JP4696308B2 - 太陽電池の特性評価方法 - Google Patents
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Description
本発明の目的は、迷光による電流分検出の困難性を解決し、より正確な解析を行うことを可能にした太陽電池の特性評価方法を提供することにある。
第1の手段は、n個のセルを直列接続した太陽電池モジュールにおいて、第1の放射照度の光照射下において、任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象セルに減光板を被覆した第1減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第1非減光モジュールI−V特性とを測定し、第1非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第1推定モジュールI−V特性を算出し、続いて、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下において、前記被解析対象セルに前記減光板と同一の減光板を被覆した第2減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第2非減光モジュールI−V特性とを測定し、第2非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第2推定モジュールI−V特性を算出し、第1減光モジュールI−V特性と第1推定モジュールI−V特性の交点と、第2減光モジュールI−V特性と第2推定モジュールI−V特性の交点の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での電流値Idを補正用電流とし、第1減光モジュールI−V特性上で交点電流値に前記電流値Idだけ移動した電流値の点を通るように第1推定モジュールI−V特性を電圧軸に沿って平行移動させて修正・推定モジュールI−V特性を求め、同一電流値に対して第1減光モジュールI−V特性の電圧値から修正・推定モジュールI−V特性の電圧値を減じて得たI−V特性に、入射放射照度について減光板減光率で割戻すことにより、第1の放射照度下におけるi個の被解析対象セルのI−V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法である。
図1は、本実施形態の発明に係る太陽電池モジュールの概略構成を示す平面図である。
同図において、1は太陽電池モジュール、2は基板、3はセル、4,5は出力端子、6
は減光板である。同図に示すように、太陽電池モジュール1は、基板2上にn個(図示した例では18個)のセル3を直列に接続し、両端のセルからの出力端子4、5を引き出したものである。
以下において、簡単に説明するために被解析対象セルは1個とする。まず、太陽電池モジュール1上に均等な第1の放射照度(例えば1SUN)の光照射下において、被解析対象セルに減光板6を被せて第1減光モジュールI−V特性b1を測定し、次に、放射照度を変えずに、減光板6を被せない状態で第1非減光モジュールI−V特性a1を測定する。
本発明において、被解析対象セルのI−V特性を得るためには、モジュール特性から被解析対象セルを除いたI−V特性が必要となるが、これを直接測定することはできない。そこで、まず、第1非減光モジュールI−V特性a1に対し測定電圧に対してのみ(n−1)/nを掛けて得た、被解析対象セルを除いたI−V特性に近似した、第1推定モジュールI−V特性c1
を得る。
同図に示すように、測定電流と放射照度の関係線Aには、迷光による電流線Cとセルの余分なバイアス電圧で生じた電流値Idの電流線B(ダイオード電流や並列抵抗)が含まれているが、放射照度が零であれば迷光も零になるので、迷光による電流線Cは電流と放射照度の零点を通ることになる。一方のバイアス電圧で生じた電流線Bは、ダイオード電流も並列抵抗電流も電圧のみに関係して放射照度に対し一定値の関係にある。したがって、放射照度零を通る測定電流との関係線Aの電流値が補正用電流Idとして求まる。すなわち、非常に困難であった迷光による電流測定を行なわなくても補正用電流Id(図3はマイナス電流)が求められる。
同図に示すように、第1減光モジュールI−V特性b1上で交点I1の電流値をIdだけ移動(同図では補正用電流Idがマイナス値のため加算移動)した電流値の点I4を通るように、第1推定モジュールI−V特性c1を電圧軸に沿って平行移動させて修正・推定モジュールI−V特性c3を求める。次に、同一電流値に対して第1減光モジュールI−V特性b1の電圧値から修正・推定モジュールI−V特性c3の電圧値を減じてI−V特性D1を得、このI−V特性D1を入射放射照度について減光板減光率で割戻すことで第1の放射照度下における被解析対象セルのI−V特性E1を得ることが出来る。
本実施形態の発明においても、第1の実施形態の発明と同様に、図1〜図3で説明したように、第1減光モジュールI−V特性b1と第1推定モジュールI−V特性c1の交点(電流値はI1)と、第2減光モジュールI−V特性b2と第2推定モジュールI−V特性c2の交点(電流値はI2)の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での補正用電流値Idを求める迄は同一である。
上記の問題に対処するために、図5で示すように、交点の電流値I1をIdだけ移動(図5は加算移動の例)した電流値の点I4を通るように、第1推定モジュールI−V特性c1の電圧に対してのみ係数を掛けて修正・推定モジュールI−V特性c4を求める。この場合の修正した推定モジュールI−V特性c4は通常のモジュールI−V特性を電圧方向に均等に圧縮されたものであり、無理のないセルI−V特性の解析が期待できる。以下は第1の実施形態の発明と同様な手順によって、同一電流値に対して第1減光モジュールI−V特性b1の電圧値から修正・推定モジュールI−V特性c4の電圧値を減じてI−V特性D2を得、このI−V特性D2を入射放射照度について減光板減光率で割戻すことで第1の放射照度下における被解析対象セルのI−V特性E2を得ることが出来る。
本実施形態の発明は、第1の実施形態の発明と、第1の実施形態で説明した補正用電流Idを求める部分に変更を加えた点で相違する。すなわち、第1の実施形態の発明で求めた補正用電流Idは、図2及び図3で説明したように、第1の放射照度(例えば1SUN)の光照射下おける第1非減光モジュールI−V特性a1と第1推定モジュールI−V特性c1との交点の電流I1と、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下による第2減光モジュールI−V特性b2と第2推定モジュールI−V特性c2との交点の電流I2の、2つの電流値I1、I2と放射照度の比例関係を用いて求めた。しかし、この第1の放射照度における交点の電流I1と上記第2の放射照度における交点の電流I2の電流レンジは大幅に異なるために測定誤差や計算誤差が懸念される。
同図に示すように、図2に示した特性図と異なり、第2の放射照度よりもさらに、放射照度のみを低減させた第3の放射照度の光照射下による小電流の測定レンジにおいて、第3減光モジュールI−V特性b3と第3非減光モジュールI−V特性a3を測定し、前記同様の方法にて第3推定モジュールI−V特性c3を得る。次に、第2減光モジュールI−V特性b2と第2推定モジュールI−V特性c2の交点電流I2と、第3減光モジュールI−V特性b3と第3推定モジュールI−V特性c3の交点電流I3の2つの交点電流値I2、I3を得る。
同図において、図3で説明したと同様の方法により、放射照度零での補正用電流値Idを求める。この補正用電流値Idは、図3において求めた補正用電流値Idに比べて、測定誤差や計算誤差の混入を回避することができる。
まず、図4において、第1減光モジュールI−V特性b1上で交点I1の電流値を図7で求めた補正用電流値Idだけ移動した電流値の点I4を通るように、第1推定モジュールI−V特性c1を電圧軸に沿って平行移動させて修正・推定モジュールI−V特性c3と同様の不図示の修正・推定モジュールI−V特性c5求める。次に、同一電流値に対して第1減光モジュールI−V特性b1の電圧値から不図示の修正・推定モジュールI−V特性c5の電圧値を減じてI−V特性D1と同様の不図示のI−V特性D3を得、この不図示のI−V特性D3を入射放射照度について減光板減光率で割戻すことで第1の放射照度下における不図示の被解析対象セルのI−V特性E3を得ることが出来る。
本実施形態の発明は、第3の実施形態の発明と、図6及び図7を用いて説明した補正用電流Idを求める部分までは全く同一であるが、図4に示した修正・推定モジュールI−V特性c3を用いず、図5で説明する不図示の修正・推定モジュールI−V特性c6を用いた点で相違する。
まず、図5において、第1減光モジュールI−V特性b1上で交点I1の電流値を図7で求めた補正用電流値Idだけ移動(図は加算移動)した電流値の点I4を通るように、第1推定モジュールI−V特性c1を電圧に対してのみ係数を掛けて修正・推定モジュールI−V特性c4と同様の不図示の修正・推定モジュールI−V特性c6求める。これによって修正した推定モジュールI−V特性は通常のモジュールI−V特性を電圧方向に均等に圧縮されたものであり、無理のないセルI−V特性の解析が可能となる。次に、同一電流値に対して第1減光モジュールI−V特性b1の電圧値から不図示の修正・推定モジュールI−V特性c6の電圧値を減じてI−V特性D2と同様の不図示のI−V特性D4を得、この不図示のI−V特性D4を入射放射照度について減光板減光率で割戻すことで第1の放射照度下におけるI−V特性E2と同様の不図示の被解析対象セルのI−V特性E4得ることが出来る。
Iout=Ip−Idi−Ish
ダイオード電流Idiと並列抵抗電流Ishは電圧のみに関係し、光起電流Ipは放射照度のみに比例するため、したがって、I−V特性は放射照度に対し電流方向に平行移動する。なお、このことは、被解析対象セルの最終的なI−V特性を得るための放射照度条件においても、任意の指定放射照度への換算にも適用することができる。
迷光混入率の求め方は、モジュール全体を均一な放射照度条件とし、1つのセルの受光面だけを(セル間の余白に懸からないように)暗闇にしたときのIscと、そのときの測定放射照度でのそのセルのIscとの比から推定する。それぞれのIscは本発明の方法で求める。または、迷光率はモジュールの構造に応じて別途測定しておく。
2 基板
3 セル
4、5 出力端子
6 減光板
Claims (9)
- n個のセルを直列接続した太陽電池モジュールにおいて、第1の放射照度の光照射下において、任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象セルに減光板を被覆した第1減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第1非減光モジュールI−V特性とを測定し、第1非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第1推定モジュールI−V特性を算出し、続いて、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下において、前記被解析対象セルに前記減光板と同一の減光板を被覆した第2減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第2非減光モジュールI−V特性とを測定し、第2非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第2推定モジュールI−V特性を算出し、第1減光モジュールI−V特性と第1推定モジュールI−V特性の交点と、第2減光モジュールI−V特性と第2推定モジュールI−V特性の交点の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での電流値Idを補正用電流とし、第1減光モジュールI−V特性上で交点電流値に前記電流値Idだけ移動した電流値の点を通るように第1推定モジュールI−V特性を電圧軸に沿って平行移動させて修正・推定モジュールI−V特性を求め、同一電流値に対して第1減光モジュールI−V特性の電圧値から修正・推定モジュールI−V特性の電圧値を減じて得たI−V特性に、入射放射照度について減光板減光率で割戻すことにより、第1の放射照度下におけるi個の被解析対象セルのI−V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法。
- n個のセルを直列接続した太陽電池モジュールにおいて、第1の放射照度の光照射下において、任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象セルに減光板を被覆した第1減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第1非減光モジュールI−V特性とを測定し、第1非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第1推定モジュールI−V特性を算出し、続いて、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下において、前記被解析対象セルに前記減光板と同一の減光板を被覆した第2減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第2非減光モジュールI−V特性とを測定し、第2非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第2推定モジュールI−V特性を算出し、第1減光モジュールI−V特性と第1推定モジュールI−V特性の交点と、第2減光モジュールI−V特性と第2推定モジュールI−V特性の交点の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での電流値Idを補正用電流とし、第1減光モジュールI−V特性上で交点電流値に前記電流値Idだけ移動した電流値の点を通るように第1推定モジュールI−V特性の電圧に対してのみ係数を掛けて修正・推定モジュールI−V特性を求め、同一電流値に対して第1減光モジュールI−V特性の電圧値から修正・推定モジュールI−V特性の電圧値を減じて得たI−V特性に、入射放射照度について減光板減光率で割戻すことにより、第1の放射照度下におけるi個の被解析対象セルのI−V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法。
- n個のセルを直列接続した太陽電池モジュールにおいて、第1の放射照度の光照射下において、任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象セルに減光板を被覆した第1減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第1非減光モジュールI−V特性とを測定し、第1非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第1推定モジュールI−V特性を算出し、続いて、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下において、前記被解析対象セルに前記減光板と同一の減光板を被覆した第2減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第2非減光モジュールI−V特性とを測定し、第2非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第2推定モジュールI−V特性を算出し、さらに、前記第2の放射照度より放射照度を低減させた第3の放射照度の光照射下において、前記被解析対象セルに前記減光板と同一の減光板を被覆した第3減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第3非減光モジュールI−V特性とを測定し、第3非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第3推定モジュールI−V特性を算出し、第2減光モジュールI−V特性と第2推定モジュールI−V特性の交点と、第3減光モジュールI−V特性と第3推定モジュールI−V特性の交点の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での電流値Idを補正用電流として、第1減光モジュールI−V特性上で交点電流値に前記電流値Idだけ移動した電流値の点を通るように第1推定モジュールI−V特性を電圧軸に沿って平行移動させて修正・推定モジュールI−V特性を求め、同一電流値に対して第1減光モジュールI−V特性の電圧値から修正・推定モジュールI−V特性の電圧値を減じて得たI−V特性に、入射放射照度について減光板減光率で割戻すことにより、第1の放射照度下におけるi個の被解析対象セルのI−V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法。
- n個のセルを直列接続した太陽電池モジュールにおいて、第1の放射照度の光照射下において任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象セルに減光板を被覆した第1減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第1非減光モジュールI−V特性とを測定し、第1非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第1推定モジュールI−V特性を算出し、続いて、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下において、前記被解析対象セルに前記減光板と同一の減光板を被覆した第2減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第2非減光モジュールI−V特性とを測定し、第2非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第2推定モジュールI−V特性を算出し、さらに、前記第2の放射照度より放射照度を低減させた第3の放射照度の光照射下において、前記被解析対象セルに前記減光板と同一の減光板を被覆した第3減光モジュールI−V特性と減光板を被覆しない第3非減光モジュールI−V特性とを測定し、第3非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第3推定モジュールI−V特性を算出し、第2減光モジュールI−V特性と第2推定モジュールI−V特性の交点と、第3減光モジュールI−V特性と第3推定モジュールI−V特性の交点の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での電流値Idを補正用電流として、第1減光モジュールI−V特性上で交点電流値に前記電流値Idだけ移動した電流値の点を通るように第1推定モジュールI−V特性の電圧に対してのみ係数を掛けて修正・推定モジュールI−V特性を求め、同一電流値に対して第1減光モジュールI−V特性の電圧値から修正・推定モジュールI−V特性の電圧値を減じて得たI−V特性に、入射放射照度について減光板減光率で割戻すことにより、第1の放射照度下におけるi個の被解析対象セルのI−V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法。
- n個のモジュールを直列接続した太陽電池アレイにおいて、第1の放射照度の光照射下において、任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象モジュールに減光板を被覆した第1減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第1非減光アレイI−V特性とを測定し、第1非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第1推定アレイI−V特性を算出し、続いて、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下において、前記被解析対象モジュールに前記減光板と同一の減光板を被覆した第2減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第2非減光アレイI−V特性とを測定し、第2非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第2推定アレイI−V特性を算出し、第1減光アレイI−V特性と第1推定アレイI−V特性の交点と、第2減光アレイI−V特性と第2推定アレイI−V特性の交点の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での電流値Idを補正用電流とし、第1減光アレイI−V特性上で交点電流値に前記電流値Idだけ移動した電流値の点を通るように第1推定アレイI−V特性を電圧軸に沿って平行移動させて修正・推定アレイI−V特性を求め、同一電流値に対して第1減光アレイI−V特性の電圧値から修正・推定アレイI−V特性の電圧値を減じて得たI−V特性に、入射放射照度について減光板減光率で割戻すことにより、第1の放射照度下におけるi個の被解析対象モジュールのI−V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法。
- n個のモジュールを直列接続した太陽電池アレイにおいて、第1の放射照度の光照射下において、任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象モジュールに減光板を被覆した第1減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第1非減光アレイI−V特性とを測定し、第1非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第1推定アレイI−V特性を算出し、続いて、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下において、前記被解析対象モジュールに前記減光板と同一の減光板を被覆した第2減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第2非減光アレイI−V特性とを測定し、第2非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第2推定アレイI−V特性を算出し、第1減光アレイI−V特性と第1推定アレイI−V特性の交点と、第2減光アレイI−V特性と第2推定アレイI−V特性の交点の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での電流値Idを補正用電流とし、第1減光アレイI−V特性上で交点電流値に前記電流値Idだけ移動した電流値の点を通るように第1推定アレイI−V特性の電圧に対してのみ係数を掛けて修正・推定アレイI−V特性を求め、同一電流値に対して第1減光アレイI−V特性の電圧値から修正・推定アレイI−V特性の電圧値を減じて得たI−V特性に、入射放射照度について減光板減光率で割戻すことにより、第1の放射照度下におけるi個の被解析対象モジュールのI−V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法。
- n個のモジュールを直列接続した太陽電池アレイにおいて、第1の放射照度の光照射下において、任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象モジュールに減光板を被覆した第1減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第1非減光アレイI−V特性とを測定し、第1非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第1推定アレイI−V特性を算出し、続いて、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下において、前記被解析対象モジュールに前記減光板と同一の減光板を被覆した第2減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第2非減光アレイI−V特性とを測定し、第2非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第2推定アレイI−V特性を算出し、さらに、前記第2の放射照度より放射照度を低減させた第3の放射照度の光照射下において、前記被解析対象モジュールに前記減光板と同一の減光板を被覆した第3減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第3非減光アレイI−V特性とを測定し、第3非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第3推定アレイI−V特性を算出して、第2減光アレイI−V特性と第2推定アレイI−V特性の交点と、第3減光アレイI−V特性と第3推定アレイI−V特性の交点の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での電流値Idを補正用電流として、第1減光アレイI−V特性上で交点電流値に前記電流値Idだけ移動した電流値の点を通るように第1推定アレイI−V特性を電圧軸に沿って平行移動させて修正・推定アレイI−V特性を求め、同一電流値に対して第1減光アレイI−V特性の電圧値から修正・推定アレイI−V特性の電圧値を減じて得たI−V特性に、入射放射照度について減光板減光率で割戻すことにより、第1の放射照度下におけるi個の被解析対象モジュールのI−V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法。
- n個のモジュールを直列接続した太陽電池アレイにおいて、第1の放射照度の光照射下において、任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象モジュールに減光板を被覆した第1減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第1非減光アレイI−V特性とを測定し、第1非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第1推定アレイI−V特性を算出し、続いて、放射照度を大幅に低減させた第2の放射照度の光照射下において、前記被解析対象モジュールに前記減光板と同一の減光板を被覆した第2減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第2非減光アレイI−V特性とを測定し、第2非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第2推定アレイI−V特性を算出し、さらに、前記第2の放射照度より放射照度を低減させた第3の放射照度の光照射下において、前記被解析対象モジュールに前記と同一の減光板を被覆した第3減光アレイI−V特性と減光板を被覆しない第3非減光アレイI−V特性とを測定し、第3非減光アレイI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た第3推定アレイI−V特性を算出し、第2減光アレイI−V特性と第2推定アレイI−V特性の交点と、第3減光アレイI−V特性と第3推定アレイI−V特性の交点の、2つの交点から求まる電流値を、放射照度と電流値の比例関係で表し、該比例関係における放射照度零での電流値Idを補正用電流として、第1減光アレイI−V特性上で交点電流値に前記電流値Idだけ移動した電流値の点を通るように第1推定アレイI−V特性の電圧に対してのみ係数を掛けて修正・推定アレイI−V特性を求め、同一電流値に対して第1減光アレイI−V特性の電圧値から修正・推定アレイI−V特性の電圧値を減じて得たI−V特性に、入射放射照度について減光板減光率で割戻すことにより、第1の放射照度下におけるi個の被解析対象モジュールのI−V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法。
- 前記被解析対象のI−V特性を得るための放射照度は、迷光分の補正がなされたものであることを特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれか1つの請求項に記載の太陽電池の特性評価方法。
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