JP4657805B2 - 熱式流量センサの温度特性調整方法 - Google Patents
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Description
上記熱式流量センサと同一の構成のブリッジ回路及びオペアンプを備えたマスターサンプルを用い、
上記マスターサンプルは、上記流体の温度が基準温度の時のブリッジ回路の検出出力をVB1、上記流体の温度が上記基準温度より高温または低温の時のブリッジ回路の検出出力をVH1とするとき、あらかじめ決められた所定流量においてVB1とVH1の比率(VH1/VB1)が1となるように調整されており、
このときの上記マスターサンプルの温度特性に上記熱式流量センサの温度特性を合わせるための温度特性調整方法であって、
上記熱式流量センサにおいて、
上記流体の温度が上記基準温度の時の設定流量における上記ブリッジ回路の検出出力VB2と上記調整抵抗の抵抗値Rとの関係式を求め、
上記流体の温度を上記基準温度より高温または低温として上記設定流量において上記調整抵抗の抵抗値Rを変化させて上記高温または低温時の上記ブリッジ回路の検出出力VH2を計測し、
上記計測した検出出力VH2/VB2が上記マスターサンプルの上記設定流量におけるVH1/VB1と等しくなるように上記調整抵抗の抵抗値Rを調整することにより、
上記ブリッジ回路の検出出力の誤差を補正するものである。
図1は、本発明に係る熱式流量センサの実施の形態1を示す平面図、図2は、図1のA−A断面図である。シリコン基板5上に絶縁膜6により第1のダイヤフラム3と第2のダイヤフラム4が形成されている。絶縁膜6上には例えば白金などの抵抗値が温度によって変化する材料により発熱抵抗体1と流体温度検出抵抗体2が形成されている。発熱抵抗体1と流体温度検出抵抗体2は絶縁膜7により表面を保護されている。
ただし、Rh0、Ra0はそれぞれ温度0℃の時のRhとRaであり、Thは発熱抵抗体1の温度、Taは流体温度検出抵抗体2の温度であり、ΔThはThとTaの差である。また、発熱抵抗体1と流体温度検出抵抗体2は同一材料で形成されるため、抵抗温度係数は等しくαとした。
S1 流体の流量をQpに設定する。
S2 流体温度を基準温度に設定し安定させる。
S3 調整すべき熱式流量センサにおける流体温度検出抵抗体2の両端電圧V2と調整抵抗8の両端電圧V8との比が、マスターサンプルにおける流体温度検出抵抗体2の両端電圧V2と調整抵抗8の両端電圧V8との比(A1)と一致するように、調整抵抗8の抵抗値R8を調整する。
S4 R9を調整範囲の最大値R9maxに設定する。
S5 Voutを測定し、VBminに記憶する。
S6 R9を調整範囲の最小値R9minに設定する。
S7 Voutを測定し、VBmaxに記憶する。
S8 下記式(19)により傾きrBを計算する。
S10 Voutを測定し、VHに記憶する。
S11 下記式(20)によりVBを計算する。
VH/VB=1なら調整を終了する。
VH/VB≠1ならR9を調整し、S10にもどる。このとき、VH/VB>1であればR9を大きくし、VH/VB<1であればR9を小さくする。
図10は、本発明の実施の形態2における回路定数の調整手順を示すフローチャートである。図10に示したように、流体温度検出抵抗体2の両端電圧V2と調整抵抗8の両端電圧V8の比が、マスターサンプルの流体温度検出抵抗体2の両端電圧V2と調整抵抗8の両端電圧V8の比(A1)と一致するように、調整抵抗8の抵抗値R8を調整する調整工程(図6のS3)を省いて、図10に示したように、R9のみで調整することもできる。この場合、A1を調整せず、このA1のばらつきも含めてΔTh0のみで調整することとなる。図10に基づき回路定数の調整手順を説明する。
S1 流体の流量をQpに設定する。
S2 流体温度を基準温度に設定し安定させる。
S3 R9を調整範囲の最大値R9maxに設定する。
S4 Voutを測定し、VBminに記憶する。
S5 R9を調整範囲の最小値R9minに設定する。
S6 Voutを測定し、VBmaxに記憶する。
S7 上記式(19)により傾きrBを計算する。
S8 流体温度を高温に設定し安定させる。
S9 Voutを測定し、VHに記憶する。
S10 上記式(20)によりVBを計算する。
S11 VHとVBの比率が1かどうかを判断する。
VH/VB=1なら調整を終了する。
VH/VB≠1ならR9を調整し、S9にもどる。このとき、VH/VB>1であればR9を大きくし、VH/VB<1であればR9を小さくする。
図11は、本発明の実施の形態3における回路定数の他の調整手順を示すフローチャートであり、図12は、本実施の形態3における調整方法を示す図である。
図13は、本発明の実施の形態4おけるセンサ駆動回路を示す回路図である。本実施の形態4では、調整抵抗8,9をデジタル的に調整する。図13に示したように、調整抵抗8,9を調整用ASIC20内のDA変換器(DAC)で構成すれば、調整をデジタル的に行うことができる。元々ゲインとオフセットを調整するためのASICは必要であるので、その中にDA変換器を2つ追加すればよく、これによるコストアップはほとんど無い。
図14は、本発明の実施の形態5における温度特性調整方法を示す図であり、図15は、本発明に係る流量センサの実施の形態5における回路定数の調整手順を示すフローチャートである。
4 第2のダイヤフラム、5 シリコン基板、6,7絶縁膜、8,9 調整抵抗、
10 固定抵抗、11,12 ブリッジ回路の中間点、13 オペアンプ、
14 オペアンプ出力、15 流量センサ出力、16 高温時の流量換算誤差、
17 低温時の流量換算誤差、18 基準温時のR9とVoutの関係、
19 高温時のR9とVoutの関係、20 調整用ASIC、21 温度センサ、
22 出力抵抗。
Claims (5)
- 流体中に配置された発熱抵抗体と、流体中に配置された上記流体の温度を検出する流体温度検出抵抗体と、固定抵抗と、1つ以上の可変抵抗からなる調整抵抗とで構成したブリッジ回路、並びに上記ブリッジ回路の検出出力を上記ブリッジ回路に帰還するオペアンプを備えた熱式流量センサにおける上記ブリッジ回路の検出出力の流体温度による誤差を補正する熱式流量センサの温度特性調整方法において、
上記熱式流量センサと同一の構成のブリッジ回路及びオペアンプを備えたマスターサンプルを用い、
上記マスターサンプルは、上記流体の温度が基準温度の時のブリッジ回路の検出出力をVB1、上記流体の温度が上記基準温度より高温または低温の時のブリッジ回路の検出出力をVH1とするとき、あらかじめ決められた所定流量においてVB1とVH1の比率(VH1/VB1)が1となるように調整されており、
このときの上記マスターサンプルの温度特性に上記熱式流量センサの温度特性を合わせるための温度特性調整方法であって、
上記熱式流量センサにおいて、
上記流体の温度が上記基準温度の時の設定流量における上記ブリッジ回路の検出出力VB2と上記調整抵抗の抵抗値Rとの関係式を求め、
上記流体の温度を上記基準温度より高温または低温として上記設定流量において上記調整抵抗の抵抗値Rを変化させて上記高温または低温時の上記ブリッジ回路の検出出力VH2を計測し、
上記計測した検出出力VH2/VB2が上記マスターサンプルの上記設定流量におけるVH1/VB1と等しくなるように上記調整抵抗の抵抗値Rを調整することにより、
上記ブリッジ回路の検出出力の流体温度による誤差を補正することを特徴とする熱式流量センサの温度特性調整方法。 - 上記設定流量を、上記所定流量とすることを特徴とする請求項1記載の熱式流量センサの温度特性調整方法。
- 上記設定流量を、流量=0とすることを特徴とする請求項1記載の熱式流量センサの温度特性調整方法。
- 上記調整抵抗を、デジタル的に抵抗を調整できる素子で構成することを特徴とする請求項1記載の熱式流量センサの温度特性調整方法。
- 上記熱式流量センサにおいて、
上記流体の温度を上記基準温度とした時の上記ブリッジ回路の検出出力VB2と上記調整抵抗の抵抗値Rとの関係式を求め、
上記流体の温度を上記基準温度より高温または低温とした時の上記ブリッジ回路の検出出力VH2と上記調整抵抗の抵抗値Rとの関係式を求め、
上記ブリッジ回路の検出出力VB2と上記調整抵抗の抵抗値Rとの関係式と上記ブリッジ回路の検出出力VH2と上記調整抵抗の抵抗値Rとの関係式との交点の抵抗値Rを求め、上記調整抵抗の調整における初期値として上記交点の抵抗値Rを用いることを特徴とする請求項1記載の熱式流量センサの温度特性調整方法。
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