JP4664778B2 - Chestnut quality inspection method - Google Patents

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本発明は、栗のうちイガを取り除いた果実に内部欠陥があるか否かを非破壊・非接触で検査する方法に関するものである。   The present invention relates to a method for inspecting non-destructively and non-contactingly whether or not a fruit from which chestnuts have been removed has an internal defect.

栗の果実は、食用となる果肉と、当該果肉の表面を覆う内皮としての渋皮と、この渋皮を外側から覆う外皮としての鬼皮とにより構成されている。果肉の表面には外皮の頭(先端の尖った部位)から座(底側のざらついた部位)に向けて延びる溝や凹凸がある。溝には渋皮が食い込んで厚みのあるスジになっている。   Chestnut fruit is composed of edible pulp, astringent skin as the inner skin that covers the surface of the pulp, and demon skin as an outer skin that covers the astringent skin from the outside. On the surface of the pulp, there are grooves and irregularities that extend from the head of the outer skin (the pointed point) to the seat (the rough part on the bottom side). The astringent skin bites into the groove, making it a thick stripe.

栗の果実に虫食い等の内部欠陥があるか否かを検査する方法としては、果実にX線を照射して、果実を透過したX線像を撮像し、撮像にて得られた透過画像情報から果実に相当する領域を特定し、この果実に相当する領域内に、当該領域の画素と濃度が異なる孤立領域が存在するか否かにより、果実における内部欠陥(空洞)の有無を、当該果実を破壊することなく判断するというものが知られている(例えば特許文献1等参照)。   As a method for inspecting whether or not the chestnut fruit has an internal defect such as worm-eaten, the fruit is irradiated with X-rays, an X-ray image transmitted through the fruit is imaged, and transmission image information obtained by the imaging The region corresponding to the fruit is identified, and the presence or absence of an internal defect (cavity) in the fruit is determined depending on whether or not there is an isolated region having a density different from the pixel of the region in the region corresponding to the fruit. It is known to judge without destroying (for example, see Patent Document 1).

X線が果実を透過すると、当該X線強度は物質との相互作用(光電吸収やコンプトン散乱等)により減弱される。この減弱の割合はX線が果実を透過した距離に比例する。果実の内部に欠陥(空洞)があれば、この欠陥箇所は果肉の箇所に比べてX線を透過させ易くなるので、透過画像情報における欠陥箇所に対応する領域はモニタ等の画面に白又は灰色っぽく(高濃度画素で)表示される。一方、透過画像情報における果実に相当する領域は黒っぽく(低濃度画素で)表示される。従来の方法は、かかる濃淡差を利用して、果実の内部欠陥の有無を判断するものであった。
特開2004−181432号公報
When X-rays pass through the fruit, the X-ray intensity is attenuated by the interaction with the substance (photoelectric absorption, Compton scattering, etc.). The rate of attenuation is proportional to the distance that X-rays have passed through the fruit. If there is a defect (cavity) inside the fruit, this defect part is more likely to transmit X-rays than the pulp part, so the area corresponding to the defect part in the transmission image information is white or gray on the screen of a monitor or the like. It is displayed in color (with high density pixels). On the other hand, the region corresponding to the fruit in the transmission image information is displayed in black (with low density pixels). The conventional method is to determine the presence or absence of an internal defect of a fruit using such a difference in shade.
JP 2004-181432 A

しかし、前記従来の方法では、果肉表面の溝に食い込んだ渋皮のスジをX線が透過すると、透過画像情報において当該スジに相当する領域がモニタ等の画面に白又は灰色っぽく表示されることがある。このため、果実の内部に欠陥が存在しないにも拘らず、かかるスジを内部欠陥と誤認するおそれがあり、栗の果実の内部品質を適正に検査することができないという問題があった。   However, in the above-described conventional method, when X-rays pass through the stripes of the astringent skin that have digged into the grooves on the pulp surface, the area corresponding to the stripes in the transmitted image information may be displayed white or grayish on the screen of a monitor or the like. is there. For this reason, although there is no defect inside the fruit, there is a possibility that such a streak may be misidentified as an internal defect, and the internal quality of the chestnut fruit cannot be properly inspected.

そこで、本発明は以上のような現状を改善することを技術的課題とするものである。   Therefore, the present invention has a technical problem to improve the above-described present situation.

この技術的課題を解決するため、請求項1の発明に係る栗の品質検査方法は、栗の果実に電磁波を照射して、前記果実を透過した電磁波像を撮像する撮像工程と、前記撮像にて得られた透過画像情報を複数の平滑化フィルタにて平滑化処理して、各々の平滑化画像情報から果実領域を特定する平滑化工程と、任意の1つの前記平滑化された果実領域とこれ以外の前記平滑化された果実領域とを差分演算して、当該差分演算にて抽出された各抽出領域を第1次欠陥候補領域として特定する差分工程と、前記透過画像情報を二値化処理して、この二値化画像情報から果実領域を特定する二値化工程と、前記二値化された果実領域における低濃度画素に囲まれた高濃度画素の各孤立領域を第2次欠陥候補領域として、当該各第2次欠陥候補領域の面積を求める面積算出工程と、前記第1次欠陥候補領域と対応関係にある前記第2次欠陥候補領域の面積が予め設定された設定面積の範囲外であれば、前記互いに対応関係にある第1及び第2欠陥候補領域は前記果実の内部欠陥に当たると判断する第1判断工程と、を備えているというものである。   In order to solve this technical problem, the chestnut quality inspection method according to the invention of claim 1 includes an imaging step of irradiating the chestnut fruit with electromagnetic waves and imaging an electromagnetic wave image transmitted through the fruit, and the imaging. A smoothing step of smoothing the transmission image information obtained by a plurality of smoothing filters to identify a fruit region from each of the smoothed image information, and any one of the smoothed fruit regions The difference process of calculating the difference between the smoothed fruit regions other than this and specifying each extracted region extracted by the difference calculation as a primary defect candidate region, and binarizing the transmission image information A binarization step of processing and identifying the fruit region from the binarized image information, and each isolated region of the high density pixel surrounded by the low density pixel in the binarized fruit region is a second defect. As a candidate area, the surface of each secondary defect candidate area If the area of the second defect candidate region corresponding to the first defect candidate region is outside the range of the preset area, the first corresponding to each other. And the second defect candidate area includes a first determination step for determining that the defect area corresponds to an internal defect of the fruit.

請求項2の発明は、請求項1に記載した栗の品質検査方法において、前記第1判断工程で内部欠陥と判断された果実以外のものにおける前記各第2次欠陥候補領域について、前記果実における頭から座に向かう縦軸方向に沿った縦長さ、及び前記縦軸方向に直交する横軸方向に沿った横長さを測定する長さ測定工程と、前記縦長さの前記横長さに対する縦横比を求める縦横比算出工程と、前記第1判断工程で内部欠陥と判断された果実以外の果実における前記第2次欠陥候補領域の前記縦横比が予め設定された設定縦横比の範囲外か、又は前記第2次欠陥候補領域の前記横長さが予め設定された設定横長さより大きいならば、前記第2次欠陥候補領域は前記果実の内部欠陥に当たると判断する第2判断工程と、をさらに備えているというものである。   According to a second aspect of the present invention, in the chestnut quality inspection method according to the first aspect, in each of the second defect candidate regions other than the fruit determined to be an internal defect in the first determination step, in the fruit A length measuring step for measuring a vertical length along the vertical axis direction from the head to the seat and a horizontal length along the horizontal axis direction orthogonal to the vertical axis direction, and an aspect ratio of the vertical length to the horizontal length. The aspect ratio calculation step to be obtained and the aspect ratio of the second defect candidate region in the fruit other than the fruit determined to be an internal defect in the first determination step is out of a preset aspect ratio range, or the And a second determination step of determining that the second defect candidate area corresponds to an internal defect of the fruit if the horizontal length of the secondary defect candidate area is greater than a preset horizontal length. something like A.

請求項1の発明に係る栗の品質検査方法によると、撮像工程→平滑化工程→差分工程→二値化工程→面積算出工程を経たのち、第1判断工程において、前記差分工程にて得られた第1次欠陥候補領域と、前記二値化工程にて得られた第2次欠陥候補領域との対応関係を把握して、前記第1次欠陥候補領域に対応する前記第2次欠陥候補領域の面積が予め設定された設定面積の範囲外であれば、前記互いに対応関係にある第1及び第2欠陥候補領域は前記果実の内部欠陥に当たると判断されるから、前記設定面積の範囲内の面積を有する第1次及び第2次欠陥候補領域、すなわち、前記撮像工程にて得られた透過画像情報に表れるスジの領域を内部欠陥と誤認することがなくなる。従って、前記果実における内部欠陥と渋皮のスジとを従来の方法よりも高い精度で弁別できることになり、検査ミス(判別ミス)の発生を大幅に低減できるという効果を奏する。   According to the chestnut quality inspection method according to the invention of claim 1, after the imaging process → smoothing process → difference process → binarization process → area calculation process, the first determination process obtains the difference process. The second defect candidate corresponding to the first defect candidate area is obtained by grasping the correspondence relationship between the first defect candidate area and the second defect candidate area obtained in the binarization step. If the area of the region is out of the range of the preset set area, the first and second defect candidate regions corresponding to each other are determined to correspond to the internal defect of the fruit. The first and second defect candidate areas having the above-described area, that is, the streak areas appearing in the transmission image information obtained in the imaging process are not mistaken as internal defects. Therefore, it is possible to discriminate between internal defects and astringent lines in the fruit with higher accuracy than in the conventional method, and it is possible to greatly reduce the occurrence of inspection errors (discrimination errors).

また、請求項2の発明に係る栗の品質検査方法によると、前記各第2次欠陥候補領域について、前記果実における頭から座に向かう縦軸方向に沿った縦長さ、及び前記縦軸方向に直交する横軸方向に沿った横長さを測定し、次いで、前記縦長さの前記横長さに対する縦横比を求めてから、前記第1判断工程で内部欠陥と判断された果実以外の果実における前記第2次欠陥候補領域の前記縦横比が予め設定された設定縦横比の範囲外か、又は前記第2次欠陥候補領域の前記横長さが予め設定された設定横長さより大きいならば、前記第2次欠陥候補領域は前記果実の内部欠陥に当たると判断されるから、前記第1判断工程だけでは見つけにくい内部欠陥、すなわち、スジと同程度の大きさ(面積)の内部欠陥や、前記果実における外周寄りの部位にある内部欠陥を、渋皮のスジと区別した上で確実に見つけ出すことができる。従って、前記果実における内部欠陥と渋皮のスジとを見極める精度が更に向上するという効果を奏する。   Moreover, according to the chestnut quality inspection method according to the invention of claim 2, for each of the second defect candidate regions, the longitudinal length along the vertical axis direction from the head to the seat in the fruit, and the vertical axis direction After measuring the horizontal length along the direction of the transverse axis perpendicular to each other, and then determining the aspect ratio of the vertical length to the horizontal length, the first in the fruit other than the fruit determined to be an internal defect in the first determination step If the aspect ratio of the secondary defect candidate area is out of a preset set aspect ratio, or if the lateral length of the secondary defect candidate area is larger than the preset set lateral length, the secondary Since it is determined that the defect candidate area corresponds to an internal defect of the fruit, an internal defect that is difficult to find only by the first determination step, that is, an internal defect having the same size (area) as a streak, or near the outer periphery of the fruit Part of Internal defects in, can be found reliably after having distinguished from streaks of astringent skin. Therefore, there is an effect of further improving the accuracy of identifying internal defects and streaks in the fruit.

以下に、本発明を具体化した実施形態を図面(図1〜図25)に基づいて説明する。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Embodiments embodying the present invention will be described below with reference to the drawings (FIGS. 1 to 25).

図1は栗の品質検査装置を示す概略側面図、図2は制御手段としてのコントローラの機能ブロック図、図3は果実の内部欠陥を判別する手順を示すフローチャート、図4は第1実施形態における透過画像情報を示す画面の説明図、図5(a)〜(c)は平滑化画像情報を示す画面の説明図、図6は透過画像情報に対する平滑化処理の説明図、図7(a)(b)は差分画像情報を示す画面の説明図、図8は二値化画像情報を示す画面の説明図、図9はラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図、図10は第2実施形態における透過画像情報を示す画面の説明図、図11(a)〜(c)は平滑化画像情報を示す画面の説明図、図12(a)(b)は差分画像情報を示す画面の説明図、図13は二値化画像情報を示す画面の説明図、図14はラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図、図15は第3実施形態における透過画像情報を示す画面の説明図、図16(a)〜(c)は平滑化画像情報を示す画面の説明図、図17(a)(b)は差分画像情報を示す画面の説明図、図18は二値化画像情報を示す画面の説明図、図19はラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図、図20は第4実施形態におけるラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図、図21は第5実施形態における判別手順を示すフローチャート、図22は透過画像情報を示す画面の説明図、図23は二値化画像情報を示す画面の説明図、図24はラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図、図25は判断工程の手順を示すフローチャートである。   FIG. 1 is a schematic side view showing a chestnut quality inspection apparatus, FIG. 2 is a functional block diagram of a controller as a control means, FIG. 3 is a flowchart showing a procedure for discriminating internal defects of fruits, and FIG. FIGS. 5A to 5C are explanatory diagrams of a screen showing smoothed image information, FIG. 6 is an explanatory diagram of a smoothing process for transparent image information, and FIG. 7A. (B) is an explanatory diagram of a screen showing difference image information, FIG. 8 is an explanatory diagram of a screen showing binarized image information, FIG. 9 is an explanatory diagram of a screen showing labeled image information, and FIG. FIGS. 11A to 11C are explanatory diagrams of screens showing smoothed image information, and FIGS. 12A and 12B are screens showing difference image information. FIG. 13 is an explanatory diagram of a screen showing binarized image information, and FIG. FIG. 15 is an explanatory diagram of a screen showing transparent image information in the third embodiment, and FIGS. 16A to 16C are explanatory diagrams of screens showing smoothed image information. 17A and 17B are explanatory diagrams of a screen showing difference image information, FIG. 18 is an explanatory diagram of a screen showing binarized image information, and FIG. 19 is an explanatory diagram of a screen showing labeled image information. FIG. 20 is an explanatory diagram of a screen showing labeled image information in the fourth embodiment, FIG. 21 is a flowchart showing a determination procedure in the fifth embodiment, and FIG. 22 is an explanatory diagram of a screen showing transparent image information, FIG. 23 is an explanatory diagram of a screen showing binarized image information, FIG. 24 is an explanatory diagram of a screen showing labeled image information, and FIG. 25 is a flowchart showing a procedure of a determination process.

<品質検査装置の概略>
図1に示すように、栗の品質検査装置1は、栗のうちイガを取り除いた果実Cを適宜ピッチの間隔で一列状に並べて搬送する搬送コンベヤライン2と、当該搬送コンベヤライン2を挟んだ上下箇所で相対向するように配置された電磁波照射器3及び電磁波撮像器4と、搬送コンベヤライン2における電磁波照射器3との対峙箇所に果実Cが存在するか否かを検出する位置検出センサ5と、搬送コンベヤライン2における電磁波照射器3及び電磁波撮像器4よりも下流側に配置された送風機6と、搬送コンベヤライン2の駆動を制御したり、電磁波照射器3、電磁波撮像器4及び位置検出センサ5からの制御データに基づいて各種画像処理を実行したりする制御手段としてのコントローラ7とを備えている。
<Outline of quality inspection equipment>
As shown in FIG. 1, the chestnut quality inspection apparatus 1 sandwiches the transport conveyor line 2 that transports the fruits C from which chestnuts are removed in a row at an appropriate pitch interval, and the transport conveyor line 2. A position detection sensor for detecting whether or not a fruit C exists at a place where the electromagnetic wave irradiator 3 and the electromagnetic wave image pickup device 4 arranged so as to face each other at the upper and lower parts and the electromagnetic wave irradiator 3 in the transport conveyor line 2 are present. 5, the blower 6 disposed on the downstream side of the electromagnetic wave irradiator 3 and the electromagnetic wave image pickup device 4 in the transfer conveyor line 2, and the drive of the transfer conveyor line 2, the electromagnetic wave irradiation device 3, the electromagnetic wave image pickup device 4, and A controller 7 is provided as control means for executing various image processing based on control data from the position detection sensor 5.

この例では、電磁波照射器3として、その下方に位置する搬送コンベヤライン2上の果実Cに、電磁波の1つであるX線を照射するX線照射器13が採用されている。電磁波撮像器4としては、果実Cを透過したX線像を撮像して、この撮像にて得られた透過画像情報をコントローラ7に向けて出力するX線撮像器14が採用されている。位置検出センサ5は光(赤外線)、超音波又は静電容量型等の近接センサである。   In this example, the X-ray irradiator 13 that irradiates the fruit C on the transport conveyor line 2 positioned below the X-ray that is one of the electromagnetic waves is employed as the electromagnetic wave irradiator 3. As the electromagnetic wave image pickup device 4, an X-ray image pickup device 14 that picks up an X-ray image transmitted through the fruit C and outputs transmission image information obtained by the image pickup to the controller 7 is employed. The position detection sensor 5 is a proximity sensor such as light (infrared ray), ultrasonic wave, or capacitive type.

実施形態の品質検査装置1においては、搬送コンベヤライン2の駆動によりX線照射器13の下方に果実Cが到来したことを、位置検出センサ5が感知したときに、X線照射器13からその下方の果実Cに向けてX線を照射して、この果実Cを透過したX線像をX線撮像器14で撮像し、この撮像にて得られた透過画像情報(図4参照)をX線撮像器14からコントローラ7に伝送するように構成されている。そして、当該品質検査装置1は、後述する画像処理の結果、コントローラ7が内部欠陥ありと判断した果実Cを、送風機6からの選別風にて搬送コンベヤライン2上から取り除くように構成されている。   In the quality inspection apparatus 1 of the embodiment, when the position detection sensor 5 senses that the fruit C has arrived below the X-ray irradiator 13 by driving the transport conveyor line 2, the X-ray irradiator 13 The X-ray image which permeate | transmitted this fruit C by irradiating X-ray | X_line toward the downward fruit C is imaged with the X-ray imaging device 14, The transmission image information (refer FIG. 4) obtained by this imaging is X Transmission from the line imager 14 to the controller 7 is performed. And the said quality inspection apparatus 1 is comprised so that the fruit C which the controller 7 judged to have an internal defect as a result of the image process mentioned later may be removed from the conveyance conveyor line 2 with the selection wind from the air blower 6. .

コントローラ7は、画像処理等のための各種演算を実行する中央処理装置8(CPU)のほか、制御プログラムを記憶した読出し専用メモリ9(ROM)、各種データを記憶させるための随時読み書き可能メモリ10(RAM)、計時用のタイマ、及び入出力インターフェース等を備えている(図2参照)。   The controller 7 includes a central processing unit 8 (CPU) that executes various operations for image processing and the like, a read only memory 9 (ROM) that stores a control program, and an arbitrarily read / writeable memory 10 that stores various data. (RAM), a timer for timing, an input / output interface, and the like (see FIG. 2).

コントローラ7の入出力インターフェイスには、前述のX線照射器13、X線撮像器14、位置検出センサ5及び送風機6のほか、搬送コンベヤライン2を駆動させるためのコンベヤ駆動回路11、品質検査装置1全体の電源を入り切り操作するメインスイッチやキーボード等を有する入力器12、並びに液晶モニタ等の表示器15等がそれぞれ接続されている。   The input / output interface of the controller 7 includes the X-ray irradiator 13, the X-ray imager 14, the position detection sensor 5 and the blower 6, a conveyor drive circuit 11 for driving the conveyor belt 2, and a quality inspection device. 1 is connected to an input device 12 having a main switch, a keyboard and the like for turning on and off the entire power supply, and a display device 15 such as a liquid crystal monitor.

<内部欠陥判別手順の説明>
次に、前述の品質検査装置1を用いて、果実Cの内部欠陥を判別する手順(画像処理)の例について説明する。
<Description of internal defect determination procedure>
Next, an example of a procedure (image processing) for determining an internal defect of the fruit C using the above-described quality inspection apparatus 1 will be described.

図3(a)のフローチャートに示すように、第1実施形態における果実Cの内部欠陥の判別手順は、撮像工程(ステップS1)→平滑化工程(ステップS2)→差分工程(ステップS3)→二値化工程(ステップS4)→面積算出工程(ステップS5)→第1判断工程(ステップS6)という順序で実行される。   As shown in the flowchart of FIG. 3A, the procedure for determining the internal defect of the fruit C in the first embodiment is as follows: imaging step (step S1) → smoothing step (step S2) → difference step (step S3) → second. It is executed in the order of the valuation process (step S4) → the area calculation process (step S5) → the first determination process (step S6).

<第1実施形態>
まずは、図3〜図9を参照しながら、中央部付近に2箇所の内部欠陥がある果実Cを検査する第1実施形態について説明する。
<First Embodiment>
First, a first embodiment for inspecting a fruit C having two internal defects near the center will be described with reference to FIGS.

[撮像工程] ステップS1の撮像工程においては、搬送コンベヤライン2の駆動によりX線照射器13の下方に果実Cが到着すると、この事実を位置検出センサ5が感知し、当該検出データに基づいてX線照射器13が果実Cに向けてX線を照射する。そして、果実Cの下方に位置するX線撮像器14が果実Cを透過したX線像を撮像する。この撮像にて得られた透過画像情報は、X線撮像器14からコントローラ7に伝送され、当該コントローラ7内のRAM10に記憶される。   [Imaging Process] In the imaging process of step S1, when the fruit C arrives below the X-ray irradiator 13 by driving the conveyor belt 2, the position detection sensor 5 senses this fact, and based on the detected data. The X-ray irradiator 13 irradiates the fruit C with X-rays. Then, the X-ray imager 14 located below the fruit C captures an X-ray image transmitted through the fruit C. Transmission image information obtained by this imaging is transmitted from the X-ray imaging device 14 to the controller 7 and stored in the RAM 10 in the controller 7.

ところで、搬送コンベヤライン2上の各果実Cは、その胴部を搬送コンベヤライン2の上面に当接させた状態で寝転んでいる。そして、各果実Cにおける頭(先端の尖った部位)の向きは四方八方ばらばらになっている。そこで、表示器15の画面には、果実Cにおける頭から座に向かう方向をY軸(縦軸)方向とし、このY軸(縦軸)方向に直交する方向をX座標として、果実Cの頭が画面の上側に位置するように、果実Cに関する画像情報を修正する。   By the way, each fruit C on the transport conveyor line 2 lies down in a state where its body part is in contact with the upper surface of the transport conveyor line 2. And the direction of the head (part with a sharp tip) in each fruit C is scattered in all directions. Therefore, on the screen of the display 15, the direction from the head to the seat in the fruit C is defined as the Y-axis (vertical axis) direction, and the direction orthogonal to the Y-axis (vertical axis) direction is defined as the X coordinate. The image information regarding the fruit C is corrected so that is positioned on the upper side of the screen.

図4は表示器15における果実Cの透過画像情報を示す画面の説明図である。図中の斜線部が果実Cに相当する領域17(以下、果実領域という)を示している。果実領域17において点線で囲まれた白抜き部のうちY軸(縦軸)方向に略沿って縦長のものは、果実Cにおける渋皮のスジに相当する領域18(以下、スジ領域という)を示している。その他の白抜き部は、実際の内部欠陥に相当する領域19(以下、欠陥領域という)を示している。   FIG. 4 is an explanatory diagram of a screen showing the transmission image information of the fruit C on the display 15. A hatched portion in the figure indicates a region 17 (hereinafter referred to as a fruit region) corresponding to the fruit C. In the fruit region 17, a vertically long portion substantially along the Y-axis (vertical axis) direction surrounded by a dotted line indicates a region 18 (hereinafter, referred to as a streak region) corresponding to the astringent skin streak in the fruit C. ing. Other white portions indicate a region 19 (hereinafter referred to as a defective region) corresponding to an actual internal defect.

なお、説明の便宜上、図面においては、スジ領域18に対して図面の左側から順に符号a,b,cを添えている。同様に、欠陥領域19には、図面の左側から順に符号a,bを添えている。   For convenience of explanation, in the drawing, reference numerals a, b, and c are attached to the stripe region 18 in order from the left side of the drawing. Similarly, the defect area 19 is provided with symbols a and b in order from the left side of the drawing.

透過画像情報は表示器15の画面上では濃淡で表される。この場合、果肉が詰まった果実領域17は、スジ領域18や欠陥領域19と比較してX線が透過し難いため、当該果実領域17は表示器15の画面に低い濃度で黒っぽく表示される。スジ領域18及び欠陥領域19は果実領域17よりも高い濃度で白又は灰色っぽく表示される。   The transmitted image information is represented by shading on the screen of the display 15. In this case, the fruit region 17 filled with pulp is less likely to transmit X-rays compared to the streak region 18 and the defective region 19, so that the fruit region 17 is displayed darkly on the screen of the display 15. The streak area 18 and the defect area 19 are displayed in white or grayish at a higher density than the fruit area 17.

[平滑化工程]
ステップS2の平滑化工程においては、コントローラ7内のRAM10に記憶された透過画像情報に対して、複数(実施形態では3つ)の平滑化フィルタMを用いて平滑化処理の一例である移動平均処理を行うことにより、複数(実施形態では3つ)の平滑化画像情報を作成し、各々の平滑化画像情報から平滑化された果実領域21(以下、平滑化果実領域という)を特定する(図5(a)〜(c)参照)。
[Smoothing process]
In the smoothing process of step S2, a moving average which is an example of a smoothing process using a plurality of (three in the embodiment) smoothing filters M is applied to the transmission image information stored in the RAM 10 in the controller 7. By performing the processing, a plurality (three in the embodiment) of smoothed image information is created, and a smoothed fruit region 21 (hereinafter referred to as a smoothed fruit region) is specified from each smoothed image information ( (Refer FIG. 5 (a)-(c)).

ここで、移動平均処理とは、例えば透過画像情報を構成する各画素の濃度を、任意の1画素PIを中心とするN×N画素の平滑化フィルタMの平均濃度に置き換える処理のことをいう(図6参照、図6では3×3画素の平滑化フィルタMを示す)。なお、第1実施形態の平滑化フィルタMは、各画素の濃度を、任意の1画素PIを中心とするN×N画素の平滑化フィルタMの平均濃度に置き換える単純平均フィルタであるが、これ以外に、メディアンフィルタ、最大値/最小値フィルタやオープニング/クロージングフィルタ等を採用してもよい。   Here, the moving average process refers to, for example, a process of replacing the density of each pixel constituting the transmission image information with the average density of the smoothing filter M of N × N pixels centering on an arbitrary pixel PI. (See FIG. 6, FIG. 6 shows a 3 × 3 pixel smoothing filter M). The smoothing filter M of the first embodiment is a simple average filter that replaces the density of each pixel with the average density of the smoothing filter M of N × N pixels centered on an arbitrary pixel PI. In addition, a median filter, a maximum / minimum value filter, an opening / closing filter, or the like may be employed.

図5(a)〜(c)は平滑化画像情報を示す画面の説明図である。第1実施形態で用いた3つの平滑化フィルタMは、次数Nの値をそれぞれ異ならせたものである。次数Nの値が大きいほど、フィルタテーブルが大きくなって平滑化画像情報の平滑度が高くなる(ノイズが小さくなる)ものの、平滑化画像情報全体が軟調化する(ぼけたものになる)傾向にある。   FIGS. 5A to 5C are explanatory diagrams of screens showing smoothed image information. The three smoothing filters M used in the first embodiment have different values of the order N. As the value of the order N is larger, the filter table becomes larger and the smoothness of the smoothed image information becomes higher (noise becomes smaller), but the entire smoothed image information tends to become soft (become blurred). is there.

次数Nの値が大きい平滑化フィルタMは、透過画像情報から大きいサイズ(面積)の欠陥領域19(スジ領域18を含む)を平滑化して抽出するのに有効であるが、小さいサイズの欠陥領域19を抽出し難い(平滑化画像情報中から失い易い)。逆に、次数Nの値が小さい平滑化フィルタMは、透過画像情報から小さいサイズの欠陥領域19を平滑化して抽出するのに有効であるものの、大きいサイズの欠陥領域19を抽出し難いという特徴がある。   The smoothing filter M having a large value of the order N is effective for smoothing and extracting a large size (area) defect region 19 (including the streak region 18) from the transmission image information. 19 is difficult to extract (easily lost from the smoothed image information). On the contrary, the smoothing filter M having a small value of the order N is effective for smoothing and extracting the defect area 19 having a small size from the transmission image information, but is difficult to extract the defect area 19 having a large size. There is.

各平滑化画像情報における平滑化フィルタMの次数Nは、図番に付記されたアルファベット順に、N=N1,N2,N3(N1〜N3はいずれも整数)となっている。これらの次数はN1>N2>N3の関係にある。従って、詳細は図示していないが、図5(a)〜(c)の画面に示す平滑化画像情報は、(c)→(b)→(a)の順にノイズが小さくなり、濃度変化が滑らかになっている。   The order N of the smoothing filter M in each smoothed image information is N = N1, N2, N3 (N1 to N3 are all integers) in alphabetical order attached to the figure numbers. These orders have a relationship of N1> N2> N3. Accordingly, although not shown in detail, the smoothed image information shown in the screens of FIGS. 5A to 5C has a noise that decreases in the order of (c) → (b) → (a), and there is a change in density. It is smooth.

また、平滑化フィルタMの次数N同士の関係から明らかなように、図5(c)の画面には、平滑化果実領域21c内に、大きいサイズの平滑化欠陥領域23a及び平滑化スジ領域22aが表示されている。図5(b)の画面には、平滑化果実領域21b内に、小さいサイズの平滑化欠陥領域23b及び平滑化スジ領域22b,22cが表示されている。図5(a)の画面には、次数N=N1が大き過ぎたために、高濃度の画素まで平滑化して平滑化欠陥領域23及び平滑化スジ領域22をともに失った平滑化果実領域21aが表示されている。この図5(a)の画面は、空洞のない正常な果実Cの平滑化画像情報を表示した状態と同じである。   Further, as is clear from the relationship between the orders N of the smoothing filter M, the screen of FIG. 5C has a smoothed defect area 23a and a smoothed streak area 22a of a large size in the smoothed fruit area 21c. Is displayed. On the screen of FIG. 5B, a smoothed defect area 23b and smoothed streak areas 22b and 22c having a small size are displayed in the smoothed fruit area 21b. The screen of FIG. 5A displays a smoothed fruit region 21a that has been smoothed to a high density pixel and has lost both the smoothed defect region 23 and the smoothed streak region 22 because the order N = N1 is too large. Has been. The screen of FIG. 5A is the same as the state in which the smoothed image information of the normal fruit C without a cavity is displayed.

[差分工程]
ステップS3の差分工程においては、任意の1つの平滑化果実領域21(第1実施形態では図5(a)の平滑化果実領域21a)と、これ以外の平滑化果実領域21との差分を演算することにより、平滑化画像情報の個数よりも1つ少ない個数(第1実施形態では3つ)の差分画像情報を作成し、これら各差分画像情報のうち差分演算にて抽出された抽出領域(図7(a)(b)の黒塗り部参照)を、実際の内部欠陥に該当する可能性のある第1次欠陥候補領域24として特定する。
[Difference process]
In the difference step of step S3, the difference between any one smoothed fruit region 21 (smoothed fruit region 21a in FIG. 5A in the first embodiment) and the other smoothed fruit regions 21 is calculated. By doing this, the number of pieces of difference image information that is one less than the number of pieces of smoothed image information (three in the first embodiment) is created, and the extracted area (the extracted region extracted by the difference calculation) among these pieces of difference image information ( 7 (a) and 7 (b) are identified as primary defect candidate regions 24 that may correspond to actual internal defects.

第1実施形態では、図5(a)に示す平滑化果実領域21aから図5(b)に示す平滑化果実領域21bを減算することにより、図7(a)の画面に示す差分画像情報が得られる。図7(a)に対応する差分画像情報には、差分値(濃度差)の大きい領域、すなわち平滑化欠陥領域23b及び平滑化スジ領域22b,22cに相当する領域だけが抽出されて残っている。これらの抽出領域が第1次欠陥候補領域24c,24d,24eとして特定されている。   In the first embodiment, by subtracting the smoothed fruit region 21b shown in FIG. 5 (b) from the smoothed fruit region 21a shown in FIG. 5 (a), the difference image information shown in the screen of FIG. 7 (a) is obtained. can get. In the difference image information corresponding to FIG. 7A, only the region having a large difference value (density difference), that is, the region corresponding to the smoothing defect region 23b and the smoothing streak regions 22b and 22c remains extracted. . These extraction areas are specified as primary defect candidate areas 24c, 24d, and 24e.

また、図5(a)に示す平滑化果実領域21aから図5(c)に示す平滑化果実領域21cを減算することにより、図7(b)の画面に示す差分画像情報が得られる。図7(b)に対応する差分画像情報からは、平滑化欠陥領域23a及び平滑化スジ領域22aに相当する領域が第1次欠陥候補領域24a,24bとして抽出・特定されている。   Moreover, the difference image information shown in the screen of FIG. 7B is obtained by subtracting the smoothed fruit region 21c shown in FIG. 5C from the smoothed fruit region 21a shown in FIG. From the difference image information corresponding to FIG. 7B, areas corresponding to the smoothed defect area 23a and the smoothed streak area 22a are extracted and specified as the primary defect candidate areas 24a and 24b.

[二値化工程]
ステップS4の二値化工程では、図4の画面に示す透過画像情報に対して、予め設定された所定の閾値を用いて二値化処理を行うことにより、図8の画面に示す二値化画像情報を作成し、この二値化画像情報から、二値化された果実領域25(以下、二値化果実領域という)を特定すると共に、二値化果実領域25における低濃度画素に囲まれた高濃度画素の各孤立領域(図8の白抜き部参照)を、実際の内部欠陥に該当する可能性のある第2次欠陥候補領域26として特定する。ここで、二値化処理に使用する閾値は、Pタイル法や差分ヒストグラム法等を利用して、透過画像情報におけるスジ領域18a〜18c等が二値化処理後に消失しないような小さい値を採用する。
[Binarization process]
In the binarization step of step S4, the binarization process shown in the screen of FIG. 8 is performed by performing binarization processing on the transmission image information shown in the screen of FIG. 4 using a predetermined threshold set in advance. Image information is created, and from this binarized image information, a binarized fruit region 25 (hereinafter referred to as binarized fruit region) is specified and surrounded by low density pixels in the binarized fruit region 25. Further, each isolated region of the high-density pixel (see the white area in FIG. 8) is specified as a secondary defect candidate region 26 that may correspond to an actual internal defect. Here, the threshold value used for the binarization process is a small value such that the streak areas 18a to 18c and the like in the transmission image information are not lost after the binarization process using the P tile method, the difference histogram method, or the like. To do.

図8においては図中の黒塗り部(低濃度画素の部分)が二値化果実領域25を示している。そして、二値化果実領域25における黒塗り部で囲まれた白抜きの孤立領域は第2次欠陥候補領域26である。なお、図8に示す第2次欠陥候補領域26には図面の左側から順に符号a〜eを添えている。   In FIG. 8, the black painted portion (low density pixel portion) in the figure indicates the binarized fruit region 25. A white isolated area surrounded by a black portion in the binarized fruit area 25 is a secondary defect candidate area 26. Note that the secondary defect candidate region 26 shown in FIG. 8 is appended with symbols a to e in order from the left side of the drawing.

二値化処理の後は、二値化果実領域25を構成する低濃度画素(黒塗り部)と、当該低濃度画素に囲まれた第2次欠陥候補領域26の高濃度画素(白抜き部)とに対して、所定の記号を付すラベリング処理を行うことにより、それぞれの領域25,26を二値化画像情報上で弁別する(図9参照)。第1実施形態では、二値化果実領域25を構成する低濃度画素に対してラベル「0」を、当該低濃度画素に囲まれた第2次欠陥候補領域26の高濃度画素に対して図面の左側から順にラベル「1」,「2」,「3」,「4」,「5」を付している。   After the binarization process, low density pixels (black areas) constituting the binarized fruit area 25 and high density pixels (white areas) of the secondary defect candidate area 26 surrounded by the low density pixels. ) And a labeling process to which predetermined symbols are attached, so that the respective regions 25 and 26 are discriminated on the binarized image information (see FIG. 9). In the first embodiment, the label “0” is assigned to the low density pixels constituting the binarized fruit area 25, and the high density pixels in the secondary defect candidate area 26 surrounded by the low density pixels are illustrated. The labels “1”, “2”, “3”, “4”, and “5” are attached in order from the left side of FIG.

[面積算出工程]
ステップS5の面積算出工程においては、前述のラベリング処理にてラベル付けされた各第2次欠陥候補領域26の面積Aを算出する。各第2次欠陥候補領域26の面積Aは、同一のラベルが占める画素数を加算することにより求められる。なお、図9に示す第2次欠陥候補領域26の面積Aには、説明の便宜上、図面の左側から順に符号α1,α2,α3,α4,α5を添えている。
[Area calculation process]
In the area calculation step in step S5, the area A of each secondary defect candidate region 26 labeled in the labeling process described above is calculated. The area A of each secondary defect candidate region 26 is obtained by adding the number of pixels occupied by the same label. For convenience of explanation, the area A of the secondary defect candidate region 26 shown in FIG. 9 is appended with symbols α1, α2, α3, α4, and α5 in order from the left side of the drawing.

[第1判断工程]
ステップS6の第1判断工程においては、まず、ラベリング処理が施された二値化画像情報(図9参照)と各差分画像情報(図7(a)(b)参照)とを比較して、第2次欠陥候補領域26(図9参照)毎に、これに対応する第1次欠陥候補領域24があるか否かを判別する。図7(a)(b)及び図9から明らかなように、第1実施形態の第2次欠陥候補領域26は5箇所とも、それぞれに対応する第1次欠陥候補領域24を有している。すなわち、図9の第2次欠陥候補領域26aは図7(b)の第1次欠陥候補領域24aと対応し、図9の第2次欠陥候補領域26bは図7(b)の第1次欠陥候補領域24bと対応し、図9の第2次欠陥候補領域26cは図7(a)の第1次欠陥候補領域24cと対応し、図9の第2次欠陥候補領域26dは図7(a)の第1次欠陥候補領域24dと対応し、図9の第2次欠陥候補領域26eは図7(a)の第1次欠陥候補領域24eと対応している。
[First judgment step]
In the first determination step of step S6, first, the binarized image information (see FIG. 9) subjected to the labeling process is compared with each difference image information (see FIGS. 7A and 7B). For each secondary defect candidate area 26 (see FIG. 9), it is determined whether or not there is a corresponding primary defect candidate area 24. As is apparent from FIGS. 7A, 7B, and 9, the secondary defect candidate regions 26 of the first embodiment have primary defect candidate regions 24 corresponding to the five locations, respectively. . That is, the secondary defect candidate region 26a in FIG. 9 corresponds to the primary defect candidate region 24a in FIG. 7B, and the secondary defect candidate region 26b in FIG. 9 is the primary defect candidate region 26b in FIG. 7B. 9 corresponds to the defect candidate region 24b, the second defect candidate region 26c in FIG. 9 corresponds to the first defect candidate region 24c in FIG. 7A, and the second defect candidate region 26d in FIG. Corresponding to the primary defect candidate region 24d of a), the secondary defect candidate region 26e of FIG. 9 corresponds to the primary defect candidate region 24e of FIG. 7A.

次いで、対応する第1次欠陥候補領域24を有する第2次欠陥候補領域26の面積Aが予め設定された設定面積Smin〜Smaxの範囲外にあるか否かを判別する。設定面積Smin〜Smaxの範囲は、果実Cにおける渋皮のスジの面積を想定したものであり、果実Cにおいて互いに対応する第1及び第2欠陥候補領域24,26に相当する部分が渋皮のスジであるか否かを判断するための基準として設定されている。   Next, it is determined whether or not the area A of the secondary defect candidate region 26 having the corresponding primary defect candidate region 24 is outside the preset set areas Smin to Smax. The range of the set areas Smin to Smax assumes the area of streaks of fruit skin C in the fruit C, and the portions corresponding to the first and second defect candidate areas 24 and 26 corresponding to each other in the fruit C are streaks of the astringent skin. It is set as a reference for determining whether or not there is.

第1実施形態では、3つの縦長い第2次欠陥候補領域26b,26d,26eの面積Aα2,Aα4,Aα5は、それぞれ設定最小面積Smin以上で且つ設定最大面積Smax以下(Smin≦Aα2,Aα4,Aα5≦Smax)なので、果実Cにおける第2次欠陥候補領域26b,26d,26e(第1次欠陥候補領域24b,24d,24e)に相当する部分は渋皮のスジであって内部欠陥ではないと判断される。   In the first embodiment, the areas Aα2, Aα4, and Aα5 of the three vertically long secondary defect candidate regions 26b, 26d, and 26e are the set minimum area Smin or more and the set maximum area Smax or less (Smin ≦ Aα2, Aα4, respectively). Since Aα5 ≦ Smax), it is determined that the portions corresponding to the secondary defect candidate areas 26b, 26d, and 26e (primary defect candidate areas 24b, 24d, and 24e) in the fruit C are streaks and are not internal defects. Is done.

一方、第2次欠陥候補領域26aの面積Aα1は設定最大面積Smaxより大きい(Smax<Aα1)ので、果実Cにおける第2次欠陥候補領域26a(第1次欠陥候補領域24a)に相当する部分は内部欠陥であると判断される。また、第2次欠陥候補領域26cの面積Aα3は設定最小面積Sminより小さい(Smin>Aα3)ので、果実Cにおける第2次欠陥候補領域26c(第1次欠陥候補領域24b)に相当する部分は内部欠陥であると判断される。その後はリターンする。仮に、果実Cにおいて互いに対応する第1及び第2欠陥候補領域24,26に相当する部分が全て渋皮のスジであって内部欠陥ではないと判断された場合も、そのままリターンする。   On the other hand, since the area Aα1 of the secondary defect candidate region 26a is larger than the set maximum area Smax (Smax <Aα1), the portion corresponding to the secondary defect candidate region 26a (first defect candidate region 24a) in the fruit C is Judged as an internal defect. Further, since the area Aα3 of the secondary defect candidate region 26c is smaller than the set minimum area Smin (Smin> Aα3), the portion corresponding to the secondary defect candidate region 26c (first defect candidate region 24b) in the fruit C is Judged as an internal defect. Then return. Even if it is determined that the portions corresponding to the first and second defect candidate regions 24 and 26 corresponding to each other in the fruit C are all streaks and are not internal defects, the process returns as it is.

コントローラ7による画像処理の結果、X線照射器13の下方にある果実Cに内部欠陥ありとの判断が下された場合は、この果実Cの到来を位置検出センサ5が感知してから適宜時間(当該果実Cを送風機6の前方に搬送するのに要する時間)経過後に、送風機6が駆動する。そして、この送風機6からの選別風により、送風機6の前方に到着した内部欠陥ありの果実Cが搬送コンベヤライン2上から取り除かれる(図1参照)。X線照射器13の下方にある果実Cに内部欠陥なしとの判断が下された場合は、当該果実Cはそのまま搬送コンベヤライン2に載って、袋詰め等の次工程に送られる。   As a result of the image processing by the controller 7, when it is determined that the fruit C below the X-ray irradiator 13 has an internal defect, an appropriate time is required after the position detection sensor 5 senses the arrival of the fruit C. After the elapse of (the time required to convey the fruit C forward of the blower 6), the blower 6 is driven. And the fruit C with the internal defect which arrived ahead of the air blower 6 is removed from the conveyance conveyor line 2 by the selection wind from this air blower 6 (refer FIG. 1). When it is determined that there is no internal defect in the fruit C below the X-ray irradiator 13, the fruit C is directly placed on the transport conveyor line 2 and sent to the next process such as bagging.

<第1実施形態の作用効果>
このような方法によると、第1次欠陥候補領域24に対応する第2次欠陥候補領域26の面積Aが予め設定された設定面積Smin〜Smaxの範囲外であれば、果実Cにおける第2次欠陥候補領域26(欠陥候補領域24)に相当する部分が内部欠陥であると判断されるから、設定面積Smin〜Smaxの範囲内の面積Aα2,Aα4,Aα5を有する第2次欠陥候補領域26b,26d,26e(第1次欠陥候補領域24b,24d,24e)、すなわち、透過画像情報(図4参照)に表れたスジ領域18a〜18cを内部欠陥と誤認することがなくなる。従って、果実Cにおける内部欠陥と渋皮のスジとを従来の方法よりも高い精度で弁別できることになり、検査ミス(判別ミス)の発生を大幅に低減できるのである。
<Operational effects of the first embodiment>
According to such a method, if the area A of the secondary defect candidate region 26 corresponding to the primary defect candidate region 24 is outside the preset set areas Smin to Smax, the secondary in the fruit C Since it is determined that the portion corresponding to the defect candidate region 26 (defect candidate region 24) is an internal defect, the second defect candidate region 26b having areas Aα2, Aα4, Aα5 within the range of the set areas Smin to Smax, 26d, 26e (first defect candidate areas 24b, 24d, 24e), that is, the streak areas 18a to 18c appearing in the transmission image information (see FIG. 4) are not mistaken as internal defects. Therefore, it is possible to discriminate internal defects and astringent skin stripes in the fruit C with higher accuracy than in the conventional method, and the occurrence of inspection errors (discrimination errors) can be greatly reduced.

<第2実施形態>
次に、主に図10〜図14を参照しながら、スジと同程度の大きさ(面積)の内部欠陥が中央部付近にある果実Cを検査する第2実施形態について説明する。第2実施形態は、第1判断工程だけでは見つけられない内部欠陥のうちスジと同程度の大きさ(面積)の内部欠陥を見つけ出す場合の例を示している。
<Second Embodiment>
Next, with reference mainly to FIGS. 10 to 14, a second embodiment for inspecting a fruit C having an internal defect of the same size (area) as a streak in the vicinity of the center will be described. The second embodiment shows an example of finding an internal defect having a size (area) comparable to a streak among internal defects that cannot be found only by the first determination step.

[撮像工程〜面積算出工程]
図3(b)に示すように、第2実施形態においては、ステップS6′の第1判断工程に至るまでの手順は第1実施形態の場合と基本的に同様である。第1判断工程以後は、後述する第1次欠陥候補領域34(抽出領域)と第2次欠陥候補領域36(孤立領域)との対応関係、及び内部欠陥の有無に応じて、そのままリターンするか、長さ測定工程(ステップS7′)→縦横比算出工程(ステップS8′)→第2判断工程(ステップS9′)という手順に分かれることになる。
[Imaging process-Area calculation process]
As shown in FIG. 3B, in the second embodiment, the procedure up to the first determination step in step S6 ′ is basically the same as that in the first embodiment. After the first determination step, whether to return as it is depending on the correspondence relationship between the first defect candidate region 34 (extraction region) and the second defect candidate region 36 (isolated region), which will be described later, and the presence or absence of internal defects. The length measurement process (step S7 ′) → the aspect ratio calculation process (step S8 ′) → the second determination process (step S9 ′).

図10は撮像にて得られた果実Cの透過画像情報を示す画面の説明図である。図中の斜線部は果実領域27を示している。果実領域27において点線で囲まれた白抜き部のうちY軸(縦軸)方向に略沿って縦長のものはスジ領域28a〜28cであり、その他の白抜き部は欠陥領域29aである。   FIG. 10 is an explanatory diagram of a screen showing the transmitted image information of the fruit C obtained by imaging. The hatched portion in the figure indicates the fruit region 27. Of the white portions surrounded by dotted lines in the fruit region 27, those vertically long along the Y-axis (vertical axis) direction are streak regions 28a to 28c, and the other white portions are defect regions 29a.

図11(a)〜(c)は平滑化画像情報を示す画面の説明図である。図11(c)の画面には、平滑化果実領域31c内に、大きいサイズの平滑化欠陥領域33a及び平滑化スジ領域32aが表示され、図11(b)の画面には、平滑化果実領域31b内に、小さいサイズの平滑化スジ領域32b,32cが表示されている。図11(a)の画面には、高濃度の画素まで平滑化して平滑化欠陥領域33及び平滑化スジ領域32をともに失った平滑化果実領域31aが表示されている。   FIGS. 11A to 11C are explanatory diagrams of screens showing smoothed image information. In the screen of FIG. 11 (c), a large-sized smoothing defect region 33a and a smoothing stripe region 32a are displayed in the smoothed fruit region 31c, and the smoothed fruit region is displayed on the screen of FIG. 11 (b). The smoothed streak areas 32b and 32c having a small size are displayed in 31b. On the screen of FIG. 11A, a smoothed fruit region 31a that has been smoothed to a high density pixel and has lost both the smoothed defect region 33 and the smoothed streak region 32 is displayed.

図12(a)(b)は差分画像情報を示す画面の説明図である。図12(a)の画面に示す差分画像情報には、平滑化スジ領域32b,32cに相当する領域だけが抽出されて残っている。これらの抽出領域が第1次欠陥候補領域34c,34dとして特定されている。図12(b)の画面に示す差分画像情報には、平滑化欠陥領域33a及び平滑化スジ領域32aに相当する領域だけが抽出されて残っている。これらの抽出領域も第1次欠陥候補領域34a,34bとして特定されている。   FIGS. 12A and 12B are explanatory diagrams of screens showing difference image information. In the difference image information shown on the screen of FIG. 12A, only the regions corresponding to the smoothed streak regions 32b and 32c are extracted and remain. These extraction areas are specified as primary defect candidate areas 34c and 34d. In the difference image information shown in the screen of FIG. 12B, only the areas corresponding to the smoothed defect area 33a and the smoothed streak area 32a are extracted and remain. These extraction areas are also specified as the primary defect candidate areas 34a and 34b.

図13は二値化画像情報を示す画面の説明図である。図13においては、図中の黒塗り部(低濃度画素の部分)が二値化果実領域35を示している。二値化果実領域35における黒塗り部で囲まれた白抜きの孤立領域は第2次欠陥候補領域36a〜36dを示している。また、図14の画面に示す第2次欠陥候補領域36のうちスジ領域28a〜28cに相当するもの36b〜36dの面積は、Aβ2,Aβ3,Aβ4と表示している。欠陥領域29aに相当するもの36aの面積は、Aβ1と表示している。   FIG. 13 is an explanatory diagram of a screen showing binarized image information. In FIG. 13, black portions (low density pixel portions) in the figure indicate the binarized fruit region 35. White isolated regions surrounded by black portions in the binarized fruit region 35 indicate secondary defect candidate regions 36a to 36d. In addition, the areas 36b to 36d corresponding to the stripe regions 28a to 28c among the secondary defect candidate regions 36 shown in the screen of FIG. 14 are displayed as Aβ2, Aβ3, and Aβ4. The area of the object 36a corresponding to the defect region 29a is indicated as Aβ1.

[第1判断工程]
ステップS6′の第1判断工程においては、ラベリング処理が施された二値化画像情報(図13参照)と各差分画像情報(図12(a)(b)参照)とを比較して、第2次欠陥候補領域36毎に、これに対応する第1次欠陥候補領域34があるか否かを判別する。
[First judgment step]
In the first determination step of step S6 ′, the binarized image information (see FIG. 13) subjected to the labeling process is compared with each difference image information (see FIGS. 12 (a) and 12 (b)). It is determined for each secondary defect candidate area 36 whether or not there is a corresponding primary defect candidate area 34.

第2実施形態の第2次欠陥候補領域36は4箇所とも、それぞれに対応する第1次欠陥候補領域34を有しているので、次いで、対応する第1次欠陥候補領域34を有する第2次欠陥候補領域36の面積Aが予め設定された設定面積Smin〜Smaxの範囲外にあるか否かを判別する。   Since all the four secondary defect candidate regions 36 of the second embodiment have corresponding primary defect candidate regions 34, the second defect candidate regions 34 having the corresponding primary defect candidate regions 34 are then included. It is determined whether or not the area A of the next defect candidate region 36 is outside a preset set area Smin to Smax.

第2実施形態では、第2次欠陥候補領域36a〜36dの面積Aβ1〜Aβ4は、いずれも設定最小面積Smin以上で且つ設定最大面積Smax以下(Smin≦Aβ1〜Aβ4≦Smax)なので、果実Cにおいて互いに対応する第1次及び第2次欠陥候補領域34,36に相当する部分は渋皮のスジであって内部欠陥ではないと判断され、次の長さ測定工程(ステップS7′)に移行する。   In the second embodiment, since the areas Aβ1 to Aβ4 of the secondary defect candidate regions 36a to 36d are all equal to or larger than the set minimum area Smin and equal to or smaller than the set maximum area Smax (Smin ≦ Aβ1 to Aβ4 ≦ Smax), The portions corresponding to the primary and secondary defect candidate regions 34 and 36 corresponding to each other are determined to be astringent skin streaks and not internal defects, and the process proceeds to the next length measurement step (step S7 ').

[長さ測定工程]
ステップS7′の長さ測定工程では、第2次欠陥候補領域36について、Y軸(縦軸)方向の縦長さLと、このY軸方向に直交するX軸(横軸)方向の横長さHとを測定する。なお、図14に示すように、各第2次欠陥候補領域36の縦長さL及び横長さHは、図面の左側から順に符号βa,βb,βc,βdを付して表示している。
[Length measurement process]
In the length measuring step in step S7 ′, the vertical length L in the Y-axis (vertical axis) direction and the horizontal length H in the X-axis (horizontal axis) direction perpendicular to the Y-axis direction are obtained for the secondary defect candidate region 36. And measure. As shown in FIG. 14, the vertical length L and the horizontal length H of each secondary defect candidate region 36 are displayed with the symbols βa, βb, βc, βd sequentially from the left side of the drawing.

[縦横比算出工程]
次いで、ステップS8′の縦横比算出工程では、各第2次欠陥候補領域36における縦長さLの横長さHに対する縦横比L/Hを求め、次の第2判断工程(ステップS9)に移行する。
[Aspect ratio calculation process]
Next, in the aspect ratio calculation step of step S8 ′, the aspect ratio L / H of the vertical length L to the horizontal length H in each secondary defect candidate region 36 is obtained, and the process proceeds to the next second determination step (step S9). .

[第2判断工程]
ステップS9′の第2判断工程においては、各第2次欠陥候補領域36の縦横比L/Hが予め設定された設定縦横比Fmin〜Fmaxの範囲外にあるか否かを判別する。設定縦横比Fmin〜Fmaxの範囲は、果実Cにおける渋皮のスジの縦横比を想定したものである。
[Second determination step]
In the second determination step of step S9 ′, it is determined whether or not the aspect ratio L / H of each secondary defect candidate region 36 is outside the preset set aspect ratios Fmin to Fmax. The range of the set aspect ratio Fmin to Fmax assumes the aspect ratio of astringent skin streaks in the fruit C.

第2実施形態では、3つの縦長い第2次欠陥候補領域36b〜36dの縦横比Lβb/Hβb,Lβc/Hβc,Lβd/Hβdは、設定最小縦横比Fmin以上で且つ設定最大縦横比Fmax以下(Fmin≦Lβb/Hβb,Lβc/Hβc,Lβd/Hβd≦Fmax)なので、内部欠陥か否かの判断対象外とされる。   In the second embodiment, the aspect ratios Lβb / Hβb, Lβc / Hβc, and Lβd / Hβd of the three vertically long secondary defect candidate regions 36b to 36d are not less than the set minimum aspect ratio Fmin and not more than the set maximum aspect ratio Fmax ( Fmin ≦ Lβb / Hβb, Lβc / Hβc, Lβd / Hβd ≦ Fmax), so that it is excluded from the determination of whether or not there is an internal defect.

残る第2次欠陥候補領域36aの縦横比Lβa/Hβaは、設定最小縦横比Fminより小さい(Fmin>Lβa/Hβa)ので、果実Cにおいて互いに対応する第1次及び第2次欠陥候補領域34a,36aに相当する部分は内部欠陥であると判断される。その後はリターンする。内部欠陥ありと判断された果実Cは、第1実施形態の場合と同様に、送風機6からの選別風により、搬送コンベヤライン2上から取り除かれる。   Since the aspect ratio Lβa / Hβa of the remaining secondary defect candidate area 36a is smaller than the set minimum aspect ratio Fmin (Fmin> Lβa / Hβa), the primary and secondary defect candidate areas 34a, A portion corresponding to 36a is determined to be an internal defect. Then return. The fruit C determined to have an internal defect is removed from the conveying conveyor line 2 by the sorting air from the blower 6 as in the case of the first embodiment.

仮に、果実Cにおいて互いに対応する第1次及び第2次欠陥候補領域34a,36aに相当する部分が全て渋皮のスジであって内部欠陥ではないと判断された場合は、後述する横長さ判別を行う(詳細は第4実施形態で説明する)。   If it is determined that all the portions corresponding to the primary and secondary defect candidate areas 34a and 36a corresponding to each other in the fruit C are streaks of astringent skin and are not internal defects, lateral length determination described later is performed. (Details will be described in the fourth embodiment).

<第3実施形態>
次に、図15〜図19を参照しながら、外周寄りの部位に2箇所の内部欠陥がある果実Cを検査する第3実施形態について説明する。第3実施形態は、第1判断工程だけでは見つけられない内部欠陥のうち果実Cにおける外周寄りの部位にある内部欠陥を見つけ出す場合の例を示している。
<Third Embodiment>
Next, a third embodiment for inspecting a fruit C having two internal defects at a portion near the outer periphery will be described with reference to FIGS. 3rd Embodiment has shown the example in the case of finding the internal defect in the site | part near the outer periphery in the fruit C among the internal defects which cannot be found only by a 1st judgment process.

[撮像工程〜面積算出工程]
第3実施形態においても、果実Cにおける内部欠陥の判別手順は、図3(b)に示すフローチャートに沿って第2実施形態と同様に実行される。
[Imaging process-Area calculation process]
Also in 3rd Embodiment, the discrimination | determination procedure of the internal defect in the fruit C is performed similarly to 2nd Embodiment along the flowchart shown in FIG.3 (b).

図15は撮像にて得られた果実Cの透過画像情報を示す画面の説明図である。図中の斜線部は果実領域37を示している。果実領域37において点線で囲まれた白抜き部のうちY軸(縦軸)方向に略沿って縦長のものはスジ領域38a〜38cであり、その他の白抜き部は欠陥領域39a,39bである。   FIG. 15 is an explanatory diagram of a screen showing transmission image information of the fruit C obtained by imaging. The hatched portion in the figure indicates the fruit region 37. Of the white portions surrounded by dotted lines in the fruit region 37, those vertically long along the Y-axis (vertical axis) direction are streak regions 38a to 38c, and the other white portions are defect regions 39a and 39b. .

図16(a)〜(c)は平滑化画像情報を示す画面の説明図である。図16(c)の画面には、平滑化果実領域41c内に、大きいサイズの平滑化スジ領域32aが表示され、図16(b)の画面には、平滑化果実領域41b内に、小さいサイズの平滑化スジ領域42b,42cが表示されているものの、2箇所の平滑化欠陥領域が表れていない。この理由は、欠陥領域39a,39bが果実Cにおける外周寄りの部位にあり、透過画像情報(図15参照)における欠陥領域39a,39bと果実領域37との濃度差がもともと小さいことから、ステップS2′の平滑化処理にて平滑化されてしまうためである。   FIGS. 16A to 16C are explanatory diagrams of screens showing smoothed image information. In the screen of FIG. 16 (c), a large size smoothed stripe region 32a is displayed in the smoothed fruit region 41c, and in the screen of FIG. 16 (b), a small size is displayed in the smoothed fruit region 41b. Although the smoothing streak areas 42b and 42c are displayed, two smoothing defect areas do not appear. This is because the defect areas 39a and 39b are located near the outer periphery of the fruit C, and the difference in density between the defect areas 39a and 39b and the fruit area 37 in the transmission image information (see FIG. 15) is originally small. This is because it is smoothed by the smoothing process of ′.

このため、ステップS3′の差分工程では、図16(a)の平滑化果実領域41aと、図16(b)(c)の平滑化果実領域41b,41cとの差分を演算して得られた差分画像情報(図17(a)(b)参照)に、差分値(濃度差)の大きい平滑化スジ領域42a又は42b,42cに相当する領域だけが抽出されて残っている。これらの抽出領域が第1次欠陥候補領域44b又は44d,44eとして特定されている。   For this reason, in the difference process of step S3 ′, the difference between the smoothed fruit region 41a of FIG. 16A and the smoothed fruit regions 41b and 41c of FIG. 16B and FIG. In the difference image information (see FIGS. 17A and 17B), only the areas corresponding to the smoothed streak areas 42a or 42b and 42c having a large difference value (density difference) are extracted and remain. These extraction areas are specified as the primary defect candidate areas 44b or 44d, 44e.

図18は二値化画像情報を示す画面の説明図である。図18においては、図中の黒塗り部(低濃度画素の部分)が二値化果実領域45を示している。二値化果実領域45における黒塗り部で囲まれた白抜きの孤立領域は第2次欠陥候補領域46a〜46eを示している。また、図19の画面に示す第2次欠陥候補領域46のうちスジ領域38a〜38cに相当するもの46b,46d,46eの面積は、Aγ2,Aγ4,Aγ5と表示している。欠陥領域39a,39cに相当するもの46a,46cの面積は、Aγ1,Aγ3と表示している。   FIG. 18 is an explanatory diagram of a screen showing binarized image information. In FIG. 18, black portions (low-density pixel portions) in the figure indicate the binarized fruit region 45. White isolated regions surrounded by black portions in the binarized fruit region 45 indicate second defect candidate regions 46a to 46e. In addition, the areas 46b, 46d, and 46e corresponding to the stripe regions 38a to 38c among the secondary defect candidate regions 46 shown in the screen of FIG. 19 are displayed as Aγ2, Aγ4, and Aγ5. Areas 46a and 46c corresponding to the defect regions 39a and 39c are indicated as Aγ1 and Aγ3.

[第1判断工程]
ステップS6′の第1判断工程においては、ラベリング処理が施された二値化画像情報(図18参照)と各差分画像情報(図17(a)(b)参照)とを比較して、第2次欠陥候補領域46毎に、これに対応する第1次欠陥候補領域44があるか否かを判別する。
[First judgment step]
In the first determination step of step S6 ′, the binarized image information (see FIG. 18) that has been subjected to the labeling process is compared with each difference image information (see FIGS. 17A and 17B). It is determined for each secondary defect candidate area 46 whether or not there is a corresponding primary defect candidate area 44.

第3実施形態では、5つの第2次欠陥候補領域46のうち、二値化果実領域45における外周寄りの部位にある2つのもの46a,46cについては、対応する第1次欠陥候補領域が存在しないものの、縦長い3つの第2次欠陥候補領域46b,46d,46eに対応する第1次欠陥候補領域44b,44d,44eは存在する。   In the third embodiment, out of the five secondary defect candidate regions 46, there are corresponding primary defect candidate regions for the two things 46a and 46c located near the outer periphery of the binarized fruit region 45. Although not, there are primary defect candidate regions 44b, 44d, and 44e corresponding to the three vertically long secondary defect candidate regions 46b, 46d, and 46e.

そこで、対応する第1次欠陥候補領域44を有する第2次欠陥候補領域46の面積Aが予め設定された設定面積Smin〜Smaxの範囲外にあるか否かを判別する。   Therefore, it is determined whether or not the area A of the secondary defect candidate region 46 having the corresponding primary defect candidate region 44 is outside the preset set areas Smin to Smax.

第3実施形態では、3つの縦長い第2次欠陥候補領域46b,46d,46eの面積Aγ2,Aγ4,Aγ5は、それぞれ設定最小面積Smin以上で且つ設定最大面積Smax以下(Smin≦Aγ2,Aγ4,Aγ5≦Smax)なので、果実Cにおける第2次欠陥候補領域46b,46d,46e(第1次欠陥候補領域44b,44d,44e)に相当する部分は渋皮のスジであって内部欠陥ではないと判断され、次の長さ測定工程(ステップS7′)に移行する。   In the third embodiment, the areas Aγ2, Aγ4, and Aγ5 of the three vertically long secondary defect candidate regions 46b, 46d, and 46e are the set minimum area Smin and the set maximum area Smax (Smin ≦ Aγ2, Aγ4, respectively). Since Aγ5 ≦ Smax), the portions corresponding to the second defect candidate regions 46b, 46d, and 46e (first defect candidate regions 44b, 44d, and 44e) in the fruit C are determined to be astringent skin streaks and not internal defects. Then, the process proceeds to the next length measurement step (step S7 ′).

[長さ測定工程]
ステップS7′の長さ測定工程では、第2次欠陥候補領域46について、Y軸(縦軸)方向の縦長さLと、このY軸方向に直交するX軸(横軸)方向の横長さHとを測定する。なお、図19に示すように、各第2次欠陥候補領域46の縦長さL及び横長さHは、図面の左側から順に符号γa,γb,γc,γdを付して表示している。
[Length measurement process]
In the length measuring step in step S7 ′, the vertical length L in the Y-axis (vertical axis) direction and the horizontal length H in the X-axis (horizontal axis) direction orthogonal to the Y-axis direction are obtained for the secondary defect candidate region 46. And measure. As shown in FIG. 19, the vertical length L and the horizontal length H of each secondary defect candidate region 46 are displayed with reference numerals γa, γb, γc, and γd in order from the left side of the drawing.

[縦横比算出工程]
次いで、ステップS8′の縦横比算出工程では、各第2次欠陥候補領域46における縦長さLの横長さHに対する縦横比L/Hを求め、次の第2判断工程(ステップS9′)に移行する。
[Aspect ratio calculation process]
Next, in the aspect ratio calculation step of step S8 ′, the aspect ratio L / H of the vertical length L to the horizontal length H in each secondary defect candidate region 46 is obtained, and the process proceeds to the next second determination step (step S9 ′). To do.

[第2判断工程]
ステップS9′の第2判断工程においては、各第2次欠陥候補領域46の縦横比L/Hが予め設定された設定縦横比Fmin〜Fmaxの範囲外にあるか否かを判別する。
[Second determination step]
In the second determination step of step S9 ′, it is determined whether or not the aspect ratio L / H of each secondary defect candidate area 46 is outside the preset set aspect ratios Fmin to Fmax.

第2実施形態では、3つの縦長い第2次欠陥候補領域46b〜46dの縦横比Lγb/Hγb,Lγc/Hγc,Lγd/Hγdは、設定最小縦横比Fmin以上で且つ設定最大縦横比Fmax以下(Fmin≦Lγb/Hγb,Lγc/Hγc,Lγd/Hγd≦Fmax)なので、内部欠陥か否かの判断対象外とされる。   In the second embodiment, the aspect ratios Lγb / Hγb, Lγc / Hγc, and Lγd / Hγd of the three vertically long secondary defect candidate regions 46b to 46d are not less than the set minimum aspect ratio Fmin and not more than the set maximum aspect ratio Fmax ( Fmin ≦ Lγb / Hγb, Lγc / Hγc, Lγd / Hγd ≦ Fmax), so that it is excluded from the determination of whether or not there is an internal defect.

また、第2次欠陥候補領域46aの縦横比Lγa/Hγaも、設定最小縦横比Fmin以上で且つ設定最大縦横比Fmax以下(Fmin≦Lγa/Hγa≦Fmax)なので、内部欠陥か否かの判断対象外とされる。   In addition, since the aspect ratio Lγa / Hγa of the secondary defect candidate region 46a is also not less than the set minimum aspect ratio Fmin and not more than the set maximum aspect ratio Fmax (Fmin ≦ Lγa / Hγa ≦ Fmax), it is an object to determine whether it is an internal defect or not. It is assumed to be outside.

残る第2次欠陥候補領域46cの縦横比Lγc/Hγcは、設定最小縦横比Fminより小さい(Fmin>Lγc/Hγc)ので、果実Cにおける第2次欠陥候補領域46cに相当する部分は内部欠陥であると判断される。その後はリターンする。内部欠陥ありと判断された果実Cは、第1実施形態の場合と同様に、送風機6からの選別風により、搬送コンベヤライン2上から取り除かれる。   Since the aspect ratio Lγc / Hγc of the remaining secondary defect candidate area 46c is smaller than the set minimum aspect ratio Fmin (Fmin> Lγc / Hγc), the portion corresponding to the secondary defect candidate area 46c in the fruit C is an internal defect. It is judged that there is. Then return. The fruit C determined to have an internal defect is removed from the conveying conveyor line 2 by the sorting air from the blower 6 as in the case of the first embodiment.

仮に、果実Cにおける2つの第2次欠陥候補領域46a,46cに相当する部分が両方とも渋皮のスジであって内部欠陥ではないと判断された場合は、後述する横長さ判別を行う(詳細は第4実施形態で説明する)。   If it is determined that both of the portions corresponding to the two secondary defect candidate regions 46a and 46c in the fruit C are streaks of streaks and are not internal defects, lateral length determination described later is performed (details are given below) This will be described in the fourth embodiment).

<第4実施形態>
図20は第2次欠陥候補領域に対応する第1次欠陥候補領域が存在しない場合の第4実施形態である。第4実施形態は、果実Cの内部に3箇所のスジ領域があり、且つ外周寄りの部位に1箇所の内部欠陥がある場合の例を示している。
<Fourth embodiment>
FIG. 20 is a fourth embodiment in the case where there is no primary defect candidate area corresponding to the secondary defect candidate area. The fourth embodiment shows an example in which there are three streak regions inside the fruit C and there is one internal defect in a portion near the outer periphery.

[撮像工程〜第2判断工程の縦横比判別処理]
第4実施形態においては、ステップS9′の第2判断工程に際して、全部で4箇所ある第2次欠陥候補領域56の縦横比L/Hが、いずれも設定最小縦横比Fmin以上で且つ設定最大縦横比Fmax以下(Fmin≦L/H≦Fmax)なので、内部欠陥か否かの判断対象外とされるところまで、第2及び第3実施形態と同様にして実行される(図3(b)参照)。
[Aspect Ratio Discrimination Processing from Imaging Step to Second Determination Step]
In the fourth embodiment, in the second determination step of step S9 ′, the aspect ratio L / H of the secondary defect candidate areas 56 in all four places is not less than the set minimum aspect ratio Fmin and the set maximum aspect ratio. Since the ratio is equal to or less than Fmax (Fmin ≦ L / H ≦ Fmax), the process is executed in the same manner as in the second and third embodiments up to the point where it is excluded from the determination of whether or not there is an internal defect (see FIG. 3B). ).

図20はラベリング処理後の画像情報を示す画面の説明図である。図20の画面においてラベル「0」が付された領域は、二値化果実領域55を構成する低濃度画素(黒画素)の部分を示している。ラベル「1」が付された領域は、果実Cの欠陥領域に相当する第2次欠陥候補領域56aである。ラベル「2」,「3」,「4」が付された領域は、果実Cのスジ領域に相当する第2次欠陥候補領域56b,56c,56dである。なお、図20に示す第2次欠陥候補領域56の面積Aには、説明の便宜上、図面の左側から順に符号ε1〜ε4を添えている。   FIG. 20 is an explanatory diagram of a screen showing image information after the labeling process. The area labeled “0” in the screen of FIG. 20 indicates the low density pixel (black pixel) portion that constitutes the binarized fruit area 55. The region labeled “1” is the second defect candidate region 56a corresponding to the defect region of the fruit C. The regions labeled “2”, “3”, and “4” are secondary defect candidate regions 56b, 56c, and 56d corresponding to the streak region of the fruit C. Note that, for convenience of explanation, the area A of the secondary defect candidate region 56 shown in FIG.

[横長さ判別処理]
ステップS9′の第2判断工程における縦横比判別処理の後は、各第2次欠陥候補領域56の横長さHが予め設定された設定横長さHOより大きいか否かを判別する。設定横長さHOは、果実Cにおけるスジの横長さの最大値を想定したものである。
[Horizontal length discrimination processing]
After the aspect ratio determination process in the second determination step of step S9 ′, it is determined whether or not the horizontal length H of each secondary defect candidate region 56 is larger than a preset horizontal length HO. The set horizontal length HO assumes the maximum value of the horizontal length of the stripes in the fruit C.

第4実施形態では、3つの縦長い第2次欠陥候補領域56b〜56dの横長さHδb〜Hδdは、設定横長さHO以下(HO≧Hδb〜Hδd)なので、内部欠陥か否かの判断対象外とされる。残る第2次欠陥候補領域56aの横長さHδaは、設定横長さHOより大きい(HO<Hδa)ので、果実Cにおける第2次欠陥候補領域56aに相当する部分は内部欠陥であると判断され、リターンする。内部欠陥ありと判断された果実Cは、第1及び第2実施形態の場合と同様に、送風機6からの選別風により、搬送コンベヤライン2上から取り除かれる。   In the fourth embodiment, since the horizontal lengths Hδb to Hδd of the three vertically long secondary defect candidate regions 56b to 56d are equal to or less than the set horizontal length HO (HO ≧ Hδb to Hδd), it is not subject to determination as to whether or not they are internal defects. It is said. Since the horizontal length Hδa of the remaining secondary defect candidate region 56a is larger than the set horizontal length HO (HO <Hδa), it is determined that the portion corresponding to the secondary defect candidate region 56a in the fruit C is an internal defect, Return. The fruit C determined to have an internal defect is removed from the transport conveyor line 2 by the sorting air from the blower 6 as in the first and second embodiments.

仮に、果実Cにおける第2次欠陥候補領域56に相当する部分が全て内部欠陥でないと判断された場合も、そのままリターンする。そして、当該果実Cは、そのまま搬送コンベヤライン2に載って、袋詰め等の次工程に送られるのである。   Even if it is determined that all the portions corresponding to the secondary defect candidate area 56 in the fruit C are not internal defects, the process directly returns. And the said fruit C will be mounted on the conveyance conveyor line 2 as it is, and will be sent to subsequent processes, such as bagging.

<第2〜第4実施形態の作用効果>
以上のように、第2〜第4実施形態に示した方法によると、縦横比L/Hが予め設定された設定縦横比Fmin〜Fmaxの範囲外であるか、又は横長さHが予め設定された設定横長さHOより大きいならば、果実Cにおける第2次欠陥候補領域36,46,56に相当する部分が内部欠陥であると判断されるから、ステップS6′の第1判断工程だけでは見つけにくい欠陥領域、すなわち、スジと同程度の大きさ(面積)の内部欠陥や、果実Cにおける外周寄りの部位にある内部欠陥を、渋皮のスジと区別した上で確実に見つけ出すことができる。従って、果実Cにおける内部欠陥と渋皮のスジとを見極める精度が更に向上するのである。
<Operational effects of the second to fourth embodiments>
As described above, according to the methods shown in the second to fourth embodiments, the aspect ratio L / H is outside the range of the preset aspect ratios Fmin to Fmax, or the lateral length H is preset. If it is larger than the set lateral length HO, it is determined that the portion corresponding to the second defect candidate areas 36, 46, 56 in the fruit C is an internal defect. Therefore, it is found only by the first determination process in step S6 ′. A hard defect area, that is, an internal defect having the same size (area) as a streak or an internal defect near the outer periphery of the fruit C can be surely found after distinguishing from a streak skin streak. Therefore, the accuracy of identifying internal defects in fruit C and streaks of astringency is further improved.

<第5実施形態>
図21〜図25は、前述の第1〜第4実施形態とは異なる判別手順を採用した場合の第5実施形態である。第5実施形態における果実Cの内部欠陥の判別手順は、図21のフローチャートに示すように、撮像工程(ステップT1)→二値化工程(ステップT2)→面積算出工程(ステップT3)→長さ測定工程(ステップT4)→縦横比算出工程(ステップT5)→判断工程(ステップT6)という手順で実行される。第1〜第4実施形態との違いは、大まかに言うと平滑化工程及び差分工程の2工程がない点である。
<Fifth Embodiment>
21 to 25 show a fifth embodiment in the case of adopting a determination procedure different from that of the first to fourth embodiments described above. As shown in the flowchart of FIG. 21, the procedure for determining the internal defect of the fruit C in the fifth embodiment is an imaging step (step T1) → binarization step (step T2) → area calculation step (step T3) → length. The measurement process (step T4) → the aspect ratio calculation process (step T5) → the determination process (step T6) is executed. Generally speaking, the difference from the first to fourth embodiments is that there are no two steps, a smoothing step and a difference step.

[撮像工程〜縦横比算出工程]
第5実施形態においては、ステップT1の撮像工程、ステップT2の二値化工程、ステップT3の面積算出工程、ステップT4の長さ測定工程、及びステップT5の縦横比算出工程は、いずれも第1〜第4実施形態の対応工程と同様にして行われる。
[Imaging process-Aspect ratio calculation process]
In the fifth embodiment, the imaging process at step T1, the binarization process at step T2, the area calculation process at step T3, the length measurement process at step T4, and the aspect ratio calculation process at step T5 are all first. ~ Performed in the same manner as the corresponding steps of the fourth embodiment.

図22は撮像にて得られた果実Cの透過画像情報を示す画面の説明図である。図中の斜線部は果実領域57である。果実領域57において点線で囲まれた白抜き部のうちY軸(縦軸)方向に略沿って縦長のものはスジ領域58a〜58cであり、その他の白抜き部は欠陥領域59a,59bである。   FIG. 22 is an explanatory diagram of a screen showing transmission image information of the fruit C obtained by imaging. The shaded area in the figure is the fruit region 57. Of the white portions surrounded by dotted lines in the fruit region 57, those vertically long along the Y-axis (vertical axis) direction are streak regions 58a to 58c, and the other white portions are defect regions 59a and 59b. .

図23は二値化画像情報を示す画面の説明図である。図23においては、図中の黒塗り部(低濃度画素の部分)が二値化果実領域65を示している。二値化果実領域65における黒塗り部で囲まれた白抜き部は、孤立領域である欠陥候補領域66a〜66eを示している。また、図24の画面に示す欠陥候補領域66のうちスジ領域58a〜58cに相当するもの66a,66b,66dの面積は、A1′,A2′,A4′と表示している。欠陥領域59aに相当するもの66c,66eの面積はA3′,A5′と表示している。   FIG. 23 is an explanatory diagram of a screen showing binarized image information. In FIG. 23, the blackened portion (low density pixel portion) in the figure shows the binarized fruit region 65. White portions surrounded by black portions in the binarized fruit region 65 indicate defect candidate regions 66a to 66e which are isolated regions. In addition, areas 66a, 66b, and 66d corresponding to the stripe regions 58a to 58c among the defect candidate regions 66 shown in the screen of FIG. 24 are displayed as A1 ', A2', and A4 '. The areas of the portions 66c and 66e corresponding to the defect region 59a are indicated as A3 'and A5'.

[判断工程]
第5実施形態におけるステップT6の判断工程では、例えば図25に示すフローチャートに従って実行される。
[Judgment process]
In the determination step of Step T6 in the fifth embodiment, for example, it is executed according to the flowchart shown in FIG.

まず、図22に示す欠陥候補領域66の面積A′が予め設定された設定面積Smin〜Smaxの範囲外にあるか否かを判別する(ステップT61)。この場合も、設定面積Smin〜Smaxの範囲は、果実Cにおける渋皮のスジの面積を想定したものである。   First, it is determined whether or not the area A ′ of the defect candidate region 66 shown in FIG. 22 is outside the preset set areas Smin to Smax (step T61). Also in this case, the range of the set areas Smin to Smax assumes the area of streaks on the fruit C.

第5実施形態では、3つの縦長い欠陥候補領域66a,66b,66dの面積A1′,A2′,A4′はいずれも設定最小面積Smin以上で且つ設定最大面積Smax以下(Smin≦A1′,A2′,A4′≦Smax)なので、果実Cにおける欠陥候補領域66a,66b,66dに相当する部分は、この段階では内部欠陥でないと判断される。   In the fifth embodiment, the areas A1 ′, A2 ′, A4 ′ of the three vertically long defect candidate regions 66a, 66b, 66d are all not less than the set minimum area Smin and not more than the set maximum area Smax (Smin ≦ A1 ′, A2). ′, A4 ′ ≦ Smax), the portions corresponding to the defect candidate regions 66a, 66b, 66d in the fruit C are determined not to be internal defects at this stage.

一方、欠陥候補領域66cの面積A3′は設定最小面積Sminより小さい(Smin>A3′)ので、果実Cにおける欠陥候補領域66cに相当する部分は内部欠陥であると判断される。また、もう1つの欠陥候補領域66eの面積A5′は設定最大面積Smaxより大きい(Smax<A5′)ので、果実Cにおける欠陥候補領域66eに相当する部分も内部欠陥であると判断される。   On the other hand, since the area A3 ′ of the defect candidate area 66c is smaller than the set minimum area Smin (Smin> A3 ′), it is determined that the portion corresponding to the defect candidate area 66c in the fruit C is an internal defect. In addition, since the area A5 ′ of the other defect candidate region 66e is larger than the set maximum area Smax (Smax <A5 ′), it is determined that the portion corresponding to the defect candidate region 66e in the fruit C is also an internal defect.

従って、少なくとも1つの欠陥候補領域66が内部欠陥であるとの判断が下されているので(T61:YES)、ステップT65において判断対象の果実Cには内部欠陥ありと認定し、その後リターンする。   Therefore, since it is determined that at least one defect candidate area 66 is an internal defect (T61: YES), it is determined in step T65 that the fruit C to be determined has an internal defect, and then the process returns.

全ての欠陥候補領域66の面積A′が設定最小面積Smin以上で且つ設定最大面積Smax以下(Smin≦A′≦Smax)であるときには(T61:NO)、次いで、各欠陥候補領域66の縦横比l/hが予め設定された設定縦横比Fmin〜Fmaxの範囲外にあるか否かを判別する(ステップT62)。設定縦横比Fmin〜Fmaxの範囲は、果実Cにおける渋皮のスジの縦横比を想定したものである。   When the area A ′ of all defect candidate regions 66 is not less than the set minimum area Smin and not more than the set maximum area Smax (Smin ≦ A ′ ≦ Smax) (T61: NO), then the aspect ratio of each defect candidate region 66 is It is determined whether or not l / h is out of a preset set aspect ratio Fmin to Fmax (step T62). The range of the set aspect ratio Fmin to Fmax assumes the aspect ratio of astringent skin streaks in the fruit C.

欠陥候補領域66の縦横比l/hが設定縦横比Fmin〜Fmaxの範囲外であるときは(T62:YES)、果実Cにおける欠陥候補領域66に相当する部分は内部欠陥であると判断され、ステップT65において判断対象の果実Cには内部欠陥ありと認定し、その後リターンする。   When the aspect ratio 1 / h of the defect candidate area 66 is outside the range of the set aspect ratio Fmin to Fmax (T62: YES), it is determined that the portion corresponding to the defect candidate area 66 in the fruit C is an internal defect, In step T65, the fruit C to be determined is recognized as having an internal defect, and then the process returns.

全ての欠陥候補領域66の縦横比l/hが設定最小縦横比Fmin以上で且つ設定最大縦横比Fmax以下(Fmin≦l/h≦Fmax)であるときには(T62:NO)、次いで、欠陥候補領域46の横長さhが予め設定された設定横長さHOより大きいか否かを判別する(ステップT63)。設定横長さHOは、果実Cにおけるスジの横長さの最大値を想定したものである。   When the aspect ratio 1 / h of all defect candidate areas 66 is not less than the set minimum aspect ratio Fmin and not more than the set maximum aspect ratio Fmax (Fmin ≦ l / h ≦ Fmax) (T62: NO), then the defect candidate area It is determined whether or not the horizontal length h of 46 is larger than a preset horizontal length HO (step T63). The set horizontal length HO assumes the maximum value of the horizontal length of the stripes in the fruit C.

欠陥候補領域66の横長さhが設定横長さHOより大きいときには(T63:YES)、果実Cにおける欠陥候補領域66に相当する部分は内部欠陥であると判断され、ステップT65において判断対象の果実Cには内部欠陥ありと認定し、その後リターンする。   When the lateral length h of the defect candidate area 66 is greater than the set lateral length HO (T63: YES), the portion corresponding to the defect candidate area 66 in the fruit C is determined to be an internal defect, and the fruit C to be determined is determined in step T65. Is recognized as having an internal defect, and then returns.

全ての欠陥候補領域66の横長さhが設定横長さHO以下(HO≧h)であるときには(T63:NO)、果実Cにおける欠陥候補領域66に相当する部分は全て渋皮のスジであって内部欠陥でないと判断され、ステップT64において判断対象の果実Cには内部欠陥なしと認定し、その後リターンするのである。   When the horizontal length h of all the defect candidate areas 66 is equal to or less than the set horizontal length HO (HO ≧ h) (T63: NO), the portions corresponding to the defect candidate areas 66 in the fruit C are all astringent skin streaks. In step T64, it is determined that there is no internal defect, and then the process returns.

内部欠陥ありと判断された果実Cは、第1〜第4実施形態の場合と同様に、送風機6からの選別風により、搬送コンベヤライン2上から取り除かれる。内部欠陥なしと判断された果実Cは、そのまま搬送コンベヤライン2に載って、袋詰め等の次工程に送られるのである。   The fruit C determined to have an internal defect is removed from the conveying conveyor line 2 by the sorting air from the blower 6 as in the first to fourth embodiments. The fruit C determined to have no internal defect is placed on the transport conveyor line 2 as it is and sent to the next process such as bagging.

<第5実施形態の作用効果>
以上のように、第5実施形態に示した方法によると、欠陥候補領域66の面積A′が予め設定された設定面積Smin〜Smaxの範囲外であるか、縦横比l/hが予め設定された設定縦横比Fmin〜Fmaxの範囲外であるか、又は横長さhが予め設定された設定横長さHOより大きいならば、果実Cにおける欠陥候補領域66に相当する部分が内部欠陥であると判断されるから、この場合も、第1〜第4実施形態と同様に、欠陥候補領域66の面積A′、縦横比l/h及び横長さhという3つの判断基準を用いて、果実Cにおける内部欠陥と渋皮のスジとを従来の方法よりも極めて高い精度で弁別できる。
<Operational Effects of Fifth Embodiment>
As described above, according to the method shown in the fifth embodiment, the area A ′ of the defect candidate region 66 is outside the preset set areas Smin to Smax, or the aspect ratio l / h is preset. If the set aspect ratio is outside the range of Fmin to Fmax, or if the horizontal length h is larger than the preset horizontal length HO, it is determined that the portion corresponding to the defect candidate region 66 in the fruit C is an internal defect. Therefore, in this case as well, in the same manner as in the first to fourth embodiments, the inside of the fruit C is determined using three judgment criteria: the area A ′ of the defect candidate region 66, the aspect ratio 1 / h, and the horizontal length h. It is possible to discriminate between defects and streaks of skin with extremely high accuracy compared to conventional methods.

従って、第5実施形態の場合も、果実Cの内部欠陥を、渋皮のスジと区別した上で確実に見つけ出すことができ、検査ミス(判別ミス)の発生を大幅に低減できるのである。   Therefore, also in the case of 5th Embodiment, the internal defect of the fruit C can be reliably found after distinguishing from the streaks of the astringent skin, and the occurrence of inspection errors (discrimination errors) can be greatly reduced.

また、第5実施形態では、第1〜第4実施形態の場合と異なり、平滑化工程及び差分工程の2工程を必要としないので、トータルの工程数が少なくて済み、品質検査作業の能率向上にも寄与できるのである。   Also, in the fifth embodiment, unlike the first to fourth embodiments, two steps of the smoothing step and the difference step are not required, so the total number of steps can be reduced and the efficiency of the quality inspection work is improved. Can also contribute.

<その他>
本発明は、前述の実施形態に限らず、様々な態様に具体化することができる。例えば第5実施形態において、ステップT3の面積算出工程をなくし、欠陥候補領域66の縦横比l/h及び横長さhという2つの判断基準に基づいて、果実Cにおける内部欠陥の有無を、渋皮のスジと区別した上で判別するようにしてもよい。この場合も、ステップT1の撮像工程にて得られた透過画像情報に表れるスジの領域を内部欠陥と誤認することがなくなり、果実Cにおける内部欠陥と渋皮のスジとを高い精度で弁別できる。
<Others>
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be embodied in various forms. For example, in the fifth embodiment, the area calculation process in step T3 is eliminated, and the presence or absence of internal defects in the fruit C is determined based on two judgment criteria of the aspect ratio l / h and the horizontal length h of the defect candidate region 66. You may make it discriminate | determine after distinguishing from a stripe. Also in this case, the streak area appearing in the transmission image information obtained in the imaging process in step T1 is not mistaken for an internal defect, and the internal defect and the astringent skin streak in the fruit C can be distinguished with high accuracy.

但し、果実Cにおける内部欠陥と渋皮のスジとを見極める精度は、欠陥候補領域66の面積A′、縦横比l/h及び横長さhという3つの判断基準に基づいて判断する第5実施形態の方がより一層高精度であることはいうまでもない。   However, in the fifth embodiment, the accuracy of discriminating internal defects and astrings of astringent skin in the fruit C is determined based on three determination criteria: the area A ′ of the defect candidate region 66, the aspect ratio 1 / h, and the horizontal length h. Needless to say, it is more accurate.

電磁波とは、物理学上の電磁波であって、物体を透過する能力のあるものを全て含むものであり、いわゆる放射線、X線などの他、可視光線、不可視光線、赤外線、遠赤外線、紫外線等を含むものである。   An electromagnetic wave is a physical electromagnetic wave that includes all those capable of transmitting through an object. In addition to so-called radiation, X-rays, etc., visible light, invisible light, infrared light, far infrared light, ultraviolet light, etc. Is included.

ラベリング処理後で且つ第1判断工程の前に、果実領域25,35,45,55,65における重心位置を算出する工程を加えてもよい。この場合は、位置検出センサ5の検出結果を基準にするのではなく、果実Cの領域25,35,45,55,65における重心位置に基づいて、送風機6の送風タイミングを決めることができる。果実領域25,35,45,55,65における重心位置は、同一のラベルが占める画素を横軸(X軸)方向に加算し当該加算値をX軸方向の画素列の数で割ることで、X軸方向の中心を算出すると共に、同一のラベルが占める画素を縦軸(Y軸)方向に加算し当該加算値をY軸方向の画素列の数で割ることで、Y軸方向の中心を算出することにより求められる。   You may add the process of calculating the gravity center position in the fruit area | regions 25, 35, 45, 55, 65 after a labeling process and before a 1st judgment process. In this case, instead of using the detection result of the position detection sensor 5 as a reference, the blowing timing of the blower 6 can be determined based on the barycentric positions in the regions 25, 35, 45, 55, and 65 of the fruit C. The barycentric positions in the fruit regions 25, 35, 45, 55 and 65 are obtained by adding the pixels occupied by the same label in the horizontal axis (X axis) direction and dividing the added value by the number of pixel columns in the X axis direction. Calculate the center in the X-axis direction, add the pixels occupied by the same label in the vertical axis (Y-axis) direction, and divide the added value by the number of pixel columns in the Y-axis direction. It is obtained by calculating.

その他、各部の構成は図示の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変更が可能である。   In addition, the configuration of each unit is not limited to the illustrated embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

栗の品質検査装置を示す概略側面図である。It is a schematic side view which shows the quality inspection apparatus of a chestnut. 制御手段としてのコントローラの機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the controller as a control means. (a)は第1実施形態における果実の内部欠陥を判別する手順を示すフローチャート、(b)は第2〜第4実施形態における果実の内部欠陥を判別する手順を示すフローチャートである。(A) is a flowchart which shows the procedure which discriminate | determines the internal defect of the fruit in 1st Embodiment, (b) is a flowchart which shows the procedure which discriminate | determines the internal defect of the fruit in 2nd-4th embodiment. 第1実施形態における透過画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows the transmission image information in 1st Embodiment. 平滑化画像情報を示す画面の説明図であり、(a)は次数N=N1の平滑化フィルタを用いた場合、(b)は次数N=N2の平滑化フィルタを用いた場合、(c)は次数N=N3の平滑化フィルタを用いた場合である。It is explanatory drawing of the screen which shows smoothed image information, (a) is a case where the smoothing filter of order N = N1 is used, (b) is a case where the smoothing filter of order N = N2 is used, (c) Is a case where a smoothing filter of order N = N3 is used. 透過画像情報に対する平滑化処理の説明図である。It is explanatory drawing of the smoothing process with respect to transparent image information. 差分画像情報を示す画面の説明図であり、(a)は図5(a)に対応する平滑化画像情報から図5(b)に対応する平滑化画像情報を減算した場合、(b)は図5(a)に対応する平滑化画像情報から図5(c)に対応する平滑化画像情報を減算した場合である。It is explanatory drawing of the screen which shows difference image information, When (a) subtracts the smoothing image information corresponding to FIG.5 (b) from the smoothing image information corresponding to FIG.5 (a), (b) is shown. This is a case where the smoothed image information corresponding to FIG. 5C is subtracted from the smoothed image information corresponding to FIG. 二値化画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows binarized image information. ラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows the image information labeled. 第2実施形態における透過画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows the transmission image information in 2nd Embodiment. 平滑化画像情報を示す画面の説明図であり、(a)は次数N=N1の平滑化フィルタを用いた場合、(b)は次数N=N2の平滑化フィルタを用いた場合、(c)は次数N=N3の平滑化フィルタを用いた場合である。It is explanatory drawing of the screen which shows smoothed image information, (a) is a case where the smoothing filter of order N = N1 is used, (b) is a case where the smoothing filter of order N = N2 is used, (c) Is a case where a smoothing filter of order N = N3 is used. 差分画像情報を示す画面の説明図であり、(a)は図11(a)に対応する平滑化画像情報から図11(b)に対応する平滑化画像情報を減算した場合、(b)は図11(a)に対応する平滑化画像情報から図11(c)に対応する平滑化画像情報を減算した場合である。It is explanatory drawing of the screen which shows difference image information, When (a) subtracts the smoothing image information corresponding to FIG.11 (b) from the smoothing image information corresponding to FIG.11 (a), (b) is shown. This is a case where the smoothed image information corresponding to FIG. 11C is subtracted from the smoothed image information corresponding to FIG. 二値化画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows binarized image information. ラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows the image information labeled. 第3実施形態における透過画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows the transmission image information in 3rd Embodiment. 平滑化画像情報を示す画面の説明図であり、(a)は次数N=N1の平滑化フィルタを用いた場合、(b)は次数N=N2の平滑化フィルタを用いた場合、(c)は次数N=N3の平滑化フィルタを用いた場合である。It is explanatory drawing of the screen which shows smoothed image information, (a) is a case where the smoothing filter of order N = N1 is used, (b) is a case where the smoothing filter of order N = N2 is used, (c) Is a case where a smoothing filter of order N = N3 is used. 差分画像情報を示す画面の説明図であり、(a)は図11(a)に対応する平滑化画像情報から図11(b)に対応する平滑化画像情報を減算した場合、(b)は図11(a)に対応する平滑化画像情報から図11(c)に対応する平滑化画像情報を減算した場合である。It is explanatory drawing of the screen which shows difference image information, When (a) subtracts the smoothing image information corresponding to FIG.11 (b) from the smoothing image information corresponding to FIG.11 (a), (b) is shown. This is a case where the smoothed image information corresponding to FIG. 11C is subtracted from the smoothed image information corresponding to FIG. 二値化画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows binarized image information. ラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows the image information labeled. 第4実施形態におけるラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows the labeled image information in 4th Embodiment. 第5実施形態における判別手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the discrimination | determination procedure in 5th Embodiment. 透過画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows transparent image information. 二値化画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows binarized image information. ラベル付けされた画像情報を示す画面の説明図である。It is explanatory drawing of the screen which shows the image information labeled. 判断工程の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of a judgment process.

A,A′ 第2次欠陥候補領域の面積
C 果実
F 設定縦横比
H 設定横長さ
M 平滑化フィルタ
N 次数
S 設定面積
L,l 縦長さ
H,h 横長さ
L/H,l/h 縦横比
1 品質検査装置
2 搬送コンベヤライン
7 コントローラ
13 X線照射器
14 X線撮像器
17,27,37,57 果実領域
18,28,38,58 スジ領域
19,29,39,59 欠陥領域
21,31,41 平滑化果実領域
22,32,42 平滑化スジ領域
23,33,43 平滑化欠陥領域
24,34,44 第1次欠陥候補領域
25,35,45,55,65 二値化果実領域
26,36,46,56 第2次欠陥候補領域
66 欠陥候補領域
A, A 'Area of secondary defect candidate area C Fruit F Set aspect ratio H Set horizontal length M Smoothing filter N Order S Set area L, l Vertical length H, h Horizontal length L / H, l / h Aspect ratio DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Quality inspection apparatus 2 Conveyor line 7 Controller 13 X-ray irradiator 14 X-ray imager 17, 27, 37, 57 Fruit area 18, 28, 38, 58 Line area 19, 29, 39, 59 Defect area 21, 31 , 41 Smoothed fruit region 22, 32, 42 Smoothed stripe region 23, 33, 43 Smoothed defect region 24, 34, 44 Primary defect candidate region 25, 35, 45, 55, 65 Binary fruit region 26 , 36, 46, 56 Secondary defect candidate area 66 Defect candidate area

Claims (2)

栗の果実に電磁波を照射して、前記果実を透過した電磁波像を撮像する撮像工程と、
前記撮像にて得られた透過画像情報を複数の平滑化フィルタにて平滑化処理して、各々の平滑化画像情報から果実領域を特定する平滑化工程と、
任意の1つの前記平滑化された果実領域とこれ以外の前記平滑化された果実領域とを差分演算して、当該差分演算にて抽出された各抽出領域を第1次欠陥候補領域として特定する差分工程と、
前記透過画像情報を二値化処理して、この二値化画像情報から果実領域を特定する二値化工程と、
前記二値化された果実領域における低濃度画素に囲まれた高濃度画素の各孤立領域を第2次欠陥候補領域として、当該各第2次欠陥候補領域の面積を求める面積算出工程と、
前記第1次欠陥候補領域と対応関係にある前記第2次欠陥候補領域の面積が予め設定された設定面積の範囲外であれば、前記互いに対応関係にある第1及び第2欠陥候補領域は前記果実の内部欠陥に当たると判断する第1判断工程と、
を備えている、
栗の品質検査方法。
An imaging step of irradiating the chestnut fruit with electromagnetic waves and capturing an electromagnetic wave image transmitted through the fruits;
A smoothing step of smoothing the transmission image information obtained by the imaging with a plurality of smoothing filters and specifying a fruit region from each smoothed image information,
Any one of the smoothed fruit regions and the other smoothed fruit regions are subjected to a difference calculation, and each extracted region extracted by the difference calculation is specified as a primary defect candidate region. Differential process;
A binarization process for binarizing the transmission image information and identifying a fruit region from the binarized image information;
An area calculating step for determining an area of each secondary defect candidate area, with each isolated area of the high density pixel surrounded by the low density pixels in the binarized fruit area as a secondary defect candidate area,
If the area of the second defect candidate area corresponding to the first defect candidate area is outside the preset area, the first and second defect candidate areas corresponding to each other are A first determination step for determining that the fruit has an internal defect;
With
Chestnut quality inspection method.
前記各第2次欠陥候補領域について、前記果実における頭から座に向かう縦軸方向に沿った縦長さ、及び前記縦軸方向に直交する横軸方向に沿った横長さを測定する長さ測定工程と、
前記縦長さの前記横長さに対する縦横比を求める縦横比算出工程と、
前記第1判断工程で内部欠陥と判断された果実以外の果実における前記第2次欠陥候補領域の前記縦横比が予め設定された設定縦横比の範囲外か、又は前記第2次欠陥候補領域の前記横長さが予め設定された設定横長さより大きいならば、前記第2次欠陥候補領域は前記果実の内部欠陥に当たると判断する第2判断工程と、
を備えている、
請求項1に記載した栗の品質検査方法。
About each said secondary defect candidate area | region, the length measurement process which measures the vertical length along the vertical axis direction which goes to the seat from the head in the said fruit, and the horizontal axis direction orthogonal to the said vertical axis direction When,
An aspect ratio calculating step for obtaining an aspect ratio of the length to the width;
The aspect ratio of the second defect candidate area in a fruit other than the fruit determined to be an internal defect in the first determination step is out of a preset set aspect ratio, or the second defect candidate area A second determination step of determining that the second defect candidate area corresponds to an internal defect of the fruit if the horizontal length is larger than a preset set horizontal length;
With
The chestnut quality inspection method according to claim 1.
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4840313B2 (en) * 2007-09-26 2011-12-21 株式会社島津製作所 X-ray inspection equipment
CN105044128B (en) * 2015-07-14 2017-09-01 浙江大学 Fruit surface defect detection method based on illumination background difference shadow method
JP6702064B2 (en) * 2016-06-07 2020-05-27 株式会社デンソー Appearance abnormality inspection apparatus, method, and program
JP6431646B1 (en) * 2017-01-13 2018-11-28 株式会社ニチレイフーズ Inspection method for soybeans and method for producing soybeans food
CN109752391B (en) * 2018-12-25 2020-06-30 中国农业大学 Carrot surface defect identification and quantification method based on machine vision

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63225157A (en) * 1987-03-16 1988-09-20 Toshiba Corp Quality judging apparatus
JPS63236989A (en) * 1987-03-26 1988-10-03 Toshiba Corp Foreign matter detector
JPH02266248A (en) * 1989-04-06 1990-10-31 Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd Inspection of foreign matter
JPH03209583A (en) * 1990-01-12 1991-09-12 Kawasaki Heavy Ind Ltd Automatic extraction processing method for welding defect image in radiation test
JP2000076446A (en) * 1998-08-27 2000-03-14 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Automatic welding defect detecting method in radiographic inspection
JP2000171230A (en) * 1998-09-29 2000-06-23 Toshiba Corp Method and device for inspecting micropattern shape
JP2001028059A (en) * 1999-07-15 2001-01-30 Dainippon Printing Co Ltd Method and device for color unevenness inspection
JP2001281173A (en) * 2000-03-31 2001-10-10 Shimadzu Corp X-ray inspection device
JP2002135592A (en) * 2000-09-05 2002-05-10 Fuji Xerox Co Ltd Image processing apparatus and recording medium
JP2002168807A (en) * 2000-11-28 2002-06-14 Toshiba It & Control Systems Corp Fruit vegetable inspecting instrument
JP2004053477A (en) * 2002-07-22 2004-02-19 Dainippon Printing Co Ltd Color irregularity inspecting method and apparatus
JP2004181432A (en) * 2002-12-06 2004-07-02 Yanmar Agricult Equip Co Ltd Chestnut sorting apparatus
JP2005043222A (en) * 2003-07-22 2005-02-17 Mitsubishi Electric Corp Object surface inspection device and object surface inspection method

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63225157A (en) * 1987-03-16 1988-09-20 Toshiba Corp Quality judging apparatus
JPS63236989A (en) * 1987-03-26 1988-10-03 Toshiba Corp Foreign matter detector
JPH02266248A (en) * 1989-04-06 1990-10-31 Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd Inspection of foreign matter
JPH03209583A (en) * 1990-01-12 1991-09-12 Kawasaki Heavy Ind Ltd Automatic extraction processing method for welding defect image in radiation test
JP2000076446A (en) * 1998-08-27 2000-03-14 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd Automatic welding defect detecting method in radiographic inspection
JP2000171230A (en) * 1998-09-29 2000-06-23 Toshiba Corp Method and device for inspecting micropattern shape
JP2001028059A (en) * 1999-07-15 2001-01-30 Dainippon Printing Co Ltd Method and device for color unevenness inspection
JP2001281173A (en) * 2000-03-31 2001-10-10 Shimadzu Corp X-ray inspection device
JP2002135592A (en) * 2000-09-05 2002-05-10 Fuji Xerox Co Ltd Image processing apparatus and recording medium
JP2002168807A (en) * 2000-11-28 2002-06-14 Toshiba It & Control Systems Corp Fruit vegetable inspecting instrument
JP2004053477A (en) * 2002-07-22 2004-02-19 Dainippon Printing Co Ltd Color irregularity inspecting method and apparatus
JP2004181432A (en) * 2002-12-06 2004-07-02 Yanmar Agricult Equip Co Ltd Chestnut sorting apparatus
JP2005043222A (en) * 2003-07-22 2005-02-17 Mitsubishi Electric Corp Object surface inspection device and object surface inspection method

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