JP4520276B2 - Measuring jig - Google Patents
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Description
本発明は、被測定物、例えば光学素子の表面と裏面との3次元形状を測定するための測定用治具に関する。 The present invention relates to a measuring jig for measuring a three-dimensional shape of an object to be measured, for example, a front surface and a back surface of an optical element.
従来、接触式プローブまたは非接触式プローブを走査して、光学素子、例えば非球面レンズの表面と裏面の形状を測定する形状測定方法が提案されている。ここで、2つの代表的なプローブの走査方式がある。なお、被検面内に沿って直交するXY座標を考える。第1番目の走査方式は、被測定物を所定軸の周りのθ方向に回転させながら、プローブをX方向に走査する方式(以下、「Rθ走査方式」という。)である。第2番目の走査方式は、被測定物に対してプローブを相対的にX方向とY方向との2次元面内に走査する方式(以下、「XY走査方式」という。)である。 Conventionally, a shape measuring method has been proposed in which a contact probe or a non-contact probe is scanned to measure the shape of the front and back surfaces of an optical element, for example, an aspheric lens. Here, there are two typical probe scanning methods. Note that XY coordinates orthogonal to each other along the test surface are considered. The first scanning method is a method of scanning the probe in the X direction while rotating the object to be measured in the θ direction around a predetermined axis (hereinafter referred to as “Rθ scanning method”). The second scanning method is a method of scanning the probe in a two-dimensional plane in the X direction and the Y direction relative to the object to be measured (hereinafter referred to as “XY scanning method”).
Rθ走査方式を用いて、被測定物の表面と裏面との3次元形状を測定する3次元形状測定方法は、例えば、特許文献1に提案されている。図10は、従来技術の3次元形状測定方法で用いられる形状測定機の概略構成を示す。被測定物は、非球面レンズ12である。非球面レンズ12は、θステージ11に支持されている。そして、光プローブ13aが、非球面レンズ12の表面12aに対向して配置されている。また、光プローブ13bが、非球面レンズ12の裏面12bに対向して配置されている。このように、2つの光プローブ13a、13bを用いている。
For example, Patent Document 1 proposes a three-dimensional shape measurement method that measures the three-dimensional shape of the front and back surfaces of an object to be measured using the Rθ scanning method. FIG. 10 shows a schematic configuration of a shape measuring machine used in the conventional three-dimensional shape measuring method. The object to be measured is an
図10に示す3次元形状測定機では、θステージ11の回転軸に対して被測定物の軸が略一致するように、非球面レンズ12をセッティングする。そして、θステージ11により、非球面レンズ12を回転させる。続いて、回転する非球面レンズ12に対して、2つの光プローブ13a及び13bが、θステージ11の回転軸に直交するX方向に走査される。その際、2つの光プローブ13a及び13bは、それぞれ非球面レンズ12の表面12a及び裏面12bのZ方向(θステージ11の回転軸と平行な方向)の形状変化に追従しながら移動する。
In the three-dimensional shape measuring machine shown in FIG. 10, the
光プローブ13aの位置座標は、レーザー測長器14aにより測定される。また、光プローブ13bの位置座標は、レーザー測長器14bにより測定される。そして、θステージ11のθ座標、光プローブ13a、13bのX座標及びZ座標に基づいて、非球面レンズ12の表面12a及び裏面12bの形状測定が行われる。従って、非球面レンズ12のセッティングをやり直すことなく1回の測定により、非球面レンズ12の表面12a及び裏面12bの形状測定が可能である。
The position coordinates of the
また、非球面レンズ12の軸とθステージ11の回転軸とを略一致させて被測定物を回転させている。このため、被測定物の同一半径上の形状は、略一定の形状となる。このことから、プローブ13a及び13bの位置制御が容易となる。この結果、走査速度を速くできる。このように、Rθ走査方式の3次元形状測定方法は、被測定面が回転対称な形状のときには、XY走査方式の形状測定方法に比べて測定時間の短縮が可能であるという特徴がある。
Further, the object to be measured is rotated with the axis of the
さらに、XY走査方式を用いて、被測定物の表面と裏面との3次元形状を測定する3次元形状測定方法は、例えば、特許文献2に提案されている。図11は、特許文献2に提案されている3次元形状測定機の構成を示す。被測定面であるレンズ21は、レンズ21の表面21aと裏面21bとが露出するように、測定用治具22に支持されている。また、測定用治具22には、3つの位置決め球23の表面と裏面とが露出した状態で固定されている。この測定方法では、レンズ21の被測定面21a上を、測定プローブ24がX方向及びY方向に走査する。これにより、測定プローブ24のXY座標位置でのZ座標を求める。そして、レンズ21aの形状測定を行なう。
Furthermore, for example,
特許文献2に提案されている測定方法について説明する。まず、レンズ21の表面21aが上を向いた状態にして測定用治具22を定盤上に固定する。そして、測定プローブ24により、3つの位置決め球23の表面、及びレンズ21の表面21aの形状測定を行う。続いて、3つの位置決め球23の表面の測定データから、測定用治具22の基準座標を決定する。そして、測定用治具22の基準座標に対するレンズ21の表面21aのずれを求める。その後、測定用治具22を180度回転(表裏反転)させる。これにより、レンズ21の裏面21bが上を向いた状態にして定盤上に固定する。そして、3つの位置決め球23の裏面、及びレンズ21の裏面21bの形状測定を行う。続いて、3つの位置決め球23の裏面の測定データから、測定用治具22の基準座標を決定する。これにより、測定用治具22の基準座標に対するレンズ21の裏面21bのずれを求める。そして、測定用治具22の基準座標に対するレンズ21の表面21aのずれと裏面21bのずれとから、レンズ21の表面21aと裏面21bの相対的位置ずれを求める。
A measurement method proposed in
さらに、測定用治具で決定される基準座標に対する非球面レンズの表面形状を測定する別の方法も、例えば、特許文献3に提案されている。特許文献3に提案されている方法を図12に基づいて説明する。ここで、非球面レンズ31が被測定物である。この方法では、まず、非球面レンズ31を、測定用治具32に固定する。測定用治具32には、基準部分として、上側平面部分32aとエッジ部分32bとが設けられている。そして、非球面レンズ31の表面31aの形状と、測定用治具32の基準部分の形状をプローブ33で測定する。続いて、非球面レンズ31の表面31aの測定データを、測定用治具32の基準部分から決定される基準座標系に対する形状データに変換する。このようにして、非球面レンズ31の表面31aの形状を求めることができる。
Furthermore, another method for measuring the surface shape of the aspherical lens with respect to the reference coordinates determined by the measurement jig is proposed in, for example, Patent Document 3. The method proposed in Patent Document 3 will be described with reference to FIG. Here, the
図10に示した従来技術では、被測定物のセッティングをやり直すことなく表面および裏面の形状測定が可能である。しかしながら、プローブと、プローブの位置制御を行なう駆動機構と、プローブの位置座標を測定するための測長器とがそれぞれ2つ必要である。このため、装置構成が複雑となり、装置が大きくなってしまうという問題がある。 In the prior art shown in FIG. 10, it is possible to measure the shape of the front and back surfaces without resetting the object to be measured. However, two probes, a driving mechanism for controlling the position of the probe, and two length measuring devices for measuring the position coordinates of the probe are required. For this reason, there exists a problem that an apparatus structure becomes complicated and an apparatus will become large.
図11に示した従来技術では、測定用治具22を用いることにより、1つのプローブで被測定物の表面および裏面の形状測定が可能である。また、被測定物の表面と裏面の相対位置関係も測定可能である。しかしながら、測定用治具22には、3つの位置決め球23が設けられている。そのため、この測定用治具22を、例えば、図10に示すようなRθ走査方式の形状測定方法に用いると、3つの位置決め球23はθステージ11の回転軸に対して回転対称な形状とはならない。その結果、位置決め球23の形状をRθ走査方式で測定すると、走査速度が非常に遅くなり、測定時間が長くなってしまうという問題がある。
In the prior art shown in FIG. 11, by using the
図12に示した従来技術では、測定用治具の基準部分により決定される基準座標に対する被測定物の表面の形状を求めることができる。しかしながら、被測定物の裏面の形状は測定できない。このため、被測定物の表面と裏面の相対位置関係が分からないという問題がある。 In the prior art shown in FIG. 12, the shape of the surface of the object to be measured with respect to the reference coordinates determined by the reference portion of the measuring jig can be obtained. However, the shape of the back surface of the object to be measured cannot be measured. For this reason, there exists a problem that the relative positional relationship of the surface of a to-be-measured object and a back surface is not known.
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、小型で簡素な構成により、被測定物の表面と裏面との相対的な位置ずれを測定できる測定用治具を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a measurement jig that can measure the relative displacement between the front surface and the back surface of the object to be measured with a small and simple configuration. To do.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明によれば、第1の基準軸と略直交する平面からなり、一方の面に形成されている、第1の基準軸を中心とした軸対称な形状の第1の基準平面部と、一方の面に形成され、第1の基準軸を中心とした軸対称な形状の球面からなる第1の基準球面部と、第2の基準軸と略直交する平面からなり、他方の面に形成されている、第2の基準軸を中心とした軸対称な形状の第2の基準平面部と、他方の面に形成され、第2の基準軸を中心とした軸対称な形状の球面からなる第2の基準球面部と、被測定物の表面と裏面とが露出するように保持する保持部と、回転角度の原点を設定するための検出部とを有することを特徴とする測定用治具を提供できる。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, according to the present invention, the first reference axis, which is formed on one surface, is formed of a plane substantially orthogonal to the first reference axis. A first reference plane portion having an axisymmetric shape, a first reference spherical portion formed on one surface and having a spherical surface having an axisymmetric shape about the first reference axis, and a second reference A second reference plane portion having a plane that is substantially orthogonal to the axis and formed on the other surface and having an axisymmetric shape around the second reference axis, and formed on the other surface, A second reference spherical surface composed of a spherical surface having an axisymmetric shape around the reference axis, a holding portion for holding the front and back surfaces of the object to be measured, and an origin for setting the rotation angle It is possible to provide a measurement jig including a detection unit.
また、本発明の好ましい態様によれば、第1の基準球面部は、第1の基準軸に対して第1の基準平面部よりも遠い側に形成され、第2の基準球面部は、第2の基準軸に対して第2の基準平面部よりも遠い側に形成されていることが望ましい。 According to a preferred aspect of the present invention, the first reference spherical portion is formed on a side farther than the first reference plane portion with respect to the first reference axis, and the second reference spherical portion is the first reference spherical portion. It is desirable that the second reference plane portion is formed on a side farther than the second reference plane portion.
また、本発明の好ましい態様によれば、第1の基準球面部は、第1の基準軸に対して第1の基準平面部よりも近い側に形成され、第2の基準球面部は、第2の基準軸に対して第2の基準平面部よりも近い側に形成されていることが望ましい。 According to a preferred aspect of the present invention, the first reference spherical portion is formed closer to the first reference axis than the first reference plane portion, and the second reference spherical portion is the first reference spherical portion. It is desirable that the second reference plane portion be formed closer to the second reference plane than the second reference axis.
また、本発明の好ましい態様によれば、第1の基準球面部は、第1の基準軸に対して第1の基準平面部よりも近い側に形成され、第2の基準球面部は、第2の基準軸に対して第2の基準平面部よりも遠い側に形成されていることが望ましい。 According to a preferred aspect of the present invention, the first reference spherical portion is formed closer to the first reference axis than the first reference plane portion, and the second reference spherical portion is the first reference spherical portion. It is desirable that the second reference plane portion is formed on a side farther than the second reference plane portion.
また、本発明の好ましい態様によれば、第1の基準平面部よりも所定量だけ大きい高さの第1フランジ部と、第2の基準平面部よりも所定量だけ大きい高さの第2フランジ部とをさらに有することが望ましい。 According to a preferred aspect of the present invention, the first flange portion having a height larger than the first reference plane portion by a predetermined amount and the second flange having a height larger than the second reference plane portion by a predetermined amount. It is desirable to further have a part.
本発明において、測定用治具は、第1の基準平面部、第1の基準球面部と、第2の基準平面部、第2の基準球面部とを備えている。まず、測定用治具に基準物、例えば、高い平行度を有する平行平面を保持する。平行平面の表面と、第1の基準平面部との3次元形状を測定する。続いて、平行平面の裏面と、第2の基準平面部との3次元形状を測定する。これにより、平行平面に対する、第1の基準平面部と第2の基準平面部とのずれ量、即ち相対的な位置関係を求めることができる。次に、測定用治具に基準物、例えば、高い真円度を有する基準球を保持する。基準球の表面と、第1の基準球面部との3次元形状を測定する。続いて、基準球の裏面と、第2の基準球面部との3次元形状を測定する。これにより、基準球に対する、第1の基準球面部と第2の基準球面部とのずれ量、即ち相対的な位置関係を求めることができる。そして、測定用治具に基準物の代わりに被測定物を保持する。被測定物の一方の面、例えば表面と、測定用治具の第1の基準平面部と第1の基準球面部とを測定する。さらに、被測定物の他方の面、例えば裏面と、測定用治具の第2の基準平面部と第2の基準球面部とを測定する。第1の基準平面部と第2の基準平面部との位置関係は既に補正値として算出されている。同様に、第1の基準球面部と第2の基準球面部との位置関係は既に補正値として算出されている。そして、被測定物の表面の測定工程の測定結果から、被測定面の表面と第1の基準平面部と第1の基準球面部との位置関係を求めることができる。同様に、被測定物の裏面の測定工程の測定結果から、被測定面の裏面と第2の基準平面部と第2の基準球面部との位置関係を求めることができる。そして、第1の基準平面部、第1の基準球面部と、第2の基準平面部と第2の基準球面部とを介して、被測定面の表面の形状と裏面の形状とこれらの相対的な位置関係とを算出できる。この結果、本発明に係る測定用治具を用いると、3次元形状測定装置において、1つのプローブ等を用いるだけで良い。従って、簡素で小型な装置により3次元形状測定を行なうことができるという効果を奏する。また、従来技術で述べた位置決め球を必要としない。このため、例えば、本発明に係る測定用治具を用いる3次元形状測定をRθ走査方式により行なうとき、測定用治具をθステージの回転軸に対して回転対称な形状とすることができる。従って、Rθ走査方式で測定するとき、走査速度を速くすることで、測定時間を短縮できるという効果を奏する。さらに、本発明に係る測定用治具を用いる3次元形状測定方法によれば、被測定物の表面と裏面との形状を測定できる。このため、被測定物の表面と裏面の相対位置関係を求めることができるという効果を奏する。このように、本発明によれば、小型で簡素な構成により、被測定物の表面と裏面との形状と相対的な位置ずれとを測定できる測定用治具を提供することができる。 In the present invention, the measurement jig includes a first reference plane portion, a first reference spherical portion, a second reference plane portion, and a second reference spherical portion. First, a reference object, for example, a parallel plane having high parallelism is held on the measurement jig. The three-dimensional shape of the surface of the parallel plane and the first reference plane part is measured. Subsequently, the three-dimensional shape of the back surface of the parallel plane and the second reference plane portion is measured. Thereby, the deviation | shift amount of a 1st reference plane part and a 2nd reference plane part with respect to a parallel plane, ie, a relative positional relationship, can be calculated | required. Next, a reference object, for example, a reference sphere having high roundness is held on the measurement jig. The three-dimensional shape of the surface of the reference sphere and the first reference spherical surface portion is measured. Subsequently, the three-dimensional shape of the back surface of the reference sphere and the second reference spherical surface portion is measured. Thereby, the deviation | shift amount of the 1st reference spherical surface part and the 2nd reference spherical surface part with respect to a reference sphere, ie, relative positional relationship, can be calculated | required. Then, the measurement object is held in the measurement jig instead of the reference object. One surface of the object to be measured, for example, the surface, and the first reference plane portion and the first reference spherical portion of the measurement jig are measured. Further, the other surface of the object to be measured, for example, the back surface, and the second reference plane portion and the second reference spherical surface portion of the measurement jig are measured. The positional relationship between the first reference plane part and the second reference plane part has already been calculated as a correction value. Similarly, the positional relationship between the first reference spherical portion and the second reference spherical portion has already been calculated as a correction value. And the positional relationship between the surface of the surface to be measured, the first reference plane portion, and the first reference spherical portion can be obtained from the measurement result of the surface measurement process. Similarly, the positional relationship among the back surface of the surface to be measured, the second reference plane portion, and the second reference spherical surface portion can be obtained from the measurement result of the back surface measurement process. Then, through the first reference plane portion, the first reference spherical portion, the second reference plane portion, and the second reference spherical portion, the shape of the surface of the surface to be measured, the shape of the back surface, and the relative relationship between them. The relative positional relationship can be calculated. As a result, when the measuring jig according to the present invention is used, it is only necessary to use one probe or the like in the three-dimensional shape measuring apparatus. Therefore, there is an effect that three-dimensional shape measurement can be performed with a simple and small device. Further, the positioning sphere described in the prior art is not required. For this reason, for example, when the three-dimensional shape measurement using the measurement jig according to the present invention is performed by the Rθ scanning method, the measurement jig can have a rotationally symmetric shape with respect to the rotation axis of the θ stage. Therefore, when measuring by the Rθ scanning method, the measurement time can be shortened by increasing the scanning speed. Furthermore, according to the three-dimensional shape measuring method using the measuring jig according to the present invention, the shapes of the front and back surfaces of the object to be measured can be measured. For this reason, there exists an effect that the relative positional relationship of the surface of a to-be-measured object and a back surface can be calculated | required. As described above, according to the present invention, it is possible to provide a measurement jig capable of measuring the shape and relative positional deviation between the front surface and the back surface of the object to be measured with a small and simple configuration.
以下に、本発明に係る3次元形状測定方法の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。 Embodiments of a three-dimensional shape measuring method according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments.
本実施例に係る測定用治具100について最初に説明する。その後、測定用治具100を用いる3次元形状測定方法について説明する。図1−1は、本実施例に係る測定用治具100の縦断面構成を示す。また、図1−2は、測定用治具100の正面構成を示す。
First, the
測定用治具100は、基準軸113に関して回転対称な形状を有する。測定用治具100の中心部には、被測定物を保持するための保持部114が形成されている。被測定物は、非球面レンズ120である。非球面レンズ120は、表面121と裏面122とが共に非球面形状を有する。さらに、測定用治具100は、表面側に第1の開口部115と、裏面側に第2の開口部116とが形成されている。被測定物である非球面レンズ120は、測定用治具100の保持部114に保持され、固定される。保持部114で保持された非球面レンズ120の表面121と裏面122とは、それぞれ第1の開口部115と第2の開口部116とにより露出される。このように、保持部114は、表面121と裏面122とが露出するように非球面レンズ120を保持する。そして、後述するプローブ170は、露出された表面121と裏面122とを接触測定する。
The
測定用治具100の外周部118の表面側には、第1の基準平面部111hと第1の基準球面部111rとが形成されている。第1の基準平面部111hと第1の基準球面部111rとにより、第1の基準面111を構成する。
On the surface side of the outer
また、外周部118の裏面側には、第2の基準平面部112hと第2の基準球面部112rとが形成されている。第2の基準平面部112hと第2の基準球面部112rとにより、第2の基準面112を構成する。
A second
基準軸113は、測定用治具100の機械加工時における加工機械の回転軸に一致する。第1の基準平面部111hと第1の基準球面部111rと第2の基準平面部112hと第2の基準球面部112rとは、加工機械から測定用治具100を取り外すことなく加工することが望ましい。測定用治具を製造するとき、取り外すことなく加工すると、加工機械への脱着に起因する製造誤差を低減できる。
The
なお、輪帯形状の保持部114の形状の中心軸、即ち保持部114に固定された非球面レンズ120の形状の中心軸は、基準軸113と厳密に一致させる必要はない。保持部114の形状の中心軸と、基準軸113とは、後述するプローブ170による非球面レンズ120の形状測定時に、被測定物の表面と裏面とが大きく振れない程度に合わせれば良い。
Note that the central axis of the shape of the ring-shaped
測定用治具100に非球面レンズ120を保持する方法としては、ネジや押さえ環等を介して保持部114に固定する方法がある。また、接着や嵌合等で、非球面レンズ120を保持部114に直接固定しても良い。このように、固定する方法は問わないが、非球面レンズ120を保持部114で保持したときに、非球面レンズ120に撓みや歪みが生じないことが望ましい。
As a method of holding the
また、測定用治具100の外周面には、円柱状のシャフト117が形成されている。シャフト117は、測定用治具100を基準軸113を中心にして回転したとき、回転角度の原点を設定するために用いる。測定用治具100は、金属材料、樹脂材料、セラミック、またはガラス等で構成することができる。また、測定用治具100は、異種材料の部品を接着、ビス止め等により組み合わせて固着した構成でも良い。
A
図2は、測定用治具100の基準面の関係を示す。第1の基準平面部111hは、第1の基準軸AX1と略直交する平面からなり、第1の基準軸AX1を中心とした軸対称な形状を有する。第1の基準球面部111rは、第1の基準軸AX1を中心とした軸対称な形状の球面から形成されている。第2の基準平面部112hは、第2の基準軸AX2と略直交する平面からなり、第2の基準軸AX2を中心とした軸対称な形状を有する。第2の基準球面部112rは、第2の基準軸AX2を中心とした軸対称な形状の球面から形成されている。なお、上述の図1−1においては、第1の基準軸AX1と第2の基準軸AX2とを一致させて、基準軸113としている。
FIG. 2 shows the relationship of the reference plane of the
また、第1の基準球面部111rは、第1の基準軸AX1に対して第1の基準平面部111hよりも遠い側に形成されている。さらに、第2の基準球面部112rは、第2の基準軸AX2に対して第2の基準平面部112hよりも遠い側に形成されている。
Further, the first reference
図3は、非球面レンズ120を保持している測定用治具100を3次元形状測定機で測定するときの概略構成を示す。3次元形状測定機は、Rθ走査方式による形状測定を行なう。図3では、3次元形状測定機のうち、プローブ170と、回転支持部132との近傍の構成を示し、その他のデータ処理部等の構成は省略する。エアースピンドル130は、測定用治具100を固定可能な回転部131を有する。また、データ処理部(不図示)は、形状測定データ等の処理を行なう。
FIG. 3 shows a schematic configuration when the measuring
エアースピンドル130の回転部131は、回転支持部132により回転可能に支持されている。これにより、回転部131は、回転軸133を回転中心として高精度にθ方向に回転する。また、エアースピンドル130は、回転部131をθ方向に回転させるモータ(不図示)とθ方向の回転角度を検出するロータリーエンコーダ(不図示)を有している。
The
一方、プローブ170の先端には、先端球171が設けられている。先端球171は、被測定面、例えば非球面レンズ120の表面と接触する。さらに、3次元形状測定機は、Z軸方向駆動部(不図示)と、X軸方向駆動部(不図示)と、測長器(不図示)とを有している。ここで、Z軸方向駆動部は、先端球171と被測定面との間の接触庄を一定に保つように、プローブ170のZ軸方向、即ち回転軸133と平行な方向の位置制御を行なう。また、X軸方向駆動部は、プローブ170をX軸方向、即ち回転軸133と直交する方向に移動する。そして、測長器は、プローブ170のXZ座標を測定する。
On the other hand, a
この構成において、被測定面にプローブ170を接触させる。エアースピンドル130は、測定用治具100をθ方向に回転する。X軸方向駆動部は、プローブ170をX軸方向に移動する。プローブ170がX軸方向に移動している間、ロータリーエンコーダは、エアースピンドル130の回転角度(θ)を測定する。同時に、測長器は、プローブ170のXZ座標(x,z)を測定する。このようにして、被測定面の形状測定データ(xs,zs,θs)(s=1,2,3・・・)を取得する。なお、後述するY軸は、XZ面に垂直な軸である。
In this configuration, the
また、3次元形状測定機には、近接センサー160が固定配置されている。近接センサー160は、非接触式センサーである。近接センサー160は、回転部131により回転する測定用治具100に設けたシャフト117がθ方向の所定位置に来たことを検出する。
Further, a
次に、本実施例に係る測定用治具100を用いて、3次元形状を測定する手順について説明する。図6は、測定手順の大まかな流れを示すフローチャートである。詳細な手順については、図7−1、図7−2を用いて後述する。図6のステップS601において、測定用治具100に基準となる平行平面140(図4参照)を保持して、後述する3次元形状測定を行う。次に、ステップS602において、測定用治具100から平行平面140を取り外し、基準球150(図5参照)を保持する。次に、基準球150を保持している測定用治具100に対して3次元形状測定を行なう。そして、ステップS603において、測定用治具100から基準球150を取り外し、非球面レンズ120(図1−1参照)を保持する。次に、非球面レンズ120を保持している測定用治具100に対して3次元形状測定を行なう。そして、ステップS601、S602、S603の各ステップにおいて後述する所定の演算を行なうことで、非球面レンズ120の表面の形状と、裏面の形状と、これらの相対的位置関係とを求めることができる。
Next, a procedure for measuring a three-dimensional shape using the
次に、図7−1、7−2を参照して、本実施例の測定用治具100を用いる3次元形状測定の手順を説明する。図7−1のステップS701において、測定用治具100の保持部114に基準となる平行平面140(以下、適宜「基準平行平面」という。)を保持する。基準となる平行平面140は、表面141と裏面142とが共に平面である。そして、表面141と裏面142との間の平行度が極めて高い板状の部材で構成されている。
Next, with reference to FIGS. 7-1 and 7-2, the procedure of three-dimensional shape measurement using the
ステップS702において、測定用治具100を、エアースピンドル130の回転部131上に固定する。このとき、基準平行平面140の表面141がプローブ170に対向するように、測定用治具100を固定する。
In step S <b> 702, the measuring
ステップS703において、Z軸方向駆動部(不図示)によりプローブ170をZ軸方向に移動させる。さらに、モータ(不図示)は、エアースピンドル130を回転軸133の周りに回転させる。そして、近接センサー160は、測定用治具100のシャフト117を検出した時点で、ロータリーエンコーダの回転角度(θ)をリセットする。その後、平行平面140の表面141に、プローブ170の先端球171を接触させる。そして、先端球171の接触圧が一定となるように制御する。基準平行平面140の表面141にプローブ170を接触させながら、形状測定データ(xa,za,θa)(a=1,2,3・・・)を点列データとして取得する。
In step S703, the
次に、測定用治具100の第1の基準平面111hにプローブ170を接触させる。平行平面140の表面141と同様にして、第1の基準平面111hの形状測定データ(xb,zb,θb)(b=1,2,3・・・)を点列データとして取得する。このように、基準平行平面140の表面141と測定用治具100の第1の基準平面111hとを、測定用治具100のセッティングを変えることなく測定している。従って、表面141の形状測定データと第1の基準平面111hの形状測定データとは、同一測定座標での測定データとして扱うことができる。
Next, the
ステップS703において、プローブ170のX軸方向の移動は、間欠的に行なうこと、または連続的に行なうことの何れでも良い。間欠的な移動とは、プローブ170の位置を任意の複数個所で固定しながら移動することをいう。これにより、エアースピンドル130の回転軸133を中心とした同心円状の形状測定データを得ることができる。また、プローブ170をX軸方向に連続的に移動しながら測定を行なうと、渦巻き状の形状測定データを得ることができる。このような、同心円状の形状測定データ、渦巻き状の形状測定データ、またはこれらを組み合わせた形状測定データでも良い。
In step S703, the movement of the
ステップS704において、基準平行平面140の裏面142がプローブ170に対向するように、測定用治具100を反転させて、エアースピンドル130の回転部131に固定する。
In step S <b> 704, the
ステップS705において、ステップS703と同様の手順で形状測定を行なう。まず、近接センサー160が測定用治具100のシャフト117を検出した時点で、ロータリーエンコーダの回転角度(θ)をリセットする。基準平行平面140の裏面142にプローブ170の先端球171を接触させる。そして、プローブ170の接触圧を一定に保つ制御を行なう。基準平行平面140の裏面142にプローブ170を接触させながら、形状測定データ(xc,zc,θc)(c=1,2,3・・・)を取得する。続けて、測定用治具100の第2の基準平面部112hにプローブ170を接触させ、形状測定データ(xd,zd,θd)(d=1,2,3・・・)を取得する。ステップS703と同様に、裏面142の形状測定データと第2の基準平面部112h形状測定データとは、同一測定座標での測定データとして扱うことができる。また、ステップS703、S705では、シャフト117を検出してロータリーエンコーダの回転角度をリセットしている。これにより、測定用治具100の表裏反転に伴うθ方向のセッティング誤差を補正できる。
In step S705, shape measurement is performed in the same procedure as in step S703. First, when the
次に、ステップS706において、図5に示すように、測定用治具100の保持部114に、基準球150を固定する。基準球150は、真球度が極めて高い球形状を有している。基準球150の一方の面を表面151とする。また、表面151とは反対側の他方の面を裏面152とする。
Next, in step S706, the
ステップS707において、基準球150の表面151がプローブ170に対向するように、測定用治具100をエアースピンドル130の回転部131に固定する。
In step S707, the
ステップS708において、近接センサー160が測定用治具100のシャフト117を検出した時点で、ロータリーエンコーダの回転角度(θ)をリセットする。基準球150の表面151にプローブ170の先端球171を接触させる。そして、プローブ170の接触圧を一定に保つ制御を行なう。基準球150の表面151にプローブ170を接触させながら、形状測定データ(xe,ze,θe)(e=1,2,3・・・)を取得する。続けて、測定用治具100の第1の基準球面部111rにプローブ170を接触させ、形状測定データ(xf,zf,θf)(f=1,2,3・・・)を取得する。次に、測定用治具100の第1の基準平面部111hにプローブ170を接触させる。そして、形状測定データ(xp,zp,θp)(p=1,2,3・・・)を取得する。ステップS703と同様に、表面151の形状測定データと第1の基準球面部111rと第1の基準平面部111hの形状測定データとは、同一測定座標での測定データとして扱うことができる。
In step S708, when the
ステップS709において、基準球150の裏面152がプローブ170に対向するように、測定用治具100を反転させて、エアースピンドル130の回転部131に固定する。
In step S 709, the
ステップS710において、近接センサー160が測定用治具100のシャフト117を検出した時点で、ロータリーエンコーダの回転角度(θ)をリセットする。基準球150の裏面152にプローブ170の先端球171を接触させる。そして、プローブ170の接触圧を一定に保つ制御を行なう。基準球150の裏面152にプローブ170を接触させながら、形状測定データ(xg,zg,θg)(g=1,2,3・・・)を取得する。次に、測定用治具100の第2の基準球面部112rにプローブ170を接触させる。そして、形状測定データ(xh,zh,θh)(h=1,2,3・・・)を取得する。次に、測定用治具100の第2の基準平面部112hにプローブ170を接触させる。そして、形状測定データ(xq,zq,θq)(q=1,2,3・・・)を取得する。ステップS703と同様に、裏面152の形状測定データと第2の基準球面部112rと第2の基準平面部112hの形状測定データは、同一測定座標での測定データとして扱うことができる。
In step S710, when the
ステップS711において、ステップS703で取得した基準平行平面140の表面141の形状測定データ(xa,za,θa)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xa,Ya,Za)に変換する。そして、表面141の形状測定データ(Xa,Ya,Za)を座標変換して、基準平行平面140の表面141の形状誤差データ(Xa,Ya,ΔZa)を算出する。
In step S711, the shape measurement data (xa, za, θa) of the
形状誤差データを算出する座標変換は、例えば、特開2002−116019号公報で開示されているような方法を用いることができる。すなわち、被測定面の設計式にプローブ170の先端球171の曲率半径を加味した設計形状データと測定形状データとを比較する。そして、最小二乗法やニュートン法等既知の方法を用いて、設計形状データと測定形状データとの間の誤差が最小となるように、測定形状データを座標変換する。なお、座標変換は、X軸とY軸の周りの2つの回転移動、Z軸に沿った並進移動、X軸とY軸に沿った2つの並進移動の順番に座標変換を行うものとする。ここで、被測定面は平面であるので、座標変換のパラメータとしては、Z軸に沿った並進移動と、X軸とY軸の周りの2つの回転移動を用いる。
For the coordinate conversion for calculating the shape error data, for example, a method disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2002-1116019 can be used. That is, the design shape data in which the radius of curvature of the
ステップS711では、上述の座標変換の結果から、基準平行平面140の表面141の測定データの座標変換量(Ca,αa,βa)を第1の座標変換量としてメモリ(不図示)に記憶する。以下、全ての測定値、演算値の記憶は、メモリ(不図示)に格納して行なう。
In step S711, the coordinate conversion amount (Ca, αa, βa) of the measurement data of the
ここで、
Caは、基準平行平面140の表面141のZ軸方向の並進移動量、
αaは、基準平行平面140の表面141のX軸周りの回転移動量、
βaは、基準平行平面140の表面141のY軸周りの回転移動量である。
here,
Ca is the translational movement amount of the
αa is the amount of rotational movement around the X axis of the
βa is a rotational movement amount around the Y axis of the
ステップS712において、ステップS703で取得した第1の基準平面部111hの形状測定データ(xb,zb,θb)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xb,Yb,Zb)に変換する。測定データ(Xb,Yb,Zb)の座標変換から、形状誤差データ(Xb,Yb,ΔZb)を算出する。その結果から、第1の基準平面部111hの座標変換量(Cb,αb,βb)を、第2の座標変換量として記憶する。
In step S712, the shape measurement data (xb, zb, θb) of the first
ここで、
Cbは、第1の基準平面部111hの測定データのZ軸方向の並進移動量、
αbは、第1の基準平面部111hの測定データのX軸周りの回転移動量、
βbは、第1の基準平面部111hの測定データのY軸周りの回転移動量である。
here,
Cb is the amount of translational movement in the Z-axis direction of the measurement data of the first
αb is a rotational movement amount around the X axis of the measurement data of the first
βb is a rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the first
ステップS713において、ステップS705で取得した基準平行平面140の裏面142の形状測定データ(xc,zc,θc)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xc,Yc,Zc)に変換する。そして、裏面142の測定データ(Xc,Yc,Zc)を座標変換して、形状誤差データ(Xc,Yc,ΔZc)を算出する。その結果から、基準平行平面140の裏面142の座標変換量(Cc,αc,βc)を、第3の座標変換量として記憶する。
In step S713, the shape measurement data (xc, zc, θc) of the
ここで、
Ccは、基準平行平面140の裏面142のZ軸方向の並進移動量、
αcは、基準平行平面140の裏面142のX軸周りの回転移動量、
βcは、基準平行平面140の裏面142のY軸周りの回転移動量である。
here,
Cc is the amount of translational movement of the
αc is the amount of rotational movement around the X axis of the
βc is a rotational movement amount around the Y axis of the
ステップS714において、ステップS705で取得した第2の基準平面部112hの形状測定データ(xd,zd,θd)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xd,Yd,Zd)に変換する。測定データ(Xd,Yd,Zd)の座標変換から、形状誤差データ(Xd,Yd,ΔZd)を算出する。その結果から、第2の基準平面部112hの座標変換量(Cd,αd,βd)を、第4の座標変換量として記憶する。
In step S714, the shape measurement data (xd, zd, θd) of the second
ここで、
Cdは、第2の基準平面部112hの測定データのZ軸方向の並進移動量、
αdは、第2の基準平面部112hの測定データのX軸周りの回転移動量、
βdは、第2の基準平面部112hの測定データのY軸周りの回転移動量である。
here,
Cd is the translational movement amount in the Z-axis direction of the measurement data of the second
αd is the rotational movement amount around the X axis of the measurement data of the second
βd is the rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the second
ステップS715において、ステップS708で取得した第1の基準球面部111rの形状測定データ(xf,zf,θf)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xf,Yf,Zf)に変換する。同様に、第1の基準平面部111hの形状測定データ(xp,zp,θp)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xp,Yp,Zp)に変換する。第1の基準平面部111hの測定データ(Xp,Yp,Zp)の座標変換から、形状誤差データ(Xp,Yp,ΔZp)を算出する。その結果から、第1の基準平面部111hの座標変換量(Cp,αp,βp)を、第5の座標変換量として記憶する。そして、第5の座標変換量の回転移動量である(αp,βp)を回転移動量に用いて、第1の基準球面部111rの測定データ(Xf,Yf,Zf)を座標変換して、形状誤差データ(Xf,Yf,ΔZf)を算出する。その結果から、第1の基準球面部111rの座標変換量(Af,Bf,Cf,αp,βp)を新たな第5の座標変換量として記憶する。
In step S715, the shape measurement data (xf, zf, θf) of the first reference
ここで、
Afは、第1の基準球面部111rの測定データのX軸方向の並進移動量、
Bfは、第1の基準球面部111rの測定データのY軸方向の並進移動量、
Cfは、第1の基準球面部111rの測定データのZ軸方向の並進移動量、
αpは、第1の基準平面部111hの測定データと基準球面部111rの測定データのX軸周りの回転移動量、
βpは、第1の基準平面部111hの測定データと基準球面部111rの測定データのY軸周りの回転移動量である。
here,
Af is the amount of translational movement in the X-axis direction of the measurement data of the first reference
Bf is the translational movement amount in the Y-axis direction of the measurement data of the first reference
Cf is the amount of translational movement in the Z-axis direction of the measurement data of the first reference
αp is the amount of rotational movement around the X axis of the measurement data of the first
βp is a rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the first
ステップS716において、ステップS708で取得した基準球の表面151の形状測定データ(xe,ze,θe)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xe,Ye,Ze)に変換する。そして、第5の座標変換量の回転移動量である(αp,βp)を回転移動量に用いて、測定データ(Xe,Ye,Ze)を座標変換して、形状誤差データ(Xe,Ye,ΔZe)を算出する。その結果から、基準球の表面151の座標変換量(Ae,Be,Ce,αp,βp)を、第6の座標変換量として記憶する。
In step S716, the shape measurement data (xe, ze, θe) of the
ここで、
Aeは、基準球の表面151の測定データのX軸方向の並進移動量、
Beは、基準球の表面151の測定データのY軸方向の並進移動量、
Ceは、基準球の表面151の測定データのZ軸方向の並進移動量、
αpは、第1の基準平面部111hの測定データと基準球の表面151の測定データのX軸周りの回転移動量、
βpは、第1の基準平面部111hの測定データと基準球の表面151の測定データのY軸周りの回転移動量である。
here,
Ae is the amount of translational movement in the X-axis direction of the measurement data of the
Be is the translational movement amount in the Y-axis direction of the measurement data of the
Ce is the amount of translational movement in the Z-axis direction of the measurement data of the
αp is the amount of rotational movement about the X axis of the measurement data of the first
βp is a rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the first
ステップS717において、ステップS710で取得した第2の基準球面部112rの形状測定データ(xh,zh,θh)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xh,Yh,Zh)に変換する。同様に、第2の基準平面部112hの形状測定データ(xq,zq,θq)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xq,Yq,Zq)に変換する。第2の基準平面部112hの測定データ(Xq,Yq,Zq)の座標変換から、形状誤差データ(Xq,Yq,ΔZq)を算出する。その結果から、第2の基準平面部112hの座標変換量(Cq,αq,βq)を、第7の座標変換量として記憶する。そして、第7の座標変換量の回転移動量である(αq,βq)を回転移動量に用いて、第2の基準球面部112rの測定データ(Xh,Yh,Zh)を座標変換して、形状誤差データ(Xh,Yh,ΔZh)を算出する。その結果から、第2の基準球面部112rの座標変換量(Ah,Bh,Ch,αp,βp)を、新たな第7の座標変換量として記憶する。
In step S717, the shape measurement data (xh, zh, θh) of the second reference
ここで、
Ahは、第2の基準球面部112rの測定データのX軸方向の並進移動量、
Bhは、第2の基準球面部112rの測定データのY軸方向の並進移動量、
Chは、第2の基準球面部112rの測定データのZ軸方向の並進移動量、
αqは、第2の基準平面部112hの測定データと基準球面部112rの測定データのX軸周りの回転移動量、
βqは、第2の基準平面部112hの測定データと基準球面部112rの測定データのY軸周りの回転移動量である。
here,
Ah is the amount of translational movement in the X-axis direction of the measurement data of the second reference
Bh is the translational movement amount in the Y-axis direction of the measurement data of the second reference
Ch is the amount of translational movement in the Z-axis direction of the measurement data of the second reference
αq is the amount of rotational movement around the X axis of the measurement data of the second
βq is a rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the second
ステップS718において、ステップS710で取得した基準球の裏面152の形状測定データ(xg,zg,θg)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xg,Yg,Zg)に変換する。そして、第8の座標変換量の回転移動量である(αq,βq)を回転移動量に用いて、測定データ(Xg,Yg,Zg)を座標変換して、形状誤差データ(Xg,Yg,ΔZg)を算出する。その結果から、基準球の裏面152の座標変換量(Ag,Bg,Cg,αq,βq)を、第8の座標変換量として記憶する。
In step S718, the shape measurement data (xg, zg, θg) of the
Agは、基準球の裏面152の測定データのX軸方向の並進移動量、
Bgは、基準球の裏面152の測定データのY軸方向の並進移動量、
Cgは、基準球の裏面152の測定データのZ軸方向の並進移動量、
αqは、基準球の裏面152の測定データと第2の基準平面部112hの測定データのX軸周りの回転移動量、
βqは、基準球の裏面152の測定データと第2の基準平面部112hの測定データのY軸周りの回転移動量である。
Ag is the amount of translational movement in the X-axis direction of the measurement data of the
Bg is the translational movement amount in the Y-axis direction of the measurement data of the
Cg is the amount of translational movement in the Z-axis direction of the measurement data of the
αq is the amount of rotational movement about the X axis of the measurement data of the
βq is a rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the
次に、ステップS719における演算について説明する。第1の座標変換量(Ca,αa,βa)と第2の座標変換量(Cb,αb,βb)とから、X軸周りの回転移動量とY軸周りの回転移動量の差(αa−αb,βa−βb)を求める。この差分を、第9の座標変換量として記憶する。第9の座標変換量は、基準平行平面140の表面141と第1の基準平面部111hとの傾きの差に対応する。
Next, the calculation in step S719 will be described. From the first coordinate transformation amount (Ca, αa, βa) and the second coordinate transformation amount (Cb, αb, βb), the difference between the rotational movement amount around the X axis and the rotational movement amount around the Y axis (αa− αb, βa−βb) is obtained. This difference is stored as a ninth coordinate conversion amount. The ninth coordinate conversion amount corresponds to a difference in inclination between the
第3の座標変換量(Cc,αc,βc)と第4の座標変換量(Cd,αd,βd)から、X軸周りの回転移動量とY軸周りの回転移動量の差(αc−αd,βc−βd)を求め、第10の座標変換量として記憶する。第10の座標変換量は、基準平行平面140の裏面142と第2の基準平面部112hとの傾きの差に対応する。
From the third coordinate transformation amount (Cc, αc, βc) and the fourth coordinate transformation amount (Cd, αd, βd), the difference between the rotational movement amount around the X axis and the rotational movement amount around the Y axis (αc−αd , Βc−βd) is obtained and stored as the tenth coordinate conversion amount. The tenth coordinate conversion amount corresponds to a difference in inclination between the
ここで、表面側(第1の基準平面部111h側)と裏面側(第2の基準平面部112h側)とは180度反転した位置関係である。ここで、表面側の測定データと裏面側の測定データとを同一の座標系で評価する必要がある。このため、表裏反転に伴う座標系の向きを考慮する。具体的には、Y軸周りの回転移動量の符号を反転する。このように、第10の座標変換量におけるY軸周りの回転移動量の符号を反転させ、新たな第10の座標変換量(αc−αd,−βc+βd)として記憶する。
Here, the front side (the first
第9の座標変換量(αa−αb,βa−βb)と第10の座標変換量(αc−αd,−βc+βd)の差(αa−αb−αc+αd,βa−βb+βc−βd)を求める。そして、この差分を、基準面形状誤差の回転移動の座標変換量として記憶する。ここで、基準平行平面140では、表面141と裏面142の平行度は極めて高い。このため、基準面形状誤差の回転移動の座標変換量は、実質的に第1の基準平面部111hと第2の基準平面部112hの傾きの差とみなすことができる。
A difference (αa−αb−αc + αd, βa−βb + βc−βd) between the ninth coordinate conversion amount (αa−αb, βa−βb) and the tenth coordinate conversion amount (αc−αd, −βc + βd) is obtained. Then, this difference is stored as a coordinate conversion amount of the rotational movement of the reference surface shape error. Here, in the reference
第5の座標変換量(Af,Bf,Cf)と第6の座標変換量(Ae,Be,Ce)から、X軸方向の並進移動量とY軸方向の並進移動量とZ軸方向の並進移動量の差(Af−Ae,Bf−Be,Cf−Ce)を求める。この差分を第11の座標変換量として記憶する。 From the fifth coordinate transformation amount (Af, Bf, Cf) and the sixth coordinate transformation amount (Ae, Be, Ce), the translational movement amount in the X-axis direction, the translational movement amount in the Y-axis direction, and the translation in the Z-axis direction The difference in movement amount (Af−Ae, Bf−Be, Cf−Ce) is obtained. This difference is stored as the eleventh coordinate conversion amount.
第7の座標変換量(Ah,Bh,Ch)と第8の座標変換量(Ag,Bg,Cg)とから、X軸方向の並進移動量とY軸方向の並進移動量とZ軸方向の並進移動量の差(Ah−Ag,Bh−Bg,Ch−Cg)を求める。この差分を、第12の座標変換量として記憶する。 From the seventh coordinate conversion amount (Ah, Bh, Ch) and the eighth coordinate conversion amount (Ag, Bg, Cg), the translational movement amount in the X-axis direction, the translational movement amount in the Y-axis direction, and the Z-axis direction The translational difference (Ah−Ag, Bh−Bg, Ch−Cg) is obtained. This difference is stored as the twelfth coordinate conversion amount.
ステップS719と同様に、表面側の測定データと裏面側の測定データを同一の座標系で評価するために、第12の座標変換量の符号を反転させる。具体的には、Y軸方向およびZ軸方向の並進移動量の符号を反転させる。これにより、新たな第12の座標変換量(Ah−Ag,−Bh+Bg,−Ch+Cg)として記憶する。 Similar to step S719, the sign of the twelfth coordinate conversion amount is inverted in order to evaluate the measurement data on the front side and the measurement data on the back side in the same coordinate system. Specifically, the signs of the translational movement amounts in the Y-axis direction and the Z-axis direction are reversed. As a result, a new twelfth coordinate conversion amount (Ah−Ag, −Bh + Bg, −Ch + Cg) is stored.
基準球150は真球度が極めて高い。このため、表面151の曲率中心と裏面152の曲率中心とは一致しているとみなすことができる。よって、基準面形状誤差の回転移動の座標変換量(αa−αb−αc+αd,βa−βb+βc−βd)と、第11の座標変換量(Af−Ae,Bf−Be,Cf−Ce)と、第12の座標変換量(Ah−Ag,−Bh+Bg,−Ch+Cg)、及び基準球150の直径の理論値L0より、第1の基準面111の基準軸と第2の基準面112の基準軸の相対的な位置関係が求まる。これより、理想的な第2の基準面112の基準軸を、実際の第2の基準面112の基準軸の位置に移動させる座標変換量(Ai,Bi,Ci,αi,βi)を算出する。算出した座標変換量を、基準面形状誤差の座標変換量(Ai,Bi,Ci,αi,βi)として、記憶する。
The
上述のステップS701〜S719は、測定用治具100の第1の基準面111の基準軸と第2の基準面112の基準軸との不一致による誤差の補正量を導出する手順に対応する。
Steps S701 to S719 described above correspond to a procedure for deriving an error correction amount due to a mismatch between the reference axis of the
次に、被測定物の測定について説明する。ステップS720〜S728は、被測定物の3次元形状を測定する手順に対応する。ステップS720において、図1−1に示すように、測定用治具100の保持部114に、被測定物である非球面レンズ120を固定する。また、ステップS721において、非球面レンズ120の表面121がプローブ170に対向するように、測定用治具100をエアースピンドル130の回転部131に固定する。
Next, measurement of an object to be measured will be described. Steps S720 to S728 correspond to a procedure for measuring the three-dimensional shape of the object to be measured. In step S720, as shown in FIG. 1-1, the
ステップS722において、Z軸方向駆動部(不図示)によりプローブ170をZ軸方向に移動させる。さらに、モータ(不図示)は、エアースピンドル130を回転軸133の周りに回転させる。そして、近接センサー160は、測定用治具100のシャフト117を検出した時点で、ロータリーエンコーダの回転角度(θ)をリセットする。その後、非球面120の表面121に、プローブ170の先端球171を接触させる。そして、先端球171の接触圧が一定となるように制御する。非球面120の表面121にプローブ170を接触させながら、形状測定データ(xj,zj,θj)(j=1,2,3・・・)を点列データとして取得する。
In step S722, the
次に、測定用治具100の第1の基準平面部111hにプローブ170を接触させる。そして、形状測定データ(xhk,zhk,θhk)(k=1,2,3・・・)を取得する。次に、測定用治具100の第1の基準球面部111rにプローブ170を接触させる。そして、形状測定データ(xrk,zrk,θrk)(k=1,2,3・・・)を取得する。このように、非球面120の表面121と第1の基準平面部111hと第1の基準球面部111rとを、測定用治具100のセッティングを変えることなく測定している。従って、表面121の形状測定データと第1の基準平面部111hと第1の基準球面部111rとの形状測定データとは、同一測定座標での測定データとして扱うことができる。
Next, the
ステップS723において、非球面レンズ120の裏面122がプローブ170に対向するように、測定用治具100を反転させて、エアースピンドル130の回転部131に固定する。
In step S <b> 723, the
ステップS724において、近接センサー160が測定用治具100のシャフト117を検出した時点で、ロータリーエンコーダの回転角度(θ)をリセットする。その後、非球面レンズ120の裏面122にプローブ170を接触させる。次に、先端球171の接触圧が一定となるように制御する。そして、形状測定データ(xm,zm,θm)(m=1,2,3・・・)を取得する。また、測定用治具100の第2の基準平面部112hにプローブ170を接触させる。そして、形状測定データ(xhn,zhn,θhn)(n=1,2,3・・・)を取得する。さらに、測定用治具100の第2の基準球面部112rにプローブ170を接触させる。そして、形状測定データ(xrn,zrn,θrn)(n=1,2,3・・・)を取得する。このように、非球面120の裏面122と第2の基準平面部112hと第2の基準球面部112rとを、測定用治具100のセッティングを変えることなく測定している。従って、裏面122の形状測定データと第2の基準平面部112hと第2の基準球面部112rとの形状測定データとは、同一測定座標での測定データとして扱うことができる。
In step S724, when the
ステップS725において、ステップS722で取得した第1の基準平面部111hの形状測定データ(xhk,zhk,θhk)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xhk,Yhk,Zhk)に変換する。そして、測定データ(Xhk,Yhk,Zhk)を座標変換して第1の基準平面部111hの形状誤差データ(Xhk,Yhk,ΔZhk)を算出する。これより、第1の基準平面部111hの座標変換量(αk,βk)を得ることができる。次に、第1の基準球面部111rの形状測定データ(xrk,zrk,θrk)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xrk,Yrk,Zrk)に変換する。そして、第1の基準平面部111hの座標変換量の回転移動量(αk,βk)を回転移動量として、測定データ(Xrk,Yrk,Zrk)を座標変換して、第1の基準平面部111hの形状誤差データ(Xrk,Yrk,ΔZrk)を算出する。これより、第1の基準球面部111rの座標変換量(Ak,Bk,Ck)を得ることができる。そして、第1の基準面111の測定データの座標変換量(Ak,Bk,Ck,αk,βk)を、第13の座標変換量として記憶する。
In step S725, the shape measurement data (xhk, zhk, θhk) of the first
ここで、
Akは、第1の基準面111の測定データのX軸方向の並進移動量、
Bkは、第1の基準面111の測定データのY軸方向の並進移動量、
Ckは、第1の基準面111の測定データのZ軸方向の並進移動量、
αkは、第1の基準面111の測定データのX軸周りの回転移動量、
βkは、第1の基準面111の測定データのY軸周りの回転移動量である。
here,
Ak is the amount of translational movement in the X-axis direction of the measurement data of the
Bk is the amount of translational movement in the Y-axis direction of the measurement data of the
Ck is the amount of translational movement in the Z-axis direction of the measurement data of the
αk is a rotational movement amount around the X axis of the measurement data of the
βk is a rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the
次に、ステップS726において、ステップS724で取得した第2の基準平面部112hの形状測定データ(xhn,Zhn,θhn)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xhn,Yhn,Zhn)に変換する。そして、測定データ(Xhn,Yhn,Zhn)を座標変換して、第2の基準平面部112hの形状誤差データ(Xhn,Yhn,ΔZhn)を算出する。これより、第2の基準平面部112hの座標変換量(αn,βn)を得ることができる。
Next, in step S726, the shape measurement data (xhn, Zhn, θhn) of the second
次に、第2の基準球面部112rの形状測定データ(xrn,Zrn,θrn)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xrn,Yrn,Zrn)に変換する。そして、第2の基準平面部112hの座標変換量の回転移動量(αn,βn)を回転移動量として、測定データ(Xrn,Yrn,Zrn)を座標変換して、第2の基準球面部112rの形状誤差データ(Xrn,Yrn,ΔZrn)を算出する。これより、第2の基準球面部112rの座標変換量(An,Bn,Cn)を得ることができる。そして、第2の基準面112の測定データの座標変換量(An,Bn,Cn,αn,βn)を、第14の座標変換量として記憶する。
Next, the shape measurement data (xrn, Zrn, θrn) of the second reference
ここで、
Anは、第2の基準面112の測定データのX軸方向の並進移動量、
Bnは、第2の基準面112の測定データのY軸方向の並進移動量、
Cnは、第2の基準面112の測定データのZ軸方向の並進移動量、
αnは、第2の基準面112の測定データのX軸周りの回転移動量、
βnは、第2の基準面112の測定データのY軸周りの回転移動量である。
here,
An is the amount of translational movement in the X-axis direction of the measurement data of the
Bn is the translational movement amount in the Y-axis direction of the measurement data of the
Cn is the amount of translational movement in the Z-axis direction of the measurement data of the
αn is the amount of rotational movement around the X-axis of the measurement data of the
βn is the rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the
次に、ステップS727において、ステップS725で算出した第13の座標変換量と、ステップS726で算出した第14の座標変換量とを用いて、非球面レンズ120の表面121と裏面122の形状測定データを補正する。ここで、非球面レンズ120の表面121と裏面122の測定データを、同一座標系で評価する必要がある。このため、ステップS726で算出した第14の座標変換量(An,Bn,Cn,αn,βn)について、測定座標系を反転させる。具体的には、Y軸方向およびZ軸方向の並進移動量とY軸周りの回転移動量の符号を反転して、新たな第14の座標変換量(An,−Bn,−Cn,αn,−βn)とする。
Next, in step S727, using the thirteenth coordinate transformation amount calculated in step S725 and the fourteenth coordinate transformation amount calculated in step S726, the shape measurement data of the
さらに、ステップS722で取得した非球面レンズ120の表面121の形状測定データ(xj,zj,θj)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xj,Yj,Zj)に変換する。この測定データ(Xj,Yj,Zj)を第13の座標変換量(Ak,Bk,Ck,αk,βk)を用いて座標変換する。座標変換した後のデータを測定データ(Xj´,Yj´,Zj´)とする。また、ステップS724で取得した非球面レンズ120の裏面122の形状測定データ(xm,zm,θm)を、XYZ直交座標系の測定データ(Xm,Ym,Zm)に変換する。測定データ(Xm,Ym,Zm)を第14の座標変換量(An,−Bn,−Cn,αn,−βn)を用いて座標変換する。座標変換した後のデータを測定データ(Xm´,Ym´,Zm´)とする。これにより、表面121の測定データと裏面122の測定データとを同一座標系のデータとすることができる。
Further, the shape measurement data (xj, zj, θj) of the
ステップS728において、ステップ719で算出した基準面形状誤差の座標変換量(Ai,Bi,Ci,αi,βi)と、ステップS727で算出した非球面レンズ120の表面121の測定データ(Xj´,Yj´,Zj´)と裏面122の測定データ(Xm´,Ym´,Zm´)とから、第1の基準面111の基準軸と第2の基準面112の基準軸との不一致を補正した上で、表面121と裏面122との相対位置関係を含めた非球面レンズ120の3次元形状を算出する。
In step S728, the reference surface shape error coordinate conversion amount (Ai, Bi, Ci, αi, βi) calculated in step 719 and the measurement data (Xj ′, Yj) of the
表面121と裏面122との相対位置関係を求めるために、表面121の非球面軸と裏面122の非球面軸との相対位置関係とを求める必要がある。非球面軸の相対位置関係は、例えば、以下のようにして求める。裏面122の測定データ(Xm´,Ym´,Zm´)を、基準面形状誤差の座標変換量(Ai,Bi,Ci,αi,βi)を用いて座標変換する。座標変換した後のデータを、新たな裏面122の測定データ(Xm´,Ym´,Zm´)とする。
In order to determine the relative positional relationship between the
こうして、第1の基準面111の基準軸と第2の基準面112の基準軸の不一致を補正した、表面121の測定データ(Xj´,Yj´,Zj´)と裏面122の測定データ(Xm´,Ym´,Zm´)が得られ、表面121と裏面122の相対位置を求めることが出来る。また、被測定面である非球面120の表面121の非球面軸(すなわち、形状の基準軸)と、裏面122の非球面軸の相対位置関係を求める場合には、例えば以下のような演算により求めることが出来る。
In this way, the measurement data (Xj ′, Yj ′, Zj ′) of the
被測定面である非球面120の表面121の設計形状データと、この非球面の測定データの間の誤差が最小となるように測定データを座標変換して、表面121の形状誤差データ(Xj´,Yj´,ΔZj´)を算出する。同様にして、裏面122の形状誤差データ(Xm´,Ym´,ΔZm´)を算出する。これらの算出には、最小二乗法やニュートン法等既知の方法を使用することができる。
The measurement data is coordinate-transformed so that the error between the design shape data of the
この座標変換の結果から、表面121の設計形状データに対する表面121の測定データの座標変換量(Aj,Bj,Cj,αj,βj)が求められる。ここで、
Ajは、表面121の測定データのX軸方向の並進移動量、
Bjは、表面121の測定データのY軸方向の並進移動量、
Cjは、表面121の測定データのZ軸方向の並進移動量、
αjは、表面121の測定データのX軸周りの回転移動量、
βjは、表面121の測定データのY軸周りの回転移動量である。
From the result of this coordinate conversion, the coordinate conversion amount (Aj, Bj, Cj, αj, βj) of the measurement data of the
Aj is the amount of translational movement in the X-axis direction of the measurement data of the
Bj is the amount of translational movement in the Y-axis direction of the measurement data of the
Cj is the amount of translational movement in the Z-axis direction of the measurement data of the
αj is a rotational movement amount around the X axis of the measurement data of the
βj is a rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the
同様にして、裏面122の測定データの座標変換量(Am,Bm,Cm,αm,βm)が求められる。ここで、
Amは、裏面122の測定データのX軸方向の並進移動量、
Bmは、裏面122の測定データのY軸方向の並進移動量、
Cmは、裏面122の測定データのZ軸方向の並進移動量、
αmは、裏面122の測定データのX軸周りの回転移動量、
βmは、裏面122の測定データのY軸周りの回転移動量である。
Similarly, coordinate conversion amounts (Am, Bm, Cm, αm, βm) of the measurement data on the
Am is the translation amount of the measurement data of the
Bm is the amount of translational movement in the Y-axis direction of the measurement data of the
Cm is the amount of translational movement in the Z-axis direction of the measurement data of the
αm is the rotational movement amount around the X axis of the measurement data of the
βm is the rotational movement amount around the Y axis of the measurement data of the
表面121の座標変換量(Aj,Bj,Cj,αj,βj)と裏面122の座標変換量(Am,Bm,Cm,αm,βm)から、表面121の非球面軸に対する裏面122の非球面軸の相対的な位置関係を求めることができる。
From the coordinate transformation amount (Aj, Bj, Cj, αj, βj) of the
本実施例に係る測定用治具を用いることで、プローブと、プローブの位置制御を行なう駆動機構と、プローブの位置座標を測定するための測長器とを、それぞれ1つ準備すれば良い。このため、装置構成を簡素化し、装置を小型化できる。 By using the measuring jig according to the present embodiment, one probe, a driving mechanism for controlling the position of the probe, and one length measuring device for measuring the position coordinates of the probe may be prepared. For this reason, the apparatus configuration can be simplified and the apparatus can be miniaturized.
また、測定用治具100を、本実施例のようにRθ走査方式の形状測定方法に用いたとき、被測定面の形状はエアースピンドル130の回転軸に対して回転対称な形状となる。このため、走査速度を速くすることができる。この結果、測定時間を短縮できる。さらに、被測定物の表面と裏面の相対位置関係を高精度に求めることができる。
Further, when the measuring
さらに、測定用治具100の製作誤差により、第1の基準面111の基準軸AX1と第2の基準面112の基準軸AX2とが不一致となる場合がある。しかしながら、基準平行平面140の平行度と、基準球150の真球度とは、第1の基準面111の基準軸AX1と第2の基準面112の基準軸AX2を一致させることに比較して、製造精度を高めやすい。また、基準平行平板140や基準球150は、製造費用も安価にできる。従って、本実施例によれば、基準平行平面140と基準球150という2つの基準物を測定することで、第1の基準面111の基準軸AX1と第2の基準面112の基準軸AX2との不一致による測定誤差を低減できる。この結果、高精度に被測定物の表面と裏面の形状と相対的な位置関係を測定できる。
Furthermore, the reference axis AX1 of the
特に、本実施例では、基準面形状誤差の座標変換量は、2つの座標変換の結果に基づいて算出されている。第1の座標変換は、基準平面部の測定データを用いて、Z軸に沿った並進移動と、X軸とY軸の周りの2つの回転移動とをパラメータとして座標変換するものである。第2の座標変換は、基準球面部の測定データを用いて、X軸とY軸とZ軸とに沿った3つの並進移動をパラメータとして座標変換するものである。 In particular, in this embodiment, the coordinate conversion amount of the reference surface shape error is calculated based on the result of two coordinate conversions. In the first coordinate conversion, coordinate conversion is performed using the measurement data of the reference plane portion as parameters for translational movement along the Z axis and two rotational movements about the X and Y axes. In the second coordinate transformation, coordinate transformation is performed using three translational movements along the X, Y, and Z axes as parameters using measurement data of the reference spherical surface portion.
ここで、X軸に沿った並進移動とY軸の周りの回転移動、またはY軸に沿った並進移動とX軸の周りの回転移動とは、それぞれ独立したパラメータではない。例えば、Y軸の周りの回転移動を行うと、測定データはX軸に沿った並進移動も同時にする。このため、X軸に沿った並進移動とY軸の周りの回転移動、またはY軸に沿った並進移動とX軸の周りの回転移動を、1つの測定データから求めるよりも、別の測定データから個々に求めるほうが、座標変換の自由度が減る。これにより、測定時の微小なノイズ等の外乱による座標変換量の誤差を低減できる。 Here, the translational movement along the X axis and the rotational movement around the Y axis, or the translational movement along the Y axis and the rotational movement around the X axis are not independent parameters. For example, when a rotational movement around the Y axis is performed, the measurement data simultaneously translates along the X axis. For this reason, rather than obtaining translational movement along the X-axis and rotational movement around the Y-axis, or translational movement along the Y-axis and rotational movement around the X-axis from another measurement data, The degree of freedom of coordinate transformation is reduced by obtaining each from the above. Thereby, it is possible to reduce an error in the coordinate conversion amount due to disturbance such as minute noise during measurement.
従って、本実施例では、測定時の微小なノイズ等の外乱による測定誤差が生じにくい。この結果、高精度に被測定物の表面と裏面との相対的な位置関係を測定できるという効果を奏する。 Therefore, in this embodiment, measurement errors due to disturbances such as minute noise during measurement are less likely to occur. As a result, the relative positional relationship between the front surface and the back surface of the object to be measured can be measured with high accuracy.
(変形例)
次に、本実施例の測定用治具を用いる3次元形状測定の変形例について説明する。上記説明では、基準物として基準平行平面140と基準球150との2つの部材を用いている。しかしながら、基準物は、基準軸を決定できる形状を有していれば、これらに限定されない。図8−1は、基準物の第1の変形例の断面構成を示す。なお、測定用治具100は上述の実施例1と同じものを用いる。図8−1において、基準物1101は、基準平行平面1111、1112と、基準球1121、1122とからなる軸対称形状を有する。基準平行平面1111、1112は周辺部に形成されている。基準球1121、1122は中心部に形成されている。
(Modification)
Next, a modification of the three-dimensional shape measurement using the measurement jig of this embodiment will be described. In the above description, two members of the reference
図8−2は、基準物の第2の変形例の断面構成を示す。基準物1102は、基準平行平面1131、1132と、2次曲線からなる基準2次曲面1141、1142とからなる軸対称形状を有する。基準平行平面1131、1132は周辺部に形成されている。基準2次曲面1141、1142は中心部に形成されている。以下、2次曲面とは、光軸に沿う方向の断面において、2次曲面に相当する部分の断面形状が2次曲線となっている面のことをいう。2次曲線の例は、円、放物線、または楕円等である。
FIG. 8-2 shows a cross-sectional configuration of a second modification of the reference object. The
図8−3は、基準物の第3の変形例の断面構成を示す。基準物1103は、2次曲面からなる基準2次曲面1151、1152であり、軸対称形状を有する。これら変形例によれば、1つの基準物1101、1102、1103を測定すればよい。このため、測定用治具100への基準物の保持、取り外しの工程を低減できる。このため、測定時間を短縮できるという効果を奏する。このように、基準物の構成は、様々な変形例をとることができる。
FIG. 8-3 shows a cross-sectional configuration of a third modification of the reference object. The reference object 1103 is a reference quadratic
また、上述の測定手順では、ステップS701〜S728を連続して行なっている。しかしながら、この手順には限られない。例えば、ステップS701〜S719を初めに行なう。次に、測定用治具100の基準面形状誤差の座標変換量をあらかじめ求めておき、記憶する。そして、通常の被検物に対する測定時は、ステップS720〜S728のみを行う。このとき、ステップS728では、予め記憶してある基準面形状誤差の座標変換量を用いる。
In the measurement procedure described above, steps S701 to S728 are continuously performed. However, it is not limited to this procedure. For example, steps S701 to S719 are performed first. Next, the coordinate conversion amount of the reference plane shape error of the measuring
また、各ステップは必ずしも上述のように説明した順番で行う必要はない。例えば、ステップS720〜S727、ステップS701〜S719、そしてステップS728の順番でも良い。さらに、ステップS706〜S710、ステップS715〜S719、ステップS701〜S705、ステップS711〜S714、そしてステップS720〜S728の順番でもよい。 Also, the steps need not necessarily be performed in the order described above. For example, the order of steps S720 to S727, steps S701 to S719, and step S728 may be used. Furthermore, the order of steps S706 to S710, steps S715 to S719, steps S701 to S705, steps S711 to S714, and steps S720 to S728 may be used.
さらに、本実施例では、基準平行平板140の平行度誤差は、略0(ゼロ)とみなしている。しかしながら、実際に平行度を測定しても良い。例えば、光電コリメータ等の高精度な測定器を用いて、基準平行平板140の平行度を測定しておく。そして、その測定値を基準面形状誤差の座標変換量に加えて、より高精度な3次元形状測定を行うこともできる。
Further, in this embodiment, the parallelism error of the reference
同様に、本実施例では、基準球150の表面151の曲率中心と裏面152の曲率中心とは一致するとみなしている。しかしながら、実際に基準球150を測定しても良い。例えば、オートコリメーション法等の高精度な測定手法を用いて、基準球150の表面151の曲率中心と裏面152の曲率中心との不一致を測定する。そして、その測定値を基準面形状誤差の座標変換量に加えて、より高精度な3次元形状測定を行っても良い。
Similarly, in this embodiment, it is assumed that the center of curvature of the
次に、実施例2に係る測定用治具200について説明する。図9−1は、測定用治具200の断面構成を示す。図9−1において、第1の基準面211は、第1の基準平面部211hと第1の基準球面部211rとからなる軸対称形状を有する。また、第2の基準面212は、第2の基準平面部212hと第2の基準球面部212rとからなる軸対称形状を有する。第1の基準球面部211rは、基準軸113に対して第1の基準平面部211hよりも近い側に形成されている。また、第2の基準球面部212rは、基準軸113に対して第2の基準平面部212hよりも近い側に形成されている。
Next, the
ここで、図9−1において、第1の基準球面部211rの右側の円弧の曲率中心位置と、左側の円弧の曲率中心位置とは一致していない。このため、第1の基準球面部211rの断面は、基準軸113を中心として断面が円環(ドーナツ)形状の一部である。また、これに限られず、第1の基準球面部211rの右側の円弧の曲率中心位置と、左側の円弧の曲率中心位置とを一致させても良い。このように、XZ断面における基準球面部の曲率中心位置は一致させること、一致させないことの何れでも良い。このことは、全ての基準球面部について同様である。
In FIG. 9A, the curvature center position of the right arc of the first reference
図9−2は、本実施例の第1の変形例である測定用治具300の断面構成を示す。図9−2において、第1の基準面311は、第1の基準平面部311hと第1の基準球面部311rとからなる軸対称形状を有する。また、第2の基準面312は、第2の基準平面部312hと第2の基準球面部312rとからなる軸対称形状を有する。第1の基準球面部311rは、第1の基準軸113に対して第1の基準平面部311hよりも近い側に形成されている。第2の基準球面部312rは、基準軸113に対して第2の基準平面部312hよりも遠い側に形成されている。
FIG. 9-2 shows a cross-sectional configuration of a measuring
図9−3は、本実施例の第2の変形例である測定用治具400の断面構成を示す。図9−3において、第1の基準面411は、第1の基準平面部411hと第1の基準球面部411rとからなる軸対称形状を有する。また、第2の基準面412は、第2の基準平面部412hと第2の基準球面部412rとからなる軸対称形状を有する。第1の基準球面部411rは、第1の基準軸113に対して第1の基準平面部411hよりも近い側に形成されている。第2の基準球面部412rは、基準軸113に対して第2の基準平面部412hよりも遠い側に形成されている。そして、本変形例では、測定用治具400の一方の面には、第1の基準平面部411hよりも所定量だけ大きい高さのフランジ部401が形成されている。また、測定用治具400の他方の面には、第2の基準平面部412hよりも所定量だけ大きい高さのフランジ部402が形成されている。測定用治具400をステージや作業台等に載置したときに、これらフランジ部401、402がステージ等に接触する。これにより、第1の基準面411や第2の基準面412が直接ステージ等に接触して破損することを防止できるという効果を奏する。
FIG. 9-3 shows a cross-sectional configuration of a
図9−4は、本実施例の第3の変形例である測定用治具500の断面構成を示す。図9−4において、第1の基準面511は、第1の基準平面部511hと第1の基準球面部511rとからなる軸対称形状を有する。また、第2の基準面512は、第2の基準平面部512hと第2の基準球面部512rとからなる軸対称形状を有する。第1の基準球面部511rは、第1の基準軸113に対して第1の基準平面部511hよりも遠い側に形成されている。第2の基準球面部512rは、基準軸113に対して第2の基準平面部512hよりも遠い側に形成されている。そして、測定用治具500の一方の面には、第1の基準平面部511hよりも所定量だけ大きい高さのフランジ部501が形成されている。また、測定用治具500の他方の面には、第2の基準平面部512hよりも所定量だけ大きい高さのフランジ部502が形成されている。測定用治具500をステージや作業台等に載置したときに、これらフランジ部501、502がステージ等に接触する。これにより、第1の基準面511や第2の基準面512が直接ステージ等に接触して破損することを防止できるという効果を奏するのは、第2の変形例と同様である。
FIG. 9-4 shows a cross-sectional configuration of a
そして、本変形例では、回転方向(θ)のリセット(原点)位置を設定するための円柱状のシャフト117の代わりに、表面から裏面に貫通した位置決め用穴503を備える。そして、エアースピンドル130の回転部131にも位置決め用穴を設ける(図示せず)。測定用治具500をエアースピンドル130の回転部131に取付ける際に、測定用治具500の位置決め用穴503と、回転部131の位置決め用穴にあわせた状態で、両者の位置決め用穴に位置決め用ピン(図示せず)を挿入しながら取付ける。位置決め用穴は貫通しているので、表面測定時も裏面測定時も、回転部131に対する測定用治具500の位置を常に一定にすることができる。これにより、シャフト117を利用して回転方向(θ)のリセット(原点)位置を設定するのと同等の効果が得られる。
In this modification, a
また、測定用治具の他の変形例として、基準平面部と2次曲面からなる基準2次曲面部とを備える構成でも良い。加えて、さらに他の変形例として、基準面として2次曲面からなる基準2次曲面部のみを備える構成とすることもできる。 Further, as another modification of the measuring jig, a configuration including a reference flat surface portion and a reference secondary curved surface portion formed of a secondary curved surface may be used. In addition, as another modified example, a configuration may be provided in which only a reference quadric surface portion made of a quadric surface is provided as a reference surface.
また、上記各実施例では、回転方向(θ)のリセット(原点)位置を設定するために円柱状のシャフト117を用いている。リセット位置を設定するための検出部材としては、板、角柱、または球形状でも良い。さらに、近接センサー160を用いた例を説明しているが、検出部材を用いて測定用治具がθ方向の所定の位置に来たことを検出できれば、いかなる構成のセンサーでも良い。加えて、シャフトの代わりに、測定用治具の表面に細線などのマーキング(指標)を形成する構成でも良い。マーキングは、基準面の形状を測定するときに、マーキングの位置が検出できれば良い。従って、プローブ170による基準面の測定時に支障を生じない程度に細く、浅く形成することが望ましい。さらに、検出部は、測定用治具の回転(θ)方向の基準位置(原点)を検出できれば、どのような形状、手段でもよい。
In each of the above embodiments, the
また、実施例2の第3の変形例に示すように、検出部を備えなくても、エアースピンドル130の回転部131及びロータリーエンコーダに対する、測定用治具の取付け位置がわかればよい。例えば、実施例2の第3の変形例では、表面から裏面に貫通した位置決め用穴を設けているが、必ずしも貫通している必要はない。表面と裏面の同じ位置に貫通しない位置決め穴を設けてもよいし、異なる位置に貫通する位置決め穴を設けて、その位置の差を測定顕微鏡等で測定してもよい。また、測定用治具とエアースピンドル130の回転部131にマーキング(指標)を形成し、両者のマーキングが一致するように取付けても同等の効果が得られる。さらに、測定用治具のスピンドル130の回転部131及びロータリーエンコーダに対する位置を判別することができれば、いかなる方法を用いてもよい。
Further, as shown in the third modified example of the second embodiment, it is only necessary to know the mounting position of the measurement jig with respect to the
さらに、上記各実施例は、Rθ走査方式を例に説明している。しかしながら、本発明は、XY走査方式の3次元形状測定方法にも適用できる。また、形状測定用のプローブとして接触式のプローブ170を用いている。本発明では、接触式のプローブに代えて、公知の光プローブを被測定面との距離を一定に保ちながら走査する非接触式プローブであっても良い。このように、本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形をとることができる。
Further, each of the above embodiments has been described by taking the Rθ scanning method as an example. However, the present invention can also be applied to an XY scanning type three-dimensional shape measuring method. Further, a
以上のように、本発明に3次元形状測定方法は、レンズ等の表面と裏面との形状と相対的な位置関係を測定するときに有用である。 As described above, the three-dimensional shape measuring method of the present invention is useful when measuring the relative positional relationship between the shape of the front surface and the back surface of a lens or the like.
100 測定用治具
111 第1の基準面
111h 第1の基準平面部
111r 第1の基準球面部
112 第2の基準面
112h 第2の基準平面部
112r 第2の基準球面部
113 基準軸
114 保持部
115 第1の開口部
116 第2の開口部
117 シャフト
118 外周部
120 非球面レンズ
121 表面
122 裏面
130 エアースピンドル
131 回転部
132 回転支持部
133 回転軸
140 平行平面
141 表面
142 裏面
150 基準球
151 表面
152 裏面
160 近接センサー
170 プローブ
171 先端球
200 測定用治具
211 第1の基準面
211h 第1の基準平面部
211r 第1の基準球面部
212 第2の基準面
212h 第2の基準平面部
212r 第2の基準球面部
300 測定用治具
311 第1の基準面
311h 第1の基準平面部
311r 第1の基準球面部
312 第2の基準面
312h 第2の基準平面部
312r 第2の基準球面部
400 測定用治具
401 フランジ部
402 フランジ部
411 第1の基準面
411h 第1の基準平面部
411r 第1の基準球面部
412 第2の基準面
412h 第2の基準平面部
412r 第2の基準球面部
500 測定用治具
501 フランジ部
502 フランジ部
503 位置決め用穴
511 第1の基準面
511h 第1の基準平面部
511r 第1の基準球面部
512 第2の基準面
512h 第2の基準平面部
512r 第2の基準球面部
1101 基準物
1111、1112 基準平行平面
1121、1122 基準球
1102 基準物
1131,1132 基準平行平面
1141,1142 基準2次曲面
1103 基準物
1151,1152 基準2次曲面
AX1、AX2 基準軸
11 θステージ
12 非球面レンズ
12a 表面
12b 裏面
13a、13b プローブ
14a、14b レーザー測長器
21 レンズ
21a 表面
21b 裏面
22 測定用治具
23 位置決め球
31 非球面レンズ
32 測定用治具
32a 平面部分
32b エッジ部分
33 プローブ
100 Measurement Jig 111 First Reference Surface 111h First Reference Plane Part 111r First Reference Spherical Part 112 Second Reference Plane 112h Second Reference Plane Part 112r Second Reference Spherical Part 113 Reference Axis 114 Holding Part 115 First opening part 116 Second opening part 117 Shaft 118 Outer peripheral part 120 Aspherical lens 121 Front surface 122 Rear surface 130 Air spindle 131 Rotating part 132 Rotating support part 133 Rotating shaft 140 Parallel plane 141 Front surface 142 Back surface 150 Reference sphere 151 Front surface 152 Back surface 160 Proximity sensor 170 Probe 171 Tip sphere 200 Measuring jig 211 First reference surface 211h First reference plane portion 211r First reference spherical portion 212 Second reference surface 212h Second reference plane portion 212r Second reference spherical surface portion 300 Measuring jig 311 First Reference surface 311h First reference plane portion 311r First reference spherical surface portion 312 Second reference surface 312h Second reference plane portion 312r Second reference spherical surface portion 400 Measuring jig 401 Flange portion 402 Flange portion 411 First 1 reference surface 411h first reference plane portion 411r first reference spherical surface portion 412 second reference surface 412h second reference plane portion 412r second reference spherical surface portion 500 measuring jig 501 flange portion 502 flange portion 503 Positioning hole 511 First reference plane 511h First reference plane section 511r First reference spherical section 512 Second reference plane 512h Second reference plane section 512r Second reference spherical section 1101 Reference object 1111, 1112 Reference Parallel plane 1121, 1122 Reference sphere 1102 Reference object 1131, 1132 Reference parallel plane 1141, 11 42 Reference secondary curved surface 1103 Reference object 1151, 1152 Reference secondary curved surface AX1, AX2 Reference axis 11 θ stage 12 Aspherical lens 12a Surface 12b Back surface 13a, 13b Probe 14a, 14b Laser length measuring device 21 Lens 21a Surface 21b Back surface 22 Measurement Jig 23 Positioning sphere 31 Aspherical lens 32 Jig for measurement 32a Plane portion 32b Edge portion 33 Probe
Claims (5)
前記一方の面に形成され、前記第1の基準軸を中心とした軸対称な形状の球面からなる第1の基準球面部と、
第2の基準軸と略直交する平面からなり、他方の面に形成され、前記第2の基準軸を中心とした軸対称な形状の第2の基準平面部と、
他方の面に形成され、前記第2の基準軸を中心とした軸対称な形状の球面からなる第2の基準球面部と、
被測定物の表面と裏面とが露出するように保持する保持部と、回転角度の原点を設定するための検出部とを有することを特徴とする測定用治具。 A first reference plane portion having a plane substantially orthogonal to the first reference axis, formed on one surface, and having an axisymmetric shape about the first reference axis;
A first reference spherical surface formed of a spherical surface having an axisymmetric shape around the first reference axis and formed on the one surface;
A second reference plane portion having a plane substantially orthogonal to the second reference axis, formed on the other surface, and having an axisymmetric shape about the second reference axis;
A second reference spherical surface portion formed of a spherical surface having an axisymmetric shape around the second reference axis, the second reference spherical surface portion being formed on the other surface;
A measuring jig, comprising: a holding unit that holds the surface and the back surface of an object to be measured exposed; and a detection unit that sets an origin of a rotation angle.
前記第2の基準球面部は、前記第2の基準軸に対して前記第2の基準平面部よりも遠い側に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の測定用治具。 The first reference spherical surface portion is formed on a side farther than the first reference plane portion with respect to the first reference axis,
The measurement jig according to claim 1, wherein the second reference spherical surface portion is formed on a side farther than the second reference plane portion with respect to the second reference axis.
前記第2の基準球面部は、前記第2の基準軸に対して前記第2の基準平面部よりも近い側に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の測定用治具。 The first reference spherical surface portion is formed on a side closer to the first reference axis than the first reference plane portion,
The measurement jig according to claim 1, wherein the second reference spherical surface portion is formed on a side closer to the second reference axis than the second reference plane portion.
前記第2の基準球面部は、前記第2の基準軸に対して前記第2の基準平面部よりも遠い側に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の測定用治具。 The first reference spherical surface portion is formed on a side closer to the first reference axis than the first reference plane portion,
The measurement jig according to claim 1, wherein the second reference spherical surface portion is formed on a side farther than the second reference plane portion with respect to the second reference axis.
前記第2の基準平面部よりも所定量だけ大きい高さの第2フランジ部とをさらに有することを特徴とする請求項1に記載の測定用治具。
A first flange portion having a height larger than the first reference plane portion by a predetermined amount;
The measurement jig according to claim 1, further comprising a second flange portion having a height larger than the second reference plane portion by a predetermined amount.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004311587A JP4520276B2 (en) | 2004-10-26 | 2004-10-26 | Measuring jig |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004311587A JP4520276B2 (en) | 2004-10-26 | 2004-10-26 | Measuring jig |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006125893A JP2006125893A (en) | 2006-05-18 |
JP4520276B2 true JP4520276B2 (en) | 2010-08-04 |
Family
ID=36720792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004311587A Active JP4520276B2 (en) | 2004-10-26 | 2004-10-26 | Measuring jig |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4520276B2 (en) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4986530B2 (en) * | 2006-08-02 | 2012-07-25 | パナソニック株式会社 | Shape measuring method and measuring jig |
JP5286699B2 (en) * | 2007-06-21 | 2013-09-11 | 日本精工株式会社 | Article shape measuring method and measuring apparatus |
JP5059699B2 (en) * | 2008-06-26 | 2012-10-24 | 株式会社ミツトヨ | DUT shape measuring jig and three-dimensional shape measuring method |
DE102014007201B4 (en) | 2014-05-19 | 2016-03-10 | Luphos Gmbh | Device and method for geometric measurement of an object |
DE102014007203A1 (en) * | 2014-05-19 | 2015-11-19 | Luphos Gmbh | Device and method for geometric measurement of an object |
JP6456087B2 (en) * | 2014-09-25 | 2019-01-23 | キヤノン株式会社 | Shape measuring apparatus and shape measuring method |
JP6496924B2 (en) * | 2015-03-17 | 2019-04-10 | 株式会社ハーモニック・ドライブ・システムズ | Shape measuring method and shape measuring apparatus for cylindrical part of workpiece |
TWI651157B (en) * | 2018-01-31 | 2019-02-21 | 揚明光學股份有限公司 | Coordinate measuring system and its fixture |
CN116147464B (en) * | 2023-04-14 | 2023-07-04 | 青岛迈朗格智能制造有限公司 | Quality detection equipment for automobile part production and delivery |
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Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3524385B2 (en) * | 1998-05-29 | 2004-05-10 | キヤノン株式会社 | 3D shape measuring device |
-
2004
- 2004-10-26 JP JP2004311587A patent/JP4520276B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006125893A (en) | 2006-05-18 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140528 Year of fee payment: 4 |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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