JP4713268B2 - 光の照射強度分布の測定方法および測定装置 - Google Patents
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Description
さらに大型のソーラシミュレータにおいては、照度ムラの調整のために上記ランプ位置以外に反射板や遮光板の調整(反射物・遮光物の追加、位置修正、取り替えなど)が必要であるが、これらについても適正か否かの判断手段がないので、操作者の勘による調整を行っており、厳密な調整は行われていないのが現状である。
即ち、本発明は、太陽電池の出力特性の測定用ソーラシミュレータや半導体製造分野において、光源ランプの位置の調節を含み、照度分布測定を効率よくまた精度よく行うための方法、並びに、その方法を使用した装置を提供することを、その課題とするものである。
図1は、本発明の照度測定装置をソーラシミュレータに取り付けた状態を説明するための側面図。図2は、本発明の照度測定装置の測定台を示す平面図。図3は、本発明の照度測定装置の構成を説明するための斜視図的なブロック図。図4は、本発明の照度測定装置の回路構成の一例を示すブロック図。図5は、本発明の照度測定装置の回路構成の別例を示すブロック図。図6は、本発明の照度測定装置による照度分布測定結果の例を表示装置に表示させた画面の正面図である。
さらに、図示しないが、大型のソーラシミュレータにおいては、その照度ムラの測定において、上記ランプ位置以外に反射板や遮光板の調整(反射物・遮光物の追加、位置修正、取り替えなど)が必要である。この場合にも上記と同じように測定面における照度ムラを見ることにより判断することができる。本発明では、高速、高精度で得られる照度分布の測定結果により反射板や遮光板の調整の適否を短時間に確認することができる。
測定点1の照度=(測定点1の短絡電流/基準位置の短絡電流)×補正量×(基準位置の測定照度)
ここで、基準位置の測定照度とは下記の定義式により算出される。
基準位置の測定照度=(基準太陽電池の短絡電流/照度1000W/m2時の短絡
電流)×(照度1000W/m2)
任意の測定点の照度=(任意の測定点の短絡電流/基準位置の短絡電流)×(補正量)
×(基準位置の測定照度)
ここで、基準位置の測定照度とは前記の定義式により算出されたものであり、補正量は段落[0039]で記憶した各測定点での短絡電流のバラツキを修正する補正量である。
このように基準位置も含め各測定点の太陽電池セルによる各検出器Cs0〜Cs25における短絡電流のバラツキを容易にかつ短時間に、しかも高精度に校正できるので、その結果を照度分布測定の際に自動補正(校正)することができ、照度分布の測定に際して測定対象である太陽電池セルの特性バラツキの影響を無くすことができる。
本発明はこのような従来技術の問題点に鑑み、(イ)照度検出器を複数点配置し同時に照度を測定する方法、(ロ)その照度測定により、光源の位置が適切であるか否かを判別し必要であれば光源の位置を調整して光源光の照射を適切にする方法、(ハ)その照度測定により、反射板や遮光板が正しく調整されていているか否かを判別し必要であれば反射板や遮光板を正しく調整し光源光の照射を適切にする方法、(ニ)その複数配置した照度検出器のうちの1箇所を基準位置の照度検出用とし、各測定点の照度と基準位置の照度の相対差を測定する方法、更には(ホ)自然太陽光により各照度検出器の特性バラツキを測定し演算装置内に記憶させ、照度分布測定中に自動校正する機能を有した演算処理を行う測定方法を採ったので、以下の効果を享受できる。
(1) 高効率・高速でソーラシミュレータの照度分布を測定が可能となる。
(2) 高精度にソーラシミュレータの照度分布を測定が可能となる。
(3) 光源のゆらぎによる全体の照度変化の影響を無くすことができる。
(4) 自然太陽光により照度検出器の測定誤差を補正することができるため、照度分布測
定器の校正を行うための校正装置が不要となる。
(5) 照度分布の測定が高速・高精度に行うことができるのでソーラシミュレータ及びソーラシミュレータにおける測定対象物の機種切り替えや段取り替えを頻繁に行うことも可能になり多種少量生産への対応も可能となる。
また上記の効果は、ソーラシミュレータ以外にも半導体製造分野における露光装置なども、その効果を享受できる。
2 楕円集光ミラー
3 第一平面反射ミラー
4 インテグレータレンズ
5 第二平面反射ミラー
6 コリメータレンズ
7 測定台
PC 演算処理装置・表示装置
C 制御盤
Cs0 基準位置に配置された照度検出器(太陽電池セル)
Cs1〜Cs25 各測定位置に配置された照度検出器(太陽電池セル)
Id0 基準位置専用の電流検出素子
Id1〜Id5 測定点用の電流検出素子
Sw1〜Sw25 切り替えスイッチ
Claims (11)
- 光源の光が照射される場所の複数位置での照射強度を測定するために、前記場所の複数位置を各測定点としそれぞれの測定点に照射強度検出器を予め配置し、各測定点での照射強度を測定するに当たり、前記光源が集光ミラーの第一焦点に位置付けられているかどうかを、前記の照射強度検出器に検出される測定データに基づき判別し、判別結果に基づいて光源の位置を調節してから、各測定点での照射強度を同時に測定することを特徴とする照射強度分布の測定方法。
- 請求項1の光源の位置を調節してから照射強度分布を測定する方法において、複数の測定点の1点を基準位置の測定点とし、この測定点での照射強度と他の複数位置の測定点での照射強度を同時に測定し、基準位置と他の各位置での測定照射強度のそれぞれの相対量を演算処理する照射強度分布の測定方法。
- 請求項2の照射強度分布の測定において、複数の測定点を、基準位置の測定点を含む任意の数の測定点グループに分けて測定し、各測定点グループごとに基準位置と他の位置での測定照射強度の相対量を各グループで併行して演算処理する照射強度分布の測定方法。
- 請求項1〜3のいずれかの照射強度分布の測定において、複数の測定点に配置する照射強度検出器に太陽電池セルを用いた照射強度分布の測定方法。
- 請求項4の照射強度分布の測定において、複数の測定点に配置する各太陽電池セルの短絡電流を測定する照射強度分布の測定方法。
- 請求項4又は5の照射強度分布の測定において、屋外の自然太陽光、又は、高精度ソーラシミュレータを光源として複数の測定点に配置した太陽電池セルの照射強度を測定し、各太陽電池セルの照射強度の感度誤差を補正するための演算処理を行う照射強度分布の測定方法。
- 請求項6に記載の演算処理を行って各太陽電池セルの照射強度の感度誤差を補正した上で、請求項4の基準位置と他の位置での太陽電池セルの測定照度の相対量を演算処理する請求項4又は5に記載の照射強度分布の測定方法。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の測定方法をソーラシミュレータに適用する照射強度分布の測定方法。
- 請求項8に記載の測定方法において、光源の反射や遮光の調整が適正に調整されているか否かを、照度検出器に検出される測定データに基づき判別し、光源の反射や遮光を適正に調整するソーラシミュレータの照度分布の測定方法。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の照射強度分布の測定方法を用いた照射強度分布の測定装置。
- 請求項8又は9に記載の照射強度分布の測定方法を用いたソーラシミュレータの照射強度分布の測定装置。
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EP3407035B1 (de) * | 2017-05-26 | 2019-08-07 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Messvorrichtung und verfahren zur messung der intensitätsverteilung einfallender lichtstrahlung |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61164126A (ja) * | 1985-01-16 | 1986-07-24 | Canon Inc | 照度分布測定装置及び照度分布測定方法 |
JPS61165669A (ja) * | 1985-01-17 | 1986-07-26 | Sharp Corp | 太陽電池の出力電流測定方法 |
JPH01312440A (ja) * | 1988-06-10 | 1989-12-18 | Mitsubishi Electric Corp | 自動輝度測定システム |
JPH03119602A (ja) * | 1989-10-03 | 1991-05-22 | Fuji Electric Co Ltd | 照明配置のための設計支援装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61164126A (ja) * | 1985-01-16 | 1986-07-24 | Canon Inc | 照度分布測定装置及び照度分布測定方法 |
JPS61165669A (ja) * | 1985-01-17 | 1986-07-26 | Sharp Corp | 太陽電池の出力電流測定方法 |
JPH01312440A (ja) * | 1988-06-10 | 1989-12-18 | Mitsubishi Electric Corp | 自動輝度測定システム |
JPH03119602A (ja) * | 1989-10-03 | 1991-05-22 | Fuji Electric Co Ltd | 照明配置のための設計支援装置 |
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