JP4660729B1 - 画像プロセッサ耐性評価装置及び遊技制御基板 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】評価用CPU21は、画像プロセッサ22に対して、CGROM11へのアクセスのための指令を発する。その指令を受けた画像プロセッサ22は、アクセス信号ASを出力し、その信号は、コネクタ23,15を介して、評価用メモリ基板1側のCGROM11及びコントロールタイマー12に入力される。アクセス信号ASを受け取ったCGROM11は、そのアクセス信号ASに応じて、要求された対応する画像データDS等をスイッチ群13に出力する。一方、アクセス信号ASを受け取ったコントロールタイマー12は、スイッチ群13に対して、制御信号CSを出力する。スイッチ群13は、CGROM11から画像データDS等を入力するものの、一方で、コントロールタイマー12から制御信号CSを入力すると、入力した画像データDS等を出力することなく遮断する。
【選択図】 図1
Description
また、前記制御信号は、実際に起こりえる静電ノイズを疑似したパルス信号であることが好適である。また、前記制御信号は、遊技機ホールの実情に合わせた最大の静電を疑似したパルス信号であることが好適である。また、前記パルス信号は、そのパルス幅が200nsで、その周期が0.5sであることが好適である。
また、前記疑似ノイズ発生部は、前記アクセス信号を入力すると、制御信号を出力するコントロールタイマーと、前記制御信号を入力すると、前記画像データ記憶部から出力された前記画像データを遮断するスイッチ群と、を備えることが好適である。
また、前記制御信号は、実際に起こりえる静電ノイズを疑似したパルス信号であることが好適である。また、前記制御信号は、遊技機ホールの実情に合わせた最大の静電を疑似したパルス信号であることが好適である。また、前記パルス信号は、そのパルス幅が200nsで、その周期が0.5sであることが好適である。
図1は、本発明の画像プロセッサ耐性評価装置の一実施形態の概略構成を示すブロック図である。同図において、本発明の一実施形態の画像プロセッサ耐性評価装置は、評価用メモリ基板1と、評価用制御基板2とを備え、それらの基板は、互いにケーブル3で接続されている。
次に、上記発明の応用例であるが、パチンコ機などの遊技機に実装されている図3に示した遊技制御基板100自体に、図1に示したコントロールタイマー12及びスイッチ群13を設ける構成が考えられる。かかる構成によれば、遊技機実機でのノイズ耐性評価が可能となる。なお、この場合、評価の対象は、画像プロセッサ22のみならず、メインCPU1011を初めとして他の素子等へも拡張できる。
11 CGROM
12 コントロールタイマー
13 スイッチ群
14 発光ダイオード
15 メモリ基板側コネクタ
2 評価用制御基板
21 評価用CPU
22 画像プロセッサ
23 制御基板側コネクタ
3 ケーブル
100 遊技制御基板
101 プロセッサ群
1011 メインCPU
200 物理的機構/出力部
201 LCD
202 スピーカ
203 モータ
300 評価用基板
AS アクセス信号
DS 画像データ
CS 制御信号
Claims (12)
- 出力したアクセス信号に応じて入力した画像データの処理を行う画像プロセッサと、
前記アクセス信号に応じて、要求される画像データを出力する画像データ記憶部と、
前記画像プロセッサと前記画像データ記憶部の間に介在し、前記画像プロセッサから前記アクセス信号を入力すると、前記画像データ記憶部から出力された、前記画像プロセッサに渡されるべき前記画像データに代えて実際に起こりえる静電ノイズの影響を擬似した所定のパルス幅と周期に設定したパルス信号からなる制御信号を入力するものの、前記画像プロセッサには出力しない疑似ノイズ発生部と、
前記画像プロセッサに対して、画像データの試験的読み出しを指令し、前記画像プロセッサが正常な処理を行うか否かを評価する評価用プロセッサと、
を備えることを特徴とする画像プロセッサ耐性評価装置。 - 前記疑似ノイズ発生部は、
前記アクセス信号を入力すると、前記制御信号を出力するコントロールタイマーと、
前記制御信号を入力すると、前記画像データ記憶部から出力された前記画像データを遮断するスイッチ群と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の画像プロセッサ耐性評価装置。 - 前記制御信号は、遊技機ホールの実情に合わせた最大の静電ノイズのレベルを疑似したパルス信号であることを特徴とする請求項1又は2に記載の画像プロセッサ耐性評価装置。
- 前記パルス信号は、そのパルス幅が200nsで、その周期が0.5sであることを特徴とする請求項1又は2に記載の画像プロセッサ耐性評価装置。
- 前記疑似ノイズ発生部が前記画像データを前記画像プロセッサに出力していない状態を示すインジケータを更に備えることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の画像プロセッサ耐性評価装置。
- 前記画像データ記憶部及び前記疑似ノイズ発生部は、評価用メモリ基板に搭載され、前記画像プロセッサ及び評価用プロセッサは、前記評価用メモリ基板とは別体の評価用制御基板に搭載されることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の画像プロセッサ耐性評価装置。
- 前記評価用メモリ基板は、異なる種類の複数の前記画像データ記憶部に対応して、複数枚存在することを特徴とする請求項6に記載の画像プロセッサ耐性評価装置。
- 前記評価用メモリ基板と前記評価用制御基板とは、ケーブルを介して接続されることを特徴とする請求項6又は7に記載の画像プロセッサ耐性評価装置。
- 出力したアクセス信号に応じて入力した画像データの処理を行う画像プロセッサと、
前記アクセス信号に応じて、要求される画像データを出力する画像データ記憶部と、
少なくとも、前記画像プロセッサに対して前記画像データの読み出しを指令し、前記画像プロセッサによる前記画像データの処理を監視して、全体の制御を行う主プロセッサと、
を備える遊技制御基板であって、
前記画像プロセッサと前記画像データ記憶部の間に介在し、前記画像プロセッサから前記アクセス信号を入力すると、前記画像データ記憶部から出力された、前記画像プロセッサに渡されるべき前記画像データに代えて実際に起こりえる静電ノイズの影響を擬似した所定のパルス幅と周期に設定したパルス信号からなる制御信号を入力するものの、前記画像プロセッサには出力しない疑似ノイズ発生部を更に備えることを特徴とする遊技制御基板。 - 前記疑似ノイズ発生部は、
前記アクセス信号を入力すると、前記制御信号を出力するコントロールタイマーと、
前記制御信号を入力すると、前記画像データ記憶部から出力された前記画像データを遮断するスイッチ群と、
を備えることを特徴とする請求項9に記載の遊技制御基板。 - 前記制御信号は、遊技機ホールの実情に合わせた最大の静電を疑似したパルス信号であることを特徴とする請求項9又は10に記載の遊技制御基板。
- 前記パルス信号は、そのパルス幅が200nsで、その周期が0.5sであることを特徴とする請求項9又は10に記載の遊技制御基板。
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JP2003050264A (ja) * | 2001-08-08 | 2003-02-21 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体デバイスの検査装置および検査方法 |
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