JP4645083B2 - Calibration system - Google Patents
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Description
本発明は、例えば、ネットワークアナライザ等の測定装置を用いたデジタル測定装置校正システムに関し、特に高精度の校正が迅速に行なえる校正システムに関する。 The present invention may, for example, relates to a digital measuring device calibration system using a measuring device such as a network analyzer, high precision calibration particular to rapidly perform calibration system.
一般に、測定機器は電圧、電流等の各種の物理量を測定するために、製造メーカーや各種研究機関や官公庁等など、多方面で広く用いられている。 In general, measuring instruments are widely used in various fields such as manufacturers, various research institutions, public offices, and the like to measure various physical quantities such as voltage and current.
また、これらの測定装置の測定性能は、時間の経過に伴って所定の製造メーカの保証仕様範囲から外れる方向に低下していく。そこで、測定装置の現在の性能が所定の設定仕様範囲内に収まっているか否かを確認するために、それぞれの国家または国際標準にトレーサビリティのある各種の標準器の出力値による定期的な調整・校正作業が行なわれている。このような測定装置の校正に関連する先行技術文献には次のようなものがある。 In addition, the measurement performance of these measuring devices decreases in a direction that deviates from the guaranteed specification range of a predetermined manufacturer over time. Therefore, in order to confirm whether or not the current performance of the measuring device is within a predetermined setting specification range, periodic adjustment / regulation based on the output values of various standard devices traceable to each national or international standard. Calibration work is underway. Prior art documents related to calibration of such a measuring apparatus include the following.
ところで、標準器を用いて測定装置の校正を行なうためには、測定器メーカーが直接校正を行なう特許文献1による方法の他、測定装置のユーザが汎用のアプリケーションプログラムを使用して校正する方法がある。
By the way, in order to calibrate a measuring device using a standard device, there is a method in which a measuring device user calibrates using a general-purpose application program in addition to a method according to
以下、図6を用いてこれらの校正方法のうち、汎用のアプリケーションプログラムを使用して校正を行なう方法について説明する。 Hereinafter, among these calibration methods, a method for performing calibration using a general-purpose application program will be described with reference to FIG.
図6において、校正システム10は、デジタル測定装置1、ホストPC2、標準器3、測定用ケーブル4、制御用通信ケーブル5から構成されている。デジタル測定装置1は、図示しない被測定対象の電圧値等を測定する。ホストPC2には校正用のプログラムが内蔵されており、デジタル測定器2及び標準器3に校正の指示を与える。
In FIG. 6, the calibration system 10 includes a
標準器3は校正管理され、その出力値は国家標準・国際標準につながる経路(トレーサビリティ)が確立されている。デジタル測定装置1は、そのトレーサビリティが確立されている出力値(以下、「標準出力値」という)と対比され校正される。測定用ケーブル4は、デジタル測定装置1と標準器3を接続する。制御用通信ケーブル5は、デジタル測定装置1及び標準器3をホストPC2に接続する。
The standard device 3 is calibrated and managed, and the path (traceability) of the output value to the national standard / international standard is established. The
次に、このような校正システム10の調整動作を図7のフローチャートを参照して説明する。まず、あらかじめ図6の様に機器類を接続し、ホストPC2のプログラムを起動する。 Next, the adjustment operation of the calibration system 10 will be described with reference to the flowchart of FIG. First, devices are connected in advance as shown in FIG. 6 and the program of the host PC 2 is started.
ホストPC2は、プログラムにより標準器3の設定を行なう(ステップ1)。ここで設定とは、例えば電圧測定装置を調整する場合には標準器3の電圧値を10.000Vにすることをいう。 The host PC 2 sets the standard device 3 by a program (step 1). Here, setting refers to setting the voltage value of the standard device 3 to 10.000 V, for example, when adjusting the voltage measuring device.
デジタル測定装置1の設定を行なう(ステップ2)。すなわち、測定レンジ等を設定して標準器3の電圧値を測定できる状態とする。
The
ホストPC2は、デジタル測定装置1の測定値を読み取り(ステップ3)、デジタル測定装置1を調整する(ステップ4)。ここで、調整は以下の2種類の方法のうちいずれかによって行なわれる。
The
第1の調整法では、ホストPC2は標準器3、デジタル測定装置1を設定する。そして、ホストPCは、デジタル測定装置1の表示値が安定したときに、デジタル測定装置1に測定値を読み取るためのトリガをかける。デジタル測定装置1は、このときの調整係数(補正係数)を求めて図示しないメモリに記憶する。
In the first adjustment method, the
第2の調整方法としては、ホストPC2が標準器3の設定値とデジタル測定装置1の読み取り値から調整係数(補正係数)を算出し、その値をデジタル測定装置1に送信し、デジタル測定装置1がメモリに記憶する。
As a second adjustment method, the
ホストPC2は、これら2種類の調整動作のうちいずれかの方法を採用する。そして、ホストPC2は、これらの動作(ステップ1〜4)を調整が終了するまで繰り返す(ステップ5)。
The host PC 2 employs one of these two types of adjustment operations. The
次に、このような校正システム10の校正動作を図8のフローチャートを参照して説明する。まず、あらかじめ図6の様に機器類を接続し、ホストPC2のプログラムを起動する。 Next, the calibration operation of the calibration system 10 will be described with reference to the flowchart of FIG. First, devices are connected in advance as shown in FIG. 6 and the program of the host PC 2 is started.
標準器3の設定及びデジタル測定装置1の設定(ステップ1〜2)については調整動作と同様なので説明を省略する。
Since the setting of the standard device 3 and the setting of the digital measuring device 1 (
ホストPC2は、デジタル測定装置1の測定値を読み取る(ステップ3)。ホストPC2は、標準器3の設定値とデジタル測定装置1の読み値を比較し、その差が仕様の範囲内である場合には合格と判定し、仕様の範囲外である場合には不合格と判断する(ステップ4)。
The
そして、このようにして求められた校正結果(標準器3の設定値、デジタル測定装置1の読み値、合否)をホストPCに記憶する(ステップ5)。
Then, the calibration result (the set value of the standard device 3, the reading value of the
ホストPC2は、これらの作業(ステップ1〜5)を、校正手順が終了するまで繰り返す(ステップ6)。
The
ところで、ユーザがホストPC2を使用して通信により校正の命令をするためには、文章化されたコマンドを入力することが必要とされる。 By the way, in order for the user to give a calibration command by communication using the host PC 2, it is necessary to input a documented command.
しかし、このようなコマンド入力による校正方法は操作が複雑であり、また測定装置特有のノウハウも必要となる。したがって、このノウハウを知らずにユーザーが校正を行なうと高精度に校正ができないという問題点がある。 However, such a calibration method by command input is complicated in operation and requires know-how specific to the measuring apparatus. Therefore, there is a problem that if the user performs calibration without knowing this know-how, calibration cannot be performed with high accuracy.
この問題を回避する方法として、ユーザーが汎用測定装置を製造販売メーカーに持ち込んで、メーカーで校正を行なう特許文献1の様な方法が存在する。しかし、特許文献1に記載された方法では、運送業者等の手配が必要とされるため、迅速に測定装置1の校正を行なうことができない。
As a method for avoiding this problem, there is a method as described in
また、一般に標準器3の製造販売メーカーが提供する汎用のアプリケーションプログラムは、世界中で販売、使用されている汎用測定装置を対象に校正手順を作成したものである。これらの汎用アプリケーションプログラムは、いわゆる自動校正機能のみならず、測定装置の管理機能の他、校正成績書の作成、管理機能をも有しているものが多い。このため、汎用測定装置の種類によっては校正に不要なプログラムも内蔵されていることになり、このことが原因でコスト高になるという問題点がある。 In general, a general-purpose application program provided by a manufacturer / seller of the standard device 3 is a calibration procedure created for general-purpose measuring devices sold and used all over the world. Many of these general-purpose application programs have not only a so-called automatic calibration function but also a measurement instrument management function as well as a calibration report creation and management function. For this reason, depending on the type of the general-purpose measuring apparatus, a program unnecessary for calibration is built in, which causes a problem that the cost increases.
一方、個々の汎用測定装置に対応した標準器3は、その分野では世界中でも数種類しか存在しない。このため、汎用測定装置の製造販売メーカーが、自己が販売した汎用測定装置に特化した校正プログラムを作成するのは容易であり、コストも安くできる。 On the other hand, there are only a few types of standard devices 3 corresponding to individual general-purpose measuring devices in the field all over the world. For this reason, it is easy for a manufacturer and distributor of a general-purpose measurement device to create a calibration program specialized for the general-purpose measurement device sold by itself, and the cost can be reduced.
本発明は、これらの問題に着目したものであり、その目的は、高精度の校正が迅速に行なえる測定装置を用いた校正システムを提供することである。 The present invention focuses on these problems, and an object of the present invention is to provide a calibration system using a measuring apparatus capable of performing high-precision calibration quickly.
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、
所定の標準出力値を有する標準器と、この標準器の標準出力値を測定することにより調整又は校正される測定装置とで構成され、
前記測定装置には、前記標準器及び前記測定装置自身を制御して前記測定装置の調整を行う調整プログラム又は校正と校正の合否判定を行う校正プログラムが内蔵され、
前記測定装置はインターネットを介して測定器メーカーに設けられた合否判定サーバ及びプログラムサーバに接続され、
前記合否判定サーバは前記測定装置の調整又は校正結果を通信回線を通じて受信して合否を判定するとともにその判定結果を前記測定装置に送信し、
前記プログラムサーバは前記測定装置の要求に基づいて所望の調整又は校正プログラムを前記測定装置に送信することを特徴とする校正システムである。
In order to achieve such a problem, the invention according to
And the standard device having a predetermined standard output value, consists of the measurement device and which is adjusted or calibrated by measuring the standard output value of the standard device,
The measurement device includes an adjustment program for adjusting the measurement device by controlling the standard device and the measurement device itself, or a calibration program for performing pass / fail judgment of calibration and calibration ,
The measuring device is connected to a pass / fail judgment server and a program server provided in a measuring instrument manufacturer via the Internet,
The acceptance / rejection determination server receives an adjustment or calibration result of the measurement device through a communication line and determines acceptance / rejection, and transmits the determination result to the measurement device.
The program server is a calibration system that transmits a desired adjustment or calibration program to the measurement device based on a request of the measurement device.
請求項2記載の発明は、請求項1記載の校正システムにおいて、
前記調整プログラムは、
前記測定装置と前記標準器を設定する第1のステップと、
前記測定装置の測定値を読み取る第2のステップと、
前記第2のステップで読み取った測定値と前記第1のステップで設定した標準器の設定値を比較して調整係数を算出する第3のステップと、
前記第3のステップで算出した調整係数を前記測定装置に記憶する第4のステップと
を備えることを特徴とする。
The invention according to
The adjustment program is
A first step of setting the measuring device and the standard;
A second step of reading a measurement value of the measuring device;
A third step of calculating an adjustment coefficient by comparing the measured value read in the second step with the set value of the standard set in the first step;
And a fourth step of storing the adjustment coefficient calculated in the third step in the measuring device.
請求項3記載の発明は、請求項1記載の校正システムにおいて、
前記校正プログラムは、
前記測定装置と前記標準器を設定する第1のステップと、
前記測定装置の測定値を読み取る第2のステップと、
前記標準器の設定値と前記測定装置の読み値の差を比較し、その差が前記測定装置に内蔵された仕様の範囲内である場合には合格と判定し、仕様の範囲外である場合には不合格と判断する第3のステップと
前記標準器の設定値、前記測定装置の読み取り値及び前記合否を前記測定装置に記憶する第4のステップと
を備えることを特徴とする。
The invention described in claim 3 is the calibration system according to
The calibration program is
A first step of setting the measuring device and the standard;
A second step of reading a measurement value of the measuring device;
When the difference between the set value of the standard device and the reading value of the measurement device is compared, and the difference is within the specification range built in the measurement device, it is determined to be acceptable, and is outside the specification range Includes a third step of determining that the test is rejected, and a fourth step of storing the set value of the standard device, the reading value of the measurement device, and the pass / fail in the measurement device.
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の校正システムにおいて、
前記測定装置には、調整・校正中に前記測定装置からデータを受け取って成績書を印字するプリンタが接続されたことを特徴とする。
Invention of
The measuring apparatus is connected to a printer that receives data from the measuring apparatus during adjustment / calibration and prints a report .
請求項5記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載の校正システムにおいて、
前記測定装置は、前記プログラムサーバに格納された最新の調整・校正プログラムや新しい標準器に対応したプログラムをダウンロードして調整・校正プログラムをバージョンアップすることを特徴とする。
Invention of
The measurement apparatus is characterized in that the latest adjustment / calibration program stored in the program server or a program corresponding to a new standard device is downloaded to upgrade the adjustment / calibration program .
本発明によれば、次のような効果がある。
請求項1〜3記載の発明では、標準器を制御するプログラムを測定装置に備えたので、高精度の校正を迅速に行なうことができる。
調整結果を受信して校正の合否を判定する合否判定サーバを設けたので、高精度に測定装置を校正することができる。また、測定装置の製造販売メーカーにとっては、ユーザーの校正結果がフィードバックされることにより品質管理に資するとともに、校正プログラムや測定装置の改良に役立つ。
そして、所望の自動調整又は校正プログラムを提供するプログラムサーバを備えることにより、ユーザの測定装置を最新バージョンにできるので、新しい標準器が登場した場合でも、その標準器を使用して測定装置を校正することができる。
The present invention has the following effects.
According to the first to third aspects of the present invention, since the program for controlling the standard device is provided in the measuring apparatus, high-precision calibration can be performed quickly.
Since the pass / fail determination server for receiving the adjustment result and determining the pass / fail of the calibration is provided, the measuring apparatus can be calibrated with high accuracy. In addition, the measurement device manufacturing and sales manufacturer contributes to quality control by feeding back the calibration results of the user and is useful for improving the calibration program and the measurement device.
And by providing a program server that provides the desired automatic adjustment or calibration program, the user's measurement device can be updated to the latest version, so even if a new standard device appears, the standard device can be used to calibrate the measurement device. can do.
また、請求項4記載の発明では、請求項1〜3のいずれかに記載の発明において、測定装置の測定結果を示した成績書を印字するプリンタを備えたので、リアルタイムに測定結果を印字することができる。また、ホストPCに測定結果を吸い上げる必要がないので、校正作業全体にかかる時間を短縮できる。更に、ホストPCが必要ないので安価である。
Further, in the invention according to
以下、図面を用いて本発明の実施形態を説明する。図1は本発明の校正システムの一実施例を示した構成図である。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a calibration system of the present invention.
図1において、校正システム100は、デジタル測定装置110、標準器120、測定ケーブル130、制御用通信ケーブル140から構成されている。
In FIG. 1, the calibration system 100 includes a
デジタル測定装置110は、図示しない被測定対象の電流値、電圧等を測定する。また、デジタル測定装置110には、デジタル測定装置110自身と標準器120を制御するプログラムが内蔵されている。
The
標準器120は、所定の標準出力値をもっており、この標準出力値を測定することによりデジタル測定装置110が校正される。測定用ケーブル130は、デジタル測定装置110と標準器120を接続する。制御用通信ケーブル140は、デジタル測定装置110と標準器120を接続する。なお、この校正システム100では、従来技術を示した図6の構成と相違し、ホストPCは不要である。
The standard 120 has a predetermined standard output value, and the
測定装置110の構成について図2を参照して更に詳細に説明する。測定装置110は、入力部111、測定部112、キー入力部113、表示部114、通信部115、演算処理部116から構成される。
The configuration of the measuring
入力部111には、被試験対象から測定信号が入力される。測定部112は、入力部111に入力された測定信号を正規化してデジタルデータに変換する。キー入力部113は、デジタル測定装置110の各種の設定を行なう。表示部114は、測定装置110の測定結果を表示する。通信部115は、図示しないイーサネット(登録商標)インターフェース、USB(Universal Serial Bus)、GPIB、RS232等を備え、インターネット、プリンタ、標準器等に接続される。
A measurement signal is input to the
演算処理部116は測定部112で得られたデジタルデータに基づいて測定値を算出し、この測定値を表示部114に表示させる命令を送る。また、演算処理部116は、キー入力部113に入力された命令に基づいて測定装置110の各部を制御する。
The arithmetic processing unit 116 calculates a measurement value based on the digital data obtained by the measurement unit 112 and sends a command for causing the display unit 114 to display the measurement value. The arithmetic processing unit 116 controls each unit of the measuring
次に、このような校正システム100の調整動作を図3に示したフローチャートを参照して説明する。まず、あらかじめ図1の様に機器類を接続する。 Next, the adjustment operation of the calibration system 100 will be described with reference to the flowchart shown in FIG. First, the devices are connected in advance as shown in FIG.
デジタル測定器110のキー入力部113を操作して調整プログラムを選択する(ステップ1)。標準器120の種類を選択する(ステップ2)。なお、標準器120の種類が予め決まっている場合にはステップ2は省略しても良い。
The adjustment program is selected by operating the key input unit 113 of the digital measuring instrument 110 (step 1). The type of the
調整をスタートする(ステップ3)。デジタル測定装置110に内蔵されたプログラムにより、標準器120が設定される(ステップ4)。ここで設定とは、例えば電圧測定装置を調整する場合には、標準器120の出力電圧値を10.000Vにすることをいう。
Adjustment is started (step 3). The
デジタル測定装置110は、内蔵プログラムにより自己を設定する(ステップ5)。すなわち、測定レンジ等を設定して標準器120の出力電圧値を測定できる状態とする。
The
デジタル測定装置110は、内蔵プログラムにより自己の測定値を読みとる(ステップ6)。デジタル測定装置110は、標準器120の設定値と自己の測定値から調整係数(補正係数)を算出して記憶する(ステップ7)。
The
これらの調整動作(ステップ4〜7)を調整手順が終了するまで繰り返す(ステップ8)。
These adjustment operations (
次に、このような校正システム100の校正動作を図4に示したフローチャートを参照して説明する。まず、あらかじめ図1の様に機器類を接続する。 Next, the calibration operation of the calibration system 100 will be described with reference to the flowchart shown in FIG. First, the devices are connected in advance as shown in FIG.
デジタル測定装置110のキー入力部113を操作して校正プログラムを選択する(ステップ1)。標準器120の種類を選択する(ステップ2)。なお、標準器120の種類が予め決まっている場合にはステップ2は省略しても良い。
The calibration program is selected by operating the key input unit 113 of the digital measuring apparatus 110 (step 1). The type of the
校正をスタートする(ステップ3)。デジタル測定装置110に内蔵されたプログラムにより、標準器120が設定される(ステップ4)。ここで設定とは、例えば電圧測定装置を校正する場合には、標準器120の電圧値を10.000Vにすることをいう。
Start calibration (step 3). The
デジタル測定装置110は、内蔵プログラムにより自己を設定する(ステップ5)。すなわち、測定レンジ等を設定して標準器120の電圧値を測定できる状態とする。
The
デジタル測定装置110は、内蔵プログラムにより自己の測定値を読みとる(ステップ6)。デジタル測定装置110は、標準器120の設定値と自己の測定器の読み値の差を比較し、その差がデジタル測定装置110に内蔵された仕様の範囲内である場合には合格と判定し、仕様の範囲外である場合には不合格と判断する(ステップ7)。
The
デジタル測定装置110は、校正結果(標準器120の設定値、デジタル測定器110の読み取り値、合否)を保存する(ステップ8)。
The
これらの校正動作(ステップ4〜8)を調整手順が終了するまで繰り返す(ステップ9)。
These calibration operations (
このように、標準器120を制御するプログラムをデジタル測定装置110に備えたので、高精度の校正を迅速に行なうことができる。
As described above, since the program for controlling the
図5は、本発明の他の実施例を示す構成図である。図1と同じ構成のものは、同じ番号を付して説明を省略する。プリンタ200は、USB(Universal Serial Bus)等により、デジタル測定装置110に接続されている。メーカー300は、プログラムサーバ310、合否判定サーバ320を備える。プログラムサーバ310には、最新の調整・校正プログラムや新しい標準器120に対応したプログラムが格納されている。また、デジタル測定装置110は、インターネットを介して測定器メーカー300に接続されている。
FIG. 5 is a block diagram showing another embodiment of the present invention. Components having the same configuration as in FIG. The
次に、本発明の印字動作を説明する。校正システム100の動作は、図1と同様なので説明を省略する。プリンタ200は、校正システム100が自動調整・校正をしている最中にデジタル測定装置110からデータを受け取って成績書を印字する。
Next, the printing operation of the present invention will be described. The operation of the calibration system 100 is the same as that in FIG. The
本発明のプログラムのバージョンアップ動作について図2、図5を参照して説明する。デジタル測定装置110を、図2の通信部112に備えられた図示しないイーサネットインターフェースを使用して、インターネットを介してプログラムサーバ310に接続する。デジタル測定装置110は、プログラムサーバ310に備えられた最新の調整・校正プログラムや新しい標準器120に対応したプログラムをダウンロードして、調整・校正プログラムをバージョンアップする。
The version upgrade operation of the program of the present invention will be described with reference to FIGS. The
本発明の合否判定動作について説明する。デジタル測定装置110をイーサネットインターフェースを使用して、インターネットを介して合否判定サーバ320に接続する。デジタル測定装置110は、合否判定サーバ320に対して調整・校正結果を送信する。合否判定サーバ320は、図示しない判定プログラムを使用してデジタル測定装置110から受け取った調整・校正結果の合否判定を行い、その判定結果をデジタル測定装置110に送信する。
The pass / fail judgment operation of the present invention will be described. The
このように、プリンタ200を直接測定システム100に接続したので、自動調整・校正を行なっている最中に成績書を印字できる。すなわち、別途PCを用意して調整・校正データをPCに吸い上げた上で成績書を印字する必要がないので操作が簡単である。さらに、PCが不要なのでコスト安である。
As described above, since the
また、測定器メーカー300に最新の自動調整又は校正プログラムを提供するプログラムサーバ310を備えたので、ユーザの測定装置を最新バージョンにできる。従って、新しい標準器が登場した場合でも、その標準器を使用して測定装置を校正することができる。
Further, since the
さらに、測定器メーカー300に合否判定サーバ320を設けたので、デジタル測定装置110を直接測定器メーカーに持ち込んで校正する場合と同様に、高精度に測定装置を校正することができる。また、測定器メーカー300にとっては、ユーザーの調整・校正結果がフィードバックされることにより品質管理に資するとともに、校正プログラムや測定装置の改良に役立つ。
Furthermore, since the pass /
なお、本実施例では、標準器120を電圧電流発生器のような出力装置として使用し、デジタル測定装置110をマルチメータのような入力装置として使用する例を説明したが、この逆、すなわち、標準器にマルチメータような入力装置を使用して、発生器のような出力装置の校正・調整を行う場合にも応用が可能である。
In the present embodiment, the
100 校正システム
110 デジタル測定装置
120 標準器
200 プリンタ
310 プログラムサーバ
320 合否判定サーバ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100
Claims (5)
前記測定装置には、前記標準器及び前記測定装置自身を制御して前記測定装置の調整を行う調整プログラム又は校正と校正の合否判定を行う校正プログラムが内蔵され、
前記測定装置はインターネットを介して測定器メーカーに設けられた合否判定サーバ及びプログラムサーバに接続され、
前記合否判定サーバは前記測定装置の調整又は校正結果を通信回線を通じて受信して合否を判定するとともにその判定結果を前記測定装置に送信し、
前記プログラムサーバは前記測定装置の要求に基づいて所望の調整又は校正プログラムを前記測定装置に送信することを特徴とする校正システム。 And the standard device having a predetermined standard output value, consists of the measurement device and which is adjusted or calibrated by measuring the standard output value of the standard device,
The measuring device includes an adjustment program for adjusting the measuring device by controlling the standard device and the measuring device itself, or a calibration program for performing pass / fail judgment of calibration and calibration ,
The measuring device is connected to a pass / fail judgment server and a program server provided in a measuring instrument manufacturer via the Internet,
The acceptance / rejection determination server receives the adjustment or calibration result of the measurement device through a communication line to determine acceptance / rejection and transmits the determination result to the measurement device.
The calibration system, wherein the program server transmits a desired adjustment or calibration program to the measurement device based on a request of the measurement device.
前記測定装置と前記標準器を設定する第1のステップと、
前記測定装置の測定値を読み取る第2のステップと、
前記第2のステップで読み取った測定値と前記第1のステップで設定した標準器の設定値を比較して調整係数を算出する第3のステップと、
前記第3のステップで算出した調整係数を前記測定装置に記憶する第4のステップと
を備えることを特徴とする請求項1記載の校正システム。 The adjustment program is
A first step of setting the measuring device and the standard;
A second step of reading a measurement value of the measuring device;
A third step of calculating an adjustment coefficient by comparing the measured value read in the second step with the set value of the standard set in the first step;
The calibration system according to claim 1, further comprising: a fourth step of storing the adjustment coefficient calculated in the third step in the measurement device.
前記測定装置と前記標準器を設定する第1のステップと、
前記測定装置の測定値を読み取る第2のステップと、
前記標準器の設定値と前記測定装置の読み値の差を比較し、その差が前記測定装置に内蔵された仕様の範囲内である場合には合格と判定し、仕様の範囲外である場合には不合格と判断する第3のステップと
前記標準器の設定値、前記測定装置の読み取り値及び前記合否を前記測定装置に記憶する第4のステップと
を備えることを特徴とする請求項1記載の校正システム。 The calibration program is
A first step of setting the measuring device and the standard;
A second step of reading a measurement value of the measuring device;
When the difference between the set value of the standard device and the reading value of the measurement device is compared, and the difference is within the specification range built in the measurement device, it is determined to be acceptable, and is outside the specification range 2. The method according to claim 1, further comprising: a third step of determining that the test is rejected; and a fourth step of storing the set value of the standard, the reading value of the measurement device, and the pass / fail in the measurement device. The calibration system described.
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---|---|---|---|---|
JPH04303784A (en) * | 1991-04-01 | 1992-10-27 | Sharp Corp | Automatic instrument calibrator |
JPH05133997A (en) * | 1991-11-12 | 1993-05-28 | Advantest Corp | Method for calibrating ic testing device |
JPH07151803A (en) * | 1993-08-30 | 1995-06-16 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg | Network analyzer |
JPH09145425A (en) * | 1995-11-29 | 1997-06-06 | Kikusui Seisakusho:Kk | Molding data measuring device |
JPH1019613A (en) * | 1996-07-05 | 1998-01-23 | Yokogawa Electric Corp | Module measuring instrument |
JPH11211766A (en) * | 1998-01-26 | 1999-08-06 | Advantest Corp | Automatic calibration device |
JPH11211515A (en) * | 1998-01-22 | 1999-08-06 | Matsushita Electron Corp | Measuring instrument management support system |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04303784A (en) * | 1991-04-01 | 1992-10-27 | Sharp Corp | Automatic instrument calibrator |
JPH05133997A (en) * | 1991-11-12 | 1993-05-28 | Advantest Corp | Method for calibrating ic testing device |
JPH07151803A (en) * | 1993-08-30 | 1995-06-16 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg | Network analyzer |
JPH09145425A (en) * | 1995-11-29 | 1997-06-06 | Kikusui Seisakusho:Kk | Molding data measuring device |
JPH1019613A (en) * | 1996-07-05 | 1998-01-23 | Yokogawa Electric Corp | Module measuring instrument |
JPH11211515A (en) * | 1998-01-22 | 1999-08-06 | Matsushita Electron Corp | Measuring instrument management support system |
JPH11211766A (en) * | 1998-01-26 | 1999-08-06 | Advantest Corp | Automatic calibration device |
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