JP4470811B2 - Chromatographic analyzer - Google Patents

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本発明は、ガスクロマトグラフ(GC)、液体クロマトグラフ(LC)、或いはこうしたクロマトグラフと質量分析装置(MS)とを組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS又はLC/MS)等、を含むクロマトグラフ分析装置に関する。   The present invention includes a gas chromatograph (GC), a liquid chromatograph (LC), or a chromatograph mass spectrometer (GC / MS or LC / MS) combining such a chromatograph and a mass spectrometer (MS). The present invention relates to a chromatographic analyzer.

分離カラムを用いたクロマトグラフ分析では、そのカラムの特性に合わせた分析条件が目的試料の分析に先立って設定され、これに従って分析が自動的に遂行される。一般的には、分析対象である化合物を含む標準試料を実際に分析し、その結果を元に最適な分析条件を設定する。以下、ガスクロマトグラフ(GC)と質量分析装置(MS)とを組み合わせたガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS)を例に挙げて説明する。   In chromatographic analysis using a separation column, analysis conditions that match the characteristics of the column are set prior to analysis of the target sample, and the analysis is automatically performed according to this. In general, a standard sample containing a compound to be analyzed is actually analyzed, and optimal analysis conditions are set based on the result. Hereinafter, a gas chromatograph mass spectrometer (GC / MS) combining a gas chromatograph (GC) and a mass spectrometer (MS) will be described as an example.

GC/MSではMS部におけるデータ収集方法として、いわゆるスキャン測定とSIM(選択イオンモニタリング)測定とが知られており、通常、いずれかが選択される(例えば特許文献1など参照)。スキャン測定では、所定の質量(厳密には質量電荷比m/z)範囲内で繰り返し質量を走査するから、その質量範囲に含まれる全てのイオンが検出される。したがって、未知試料の定性分析等、分析対象成分の質量が不明である場合に有用である。一方、SIM測定では、予め指定された1乃至複数の特定の質量を有するイオンのみを選択的に時分割で検出する。したがって、分析対象の物質が既知で、その物質の定量分析を高感度で行う場合に有用である。
In GC / MS, so-called scan measurement and SIM (selected ion monitoring) measurement are known as data collection methods in the MS unit, and usually one of them is selected (see, for example, Patent Document 1). In the scan measurement, since repeatedly scans the mass at a predetermined mass (strictly mass-to-charge ratio m / z) within the limits, all ions contained in the quality Ryohan circumference is detected. Therefore, it is useful when a qualitative analysis of an unknown sample, mass of analyte is unknown. On the other hand, in the SIM measurement, it detects only ions having 1 or more specific mass designated in advance by selectively time division. Therefore, it is useful when the substance to be analyzed is known and quantitative analysis of the substance is performed with high sensitivity.

スキャン測定を行う場合のデータ収集条件(スキャン測定パラメータ)としては、測定する質量範囲と同時に、測定開始時間及び測定終了時間を設定する必要がある。例えば、質量範囲:100〜500、測定開始時間:5分、測定終了時間:18分と設定された場合には、カラム入口に設けられた試料気化室内に試料が注入された時点を時間ゼロとして、5分が経過した時点から18分が経過した時点までの13分間、100〜500の質量範囲を所定の質量ステップ幅で以て繰り返し質量走査しながら検出データを収集する。
The data collection conditions for performing a scan measurement (scanning measurement parameters), simultaneously with the measurement for quality Ryohan circumference, it is necessary to set the measurement start time and measurement end time. For example, the quality Ryohan Range: 100 to 500, measurement start time: 5 minutes, the measurement end time: 18 minutes and when it is set, the time when the sample is injected into the sample vaporizing chamber provided in the column inlet zero, 13 minutes up to the point of 18 minutes from the time the five minutes have passed has passed, it collects detected data while repeating the mass scan Te than the 100-500 quality Ryohan circumference at a predetermined quality Ryosu step width .

一方、SIM測定を行う場合のデータ収集条件(SIM測定パラメータ)としては、測定対象とする1乃至複数の質量と同時に測定開始時間及び測定終了時間を設定する必要があるが、通常、カラムからの各種成分の溶出時間に合わせて異なる質量を測定するため、測定開始時間及び測定終了時間で規定される測定時間範囲を複数設定できるようになっている。例えば、
・測定時間範囲:5〜8分、測定質量:151,120,130
・測定時間範囲:8〜10分、測定質量:250,273,157,311,256,450
・測定時間範囲:10〜12分、測定質量:167,345,327
というように、測定時間範囲を区切って各測定時間範囲毎に1乃至複数の測定質量を設定する。分析実行時に、MS部では、この設定内容に応じて試料注入時点からの時間経過に伴って順次測定対象の質量を切り換えながら検出データを収集する。なお、本明細書では、このSIM測定の1つの測定時間範囲をイオンセットと呼ぶ。即ち、上記例の場合、3つのイオンセットが設定されている。
On the other hand, the data acquisition condition in the case of performing SIM measurement (SIM measurement parameters), it is necessary to simultaneously set the measurement start time and measurement end time 1 to a plurality of mass to be measured, usually, from the column to measure different mass in accordance with the elution time of the various components, which is a measurement time range defined by the measurement start time and measurement end time to allow multiple settings. For example,
Measurement time range: 5 to 8 minutes, measurement Weight: 151,120,130
Measurement time range: 8 to 10 minutes, measurement Weight: 250,273,157,311,256,450
Measurement time range: 10 to 12 minutes, measurement Weight: 167,345,327
As described above, it sets one or a plurality of measurement Mass separated measurement time range for each measurement time range of. The time of analysis performed in the MS unit collects detection data while sequentially switching the quality of the measured object with the lapse of time from sample injection time according to the setting. In this specification, one measurement time range of this SIM measurement is called an ion set. That is, in the above example, three ion sets are set.

ところで、ガスクロマトグラフでは、様々な要因によってクロマトグラム上で同一成分のピークの出現する時間が変動する。例えば、キャピラリカラムのメンテナンスのためにその入口部分を所定長さだけ切断した場合、分析条件の1つであるカラムオーブンの昇温プログラムを変更した場合、或いは、カラムを内径や長さ等、サイズが異なるものに交換した場合、などである。   By the way, in the gas chromatograph, the time when the peak of the same component appears on the chromatogram varies due to various factors. For example, when the capillary column is cut for a predetermined length for maintenance of the column, when the temperature rising program of the column oven, which is one of the analysis conditions, is changed, or when the column is sized such as inner diameter and length, etc. Is replaced with a different one.

GC/MSでは、このようなクロマトグラムの時間軸方向の変動を生じる要因がある場合には、予め設定済みの上記のようなデータ収集条件(具体的にはその中の測定時間範囲等の時間的パラメータ)を変更する必要がある。スキャン測定の場合、測定開始時間と測定終了時間という2つの時間的パラメータを変更しさえすればよいが、SIM測定の場合には、各イオンセットの測定開始時間及び測定終了時間を全て変更しなければならない。既存のGC/MSでは、設定可能な最大イオンセット数は例えば32、64或いはそれ以上と多くなっており、多数のイオンセットが設定されている場合には上記のような時間的パラメータの変更はオペレータにとってかなり手間が掛かる作業である。   In GC / MS, if there is a factor that causes such fluctuations in the time axis direction of the chromatogram, the data collection conditions as described above (specifically, the time within the measurement time range, etc. therein) Parameter) must be changed. In the case of scan measurement, it is only necessary to change the two time parameters, measurement start time and measurement end time, but in the case of SIM measurement, all measurement start time and measurement end time of each ion set must be changed. I must. In the existing GC / MS, the maximum number of ion sets that can be set is, for example, 32, 64 or more, and when a large number of ion sets are set, the time parameter change as described above is not possible. This is a laborious operation for the operator.

またGC/MSでは、スキャン測定とSIM測定とを組み合わせた測定や、MS/MS(MSn)分析が行われる場合があるが、こうした測定でもカラムからの化合物の溶出時間毎に各種パラメータの設定が必要であるため、上述したようにクロマトグラムの時間軸方向の変動がある場合にはこれらパラメータも変更しなければならず、測定対象の化合物が多い場合には変更作業はたいへん面倒で手間が掛かる。 In GC / MS, there are cases where scan measurement and SIM measurement are combined or MS / MS (MS n ) analysis is performed. In such measurement, various parameters are set for each elution time of the compound from the column. Therefore, if there are fluctuations in the time axis direction of the chromatogram as described above, these parameters must be changed.If there are many compounds to be measured, the change work is very troublesome and laborious. It takes.

また、GC/MSでなく、例えば分取液体クロマトグラフのようにカラムで時間的に分離させた試料成分を分取・分画する等の、時間的パラメータを含む処理条件に依存する処理を実行する際にも同様の問題が生じる。こうした場合でも、例えば分取・分画する試料成分の数が多いときには処理条件の変更作業は面倒である。   In addition to GC / MS, for example, preparative liquid chromatographs, such as preparative liquid chromatographs, are used to perform processing that depends on processing conditions including temporal parameters such as fractionation and fractionation of sample components that have been temporally separated by a column. Similar problems arise when doing so. Even in such a case, for example, when there are a large number of sample components to be sorted and fractionated, changing the processing conditions is troublesome.

特開平10−283982号公報JP-A-10-283984

本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、例えばキャピラリカラムの入口端切除などクロマトグラムの時間軸方向の変動を起こす要因がある場合に、既に設定されているデータ収集条件や処理条件の変更を簡単に行うことにより、オペレータの負担や作業ミスを軽減することができるクロマトグラフ分析装置を提供することにある。   The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and the object of the present invention is already set when there is a factor causing a change in the time axis direction of the chromatogram, for example, the inlet end excision of a capillary column. It is an object of the present invention to provide a chromatographic analyzer that can reduce the burden on the operator and work errors by simply changing the data collection conditions and processing conditions.

これまで、例えば或る試料をクロマトグラフ分析することで取得したクロマトグラムに現れている未知成分のピークを正確に同定するために、既知の成分のピークの実測保持時間に基づいて未知成分のピークの保持時間を修正し、その修正された保持時間を定性用データベースに照らしてピーク同定を行う、或いは、定性用データベースに収録されている保持時間を修正してその修正値を利用してピーク同定を行う、といったデータ処理が行われている。即ち、これはクロマトグラムデータを採取した後に、そのデータに対してクロマトグラムの時間軸方向の変動を補正する、又はそのデータを同定するための解析用パラメータに対してクロマトグラムの時間軸方向の変動を補正するものである。   Until now, for example, in order to accurately identify the peak of the unknown component appearing in the chromatogram obtained by chromatographic analysis of a certain sample, the peak of the unknown component is based on the measured retention time of the peak of the known component. The retention time is corrected and the corrected retention time is checked against the qualitative database for peak identification, or the retention time recorded in the qualitative database is corrected and the corrected value is used to identify the peak. Data processing is performed. That is, after collecting chromatogram data, the fluctuation in the time axis direction of the chromatogram is corrected for the data, or the analysis parameter for identifying the data is corrected in the time axis direction of the chromatogram. This is to correct for fluctuations.

こうした従来の補正は目的試料に対する分析を実行した後になされるものであるが、本発明はこうした補正を目的試料に対する分析を実行する前にその分析に関するデータ収集条件や処理条件に適用することで上記のような目的を達成しようとするものである。   Such conventional correction is performed after the analysis for the target sample is performed. However, the present invention applies the correction to the data collection conditions and processing conditions for the analysis before performing the analysis for the target sample. It is intended to achieve the purpose.

即ち、上記課題を解決するために成された第1発明は、予め設定された分離条件に従ってカラムにより時間的に分離された試料成分を、予め設定されたデータ収集条件に従って質量分析装置により検出して検出データを収集するクロマトグラフ分析装置であって、前記データ収集条件が、カラムへの試料導入時点からの経過時間に関する時間的パラメータとして、質量分析装置におけるスキャン測定又は選択イオンモニタリング測定を行う際の測定時間範囲を含むものにおいて、
a)目的試料の分析のためにオペレータにより設定された第1の分離条件の下でのデータ収集条件と第1の分離条件の下での所定成分の保持時間とを記憶しておく条件記憶手段と、
b)第1の分離条件から変更された後の、目的試料に対する分析が実際に行われる第2の分離条件の下で、前記所定成分を含む標準試料に対して実行された分析結果であるクロマトグラムに基づいて、該所定成分の保持時間の実測値を求める実測値取得手段と、
c)前記条件記憶手段に記憶されている第1の分離条件の下での前記所定成分の保持時間に関する情報と前記実測値取得手段により求まった該所定成分の保持時間の実測値とを所定の計算式に適用することにより分離条件の変更に伴う目的試料中の目的成分のピークの保持時間ずれが修正された保持時間を推定し、これに基づいて前記条件記憶手段に記憶してあるデータ収集条件に含まれる測定時間範囲を修正する修正手段と、
を備え、前記データ収集条件に含まれる全ての測定時間範囲が前記修正手段により修正された状態において目的試料に対する分析を実行することを特徴としている。
また、第2発明に係るクロマトグラフ分析装置は、上記第1発明において第1の分離条件の下での所定成分の保持時間に代えて保持指標を用いるものである。
That is, the first invention made to solve the above-mentioned problems is to detect a sample component temporally separated by a column according to a preset separation condition by a mass spectrometer according to a preset data collection condition. detected data a collection to torque chromatograph analyzer Te, the data acquisition condition is, as the time parameter relates to the elapsed time from sample introduction point to the column, the scan measurement or selected ion monitoring measurement in the mass spectrometer In the measurement time range when performing ,
first memory to keep the condition storage and retention time of a given component under data collection conditions in the first separation conditions under the separation conditions set by the operator for analysis of a) the target sample Means,
b) after being changed from the first separation conditions, chromatography under the second separation conditions analysis of the target sample is actually performed, an analysis result performed on a standard sample containing the predetermined components An actual measurement value obtaining means for obtaining an actual measurement value of the retention time of the predetermined component based on the gram;
c) the condition storage means under the first separation conditions stored the predetermined component information and Motoma' was the predetermined component of the retention time by the measured value acquisition means relating to the retention time of the measured value and the predetermined By applying to the calculation formula, the retention time in which the deviation of the retention time of the peak of the target component in the target sample due to the change of the separation condition is corrected is estimated, and data stored in the condition storage unit based on this and correction means for correcting the measurement time range that is included in the collection conditions,
Is characterized by performing the analysis of the target sample in the provided state where all of the measurement time range included in the data acquisition conditions is corrected by said correction means.
Further, the chromatographic analyzer according to the second invention uses a retention index instead of the retention time of the predetermined component under the first separation condition in the first invention.

ここで言う「分離条件」とは分析条件の一部であり、カラムでの試料成分の分離に影響を与える条件、具体的には、カラムの種類、カラムのサイズ(長さや内径)、カラム温度(昇温プログラム)、移動相の移動速度などである。   The “separation conditions” here are a part of the analysis conditions. Conditions that affect the separation of the sample components in the column, specifically the column type, column size (length and inner diameter), column temperature (Temperature increase program), the moving speed of the mobile phase, and the like.

本発明に係るクロマトグラフ分析装置では、目的試料に対する分析を行うに先立ってその分析と同一の第2の分離条件の下で既知の所定成分を含む標準試料の分析を行ってクロマトグラムを取得する。このクロマトグラムは全イオンを対象とするトータルイオンクロマトグラム又は所定成分の質量に着目したマスクロマトグラムのいずれでもよい。得られたクロマトグラムには所定成分のピークが出現しているから、実測値取得手段はそのピークの位置からその所定成分の保持時間を求める。修正手段はこの保持時間の実測値を利用して、条件記憶手段に記憶してあるデータ収集条件に含まれる測定時間範囲を修正するが、その際に2つの方法のいずれかを採り得る。
In the chromatographic analyzer according to the present invention, prior to performing analysis on the target sample, a chromatogram is obtained by analyzing a standard sample containing a known predetermined component under the same second separation conditions as the analysis. . Chromatogram of this may be either a mass chromatogram focusing on mass of total ion chromatogram, or a predetermined component and for all ions. Since the peak of the predetermined component appears in the obtained chromatogram, the actual measurement value obtaining unit obtains the retention time of the predetermined component from the position of the peak. Correcting means utilizing the measured values of the retention time, but to modify the measurement time range included in the data acquisition conditions that are stored in the condition storage means may take either of two ways at that time.

その1つは、条件記憶手段に記憶してあるデータ収集条件を設定する際の元となった第1の分析条件で以て標準試料を分析したときの所定成分の保持時間を基準とする方法である。この基準時からの分析条件の相違に応じて所定成分の保持時間は変動しており、所定成分以外の他の各種成分の保持時間も同様の傾向で以て変動すると推定できるから、それによりデータ収集条件に含まれる測定時間範囲を修正することができる。
One is based on the retention time of a given component when the first analysis condition is the source for setting the data acquisition conditions that are stored in the condition storage means Te than analyzed standard sample Is the method. The retention time of the predetermined component fluctuates according to the difference in analysis conditions from this reference time, and it can be estimated that the retention time of various components other than the predetermined component also varies with the same tendency. it is possible to correct the measurement time range that is included in the collection conditions.

他の1つは目的成分の保持指標(リテンションインデックス)を利用する方法である。周知のように保持指標は例えばn−アルカンの同族体系列等を基準物質とした相対的な値であって、保持時間とは異なり、移動相(例えばキャリアガス)流量やカラム温度などの分析条件には依存しない。したがって、目的成分の保持指標が分かっていれば、その基準物質を上記所定成分として分析して保持時間を取得し、その保持時間の実測値と目的成分の保持指標とから、その目的成分の保持時間の変動を推定し、それによりデータ収集条件に含まれる測定時間範囲を修正することができる。
The other is a method that uses a retention index (retention index) of the target component. As is well known, the retention index is a relative value using, for example, the n-alkane homologue series as a reference substance, and unlike the retention time, the analysis conditions such as mobile phase (for example, carrier gas) flow rate and column temperature are used. Does not depend on Therefore, if the retention index of the target component is known, the retention time is obtained by analyzing the reference substance as the predetermined component, and the retention of the target component is obtained from the measured value of the retention time and the retention index of the target component. estimating the variation of the time, thereby to correct the measurement time range included in the data acquisition conditions.

いずれにしても、上記修正手段により修正されたデータ収集条件に含まれる測定時間範囲は、その時点、つまり目的試料を分析しようとする時点でのカラムの分離特性を反映しているから、これに基づいて目的試料に対する分析を実行して検出データを収集することにより、オペレータが意図するところの適切な結果を得ることができる。
In any case, the measurement time range included in the data acquisition conditions corrected by said correcting means, that point, that because they reflect the separation characteristics of the column at the time to be analyzed the target sample, which the detection data by performing the analysis of the target sample by gathering be Rukoto, it is possible to obtain good results where the operator intends based on.

以上のように本発明に係るクロマトグラフ分析装置によれば、データ収集条件に多数の時間的パラメータが含まれる場合でも、オペレータはこれをいちいち個別に変更する作業が不要であり、オペレータの負担が軽減されるとともに変更作業に伴う入力ミス等の誤りも防止することができる。特に例えばGC/MSにおけるSIM測定のイオンセットの数が多い場合や、SIM測定とスキャン測定とを同時に行うような測定モードでの複雑なパラメータ設定が必要な場合、或いはMS/MS測定での複雑なパラメータ設定が必要な場合などに利用すれば、作業効率の大幅な改善が期待できる。
According to chromatographic analysis apparatus according to the present invention as described above, even if it contains a large number of temporal parameters to the data collection conditions, the operator is not required to work to change this every time individually, the operator of the burden Can be reduced, and errors such as input mistakes associated with the change work can be prevented. In particular, for example, when the number of ion sets for SIM measurement in GC / MS is large, when complicated parameter setting is required in a measurement mode in which SIM measurement and scan measurement are performed simultaneously, or in MS / MS measurement, If it is used when necessary parameter settings are required, a significant improvement in work efficiency can be expected.

まず、本発明に係るクロマトグラフ分析装置においてデータ収集条件や処理条件に含まれる時間的パラメータの修正方法について説明する。この時間的パラメータの修正は、分離条件変更前の目的成分のピークの保持時間に基づいて、分離条件変更後の目的成分のピークの保持時間を推定するという処理を基本とする。この処理方法としては、次の2つの方法がある。
[方法I] 校正用の参照成分の保持時間の実測値に基づいて目的成分のピークの保持時間を推定する方法
[方法II] 目的成分の保持指標の情報に基づいて目的成分のピークの保持時間を推定する方法
First, a method for correcting temporal parameters included in data collection conditions and processing conditions in the chromatographic analyzer according to the present invention will be described. The correction of the temporal parameter is based on a process of estimating the peak retention time of the target component after the separation condition change based on the peak retention time of the target component before the separation condition change. There are the following two methods as this processing method.
[Method I] Method for Estimating Retention Time of Target Component Peak Based on Measured Value of Retention Time of Reference Component for Calibration
[Method II] Method of estimating peak retention time of target component based on information of retention index of target component

まず方法Iについて説明する。いま、或る分離条件(分離条件F1とする)の下での分析により得られたクロマトグラム(GC/MSではトータルイオンクロマトグラム)が図2(a)に示すものであるとする。このクロマトグラムに現れているピークA、Bはいずれも校正用の参照成分のピークであり、この2つのピークA、Bに時間的に挟まれたピークXが本来の分析対象である目的成分のピークである。この分析が実行された時点から分離条件の変更として例えばカラムの入口端が切除された場合、その切除分だけカラム長が短くなるためカラムに導入された各成分の通過は切除前よりも早まる。いま、カラム切除後の分離条件(分離条件F2とする)の下で校正用標準試料の分析を行って図2(b)に示すようなクロマトグラムが得られたものとする。   First, method I will be described. Now, it is assumed that a chromatogram (total ion chromatogram in GC / MS) obtained by analysis under a certain separation condition (separation condition F1) is as shown in FIG. Peaks A and B appearing in this chromatogram are both reference component peaks for calibration, and peak X sandwiched in time between these two peaks A and B is the target component of the original analysis target. It is a peak. When the separation condition is changed from the time when this analysis is performed, for example, when the inlet end of the column is excised, the length of the column is shortened by the amount of the excision, so that each component introduced into the column passes faster than before the excision. Now, it is assumed that a standard sample for calibration is analyzed under the separation condition after column excision (referred to as separation condition F2), and a chromatogram as shown in FIG. 2B is obtained.

分離条件F1の下での分析から分離条件F2の下での分析に変更する際の、目的成分のピークの保持時間を推定するための計算式は次の(1)式となる。
tx=(Tx−T1)/(T2−T1)×(t2−t1)+t1 …(1)
ここで、
tx:目的成分ピークXの保持時間の推定値
t1:分離条件F2の下での第1参照成分の保持時間の実測値
t2:分離条件F2の下での第2参照成分の保持時間の実測値
Tx:分離条件F1の下での目的成分ピークの保持時間
T1:分離条件F1の下での第1参照成分の保持時間
T2:分離条件F1の下での第2参照成分の保持時間
であり、いずれも図2(a)、(b)に示してある。これにより、分離条件が変更された後の目的成分のピークの保持時間がほぼ分かるから、それを前提にして、その目的成分ピークに関するデータを検出したりその目的成分を処理したりするための時間的パラメータを修正することができる。
The calculation formula for estimating the retention time of the peak of the target component when changing from the analysis under the separation condition F1 to the analysis under the separation condition F2 is the following expression (1).
tx = (Tx−T1) / (T2−T1) × (t2−t1) + t1 (1)
here,
tx: Estimated value of retention time of target component peak X t1: Actual value of retention time of first reference component under separation condition F2 t2: Actual value of retention time of second reference component under separation condition F2 Tx: retention time of the target component peak under separation condition F1 T1: retention time of the first reference component under separation condition F1 T2: retention time of the second reference component under separation condition F1, Both are shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b). As a result, since the retention time of the peak of the target component after the separation condition is changed is almost known, the time for detecting the data on the target component peak and processing the target component is premised on this. Parameters can be modified.

次に、方法IIについて説明する。ここでは、最も一般的なn−アルカンの同族体系列を基準物質とした場合の保持指標を考える。いま、図3に示すクロマトグラムにおいて炭素数nが1であるメタン(CH4)のピークの出現位置を基準とし、n−アルカンの隣接するCnとCn+1のピークの間に物質Xのピークが存在するものとする。昇温分析である場合には、目的成分Xの保持指標Ixは次の(2)式で定義される。
Ix=[(tx−tc1)/(tc2−tc1)]×100+100×n …(2)
ここで、
Tx:目的成分ピークの保持時間
tc1:炭素数n個のn−アルカンのピークの保持時間
tc2:炭素数n+1個のn−アルカンのピークの保持時間
である。保持指標はカラムのサイズや移動相速度などに依存しない値である。したがって、目的成分の保持指標Ixが既知であれば、(2)式を変形した(3)式により、分離条件F2の条件の下での目的成分のピークの保持時間を推定することができる。
tx=(Ix/100−n)×(t2−t1)+t1 …(3)
tx:目的成分ピークXの保持時間の推定値
t1:分離条件F2の下でのCnのピークの保持時間の実測値
t2:分離条件F2の下でのCn+1のピークの保持時間の実測値
これにより、方法Iと同様に分離条件が変更された後の目的成分のピークの保持時間がほぼ分かるから、それを前提にして、その目的成分ピークに関するデータを検出したりその目的成分を処理したりするための時間的パラメータを修正することができる。
Next, Method II will be described. Here, the retention index when the most common n-alkane homologue series is used as a reference substance is considered. Now, with reference to the appearance position of the peak of methane (CH 4 ) having a carbon number n of 1 in the chromatogram shown in FIG. 3, the peak of substance X is located between the adjacent Cn and Cn + 1 peaks of n-alkane. Shall exist. In the case of the temperature rising analysis, the retention index Ix of the target component X is defined by the following equation (2).
Ix = [(tx−tc1) / (tc2−tc1)] × 100 + 100 × n (2)
here,
Tx: retention time of target component peak tc1: retention time of n-alkane peak having n carbon atoms tc2: retention time of n-alkane peak having n + 1 carbon atoms The retention index is a value that does not depend on the column size or mobile phase velocity. Therefore, if the retention index Ix of the target component is known, the peak retention time of the target component under the condition of the separation condition F2 can be estimated by using the formula (3) obtained by modifying the formula (2).
tx = (Ix / 100-n) * (t2-t1) + t1 (3)
tx: Estimated value of retention time of target component peak X t1: Measured value of retention time of Cn peak under separation condition F2 t2: Measured value of retention time of peak of Cn + 1 under separation condition F2 As a result, as in Method I, the retention time of the peak of the target component after the separation conditions have been changed is almost known, and on that assumption, data relating to the target component peak is detected and the target component is processed. It is possible to modify the time parameter for

次に、本発明に係るクロマトグラフ分析装置の一実施例であるGC/MSについて、図面を参照しながら説明する。図1は本実施例によるGC/MSの要部のブロック構成図である。   Next, GC / MS, which is an embodiment of the chromatographic analyzer according to the present invention, will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of the main part of the GC / MS according to this embodiment.

GC部10では、カラムオーブン14により適度の温度に加熱されるカラム15の入口に試料気化室11が設けられ、その試料気化室11にはキャリアガス流路13を通して所定流量でキャリアガス(典型的にはHeガス)が供給されカラム15へと流れ込む。その状態でマイクロシリンジ12により試料気化室11内に少量の液体試料が注入されると、液体試料は即座に気化しキャリアガス流に乗ってカラム15内に送られる。カラム15を通過する間に試料ガス中の各成分は時間的に分離されてその出口に到達し、MS部20のイオン化室21内に導入される。   In the GC unit 10, a sample vaporizing chamber 11 is provided at the inlet of a column 15 that is heated to an appropriate temperature by a column oven 14, and a carrier gas (typical) is supplied to the sample vaporizing chamber 11 through a carrier gas channel 13. Is supplied with He gas) and flows into the column 15. When a small amount of liquid sample is injected into the sample vaporization chamber 11 by the microsyringe 12 in this state, the liquid sample is immediately vaporized and is carried on the carrier gas flow and sent into the column 15. While passing through the column 15, each component in the sample gas is temporally separated, reaches the outlet thereof, and is introduced into the ionization chamber 21 of the MS unit 20.

MS部20においては、イオン化室21、イオン光学系22、四重極質量フィルタ23、及び検出器24が、図示しない真空ポンプにより真空吸引される真空容器25内に配設されている。上述したようにGC分析の進行に伴って順次イオン化室21に導入された試料分子又は原子は、例えば熱電子との接触によってイオン化される。発生したイオンはイオン化室21の外側に引き出され、イオン光学系22により収束されて4本のロッド電極から構成される四重極質量フィルタ23の長軸方向の空間に導入される。四重極質量フィルタ23には直流電圧と高周波電圧とを重畳した電圧が印加され、その印加電圧に応じた質量を有するイオンのみがその長軸方向の空間を通過し、検出器24に到達して検出される。
In the MS unit 20, an ionization chamber 21, an ion optical system 22, a quadrupole mass filter 23, and a detector 24 are arranged in a vacuum container 25 that is vacuum-sucked by a vacuum pump (not shown). As described above, the sample molecules or atoms sequentially introduced into the ionization chamber 21 as the GC analysis proceeds are ionized, for example, by contact with thermoelectrons. The generated ions are extracted to the outside of the ionization chamber 21, converged by the ion optical system 22, and introduced into the space in the long axis direction of the quadrupole mass filter 23 composed of four rod electrodes. The quadrupole mass filter 23 voltage obtained by superimposing a DC voltage and a high frequency voltage is applied, only the ions having a mass corresponding to the applied voltage passes through the space of the axial direction, reaching the detector 24 Is detected.

検出器24による検出信号はA/D変換器30によりデジタルデータに変換されてデータ処理部31に送られる。データ処理部31は所定の演算処理を行うことにより、マススペクトル、マスクロマトグラム、或いはトータルイオンクロマトグラムなどを適宜作成し、さらに所定のアルゴリズムに基づいて定量分析や定性分析などを実行する。GC部10及びMS部20を構成する各ブロックの動作は、制御部33により統括的に制御される。制御部33やデータ処理部31は、操作部36や表示部37が付設されたパーソナルコンピュータ35上で所定の制御・処理プログラムを実行することによりそれぞれの機能が達成される。   A detection signal from the detector 24 is converted into digital data by the A / D converter 30 and sent to the data processing unit 31. The data processing unit 31 performs a predetermined calculation process to appropriately create a mass spectrum, a mass chromatogram, a total ion chromatogram, or the like, and further performs a quantitative analysis or a qualitative analysis based on a predetermined algorithm. The operation of each block constituting the GC unit 10 and the MS unit 20 is controlled in an integrated manner by the control unit 33. Each function of the control unit 33 and the data processing unit 31 is achieved by executing a predetermined control / processing program on the personal computer 35 provided with the operation unit 36 and the display unit 37.

本実施例のGC/MSでは、特徴的な構成として、制御部33に分析条件情報格納部34を備えるとともに、データ処理部31に分析条件情報格納部34の情報内容を修正する機能を有する分析条件変更処理部32を備える。即ち、分析条件情報格納部34は、上述したようなカラムでの分離特性に影響を与える分離条件やデータ収集条件であるSIM測定パラメータなど、GC/MS分析の遂行にあたって必要な各種の条件を全て格納しておくための記憶手段である。また、分析条件変更処理部32は、この分析条件情報格納部34に格納されているデータ収集条件を上述したような方法に基づいて修正するものである。   In the GC / MS of the present embodiment, as a characteristic configuration, an analysis condition information storage unit 34 is provided in the control unit 33, and an analysis having a function of correcting the information content of the analysis condition information storage unit 34 in the data processing unit 31. A condition change processing unit 32 is provided. In other words, the analysis condition information storage unit 34 stores all the various conditions necessary for performing the GC / MS analysis, such as the separation conditions that affect the separation characteristics in the column as described above and the SIM measurement parameters that are the data collection conditions. It is a storage means for storing. The analysis condition change processing unit 32 corrects the data collection conditions stored in the analysis condition information storage unit 34 based on the method described above.

いま、或る分離条件F1の下でのデータ収集条件として図4に示すようなSIM測定パラメータをオペレータが設定したものとする。即ち、それぞれ異なる測定質量が指定された3つのイオンセットが設定されている。分離条件F1の下で分析を行う場合には、このSIM測定パラメータに従ってMS部20でSIM測定を行って検出データを収集すればよいが、カラムの入口端を切断した場合や昇温プログラム等の分離条件を変更した場合には、上述したようにクロマトグラムが時間軸方向に移動するため、SIM測定パラメータの各イオンセットの測定開始時間及び測定終了時間を全て変更する必要がある。
Assume that the operator sets SIM measurement parameters as shown in FIG. 4 as data collection conditions under a certain separation condition F1. That is, three ion sets different measurement Mass is designated respectively are set. When analysis is performed under the separation condition F1, detection data may be collected by performing SIM measurement in the MS unit 20 in accordance with the SIM measurement parameters. When the separation conditions are changed, the chromatogram moves in the time axis direction as described above, and therefore it is necessary to change all measurement start times and measurement end times of each ion set of the SIM measurement parameters.

このときには、オペレータは操作部36によりパラメータの修正処理を指示する。制御部33はこの指示を受けてまず、変更後の分離条件F2の下で所定の校正用標準試料のGC/MS分析を実行する。このときにはトータルイオンクロマトグラムを取得する必要があるから、所定の質量数範囲のスキャン測定が自動的に設定される。標準試料には複数の参照成分が含まれるため、分析の結果として、データ処理部31ではそれら参照成分のピークが出現するクロマトグラムが作成される。その後、そのクロマトグラムに対してピーク検出が実行され、各ピークが同定されることで、参照成分の保持時間の実測値が求まる。   At this time, the operator instructs parameter correction processing through the operation unit 36. Upon receiving this instruction, the control unit 33 first executes GC / MS analysis of a predetermined calibration standard sample under the changed separation condition F2. At this time, since it is necessary to acquire a total ion chromatogram, scan measurement in a predetermined mass number range is automatically set. Since the standard sample includes a plurality of reference components, as a result of the analysis, the data processing unit 31 creates a chromatogram in which peaks of these reference components appear. Thereafter, peak detection is performed on the chromatogram, and each peak is identified, whereby an actually measured value of the retention time of the reference component is obtained.

次いで、分析条件情報格納部34に格納されている上記SIM測定パラメータに対して修正処理が実行される。具体的には、図4に示したテーブルのN行目のイオンセットの測定開始時間をTs[N]及び測定終了時間をTe[N]とし、それぞれの時間を(1)式におけるTxに見立てて計算を行い、得られるtxの値を修正後の測定開始時間Ts'[N]及び修正後の測定終了時間Te'[N]とする。即ち、N行目のイオンセットの測定開始時間及び測定終了時間が第1参照成分の保持時間と第2参照成分の保持時間に挟まれている場合には、次の(4)式及び(5)式によってそれぞれの値を算出する。
Ts’[N]=(Ts[N]−T1)/(T2−T1)×(t2−t1)+t1 …(4)
Te’[N]=(Te[N]−T1)/(T2−T1)×(t2−t1)+t1 …(5)
Ts’[N]:N行目のイオンセットの測定開始時間の修正後の値
Te’[N]:N行目のイオンセットの測定開始時間の修正後の値
t1:第1参照成分の保持時間の実測値
t2:第2参照成分の保持時間の実測値
Ts[N]:N行目のイオンセットの測定開始時間の設定値(図4中の値)
Te[N]:N行目のイオンセットの測定開始時間の設定値(図4中の値)
T1:分離条件F1の下での第1参照成分の保持時間
T2:分離条件F1の下での第2参照成分の保持時間
Next, a correction process is performed on the SIM measurement parameter stored in the analysis condition information storage unit 34. Specifically, the measurement start time of the ion set in the Nth row of the table shown in FIG. 4 is Ts [N] and the measurement end time is Te [N], and each time is assumed to be Tx in the equation (1). Thus, the obtained tx value is set as a corrected measurement start time Ts ′ [N] and a corrected measurement end time Te ′ [N]. That is, when the measurement start time and measurement end time of the ion set in the Nth row are sandwiched between the holding time of the first reference component and the holding time of the second reference component, the following equations (4) and (5) ) To calculate each value.
Ts ′ [N] = (Ts [N] −T1) / (T2−T1) × (t2−t1) + t1 (4)
Te ′ [N] = (Te [N] −T1) / (T2−T1) × (t2−t1) + t1 (5)
Ts ′ [N]: Value after correction of the measurement start time of the ion set in the Nth row Te ′ [N]: Value after correction of the measurement start time of the ion set in the Nth row t1: Retention of the first reference component Measured value of time t2: Measured value of retention time of second reference component Ts [N]: Set value of measurement start time of ion set on Nth row (value in FIG. 4)
Te [N]: Setting value of the measurement start time of the ion set in the Nth row (value in FIG. 4)
T1: retention time of the first reference component under the separation condition F1 T2: retention time of the second reference component under the separation condition F1

全ての行のイオンセットについて、各イオンセット毎に校正用の参照成分の保持時間情報を元に同様の計算を実行することにより測定開始時間及び測定終了時間を計算し、図5に示すようにそれぞれの値を修正する。引き続いて目的試料のGC/MS分析が実行される際にはこの修正されたSIM測定パラメータに従って、各測定時間範囲毎に測定質量が切り換えられて例えばその測定質量毎のマスクロマトグラムが作成される。この例ではイオンセットは3個であるが、実際の装置ではイオンセットの数はこれによりも遙かに多い場合が多く、上記処理により自動的に全てのSIM測定パラメータが目的試料を分析しようとする分離条件に合わせて適切に修正されることにより、オペレータの作業負担が大幅に軽減される。
For all the ion sets, the measurement start time and the measurement end time are calculated by executing the same calculation based on the retention time information of the reference component for calibration for each ion set, as shown in FIG. Correct each value. Accordance SIM measurement parameters this fix in GC / MS analysis of the target sample is performed subsequently, the mass chromatogram creation of measurement Mass is switched in for example the measurement Mass each for each measurement time range Is done. In this example, there are three ion sets. However, in an actual apparatus, the number of ion sets is often much larger than this, and all the SIM measurement parameters are automatically analyzed by the above processing to analyze the target sample. By appropriately modifying according to the separation conditions to be performed, the work burden on the operator is greatly reduced.

上記説明は方法Iに従った修正処理を行うものであるが、前述したように方法IIに従って修正処理を行ってもよい。その場合には、図4に示したN行目のイオンセットの測定開始時間Ts[N]及び測定終了時間Te[N]と分離条件F1の下でのn−アルカンの保持時間との関係から、予めそれぞれの測定開始時間Ts[N]及び測定終了時間Te[N]に対応する保持指標値Is[N]、Ie[N]とを求めておく。そして、分離条件F2に変更後にもn−アルカンの標準試料を分析してトータルイオンクロマトグラムを作成し、各炭素数に対応したピークを検出してそれぞれの保持時間の実測値を求める。   In the above description, the correction process is performed according to the method I. However, as described above, the correction process may be performed according to the method II. In that case, from the relationship between the measurement start time Ts [N] and measurement end time Te [N] of the ion set in the Nth row shown in FIG. 4 and the n-alkane retention time under the separation condition F1. The holding index values Is [N] and Ie [N] corresponding to the measurement start time Ts [N] and the measurement end time Te [N] are obtained in advance. Then, even after changing to the separation condition F2, the standard sample of n-alkane is analyzed to create a total ion chromatogram, and peaks corresponding to the number of carbon atoms are detected to obtain actual measured values of the respective retention times.

そして、N行目のイオンセットの測定開始時間及び測定終了時間が第1参照成分の保持時間と第2参照成分の保持時間に挟まれている場合には、(3)式に基づく次の(6)式、(7)式により、測定開始時間及び測定終了時間の修正値を算出する。
Ts’[N]=(Is[N]/100−n)×(t2−t1)+t1 …(6)
Te’[N]=(Ie[N]/100−n)×(t2−t1)+t1 …(7)
t1:分離条件F2の下でのCnのピークの保持時間の実測値
t2:分離条件F2の下でのCn+1のピークの保持時間の実測値
これによっても、上記の場合と同様に自動的に全てのSIM測定パラメータを修正することができ、その修正した値に基づいてSIM測定を実行させることができる。
When the measurement start time and measurement end time of the ion set in the Nth row are sandwiched between the holding time of the first reference component and the holding time of the second reference component, the following ( The corrected values of the measurement start time and the measurement end time are calculated by the formulas (6) and (7).
Ts ′ [N] = (Is [N] / 100−n) × (t2−t1) + t1 (6)
Te ′ [N] = (Ie [N] / 100−n) × (t2−t1) + t1 (7)
t1: Measured value of retention time of Cn peak under separation condition F2 t2: Measured value of retention time of peak of Cn + 1 under separation condition F2 Can modify all the SIM measurement parameters and perform SIM measurements based on the modified values.

なお、上記実施例はSIM測定パラメータの中の時間的パラメータ、つまり各イオンセットの測定開始時間及び測定終了時間を修正する場合について説明したが、SIM測定パラメータでなくスキャン測定パラメータ等についても同様の手法で修正することができる、また、スキャン測定とSIM測定を同時に実行する測定モードやMS/MS分析モードで設定される各種時間的パラメータの修正にも同様に利用することができる。   Although the above embodiment has been described with respect to the case of correcting the time parameter among the SIM measurement parameters, that is, the measurement start time and the measurement end time of each ion set, the same applies to the scan measurement parameter instead of the SIM measurement parameter. It can be corrected by a technique, and can also be used for correcting various temporal parameters set in the measurement mode in which the scan measurement and the SIM measurement are performed simultaneously or in the MS / MS analysis mode.

本発明の一実施例であるGC/MSの要部のブロック構成図。The block block diagram of the principal part of GC / MS which is one Example of this invention. 本発明における時間的パラメータの修正方法を説明するためのクロマトグラムの一例を示す図。The figure which shows an example of the chromatogram for demonstrating the correction method of the time parameter in this invention. 本発明における時間的パラメータの修正方法を説明するためのクロマトグラムの一例を示す図。The figure which shows an example of the chromatogram for demonstrating the correction method of the time parameter in this invention. 本実施例のGC/MSにおけるSIM測定パラメータの修正処理を説明するための図。The figure for demonstrating the correction process of the SIM measurement parameter in GC / MS of a present Example. 本実施例のGC/MSにおけるSIM測定パラメータの修正処理を説明するための図。The figure for demonstrating the correction process of the SIM measurement parameter in GC / MS of a present Example.

符号の説明Explanation of symbols

10…GC部
11…試料気化室
12…マイクロシリンジ
13…キャリアガス流路
14…カラムオーブン
15…カラム
20…MS部
21…イオン化室
22…イオン光学系
23…四重極質量フィルタ
24…検出器
25…真空容器
30…A/D変換器
31…データ処理部
32…分析条件変更処理部
33…制御部
34…分析条件情報格納部
35…パーソナルコンピュータ
36…操作部
37…表示部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... GC part 11 ... Sample vaporization chamber 12 ... Micro syringe 13 ... Carrier gas flow path 14 ... Column oven 15 ... Column 20 ... MS part 21 ... Ionization chamber 22 ... Ion optical system 23 ... Quadrupole mass filter 24 ... Detector 25 ... Vacuum container 30 ... A / D converter 31 ... Data processing unit 32 ... Analysis condition change processing unit 33 ... Control unit 34 ... Analysis condition information storage unit 35 ... Personal computer 36 ... Operation unit 37 ... Display unit

Claims (2)

予め設定された分離条件に従ってカラムにより時間的に分離された試料成分を、予め設定されたデータ収集条件に従って質量分析装置により検出して検出データを収集するクロマトグラフ分析装置であって、前記データ収集条件が、カラムへの試料導入時点からの経過時間に関する時間的パラメータとして、質量分析装置におけるスキャン測定又は選択イオンモニタリング測定を行う際の測定時間範囲を含むものにおいて、
a)目的試料の分析のためにオペレータにより設定された第1の分離条件の下でのデータ収集条件と第1の分離条件の下での所定成分の保持時間とを記憶しておく条件記憶手段と、
b)第1の分離条件から変更された後の、目的試料に対する分析が実際に行われる第2の分離条件の下で、前記所定成分を含む標準試料に対して実行された分析結果であるクロマトグラムに基づいて、該所定成分の保持時間の実測値を求める実測値取得手段と、
c)前記条件記憶手段に記憶されている第1の分離条件の下での前記所定成分の保持時間に関する情報と前記実測値取得手段により求まった該所定成分の保持時間の実測値とを所定の計算式に適用することにより分離条件の変更に伴う目的試料中の目的成分のピークの保持時間ずれが修正された保持時間を推定し、これに基づいて前記条件記憶手段に記憶してあるデータ収集条件に含まれる測定時間範囲を修正する修正手段と、
を備え、前記データ収集条件に含まれる全ての測定時間範囲が前記修正手段により修正された状態において目的試料に対する分析を実行することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。
The sample components that are temporally separated by column according to a preset separation conditions, a torque chromatograph analyzer to collect detection data detected by the mass spectrometer according to preset data collection condition, the data collection condition is, as the time parameter relates to the elapsed time from sample introduction point to the column, in which includes the measurement time range for performing the scan measurement or selected ion monitoring measurement in the mass spectrometer,
first memory to keep the condition storage and retention time of a given component under data collection conditions in the first separation conditions under the separation conditions set by the operator for analysis of a) the target sample Means,
b) after being changed from the first separation conditions, chromatography under the second separation conditions analysis of the target sample is actually performed, an analysis result performed on a standard sample containing the predetermined components An actual measurement value obtaining means for obtaining an actual measurement value of the retention time of the predetermined component based on the gram;
c) the condition storage means under the first separation conditions stored the predetermined component information and Motoma' was the predetermined component of the retention time by the measured value acquisition means relating to the retention time of the measured value and the predetermined By applying to the calculation formula, the retention time in which the deviation of the retention time of the peak of the target component in the target sample due to the change of the separation condition is corrected is estimated, and based on this, the data stored in the condition storage means and correction means for correcting the measurement time range that is included in the collection conditions,
The provided, chromatographic analysis apparatus characterized by performing the analysis of the target sample in a state where all of the measurement time range included in the data acquisition conditions is corrected by said correction means.
予め設定された分離条件に従ってカラムにより時間的に分離された試料成分を、予め設定されたデータ収集条件に従って質量分析装置により検出して検出データを収集するクロマトグラフ分析装置であって、前記データ収集条件が、カラムへの試料導入時点からの経過時間に関する時間的パラメータとして、質量分析装置におけるスキャン測定又は選択イオンモニタリング測定を行う際の測定時間範囲を含むものにおいて、A chromatographic analyzer that collects detection data by detecting a sample component temporally separated by a column according to a preset separation condition by a mass spectrometer according to a preset data collection condition, the data collection The conditions include a measurement time range when performing a scan measurement or a selected ion monitoring measurement in a mass spectrometer as a temporal parameter related to the elapsed time from the sample introduction time to the column.
a)目的試料の分析のためにオペレータにより設定された第1の分離条件の下でのデータ収集条件と第1の分離条件の下での所定成分の保持指標とを記憶しておく条件記憶手段と、a) Condition storage means for storing the data collection condition under the first separation condition set by the operator for analyzing the target sample and the retention index of the predetermined component under the first separation condition When,
b)第1の分離条件から変更された後の、目的試料に対する分析が実際に行われる第2の分離条件の下で、前記所定成分を含む標準試料に対して実行された分析結果であるクロマトグラムに基づいて、該所定成分の保持時間の実測値を求める実測値取得手段と、b) Chromatography, which is the result of analysis performed on the standard sample containing the predetermined component under the second separation condition in which the analysis on the target sample is actually performed after the change from the first separation condition. An actual measurement value obtaining means for obtaining an actual measurement value of the retention time of the predetermined component based on the gram;
c)前記条件記憶手段に記憶されている第1の分離条件の下での前記所定成分の保持指標に関する情報と前記実測値取得手段により求まった該所定成分の保持時間の実測値とを所定の計算式に適用することにより、分離条件の変更に伴う目的試料中の目的成分のピークの保持時間ずれが修正された保持時間を推定し、これに基づいて前記条件記憶手段に記憶してあるデータ収集条件に含まれる測定時間範囲を修正する修正手段と、c) The information regarding the retention index of the predetermined component under the first separation condition stored in the condition storage unit and the measured value of the retention time of the predetermined component obtained by the measured value acquisition unit By applying to the calculation formula, the retention time in which the deviation of the retention time of the peak of the target component in the target sample due to the change of the separation condition is corrected is estimated, and based on this, the data stored in the condition storage means Correction means for correcting the measurement time range included in the collection conditions;
を備え、前記データ収集条件に含まれる全ての測定時間範囲が前記修正手段により修正された状態において目的試料に対する分析を実行することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。A chromatographic analyzer, wherein the analysis is performed on the target sample in a state where all the measurement time ranges included in the data collection conditions are corrected by the correcting means.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015117955A (en) * 2013-12-17 2015-06-25 株式会社島津製作所 Chromatogram display method and chromatogram display device and chromatograph including the same

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5569434B2 (en) * 2011-02-28 2014-08-13 株式会社島津製作所 Control device and program for automatic analysis
JP6897267B2 (en) * 2017-04-18 2021-06-30 東ソー株式会社 Peak identification method that is not affected by fluctuations in elution time
JP7188561B2 (en) * 2019-03-22 2022-12-13 株式会社島津製作所 Sample measuring device and measurement sample identification method
WO2023188651A1 (en) * 2022-03-31 2023-10-05 株式会社島津製作所 Monitoring analysis device and monitoring analysis method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015117955A (en) * 2013-12-17 2015-06-25 株式会社島津製作所 Chromatogram display method and chromatogram display device and chromatograph including the same

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