JP4531600B2 - Optical device with dustproof function - Google Patents

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Description

本発明は、デジタルカメラシステムなどの電子撮像装置の内部に付着した塵を除去可能な防塵機能付き光学装置に関するものである。   The present invention relates to an optical device with a dustproof function capable of removing dust adhering to the inside of an electronic imaging device such as a digital camera system.

近年、光学装置の防塵機能に関する技術の一例として、撮像素子を保護する保護ガラスを振動させることで、そのガラスに付着した塵を払い落とすという技術が提案されている。その一例として、特許文献1によれば、ガラス板を振動させる手段として圧電素子が用いられている。この圧電素子は、印加される電圧に反応して伸縮することでガラス板を所定の一つの周期で加振する。   In recent years, as an example of a technique related to a dustproof function of an optical device, a technique has been proposed in which dust that adheres to glass is removed by vibrating a protective glass that protects an image sensor. As an example, according to Patent Document 1, a piezoelectric element is used as means for vibrating a glass plate. The piezoelectric element expands and contracts in response to an applied voltage to vibrate the glass plate at a predetermined cycle.

特開2004−48665号公報JP 2004-48665 A

しかしながら、撮像素子を保護する保護ガラス(防塵ガラス)を圧電素子により振動させることで、防塵ガラスに付着した塵を払い落とす特許文献1のような例においては、以下のような問題がある。   However, in an example such as Patent Document 1 in which dust attached to the dust-proof glass is wiped off by vibrating a protective glass (dust-proof glass) that protects the image sensor with the piezoelectric element, there are the following problems.

一般に、デジタルカメラ等は、各種の姿勢で操作者により把持され、又は、載置されるため、撮像素子を保護するための防塵ガラスも通常の横向き状態となったり、下向き或いは上向き状態となったりする。ここで、防塵ガラスの塵付着面の方向が鉛直下向き方向や水平方向の場合には、付着した塵は重力の作用によって、より落ちやすく除去しやすいが、鉛直上向き方向の場合には塵は落ちにくく除去しにくい。また、防塵ガラスの塵付着面の方向が鉛直下向き方向の場合には、水平方向の場合に比較して、より一層塵を除去しやすい。   Generally, since a digital camera or the like is held or placed by an operator in various postures, the dust-proof glass for protecting the image sensor is also in a normal sideways state, a downward or upward state. To do. Here, when the direction of the dust-adhering surface of the dust-proof glass is vertically downward or horizontal, the adhered dust is more easily dropped and removed by the action of gravity, but when it is vertically upward, the dust falls. Difficult to remove. Moreover, when the direction of the dust adhering surface of the dustproof glass is a vertically downward direction, it is easier to remove the dust than in the horizontal direction.

特許文献1等の従来のものは、塵落し動作の有効性に関するこのような特性の違いについては全く考慮されておらず、防塵ガラスを振動させるための圧電素子を一律に駆動制御しているため、例えば消費電力等の点で、必ずしも適正な駆動制御になっていないという問題がある。   The conventional ones such as Patent Document 1 do not take into consideration such a difference in characteristics regarding the effectiveness of dust removal operation, and drive control of the piezoelectric element for vibrating the dust-proof glass is uniformly performed. For example, there is a problem that the drive control is not always appropriate in terms of power consumption.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、塵落し動作の有効性に関する防塵用の光学素子の姿勢に応じた特性の違いを利用して、その加振手段の適正な駆動制御を行うことができる防塵機能付き光学装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and uses the difference in characteristics according to the attitude of the dust-proof optical element regarding the effectiveness of the dust-dropping operation to perform appropriate drive control of the vibration means. An object is to provide an optical device with a dustproof function that can be performed.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項1に係る防塵機能付き光学装置は、結像光学系により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子と、該光電変換素子よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子と、該光学素子を所定の周波数で振動させるための加振手段と、当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段と、該姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の姿勢に応じて前記加振手段を駆動制御する駆動制御手段と、を備えたことを特徴とする。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, an optical device with a dustproof function according to claim 1 includes a photoelectric conversion element that receives an optical image formed by an imaging optical system and converts it into an electrical signal. , A dust-proof optical element disposed on the optical path preceding the photoelectric conversion element, a vibration means for vibrating the optical element at a predetermined frequency, and detecting the posture of the optical device with the dust-proof function And a drive control means for drivingly controlling the vibration means according to the attitude of the optical element based on the detection result of the attitude detection means.

請求項2に係る防塵機能付き光学装置は、結像光学系により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子と該光電変換素子よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子と該光学素子を所定の周波数で振動させるための加振手段とをそれぞれ有した複数の光学手段と、当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段と、該姿勢検出手段の検出結果に基づく前記各光学素子の姿勢に応じて前記各加振手段を駆動制御する駆動制御手段と、を備えたことを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, there is provided an optical device having a dustproof function, which is disposed on an optical path upstream of a photoelectric conversion element that receives an optical image formed by an imaging optical system and converts it into an electrical signal. A plurality of optical means each having a dustproof optical element and a vibration means for vibrating the optical element at a predetermined frequency, a posture detecting means for detecting the posture of the optical device with the dustproof function, Drive control means for drivingly controlling each of the excitation means according to the attitude of each optical element based on the detection result of the attitude detection means.

請求項3に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、複数の前記光学手段に含まれる複数の前記加振手段を所定の駆動周波数で個別に駆動する複数の駆動手段と、これらの駆動手段の動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, there is provided the optical device with a dustproof function according to the above aspect, wherein the drive control means drives the plurality of vibration means included in the plurality of optical means individually at a predetermined drive frequency. And control means for controlling the operation of these driving means.

請求項4に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、複数の前記光学手段に含まれる前記各加振手段を選択的に駆動するためのスイッチング手段を有し前記各加振手段を所定の駆動周波数で駆動する単一の駆動手段と、該駆動手段の動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the optical device with a dustproof function according to the above invention, wherein the drive control means includes switching means for selectively driving the vibration means included in the plurality of optical means. A single drive means for driving the vibration means at a predetermined drive frequency and a control means for controlling the operation of the drive means are provided.

請求項5に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作の動作時間を可変制御することを特徴とする。   According to a fifth aspect of the present invention, in the optical device with a dustproof function according to the first aspect, the drive control unit is configured to vibrate by the vibration unit according to a direction of a dust adhesion surface of the optical element based on a detection result of the posture detection unit. The operation time of the product is variably controlled.

請求項6に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の動作時間を短くする制御を行うことを特徴とする。   The optical device with a dustproof function according to claim 6 is the above invention, wherein the drive control means is configured such that the dust adhesion surface direction of the optical element based on the detection result of the posture detection means approaches the vertical downward direction from the horizontal direction. Control is performed to shorten the operation time of the vibration operation by the vibration means.

請求項7に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直上向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の動作時間を長くする制御を行うことを特徴とする。   According to a seventh aspect of the present invention, in the optical device with a dustproof function, in the above invention, the drive control unit is configured so that the dust adhesion surface direction of the optical element based on the detection result of the posture detection unit approaches the vertical upward direction from the horizontal direction. Control is performed to lengthen the operation time of the vibration operation by the vibration means.

請求項8に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段に対する印加電圧を可変制御することを特徴とする。   The optical device with a dustproof function according to claim 8 is the above invention, wherein the drive control means applies an applied voltage to the vibration means according to the direction of the dust adhesion surface of the optical element based on the detection result of the posture detection means. Is variably controlled.

請求項9に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段に対する印加電圧を低くする制御を行うことを特徴とする。   The optical device with a dustproof function according to a ninth aspect is the above invention, wherein the drive control means is configured such that the dust adhesion surface direction of the optical element based on the detection result of the posture detection means approaches the vertical downward direction from the horizontal direction. Control is performed to reduce the voltage applied to the vibration means.

請求項10に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直上向き方向に近づくに従って前記加振手段に対する印加電圧を高くする制御を行うことを特徴とする。   According to a tenth aspect of the present invention, in the optical device with a dustproof function, in the above invention, the drive control unit is configured so that the dust adhesion surface direction of the optical element based on the detection result of the posture detection unit approaches the vertical upward direction from the horizontal direction. Control is performed to increase the voltage applied to the vibration means.

請求項11に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作の周波数走査範囲を可変制御することを特徴とする。   The optical device with a dustproof function according to claim 11 is the above invention, wherein the drive control means is oscillated by the vibration means according to the direction of the dust adhesion surface of the optical element based on the detection result of the posture detection means. The frequency scanning range of the operation is variably controlled.

請求項12に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の周波数走査範囲の幅を狭くする制御を行うことを特徴とする。   The optical device with a dustproof function according to a twelfth aspect of the present invention is the above invention, wherein the drive control means is configured such that the direction of the optical element dust adhering surface based on the detection result of the posture detection means approaches the vertical downward direction from a horizontal direction. Control is performed to narrow the width of the frequency scanning range of the excitation operation by the vibration means.

請求項13に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作を行うか否かを制御することを特徴とする。   According to a thirteenth aspect of the present invention, there is provided the optical device with a dustproof function according to the above invention, wherein the drive control means is oscillated by the vibration means according to the direction of the dust adhesion surface of the optical element based on the detection result of the posture detection means. It is characterized by controlling whether or not to perform an operation.

請求項14に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作を行わないように制御することを特徴とする。   According to a fourteenth aspect of the present invention, there is provided the optical device with a dustproof function according to the above-mentioned invention, wherein the drive control means is configured such that the optical element dust adhering surface direction based on the detection result of the posture detection means approaches the vertical downward direction from the horizontal direction. Control is performed so as not to perform the vibration operation by the vibration means.

本発明に係る防塵機能付き光学装置によれば、当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出し、その検出結果に基づく防塵用の光学素子の姿勢、すなわち塵付着面の方向に応じて加振手段を駆動制御するようにしたので、塵落し動作の有効性に関する防塵用の光学素子の姿勢に応じた特性の違いを利用することで、例えば、塵付着面方向が鉛直上向き方向に近く塵を落としにくい場合には、加振動作を行わせても塵落し効果が得られないので加振動作を行わないようにして無駄な消費電力の消費を防止するとか、塵付着面方向が鉛直下向き方向に近く塵を落しやすい姿勢の場合には、動作時間を短くし、印加電圧を低くし、或いは周波数走査範囲の幅を狭くするように制御することで消費電力を抑制するとか、塵付着面方向が鉛直上向き方向に近く塵を落しにくい姿勢の場合には、動作時間を長くし、或いは印加電圧を高くするように制御することで塵落し効果を高めるとか、といった如く、加振手段の適正な駆動制御を行うことができるという効果を奏する。   According to the optical device with a dustproof function according to the present invention, the posture of the optical device with the dustproof function is detected, and the vibration means is applied according to the posture of the optical element for dustproof based on the detection result, that is, the direction of the dust adhesion surface. By using the difference in characteristics according to the attitude of the optical element for dust prevention regarding the effectiveness of dust removal operation, for example, the dust adhesion surface direction is close to the vertical upward direction, and dust is dropped. If it is difficult, the dust removal effect will not be obtained even if the vibration operation is performed, so the vibration operation is not performed to prevent wasteful power consumption, or the dust adhesion surface direction is set vertically downward. In the case of a posture that tends to drop dust nearby, power consumption can be reduced by controlling the operation time to be short, the applied voltage to be low, or the width of the frequency scanning range to be narrowed, Near vertical upward direction In the case of a posture that makes it difficult to drop dust, it is possible to perform appropriate drive control of the vibration means such as increasing the operation time or increasing the applied voltage to increase the dust-dropping effect. There is an effect that can be done.

以下に添付図面を参照して、本発明の防塵機能付き光学装置として光電変換素子を有するデジタルカメラシステムを一例に挙げた複数の実施の形態に基づき詳述する。   Hereinafter, a digital camera system having a photoelectric conversion element as an optical device with a dustproof function of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings based on a plurality of embodiments.

(実施の形態1)
図1は、本実施の形態1の防塵機能付き光学装置としてのデジタルカメラシステムの実際的な光学的配置を考慮した要部構成例を示す概念図である。この防塵機能付き光学装置は、まず、撮影レンズ301を主体とする結像光学系としての撮像用光学系302により結像される被写体の光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子としてのCCDユニット303を含む光学手段の一つとしての撮像用光学部304を備えている。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a conceptual diagram illustrating a configuration example of a main part in consideration of a practical optical arrangement of a digital camera system as an optical device with a dustproof function of the first embodiment. This optical device with a dustproof function is first a photoelectric conversion element that receives an optical image of a subject imaged by an imaging optical system 302 as an imaging optical system mainly composed of a photographing lens 301 and converts it into an electrical signal. The imaging optical unit 304 is provided as one of the optical means including the CCD unit 303.

また、防塵機能付き光学装置は、撮像レンズ301を経た後、クイックターンミラー305により選択的に分岐され、ペンタプリズム306及びハーフミラー307を主体とする結像光学系としてのファインダ光学系308により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子としてのファインダCCDユニット309を含む光学手段の一つとしてのファインダ用光学部310を備えている。   In addition, the optical device with a dustproof function is selectively branched by a quick turn mirror 305 after passing through an imaging lens 301 and connected by a finder optical system 308 as an imaging optical system mainly composed of a pentaprism 306 and a half mirror 307. A finder optical unit 310 is provided as one of optical means including a finder CCD unit 309 as a photoelectric conversion element that receives an optical image to be imaged and converts it into an electrical signal.

さらに、防塵機能付き光学装置は、撮像レンズ301を経た後、クイックターンミラー305背後のサブミラー311による反射光束を受け、撮像レンズ301の焦点状態を検出するための結像光学系としてのAF検出光学系(焦点検出用光学系)312により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子としてのAFセンサユニット313を含む光学手段の一つとしてのAF検出用光学部314を備えている。   Further, the dust-proof optical device receives the reflected light beam from the sub-mirror 311 behind the quick turn mirror 305 after passing through the imaging lens 301, and detects AF as an imaging optical system for detecting the focus state of the imaging lens 301. An AF detection optical unit 314 as one of optical means including an AF sensor unit 313 as a photoelectric conversion element that receives an optical image formed by a system (focus detection optical system) 312 and converts it into an electrical signal. I have.

撮像用光学部304は、CCDユニット303よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子としての防塵ガラス321と、この防塵ガラス321を振動させるための加振手段としての圧電素子322とを備えている。同様に、ファインダ用光学部310は、ファインダCCDユニット309よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子としての防塵ガラス323と、この防塵ガラス323を振動させるための加振手段としての圧電素子324とを備えている。さらに、AF検出用光学部314は、AFセンサユニット313、さらにはAF検出光学系312よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子としての防塵ガラス325と、この防塵ガラス325を振動させるための加振手段としての圧電素子326とを備えている。すなわち、本実施の形態では、加振手段として、電気機械変換素子である圧電セラミックス等を利用した圧電素子322,324,326を用いているが、防塵ガラス321,323,325を適切に振動させ得る手段であればよい。   The imaging optical unit 304 includes a dust-proof glass 321 as a dust-proof optical element disposed on the optical path upstream of the CCD unit 303 and a piezoelectric element 322 as a vibration means for vibrating the dust-proof glass 321. And. Similarly, the finder optical unit 310 is a dust-proof glass 323 as a dust-proof optical element disposed on the optical path upstream of the finder CCD unit 309, and a vibration unit for vibrating the dust-proof glass 323. The piezoelectric element 324 is provided. Further, the AF detection optical unit 314 includes a dust-proof glass 325 as a dust-proof optical element disposed on the optical path upstream of the AF sensor unit 313 and the AF detection optical system 312, and the dust-proof glass 325. And a piezoelectric element 326 as vibration means for vibrating. That is, in the present embodiment, piezoelectric elements 322, 324, and 326 using piezoelectric ceramics that are electromechanical conversion elements are used as the vibration means, but the dust-proof glasses 321, 323, and 325 are appropriately vibrated. Any means can be used.

さらに、本実施の形態1の防塵機能付き光学装置は、当該装置の各種動作制御を受け持つとともに、各光学部304,310,314中に含まれる複数の圧電素子322,324,326を駆動制御する駆動制御手段としての駆動制御部331を備えている。この駆動制御部331は、これらの圧電素子322,324,326を所定の駆動周波数で個別に駆動することで防塵ガラス321,323,325を振動させる複数の駆動手段としての駆動回路332A,332B,332Cを有する防塵ガラス駆動回路332と、この防塵ガラス駆動回路332中の各駆動回路332A,332B,332Cの動作を制御する制御手段としての制御部333とを備えている。   Further, the optical device with a dustproof function of the first embodiment is responsible for various operation controls of the device, and drives and controls the plurality of piezoelectric elements 322, 324, and 326 included in the optical units 304, 310, and 314. A drive control unit 331 is provided as drive control means. The drive control unit 331 includes drive circuits 332A, 332B as a plurality of drive units that vibrate the dust-proof glasses 321, 323, and 325 by individually driving the piezoelectric elements 322, 324, and 326 at a predetermined drive frequency. A dust-proof glass drive circuit 332 having 332C and a control unit 333 as control means for controlling the operation of each drive circuit 332A, 332B, 332C in the dust-proof glass drive circuit 332 are provided.

また、本実施の形態1の防塵機能付き光学装置は、当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段としての姿勢検出回路334を備えている。この姿勢検出回路334は、当該防塵機能付き光学装置が上向きであるとか、下向きであるとか、横向きであるとか、といった姿勢を検出し、その検出結果を制御部333に対して出力する。   The optical device with a dustproof function according to the first embodiment further includes a posture detection circuit 334 as posture detection means for detecting the posture of the optical device with the dustproof function. The posture detection circuit 334 detects a posture such as whether the optical device with the dustproof function is upward, downward, or lateral, and outputs the detection result to the control unit 333.

制御部333は、姿勢検出回路334の検出結果に基づく各防塵ガラス321,323,325の姿勢、すなわち塵付着面の方向に応じて駆動回路332A,332B,332Cを介して各圧電素子322,324,326を駆動制御する。   The control unit 333 controls the piezoelectric elements 322 and 324 via the drive circuits 332A, 332B, and 332C in accordance with the postures of the dust-proof glasses 321, 323, and 325 based on the detection result of the posture detection circuit 334, that is, the direction of the dust adhesion surface. , 326 is controlled.

例えば、防塵ガラス321,323,325の塵付着面方向が水平方向(横向き状態)を標準とし、鉛直上向き方向で塵を落しにくい姿勢の場合には、加振動作を行わせても塵落し効果が得られないので圧電素子322,324,326による加振動作を行わないようにして無駄な消費電力の消費を防止する一方、鉛直下向き方向で塵を落しやすい姿勢の場合には、加振動作の動作時間を標準の動作時間よりも短い時間に制御することで消費電力を抑制するように制御する。   For example, when the dust-adhering glass 321, 323, 325 has a horizontal direction (sideways state) as the standard direction of dust adhesion, and the posture is such that it is difficult to drop dust in the vertical upward direction, the dust removal effect can be achieved even if the vibration is applied. Is not obtained, so that unnecessary power consumption is prevented by not performing the excitation operation by the piezoelectric elements 322, 324, and 326. On the other hand, in the posture in which dust is easily dropped in the vertically downward direction, the excitation operation is performed. By controlling the operation time to be shorter than the standard operation time, control is performed to suppress power consumption.

図2は、図1に示した上述のような本実施の形態1の要部構成例に対応する制御系を主体として示す概略ブロック図である。なお、光学部304,310,314の数は3個に限らず、3個より多くてもよく、また、2個であってもよい。さらには、図3に示すように光学部が1個だけの場合であってもよい。図3は、一例として撮像用の光学部304のみの場合の例を示している。   FIG. 2 is a schematic block diagram mainly showing a control system corresponding to the main configuration example of the first embodiment as described above shown in FIG. Note that the number of the optical units 304, 310, and 314 is not limited to three, and may be more than three or two. Furthermore, as shown in FIG. 3, there may be a case where only one optical unit is provided. FIG. 3 shows an example in the case of only the imaging optical unit 304 as an example.

図4は、図1に示した防塵機能付き光学装置が搭載されたデジタルカメラシステムとしての具体的な構成例を示すブロック構成図である。このカメラシステムは、交換レンズとしてのレンズユニット10と、カメラ本体としてのボディユニット100から主に構成されており、ボディユニット100の前面に対して、マウント207を介して所望のレンズユニット10が着脱自在に設定されている。   FIG. 4 is a block diagram showing a specific configuration example of a digital camera system in which the optical device with a dustproof function shown in FIG. 1 is mounted. This camera system is mainly composed of a lens unit 10 as an interchangeable lens and a body unit 100 as a camera body. A desired lens unit 10 is attached to and detached from the front surface of the body unit 100 via a mount 207. It is set freely.

レンズユニット10の制御はレンズ制御用マイクロコンピュータ(以下“Lucom"と称する)5が行う。ボディユニット100の制御は、前述の制御部333が行う(なお、以下の説明では、制御部333をボディ制御用マイクロコンピュータ(以下“Bucom"と称する)333と表記する)。これらLucom5とBucom333とは、合体時において通信コネクタ6を介して通信可能に電気的接続がなされる。そしてカメラシステムとしてLucom5がBucom333に従属的に協働しながら稼動するようになっている。   The lens unit 10 is controlled by a lens control microcomputer (hereinafter referred to as “Lucom”) 5. Control of the body unit 100 is performed by the above-described control unit 333 (in the following description, the control unit 333 is referred to as a body control microcomputer (hereinafter referred to as “Bucom”) 333). The Lucom 5 and Bucom 333 are electrically connected to each other via the communication connector 6 when they are combined. As a camera system, the Lucom 5 operates in cooperation with the Bucom 333 in a dependent manner.

レンズユニット10内には撮影レンズ301と絞り3が設けられている。撮影レンズ301はレンズ駆動機構2内にある図示しないDCモータによって駆動される。絞り3は絞り駆動機構4内にある図示しないステッピングモータによって駆動される。Lucom5はBucom333の指令に従ってこれら各モータを制御する。   A photographing lens 301 and a diaphragm 3 are provided in the lens unit 10. The photographing lens 301 is driven by a DC motor (not shown) in the lens driving mechanism 2. The diaphragm 3 is driven by a stepping motor (not shown) in the diaphragm driving mechanism 4. Lucom 5 controls each of these motors in accordance with a command from Bucom 333.

ボディユニット100内には次の構成部材が図示のように配設されている。例えば、光学系としての一眼レフ方式の構成部材(クイックリターンミラー305、ペンタプリズム306、接眼レンズ13、サブミラー311)と、光軸上のフォーカルプレーン式のシャッタ15と、サブミラー311からの反射光束を受けて自動測距するためのAF検出用光学部314が設けられている。AF検出用光学部314は、コンデンサレンズ160、セパレータレンズ161、セパレータ絞り162及びラインセンサ構成のAFセンサユニット313により構成されている。   The following structural members are arranged in the body unit 100 as shown in the figure. For example, a single-lens reflex type structural member (quick return mirror 305, pentaprism 306, eyepiece lens 13, submirror 311) as an optical system, a focal plane shutter 15 on the optical axis, and a reflected light beam from the submirror 311 An AF detection optical unit 314 for receiving and automatically measuring the distance is provided. The AF detection optical unit 314 includes a condenser lens 160, a separator lens 161, a separator diaphragm 162, and an AF sensor unit 313 having a line sensor configuration.

また、AF検出用光学部314を駆動制御するAFセンサ駆動回路17と、クイックリターンミラー305を駆動制御するミラー駆動機構18と、シャッタ15の先幕と後幕を駆動するばねをチャージするシャッタチャージ機構19と、それら先幕と後幕の動きを制御するシャッタ制御回路20と、ペンタプリズム306からの光束に基づき測光処理する測光回路21が設けられている。   Also, an AF sensor driving circuit 17 for driving and controlling the AF detecting optical unit 314, a mirror driving mechanism 18 for driving and controlling the quick return mirror 305, and a shutter charge for charging a spring for driving the front curtain and the rear curtain of the shutter 15. A mechanism 19, a shutter control circuit 20 that controls the movement of the front curtain and the rear curtain, and a photometric circuit 21 that performs photometric processing based on the light flux from the pentaprism 306 are provided.

撮影レンズ301の光軸上には、撮像用光学系302を通過した被写体像を光電変換するためのCCDユニット303が光電変換素子として設けられ、さらにこのCCDユニット303と撮影レンズ301との間には防塵ガラス321が設けられており、この防塵ガラス321を所定の周波数で振動させる圧電素子322がその防塵ガラス321の周縁部に取り付けられている。この圧電素子322が防塵ガラス駆動回路332中の駆動回路332Aによって防塵ガラス321を振動させて、そのガラス表面に付着していた塵を除去できるように構成されている。ここで、防塵ガラス321は撮影レンズ301と同一の光軸上に位置しており、当該カメラが横向き状態の場合にその塵付着面方向は水平方向(横向き状態)となるように設定されている。   A CCD unit 303 for photoelectrically converting a subject image that has passed through the imaging optical system 302 is provided as a photoelectric conversion element on the optical axis of the photographing lens 301, and further, between the CCD unit 303 and the photographing lens 301. Is provided with a dustproof glass 321, and a piezoelectric element 322 that vibrates the dustproof glass 321 at a predetermined frequency is attached to a peripheral portion of the dustproof glass 321. The piezoelectric element 322 is configured to vibrate the dust-proof glass 321 by the drive circuit 332A in the dust-proof glass drive circuit 332 so as to remove dust adhering to the glass surface. Here, the dust-proof glass 321 is located on the same optical axis as that of the photographing lens 301, and when the camera is in the sideways state, the dust adhesion surface direction is set to be in the horizontal direction (sideways state). .

また、ファインダ光軸上には、ファインダ光学系308を通過した被写体像を光電変換するためのファインダCCDユニット309が光電変換素子として設けられている。また、ファインダ光学系308を通過した被写体像の一部を反射してファインダCCDユニット309に導くためのハーフミラー128及びファインダCCDレンズ126が配置されている。   On the finder optical axis, a finder CCD unit 309 for photoelectrically converting a subject image that has passed through the finder optical system 308 is provided as a photoelectric conversion element. Further, a half mirror 128 and a finder CCD lens 126 for reflecting a part of the subject image that has passed through the finder optical system 308 and guiding it to the finder CCD unit 309 are arranged.

ファインダCCDユニット309で撮像された画像は、カメラボディ背面等に配置された液晶モニタ24に表示される。これにより、ファインダを覗かなくても撮影しようとしている画像を観察することができる。さらに、ファインダCCDユニット309は、ファインダCCDレンズ126との間の光路上に配設された防塵ガラス323によって保護されている。この防塵ガラス323を所定の周波数で振動させる圧電素子324は、防塵ガラス323の周縁部に取り付けられている。この圧電素子324が防塵ガラス駆動回路332中の駆動回路332Bによって防塵ガラス323を振動させて、そのガラス表面に付着していた塵を除去できるように構成されている。ここで、防塵ガラス323は撮影レンズ301・CCDユニット303間の光軸に直交する光軸上に位置しており、当該カメラが横向き状態の場合に、防塵ガラス323の塵付着面方向は鉛直下向き方向となるように設定されている。   An image picked up by the finder CCD unit 309 is displayed on the liquid crystal monitor 24 arranged on the back of the camera body or the like. As a result, it is possible to observe an image to be photographed without looking through the viewfinder. Furthermore, the finder CCD unit 309 is protected by a dustproof glass 323 disposed on the optical path between the finder CCD lens 126 and the finder CCD unit 309. The piezoelectric element 324 that vibrates the dust-proof glass 323 at a predetermined frequency is attached to the periphery of the dust-proof glass 323. The piezoelectric element 324 is configured to vibrate the dust-proof glass 323 by the drive circuit 332B in the dust-proof glass drive circuit 332 so that dust attached to the glass surface can be removed. Here, the dust-proof glass 323 is located on the optical axis orthogonal to the optical axis between the photographing lens 301 and the CCD unit 303, and when the camera is in the horizontal state, the dust-adhering surface direction of the dust-proof glass 323 is vertically downward. The direction is set.

AF検出用光学部314は、AFセンサユニット313、さらにはAF検出光学系312よりも前段の光路上にAFセンサユニット313と平行に配設された防塵ガラス325により保護されている。この防塵ガラス325は、AF検出光学系312を密閉構造的に保護している。この防塵ガラス325を所定の周波数で振動させる圧電素子326は、防塵ガラス325の周縁部に取り付けられている。この圧電素子324が防塵ガラス駆動回路332中の駆動回路332Cによって防塵ガラス325を振動させて、そのガラス表面に付着していた塵を除去できるように構成されている。ここで、防塵ガラス325は撮影レンズ301・CCDユニット303間の光軸に直交する光軸上に位置しており、当該カメラが横向き状態の場合に、防塵ガラス325の塵付着面方向は鉛直上向き方向となるように設定されている。   The AF detection optical unit 314 is protected by a dustproof glass 325 disposed in parallel with the AF sensor unit 313 on the optical path upstream of the AF sensor unit 313 and further the AF detection optical system 312. The dust-proof glass 325 protects the AF detection optical system 312 in a sealed structure. A piezoelectric element 326 that vibrates the dust-proof glass 325 at a predetermined frequency is attached to the periphery of the dust-proof glass 325. The piezoelectric element 324 is configured to vibrate the dust-proof glass 325 by the drive circuit 332C in the dust-proof glass drive circuit 332 so as to remove dust adhering to the glass surface. Here, the dust-proof glass 325 is located on the optical axis orthogonal to the optical axis between the photographing lens 301 and the CCD unit 303, and when the camera is in the horizontal state, the dust-adhering surface direction of the dust-proof glass 325 is vertically upward. The direction is set.

もし、防塵ガラス325が存在しなければ、レンズ着脱時にマウント207から侵入した塵がコンデンサレンズ160の外面に付着し、AF検出時に悪影響を及ぼす。しかし、防塵ガラス325によって侵入する塵から保護し、この防塵ガラス325の外面に付着する塵を圧電素子326による加振振動で除去することによって、AF検出精度の低下をなくすことができる。   If the dust-proof glass 325 is not present, dust that has entered from the mount 207 when the lens is attached or detached adheres to the outer surface of the condenser lens 160, and adversely affects AF detection. However, the dust detection glass 325 protects against intrusion dust, and the dust adhering to the outer surface of the dust protection glass 325 is removed by the vibration vibration by the piezoelectric element 326, thereby eliminating the AF detection accuracy.

このようにして、図4に示すような本実施の形態1のカメラシステムはいわゆる「防塵機能付きカメラ」に属する基本構造をもつ電子カメラである。   Thus, the camera system of the first embodiment as shown in FIG. 4 is an electronic camera having a basic structure belonging to a so-called “camera with dustproof function”.

なお、CCDユニット303、ファインダCCDユニット309、AFセンサユニット313それぞれの周辺の温度を測定するために、防塵ガラス321,323,325の近傍には、温度測定回路33が設けられている。   A temperature measurement circuit 33 is provided in the vicinity of the dust-proof glasses 321, 323, and 325 in order to measure the temperatures around the CCD unit 303, the finder CCD unit 309, and the AF sensor unit 313.

また、このカメラシステムには、CCDユニット303に接続したCCDインターフェイス回路23、ファインダCCDユニット309に接続したファインダCCDインターフェイス回路127、液晶モニタ24、記憶領域として設けられたSDRAM25、FlashROM26及び記録メディア27などを利用して画像処理する画像処理コントローラ28が設けられ、電子撮像機能と共に電子記録表示機能を提供できるように構成されている。その他の記憶領域としては、カメラ制御に必要な所定の制御パラメータを記憶する例えばEEPROMからなる不揮発性メモリ29が、Bucom333からアクセス可能に設けられている。   The camera system includes a CCD interface circuit 23 connected to the CCD unit 303, a finder CCD interface circuit 127 connected to the finder CCD unit 309, a liquid crystal monitor 24, an SDRAM 25 provided as a storage area, a flash ROM 26, a recording medium 27, and the like. An image processing controller 28 that performs image processing using the electronic imaging function is provided so that an electronic recording display function can be provided together with an electronic imaging function. As the other storage area, a nonvolatile memory 29 made of, for example, an EEPROM for storing predetermined control parameters necessary for camera control is provided so as to be accessible from the Bucom 333.

また、Bucom333には、当該カメラシステムの動作状態を表示出力によってユーザへ告知するための動作表示用LCD51と、カメラ操作SW52とが設けられている。カメラ操作SW52は、例えばレリーズSW、モード変更SW及びパワーSWなどの、当該カメラを操作するために必要な操作釦を含むスイッチ群である。さらに、電源としての電池54と、この電源の電圧を、当該カメラシステムを構成する各回路ユニットが必要とする電圧に変換して供給する電源回路53が設けられている。   Further, the Bucom 333 is provided with an operation display LCD 51 for notifying the user of the operation state of the camera system by display output, and a camera operation SW 52. The camera operation SW 52 is a switch group including operation buttons necessary for operating the camera, such as a release SW, a mode change SW, and a power SW. Further, a battery 54 as a power source and a power circuit 53 for converting the voltage of the power source into a voltage required for each circuit unit constituting the camera system and supplying the same are provided.

さらに、このカメラシステムは、姿勢検出回路334を備えている。この姿勢検出回路334は、このカメラシステムの姿勢を検出するための回路であって、例えば第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343を含んで構成されている。これらの姿勢検出スイッチ341,342,343の構成、検出原理は、いずれも同一である。図5−1〜図5−3は、一例として、姿勢検出スイッチ341の構成例を示し、図5−1は平面図であり、図5−2は図5−1中のC−C線断面図であり、図5−3は図5−1中のD−D線断面図である。   Further, the camera system includes an attitude detection circuit 334. The posture detection circuit 334 is a circuit for detecting the posture of the camera system, and includes, for example, first to third posture detection switches 341, 342, and 343. These posture detection switches 341, 342, and 343 have the same configuration and detection principle. FIGS. 5-1 to 5-3 show an example of the configuration of the posture detection switch 341 as an example, FIG. 5-1 is a plan view, and FIG. 5-2 is a cross-sectional view taken along line CC in FIG. FIG. 5C is a sectional view taken along the line DD in FIG.

姿勢検出スイッチ341は、樹脂で成形されたスイッチ本体350を有し、このスイッチ本体350には溝部350aが形成され、蓋体351により閉塞されている。また、姿勢検出スイッチ341は、溝部350a内を転動自在な鋼球352を有する。ここで、溝部350aは、D−D線断面の方向で見ると、図5−3に示すように、鋼球352の直径よりもわずかに広い均一な幅で形成されている。また、溝部350aは、C−C線断面の方向で見ると、図5−2に示すように、第1の斜面350bと第2の斜面350cとを有する略V字形状に形成されている。そのV字の頂点部350dの近傍には、発光ダイオード353用の投光窓350eとフォトトランジスタ354用の受光窓350fとが対向して形成されている。溝部350aのV字部の角度は約90°とされている。   The posture detection switch 341 includes a switch main body 350 formed of resin. The switch main body 350 is formed with a groove 350 a and is closed by a lid 351. The posture detection switch 341 includes a steel ball 352 that can freely roll in the groove 350a. Here, the groove 350a is formed with a uniform width slightly wider than the diameter of the steel ball 352 as shown in FIG. Further, when viewed in the direction of the CC line cross section, the groove portion 350a is formed in a substantially V shape having a first inclined surface 350b and a second inclined surface 350c, as shown in FIG. In the vicinity of the V-shaped apex portion 350d, a light projecting window 350e for the light emitting diode 353 and a light receiving window 350f for the phototransistor 354 are formed to face each other. The angle of the V-shaped portion of the groove portion 350a is about 90 °.

なお、以下の姿勢検出スイッチ341の方向説明のため、スイッチ本体350におけるV字形状の溝部350aの頂点部350dの下方の面を“A面”、側面のうちで第1の斜面350b側の面を“B面”と定義するものとする(図5−2参照)。   For the following explanation of the direction of the posture detection switch 341, the surface below the apex 350d of the V-shaped groove 350a in the switch body 350 is the “A surface”, and the surface on the first inclined surface 350b side among the side surfaces. Is defined as “B-plane” (see FIG. 5-2).

次に、姿勢検出スイッチ341の検出動作について図6−1、図6−2を参照して説明する。図6−1は、姿勢検出スイッチ341のB面を下にした状態を示す断面図であり、図6−2は、姿勢検出スイッチ341のA面を下にした状態を示す断面図である。まず、姿勢検出スイッチ341が図6−1に示す状態の場合、鋼球352は重力により溝部350a内を下方向に転動する。このため、投光窓350eと受光窓350fとの間の光路は鋼球352によって遮られることはない。   Next, the detection operation of the attitude detection switch 341 will be described with reference to FIGS. 6-1 and 6-2. 6A is a cross-sectional view illustrating a state in which the B surface of the posture detection switch 341 is turned down, and FIG. 6-2 is a cross-sectional view illustrating a state in which the A surface of the posture detection switch 341 is turned down. First, when the posture detection switch 341 is in the state shown in FIG. 6A, the steel ball 352 rolls downward in the groove 350a by gravity. For this reason, the optical path between the light projection window 350e and the light receiving window 350f is not blocked by the steel ball 352.

一方、姿勢検出スイッチ341が図6−2に示す状態の場合、鋼球352は重力により溝部350a内を下方向、すなわち頂点部350dの方向に転動する。このため、投光窓350eと受光窓350fとの間の光路は鋼球352によって遮られる。一般に、溝部350aのうち、頂点部350dが最も低い位置にある場合、鋼球352が頂点部350dの近傍に転動し、投光窓350eと受光窓350fとの間の光路を遮る。   On the other hand, when the posture detection switch 341 is in the state shown in FIG. 6-2, the steel ball 352 rolls in the groove 350a downward by gravity, that is, in the direction of the apex 350d. For this reason, the optical path between the light projection window 350e and the light receiving window 350f is blocked by the steel ball 352. In general, when the apex portion 350d is at the lowest position in the groove portion 350a, the steel ball 352 rolls in the vicinity of the apex portion 350d and blocks the optical path between the light projection window 350e and the light receiving window 350f.

以後、本実施の形態1では、図6−2のように、鋼球352が頂点部350dの近傍に存在し、発光ダイオード353とフォトトランジスタ354との間の光路を遮っている状態を“H”と表現し、図6−1のように、鋼球352が頂点部350dの近傍に存在せず、発光ダイオード353とフォトトランジスタ354との間の光路を遮っていない状態を“L”と表現する。   Thereafter, in the first embodiment, as shown in FIG. 6B, a state where the steel ball 352 exists in the vicinity of the apex portion 350d and blocks the optical path between the light emitting diode 353 and the phototransistor 354 is “H”. ”, And the state where the steel ball 352 does not exist in the vicinity of the apex 350d and does not block the optical path between the light emitting diode 353 and the phototransistor 354 as shown in FIG. 6A is expressed as“ L ”. To do.

次に、第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343のカメラ本体1に対する配置例について図7−1,図7−2を参照して説明する。図7−1は、カメラ本体1を正面から見た場合の第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343の配置例を示す正面図であり、図7−2は、カメラ本体1を右側から見た場合の第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343の配置例を示す側面図である。   Next, an arrangement example of the first to third posture detection switches 341, 342, and 343 with respect to the camera body 1 will be described with reference to FIGS. FIG. 7A is a front view illustrating an arrangement example of the first to third posture detection switches 341, 342, and 343 when the camera body 1 is viewed from the front, and FIG. It is a side view which shows the example of arrangement | positioning of the 1st-3rd attitude | position detection switches 341,342,343 when seen from the right side.

第1の姿勢検出スイッチ341は、A面をカメラ本体1の正面から見て向かって上側に、B面をカメラ本体1の左側に向けて配置されている。第2の姿勢検出スイッチ342も同様に、A面をカメラ本体1の正面から見て向かって上側に、B面をカメラ本体1の左側に向けて配置されている。一方、第3の姿勢検出スイッチ343は、A面をカメラ本体1の正面から見て向かって下側に、B面をカメラ本体1の右側に向けて配置されている。第1,第2の姿勢検出スイッチ341,342と第3の姿勢検出スイッチ343とは、a−a線を中心に対称的に配置されている。   The first attitude detection switch 341 is arranged with the A side facing upward from the front of the camera body 1 and the B surface facing the left side of the camera body 1. Similarly, the second posture detection switch 342 is arranged with the A surface facing upward from the front of the camera body 1 and the B surface facing toward the left side of the camera body 1. On the other hand, the third posture detection switch 343 is arranged with the A side facing downward from the front of the camera body 1 and the B surface facing the right side of the camera body 1. The first and second attitude detection switches 341 and 342 and the third attitude detection switch 343 are arranged symmetrically about the aa line.

さらに、図7−2に示すように、第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343は、カメラ本体1の右面から見て、線b−bに対してそれぞれ角度θをもって配置されている。第1の姿勢検出スイッチ341と第2の姿勢検出スイッチ342とは、b−b線を中心に対称的に配置されている。   Further, as shown in FIG. 7B, the first to third posture detection switches 341, 342, and 343 are arranged at an angle θ with respect to the line bb when viewed from the right surface of the camera body 1. Yes. The first attitude detection switch 341 and the second attitude detection switch 342 are arranged symmetrically about the line bb.

上述した如くに構成されたカメラシステムでは、各部が次のように稼動する。画像処理コントローラ28は、Bucom333の指令に従ってCCDインターフェイス回路23又はファインダCCDインターフェイス回路127を制御してCCDユニット303又はファインダCCDユニット309から画像データを取り込む。この画像データは画像処理コントローラ28でビデオ信号に変換され、液晶モニタ24にて出力表示される。ユーザはこの液晶モニタ24の表示画像から、撮影した画像イメージを確認できる。   In the camera system configured as described above, each unit operates as follows. The image processing controller 28 controls the CCD interface circuit 23 or the finder CCD interface circuit 127 in accordance with an instruction from the Bucom 333 to capture image data from the CCD unit 303 or the finder CCD unit 309. This image data is converted into a video signal by the image processing controller 28 and output and displayed on the liquid crystal monitor 24. The user can confirm the captured image from the display image on the liquid crystal monitor 24.

SDRAM25は画像データの一時的保管用メモリであり、画像データが変換される際のワークエリアなどに使用される。またこの画像データはJPEGデータに変換された後には記録メディア27に保管されるように設定されている。   The SDRAM 25 is a memory for temporarily storing image data, and is used as a work area when image data is converted. The image data is set to be stored in the recording medium 27 after being converted into JPEG data.

CCDユニット303は、前述のように、透明な防塵ガラス321によって保護されている。この防塵ガラス321の周縁部にはそのガラス面を加振するための圧電素子322が配置されており、この圧電素子322は、後で詳しく説明するように駆動回路332Aによって駆動される。CCDユニット303及び圧電素子322は、防塵ガラス321を一面とし、かつ、破線で示すような枠体によって囲まれたケース内に一体的に収納されることが、防塵のためにはより好ましい。   The CCD unit 303 is protected by the transparent dustproof glass 321 as described above. A piezoelectric element 322 for oscillating the glass surface is disposed on the periphery of the dust-proof glass 321, and this piezoelectric element 322 is driven by a drive circuit 332A as will be described in detail later. It is more preferable for dust prevention that the CCD unit 303 and the piezoelectric element 322 are housed integrally in a case having the dust-proof glass 321 as one surface and surrounded by a frame as shown by a broken line.

また、通常、温度はガラス製の物材の弾性係数に影響し、その固有振動数を変化させる要因の一つであるため、運用時にその温度を計測してその固有振動数の変化を考慮しなければならない。稼動中に温度上昇が激しいCCDユニット303の前面を保護するため設けられた防塵ガラス321の温度変化を測定してその時の固有振動数を予想するほうがよい。したがって、本実施の形態1の場合、温度測定回路33に接続されたセンサ(不図示)が、CCDユニット303の周辺温度を測定するため設けられている。なお、そのセンサの温度測定ポイントは、防塵ガラス321の振動面のごく近傍に設定されるのが好ましい。   Also, temperature usually affects the elastic modulus of glass materials and is one of the factors that change its natural frequency. Therefore, the temperature is measured during operation and changes in its natural frequency are taken into account. There must be. It is better to estimate the natural frequency at that time by measuring the temperature change of the dust-proof glass 321 provided to protect the front surface of the CCD unit 303 where the temperature rises rapidly during operation. Therefore, in the case of the first embodiment, a sensor (not shown) connected to the temperature measurement circuit 33 is provided to measure the ambient temperature of the CCD unit 303. The temperature measurement point of the sensor is preferably set very close to the vibration surface of the dust-proof glass 321.

ファインダCCDユニット309は、CCDユニット303と同様に、透明な防塵ガラス323によって保護されている。この防塵ガラス323の周縁部には、そのガラス面を加振するための圧電素子324が配置されており、この圧電素子324は駆動回路332Bによって駆動される。ファインダCCDユニット309及び圧電素子324は、防塵ガラス323を一面とし、かつ、破線で示すような枠体によって囲まれたケース内に一体的に収納されることが、防塵のためにはより好ましい。   The finder CCD unit 309 is protected by a transparent dustproof glass 323, similarly to the CCD unit 303. A piezoelectric element 324 for vibrating the glass surface is disposed at the peripheral edge of the dustproof glass 323, and the piezoelectric element 324 is driven by a drive circuit 332B. It is more preferable for dust prevention that the viewfinder CCD unit 309 and the piezoelectric element 324 are integrally housed in a case having a dust-proof glass 323 as one surface and surrounded by a frame as shown by a broken line.

さらに、防塵ガラス323の温度変化を測定し、その時の固有振動数を予想するため、温度測定回路33に接続されたセンサ(不図示)が、ファインダCCDユニット309の周辺温度を測定するため設けられている。なお、そのセンサの温度測定ポイントは、防塵ガラス323の振動面のごく近傍に設定されるのが好ましい。   Further, a sensor (not shown) connected to the temperature measurement circuit 33 is provided to measure the ambient temperature of the finder CCD unit 309 in order to measure the temperature change of the dustproof glass 323 and predict the natural frequency at that time. ing. The temperature measurement point of the sensor is preferably set very close to the vibration surface of the dust-proof glass 323.

ミラー駆動機構18は、クイックリターンミラー305をアップ位置とダウン位置へ駆動するための機構であり、このクイックリターンミラー305がダウン位置にある時、撮影レンズ301からの光束はAF検出用光学部314側とペンタプリズム306側へと分割されて導かれる。AF検出用光学部314内のAFセンサユニット313からの出力は、AFセンサ駆動回路17を介してBucom333へ送信されて周知の測距処理が行われる。   The mirror drive mechanism 18 is a mechanism for driving the quick return mirror 305 to the up position and the down position. When the quick return mirror 305 is in the down position, the light flux from the photographing lens 301 is the AF detecting optical unit 314. Is divided and led to the pentaprism 306 side. The output from the AF sensor unit 313 in the AF detection optical unit 314 is transmitted to the Bucom 333 via the AF sensor driving circuit 17 and a known distance measurement process is performed.

また、ペンタプリズム306に隣接する接眼レンズ13からはユーザが被写体を目視できる一方、このペンタプリズム306を通過した光束の一部は測光回路21内のフォトセンサ(不図示)へ導かれ、ここで検知された光量に基づき周知の測光処理が行われる。   The eyepiece 13 adjacent to the pentaprism 306 allows the user to see the subject, while part of the light beam that has passed through the pentaprism 306 is guided to a photosensor (not shown) in the photometry circuit 21. A well-known photometric process is performed based on the detected light quantity.

次に、図8及び図9を参照して、本実施の形態1における防塵ガラス321,323,325の駆動及びその動作制御について説明する。図8は、圧電素子322に対する駆動回路332Aの構成の一例を示す回路図であり、図9は、動作制御例を示すタイムチャートである。ここに例示した駆動回路332Aは、図8に示すような回路構成を有し、その各部において、図9のタイムチャートで表わす波形信号(Sig1〜Sig4)が生成され、それらの信号に基づいて次のように制御される。圧電素子324に対する駆動回路332B、圧電素子326に対する駆動回路332Cの場合も同様である。   Next, with reference to FIG.8 and FIG.9, the drive of the dust-proof glass 321,323,325 in this Embodiment 1 and its operation control are demonstrated. FIG. 8 is a circuit diagram showing an example of the configuration of the drive circuit 332A for the piezoelectric element 322, and FIG. 9 is a time chart showing an example of operation control. The drive circuit 332A exemplified here has a circuit configuration as shown in FIG. 8, and waveform signals (Sig1 to Sig4) shown in the time chart of FIG. 9 are generated in each part, and the next based on these signals is generated. It is controlled as follows. The same applies to the drive circuit 332B for the piezoelectric element 324 and the drive circuit 332C for the piezoelectric element 326.

すなわち、駆動回路332Aは、図8に例示するように、N進カウンタ41、1/2分周回路42、インバータ43、複数のMOSトランジスタ(Q00,Q01,Q02)44a,44b,44c、トランス45及び抵抗(R00)46から構成されている。   That is, the drive circuit 332A includes an N-ary counter 41, a ½ divider circuit 42, an inverter 43, a plurality of MOS transistors (Q00, Q01, Q02) 44a, 44b, 44c, and a transformer 45, as illustrated in FIG. And a resistor (R00) 46.

トランス45の1次側に接続されたトランジスタ(Q01)44b及びトランジスタ(Q02)44cのオン/オフ切替え動作によって、そのトランス45の2次側に所定周期の信号(Sig4)が発生するように構成されており、この所定周期の信号に基づき圧電素子322を駆動させ、防塵ガラス321を共振させるようになっている(詳細は後述する)。   It is configured such that a signal (Sig4) having a predetermined period is generated on the secondary side of the transformer 45 by the on / off switching operation of the transistor (Q01) 44b and the transistor (Q02) 44c connected to the primary side of the transformer 45. The piezoelectric element 322 is driven based on the signal of this predetermined period to resonate the dustproof glass 321 (details will be described later).

Bucom333は、制御ポートとして設けられた2つのIOポートP_PwCont及びIOポートD_NCntと、この制御部333内部に存在するクロックジェネレータ55を介して駆動回路332Aを次のように制御する。クロックジェネレータ55は、圧電素子322へ印加する信号周波数より充分に早い周波数でパルス信号(基本クロック信号)をN進カウンタ41へ出力する。この出力信号が図9中のタイムチャートが表わす波形の信号Sig1である。そして、この基本クロック信号はN進カウンタ41へ入力される。   The Bucom 333 controls the drive circuit 332A as follows via the two IO ports P_PwCont and IO port D_NCnt provided as control ports and the clock generator 55 existing inside the control unit 333. The clock generator 55 outputs a pulse signal (basic clock signal) to the N-ary counter 41 at a frequency sufficiently faster than the signal frequency applied to the piezoelectric element 322. This output signal is a signal Sig1 having a waveform represented by the time chart in FIG. The basic clock signal is input to the N-ary counter 41.

N進カウンタ41は、このパルス信号をカウントし、所定の値“N”に達する毎にカウント終了パルス信号を出力する。すなわち、基本クロック信号を1/Nに分周することになる。この出力信号が図9中のタイムチャートが表わす波形の信号Sig2である。この分周されたパルス信号はHighとLowのデューティ比が1:1ではない。そこで、1/2分周回路42を通してデューティ比を1:1へ変換する。なお、この変換されたパルス信号は図9中のタイムチャートが表わす波形の信号Sig3に対応する。   The N-ary counter 41 counts this pulse signal and outputs a count end pulse signal every time it reaches a predetermined value “N”. That is, the basic clock signal is divided by 1 / N. This output signal is a signal Sig2 having a waveform represented by the time chart in FIG. In this divided pulse signal, the duty ratio between High and Low is not 1: 1. Therefore, the duty ratio is converted to 1: 1 through the 1/2 frequency divider circuit. The converted pulse signal corresponds to the signal Sig3 having a waveform represented by the time chart in FIG.

この変換されたパルス信号のHigh状態において、この信号が入力されたMOSトランジスタ(Q01)44bがオンする。一方、トランジスタ(Q02)44cへはインバータ43を経由してこのパルス信号が印加される。したがって、パルス信号のLow状態において、この信号が入力されたトランジスタ(Q02)44cがオンする。トランス45の1次側に接続されたトランジスタ(Q01)44bとトランジスタ(Q02)44cが交互にオンすると、2次側には図9中の信号Sig4の如き周期の信号が発生する。   In the high state of the converted pulse signal, the MOS transistor (Q01) 44b to which this signal is input is turned on. On the other hand, this pulse signal is applied to the transistor (Q02) 44c via the inverter 43. Therefore, in the low state of the pulse signal, the transistor (Q02) 44c to which this signal is input is turned on. When the transistor (Q01) 44b and the transistor (Q02) 44c connected to the primary side of the transformer 45 are alternately turned on, a signal having a cycle such as the signal Sig4 in FIG. 9 is generated on the secondary side.

トランス45の巻線比は、電源回路53の出力電圧と圧電素子322の駆動に必要な電圧から決定される。なお、抵抗(R00)46はトランス45に過大な電流が流れることを制限するために設けられている。   The winding ratio of the transformer 45 is determined from the output voltage of the power supply circuit 53 and the voltage necessary for driving the piezoelectric element 322. The resistor (R00) 46 is provided to restrict an excessive current from flowing through the transformer 45.

圧電素子322を駆動するに際しては、トランジスタ(Q00)44aがオン状態にあり、電源回路53のユニットからトランス45のセンタータップに電圧が印加されていなければならない。図中、トランジスタ(Q00)44aのオン/オフ制御はIOポートのP_PwContを介して行われる。N進カウンタ41の設定値“N”はIOポートD_NCntから設定できる。よって、Bucom333は、設定値“N”を適宜に制御することで、圧電素子322(圧電素子324,326についても同様)の駆動周波数を任意に変更可能である。   When driving the piezoelectric element 322, the transistor (Q00) 44a is in an on state, and a voltage must be applied from the unit of the power supply circuit 53 to the center tap of the transformer 45. In the figure, on / off control of the transistor (Q00) 44a is performed via the P_PwCont of the IO port. The set value “N” of the N-ary counter 41 can be set from the IO port D_NCnt. Therefore, the Bucom 333 can arbitrarily change the drive frequency of the piezoelectric element 322 (the same applies to the piezoelectric elements 324 and 326) by appropriately controlling the set value “N”.

このとき、周波数は、次の(1)式によって算出可能である。
fdrv = fpls/2N …………(1)
ここで、N:カウンタへの設定値、
fpls:クロックジェネレータの出力パルスの周波数、
fdrv:圧電素子へ印加される信号の周波数、
なお、この(1)式に基づいた演算は、Bucom333のCPUで行われる。
At this time, the frequency can be calculated by the following equation (1).
fdrv = fpls / 2N (1)
Here, N: set value to the counter,
fpls: frequency of the output pulse of the clock generator,
fdrv: frequency of a signal applied to the piezoelectric element,
The calculation based on the equation (1) is performed by the CPU of Bucom 333.

次に、上述の制御部であるカメラボディ制御用マイクロコンピュータ(Bucom)333が行う制御について具体的に説明する。図10にBucom333で稼動する制御プログラムのメインルーチンを例示する。まず、カメラの電源SW(不図示)がオンされると、Bucom333は稼動を開始し、ステップS000では、カメラシステムを起動するための処理が実行される。電源回路53を制御してこのカメラシステムを構成する各回路ユニットへ電力を供給する。また、各回路の初期設定を行う。   Next, the control performed by the camera body control microcomputer (Bucom) 333 serving as the control unit will be described in detail. FIG. 10 illustrates a main routine of a control program that operates on the Bucom 333. First, when the power SW (not shown) of the camera is turned on, the Bucom 333 starts operating, and in step S000, processing for starting the camera system is executed. The power supply circuit 53 is controlled to supply power to each circuit unit constituting this camera system. Also, initial setting of each circuit is performed.

次いで、ステップS001では、カメラ本体1の姿勢検出を実行する。この姿勢検出は、姿勢検出回路334中に含まれる第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343のそれぞれの検出出力に基づき、後述の表(図12)を参照して、本体カメラ1の姿勢を判別することにより実行される。検出結果は、フラグ形式(図示せず)で記憶される。   Next, in step S001, the posture detection of the camera body 1 is executed. This posture detection is based on the detection outputs of the first to third posture detection switches 341, 342, and 343 included in the posture detection circuit 334, with reference to a table (FIG. 12) described later, the main camera 1 This is executed by discriminating the posture of the camera. The detection result is stored in a flag format (not shown).

図11及び図12を参照してカメラ本体1の各姿勢に対応する第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343の状態について説明する。図11−1に示すように、カメラ本体1が横姿勢(ペンタプリズム306が上)にある場合、第1の姿勢検出スイッチ341は“L”の状態,第2の姿勢検出スイッチ342は“L”の状態,第3の姿勢検出スイッチ343は“H”の状態となる。   The states of the first to third posture detection switches 341, 342, and 343 corresponding to the postures of the camera body 1 will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 11A, when the camera body 1 is in the horizontal posture (the pentaprism 306 is up), the first posture detection switch 341 is in the “L” state, and the second posture detection switch 342 is “L”. The third posture detection switch 343 is in the “H” state.

図11−2に示すように、カメラ本体1が横姿勢(ペンタプリズム306が下)にある場合、第1の姿勢検出スイッチ341は“H”の状態,第2の姿勢検出スイッチ342は“H”の状態,第3の姿勢検出スイッチ343は“L”の状態となる。図11−3に示すように、カメラ本体1が縦姿勢にある場合、第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343はいずれも“L”の状態となる。   As shown in FIG. 11B, when the camera body 1 is in the horizontal posture (the pentaprism 306 is down), the first posture detection switch 341 is in the “H” state, and the second posture detection switch 342 is “H”. The third posture detection switch 343 is in the “L” state. As shown in FIG. 11C, when the camera body 1 is in the vertical posture, the first to third posture detection switches 341, 342, and 343 are all in the “L” state.

図11−4に示すように、撮影レンズ301が上向き姿勢にある場合、第1の姿勢検出スイッチ341は“L”の状態,第2の姿勢検出スイッチ342は“H”の状態,第3の姿勢検出スイッチ343は“H”の状態となる。図11−5に示すように、撮影レンズ301が下向き姿勢にある場合、第1の姿勢検出スイッチ341は“H”の状態,第2の姿勢検出スイッチ342は“L”の状態,第3の姿勢検出スイッチ343は“L”の状態となる。   As shown in FIG. 11-4, when the photographing lens 301 is in the upward posture, the first posture detection switch 341 is in the “L” state, the second posture detection switch 342 is in the “H” state, and the third The posture detection switch 343 is in the “H” state. As shown in FIG. 11-5, when the photographing lens 301 is in the downward posture, the first posture detection switch 341 is in the “H” state, the second posture detection switch 342 is in the “L” state, and the third The posture detection switch 343 is in the “L” state.

図12は、これらの第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343のH,Lレベルの出力とカメラ本体1の姿勢との関係をまとめた表であり、第1〜第3の姿勢検出スイッチ341,342,343のH,Lレベルの出力を検出することで、カメラ本体1の姿勢を判別することができる。カメラ本体1の姿勢が判別できれば、それぞれの防塵ガラス321,323,325の姿勢(塵付着面の方向)も同時に判別することができる。   FIG. 12 is a table summarizing the relationship between the H and L level outputs of the first to third posture detection switches 341, 342, and 343 and the posture of the camera body 1, and the first to third postures. By detecting the output of the detection switches 341, 342, and 343 at the H and L levels, the posture of the camera body 1 can be determined. If the posture of the camera body 1 can be determined, the postures of the dust-proof glasses 321, 323, and 325 (the direction of the dust adhesion surface) can be simultaneously determined.

ステップS002では、温度測定回路33より各部の現在の温度データを取り込む。この温度データは続くステップS003の動作ルーチンにおいて必要な情報である。ステップS003では、サブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。このサブルーチン中で防塵ガラス321,323,325を振動させることにより塵払いの動作が実行される。電源起動時にこの動作を実行することで、このカメラを撮影に使用しない期間に、意図せずにガラスに付着した塵を除去できる。サブルーチンの詳細動作は後述する。   In step S002, current temperature data of each part is taken in from the temperature measurement circuit 33. This temperature data is necessary information in the subsequent operation routine of step S003. In step S003, the subroutine “dust removal operation” is called and executed. In this subroutine, the dust removal operation is executed by vibrating the dust-proof glasses 321, 323 and 325. By executing this operation when the power is turned on, dust unintentionally adhering to the glass can be removed during a period when the camera is not used for shooting. The detailed operation of the subroutine will be described later.

ステップS004は、周期的に実行されるステップであり、Lucom5と通信動作を行うことでレンズユニット10の状態を検出するための動作ステップである。ステップS005にて、レンズユニット10がボディユニット100に装着されたことを検出すると、ステップS008へ移行する。一方、レンズユニット10がボディユニット100から外されたことを検出したときは、ステップS006からステップS007へ移行する。そして、制御フラグのF_Lensをリセットし、ステップS012に移行する。   Step S004 is a step periodically executed, and is an operation step for detecting the state of the lens unit 10 by performing a communication operation with the Lucom 5. If it is detected in step S005 that the lens unit 10 is attached to the body unit 100, the process proceeds to step S008. On the other hand, when it is detected that the lens unit 10 is detached from the body unit 100, the process proceeds from step S006 to step S007. Then, the control flag F_Lens is reset, and the process proceeds to step S012.

ステップS008では、制御フラグのF_Lensをセットする。この制御フラグは、カメラのボディユニット100にレンズユニット10が装着されている期間は“1”を示し、レンズユニット10が外されている期間は“0”を示す。ステップS009では、ステップS001の場合と同様にカメラ本体1の姿勢検出を実行する。ステップS010にて、温度測定の動作が行われ、その直後のステップS011にて、防塵ガラス321,323,325の塵を除去するためのサブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。そして、ステップS012に移行する。   In step S008, the control flag F_Lens is set. This control flag indicates “1” when the lens unit 10 is attached to the body unit 100 of the camera, and indicates “0” when the lens unit 10 is removed. In step S009, the posture detection of the camera body 1 is executed as in step S001. In step S010, a temperature measurement operation is performed, and in step S011 immediately thereafter, a subroutine “dust removal operation” for removing dust from the dust-proof glass 321, 323, 325 is called and executed. Then, control goes to a step S012.

通常、カメラ本体にレンズユニット10が装着されていない期間において、レンズや防塵ガラス321,323,325等に塵が付着する可能性が高い。したがって、レンズユニット10の装着を検出したタイミングで塵を払う動作を実行することが望ましい。よって、周期的にステップS009〜S011の動作を実行することも考えられるが、これでは、塵が付着していない状態で防塵ガラス321,323,325を振動させることが多くなり、無駄な電力を消費する可能性が高いので、ここでは、レンズ装着操作の有無で実行することにしている。   Usually, there is a high possibility that dust adheres to the lens, the dust-proof glass 321, 323, 325, etc. during the period when the lens unit 10 is not attached to the camera body. Therefore, it is desirable to execute an operation of dusting at the timing when the mounting of the lens unit 10 is detected. Therefore, it is conceivable to periodically perform the operations of steps S009 to S011, but in this case, the dustproof glasses 321, 323, and 325 are often vibrated in a state where dust is not attached, and wasteful power is consumed. Since there is a high possibility of consumption, it is determined here whether or not there is a lens mounting operation.

ステップS012では、カメラ操作SW52の状態を検出する。そして、カメラ操作SW52の一つであるモード変更SW(不図示)の状態変化がステップS013で検出されると、ステップS014へ移行する。ステップS014では、そのSWの操作に連動してカメラの動作モードが変更され、ステップS015では、その動作モードに応じた情報が動作表示用LCD51へ表示出力される。そして、ステップS004へ再び移行する。   In step S012, the state of the camera operation SW 52 is detected. When a state change of a mode change SW (not shown) that is one of the camera operation SW 52 is detected in step S013, the process proceeds to step S014. In step S014, the operation mode of the camera is changed in conjunction with the SW operation. In step S015, information corresponding to the operation mode is displayed and output on the operation display LCD 51. And it transfers to step S004 again.

ステップS016では、カメラ操作SWの一つである1st.レリーズSW(不図示)が操作されたか否かを判定する。もし、1st.レリーズSWがオンしているならばステップS017へ移行し、オフならばステップS004へ再び移行する。ステップS017では、測光回路21から被写体の輝度情報を入手する。そして、この情報からCCDユニット303の露光時間(Tv値)と撮影レンズ1の絞り設定値(Av値)を算出する。   In step S016, 1st. It is determined whether a release SW (not shown) has been operated. If 1st. If the release SW is on, the process proceeds to step S017. If the release SW is off, the process proceeds to step S004 again. In step S 017, the luminance information of the subject is obtained from the photometry circuit 21. Then, the exposure time (Tv value) of the CCD unit 303 and the aperture setting value (Av value) of the photographing lens 1 are calculated from this information.

ステップS018では、AFセンサ駆動回路17を経由してAFセンサユニット313の検知データを入手する。このデータに基づきピントのズレ量を算出する。ここで、ステップS019にて、F_Lensの状態を判定する。“0”ならばレンズユニット10が存在しないことを意味するので、ステップS020以降の撮影動作は実行できない。そこで、この場合はステップS004へ再び移行する。ステップS020では、Lucom5に対してピントのズレ量を送信して、このズレ量に基づく撮影レンズ1の駆動を指令する。   In step S018, the detection data of the AF sensor unit 313 is obtained via the AF sensor drive circuit 17. Based on this data, the amount of focus shift is calculated. Here, in step S019, the state of F_Lens is determined. Since “0” means that the lens unit 10 does not exist, the photographing operation after step S020 cannot be executed. Therefore, in this case, the process proceeds to step S004 again. In step S020, the focus shift amount is transmitted to Lucom 5, and the driving of the photographing lens 1 based on this shift amount is instructed.

ステップS021では、カメラ操作SW52の一つである2nd.レリーズSW(不図示)が操作されたか否かを判定する。この2nd.レリーズSWがオンしているときはステップS022へ移行して所定の撮影動作を行うが、オフのときは再びステップS004へ移行する。   In step S021, 2nd. It is determined whether a release SW (not shown) has been operated. This 2nd. When the release SW is on, the process proceeds to step S022, and a predetermined photographing operation is performed. When the release SW is off, the process proceeds to step S004 again.

ステップS022からは、まずLucom5へAv値を送信し、絞り3の駆動を指令し、ステップS023にてクイックリターンミラー305をアップ位置へ移動する。ステップS024にてシャッタ15の先幕走行を開始させ、ステップS025にて画像処理コントローラ28に対して撮像動作の実行を指令する。Tv値で示される時間、CCDユニット303への露光が終了すると、ステップS026において、シャッタ15の後幕走行を開始させ、ステップS027にてクイックリターンミラー305をダウン位置へ駆動する。   From step S022, first, the Av value is transmitted to Lucom 5 to instruct to drive the diaphragm 3, and the quick return mirror 305 is moved to the up position in step S023. In step S024, the front curtain travel of the shutter 15 is started, and in step S025, the image processing controller 28 is instructed to execute an imaging operation. When the exposure to the CCD unit 303 is completed for the time indicated by the Tv value, the rear curtain travel of the shutter 15 is started in step S026, and the quick return mirror 305 is driven to the down position in step S027.

また、これと並行してシャッタ15のチャージ動作を行う。そして、ステップS028では、Lucom5に対して絞り3を開放位置へ復帰させるように指令し、ステップS029では、画像処理コントローラ28に対して、撮影した画像データを記録メディア27へ記録するように指令する。その画像データの記録が終了すると、再びステップS004へ移行する。   In parallel with this, the shutter 15 is charged. In step S028, Lucom 5 is instructed to return the aperture 3 to the open position, and in step S029, the image processing controller 28 is instructed to record the captured image data on the recording medium 27. . When the recording of the image data is completed, the process proceeds to step S004 again.

ここで、防塵ガラス321,323,325の支持構造と振動形態について説明しておく。なお、防塵ガラス321,323,325は、いずれも同様な構成となっているため、ここでは防塵ガラス321についてのみ説明するものとする。   Here, the support structure and vibration mode of the dust-proof glass 321, 323, 325 will be described. The dust-proof glasses 321, 323, and 325 have the same configuration, and therefore only the dust-proof glass 321 will be described here.

本発明に係るカメラシステムにおいては、防塵ガラス321の形状を仮に円盤とする。また、その防塵ガラス30のガラス板の円周に沿って加振用の圧電素子322を配置すると、このガラス板は円周で支持されることになる。このとき、このガラス板は複数の振動モード(振動形態)で加振する。本発明では、この振動モードの中から2つのモードを選択して使い分けることとする。図13−1,図13−2、図14−1及び図14−2に選択した振動モードにおけるガラス板の振動の状態を示す。   In the camera system according to the present invention, the shape of the dust-proof glass 321 is assumed to be a disk. Moreover, when the piezoelectric element 322 for vibration is arranged along the circumference of the glass plate of the dustproof glass 30, the glass plate is supported on the circumference. At this time, the glass plate is vibrated in a plurality of vibration modes (vibration modes). In the present invention, two modes are selected from these vibration modes and used separately. FIGS. 13-1, 13-2, 14-1 and 14-2 show the vibration state of the glass plate in the selected vibration mode.

本実施の形態1に係る防塵ガラス321は、図13−1,図13−2にそれぞれ図示したような振動形態を示す。すなわち、加振手段として機能する圧電素子322によって振動を加えると、そのガラス板の周囲には振動しない「節」が発生するが、概ねガラス全面が同じ位相にて、太矢印で示された如く図13−1と図13−2との状態を交互に繰り返して振動する。このような振動形態を以下「振動モード1」と称する。   The dust-proof glass 321 according to the first embodiment shows a vibration mode as illustrated in FIGS. 13-1 and 13-2. That is, when vibration is applied by the piezoelectric element 322 functioning as the vibration means, “nodes” that do not vibrate are generated around the glass plate, but the entire glass surface is generally in the same phase as indicated by the thick arrows. It vibrates by repeating the states of FIGS. 13-1 and 13-2 alternately. Such a vibration mode is hereinafter referred to as “vibration mode 1”.

同様に、本実施の形態1の防塵ガラス321は、加える振動の周波数によっては、図14−1,図14−2にそれぞれ図示したような形態でも振動することができる。すなわち、図14−1,図14−2に例示した防塵ガラス321の振動形態は、ガラス板の内側と外側が180度ずれた位相で振動するものである。詳しくは、図示する振動形態ではガラス板の周囲と内部に節がそれぞれ発生するモードであり、図示の如く、内側の節に囲まれた領域の振動と内部の節の外側領域(ドーナツ状の領域)の振動は位相が180度ずれている。以下これを「振動モード2」と称する。   Similarly, the dust-proof glass 321 of the first embodiment can vibrate in the form shown in FIGS. 14-1 and 14-2, depending on the frequency of vibration applied. That is, the vibration mode of the dust-proof glass 321 illustrated in FIGS. 14A and 14B is that the glass plate vibrates at a phase shifted by 180 degrees. Specifically, in the illustrated vibration mode, nodes are generated around and inside the glass plate. As shown in the figure, the vibration in the region surrounded by the inner node and the outer region of the inner node (the donut-shaped region) ) Is 180 degrees out of phase. Hereinafter, this is referred to as “vibration mode 2”.

次に、図15に示すサブルーチン「塵除去動作サブ」においては、これら振動モード1と振動モード2の2つのモードで防塵ガラス321,323,325が共振されるように圧電素子322,324,326を駆動するように設定されている。一般的に、塵の特性(例えば重さ、形状、素材など)によって、塵を除去しやすい周波数や振幅が異なる。そこで、確実に塵を除くためにはこれら2つの振動モードでそのガラス板を共振させるとよい。もちろん、さらに複数の振動モードで共振させてもよい。但し、除去動作にかかる時間もまたその分余計にかかることがあるので、除去効果の程度と所要時間とを充分鑑みて適当な数に設定するべきである。   Next, in the subroutine “dust removal operation sub” shown in FIG. 15, the piezoelectric elements 322, 324, and 326 so that the dust-proof glasses 321, 323, and 325 resonate in these two modes of vibration mode 1 and vibration mode 2. Is set to drive. Generally, the frequency and amplitude at which dust is easily removed vary depending on the characteristics of dust (for example, weight, shape, material, etc.). Therefore, in order to remove dust reliably, the glass plate should be resonated in these two vibration modes. Of course, you may resonate in more than one vibration mode. However, since the time required for the removal operation may also be increased by that amount, an appropriate number should be set in consideration of the degree of the removal effect and the required time.

図15のフローチャート及び図16〜図19に基づき、「塵除去動作」のサブルーチン中に含まれる「塵除去動作サブ」について説明する。ここでは、圧電素子322,324,326による加振動作は、基本的に、並行して行うものとする。まず、ステップS099では、後述する設定フラグに応じて、加振動作なしか否かを判別する。圧電素子322,324,326の全てについて加振動作なしの場合には(ステップS099:Yes)、リターンする。   The “dust removal operation sub” included in the “dust removal operation” subroutine will be described with reference to the flowchart of FIG. 15 and FIGS. Here, the vibration operation by the piezoelectric elements 322, 324, 326 is basically performed in parallel. First, in step S099, it is determined whether or not there is an excitation operation according to a setting flag described later. If all of the piezoelectric elements 322, 324, and 326 are not excited (step S099: Yes), the process returns.

次の、ステップS100では、EEPROM29から4つの制御パラメータ(Startoffset,Stopoffset,OSCtime1,OSCtime2)を読み出す。これらの4つの制御パラメータは、図16にメモリマップで示されたEEPROM29内部に記憶された「振動モード1対応温度補正テーブル」から読み出せる。   In the next step S100, four control parameters (Startoffset, Stopoffset, OSCtime1, OSCtime2) are read from the EEPROM 29. These four control parameters can be read from the “vibration mode 1 temperature correction table” stored in the EEPROM 29 shown in the memory map of FIG.

図17−1は、この振動モード1対応温度補正テーブルの詳細を示している。この温度補正テーブルから対応する制御パラメータを読み出すためには温度情報(t)が必要である。温度情報(t)はこのサブルーチンの実行前に、温度測定回路33の温度センサ(不図示)によって検出され取得されている(図10のステップS002又はステップS010参照)。   FIG. 17A shows the details of the vibration mode 1 compatible temperature correction table. In order to read out the corresponding control parameter from this temperature correction table, temperature information (t) is required. The temperature information (t) is detected and acquired by a temperature sensor (not shown) of the temperature measurement circuit 33 before the execution of this subroutine (see step S002 or step S010 in FIG. 10).

温度情報(t)が仮に20℃の場合、このときの制御パラメータを図17−1の振動モード1対応温度テーブル中の*0で示す部分から読み取ると、読出し開始位置(Startoffset)は“3”、読出し終了位置(Stopoffset)は“9”、そして、時間間隔(OscTime1)は“10”、時間間隔(OscTime2)は“1”がそれぞれ対応して得られる。そして、“Startoffset”の値と“Stopoffset”の値によって、EEPROM29の振動モード1対応周波数補正テーブルの領域を定義する。   If the temperature information (t) is 20 ° C., the reading start position (Startoffset) is “3” when the control parameter at this time is read from the portion indicated by * 0 in the vibration mode 1 compatible temperature table of FIG. The read end position (Stopoffset) is “9”, the time interval (OscTime1) is “10”, and the time interval (OscTime2) is “1”. Then, the area of the frequency correction table corresponding to the vibration mode 1 of the EEPROM 29 is defined by the value of “Startoffset” and the value of “Stopoffset”.

また、この領域から読み出された時間間隔(OscTime1,この場合は、10msec.)でN進カウンタ41へ順次設定される。すなわち、その周波数にて継続して駆動する動作時間を示している。この時の塵除去動作(振動モード1)にかかる時間は、この場合について計算すると、
10ms×{(9−3)+1}(回)=70ms
となる。また、振動モード2については、
10ms×{(13−5)+1}(回)=90ms
となる。したがって、カメラとして、塵除去動作にかかる時間は、70+90=160msとなる。
Further, the N-ary counter 41 is sequentially set at time intervals (OscTime1, in this case, 10 msec.) Read from this area. That is, the operation time for continuously driving at the frequency is shown. The time required for the dust removal operation (vibration mode 1) at this time is calculated for this case,
10 ms × {(9-3) +1} (times) = 70 ms
It becomes. For vibration mode 2,
10 ms × {(13−5) +1} (times) = 90 ms
It becomes. Therefore, as a camera, the time required for the dust removal operation is 70 + 90 = 160 ms.

図17−1,図17−2中に示す時間間隔(OscTime2)は、後述する消費電力低減用に動作時間を短時間にさせる時の駆動時間を示している。必要に応じて、この時間間隔(OscTime2)を採用することで、動作時間が短くなるように制御する。   A time interval (OscTime2) shown in FIGS. 17A and 17B indicates a driving time when the operation time is shortened to reduce power consumption, which will be described later. By adopting this time interval (OscTime2) as necessary, the operation time is controlled to be shortened.

図18−1,図18−2はこれら振動モードに対応する周波数補正テーブルを示し、図18−1は振動モード1対応周波数補正テーブル、図18−2は振動モード2対応周波数補正テーブルである。振動モード1対応周波数補正テーブルはクロックジェネレータ55が周波数40(MHz)のパルス信号を出力するものとして算出されている。   18-1 and 18-2 show frequency correction tables corresponding to these vibration modes, FIG. 18-1 is a frequency correction table corresponding to vibration mode 1, and FIG. 18-2 is a frequency correction table corresponding to vibration mode 2. The frequency correction table corresponding to the vibration mode 1 is calculated on the assumption that the clock generator 55 outputs a pulse signal having a frequency of 40 (MHz).

既に説明した(1)式を適用すれば駆動周波数は算出できる。上述した温度補正テーブルから読み取った値に基づき、振動モード1対応周波数補正テーブルの*1〜*2の領域の7つのプリセット値がN進カウンタ41へ順次設定される。このときの駆動周波数f1,f2,…,f7と、ガラス板の振動の振幅との関係をグラフとしてプロットすると、図19中の*3のような曲線となる。   The drive frequency can be calculated by applying the formula (1) already described. Based on the values read from the temperature correction table described above, seven preset values in the areas * 1 to * 2 of the vibration mode 1 frequency correction table are sequentially set in the N-ary counter 41. When the relationship between the drive frequencies f1, f2,..., F7 at this time and the amplitude of vibration of the glass plate is plotted as a graph, a curve such as * 3 in FIG.

この図19には、駆動周波数fnとガラス板の振動の振幅との関係を特性グラフ曲線で表わしており、プロットされた*3のグラフ曲線を中心として、共振周波数の補正範囲(fc´<fc<fc´´)が示されている。*3のグラフ曲線においては、fcが共振周波数である。そして、このfcはたまたまf4に等しい。例えば、*4のような特性をもつガラス板の場合はfc´が共振周波数であって、fc´はf3と等しい。例えば、*5のような特性のガラス板の場合はfc´´が共振周波数であって、fc´´はf5と等しい。   In FIG. 19, the relationship between the drive frequency fn and the amplitude of vibration of the glass plate is represented by a characteristic graph curve. The resonance frequency correction range (fc ′ <fc) with the plotted * 3 graph curve as the center. <Fc ″) is shown. In the graph curve of * 3, fc is the resonance frequency. This fc happens to be equal to f4. For example, in the case of a glass plate having characteristics such as * 4, fc ′ is the resonance frequency, and fc ′ is equal to f3. For example, in the case of a glass plate having a characteristic such as * 5, fc ″ is the resonance frequency, and fc ″ is equal to f5.

よって、共振周波数がΔfcの範囲でバラツクことを考慮して、当該周波数補正テーブルの読出し開始位置(Startoffset)と読出し終了位置(Stopoffset)を設定すれば、必ず共振周波数でガラス板を加振する状況を実現することができる。また、温度によって、Δfcが変動しても、図17−1に示す振動モード1対応温度補正テーブルを適正に設定することで、必ず共振周波数で駆動できることが明らかである。   Therefore, in consideration of the fact that the resonance frequency varies within the range of Δfc, if the reading start position (Startoffset) and the reading end position (Stopoffset) of the frequency correction table are set, the glass plate is always vibrated at the resonance frequency. Can be realized. Further, even if Δfc varies depending on the temperature, it is clear that the driving can always be performed at the resonance frequency by appropriately setting the temperature correction table corresponding to vibration mode 1 shown in FIG.

ところで、防塵ガラス321,323,325は、必要とされる光学的サイズや許容スペースが異なるため、それぞれ異なる寸法となる。例えば、ファインダCCDユニット309はファインダとしての機能上、一般的には、CCDユニット303ほどの大型な撮像素子は必要とされず、やや小型の撮像素子が使用される。また、AFセンサユニット313は、近年ではマルチAFの採用等によって大型化しているものの、CCDユニット303やファインダCCDユニット309よりは受光部の光学的寸法は小さい。   By the way, the dust-proof glasses 321, 323, and 325 have different dimensions because required optical sizes and allowable spaces are different. For example, the viewfinder CCD unit 309 generally does not require a large image sensor as the CCD unit 303 in view of the function as a viewfinder, and uses a slightly smaller image sensor. Further, although the AF sensor unit 313 has recently been enlarged due to the adoption of multi-AF, the optical dimension of the light receiving unit is smaller than that of the CCD unit 303 and the finder CCD unit 309.

このように、それぞれに必要な光学的寸法が異なるため、また、ファインダ系、AF系は、撮像系よりもスペース的により小型化が要求されるので、防塵ガラス321,323,325の寸法は異なるものとならざるを得ない。   As described above, since the required optical dimensions are different, the finder system and the AF system are required to be smaller in size than the imaging system, so the dimensions of the dust-proof glasses 321, 323, and 325 are different. It must be a thing.

防塵ガラス321,323,325の寸法が異なるため、それぞれの共振周波数も基本的には異なるものとなる。図20−1は、防塵ガラスの面積と共振周波数との関係を示すグラフであり、図20−2は、防塵ガラスの厚さと共振周波数との関係を示すグラフである。防塵ガラスの共振周波数は、一般に、面積にほぼ反比例し、厚さにほぼ比例する特性を有する。   Since the dust-proof glasses 321, 323, and 325 have different dimensions, their resonance frequencies are basically different. 20A is a graph showing the relationship between the area of the dustproof glass and the resonance frequency, and FIG. 20B is a graph showing the relationship between the thickness of the dustproof glass and the resonance frequency. The resonance frequency of dustproof glass generally has a characteristic that is approximately inversely proportional to the area and approximately proportional to the thickness.

そこで、本実施の形態1では、このような特性を利用し、防塵駆動制御及び駆動回路を簡略化するために、これらの防塵ガラス321,323,325の面積と厚さを操作して同一の共振周波数に設定している。   Therefore, in the first embodiment, in order to use such characteristics and simplify the dustproof drive control and drive circuit, the same area and thickness of these dustproof glasses 321, 323, and 325 are manipulated. The resonance frequency is set.

具体的には、防塵ガラス321の面積をS、厚さをtとした場合に、防塵ガラス323の面積がS/2であるとするとその厚さを2tとし、また、防塵ガラス325の面積がS/3であるとするとその厚さを3tとする。これにより、
S×t=S/2×2t=S/3×3t
なる関係が成立し、防塵ガラス321,323,325の共振周波数を同一とすることができる。
Specifically, when the area of the dustproof glass 321 is S and the thickness is t, and the area of the dustproof glass 323 is S / 2, the thickness is 2t, and the area of the dustproof glass 325 is If it is S / 3, its thickness is 3t. This
S × t = S / 2 × 2t = S / 3 × 3t
This relationship is established, and the resonance frequencies of the dust-proof glasses 321, 323, and 325 can be made the same.

ここで、図15のフローチャートの説明に戻る。OSCtimeの値を大きくすれば、共振状態における加振時間を任意に設定できる。但し、無効な加振動作(共振周波数以外での駆動)の時間も大きくなるので注意が必要である。そこで、ステップS101では、EEPROM29の読み出し開始アドレスとしてAddressM1+Startoffsetを設定する。AddressM1は振動モード1対応周波数補正テーブルの先頭アドレスを示している。したがって、AddressM1+Startoffsetは図12−1中の*1に対応していることになる。ここで、防塵ガラス321,323,325の共振周波数は、全て共通であり、fc321=fc323=fc325=f4に設定されている。   Now, the description returns to the flowchart of FIG. If the value of OSCtime is increased, the excitation time in the resonance state can be arbitrarily set. However, it should be noted that the time for the invalid excitation operation (driving at a frequency other than the resonance frequency) also increases. Therefore, in step S101, Address M1 + Startoffset is set as the read start address of the EEPROM 29. Address M1 indicates the head address of the vibration mode 1 frequency correction table. Therefore, Address M1 + Startoffset corresponds to * 1 in FIG. Here, the resonance frequencies of the dust-proof glasses 321, 323, and 325 are all the same, and are set to fc321 = fc323 = fc325 = f4.

ステップS102では、圧電素子322,324,326を駆動するための準備動作が行われる。IOポートのP_PwContを制御してトランジスタ(Q00)44aをオン状態にする。さらに、クロックジェネレータ55からパルス信号の出力を開始する。この状態でN進カウンタ41にテーブルから取り出したデータを設定すれば、所望の周波数で圧電素子322,324,326を駆動できる。   In step S102, a preparatory operation for driving the piezoelectric elements 322, 324, and 326 is performed. The transistor (Q00) 44a is turned on by controlling P_PwCont of the IO port. Further, output of a pulse signal from the clock generator 55 is started. If the data extracted from the table is set in the N-ary counter 41 in this state, the piezoelectric elements 322, 324, and 326 can be driven at a desired frequency.

ステップS103においては、設定されたアドレスからプリセット値(N)を読み出す。そして、IOポートのD_NCntからN進カウンタ41に読み出したプリセット値を設定する。ステップS104では、設定フラグに基づき時間間隔としてOSCtime1,2のいずれかを選択する。また、加振動作なしの場合には、圧電素子322,324,326の動作は行わない。そして、ステップS105では、タイマカウンタへ選択されたOSCtime1又は2を設定しタイマのカウント動作を開始する。   In step S103, the preset value (N) is read from the set address. Then, the preset value read from the D_NCnt of the IO port to the N-ary counter 41 is set. In step S104, either OSCtime 1 or 2 is selected as the time interval based on the setting flag. In addition, when there is no vibration operation, the piezoelectric elements 322, 324, and 326 are not operated. In step S105, the selected OSCtime 1 or 2 is set in the timer counter, and the timer count operation is started.

そして、ステップS106にて、タイマカウンタの動作が終了するまで待機する。ステップS107では、EEPROM29のアドレスが“AddressM1+Stopoffset”に等しいか否かが判定される。もし、等しい場合は図18−1の*2までテーブルデータを読み出したことを意味する。すなわち、予定した複数の周波数での加振動作が終了したことになる。よってこの場合は、ステップS109にて駆動動作を停止する処理が行われる。トランジスタ(Q00)44aをオフし、クロックジェネレータ55の動作を止める。   In step S106, the process waits until the operation of the timer counter is completed. In step S107, it is determined whether the address of the EEPROM 29 is equal to “Address M1 + Stopoffset”. If they are equal, it means that the table data has been read up to * 2 in FIG. That is, the excitation operation at a plurality of scheduled frequencies is completed. Therefore, in this case, a process for stopping the driving operation is performed in step S109. The transistor (Q00) 44a is turned off, and the operation of the clock generator 55 is stopped.

ステップS107からステップS108へ移行したときは、EEPROM29のアドレスをインクリメント(+1)する。次の周波数で圧電素子322,324,326を駆動するため、再びステップS103へ移行する。   When the process proceeds from step S107 to step S108, the address of the EEPROM 29 is incremented (+1). In order to drive the piezoelectric elements 322, 324, and 326 at the next frequency, the process proceeds to step S103 again.

振動モード1に対応する駆動動作が終了すると、振動モード2に対応する駆動動作のためにステップS200〜S208の動作が実行される。振動モード2でガラス板を加振するために必要な制御パラメータStartoffset,Stopoffset,OSCtime1,OSCtime2は、図17−2に示されEEPROM29中の振動モード2対応温度補正テーブルから読み出せばよい。そして、プリセット値(N)は、EEPROM29の振動モード2対応周波数補正テーブルから読み出せばよい。同様に、振動モード2対応周波数補正テーブルの詳細は図18−2に示されている。   When the driving operation corresponding to the vibration mode 1 is completed, the operations of Steps S200 to S208 are performed for the driving operation corresponding to the vibration mode 2. Control parameters Startoffset, Stopoffset, OSCtime1, OSCtime2 necessary for vibrating the glass plate in vibration mode 2 may be read from the temperature correction table corresponding to vibration mode 2 shown in FIG. The preset value (N) may be read from the frequency correction table corresponding to the vibration mode 2 of the EEPROM 29. Similarly, details of the frequency correction table corresponding to vibration mode 2 are shown in FIG.

続くステップS200〜S209の動作は、基本的に前述したステップS100〜S109の動作と同じである。異なるところは、制御に必要なテーブルを読み出すEEPROM29のアドレスが異なる点のみである。よってその説明は省略する。   The subsequent operations in steps S200 to S209 are basically the same as the operations in steps S100 to S109 described above. The only difference is that the address of the EEPROM 29 from which the table necessary for control is read is different. Therefore, the description is omitted.

このように、振動モード1、振動モード2の2種類の振動モードによる防塵ガラス321,323,325への加振動作が終了すると、後述の図21に示す塵除去動作ルーチンへリターンする。   Thus, when the vibration operation to the dust-proof glass 321, 323, 325 in the two vibration modes of vibration mode 1 and vibration mode 2 is completed, the process returns to a dust removal operation routine shown in FIG.

なお、カメラシステムの設計段階では、ガラス板の共振周波数のバラツキを予測することは非常に困難である。したがって、このカメラシステムが完成した後に、圧電素子322,324,326の駆動周波数を決定する制御パラメータを設定できるようにすべきである。そこで、必要なパラメータは、上述した如く本発明では全てEEPROM29に選択可能に格納されている。   It should be noted that it is very difficult to predict variations in the resonance frequency of the glass plate at the design stage of the camera system. Therefore, it should be possible to set control parameters for determining the driving frequency of the piezoelectric elements 322, 324, 326 after the camera system is completed. Therefore, all necessary parameters are stored in the EEPROM 29 so as to be selectable in the present invention as described above.

ここで、カメラ本体1の姿勢に対応する各防塵ガラス321,323,325の塵付着面の方向により塵除去動作の有効性が異なる点と、その方向により塵除去動作を変更する点について説明する。すなわち、防塵ガラスの塵付着面の方向が鉛直下向き方向や水平方向の場合には、付着した塵は重力の作用によって、より落ちやすく除去しやすいが、鉛直上向き方向の場合には塵は落ちにくく除去しにくい。また、防塵ガラスの塵付着面の方向が鉛直下向き方向の場合には、水平方向の場合に比較して、より一層塵を除去しやすい。   Here, the point that the effectiveness of the dust removal operation differs depending on the direction of the dust adhesion surface of each dustproof glass 321, 323, 325 corresponding to the posture of the camera body 1, and the point that the dust removal operation is changed depending on the direction will be described. . That is, when the direction of the dust-adhering surface of the dust-proof glass is vertically downward or horizontal, the adhered dust is more easily dropped and removed by the action of gravity, but when it is vertically upward, the dust is difficult to fall. It is difficult to remove. Further, when the direction of the dust adhesion surface of the dust-proof glass is a vertically downward direction, it is easier to remove the dust than in the horizontal direction.

このようにカメラ本体1の姿勢に対応する各防塵ガラス321,323,325の塵付着面の方向により塵除去動作の有効性が異なる点を考慮し、本実施の形態1では、以下のように塵除去動作の内容を変更するように各駆動回路332A,332B,332Cの動作をBucom333によって制御する。   Considering the fact that the effectiveness of the dust removal operation differs depending on the direction of the dust adhesion surface of each dustproof glass 321, 323, 325 corresponding to the posture of the camera body 1, in the first embodiment, as described below. The operation of each drive circuit 332A, 332B, 332C is controlled by the Bucom 333 so as to change the contents of the dust removal operation.

まず、対象となる防塵ガラスが横向き(塵付着面方向が水平方向)の場合には、通常の塵除去動作を行わせる。また、対象となる防塵ガラスが下向き(塵付着面方向が鉛直下向き方向)の場合には、塵除去しやすい姿勢であるので、加振動作の動作時間を通常よりも短く制御して塵除去動作を行わせる。一方、対象となる防塵ガラスが上向き(塵付着面方向が鉛直上向き方向)の場合には、塵除去しにくい姿勢であり、塵除去効果が得られないので、無駄な消費電力を消費しないよう、塵除去用の加振動作を行わないように制御する。   First, when the target dustproof glass is sideways (the direction of the dust adhesion surface is horizontal), a normal dust removal operation is performed. Also, when the target dust-proof glass is facing down (the direction of dust adhering surface is vertically downward), it is easy to remove dust, so the dust removal operation is controlled by controlling the operation time of the excitation operation to be shorter than usual. To do. On the other hand, if the target dust-proof glass is facing upward (the direction of dust adhering surface is vertically upward), the posture is difficult to remove dust and the dust removal effect cannot be obtained. Control so as not to perform vibration for dust removal.

ここで、本実施の形態1のカメラ本体1中に含まれる防塵ガラス321,323,325は、図1、図4等の構成からも判るように、同一姿勢のカメラ本体1においてもそれぞれの塵付着面方向が互いに直交、或いは正反対で異なるため、それぞれの塵除去動作の内容は個々に異なるものとなる。図12中では、通常動作は“○”印で示し、塵除去しやすく動作時間を短時間とする場合は“◎”印で示し、塵除去しにくく塵除去動作を行わない場合は“×”印で示す。   Here, the dust-proof glasses 321, 323, and 325 included in the camera body 1 of the first embodiment are each dust-free in the camera body 1 in the same posture as can be seen from the configuration of FIGS. Since the adhering surface directions are orthogonal to each other or are opposite to each other, the contents of each dust removal operation are individually different. In FIG. 12, the normal operation is indicated by “◯”, the dust is easily removed and “動作” is indicated when the operation time is short, and “×” is indicated when the dust removal operation is difficult to perform. Shown with a mark.

メインルーチン中のステップS003及びステップS011に関して、このような点を考慮した塵除去動作ルーチンの処理内容を図21に示すフローチャートを参照して説明する。ステップS001やステップS009により既に実行されているカメラ本体1の姿勢検出結果のフラグを参照することで、カメラ本体1の姿勢を判別する。ステップS301では、この姿勢判別として、縦姿勢であるか否かを判別する。カメラ本体1が縦姿勢であれば(ステップS301:Yes)、いずれの防塵ガラス321,323,325も塵付着面方向が水平方向であるため、ステップS302により、通常動作を行う旨のフラグを設定する。   With respect to steps S003 and S011 in the main routine, the processing content of the dust removal operation routine taking such points into consideration will be described with reference to the flowchart shown in FIG. The posture of the camera body 1 is determined by referring to the flag of the posture detection result of the camera body 1 already executed in step S001 or step S009. In step S301, as the posture determination, it is determined whether or not the posture is vertical. If the camera body 1 is in the vertical position (step S301: Yes), the dust adhering surface direction is horizontal in any of the dustproof glasses 321, 323, 325, and therefore a flag indicating that normal operation is performed is set in step S302. To do.

ステップS303では、カメラ本体1の姿勢が横姿勢(ペンタプリズム306上向き)であるか否かを判別する。カメラ本体1が横姿勢(ペンタプリズム306上向き)であれば(ステップS303:Yes)、防塵ガラス321の塵付着面方向が水平方向、防塵ガラス323の塵付着面方向が鉛直下向き方向、防塵ガラス325の塵付着面方向が鉛直上向き方向であるため、ステップS304により、防塵ガラス321に対しては通常動作、防塵ガラス323に対しては短時間動作、防塵ガラス325に対しては塵除去動作を行わない旨のフラグを設定する。   In step S303, it is determined whether or not the posture of the camera body 1 is the horizontal posture (the pentaprism 306 upward). If the camera body 1 is in the horizontal posture (upwardly facing the pentaprism 306) (step S303: Yes), the dust adhesion surface direction of the dustproof glass 321 is horizontal, the dust adhesion surface direction of the dustproof glass 323 is vertically downward, and the dustproof glass 325. In step S304, the dust-proof glass 321 is normally operated, the dust-proof glass 323 is operated for a short time, and the dust-proof glass 325 is dust-removed. Set a flag to that effect.

ステップS305は、カメラ本体1の姿勢が横姿勢(ペンタプリズム306下向き)であるか否かを判別する。カメラ本体1が横姿勢(ペンタプリズム306下向き)であれば(ステップS305:Yes)、防塵ガラス321の塵付着面方向が水平方向、防塵ガラス325の塵付着面方向が鉛直下向き方向、防塵ガラス323の塵付着面方向が鉛直上向き方向であるため、ステップS306により、防塵ガラス321に対しては通常動作、防塵ガラス325に対しては短時間動作、防塵ガラス323に対しては塵除去動作を行わない旨のフラグを設定する。   In step S305, it is determined whether or not the posture of the camera body 1 is the horizontal posture (the pentaprism 306 downward). If the camera body 1 is in the horizontal position (downward of the pentaprism 306) (step S305: Yes), the dust adhesion surface direction of the dust proof glass 321 is horizontal, the dust adhesion surface direction of the dust proof glass 325 is vertically downward, and the dust proof glass 323. In step S306, the dust-adhering surface of the dust-proof glass 321 is normally operated, the dust-proof glass 325 is operated for a short time, and the dust-proof glass 323 is dust-removed. Set a flag to that effect.

ステップS307では、カメラ本体1の姿勢がレンズ上向き姿勢であるか否かを判別する。カメラ本体1がレンズ上向き姿勢であれば(ステップS307:Yes)、防塵ガラス321の塵付着面方向が鉛直上向き方向、防塵ガラス323,325の塵付着面方向が水平方向であるため、ステップS308により、防塵ガラス323,325に対しては通常動作、防塵ガラス321に対しては塵除去動作を行わない旨のフラグを設定する。   In step S307, it is determined whether or not the posture of the camera body 1 is a lens upward posture. If the camera body 1 is in the lens upward posture (step S307: Yes), the dust adhesion surface direction of the dustproof glass 321 is the vertical upward direction, and the dust adhesion surface direction of the dustproof glasses 323 and 325 is the horizontal direction. A flag indicating that normal operation is not performed on the dustproof glasses 323 and 325 and no dust removal operation is performed on the dustproof glass 321 is set.

ステップS309では、カメラ本体1の姿勢がレンズ下向き姿勢であるか否かを判別する。カメラ本体1がレンズ下向き姿勢であれば(ステップS309:Yes)、防塵ガラス321の塵付着面方向が鉛直下向き方向、防塵ガラス323,325の塵付着面方向が水平方向であるため、ステップS310により、防塵ガラス321に対しては短時間動作、防塵ガラス323,325に対しては通常動作を行う旨のフラグを設定する。これらのいずれの姿勢でもない場合には(ステップS309:No)、ステップS311により、いずれの防塵ガラス321,323,325に対しても通常動作を行う旨のフラグを設定する。   In step S309, it is determined whether or not the posture of the camera body 1 is a lens downward posture. If the camera body 1 is in the lens downward posture (step S309: Yes), the dust adhesion surface direction of the dustproof glass 321 is the vertical downward direction, and the dust adhesion surface direction of the dustproof glasses 323 and 325 is the horizontal direction. A flag indicating that the dustproof glass 321 operates for a short time and the dustproof glasses 323 and 325 perform a normal operation is set. If it is not in any of these postures (step S309: No), a flag indicating that normal operation is performed on any of the dustproof glasses 321, 323, 325 is set in step S311.

このような姿勢に応じた塵除去動作の内容のフラグを各防塵ガラス321,323,325毎に設定した後、ステップS312に“塵除去動作サブ”として示す図15で説明した塵除去動作を実行し、設定されたフラグに基づいて各防塵ガラス321,323,325に対する塵除去動作を圧電素子322,324,326に対する駆動回路332A,332B,332C毎に制御することで実行する。   After setting the flag of the dust removal operation content corresponding to the posture for each dustproof glass 321, 323, 325, the dust removal operation described in FIG. 15 shown as “dust removal operation sub” in step S312 is executed. Based on the set flag, the dust removal operation for each of the dust-proof glasses 321, 323, 325 is executed by controlling the drive circuits 332 A, 332 B, 332 C for the piezoelectric elements 322, 324, 326.

図22は、塵除去動作のタイムチャートと消費電力の様子とを示す説明図である。なお、図示例は、温度20℃、カメラ姿勢が横姿勢(ペンタ上)であるとする。図中、(a)は従来方式、(b)は本実施の形態1方式を示し、網掛け部分が消費電力に相当するものとする。   FIG. 22 is an explanatory diagram showing a time chart of dust removal operation and a state of power consumption. In the illustrated example, it is assumed that the temperature is 20 ° C. and the camera posture is the horizontal posture (on the penta). In the figure, (a) shows the conventional method, (b) shows the first embodiment, and the shaded portion corresponds to the power consumption.

(a)の従来方式にあっては、カメラ姿勢に関係なく、いずれの防塵ガラス321,323,325についても一律に通常動作を実行している。これに対して、本実施の形態1の場合、当該姿勢の場合、防塵ガラス325については塵除去動作を行わないように制御するので、その省電力は“0”である。また、防塵ガラス323についてはOSCtime2を採用する短時間動作とするので、防塵ガラス323用の塵除去動作に要する振動モード1,2の動作時間は、
1ms×{(9−3)+1}(回)=7ms
1ms×{(13−5)+1}(回)=9ms
となる。これは、通常動作時の半分以下の消費電力となる。
In the conventional method of (a), the normal operation is uniformly performed for any of the dustproof glasses 321, 323, 325 regardless of the camera posture. On the other hand, in the case of the first embodiment, in the case of the posture, the dust-proof glass 325 is controlled not to perform the dust removal operation, and thus the power saving is “0”. In addition, since the dust-proof glass 323 is operated for a short time using OSCtime2, the operation time of the vibration modes 1 and 2 required for the dust removal operation for the dust-proof glass 323 is as follows.
1 ms × {(9-3) +1} (times) = 7 ms
1 ms × {(13−5) +1} (times) = 9 ms
It becomes. This is less than half the power consumption during normal operation.

このように、本実施の形態1によれば、防塵ガラス321,323,325について、その塵付着面方向が水平方向の場合には通常の塵除去動作を行い、鉛直下向き方向の場合には通常よりも短時間の塵除去動作を行い、鉛直上向き方向の場合には塵除去動作を行わないように制御するので、無駄な消費電力の発生を防止できるという圧電素子322,324,326の適正な駆動制御が可能となる。   As described above, according to the first embodiment, with respect to the dust-proof glasses 321, 323, and 325, the normal dust removal operation is performed when the dust adhesion surface direction is the horizontal direction, and the dust-proof glass 321, 323, and 325 is normal when the dust-proof glass direction is the vertical downward direction. Since the dust removal operation is performed for a shorter period of time and the dust removal operation is controlled not to be performed in the vertically upward direction, the piezoelectric elements 322, 324, and 326 can be prevented from generating wasteful power consumption. Drive control is possible.

なお、上述の説明では、防塵ガラス321,323,325の塵付着面方向が水平方向、鉛直下向き方向、鉛直上向き方向のいずれであるかによって塵除去動作の内容を可変制御するようにしたが、姿勢検出回路334によってカメラ本体1の姿勢、したがって防塵ガラス321,323,325の塵付着面方向を、より多段階に詳細に検出し、塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向或いは鉛直上向き方向に近づくに従って塵除去動作の内容を段階的に可変制御するようにしてもよい。   In the above description, the dust removal operation is variably controlled depending on whether the dust adhesion surface direction of the dust-proof glass 321, 323, 325 is a horizontal direction, a vertically downward direction, or a vertically upward direction. The posture detection circuit 334 detects the posture of the camera body 1 and thus the direction of dust adhesion on the dust-proof glass 321, 323, 325 in more detail in more stages, and the direction of dust adhesion is from the horizontal direction to the vertical downward direction or the vertical upward direction. The content of the dust removal operation may be variably controlled step by step as it approaches.

また、本実施の形態1では、適正な駆動制御として省電力化を最優先させるようにしたが、防塵ガラス321,323,325の塵付着面方向が鉛直上向き方向で塵を落としにくい場合には、通常時よりも動作時間が長くなるように動作時間を制御することで、塵を落としにくい姿勢であってもその塵除去効果を高めることで適正な駆動制御となるようにしてもよい。   In the first embodiment, power saving is given the highest priority as appropriate drive control. However, when the dust adhesion surface direction of the dust-proof glass 321, 323, 325 is vertically upward, it is difficult to remove dust. In addition, by controlling the operation time so that the operation time becomes longer than normal, even if the posture is such that it is difficult to remove dust, it may be possible to achieve appropriate drive control by enhancing the dust removal effect.

また、本実施の形態1では、塵除去動作の内容変更として動作時間を可変制御するようにしたが、各駆動回路332A,332B,332C中に圧電素子322,324,326に対する印加電圧を可変させるための印加電圧可変回路を備え、防塵ガラス321,323,325の塵付着面の方向に従って圧電素子322,324,326に印加する印加電圧を低くしたり高くしたり可変制御するようにしてもよい。一般に、圧電素子による塵除去性能はその振動振幅によって異なり、印加電圧に比例して圧電素子の振動振幅が大きくなる特性を有する。したがって、塵付着面方向が下向きで塵を落しやすい状況では、印加電圧を通常時よりも低く制御することで、消費電力を抑制することができる。また、塵付着面方向が上向きで塵を落としにくい状況では、印加電圧を通常時よりも高く制御することで、その塵除去効果を高めることができる。或いは、塵付着面方向が上向きで塵を落としにくい状況では、前述の場合と同様、塵除去動作を行わず、省電力化を優先させるようにしてもよい。   In the first embodiment, the operation time is variably controlled as a change in the dust removal operation. However, the voltage applied to the piezoelectric elements 322, 324, and 326 is varied in the drive circuits 332A, 332B, and 332C. The voltage applied to the piezoelectric elements 322, 324, and 326 may be variably controlled by lowering or increasing the voltage applied to the piezoelectric elements 322, 324, and 326 according to the direction of the dust adhesion surface of the dust-proof glass 321, 323, and 325. . In general, the dust removal performance of a piezoelectric element varies depending on its vibration amplitude, and has a characteristic that the vibration amplitude of the piezoelectric element increases in proportion to the applied voltage. Therefore, in a situation where the dust adhering surface direction is downward and dust is likely to be dropped, the power consumption can be suppressed by controlling the applied voltage to be lower than normal. Moreover, in the situation where the direction of dust adhesion is upward and it is difficult to remove dust, the dust removal effect can be enhanced by controlling the applied voltage higher than normal. Alternatively, in a situation where the direction of the dust adhering surface is upward and it is difficult to remove dust, the dust removal operation is not performed and power saving may be prioritized as in the case described above.

また、本実施の形態1では、塵付着面方向が下向きで塵を落しやすい状況での塵除去動作の内容変更として動作時間を通常時よりも短い時間に制御するようにしたが、周波数走査範囲の幅を通常時よりも狭くするように可変制御してもよい。例えば、通常時にはf1〜f7なる周波数走査範囲を走査させるが、塵を落しやすい場合には、例えばf3〜f5なる周波数走査範囲を走査させるようにしてもよい。これによれば、加振動作のための動作時間を短縮させることができ、結果として、省電力化を図ることができる。塵付着面方向が上向きで塵を落としにくい状況では、前述の場合と同様、塵除去動作を行わないようにすればよい。   In the first embodiment, the operation time is controlled to be shorter than the normal time as a change in the content of the dust removal operation when the dust adhering surface direction is downward and the dust is likely to be dropped. The width may be variably controlled so as to be narrower than usual. For example, the frequency scanning range of f1 to f7 is normally scanned, but if dust is easily dropped, the frequency scanning range of f3 to f5 may be scanned, for example. According to this, the operation time for the vibration operation can be shortened, and as a result, power saving can be achieved. In the situation where the direction of the dust adhering surface is upward and it is difficult to remove the dust, the dust removal operation should not be performed as in the case described above.

(実施の形態2)
次に、本発明の実施の形態2について図23を参照して説明する。前述の実施の形態1では、圧電素子322,324,326毎に個別に駆動回路332A,332B,332Cを備える防塵ガラス駆動回路332を用いた構成例としたが、本実施の形態2は、各圧電素子322,324,326を所定の駆動周波数で駆動する単一の駆動回路構成の防塵ガラス駆動回路400を用いた構成例を示す。
(Embodiment 2)
Next, Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to FIG. In the first embodiment described above, the dust-proof glass drive circuit 332 including the drive circuits 332A, 332B, and 332C is individually provided for each of the piezoelectric elements 322, 324, and 326. However, in the second embodiment, The structural example using the dust-proof glass drive circuit 400 of the single drive circuit structure which drives the piezoelectric elements 322,324,326 at a predetermined drive frequency is shown.

この防塵ガラス駆動回路400は、各駆動回路332A,332B,332Cとほぼ同じ構成とされているが、トランス45の2次側出力と各圧電素子322,324,326との間にこれらを選択的に駆動するためのスイッチング手段としてのMOSFET等によるスイッチ401,402,403を備えている。これらのスイッチ401,42,403はBucom333からの選択信号SEL1〜SEL3によりオン/オフ制御される。例えば、選択信号SEL1がHレベルの時には対応するスイッチ401がオンしてトランス45の2次側と圧電素子322とが接続状態(駆動可能状態)となり、選択信号SEL1がLレベルの時には対応するスイッチ401がオフとなりトランス45の2次側と圧電素子322とは分離状態(駆動不可状態)となる。選択信号SEL2,SEL3とスイッチ402,403との関係についても同様である。   The dust-proof glass drive circuit 400 has substantially the same configuration as each of the drive circuits 332A, 332B, and 332C, but selectively selects them between the secondary output of the transformer 45 and the piezoelectric elements 322, 324, and 326. The switch 401, 402, 403 by MOSFET etc. is provided as a switching means for driving in the middle. These switches 401, 42, and 403 are on / off controlled by selection signals SEL 1 to SEL 3 from Bucom 333. For example, when the selection signal SEL1 is at the H level, the corresponding switch 401 is turned on so that the secondary side of the transformer 45 and the piezoelectric element 322 are connected (driveable state), and when the selection signal SEL1 is at the L level, the corresponding switch 401 is turned off, and the secondary side of the transformer 45 and the piezoelectric element 322 are separated (incapable of being driven). The same applies to the relationship between the selection signals SEL2 and SEL3 and the switches 402 and 403.

本実施の形態2の構成においても、姿勢検出回路334により検出されるカメラ本体1の姿勢に応じた各防塵ガラス321,323,325の塵付着面の方向に応じて、Bucom333が選択信号SEL1〜SEL3のH/Lレベルの制御を行うことで、前述の実施の形態1の場合と同様な動作制御が可能となる。   Also in the configuration of the second embodiment, the Bucom 333 selects the selection signals SEL1 to SEL1 depending on the direction of the dust adhesion surface of each dustproof glass 321, 323, 325 corresponding to the posture of the camera body 1 detected by the posture detection circuit 334. By controlling the SEL3 at the H / L level, the same operation control as in the first embodiment described above can be performed.

例えば、防塵ガラス321の塵付着面方向が水平方向の場合には、Bucom333は、選択信号SEL1をHレベルとしスイッチ401をオンすることで、対応する圧電素子322を通常動作させるように制御する。また、防塵ガラス321の塵付着面方向が鉛直下向き方向で塵を落しやすい場合には、Bucom333は、選択信号SEL1をHレベルとするがスイッチ401がオンする時間を短くすることで、対応する圧電素子322を通常時よりも短時間動作させるように制御する。さらに、防塵ガラス321の塵付着面方向が鉛直上向き方向で塵を落としにくい場合には、Bucom333は、選択信号SEL1をLレベルとしスイッチ401をオフのままとすることで、対応する圧電素子322を動作させないように制御する。他の防塵ガラス323,325についても同様である。   For example, when the dust adhesion surface direction of the dust-proof glass 321 is the horizontal direction, the Bucom 333 controls the corresponding piezoelectric element 322 to normally operate by setting the selection signal SEL1 to the H level and turning on the switch 401. In addition, when the dust adhesion surface direction of the dust-proof glass 321 is in the vertically downward direction and dust is easily dropped, the Bucom 333 sets the selection signal SEL1 to the H level but shortens the time for which the switch 401 is turned on, thereby reducing the corresponding piezoelectricity. The element 322 is controlled to operate for a shorter time than normal. Further, when the dust adhesion surface direction of the dust-proof glass 321 is in the vertically upward direction and it is difficult to remove dust, the Bucom 333 sets the selection signal SEL1 to the L level and keeps the switch 401 off, so that the corresponding piezoelectric element 322 is turned off. Control not to operate. The same applies to the other dustproof glasses 323 and 325.

さらに、選択信号SEL1〜SEL3によるスイッチ401〜403それぞれのオンタイミングの制御により、駆動周波数の走査範囲の幅を可変制御することも可能である。さらには、防塵ガラス駆動回路400中に圧電素子322,324,326に対する印加電圧を可変させるための印加電圧可変回路を備え、印加電圧の可変制御と選択信号SEL1〜SEL3によるスイッチ401〜403それぞれのオンタイミング制御との組合せによる時分割駆動により、防塵ガラス321,323,325の塵付着面の方向に従って圧電素子322,324,326に印加する印加電圧を低くしたり高くしたり可変制御するようにしてもよい。   Further, it is possible to variably control the width of the scanning range of the drive frequency by controlling the ON timings of the switches 401 to 403 by the selection signals SEL1 to SEL3. Furthermore, the dust-proof glass driving circuit 400 includes an applied voltage variable circuit for varying the applied voltage to the piezoelectric elements 322, 324, and 326, and each of the switches 401 to 403 is controlled by the variable control of the applied voltage and the selection signals SEL1 to SEL3. The applied voltage applied to the piezoelectric elements 322, 324, 326 is variably controlled according to the direction of the dust adhesion surface of the dust-proof glass 321, 323, 325 by time-sharing driving in combination with on-timing control. May be.

本発明は、上述した実施の形態に限らず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲であれば、種々の変形が可能である。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

本発明の実施の形態1の防塵機能付き光学装置としてのデジタルカメラシステムの実際的な光学的配置を考慮した構成例を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows the structural example which considered practical optical arrangement | positioning of the digital camera system as an optical apparatus with a dustproof function of Embodiment 1 of this invention. 図1の構成例に対応する制御系を主体として示す概略ブロック図である。FIG. 2 is a schematic block diagram mainly showing a control system corresponding to the configuration example of FIG. 1. 光学部が単一の場合の制御系を主体として示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows mainly the control system in case an optical part is single. 図1に示した防塵機能付き光学装置が搭載されたデジタルカメラシステムとしての具体的な構成例を示すブロック構成図である。It is a block block diagram which shows the specific structural example as a digital camera system carrying the optical apparatus with a dustproof function shown in FIG. 姿勢検出スイッチの構成例を示す平面図である。It is a top view which shows the structural example of an attitude | position detection switch. 図5−1中のC−C線断面図である。It is the CC sectional view taken on the line in FIGS. 図5−1中のD−D線断面図である。It is the DD sectional view taken on the line in FIGS. 姿勢検出スイッチのB面を下にした状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which turned down the B surface of the attitude | position detection switch. 姿勢検出スイッチのA面を下にした状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which faced the A surface of the attitude | position detection switch. カメラ本体を正面から見た場合の第1〜第3の姿勢検出スイッチの配置例を示す正面図である。It is a front view which shows the example of arrangement | positioning of the 1st-3rd attitude | position detection switch at the time of seeing a camera main body from the front. カメラ本体を右側から見た場合の第1〜第3の姿勢検出スイッチ3の配置例を示す側面図である。It is a side view which shows the example of arrangement | positioning of the 1st-3rd attitude | position detection switch 3 when a camera main body is seen from the right side. 圧電素子に対する防塵ガラス駆動回路の構成の一例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows an example of a structure of the dust-proof glass drive circuit with respect to a piezoelectric element. 動作制御例を示すタイムチャートである。It is a time chart which shows the example of operation control. 制御プログラムのメインルーチンを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the main routine of a control program. カメラ本体が横姿勢(ペンタ上)の場合を示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows the case where a camera main body is a horizontal posture (on a pentagon). カメラ本体が横姿勢(ペンタ下)の場合を示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows the case where a camera main body is a horizontal attitude | position (under a pentagon). カメラ本体が縦姿勢の場合を示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows the case where a camera main body is a vertical attitude | position. カメラ本体がレンズ上姿勢の場合を示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows the case where a camera main body is a posture on a lens. カメラ本体がレンズ下姿勢の場合を示す概略正面図である。It is a schematic front view which shows the case where a camera main body is a lens bottom posture. 第1〜第3の姿勢検出スイッチのH,Lレベルの出力とカメラ本体の姿勢との関係をまとめた表を示す図である。It is a figure which shows the table | surface which put together the relationship between the output of the 1st-3rd attitude | position detection switch of the H and L level, and the attitude | position of a camera main body. 本発明に係る防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の周囲に節が発生して全面が同じ位相で振動する振動モード1の一態様の説明図である。It is explanatory drawing of the one aspect | mode of the vibration mode 1 which shows the vibration form of the dust-proof glass which concerns on this invention, a node generate | occur | produces around a glass plate, and the whole surface vibrates with the same phase. 本発明に係る防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の周囲に節が発生して全面が同じ位相で振動する振動モード1の異なる態様の説明図である。It is explanatory drawing of the different aspect of the vibration mode 1 which shows the vibration form of the dust-proof glass based on this invention, and a node generate | occur | produces around a glass plate and the whole surface vibrates with the same phase. 本発明に係る防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の内側と外側が180°異なる位相で振動する振動モード2の一態様の説明図である。It is explanatory drawing of the one aspect | mode of the vibration mode 2 which shows the vibration form of the dust-proof glass which concerns on this invention, and vibrates with the phase different 180 degrees inside and outside of a glass plate. 本発明に係る防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の内側と外側が180°異なる位相で振動する振動モード2の異なる態様の説明図である。It is explanatory drawing of the different aspect of the vibration mode 2 which shows the vibration form of the dust-proof glass which concerns on this invention, and vibrates with the phase which the inner side and outer side of a glass plate differ 180 degrees. 図6のフローチャート中のサブルーチン「塵除去動作」に含まれる「塵除去動作サブ」の詳細手順を表わすフローチャートである。It is a flowchart showing the detailed procedure of the "dust removal operation sub" contained in the subroutine "dust removal operation" in the flowchart of FIG. EEPROMに占める補正に関するテーブル領域を示すメモリマップである。It is a memory map which shows the table area | region regarding the correction | amendment occupied to EEPROM. 振動モード1対応温度補正テーブルの詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of a vibration mode 1 corresponding | compatible temperature correction table. 振動モード2対応温度補正テーブルの詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of a vibration mode 2 corresponding | compatible temperature correction table. 振動モード1対応周波数補正テーブルの詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of a vibration mode 1 corresponding | compatible frequency correction table. 振動モード2対応周波数補正テーブルの詳細を示す図である。It is a figure which shows the detail of a vibration mode 2 corresponding | compatible frequency correction table. 駆動周波数とガラス板の振動の振幅との関係を表わす特性グラフである。It is a characteristic graph showing the relationship between a drive frequency and the amplitude of the vibration of a glass plate. 防塵ガラスの面積と共振周波数との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the area of dustproof glass, and a resonance frequency. 防塵ガラスの厚さと共振周波数との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the thickness of dust-proof glass, and the resonance frequency. 図6のフローチャート中のサブルーチン「塵除去動作」の詳細手順を表わすフローチャートである。It is a flowchart showing the detailed procedure of the subroutine "dust removal operation" in the flowchart of FIG. 塵除去動作のタイムチャートと消費電力の様子とを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the time chart of dust removal operation | movement, and the mode of power consumption. 本発明の実施の形態2の構成例を示す概略回路図である。It is a schematic circuit diagram which shows the structural example of Embodiment 2 of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

302 撮像光学系
303 CCDユニット
304 撮像用光学部
308 ファインダ光学系
309 ファインダCCDユニット
310 ファインダ用光学部
312 焦点検出用光学系
313 AFセンサユニット
314 AF検出用光学部
321 防塵ガラス
322 圧電素子
323 防塵ガラス
324 圧電素子
325 防塵ガラス
326 圧電素子
331 駆動制御部
332A〜332C 駆動回路
333 制御部
334 姿勢検出回路
400 防塵ガラス駆動回路
401〜403 スイッチ
302 imaging optical system 303 CCD unit 304 imaging optical unit 308 finder optical system 309 finder CCD unit 310 finder optical unit 312 focus detection optical system 313 AF sensor unit 314 AF detection optical unit 321 dustproof glass 322 piezoelectric element 323 dustproof glass 324 Piezoelectric element 325 Dustproof glass 326 Piezoelectric element 331 Drive control unit 332A to 332C Drive circuit 333 control unit 334 Attitude detection circuit 400 Dustproof glass drive circuit 401 to 403 switch

Claims (14)

結像光学系により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子と、
該光電変換素子よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子と、
該光学素子を所定の周波数で振動させるための加振手段と、
当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段と、
該姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の姿勢に応じて前記加振手段を駆動制御する駆動制御手段と、
を備えたことを特徴とする防塵機能付き光学装置。
A photoelectric conversion element that receives an optical image formed by the imaging optical system and converts it into an electrical signal;
A dust-proof optical element disposed on the optical path preceding the photoelectric conversion element;
Vibration means for vibrating the optical element at a predetermined frequency;
Posture detection means for detecting the posture of the dustproof optical device;
Drive control means for driving and controlling the vibration means according to the attitude of the optical element based on the detection result of the attitude detection means;
An optical device with a dustproof function.
結像光学系により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子と該光電変換素子よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子と該光学素子を所定の周波数で振動させるための加振手段とをそれぞれ有した複数の光学手段と、
当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段と、
該姿勢検出手段の検出結果に基づく前記各光学素子の姿勢に応じて前記各加振手段を駆動制御する駆動制御手段と、
を備えたことを特徴とする防塵機能付き光学装置。
A photoelectric conversion element that receives an optical image formed by the imaging optical system and converts it into an electrical signal, a dust-proof optical element disposed on an optical path preceding the photoelectric conversion element, and the optical element A plurality of optical means each having a vibration means for vibrating at a frequency of
Posture detection means for detecting the posture of the dustproof optical device;
Drive control means for driving and controlling each excitation means according to the attitude of each optical element based on the detection result of the attitude detection means;
An optical device with a dustproof function.
前記駆動制御手段は、複数の前記光学手段に含まれる複数の前記加振手段を所定の駆動周波数で個別に駆動する複数の駆動手段と、これらの駆動手段の動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする請求項2に記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control unit includes a plurality of drive units that individually drive the plurality of vibration units included in the plurality of optical units at a predetermined drive frequency, and a control unit that controls operations of these drive units. The optical device with a dustproof function according to claim 2. 前記駆動制御手段は、複数の前記光学手段に含まれる前記各加振手段を選択的に駆動するためのスイッチング手段を有し前記各加振手段を所定の駆動周波数で駆動する単一の駆動手段と、該駆動手段の動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする請求項2に記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control means has a switching means for selectively driving the vibration means included in the plurality of optical means, and has a single drive means for driving the vibration means at a predetermined drive frequency. The optical device with a dustproof function according to claim 2, further comprising: control means for controlling the operation of the driving means. 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作の動作時間を可変制御することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。   2. The drive control unit variably controls an operation time of an excitation operation by the excitation unit according to a direction of a dust adhesion surface of the optical element based on a detection result of the posture detection unit. The optical device with a dustproof function according to any one of -4. 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の動作時間を短くする制御を行うことを特徴とする請求項5に記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control unit performs control to shorten the operation time of the vibration operation by the vibration unit as the dust adhesion surface direction of the optical element approaches the vertical downward direction from the horizontal direction based on the detection result of the posture detection unit. The optical device with a dustproof function according to claim 5. 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直上向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の動作時間を長くする制御を行うことを特徴とする請求項5又は6に記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control unit performs control to lengthen the operation time of the excitation operation by the excitation unit as the dust adhesion surface direction of the optical element approaches the vertical upward direction from the horizontal direction based on the detection result of the posture detection unit. The optical device with a dustproof function according to claim 5 or 6. 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段に対する印加電圧を可変制御することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control means variably controls the voltage applied to the vibration means according to the direction of the dust adhesion surface of the optical element based on the detection result of the posture detection means. An optical device with a dustproof function according to claim 1. 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段に対する印加電圧を低くする制御を行うことを特徴とする請求項8に記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control means performs control to lower the applied voltage to the vibration means as the dust adhering surface direction of the optical element approaches the vertical downward direction from the horizontal direction based on the detection result of the posture detection means. The optical device with a dustproof function according to claim 8. 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直上向き方向に近づくに従って前記加振手段に対する印加電圧を高くする制御を行うことを特徴とする請求項8又は9に記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control means performs control to increase the applied voltage to the vibration means as the dust adhesion surface direction of the optical element approaches the vertical upward direction from the horizontal direction based on the detection result of the posture detection means. The optical device with a dustproof function according to claim 8 or 9. 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作の周波数走査範囲を可変制御することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control means variably controls the frequency scanning range of the vibration operation by the vibration means according to the direction of the dust adhesion surface of the optical element based on the detection result of the posture detection means. The optical device with a dustproof function according to any one of 1 to 4. 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の周波数走査範囲の幅を狭くする制御を行うことを特徴とする請求項11に記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control unit is configured to narrow a width of a frequency scanning range of an excitation operation by the excitation unit as the direction of the optical element dust adhesion surface based on a detection result of the posture detection unit approaches a vertical downward direction from a horizontal direction. The optical device with a dustproof function according to claim 11, wherein: 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作を行うか否かを制御することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control means controls whether or not to perform the vibration operation by the vibration means according to the direction of the dust adhesion surface of the optical element based on the detection result of the posture detection means. The optical device with a dustproof function according to any one of 1 to 4. 前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作を行わないように制御することを特徴とする請求項6,9,12又は13のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。   The drive control means controls the optical element dust adhering surface direction based on the detection result of the posture detection means so as not to perform the vibration operation by the vibration means as it approaches the vertical downward direction from the horizontal direction. An optical device with a dustproof function according to any one of claims 6, 9, 12, or 13.
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