JP4661393B2 - 測定装置 - Google Patents
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Description
これによれば最初に、試験片を付属品に取り付けて保持し、点着する時は検体へ試験片を取り付けた付属品を近づける事で、測定者は検体と手の距離を保って点着する事ができた。検体を試験片に点着した後、試験片を保持した付属品を予め電源を入れておいた測定装置へ挿入する事で自動的に測定を実行していた。
また本発明の測定装置によれば、測定装置から付属品を抜き差しする時の状態移行と、抜き差しした時の試験片の有無状態から、測定装置の電源のオンオフを自動で実行するため、電源の入れ忘れによる測定ミスを無くす事ができる。また、電源のオンオフを測定者が実行する必要が無い事で使い勝手が良くなる。
実施例1の構成と異なるところは、測定装置本体202に、付属品201が挿入されているかを判定する付属品有無判定機能203と、自動で電源がオンする機能(図中の204である電源管理機能1)を備えた点である。
電源管理機能1(204)は、スイッチからの信号情報が接続され、電源がオフ状態で付属品201を測定装置本体202から引き抜いた時に、発生するスイッチの信号変化より電源をオンして、CPU205に電源を供給できる様にもなっている。CPU205は測定機能207の制御を行い測定可能な状態にする。
以上の実施例2によって、試験片と試験片を保持する機能を備えた付属品と測定装置本体とを有する構成の測定装置は、収納している付属品201を引き抜く事で電源が自動でオンするため、測定者は電源を入れ忘れることが無くなり、電源の入れ忘れによる測定ミスを無くす事ができる。また、わざわざ電源をオンするめんどうな操作を無くすことで使い勝手を良くできる。
実施例1に記載の測定装置の構成と異なるところは、測定装置本体302に、付属品301が挿入されているかを検知する付属品有無判定機能304と付属品301に試験片303が保持されているか判定する試験片有無判定機能305と自動で電源のオンオフする機能(図中の306である電源管理機能2)を備えた点である。
次に電源管理機能2(505)は、手動操作による電源スイッチ508と併用して使用できる構成とする。
まず、動作例1を説明する。
電源がオフ状態で、試験片を保持した付属品を空間503へ挿入すると、判定機能501のスイッチ1が押される。スイッチ1の信号を電源管理機能2(505)が検出しCPU506へ電源を供給する。つまり、測定装置の電源がオフ状態で、挿入された付属品に試験片が有ると判定すれば、自動で電源をオンする動作を行なう。その後、CPU506で制御される測定機能507で測定が実行される。
付属品から試験を取り外し電源がオン状態で、付属品を空間503へ挿入すると、電源管理機能2(505)は、付属品有無判定機能504であるスイッチ2の信号のみを検出する。信号を検出した電源管理機能2(505)は電源をオフする。つまり、測定装置に電源がオン状態で、挿入された付属品に試験片が無いと判断するので、もうこれ以上は測定しないと判断して、自動で電源をオフする動作を行なう。
実施例4の構成は、実施例3の構成で試験片有無判定機能に光学機能606を用いている。
測定装置本体602内に設けられた光学機能606の構成は、光源607の半導体レーザから出射されたビーム610をレンズ608で平行光にして、付属品601に固定された試験片603へ照射する。試験片603上では散乱光が発生し、この一部をフォトダイオード609で受光する。この時、光源607に半導体レーザを使用するのでなくLEDを使用しても良い。また光学量は、散乱光611でなく反射光あるいは透過光でも良い。さらに光学機能606は、測定に光学機能を用いる場合にはその構成をそのまま使用したのでも良い。
試験片有無判定機能の動作は、付属品601が測定装置本体602内に挿入されて、付属品有無判定機能604であるスイッチが押された時に行なう。試験片603に向かって半導体レーザからビーム610を出射し、その際に得られる散乱光611の値が、予め実験によって求めた試験片が無い場合(付属品601の表面)の散乱光611の値に対して、既定値以上の差が有る場合、付属品601に試験片603が有ると判定する。試験片603の表面での散乱が付属品601の表面での散乱よりも大きい場合は、前述の既定値はプラスになり、その逆の場合はマイナスとなる。
また、試験片603が有る場合は、試験片603が付属品に有るという情報を電源がオンの間保有する。
以上の実施例4によれば、光学機能606を試験片有無判定機能に用いる事でスイッチ等の機構部品を使用しない構成が可能となるので故障が少なくなる。また、光学機能606は測定時に使用する光学構成をそのまま利用できるので部品を少なく実現できる。
102、202、302、502、602 測定装置本体
103、303、402、603 試験片
104、208、503 空間
203、304、604 付属品有無判定機能
305、504 試験片有無判定機能
105 開口部の断面積
106 空間外に出る部分
107 空間外に出る部分の断面積
107 空間外に出る部分の横幅
107 空間外に出る上の部分
204 電源管理機能1
205、506 CPU
206、508 電源スイッチ
207、507 測定機能
306、505、605 電源管理機能2
403 試験片保持表示機能
501 判定機能
606 光学機能
607 半導体レーザ
608 レンズ
609 フォトダイオード
610 出射されたビーム
611 散乱光
Claims (10)
- 試験片を保持可能に構成された保持手段が挿入される空間を備え、前記試験片を保持する前記保持手段を前記空間に挿入して試料を測定してなる測定装置の前記保持手段が前記空間に挿入されているか否かを判定する挿入判定手段と、前記保持手段が前記試験片を保持しているかを判定する試験片判定手段と、前記測定装置の電源がオンとオフとのうちいずれにあるのかを判定する電源判定手段と、前記挿入判定手段における判定結果と前記試験片判定手段における判定結果と前記電源判定手段における判定結果とに基づいて前記測定装置の電源をオンまたはオフに切り換える切換手段と、を備えてなる測定装置。
- 前記測定装置の電源がオフであるとき、前記試験片を保持する前記保持手段が前記空間に挿入されると、前記切換手段が自動的に前記電源をオンに切り換えてなる、請求項1に記載の測定装置。
- 前記測定装置の電源がオンであるとき、前記試験片を保持しない前記保持手段が前記空間に挿入されると、前記切換手段が自動的に前記電源をオフに切り換えてなる、請求項1に記載の測定装置。
- 前記測定装置の電源がオフであるとき、前記保持手段が前記空間に挿入されなくなると、前記切換手段が前記測定装置の前記電源をオフに切り換えてなる、請求項1に記載の測定装置。
- 前記挿入判定手段が、前記保持手段の挿入時に前記保持手段と接触可能に構成され、前記保持手段が前記空間に挿入されると電源をオンまたはオフにするスイッチでなる、請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の測定装置。
- 前記試験片判定手段が、前記試験片が前記保持手段に保持されたか否かを判定する保持判定手段と、前記保持判定手段による判定結果に基づいて前記保持手段における前記試験片の保持の有無を表示する保持表示手段と、を備えてなる、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の測定装置。
- 前記保持表示手段が突起物の有無により前記保持手段における前記試験片の保持の有無を表示してなる、請求項6に記載の測定装置。
- 前記試験片判定手段が前記試験片に光を照射したときの光量の変化から前記試験片の保持の有無を判定してなる、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の測定装置。
- 前記光量の変化が、前記試験片に光を照射したときの散乱光、反射光、透過光のいずれかの光量の変化でなる、請求項8に記載の測定装置。
- 手動操作により電源をオンまたはオフにする手動電源手段と、前記保持手段の挿入の有無により自動的に電源をオンまたはオフにする自動電源手段と、を備えてなる、請求項1乃至請求項9のいずれかに記載の測定装置。
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