JP4564914B2 - Automatic assertion generation device and logic circuit design verification method - Google Patents

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Description

本発明は、アサーション自動生成およびアサーションをチェッカーとして組み込んだ論理回路設計検証に関する。アサーションとは、論理回路の機能仕様や設計意図を表現した記述をいう。   The present invention relates to logic circuit design verification in which assertion automatic generation and assertion are incorporated as a checker. An assertion is a description that expresses the functional specification and design intention of a logic circuit.

論理回路の設計を検証する手段の一つとしてアサーションをチェッカーとして組み込むアサーション・ベース検証が知られている。アサーション・ベース検証では、汎用性のある回路のIP(Intellectual Property)ないしは既存回路を利用して新規な論理回路を設計する場合、アサーションをチェッカーとして組み込むことにより、検証結果からユーザの論理回路に対する設定ミスかIP等自体の不具合かを判定することができる。   As one of means for verifying the design of a logic circuit, assertion-based verification in which an assertion is incorporated as a checker is known. In assertion-based verification, when designing a new logic circuit using an IP (Intellectual Property) of a general-purpose circuit or an existing circuit, the assertion is incorporated as a checker to set the user's logic circuit from the verification result. It can be judged whether it is a mistake or a malfunction of the IP itself.

アサーションを作成するためには、検証対象となる回路の詳細な仕様を回路仕様書や回路記述から把握できる要素が必要であり、かつアサーション作成者および回路検証者は、検証対象となる回路の仕様を把握する必要がある。図4の模式図で示すように、原型となる基準回路Aに機能の追加・削除など変更をかけて生成した変更回路A’を検証する場合、基準回路Aの仕様を把握し変更前のアサーションBと異なる新規アサーションCを作成する。   In order to create an assertion, it is necessary to have an element that allows the detailed specification of the circuit to be verified to be understood from the circuit specification and circuit description, and the assertion creator and circuit verifier must specify the specification of the circuit to be verified. Need to figure out. As shown in the schematic diagram of FIG. 4, when verifying the changed circuit A ′ generated by adding or deleting functions to the original reference circuit A, the specification of the reference circuit A is grasped and the assertion before the change is performed. A new assertion C different from B is created.

この場合の人為的なミスを無くすために、アサーションを自動生成できる仕組みを持つアサーション生成方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。この特許文献における「プロパティ」は、ここでのアサーションに相当し、プロパティの自動生成フローは図5に示すとおりである。   In order to eliminate an artificial mistake in this case, an assertion generation method having a mechanism capable of automatically generating an assertion has been proposed (see, for example, Patent Document 1). The “property” in this patent document corresponds to the assertion here, and the automatic property generation flow is as shown in FIG.

図5の自動生成装置301の入力要素は、検証対象であるプロセッサの回路仕様302とプロセッサの回路記述305である。回路仕様302は仕様解析部303で解析されて必要な情報が生成され、この情報から動作モデル生成部304によって動作モデルが生成される。一方、回路記述305は回路記述読込み部306に入力し、記述解析部307で解析される。そして、回路仕様302から得られた動作モデルと回路記述305から得られた記述解析結果がプロパティ生成部308に入力しプロパティ309が生成される。   The input elements of the automatic generation apparatus 301 in FIG. 5 are a circuit specification 302 of the processor to be verified and a circuit description 305 of the processor. The circuit specification 302 is analyzed by the specification analysis unit 303 to generate necessary information, and an operation model is generated by the operation model generation unit 304 from this information. On the other hand, the circuit description 305 is input to the circuit description reading unit 306 and analyzed by the description analysis unit 307. Then, the behavior model obtained from the circuit specification 302 and the description analysis result obtained from the circuit description 305 are input to the property generation unit 308, and the property 309 is generated.

特開2000-268074(第6頁−第7頁、図33)JP2000-268074 (pages 6-7, FIG. 33)

しかしながら、上述した特許文献1記載の従来技術では、アサーションを作成するためには詳細仕様や回路記述を解析しなくてはならないから、IPのように回路記述が提供されない場合や、詳細仕様を解析できない回路に対して、アサーションを生成する事が非常に困難であるという第1の問題点がある。   However, in the prior art described in Patent Document 1 described above, detailed specifications and circuit descriptions must be analyzed in order to create an assertion. There is a first problem that it is very difficult to generate an assertion for a circuit that cannot.

また、仕様の解釈を間違えると、回路が正しいか判断する基準となるアサーション・チェッカーの間違いにつながるため、仕様の把握、回路記述の解析まで作業を戻して再びアサーションを生成し直さなければならず、検証実施までに多くの時間が必要となるという第2の問題点がある。   In addition, if the specification is misinterpreted, it will lead to an error in the assertion checker, which is the standard for judging whether the circuit is correct. There is a second problem that much time is required until the verification is performed.

そこで、本発明の目的は、IPのように詳細仕様が解析できなく、また回路記述を参照不可能な回路であってもアサーションを自動生成することができるアサーション自動生成装置およびアサーション自動生成方法を提供することにある。   Therefore, an object of the present invention is to provide an assertion automatic generation apparatus and an assertion automatic generation method capable of automatically generating an assertion even in a circuit in which detailed specifications cannot be analyzed like IP and a circuit description cannot be referred to. It is to provide.

本発明の他の目的は、検証結果から正しいと判断されなかった場合であっても、検証工程の後戻りが少ない論理回路設計検証方法を提供することにある。   Another object of the present invention is to provide a logic circuit design verification method that reduces the backtracking of the verification process even when the verification result is not correct.

本発明のアサーション自動生成装置は、検証基準回路を利用して新規な論理回路を設計し該回路を検証対象回路とする場合におけるチェッカーとしてのアサーションを生成するアサーション自動生成装置において、検証対象回路と検証基準回路それぞれにおける信号名の情報である信号情報(図1における101)を格納した信号情報ファイルと、検証基準回路の動作パタンの内で検証対象回路の評価パタンに現れる信号のレベル遷移を示す情報である動作波形データ(図1における102)を格納した波形データファイルと、信号情報ファイルと波形データファイルとから検証対象信号とこれに対応する検証基準信号それぞれに対する信号変化情報(図1における104,105)を生成する信号変化情報自動生成部(図1における103)と、信号変化情報を入力し、論理回路の機能仕様や設計意図を表現した記述であるアサーション(図1における107)を生成するアサーション生成部(図1における106)を有することを特徴とする。   An assertion automatic generation apparatus according to the present invention is an assertion automatic generation apparatus that generates an assertion as a checker when a new logic circuit is designed using a verification reference circuit and the circuit is a verification target circuit. A signal information file storing signal information (101 in FIG. 1) which is signal name information in each verification reference circuit, and a level transition of a signal appearing in an evaluation pattern of a verification target circuit in an operation pattern of the verification reference circuit Signal change information (104 in FIG. 1) for the verification target signal and the corresponding verification reference signal from the waveform data file storing the operation waveform data (102 in FIG. 1), the signal information file and the waveform data file. , 105) for generating signal change information (103 in FIG. 1) and signal change information And force, and having an assertion generating unit that generates an assertion is a description representing the functional specification and design intent of a logic circuit (107 in FIG. 1) (106 in FIG. 1).

なお、信号変化情報は、当該信号nの値が遷移した時刻を動作波形データから取り出すための第1関数Tn(t)の所定時間における値と、当該信号nの遷移時における値を動作波形データから取り出すための第2関数N(t)の所定時間における値とから成り、アサーション生成部は、検証基準信号aの第2関数の値Na(t)と、検証基準信号a対応の検証対象信号bに対する第2関数の値Nb(t)と、検証基準信号aと検証対象信号bそれぞれの第1関数値の相対的な差から求められる変化時間情報としての第3関数の値Qab(t)を変数としアサーション記述に変換するための関数Hにより、アサーションを生成することを特徴とする。   The signal change information includes the value at the predetermined time of the first function Tn (t) for extracting the time at which the value of the signal n transitions from the operation waveform data, and the value at the time of transition of the signal n. The second function N (t) to be taken out from the value at a predetermined time, and the assertion generator generates the second function value Na (t) of the verification reference signal a and the verification target signal corresponding to the verification reference signal a. The value Nb (t) of the second function for b and the value Qab (t) of the third function as change time information obtained from the relative difference between the first function values of the verification reference signal a and the verification target signal b. Assertion is generated by a function H for converting to an assertion description using as a variable.

また、本発明のアサーション自動生成方法は、上記のアサーション自動生成装置を用いた検証基準回路に基づく論理回路設計検証方法において、検証対象回路のユーザロジック仕様(図2の201)における検証対象信号名と、これに対応する検証基準回路(図2の202)における検証基準信号名の情報である信号情報(図2の101)を検証者が用意する段階と、ユーザロジック仕様に基づいて作成したテストパタンである評価パタン(図2の206)を作成する段階と、動作パタン(図2の203)を実行して(図2のステップS1)評価パタンおよび検証基準回路の回路記述(図2の204)に基づいて、動作パタンの内で評価パタンに現れる信号のレベル遷移を示す情報である動作波形データ(図2の102)を生成する段階と、信号情報と動作波形データとによりアサーションを自動的に生成する(図2のステップS2)段階を有することを特徴とする。   Further, the assertion automatic generation method of the present invention is the verification target signal name in the user logic specification (201 in FIG. 2) of the verification target circuit in the logic circuit design verification method based on the verification reference circuit using the above assertion automatic generation device. And a step in which the verifier prepares signal information (101 in FIG. 2) which is information of the verification reference signal name in the corresponding verification reference circuit (202 in FIG. 2), and a test created based on the user logic specification A step of creating an evaluation pattern (206 in FIG. 2), which is a pattern, and an operation pattern (203 in FIG. 2) are executed (step S1 in FIG. 2). A circuit description of the evaluation pattern and verification reference circuit (204 in FIG. 2) ) To generate operation waveform data (102 in FIG. 2) that is information indicating the level transition of the signal appearing in the evaluation pattern among the operation patterns, and the signal information and the operation waveform data. Characterized in that it has automatically generate (step S2 in FIG. 2) comprises an assertion.

また、本発明の論理回路設計検証方法は、アサーション自動生成方法により生成したアサーションを用いた論理回路設計検証方法であって、ユーザロジック仕様と検証基準回路の概要仕様(図2の205)に基づいて新規の仕様を把握し(図2のステップS3)、これをベースに回路記述および生成されたアサーションから回路変更があるか否かを判断する(図2のステップS4)段階と、回路変更があれば検証基準回路を変更する段階と、検証基準回路をベースに評価パタンと生成されたアサーションを用いて検証対象回路を検証する(図2のステップS5)段階と、検証の結果がOKでなければ(図2のステップS6)仕様の把握に戻って、変更後の検証基準回路を作成して検証をし直す段階を有することを特徴とする。   The logic circuit design verification method of the present invention is a logic circuit design verification method using assertions generated by the assertion automatic generation method, and is based on the user logic specifications and the outline specifications of the verification reference circuit (205 in FIG. 2). Ascertain the new specification (step S3 in FIG. 2), and determine whether there is a circuit change from the circuit description and the generated assertion based on this (step S4 in FIG. 2). If there is a stage for changing the verification reference circuit, a stage for verifying the verification target circuit using the evaluation pattern and the generated assertion based on the verification reference circuit (step S5 in FIG. 2), and the verification result must be OK. (Step S6 in FIG. 2), the method includes returning to the grasp of the specification, creating a verification reference circuit after the change, and performing verification again.

本発明の第1の効果は、回路の動作波形データと検証対象信号を明確にすることが可能であれば、IPなど回路の詳細仕様や回路記述の解析が行うことができない検証対象回路に対してもアサーション・ベース検証を行うことが可能なことである。その理由は、アサーション自動生成への入力要素に回路詳細仕様解析結果と、回路記述を必要としないためである。   The first effect of the present invention is that for a verification target circuit in which detailed circuit specifications and circuit descriptions such as IP cannot be analyzed if the operation waveform data of the circuit and the verification target signal can be clarified. However, it is possible to perform assertion-based verification. The reason is that the circuit detailed specification analysis result and the circuit description are not required as input elements for the automatic generation of assertion.

本発明の第2の効果は、検証結果が正しくないと判断された場合、検証の後戻りが従来技術にくらべ少なく、IPや既存回路の一部に変更を加え再利用する場合などに、原型となる回路から自動生成したアサーションをチェッカーとして変更後の回路に組み込むことで、意図しない変更など、回路の差異をより早く発見することができることである。その理由は、検証結果判定において正しくないと判定されると、検証者は仕様の把握に戻り、検証対象回路に限った見直しとなるため検証の後戻りが少なく従来技術に比べ、再検証までの時間が短縮されるからである。   The second effect of the present invention is that, when the verification result is judged to be incorrect, the return of verification is less than that of the prior art, and when the IP or part of the existing circuit is changed and reused, etc. By incorporating an assertion automatically generated from the circuit as a checker into the circuit after the change, a difference in the circuit such as an unintended change can be found earlier. The reason for this is that if the verification result is determined to be incorrect, the verifier returns to grasping the specifications, and the review is limited to the circuit to be verified. Is shortened.

本発明の特徴は、検証対象信号名と検証基準信号名の情報を持つ信号情報と、検証基準となる回路の動作波形データを入力とし、信号情報で指定された信号に対し、検証基準信号変化情報と検証対象信号変化情報を生成する信号変化情報自動生成部と、生成した検証基準信号変化情報および検証対象信号変化情報を入力とし、アサーションを自動生成するアサーション自動生成プログラムを有するアサーション自動生成することにある。以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。   A feature of the present invention is that signal information having information on a verification target signal name and a verification reference signal name and operation waveform data of a circuit serving as a verification reference are input, and a verification reference signal change is performed with respect to a signal specified by the signal information. An automatic signal change information generation unit that generates information and verification target signal change information, and an assertion automatic generation program that automatically generates an assertion using the generated verification reference signal change information and verification target signal change information as inputs There is. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図2は、本発明の論理回路設計検証方法を示すフローチャートである。この論理回路設計検証方法は、IP202を利用して新規な論理回路のユーザロジック仕様201を検証するものである。IP202は動作パタン203,回路記述204および概要仕様205から成る。IP202は検証基準回路、ユーザロジック仕様201は検証対象回路として機能する。   FIG. 2 is a flowchart showing the logic circuit design verification method of the present invention. This logic circuit design verification method verifies the user logic specification 201 of a new logic circuit using IP202. The IP 202 includes an operation pattern 203, a circuit description 204, and an outline specification 205. The IP 202 functions as a verification reference circuit, and the user logic specification 201 functions as a verification target circuit.

先ず、検証者は、ユーザロジック仕様201における検証対象信号名と、これに対応するIP202における検証基準信号名の情報である信号情報101を用意する。また、ユーザロジック仕様201に基づいて作成したテストパタンである評価パタンを作成する。ユーザロジック仕様201,IP202および信号情報101はファイルとして本論理回路設計検証方法を実行するためのコンピュータに接続される。   First, the verifier prepares signal information 101 that is information on the verification target signal name in the user logic specification 201 and the corresponding verification reference signal name in IP202. Also, an evaluation pattern, which is a test pattern created based on the user logic specification 201, is created. User logic specifications 201, IP 202 and signal information 101 are connected as a file to a computer for executing this logic circuit design verification method.

本論理回路設計検証方法を実行するプログラムが起動されると、動作パタン203が実行され(図2のステップS1)、評価パタン206および回路記述204に基づいて動作波形データ(以下、「波形データ」と記す)102が生成される。波形データ102とは、動作パタン203の内で評価パタン206に現れる信号のレベル遷移を示す情報である。   When a program for executing this logic circuit design verification method is activated, an operation pattern 203 is executed (step S1 in FIG. 2), and operation waveform data (hereinafter, “waveform data”) is based on the evaluation pattern 206 and the circuit description 204. 102) is generated. The waveform data 102 is information indicating a level transition of a signal that appears in the evaluation pattern 206 in the operation pattern 203.

次いで、信号情報101と波形データ102とによりアサーションが自動的に生成される(図2のステップS2)。図1はアサーションの自動生成を説明するための図である。信号変化情報自動生成部103は信号情報101で指定された検証基準信号,検証対象信号に対して、波形データ102から検証基準信号変化情報104,検証対象信号変化情報105を抽出する。アサーション生成部106は検証基準信号変化情報104と検証対象信号変化情報105を比較し、アサーション107を生成する。   Next, an assertion is automatically generated from the signal information 101 and the waveform data 102 (step S2 in FIG. 2). FIG. 1 is a diagram for explaining automatic generation of assertions. The signal change information automatic generation unit 103 extracts the verification reference signal change information 104 and the verification target signal change information 105 from the waveform data 102 for the verification reference signal and the verification target signal specified by the signal information 101. The assertion generation unit 106 compares the verification reference signal change information 104 with the verification target signal change information 105 and generates an assertion 107.

次いで、ユーザロジック仕様201と概要仕様205に基づいて新規の仕様が把握され(図2のステップS3)、これをベースに回路記述204および生成されたアサーション107から回路変更があるか否かが判断される。回路変更があればIP202を変更した変更後IP207が作成される(以上、図2のステップS4)。   Next, a new specification is grasped based on the user logic specification 201 and the summary specification 205 (step S3 in FIG. 2), and based on this, it is determined whether there is a circuit change from the circuit description 204 and the generated assertion 107. Is done. If there is a circuit change, the changed IP 207 is created by changing the IP 202 (step S4 in FIG. 2).

最後に、変更後IP207またはIP208(IP202と同じ)をベースに評価パタン206とアサーション107を用いて検証対象回路を検証する(図2のステップS5)。検証の結果がOKであれば本論理回路設計検証は終了する。検証の結果がOKでなければ(以上、図2のステップS6)、検証者はIP自体のバグか、回路変更ミスか、評価パタンミスかを確認する(検証結果フィードバック工程)。そして、その後に仕様の把握(図2のステップS3)に戻って、変更後IP207を作成して検証(図2のステップS5)をし直す。   Finally, the verification target circuit is verified using the evaluation pattern 206 and the assertion 107 based on the changed IP207 or IP208 (same as IP202) (step S5 in FIG. 2). If the verification result is OK, the logic circuit design verification ends. If the verification result is not OK (step S6 in FIG. 2), the verifier checks whether the bug is in the IP itself, a circuit change error, or an evaluation pattern error (verification result feedback process). After that, the process returns to grasping the specifications (step S3 in FIG. 2), creating the changed IP207, and re-verifying (step S5 in FIG. 2).

ここで、検証結果のフィードバックはアサーションの自動生成後の工程である仕様の把握にかかることに留意されたい。この結果、検証の結果がOKでなくてもアサーションを作成し直す必要はないのである。   Here, it should be noted that the feedback of the verification result depends on grasping the specification which is a process after the automatic generation of the assertion. As a result, it is not necessary to recreate the assertion even if the verification result is not OK.

図6は、図5に示した従来のプロパティ自動生成方法を用いた回路検証において、検証結果がOKとならず、検証結果をフィードバックする場合を想定した場合の回路設計検証のフローチャートである。図6では、アサーション作成(図6のステップT3)が仕様の把握(図6のステップT2)の後にされていることから、後戻り工程において再びアサーションを生成し直さなければならず、検証実施までに多くの時間が必要となるのである。   FIG. 6 is a flowchart of circuit design verification assuming that the verification result is not OK and the verification result is fed back in the circuit verification using the conventional property automatic generation method shown in FIG. In FIG. 6, since the assertion creation (step T3 in FIG. 6) is performed after the specification is grasped (step T2 in FIG. 6), the assertion must be generated again in the backtracking process. A lot of time is required.

次に、波形データ102の具体例によりアサーション107の作成方法を説明する。いま、信号情報101に指定された検証基準信号aと検証対象信号bが図3に示すとおりであるとする。図3を参照すると、時刻t=0〜tendの間に、検証基準信号aは3回変化し、検証対象信号bは、1つ目の検証基準信号aの立上り時からk1後、2つ目の検証基準信号aの立上り時からk2後、3つ目の検証基準信号aの立上り時からk3前に立ち上がっており、k3<k1<k2の関係にある。この場合に自動生成されるべきアサーションは、「信号aの立上り時から、時間k3〜k2の間に信号bが変化する」である。   Next, a method for creating the assertion 107 will be described using a specific example of the waveform data 102. Assume that the verification reference signal a and the verification target signal b specified in the signal information 101 are as shown in FIG. Referring to FIG. 3, during time t = 0 to tend, the verification reference signal a changes three times, and the verification target signal b is the second after k1 from the rise of the first verification reference signal a. After the rising edge of the verification reference signal a, the signal rises k3 after the rising edge of the third verification reference signal a, and k3 <k1 <k2. In this case, the assertion to be automatically generated is “the signal b changes during the time k3 to k2 from the rising edge of the signal a”.

図3に示す波形デー102と、検証基準信号aおよび検証対象信号bが含まれている信号情報101と図1の信号変化情報自動生成部103に入力する。信号変化情報自動生成部103は信号情報101に指定された検証基準信号aと検証対象信号bに関して波形データ102から信号の変化時の値、時刻を順次に入力した検証基準信号変化情報104と検証対象信号変化情報105を生成する。ここで、信号nの値が変化した時刻を波形データ102から取り出す関数をTn(t)とすると、時刻t=0〜tendの信号aの信号変化情報は式(1)、信号bの信号変化情報は式(2)で表される。

Figure 0004564914
The waveform data 102 shown in FIG. 3, the signal information 101 including the verification reference signal a and the verification target signal b, and the signal change information automatic generation unit 103 shown in FIG. The signal change information automatic generation unit 103 verifies the verification reference signal change information 104 and the verification reference signal change information 104 in which the value and time of the signal change are sequentially input from the waveform data 102 with respect to the verification reference signal a and the verification target signal b specified in the signal information 101 The target signal change information 105 is generated. Here, assuming that the function for taking out the time when the value of the signal n changes from the waveform data 102 is Tn (t), the signal change information of the signal a at the time t = 0 to tend is the equation (1) and the signal change of the signal b. The information is expressed by equation (2).
Figure 0004564914

Figure 0004564914
Figure 0004564914

次に、検証基準信号変化情報104と検証対象信号変化情報105をアサーション生成部106に入力し、両者を比較することで信号情報101に指定した信号aと信号b間の関係が認識される。ここで、信号nの変化点から信号mの変化点までの時間を求める関数をQmn(t)とする。信号aの変化点から信号bの変化するまでの時間k1は式(3)で表される。
k1=(信号a変化情報の一番目のデータ)―(信号b変化情報の1番目のデータ)=Qab・・式(3)
また、時刻t=0〜tendまでの信号aに対する信号bの変化時間情報Qab は、式(4)で表される。

Figure 0004564914
Next, the verification reference signal change information 104 and the verification target signal change information 105 are input to the assertion generation unit 106, and the relationship between the signals a and b specified in the signal information 101 is recognized by comparing the two. Here, a function for obtaining the time from the changing point of the signal n to the changing point of the signal m is defined as Qmn (t). The time k1 from the change point of the signal a to the change of the signal b is expressed by the equation (3).
k1 = (first data of signal a change information) − (first data of signal b change information) = Qab (3)
Further, the change time information Qab of the signal b with respect to the signal a from time t = 0 to tend is expressed by Expression (4).
Figure 0004564914

また、信号nの変化時の値を波形データ102から取り出す関数をN(t)とすれば、信号aの値はA(t)、信号bの値はB(t)である。更に、変化時間情報Qmn(t)と変化時の値N(t)からアサーション記述に変換する関数をHとする。   If the function for taking out the value of the signal n from the waveform data 102 is N (t), the value of the signal a is A (t) and the value of the signal b is B (t). Further, let H be a function for converting the change time information Qmn (t) and the value N (t) at the time of change into an assertion description.

時刻t=0〜tendまでの信号aと信号bに対するアサーションは、式(5)で表され、図3に示した波形データに対するアサーション107は、式(6)で表される。

Figure 0004564914
An assertion for the signals a and b from time t = 0 to tend is expressed by equation (5), and an assertion 107 for the waveform data shown in FIG. 3 is expressed by equation (6).
Figure 0004564914

アサーション=信号b:if(信号aの立上り)then変化許容範囲[k3〜k2](信号bが変化する)・・・(式6)
である。
Assertion = signal b: if (rising of signal a) then change allowable range [k3 to k2] (signal b changes) (Expression 6)
It is.

また、指定信号が複数の場合のアサーションは式(7)で表される。

Figure 0004564914
Further, the assertion when there are a plurality of designation signals is expressed by Expression (7).
Figure 0004564914

なお、図1の検証基準信号と検証対象信号の信号変化が明らかで、検証基準信号変化情報104と検証対象信号変化情報105が信号変化情報自動生成部103を使用せずに生成可能である場合、図4のアサーション自動生成部208の入力は図1の検証基準信号変化情報104と検証対象信号変化情報105である。アサーション自動生成部208では、アサーション自動生成プログラム106のみが動作してアサーション107を生成する。   In addition, the signal change of the verification reference signal and the verification target signal in FIG. 1 is clear, and the verification reference signal change information 104 and the verification target signal change information 105 can be generated without using the signal change information automatic generation unit 103. 4 are the verification reference signal change information 104 and the verification target signal change information 105 of FIG. In the assertion automatic generation unit 208, only the assertion automatic generation program 106 operates to generate the assertion 107.

本発明のアサーションの自動生成を説明するための図The figure for demonstrating automatic generation of the assertion of this invention 本発明による論理回路設計検証方法のフローチャートFlowchart of logic circuit design verification method according to the present invention 本発明を説明するための波形データを例示する図The figure which illustrates the waveform data for demonstrating this invention 基準回路Aに変更をかけた変更回路A’に対する検証環境を示す模式図Schematic diagram showing the verification environment for the changed circuit A 'in which the reference circuit A is changed 従来のプロパティ自動生成方法を示す図Diagram showing conventional property automatic generation method 従来技術を組み込んだアサーション・ベース検証フローを示す図Diagram showing assertion-based verification flow incorporating prior art

符号の説明Explanation of symbols

101 信号情報
102 波形データ
103 信号変化情報自動生成部
104 検証基準信号変化情報
105 検証対象信号変化情報
106 アサーション生成部
107 アサーション
201 ユーザロジック仕様
202 IP
203 動作パタン
204 回路記述
205 概要仕様
206 評価パタン
207 変更後IP
208 IP
101 Signal information
102 Waveform data
103 Automatic signal change information generator
104 Verification reference signal change information
105 Signal change information to be verified
106 Assertion generator
107 Assertion
201 User logic specifications
202 IP
203 Operation pattern
204 Circuit description
205 General specifications
206 Evaluation pattern
207 IP after change
208 IP

Claims (4)

検証基準回路を利用して新規な論理回路を設計し該回路を検証対象回路とする場合におけるチェッカーとしてのアサーションを生成するアサーション自動生成装置において、
検証対象回路と前記検証基準回路それぞれにおける信号名の情報である信号情報を格納した信号情報ファイルと、
前記検証基準回路の動作パタンの内で前記検証対象回路の評価パタンに現れる信号のレベル遷移を示す情報である動作波形データを格納した波形データファイルと、
前記信号情報ファイルと前記波形データファイルとから検証対象信号とこれに対応する検証基準信号それぞれに対する信号変化情報を生成する信号変化情報自動生成部と、
前記信号変化情報を入力し、論理回路の機能仕様や設計意図を表現した記述であるアサーションを生成するアサーション生成部を有することを特徴とするアサーション自動生成装置。
In an automatic assertion generation device that generates an assertion as a checker when a new logic circuit is designed using a verification reference circuit and the circuit is a verification target circuit,
A signal information file storing signal information which is signal name information in each of the verification target circuit and the verification reference circuit;
A waveform data file storing operation waveform data which is information indicating a level transition of a signal appearing in an evaluation pattern of the verification target circuit among the operation patterns of the verification reference circuit;
A signal change information automatic generation unit for generating signal change information for each of the verification target signal and the corresponding verification reference signal from the signal information file and the waveform data file;
An assertion automatic generation apparatus, comprising: an assertion generation unit that inputs the signal change information and generates an assertion that is a description expressing a functional specification or design intention of a logic circuit.
前記信号変化情報は、当該信号nの値が遷移した時刻を前記動作波形データから取り出すための第1関数Tn(t)の所定時間における値と、当該信号nの遷移時における値を前記動作波形データから取り出すための第2関数N(t)の所定時間における値とから成り、
前記アサーション生成部は、前記検証基準信号aの前記第2関数の値Na(t)と、前記検証基準信号a対応の検証対象信号bに対する前記第2関数の値Nb(t)と、検証基準信号aと前記検証対象信号bそれぞれの前記第1関数値の相対的な差から求められる変化時間情報としての第3関数の値Qab(t)を変数としアサーション記述に変換するための関数Hにより、前記アサーションを生成することを特徴とする請求項1記載のアサーション自動生成装置。
The signal change information includes a value at a predetermined time of a first function Tn (t) for extracting a time at which the value of the signal n has transitioned from the operation waveform data, and a value at the time of transition of the signal n as the operation waveform. A value of a second function N (t) for extracting from the data at a predetermined time,
The assertion generation unit includes a value Na (t) of the second function of the verification reference signal a, a value Nb (t) of the second function for the verification target signal b corresponding to the verification reference signal a, and a verification reference. A function H for converting the value Qab (t) of the third function as change time information obtained from the relative difference between the first function value of the signal a and the signal to be verified b into an assertion description as a variable. The assertion automatic generation apparatus according to claim 1, wherein the assertion is generated.
検証基準回路を利用して新規な論理回路を設計し該回路を検証対象回路とする場合におけるチェッカーとしてのアサーションを生成するアサーション自動生成方法であって、
前記検証対象回路のユーザロジック仕様における検証対象信号名と、これに対応する前記検証基準回路における検証基準信号名の情報である信号情報を検証者が用意する段階と、
ユーザロジック仕様に基づいて作成したテストパタンである評価パタンを作成する段階と、
前記検証基準回路の動作パタンを実行して、前記評価パタンおよび前記検証基準回路の回路記述に基づき、前記動作パタンの内で前記評価パタンに現れる信号のレベル遷移を示す情報である動作波形データを生成する段階と、
前記信号情報と前記動作波形データとによりアサーションを自動的に生成する段階を有することを特徴とするアサーション自動生成方法。
An assertion automatic generation method for generating an assertion as a checker when a new logic circuit is designed using a verification reference circuit and the circuit is a verification target circuit,
A verifier prepares signal information which is information of a verification reference signal name in the verification reference circuit corresponding to the verification target signal name in the user logic specification of the verification target circuit;
Creating an evaluation pattern, which is a test pattern created based on the user logic specification;
By executing the operation pattern of the verification reference circuit, based on the evaluation pattern and the circuit description of the verification reference circuit, operation waveform data which is information indicating a level transition of a signal appearing in the evaluation pattern in the operation pattern Generating stage,
A method for automatically generating an assertion, comprising: automatically generating an assertion based on the signal information and the operation waveform data.
請求項3記載のアサーション自動生成方法により生成したアサーションを用いた論理回路設計検証方法であって、
前記ユーザロジック仕様と前記検証基準回路の概要仕様に基づいて新規の仕様を把握し、これをベースに前記回路記述および生成された前記アサーションから回路変更があるか否かを判断する段階と、
回路変更があれば前記検証基準回路を変更する段階と、
前記検証基準回路をベースに前記評価パタンと前記生成されたアサーションを用いて前記検証対象回路を検証する段階と、
検証の結果がOKでなければ前記仕様の把握に戻って、変更後の検証基準回路を作成して検証をし直す段階を有することを特徴とする論理回路設計検証方法。
A logic circuit design verification method using an assertion generated by the assertion automatic generation method according to claim 3,
Grasping a new specification based on the user logic specification and a summary specification of the verification reference circuit, and determining whether or not there is a circuit change from the circuit description and the generated assertion based on the new specification; and
Changing the verification reference circuit if there is a circuit change; and
Verifying the verification target circuit using the evaluation pattern and the generated assertion based on the verification reference circuit;
If the verification result is not OK, the logic circuit design verification method includes a step of returning to grasping the specification, creating a verification reference circuit after the change, and performing verification again.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5211685B2 (en) * 2007-12-27 2013-06-12 富士通株式会社 Method and program for generating assertion description and recording medium
JP5067317B2 (en) * 2008-08-27 2012-11-07 富士通株式会社 Verification support program, verification support apparatus, and verification support method

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11237440A (en) * 1998-02-20 1999-08-31 Kawasaki Steel Corp Method and device for generating data for testing integrated circuit
JP2000268074A (en) * 1999-03-18 2000-09-29 Toshiba Corp Device and method for automatically generating verification program and device and method for automatically generating property
JP2001235522A (en) * 2000-02-23 2001-08-31 Fuji Electric Co Ltd Test vector forming device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11237440A (en) * 1998-02-20 1999-08-31 Kawasaki Steel Corp Method and device for generating data for testing integrated circuit
JP2000268074A (en) * 1999-03-18 2000-09-29 Toshiba Corp Device and method for automatically generating verification program and device and method for automatically generating property
JP2001235522A (en) * 2000-02-23 2001-08-31 Fuji Electric Co Ltd Test vector forming device

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