JP4504208B2 - マグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極 - Google Patents

マグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極 Download PDF

Info

Publication number
JP4504208B2
JP4504208B2 JP2005004741A JP2005004741A JP4504208B2 JP 4504208 B2 JP4504208 B2 JP 4504208B2 JP 2005004741 A JP2005004741 A JP 2005004741A JP 2005004741 A JP2005004741 A JP 2005004741A JP 4504208 B2 JP4504208 B2 JP 4504208B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic pole
yoke
magnetic
magnetic field
target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005004741A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006193767A (ja
Inventor
宏 赤堀
Original Assignee
株式会社真空デバイス
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社真空デバイス filed Critical 株式会社真空デバイス
Priority to JP2005004741A priority Critical patent/JP4504208B2/ja
Publication of JP2006193767A publication Critical patent/JP2006193767A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4504208B2 publication Critical patent/JP4504208B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

本発明は、スパッタリングするターゲット金属の表面上に沿って平行な磁場を形成することによりプラズマ放電によって発生する電子をこの磁場の中に閉じ込め、雰囲気ガスのプラズマ化を促進するマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極に関し、特に広い面積の基板に金属被膜を形成することを可能としたマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極に関する。
シリコンウェハなどの基板製作において作業効率の向上を目的に基板面積の大型化が進んでいる。最近は直径が20cmを超え30cmの大型化が実行に移されつつある。
このような大面積基板の品質管理において、流れ作業中に抜き取り検査として走査電子顕微鏡(SEM)による表面観察が行われる。走査電子顕微鏡(SEM)による表面観察のためには基板の表面に白金などの金属被覆を行う必要がある。しかし、従来の市販イオンスパッタメタルコーティング装置ではこのような大面積を形状を保存したままSEM観察に対応した金属コーティングを行うことは不可能である。そのため、切断して小片による観察を行っている。しかしこれでは、試料面における位置関係の再現に時間を要し、流れ作業へのフィードバックにも即応性が乏しい。
直径が10cmから15cmまでのウェハに対しては従来のダイオードタイプスパッタ装置を拡大することで対応していた。しかしながら、この程度の面積においても前面平等な厚さの金属被覆が得られないばかりでなく、プラズマ放電のための電圧が1500Vないし2500Vを必要とする。このため、試料表面への電子流入による発熱やイオン衝撃による破壊があり、作業工程における損傷との判別にも困難を生じている。特に20cmを超える大面積への金属被覆装置としてはダイオード放電タイプ以外の方法によるイオンスパッタ装置の開発が望まれている。
マグネトロン型ターゲット方式では、プラズマ放電電圧を下げることが出来る。そのためには大面積ターゲット全面に等しく、且つ高密度で電子を捕捉する磁場を平均に分布させるような磁極構造を構成させたプレーナーマグネトロンタイプターゲット電極を開発する必要がある。
イオンスパッタリングにおけるプラズマ放電は通常数Paから数10Pa程度の雰囲気ガス(空気、窒素、アルゴン等)の圧力下で行われる。平行−平面対向型ダイオードタイプでのプラズマ放電電圧はAuの場合で1000V以上、Ptでは2000V以上を必要とする。
従来のダイオード放電は基板を設置した基板ホルダ、及びその周辺をアノードとしている。従って基板に対向して設置したターゲット金属のカソードと基板との間全体にプラズマが発生する。このため電子流入によって基板も帯電してプラスイオンを引きつけるので基板の表面はイオンの衝撃を免れられない。このような高電圧放電のイオンの衝撃力は大きく、基板は電子線加熱による熱損傷に加えてイオン損傷が発生する。
マグネトロン方式はスパッタさせるターゲット金属面の近傍にターゲット金属面に平行な磁場をつくることによりプラズマ放電によって発生する電子がこの磁場の中に閉じ込められ、雰囲気ガスのプラズマ化を促進するため、より低電圧でプラズマ放電が可能となる。例えぱ50ガウスの磁界では500V、500ガウスの磁界では250V程度の放電でPtのスパッタリングが可能なイオン密度が得られる。しかも発生するプラズマ領域はターゲットのごく近傍に集中するので、基板がイオン衝撃を受ける程度も極めて少ない。このような低電圧放電であれぱ流入する電子による基板の発熱も抑えられ、散乱イオンの衝撃力も弱いので試料の損傷が回避される。そこで間題は20cm〜30cmの大面積をカバーする大面積ターゲット電極の開発である。
特開2004−115841号公報 特開2002−161364号公報 特開平11−315378号公報 特開平11−26230号公報 特開平11−1772号公報 特開平9−241840号公報 特開平7−197254号公報 特開平7−138750号公報
本発明は、前記従来のマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極における課題に鑑み、大面積基板に対応可能なように、広い面積のターゲット金属の表面上に沿って平行な磁場を形成することを可能とすることによりプラズマ放電によって発生する電子をこの磁場の中に閉じ込め、雰囲気ガスのプラズマ化を促進し、基板に損傷を与えることなく、広い面積のターゲット金属をイオンスパッタすることが出来るマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極を提供することを目的とする。
前記の目的を達成するため、本発明では、板状の磁極ヨーク1に同心状に複数のヨーク磁極部4を立ち上げて設け、こられのヨーク磁極部4の間に磁極を何れも同じ方向に向けて磁石2を同心状に配列し、これら磁石2とヨーク磁極部4の間にターゲット金属3を配置すると共に、磁石2とヨーク磁極部4との間で放射状に磁場を形成するようにした。これにより、広いターゲット金属3でも、その表面に沿って均一な磁場を形成出来るようし、基板の大面積化に対応可能とした。
すなわち本発明によるマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極は、磁性体からなり、表面上に同心状の複数のヨーク磁極部4を立ち上げて設けた板状の磁極ヨーク1と、この磁極ヨーク1の前記複数のヨーク磁極部4の間に磁極を何れも同じ方向に向けて同心状に配列された磁石2とを有し、これら磁石2と磁極ヨーク1との間に放射状に磁場を形成し、この磁場に沿ってスパッタ面が位置するように磁石2と磁極ヨーク1との間にターゲット金属3を配置したものである。
このような本発明によるマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極では、磁石2とヨーク磁極部4の間で放射状に磁場を形成することにより、スパッタリングするターゲット金属3の表面上に沿って平行な磁場を形成する。これによりプラズマ放電によって発生する電子をこの磁場の中に閉じ込め、雰囲気ガスのプラズマ化を促進する。
さらに、磁極ヨーク1に同心状に配列された磁石2の磁極にわたって磁性体製の磁極リング5を設けることにより、この磁極リング5と磁極ヨーク1のヨーク磁極部4との間で放射状に平行時間が形成できる。
磁石2は、ターゲット金属3の全体にわたって概ね均等な磁束密度になるよう配置する。例えば、磁極ヨーク1の内周側でも外周側でも、円周方向の単位長さ当たりの磁石2の数を均等にする等の手段で、ターゲット金属3の全体にわたって概ね均等な磁束密度になるよう配置すれば、大面積のターゲット金属3でも均等な磁場を形成することが可能となる。しかも、磁極リング5と磁極ヨーク1のヨーク磁極部4とを何重にも設けることにより、無限に均等な磁場を広げることが出来るので、大面積基板にも容易に対応することが出来る。
前述した本発明によるマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極では、ターゲット金属3の表面に沿って放射状に均一な磁場を形成することが出来るので、この均一な磁場によりプラズマ放電によって発生する電子をこの磁場の中に閉じ込め、雰囲気ガスのプラズマ化を広い面積にわたって均一に促進することが出来る。しかもこの均一な磁場を無限に広げることが可能であり、大面積基板にも容易に対応することが出来る。
本発明では、板状の磁極ヨーク1に設けた同心状の複数のヨーク磁極部4と同心状に配列した磁石2とを磁極ヨーク1の径方向に交互に設け、それらの間のターゲット金属3を配置することで、ターゲット金属3の表面状に放射方向の均一な磁場が形成出来るようにした。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、実施例をあげて詳細に説明する。
図1〜図2に円板型ターゲット電極における磁極配置の一例を示す。図1は構成要素の半断面分解斜視図、図2はその構成要素を組み立てた状態の平面図、図3は図2のA−A線断面図である。これらの図に示すように、本発明では、磁極ヨーク1と磁石2を使用する。
磁極ヨーク1は純鉄などの磁性体で作られ、磁石2の高さに対応した深さを有するお盆型のものである。ターゲット金属3の面積と使用する磁石2の大きさ、保磁力(ガウス)に応じて磁極ヨーク1の上面上に同心円状の隆起部からなる複数のヨーク磁極部4が一体に立ち上げて設けられている。
磁石2は円柱、或いは角柱の小磁石であり、前記磁極ヨーク1のヨーク磁極部4の中間部の同心円上に円周方向に等間隔で複数個ずつ並べて配置する。磁石2は何れも同じ磁極が同じ方向を向くように磁極ヨーク1の上のヨーク磁極部4の間に配列する。さらに、この磁石2の上にドーナツ状の磁性体製の磁極リング5を被せ、この磁極リング5を磁石2の上の磁極と同一磁極とする。例えば磁石2がN極を上に向けて配列されている場合、磁極リング5の上面もN極となり、これを径方向から挟む両側の磁極ヨーク1のヨーク磁極部4はS極となる。これにより、磁極リング5とヨーク磁極部4との間で径方向の平行磁界が形成される。
磁極リング5とヨーク磁極部4との間で形成される径方向の磁界が磁極ヨーク1上のどの位置でも均等となるように、磁石2を磁極リング5の径方向に何れも概ね均等の間隔になるように配置する。こうすることにより、面積に対応してそれぞれの磁石2の単位面積当たりの数が概ね均等となり、磁極ヨーク1上のどの位置でも概ね均等の平行磁界が形成される。
磁極リング5と磁極ヨーク1のヨーク磁極部4の間にドーナツ板状のターゲット金属3が挿入、設置される。ターゲット金属3の全体にわたって磁場の強さが50ガウス〜500ガウス程度でそれぞれ等しく保持するように構成すると、各磁極リング5とヨーク磁極部4の全体に等しい電流密度のプラズマ放電が発生し、ターゲット金属3がスパッタリングされる。このとき、プラズマ放電は同心円状に発生するのでターゲット金属3も同心円状に放出される。従ってターゲット金属3と基板との間隔が近すぎると同心円状の濃淡が生じる。8Pa〜10Paの雰囲気圧力で放電させる場合はターゲット金属3と基板との間隔を3cm〜5cmの間隔をとれば被着膜の厚さが平均化される。
第2図と第3図に点線で示したのは、ターゲット金属3の面積を拡大した場合の例を示している。N極とS極間の磁界強度を一定に構成すれぱ面積の拡大、縮小は自由である。図1〜図3は円形のターゲット金属3を使用した例であるが、方形状の場合も同様の構成で大面積マグネトロンターゲット電極を作ることができる。
マグネトロンスパッタで金属をコーティングする場合のターゲット金属3に対するプラズマ電流密度は白金ターゲットの場合、1cm当たり1.5mAないし2mAを必要とする。直径20cmの場合のターゲット面積は約300cmであるから450mAないし600mAを必要とする筈であるが、プラズマは磁極間の最大磁界部に集中するので上記の60%以下の電流に軽減出来る。実測結果は250mA〜300mAのプラズマ電流におけるPtの被着速度はターゲットと基板との間の距離4cmにおいて1min当たり25nm〜30nmであった。このときの印加電圧は50ガウスの場合は500V、150ガウスの場合は300Vで平行一平板電極の場合の1/4〜1/7である。
図4は250mA、1minコーティング、被着厚さ約25nmにおける直径方向のコーティング厚さ分布を示すグラフである。厚さのバラツキは2nmの範囲にあり10%以下である。SEM観察に必要なPtのコーティング厚さは5nm〜10nmであるから被着速度、厚さのバラツキ共に実用に供して十分な性能である。
図5はイオン衝撃による試料損傷を比較したSEM像である。試料はSi基板上のレジストパターンで、マグネトロンターゲットによるPtコーティングである。スパッタリング電圧300V、電流200mA、コーティング時間15secである。図6は比較例として挙げたもので、平板ターゲットによるAuコーティングの場合である。スパッタリング電圧1400V、電流10mA、コーティング時間30secである。金属をコーティングした後、膜の厚さ方向に切断して断面を観察したものである。矢印で示す如く、図5のマグネトロン電極に比べ、図6の平板電極の場合は角の部分、微細な突起部分がイオン衝撃により失はれている。
本発明によるマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極の一実施例について、その構成部材を分解して示した半断面斜視図である。 本発明によるマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極の一実施例を示した平面図である。 図1のA−A線の断面図である。 本発明によるマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極の一実施例を使用して形成したPt膜の膜厚分布を示すグラフである。 Si基板上に本発明によるマグネトロンターゲットを用いてPtコーティングした後、膜をその厚さ方向に切断して断面を観察した図である。 比較のためSi基板上に平板ターゲットを用いてAuコーティングした後、膜をその厚さ方向に切断して断面を観察した図である。
符号の説明
1 磁極ヨーク
2 磁石
3 ターゲット金属
4 ヨーク磁極部
5 磁極リング

Claims (3)

  1. スパッタリングするターゲット金属(3)の表面上に沿って平行な磁場を形成することによりプラズマ放電によって発生する電子をこの磁場の中に閉じ込め、雰囲気ガスのプラズマ化を促進するマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極において、磁性体からなり、表面上に同心状の複数のヨーク磁極部(4)を立ち上げて設けた板状の磁極ヨーク(1)と、この磁極ヨーク(1)の前記複数のヨーク磁極部(4)の間に磁極を何れも同じ方向に向けて同心状に配列された磁石(2)とを有し、これら磁石(2)と磁極ヨーク(1)との間に放射状に磁場を形成し、この磁場に沿ってスパッタ面が位置するように磁石(2)と磁極ヨーク(1)との間にターゲット金属(3)を配置したことを特徴とするマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極。
  2. 磁極ヨーク(1)に同心状に配列された磁石(2)の磁極にわたって磁性体製の磁極リング(5)を設けたことを特徴とする請求項1に記載のマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極。
  3. 磁石(2)は、ターゲット金属(3)の全体にわたって概ね均等な磁束密度になるよう配置されていることを特徴とする請求項1または2に記載のマグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極。
JP2005004741A 2005-01-12 2005-01-12 マグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極 Expired - Fee Related JP4504208B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005004741A JP4504208B2 (ja) 2005-01-12 2005-01-12 マグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005004741A JP4504208B2 (ja) 2005-01-12 2005-01-12 マグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006193767A JP2006193767A (ja) 2006-07-27
JP4504208B2 true JP4504208B2 (ja) 2010-07-14

Family

ID=36800077

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005004741A Expired - Fee Related JP4504208B2 (ja) 2005-01-12 2005-01-12 マグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4504208B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111192807A (zh) * 2018-11-15 2020-05-22 北京中科信电子装备有限公司 一种新型中束流平行透镜磁铁

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0987839A (ja) * 1995-09-22 1997-03-31 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜作製方法及び薄膜作製装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6783638B2 (en) * 2001-09-07 2004-08-31 Sputtered Films, Inc. Flat magnetron

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0987839A (ja) * 1995-09-22 1997-03-31 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 薄膜作製方法及び薄膜作製装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006193767A (ja) 2006-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11961722B2 (en) Method and apparatus for controlling stress variation in a material layer formed via pulsed DC physical vapor deposition
WO2015139503A1 (zh) 磁控溅射腔室及磁控溅射设备
US8778151B2 (en) Plasma processing apparatus
JP5461264B2 (ja) マグネトロンスパッタリング装置、及び、スパッタリング方法
JP5417437B2 (ja) 成膜方法及び成膜装置
JP2015078440A (ja) カソードユニット及びこのカソードユニットを備えたスパッタリング装置
JP2007529633A (ja) 薄膜を製造するためのスパッタリング装置
JP4992038B2 (ja) スパッタ装置及びスパッタ方法
JP4504208B2 (ja) マグネトロン型イオンスパッタ用ターゲット電極
JP2010248576A (ja) マグネトロンスパッタリング装置
CA2824749C (en) Arc evaporation source
JP3766762B2 (ja) マグネトロンスパッタリング方法および装置
Hayes et al. Fifty centimeter ion beam sourcea
JP2005179716A (ja) スパッタリング装置
JP2017119898A (ja) スパッタリングターゲット及びスパッタ装置
KR101629131B1 (ko) 아크식 증발원
JP2009167492A (ja) 成膜源、スパッタリング装置
TW201807232A (zh) 具高靶材利用率之磁性靶材陰極裝置
JP2004353012A (ja) 圧力勾配型プラズマ発生装置を用いた成膜装置のプラズマ拡散方法
JPS62174376A (ja) スパツタ装置
KR100517439B1 (ko) 증대된 타겟 이용 효율을 갖는 아크 플라즈마 증발 소스
JPS62205270A (ja) マグネトロン電極
JP2002317264A (ja) スパッタ成膜装置
JP2002155357A (ja) マグネトロンスパッタ方法とその装置
WO2012070195A1 (ja) スパッタリング方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071219

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100325

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100405

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100422

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees