
JPH10281978A (en) * | 1997-04-11 | 1998-10-23 | Hitachi Ltd | Automatic analyzing device |
JPH11508053A (en) * | 1996-03-15 | 1999-07-13 | フォルシュングスツェントルム カールスルーエ ゲゼルシャフト ミットベシュレンクテル ハフツング | Analysis system |
WO2005075964A1 (en) * | 2004-01-30 | 2005-08-18 | Abb Inc. | Fibre optic measuring apparatus |
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Patent Citations (8)
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---|---|---|---|---|
JPH01277758A (en) * | 1988-04-28 | 1989-11-08 | Toshiba Corp | Automatic apparatus for chemical analysis |
JPH0545223A (en) * | 1991-03-01 | 1993-02-23 | Yokogawa Electric Corp | Ultraviolet ray absorption detector |
JPH0579912A (en) * | 1991-09-20 | 1993-03-30 | Hitachi Ltd | Logarithmic amplifying system for photometer |
JPH0821795A (en) * | 1994-07-06 | 1996-01-23 | Yokogawa Electric Corp | Turbidity meter |
JPH11508053A (en) * | 1996-03-15 | 1999-07-13 | フォルシュングスツェントルム カールスルーエ ゲゼルシャフト ミットベシュレンクテル ハフツング | Analysis system |
JPH10281978A (en) * | 1997-04-11 | 1998-10-23 | Hitachi Ltd | Automatic analyzing device |
WO2005075964A1 (en) * | 2004-01-30 | 2005-08-18 | Abb Inc. | Fibre optic measuring apparatus |
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