JP4483746B2 - 欠陥画素補正方法及び装置 - Google Patents

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Description

本発明は、カラー撮像装置に用いる撮像素子の欠陥画素を補正する方法及び装置に関する。
多数の画素を持つ撮像素子には、製造過程で発生する結晶欠陥等により、正常な信号を出力することができない画素(欠陥画素)が存在しており、従来から、この欠陥画素の出力信号を補正する工夫が行われている(例えば、特許文献1または特許文献2参照)。
このような欠陥画素に対する従来の補正方法を図6〜図8を用いて説明する。
図6は欠陥画素の補正機能を備えたカラー撮像装置の構成を示すブロック図であり、この装置は、撮像素子501、欠陥画素補正回路502、及び制御回路503を備えている。補正前の画像信号Pが撮像素子501から欠陥画素補正回路502に入力され、欠陥画素補正回路502から補正された画像信号Qが出力される。制御回路503は、撮像素子501に読み出し制御信号Aを供給し、また、読み出し制御信号Aに同期して、予め記憶されている撮像素子501上の欠陥画素の位置に応じて欠陥補正制御信号Bを、欠陥画素が読み出されるタイミングで欠陥画素補正回路502に供給する。
撮像素子501は、制御回路503から供給される読み出し制御信号Aにしたがい、順次被写体の明るさに応じた画像信号Pを欠陥画素補正回路502に出力する。欠陥画素補正回路502は、制御回路503から供給される欠陥補正制御信号Bにしたがって、入力された画像信号Pが欠陥画素の出力信号か非欠陥画素の出力信号かを逐次判断する。入力された画像信号Pが非欠陥画素の出力信号である場合は画像信号Pをそのまま出力画像信号Qとして出力し、欠陥画素の出力信号である場合は所定の処理で出力画像信号Qを生成し出力する。
図7は欠陥画素補正回路502における欠陥画素補正方法を説明するためのフローチャートである。撮像素子501の画素座標nの画素から読み出される画像信号をP(n)、画素座標nの画素が欠陥画素か非欠陥画素かを示す欠陥補正制御信号をB(n)、画素座標nの画素に対する欠陥画素補正回路502の出力画像信号をQ(n)とする。まず、欠陥画素補正回路502は、欠陥補正制御信号B(n)にしたがって、入力された画像信号P(n)が欠陥画素の出力信号であるかどうかを判断する(ステップS601)。ステップS601での判断結果がNO、つまり画像信号P(n)が非欠陥画素の出力信号である場合は、ステップS602に進み、欠陥画素補正回路502は画像信号P(n)をそのまま出力画像信号Q(n)として出力する。
一方、前記ステップS601での判断結果がYES、つまり画像信号P(n)が欠陥画素の出力信号である場合は、ステップS603に進み、欠陥画素の近傍に位置する画素の出力信号を元にして欠陥画素の出力信号に替わる補正された出力画像信号Qを生成する。この例では、欠陥画素の出力信号である画像信号P(n)の1つ前の画像信号P(n−1)を出力画像信号Q(n)として出力する。以下この流れに沿って順次信号処理が行われる。
次に、図8を用いて上記欠陥画素の補正の具体例を説明する。図8(a)は画素座標n−2からn+5までの画素座標順の画像信号Pの信号レベルが示されているグラフであり、同図(b)は同様に画素座標n−2からn+5までの画素座標順の出力画像信号Qの信号レベルが示されているグラフである。この例では、画素座標nの画素が欠陥画素となっている。画素座標n−2の画素は非欠陥画素であるためステップS601で画像信号P(n−2)は非欠陥画素の出力信号と判断され、ステップS602に進み、画像信号P(n−2)がそのまま出力画像信号Q(n−2)として出力される。同様に座標n−1の画素の画像信号P(n−1)も非欠陥画素の出力信号と判断され画像信号P(n−1)がそのまま出力画像信号Q(n−1)として出力される。
一方、画素座標nの画素は欠陥画素であるためステップS601で画像信号P(n)は欠陥画素の出力信号と判断され、ステップS603に進み、欠陥補正制御信号Bにしたがって、画素座標nの1つ前の画素座標n−1の画像信号P(n−1)が画素座標nの出力画像信号Q(n)として出力される。画素座標n+1及びn+2の画像信号P(n+1)及びP(n+2)はステップS601で再び非欠陥画素の出力信号と判断され、画像信号P(n+1)及びP(n+2)がそのまま出力画像信号Q(n+1)及びQ(n+2)として出力される。同図(b)には画素座標nの出力画像信号Q(n)が欠陥画素補正回路502で補正されて画素座標(n−1)の画像信号P(n−1)が補正信号として使われていることを示している。
特公昭60−13549号公報 特公昭62−40917号公報
前記した従来の欠陥画素の補正方法では、欠陥画素の画像信号を1画素前の画像信号に置き換える前置補間方式が用いられており、本来の画像信号(正常な画素から得られるべき画像信号)に対して少なからず誤差が生じる。欠陥画素が孤立した1画素の場合は、この誤差は実用上問題ないが、欠陥画素が複数個連続している場合は、画質劣化として認知されやすくなる。この現象について図9を用いて説明する。
図9はカラー撮像装置に用いるR、G、Bの3つの撮像素子別に画像信号P及び出力画像信号Qの信号レベルが画像座標順に示されているグラフである。撮像画素が非欠陥画素であり画像信号Pがそのまま出力画像信号Qになっているものは白丸で示され、一方、画素が欠陥画素で欠陥画素補正回路502において補正を加えられた出力画像信号Qは黒丸で示されている。同図(a)(b)(c)はそれぞれR成分、G成分、及びB成分に対応している。また、R、G、Bの3つの色成分の画像信号をそれぞれPr、Pg、Pbとし、出力画像信号はそれぞれQr、Qg、Qbとする。図9に示された例は、被写体像として比較的細かい絵柄の場合に相当する。詳細には、同図(a)(b)(c)に示すように、B成分の画素座標n〜n+3の画素が欠陥画素であって、R、G、2つの色成分とも座標nからn+3の区間には信号レベルの高低がほぼ1周期分存在している。
このような画像信号Pに対してR、G、B各成分において従来の欠陥画素補正処理を行なうと、欠陥画素のないR及びG成分については画像信号Pr、Pgがそのまま出力信号Qr、Qgとして出力される。一方、B成分においては、欠陥画素補正回路502の補正により、欠陥画素直前の非欠陥画素である画素座標n−1の画像信号Pb(n−1)が一様に欠陥画素である画素座標n〜n+3の出力信号Qb(n)〜Qb(n+3)として出力される。つまり、5画素連続して信号レベルが同一となってしまう。この結果、画素座標n及びn+1では、隣接する正常な画素(画素座標n−1以前、及び画素座標n+4以降)に比べB成分の増加がないため「黄色味」を帯び、逆に、座標n+2およびn+3ではB成分の減少がないため「青味」を帯びた画像となる。黄色と青は補色の関係にあり隣接して配置された場合、人間の視覚に特に認知されやすく、比較的細かい絵柄の被写体像においては、欠陥画素部分が周囲の画素とは異なる色相で認知され、著しく画質を劣化させる。
また、本来、欠陥画素のないR成分及びG成分に対しても座標n〜n+3を欠陥画素とみなして補正することで、R、G、B全ての成分について非欠陥画素であるそれぞれの色成分の画像信号P(n−1)を出力信号Q(n)〜Q(n+3)として出力し、上記のような色相の変化を防止することもできる。しかし、このような補正方法においては、細かい絵柄の被写体が移動した場合、欠陥画素周辺(前後)の正常な画素では細かい絵柄(画像の高周波成分)は再現されるが、被写体が欠陥画素部分を通過する時には、同一信号(欠陥画素直前の非欠陥画素の信号)が5画素分連続するため、移動する被写体像の高周波成分が特定の座標部分だけ再現されなくなり、著しく不自然な画像として認知される。
本発明は、このような従来の問題点に鑑みなされたものであり、カラー撮像装置において、比較的細かい絵柄の被写体像を撮像した場合にも、欠陥画素部分が周囲の画素と比較して不自然になることを防止する欠陥画素補正方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため請求項1に記載の発明は、欠陥画素を含む複数の画素が配列された撮像素子から得られる信号に対して、前記欠陥画素の位置が欠陥画素の補正時には予め判明しているカラー表示用の撮像素子の欠陥画素補正方法において、1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて前記欠陥画素領域における信号レベルの傾きを示す傾きパラメータを算出する第1ステップと、カラー画像を構成する各色成分のうち、前記欠陥画素を含む欠陥画素色成分と、該欠陥画素色成分以外の非欠陥画素色成分との相関性を、前記第1のステップで算出された傾きパラメータに基づいて判定する第2ステップと、前記欠陥画素色成分及び前記第2ステップで相関性が高いと判定された非欠陥画素色成分について、前記分欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて欠陥画素領域の信号を補間する補間値を算出する第3ステップと、前記第2ステップで相関性が高いと判定された非欠陥画素色成分について、前記撮像素子の出力信号と、前記第3ステップで算出された補間値との差分値を算出する第4ステップと、前記欠陥画素色成分について前記第3ステップで算出された補間値と、前記第4ステップで算出された差分値とを用いて、前記欠陥画素の信号レベルを補正する第5ステップとからなることを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、欠陥画素を含む複数の画素が配列された撮像素子から得られる信号に対して、前記欠陥画素の位置が欠陥画素の補正時には予め判明しているカラー表示用の撮像素子の欠陥画素補正方法において、1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて前記欠陥画素領域における信号レベルを補間する補間値を算出する第1ステップと、前記撮像素子の出力信号と前記補間値との差分値を算出する第2ステップと、カラー画像を構成する色成分のうち、前記欠陥画素を含む色成分について前記第1ステップで算出された補間値と、欠陥画素を含まない色成分について前記第2ステップで算出された差分値の平均値とを用いて、前記欠陥画素の信号レベルを補正する第3ステップとからなることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、欠陥画素を含む複数の画素が配列された撮像素子から得られる信号に対して、前記欠陥画素の位置が欠陥画素の補正時には予め判明しているカラー表示用の撮像素子の欠陥画素補正装置において、1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて前記欠陥画素領域における信号レベルの傾きを示す傾きパラメータを算出する傾きパラメータ算出手段と、カラー画像を構成する各色成分のうち、前記欠陥画素を含む欠陥画素色成分と、該欠陥画素色成分以外の非欠陥画素色成分との相関性を、前記傾きパラメータ算出手段で算出された傾きパラメータに基づいて判定する相関性判定手段と、前記欠陥画素色成分及び前記相関性判定手段で相関性が高いと判定された非欠陥画素色成分について、前記欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて欠陥画素領域の信号を補間する補間値を算出する補間値算出手段と、前記相関性判定手段で相関性が高いと判定された非欠陥画素色成分について、前記撮像素子の出力信号と、前記補間値算出手段で算出された補間値との差分値を算出する差分値算出手段と、前記欠陥画素色成分について前記補間値算出手段で算出された補間値と、前記差分値算出手段で算出された差分値とを用いて、前記欠陥画素の信号レベルを補正する補正手段とからなることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、欠陥画素を含む複数の画素が配列された撮像素子から得られる信号に対して、前記欠陥画素の位置が欠陥画素の補正時には予め判明しているカラー表示用の撮像素子の欠陥画素補正装置において、1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて前記欠陥画素領域における信号レベルを補間する補間値を算出する補間値算出手段と、前記撮像素子の出力信号と前記補間値との差分値を算出する差分値手段と、カラー画像を構成する色成分のうち、前記欠陥画素を含む色成分について前記補間値算出手段で算出された補間値と、欠陥画素を含まない色成分について前記差分値算出手段で算出された差分値の平均値とを用いて、前記欠陥画素の信号レベルを補正する補正手段とからなることを特徴とする。
請求項1または3に記載の発明によれば、1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて欠陥画素領域における信号レベルの傾きを示す傾きパラメータが算出され、この傾きパラメータに基づいて、カラー画像を構成する各色成分のうち、欠陥画素を含む欠陥画素色成分と欠陥画素色成分以外の非欠陥画素色成分との相関性が判定される。そして、欠陥画素色成分及び相関性が高いと判断された非欠陥画素色成分について、欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて欠陥画素領域の信号を補間する補間値が算出され、相関性が高いと判定された非欠陥画素色成分について撮像素子の出力信号と欠陥画素領域の信号を補間する補間値との差分値が算出され、この差分値と補間値とを用いて、欠陥画素の信号レベルが補正される。これにより比較的細かい絵柄の被写体を撮像した場合にも、欠陥画素部分が周囲の画素と比較して不自然になることを防止することができる。
請求項2または4に記載の発明によれば、1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号が用いられて欠陥画素領域における信号レベルを補間する補間値が算出され、この補間値と、撮像素子の出力信号との差分値が算出され、欠陥画素を含む色成分について、算出された補間値と、欠陥画素を含まない色成分について算出された差分値の平均値とを用いて、欠陥画素の信号レベルが補正される。これにより比較的細かい絵柄の被写体を撮像した場合にも、欠陥画素が周囲の画素と比較して不自然になることを防止することができる。
以下本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1は本発明の欠陥画素補正方法を適用したカラー撮像装置の要部の構成を示す図である。この装置は、撮像素子1、欠陥画素補正回路2、及び制御回路3からなる。撮像素子1及び制御回路3は、図6に示す従来の装置の撮像素子501及び制御回路503と同様に動作する。図1に示す装置では欠陥画素補正回路2における欠陥画素補正処理が、図6に示す欠陥画素補正回路502における処理と異なっている。
図2は、欠陥画素補正回路2における欠陥画素補正処理のフローチャートであり、図3は本実施形態の欠陥画素補正信号の生成方法を説明するためのグラフである。
以下、本実施形態ではカラー撮像装置のB成分の画素座標nからn+3の4画素が欠陥画素であるとして説明をする。また、R、G、B各成分の撮像素子の画素座標nの画素から読み出される画像信号をPr(n)、Pg(n)、Pb(n)、画素座標nのR、G、B各成分の画素が欠陥画素か非欠陥画素かを示す欠陥補正制御信号をBrgb(n)、画素座標nの画素に対する欠陥画素補正回路2の出力画像信号をQr(n)、Qg(n)、Qb(n)とする。
図2に示す処理では、先ず、欠陥補正制御信号Brgb(n)によって、欠陥画素補正回路2に入力された画像信号P(n)の何れの色成分が欠陥画素を含む欠陥画素座標の出力であるか、または欠陥画素を含まない非欠陥画素座標の出力であるかどうかが判断される(ステップS101)。ここで、欠陥補正制御信号Brgb(n)は、画素座標nにおいてR、G、B何れかの画素に欠陥があるかを示す信号であり、例えば、R成分が欠陥画素である場合はBrgb(n)=(1,0,0)、G成分が欠陥画素である場合はBrgb(n)=(0,1,0)、B成分が欠陥画素である場合はBrgb(n)=(0,0,1)となり、R、G、B何れの色成分の画素にも欠陥がない場合はBrgb(n)=(0,0,0)となる3ビットの信号である。ステップS101での判断結果がR、G、B何れの成分の画素にも欠陥がない非欠陥画素座標の場合には、ステップS102に進み、画像信号P(n)をそのまま出力画像信号Q(n)として出力する。
一方、上記ステップS101での判断結果で、R、G、Bの何れかの画素に欠陥がある欠陥画素座標の場合は、ステップS103に進み各色成分ごとに欠陥画素座標の前後の非欠陥画素間の傾きを示す傾きパラメータKr(n)、Kg(n)、Kb(n)を算出する。具体的には、欠陥画素座標nの1つ前の非欠陥画素(n−1)の画像信号P(n−1)と非欠陥画素座標(n+4)の画像信号P(n+4)との信号レベル差を算出し、各色成分毎にKr(n)、Kg(n)、Kb(n)とする。
次に、ステップS104に進み、前記ステップS103で得られた各色成分ごとの傾きパラメータKr(n)、Kg(n)、Kb(n)と欠陥補正制御信号Brgb(n)から、欠陥画素色(以下パラメータxで示す)と、欠陥画素のない2色のうちで欠陥画素色xと相関性の高い相関色(以下パラメータyで示す)と、欠陥画素と相関性の低い非参照色(以下パラメータzで示す)とに、3つのR、G、Bの色成分を識別(判定)する。
本実施形態ではB成分が欠陥画素色xであるから、R成分の傾きパラメータKrとG成分の傾きパラメータKgのうち、B成分の傾きパラメータKbに近い色成分が相関色yとし、欠陥画素色x及び相関色y以外の色成分が非参照色zとなる。ステップS104での判定結果で非参照色zになった色成分については、ステップS102に進み、画像信号Pz(n)をそのまま出力画像信号Qz(n)として出力する。一方、ステップS104での判断結果で欠陥画素色xおよび相関色yになった色成分については、ステップS105に進み、それぞれの色成分ごとに欠陥画素座標に隣接する非欠陥画素間の信号レベルを線形補間する線形補間値Sx(n)及びSy(n)を算出する。
ここで、線形補間値を算出するためには連続している欠陥画素の個数と、欠陥画素に前後に隣接する非欠陥画素の画像信号が必要であるが、これらは、画像信号P(n)と欠陥補正制御信号Brgb(n)とを、バッファメモリに順次記憶しながら、欠陥補正制御信号Brgb(n)の連続数を計数することで容易に得ることができる。
更にステップS106に進み、相関色については画像信号Py(n)から前記ステップS105で算出した線形補間値Sy(n)を減算し、線形補間値に対する高域差分値dy(n)を算出する。
次に、ステップS107に進み、欠陥補正制御信号Brgb(n)から、入力された信号が欠陥画素色xか相関色yかを判断する。ステップS107での判断結果で入力された信号が相関色yであった場合はステップS102に進み、画像信号Py(n)をそのまま出力画像信号Qy(n)として出力する。一方、ステップS107での判断結果で入力された信号が欠陥画素色xであった場合は、ステップS108に進み、欠陥画素色xの線形補間値Sx(n)に、相関色yの高域差分値dy(n)を加算し、欠陥画素に対する補正信号Qx(n)として出力する。
次に、図3を用いて上記欠陥画素の補正の具体例を説明する。図3には3つの色成分別に画像信号P及び出力画像信号Qの信号レベルが、画素座標n−2からn+5までの画素座標順に示されている。画素が非欠陥画素であり画像信号Pがそのまま出力画像信号Qになっているものは白丸で示され、一方、画素が欠陥画素で欠陥画素補正回路2において補正された出力画像信号Qは黒丸で示されている。同図(c)には3つの色成分のうちB成分の信号レベルが示されており、画素座標nからn+3の4画素が欠陥画素となっている。
画素座標n−2の画素はステップS101で非欠陥画素と判断され、ステップS102に進み、各色成分の画像信号P(n−2)がそのまま出力画像信号Q(n−2)として出力される。同様に画素座標n−1の画素も非欠陥画素と判断され画像信号P(n−1)がそのまま出力画像信号Q(n−1)として出力される。画像座標nは欠陥画素であるからステップS101からステップS103に進み、各色成分ごとに欠陥画素座標n〜n+3の前後に隣接する非欠陥画素の画像信号P(n−1)及びP(n+4)間の傾きパラメータKr(n)、Kg(n)、及びKb(n)が算出される。図3では、各色成分ごとの傾きパラメータに相当する部分を太線で図示している。また各色成分ごとの傾きパラメータの計算式を下に示す。
Kr(n)=Pr(n−1)−Pr(n+4)
Kg(n)=Pg(n−1)−Pg(n+4)
Kb(n)=Pb(n−1)−Pb(n+4)
次にステップS104に進み、欠陥画素のある色成分のB成分の傾きパラメータKb(n)と、他の2つの色成分のそれぞれの傾きパラメータを比較することで相関性が判定される。具体的には、R成分の傾きパラメータKr(n)とB成分の傾きパラメータKb(n)の差の絶対値とG成分の傾きパラメータKg(n)とB成分の傾きパラメータKb(n)の差の絶対値を比較する。本実施形態では、下記式で示すように、R成分の傾きパラメータKr(n)とB成分の傾きパラメータKb(n)との差が、G成分の傾きパラメータKg(n)とB成分の傾きパラメータKb(n)との差より大きくなっている。このことからB成分とR成分は相関性が低く、G成分とB成分は相関性が高いと判断される。よって、R成分が非参照色z、G成分が相関色yとなる。
|Kr(n)−Kb(n)|>|Kg(n)−Kb(n)|
上記判定結果、非参照色zであるR成分に関してはステップS102に進み、画像信号Pz(n)すなわちPr(n)がそのまま出力画像信号Qr(n)として出力される。
Qr(n)=Pr(n)
次いで、ステップS105において、欠陥画素色xであるB成分と相関色yであるG成分に関して、欠陥画素座標n〜n+3の前後に隣接するの非欠陥画素の画像信号P(n−1)及びP(n+4)間を線形補間した補間値Sy(n)であるSg(n)、及び補間値Sx(n)であるSb(n)が次の式により算出される。
Sg(n)=4/5×Pg(n−1)+1/5×Pg(n+4)
Sb(n)=4/5×Pb(n−1)+1/5×Pb(n+4)
図3では、分りやすくするために非欠陥画素の画像信号P(n−1)及びP(n+4)間を線形補間する直線を点線で示しており、また、線形補間値Sg(n)等を三角形で図示している。
更に、ステップS106において、相関色であるG成分の線形補間値に対する高域差分値dy(n)であるdg(n)が次の式により算出される。
dg(n)=Pg(n)−Sg(n)
図3では、分りやすくするために高域差分値dg(n)に相当する部分を太線で図示している。
次にステップS107において、G成分が相関色yであると判断され、ステップS102に進み、画像信号Py(n)であるPg(n)がそのまま出力画像信号Qg(n)として出力される。一方、ステップS107において、B成分は欠陥画素色xであると判断され、ステップS108に進み、線形補間値Sb(n)(=Sx(n))に相関色yであるG成分の高域差分値dg(n)(=dy(n))が加算され出力画像信号Qb(n)(=Qx(n))として出力される。
Qg(n)=Pg(n)
Qb(n)=Sb(n)+dg(n)
以降、同様に座標n+1〜n+3はB成分が欠陥画素であり、R成分及びG成分は非欠陥画素のため、R成分及びG成分については、それぞれの画像信号P(n+1〜n+3)が出力画像信号Q(n+1〜n+3)としてそのまま出力され、B成分については線形補間値Sb(n+1〜n+3)に相関色であるG成分の高域差分値dg(n+1〜n+3)が加算されたQb(n+1〜n+3)が出力される。
以上詳述したごとく、本実施形態では、欠陥画素の補正に際し欠陥画素の画像信号を線形補間し、この補間値に欠陥色と相関性の高い色成分の高域成分を加算することにより、補正した出力画像信号を生成している。これにより欠陥画素部分に同一信号レベルが連続したり、周囲の画素と比較して急激な色相変化が起きるなどの、不自然な画素として認知されることを防止できる。
なお、本実施形態では欠陥画素部分の相関性を判定するに当たり、欠陥画素部分の前後に隣接する非欠陥画素1画素の差分値を用いたが、欠陥画素部分に隣接する前後それぞれ2画素以上の複数画素の平均値の差分を用いて相関判定するようにしてもよい。これにより、相関判定の精度をより高めることができる。
次に本発明の第2の実施形態について説明する。
本実施形態では欠陥画素補正回路2は図2に示す処理に代えて図4に示す処理を行う。図4の処理では先ず、欠陥補正制御信号Brgb(n)によって、欠陥画素補正回路2に入力された画像信号P(n)の何れかの色に欠陥画素を含む欠陥画素座標の出力であるかどうかが判断される(ステップS301)。ステップS301での判断結果がR、G、B何れの成分の画素にも欠陥がない非欠陥画素座標の場合には、ステップS302に進み、画像信号P(n)をそのまま出力画像信号Q(n)として出力する。
一方、上記ステップS301での判断結果で、R、G、Bの何れかの画素に欠陥がある欠陥画素座標の場合は、ステップS303に進み各色成分ごとに欠陥画素座標の前後の非欠陥画素間の信号レベルを線形補間した線形補間値Sr(n)、Sg(n)、Sb(n)を算出する。
更にステップS304に進み、各色成分ごとに画像信号Pr(n)、Pg(n)、Pb(n)からステップS303で算出された線形補間値Sr(n)、Sg(n)、Sb(n)それぞれを減算し、各色成分ごとの線形補間値に対する高域差分値dr(n)、dg(n)、db(n)を算出する。
次に、ステップS305に進み、欠陥補正制御信号Brgb(n)から、入力された画像信号Pr(n)、Pg(n)、Pb(n)の何れの色成分が、画素座標nにおいて補正されるべき欠陥画素色かが判断される。ステップS305での判断結果で、欠陥画素色ではないと判断された色成分に関してはステップS302に進み、入力された画像信号P(n)をそのまま出力画像信号Q(n)として出力する。本実施形態ではR成分及びG成分がこれ(非欠陥画素色nxa、nxb)に当たる。
一方、上記ステップS305での判断結果で、補正されるべき欠陥画素と判断された色成分に関しては、ステップS306に進み、欠陥画素色の線形補間値Sx(n)に、非欠陥画素色nxa、nxbである他の2色成分の高域差分値dnxa(n)及びdnxb(n)の平均値が加算され、欠陥画素に対して補正された出力画像信号Qx(n)として出力される。本実施形態では欠陥画素色であるB成分の線形補間値Sb(n)に非欠陥画素色のR成分及びG成分の高域差分値dr(n)及びdg(n)の平均値が加算され、補正信号になる。すなわち、ステップS306におけるにおける演算は下記式で表される。
Qb(n)=Sb(n)+(dr(n)+dg(n))/2
次に、図5を用いて上記欠陥画素の補正の具体例を説明する。図5は3つの色成分別に画像信号P及び出力画像信号Qの信号レベルが、画素座標n−2からn+5までの画素座標順に示されている。図5に示した黒丸及び白丸の意味は図3と同様である。
画素座標n−2の画素はステップS301で非欠陥画素と判断され、ステップS302に進み、各色成分の画像信号P(n−2)がそのまま出力画像信号Q(n−2)として出力される。同様に画素座標n−1の画素も非欠陥画素と判断され画像信号P(n−1)がそのまま出力画像信号Q(n−1)として出力される。画像座標nは欠陥画素を含むのでステップS301からステップS303に進み、各色成分ごとに欠陥画素座標n〜n+3の前後に隣接する非欠陥画素の画像信号P(n−1)及びP(n+4)間を線形補間した補間値Sr(n)、Sg(n)、Sb(n)が下記計算式により算出される。
Sr(n)=4/5×Pr(n−1)+1/5×Pr(n+4)
Sg(n)=4/5×Pg(n−1)+1/5×Pg(n+4)
Sb(n)=4/5×Pb(n−1)+1/5×Pb(n+4)
図5では、分りやすくするために非欠陥画素の画像信号P(n−1)及びP(n+4)間を線形補間した直線を点線で示しており、また、線形補間値を三角形で図示している。
次にステップS304において、各色成分ごとに線形補間値に対する高域差分値dr(n)、dg(n)、db(n)が下記式により算出される。
dr(n)=Pr(n)−Sr(n)
dg(n)=Pg(n)−Sg(n)
db(n)=Pb(n)−Sb(n)
図5では、分りやすくするために高域差分値に相当する部分を太線で図示し、欠陥画素色(B成分)の高域差分値db(n)の図示を省略している。
次にステップS305において、R成分及びG成分は非欠陥画素色nxa、nxbであると判断され、テップS302に進み、入力された画像信号Pr(n)(=Pnxa(n))及びPg(n)(=Pnxb(n))がそのまま出力画像信号Qr(n)(=Qnxa(n))及びQg(n)(=Qnxb(n))として出力される。一方、ステップS305において、B成分は欠陥画素色xであると判断され、ステップS306に進み、線形補間値Sb(n)(=Sx(b))に非欠陥画素色のR成分及びG成分の高域差分値dr(n)(=dnxa(n))及びdg(n)(=dnxb(n))の平均値が加算され、出力画像信号Qb(n)として出力される。
Qr(n)=Pr(n)
Qg(n)=Pg(n)
Qb(n)=Sb(n)+(dr(n)+dg(n))/2
=Sb(n)+dd(n)
図5では、高域差分値dr(n)とdg(n)の平均値に相当する部分(dd(n))を太線で図示している。
以降、同様に座標n+1〜n+3はB成分が欠陥画素であり、R成分及びG成分は非欠陥画素のため、R成分及びG成分についてはそれぞれの画像信号P(n+1〜n+3)が出力画像信号Q(n+1〜n+3)としてそのまま出力され、B成分については線形補間値Sb(n+a〜n+3)に非欠陥画素色であるG成分及びR成分の高域差分値dg(n+1〜n+3)及びdr(n+1〜n+3)の平均値が加算されたQb(n+1〜n+3)が出力される。
以上詳述したごとく、本実施形態では、欠陥画素の補正に際し欠陥画素の画像信号を線形補間し、この補間値に非欠陥画素色である色成分の高域成分の平均値を加算することで、補正した出力画像信号を生成している。これにより欠陥画素部分に同一信号レベルが連続したり、周囲の画素と比較して急激な色相変化が起きるなどの、不自然な画素として認知されることを防止できる。
なお、本発明においては、欠陥画素の位置は欠陥画素の補正時までに判明していれば良く、欠陥画素の検出(判定)方法については、特にこれを制約するものではない。
本発明の欠陥画素補正方法を適用したカラー撮像装置の要部の構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施形態にかかる欠陥画素補正処理のフローチャートである。 第1の実施形態の欠陥画素補正信号の生成方法を説明するためのグラフである。 第2の実施形態の欠陥画素補正処理のフローチャートである。 第2の実施形態の欠陥画素補正信号の生成方法を説明するためのグラフである。 従来の欠陥画素の補正機能を備えたカラー撮像装置の要部の構成を示すブロック図である。 従来の欠陥画素補正処理のフローチャートである。 従来の欠陥画素補正信号の生成方法を説明するためのグラフである。 従来のカラー信号における欠陥画素補正信号の生成方法を説明するためのグラフである。
符号の説明
1 撮像素子
2 欠陥画素補正回路(傾きパラメータ算出手段、相関性判定手段、補間値算出手段、差分値算出手段、補正手段)
3 制御回路

Claims (4)

  1. 欠陥画素を含む複数の画素が配列された撮像素子から得られる信号に対して、前記欠陥画素の位置が欠陥画素の補正時には予め判明しているカラー表示用の撮像素子の欠陥画素補正方法において、
    1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて前記欠陥画素領域における信号レベルの傾きを示す傾きパラメータを算出する第1ステップと、
    カラー画像を構成する各色成分のうち、前記欠陥画素を含む欠陥画素色成分と、該欠陥画素色成分以外の非欠陥画素色成分との相関性を、前記第1ステップで算出された傾きパラメータに基づいて判定する第2ステップと、
    前記欠陥画素色成分及び前記第2ステップで相関性が高いと判定された非欠陥画素色成分について、前記欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて欠陥画素領域の信号を補間する補間値を算出する第3ステップと、
    前記第2ステップで相関性が高いと判定された非欠陥画素色成分について、前記撮像素子の出力信号と、前記第3ステップで算出された補間値との差分値を算出する第4ステップと、
    前記欠陥画素色成分について前記第3ステップで算出された補間値と、前記第4ステップで算出された差分値とを用いて、前記欠陥画素の信号レベルを補正する第5ステップとからなることを特徴とする欠陥画素補正方法。
  2. 欠陥画素を含む複数の画素が配列された撮像素子から得られる信号に対して、前記欠陥画素の位置が欠陥画素の補正時には予め判明しているカラー表示用の撮像素子の欠陥画素補正方法において、
    1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて前記欠陥画素領域における信号レベルを補間する補間値を算出する第1ステップと、
    前記撮像素子の出力信号と前記補間値との差分値を算出する第2ステップと、
    カラー画像を構成する色成分のうち、前記欠陥画素を含む色成分について前記第1ステップで算出された補間値と、欠陥画素を含まない色成分について前記第2ステップで算出された差分値の平均値とを用いて、前記欠陥画素の信号レベルを補正する第3ステップとからなることを特徴とする欠陥画素補正方法。
  3. 欠陥画素を含む複数の画素が配列された撮像素子から得られる信号に対して、前記欠陥画素の位置が欠陥画素の補正時には予め判明しているカラー表示用の撮像素子の欠陥画素補正装置において、
    1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて前記欠陥画素領域における信号レベルの傾きを示す傾きパラメータを算出する傾きパラメータ算出手段と、
    カラー画像を構成する各色成分のうち、前記欠陥画素を含む欠陥画素色成分と、該欠陥画素色成分以外の非欠陥画素色成分との相関性を、前記傾きパラメータ算出手段で算出された傾きパラメータに基づいて判定する相関性判定手段と、
    前記欠陥画素色成分及び前記相関性判定手段で相関性が高いと判定された非欠陥画素色成分について、前記欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて欠陥画素領域の信号を補間する補間値を算出する補間値算出手段と、
    前記相関性判定手段で相関性が高いと判定された非欠陥画素色成分について、前記撮像素子の出力信号と、前記補間値算出手段で算出された補間値との差分値を算出する差分値算出手段と、
    前記欠陥画素色成分について前記補間値算出手段で算出された補間値と、前記差分値算出手段で算出された差分値とを用いて、前記欠陥画素の信号レベルを補正する補正手段とからなることを特徴とする欠陥画素補正装置。
  4. 欠陥画素を含む複数の画素が配列された撮像素子から得られる信号に対して、前記欠陥画素の位置が欠陥画素の補正時には予め判明しているカラー表示用の撮像素子の欠陥画素補正装置において、
    1または2以上の連続する欠陥画素を含む欠陥画素領域に隣接する非欠陥画素の信号を用いて前記欠陥画素領域における信号レベルを補間する補間値を算出する補間値算出手段と、
    前記撮像素子の出力信号と前記補間値との差分値を算出する差分値算出手段と、
    カラー画像を構成する色成分のうち、前記欠陥画素を含む色成分について前記補間値算出手段で算出された補間値と、欠陥画素を含まない色成分について前記差分値算出手段で算出された差分値の平均値とを用いて、前記欠陥画素の信号レベルを補正する補正手段とからなることを特徴とする欠陥画素補正装置。
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