JP4432037B2 - Exposure system with data correction function - Google Patents
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Description
本発明は、描画領域の輪郭を定めるマークの位置を示すデータであるマーク位置データの補正機能付き露光装置に関する。 The present invention relates to an exposure apparatus with a correction function for mark position data, which is data indicating the position of a mark that defines the outline of a drawing area.
フォトリソグラフィの手法によるプリント回路基板への回路パターンの印刷においては、フォトレジスト層が形成された基板上に、露光装置によってパターンが描画される。そして、回路パターンの描画の後、種々の処理が施されることによりプリント回路基板が得られる。 In printing a circuit pattern on a printed circuit board by a photolithography technique, a pattern is drawn by an exposure device on a substrate on which a photoresist layer is formed. And after drawing a circuit pattern, a printed circuit board is obtained by performing various processes.
回路パターンは、プリント基板上の予め定められた位置に描画される必要があるが、基板には描画後の熱処理などにより微細な変形を生じることがあり、パターンの描画位置が本来の位置からずれる場合がある。そこで、例えば、基板上の四隅といった所定の位置に予め位置決めマークを設け、基板の変形による位置決めマークの位置ずれを予め測定してずれを補正することにより、パターンの描画位置が調整されている(例えば特許文献1参照)。
基板上の位置決めマークのずれに基づいて、基板に対する描画領域の位置のずれを修正する場合、位置決めマークを検出する段階において生じる誤差については補正されていない。従って、位置決めマークの実際の位置、すなわち基板の変形後の位置を示すデータに測定誤差が含まれる可能性があり、この場合、正確なアライメント補正が困難である。 When correcting the displacement of the position of the drawing area with respect to the substrate based on the displacement of the positioning mark on the substrate, the error that occurs in the stage of detecting the positioning mark is not corrected. Therefore, there is a possibility that the measurement error is included in the data indicating the actual position of the positioning mark, that is, the position after the deformation of the substrate, and in this case, accurate alignment correction is difficult.
そこで本発明においては、位置決めマークの検出段階において生じる誤差を補正することにより、描画領域の位置のずれ等を正確に修正し、高い精度でアライメント補正を可能にする露光装置の提供を目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide an exposure apparatus that corrects errors in the positioning mark detection stage, thereby accurately correcting misalignment or the like of the drawing region and enabling alignment correction with high accuracy. .
本発明の露光装置は、所定のパターンを描画する領域である描画領域の位置のずれを修正するために描画領域の輪郭を定める複数のマークが、表面に表された被描画体を描画する。露光装置は、複数のマークの実際の位置を検出するマーク位置検出手段と、複数のマークの実際の位置をそれぞれ示すマーク位置データを生成するマーク位置データ生成手段と、複数のマーク位置データそれぞれが、所定の誤差許容範囲を超えた非許容データであるか否かを判断するデータ許容性判断手段と、複数のマーク位置データが、描画領域の位置の修正に用いることができる修正可能データであるか否かを非許容データの数に基づいて判断するデータ適用性判断手段と、非許容データを補正して補正マーク位置データとするデータ補正手段とを備える。そして、データ適用性判断手段が、マーク位置データが修正可能データであると判断した場合、データ補正手段は、必要に応じて非許容データを補正して補正マーク位置データとし、露光装置は、マーク位置データと補正マーク位置データとに基づいて描画領域の位置を修正して被描画体を描画する。 The exposure apparatus of the present invention draws an object to be drawn on which a plurality of marks that define the outline of the drawing area are corrected in order to correct a shift in the position of the drawing area that is an area for drawing a predetermined pattern. An exposure apparatus includes a mark position detection unit that detects actual positions of a plurality of marks, a mark position data generation unit that generates mark position data indicating the actual positions of the plurality of marks, and each of the plurality of mark position data. The data admissibility determining means for determining whether or not the non-permissible data exceeds a predetermined error allowable range, and a plurality of mark position data are correctable data that can be used for correcting the position of the drawing area. Data applicability determination means for determining whether or not the data is based on the number of non-permissible data, and data correction means for correcting the non-permissible data into correction mark position data. When the data applicability determining means determines that the mark position data is modifiable data, the data correcting means corrects the non-permissible data as necessary to obtain corrected mark position data, and the exposure apparatus The drawing object is drawn by correcting the position of the drawing area based on the position data and the correction mark position data.
なお、描画領域の輪郭を定める複数のマークの実際の位置、すなわち被描画体の変形後のマークの位置を示すマーク位置データに基づいて描画領域を修正することにより、本発明の露光装置は、描画領域の位置のずれのみならず、描画領域自体の形状の変化についても、修正を加えることができる。 The exposure apparatus of the present invention corrects the drawing area based on mark position data indicating the actual position of a plurality of marks that define the outline of the drawing area, that is, the position of the mark after deformation of the drawing object. Not only the displacement of the drawing area but also the shape change of the drawing area itself can be corrected.
描画領域は例えば矩形状であって、この場合、4つのマークが描画領域の頂点に位置する。そして、データ許容性判断手段は、第1のマーク位置データが示す第1のマークと、第1のマーク以外のマークとの距離の誤差に基づいて、第1のマーク位置データが非許容データであるか否かを判断し、全てのマーク位置データについて第1のマーク位置データと同様に判断することが好ましい。 The drawing area is rectangular, for example, and in this case, four marks are located at the vertices of the drawing area. Then, the data admissibility determining means determines that the first mark position data is non-permissible data based on an error in distance between the first mark indicated by the first mark position data and a mark other than the first mark. It is preferable to determine whether there is any mark position data and to determine all the mark position data in the same manner as the first mark position data.
データ許容性判断手段は、第1のマークと第1のマークから最も近い第2のマークとの距離である第1の距離の誤差と、第1のマークと第2のマークの次に第1のマークに近い第3のマークとの距離である第2の距離の誤差の合計が、所定の許容範囲内にあるか否かに基づいて、第1のマーク位置データが非許容データであるか否かを判断することが望ましい。さらに、データ許容性判断手段は、第1の距離と第2の距離との誤差の合計に、第2のマークと第3のマークとの距離である第3の距離の誤差をさらに加えた誤差の合計に基づいて、第1のマーク位置データが非許容データであるか否かを判断することが、より望ましい。 The data admissibility determination means includes a first distance error that is a distance between the first mark and the second mark closest to the first mark, and the first mark next to the first mark and the second mark. Whether the first mark position data is non-permissible data based on whether the sum of errors of the second distance, which is the distance to the third mark close to the first mark, is within a predetermined permissible range. It is desirable to determine whether or not. Further, the data admissibility determining means adds an error of the third distance, which is the distance between the second mark and the third mark, to the sum of the errors of the first distance and the second distance. It is more desirable to determine whether or not the first mark position data is non-permissible data based on the sum of the above.
データ適用性判断手段は、例えば、非許容データの数が1つ以下であった場合、マーク位置データが適用可能データであると判断する。そして、非許容データが1つであった場合、データ補正手段が、非許容データを除くマーク位置データが示す第1乃至第3のマークとともに平行四辺形を形成する位置に補正マーク位置データが示すマークがあるように、非許容データを補正して補正マーク位置データとし、非許容データが無かった場合、データ補正手段が、マーク位置データを補正しないことが好ましい。 For example, when the number of non-permissible data is 1 or less, the data applicability determination unit determines that the mark position data is applicable data. When there is one non-permissible data, the correction mark position data is indicated by the data correction unit at a position where a parallelogram is formed together with the first to third marks indicated by the mark position data excluding the non-permissible data. If there is no non-permissible data by correcting the non-permissible data so that there is a mark and there is no non-permissible data, it is preferable that the data correction unit does not correct the mark position data.
データ適用性判断手段は、例えば、非許容データの数が2以上の場合にマーク位置データが適用可能データでないと判断する。 For example, when the number of non-permissible data is 2 or more, the data applicability determination unit determines that the mark position data is not applicable data.
露光装置は、データ適用性判断手段がマーク位置データが適用可能データでないと判断した場合に、複数のマーク位置データが適用可能データでないことをユーザに警告する警告手段をさらに有することが望ましい。 The exposure apparatus preferably further includes warning means for warning the user that a plurality of mark position data is not applicable data when the data applicability determination means determines that the mark position data is not applicable data.
データ許容性判断手段は、例えば、第1のマーク位置データが示す第1のマークと、第1のマークの他のマークとの距離の誤差、位置関係に基づいて、第1のマーク位置データが非許容データであるか否かを判断し、全てのマーク位置データについて第1のマーク位置データと同様に判断する。そして、この場合、データ許容性判断手段は、第1のマークと複数の他のマークとの距離の誤差の合計に基づいて、第1のマーク位置データが非許容データであるか否かを判断することが好ましい。 For example, the data admissibility determining means determines whether the first mark position data is based on the error in the distance between the first mark indicated by the first mark position data and the other marks of the first mark and the positional relationship. It is determined whether the data is non-permissible data, and all the mark position data are determined in the same manner as the first mark position data. In this case, the data admissibility determining means determines whether or not the first mark position data is non-permissible data based on the sum of errors in the distance between the first mark and the plurality of other marks. It is preferable to do.
本発明のマーク位置データ補正方法は、所定のパターンを描画する領域である描画領域の位置と形状のずれを修正するために、被描画体の表面に表された、描画領域の輪郭を定める複数のマークの位置を示すマーク位置データを補正する方法である。そして、マーク位置データ補正方法においては、マーク位置検出手段が複数のマークの実際の位置を検出し、マーク位置データ生成手段が、複数のマークの実際の位置をそれぞれ示すマーク位置データを生成し、データ許容性判断手段が、複数のマーク位置データそれぞれが、所定の誤差許容範囲を超えた非許容データであるか否かを判断し、データ適用性判断手段が、複数のマーク位置データが描画領域の位置と形状の修正に用いることができる適用可能データであるか否かを非許容データの数に基づいて判断する。さらに、データ適用性判断手段がマーク位置データが適用可能データであると判断した場合に、データ補正手段が、非許容データを補正して補正マーク位置データとする。 According to the mark position data correction method of the present invention, in order to correct a displacement between a position and a shape of a drawing area which is an area for drawing a predetermined pattern, a plurality of drawing area contours expressed on the surface of the drawing object are defined. This is a method of correcting mark position data indicating the position of the mark. In the mark position data correction method, the mark position detection unit detects the actual positions of the plurality of marks, the mark position data generation unit generates mark position data indicating the actual positions of the plurality of marks, The data admissibility determining means determines whether each of the plurality of mark position data is non-permissible data exceeding a predetermined error allowable range, and the data applicability determining means determines that the plurality of mark position data is a drawing area. It is determined based on the number of non-permissible data whether or not the data is applicable data that can be used to correct the position and shape. Further, when the data applicability determining unit determines that the mark position data is applicable data, the data correcting unit corrects the non-permissible data to obtain corrected mark position data.
本発明によれば、位置決めマークの検出段階において生じる誤差を補正することにより、描画領域の位置のずれ、変形を正確に修正し、高い精度でアライメント補正が可能な露光装置を実現できる。 According to the present invention, it is possible to realize an exposure apparatus capable of accurately correcting misalignment and deformation of a drawing area and correcting alignment with high accuracy by correcting an error that occurs in a positioning mark detection stage.
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。図1は、本実施形態の露光装置を示す斜視図である。図2は、露光装置に設置された基板を示す斜視図である。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing an exposure apparatus of this embodiment. FIG. 2 is a perspective view showing a substrate installed in the exposure apparatus.
露光装置10は、基台11と固定テーブル29より構成される。基台11には、基板20を固定するための描画テーブル18が配置されている。固定テーブル29には、露光用レーザ発振器25と、露光用レーザ発振器25からの露光用レーザ光LPを描画テーブル18に導くための露光用光学系が設けられている。基台11の上面には、一対の平行なレール12が配置されており、描画テーブル18は、モータを有する駆動部13によって、レール12上を移動可能である。以下では、描画テーブル18の移動方向と垂直な主走査方向をY方向、描画テーブル18の移動方向と平行な副走査方向をX方向と定め、これらの両方向に座標軸を有し、描画テーブル上の点Oを原点とする描画座標系を規定する。
The
基台11には、レール12の外側に、計測用カメラ56が設けられている。計測用カメラ56は、伸縮自在のアーム部60を有し、撮像素子(図示せず)を含む撮影部62が主走査方向に移動することにより、基板20の端部に設けられた第1〜第4アライメント穴H0〜H3の全てを撮影可能である。第1〜第4アライメント穴H0〜H3は、熱処理等による基板20の変形に伴って生じる、基板20の露光面Eの回路パターンを描画する領域である描画領域の位置のずれと形状の変化を修正するために、描画領域の四隅に設けられている。ここでは、第1〜第4アライメント穴H0〜H3は、矩形状の描画領域の頂点に位置するように設けられており、基板20の変形量はわずかであるため、実際の、すなわち基板20の変形後の第1〜第4アライメント穴H0〜H3の中心によって規定される領域もほぼ矩形状である。
A
基板20が描画テーブル18上に固定されると、描画テーブル18は、レール12上を副走査方向(X方向)に沿って往復運動する。そして、描画テーブル18が往復運動する間、計測用カメラ56は、主走査方向(Y方向)に沿って移動し、第1〜第4アライメント穴H0〜H3を撮影する。これにより、基板20の露光面における第1〜第4アライメント穴H0〜H3の位置が計測される。そして、後述のように、第1〜第4アライメント穴H0〜H3の中心位置を示すマーク位置データを描画領域の補正に適用することができるか否かが判断され、適用することができると判断された場合には露光工程に移行する。
When the
露光工程においては、まず、描画テーブル18が、レール12上を固定テーブル29側に向けて再び移動するとともに、以下のように、露光用レーザ光LPが基板20に向けて照射される。レーザ発振機25から発振された露光用レーザ光LPは、第1ビームベンダ26によって偏向され、音響光学素子(AOM)によって構成される光変調ユニット28へ導かれる。光変調ユニット28において変調された後、露光用レーザ光LPは、第2ビームベンダ30、レンズ32、第3ビームベンダ34を介してポリゴンミラー36に導かれる。露光用レーザ光LPは、ポリゴンミラー36の反射面によって偏向され、f―θレンズ38に到達する。この時、ポリゴンミラー36は、露光用レーザ光LPを主走査方向(Y方向)に沿うように偏向する。f―θレンズ38を経由した露光用レーザ光LPは、ターニングミラー40、コンデンサレンズ42を介して描画テーブル18へ導かれる。その結果、露光用レーザ光LPが基板20上に照射され、露光面Eの描画領域は所定の回路パターンに応じて露光される。
In the exposure process, first, the drawing table 18 moves again on the
図3は、本実施形態における露光装置の概略的なブロック図である。 FIG. 3 is a schematic block diagram of the exposure apparatus in the present embodiment.
本体制御部50は、露光装置10の全体を制御する装置であり、本体制御部50内には、露光制御部53が設けられている。露光制御部53は、テーブル駆動部13、計測用カメラ制御部52、光変調ユニット駆動部55、ポリゴンミラー駆動部57等へ制御信号を送る。
The main
計測用カメラ56は、露光制御部53からの制御信号による計測用カメラ制御部52の制御に基づいて、第1〜第4アライメント穴H0〜H3を順次撮影する。この間、テーブル駆動部13は、露光制御部53から送信される制御信号に基づいて、基板20を固定した描画テーブル18の移動を制御する。第1〜第4アライメント穴H0〜H3の撮影結果はデータ処理部54に送られ、データ処理部54は、計測用カメラ56の撮影範囲における座標系から、描画座標系のデータにおける第1〜第4アライメント穴H0〜H3の中心の座標を算出し、各座標データをマーク位置データとする。
The
データ処理部54は、マーク位置データをデータ判断部59に送る。データ判断部59において、マーク位置データが描画領域の修正に用いることができるか否か、すなわちマーク位置データが示す第1〜第4アライメント穴H0〜H3の位置が、本来描画すべき描画領域の頂点と比べて大きい誤差を含むか否かが判断される。データ判断部59が、マーク位置データの誤差が大きく、描画領域の修正に適用できないと判断すると、回路パターンを基板20上に正確に描画することができないという異常を伝え、基板20の交換が必要である旨をユーザに警告するために、データ判断部59は、露光装置10の表面に設けられた警告ランプ58を点灯させる。
The
一方、データ判断部59が、マーク位置データを描画領域の修正に適用できると判断した場合には、マーク位置データが適用可能であることを伝える信号をデータ処理部54に送信する。データ処理部54は、後述のように、必要に応じて補正を加えたマーク位置データを露光制御部53に送り、露光工程が開始する。露光工程においては、まず、データ処理部54が、露光制御部53に対して、必要に応じて補正されたマーク位置データに基づいて回路パターンを形成するための露光をさせる制御信号を送る。そして、露光制御部53が、テーブル駆動部13、光変調ユニット駆動部55、ポリゴンミラー駆動部57を制御することにより、基板20が描画テーブル18上を副走査方向(X方向)に移動しつつ、露光面Eが露光され、回路パターンが形成される。
On the other hand, when the
図4は、アライメント穴を示すマーク位置データの誤差が、許容範囲以内であるか否かを判断する方法を概略的に示す図である。図5は、補正されたマーク位置データに基づくマークを示す図である。図6は、マーク位置データに基づいて修正された描画領域を示す図である。 FIG. 4 is a diagram schematically showing a method for determining whether or not an error in mark position data indicating an alignment hole is within an allowable range. FIG. 5 is a diagram showing a mark based on the corrected mark position data. FIG. 6 is a diagram showing a drawing area corrected based on the mark position data.
第1〜第4アライメント穴H0〜H3の位置をそれぞれ示す座標データであるマーク位置データの誤差が許容範囲内にあるか否かは、アライメント穴間の距離に基づいて、データ判断部59において以下のように判断される。第2アライメント穴H1の位置を示す第2マーク位置データについては、第1アライメント穴H0と第2アライメント穴H1との実際の距離であるL01、第2アライメント穴H1と第3アライメント穴H2との実際の距離L12、及び第1アライメント穴H0と第3アライメント穴H2との実際の距離L02がそれぞれ算出される(図4(A)参照)。ここで実際の距離とは、計測用カメラ56の計測に基づいて算出された第1〜第4アライメント穴H0〜H3の位置を示すマーク位置データに基づく距離をいう。
Whether or not the error of the mark position data, which is the coordinate data indicating the positions of the first to fourth alignment holes H0 to H3, is within the allowable range, is determined by the
続いて、本来描画すべき描画領域を示すデータである描画データにおける、第1アライメント穴H0と第2アライメント穴H1との距離W01、第2アライメント穴H1と第3アライメント穴H2との距離W12、及び第1アライメント穴H0と第3アライメント穴H2との距離W02がそれぞれ算出される。こうして算出された描画データ上のアライメント穴間の距離であるW01、W12、W02と、それぞれ対応するアライメント穴間の実際の距離であるL01、L12、L02との差を誤差とし、これらの誤差の絶対値の合計である合計誤差D012が、(1)式に示すように算出される。
D012=ABS(W01―L01)+ABS(W12―L12)+ABS(W02―L02) ・・・(1)
合計誤差D012を、第2マーク位置データの誤差とする。合計誤差D012に対しては、予め、アライメント穴の加工精度等に基づいて許容量CL2が定められており、データ判断部59は、合計誤差D012と許容量CL2との大小を比較し、合計誤差D012が許容量CL2よりも大きい場合、第2マーク位置データが、そのままでは描画領域の修正に使用することができず、補正が必要な非許容データであると判断する。
Subsequently, the distance W01 between the first alignment hole H0 and the second alignment hole H1, and the distance W12 between the second alignment hole H1 and the third alignment hole H2 in the drawing data which is data indicating the drawing area to be originally drawn, The distance W02 between the first alignment hole H0 and the third alignment hole H2 is calculated. Differences between W01, W12, and W02, which are the distances between the alignment holes on the drawing data calculated in this way, and L01, L12, and L02, which are actual distances between the corresponding alignment holes, are used as errors. A total error D012, which is the sum of absolute values, is calculated as shown in equation (1).
D012 = ABS (W01-L01) + ABS (W12-L12) + ABS (W02-L02) (1)
The total error D012 is taken as the error of the second mark position data. For the total error D012, a permissible amount CL2 is determined in advance based on the alignment hole machining accuracy and the like, and the
データ判断部59は、同様に、それぞれ第1、第3及び第4アライメント穴H0、H2、H3の位置を示す第1、第3及び第4マーク位置データについても、非許容データであるか否かを判断する(図4(B)〜(D)参照)。このように、アライメント穴を示すマーク位置データの信頼性が、距離の短い2つの他のアライメント穴、すなわち略矩形状の描画領域の対角線上にあるものを除く2つのアライメント穴との距離と、それら2つのアライメント穴間の距離とに基づいて判断される。
Similarly, the
第1〜第4マーク位置データの全てについて、非許容データであるか否かが判断されると、データ判断部59は、非許容データの数に基づいて、第1〜第4マーク位置データを描画領域の位置や形状の修正に適用することができるか否かを判断する。すなわち、非許容データが全く含まれない場合、若しくは非許容データが1つ含まれた場合、第1〜第4マーク位置データは、描画領域の修正に適用することができるものと判断する。一方、非許容データが2つ以上存在した場合、計測用カメラ56による第1〜第4アライメント穴H0〜H3の計測誤差、基板20の変形が著しく大きいと考えられ、また、非許容データを信頼性の高い補正マーク位置データとする適当な補正が不可能であるため、かかるマーク位置データは描画領域の修正に適用できないと判断する。
When it is determined whether or not all the first to fourth mark position data are non-permissible data, the
第1〜第4マーク位置データに、非許容データが1つ含まれた場合、以下のように、非許容データに対する補正が行なわれる(図5参照)。すなわち、第1アライメント穴H0の位置を示す第1マーク位置データの合計誤差D103が許容量CL0よりも大きく、第1マーク位置データのみが非許容データであった場合、第1マーク位置データは、第2〜第4アライメント穴H1〜H3の3点と平行四辺形を形成する位置H0’を示す補正マーク位置データに補正される。マーク位置データの補正は、データ判断部59からの指示信号に従って、データ処理部54によって行われる。
When the first to fourth mark position data includes one non-permissible data, the non-permissible data is corrected as follows (see FIG. 5). That is, when the total error D103 of the first mark position data indicating the position of the first alignment hole H0 is larger than the allowable amount CL0 and only the first mark position data is non-permissible data, the first mark position data is Correction mark position data is corrected to indicate a position H0 ′ that forms a parallelogram with the three points of the second to fourth alignment holes H1 to H3. The correction of the mark position data is performed by the
データ判断部59が、第1〜第4マーク位置データが描画領域の修正に適用することができる適用可能データであると判断し、非許容データが含まれなかった場合、データ処理部54は、第1〜第4マーク位置データに基づいて描画領域を修正し、非許容データが1つ含まれた場合、データ処理部54は、補正マーク位置データを含むマーク位置データに基づいて描画領域を修正する(図6参照)。データ処理部54による描画領域の修正においては、まず、第1〜第4アライメント穴H0〜H3を頂点とする、矩形に近い四角形である実際の描画領域の4辺の中点である第1〜第4中点M01、M12、M23、M30が算出される。そして、第1中点M01と第3中点M23とを結ぶ線分LXと、第2中点M12と第4中点M30とを結ぶ線分LYとから成る、破線が示す領域が平行四辺形の形状になるように、描画データにおける描画領域の形状を修正する。また、この修正処理に伴って、描画データにおける描画領域の位置も、第1〜第4アライメント穴H0〜H3のX座標の値であるX0〜3と、Y座標の値であるY0〜3の平均から算出される実際の描画領域の中心点Cの座標((X0+X1+X2+X3)/4,(Y0+Y1+Y2+Y3)/4)を中心とする位置に、移動するよう修正される。
When the
図7は、本体制御部50において行なわれる、描画データ修正ルーチンを示すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart showing a drawing data correction routine performed in the main
描画データ修正ルーチンは、第1〜第4アライメント穴H0〜H3が設けられた基板20の描画テーブル18上への固定により開始される。ステップS701では、計測カメラ56が、第1〜第4アライメント穴H0〜H3を撮影、位置を計測してステップS702に進む。ステップS702では、データ処理部54が、計測用カメラ56の撮影結果から、描画座標系における第1〜第4アライメント穴H0〜H3の位置を示す第1〜第4マーク位置データを生成し、ステップS703に進む。ステップS703では、データ判断部59が、第1〜第4マーク位置データに補正が必要か否かを判断する。第1〜第4マーク位置データのうちいずれかが、補正が必要な非許容データであると判断されるとステップS704に進み、第1〜第4マーク位置データに非許容データ補正が含まれず、補正が不要であると判断されるとステップS707に進む。
The drawing data correction routine is started by fixing the
ステップS704では、データ判断部59が、第1〜第4マーク位置データが描画領域の修正に用いることができるか否か、すなわち非許容データが1つであるか、あるいは2つ以上あるかを判断する。非許容データが1つであった場合、非許容データを補正して補正マーク位置データとすることにより、補正マーク位置データを含むマーク位置データが描画領域の修正に適用可能であると判断し、ステップS705に進む。非許容データが2つ以上存在した場合には、マーク位置データは描画領域の修正に適用できないと判断し、ステップS706に進む。
In step S704, the
ステップS705では、データ処理部54が、非許容データに補正を施して補正マーク位置データとし、ステップS707に進む。ステップS706では、マーク位置データによる描画領域の修正が不可能であり、回路パターンを正確に基板20上に描画することができないことをユーザに報知させるために、警告ランプ58が点灯する。そして、ステップS707では、必要に応じて補正マーク位置データを含むマーク位置データに基づいて、データ処理部54が描画データ上の描画領域の位置、形状を修正し、描画データ修正ルーチンは終了する。
In step S705, the
以上のように、本実施形態によれば、計測用カメラ56によって計測された第1〜第4アライメント穴H0〜H3の位置を示すマーク位置データが、描画領域の位置、形状のずれの修正に適用できるか否かを判断し、適用できる場合にのみ描画領域を修正するため、計測誤差が大きく生じていた場合においても、正確なアライメント補正が可能になる。
As described above, according to the present embodiment, the mark position data indicating the positions of the first to fourth alignment holes H0 to H3 measured by the
描画領域の形状は、本実施形態に限定されず、アライメント穴の数は描画領域の形状にあわせて調整できる。例えば、描画領域が三角形、多角形であれば、各頂点に配置するように本実施形態のアライメント穴の数を増減し、これに応じて複数のマーク位置データが描画領域の修正に適用できると判断する非許容データの数の上限を増減しても良い。また、同一の基板に複数の描画領域が含まれる場合、各描画領域に対して複数のアライメント穴を設けることにより、本実施形態と同様に精度の高いアライメント補正が可能になる。 The shape of the drawing area is not limited to this embodiment, and the number of alignment holes can be adjusted according to the shape of the drawing area. For example, if the drawing area is a triangle or a polygon, the number of alignment holes of this embodiment is increased or decreased so as to be arranged at each vertex, and a plurality of mark position data can be applied to the correction of the drawing area accordingly. The upper limit of the number of unacceptable data to be determined may be increased or decreased. In addition, when a plurality of drawing areas are included on the same substrate, by providing a plurality of alignment holes for each drawing area, it is possible to perform highly accurate alignment correction as in the present embodiment.
マーク位置データに基づく描画データ上の描画領域の修正方法についても、本実施形態に限定されず、データ処理においてではなく露光工程において修正しても良い。 The method for correcting the drawing area on the drawing data based on the mark position data is not limited to the present embodiment, and may be corrected in the exposure process, not in the data processing.
マーク位置データの補正の必要性は、アライメント穴間の距離に限らず、アライメント穴間の位置関係に基づいて判断されても良い。例えば、あるマークの位置を示すマーク位置データについて、他の2つのマークとを結ぶ線分の成す角度に基づいて判断されても良い。また、アライメント穴間の距離に基づいて判断する場合、判断の対象となるマーク位置データが示すマークと、最も距離の短い2つのマークとの距離の合計のみに基づいて補正の必要性を判断しても良い。 The necessity of correcting the mark position data is not limited to the distance between the alignment holes, but may be determined based on the positional relationship between the alignment holes. For example, the mark position data indicating the position of a certain mark may be determined based on an angle formed by a line segment connecting the other two marks. When determining based on the distance between the alignment holes, the necessity of correction is determined based only on the total distance between the mark indicated by the mark position data to be determined and the two shortest marks. May be.
10 露光装置
20 基板(被描画体)
50 本体制御部
53 露光制御部
54 データ処理部(マーク位置データ生成手段・データ補正手段)
56 計測用カメラ(マーク位置検出手段)
58 警告ランプ(警告手段)
59 データ判断部(データ許容性判断手段・データ適用性判断手段)
E 露光面(表面)
H0〜H3 第1〜第4アライメント穴(マーク)
10
50 Main
56 Measurement camera (mark position detection means)
58 Warning lamp (Warning means)
59 Data judging section (data admissibility judging means / data applicability judging means)
E Exposure surface (surface)
H0 to H3 1st to 4th alignment holes (marks)
Claims (11)
前記4つのマークの実際の位置を検出するマーク位置検出手段と、
前記4つのマークの実際の位置をそれぞれ示すマーク位置データを生成するマーク位置データ生成手段と、
前記4つのマーク位置データそれぞれが、所定の誤差許容範囲を超えた非許容データであるか否かを判断するデータ許容性判断手段と、
前記4つのマーク位置データが、前記描画領域の位置と形状の修正に用いることができる修正可能データであるか否かを前記非許容データの数に基づいて判断するデータ適用性判断手段と、
前記非許容データを補正して補正マーク位置データとするデータ補正手段とを備え、
前記データ適用性判断手段が、前記非許容データの数が1つ以下であった場合、前記マーク位置データが前記適用可能データであると判断し、
前記非許容データが1つであった場合、前記データ補正手段が、前記非許容データを除く前記マーク位置データが示す第1乃至第3のマークとともに平行四辺形を形成する位置に補正マーク位置データが示すマークがあるように、前記非許容データを補正して前記補正マーク位置データとし、前記マーク位置データと前記補正マーク位置データとに基づき前記描画領域の位置と形状を修正して前記被描画体を描画し、
前記非許容データが無かった場合、前記データ補正手段が前記マーク位置データを補正せず、前記マーク位置データに基づき前記描画領域の位置と形状を修正して前記被描画体を描画することを特徴とする露光装置。 An exposure apparatus for drawing an object to be drawn in which four marks defining the outline of the drawing area are represented on the surface in order to correct a deviation in the position and shape of the drawing area that is an area for drawing a predetermined pattern. ,
Mark position detecting means for detecting actual positions of the four marks;
Mark position data generating means for generating mark position data respectively indicating the actual positions of the four marks;
Data admissibility determining means for determining whether each of the four mark position data is non-permissible data exceeding a predetermined error allowable range;
Data applicability determining means for determining whether or not the four mark position data are correctable data that can be used for correcting the position and shape of the drawing area, based on the number of non-permissible data;
Data correction means for correcting the non-permissible data to be correction mark position data,
The data applicability determining means determines that the mark position data is the applicable data when the number of non-permissible data is one or less;
When there is one non-permissible data, the correction mark position data at a position where the data correction unit forms a parallelogram together with the first to third marks indicated by the mark position data excluding the non-permissible data. The correction mark position data is corrected by correcting the non-permissible data so that there is a mark indicated by: and the position and shape of the drawing area are corrected based on the mark position data and the correction mark position data. Draw the body ,
When there is no non-permissible data, the data correction unit does not correct the mark position data, but draws the drawing object by correcting the position and shape of the drawing area based on the mark position data. An exposure apparatus.
マーク位置検出手段が前記4つのマークの実際の位置を検出し、
マーク位置データ生成手段が、前記4つのマークの実際の位置をそれぞれ示すマーク位置データを生成し、
データ許容性判断手段が、前記4つのマーク位置データそれぞれが、所定の誤差許容範囲を超えた非許容データであるか否かを判断し、
データ適用性判断手段が、前記4つのマーク位置データが前記描画領域の位置と形状の修正に用いることができる適用可能データであるか否かを前記非許容データの数に基づいて判断し、
前記データ適用性判断手段が、前記非許容データの数が1つ以下であった場合、前記マーク位置データが前記適用可能データであると判断し、
前記非許容データが1つであった場合、前記非許容データを補正して補正マーク位置データとするデータ補正手段が、前記非許容データを除く前記マーク位置データが示す第1乃至第3のマークとともに平行四辺形を形成する位置に補正マーク位置データが示すマークがあるように、前記非許容データを補正して前記補正マーク位置データとし、
前記非許容データが無かった場合、前記データ補正手段が前記マーク位置データを補正しないことを特徴とするマーク位置データ補正方法。 Mark positions indicating the positions of four marks that define the outline of the drawing area, which are represented on the surface of the drawing object, in order to correct the deviation of the position and shape of the drawing area, which is an area for drawing a predetermined pattern A mark position data correction method for correcting data,
Mark position detection means detects the actual position of the four marks,
Mark position data generating means generates mark position data indicating the actual positions of the four marks,
A data admissibility determining means determines whether each of the four mark position data is non-allowable data exceeding a predetermined error allowable range,
A data applicability determining means determines whether or not the four mark position data are applicable data that can be used to correct the position and shape of the drawing area based on the number of the non-permissible data;
The data applicability determining means determines that the mark position data is the applicable data when the number of non-permissible data is one or less;
When there is one non-permissible data, the data correction unit that corrects the non-permissible data to obtain correction mark position data includes first to third marks indicated by the mark position data excluding the non-permissible data. And the correction mark position data by correcting the non-permissible data so that there is a mark indicated by the correction mark position data at the position where the parallelogram is formed,
A mark position data correction method , wherein the data correction means does not correct the mark position data when there is no non-permissible data .
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