JP4384425B2 - Defect inspection equipment - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば液晶ディスプレイ(LCD)のガラス基板等の被検査部材の欠陥検査を行うのに用いられる欠陥検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、この種の欠陥検査装置は、LCDのガラス基板上のレジスト等の膜厚のむらやITO膜上のピンホール等の欠陥検査や、基板上の印刷されたパターンの乱れやむら、あるいは基板表面に付着した塵や傷等の欠陥検査に供されている。
【0003】
このような欠陥検査装置としては、照明光を集光させてガラス基板上に照射する集光用フレネルレンズに対向して反射光学系を構成する反射ミラーが配される(例えば、特許文献1参照。)。フレネルレンズは、光源からの照射光が反射レンズを介して入射されると、照明光を平行光に変換して集光し、ガラス基板上に照射する。これにより、ガラス基板は、照射された照明光に基づいて欠陥部位が検出される。
【0004】
ところで、上記欠陥検査装置は、最近のLCDの大形化の促進に伴って、被検査対象であるガラス基板の大形状となり、大形状のガラス基板の欠陥検査を高精度に実行することが要請されている。このような大形状のガラス基板の欠陥検査を行うように構成する場合には、基板全面に亘って、光源からの照明光を集光して照射することが必要となるために、ガラス基板の形状に応じて反射ミラー及びフレネルレンズを大型にしなければならないことで、その装置が非常に大型となるという不都合を有する。
【0005】
そこで、上記欠陥検査装置としては、光源と反射ミラーの相対位置を、可変制御して照明光束の照射方向を可変するように構成して、装置の小型化を確保したうえで、大型のガラス基板においても、基板全面に対して照明光を照射し得るように構成したものも出現されている(例えば、特許文献2参照。)。
【0006】
しかしながら、上記欠陥検査装置では、反射ミラー及び光源の相対位置を調整してフレネルレンズに照明光を導いて集光し、その照射方向を調整するために、その構成上、その位置調整に高精度な精度が要求される。このため、その調整機構を含む可変調整制御構成が非常に複雑となるという不都合を有する。
【0007】
【特許文献1】
特開平11―94754号公報
【0008】
【特許文献2】
特開2000―97864号公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
以上述べたように、従来の欠陥検査装置では、ガラス基板の形状に対応して、大型となるものであったり、あるいは小型化を確保するように構成すると、その調整機構が複雑となるという不具合を有する。
【0010】
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、構成簡易にして、小型化の促進を図り得、且つ、大形状の被検査部材の高精度な欠陥検査を実現し得るようにした欠陥検査装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
この発明は、照明光源から照射された照明光をフレネルレンズで集光させてガラス基板に照射し、このガラス基板上に照射された照明領域を検査する欠陥検査装置において、検査対象となるガラス基板を検査するために収容配置する観察系本体と、前記照明光源が設けられ、前記観察系本体の上に前記フレネルレンズを介して配置される照明系本体と、前記照明系本体内に前記フレネルレンズに対して所定角度に傾けて配置され、前記フレネルレンズに対する反射方向を前後方向に可変できるように回動可能に設けられた第1の反射ミラーと、前記第1の反射ミラーの対向する両側縁部にそれぞれ固定され、前記照明系本体に回動自在に設けられ前記第1の反射ミラーを回動可能に支持する回動部材と、前記第1の反射ミラーの回動を制御する角度調整機構と、前記第1の反射ミラーの反射面に向くように回動可能に設けられ、前記照明光源からの照明光を前記第1の反射ミラーに向けて反射させ、前記第1の反射ミラーより小さい第2の反射ミラーと、前記第2の反射ミラーに設けられた回動軸が回動自在に支持される支柱部材と、前記回動軸に固定具を介して固定された振りレバーと、前記振りレバーを介して連結され、前記照明系本体に回動自在に設けられた駆動レバーと、前記回動部材と前記駆動レバーとの間を連結する連結棒とを備え、前記第1の反射ミラーの回動に追従されて前記第2の反射ミラーの反射面が、前記第1の反射ミラーの反射面を向くように構成した。
【0012】
上記構成によれば、第2の反射ミラーの反射面が、第1の反射ミラーの回動に追従して第1の反射ミラーの反射面を向くように回動されて、照明光源からの照明光が第1の反射ミラーを介してガラス基板の表面に走査されることにより、第1及び第2の反射ミラーの動作制御を簡単な構成で実現できる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【0014】
図1は、この発明の一実施の形態に係る欠陥検査装置を示すもので、照明系本体10は、観察系本体11上に設置される。この照明系本体10には、図2に示すように二系統の照明系の反射光学系を構成する大反射ミラー12,12が前面の左右方向に並設配置される。
【0015】
そして、大反射ミラー12,12の反射面には、二系統の照明系に対応して集光光学系を構成する二枚のフレネルレンズ13,13が、同様に前面の左右方向に並設配置される(図1では、図の都合上、一方のみを図示)。このフレネルレンズ13,13は、上記観察系本体11に同様に前面の左右方向に並設して収容配置される被検査部材である二枚のガラス基板14、14にそれぞれ対向配置される(図1では、図の都合上、一方のみを図示)。
【0016】
ここで、二系統の照明系は、略同様に構成されることで、一方の照明系について代表して説明する。
【0017】
即ち、上記大反射ミラー12には、例えばその両側壁部に二等辺三角形状の回動部材15の底辺の両端がそれぞれ固定され、この回動部材15の頂点部は、上記照明系本体10に設けられる支持部材101に回動自在に支持される(図3参照)。
【0018】
上記大反射ミラー12には、その一端部に角度調整機構を構成する第1及び第2の連結棒161,162の各一端が所定の間隔を有してリンク結合され(図4及び図5参照)、この第1及び第2の連結棒161,162の各他端は、駆動スライダ17にリンク結合される。
【0019】
この駆動スライダ17には、図4及び図5に示すように例えば凹状の被案内部171及び固定部172が設けられ、その固定部172が後述する駆動ベルト18の所定の位置に固定される。そして、この駆動スライダ17の被案内部171は、ダクトと称する支持具19に設けられる凸状の案内レール191に移動自在に収容され、この案内レール191に案内されて矢印A、B方向に直線移動される。
【0020】
支持具19は、上記照明系本体10に上記大反射ミラー12の背面側に対向されて所定の傾斜角を有して取付けられ、その一端部に駆動モータ20が搭載される。この駆動モータ20には、その回転軸に駆動プーリ21が嵌着され、この駆動プーリ21には、上記駆動ベルト22の一端が駆動自在に巻掛けられる。この駆動ベルト22の他端は、上記支持具19の他端部に回転自在に配される中間プーリ23に駆動自在に巻掛けられる。
【0021】
上記駆動ベルト22は、駆動モータ21が回転駆動されると、その回転力により中間プーリ23との間で回転駆動される。すると、駆動ベルト22は、その回転に連動して駆動スライダ17が移動付勢されると共に、その被案内部171が支持具19の案内レール191に沿って位置規制されることで、該案内レール191に沿って矢印A、B方向に直線移動される。この際、駆動スライダ17は、第1及び第2の連結棒161,162の他端を、同方向に移動付勢し、この第1及び第2の連結棒161,162を介して大反射ミラー12の一端部を回動付勢する。これにより、大反射ミラー12は、上記回動部材15の頂点部を回動支点として回動付勢され、その回動位置に応じて照明光を上記ガラス基板14に対して前後方向に走査させる。
【0022】
また、上記支持具19には、例えば初期位置検出用の位置センサ24が上記駆動ベルト22の駆動スライダ17に対応して配される。この位置センサ24は、上記駆動スライダ17を検出して駆動ベルト22の初期駆動位置を検出して図示しない駆動制御部に出力する。この駆動制御部(図示せず)は、位置センサ24からの検出信号に応動して、例えば上記駆動モータ20の駆動パルスを検出して該駆動モータ20の駆動量を制御し、駆動スライダ17の移動位置を制御して大反射ミラー12の角度を制御する。
【0023】
ここで、駆動スライダ17は、その被案内部171が駆動ベルト22の回転運動に基づいて支持具19の案内レール191に沿って直線移動され、その移動に伴って第1及び第2の連結棒161,162を介して大反射ミラー12を回動付勢する。これにより、大反射ミラー12は、回動部材15の頂点部を回動支点として回動制御され、その回動位置に応じて上記フレネルレンズ13への照明光路が可変設定される。この大反射ミラー12の角度調整は、後述する照明光源25(図2参照)からの照明範囲を有効に利用することができることにより、その設計を含む製作の簡略化が図れる。
【0024】
上記大反射ミラー12には、例えばその一端部に復帰用ばね部材26の一端が係着される。このばね部材26は、その他端部が、例えば照明系本体11に大反射ミラー12に対して初期位置復帰用の付勢力を付与するように係着される。これにより、大反射ミラー12は、駆動モータ20を介して駆動スライダ17が初期位置に移動されると、上記ばね部材26の付勢力により、初期位置に確実に復帰される。
【0025】
また、大反射ミラー12には、その鏡面内に小反射ミラー27の鏡面が対向されて配される。この小反射ミラー27には、図6に示すように回動軸271が嵌着され、この回動軸271は、支柱部材28の一端部に回動自在に支持される。この回動軸271には、振りレバー29の一端が、例えば割りナットと称する固定具30を介して固定され、この振りレバー29の他端部には、係合部291が設けられる。そして、この振りレバー29と支柱部材28との間には、ばね部材31が係着される。
【0026】
上記支柱部材28は、取付部材32を介して取付ベース33に取付けられる。この取付ベース33には、上記照明光源25が上記大反射ミラー12の回動支点の回動中心軸に対して照明光軸が略平行になるように上記小反射ミラー27に対応して搭載される。これにより、照明光源25からの照明光は、小反射ミラー27を介して大反射ミラー12の下方から該大反射ミラー12に向けて照射される。
【0027】
上記取付ベース33は、例えばレール構造の直線移動機構34を介して照明系本体10の前面に対して前後方向と略水平な位置で直交する左右方向(図1中では、紙面方向)、言い換えると、ガラス基板14に対して左右方向に直線移動自在に配される。これにより、例えば取付ベース33は、ガラス基板14に対して左右方向に移動され、上記照明光源25からの照明光が小反射ミラー27及び大反射ミラー12を介して前後方向と略水平な位置で直交する左右方向の領域に導かれる。
【0028】
また、上記照明系本体10には、例えば略コ字状のテンドウワクと称する駆動レバー部材35が回動自在に設けられる。駆動レバー部材35には、その中間部に上記振りレバー29の係合部291が上記ばね部材31の付勢力により弾性係合される。
【0029】
駆動レバー部材35には、リンク結合部351が設けられ、このリンク結合部351には、リンク連結棒36の一端部がリンク結合される。リンク連結棒36の他端部は、上記回動部材15の中間部にリンク結合される。リンク連結棒36は、大反射ミラー12が上述したように角度調整機構を構成する駆動スライダ17の移動に連動して回動部材15を介して回動付勢されると、該回動部材15の回転角に応じて矢印C、D方向に直線上に移動付勢され、駆動レバー部材35を回動付勢する。
【0030】
ここで、駆動レバー部材35は、そのリンク連結棒36の矢印C、D方向の移動に連動して図中時計あるいは反時計方向に回動され、その回動位置において、振りレバー29をばね部材31の付勢力に抗して回動付勢する。すると、振りレバー29は、その回動位置に応じて固定具30を介して回動軸271を支柱部材28に対して回動させ、小反射ミラー27を回動させる。ここで、小反射ミラー27は、照明光源25の光軸が、大反射ミラー12の回動に追従するように回動され、照明光源25からの照明光を大反射ミラー12の面内に案内する。
【0031】
また、上記振りレバー29は、上記取付ベース33が直線移動機構34を介してガラス基板14に対して左右方向に移動されると、照明光源25とともに同様に左右方向に移動される。この際、振りレバー29は、その係合部291が上記駆動レバー部材35に沿って摺動されて、該駆動レバー部材35との弾性係合状態が継続される。
【0032】
ここで、振りレバー29は、取付ベース33の左右方向の移動位置において、上述したように駆動レバー部材35が、大反射ミラー12の回動に連動してリンク連結棒36を介して回動付勢されると、同方向に回動制御される。これにより、小反射ミラー27は、照明光源25の光軸が、大反射ミラー12の回動に追従するように回動されて、左右方向の所定の位置において、前後方向における照射光路が可変される。
【0033】
このように照明光源25からの照明光は、略直交するガラス基板14の前後方向及び左右方向の二方向に走査されて照射光路を可変設定することができる。したがって、大形状のガラス基板14においても、大反射ミラー12及びフレネルレンズ13を大型に換えたりすることなく、容易に高精度な欠陥検査を行うことができる。
【0034】
上記構成において、欠陥検査を行う場合には、例えば観察系本体11にガラス基板14を収容配置し、照明光源25が駆動される。この検査初期には、駆動スライダ17及び取付ベース33が初期位置に設定され、大反射ミラー12、小反射ミラー25及び照明光源25がそれぞれ初期位置を司る。この初期位置において、照明光源25が駆動されると、その照明光は、小反射ミラー27、大反射ミラー12を介してフレネルレンズ13に導かれて集光され、観察系本体11のガラス基板14上に照射される。これにより、ガラス基板14は、照明光の照射された領域の欠陥部位が検出される。
【0035】
そして、照明光の照射方向を可変する場合には、例えば光路変更操作に基づいて、上述したように上記駆動制御部(図示せず)により上記駆動モータ20が、駆動スライダ17の初期位置及び駆動モータ20の駆動パルスに基づいて所定量だけ駆動される。
【0036】
この駆動モータ20が回転駆動されると、駆動プーリ21が回転されて、駆動ベルト22が回転移動され、駆動スライダ17が支持具19の案内レール191に沿って直線上に移動される。ここで、駆動スライダ17は、その移動に連動して第1及び第2の連結棒161,162を回動付勢し、大反射ミラー12を回動部材15の頂点部を回動支点として、照明光源25からの照射範囲内において、所定の角度だけ回動させる。
【0037】
この大反射ミラー12の回動に連動して、リンク連結棒36が、矢印C、D方向に略直線上に移動され、駆動レバー部材35を上述したように照明系本体10に対して回動付勢する。この駆動レバー部材35が回動されると、振りレバー29が同方向に一体的に回動されて、小反射ミラー27を回動軸周りに同方向に回動させ、大反射ミラー12の回動に追従させる。これにより、照明光源25からの照明光は、ガラス基板14に対して前後方向に照射光路が可変され、該ガラス基板14の照射領域の欠陥部位が検出される。
【0038】
このようにして、大反射ミラー12及び小反射ミラー27は、照明光の照射光路の前後方向が可変設定される。
【0039】
また、上記照明光源25からの照射光の照射光路は、前面に対する左右方向が可変設定される。上記大反射ミラー12及び小反射ミラー27が回動されて前後方向の照射方向が設定された調整状態において、上記直線駆動機構34が選択的に駆動されて、取付ベース33が左右方向に移動される。これにより、照明光源25からの照明光は、上記ガラス基板14の前後方向に調整された状態で、左右方向に照射光路が可変され、各位置においてガラス基板14の照射領域の欠陥部位が検出される。
【0040】
このように、上記欠陥検査装置は、照明光源25から発光された照明光を、ガラス基板14に向けて反射して照明光路を可変設定する大反射ミラー12を、反射面より所定の間隔離間された回動支点回りに回動自在に配して、この大反射ミラー12をその回動支点回りに回動制御して照明光の照射方向を調整し、この照射光をフレネルレンズ13を介して集光させてガラス基板14上に照射して欠陥部位を検査するように構成した。
【0041】
これによれば、大反射ミラー12を反射面から所定の間隔離間された回動支点回りに回動制御して照明光源からの照明光を、照射光路を可変させてフレネルレンズ13に案内していることにより、その回動位置に応じて照明光源25からの照明光の照明範囲を、効率的に使用してガラス基板14に向けて照射することができる。
【0042】
この結果、装置の小型化を確保したうえで、大形状のガラス基板14の高精度な検査が実現される。そして、大反射ミラー12の位置調整を、照明光の照射範囲を有効に利用することが可能となることにより、その光路設計を含む製作の自由度が向上される。
【0043】
また、上記欠陥検査装置は、上記大反射ミラー12に対して照明光源25からの照明光を案内する小反射ミラー27を、大反射ミラー12の回動動作に連動して照明光源25の光軸が大反射ミラー12の回動に追従されるように連結配置した。これによれば、大反射ミラー12及び小反射ミラーの27高精度な動作制御を、簡単な構成を実現したうえで、高精度な調整制御が実現される。
【0044】
なお、上記実施の形態では、照明系本体10に二系統の照明系を配するように構成した場合で説明したが、これに限ることなく、例えば一系統、あるいは二系統以上の複数系統の照明系を配するように構成することも可能で、同様の効果が期待される。
【0045】
また、上記実施の形態では、大反射ミラー12を略二等辺三角形の回動部材15を用いて反射面より所定の間隔離間された位置を回動支点として回動させるように構成した場合で説明したが、この回動構造に限ることなく、その他、各種形状の回動部材を用いて、略同様に反射面より所定の間隔離間された位置を回動支点とする回動構造を構成することも可能である。
【0046】
さらに、上記実施の形態では、角度調整機構を構成する支持具19に凸状の案内レール191を形成し、該案内レール191に移動自在に嵌合される駆動スライダ17の被案内部171を凹状に形成するように構成したが、これに限ることなく、その他、支持具19に凹状の案内レールを形成し、駆動スライダ27に凸状の被案内部をするようにした案内構造を構成することも可能である。
【0047】
また、上記実施の形態では、角度調整機構を駆動モータ20の回転力を駆動ベルト22及び駆動スライダ17を用いて直線運動に変換し、この直線運動を、第1及び第2の連結棒161,162を介して回転運動に変換して大反射ミラー12を回動制御するように構成した場合で説明したが、これに限ることなく、その他、各種構造の角度調整機構を用いて構成することも可能である。
【0048】
さらに、上記実施の形態では、小反射ミラー27を、照明光源25と大反射ミラー12との間に配し、折り返し光学系を設けるように構成した場合で説明したが、これに限ることなく、折り返し光学系を配しない構成においても適用可能である。
【0049】
よって、この発明は、上記実施の形態に限ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。さらに、上記実施形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組合せにより種々の発明が抽出され得る。
【0050】
例えば実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【0051】
【発明の効果】
以上詳述したように、この発明によれば、構成簡易にして、小型化の促進を図り得、且つ、大形状の被検査部材の高精度な欠陥検査を実現し得るようにした欠陥検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施の形態に係る欠陥検査装置の概略配置を説明するために示した構成図である。
【図2】図1の照明光源及び小反射ミラーと大反射ミラーとの配置関係を示した配置図である。
【図3】図1の照明系本体を取り出して示した構成説明図である。
【図4】図1の角度調整機構を取り出して示した平面図である。
【図5】図4の要部を断面して示した断面図である。
【図6】図1の小反射ミラーを取り出して示した一部断面図である。
【符号の説明】
10 … 照明系本体、11 … 観察系本体、12 … 大反射ミラー、13 … フレネルレンズ、14 … ガラス基板、15 … 回動部材、161,162 … 第1及び第2の連結棒、17 … 駆動スライダ、171 … 被案内部、172 … 固定部、19 … 支持具、191 … 案内レール、20 … 駆動モータ、21 … 駆動プーリ、22 … 駆動ベルト、23… 中間プーリ、24 … 位置センサ、25 … 照射光源、26 … ばね部材、27 … 小反射ミラー、271 … 回動軸、28 … 支柱部材、29 … 振りレバー、291 … 係合部、30 … 固定具、31 … ばね部材、32 … 取付部材、33 … 取付ベース、34 … 直線移動機構、35 … 駆動レバー部材、351 … リンク結合部、36 … リンク連結棒。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a defect inspection apparatus used to inspect a defect of a member to be inspected such as a glass substrate of a liquid crystal display (LCD), for example.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, this type of defect inspection apparatus has been used for defect inspection such as resist film thickness unevenness on the glass substrate of LCD, pinholes on ITO film, disorder or unevenness of printed pattern on the substrate, or substrate It is used for inspection of defects such as dust and scratches attached to the surface.
[0003]
As such a defect inspection apparatus, a reflection mirror that constitutes a reflection optical system is arranged so as to face a condensing Fresnel lens that collects illumination light and irradiates it on a glass substrate (for example, see Patent Document 1). .) When the irradiation light from the light source enters through the reflection lens, the Fresnel lens converts the illumination light into parallel light, collects it, and irradiates it on the glass substrate. Thereby, a defect site | part is detected on the glass substrate based on the irradiated illumination light.
[0004]
By the way, the above-described defect inspection apparatus is required to perform a defect inspection of a large-sized glass substrate with high accuracy as the size of a glass substrate to be inspected becomes large with the recent promotion of an increase in size of an LCD. Has been. In the case where the defect inspection of such a large glass substrate is performed, it is necessary to collect and irradiate the illumination light from the light source over the entire surface of the substrate. Since the reflecting mirror and the Fresnel lens must be made large according to the shape, there is a disadvantage that the device becomes very large.
[0005]
Therefore, as the defect inspection apparatus, the relative position of the light source and the reflection mirror is variably controlled to change the irradiation direction of the illumination light beam, and the large glass substrate is secured after ensuring the downsizing of the apparatus. Also, there has been developed a configuration in which illumination light can be irradiated on the entire surface of the substrate (see, for example, Patent Document 2).
[0006]
However, in the above defect inspection apparatus, the relative position of the reflection mirror and the light source is adjusted, the illumination light is guided to the Fresnel lens and condensed, and the irradiation direction is adjusted. High accuracy is required. For this reason, there is a disadvantage that the variable adjustment control configuration including the adjustment mechanism becomes very complicated.
[0007]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Laid-Open No. 11-94754
[Patent Document 2]
JP 2000-97864 A [0009]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, in the conventional defect inspection device, the adjustment mechanism becomes complicated when the size is increased or the size is reduced in accordance with the shape of the glass substrate. Have
[0010]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and is capable of facilitating downsizing with a simple configuration, and capable of realizing high-accuracy defect inspection of a large-shaped object to be inspected. An object is to provide an apparatus.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The present invention, the illumination light emitted from the illumination light source is condensed by off Rene Rurenzu irradiated to the glass substrate, the defect inspection apparatus for inspecting an illumination area irradiated on the glass substrate, as the inspection Target An observation system body that is housed and arranged to inspect a glass substrate, the illumination light source is provided, and an illumination system body that is disposed on the observation system body via the Fresnel lens, and the illumination system body includes the illumination system body. The first reflection mirror is opposed to a first reflection mirror that is disposed at a predetermined angle with respect to the Fresnel lens and is rotatably provided so that the reflection direction with respect to the Fresnel lens can be changed in the front-rear direction. A rotation member fixed to both side edges and rotatably provided on the illumination system main body, and rotatably supporting the first reflection mirror, and controls the rotation of the first reflection mirror. An angle adjusting mechanism, rotatably provided so as to face the reflecting surface of the first reflecting mirror, the illumination light from the illumination source is reflected toward the first reflecting mirror, the first reflecting A second reflecting mirror smaller than the mirror, a support member on which a rotating shaft provided on the second reflecting mirror is rotatably supported, and a swing lever fixed to the rotating shaft via a fixture And a drive lever that is connected via the swing lever and is rotatably provided on the illumination system main body, and a connecting rod that connects the rotary member and the drive lever. The reflection surface of the second reflection mirror faces the reflection surface of the first reflection mirror following the rotation of the reflection mirror.
[0012]
According to the above configuration , the illumination from the illumination light source is performed by rotating the reflection surface of the second reflection mirror so as to follow the rotation of the first reflection mirror and face the reflection surface of the first reflection mirror. By scanning light onto the surface of the glass substrate via the first reflection mirror, the operation control of the first and second reflection mirrors can be realized with a simple configuration.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0014]
FIG. 1 shows a defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. An illumination system
[0015]
On the reflecting surfaces of the large reflecting
[0016]
Here, the two illumination systems are configured in substantially the same manner, and one illumination system will be described as a representative.
[0017]
That is, both ends of the base of the isosceles triangle-shaped rotating
[0018]
One end of each of the first and second connecting
[0019]
The
[0020]
The
[0021]
When the
[0022]
In addition, for example, a
[0023]
Here, the guided
[0024]
For example, one end of a
[0025]
Further, the
[0026]
The
[0027]
The mounting
[0028]
The illumination system
[0029]
The
[0030]
Here, the
[0031]
The
[0032]
Here, as described above, the
[0033]
In this way, the illumination light from the
[0034]
In the above configuration, when performing defect inspection, for example, the
[0035]
When the illumination light irradiation direction is varied, for example, based on an optical path changing operation, the
[0036]
When the
[0037]
In conjunction with the rotation of the
[0038]
In this way, the
[0039]
Further, the irradiation light path of the irradiation light from the
[0040]
As described above, the defect inspection apparatus reflects the illumination light emitted from the
[0041]
According to this, the
[0042]
As a result, high-precision inspection of the large-
[0043]
In addition, the defect inspection apparatus includes a
[0044]
In the embodiment described above, the illumination system
[0045]
Further, in the above-described embodiment, the case where the
[0046]
Further, in the above embodiment, the
[0047]
In the above embodiment, the angle adjustment mechanism converts the rotational force of the
[0048]
Further, in the above embodiment, the
[0049]
Therefore, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention at the stage of implementation. Further, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements.
[0050]
For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements shown in the embodiment, the problems described in the column of problems to be solved by the invention can be solved, and the effects described in the effects of the invention can be obtained. In some cases, a configuration from which this configuration requirement is deleted can be extracted as an invention.
[0051]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the present invention, a defect inspection apparatus that can simplify the configuration, promote miniaturization, and realize high-accuracy defect inspection of a large-shaped object to be inspected. Can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram shown for explaining a schematic arrangement of a defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a layout diagram showing a layout relationship between the illumination light source and the small reflection mirror and the large reflection mirror in FIG. 1;
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the structure of the illumination system main body shown in FIG.
4 is a plan view showing the angle adjusting mechanism of FIG. 1 taken out. FIG.
5 is a cross-sectional view showing a main part of FIG.
6 is a partial cross-sectional view showing the small reflection mirror of FIG.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (5)
検査対象となるガラス基板を検査するために収容配置する観察系本体と、
前記照明光源が設けられ、前記観察系本体の上に前記フレネルレンズを介して配置される照明系本体と、
前記照明系本体内に前記フレネルレンズに対して所定角度に傾けて配置され、前記フレネルレンズに対する反射方向を前後方向に可変できるように回動可能に設けられた第1の反射ミラーと、
前記第1の反射ミラーの対向する両側縁部にそれぞれ固定され、前記照明系本体に回動自在に設けられ前記第1の反射ミラーを回動可能に支持する回動部材と、
前記第1の反射ミラーの回動を制御する角度調整機構と、
前記第1の反射ミラーの反射面に向くように回動可能に設けられ、前記照明光源からの照明光を前記第1の反射ミラーに向けて反射させ、前記第1の反射ミラーより小さい第2の反射ミラーと、
前記第2の反射ミラーに設けられた回動軸が回動自在に支持される支柱部材と、
前記回動軸に固定具を介して固定された振りレバーと、
前記振りレバーを介して連結され、前記照明系本体に回動自在に設けられた駆動レバーと、
前記回動部材と前記駆動レバーとの間を連結する連結棒とを備え、
前記第1の反射ミラーの回動に追従させて前記第2の反射ミラーの反射面が、前記第1の反射ミラーの反射面を向くように回動させることを特徴とする欠陥検査装置。The illumination light emitted from the illumination light source is condensed by full Rene Rurenzu by irradiating the glass substrate, the defect inspection apparatus for inspecting an illumination area irradiated on the glass substrate,
And observation system body housing arranged to inspect a glass substrate as an inspection Target,
The illumination system main body provided with the illumination light source and disposed on the observation system main body via the Fresnel lens;
A first reflection mirror disposed in the illumination system body at a predetermined angle with respect to the Fresnel lens, and provided so as to be rotatable so that the reflection direction with respect to the Fresnel lens can be changed in the front-rear direction ;
A rotating member fixed to each of opposite side edges of the first reflecting mirror and rotatably provided on the illumination system main body, and rotatably supporting the first reflecting mirror;
An angle adjusting mechanism for controlling rotation of the first reflecting mirror;
The second reflection mirror is provided rotatably so as to face the reflection surface of the first reflection mirror, reflects the illumination light from the illumination light source toward the first reflection mirror, and is smaller than the first reflection mirror. Reflection mirror of
A strut member rotatably supported by a rotation shaft provided on the second reflecting mirror;
A swing lever fixed to the rotating shaft via a fixture;
A drive lever connected via the swing lever and provided rotatably on the illumination system body;
A connecting rod for connecting the rotating member and the drive lever;
A defect inspection apparatus that rotates following the rotation of the first reflection mirror so that the reflection surface of the second reflection mirror faces the reflection surface of the first reflection mirror.
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