JP4415616B2 - Micro machine - Google Patents

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Description

本発明は、いわゆるマイクロマシン(超小型電気的・機械的複合体;Micro Electro-Mechanical Systems、以下「MEMS」という)に関するものである。   The present invention relates to a so-called micromachine (micro electro-mechanical system; hereinafter referred to as “MEMS”).

近年、基板上の微細化製造技術の進展に伴い、MEMSやMEMSを組み込んだ小型機器等が注目されている。MEMSは、可動構造体である振動子と、その振動子の駆動を制御する半導体集積回路等とを、電気的・機械的に結合させた素子である。そして、振動子が素子の一部に組み込まれており、その振動子の駆動を電極間のクーロン引力等を応用して電気的に行うようになっている。   In recent years, with the progress of miniaturization manufacturing technology on a substrate, attention has been focused on MEMS and small devices incorporating MEMS. The MEMS is an element obtained by electrically and mechanically coupling a vibrator that is a movable structure and a semiconductor integrated circuit that controls driving of the vibrator. A vibrator is incorporated in a part of the element, and the vibrator is electrically driven by applying a Coulomb attractive force between the electrodes.

このようなMEMSのうち、特に半導体プロセスを用いて形成されたものは、デバイスの占有面積が小さいこと、高いQ値(振動系の共振の鋭さを表す量)を実現できること、他の半導体デバイスとのインテグレーション(統合)が可能であること等の特徴を有することから、無線通信用のIFフィルタ装置やRFフィルタ装置等としての利用が提案されている(例えば、非特許文献1参照)。具体的には、例えば図6に示すように、可動構造体である振動子21を備えるとともに、その振動子21と相対する下部電極22がそれぞれ入力、出力電極として機能するようになっており、振動子21の振動を利用して特定周波数帯域の信号を透過または遮断する、といったフィルタ装置に適したMEMS構造が提案されている。また、図6の構成例では、振動子21が両持ち梁を用いたビーム型である場合を示しているが、その他にもディスク型の振動子を備えるMEMS構造も提案されている(例えば、非特許文献2参照)。   Among such MEMS, those formed using a semiconductor process, in particular, have a small occupied area of the device, can realize a high Q value (an amount representing the sharpness of resonance of the vibration system), and other semiconductor devices. Therefore, it has been proposed to be used as an IF filter device or an RF filter device for wireless communication (for example, see Non-Patent Document 1). Specifically, for example, as shown in FIG. 6, a vibrator 21 which is a movable structure is provided, and a lower electrode 22 facing the vibrator 21 functions as an input and output electrode, respectively. There has been proposed a MEMS structure suitable for a filter device that uses a vibration of the vibrator 21 to transmit or block a signal in a specific frequency band. 6 shows a case where the vibrator 21 is a beam type using a doubly-supported beam. In addition, a MEMS structure including a disk-type vibrator has also been proposed (for example, Non-patent document 2).

Frank D.bannon III,John R.Clark,Clark T.-C.Nguyen,“High-Q HF Microelectromechanical Filters”IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,VOL.35,NO.4,APRIL2000,pp.512-526Frank D. bannon III, John R. Clark, Clark T.-C. Nguyen, “High-Q HF Microelectromechanical Filters” IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS, VOL.35, NO.4, APRIL2000, pp.512-526 J.R.Clark,W.-T.Hsu,C.T.-C.Nguyen,“High-Q VHF Micromechanical Contour-Mode Disk Resonators”Technical Digest,IEEE Int.Electron Devices Meeting,San Francisco,California,Dec.11-13,2000,pp.493-496.JRClark, W.-T.Hsu, CT-C. Nguyen, “High-Q VHF Micromechanical Contour-Mode Disk Resonators” Technical Digest, IEEE Int. Electron Devices Meeting, San Francisco, California, Dec. 11-13, 2000 pp.493-496.

ところで、これまでに提案され、検証されたMEMS構造における微小振動子の共振周波数は、最高でもGHz領域を超えていない。つまり、従来の表面弾性波(SAW)あるいは薄膜弾性波(FBAR)によるGHz領域のフィルタに対しては、微小振動子の特性である高いQ値をGHz帯周波数領域で提供することができていない。   By the way, the resonance frequency of the micro-vibrator in the MEMS structure that has been proposed and verified so far does not exceed the GHz region at the maximum. That is, a high Q value, which is a characteristic of a micro-vibrator, cannot be provided in the GHz band frequency region for a conventional filter in the GHz region using surface acoustic waves (SAW) or thin film elastic waves (FBAR). .

一般に、GHz領域のような高い周波数領域では出力信号としての共振ピークが小さくなる傾向にあることから、良好なフィルタ特性を得るためには、共振ピークのSN比を向上する必要がある。
この点、例えば上述した非特許文献2に開示されたディスク型の振動子を備えるMEMS構造の例によれば、出力信号のノイズ成分は入出力電極間に構成される寄生容量を直接透過する信号に依存することから、この信号を小さくするために直流電圧を印加した振動電極を入出力電極間に配置することで、ノイズ成分の低減が図れるとされている。つまり、ノイズ成分の低減を図ることで、出力信号の共振ピークが小さくなる傾向にあっても、共振ピークのSN比の低下を極力抑制し得るようになる。
In general, the resonance peak as an output signal tends to be small in a high frequency region such as the GHz region. Therefore, in order to obtain good filter characteristics, it is necessary to improve the SN ratio of the resonance peak.
In this regard, for example, according to the example of the MEMS structure including the disk-type vibrator disclosed in Non-Patent Document 2 described above, the noise component of the output signal is a signal that directly passes through the parasitic capacitance formed between the input and output electrodes. Therefore, it is said that the noise component can be reduced by arranging a vibrating electrode to which a DC voltage is applied between the input and output electrodes in order to reduce this signal. That is, by reducing the noise component, even if the resonance peak of the output signal tends to be small, the decrease in the SN ratio of the resonance peak can be suppressed as much as possible.

その一方で、ディスク型の振動子を備えるMEMS構造は高次のモードを用いており、十分な出力信号を得るには例えば30Vを超える直流電圧の印加が必要である。そのために、実用的な構造としては、両持ち梁を用いたビーム型の振動子を備えたMEMS構造が望ましい。
このことから、ビーム型の振動子を備えたMEMS構造に、ディスク型の振動子の例のようなノイズ成分の低減手法を適用することを考えると、その一例として、図7に示すような電極配置のMEMS構造が得られる。このMEMS構造は、可動構造体であるビーム型の振動子23とは別に、その振動子23に振動を励起するための入力電極24と、振動子23に励起された振動を検出するための出力電極25とをそれぞれ設け、振動子23に直流バイアス電圧を印加する構造としたものである。つまり、上述した非特許文献1に開示されたMEMS構造が振動子の一次モードを利用した信号透過方式であるのに対して、図7のMEMS構造は、入力電極24と出力電極25とをそれぞれ個別に設けて、ビーム型の振動子の二次モードを利用した信号透過方式を実現するものである。
On the other hand, a MEMS structure including a disk-type vibrator uses a higher-order mode, and a DC voltage exceeding, for example, 30 V is required to obtain a sufficient output signal. Therefore, as a practical structure, a MEMS structure including a beam-type vibrator using a doubly supported beam is desirable.
Accordingly, when applying a noise component reduction technique such as the disk-type vibrator to a MEMS structure including a beam-type vibrator, an electrode as shown in FIG. An arrangement MEMS structure is obtained. In this MEMS structure, in addition to the beam-type vibrator 23 which is a movable structure, an input electrode 24 for exciting vibration to the vibrator 23 and an output for detecting vibration excited by the vibrator 23. Each of the electrodes 25 is provided so that a DC bias voltage is applied to the vibrator 23. That is, the MEMS structure disclosed in Non-Patent Document 1 described above is a signal transmission method using the primary mode of the vibrator, whereas the MEMS structure in FIG. 7 includes the input electrode 24 and the output electrode 25 respectively. A signal transmission method using the secondary mode of the beam type vibrator is provided separately.

しかしながら、図7のMEMS構造の場合には、高次モード(例えば、二次モード)を用いているため、振動子の振幅が小さくなることで出力信号が減少してしまうのに加えて、入力電極24と出力電極25との間の空間に寄生容量(図7中におけるA参照)が存在したり、入力電極24および出力電極25の下地膜×を経由した寄生容量(図7中におけるB参照)が存在したりしてしまう。このような寄生容量は、ノイズ成分の低減を阻害する要因となり得る。
したがって、特にGHz領域のような高い周波数領域に対応する場合には、MEMS構造の全体が縮小化して電極間隔も狭まるために、上述した寄生容量の影響がより大きく作用してしまい、SN比の悪化を招く要因となり得るおそれがある。つまり、高い周波数領域に対応するためには、入力電極24と出力電極25との間の寄生容量を低減することが必要になるのである。
However, since the MEMS structure of FIG. 7 uses a higher-order mode (for example, a second-order mode), the output signal is reduced due to a decrease in the amplitude of the vibrator. Parasitic capacitance (see A in FIG. 7) exists in the space between the electrode 24 and the output electrode 25, or parasitic capacitance (see B in FIG. 7) via the base film x of the input electrode 24 and the output electrode 25. ) Exist. Such parasitic capacitance can be a factor that hinders the reduction of noise components.
Therefore, especially in the case of dealing with a high frequency region such as the GHz region, the entire MEMS structure is reduced and the electrode interval is also narrowed, so that the influence of the parasitic capacitance described above acts more greatly, and the SN ratio is increased. There is a possibility that it may cause deterioration. That is, in order to cope with a high frequency region, it is necessary to reduce the parasitic capacitance between the input electrode 24 and the output electrode 25.

そこで、本発明は、ビーム型の振動子の高次モードを利用した信号透過方式を採用する場合であっても、電極間の寄生容量を減らすことでSN比の向上を図ることを可能とし、GHz領域のような高い周波数領域にも対応することのできるMEMS構造を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention makes it possible to improve the S / N ratio by reducing the parasitic capacitance between the electrodes even when the signal transmission method using the higher-order mode of the beam-type vibrator is employed. An object of the present invention is to provide a MEMS structure that can cope with a high frequency region such as the GHz region.

本発明は、上記目的を達成するために案出されたマイクロマシン(MEMS)で、直流電圧が印加される可動構造体であるビーム型の第一の振動子および第二の振動子と、前記第一の振動子および前記第二の振動子に振動を励起するための第一の入力電極および第二の入力電極と、前記第一の振動子および前記第二の振動子に励起された振動を検出するための出力電極とを備え、前記第一の入力電極と前記出力電極とが前記第一の振動子を挟んで積み重なるように配されているとともに、前記第二の入力電極と前記出力電極とが前記第二の振動子を挟んで積み重なるように配されて、前記第一の入力電極、前記第一の振動子、前記出力電極、前記第二の振動子および前記第二の入力電極が順に重なり合う階層構造を有しているマイクロマシンである。
また、本発明は、上記目的を達成するために案出されたマイクロマシンで、直流電圧が印加される可動構造体であるビーム型の第一の振動子および第二の振動子と、前記第一の振動子および前記第二の振動子に振動を励起するための入力電極と、前記第一の振動子および前記第二の振動子に励起された振動を検出するための第一の出力電極および第二の出力電極とを備え、前記入力電極と前記第一の出力電極とが前記第一の振動子を挟んで積み重なるように配されているとともに、前記入力電極と前記第二の出力電極とが前記第二の振動子を挟んで積み重なるように配されて、前記第一の出力電極、前記第一の振動子、前記入力電極、前記第二の振動子および前記第二の出力電極が順に重なり合う階層構造を有しているマイクロマシンである。
The present invention is a micromachine (MEMS) devised to achieve the above object, and includes a beam-type first vibrator and a second vibrator , which are movable structures to which a DC voltage is applied, and the first A first input electrode and a second input electrode for exciting vibrations in one vibrator and the second vibrator, and vibrations excited in the first vibrator and the second vibrator. An output electrode for detection , the first input electrode and the output electrode are arranged so as to be stacked with the first vibrator interposed therebetween, and the second input electrode and the output electrode Are arranged so as to be stacked with the second vibrator interposed therebetween, and the first input electrode, the first vibrator, the output electrode, the second vibrator, and the second input electrode are micromachine having a hierarchical structure overlapping in sequence A.
The present invention also provides a beam-type first vibrator and second vibrator, which are movable structures to which a direct-current voltage is applied, in a micromachine designed to achieve the above-described object, and the first An input electrode for exciting vibration to the second vibrator and the second vibrator; a first output electrode for detecting vibration excited by the first vibrator and the second vibrator; A second output electrode, wherein the input electrode and the first output electrode are arranged so as to be stacked with the first vibrator interposed therebetween, and the input electrode and the second output electrode, Are arranged so as to be stacked with the second vibrator interposed therebetween, and the first output electrode, the first vibrator, the input electrode, the second vibrator, and the second output electrode are sequentially arranged. It is a micromachine having an overlapping hierarchical structure

上記構成のマイクロマシン(MEMS)によれば、入力電極と出力電極とが振動子を挟んで積み重なるように配された階層構造を有していることから、入力電極と出力電極との間に振動子が位置することになる。したがって、振動子の存在により、入力電極と出力電極との間の寄生容量を低減でき、電極間を直接透過する信号によるノイズ成分を低減し得るようになる。   According to the micromachine (MEMS) having the above configuration, since the input electrode and the output electrode have a hierarchical structure arranged so as to be stacked with the vibrator interposed therebetween, the vibrator is provided between the input electrode and the output electrode. Will be located. Therefore, due to the presence of the vibrator, the parasitic capacitance between the input electrode and the output electrode can be reduced, and the noise component due to the signal that is directly transmitted between the electrodes can be reduced.

本発明のマイクロマシン(MEMS)によれば、電極間の寄生容量の低減によって当該電極間を直接透過する信号によるノイズ成分を低減し得るようになるので、出力信号のSN比を向上することができる。したがって、例えばGHz領域のような高い周波数領域に対応する場合に、振動子の振幅が小さくなることで出力信号が減少してしまう傾向にあっても、出力信号のSN比を向上させることで、十分な出力レベルを確保することが可能となる。つまり、従来のMEMS構造に比べて高いSN比を実現できるので、高周波での信号検出を容易にすることができるという効果を奏する。しかも、ビーム型の振動子であっても高いSN比を実現できるので、高電圧の印加を必要とすることもなく、その実用性を十分に確保することができるという効果も奏する。   According to the micromachine (MEMS) of the present invention, it is possible to reduce the noise component due to the signal that is directly transmitted between the electrodes by reducing the parasitic capacitance between the electrodes, so that the SN ratio of the output signal can be improved. . Therefore, for example, when dealing with a high frequency region such as the GHz region, even if the output signal tends to decrease due to a decrease in the amplitude of the vibrator, by improving the SN ratio of the output signal, A sufficient output level can be secured. That is, since a high S / N ratio can be realized as compared with the conventional MEMS structure, there is an effect that signal detection at a high frequency can be facilitated. In addition, since a high S / N ratio can be realized even with a beam-type vibrator, there is an effect that the practicality can be sufficiently ensured without requiring application of a high voltage.

以下、図面に基づき本発明に係るマイクロマシン(MEMS)について説明する。   Hereinafter, a micromachine (MEMS) according to the present invention will be described with reference to the drawings.

〔第1の実施の形態〕
先ず、本発明の第1の実施の形態について説明する。図1は、本発明の第1の実施の形態におけるMEMSの概略構成例を示す説明図である。
[First Embodiment]
First, a first embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is an explanatory diagram showing a schematic configuration example of a MEMS according to the first embodiment of the present invention.

図1に示すように、ここで説明するMEMS構造は、直流(DC)電圧が印加され、ビーム型の可動構造体部分を有する振動子1と、その振動子1に振動を励起するための入力電極2と、振動子1に励起された振動を検出するための出力電極3とを備えている。そして、入力電極2および出力電極3は振動子1の可動構造体部分との間に空間を介していることから、入力電極2に特定の周波数電圧が印加された場合に、例えばポリシリコン(Poly-Si)といった絶縁材料からなる振動子1の可動構造体部分が固有振動周波数で振動し、出力電極3と振動子1の可動構造体部分との間の空間で構成されるキャパシタの容量が変化し、これが出力電極3から出力されるようになっている。これにより、当該MEMS構造では、高いQ値を実現することができるのである。
これらの振動子1、入力電極2および出力電極3は、いずれも、例えば単結晶シリコン(Si)からなる半導体基板5上に二酸化ケイ素(SiO2)膜6および窒化ケイ素(SiN)膜7が積層された、さらにその上方に形成されている。そして、振動子1および入力電極2の上方は、保護膜となるSiN膜8によって覆われている。つまり、これらを備えてなるMEMS構造は、半導体基板5上に形成されるものであることから、他の半導体デバイスとのインテグレーションが可能である。
また、振動子1には、直流電圧が印加されることから、出力信号と寄生容量の相関を無くすことができ、SN比を十分に確保することが可能となる。
なお、振動子1は、必ずしも単独である必要はなく、複数が組み合わされてなるもの、すなわち振動子群を構成するものであってもよい。
As shown in FIG. 1, in the MEMS structure described here, a direct current (DC) voltage is applied, a vibrator 1 having a beam-type movable structure portion, and an input for exciting vibration to the vibrator 1. An electrode 2 and an output electrode 3 for detecting vibration excited by the vibrator 1 are provided. Since the input electrode 2 and the output electrode 3 have a space between the movable structure portion of the vibrator 1, when a specific frequency voltage is applied to the input electrode 2, for example, polysilicon (Poly The movable structure portion of the vibrator 1 made of an insulating material such as -Si) vibrates at the natural vibration frequency, and the capacitance of the capacitor formed by the space between the output electrode 3 and the movable structure portion of the vibrator 1 changes. This is output from the output electrode 3. Thereby, in the said MEMS structure, a high Q value is realizable.
Each of the vibrator 1, the input electrode 2, and the output electrode 3 is formed by laminating a silicon dioxide (SiO 2 ) film 6 and a silicon nitride (SiN) film 7 on a semiconductor substrate 5 made of, for example, single crystal silicon (Si). It is further formed above it. The upper portion of the vibrator 1 and the input electrode 2 is covered with a SiN film 8 serving as a protective film. That is, since the MEMS structure provided with these is formed on the semiconductor substrate 5, integration with other semiconductor devices is possible.
Further, since a DC voltage is applied to the vibrator 1, the correlation between the output signal and the parasitic capacitance can be eliminated, and a sufficient SN ratio can be ensured.
The vibrator 1 does not necessarily need to be a single element, and may be a combination of a plurality of vibrators, that is, a vibrator group.

さらに、ここで説明するMEMS構造は、その特徴的な構成として、入力電極2と出力電極3とが振動子1の可動構造体部分を挟んで積み重なるように配された階層構造を有している。すなわち、入力電極2と出力電極3との間に、DC電極として機能する振動子1の可動構造体部分が配置されていることになる。   Furthermore, the MEMS structure described here has a hierarchical structure in which the input electrode 2 and the output electrode 3 are arranged so as to be stacked with the movable structure portion of the vibrator 1 interposed therebetween as a characteristic configuration. . That is, the movable structure portion of the vibrator 1 that functions as a DC electrode is disposed between the input electrode 2 and the output electrode 3.

このような階層構造では、振動子1と入力電極2との間に空間が介在するため、その振動子1の上部に位置する入力電極2が浮いてしまうことになり、その入力電極2を構造物で固定する必要があるが、ここでは当該階層構造の略全体をSiN膜8によって覆うことで入力電極2を固定している。このようなSiN膜8を設けることによって、そのSiN膜8は、入力電極2の固定構造物として機能するだけではなく、振動子1を外乱から防ぐパッケージ(保護膜)としての役割を果すこととなる。   In such a hierarchical structure, since a space is interposed between the vibrator 1 and the input electrode 2, the input electrode 2 located above the vibrator 1 is floated, and the input electrode 2 is structured. The input electrode 2 is fixed by covering substantially the entire hierarchical structure with the SiN film 8 here. By providing such a SiN film 8, the SiN film 8 not only functions as a fixed structure of the input electrode 2 but also serves as a package (protective film) that prevents the vibrator 1 from being disturbed. Become.

次に、以上のような構成のMEMS構造を形成する具体的な手順について説明する。図2は、本発明の第1の実施の形態におけるMEMS構造の形成手順の一例を示す説明図である。ここでは、振動子1、入力電極2および出力電極3の材質がPoly-Siであり、犠牲層がSiO2膜である場合を例に挙げて説明する。ただし、以下に説明する例は、あくまで実施の一具体例に過ぎず、本発明の実現手段を制限するものではない。 Next, a specific procedure for forming the MEMS structure having the above configuration will be described. FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of a procedure for forming the MEMS structure according to the first embodiment of the present invention. Here, the case where the material of the vibrator 1, the input electrode 2, and the output electrode 3 is Poly-Si and the sacrificial layer is a SiO 2 film will be described as an example. However, the example described below is merely a specific example of implementation, and does not limit the means for realizing the present invention.

図1に示したMEMS構造を形成するのにあたっては、先ず、図2(a)に示すように、Siからなる半導体基板5上、熱酸化によりSiO2膜6を形成する。熱酸化は、例えば、水蒸気雰囲気にて950℃、165分の条件で行う。SiO2膜6の形成後は、減圧下にて、SiN膜7をCVD(Chemical Vapor Deposition)により形成する。CVDは、例えば850℃、60分の条件で行う。さらに、SiN膜7の形成後は、リン(P)をドーピングした第一Poly-Si膜11をCVDにより形成し、その第一Poly-Si膜11に対して熱酸化処理およびアニール処理を行い、粒界部分に存在しているP不純物原子を粒界内部に拡散させ、活性化して抵抗値を低下させる。CVDは、例えばシランガス50sccmと亜酸化窒素(N2O)ガス1000sccmを反応ガスとしたホットウォールタイプのCVDにより行う。また、Pをドープする原料としてはホスフィン(PH3)を使用し、熱酸化はO2雰囲気で1000℃、12分の条件で行い、アニールは窒素(N2)雰囲気で1000℃、6分の条件で行う。そして、第一Poly-Si膜11の形成後は、ドライエッチング装置にてパターニングを行い、出力電極3となる部分を形成する。 In forming the MEMS structure shown in FIG. 1, first, as shown in FIG. 2A, an SiO 2 film 6 is formed on a semiconductor substrate 5 made of Si by thermal oxidation. Thermal oxidation is performed, for example, in a steam atmosphere at 950 ° C. for 165 minutes. After the formation of the SiO 2 film 6, the SiN film 7 is formed by CVD (Chemical Vapor Deposition) under reduced pressure. CVD is performed, for example, under conditions of 850 ° C. and 60 minutes. Further, after the formation of the SiN film 7, the first Poly-Si film 11 doped with phosphorus (P) is formed by CVD, and the first Poly-Si film 11 is subjected to thermal oxidation treatment and annealing treatment, P impurity atoms existing in the grain boundary part are diffused inside the grain boundary and activated to lower the resistance value. The CVD is performed by hot wall type CVD using, for example, silane gas 50 sccm and nitrous oxide (N 2 O) gas 1000 sccm as reaction gases. In addition, phosphine (PH3) is used as a raw material for doping P, thermal oxidation is performed at 1000 ° C. for 12 minutes in an O 2 atmosphere, and annealing is performed at 1000 ° C. for 6 minutes in a nitrogen (N 2 ) atmosphere. To do. Then, after the formation of the first Poly-Si film 11, patterning is performed with a dry etching apparatus to form a portion that becomes the output electrode 3.

その後は、図2(b)に示すように、SiO2膜12をCVDにより形成する。ここでは、膜の緻密性やカバレッジ等を考慮して、HTO(High Temperature Oxide)による膜を付けることが考えられる。そして、第一Poly-Si膜11の場合と同様にして、そのSiO2膜12上にPをドーピングしたPoly-Si膜を第二Poly-Si膜13として形成する。 Thereafter, as shown in FIG. 2B, the SiO 2 film 12 is formed by CVD. Here, it is conceivable to apply a film made of HTO (High Temperature Oxide) in consideration of the film density and coverage. Then, similarly to the case of the first Poly-Si film 11, a Poly-Si film doped with P is formed as a second Poly-Si film 13 on the SiO 2 film 12.

第二Poly-Si膜13の形成後は、図2(c)に示すように、その第二Poly-Si膜13上にリソグラフィ処理を行い、所定パターンで第二Poly-Si膜13およびSiO2膜12をエッチングする。このとき、下層膜である第一Poly-Si膜11との選択性を持たせるために、エッチングは、それぞれ別のエッチング装置またはエッチング工程にて行うことが望ましい。また、SiO2膜12をエッチングする際には、第二Poly-Si膜13をレジストとして用いてもよい。 After the formation of the second Poly-Si film 13, as shown in FIG. 2C, a lithography process is performed on the second Poly-Si film 13, and the second Poly-Si film 13 and SiO 2 are formed in a predetermined pattern. The film 12 is etched. At this time, in order to provide selectivity with the first poly-Si film 11 which is the lower layer film, it is desirable that the etching is performed by separate etching apparatuses or etching processes. Further, when the SiO 2 film 12 is etched, the second Poly-Si film 13 may be used as a resist.

そして、エッチング箇所を埋め、かつ、SiO2膜12の上層膜を形成するように、図2(d)に示すように、第一Poly-Si膜11または第二Poly-Si膜13の場合と同様にして、PをドーピングしたPoly-Si膜を第三Poly-Si膜14として形成し、さらにその第三Poly-Si膜14上に対するリソグラフィ処理を行って、振動子1の可動構造体となる部分を形成すべくドライエッチングを行う。このとき、エッチング箇所の凹み部分がPoly-Si膜の成膜に与える悪影響を回避すべく、その凹み部分をPoly-Si膜で埋めた後、例えばCMP(Chemical Mechanical Polishing;化学的機械的研磨)を行って平坦化し、さらにその上に再びPoly-Si膜を成膜して、振動子1の可動構造体となる部分を得るようにすることも考えられる。 Then, as shown in FIG. 2 (d), the first Poly-Si film 11 or the second Poly-Si film 13 is formed so as to fill the etching portion and form an upper layer film of the SiO 2 film 12. Similarly, a Poly-Si film doped with P is formed as a third Poly-Si film 14, and a lithography process is further performed on the third Poly-Si film 14 to form a movable structure of the vibrator 1. Dry etching is performed to form a portion. At this time, in order to avoid the adverse effect of the recessed portion of the etched portion on the formation of the Poly-Si film, the recessed portion is filled with the Poly-Si film, and then, for example, CMP (Chemical Mechanical Polishing) It is also conceivable to flatten by performing a process, and further to form a Poly-Si film thereon so as to obtain a portion that becomes the movable structure of the vibrator 1.

さらには、図2(e)に示すように、SiO2膜12や第三Poly-Si膜14の場合と同様に手法を用いて、第三Poly-Si膜14上にSiO2膜15および第四Poly-Si膜16を成膜するとともに、これらに対するリソグラフィ処理およびドライエッチングを行い、入力電極2となる部分を形成する。 Further, as shown in FIG. 2E, the SiO 2 film 15 and the second poly-Si film 14 are formed on the third Poly-Si film 14 by using the same method as that for the SiO 2 film 12 and the third Poly-Si film 14. The four Poly-Si films 16 are formed, and a lithography process and dry etching are performed on these to form a portion to be the input electrode 2.

その後は、図2(f)に示すように、これらの全体を覆うSiN膜8を形成する。SiN膜8は、減圧下にて、例えば850℃、60分の条件でCVDを行うことによって形成すればよい。また、ここで犠牲層となるSiO2膜12,15の一部を露出させるための抜き孔(ただし不図示)の加工をも行う。 Thereafter, as shown in FIG. 2 (f), a SiN film 8 is formed so as to cover all of them. The SiN film 8 may be formed by performing CVD under reduced pressure, for example, at 850 ° C. for 60 minutes. In addition, a hole (not shown) for exposing a part of the SiO 2 films 12 and 15 serving as a sacrifice layer is also processed here.

そして、図2(g)に示すように、その抜き孔を利用しつつ、例えばBHF溶液(弗酸系緩衝溶液)等を用いて、SiO2膜12,15を選択的に除去することにより、いわゆる犠牲層エッチングを行い、出力電極3と振動子1の可動構造体部分との間および当該可動構造体部分と入力電極2との間に空間(ギャップ)を形成する。 Then, as shown in FIG. 2 (g), the SiO 2 films 12 and 15 are selectively removed using, for example, a BHF solution (hydrofluoric acid buffer solution) or the like while using the holes. So-called sacrificial layer etching is performed to form a space (gap) between the output electrode 3 and the movable structure portion of the vibrator 1 and between the movable structure portion and the input electrode 2.

以上のような手順を経て得られるMEMS構造、すなわち図1に示した構成のMEMS構造では、入力電極2と出力電極3とが振動子1の可動構造体部分を挟んで積み重なるように配された階層構造を有していることから、入力電極2と出力電極3との間に振動子1の可動構造体部分が位置することになる。つまり、振動子1の可動構造体部分を挟んで、その下方側に出力電極3が配置され、またその上方側に入力電極2が配置されている。
したがって、このようなMEMS構造では、振動子1の存在により、入力電極2と出力電極3との間の寄生容量を低減でき、電極間を直接透過する信号によるノイズ成分を低減し得るようになるのである。具体的には、入力電極2と出力電極3との間にDC電極として機能する振動子1の可動構造体部分が入り込むことから、入力電極2と出力電極3との間のキャパシタンスを減らすことが可能となり、例えば約二桁オーダーのキャパシタンスの改善効果を実現することも可能となる。
図3は、キャパシタンスの改善効果の一具体例を示す説明図である。図例のように、図1に示した構成のMEMS構造によれば、従来構造に比べて、SN比を100倍程度改善することも可能となる。
In the MEMS structure obtained through the above procedure, that is, the MEMS structure having the configuration shown in FIG. 1, the input electrode 2 and the output electrode 3 are arranged so as to be stacked with the movable structure portion of the vibrator 1 interposed therebetween. Since it has a hierarchical structure, the movable structure portion of the vibrator 1 is located between the input electrode 2 and the output electrode 3. That is, the output electrode 3 is disposed on the lower side of the movable structure portion of the vibrator 1, and the input electrode 2 is disposed on the upper side thereof.
Therefore, in such a MEMS structure, due to the presence of the vibrator 1, the parasitic capacitance between the input electrode 2 and the output electrode 3 can be reduced, and a noise component due to a signal that is directly transmitted between the electrodes can be reduced. It is. Specifically, since the movable structure portion of the vibrator 1 that functions as a DC electrode enters between the input electrode 2 and the output electrode 3, the capacitance between the input electrode 2 and the output electrode 3 can be reduced. For example, it is possible to realize an improvement effect of capacitance on the order of about two digits.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a specific example of the effect of improving the capacitance. As shown in the example, according to the MEMS structure having the configuration shown in FIG. 1, the SN ratio can be improved by about 100 times compared to the conventional structure.

さらに、図1に示した構成のMEMS構造では、下方から出力電極3、振動子1の可動構造体部分および入力電極2が順に重なり合う階層構造を有していることから、出力電極3と振動子1の可動構造体部分との間および当該可動構造体部分と入力電極2との間に空間(ギャップ)を、SiO2膜12,15の成膜および犠牲層エッチングによって形成することができる。したがって、微細なギャップ間隔(例えば、nmオーダー)であっても、これを容易に実現することが可能となり、MEMS構造の小型化や高精度化等を実現する上で非常に好適なものとなる。 Further, the MEMS structure having the configuration shown in FIG. 1 has a hierarchical structure in which the output electrode 3, the movable structure portion of the vibrator 1, and the input electrode 2 are sequentially overlapped from below. A space (gap) between one movable structure portion and between the movable structure portion and the input electrode 2 can be formed by deposition of the SiO 2 films 12 and 15 and sacrificial layer etching. Therefore, even a fine gap interval (for example, on the order of nm) can be easily realized, which is very suitable for realizing miniaturization and high accuracy of the MEMS structure. .

これらのことから、本実施形態で説明した構造のMEMSによれば、電極間の寄生容量の低減によって当該電極間を直接透過する信号によるノイズ成分を低減し得るようになるので、出力信号のSN比を向上することができると言える。
したがって、本実施形態で説明したMEMSによれば、例えばGHz領域のような高い周波数領域に対応する場合に、振動子の振幅が小さくなることで出力信号が減少してしまう傾向にあっても、出力信号のSN比を向上させることで、十分な出力レベルを確保することが可能となる。つまり、従来のMEMS構造に比べて高いSN比を実現できるので、高周波での信号検出を容易にすることができる。しかも、ビーム型の振動子1であっても高いSN比を実現できるので、高電圧の印加を必要とすることもなく、その実用性を十分に確保することもできる。
For these reasons, according to the MEMS having the structure described in the present embodiment, the noise component due to the signal directly transmitted between the electrodes can be reduced by reducing the parasitic capacitance between the electrodes. It can be said that the ratio can be improved.
Therefore, according to the MEMS described in this embodiment, for example, in the case of corresponding to a high frequency region such as the GHz region, even if the output signal tends to decrease due to a decrease in the amplitude of the vibrator, By improving the S / N ratio of the output signal, a sufficient output level can be secured. That is, since a high S / N ratio can be realized as compared with the conventional MEMS structure, signal detection at a high frequency can be facilitated. In addition, since a high SN ratio can be realized even with the beam-type vibrator 1, application of a high voltage is not required, and its practicality can be sufficiently ensured.

〔第2の実施の形態〕
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。図4は、本発明の第2の実施の形態におけるMEMSの概略構成例を示す説明図である。ただし、ここでは、上述した第1の実施の形態との相違点についてのみ説明するものとする。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is an explanatory diagram showing a schematic configuration example of the MEMS according to the second embodiment of the present invention. However, only differences from the first embodiment described above will be described here.

図4に示すように、ここで説明するMEMS構造は、第1の実施の形態で説明したような出力電極3、振動子1の可動構造体部分および入力電極2が順に重なり合う、いわゆる三段階の階層構造ではなく、下方から第一の入力電極2a、第一の振動子1aの可動構造体部分、出力電極3、第二の振動子1bの可動構造体部分および第二の入力電極2bが順に重なり合う、いわゆる五段階の階層構造を有したものである。   As shown in FIG. 4, the MEMS structure described here has a so-called three-stage structure in which the output electrode 3, the movable structure portion of the vibrator 1, and the input electrode 2 as described in the first embodiment overlap in order. The first input electrode 2a, the movable structure part of the first vibrator 1a, the output electrode 3, the movable structure part of the second vibrator 1b, and the second input electrode 2b are arranged in order from the bottom instead of the hierarchical structure. It has a so-called five-level hierarchical structure that overlaps.

このような構成のMEMS構造であっても、第一の入力電極2aと出力電極3とが第一の振動子1aの可動構造体部分を挟んで積み重なるように配されているとともに、第二の入力電極2bと出力電極3とが第二の振動子1bの可動構造体部分を挟んで積み重なるように配された階層構造を有していることから、入力電極2a,2bと出力電極3との間に振動子1a,1bの可動構造体部分が位置することになる。
したがって、このようなMEMS構造においても、振動子1a,1bの存在により、入力電極2a,2bと出力電極3との間の寄生容量を低減でき、電極間を直接透過する信号によるノイズ成分を低減し得るようになるので、出力信号のSN比を向上させることができるのである。そのために、第1の実施の形態の場合と同様、例えばGHz領域のような高い周波数領域に対応する場合であっても、従来のMEMS構造に比べて高いSN比を実現できるので、高周波での信号検出を容易にすることができる。しかも、ビーム型の振動子1a,1bであっても高いSN比を実現できるので、高電圧の印加を必要とすることもなく、その実用性を十分に確保することもできる。
Even in the MEMS structure having such a configuration, the first input electrode 2a and the output electrode 3 are arranged so as to be stacked with the movable structure portion of the first vibrator 1a interposed therebetween, and the second Since the input electrode 2b and the output electrode 3 have a hierarchical structure arranged so as to be stacked with the movable structure portion of the second vibrator 1b interposed therebetween, the input electrodes 2a and 2b and the output electrode 3 The movable structure portions of the vibrators 1a and 1b are located between them.
Accordingly, even in such a MEMS structure, the presence of the vibrators 1a and 1b can reduce the parasitic capacitance between the input electrodes 2a and 2b and the output electrode 3, and reduce the noise component due to the signal that is directly transmitted between the electrodes. As a result, the SN ratio of the output signal can be improved. Therefore, as in the case of the first embodiment, even in a case corresponding to a high frequency region such as a GHz region, a high SN ratio can be realized compared to the conventional MEMS structure, so that Signal detection can be facilitated. In addition, since the high signal-to-noise ratio can be realized even with the beam-type vibrators 1a and 1b, it is possible to sufficiently ensure the practicality without applying a high voltage.

さらに、本実施形態で説明した構造のMEMSによれば、入力電極2a,2bのそれぞれに信号を入力すれば、出力電極3から合成された出力信号が得られるので、振動子1a,1bの可動構造体部分における固有振動数を適宜設定することで、信号の増幅効果も見込めるようになる。
なお、本実施形態と同様の五段階の階層構造であっても、本実施形態で説明した場合とは異なり、入力電極と出力電極とを逆に構成することも考えられる。この場合には、一つの入力電極に信号を入力すれば、第一および第二の出力電極のそれぞれから出力信号が得られるので、振動子の可動構造体部分における固有振動数を適宜設定することで、信号の分岐が行えるようにもなる。
Furthermore, according to the MEMS having the structure described in the present embodiment, if a signal is input to each of the input electrodes 2a and 2b, an output signal synthesized from the output electrode 3 can be obtained, so that the vibrators 1a and 1b can be moved. By appropriately setting the natural frequency in the structure portion, a signal amplification effect can be expected.
Note that, even in the same five-stage hierarchical structure as in the present embodiment, unlike the case described in the present embodiment, the input electrode and the output electrode may be configured in reverse. In this case, if a signal is input to one input electrode, an output signal can be obtained from each of the first and second output electrodes. Therefore, the natural frequency in the movable structure portion of the vibrator should be set appropriately. Thus, the signal can be branched.

〔第3の実施の形態〕
次に、本発明の第3の実施の形態について説明する。図5は、本発明の第3の実施の形態におけるMEMSの概略構成例を示す説明図である。ただし、ここでも、上述した第1または第2の実施の形態との相違点についてのみ説明するものとする。
[Third Embodiment]
Next, a third embodiment of the present invention will be described. FIG. 5 is an explanatory diagram showing a schematic configuration example of a MEMS according to the third embodiment of the present invention. Here, however, only differences from the first or second embodiment described above will be described.

図5に示すように、ここで説明するMEMS構造は、下方から出力電極3、振動子1の可動構造体部分および入力電極2が順に重なり合う、いわゆる三段階の階層構造を有したものである点で第1の実施の形態の場合と略同様であるが、入力電極2および出力電極3がそれぞれ複数並設されている点で第1の実施の形態の場合とは異なる。なお、入力電極2および出力電極3の設置数や設置間隔等は、MEMSの大きさや対応する信号周波数等に応じて適宜設定すればよい。   As shown in FIG. 5, the MEMS structure described here has a so-called three-stage hierarchical structure in which the output electrode 3, the movable structure portion of the vibrator 1, and the input electrode 2 are sequentially overlapped from below. However, it is substantially the same as the case of the first embodiment, but differs from the case of the first embodiment in that a plurality of input electrodes 2 and a plurality of output electrodes 3 are arranged in parallel. In addition, what is necessary is just to set suitably the installation number of the input electrode 2 and the output electrode 3, an installation interval, etc. according to the magnitude | size of MEMS, a corresponding signal frequency, etc. FIG.

このような構成のMEMS構造であっても、入力電極2と出力電極3との間に振動子1の可動構造体部分が位置していることから、入力電極2と出力電極3との間の寄生容量を低減でき、電極間を直接透過する信号によるノイズ成分を低減し得るようになるので、出力信号のSN比を向上させることができる。したがって、第1の実施の形態の場合と同様、例えばGHz領域のような高い周波数領域に対応する場合であっても、従来のMEMS構造に比べて高いSN比を実現できるので、高周波での信号検出を容易にすることができる。しかも、ビーム型の振動子1a,1bであっても高いSN比を実現できるので、高電圧の印加を必要とすることもなく、その実用性を十分に確保することもできる。   Even in the MEMS structure having such a configuration, since the movable structure portion of the vibrator 1 is located between the input electrode 2 and the output electrode 3, the gap between the input electrode 2 and the output electrode 3 can be reduced. Since the parasitic capacitance can be reduced and the noise component due to the signal transmitted directly between the electrodes can be reduced, the SN ratio of the output signal can be improved. Therefore, as in the case of the first embodiment, even in the case of dealing with a high frequency region such as the GHz region, a high S / N ratio can be realized as compared with the conventional MEMS structure. Detection can be facilitated. In addition, since the high signal-to-noise ratio can be realized even with the beam-type vibrators 1a and 1b, it is possible to sufficiently ensure the practicality without applying a high voltage.

さらに、本実施形態で説明した構造のMEMSによれば、入力電極2および出力電極3がそれぞれ複数並設されていることから、高次モード化が可能となり、電極数や電極面積を増加させたりその配置を適宜設定したりすることで、必要信号量の確保と高周波化を見込むことができる。つまり、高次モードの利用により、振動子1の可動構造体部分における振幅が減少し同一電極面積に対する出力信号は減るが、ニーズの高まっている高周波化への対応は容易に実現可能となる。この場合において、出力信号の減少は、電極数を増やしたり、振幅減少により動作時のスティッキングの恐れが少ないのを利用して電極−振動子間のギャップを狭めたりすることで、相殺することが考えられる。   Furthermore, according to the MEMS having the structure described in the present embodiment, since a plurality of input electrodes 2 and a plurality of output electrodes 3 are arranged in parallel, higher order modes can be realized, and the number of electrodes and the electrode area can be increased. By appropriately setting the arrangement, it is possible to ensure the required signal amount and increase the frequency. That is, by using the higher order mode, the amplitude in the movable structure portion of the vibrator 1 is reduced and the output signal for the same electrode area is reduced. However, it is possible to easily cope with the high frequency that is increasing in demand. In this case, the decrease in the output signal can be offset by increasing the number of electrodes or by narrowing the gap between the electrode and the vibrator by using the fact that there is less risk of sticking during operation due to the decrease in amplitude. Conceivable.

なお、当然のことではあるが、上述した第1〜第3の実施の形態は、本発明の好適な一実施具体例に過ぎず、本発明がこれに限定されるものでないことは勿論である。   Needless to say, the first to third embodiments described above are merely preferred specific examples of the present invention, and the present invention is of course not limited thereto. .

本発明の第1の実施の形態におけるMEMSの概略構成例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the schematic structural example of MEMS in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態におけるMEMS構造の形成手順の一例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of the formation procedure of the MEMS structure in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態におけるMEMSによるキャパシタンスの改善効果の一具体例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows a specific example of the improvement effect of the capacitance by MEMS in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態におけるMEMSの概略構成例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the schematic structural example of MEMS in the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施の形態におけるMEMSの概略構成例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the schematic structural example of MEMS in the 3rd Embodiment of this invention. 従来のMEMS構造の一構成例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows one structural example of the conventional MEMS structure. 従来のMEMS構造の他の構成例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the other structural example of the conventional MEMS structure.

符号の説明Explanation of symbols

1…振動子、1a…第一の振動子、1b…第二の振動子、2…入力電極、2a…第一の入力電極、2b…第二の入力電極、3…出力電極、8…SiN膜   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Vibrator, 1a ... 1st vibrator, 1b ... 2nd vibrator, 2 ... Input electrode, 2a ... 1st input electrode, 2b ... 2nd input electrode, 3 ... Output electrode, 8 ... SiN film

Claims (2)

直流電圧が印加される可動構造体であるビーム型の第一の振動子および第二の振動子と、
前記第一の振動子および前記第二の振動子に振動を励起するための第一の入力電極および第二の入力電極と、
前記第一の振動子および前記第二の振動子に励起された振動を検出するための出力電極とを備え
前記第一の入力電極と前記出力電極とが前記第一の振動子を挟んで積み重なるように配されているとともに、前記第二の入力電極と前記出力電極とが前記第二の振動子を挟んで積み重なるように配されて、前記第一の入力電極、前記第一の振動子、前記出力電極、前記第二の振動子および前記第二の入力電極が順に重なり合う階層構造を有している
マイクロマシン
A beam-type first vibrator and a second vibrator that are movable structures to which a DC voltage is applied;
A first input electrode and a second input electrode for exciting vibrations in the first vibrator and the second vibrator ;
An output electrode for detecting vibration excited by the first vibrator and the second vibrator ;
The first input electrode and the output electrode are arranged so as to be stacked with the first vibrator interposed therebetween, and the second input electrode and the output electrode sandwich the second vibrator The first input electrode, the first vibrator, the output electrode, the second vibrator, and the second input electrode are sequentially stacked so as to be stacked in order .
Micro machine .
直流電圧が印加される可動構造体であるビーム型の第一の振動子および第二の振動子と、
前記第一の振動子および前記第二の振動子に振動を励起するための入力電極と、
前記第一の振動子および前記第二の振動子に励起された振動を検出するための第一の出力電極および第二の出力電極とを備え、
前記入力電極と前記第一の出力電極とが前記第一の振動子を挟んで積み重なるように配されているとともに、前記入力電極と前記第二の出力電極とが前記第二の振動子を挟んで積み重なるように配されて、前記第一の出力電極、前記第一の振動子、前記入力電極、前記第二の振動子および前記第二の出力電極が順に重なり合う階層構造を有している
マイクロマシン
A beam-type first vibrator and a second vibrator that are movable structures to which a DC voltage is applied;
An input electrode for exciting vibration in the first vibrator and the second vibrator;
A first output electrode and a second output electrode for detecting vibration excited by the first vibrator and the second vibrator;
The input electrode and the first output electrode are arranged so as to be stacked with the first vibrator interposed therebetween, and the input electrode and the second output electrode sandwich the second vibrator The first output electrode, the first vibrator, the input electrode, the second vibrator, and the second output electrode have a hierarchical structure that is stacked in order.
Micro machine .
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