JP4509351B2 - ヒューズ素子 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば自動車用電気回路等に用いられるヒューズ素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、自動車内における各種電気機器の配線はヒューズボックスに集められ、各種電気機器の容量に応じたヒューズ素子を介してバッテリに接続されている。ヒューズボックスは回路形成用のバスバー及び接続端子等を備えており、それらには各回路の容量に合わせて電流遮断容量の異なる複数のヒューズ素子がそれぞれ接続されている。回路の短絡時においては、前記ヒューズ素子のヒューズエレメントが溶断することによって入力端子と出力端子との間の導通が遮断され、各種電気機器に過電流が流れることが防止される。ヒューズエレメントは亜鉛合金等にて形成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
近来、車載電装品数の増大に伴って、車両全体の電気使用量も増大の一途を辿っている。このため、バッテリの大型化及びワイヤハーネスの太線化等により、車両電圧の昇圧化(42V化等)が図られる傾向にある。前記従来のヒューズ素子においては、ヒューズエレメントの溶断時、ガス化した亜鉛合金がヒューズ素子のハウジング内面に連続的に付着すると共に、車両電圧の昇圧化によりハウジング内部においてアークが発生する。このため、ハウジングの内面は汚損され、連続した汚損面が形成される。この汚損面は清浄な面に比べて著しく低い電圧で沿面リークが発生しやすくなっている。従って、両端子間の絶縁性能が低下し、ヒューズエレメントが溶断したにもかかわらず、昇圧化されたことと相まって、リーク電流がハウジングの内面を流れて両端子間の導通が継続し、ハウジング及び端子の溶損が発生するおそれがあった。
【0004】
本発明は前記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、ヒューズエレメントの溶断時における入力端子と出力端子との間の導通継続を防止することができるヒューズ素子を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明は、ハウジングと、その所定平面から突出して並列状態に並ぶ一対の端子とを備え、両端子の基端側間に接続された可溶体を前記ハウジング内に収納したヒューズ素子において、前記ハウジング内における両端子間には、可溶体が溶断したときに発生する可溶体構成金属ガスが当該ハウジングの内面に連続して付着することを防止する連続付着防止手段として、ハウジングの内面に形成した折曲突部を設けたことをその要旨とする。
【0007】
請求項に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記可溶体には単数又は複数の断面縮小部を設けたことをその要旨とする。
【0010】
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記断面縮小部は複数のくびれ部であることをその要旨とする。
請求項4に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記断面縮小部は可溶体に複数の孔を形成することにより構成したことをその要旨とする。
請求項に記載の発明は、請求項1請求項4のいずれか1項に記載の発明において、前記連続付着防止手段として、ハウジングの内面に形成した複数の凹条又は凸条をさらに設けたことをその要旨とする。
【0011】
請求項に記載の発明は、請求項1請求項5のいずれか1項に記載の発明において、前記連続付着防止手段は、両端子間の沿面距離を増大させる沿面距離増大手段であることをその要旨とする。
【0012】
作用)
請求項に記載の発明においては、可溶体が溶断したときに発生する可溶体構成金属ガスが当該ハウジングの内面に連続して付着することが防止される。また、ハウジングの内面と折曲突部との間が影になる。
【0013】
請求項2に記載の発明においては、可溶体の断面縮小部には熱集中が発生する
【0015】
請求項3に記載の発明においては、可溶体の複数のくびれ部には熱集中が発生する。
請求項4に記載の発明においては、断面縮小部は可溶体に複数の孔を形成することにより構成される。
請求項に記載の発明においては、可溶体構成金属ガスは複数の凹条又は凸条に分散して付着する。
請求項に記載の発明においては、両端子間の沿面距離が増大する。
【0017】
【発明の実施の形態】
(第1実施形態;ハウジング1)
以下、本発明をブレード型のヒューズ素子に具体化した一実施形態を図1及び図2(a), (b)に従って説明する。
(ヒューズ素子)
図1及び図2(a)に示すように、ヒューズ素子10は例えば自動車内において各種電気機器の配線が集められるヒューズボックス11に装着される。このヒューズ素子10はハウジング12、入力端子13、出力端子14、及び両端子13,14間を接続する可溶体としてのヒューズエレメント15を備えている。
【0018】
(ハウジング)
図2(a), (b)に示すように、ハウジング12は耐熱性及び絶縁性を有する合成樹脂にて直方体状に形成されており、同ハウジング12内には一対の端子収納部12a及び両端子収納部12a, 12a間に配置されたヒューズエレメント収納部12bが形成されている。ヒューズエレメント収納部12bの中央には隔壁16が設けられており、同ヒューズエレメント収納部12bは2つの室17a, 17bに区画されている。隔壁16はヒューズエレメント収納部12bの内頂面から内底面に向かうようにその中程まで延出されており、同隔壁16とヒューズエレメント収納部12bの内底面との間には所定の間隔が形成されている。尚、隔壁16は連続付着手段及び沿面距離増大手段を構成する。
【0019】
(入力・出力端子)
両端子収納部12a, 12aには入力端子13及び出力端子14の基端部側がそれぞれ嵌合されており、両端子13, 14の先端部はハウジング12の所定平面(図2(a)における下面)から外部に突出して並列状態に並んでいる。両端子13, 14はそれぞれ板状に形成されており、それらの先端部にはテーパ部13a, 14aが形成されている。両テーパ部13a, 14aは先端に向かうほど端子幅が小さくなるように形成されている。
【0020】
(ヒューズエレメント)
前記ヒューズエレメント収納部12bにはヒューズエレメント15が収納されている。ヒューズエレメント15はヒューズ用金属(例えば亜鉛合金)にて板状に且つ前記隔壁16を迂回するように放物線状(図2(a)において、下側に凸)に形成されている。ヒューズエレメント15の両端部はそれぞれ入力端子13及び出力端子14の基端部に接続されている。
(ヒューズボックス)
一方、図1に示すように、前記ヒューズボックス11のヒューズ装着面には、一対を一組とした複数組みの挿入孔18a, 18bが形成されている(図1では一組のみ図示する)。両挿入孔18a, 18b内にはそれぞれ雌型端子(図示略)が配設されており、両雌型端子はバッテリ(図示略)及び各種電気機器(図示略)等に接続されている。また、両挿入孔18a, 18bの近傍にはそれぞれ横断面コの字状のガイド部材19a, 19bが挿入孔18a, 18bを囲むように突設されている。
【0021】
両ガイド部材19a, 19bの互いに対向するコの字内面はそれぞれガイド溝20a, 20bを構成しており、ヒューズ素子10のヒューズボックス11への装着時、ハウジング12の段部をガイド可能となっている。ヒューズ素子10の両端子13, 14の外端部は、それぞれ挿入孔18a, 18bに挿入され前記雌型端子に接続されることによってバッテリ及び各種電気機器等に接続される。
(実施形態の作用・効果)
次に、前述のように構成したヒューズ素子の作用及び効果について説明する。
【0022】
回路に短絡事故が発生してヒューズエレメント15に過電流が流れると、同ヒューズエレメント15はジュール熱により温度上昇して溶断し、高電圧下であることから瞬時にガス化する。このガス化したヒューズエレメント15の構成金属材料、即ち亜鉛合金の粒子(以下、「金属ガス」という。)はハウジング12の内部において溶断点を中心に放射状に飛散する。この飛散した金属ガスはハウジング12内面の溶断点に面した部分及び隔壁16の溶断点に面した部分に付着するものの、隔壁16の影になる部分、即ちハウジング12内面の溶断点に面しない部分及び隔壁16の溶断点に面しない部分には付着しない。
【0023】
例えば、溶断点が室17a側にある場合、金属ガスはハウジング12の室17a側の内面及び隔壁16における室17a側の面に付着しやすく、ハウジング12の室17b側の内面及び隔壁16における室17b側の面には付着しにくい。溶断点が室17b側にある場合は、前述とは逆に、金属ガスはハウジング12の室17b側の内面及び隔壁16における室17b側の面に付着しやすく、ハウジング12の室17a側の内面及び隔壁16における室17a側の面には付着しにくい。
【0024】
このため、ハウジング12内面に金属ガスが連続して付着することがなく、連続した汚損面が形成されることもない。また、両端子13, 14間に隔壁16を設けることにより、両端子13, 14間の沿面距離の増大が図られている。そして、ハウジング12の内面に金属ガスが付着することによる沿面の絶縁抵抗の低下は、隔壁16により従来と比べて沿面距離が増大されることにより補われる。この結果、ハウジング12内における両端子13, 14間の絶縁性能が向上し、ヒューズエレメント12の溶断時、過電流がハウジング12の内面(汚損面)を流れて、両端子13, 14間の導通が継続することを防止できる。
【0025】
(第2実施形態;ハウジング2)
次に、本発明の第2実施形態を説明する。本実施形態は前記隔壁が複数設けられている点において前記第1実施形態と異なる。従って、前記第1実施形態と同一の部材構成については同一の符号を付し、その重複した説明を省略する。
【0026】
図3(a), (b)に示すように、ヒューズエレメント収納部12bの内頂面及び内底面にはそれぞれ隔壁21, 22が互い違いになるように設けられている。また、可溶体としてのヒューズエレメント24は両隔壁21, 22を迂回するように蛇行状に形成されており、ヒューズエレメント24の蛇行部間には隔壁21, 22が介在されている。尚、隔壁21, 22は連続付着手段及び沿面距離増大手段を構成する。従って、本実施形態によれば、前記第1実施形態と同様の作用及び効果を得ることができる。
【0027】
(第3実施形態;ハウジング3)
次に、本発明の第3実施形態を説明する。本実施形態は前記隔壁がハウジング内面に形成された折曲突部に置き換えられている点において前記第2実施形態と異なる。
【0028】
図4(a), (b)に示すように、ヒューズエレメント収納部12bの互いに対向する内面の中央には、それぞれ平断面L字状の折曲突部31, 32が同ヒューズエレメント収納部12bの内頂面から内底面に亘って形成されている。両折曲突部31, 32はそれぞれヒューズエレメント収納部12bの互いに対向する内面に対して所定距離をおいて平行をなす遮蔽壁31a, 32aを備えている。ヒューズエレメント15はヒューズエレメント収納部12b内における両端子13, 14間、且つ遮蔽壁31a, 32a間に配置されている。尚、折曲突部31, 32は連続付着防止手段及び沿面距離増大手段を構成する。
【0029】
このため、ヒューズエレメント15の溶断時に生成された金属ガスは遮蔽壁31a, 32aにて遮られ、この遮蔽壁31a, 32aと対向するヒューズエレメント収納部12bの内面に連続して付着することはない。また、折曲突部31, 32を設けたことにより、両端子13, 14間の沿面距離が増大する。従って、本実施形態によれば、前記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
【0030】
(第4実施形態;ハウジング4)
次に、本発明の第4実施形態を説明する。本実施形態は前記折曲突部がハウジング内面に形成された複数の凹条に置き換えられている点において前記第3実施形態と異なる。
【0031】
図5(a), (b)に示すように、ヒューズエレメント収納部12bの互いに対向する内面には、それぞれ複数の凹条41が同ヒューズエレメント収納部12bの内頂面から内底面に亘って形成されている。また、凹条41は連続付着防止手段及び沿面距離増大手段を構成する。このため、ヒューズエレメント15の溶断時において、金属ガスは各凹条41に分散して付着することにより、金属ガスがハウジング12の内面に連続して付着することはない。また、複数の凹条41を設けたことにより、両端子13, 14間の沿面距離が増大する。従って、本実施形態によれば、前記第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
【0032】
(第5実施形態;ヒューズエレメント1)
次に、本発明の第5実施形態を説明する。本実施形態は、ヒューズエレメントに複数の断面狭小部を設けた点において前記第1実施形態と異なる。
【0033】
図6に示すように、可溶体としてのヒューズエレメント51において、放物線の頂点部分及び隔壁16を間に挟んで互いに対向する部分には、それぞれ断面狭小部としてのくびれ部52が形成されている。くびれ部52の断面積はヒューズエレメント51におけるくびれ部52以外の部分(以下、「断面広大部」という。)の断面積に比べて小さくなっている。即ち、くびれ部52の電気抵抗は断面広大部に比べて大きくなっている。また、くびれ部52の熱容量は断面広大部に比べて小さくなっている。
【0034】
このため、回路短絡事故時、ヒューズエレメント51に過電流が流れると、各くびれ部52で発生したジュール熱は断面広大部にほとんど伝達されることがなく、各くびれ部52には熱集中が発生する。即ち、くびれ部52は断面広大部に比べて溶断し易くなり、この結果、ヒューズエレメント51の溶断時間が短くなる。
【0035】
また、オームの法則により、ヒューズエレメント51の全体にかかる電圧は、くびれ部52の数と同数に均等に分圧される。例えば、両端子13, 14間に12Vの電圧が加わっているとすれば、各くびれ部52にはそれぞれ4Vの電圧がかかる。尚、本実施形態においては、各くびれ部52の断面積、即ち抵抗値は全て同じである。このため、ヒューズエレメント51の溶断時、バッテリ電圧がヒューズエレメント51の全体に一気に加わる場合と異なり、溶断時のダメージを分散させることができる。
【0036】
(第6実施形態;ヒューズエレメント2)
次に、本発明の第6実施形態を説明する。本実施形態は、ヒューズエレメントに複数の孔を設けた点において前記第5実施形態と異なる。
【0037】
図7に示すように、可溶体としてのヒューズエレメント61には複数の円形の孔62が形成されており、これにより断面縮小部が構成されている。即ち、孔62の内径とヒューズエレメント61の厚みとを乗算した値(面積)の分だけ同ヒューズエレメント61の断面積が縮小されている。また、各孔62の内径は全て同じになっている。このため、ヒューズエレメント61の全体にかかる電圧は、孔62の数と同数に均等に分圧される。従って、前記第5実施形態におけるヒューズエレメント51に比べて、ヒューズエレメント51の溶断時におけるダメージをより分散させることができる。これは、本実施形態における各断面縮小部の数(17個)は前記第5実施形態における断面縮小部の数(3個)よりも多く、本実施形態の断面縮小部に加わる電圧の方がより小さいからである。
【0038】
(第7実施形態;ヒューズエレメント3)
次に、本発明の第7実施形態を説明する。本実施形態は、ヒューズエレメントに径の異なる複数の孔を設けた点において前記第6実施形態と異なる。
【0039】
図8に示すように、可溶体としてのヒューズエレメント71には複数の大孔72及び複数の小孔73が交互に形成されており、これにより断面縮小部が構成されている。大孔72が形成されることにより構成された断面縮小部の断面積は、小孔73が形成されることにより構成された断面縮小部の断面積よりも小さくなっている。即ち、大孔72が形成されることにより構成された断面縮小部の断面積は、ヒューズエレメント71の断面広大部に比べて極端に小さくなっている。このため、ヒューズエレメント71の溶断時、特に大孔72が形成されることにより構成された断面縮小部への熱集中が著しくなり、ヒューズエレメント71の速断性が向上する。
【0040】
(第8実施形態;ヒューズエレメント4)
次に、本発明の第8実施形態を説明する。本実施形態は、ヒューズエレメントの頂点部分に形成された断面狭小部が省略されている点において前記第5実施形態と異なる。
【0041】
図9に示すように、可溶体としてのヒューズエレメント81の両基端部側に形成された断面縮小部としての2つのくびれ部82, 82は、それぞれ室17a, 17b内に位置している。このため、回路の短絡事故時、ヒューズエレメント81が一方の室17a内のくびれ部82にて溶断したとすると、金属ガスは隔壁16における室17a内のくびれ部82に対向する面に付着する。このため、隣の室17bの内面に金属ガスが付着することはない。従って、本実施形態によれば、前記第5実施形態と同様の作用及び効果を得ることができる。
【0042】
尚、前記各実施形態は次のように変更して実施してもよい。
・前記第5〜第8実施形態においては、ヒューズエレメント51, 61, 71, 81を前記第1実施形態におけるハウジング12と組み合わせたが、第2〜第3実施形態におけるハウジング12と組み合わせるようにしてもよい。ただし、第2実施形態におけるハウジング12と組み合わせる場合には、ヒューズエレメント51, 61, 71, 81を前記ヒューズエレメント24と同様に蛇行状に形成する。
【0043】
・前記第4実施形態においては、複数の凹条41から連続付着防止手段を構成したが、凹条41を凸条に置き換えてもよい。
・前記第5〜第8実施形態においては、ヒューズエレメント51, 61, 71, 81に複数の断面縮小部を設けたが、単数のみ設けるようにしてもよい。
【0044】
【発明の効果】
本発明によれば、可溶体の溶断時に生成される金属ガスがハウジング内面に連続して付着することがないことにより、ヒューズエレメントの溶断時における入力端子と出力端子との間の導通継続を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 ヒューズ素子のヒューズボックスへの取付を示す斜視図。
【図2】 (a)は、第1実施形態におけるヒューズ素子の縦断面図、(b)は、図2(a)における1−1線断面図。
【図3】 (a)は、第2実施形態におけるヒューズ素子の縦断面図、(b)は、図3(a)における2−2線断面図。
【図4】 (a)は、第3実施形態におけるヒューズ素子の縦断面図、(b)は、図4(a)における3−3線断面図。
【図5】 (a)は、第4実施形態におけるヒューズ素子の縦断面図、(b)は、図5(a)における4−4線断面図。
【図6】 第5実施形態におけるヒューズ素子の縦断面図。
【図7】 第6実施形態におけるヒューズ素子の縦断面図。
【図8】 第7実施形態におけるヒューズ素子の縦断面図。
【図9】 第8実施形態におけるヒューズ素子の縦断面図。
【符号の説明】
10…ヒューズ素子、12…ハウジング、13…入力端子、14…出力端子、
15, 24, 51, 61, 71, 81…ヒューズエレメント(可溶体)、
16, 21, 22…連続付着防止手段及び沿面距離増大手段を構成する隔壁、
31, 32…連続付着防止手段及び沿面距離増大手段を構成する折曲突部、
41…連続付着防止手段及び沿面距離増大手段を構成する凹条、
52, 82…断面縮小部を構成するくびれ部、62…断面縮小部を構成する孔、
72…断面縮小部を構成する大孔、73…断面縮小部を構成する小孔。

Claims (6)

  1. ハウジングと、その所定平面から突出して並列状態に並ぶ一対の端子とを備え、両端子の基端側間に接続された可溶体を前記ハウジング内に収納したヒューズ素子において、
    前記ハウジング内における両端子間には、可溶体が溶断したときに発生する可溶体構成金属ガスが当該ハウジングの内面に連続して付着することを防止する連続付着防止手段として、ハウジングの内面に形成した折曲突部を設けたヒューズ素子。
  2. 前記可溶体には単数又は複数の断面縮小部を設けた請求項1に記載のヒューズ素子。
  3. 前記断面縮小部は複数のくびれ部である請求項2に記載のヒューズ素子。
  4. 前記断面縮小部は可溶体に複数の孔を形成することにより構成した請求項2に記載のヒューズ素子。
  5. 前記連続付着防止手段として、ハウジングの内面に形成した複数の凹条又は凸条をさらに設けた請求項1請求項4のいずれか1項に記載のヒューズ素子。
  6. 前記連続付着防止手段は、両端子間の沿面距離を増大させる沿面距離増大手段である請求項1請求項5のいずれか1項に記載のヒューズ素子。
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