JP4664551B2 - X-ray CT system, operation console, control method therefor, and phantom - Google Patents

X-ray CT system, operation console, control method therefor, and phantom Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、X線CTシステム、操作コンソール、及びその制御方法、ファントムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
X線CTシステムにおいてスキャン計画を入力する際、このスキャン計画に含まれるスライス厚も入力する。ここでスキャン計画とは、被検体の所定部位に対してX線を照射して、この所定部位を透過するX線を検出し、検出したX線の量からこの所定部位の投影データを得る(スキャン)ための、X線の量やスライス厚等の情報を指す。そしてX線CTシステムは被検体に対して、入力されたスライス厚に従ったスライス厚でスキャンを行う。しかし、入力したスライス厚と実際にスキャンを行う際のスライス厚とでは若干異なる場合がある。
【0003】
そこで、例えばチェックのために、実際にスキャンを行う際のスライス厚を測定し、入力したスライス厚と比較検討することがある。従来ではこの測定を行う場合、所定位置に所定姿勢でワイヤーを備えたファントムを用いて行っていた。図1にこのファントムを用いてスライス厚を測定する際の、横から見たX線CTシステムを示す。
【0004】
同図において、100はテーブルで、患者を横たえさせるものである。101はファントムで、その内部にワイヤー102を備えており、テーブル100の一端に固定される。このワイヤー102はファントム101内の所定の位置に所定の角度θで備えられている。103はガントリで、ファントム101内のワイヤー102の周囲360度(同図でz軸周り360度)からX線を照射し、ワイヤー102の投影データを出力する。この投影データは、不図示の操作コンソールに送信され、後述の測定処理が行われる。
【0005】
図2にこのファントムを用いたスライス厚の測定方法を示す。同図(a)において、102はワイヤーで、ファントムの筐体内の所定の位置に角度θで固定されている。このワイヤー102に対してxのスライス厚でX線(両端のX線ビームを夫々201,202とする)を照射し、投影データを得、この投影データを用いて例えば操作コンソールなどで画像再構成処理を行うと、同図(b)に示すように、長さyのワイヤー102の撮影画像203が得られる。これは、X線ビーム201,202がワイヤー102を透過する際に、ワイヤー102と交差する上端点と下端点の間の長さがyであることに起因する。そして、この同図(b)に示した画像上の長さyと、ワイヤー102の傾きθとを用いて、スライス厚xを以下の式に従って求めていた。
【0006】
x=y/tanθ (1)
【発明が解決しようとする課題】
しかし従来のスライス厚の測定方法は、ワイヤー102のワイヤー径を無視していた。図3にその原理を示す。同図において、300はワイヤーで、上述の上端点、下端点を夫々A,Bで示す。この場合、実際のスライス厚xは以下の式で表されることになる。
【0007】
x=y/tanθ’ (2)
よって、ワイヤー径を考慮すると、θとθ’とが異なることに起因して、式(1)とは異なる結果(スライス厚)を求めることになり、求めたスライス厚は誤差を含んだものとなってしまう。又、この傾向は求める対象となるスライス厚が薄ければ薄いほど顕著である(スライス厚が1mm以下であって、例えば0.5mmや0.625mm等のThin Sliceの場合)。また図3より、ワイヤー径が限りなく0に近づくと、θとθ’の差が小さくなるので、ワイヤー径が限りなく0に近いワイヤーを用いてスライス厚の測定を行うことが理想的である。
【0008】
このことに対応するために、一部では50μmmのワイヤー径のワイヤーを用いてスライス厚の測定を行ったりするが、このワイヤーの強度は大変に小さく、一般に配給されるものではない。
【0009】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、ワイヤー径が限りなく0に近い場合のスライス厚を求めることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明のX線CTシステムは以下の構成を備える。
【0011】
すなわち、X線を照射するX線管と、当該X線管が照射するX線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムと、X線を検出する検出器とを備え、前記X線管から照射され、前記ファントムが備えるワイヤーを透過したX線を前記検出器が検出するスキャンを行うことで、前記ワイヤーの投影データを出力するガントリ装置と、
前記ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる前記ワイヤーの投影データから前記ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールとで構成されるX線CTシステムであって、
前記ファントムは、
前記X線管が照射するX線と所定の角度をなすように、互いに平行で径が異なるスライス厚測定用のワイヤーを複数備え、
前記操作コンソールは、
前記互いに平行で径が異なる複数のスライス測定用のワイヤー毎に、ワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算手段と、
前記ワイヤー毎に求められた推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を作成し、当該関係情報を用いて、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算手段と
を備える。
【0012】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明のファントムは以下の構成を備える。
【0013】
すなわち、X線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムであって、
前記X線と所定の角度をなすように、互いに平行で径が異なるスライス厚測定用のワイヤーを複数備える。
【0014】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明の操作コンソールは以下の構成を備える。
【0015】
すなわち、ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる、X線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムにおける当該ワイヤーの投影データから前記ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールであって、
前記ファントムは、
前記X線管が照射するX線と所定の角度をなすように、互いに平行で径が異なるスライス厚測定用のワイヤーを複数備え、
前記操作コンソールは、
前記平行で互いに平行で径が異なる複数のスライス測定用のワイヤー毎に、ワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算手段と、
前記ワイヤー毎に求められた推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を作成し、当該関係情報を用いて、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算手段と
を備える。
【0016】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明のX線CTシステムは以下の構成を備える。
【0017】
すなわち、X線を照射するX線管と、当該X線管が照射するX線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムと、X線を検出する検出器とを備え、前記X線管から照射され、前記ファントムが備えるワイヤーを透過したX線を前記検出器が検出するスキャンを行うことで、前記ワイヤーの投影データを出力するガントリ装置と、
前記ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる前記ワイヤーの投影データから前記ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールとで構成されるX線CTシステムであって、
前記操作コンソールは、
互いに平行で径の異なるスライス測定用のワイヤー毎に推定された推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を格納する格納手段と、
前記ファントムが備えるワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムに対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算手段と、
前記推定スライス厚と、前記ファントムが備えるワイヤーのワイヤー径とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、選択した当該関係情報を用いて前記格納手段から、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算手段と
を備える。
【0018】
本発明の目的を達成するために、例えば本発明の操作コンソールは以下の構成を備える。
【0019】
すなわち、ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる、X線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムが備えるワイヤーの投影データから当該ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールであって、
互いに平行で径の異なるスライス測定用のワイヤー毎に推定された推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を格納する格納手段と、
前記ファントムが備えるワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算手段と、
前記推定スライス厚と、前記ファントムが備えるワイヤーのワイヤー径とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、選択した当該関係情報を用いて前記格納手段から、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算手段と
を備える。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下添付した図面を参照して、本発明を好適な実施形態に従って、詳細に説明する。
【0021】
[第1の実施形態]
図4は、本実施形態のX線CTシステムのブロック構成図である。図示のように本システムは、被検体へのX線照射と被検体を透過したX線を検出するためのX線検出機構を一体的に取り付けるガントリ装置100と、ガントリ装置100に対して各種動作設定を行うとともに、ガントリ装置100から出力されたデータに基づいてX線断層像を再構成し、表示する操作コンソール200により構成されている。
【0022】
ガントリ装置100は、その全体の制御をつかさどるメインコントローラ1をはじめ、以下の構成を備える。
【0023】
2は操作コンソール200との通信を行うためのインタフェース、3はテーブル12上に横たえた被検体(患者)を搬送(図面に垂直な方向で以下、z軸ともいう)するための空洞部を有するガントリであり、内部には、X線発生源であるX線管4(X線管コントローラ5により駆動制御される)、X線の照射範囲を画定するためのスリットを有するコリメータ6、コリメータ6のX線照射範囲を画定するスリット幅の調整用モータであるモータ7aが設けられている。このモータ7aの駆動はコリメータコントローラ7により制御される。
【0024】
また、ガントリ3は、被検体を透過したX線を検出するX線検出部8、およびX線検出部8で得た透過X線より得られる投影データを収集するデータ収集部9も備える。X線管4及びコリメータ6と、X線検出部8は互いに空洞部分を挟んで、すなわち、被検体を挟んで対向する位置に設けられ、その関係が維持された状態でガントリ3のまわりを回動するようになっている。この回動は、モータコントローラ11からの駆動信号により駆動される回転モータ10によって行われる。また、被検体を乗せるテーブル12は、z軸方向への搬送がなされるが、その駆動はテーブルモータ13によって行われる。また、テーブル12には本実施形態におけるファントム20が図1に示したように取り付けられている。ファントム20については後述する。
【0025】
メインコントローラ1は、インタフェース2を介して受信した各種コマンドの解析を行い、それに基づいて上記のX線管コントローラ5、コリメータコントローラ7、モータコントローラ11、テーブルモータコントローラ14、そして、データ収集部9に対し、各種制御信号を出力することになる。また、メインコントローラ1は、データ収集部9で収集された投影データを、インタフェース2を介して操作コンソール200に送出する処理も行う。
【0026】
操作コンソール200は、いわゆるワークステーションであり、図示するように、装置全体の制御をつかさどるCPU51、ブートプログラムを記憶しているROM52、主記憶装置として機能するRAM53をはじめ、以下の構成を備える。
【0027】
HDD54は、ハードディスク装置であって、ここにOS、後述するスライス厚測定プログラムのほか、ガントリ装置100に各種指示を与えたり、ガントリ装置100より受信したデータに基づいてX線断層像を再構成するためのプログラムが格納されている。VRAM55は表示しようとするイメージデータを展開するメモリであり、ここにイメージデータ等を展開することでCRT56に表示させることができる。57及び58は、各種設定を行うためのキーボードおよびマウスである。また、59はガントリ装置100と通信を行うためのインタフェースである。
【0028】
図5に本実施形態におけるファントム20の基本構成を示す。同図において500はファントムの筐体で、この筐体500内にはワイヤー径の異なる3本のワイヤー501,502,503が夫々異なる位置に平行(所定の方向、例えば同図ではz軸方向に対して角度θ)に設けられている。この夫々のワイヤーに対して同じスライス厚でX線管4からX線を照射し、上述の通り式(1)に従ってスライス厚(このスライス厚は真値ではないために、以下推定スライス厚と呼ぶ)xを求める。各ワイヤー501,502,503を用いて求めた推定スライス厚を夫々x1,x2,x3とする。上述の通り、この推定スライス厚x1,x2,x3はいずれもワイヤー501,502,503のワイヤー径を無視して求めたものであるので、誤差を含んでおり、真値ではない。
【0029】
そこで、図6に示すように、横軸にワイヤー径、縦軸に推定スライス厚をとり、この座標系に各ワイヤー501,502,503によって求められた推定スライス厚(同図では601,602,603)をプロットする。そして次に、これらの点601,602,603を用いて補間される直線を求める。この直線はワイヤー径と推定スライス厚との関係式であって、ここでは直線と仮定している。この直線を求める方法は特には限定しないが、例えば、点601,602,603の座標値を用いて最小自乗法を用いて、直線を求めても良い。
【0030】
また、4点以上プロットするので有れば、直線に限定されるものではない。つまり、4点以上用いるのであれば、スプライン補間など、曲線補間を用いてもよい。
【0031】
この3点601,602,603を用いて補間される直線を求めた後、y切片、すなわち、点604におけるy座標値を求める。このy座標値はすなわち、ワイヤー径が0である場合のスライス厚であるので、理想的な真値としてのスライス厚となる。
【0032】
以上のようにして、理想的なスライス厚(ワイヤー径が0であるワイヤーを用いて求めたスライス厚)を求めることができる。尚、本実施形態ではファントム内に3本のワイヤーを備えているが、この数に限定されるものではない。すなわち、より多くのワイヤーを備えることで、すべてのワイヤーに対する推定スライス厚を求める時間は多くかかるものの、図6に示した直線を求めるためのデータが増えるので、より精度良く直線を求めることができる。
【0033】
図7に、本実施形態におけるX線CTシステムを用いて、上述のスライス厚の測定を行う場合の処理のフローチャートを示す。尚、本フローチャートに従った処理が実行される事前に、ガントリ装置100のテーブルの一端にファントムを取り付けておく。また、ファントム20内の各ワイヤーの角度θは既知のものであるとする。
【0034】
まず、操作コンソール200で、キーボード57,マウス58を用いてスライス厚を含むスキャン計画を入力し(ステップS701)、入力したスキャン計画をガントリ装置100に送信する(ステップS702)。ガントリ装置100はスキャン計画を受信し(ステップS751)、受信したスキャン計画に基づいてスキャンを行う(ステップS752)。このスキャンは、ファントム20内に設けられたワイヤーに対して行う。そして、スキャンの結果得られる各ワイヤーの投影データを操作コンソール200に送信する(ステップS753)。
【0035】
操作コンソール200は、ガントリ装置100から送信されてきた各ワイヤーの投影データを受信し(ステップS703)、受信した投影データに対して画像再構成処理を行い(ステップS704)、各ワイヤーの撮影画像を得る。次に、得られた各ワイヤーの撮影画像上から、各ワイヤーの長さ(例えば、図2におけるワイヤーの画像の長さy)を測定する(ステップS705)。この測定方法は特には限定しないが、例えば、ワイヤーの画像を構成する画素数や、撮影倍率などに基づいて操作コンソール200により計算しても良い。
【0036】
そして、上述の通り、式(1)を用いて各ワイヤーに対する推定スライス厚を求め(ステップS706)、(ワイヤー径、推定スライス厚)を座標情報として、図6に例示した直線を求め、この直線のy切片、すなわち、ワイヤー径が0であるときのスライス厚を求める(ステップS707)。
【0037】
[第2の実施形態]
第1の実施形態では、複数の(径の異なる)ワイヤーを用いてスライス厚の測定を行っていた。しかし本実施形態では、第1の実施形態で示したスライス厚の測定方法によって求められるワイヤー径と推定スライス厚との関係式を、異なる複数のスライス厚の測定を行うことで、複数求め、テーブルとして操作コンソール200のHDD54に保持しておく。
【0038】
図8に、このテーブルの例を示す。このテーブルは関係式が直線であるとした場合に、各スライス厚に対する直線の傾きが記載されたものである。図6に示した直線を例に取ってこのテーブルを説明すると、点604のy切片(スライス厚)に対する、点601,602,603、604を通過する直線の傾きが記載されている。なお、関係式が曲線である場合には、例えば曲線上の点をサンプリングし、サンプリングされた点のデータをこのテーブルに記載しても良い。
【0039】
よって、1本のワイヤーを用いて推定スライス厚を求めた場合に、座標が(このワイヤーのワイヤー径、求めた推定スライス厚)として表される点に最も近い直線を、図8に示された各スライス厚、傾きのデータにより特定される複数の直線から選択する。
【0040】
図9は、1本のワイヤーを用いて推定スライス厚を測定した求めた場合に、座標が(このワイヤーのワイヤー径、求めた推定スライス厚)として表される点に最も近い直線を、図8に示されたデータにより特定される複数の直線から選択する方法を示す。
【0041】
同図において、異なるスライス厚に対する直線(図8に示したテーブルに記載されたスライス厚、傾きで特定される複数の直線)を夫々901,902,903とする。ここで、1本のワイヤーを用いて推定スライス厚を求めた場合、(このワイヤーのワイヤー径、求めた推定スライス厚)を座標とする点を904とする。この場合、最も近い直線は902であるので、直線902のy切片が、この場合の理想的なスライス厚となる。
【0042】
本実施形態におけるX線CTシステムにおいて、1本のワイヤーを用いてスライス厚を測定する際の処理のフローチャートを図10に示す。尚、同図に示したフローチャートが図7に示したものと異なる部分として、図10に示したフローチャートは、1つのワイヤーを用いてスライス厚を測定しており、また、ステップS1007における処理が新たに加わった点である。ステップS1007では、ステップS1006で求めた推定スライス厚を用いて、(このワイヤーのワイヤー径、求めた推定スライス厚)で座標が表される点に最も近い直線を図8に例示したテーブルから選択する。そしてステップS1008では選択した直線のy切片を求める。
【0043】
よって、図8に示したテーブルを用いると、1本のワイヤーを用いて理想的なスライス厚を求めることができる。
【0044】
[その他の実施形態]
また、本発明の目的は、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体(または記録媒体)を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても実現できるものである。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータ(操作コンソール)が読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム(OS)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【0045】
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した(図7、10に示すフローチャートの一部もしくは全部)に対応するプログラムコードが格納されることになる。
【0046】
このようなプログラムコードを格納する記憶媒体としては、例えばフロッピーディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROM等を用いることができる。更には、ネットワーク(例えばインターネット)という媒体を介してダウンロードしても良いであろう。
【0047】
【発明の効果】
以上の説明により、本発明によって、ワイヤー径が限りなく0に近い場合のスライス厚を求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】ファントムを用いてスライス厚を測定する際の、横から見たX線CTシステムを示す図である。
【図2】ファントムを用いた、従来のスライス厚の測定方法を示す図である。
【図3】従来のスライス厚の測定方法がワイヤー径を無視していたこと説明するための図である。
【図4】本発明の第1の実施形態におけるX線CTシステムのブロック構成図である。
【図5】本発明の第1の実施形態におけるファントム20の基本構成を示す図である。
【図6】ワイヤー径と、推定スライス厚の関係を示すグラフである。
【図7】本発明の第1の本実施形態におけるX線CTシステムを用いて、スライス厚の測定を行う場合の処理のフローチャートである。
【図8】ワイヤー径と推定スライス厚との関係式を、異なる複数のスライス厚毎に記載したテーブルの例を示す図である。
【図9】1本のワイヤーを用いて推定スライス厚を求めた場合に、座標が(このワイヤーのワイヤー径、求めた推定スライス厚)として表される点に最も近い直線を、図8に示されたデータにより特定される複数の直線から選択する方法を説明する図である。
【図10】本発明の第2の本実施形態におけるX線CTシステムを用いて、スライス厚の測定を行う場合の処理のフローチャートである。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an X-ray CT system, an operation console, a control method therefor, and a phantom.
[0002]
[Prior art]
When a scan plan is input in the X-ray CT system, a slice thickness included in the scan plan is also input. Here, the scan plan refers to irradiating a predetermined part of the subject with X-rays, detecting X-rays transmitted through the predetermined part, and obtaining projection data of the predetermined part from the detected amount of X-rays ( Information such as the amount of X-rays and slice thickness for scanning. The X-ray CT system scans the subject with a slice thickness according to the input slice thickness. However, the input slice thickness may be slightly different from the slice thickness when actually scanning.
[0003]
Therefore, for example, for checking, a slice thickness at the time of actual scanning may be measured and compared with the input slice thickness. Conventionally, when this measurement is performed, a phantom having a wire in a predetermined posture at a predetermined position is used. FIG. 1 shows an X-ray CT system viewed from the side when measuring the slice thickness using this phantom.
[0004]
In the figure, reference numeral 100 denotes a table for laying a patient. A phantom 101 includes a wire 102 therein and is fixed to one end of the table 100. The wire 102 is provided at a predetermined position in the phantom 101 at a predetermined angle θ. Reference numeral 103 denotes a gantry that emits X-rays from 360 degrees around the wire 102 in the phantom 101 (360 degrees around the z axis in the figure) and outputs projection data of the wire 102. This projection data is transmitted to an operation console (not shown), and measurement processing described later is performed.
[0005]
FIG. 2 shows a slice thickness measurement method using this phantom. In FIG. 2A, reference numeral 102 denotes a wire, which is fixed at a predetermined position in the phantom housing at an angle θ. This wire 102 is irradiated with X-rays with x slice thicknesses (X-ray beams at both ends are 201 and 202, respectively) to obtain projection data, and this projection data is used to reconstruct an image on an operation console, for example. When the processing is performed, a captured image 203 of the wire 102 having a length y is obtained as shown in FIG. This is because the length between the upper end point and the lower end point intersecting the wire 102 is y when the X-ray beams 201 and 202 pass through the wire 102. Then, using the length y on the image shown in FIG. 5B and the inclination θ of the wire 102, the slice thickness x was obtained according to the following equation.
[0006]
x = y / tan θ (1)
[Problems to be solved by the invention]
However, the conventional slice thickness measurement method ignores the wire diameter of the wire 102. FIG. 3 shows the principle. In the figure, reference numeral 300 denotes a wire, and the above-mentioned upper end point and lower end point are indicated by A and B, respectively. In this case, the actual slice thickness x is expressed by the following equation.
[0007]
x = y / tan θ ′ (2)
Therefore, when the wire diameter is taken into consideration, the result (slice thickness) different from the equation (1) is obtained due to the difference between θ and θ ′, and the obtained slice thickness includes an error. turn into. In addition, this tendency becomes more conspicuous as the slice thickness to be obtained is thinner (in the case of Thin Slice having a slice thickness of 1 mm or less, for example, 0.5 mm or 0.625 mm). In addition, as shown in FIG. 3, when the wire diameter approaches 0 as much as possible, the difference between θ and θ ′ decreases, so it is ideal to measure the slice thickness using a wire whose wire diameter is as close to 0 as possible. .
[0008]
In order to cope with this, the slice thickness is measured using a wire having a wire diameter of 50 μm in part, but the strength of this wire is very small and is not generally distributed.
[0009]
This invention is made | formed in view of this problem, and it aims at calculating | requiring the slice thickness in case a wire diameter is infinitely close to zero.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the object of the present invention, for example, an X-ray CT system of the present invention comprises the following arrangement.
[0011]
That is, an X-ray tube that irradiates X-rays, a phantom that includes a slice thickness measurement wire so as to form a predetermined angle with the X-rays that the X-ray tube irradiates, and a detector that detects X-rays. A gantry device that outputs projection data of the wire by performing a scan in which the detector detects X-rays irradiated from the X-ray tube and transmitted through the wire included in the phantom;
The gantry apparatus is instructed to scan, and a captured image of the wire is generated from the projection data of the wire obtained from the gantry apparatus based on the instruction, and the captured image and a predetermined direction of the phantom of the wire An X-ray CT system comprising an operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using an angle with respect to
The phantom is
A plurality of wires for slice thickness measurement that are parallel to each other and have different diameters so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube,
The operation console is
For each of the plurality of slice measurement wires that are parallel to each other and have different diameters, the gantry apparatus is used for scanning using a captured image of the wire and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom. First calculating means for determining an estimated slice thickness;
Second calculation means for creating relationship information between the estimated slice thickness obtained for each wire and the wire diameter of the wire, and obtaining the slice thickness when the wire diameter is substantially 0 using the relationship information With.
[0012]
In order to achieve the object of the present invention, for example, a phantom of the present invention comprises the following arrangement.
[0013]
That is, a phantom including a slice thickness measuring wire so as to form a predetermined angle with the X-ray,
A plurality of slice thickness measuring wires that are parallel to each other and have different diameters are provided so as to form a predetermined angle with the X-ray.
[0014]
In order to achieve the object of the present invention, for example, an operation console of the present invention comprises the following arrangement.
[0015]
That is, from the projection data of the wire in the phantom that is provided with the wire for slice thickness measurement so as to form a predetermined angle with the X-ray obtained from the gantry device based on the instruction to scan the gantry device An operation console that generates a captured image of the wire and measures a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using the captured image and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom,
The phantom is
A plurality of wires for slice thickness measurement that are parallel to each other and have different diameters so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube,
The operation console is
Used when the gantry apparatus performs a scan using a captured image of the wire and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom for each of the plurality of parallel measurement wires having different diameters. First calculating means for determining an estimated slice thickness estimated to have been
Second calculation means for creating relationship information between the estimated slice thickness obtained for each wire and the wire diameter of the wire, and obtaining the slice thickness when the wire diameter is substantially 0 using the relationship information With.
[0016]
In order to achieve the object of the present invention, for example, an X-ray CT system of the present invention comprises the following arrangement.
[0017]
That is, an X-ray tube that irradiates X-rays, a phantom that includes a slice thickness measurement wire so as to form a predetermined angle with the X-rays that the X-ray tube irradiates, and a detector that detects X-rays. A gantry device that outputs projection data of the wire by performing a scan in which the detector detects X-rays irradiated from the X-ray tube and transmitted through the wire included in the phantom;
The gantry apparatus is instructed to scan, and a captured image of the wire is generated from the projection data of the wire obtained from the gantry apparatus based on the instruction, and the captured image and a predetermined direction of the phantom of the wire An X-ray CT system comprising an operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using an angle with respect to
The operation console is
Storage means for storing relationship information between an estimated slice thickness estimated for each wire for slice measurement parallel and different in diameter, and the wire diameter of the wire,
First calculation means for obtaining an estimated slice thickness that is estimated to be used when the gantry apparatus performs a scan, using a captured image of the wire included in the phantom and an angle of the wire with respect to the phantom;
Using the estimated slice thickness and the wire diameter of the wire included in the phantom, the corresponding relation information is selected from the storage means, and further, the wire diameter is approximately from the storage means using the selected relation information. Second calculating means for obtaining a slice thickness in the case of zero.
[0018]
In order to achieve the object of the present invention, for example, an operation console of the present invention comprises the following arrangement.
[0019]
That is, from the projection data of the wire provided in the phantom provided with the wire for slice thickness measurement so as to form a predetermined angle with the X-ray obtained from the gantry device based on the instruction to scan. An operation console for generating a captured image of the wire and measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using the captured image and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom,
Storage means for storing relationship information between an estimated slice thickness estimated for each wire for slice measurement parallel and different in diameter, and the wire diameter of the wire,
First calculation means for obtaining an estimated slice thickness that is estimated to be used when the gantry apparatus performs a scan using a captured image of the wire included in the phantom and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom When,
Using the estimated slice thickness and the wire diameter of the wire included in the phantom, the corresponding relation information is selected from the storage means, and further, the wire diameter is approximately from the storage means using the selected relation information. Second calculating means for obtaining a slice thickness in the case of zero.
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in detail according to preferred embodiments with reference to the accompanying drawings.
[0021]
[First Embodiment]
FIG. 4 is a block diagram of the X-ray CT system of this embodiment. As shown in the figure, the present system includes a gantry apparatus 100 that integrally attaches an X-ray irradiation to a subject and an X-ray detection mechanism for detecting X-rays transmitted through the subject, and various operations on the gantry apparatus 100. The operation console 200 is configured to perform setting and reconstruct and display an X-ray tomogram based on data output from the gantry apparatus 100.
[0022]
The gantry apparatus 100 has the following configuration including the main controller 1 that controls the entire system.
[0023]
2 is an interface for communicating with the operation console 200, and 3 has a cavity for transporting a subject (patient) lying on the table 12 (hereinafter also referred to as z-axis in a direction perpendicular to the drawing). The gantry includes an X-ray tube 4 that is an X-ray generation source (driven and controlled by the X-ray tube controller 5), a collimator 6 having a slit for defining an X-ray irradiation range, and a collimator 6 A motor 7a that is a motor for adjusting the slit width that defines the X-ray irradiation range is provided. The driving of the motor 7a is controlled by the collimator controller 7.
[0024]
The gantry 3 also includes an X-ray detection unit 8 that detects X-rays transmitted through the subject, and a data collection unit 9 that collects projection data obtained from the transmitted X-rays obtained by the X-ray detection unit 8. The X-ray tube 4 and the collimator 6 and the X-ray detection unit 8 are provided at positions facing each other with the cavity portion sandwiched therebetween, that is, with the subject sandwiched therebetween, and rotate around the gantry 3 while maintaining the relationship therebetween. It comes to move. This rotation is performed by the rotary motor 10 driven by a drive signal from the motor controller 11. The table 12 on which the subject is placed is transported in the z-axis direction, and is driven by the table motor 13. Moreover, the phantom 20 in this embodiment is attached to the table 12 as shown in FIG. The phantom 20 will be described later.
[0025]
The main controller 1 analyzes various commands received via the interface 2, and based on the analysis, the X-ray tube controller 5, collimator controller 7, motor controller 11, table motor controller 14, and data collection unit 9 On the other hand, various control signals are output. The main controller 1 also performs a process of sending the projection data collected by the data collection unit 9 to the operation console 200 via the interface 2.
[0026]
The operation console 200 is a so-called workstation, and includes the following configuration including a CPU 51 that controls the entire apparatus, a ROM 52 that stores a boot program, and a RAM 53 that functions as a main storage device, as shown in the figure.
[0027]
The HDD 54 is a hard disk device. In addition to the OS and a slice thickness measurement program described later, the HDD 54 gives various instructions to the gantry device 100 and reconstructs an X-ray tomogram based on data received from the gantry device 100. A program is stored for this purpose. The VRAM 55 is a memory for developing image data to be displayed, and can be displayed on the CRT 56 by developing the image data or the like here. Reference numerals 57 and 58 denote a keyboard and a mouse for performing various settings. Reference numeral 59 denotes an interface for communicating with the gantry apparatus 100.
[0028]
FIG. 5 shows a basic configuration of the phantom 20 in the present embodiment. In the figure, reference numeral 500 denotes a phantom casing. In the casing 500, three wires 501, 502, and 503 having different wire diameters are parallel to different positions (in a predetermined direction, for example, in the z-axis direction in the figure). It is provided at an angle θ). These wires are irradiated with X-rays from the X-ray tube 4 with the same slice thickness, and the slice thickness is obtained in accordance with the equation (1) as described above (because this slice thickness is not a true value, hereinafter referred to as an estimated slice thickness). ) Find x. Assume that the estimated slice thicknesses obtained using the wires 501, 502, and 503 are x1, x2, and x3, respectively. As described above, the estimated slice thicknesses x1, x2, and x3 are obtained by ignoring the wire diameters of the wires 501, 502, and 503, and therefore include errors and are not true values.
[0029]
Therefore, as shown in FIG. 6, the horizontal axis represents the wire diameter, the vertical axis represents the estimated slice thickness, and the estimated slice thickness obtained from each wire 501, 502, 503 in this coordinate system (in the figure, 601, 602). 603) is plotted. Then, a straight line to be interpolated using these points 601, 602, 603 is obtained. This straight line is a relational expression between the wire diameter and the estimated slice thickness, and is assumed to be a straight line here. The method for obtaining this straight line is not particularly limited. For example, the straight line may be obtained using the least square method using the coordinate values of the points 601, 602, and 603.
[0030]
Moreover, as long as four or more points are plotted, the line is not limited to a straight line. That is, if four or more points are used, curve interpolation such as spline interpolation may be used.
[0031]
After obtaining a straight line to be interpolated using these three points 601, 602 and 603, a y-intercept, that is, a y-coordinate value at the point 604 is obtained. That is, since the y coordinate value is a slice thickness when the wire diameter is 0, the slice thickness is an ideal true value.
[0032]
As described above, an ideal slice thickness (a slice thickness obtained using a wire having a wire diameter of 0) can be obtained. In this embodiment, three wires are provided in the phantom, but the number is not limited to this. That is, by providing more wires, it takes more time to obtain the estimated slice thickness for all wires, but the data for obtaining the straight line shown in FIG. 6 increases, so the straight line can be obtained more accurately. .
[0033]
FIG. 7 shows a flowchart of processing when the above-described slice thickness is measured using the X-ray CT system in the present embodiment. A phantom is attached to one end of the table of the gantry apparatus 100 before the processing according to this flowchart is executed. Further, it is assumed that the angle θ of each wire in the phantom 20 is known.
[0034]
First, on the operation console 200, a scan plan including a slice thickness is input using the keyboard 57 and the mouse 58 (step S701), and the input scan plan is transmitted to the gantry apparatus 100 (step S702). The gantry apparatus 100 receives the scan plan (step S751), and performs a scan based on the received scan plan (step S752). This scan is performed on the wire provided in the phantom 20. Then, the projection data of each wire obtained as a result of the scan is transmitted to the operation console 200 (step S753).
[0035]
The operation console 200 receives the projection data of each wire transmitted from the gantry apparatus 100 (step S703), performs image reconstruction processing on the received projection data (step S704), and captures the captured image of each wire. obtain. Next, the length of each wire (for example, the length y of the wire image in FIG. 2) is measured from the obtained captured image of each wire (step S705). Although this measurement method is not particularly limited, for example, it may be calculated by the operation console 200 based on the number of pixels constituting the wire image, the photographing magnification, and the like.
[0036]
And as above-mentioned, the estimated slice thickness with respect to each wire is calculated | required using Formula (1) (step S706), the straight line illustrated in FIG. 6 is calculated | required by making (wire diameter, estimated slice thickness) into coordinate information, and this straight line Y slice, that is, the slice thickness when the wire diameter is 0 is obtained (step S707).
[0037]
[Second Embodiment]
In the first embodiment, the slice thickness is measured using a plurality of (different diameters) wires. However, in this embodiment, a plurality of relational expressions between the wire diameter and the estimated slice thickness obtained by the slice thickness measurement method shown in the first embodiment are obtained by measuring a plurality of different slice thicknesses. Is stored in the HDD 54 of the operation console 200.
[0038]
FIG. 8 shows an example of this table. This table describes the slope of a straight line with respect to each slice thickness when the relational expression is a straight line. The table will be described taking the straight line shown in FIG. 6 as an example. The slope of the straight line passing through the points 601, 602, 603, and 604 with respect to the y-intercept (slice thickness) of the point 604 is described. When the relational expression is a curve, for example, a point on the curve may be sampled, and data of the sampled point may be described in this table.
[0039]
Therefore, when the estimated slice thickness is obtained using a single wire, the straight line closest to the point where the coordinates are expressed as (wire diameter of this wire, obtained estimated slice thickness) is shown in FIG. Selection is made from a plurality of straight lines specified by the slice thickness and inclination data.
[0040]
FIG. 9 shows the straight line closest to the point where the coordinates are represented as (wire diameter of this wire, calculated estimated slice thickness) when the estimated slice thickness is measured using one wire. A method for selecting from a plurality of straight lines specified by the data shown in FIG.
[0041]
In the figure, straight lines 901, 902, and 903 corresponding to different slice thicknesses (a plurality of straight lines specified by slice thicknesses and inclinations described in the table shown in FIG. 8) are used. Here, when the estimated slice thickness is obtained using a single wire, a point having the coordinates of (the wire diameter of the wire and the obtained estimated slice thickness) is defined as 904. In this case, since the closest straight line is 902, the y-intercept of the straight line 902 is an ideal slice thickness in this case.
[0042]
In the X-ray CT system in the present embodiment, a flowchart of processing when measuring the slice thickness using one wire is shown in FIG. Note that the flowchart shown in FIG. 10 is different from that shown in FIG. 7. In the flowchart shown in FIG. 10, the slice thickness is measured using one wire, and the processing in step S1007 is new. It is a point added to. In step S1007, using the estimated slice thickness obtained in step S1006, the straight line closest to the point whose coordinates are represented by (the wire diameter of this wire, the obtained estimated slice thickness) is selected from the table illustrated in FIG. . In step S1008, the y-intercept of the selected straight line is obtained.
[0043]
Therefore, when the table shown in FIG. 8 is used, an ideal slice thickness can be obtained using one wire.
[0044]
[Other Embodiments]
Another object of the present invention is to supply a storage medium (or recording medium) in which a program code of software that realizes the functions of the above-described embodiments is recorded to a system or apparatus, and to perform a computer (or CPU or CPU) of the system or apparatus. (MPU) can also be realized by reading and executing the program code stored in the storage medium. In this case, the program code itself read from the storage medium realizes the functions of the above-described embodiments, and the storage medium storing the program code constitutes the present invention. Further, by executing the program code read out by the computer (operation console), not only the functions of the above-described embodiments are realized, but also an operating system running on the computer based on the instruction of the program code ( OS) etc. perform part or all of the actual processing, and the functions of the above-described embodiments are realized by the processing.
[0045]
When the present invention is applied to the above-mentioned storage medium, the storage medium stores program codes corresponding to the above-described (a part or all of the flowcharts shown in FIGS. 7 and 10).
[0046]
As a storage medium for storing such a program code, for example, a floppy disk, a hard disk, an optical disk, a magneto-optical disk, a CD-ROM, a magnetic tape, a nonvolatile memory card, a ROM, or the like can be used. Furthermore, it may be downloaded via a medium called a network (for example, the Internet).
[0047]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the slice thickness when the wire diameter is as close to 0 as possible can be obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an X-ray CT system viewed from the side when measuring a slice thickness using a phantom.
FIG. 2 is a diagram showing a conventional slice thickness measurement method using a phantom.
FIG. 3 is a diagram for explaining that a conventional slice thickness measurement method ignores the wire diameter.
FIG. 4 is a block configuration diagram of the X-ray CT system in the first embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing a basic configuration of a phantom 20 in the first embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a graph showing a relationship between a wire diameter and an estimated slice thickness.
FIG. 7 is a flowchart of processing when slice thickness is measured using the X-ray CT system according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a table in which a relational expression between a wire diameter and an estimated slice thickness is described for each of a plurality of different slice thicknesses.
FIG. 8 shows a straight line closest to a point where coordinates are expressed as (wire diameter of this wire, calculated estimated slice thickness) when the estimated slice thickness is obtained using one wire. It is a figure explaining the method to select from a plurality of straight lines specified by performed data.
FIG. 10 is a flowchart of processing when measuring a slice thickness using the X-ray CT system according to the second embodiment of the present invention.

Claims (28)

X線を照射するX線管と、当該X線管が照射するX線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムと、X線を検出する検出器とを備え、前記X線管から照射され、前記ファントムが備えるワイヤーを透過したX線を前記検出器が検出するスキャンを行うことで、前記ワイヤーの投影データを出力するガントリ装置と、
前記ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる前記ワイヤーの投影データから前記ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールとで構成されるX線CTシステムであって、
前記ファントムは、
前記X線管が照射するX線と所定の角度をなすように、互いに平行で径が異なるスライス厚測定用のワイヤーを複数備え、
前記操作コンソールは、
前記互いに平行で径が異なる複数のスライス測定用のワイヤー毎に、ワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算手段と、
前記ワイヤー毎に求められた推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を作成し、当該関係情報を用いて、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算手段と
を備えることを特徴とするX線CTシステム。
An X-ray tube for irradiating X-rays, a phantom including a wire for slice thickness measurement so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube, and a detector for detecting X-rays, A gantry device that outputs projection data of the wire by performing scanning in which the detector detects X-rays that are irradiated from the X-ray tube and transmitted through the wire included in the phantom;
The gantry apparatus is instructed to scan, and a captured image of the wire is generated from the projection data of the wire obtained from the gantry apparatus based on the instruction, and the captured image and a predetermined direction of the phantom of the wire An X-ray CT system comprising an operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using an angle with respect to
The phantom is
A plurality of wires for slice thickness measurement that are parallel to each other and have different diameters so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube,
The operation console is
For each of the plurality of slice measurement wires that are parallel to each other and have different diameters, the gantry apparatus is used for scanning using a captured image of the wire and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom. First calculating means for determining an estimated slice thickness;
Second calculation means for creating relationship information between the estimated slice thickness obtained for each wire and the wire diameter of the wire, and obtaining the slice thickness when the wire diameter is substantially 0 using the relationship information An X-ray CT system comprising:
前記第1の計算手段は、ワイヤーの撮影画像において、撮影されたワイヤーの長さと、当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求めることを特徴とする請求項1に記載のX線CTシステム。The first calculation means is used when the gantry apparatus performs scanning using the length of the photographed wire and the angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom in the photographed image of the wire. The X-ray CT system according to claim 1, wherein an estimated slice thickness is obtained. ワイヤーのワイヤー径と、当該ワイヤーを用いて前記第1の計算手段が求めた推定スライス厚とを座標とする点であって、
前記第2の計算手段は、前記互いに平行で径が異なるスライス測定用のワイヤーに対応する前記点を用いて補間される直線、もしくは曲線を前記関係情報として求め、そのy切片を、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚として求めることを特徴とする請求項1又は2に記載のX線CTシステム。
It is a point having the coordinates of the wire diameter of the wire and the estimated slice thickness obtained by the first calculation means using the wire,
The second calculation means obtains, as the relation information, a straight line or a curve interpolated using the points corresponding to the slice measuring wires that are parallel to each other and have different diameters. The X-ray CT system according to claim 1, wherein the X-ray CT system is calculated as a slice thickness when the slice thickness is approximately zero.
更に前記操作コンソールは、
前記第2の計算手段が計算した前記関係情報を、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚に対応づけて複数格納する格納手段と、
注目ワイヤーのワイヤー径と、当該注目ワイヤーを用いて前記第1の計算手段が求めた推定スライス厚とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、当該関係情報に対応する、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を前記格納手段から選択する選択手段と
を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のX線CTシステム。
Furthermore, the operation console
Storage means for storing a plurality of the relationship information calculated by the second calculation means in association with a slice thickness when the wire diameter is substantially zero;
Corresponding relation information is selected from the storage means using the wire diameter of the attention wire and the estimated slice thickness obtained by the first calculation means using the attention wire, and further corresponds to the relation information. The X-ray CT system according to any one of claims 1 to 3, further comprising selection means for selecting a slice thickness from the storage means when the wire diameter is approximately zero.
前記格納手段は、前記第2の計算手段が計算した直線の傾きと、当該直線のy切片で表されるワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚とを対応づけて格納することを特徴とする請求項4に記載のX線CTシステム。The storage means stores the slope of the straight line calculated by the second calculating means in association with the slice thickness when the wire diameter represented by the y-intercept of the straight line is approximately zero. The X-ray CT system according to claim 4. 前記格納手段が格納する直線の傾きと、当該直線のy切片で表されるワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚とで特定される直線群から、前記選択手段は、注目ワイヤーのワイヤー径と、当該注目ワイヤーを用いて前記第1の計算手段が求めた推定スライス厚とを座標とする点に最も近い直線を、前記直線群から選択し、選択した直線のy切片をワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚として求めることを特徴とする請求項4又は5に記載のX線CTシステム。From the straight line group specified by the slope of the straight line stored by the storage means and the slice thickness when the wire diameter represented by the y-intercept of the straight line is approximately 0, the selection means is configured to obtain the wire diameter of the wire of interest. And the straight line closest to the point having the estimated slice thickness obtained by the first calculation means using the wire of interest as a coordinate is selected from the straight line group, and the y-intercept of the selected straight line is approximately the wire diameter. The X-ray CT system according to claim 4, wherein the X-ray CT system is obtained as a slice thickness when 0. X線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムであって、
前記X線と所定の角度をなすように、互いに平行で径が異なるスライス厚測定用のワイヤーを複数備えることを特徴とするファントム。
A phantom including a slice thickness measuring wire so as to form a predetermined angle with an X-ray,
A phantom comprising a plurality of slice thickness measurement wires that are parallel to each other and have different diameters so as to form a predetermined angle with the X-ray.
ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる、X線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムにおける当該ワイヤーの投影データから前記ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールであって、
前記ファントムは、
前記X線管が照射するX線と所定の角度をなすように、互いに平行で径が異なるスライス厚測定用のワイヤーを複数備え、
前記操作コンソールは、
前記互いに平行で径が異なる複数のスライス測定用のワイヤー毎に、ワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算手段と、
前記ワイヤー毎に求められた推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を作成し、当該関係情報を用いて、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算手段と
を備えることを特徴とする操作コンソール。
A scan is instructed to the gantry apparatus, and the wire is obtained from projection data of the wire in a phantom provided with a slice thickness measurement wire so as to form a predetermined angle with the X-ray obtained from the gantry apparatus based on the instruction. An operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using the captured image and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom,
The phantom is
A plurality of wires for slice thickness measurement that are parallel to each other and have different diameters so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube,
The operation console is
For each of the plurality of slice measurement wires that are parallel to each other and have different diameters, the gantry apparatus is used for scanning using a captured image of the wire and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom. First calculating means for determining an estimated slice thickness;
Second calculation means for creating relationship information between the estimated slice thickness obtained for each wire and the wire diameter of the wire, and obtaining the slice thickness when the wire diameter is substantially 0 using the relationship information And an operation console.
更に、前記第2の計算手段が計算した前記関係情報を、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚に対応づけて複数格納する格納手段と、
注目ワイヤーのワイヤー径と、当該注目ワイヤーを用いて前記第1の計算手段が求めた推定スライス厚とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、当該関係情報に対応する、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を前記格納手段から選択する選択手段と
を備えることを特徴とする請求項8に記載の操作コンソール。
Storage means for storing a plurality of the relationship information calculated by the second calculation means in association with the slice thickness when the wire diameter is substantially zero;
Corresponding relation information is selected from the storage means using the wire diameter of the attention wire and the estimated slice thickness obtained by the first calculation means using the attention wire, and further corresponds to the relation information. The operation console according to claim 8, further comprising selection means for selecting a slice thickness from the storage means when the wire diameter is approximately zero.
前記格納手段は、前記第2の計算手段が計算した直線の傾きと、当該直線のy切片で表されるワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚とを対応づけて格納することを特徴とする請求項9に記載の操作コンソール。The storage means stores the slope of the straight line calculated by the second calculating means in association with the slice thickness when the wire diameter represented by the y-intercept of the straight line is substantially zero. The operation console according to claim 9. 前記格納手段が格納する直線の傾きと、当該直線のy切片で表されるワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚とで特定される直線群から、前記選択手段は、注目ワイヤーのワイヤー径と、当該注目ワイヤーを用いて前記第1の計算手段が求めた推定スライス厚とを座標とする点に最も近い直線を、前記直線群から選択し、選択した直線のy切片をワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚として求めることを特徴とする請求項9又は10に記載の操作コンソール。From the straight line group specified by the slope of the straight line stored by the storage means and the slice thickness when the wire diameter represented by the y-intercept of the straight line is approximately 0, the selection means is configured to obtain the wire diameter of the wire of interest And the straight line closest to the point having the estimated slice thickness obtained by the first calculation means using the wire of interest as a coordinate is selected from the straight line group, and the y-intercept of the selected straight line is approximately the wire diameter. The operation console according to claim 9 or 10, wherein the operation console is obtained as a slice thickness in the case of zero. X線を照射するX線管と、当該X線管が照射するX線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムと、X線を検出する検出器とを備え、前記X線管から照射され、前記ファントムが備えるワイヤーを透過したX線を前記検出器が検出するスキャンを行うことで、前記ワイヤーの投影データを出力するガントリ装置と、
前記ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる前記ワイヤーの投影データから前記ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールとで構成されるX線CTシステムであって、
前記操作コンソールは、
互いに平行で径の異なるスライス測定用のワイヤー毎に推定された推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を格納する格納手段と、
前記ファントムが備えるワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算手段と、
前記推定スライス厚と、前記ファントムが備えるワイヤーのワイヤー径とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、選択した当該関係情報を用いて前記格納手段から、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算手段と
を備えることを特徴とするX線CTシステム。
An X-ray tube for irradiating X-rays, a phantom including a wire for slice thickness measurement so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube, and a detector for detecting X-rays, A gantry device that outputs projection data of the wire by performing scanning in which the detector detects X-rays that are irradiated from the X-ray tube and transmitted through the wire included in the phantom;
The gantry apparatus is instructed to scan, and a captured image of the wire is generated from the projection data of the wire obtained from the gantry apparatus based on the instruction, and the captured image and a predetermined direction of the phantom of the wire An X-ray CT system comprising an operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using an angle with respect to
The operation console is
Storage means for storing relationship information between an estimated slice thickness estimated for each wire for slice measurement parallel and different in diameter, and the wire diameter of the wire,
First calculation means for obtaining an estimated slice thickness that is estimated to be used when the gantry apparatus performs a scan using a captured image of the wire included in the phantom and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom When,
Using the estimated slice thickness and the wire diameter of the wire included in the phantom, the corresponding relation information is selected from the storage means, and further, the wire diameter is approximately from the storage means using the selected relation information. An X-ray CT system comprising: second calculation means for obtaining a slice thickness in the case of zero.
ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる、X線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムが備えるワイヤーの投影データから当該ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールであって、
互いに平行で径の異なるスライス測定用のワイヤー毎に推定された推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を格納する格納手段と、
前記ファントムが備えるワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算手段と、
前記推定スライス厚と、前記ファントムが備えるワイヤーのワイヤー径とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、選択した当該関係情報を用いて前記格納手段から、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算手段と
を備えることを特徴とする操作コンソール。
A scan is instructed to the gantry apparatus, and the wire is obtained from the projection data of the wire provided in the phantom provided with the wire for slice thickness measurement so as to form a predetermined angle with the X-ray obtained from the gantry apparatus based on the instruction. An operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using the captured image and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom,
Storage means for storing relationship information between an estimated slice thickness estimated for each wire for slice measurement parallel and different in diameter, and the wire diameter of the wire,
First calculation means for obtaining an estimated slice thickness that is estimated to be used when the gantry apparatus performs a scan using a captured image of the wire included in the phantom and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom When,
Using the estimated slice thickness and the wire diameter of the wire included in the phantom, the corresponding relation information is selected from the storage means, and further, the wire diameter is approximately from the storage means using the selected relation information. An operation console comprising: second calculation means for obtaining a slice thickness in the case of 0.
X線を照射するX線管と、当該X線管が照射するX線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムと、X線を検出する検出器とを備え、前記X線管から照射され、前記ファントムが備えるワイヤーを透過したX線を前記検出器が検出するスキャンを行うことで、前記ワイヤーの投影データを出力するガントリ装置と、
前記ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる前記ワイヤーの投影データから前記ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールとで構成されるX線CTシステムの制御方法であって、
前記ファントムは、
前記X線管が照射するX線と所定の角度をなすように、互いに平行で径が異なるスライス厚測定用のワイヤーを複数備え、
前記操作コンソールの制御方法は、
前記互いに平行で径が異なる複数のスライス測定用のワイヤー毎に、ワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算工程と、
前記ワイヤー毎に求められた推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を作成し、当該関係情報を用いて、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算工程と
を備えることを特徴とするX線CTシステムの制御方法。
An X-ray tube for irradiating X-rays, a phantom including a wire for slice thickness measurement so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube, and a detector for detecting X-rays, A gantry device that outputs projection data of the wire by performing scanning in which the detector detects X-rays that are irradiated from the X-ray tube and transmitted through the wire included in the phantom;
The gantry apparatus is instructed to scan, and a captured image of the wire is generated from the projection data of the wire obtained from the gantry apparatus based on the instruction, and the captured image and a predetermined direction of the phantom of the wire And an operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using an angle with respect to the X-ray CT system,
The phantom is
A plurality of wires for slice thickness measurement that are parallel to each other and have different diameters so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube,
The control method of the operation console is as follows:
For each of the plurality of slice measurement wires that are parallel to each other and have different diameters, the gantry apparatus is used for scanning using a captured image of the wire and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom. A first calculation step for determining an estimated slice thickness;
A second calculation step of creating relation information between the estimated slice thickness obtained for each wire and the wire diameter of the wire, and obtaining the slice thickness when the wire diameter is approximately 0 using the relation information An X-ray CT system control method comprising:
前記第1の計算工程では、ワイヤーの撮影画像において、撮影されたワイヤーの長さと、当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求めることを特徴とする請求項14に記載のX線CTシステムの制御方法。In the first calculation step, in the captured image of the wire, the length of the captured wire and the angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom are used when the gantry apparatus performs a scan. The method for controlling an X-ray CT system according to claim 14, wherein an estimated slice thickness is obtained. ワイヤーのワイヤー径と、当該ワイヤーを用いて前記第1の計算工程で求めた推定スライス厚とを座標とする点であって、
前記第2の計算工程では、前記互いに平行で径が異なるスライス測定用のワイヤーに対応する前記点を用いて補間される直線、もしくは曲線を前記関係情報として求め、そのy切片を、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚として求めることを特徴とする請求項14又は15に記載のX線CTシステムの制御方法。
It is a point that coordinates the wire diameter of the wire and the estimated slice thickness obtained in the first calculation step using the wire,
In the second calculation step, a straight line or a curve interpolated using the points corresponding to the slice measuring wires that are parallel to each other and have different diameters is obtained as the relation information, and the y-intercept is calculated based on the wire diameter. 16. The method of controlling an X-ray CT system according to claim 14 or 15, wherein the slice thickness is obtained when the slice thickness is substantially zero.
更に前記操作コンソールの制御方法は、
前記第2の計算工程で計算した前記関係情報を、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚に対応づけて格納手段に複数格納しておき、
注目ワイヤーのワイヤー径と、当該注目ワイヤーを用いて前記第1の計算工程で求めた推定スライス厚とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、当該関係情報に対応する、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を前記格納手段から選択する選択工程と
を備えることを特徴とする請求項14乃至16のいずれか1項に記載のX線CTシステムの制御方法。
Furthermore, the control method of the operation console includes:
A plurality of the relationship information calculated in the second calculation step is stored in the storage means in association with the slice thickness when the wire diameter is approximately 0,
Corresponding relationship information is selected from the storage means using the wire diameter of the wire of interest and the estimated slice thickness obtained in the first calculation step using the wire of interest, and further corresponds to the relationship information The method for controlling an X-ray CT system according to any one of claims 14 to 16, further comprising a selection step of selecting a slice thickness when the wire diameter is substantially zero from the storage means.
前記格納手段が格納する直線の傾きと、当該直線のy切片で表されるワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚とで特定される直線群から、前記選択工程では、注目ワイヤーのワイヤー径と、当該注目ワイヤーを用いて前記第1の計算工程で求めた推定スライス厚とを座標とする点に最も近い直線を、前記直線群から選択し、選択した直線のy切片をワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚として求めることを特徴とする請求項17に記載のX線CTシステムの制御方法。From the straight line group specified by the slope of the straight line stored by the storage means and the slice thickness when the wire diameter represented by the y-intercept of the straight line is substantially 0, in the selection step, the wire diameter of the wire of interest And the straight line closest to the point having the estimated slice thickness obtained in the first calculation step as a coordinate using the wire of interest is selected from the straight line group, and the y-intercept of the selected straight line is approximately the wire diameter. 18. The method of controlling an X-ray CT system according to claim 17, wherein the slice thickness is obtained as 0 when it is zero. ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる、X線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムにおける当該ワイヤーの投影データから前記ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールの制御方法であって、
前記ファントムは、
前記X線管が照射するX線と所定の角度をなすように、互いに平行で径が異なるスライス厚測定用のワイヤーを複数備え、
前記操作コンソールの制御方法は、
前記互いに平行で径が異なる複数のスライス測定用のワイヤー毎に、ワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算工程と、
前記ワイヤー毎に求められた推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を作成し、当該関係情報を用いて、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算工程と
を備えることを特徴とする操作コンソールの制御方法。
A scan is instructed to the gantry apparatus, and the wire is obtained from projection data of the wire in a phantom provided with a slice thickness measurement wire so as to form a predetermined angle with the X-ray obtained from the gantry apparatus based on the instruction. A method for controlling an operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using the captured image and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom,
The phantom is
A plurality of wires for slice thickness measurement that are parallel to each other and have different diameters so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube,
The control method of the operation console is as follows:
For each of the plurality of slice measurement wires that are parallel to each other and have different diameters, the gantry apparatus is used for scanning using a captured image of the wire and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom. A first calculation step for determining an estimated slice thickness;
A second calculation step of creating relation information between the estimated slice thickness obtained for each wire and the wire diameter of the wire, and obtaining the slice thickness when the wire diameter is approximately 0 using the relation information An operation console control method characterized by comprising:
更に、前記第2の計算工程で計算した前記関係情報を、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚に対応づけて格納手段に複数格納しておき、
注目ワイヤーのワイヤー径と、当該注目ワイヤーを用いて前記第1の計算工程で求めた推定スライス厚とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、当該関係情報に対応する、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を前記格納手段から選択する選択工程と
を備えることを特徴とする請求項19に記載の操作コンソールの制御方法。
Furthermore, a plurality of the relationship information calculated in the second calculation step is stored in the storage means in association with the slice thickness when the wire diameter is approximately 0,
Corresponding relationship information is selected from the storage means using the wire diameter of the wire of interest and the estimated slice thickness obtained in the first calculation step using the wire of interest, and further corresponds to the relationship information The operation console control method according to claim 19, further comprising a selection step of selecting a slice thickness when the wire diameter is approximately zero from the storage unit.
前記格納手段が格納する直線の傾きと、当該直線のy切片で表されるワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚とで特定される直線群から、前記選択工程では、注目ワイヤーのワイヤー径と、当該注目ワイヤーを用いて前記第1の計算工程で求めた推定スライス厚とを座標とする点に最も近い直線を、前記直線群から選択し、選択した直線のy切片をワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚として求めることを特徴とする請求項20に記載の操作コンソールの制御方法。From the straight line group specified by the slope of the straight line stored by the storage means and the slice thickness when the wire diameter represented by the y-intercept of the straight line is substantially 0, in the selection step, the wire diameter of the wire of interest And the straight line closest to the point having the estimated slice thickness obtained in the first calculation step as a coordinate using the wire of interest is selected from the straight line group, and the y-intercept of the selected straight line is approximately the wire diameter. 21. The operation console control method according to claim 20, wherein the slice thickness is obtained as a slice thickness when 0. X線を照射するX線管と、当該X線管が照射するX線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムと、X線を検出する検出器とを備え、前記X線管から照射され、前記ファントムが備えるワイヤーを透過したX線を前記検出器が検出するスキャンを行うことで、前記ワイヤーの投影データを出力するガントリ装置と、
前記ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる前記ワイヤーの投影データから前記ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールとで構成されるX線CTシステムの制御方法であって、
前記操作コンソールの制御方法は、
互いに平行で径の異なるスライス測定用のワイヤー毎に推定された推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を格納手段に格納しておき、
前記ファントムが備えるワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算工程と、
前記推定スライス厚と、前記ファントムが備えるワイヤーのワイヤー径とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、選択した当該関係情報を用いて前記格納手段から、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算工程と
を備えることを特徴とするX線CTシステムの制御方法。
An X-ray tube for irradiating X-rays, a phantom including a wire for slice thickness measurement so as to form a predetermined angle with the X-rays irradiated by the X-ray tube, and a detector for detecting X-rays, A gantry device that outputs projection data of the wire by performing scanning in which the detector detects X-rays that are irradiated from the X-ray tube and transmitted through the wire included in the phantom;
The gantry apparatus is instructed to scan, and a captured image of the wire is generated from the projection data of the wire obtained from the gantry apparatus based on the instruction, and the captured image and a predetermined direction of the phantom of the wire And an operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using an angle with respect to the X-ray CT system,
The control method of the operation console is as follows:
The relationship between the estimated slice thickness and the wire diameter of the wire estimated for each slice measurement wire parallel and different in diameter is stored in the storage means,
A first calculation step of obtaining an estimated slice thickness that is estimated to be used when the gantry apparatus performs a scan using a captured image of a wire included in the phantom and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom When,
Using the estimated slice thickness and the wire diameter of the wire included in the phantom, the corresponding relation information is selected from the storage means, and further, the wire diameter is approximately from the storage means using the selected relation information. A control method for an X-ray CT system, comprising: a second calculation step of obtaining a slice thickness in the case of zero.
ガントリ装置に対してスキャンを指示し、当該指示に基づいて前記ガントリ装置から得られる、X線と所定の角度をなすようにスライス厚測定用のワイヤーを備えるファントムが備えるワイヤーの投影データから当該ワイヤーの撮影画像を生成し、当該撮影画像と前記ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて前記ガントリ装置が前記スキャンを行う際のスライス厚を測定する操作コンソールの制御方法であって、
互いに平行で径の異なるスライス測定用のワイヤー毎に推定された推定スライス厚と、前記ワイヤーのワイヤー径との関係情報を格納手段に格納しておき、
前記ファントムが備えるワイヤーの撮影画像と当該ワイヤーの前記ファントムの所定の方向に対する角度とを用いて、前記ガントリ装置がスキャンを行う際に用いられたと推定される推定スライス厚を求める第1の計算工程と、
前記推定スライス厚と、前記ファントムが備えるワイヤーのワイヤー径とを用いて、対応する関係情報を前記格納手段から選択し、更に、選択した当該関係情報を用いて前記格納手段から、ワイヤー径がほぼ0である場合のスライス厚を求める第2の計算工程と
を備えることを特徴とする操作コンソールの制御方法。
A scan is instructed to the gantry apparatus, and the wire is obtained from the projection data of the wire provided in the phantom provided with the wire for slice thickness measurement so as to form a predetermined angle with the X-ray obtained from the gantry apparatus based on the instruction. A method for controlling an operation console for measuring a slice thickness when the gantry apparatus performs the scan using the captured image and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom,
The relationship between the estimated slice thickness and the wire diameter of the wire estimated for each slice measurement wire parallel and different in diameter is stored in the storage means,
A first calculation step of obtaining an estimated slice thickness that is estimated to be used when the gantry apparatus performs a scan using a captured image of a wire included in the phantom and an angle of the wire with respect to a predetermined direction of the phantom When,
Using the estimated slice thickness and the wire diameter of the wire included in the phantom, the corresponding relation information is selected from the storage means, and further, the wire diameter is approximately from the storage means using the selected relation information. A control method for an operation console, comprising: a second calculation step of obtaining a slice thickness in the case of 0.
請求項14乃至18のいずれか1項のX線CTシステムの制御方法を実行するプログラム。The program which performs the control method of the X-ray CT system of any one of Claims 14 thru | or 18. 請求項19乃至21のいずれか1項に記載の操作コンソールの制御方法を実行するプログラム。The program which performs the control method of the operation console of any one of Claims 19 thru | or 21. 請求項22に記載のX線CTシステムの制御方法を実行するプログラム。The program which performs the control method of the X-ray CT system of Claim 22. 請求項23に記載の操作コンソールの制御方法を実行するプログラム。The program which performs the control method of the operation console of Claim 23. 請求項24乃至27のいずれか1項に記載のプログラムを格納し、コンピュータが読み取り可能な記憶媒体。A storage medium storing the program according to any one of claims 24 to 27 and readable by a computer.
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