JP4499262B2

JP4499262B2 - 電離箱型放射線検出装置及び電離箱検査方法

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Publication number: JP4499262B2
Application number: JP2000272102A
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Inventors: 昌平松原
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Publication date: 2010-07-07
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Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は電離箱型放射線検出装置及び電離箱の検査方法に関し、特に高線量率の放射線に対する電離箱の検出特性の検査に関する。
【０００２】
【従来の技術及びその課題】
原子力発電所等、放射性物質を取扱う施設では、一般に、施設外部や施設敷地内に環境放射線監視装置を設けて、施設内及びその周辺の放射線を監視している。環境放射線監視装置としては空間γ線量率を測定するモニタリングポストが知られている。モニタリングポストはγ線を検出するための電離箱やＮａＩ型検出器等をモニタリングポスト建屋（局舎）屋上に備え、その測定信号を処理する各種モジュールを局舎内に収納する。
【０００３】
モニタリングポストで使用される電離箱容器内には加圧ガス（例えば希ガス）が封入されている。放射線の入射に起因して封入されているガスが電離し、これにより生じた電荷を補集することで放射線の線量率が測定される。
【０００４】
その出力電流は、入射する放射線の線量率に比例するが、電離箱の使用中に容器内表面からの不純ガスの湧き出しや、封入していたガスのリーク等が起こると検出器からの出力電流が減少し、電離箱の性能が劣化する。
【０００５】
そこで、モニタリングポストの電離箱の検出特性が変化していないかどうかを確認するためには、定期的に照射試験を行い、電離箱の出力電流を検査する必要がある。放射線の線量率が低い領域、例えば吸収線量率が数μＧｙ／ｈにおける電離箱の検出特性に関しては、¹³⁷Ｃｓ（３．７ＭＢｑ）等の低放射能線源を電離箱から所定の距離だけ離れた位置に設置して検査を行っている。具体的には、局舎屋上から例えば、１メートルの高さに密封線源を固定して検査が行われる。
【０００６】
一方、放射線の線量率が高い領域、例えば吸収線量率が１００ｍＧｙ／ｈにおける電離箱の性能を検査する場合、もし前述した方法で検査を行おうとするとモニタリングポスト近傍に⁶⁰Ｃｏ（３７０ＧＢｑ）等の高放射能線源を設置しなければならない。しかしながら、そのような線源を持ち込んで作業するのは非常に危険であり、局舎付近における検査は実際上不可能である。このため、高放射能線源を使う場合は、それを取扱うことができる別の施設に電離箱を移して検査を行う必要がある。
【０００７】
しかし、検査の度に、局舎屋上に設置された電離箱を取外し、また細心の注意を必要とする高放射能線源を使用して検査を行うのは非常に時間と労力がかかる等問題がある。
【０００８】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は高線量率における電離箱の検出特性を高放射能線源を利用することなく検査できる電離箱型放射線検出装置及び電離箱の検査方法を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明に係る電離箱型放射線検出装置は放射線を検出する電離箱と、前記電離箱に電圧を印加する電源と、前記電源の印加電圧を切り換える電圧切換手段と、を含み、低線量率の放射線を照射する線源を利用して高線量率での電離箱の検出特性を検査する場合に、前記電源の印加電圧が低電圧に切り換えられることを特徴とする。
【００１０】
上記のように構成すれば、電圧切換手段により前記電離箱に印加される電圧を低電圧に切り換え、電離箱に低線量率の放射線を照射する線源を利用して、高線量率における電離箱の検出特性を検査できる。
【００１１】
後述するように、高電圧を印加した電離箱に高線量率の放射線を照射した場合の電離箱の検出特性と低電圧を印加した電離箱に低線量率の放射線を照射した場合の電離箱の検出特性との間には相関関係があり、その関係に基づけば高線量率における検出特性を検査するために必ずしも高線量率の放射線を電離箱に照射する必要はない。すなわち、低放射能線源を使用して、電離箱に低い線量率の放射線を照射し、当該線量率に応じて印加電圧を下げて検出特性を検査するこで、前記高線量率における検出特性を間接的に検査できる。
【００１２】
ここでの電離箱検査方法は特に電離箱が屋外に固定設置されている場合、例えば前述のモニタリングポストに使用される電離箱の検査には特に有用である。この場合においては、高線量率とは例えば従来施設に電離箱を移して検査を行う必要がある線量率のレベルをいう。
【００１３】
望ましくは、前記電離箱へ印加する低電圧を可変する低電圧可変手段を含む。こうすれば、高線量率における電離箱の検出特性を詳細に検査することができる。また、前記電離箱の出力電流に基づいて、当該電離箱の検出特性の良否判定を行う良否判定手段をさらに含む。
【００１４】
上記目的を達成するために本発明に係る電離箱検査方法は、電離箱に対して低線量率で放射線を照射する工程と、前記電離箱への印加電圧を通常の使用電圧から低電圧に切り換えて、当該電離箱の出力電流を検出する工程と、を含む。
【００１５】
上記のように構成すれば、電離箱に対して低線量率で放射線を照射しつつ、前記電離箱への印加電圧を通常の使用電圧から低電圧に切り換えて、当該電離箱の出力電流を検出し、それに基づいて高線量率における電離箱の検出特性を検査できる。
【００１６】
望ましくは、低線量率における電離箱の検出特性を検査する第１検査工程と、高線量率における前記電離箱の検出特性を検査する第２検査工程と、を含み、前記第１検査工程は、前記電離箱に対して低線量率で放射線を照射する第１照射工程と、前記電離箱へ高電圧を印加して、当該電離箱の出力電流を検出する第１検出工程と、を含み、前記第２検査工程は、前記電離箱に対して低線量率で放射線を照射する第２照射工程と、前記電離箱へ低電圧を印加して、当該電離箱の出力電流を検出する第２検出工程と、を含む。
【００１７】
上記のように構成すれば、前記第１検査工程において、電離箱に対して低線量率で放射線を照射しつつ、電離箱に高電圧を印加し、電離箱から前記放射線の線量率における出力電流を検出し、それに基づいて低線量率における電離箱の検出特性を検査できる。また、前記第２検査工程において、電離箱に対して低線量率で放射線を照射しつつ、電離箱に低電圧を印加し、電離箱から前記放射線の線量率における出力電流を検出し、それに基づいて高線量率における電離箱の検出特性を検査できる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態（以下、実施形態という）を図面を用いて説明する。
【００１９】
図１は、本発明の実施形態に係る電離箱型放射線検出装置を設けたモニタリングポスト１０の全体構成を示す図である。モニタリングポスト１０は設置場所における放射線環境を監視する設備である。
【００２０】
最初にモニタリングポスト１０の構成及び監視時の動作について説明する。電離箱型放射線検出装置は、電離箱１２、電離箱１２に電圧を印加する電源ユニット１４、電離箱１２からの出力電流を電圧信号に変換するエレクトロメータ１６、エレクトロメータ１６からの電圧信号に基づいて線量率等を演算する計数演算部１８、計数演算部１８による演算結果を出力する表示器２０とから構成され、モニタリングポスト１０はさらに、記録媒体２２、送信器２４とから構成される。なお、電離箱１２とエレクトロメータ１６はモニタリングポスト局舎上に設けられる。また、計数演算部１８等は局舎内に設けられる。
【００２１】
電離箱１２は、例えば球形の集電極２６とそれを取り囲む球殻状の容器電極２８とから構成される。容器電極２８は略球形に構成されているため全方向に対して放射線を検出できる。容器電極２８内部には加圧した希ガスが封入されており、放射線が入射すると内部に封入されたガスが電離する。電離箱１２に高電圧を印加し、電離により生じた電荷を補集し、出力電流として電離箱１２から取り出す。容器電極２８は例えば、半径３０ｃｍ、容量１４ｌで、内部には例えば圧力４ａｔｍのＡｒガスが封入されている。但し、電離箱１２の形状、及び封入ガスの種類は本実施例にあげたものに限らない。封入ガスとしては、一旦電離した電子等が付着しにくい窒素ガス等を使用してもよい。
【００２２】
電離箱１２へ電圧を印加する電源ユニット１４は、使用時の電圧を供給する高電圧電源３０と高線量率における電離箱１２の検出特性検査用の低電圧電源３２とを含む。また、電源ユニット１４に設けられたスイッチ機構３４により高電圧電源３０と低電圧電源３２は切り換え可能である。通常の装置使用時には高電圧電源３０により容器電極２８には例えば−１０００Ｖの電圧が印加される。また、低電圧電源３２の印加電圧は例えば−数Ｖであり、電圧値は可変することができる。
【００２３】
集電極２６には導線３６の一端が接続されており、導線３６の他端は絶縁体３８を介して容器電極２８から電離箱１２外部に引出される。導線３６を介して電離箱１２から取り出された出力電流はエレクトロメータ１６で電圧信号に変換され、計数演算部１８に入力される。エレクトロメータ１６はオペアンプ４０、抵抗４２、コンデンサ４４から構成されており、抵抗４２及びコンデンサ４４はフィードバック素子として使用される。例えば、抵抗値は１．５ＴΩ〜１．５×１０MΩまで段階的に切り換えることができ、またコンデンサ４４の容量は５ｐFである。エレクトロメータ１６から出力される電圧信号の大きさは、補集された電荷の平均電流と抵抗４２の抵抗値できまり、また電圧信号のパルスの時定数は抵抗４２の抵抗値とコンデンサ４４の容量との積により定まる。したがって、上記のように抵抗４２及びコンデンサ４４をフィードバック素子として使用すれば、補集した電荷の平均電流に応じた電圧信号を得ることができる。ここで、計数演算部１８の前段に適宜、増幅器、波形整形回路等を設けてもよい。
【００２４】
計数演算部１８は、エレクトロメータ１６からの電圧信号に基づいて放射線の線量率等を演算し、演算結果を表示器２０、記録媒体２２、送信器２４に出力する。また、図１に示す例では、計数演算部１８は電離箱１２の検出特性検査時に良否判定を行う判定部４６を含み、計数演算部１８及び判定部４６はマイコン上で実現される。但し、判定部４６を特別に設けず、良否判定を人為的に行う場合も本発明の一態様である。
【００２５】
表示器２０はモニタリングポストの局舎正面等に設けられ、検出した放射線の線量率等を表示する。また、記録媒体２２は計数演算部１８からの線量率データ等を保存するメモリである。こうすれば、放射線環境に関するデータを後日詳細に分析できる。送信器２４は線量率データ等を遠隔の監視センタ（図示せず）等に送信する。こうすれば、放射線環境を遠隔地にて把握できる。
【００２６】
次に、電離箱１２の低線量率（例えば数μＧｙ／ｈ）及び高線量率（例えば１００ｍＧｙ／ｈ）における検出特性を検査する方法について説明するが、その前に電離箱１２の正常動作時及び劣化時における検出特性を説明する。
【００２７】
図２は、電離箱１２に照射される放射線の線量率を固定した場合における電離箱１２に対する印加電圧と出力電流との関係（飽和特性）を示した図である。横軸は電離箱１２に印加する電圧の大きさ、縦軸は電離箱１２の出力電流を示す。実線は電離箱１２が正常な場合の飽和特性を示しており、一点鎖線は電離箱１２の検出特性が劣化した場合、例えば容器内表面からの不純ガスの湧き出しや、封入していたガスのリーク等が起こった場合の飽和特性を示している。
【００２８】
電離箱１２の検出特性が正常な場合、印加電圧を低電圧側から上げていくにしたがって、電離箱１２の出力電流は増加する（図中、Ａ再結合領域参照）。しかし、さらに印加電圧を上げると出力電流はある値で飽和し、それ以上印加電圧を上げても一定範囲においては出力電流の値にあまり変化が見られない（図中、Ｂ飽和領域参照）。なぜなら、印加電圧が低い領域では、電離箱１２内に生成される電場が弱いため、電離で生じたイオンの速度が遅く、集電極２６、或いは容器電極２８に到達する前に、正負のイオンが結合するからである。これは周知のように再結合といわれる。すなわち、印加電圧を上げていくと、イオンの速度が増し、電極に到達する前に結合する割合が減少するので出力電流は増加する。さらに印加電圧を増加すると、電離で生じたイオンのほとんどすべてを電極に集めることができるので、出力電力はそれ以上増加せず飽和値に達する。この飽和領域にある出力電流は飽和電流と称される。
【００２９】
電離箱１２が劣化した場合、例えば容器内表面からの不純ガスの湧き出しが起こった場合は電離箱１２内の不純ガス濃度が増加するために、正常時よりもイオンの再結合する割合が多くなる。それゆえ、出力電流が飽和電流に達するためには正常時よりも高電圧を印加する必要がある。図２において、印加電圧Ｖ₀における出力電流は正常時は飽和電流に達していたが、劣化時には出力電流が減少しており、飽和電流からの損失分（図中、ａ参照）が見られる。
【００３０】
なお、図２に示した飽和特性の振る舞いは基本的に電離箱１２に照射される放射線の線量率の大きさによらない。すなわち、印加電圧を上げていくにしたがって、電離箱１２の出力電流は増加し、さらに印加電圧をあげると出力電流はある値で飽和する。ただし、電離により生成されるイオン数は線量率に比例するので、飽和電流の値は線量率に比例する。
【００３１】
次に、図３を用いて放射線の線量率を変化させた場合、電離箱１２の出力電流の変化を説明する。ここで、電離箱１２には通常の使用電圧（高電圧：１０００Ｖ）が印加されている。横軸は電離箱１２に照射された放射線の吸収線量率、縦軸は電離箱１２の出力電流を示す。実線は電離箱１２の検出特性が正常な場合を示しており、一点鎖線は電離箱１２の検出特性が劣化した場合のものを示している。
【００３２】
電離箱１２の検出特性が正常な場合、出力電流が入射する放射線の線量率に比例している（線量率直線性）。なお、各線量率における出力電流は飽和電流である。一方、一点鎖線は電離箱１２の検出特性が劣化した場合であり、低線量率側で出力電流は線量率にほぼ比例しているが、高線量率側では線量率直線性が低下している。これは、電離箱１２内の不純ガス濃度が増加し、出力電流に飽和電流からの損失分（図中、ｂ参照）が生じるためである。高線量率側で、損失分の割合が大きくなるのは、イオンの再結合する割合がその密度に依存するためであり、イオンの密度が大きいほど再結合する割合が多くなるからである。
【００３３】
したがって、一般に所定の線量率における電離箱１２の検出特性を検査するには電離箱１２に使用電圧を印加し、目的の線量率に応じた線源により電離箱１２を照射しそこからの出力電流を検出して出力電流が飽和電流に達しているかを検査すればよい。
【００３４】
以下、図４に低線量率、例えば吸収線量率が数μＧｙ／ｈにおける電離箱の検出特性を検査する工程を示す。まず、低放射能の線源４８（図１中、点線参照）、例えば¹³⁷Ｃｓ（３．７ＭＢｑ）等を所定の位置に配置し、低線量率で放射線を電離箱１２に照射する（Ｓ１０１）。ここで、線源４８は例えば局舎屋上から１メートルの位置に固定される。次に、高電圧電源３０により使用電圧を電離箱１２に印加した状態で、電離箱１２からの出力電流をエレクトロメータ１６により検出する（Ｓ１０２）。エレクトロメータ１６は出力電流を電圧信号に変換し、それに基づいて、電離箱１２の検出特性の良否判定を予め定められた基準に基づいて行う（Ｓ１０３）。判定方法としては、例えば飽和電流に対して検出された飽和電流からの損失分の割合が±５％以内なら検出特性が正常であると判定し、そうでない場合は電離箱１２が劣化していると判定すればよい。判定結果は表示器２０、記録媒体２２、送信器２４等に出力される。
【００３５】
検出特性を検査するに際し、検査したい線量率の値が十分低ければ目的の線量率に応じた線源を使えばよいが、目的とする線量率が高い場合（例えば数１００ｍＧｙ／ｈ）、高線量率の線源を直接使えない場合があり、その時は上記の方法は使えない。
【００３６】
しかしながら、使用電圧を印加した電離箱１２に高線量率の放射線を照射した場合の電離箱１２の検出特性は使用電圧よりも低電圧を印加した電離箱１２に低線量率の放射線を照射した場合の電離箱１２の検出特性と相関があり、高線量率の線源を使わずに低線量率の線源を使って電離箱１２の検出特性を検査することができる。
【００３７】
図５は高線量率（１００ｍＧｙ／ｈ）において使用電圧（高電圧：１０００Ｖ）付近の電圧を印加した場合の電離箱１２の飽和特性と低線量率（数μＧｙ／ｈ）において低電圧（数Ｖ）を印加した場合の電離箱１２の飽和特性を図示したものである。横軸は電離箱１２に印加する電圧の大きさ、縦軸は電離箱１２の出力電流を示す。実線は正常時の飽和特性であり、点線は劣化時の飽和特性である。右上には、吸収線量率が１００ｍＧｙ／ｈにおける飽和特性の一部が示されている。一方、左下には吸収線量率が数μＧｙ／ｈにおける飽和特性が示されている。図からわかるように、高線量率の放射線を照射し、高電圧を印加した場合の飽和特性と、低線量率の放射線を照射し、低電圧を印加した場合の飽和特性とは類似しており、両者に相関関係があることがわかる。
【００３８】
印加電圧が１０００Ｖの場合、正常時は飽和電流Ｉ₁が出力電流であり、劣化時は再結合による飽和電流からの損失分δＩ₁（図中、ｃ参照）を生じる。一方、低電圧側において、正常時に得られる飽和電流をＩ₂とし、劣化した場合の飽和電流からの損失分をδＩ₂（図中、ｄ参照）とすると、電圧の値をうまく選ぶことにより飽和電流と損失分の比δＩ₁／Ｉ₁とδＩ₂／Ｉ₂とが等しくなるようにすることができる。逆にいえば、Ｉ₂及びδＩ₂を測定すれば、吸収線量率が１００ｍＧｙ／ｈ、印加電圧が１０００Ｖにおける電離箱１２の検出特性が検査できる。
【００３９】
以下、簡単のために平行平板電極間に電圧を印加した電離箱において上記の相関関係を具体的にみる。電離箱の飽和電流Ｉと再結合による飽和電流からの損失分δＩとの比δＩ／Ｉは次式で与えられる。
【００４０】
【数１】
δＩ／Ｉ＝（α・Ｎ₀・ｄ²）／（６・ｗ₊・ｗ_-）（１）
ただし、δＩは損失する場合を正にとる。ここでαは再結合係数、Ｎ₀は単位時間あたりのイオン発生率、ｄは電極間距離、ｗ₊は正のイオンの速度、ｗ_-は負のイオンの速度、である。正／負イオンの速度ｗ±は、電離箱内の電場Ｅ、電離箱内のガスの封入圧Ｐ、正／負イオンの移動度μ±により定まり、ｗ±＝μ±・Ｅ／Ｐの関係がある。ここで、単位時間あたりのイオン発生率Ｎ₀が吸収線量率に比例していること、また電場が電圧とＥ＝Ｖ／ｄの関係にあることに注意すると、δＩ／Ｉは吸収線量率に比例し、Ｖ²に反比例する。使用電圧１０００Ｖを印加し、高線量率、例えば１００ｍＧｙ／ｈの吸収線量率におけるδＩ／Ｉを測定したい場合、低放射能線源を使用して同じδＩ／Ｉが測定できる。例えば吸収線量率が０．３μＧｙ／ｈとすると簡単な計算で印加電圧を約１．７Ｖまで下げれば同じδＩ／Ｉを測定できる。
【００４１】
なお、式（１）は平行平板電極を備えた電離箱においてのみ成立する関係であるが、電離箱の飽和電流Ｉと再結合による飽和電流からの損失分δＩとの比δＩ／Ｉが吸収線量率が大きくなれば大きくなり、また印加電圧、すなわち電離箱内の電場が大きくなれば小さくなるという関係は電離箱の形状によらず一般的に成立する。
【００４２】
したがって、高線量率の線源を使わないで、高線量率における電離箱１２の検出特性を検査するには、低線量率の線源で電離箱１２を照射し、印加電圧を使用電圧から低電圧に切り換えて電離箱１２の出力電流を検出し、低線量率の線源で電離箱１２を照射した場合の正常時の出力電流と比較すればよい。
【００４３】
以下、図６に高線量率、例えば吸収線量率が１００ｍＧｙ／ｈにおける電離箱の検出特性を高放射能線源を用いずに検査する工程を示す。まず、低放射能の線源４８（図１中、点線参照）、例えば¹³⁷Ｃｓ（３．７ＭＢｑ）等を所定の位置に配置し、低線量率で放射線を電離箱１２に照射する（Ｓ２０１）。ここで、当該低放射能の線源４８は前述の低線量率における電離箱の検出特性を検査する際に使用した線源と同じものを使用してもよい。次に、スイッチ機構３４により電離箱１２の電源を高電圧電源３０から低電圧電源３２に切り換えた状態において、電離箱１２からの出力電流をエレクトロメータ１６により検出する（Ｓ２０２）。計数演算部１８はエレクトロメータ１６からの電圧信号を記録する（Ｓ２０３）。次に、印加電圧を変化させて（Ｓ２０４）その変化にともなう電圧信号を逐次、計数演算部１８により記録する。その記録に基づいて、予め定められた基準と照らして電離箱１２の検出特性の良否を判定し（Ｓ２０５）、その結果を表示器２０、記録媒体２２、送信器２４に出力する。
【００４４】
良否判定は、印加電圧を変化させずに行ってもよく、その場合、例えば飽和電流に対して検出された飽和電流からの損失分の割合が±５％以内なら検出特性が正常であると判定し、そうでない場合は電離箱１２が劣化していると判定すればよい。印加電圧を変化させる場合は、電離箱１２の正常時に得られる既知の電圧信号と比較してもよいし、印加電圧の変化にともない得られた一連の電圧信号のグラフ形状例えば傾き等に基づいてもよい。また、良否判定は本実施形態においては判定部４６において行われるが、人為的に行う場合も本発明の一態様である。
【００４５】
本実施形態においては、高線量率における電離箱の検出特性を低放射能線源を用いて検査したが、一般には所定の線量率の放射線を電離箱に照射した状態で、印加電圧を変化させれば、任意の線量率における電離箱の検出特性が検査できる。
【００４６】
また、電源ユニット１４のスイッチによる電圧電源の切り換えは手動で行ってもよく、判定部４６で制御するようにしてもよい。
【００４７】
上記の電離箱型放射線検出装置及び電離箱検査方法は、γ線測定用電離箱に限らず、封入ガスの電離作用を利用するものであればいずれの電離箱にも適用可能である。
【００４８】
【発明の効果】
上記のように構成したので、本発明に係る電離箱型放射線検出装置および電離箱検査方法によれば高線量率における電離箱の検出特性を高放射能線源を利用することなく検査できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係る電離箱型放射線検出装置を設けたモニタリングポストを示す図である。
【図２】電離箱の飽和特性を示す図である。
【図３】電離箱の検出特性を示す図である。
【図４】低線量率における電離箱の検出特性を検査する工程を示すフローチャートである。
【図５】高線量率における電離箱の飽和特性と低線量率におけるものとの相関関係を示す図である。
【図６】高線量率における電離箱の検出特性を検査する工程を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１０モニタリングポスト、１２電離箱、１４電源ユニット、１６エレクトロメータ、１８計数演算部、２０表示器、２２記録媒体、２４送信器。

Claims

放射線を検出する電離箱と、
前記電離箱に電圧を印加する電源と、
前記電源の印加電圧を通常の使用電圧から低電圧に切り換える電圧切換手段と、
前記電離箱の検出特性の良否を判定する良否判定手段と、
を含み、
前記良否判定手段は、前記低電圧を印加された前記電離箱により検出される低線量率の放射線に関する検出特性に基づいて、高線量率の放射線に対する前記電離箱の検出特性の良否を判定する、
ことを特徴とする電離箱型放射線検出装置。
請求項１に記載の電離箱型放射線検出装置において、
前記良否判定手段は、前記低電圧を印加されて前記低線量率の放射線を検出した前記電離箱の飽和特性と予め定められた正常時の飽和特性との比較に基づいて、高線量率の放射線に対する前記電離箱の検出特性が劣化しているか否かを判定する、
ことを特徴とする電離箱型放射線検出装置。
請求項２に記載の電離箱型放射線検出装置において、
前記良否判定手段は、前記低電圧を変化させつつ前記低線量率の放射線を検出することにより得られる前記電離箱の飽和特性と前記正常時の飽和特性を比較する、
ことを特徴とする電離箱型放射線検出装置。
高線量率での電離箱の検出特性の良否を検査する電離箱検査方法であって、
前記電離箱に対して低線量率で放射線を照射する工程と、
前記電離箱への印加電圧を通常の使用電圧から低電圧に切り換えて、当該電離箱の出力電流を検出する工程と、
前記検出により得られる低線量率の放射線に関する検出特性に基づいて、高線量率の放射線に対する前記電離箱の検出特性の良否を判定する工程と、
を含むことを特徴とする電離箱検査方法。
低線量率における電離箱の検出特性の良否を検査する第１検査工程と、
高線量率における前記電離箱の検出特性の良否を検査する第２検査工程と、
を含み、
前記第１検査工程は、
前記電離箱に対して低線量率で放射線を照射する第１照射工程と、
前記電離箱へ高電圧を印加して、当該電離箱の出力電流を検出する第１検出工程と、
前記第１検出工程において得られた検出結果と予め定められた基準とに基づいて、低線量率における電離箱の検出特性の良否を判定する第１判定工程と、
を含み、
前記第２検査工程は、
前記電離箱に対して低線量率で放射線を照射する第２照射工程と、
前記電離箱へ低電圧を印加して、当該電離箱の出力電流を検出する第２検出工程と、
前記第２検出工程において得られた検出結果と予め定められた基準とに基づいて、高線量率における電離箱の検出特性の良否を判定する第２判定工程と、
を含むことを特徴とする電離箱検査方法。