JP4593776B2

JP4593776B2 - アクチュエータの回路装置とその検査方法

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Publication number: JP4593776B2
Application number: JP2000522000A
Authority: JP
Inventors: パイヒル・トーマス; メーエケン・ゲーアハルト; シェーンバイン・アルトゥル
Original assignee: コンティネンタル・テーベス・アクチエンゲゼルシヤフト・ウント・コンパニー・オッフェネ・ハンデルスゲゼルシヤフト
Priority date: 1997-11-21
Filing date: 1998-11-20
Publication date: 2010-12-08
Anticipated expiration: 2018-11-20
Also published as: US6382740B1; EP1032519A1; EP1032519B1; WO1999026827A1; JP2001524408A

Description

【０００１】
本発明は、独立請求項の上位概念に記載した、アクチュエータのための回路装置と、アクチュエータの回路装置を検査するための方法に関する。検査されるアクチュエータは特に、２個の端子を備えた電気的に制御可能なアクチュエータである。このアクチュエータは好ましくは、電磁石、コイル等を備えた電気機械的に操作可能な装置である。特に、安全上重要な用途のアクチュエータが検討される。このようなアクチュエータは電子制御式ブレーキ倍力装置である。この倍力装置には、慣用のブレーキ倍力措置の場合のように、空気圧運転される固有の倍力部分が設けられている。しかし、この倍力部分はブレーキペダルを操作することによって機械的に直接制御されないで、電気的に操作可能な弁によって制御される。この弁は電気的な信号に応じて負圧側に通気するかまたは通気しない。それによって、電気的に操作可能な通気弁の機能は、車両の制動状態に直接的に影響を与えるので、一方ではこのような通気弁またはアクチュエータが常に申し分なく機能することが望まれ、他方ではこのようなアクチュエータの検査によって車両のブレーキ装置への不所望な介入が行われないようにすべきである。
【０００２】
ドイツ連邦共和国特許出願公開第４４２５５７８号公報には、電気的に制御可能なブレーキ倍力装置を備えたブレーキ装置が概略的に示してある。この場合しかし、車両のブレーキ状態にとって問題のない、弁の電気制御装置の要素の検査をどのようにして行うかについては記載されていない。
【０００３】
本発明の課題は、車両のブレーキ状態にとって問題のない、電気要素または電子要素の簡単かつ確実な検査を可能にする、アクチュエータの回路装置またはアクチュエータの回路装置の検査方法を提供することである。この課題は独立請求項の特徴によって解決される。従属請求項は本発明の有利な実施形を示している。
【０００４】
本発明の個々の実施形について説明する前に、図１の基づいてエラーについて説明する。図１は参照番号１００によって、検討されるアクチュエータまたはその電気要素、特に例えば電磁石、コイル、電動機等を示している。アクチュエータは２個の端子１００ａ，１００ｂを備えている。このアクチュエータはその端子１００ａ，１００ｂによって２つの電位１０１，１０２の間で切換え可能である。１０２は例えばアースであり、１０１はバッテリ供給電圧（普通は１２ボルト）または他の適当な電圧である。慣用の装置では、アクチュエータ１００の運転はスイッチによって制御される。スイッチが閉じているときに、アクチュエータは作動し、スイッチが開放しているときに停止する。いろいろなエラーが発生し得る。
【０００５】
スイッチは短絡したり、もはや閉鎖することができない場合があり得る。アクチュエータ１００の一方の端子１００ａまたは１００ｂは、一方の電位１０１または１０２について短絡し得る。アクチュエータ１００は内部に中断部または短絡部を有する。高い抵抗の分路を介して、上記の電位に向かって漏洩電流が発生し得る。上記のほとんどのエラーはアクチュエータの機能を直接的に影響を与えるエラーである。このエラーは、安全でない運転状態を避けるために、できるだけ早く検出しなければならない。
【０００６】
従って、アクチュエータを頻繁に検査することができる回路装置が望まれる。特に、アクチュエータが電位を利用可能であるとき、すなわち、例えば自動車の走行中にも、検査できるようにすべきである。他方では、そのときに、検査が不所望な介入、例えば不所望なブレーキ介入を行わないようにすべきである。
【０００７】
そこで、本発明では、アクチュエータの各々の端子に、電子的に操作可能な２個のスイッチを備えている回路装置が提供される。アクチュエータの慣用の操作の場合には、一方のスイッチを固定閉鎖し、他方のスイッチを他の制御判断基準に応じて制御可能である。検査運転では、一方のスイッチが開放したままであり、他方のスイッチが閉じられるので、電位状態に基づいてエラーを検出可能である。
【０００８】
図を参照して、本発明による１つの実施の形態について説明する。
【０００９】
図１は本発明の第１の実施の形態を示している。１００はアクチュエータまたはそれに関連する電気的要素、例えば電磁石、コイル、電動機等である。アクチュエータは端子１００ａ，１００ｂを備えている。アクチュエータ１００の各々の側にはスイッチ１０５，１０６が設けられている。このスイッチ１０５は端子１００ａと電位１０１との間の導線１０３内に設けられている。一方、スイッチ１０６は端子１００ｂと電位１０２との間の導線１０４内に設けられている。スイッチ１０５，１０６は好ましくは電子的に操作可能なスイッチ、例えばＦＥＴ、パワーＦＥＴ、サイリスタ、ＧＴＯ等である。スイッチ１０５，１０６は導線１１１，１１０を介してスイッチに供給される制御信号Ｓ１，Ｓ２に応じて切換えられる。アクチュエータの従来の運転（例えば軽いブレーキング）では、例えば制御信号Ｓ２が導線１１０を経てスイッチ１０５に供給されるので、このスイッチは持続的に閉じる。これに対して、スイッチ１０６には導線１１１を経て信号Ｓ１が供給されるので、アクチュエータ１００は所望な態様で操作される。例えば信号Ｓ１は所望なブレーキ力に応じて発生するパルス幅変調された信号でもよい。それによって、電子的に操作可能なスイッチ１０６が比較的に高周波で開閉されるので、アクチュエータ１００によって所望な中間電流がセットされる。しかし、パルス幅変調された信号の代わりに、他の信号、例えばアナログ信号を設けることができる。このアナログ信号はスイッチ１０６をアナログ的に切り換える。すなわち、例えば所望な電流をセットするために、多少大きく開放する。
【００１０】
更に、電気的な値または時間状態をチェックするための、次に説明する１つまたは複数の検査信号フィードバックが設けられている。すなわち、アクチュエータ１００の端子１００ｂの近くでピックアップされる導線１０８の検査信号Ｐ１、アクチュエータ１００の端子１００ａの近くでピックアップされる導線１０７の検査信号Ｐ２および第１の制御信号に一致する検査信号１０９がある。
【００１１】
アクチュエータ１００またはその回路装置を検査するときに、先ず最初にスイッチ１０５，１０６を適切な方法で操作し、そして信号導線１０７〜１０９の検査信号Ｐ１〜Ｐ３を検査することができる。
【００１２】
前述のエラーを検査するために、いろいろな検査モードをセットすることができる。例えば、両スイッチ１０５，１０６が開放しているモード０、一方のスイッチが閉じ、他方のスイッチが開放している（従ってアクチュエータはまだ電気的に操作されない）モード１および一方のスイッチが閉じ、他方のスイッチがアクチュエータをはっきりと操作しないように短時間だけ閉じるモード２をセットすることができる。
【００１３】
図３を参照して、これらのモードについて詳しく説明する。
【００１４】
２個のスイッチを設けることにより、アクチュエータ１００の両端子１００ａ，１００ｂをそれぞれの電位１０１，１０２から切り離すことができる（上述のモード０参照）ので、この切離しなしでは認識できないかまたは認識が困難であるいろいろなエラー状態を認識することができる。２個のスイッチを設けたことにより更に、一方のスイッチを閉じ、他方のスイッチを開放保持することができるので、ブレーキ介入を行わずに、他のエラーを検出することができる（モード１）。
【００１５】
図２を参照して、詳細な実施の形態について説明する。この場合、図１と同じ参照符号は同じ要素を示している。２０５はＦＥＴとして形成されたスイッチであり、図１のスイッチ１０５に対応する。同じことがスイッチ２０６についても当てはまる。操作のためにそれぞれドライバ回路２３１，２３３が設けられている。
【００１６】
信号Ｓ１，Ｓ２に応じてスイッチ２０５，２０６が制御される。この信号は制御回路１１２，２３５〜２３７によって適切に発生させられる。その際、図２の要素２３５〜２３７は図１の制御回路１１２にほぼ一致する。第１の制御信号Ｓ１は導線１０９を経て検査信号Ｐ３として信号監視回路２３６に供給される。同じように、アクチュエータの端子１００ａ，１００ｂの近くで電位がピックアップされ、戻し導線２２１，２２２または２２４，２２５を経て検査信号Ｐ１，Ｐ２として信号監視回路２３６にフィードバックされる。抵抗２２１ａ，２２１ｂは、信号レベルＰ２の値を適合させる働きをする分圧器として作用する。抵抗２２３，２２６は比較的に大きな抵抗であり、スイッチ２０５，２０６が開放しているときに、アクチュエータ１００の端子１００ａ，１００ｂを所定の値にセットする。抵抗２２３，２２６はコイル１００のオーム抵抗と共に、分圧器として作用する。
【００１７】
２３５は処理装置である。この処理装置は上位の信号２３９を受信し、この信号に応じて第１の出力信号Ｓ１′を発生する。この出力信号は発生装置２３７の入力信号としての働きをする。発生装置２３７は実際の第１の制御信号Ｓ１を発生する。この制御信号は好ましくはパルス幅変調され、デジタルである。しかし、トランジスタを多少開放するアナログ信号でもよい。
【００１８】
処理装置２３５はデータ線２３８を介して信号監視装置２３６に接続されている。
【００１９】
監視装置２３６の正確な構成については、図４を参照して後述する。この監視装置は一方では、導線Ｐ１，Ｐ２の信号レベルを監視する。監視装置は他方では、制御信号Ｓ１の正当性を検査することができる。制御信号Ｓ１がパルス幅変調された信号であるときには、処理装置２３５はスイッチ２０５を開放保持し、スイッチ２０６のために、既知のパルス占有率のパルス幅変調された信号Ｓ１を発生する。監視装置２３６は、信号Ｓ１が予想されたように発生しているかどうかを検査する。例えば信号内で（パルス幅変調された信号の場合）、エッジの時間的な位置を検査するかあるいは（例えばアナログ制御信号の場合）信号のレベルが検査される。
【００２０】
図３に基づいて、いろいろなエラー状態とその検出方法について説明する。上記の閾値は例として理解すべきであり、閾値は図２の回路の個々の抵抗の選択によって生じる。その際、図３において考慮されるエラーは、検査信号Ｐ１，Ｐ２に基づいて検出可能である、アクチュエータの回路装置またはアクチュエータ自体のエラーである。検査の間、上述の他のモードをセットすることができる。モード０では、両スイッチ１０５，１０６または２０５，２０６は、それが適切に作動しているならば開放する。アクチュエータ１００の端子１００ａまたは１００ｂは抵抗２２３または２２６を介して所定の電位にセットされる。この電位は電位し１０１，１０２と異なっている。１個のスイッチが短絡すると、これは、スイッチ２０５，２０６が理論的には開放しているにもかかわらず電位１０１または１０２が端子１００ａ，１００ｂに供給されることから検出可能である。これと類似の方法で、供給電圧に対する、アース１０２または端子１００ｂの後の端子１００ａの短絡を検出することができる。端子１００ａのアース短絡はこの端子における非常に低い電位から検出可能である。更に、供給電圧に対する端子１００ｂの短絡は端子１００ｂと端子１００ａの非常に高い電位によって検出可能である。ここで、必ずしも個々のエラーを互いに区別する必要はない。何らかのエラーが生じるや否や、エラーの種類に関係なく、適切な手段が実行されることが重要である。
【００２１】
両スイッチが開放していると、電位に対する端子１００ａ，１００ｂの短絡と類似の方法で、漏洩電流を検出することができる。このような漏洩電流は端子の電位に作用するので、この電位は適切な閾値設定と導線２２２，２２５の電位の検査によって検出することができる。
【００２２】
モード１では、例えばスイッチ１０５，２０５を閉じ、スイッチ１０６，２０６を開放することができる。これによって、スイッチ１０５，２０５が閉じているかどうか検出することができる。そうでないときには、端子１００ａの電位が要求された値をとらないので、これは分圧器２２１ａ，２２１ｂと導線２２２を介して、検査信号Ｐ２の形で信号監視装置２３６に伝えられる。（既にモード０で）検出可能である、アクチュエータ１００の端子１００ｂのアース短絡は、検査信号Ｐ１の非常に低いレベルから検出可能である。同じことがコイル自体の中断についても当てはまる。閉じたスイッチ２０５を経て端子１００ａに伝えられる高い電位は、端子１００ｂで生じないので、検査信号Ｐ１は閾値以下のままである。
【００２３】
モード０で既に述べたように、スイッチ２０６の短絡が検出される。なぜなら、スイッチ２０６が開放していても、端子１００ｂを低いアース電位１０２にセットされるからである。
【００２４】
モード２では、両スイッチ１０５，１０６または２０５，２０６が閉じている。このモードは、それによってアクチュエータに電流が供給され、実際に操作されるので、重要である。従って、既に閉じているスイッチ１０５，２０５に加えてスイッチ１０６，２０６を非常に短く閉じることにより、このモードを非常に短くセットすると有利である。このモード２では、スイッチ１０６，２０６の非切換えを検出可能である。なぜなら、端子１００ｂの電位がもはやアースに接続されず、閾値の上方にとどまるからである。同じ判断基準に従って、アクチュエータ１００の短絡を検出することができる。この短絡に基づいて、アクチュエータ１００で予想されるほど電圧が低下しないので、端子１００ｂが再度ほぼアースの電位をとらないで、閾値の上方にとどまるからである。
【００２５】
図３を参照して説明するモードは、それぞれ１つだけの検査信号Ｐ１またはＰ２を参照して、１つのモード内でその都度エラー状態の検出を可能にする。例えばモード２では、検査信号Ｐ１（端子１００ｂの電位に一致する）が、比較的に低い第１の閾値と比較される。モード０では、検査信号Ｐ２（端子１００ａの電位に応じて発生する）が、第１の閾値よりも幾分高い第２の閾値よりも低いかどうかが検査されるかあるいは第２の閾値よりも高い第３の閾値よりも高いかどうかが検査される。モード１では実質的に検査信号Ｐ１が観察され、第２の閾値よりも高いどうかが検査される。ここで更に、スイッチ１０５，１０６の適切な切換えを検出できるようにするために、検査信号Ｐ２が比較的に高い第４の閾値よりも高いかどうかを検査することができる。
【００２６】
上述のモード１〜３はアクチュエータの回路装置またはアクチュエータ自体を検査する働きをする。他のモード（図３に示していない）では、比較的に複雑な第１の制御信号Ｓ１を検査することができる。そのために、所定の第１の制御信号Ｓ１を発生し、正しく発生されたかどうかを検査する。アクチュエータ１００の実際の操作を回避するために、スイッチ１０５，２０５が開放される。そして、制御装置１１２，２３５〜２３７が所定の第１の制御信号Ｓ１、例えばパルス幅変調された信号を発生し、発生した信号を検査する。例えば、所定のパルス占有率を有するパルス幅変調された信号を発生し、この信号のエッジが所望であるかどうかを検査することができる。
【００２７】
本発明による検査を行うために、制御装置１１２，２３５〜２３７と特に処理装置２３５は、試験装置を備えている。この試験装置は一方では、上述の１つまたは複数のモードをセットするために必要な制御信号Ｓ１，Ｓ１′，２を発生し、他方では必要な制御信号（例えば検査の開始および終了、予想される信号値またはチェックすべき閾値）を信号監視装置２３６に伝える。
【００２８】
更に、中断装置が設けられている。この中断装置は、例えば入力信号２３９に応じてアクチュエータの実際の使用のための要求が検出可能であるときに、上記の検査（特にモード０〜３のセット）を中断または終了する。
【００２９】
図４は信号監視装置の実施の形態を示している。上側部分には、検査信号Ｐ１，Ｐ２（アクチュエータの回路装置またはアクチュエータ自体に関する）を検査するための装置が示され、下側部分は第１の制御信号Ｓ１，Ｓ３を検査するための装置を示している。この２つの回路部分は（図示のように）互いに組み合わせて設けることができる。分離した実施形と、両部分の一方の省略も可能である。
【００３０】
既に図３に基づいて説明したように、アクチュエータの回路装置とアクチュエータ自体を検査するために、検査信号Ｐ１，Ｐ２が閾値と比較される。そのために、信号監視装置は２個の比較器４０７，４０８を備えている。この比較器はそれぞれ、一方の信号または他方の信号を監視する。しかし、図３に示すように、それぞれのエラーを検出できるようにするために、その都度１つだけのエラー信号を監視すべきであるので、両エラー信号Ｐ１，Ｐ２を切換えスイッチによって１つの比較器に案内することができる。閾値と質問は信号導線４１３を経て伝えることできる。この質問の場合、閾値を上回ることを検査べきであるかまたは下回ることを検査すべきであるかが質問される。ゲート４０９では、比較器４０７，４０８の出力として生じる個々のエラー信号が組み合わせられてエラー信号Ｆとなる。このエラー信号は信号４１１とは別に出力することができるかあるいは処理装置２３５のストランド（相巻線）２３８を経て伝えることができる。
【００３１】
図４の下側部分は、パルス幅変調された信号（試験信号Ｐ３として入力される）を検査するための装置を示している。先ず最初に、エッジ検出器４０１，４０２が設けられている。この場合、一つが立ち上がりエッジに、そして一つが立ち下がりエッジに応答する。更に、時間測定装置４０３が設けられている。エッジが検出されるときに常に、所定の時点が複数の記憶場所を有するメモリ４０４に連続的に書き込まれる。これは矢印４０６によって概略的に示してある。従って、メモリ４０４には、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジの時点を交互に示す時点の連続的な入力が存在する。メモリ４０４は例えばシフトレジスタのように形成可能である。このシフトレジスタには、データが絶えず書き込まれ、後で書き込まれたデータに応じてシフトされ、最後に押し出される。評価装置４０５は最後に、書き込まれた時点の正当性を検査する。
【００３２】
理論的には、連続する３つのエッジの正しい位置に基づいて、正しいパルス幅変調を検出することができる。従って、評価装置４０５は例えば、メモリ４０４内の最新の３つの入力の正当性を評価し、そしてエラーが検出されると、エラー信号が出力される。このエラー信号は場合によっては、比較器４０７，４０８からのエラー信号と組み合わせて共通のエラー信号Ｆ，４１１を形成することができる。
【００３３】
誤アラームを回避するために、第１の異常が検出されたときに、エッジの付加的なグループの時間的な位置を検査し、そして何度もエラーが検出されたときに初めて、エラー信号が出力されると効果的である。評価装置４０５は導線４１２を経てデータを受信することできる。このデータは必要な情報、例えば予想されるパルス占有率等を評価装置に伝える。
【００３４】
信号監視装置２３６における上記の検査の実施は、供給電圧が所定の範囲内にあることに依存する。閾値が比較的にぎりぎりにまたは密にセットされているときに、信号Ｐ１，Ｐ２のレベルの検査は正しい結果をもたらす。
【００３５】
処理装置２３５、発生装置２３７および信号検査装置２３６は異なるチップに形成されたデジタル回路とすることができる。その際好ましくは、処理装置２３５と信号検査装置２３６が同一のチップである。このチップは一部が冗長的に動作するがしかし、上述の手段を互いに独立して実施することができる。
【００３６】
コード２（両スイッチが閉じている）は好ましくは１ｍｓ以下、更に好ましくは５００μｓ以下の間続く。
【００３７】
上記の検査は特に周期的に開始される。第１の制御信号Ｓ１の検査は例えば１秒あたり１回以上、好ましくは１秒あたり３回以上行うことができる。同じことが試験信号Ｐ１，Ｐ２に基づく、アクチュエータの回路装置とアクチュエータの検査についても当てはまる。
【００３８】
パルス幅変調された信号として形成された第１の制御信号Ｓ１を検査する一つの方法は、予め定めたパルス占有率（オンの時間とオフの時間の比）を有するパルス幅変調された信号を発生することである。この場合、全体のサイクル時間が予め定められている。例えば、３３％のパルス占有率を有する試験制御信号がセットされる。この場合、オン時間が１８μｓで、オフ時間が３６μｓである。この時間が予め定められていると、信号検査装置はどんな値が予想されるかを通知する必要がない。しかし同時に、フレキシブルな試験信号を発生することが望まれる。発生する試験制御信号Ｓ１は非対称である。すなわち、５０％ではないパルス占有率を有する。更に、信号の極性を正しく検出することを保証する装置が設けられていると有利である。それによって、補完的なパルス占有率（例えば３３％の代わりに６７％）を有する、間違って発生した試験信号が、エッジ時点に基づいて正しい試験信号として検出されない。
【００３９】
信号Ｐ１，Ｐ２に基づく、アクチュエータの回路装置とアクチュエータの検査と、信号Ｐ３に基づく、制御信号Ｓ１の検査が、原理的に互いに一緒に設けられていると、この検査は交互に行うことができる。例えば、上述のようにモード０，１，２，３を順々にセットし、このモード内でそれぞれ検査を行うことができる。ここでも、１Ｈｚよりも大きな、特に３Ｈｚよりも大きな繰り返し周波数が望まれる。上述のすべての検査が必要であると見なされないときに、個々のモードまたは複数のモードあるいはこのモード内のいろいろな検査ステップを省略することできる。
【００４０】
１つのモード内でエラーが確認されると、これは回路装置、アクチュエータまたは第１の制御信号のエラーであることを示す。従って、適当な対策、例えばアラーム信号等の出力が行われる。
【００４１】
検査方法の経過は（図示していない）プロセッサによって制御可能である。図２に示した回路装置のばらばらの構成の代わりに、図１によって示唆するように、統合した構成とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による実施の形態の概略図である。
【図２】本発明による他の実施の形態の概略図である。
【図３】いろいろなエラー状態とその検出方法を表の形で示す図である。
【図４】検査装置の実施の形態を示す図である。

Claims

２つの電位（１０１，１０２）の間で切換え可能であり、かつ２つの端子（１００ａ，１００ｂ）を備えたアクチュエータ（１００）と、アクチュエータ（１００）のための回路装置とを有する電気的に制御可能なブレーキ倍力装置であって、
２つの電位（１０１，１０２）を端子（１００ａ，１００ｂ）に供給する第１と第２の導線（１０３，１０４）と、
第１の導線（１０４）において、第１の電位（１０２）とアクチュエータの第１の端子（１００ｂ）の間に設けられた、電子的に操作可能な第１のスイッチ（１０６，２０６）と、
パルス幅変調された第１の制御信号（Ｓ１）によって第１のスイッチ（１０６，２０６）を切換える制御装置（１１２，２３５〜２３７）と、
を備えたブレーキ倍力装置において、
第２の導線（１０３）には、第２の電位（１０１）とアクチュエータの第２の端子（１００ａ）の間に設けられた、電子的に操作可能な第２のスイッチ（１０５，２０５）が配備されており、制御装置が第２の制御信号（Ｓ２）によって第２のスイッチを切換えることと、
第１のスイッチ（１０６，２０６）と第１の端子（１００ｂ）の間および第２のスイッチ（１０５，２０５）と第２の端子（１００ａ）の間に、信号監視装置（２３６）に通じる第２の信号線（１０７，１０８，２２１，２２２，２２４，２２５）が設けられており、第１のスイッチ（１０６，２０６）と第２のスイッチ（１０５，２０５）の両スイッチが開放しているときに、アクチュエータ（１００）の少なくとも１つの端子（１００ａ，１００ｂ）において、少なくとも１つの電位を検査することが可能であることと、
を特徴とする電気的に制御可能なブレーキ倍力装置。
第１の制御信号（Ｓ１）のために、信号監視装置（２３６）に通じる第１の信号線（１０９）が設けられていることを特徴とする請求項１に記載の電気的に制御可能なブレーキ倍力装置。
制御装置（１１２，２３５〜２３７）がパルス幅変調された第１の制御信号を発生し、かつ処理装置（２３５）を備え、この処理装置が入力信号に応じて、パルス幅変調のパルス占有率を示す第１の出力信号（Ｓ１′）を発生し、更に、第１の出力信号を受信しかつ第１の制御信号（Ｓ１）を出力する発生装置（２３７）を備えていることを特徴とする請求項１または２に記載の電気的に制御可能なブレーキ倍力装置。
信号監視装置（２３６）が処理装置（２３５）と同じ構造を有しかつこの処理装置とデータを交換する電子回路であることを特徴とする請求項３に記載の電気的に制御可能なブレーキ倍力装置。
処理装置（２３５）が、回路装置とアクチュエータおよびまたはパルス幅変調された第１の制御信号（Ｓ１）を検査するための適当な第２の制御信号（Ｓ２）と適当な第１の出力信号（Ｓ１′）を発生するための試験装置を備えていることを特徴とする請求項３または４に記載の電気的に制御可能なブレーキ倍力装置。
信号監視装置（２３６）がパルス幅変調された第１の制御信号のレベル変化を監視およびまたは判断するための第１の検査装置（４０１〜４０６）を備えていることを特徴とする請求項２に記載の電気的に制御可能なブレーキ倍力装置。
信号監視装置（２３６）が第２の信号フィードバックの電気的な値を監視およびまたは判断するための第２の検査装置（４０７〜４０８）を備えていることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一つに記載の電気的に制御可能なブレーキ倍力装置。
第１の検査装置（４０１〜４０６）がデジタル信号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジのための各々１つのエッジ検出器（４０１，４０２）と、時間計測装置（４０３）を備えていることを特徴とする請求項６に記載の電気的に制御可能なブレーキ倍力装置。
第１の検査装置（４０１〜４０６）が、検出されたエッジの時点が連続的に書き込まれるメモリ（４０４）と、レジスタ内の連続する少なくとも３つの入力を評価する評価装置（４０５）を備えていることを特徴とする請求項８に記載の電気的に制御可能なブレーキ倍力装置。
請求項１〜９のいずれか一つに記載された電子制御式ブレーキ倍力装置の２つの電位の間で切換え可能であり、かつ２つの端子を備えたアクチュエータの回路装置と、アクチュエータ自体を検査するための方法であって、回路装置が２つの電位を第１の基準点から第２の基準点に供給する線と、第１の基準点とアクチュエータの第１の端子の間に設けられた第１のスイッチと、第２の基準点とアクチュエータの第２の端子の間に設けられた第２のスイッチと、パルス変調された第１の制御信号と第２の制御信号によって第１と第２のスイッチを切り換える制御装置とを備えている、方法において、両スイッチが開放しているときに、アクチュエータの少なくとも１つの端子で少なくとも１つの電位を検査するステップを有することを特徴とする方法。
第１のスイッチを開放保持し、第２のスイッチを閉鎖するステップと、アクチュエータの少なくとも１つの端子の少なくとも１つの電位を検査するステップを有することを特徴とする請求項１０に記載の方法。
第２のスイッチを閉鎖し、第１のスイッチを短時間閉鎖するステップと、第１のスイッチが閉じている間、アクチュエータの少なくとも１つの端子の少なくとも１つの電位を検査するステップを有することを特徴とする請求項１０または１１に記載の方法。
第１のスイッチが１ｍｓ以下又は５００μｓ以下の間閉鎖保持されることを特徴とする請求項１２に記載の方法。
アクチュエータの両端子の電位を検査することを特徴とする請求項１０〜１３のいずれか一つに記載の方法。
電位を検査する際に、この電位が閾値と比較されることを特徴とする請求項１０〜１４のいずれか一つに記載の方法。
請求項１〜９のいずれか一つに記載された電子制御式ブレーキ倍力装置の２つの電位の間で切換え可能であり、かつ２つの端子を備えたアクチュエータのためのパルス変調された第１の制御信号を検査するための方法であって、アクチュエータの回路装置が２つの電位を第１の基準点から第２の基準点に供給する線と、第１の基準点とアクチュエータの第１の端子の間に設けられた第１のスイッチと、第２の基準点とアクチュエータの第２の端子の間に設けられた第２のスイッチと、パルス変調された第１の制御信号と第２の制御信号によって第１と第２のスイッチを切り換える制御装置とを備えている、方法において、２個のスイッチを開放保持し、所定のパルス占有率を有するパルス変調された第１の制御信号を発生し、発生した制御信号の複数のエッジの間の時間的な状態を検査し、目標状態が検出されないときに、エラー信号を出力することを特徴とする方法。
発生した第１の制御信号の連続する３つのエッジの間の時間的な状態が検査されることを特徴とする請求項１６に記載の方法。
先ず最初に、発生した第１の制御信号の第１のグループのエッジの間の時間的な状態が検査され、そして目標状態が検出されないときに、発生した第１の制御信号の少なくとも１つの第２のグループのエッジの間の時間的な状態が検査され、目標状態が検出されないときに、エラー信号が出力されることを特徴とする請求項１６または１７に記載の方法。