JP4517757B2 - Waveform measuring device - Google Patents
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 32
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N [(2s,3r,6r)-6-[5-[5-hydroxy-3-(4-hydroxyphenyl)-4-oxochromen-7-yl]oxypentoxy]-2-methyl-3,6-dihydro-2h-pyran-3-yl] acetate Chemical compound C1=C[C@@H](OC(C)=O)[C@H](C)O[C@H]1OCCCCCOC1=CC(O)=C2C(=O)C(C=3C=CC(O)=CC=3)=COC2=C1 RRLHMJHRFMHVNM-BQVXCWBNSA-N 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
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- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
Description
本発明は、複数の入力チャネルのそれぞれに割り当てられた測定部で測定した波形データのうち、所望の2チャネルの波形データの一方をX軸データとし、他方の波形データをY軸データとして、表示部の表示画面にX−Y波形を表示する波形測定装置に関し、詳しくは、X−Y波形の解析を容易に行なうことができる波形測定装置に関するものである。 The present invention displays one of the desired two channels of waveform data as X-axis data and the other waveform data as Y-axis data among the waveform data measured by the measurement units assigned to each of the plurality of input channels. More particularly, the present invention relates to a waveform measuring apparatus that can easily analyze an XY waveform.
波形測定装置(例えば、デジタルオシロスコープやペーパーレスレコーダ等)は、被測定波形を測定してデジタル信号の波形データに変換し、波形メモリに格納する。そして、波形メモリに格納した波形データの解析を行うと共に、この解析結果および波形データを表示処理部を介して表示部の表示画面に波形表示するように構成されたものであり、各種分野の研究開発、品質管理、保守作業等において広く使用されている(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。
A waveform measurement device (for example, a digital oscilloscope or a paperless recorder) measures a waveform to be measured, converts it into waveform data of a digital signal, and stores it in a waveform memory. The waveform data stored in the waveform memory is analyzed, and the analysis results and waveform data are displayed on the display screen of the display unit via the display processing unit. Widely used in development, quality control, maintenance work, etc. (see, for example,
図7は、従来の波形測定装置の構成を示した図である。図7において、入力チャネルCH1〜CH4は、被測定波形が入力される。測定部1は、入力チャネルCH1〜CH4のそれぞれに設けられ、入力チャネルCH1〜CH4からの被測定波形が入力され、波形データを出力する。なお、装置に入力される被測定波形を入力波形と呼ぶ。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a conventional waveform measuring apparatus. In FIG. 7, a measured waveform is input to input channels CH1 to CH4. The
波形メモリ2は、波形データ記憶部であり、測定部1が出力する波形データを格納する。操作制御部3は、ユーザが装置に対して行なう操作を受け付け、操作内容(測定条件、表示条件等)を出力する。なお、ユーザは例えば、装置前面に設けられるパネルキーやロータリーノブ、装置に接続されるマウスやキーボード等を操作する。
The
ROM(Read Only Memory)4は、装置を動作させるプログラムを格納する。RAM(Random Access Memory)5は、波形データや操作内容等の各種データを一時的に格納する。表示部6は、波形データの波形表示や、波形データの解析結果の表示等を行なう。
A ROM (Read Only Memory) 4 stores a program for operating the apparatus. A RAM (Random Access Memory) 5 temporarily stores various data such as waveform data and operation contents. The
トリガ検出部7は、測定部1からの波形データによって、波形データを波形メモリ2に格納するタイミングを検出し、波形メモリ2にトリガ信号を出力する。CPU(Central Processing Unit)8は、ROM4、RAM5に接続され、ROM4のプログラムを読み出し、このプログラムに従って装置全体を制御する。また、操作制御部3の操作内容に従って、トリガ検出部7にトリガ条件を設定したり、波形メモリ2から波形データを読み出して表示部6の表示画面に波形表示や解析結果の表示等を行なう。
The trigger detection unit 7 detects the timing at which the waveform data is stored in the
このような装置の動作を説明する。
測定部1のそれぞれが、入力チャネルCH1〜CH4の入力波形を、測定部1に設けられるAD変換器でデジタル信号に変換して波形データとして波形メモリ2に出力する。また、トリガ検出部7が、予め設定されたトリガ条件となる入力波形を検出すると、トリガ信号を波形メモリ2に出力する。このトリガ信号に従って、波形メモリ2が所望の波形データを格納する。
The operation of such an apparatus will be described.
Each of the
そして、CPU8が操作制御部3からの操作内容に従って波形メモリ2の波形データを読み出し、RAM5に波形データや操作内容を一時格納してデータ処理を行い、表示処理部(図示せず)を介して表示部6の表示画面に波形表示や波形解析の結果を表示させる。
Then, the CPU 8 reads the waveform data in the
波形表示の方法は、X軸(横軸)データを時間とし、Y軸(縦軸)データを各チャネルCH1〜CH4の振幅値である電圧値とするt−Y座標上に波形表示(t−Y波形と呼ぶ)するものがある。 The waveform display method is such that the waveform is displayed on the t-Y coordinate (t− Some of them are called Y waveforms.
さらに、t−Y波形とは別に、所望の2チャネル(例えば、チャネルCH1とチャネルCH2)の波形データの一方(例えば、チャネルCH1の電圧値)をX軸データとし、他方の波形データ(例えば、チャネルCH2の電圧値)をY軸データとするX−Y座標上に波形表示(X−Y波形と呼ぶ)するものもある。このようなX−Y波形表示は、材料の強度試験、自動車のエンジン特性試験等に非常に有用である。例えば、材料試験では、鉄・鋼などの材料を伸ばす方向に徐々に力を加え、加えた力をX軸、そのときの材料の伸びをY軸とすることにより、「応力−ひずみ曲線」を表示することができる。また、自動車のエンジン特性試験では、ピストンの動きをX軸、シリンダ筒内圧をY軸とすることにより、エンジンの特性を容易に解析することができる。 Further, separately from the t-Y waveform, one of the waveform data of the desired two channels (for example, channel CH1 and channel CH2) (for example, the voltage value of channel CH1) is taken as the X-axis data, and the other waveform data (for example, Some display the waveform (referred to as an XY waveform) on the XY coordinates using the voltage value of the channel CH2 as the Y-axis data. Such an XY waveform display is very useful for a material strength test, an automobile engine characteristic test, and the like. For example, in the material test, by gradually applying a force in the direction of stretching a material such as iron or steel, the applied force is taken as the X axis, and the elongation of the material at that time is taken as the Y axis. Can be displayed. In the engine characteristic test of an automobile, the characteristics of the engine can be easily analyzed by setting the piston movement to the X axis and the cylinder internal pressure to the Y axis.
続いて、トリガ検出部7に設定されるトリガ条件の説明をする。ここで、図8、図9は、トリガ条件の例を示した図である。
トリガ条件は、操作制御部3からユーザによって入力され、CPU8を介してトリガ検出部7に設定される。トリガ条件は、t−Y座標上で、必要な入力チャネルCH1〜CH4ごとに設定される。
Next, trigger conditions set in the trigger detection unit 7 will be described. Here, FIG. 8 and FIG. 9 are diagrams showing examples of trigger conditions.
The trigger condition is input by the user from the operation control unit 3 and set in the trigger detection unit 7 via the CPU 8. The trigger condition is set for each necessary input channel CH1 to CH4 on the t-Y coordinate.
トリガ条件の設定は、入力チャネルCH1〜CH4ごとに電圧レベルで行なわれる。例えば、図8(a)に示すように、入力チャネルCH1の電圧値が所定のトリガレベルV1を超える場合をトリガ条件とすれば、このトリガ条件を満たすとトリガ成立となり、トリガ検出部7がトリガ信号を出力する。 The trigger condition is set at the voltage level for each of the input channels CH1 to CH4. For example, as shown in FIG. 8A, if the trigger condition is that the voltage value of the input channel CH1 exceeds a predetermined trigger level V1, the trigger is established when the trigger condition is satisfied, and the trigger detector 7 triggers. Output a signal.
また、図8(b)に示すように各チャネルごとにトリガ条件(チャネルCH1の電圧レベルをV1、チャネルCH2の電圧レベルをV2)を設定し、複数のトリガ条件をアンドまたはオアで組み合わせて、組み合わせたトリガ条件でトリガ成立となり、トリガ検出部7がトリガ信号を出力するようにしてもよい。 Further, as shown in FIG. 8B, a trigger condition (channel CH1 voltage level V1 and channel CH2 voltage level V2) is set for each channel, and a plurality of trigger conditions are combined by AND or OR. The trigger may be established under the combined trigger condition, and the trigger detection unit 7 may output a trigger signal.
さらに、入力波形がトリガレベルV1を越えるとトリガ成立として、トリガ検出部7がトリガ信号を出力するトリガ条件をエッジトリガという(図9(a)参照)。一方、上限のトリガレベルVHと下限のトリガレベルVLを定め、この領域内に入力波形が入る(または出る)と、トリガ成立として、トリガ検出部7がトリガ信号を出力するようにしてもよい。このような領域によるトリガ条件は、ウィンドウトリガと呼ばれる(図9(b)参照)。 Furthermore, a trigger condition in which the trigger detection unit 7 outputs a trigger signal when the input waveform exceeds the trigger level V1 is referred to as an edge trigger (see FIG. 9A). On the other hand, an upper limit trigger level VH and a lower limit trigger level VL may be determined, and when an input waveform enters (or exits) within this region, the trigger detection unit 7 may output a trigger signal as a trigger establishment. The trigger condition by such an area is called a window trigger (see FIG. 9B).
このように様々な条件でトリガを設定するので、所望の入力波形の測定、表示を容易に行なうことができる。そして、X−Y波形表示して表示画面上にトレースすることによって、2つの入力波形の相関を解析することもできる。 Since the trigger is set under various conditions as described above, a desired input waveform can be easily measured and displayed. The correlation between two input waveforms can be analyzed by displaying the XY waveform and tracing it on the display screen.
しかしながら、トリガ条件の設定は、t−Y波形表示されるt−Y座標上で各チャンネルCH1〜CH4ごとに行なわれ、電圧値の変動に対して設定される。従って、X−Y波形表示では、所望のトレース位置にX−Y波形が入った(または出た)かを判断することが困難であり、所望の条件となるX−Y波形の解析を行なうことが難しいという問題があった。 However, the trigger condition is set for each of the channels CH1 to CH4 on the tY coordinate on which the tY waveform is displayed, and is set for the fluctuation of the voltage value. Therefore, in the XY waveform display, it is difficult to determine whether or not the XY waveform has entered (or has come out) at the desired trace position, and the XY waveform that satisfies the desired conditions is analyzed. There was a problem that was difficult.
そこで本発明の目的は、X−Y波形の解析を容易に行なうことができる波形測定装置を実現することにある。 Accordingly, an object of the present invention is to realize a waveform measuring apparatus capable of easily analyzing an XY waveform.
請求項1記載の発明は、
複数の入力チャネルのそれぞれに割り当てられた測定部で測定した波形データのうち、所望の2チャネルの波形データの一方をX軸データとし、他方の波形データをY軸データとして、表示部の表示画面にX−Y波形を表示する波形測定装置において、
前記X−Y波形が表示される表示画面に閉領域を生成する閉領域生成部と、
この閉領域生成部が生成した閉領域にX−Y波形が入っているか否かを判断する判断部を設け、
前記判断部は、
前記閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域を、X軸データを時間としY軸データを前記波形データとするt−Y座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部が変換した領域をトリガ条件とし、トリガ信号を発生するトリガ検出部と
を有することを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、
複数の入力チャネルのそれぞれに割り当てられた測定部で測定した波形データのうち、所望の2チャネルの波形データの一方をX軸データとし、他方の波形データをY軸データとして、表示部の表示画面にX−Y波形を表示する波形測定装置において、
前記X−Y波形が表示される表示画面で、X軸の2本のカーソルとY軸の2本のカーソルとからなる4本のカーソルで閉領域を生成する閉領域生成部と、
この閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域にX−Y波形で表示される前記X軸データ、前記Y軸データの波形データのそれぞれが入っているか否かを判断する判断部と、
X−Y波形を表示する波形データの組を複数保存する波形データ記憶部と
を設け、
前記判断部は、
前記閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域を、X軸データを時間としY軸データを前記波形データとするt−Y座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部の変換した領域を検索条件とし、前記波形データ記憶部から所望の波形データの組を検索する検索部と
を有することを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、
複数の入力チャネルのそれぞれに割り当てられた測定部で測定した波形データのうち、所望の2チャネルの波形データの一方をX軸データとし、他方の波形データをY軸データとして、表示部の表示画面にX−Y波形を表示する波形測定装置において、
前記X−Y波形が表示される表示画面で、X軸の2本のカーソルとY軸の2本のカーソルとからなる4本のカーソルで閉領域を生成する閉領域生成部と、
この閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域にX−Y波形で表示される前記X軸データ、前記Y軸データの波形データのそれぞれが入っているか否かを判断する判断部と
を設け、
前記判断部は、
前記閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域を、X軸データを時間としY軸データを前記波形データとするt−Y座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部の変換した領域を波形判定の条件とし、X−Y波形の波形判定を行なう波形判定部と
を有することを特徴とするものである。
The invention described in
Of the waveform data measured by the measurement unit assigned to each of the plurality of input channels, one of the desired two-channel waveform data is set as X-axis data, and the other waveform data is set as Y-axis data. In the waveform measuring apparatus for displaying the XY waveform in
A closed region generating unit that generates a closed region on a display screen on which the XY waveform is displayed;
A determination unit for determining whether or not an XY waveform is included in the closed region generated by the closed region generation unit ;
The determination unit
A conversion unit that converts the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit into a region on the tY coordinate using the X-axis data as time and the Y-axis data as the waveform data;
A trigger detection unit that generates a trigger signal using the region converted by the conversion unit as a trigger condition;
It is characterized by having .
The invention according to
Of the waveform data measured by the measurement unit assigned to each of the plurality of input channels, one of the desired two-channel waveform data is set as X-axis data, and the other waveform data is set as Y-axis data. In the waveform measuring apparatus for displaying the XY waveform in
A closed region generating unit that generates a closed region with four cursors including two cursors on the X axis and two cursors on the Y axis on the display screen on which the XY waveform is displayed;
A determination unit that determines whether each of the X-axis data and the waveform data of the Y-axis data displayed as an XY waveform is contained in the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit. When,
A waveform data storage unit for storing a plurality of sets of waveform data for displaying XY waveforms;
Provided,
The determination unit
A conversion unit that converts the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit into a region on the tY coordinate using X-axis data as time and Y-axis data as the waveform data;
A search unit for searching for a desired set of waveform data from the waveform data storage unit using the converted area of the conversion unit as a search condition;
It is characterized by having .
The invention described in claim 3
Of the waveform data measured by the measurement units assigned to each of the plurality of input channels, one of the desired two-channel waveform data is set as X-axis data, and the other waveform data is set as Y-axis data. In the waveform measuring apparatus for displaying the XY waveform in
On the display screen on which the XY waveform is displayed, a closed region generating unit that generates a closed region with four cursors including two cursors on the X axis and two cursors on the Y axis;
A determination unit that determines whether each of the X-axis data and the waveform data of the Y-axis data displayed as an XY waveform is contained in the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit. When
Provided,
The determination unit
A conversion unit that converts the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit into a region on the tY coordinate using X-axis data as time and Y-axis data as the waveform data;
Using the converted area of this conversion unit as a condition for waveform determination,
It is characterized by having .
請求項4記載の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の発明において、
閉領域生成部は、複数の閉領域を設定することを特徴とするものである。
The invention according to
The closed region generation unit sets a plurality of closed regions.
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項1〜4によれば、閉領域生成部が、X−Y波形が表示される領域で、X−Y波形のトレース位置として閉領域を設定し、判断部が、X−Y波形が閉領域に入っているか否かを判断する。すなわちユーザは、2つの入力波形の相関を示すX−Y波形を見ながら、視覚的に閉領域を設定することができる。これにより、所望の閉領域にX−Y波形が入っているか否かを容易に判断でき、X−Y波形の解析を容易に行なうことができる。
The present invention has the following effects.
According to the first to fourth aspects, the closed region generation unit sets the closed region as the trace position of the XY waveform in the region where the XY waveform is displayed, and the determination unit closes the XY waveform. Determine if you are in an area. That is, the user can visually set the closed region while viewing the XY waveform indicating the correlation between the two input waveforms. Thereby, it can be easily determined whether or not the XY waveform is in the desired closed region, and the XY waveform can be easily analyzed.
請求項1によれば、閉領域生成部が、X−Y波形が表示される領域で、X−Y波形のトレース位置としてトリガ条件の閉領域を設定し、変換部がX−Y座標上のトリガ条件をt−Y座標上のトリガ条件に変換する。すなわちユーザは、2つの入力波形の相関を示すX−Y波形を見ながらトリガ条件を設定することができ、視覚的に閉領域を設定できる。これにより、所望の条件となるX−Y波形を測定することができる。従って、X−Y波形の解析を容易に行なうことができる。
According to
請求項2によれば、閉領域生成部が、X−Y波形が表示される領域で、X−Y波形のトレース位置として検索条件の閉領域を設定し、変換部がX−Y座標上の検索条件をt−Y座標上の検索条件に変換する。すなわちユーザは、2つの入力波形の相関を示すX−Y波形を見ながら検索条件を設定することができ、視覚的に閉領域を設定できる。これにより、所望の検索条件となる波形データの組を波形データ記憶部から容易に検索することができる。従って、X−Y波形の解析を容易に行なうことができる。
According to
請求項3によれば、閉領域生成部が、X−Y波形が表示される領域で、X−Y波形のトレース位置として判定条件の閉領域を設定し、変換部がX−Y座標上の判定条件をt−Y座標上の判定条件に変換する。すなわちユーザは、2つの入力波形の相関を示すX−Y波形を見ながら判定条件を設定することができ、視覚的に閉領域を設定できる。これにより、所望の判定条件でX−Y波形が異常な波形か正常な波形かを容易に判定することができる。従って、X−Y波形の解析を容易に行なうことができる。
According to claim 3 , the closed region generation unit sets the closed region of the determination condition as the trace position of the XY waveform in the region where the XY waveform is displayed, and the conversion unit is on the XY coordinate. The determination condition is converted into a determination condition on the t-Y coordinate. That is, the user can set the determination condition while viewing the XY waveform indicating the correlation between the two input waveforms, and can visually set the closed region. Thereby, it can be easily determined whether the XY waveform is an abnormal waveform or a normal waveform under a desired determination condition. Therefore, the XY waveform can be easily analyzed.
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の一実施例を示す構成図である。ここで、図7と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図1において、閉領域生成部9、変換部10が新たに設けられる。また、トリガ検出部7の代わりにトリガ検出部11が設けられる。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. Here, the same components as those in FIG. In FIG. 1, a closed region generation unit 9 and a
閉領域生成部9は、CPU8と接続され、X−Y波形が表示される表示部6の表示画面に閉領域を生成し、表示する。変換部10は、閉領域生成部9が生成したX−Y座標上の閉領域をt−Y座標上の領域(例えば、ウィンドウ)に変換し、トリガ検出部11に出力する。トリガ検出部11は、変換部9が変換した領域をトリガ条件とし、この領域にX−Y表示される波形データのそれぞれが入ったと判断するとトリガ信号を発生し、波形メモリ2に出力する。なお、変換部10とトリガ検出部11とが判断部である。
The closed region generation unit 9 is connected to the CPU 8 and generates and displays a closed region on the display screen of the
このような装置の動作を説明する。まず、トリガ条件の設定を説明する。ここで、図2は、表示部6の表示画面に表示される閉領域の一例を示した図である。図2において、X軸をチャネルCH1とし、Y軸をチャネルCH2とし、各軸の下限値を−5[V]、上限値を+5[V]とする例を示している。また、図3は、閉領域100を生成する動作を示したフローチャートである。
The operation of such an apparatus will be described. First, the setting of the trigger condition will be described. Here, FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a closed region displayed on the display screen of the
まず、X−Y波形表示される状態で、閉領域生成部9が、X軸に2本のカーソルCX1、CX2、Y軸に2本のカーソルCY1、CY2を表示し、これら4本のカーソルで閉領域100を生成する。そして、ユーザの操作に従って、操作制御部3がトリガ条件に関する操作内容をCPU8を介して、閉領域生成部9に出力する。そして、閉領域生成部9が、閉領域のX軸方向の条件の変更を監視し、条件が変更されると、X軸に割り当てられているチャネル(図2では、CH1)のウィンドウトリガ条件を変更する(S10、S11)。
First, the closed region generation unit 9 displays two cursors CX1, CX2 on the X axis and two cursors CY1, CY2 on the Y axis with the XY waveform displayed, and these four cursors. A
X軸方向の条件が変更されない場合またはX軸の変更終了後に、閉領域のY軸方向の条件が変更されると、Y軸に割り当てられているチャネル(図2では、CH2)のウィンドウトリガ条件を変更する(S12、S13) When the condition in the X-axis direction is not changed or when the condition in the Y-axis direction of the closed region is changed after the end of the X-axis change, the window trigger condition for the channel (CH2 in FIG. 2) assigned to the Y-axis Is changed (S12, S13)
Y軸方向の条件が変更されない場合またはY軸の変更終了後に、閉領域生成部9が、カーソルCX1、CX2、CY1、CY2によるX−Y表示画面上の閉領域100を、例えば、図2に示すように再描画する(S12、S14)。
When the condition in the Y-axis direction is not changed or after the change of the Y-axis is completed, the closed region generation unit 9 displays the
そして、閉領域生成部9が、再描画した閉領域100を変換部10に出力する。つまり、各軸に割り当てられているチャネル、各軸のカーソルの位置を変換部10に出力する。さらに、変換部10がX−Y座標上で生成された閉領域100から、t−Y座標上の領域に変換する。具体的には、例えば、X軸の場合、X軸領域境界(カーソルCX1、CX2で挟まれた領域とそれ以外の境界)の大きい方の数値をウィンドウトリガの上限値に、X軸領域境界の小さい方の数値をウィンドウトリガの下限値として設定する。図2では、カーソルCX1が、チャネルCH1のウィンドウトリガの上限値となる。カーソルCX2が、チャネルCH1のウィンドウトリガの下限値となる。同様にカーソルCY1、CY2のそれぞれが、チャネルCH2のウィンドウトリガの上限値と下限値になる。そして、チャネルCH1、CH2のウィンドウトリガをアンドした条件をトリガ条件として、トリガ検出部11に出力する(S15)。
Then, the closed region generation unit 9 outputs the redrawn
そして、閉領域100の生成を終了する場合、トリガ条件の設定が終了し(S16)、閉領域100の生成を終了しない場合、再度各軸の変更、再描画、トリガ条件の出力(S16、S11〜S15)を行なう。
When the generation of the
続いて、トリガ信号を発生し、波形データを取得する動作を説明する。測定部1のそれぞれが、入力チャネルCH1〜CH4の入力波形を、測定部1に設けられるAD変換器でデジタル信号に変換して波形データとして波形メモリ2、トリガ検出部11に出力する。
Subsequently, an operation of generating a trigger signal and acquiring waveform data will be described. Each of the
そして、トリガ検出部11が、閉領域生成部9によって生成された閉領域(チャネルCH1のウィンドウトリガとチャネルCH2のウィンドウトリガをアンドした領域)100にチャネルCH1、CH2それぞれの入力波形が入いったと判断すると、つまりトリガ条件となる入力波形を検出すると、トリガ信号を波形メモリ2に出力する。このトリガ信号に従って、波形メモリ2が所望の波形データを格納する。
Then, when the trigger detection unit 11 receives the input waveforms of the channels CH1 and CH2 in the closed region 100 (region obtained by ANDing the window trigger of the channel CH1 and the window trigger of the channel CH2) 100 generated by the closed region generation unit 9. When the determination is made, that is, when an input waveform that is a trigger condition is detected, a trigger signal is output to the
そして、CPU8が操作制御部3からの操作内容に従って波形メモリ2の波形データを読み出し、RAM5に波形データや操作内容を一時格納してデータ処理を行い、表示処理部(図示せず)を介して表示部6にX−Y波形表示や波形解析の結果を出力する。なお、閉領域100もX−Y波形と共に表示しておくとよい。
Then, the CPU 8 reads the waveform data in the
つまり、トリガ信号を発生し、波形データを取得する動作は、図7に示す装置の動作とほぼ同様であり、異なる動作は、トリガ条件が変換部10から入力される部分である。 That is, the operation of generating the trigger signal and acquiring the waveform data is almost the same as the operation of the apparatus shown in FIG.
このように、閉領域生成部9が、X−Y波形が表示される領域で、X−Y波形のトレース位置としてトリガ条件の閉領域100を設定し、変換部10がX−Y座標上のトリガ条件をt−Y座標上のトリガ条件に変換する。すなわちユーザは、2つの入力波形の相関を示すX−Y波形を見ながらトリガ条件を設定することができ、視覚的に閉領域100を設定できる。これにより、所望の条件となるX−Y波形を測定することができる。従って、X−Y波形の解析を容易に行なうことができる。
In this way, the closed region generation unit 9 sets the trigger condition closed
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下のようなものでもよい。
図1に示す装置において、トリガ検出部11が、閉領域100にX−Y波形が入いったと判断すると、トリガ信号を波形メモリ2に出力する構成を示したが、例えば、図4に示すように閉領域101からX−Y波形200が出たと判断すると、トリガ信号を波形メモリ2に出力してもよい。
In addition, this invention is not limited to this, The following may be sufficient.
In the apparatus shown in FIG. 1, when the trigger detection unit 11 determines that an XY waveform has entered the
また、図1に示す装置において、閉領域生成部9が閉領域100を1個だけ設ける構成を示したが、図5に示すように複数の閉領域102〜104を設けてもよい。もちろん変換部10は、各閉領域102〜104をt−Y座標上のウィンドウに変換し、トリガ検出部11に出力する。
Further, in the apparatus shown in FIG. 1, the configuration in which the closed region generation unit 9 provides only one
また、図1に示す装置において、閉領域100をトリガ条件として、トリガ検出部11がトリガ信号を出力する構成を示したが、図示しない検索部を設け、この検索部が閉領域を検索条件とし、波形データ記憶部である波形メモリ2から所望の波形データの組を検索してもよい。すなわち、波形メモリ2には、X−Y波形を表示する波形データの組を複数個保存することが多い。なお、変換部10と図示しない検索部とが判断部である。また、図示しない検索部は、トリガ検出部11と同様にt−Y座標上で検索を行なう。
In the apparatus shown in FIG. 1, the trigger detection unit 11 outputs a trigger signal using the
従って、閉領域生成部9が生成した閉領域を、変換部10がt−Y座標上の領域に変換し、図示しない検索部に変換した領域を出力する。そして、図示しない検索部が、波形メモリ2の波形データの組から検索を行なう。例えば、変換部10によって変換された領域内にチャネルCH1、CH2それぞれの入力波形が入いっている(一部または全部)と判断すると、検索条件に合致した波形データの組を抽出する。
Therefore, the closed region generated by the closed region generation unit 9 is converted into a region on the t-Y coordinate by the
ここで、図6を用いて説明する。図6(a)において、各波形202〜207は、波形メモリ2に格納される波形データの組である。また、閉領域105は、閉領域生成部9によって生成され、検索条件となる領域である。そして、図示しない検索部が、検索条件に合致した波形データの組(波形206)を抽出し、図6(b)に示すようにX−Y波形表示する。
Here, it demonstrates using FIG. In FIG. 6A, each
このように、閉領域生成部9が、X−Y波形が表示される領域で、X−Y波形のトレース位置として検索条件の閉領域105を設定し、変換部10がX−Y座標上の検索条件をt−Y座標上の検索条件に変換する。すなわちユーザは、2つの入力波形の相関を示すX−Y波形を見ながら検索条件を設定することができ、視覚的に閉領域105を設定できる。これにより、所望の検索条件となる波形データの組を波形メモリ2から容易に検索することができる。従って、X−Y波形の解析を容易に行なうことができる。
As described above, the closed region generation unit 9 sets the search region closed
また、図1に示す装置において、閉領域100をトリガ条件として、トリガ検出部11がトリガ信号を出力する構成を示したが、図示しない波形判定部を設け、閉領域を波形の判定条件とし、X−Y波形の波形判定(正常な波形か異常な波形かを判定)をしてもよい。なお、変換部10と図示しない波形判定部とが判断部である。また、図示しない波形判定部は、トリガ検出部11と同様にt−Y座標上で波形判定を行なう。
Further, in the apparatus shown in FIG. 1, the trigger detection unit 11 outputs a trigger signal using the
従って、閉領域生成部9が生成した閉領域を、変換部10がt−Y座標上の領域に変換し、図示しない波形判定部に変換した領域を出力する。そして、図示しない波形判定部が、X−Y波形の波形判定を行なう。例えば、変換部10によって変換された領域内からチャネルCH1、CH2それぞれの入力波形が一部でも出ている(または入っている)と判断すると、異常波形と判定し、アラームを出力する。
Therefore, the closed region generated by the closed region generation unit 9 is converted into a region on the t-Y coordinate by the
このように、閉領域生成部9が、X−Y波形が表示される領域で、X−Y波形のトレース位置として判定条件の閉領域を設定し、変換部10がX−Y座標上の判定条件をt−Y座標上の判定条件に変換する。すなわちユーザは、2つの入力波形の相関を示すX−Y波形を見ながら判定条件を設定することができ、視覚的に閉領域を設定できる。これにより、所望の判定条件でX−Y波形が異常な波形か正常な波形かを容易に判定することができる。従って、X−Y波形の解析を容易に行なうことができる。
As described above, the closed region generation unit 9 sets the closed region of the determination condition as the trace position of the XY waveform in the region where the XY waveform is displayed, and the
さらに、図1に示す装置において、閉領域100を4角形とする構成を示したが、閉領域はどのような形でもよく、曲線で囲まれた閉領域であってもよい。
Furthermore, in the apparatus shown in FIG. 1, the configuration in which the
1 測定部
2 波形メモリ
6 表示部
9 閉領域生成部
10 変換部
11 トリガ検出部
CH1〜CH4 入力チャネル
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記X−Y波形が表示される表示画面で、X軸の2本のカーソルとY軸の2本のカーソルとからなる4本のカーソルで閉領域を生成する閉領域生成部と、
この閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域にX−Y波形で表示される前記X軸データ、前記Y軸データの波形データのそれぞれが入っているか否かを判断する判断部と
を設け、
前記判断部は、
前記閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域を、X軸データを時間としY軸データを前記波形データとするt−Y座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部が変換した領域をトリガ条件とし、トリガ信号を発生するトリガ検出部と
を有することを特徴とする波形測定装置。 Of the waveform data measured by the measurement unit assigned to each of the plurality of input channels, one of the desired two-channel waveform data is set as X-axis data, and the other waveform data is set as Y-axis data. In the waveform measuring apparatus for displaying the XY waveform in
A closed region generating unit that generates a closed region with four cursors including two cursors on the X axis and two cursors on the Y axis on the display screen on which the XY waveform is displayed;
A determination unit that determines whether each of the X-axis data and the waveform data of the Y-axis data displayed as an XY waveform is contained in the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit. When
Provided,
The determination unit
A conversion unit that converts the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit into a region on the tY coordinate using the X-axis data as time and the Y-axis data as the waveform data;
A trigger detection unit that generates a trigger signal using the region converted by the conversion unit as a trigger condition;
Waveform measuring apparatus characterized by having a.
前記X−Y波形が表示される表示画面で、X軸の2本のカーソルとY軸の2本のカーソルとからなる4本のカーソルで閉領域を生成する閉領域生成部と、
この閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域にX−Y波形で表示される前記X軸データ、前記Y軸データの波形データのそれぞれが入っているか否かを判断する判断部と、
X−Y波形を表示する波形データの組を複数保存する波形データ記憶部と
を設け、
前記判断部は、
前記閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域を、X軸データを時間としY軸データを前記波形データとするt−Y座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部の変換した領域を検索条件とし、前記波形データ記憶部から所望の波形データの組を検索する検索部と
を有することを特徴とする波形測定装置。 Of the waveform data measured by the measurement unit assigned to each of the plurality of input channels, one of the desired two-channel waveform data is set as X-axis data, and the other waveform data is set as Y-axis data. In the waveform measuring apparatus for displaying the XY waveform in
A closed region generating unit that generates a closed region with four cursors including two cursors on the X axis and two cursors on the Y axis on the display screen on which the XY waveform is displayed;
A determination unit that determines whether each of the X-axis data and the waveform data of the Y-axis data displayed as an XY waveform is contained in the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit. When,
A waveform data storage unit for storing a plurality of sets of waveform data for displaying XY waveforms;
Provided,
The determination unit
A conversion unit that converts the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit into a region on the tY coordinate using the X-axis data as time and the Y-axis data as the waveform data;
A search unit for searching for a desired set of waveform data from the waveform data storage unit using the converted area of the conversion unit as a search condition;
Waveform measuring apparatus characterized by having a.
前記X−Y波形が表示される表示画面で、X軸の2本のカーソルとY軸の2本のカーソルとからなる4本のカーソルで閉領域を生成する閉領域生成部と、
この閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域にX−Y波形で表示される前記X軸データ、前記Y軸データの波形データのそれぞれが入っているか否かを判断する判断部と
を設け、
前記判断部は、
前記閉領域生成部が生成したX−Y座標上の閉領域を、X軸データを時間としY軸データを前記波形データとするt−Y座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部の変換した領域を波形判定の条件とし、X−Y波形の波形判定を行なう波形判定部と
を有することを特徴とする波形測定装置。 Of the waveform data measured by the measurement unit assigned to each of the plurality of input channels, one of the desired two-channel waveform data is set as X-axis data, and the other waveform data is set as Y-axis data. In the waveform measuring apparatus for displaying the XY waveform in
A closed region generating unit that generates a closed region with four cursors including two cursors on the X axis and two cursors on the Y axis on the display screen on which the XY waveform is displayed;
A determination unit that determines whether each of the X-axis data and the waveform data of the Y-axis data displayed as an XY waveform is contained in the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit. When
Provided,
The determination unit
A conversion unit that converts the closed region on the XY coordinate generated by the closed region generation unit into a region on the tY coordinate using the X-axis data as time and the Y-axis data as the waveform data;
Using the converted area of this conversion unit as a condition for waveform determination,
Waveform measuring apparatus characterized by having a.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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- 2004-07-13 JP JP2004205395A patent/JP4517757B2/en not_active Expired - Lifetime
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090910 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091102 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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